JPH113961A - Semiconductor device and manufacture thereof - Google Patents

Semiconductor device and manufacture thereof

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JPH113961A
JPH113961A JP9153154A JP15315497A JPH113961A JP H113961 A JPH113961 A JP H113961A JP 9153154 A JP9153154 A JP 9153154A JP 15315497 A JP15315497 A JP 15315497A JP H113961 A JPH113961 A JP H113961A
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semiconductor device
lead
package
leads
foot
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Japanese (ja)
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Kazuhiro Terada
和弘 寺田
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device for an upper stage which can prevent its lead deformation when stack-mounted. SOLUTION: The semiconductor device has a package 14 and a plurality of leads 5 projected from the package 14. The device has such a long-leg structure that has a space under the package 14 in which a lower-stage semiconductor device can be positioned and that the leads can be extended downwards. In this case, the leads 5 are reinforced by reinforcing members 13. The reinforcing members 13 are formed simultaneously with formation of the package 14. The leads 5 are formed by etching a metallic foil applied onto an insulating film.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置およびそ
の製造方法に関し、特に、国際標準JEDEC(Joint
Electron Device Engineering Council)規格に準拠した
S.O.DIMM(Small Out line Dual In-line Memo
ry Module)に組み込まれる上段用TCP(Tape Carrier
Package)等の半導体装置およびその製造方法に適用し
て有効な技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device and a method of manufacturing the same, and more particularly, to an international standard JEDEC (Joint).
Electron Device Engineering Council). O. DIMM (Small Out line Dual In-line Memo
ry Module) TCP (Tape Carrier)
The present invention relates to a technology which is effective when applied to a semiconductor device such as a semiconductor package and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置(半導体集積回路装置)の一
つとして、TCP型半導体装置が知られている。また、
半導体装置の実装効率を向上させるためにTCP型半導
体装置を重ねるように実装(積層実装)する構造(スタ
ック構造)が知られている。
2. Description of the Related Art As one of semiconductor devices (semiconductor integrated circuit devices), a TCP type semiconductor device is known. Also,
2. Description of the Related Art In order to improve the mounting efficiency of a semiconductor device, a structure (stack structure) in which TCP type semiconductor devices are mounted in a stacked manner (laminated mounting) is known.

【0003】たとえば、株式会社日立製作所半導体事業
部発行「GAIN」、1997年3月11日発行、P19および
P20には、TCPスタックモジュール(積層実装型モジ
ュール)が記載されている。
[0003] For example, "GAIN" published by Semiconductor Division of Hitachi, Ltd., published on March 11, 1997, P19 and P20, describe a TCP stack module (laminated mounting module).

【0004】この文献には、短冊状のPCB(モジュー
ル基板)の表裏面に並列に二段重ねでTCP型半導体装
置を実装したTCPスタックモジュールが開示されてい
る。前記TCP型半導体装置は、上段用TCPと下段用
TCPの二種類があるが、いずれも矩形細長状のパッケ
ージの両側からガルウィング型のリードを突出させた構
造になっている。
[0004] This document discloses a TCP stack module in which a TCP type semiconductor device is mounted on a front surface and a rear surface of a strip-shaped PCB (module substrate) in two layers in parallel. There are two types of TCP type semiconductor devices, TCP for upper stage and TCP for lower stage. Both types have a structure in which gull-wing type leads protrude from both sides of a rectangular elongated package.

【0005】上段用TCPのパッケージの両側から突出
するリード列の内法は、下段用TCPのパッケージの両
側から突出するリード列の外法よりも大きくなり、上段
用TCPのパッケージの下面の高さは下段用TCPのパ
ッケージの上面の高さよりも高くなっている。この結
果、下段用TCPを覆うように上段用TCPを重ねるよ
うにして積層実装(スタック実装)することができる。
The inner dimension of the lead row projecting from both sides of the package for the upper TCP is larger than the outer dimension of the lead row projecting from both sides of the package for the lower TCP, and the height of the lower surface of the package of the upper TCP is increased. Is higher than the height of the upper surface of the lower TCP package. As a result, the upper TCP can be stacked and mounted (stack mounted) so as to cover the lower TCP.

【0006】前記TCP型半導体装置全体は、モジュー
ル基板に取り付けられた金属ケースで覆われて保護され
ている。
The entire TCP type semiconductor device is covered and protected by a metal case attached to a module substrate.

【0007】前記TCP型半導体装置は、16MDRA
M,64MDRAM等である。
The above-mentioned TCP type semiconductor device has a 16 MDRA
M, 64M DRAM and the like.

【0008】一方、日経BP社発行「日経エレクトロニ
クス」1993年8月2日号、P104には、パッケージ本体の
四隅に突起(バンパー)を設けて、輸送時のリード曲が
りを防止するBQFP(quad flat package with bumpe
r)が記載されている。
On the other hand, in P104, “Nikkei Electronics” issued by Nikkei BP, August 2, 1993, bumps are provided at the four corners of the package body to prevent lead bending during transportation. package with bumpe
r) is described.

【0009】他方、半導体装置の製造技術の一つとし
て、金属板をパターニングしたリードフレームを用いて
樹脂封止型の半導体装置を製造する技術が知られてい
る。リードフレームは、たとえば、0.1mm以上の厚
さの金属板からなっている。
On the other hand, as one of the manufacturing techniques of a semiconductor device, a technique of manufacturing a resin-sealed semiconductor device using a lead frame in which a metal plate is patterned is known. The lead frame is made of, for example, a metal plate having a thickness of 0.1 mm or more.

【0010】リードフレームを使用した半導体装置の製
造プロセスについては、日経BP社発行「VLSIパッ
ケージング技術(上)」1993年5月15日発行、P130〜P1
35に記載されている。この文献には、リードフレームに
半導体チップを取り付けた後ワイヤボンディングを行
い、モールドし、その後パッケージの側面から突出した
リードを成形して半導体装置を製造する例が示されてい
る。
The manufacturing process of a semiconductor device using a lead frame is described in "VLSI Packaging Technology (1)", published by Nikkei BP, May 15, 1993, P130-P1.
35. This document discloses an example of manufacturing a semiconductor device by attaching a semiconductor chip to a lead frame, performing wire bonding, molding, and then forming a lead protruding from a side surface of the package.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】一般的に、パッケージ
の側面から突出するリードは薄くかつ幅が狭いため機械
的強度が低い。したがって、半導体装置の取扱い時、リ
ードが他のものに接触すると容易にリードが変形してし
まう。
Generally, the leads protruding from the side of the package are thin and narrow, and have low mechanical strength. Therefore, when handling the semiconductor device, if the lead comes into contact with another one, the lead is easily deformed.

【0012】そこで、従来は前記文献のように、矩形の
パッケージの四隅にバンパーを設け、半導体装置の取扱
い時にリードが他のものに接触する前に前記バンパーを
接触させてリードを保護する構造が開発されている。
Therefore, conventionally, as described in the above document, a structure is provided in which bumpers are provided at the four corners of a rectangular package and the leads are brought into contact with the bumpers before the leads come into contact with other objects when the semiconductor device is handled. Is being developed.

【0013】しかし、この構造はリードそのものを補強
した構造ではないことから、リードが他のものに接触す
ればリードは容易に変形してしまう。
However, since this structure is not a structure in which the lead itself is reinforced, the lead is easily deformed when the lead comes into contact with another one.

【0014】一方、メモリモジュールの高密度実装化を
図るため、前記文献にも示すように、二個の半導体装置
を重ねるように積層実装するTCPスタックモジュール
が開発されている。
On the other hand, in order to achieve high-density mounting of a memory module, a TCP stack module in which two semiconductor devices are stacked and mounted so as to be stacked is developed as described in the above-mentioned document.

【0015】前記TCPスタックモジュールではTCP
型の半導体装置が使用されている。TCP型の半導体装
置のリードは、たとえば75μmの厚さのポリイミド樹
脂テープ(フィルム)の表面に貼り付けた35μmの厚
さの銅箔をエッチングして形成されるため、リードの機
械的強度は従来の金属板によるリードフレームから形成
されるリードに比較してさらに弱い。前記文献のバンパ
ーを有する半導体装置はリードフレームから形成された
リードである。リードフレームから形成されるリードの
厚さは、たとえば0.1mm以上である。
In the TCP stack module, TCP
Type semiconductor devices are used. The lead of a TCP type semiconductor device is formed by etching a 35 μm thick copper foil attached to the surface of, for example, a 75 μm thick polyimide resin tape (film). Is weaker than a lead formed from a lead frame made of a metal plate. The semiconductor device having the bumper described in the above document is a lead formed from a lead frame. The thickness of the lead formed from the lead frame is, for example, 0.1 mm or more.

【0016】また、前記スタック構造では、上段用TC
P(上段用半導体装置)のリードはパッケージの下側に
下段用TCPを実装するためパッケージ高さが高くな
る。この結果、上段用半導体装置においては、パッケー
ジの下側に半導体装置を実装しない通常の半導体装置の
場合に比較して他のものとの接触によるリード曲がりは
大きくなる。
In the above-mentioned stack structure, the upper TC
The package height of the lead of P (upper semiconductor device) is increased because the lower TCP is mounted below the package. As a result, in the upper semiconductor device, the lead bend due to contact with other components becomes larger than in the case of a normal semiconductor device in which no semiconductor device is mounted below the package.

【0017】したがって、スタックモジュールの組立に
おいて、上段用TCPのリード曲がりは実装の信頼性を
損なうばかりでなく、製造歩留りの低下を引き起こすこ
とになる。
Therefore, in assembling the stack module, the bending of the lead of the upper TCP not only impairs the reliability of the mounting but also lowers the production yield.

【0018】本発明の目的は、パッケージ下部に空間を
設けた場合の足高構造でリード変形を防止できる半導体
装置およびその製造方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor device capable of preventing lead deformation with a foot-height structure when a space is provided below a package, and a method of manufacturing the same.

【0019】本発明の他の目的は、パッケージ下部に空
間を設けた場合の足高構造でリード変形強度が高い半導
体装置およびその製造方法を提供することにある。
It is another object of the present invention to provide a semiconductor device having a foot-height structure and a high lead deformation strength when a space is provided below the package, and a method of manufacturing the same.

【0020】本発明の他の目的は、実装の信頼性や歩留
りを高くできる半導体装置を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a semiconductor device capable of improving the reliability of mounting and the yield.

【0021】本発明の前記ならびにそのほかの目的と新
規な特徴は、本明細書の記述および添付図面からあきら
かになるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0022】[0022]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The following is a brief description of an outline of typical inventions disclosed in the present application.

【0023】(1)パッケージと、前記パッケージから
突出する複数のリードとを有し、前記パッケージの下に
他の半導体装置を位置させることができる空間を形成す
るように前記リードは下方に向かって長い足高構造とな
る半導体装置であって、前記リードは補強体で補強され
ている。前記補強体は前記パッケージの形成時に同時に
形成されたものである。前記リードは絶縁性フィルムに
貼り付けられた金属箔をエッチングして形成されたもの
である。
(1) It has a package and a plurality of leads projecting from the package, and the leads face downward so as to form a space under which the other semiconductor device can be located. In a semiconductor device having a long foot structure, the leads are reinforced by a reinforcing member. The reinforcing member is formed at the same time when the package is formed. The leads are formed by etching a metal foil attached to an insulating film.

【0024】このような半導体装置は以下の方法によっ
て製造される。
Such a semiconductor device is manufactured by the following method.

【0025】表面にリードパターンを形成した絶縁性フ
ィルムを用意する工程と、前記リードパターンに電極を
介して半導体チップを固定する工程と、前記リードパタ
ーンの外周部分のリードおよび絶縁性フィルムを切断し
て前記絶縁性フィルムの周囲からリードを突出させる半
完成品半導体装置を形成する工程と、前記半完成品半導
体装置のリードを成形し前記絶縁性フィルムの下側に他
の半導体装置を位置させることができる空間を有するよ
うにリードを足高に形成する工程と、前記半完成品半導
体装置をモールドして前記半導体チップ,絶縁性フィル
ム,リード内端側を樹脂からなるパッケージで封止する
とともに前記樹脂をリードの外端側の上面側にまで設け
て足高のリード部分を補強する工程とを有する。
A step of preparing an insulating film having a lead pattern formed on the surface; a step of fixing a semiconductor chip to the lead pattern via an electrode; and a step of cutting the lead and the insulating film at the outer peripheral portion of the lead pattern. Forming a semi-finished product semiconductor device in which leads protrude from the periphery of the insulating film, and forming leads of the semi-finished product semiconductor device and positioning another semiconductor device below the insulating film. Forming the leads so as to have a space for forming the semiconductor device, molding the semi-finished product semiconductor device, sealing the semiconductor chip, the insulating film, and the inner ends of the leads with a package made of resin, A step of providing a resin up to the upper surface side of the outer end side of the lead to reinforce the lead portion at the height of the foot.

【0026】(2)前記手段(1)の構成において、前
記補強体は前記パッケージに固定される樹脂で形成され
ている。
(2) In the configuration of the means (1), the reinforcing member is formed of a resin fixed to the package.

【0027】(3)金属板からなるリードフレームを用
意する工程と、前記リードフレームの所定部分に半導体
チップを固定する工程と、前記半導体チップの電極とリ
ードの内端部分を導電性のワイヤで接続する工程と、前
記半導体チップ,ワイヤおよびリードの内端部分を樹脂
からなるパッケージで被う工程と、前記リードフレーム
の不要部分を切断除去するとともに前記パッケージから
突出するリードを成形する工程とを有する半導体装置の
製造方法であって、前記リード成形時には前記パッケー
ジの下側に他の半導体装置を位置させることができる空
間を有するようにリードを足高に形成し、その後前記空
間機能を損なうことなくモールドして前記パッケージか
ら突出する足高リード部分を前記パッケージと一体とな
る樹脂体で補強する。
(3) A step of preparing a lead frame made of a metal plate, a step of fixing a semiconductor chip to a predetermined portion of the lead frame, and a step of connecting electrodes of the semiconductor chip and inner ends of the leads with conductive wires. A connecting step, a step of covering an inner end portion of the semiconductor chip, the wire and the lead with a package made of resin, and a step of cutting and removing an unnecessary portion of the lead frame and forming a lead projecting from the package. A method of manufacturing a semiconductor device, comprising: forming a lead at a foot height so as to have a space where another semiconductor device can be located below the package during the lead molding, and thereafter impairing the spatial function. Without molding and reinforced the foot-lead portion protruding from the package with a resin body integral with the package. .

【0028】(4)パッケージと、前記パッケージの側
面から突出する複数のリードと、前記パッケージの角部
に設けられ前記リードと同程度の長さ突出するバンパー
とを有する半導体装置であって、前記リードは下方に向
かって長い足高構造となり前記パッケージの下に他の半
導体装置を位置させることができる空間を有する。
(4) A semiconductor device having a package, a plurality of leads projecting from a side surface of the package, and a bumper provided at a corner of the package and projecting as long as the leads. The lead has a long foot-height structure downward and has a space in which another semiconductor device can be located under the package.

【0029】前記(1)の手段によれば、(a)パッケ
ージの下に他の半導体装置を位置させる空間を有する足
高リード構造の半導体装置において、前記リードの足高
部分は前記パッケージの形成時に同時に形成された樹脂
からなる補強体で補強されていることから、足高部分の
リード強度は強くリードは変形し難い。したがって、実
装時のリード変形による実装不良が起きなくなるととも
に、実装の信頼性は高くなる。
According to the means (1), (a) in a semiconductor device having a foot-height lead structure having a space for placing another semiconductor device under the package, the foot-height portion of the lead is formed in the package. Since the reinforcement is made of a resin which is sometimes formed at the same time, the lead strength at the foot-high portion is strong, and the lead is hardly deformed. Therefore, mounting failure due to lead deformation during mounting does not occur, and mounting reliability is increased.

【0030】(b)絶縁性フィルムに貼り付けられた金
属箔をエッチングしてリードを形成した半導体装置(T
CP型半導体装置)では、リードは薄く強度は低いが、
リードの足高部分が補強体で補強されることからリード
強度は向上し、スタック構造として安定したものにな
る。
(B) A semiconductor device in which leads are formed by etching a metal foil attached to an insulating film (T)
In CP type semiconductor devices), the leads are thin and have low strength,
Since the leg portion of the lead is reinforced with the reinforcing member, the lead strength is improved, and the stack structure is stabilized.

【0031】前記(2)の手段によれば、リードの足高
部分を補強する補強体は前記パッケージに固定される樹
脂で形成することによって一層補強体としての効果が高
くなる。
According to the means (2), the reinforcing member for reinforcing the leg portion of the lead is made of a resin fixed to the package, so that the effect as the reinforcing member is further enhanced.

【0032】前記(3)の手段によれば、金属板からな
るリードフレームを用いて製造される半導体装置におい
ても、リード成形後に再度モールドしてリードの足高部
分を樹脂で補強することから、リード足高部分の補強を
図ることができる。
According to the means (3), even in a semiconductor device manufactured using a lead frame made of a metal plate, the lead is molded again after the lead is formed, and the foot portion of the lead is reinforced with resin. Reinforcement of the lead foot high portion can be achieved.

【0033】前記(4)の手段によれば、パッケージの
角部に設けたバンパーがリードに接触する他のものに先
に接触し易いため、リードに外力が加わる危険が少な
く、足高部分のリードの変形が防止できる。
According to the means (4), since the bumper provided at the corner of the package easily comes in contact with the other one which comes into contact with the lead first, there is little danger that an external force is applied to the lead, and the height of the foot is reduced. Lead deformation can be prevented.

【0034】[0034]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、発明の実施の形態を
説明するための全図において、同一機能を有するものは
同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. In all the drawings for describing the embodiments of the present invention, components having the same functions are denoted by the same reference numerals, and their repeated description will be omitted.

【0035】(実施形態1)図1乃至図6は本発明の実
施形態1である半導体装置に係わる図である。図1は本
実施形態1の半導体装置を示す断面図、図2は半導体装
置の平面図である。
(Embodiment 1) FIGS. 1 to 6 relate to a semiconductor device according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a semiconductor device of the first embodiment, and FIG. 2 is a plan view of the semiconductor device.

【0036】本実施形態1では、絶縁性フィルムの表面
に貼り付けた金属箔をエッチングしてリードを形成した
テープキャリヤを使用して製造するTCP型半導体装置
に本発明を適用した例について説明する。TCP型半導
体装置の製造技術は、その組み立て手段からTAB(Ta
pe Automated Bonding)技術とも呼称されている。
In the first embodiment, an example in which the present invention is applied to a TCP type semiconductor device manufactured by using a tape carrier in which leads are formed by etching a metal foil attached to the surface of an insulating film will be described. . The manufacturing technology of the TCP type semiconductor device is that TAB (Ta
It is also referred to as pe Automated Bonding technology.

【0037】本実施形態1の半導体装置(TCP型半導
体装置)1は、図1および図2に示すように、中央に穴
(デバイスホール)2を有する可撓性の絶縁性フィルム
で形成される矩形枠状のリード支持部3を有している。
前記デバイスホール2は半導体チップの大きさよりも1
乃至数mm程度大きな穴となり、半導体チップ4が配置
される領域になる。絶縁性フィルムは、たとえば厚さ7
5μmのポリイミド樹脂が使用されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, a semiconductor device (TCP semiconductor device) 1 of the first embodiment is formed of a flexible insulating film having a hole (device hole) 2 in the center. It has a rectangular frame-shaped lead support 3.
The device hole 2 is larger than the size of the semiconductor chip by 1
The hole becomes a large hole of about several mm to several mm, which is an area where the semiconductor chip 4 is arranged. The insulating film has, for example, a thickness of 7
5 μm polyimide resin is used.

【0038】前記リード支持部2の下面にはそれぞれリ
ード5が複数形成されている。前記リード5は、絶縁性
フィルムの一面に接着剤6を介して貼り付けられた金属
箔をエッチングすることによって形成されている。
A plurality of leads 5 are formed on the lower surface of the lead support 2 respectively. The lead 5 is formed by etching a metal foil attached to one surface of an insulating film via an adhesive 6.

【0039】前記リード5の内端は前記デバイスホール
2内に突出し、前記半導体チップ4の電極7に接続され
ている。
The inner ends of the leads 5 project into the device holes 2 and are connected to the electrodes 7 of the semiconductor chip 4.

【0040】また、前記リード支持部3の外周から突出
するリード部分は、ガルウィング型に成形されている。
リード5の先端部分は水平に延在して表面実装に適した
平坦接合部10を形成している。ガルウィング型のリー
ド部分は、後述するように、前記絶縁性フィルムの下側
に他の半導体装置を位置させることができる空間11を
形成するように下方に向かって長い足高構造12になっ
ている。
The lead portion protruding from the outer periphery of the lead support 3 is formed in a gull wing shape.
The tips of the leads 5 extend horizontally to form flat joints 10 suitable for surface mounting. The gull-wing-type lead portion has a foot height structure 12 that is long downward as described below so as to form a space 11 in which another semiconductor device can be located below the insulating film, as described later. .

【0041】一方、これが本発明の特徴の一つである
が、前記足高構造12のリード部分を補強するように、
リード5の上面側には補強体13が形成されている。こ
の補強体13は樹脂で形成されるとともに、前記リード
支持部3に設けられ前記半導体チップ4の周囲や下面側
を被う樹脂からなるパッケージ14と一体に形成されて
いる。すなわち、前記補強体13はモールドによってパ
ッケージ14を形成するときに同時に形成される。
On the other hand, this is one of the features of the present invention.
A reinforcement 13 is formed on the upper surface side of the lead 5. The reinforcing member 13 is formed of a resin, and is formed integrally with a package 14 made of a resin provided on the lead supporting portion 3 and covering the periphery and the lower surface of the semiconductor chip 4. That is, the reinforcing member 13 is formed at the same time when the package 14 is formed by molding.

【0042】モールドは、たとえばトランスファモール
ドであり、特に限定はされないが、パッケージ14の上
面と補強体13の上面は同一面になるように形成されて
いる。また、補強体13がモールド金型を使用するトラ
ンスファモールドによって形成されることから、前記リ
ード5は下面側を除き補強体13に被われることにな
る。なお、リード5の平坦接合部10の先端は、前記ト
ランスファモールド時、モールド金型で挟む場合は、図
1に示すように、その上面には補強体13が形成されな
いことになる。
The mold is, for example, a transfer mold. Although not particularly limited, the upper surface of the package 14 and the upper surface of the reinforcing member 13 are formed to be flush with each other. Since the reinforcing member 13 is formed by transfer molding using a mold, the lead 5 is covered by the reinforcing member 13 except for the lower surface side. When the tip of the flat joint 10 of the lead 5 is sandwiched by a mold during the transfer molding, the reinforcing body 13 is not formed on the upper surface as shown in FIG.

【0043】本実施形態1のTCP型半導体装置1は、
パッケージ14の下側の空間11に他の半導体装置を位
置させることができるように、ガルウィング型のリード
5部分が下方に向かって長く延在する足高構造12にな
るが、前記足高構造12部分はパッケージ14と同時に
形成された補強体13で上方から被われ補強されている
ことから外力が作用し難くなり曲がらなくなる。
The TCP type semiconductor device 1 of the first embodiment is
The gull-wing-type lead 5 is extended to the lower side so that another semiconductor device can be located in the space 11 below the package 14. Since the portion is covered and reinforced by the reinforcing member 13 formed at the same time as the package 14 from above, it is difficult for external force to act on the portion, and the portion is not bent.

【0044】つぎに、本実施形態1のTCP型半導体装
置1の製造について、図3乃至図5を参照しながら説明
する。図3は半導体装置の製造に用いるテープキャリヤ
の平面図、図4はテープキャリヤから切断分離された半
完成品半導体装置を示す平面図、図5は半完成品半導体
装置をモールドする状態を示す断面図である。
Next, the manufacture of the TCP semiconductor device 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is a plan view of a tape carrier used for manufacturing the semiconductor device, FIG. 4 is a plan view showing a semi-finished semiconductor device cut and separated from the tape carrier, and FIG. 5 is a cross-section showing a state in which the semi-finished semiconductor device is molded. FIG.

【0045】TCP型半導体装置1の製造においては、
図3に示すようなテープキャリヤ20が用意される。
In the manufacture of the TCP type semiconductor device 1,
A tape carrier 20 as shown in FIG. 3 is prepared.

【0046】テープキャリヤ20は、一定幅の可撓性の
絶縁性フィルム(絶縁性テープ)21の表面に単位リー
ドパターン22をテープキャリヤ20の長手方向に繰り
返し形成した構造になっている。リードパターン22は
絶縁性テープ21に貼り付けられた金属箔をエッチング
することによって形成される。
The tape carrier 20 has a structure in which unit lead patterns 22 are repeatedly formed in the longitudinal direction of the tape carrier 20 on the surface of a flexible insulating film (insulating tape) 21 having a fixed width. The lead pattern 22 is formed by etching a metal foil attached to the insulating tape 21.

【0047】前記絶縁性テープ21は、たとえば厚さ7
5μmのポリイミド樹脂からなり、前記金属箔は、たと
えば、厚さ35μmの銅箔からなっている。したがっ
て、リードパターン22のリードの厚さも35μmにな
る。
The insulating tape 21 has a thickness of, for example, 7
The metal foil is made of a polyimide resin having a thickness of 5 μm, and the metal foil is made of, for example, a copper foil having a thickness of 35 μm. Therefore, the lead thickness of the lead pattern 22 is also 35 μm.

【0048】絶縁性テープ21の両側には、テープキャ
リヤ20を移動操作するために使用されるパーフォレー
ション孔23が一定間隔に設けられている。
On both sides of the insulating tape 21, perforation holes 23 used for moving the tape carrier 20 are provided at regular intervals.

【0049】リードパターン22が形成される領域にお
いて、その中央には矩形の穴(デバイスホール)2が設
けられている。このデバイスホール2は半導体チップの
大きさよりも1乃至数mm程度大きな穴となり、半導体
チップが配置される領域になっている。
In the area where the lead pattern 22 is formed, a rectangular hole (device hole) 2 is provided at the center. The device hole 2 is a hole that is about 1 to several mm larger than the size of the semiconductor chip, and is an area where the semiconductor chip is arranged.

【0050】前記デバイスホール2の各辺の外側にはデ
バイスホール2の各辺から所定距離離れかつ前記各辺に
平行延在する長孔24が設けられている。相互に直交す
る長孔24の端の部分には、長孔24とデバイスホール
2との絶縁性フィルム領域と長孔24の外側の絶縁性フ
ィルム領域とを連結する細い吊り部25が形成されるこ
とになる。したがって、前記デバイスホール2を取り囲
むように矩形枠状のリード支持部3が形成されることに
なる。
On the outer side of each side of the device hole 2, there is provided a long hole 24 which is apart from each side of the device hole 2 by a predetermined distance and extends in parallel with each side. At the ends of the elongated holes 24 which are orthogonal to each other, a thin hanging portion 25 is formed which connects the insulating film area between the elongated holes 24 and the device holes 2 and the insulating film area outside the elongated holes 24. Will be. Therefore, the rectangular frame-shaped lead support 3 is formed so as to surround the device hole 2.

【0051】一方、リードパターン22の各リード5は
前記デバイスホール2の各辺側に群れになって複数形成
されている。リード5は前記デバイスホール2からその
外側の長孔24を越えて長孔24の外側の絶縁性フィル
ム21部分に亘って延在している。リード5の一端(内
端:インナーリード端)は前記デバイスホール2内に1
mm前後突出し、その先端は半導体チップの電極(バン
プ電極)に接続されるようになっている。リード5はデ
バイスホール2の縁部分および長孔24を越えて延在す
る部分(アウターリード)は相互に平行に延在してい
る。
On the other hand, a plurality of leads 5 of the lead pattern 22 are formed in groups on each side of the device hole 2. The lead 5 extends from the device hole 2 beyond the elongated hole 24 outside the device hole 2 to the portion of the insulating film 21 outside the elongated hole 24. One end (inner end: inner lead end) of the lead 5 is inserted into the device hole 2 by one.
mm, and the tip is connected to an electrode (bump electrode) of a semiconductor chip. The lead 5 extends in parallel with the edge portion of the device hole 2 and the portion (outer lead) extending beyond the elongated hole 24.

【0052】このようなテープキャリヤ20に対して、
図4に示すように、半導体チップ4がフェイスダウンボ
ンディングによって固定される。半導体チップ4はその
電極7に前記リード5のインナーリード端が固定され
る。
For such a tape carrier 20,
As shown in FIG. 4, the semiconductor chip 4 is fixed by face-down bonding. The inner lead end of the lead 5 is fixed to the electrode 7 of the semiconductor chip 4.

【0053】リード支持部3と吊り部25との境界部分
を切断するとともに、長孔24を横切るリード5部分を
切断して、半完成品半導体装置26を形成する。
The semi-finished product semiconductor device 26 is formed by cutting the boundary between the lead supporting portion 3 and the hanging portion 25 and cutting the portion of the lead 5 crossing the elongated hole 24.

【0054】また、半完成品半導体装置26のリード支
持部3から突出するリード5部分(アウターリード部
分)をガルウィング型に成形する(図4参照)。この足
高構造12のリード5部分は、図1,図5に示すように
リード支持部3の下側に他の半導体装置を位置させるこ
とができる空間を有するように長くなっている。
Further, a portion of the lead 5 (outer lead portion) protruding from the lead supporting portion 3 of the semi-finished product semiconductor device 26 is formed into a gull wing type (see FIG. 4). As shown in FIGS. 1 and 5, the lead 5 portion of the foot-height structure 12 is elongated so as to have a space below the lead support portion 3 where another semiconductor device can be located.

【0055】つぎに、リード成形が終了した半完成品半
導体装置26はトランスファモールド装置によってモー
ルドされる。図5はモールド金型29に型締めされた半
完成品半導体装置26を示す断面図である。モールド金
型29は下型27と上型28からなり、半完成品半導体
装置26を型締めした状態ではリード5の上面側にキャ
ビティ30が形成される型構造になっている。
Next, the semi-finished product semiconductor device 26 for which lead molding has been completed is molded by a transfer molding device. FIG. 5 is a cross-sectional view showing the semi-finished product semiconductor device 26 clamped to the mold 29. The molding die 29 includes a lower die 27 and an upper die 28, and has a die structure in which a cavity 30 is formed on the upper surface side of the lead 5 when the semi-finished product semiconductor device 26 is clamped.

【0056】上型28には前記キャビティ30に連通す
るサブランナー31,エアーベント32が設けられてい
る。サブランナー31とキャビティ30との連通部分が
ゲート33になる。
The upper mold 28 is provided with a sub-runner 31 communicating with the cavity 30 and an air vent 32. The communication part between the sub-runner 31 and the cavity 30 becomes the gate 33.

【0057】溶けた樹脂34は前記サブランナー31,
エアーベント32を通ってキャビティ30に流入する。
また、押し出された空気はエアーベント32から外部に
抜ける。下型27がリード5の下面を支えることから、
リード5の上面側および側面側に樹脂34が充填され
る。また、上型28のキャビティ30の天井面に半導体
チップ4の上面が接触することから、半導体チップ4の
上面は樹脂の硬化によって形成されるパッケージ14の
面から露出するようになる。
The melted resin 34 is supplied to the sub-runner 31,
The air flows into the cavity 30 through the air vent 32.
The extruded air escapes from the air vent 32 to the outside. Since the lower mold 27 supports the lower surface of the lead 5,
The resin 34 is filled in the upper surface and the side surface of the lead 5. Further, since the upper surface of the semiconductor chip 4 comes into contact with the ceiling surface of the cavity 30 of the upper mold 28, the upper surface of the semiconductor chip 4 is exposed from the surface of the package 14 formed by curing the resin.

【0058】前記上型28のキャビティ30の天井面は
平坦面になるとともに、キャビティ30の中央の半導体
チップ4が位置する領域からリード5の足高構造12部
分まで延在している。また、キャビティ30の側面はキ
ャビティ30の下方が張り出すような傾斜面になってい
ることから、傾斜した足高構造12部分や平坦接合部1
0の先端近傍まで樹脂34で被えることになる。この部
分が樹脂の硬化後はリード5の足高構造12部分や平坦
接合部10を保護補強する補強体13を構成することに
なる。
The ceiling surface of the cavity 30 of the upper die 28 is flat, and extends from the region where the semiconductor chip 4 is located at the center of the cavity 30 to the foot-height structure 12 of the lead 5. In addition, since the side surface of the cavity 30 is inclined so that the lower part of the cavity 30 projects, the inclined foot height structure 12 and the flat joint 1
0 is covered with the resin 34 up to the vicinity of the leading end of the zero. After the resin has hardened, this portion constitutes a reinforcing body 13 for protecting and reinforcing the foot-height structure 12 of the lead 5 and the flat joint portion 10.

【0059】なお、足高構造12によって所定の空間1
1が形成できるなら、半導体チップ4やリード支持部3
が取り付けられるリード部分の下面側も樹脂で封止して
もよい。また、耐湿性を向上させるために前記半導体チ
ップ4を完全に樹脂(パッケージ14)で被うようにし
てもよい。
The predetermined space 1 is defined by the foot height structure 12.
1 can be formed, the semiconductor chip 4 or the lead support 3
The lower surface side of the lead portion to which is attached may also be sealed with resin. Further, the semiconductor chip 4 may be completely covered with a resin (package 14) in order to improve moisture resistance.

【0060】前記樹脂のキュアー後、前記モールド金型
29を型開きし、かつ不要な樹脂部分を除去することに
よって、図1に示すようなTCP型半導体装置1を製造
することができる。
After curing the resin, the mold 29 is opened and unnecessary resin portions are removed, whereby the TCP type semiconductor device 1 as shown in FIG. 1 can be manufactured.

【0061】本実施形態1のTCP型半導体装置1は、
図6に示すように実装基板20に実装される。図6は本
実施形態1の半導体装置の実装状態を示す断面図であ
る。
The TCP type semiconductor device 1 of the first embodiment is
It is mounted on the mounting board 20 as shown in FIG. FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a mounted state of the semiconductor device of the first embodiment.

【0062】図6に示すように、実装基板40の表面に
は配線に接続されるランド41が形成されている。この
ランド41は前記TCP型半導体装置1の平坦接合部1
0に対応するように配列されている。
As shown in FIG. 6, lands 41 connected to the wiring are formed on the surface of the mounting board 40. The land 41 is formed on the flat junction 1 of the TCP type semiconductor device 1.
It is arranged to correspond to 0.

【0063】TCP型半導体装置1はリード5の平坦接
合部10を前記ランド41に重ねるように配置され、か
つリードやランド41にあらかじめ形成された半田メッ
キのリフローによって実装されたものであり、リード5
の平坦接合部10は半田42でランド41に固定されて
いる。
In the TCP type semiconductor device 1, the flat joint 10 of the lead 5 is disposed so as to overlap the land 41, and is mounted on the lead or land 41 by reflow of solder plating formed in advance. 5
Is fixed to the land 41 by solder 42.

【0064】TCP型半導体装置1の実装によって、実
装基板40とリード支持部3との間には、他の半導体装
置等を配置できるだけの空間11が発生する。
The mounting of the TCP type semiconductor device 1 creates a space 11 between the mounting substrate 40 and the lead supporting portion 3 in which other semiconductor devices and the like can be arranged.

【0065】そこで、前記空間11が形成される実装基
板40の領域に、前記TCP型半導体装置1よりも小さ
い半導体装置45を実装するように半導体装置45のリ
ード46の先端の実装端47に対応するランド48を形
成しておく。
In order to mount a semiconductor device 45 smaller than the TCP type semiconductor device 1 in a region of the mounting substrate 40 where the space 11 is formed, the mounting end 47 of the tip 46 of the lead 46 of the semiconductor device 45 is mounted. A land 48 is formed in advance.

【0066】実装においては、パッケージ49の周辺か
らガルウィング型にリード46を突出させる半導体装置
45を前記ランド48に対して位置決めして載置すると
ともに、TCP型半導体装置1をランド41に対して位
置決めして載置し、その後半田リフロー処理を行って半
導体装置45およびTCP型半導体装置1を実装基板2
0に半田22,50で実装する。
In mounting, the semiconductor device 45 for projecting the lead 46 in a gull-wing shape from the periphery of the package 49 is positioned and mounted with respect to the land 48, and the TCP semiconductor device 1 is positioned with respect to the land 41. Then, the semiconductor device 45 and the TCP type semiconductor device 1 are mounted on the mounting substrate 2 by performing a solder reflow process.
No. 0 is mounted with solders 22 and 50.

【0067】この際、TCP型半導体装置1は、リード
5の足高構造12が補強体13によって保護補強されて
いるため、リード5の足高構造12部分には上方からは
直接外力が加わらなくなり、リード曲がりが発生しなく
なる。この結果、積層実装における上段用半導体装置
(TCP型半導体装置1)の実装歩留りの向上、実装信
頼性の向上が図れる。
At this time, in the TCP type semiconductor device 1, since the foot-height structure 12 of the lead 5 is protected and reinforced by the reinforcing member 13, no external force is directly applied to the foot-height structure 12 of the lead 5 from above. , Lead bending does not occur. As a result, the mounting yield and the mounting reliability of the upper semiconductor device (TCP semiconductor device 1) in the stacked mounting can be improved.

【0068】また、従来の足高構造の半導体装置の場合
のように、実装時リードの足高構造に必要以上の注意を
払うことなく実装作業が行えることから、実装作業も円
滑に行え、実装時間の短縮も可能になる。
Further, as in the case of the conventional semiconductor device having a foot-height structure, the mounting operation can be performed without paying more attention than necessary to the foot-height structure of the lead during mounting. Time can also be reduced.

【0069】本実施形態1によれば以下の効果を奏す
る。
According to the first embodiment, the following effects can be obtained.

【0070】(1)パッケージ14の下に他の半導体装
置45を位置させる空間11を有する足高リード構造の
TCP型半導体装置1において、前記リード5の足高構
造12部分は前記パッケージ14の形成時に同時に形成
された樹脂からなる補強体13で保護補強されているこ
とから、足高部分のリード強度は強く、リード5は変形
し難い。したがって、実装時のリード変形による実装不
良か起きなくなる。
(1) In the TCP-type semiconductor device 1 having a foot-lead structure having a space 11 in which another semiconductor device 45 is located below the package 14, the foot-height structure 12 of the lead 5 forms the package 14. Since the reinforcement is made of the resin 13 formed at the same time, the lead is strong at the foot high portion, and the lead 5 is hardly deformed. Therefore, mounting failure due to lead deformation during mounting does not occur.

【0071】(2)前記(1)により、実装時にリード
変形が起きなくなることから、リード5の平坦接合部1
0とランド41との接合が確実になり、実装の信頼性が
高くなる。
(2) According to the above (1), the lead deformation does not occur at the time of mounting.
0 and the land 41 are securely joined, and the mounting reliability is increased.

【0072】(3)前記(1)により、実装時にリード
変形が起きなくなることから、リード5の足高構造12
部分に注意を払うことなく作業ができるため、実装作業
が円滑になり実装作業時間の短縮が図れる。
(3) According to the above (1), the lead deformation does not occur during mounting.
Since the operation can be performed without paying attention to the parts, the mounting operation can be performed smoothly and the mounting operation time can be reduced.

【0073】(4)絶縁性フィルムに貼り付けられた金
属箔をエッチングしてリード5を形成したTCP型半導
体装置1は、リード5は薄く強度は低いが、リード5の
足高構造12部分が補強体13で補強されることからリ
ード強度は向上し、スタック構造として安定したものに
なる。
(4) In the TCP type semiconductor device 1 in which the lead 5 is formed by etching the metal foil attached to the insulating film, the lead 5 is thin and low in strength, but the leg 5 of the lead 5 has a high foot structure 12. Since the reinforcement is provided by the reinforcing member 13, the lead strength is improved, and the stack structure becomes stable.

【0074】(実施形態2)図7は本発明の実施形態2
である半導体装置等を示す断面図、図8は半導体装置の
補強体形成状態を示す断面図である。
(Embodiment 2) FIG. 7 shows Embodiment 2 of the present invention.
And FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state in which a reinforcing member is formed in the semiconductor device.

【0075】本実施形態2の上段用半導体装置60は、
リードフレームを用いて製造した樹脂封止型半導体装置
である。この上段用半導体装置60もリード5は足高構
造12になり、パッケージ14の下側に他の半導体装置
45を位置させることができる空間11を有している。
In the second embodiment, the upper semiconductor device 60 comprises:
This is a resin-sealed semiconductor device manufactured using a lead frame. The upper semiconductor device 60 also has the space 5 in which the lead 5 has the foot-height structure 12 and another semiconductor device 45 can be located below the package 14.

【0076】図7では上段用半導体装置60の実装状態
を示す断面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing a mounting state of the upper semiconductor device 60.

【0077】本実施形態2の上段用半導体装置60の製
造においては、常用のリードフレームを使用した樹脂封
止型半導体装置の製造方法で形成されるが、パッケージ
14から突出するリード5は長く形成され、かつ成形に
よるガルウィング型化の場合には、絶縁性フィルムの下
側に他の半導体装置を位置させることができる空間を有
する空間11を形成できるように足高構造12にされ
る。
In manufacturing the upper semiconductor device 60 of the second embodiment, the semiconductor device is formed by a method of manufacturing a resin-encapsulated semiconductor device using a common lead frame, but the leads 5 protruding from the package 14 are formed long. In the case of a gull-wing type formed by molding, the foot height structure 12 is formed so that a space 11 having a space in which another semiconductor device can be located below the insulating film can be formed.

【0078】通常はこの段階が製造の終了段階になる
が、本実施形態2ではこの半導体装置を、図8に示すよ
うに半完成品半導体装置61とし、下型27と上型28
からなるモールド金型29に型締めしてトランスファモ
ールドを行い、リード5の足高構造12部分や平坦接合
部10の先端を除いた部分を樹脂からなる補強体13で
保護補強する。
Normally, this stage is the end stage of the manufacture. In the second embodiment, the semiconductor device is a semi-finished semiconductor device 61 as shown in FIG.
Then, transfer molding is performed by clamping the mold to a mold die 29 made of, and a portion of the lead 5 excluding the foot-height structure 12 and the tip of the flat joint portion 10 is protected and reinforced by a reinforcing body 13 made of resin.

【0079】本実施形態1では、下型27側にキャビテ
ィ30,サブランナー31,エアーベント32,ゲート
33が設けられている。
In the first embodiment, the cavity 30, the sub-runner 31, the air vent 32, and the gate 33 are provided on the lower mold 27 side.

【0080】トランスファモールドにおいては、溶けた
樹脂34をサブランナー31からゲート33を通してキ
ャビティ30に流入させる。その後樹脂34のキュアー
を行い、型開きしかつ不要樹脂部分を除去して図7に示
す上段用半導体装置60を製造する。
In the transfer molding, the melted resin 34 flows from the sub-runner 31 through the gate 33 into the cavity 30. Thereafter, the resin 34 is cured, the mold is opened, and the unnecessary resin portion is removed to manufacture the upper semiconductor device 60 shown in FIG.

【0081】なお、パッケージ14内において、半導体
チップ4は支持板62上に固定され、半導体チップ4の
図示しない電極とリード5の内端部分は導電性のワイヤ
63で接続されている。
In the package 14, the semiconductor chip 4 is fixed on a support plate 62, and electrodes (not shown) of the semiconductor chip 4 and inner ends of the leads 5 are connected by conductive wires 63.

【0082】本実施形態2の上段用半導体装置60は、
リード5の足高構造12が補強体13で保護補強されて
いることからリード曲がりが起きない。なお、リード5
はリードフレームから形成され、一般にリードフレーム
の厚さは薄くても0.1mm程度であることからTCP
のばあいのリードに比較して大幅に厚く機械的強度が高
い。
In the second embodiment, the upper semiconductor device 60
Since the foot height structure 12 of the lead 5 is protected and reinforced by the reinforcing body 13, the lead does not bend. Note that lead 5
Is formed from a lead frame, and since the thickness of the lead frame is generally about 0.1 mm even if it is thin, TCP
It is much thicker and has higher mechanical strength than the lead in the case of nook.

【0083】本実施形態2の場合も前記実施形態1の場
合と同様の効果を有する。
The second embodiment also has the same effects as the first embodiment.

【0084】(実施形態3)図9は本発明の実施形態3
である半導体装置を示す平面図、図10は半導体装置の
断面図である。
(Embodiment 3) FIG. 9 shows Embodiment 3 of the present invention.
And FIG. 10 is a cross-sectional view of the semiconductor device.

【0085】本実施形態3の上段用半導体装置70は、
従来のバンパー付き半導体装置を発展させた構造であ
る。すなわち、本実施形態3の上段用半導体装置70
は、図9に示すように、矩形状のパッケージ14の四隅
にリード5の突出長さと同一か或いはそれ以上に長い樹
脂からなるバンパー71を形成した構造になっている。
前記バンパー71は前記パッケージ14をトランスファ
モールド時に形成する際同時に形成してある。なお、パ
ッケージ14の形成後にバンパー71を形成するように
してもよい。
In the third embodiment, the upper semiconductor device 70
This is a structure obtained by developing a conventional semiconductor device with a bumper. That is, the upper semiconductor device 70 of the third embodiment.
As shown in FIG. 9, a bumper 71 made of a resin having the same length as or longer than the protruding length of the lead 5 is formed at the four corners of a rectangular package 14.
The bumper 71 is formed at the same time when the package 14 is formed during transfer molding. Note that the bumper 71 may be formed after the package 14 is formed.

【0086】また、パッケージ14の側面から突出する
リード5を、パッケージ14の下側に他の半導体装置を
位置させることができる空間11を有するようにリード
5を下方に向かって長い足高構造12としたものであ
る。空間11を形成するために支持板62の下側のパッ
ケージ14の厚さを薄く形成してある。
The lead 5 protruding from the side surface of the package 14 is extended downward so that the lead 5 has a space 11 below the package 14 in which another semiconductor device can be located. It is what it was. In order to form the space 11, the thickness of the package 14 below the support plate 62 is formed thin.

【0087】本実施形態3の上段用半導体装置70は、
パッケージ14から突出するリード5部分、すなわち足
高構造12のリード部分を直接保護補強はしてないが、
パッケージ14の四隅に突出形成したバンパー71が、
リード5の外端が他のものに接触しようとした場合、リ
ードよりも先にバンパー71が他のものに接触し、リー
ド5の外端が他のものに接触しないようにしてリード5
に外力が加わらないようにしている。
In the third embodiment, the upper semiconductor device 70
Although the lead 5 portion protruding from the package 14, that is, the lead portion of the foot-height structure 12 is not directly protected and reinforced,
Bumpers 71 projecting from the four corners of the package 14
If the outer end of the lead 5 attempts to contact another object, the bumper 71 contacts the other before the lead, and the outer end of the lead 5 does not contact the other so that the lead 5
To prevent external force from being applied.

【0088】これにより、実装時のリードの曲がりを防
止することができる。したがって、本実施形態3の場合
も前記実施形態1の場合と同様の効果を奏する。
Thus, it is possible to prevent the lead from being bent at the time of mounting. Therefore, the third embodiment has the same effect as the first embodiment.

【0089】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない。たとえ
ば、前記各実施形態では、補強体はパッケージと同時に
形成しているが別に形成してもよい。また、材質は絶縁
性ならば樹脂でなくともよい。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and can be variously modified without departing from the gist thereof. Needless to say. For example, in each of the above embodiments, the reinforcing member is formed simultaneously with the package, but may be formed separately. The material may not be resin as long as it is insulating.

【0090】[0090]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The effects obtained by the representative ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0091】(1)パッケージの下に他の半導体装置を
位置させる空間を有する足高リード構造のTCP型半導
体装置において、前記リードの足高構造部分は前記パッ
ケージの形成時に同時に形成された樹脂からなる補強体
で保護補強されていることから、足高部分のリード強度
は強くリードは変形し難い。したがって、実装時のリー
ド変形による実装不良が起きなくなる。
(1) In a TCP-type semiconductor device having a foot-height lead structure having a space for placing another semiconductor device under a package, the foot-height structure portion of the lead is made of resin formed simultaneously with the formation of the package. Since the reinforcement is made of a protective body, the lead strength at the high part of the foot is strong and the lead is hardly deformed. Therefore, mounting defects due to lead deformation during mounting do not occur.

【0092】(2)実装時にリード変形が起きなくなる
ことから、リードの平坦接合部(実装端)とランドとの
接合が確実になり、実装の信頼性が高くなる。
(2) Since lead deformation does not occur at the time of mounting, bonding between the flat bonding portion (mounting end) of the lead and the land is ensured, and mounting reliability is increased.

【0093】(3)実装時にリード変形が起きなくなる
ことから、リードの足高構造部分に注意を払うことなく
作業ができるため、実装作業が円滑になり実装作業時間
の短縮が図れる。
(3) Since lead deformation does not occur at the time of mounting, the work can be performed without paying attention to the foot-height structure portion of the lead, so that the mounting operation is smooth and the mounting operation time can be shortened.

【0094】(4)絶縁性フィルムに貼り付けられた金
属箔をエッチングしてリードを形成したTCP型半導体
装置は、リードは薄く強度は低いが、リードの足高構造
部分が補強体で補強されることからリード強度は向上
し、スタック構造として安定したものになる。
(4) In a TCP type semiconductor device in which a lead is formed by etching a metal foil attached to an insulating film, the lead is thin and low in strength, but the foot-height structure portion of the lead is reinforced by a reinforcing member. Therefore, the lead strength is improved, and the stack structure becomes stable.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態1である半導体装置を示す断
面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本実施形態1の半導体装置の平面図である。FIG. 2 is a plan view of the semiconductor device according to the first embodiment.

【図3】本実施形態1の半導体装置の製造に用いるテー
プキャリヤの平面図である。
FIG. 3 is a plan view of a tape carrier used for manufacturing the semiconductor device of the first embodiment.

【図4】本実施形態1の半導体装置の製造においてテー
プキャリヤから切断分離された半完成品半導体装置を示
す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing the semi-finished product semiconductor device cut and separated from the tape carrier in manufacturing the semiconductor device of the first embodiment.

【図5】本実施形態1の半導体装置の製造において半完
成品半導体装置をモールドする状態を示す断面図であ
る。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which the semi-finished product semiconductor device is molded in the manufacture of the semiconductor device of the first embodiment.

【図6】本実施形態1の半導体装置の実装状態を示す断
面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a mounted state of the semiconductor device of the first embodiment.

【図7】本発明の実施形態2である半導体装置等を示す
断面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing a semiconductor device and the like according to a second embodiment of the present invention;

【図8】本実施形態2の半導体装置の補強体形成状態を
示す断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state in which a reinforcing member is formed in the semiconductor device of the second embodiment.

【図9】本発明の実施形態3である半導体装置を示す平
面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a semiconductor device which is Embodiment 3 of the present invention.

【図10】本実施形態3の半導体装置の断面図である。FIG. 10 is a sectional view of a semiconductor device according to a third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…半導体装置(TCP型半導体装置)、2…穴(デバ
イスホール)、3…リード支持部、4…半導体チップ、
5…リード、6…接着剤、7…電極、10…平坦接合
部、11…空間、12…足高構造、13…補強体、14
…パッケージ、20…テープキャリヤ、21…絶縁性フ
ィルム(絶縁性テープ)、22…リードパターン、23
…パーフォレーション孔、24…長孔、25…吊り部、
26…半完成品半導体装置、27…下型、28…上型、
29…モールド金型、30…キャビティ、31…サブラ
ンナー、32…エアーベント、33…ゲート、40…実
装基板、41…ランド、42…半田、45…半導体装
置、46…リード、47…実装端、48…ランド、49
…パッケージ、50…半田、60…上段用半導体装置、
61…半完成品半導体装置、62…支持板、63…ワイ
ヤ、70…上段用半導体装置、71…バンパー。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor device (TCP type semiconductor device), 2 ... Hole (device hole), 3 ... Lead support part, 4 ... Semiconductor chip,
5 Lead, 6 Adhesive, 7 Electrode, 10 Flat joint, 11 Space, 12 Foot height structure, 13 Reinforcement, 14
... Package, 20 ... Tape carrier, 21 ... Insulating film (insulating tape), 22 ... Lead pattern, 23
... perforation holes, 24 ... long holes, 25 ... hanging parts,
26: semi-finished product semiconductor device, 27: lower die, 28: upper die,
29 mold die, 30 cavity, 31 subrunner, 32 air vent, 33 gate, 40 mounting board, 41 land, 42 solder, 45 semiconductor device, 46 lead, 47 mounting end , 48 ... Land, 49
... Package, 50 ... Solder, 60 ... Semiconductor device for upper stage,
61: semi-finished product semiconductor device; 62: support plate; 63: wire; 70: upper stage semiconductor device; 71: bumper.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 25/07 25/18 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H01L 25/07 25/18

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パッケージと、前記パッケージから突出
する複数のリードとを有し、前記パッケージの下に他の
半導体装置を位置させることができる空間を形成するよ
うに前記リードは下方に向かって長い足高構造になる半
導体装置であって、前記リードは補強体で補強されてい
ることを特徴とする半導体装置。
1. A package having a package and a plurality of leads protruding from the package, wherein the leads are long downward so as to form a space in which another semiconductor device can be located under the package. A semiconductor device having a foot-height structure, wherein the leads are reinforced by a reinforcing body.
【請求項2】 前記補強体は前記パッケージに固定され
る樹脂で形成されていることを特徴とする請求項1に記
載の半導体装置。
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein said reinforcing member is formed of a resin fixed to said package.
【請求項3】 前記補強体は前記パッケージの形成時に
同時に形成されたものであることを特徴とする請求項1
または請求項2に記載の半導体装置。
3. The package according to claim 1, wherein the reinforcing member is formed at the same time when the package is formed.
Alternatively, the semiconductor device according to claim 2.
【請求項4】 前記リードは絶縁性フィルムに貼り付け
られた金属箔をエッチングして形成されたものであるこ
とを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか1項に
記載の半導体装置。
4. The semiconductor device according to claim 1, wherein said leads are formed by etching a metal foil attached to an insulating film. .
【請求項5】 表面にリードパターンを形成した絶縁性
フィルムを用意する工程と、前記リードパターンに電極
を介して半導体チップを固定する工程と、前記リードパ
ターンの外周部分のリードおよび絶縁性フィルムを切断
して前記絶縁性フィルムの周囲からリードを突出させる
半完成品半導体装置を形成する工程と、前記半完成品半
導体装置のリードを成形し前記絶縁性フィルムの下側に
他の半導体装置を位置させることができる空間を有する
ようにリードを足高に形成する工程と、前記半完成品半
導体装置をモールドして前記半導体チップ,絶縁性フィ
ルム,リード内端側を樹脂からなるパッケージで封止す
るとともに前記樹脂をリードの外端側の上面側にまで設
けて足高のリード部分を補強する工程とを有することを
特徴とする半導体装置の製造方法。
5. A step of preparing an insulating film having a lead pattern formed on a surface thereof, a step of fixing a semiconductor chip to the lead pattern via an electrode, and a step of forming a lead and an insulating film on an outer peripheral portion of the lead pattern. Cutting and forming a semi-finished product semiconductor device in which leads protrude from the periphery of the insulating film; and forming leads of the semi-finished product semiconductor device and positioning another semiconductor device under the insulating film. Forming the leads so as to have a space that can be made to work, and molding the semi-finished product semiconductor device, and sealing the semiconductor chip, the insulating film, and the inner ends of the leads with a package made of resin. A step of providing the resin up to the upper surface on the outer end side of the lead to reinforce the lead portion at the height of the foot. Manufacturing method of the device.
【請求項6】 金属板からなるリードフレームを用意す
る工程と、前記リードフレームの所定部分に半導体チッ
プを固定する工程と、前記半導体チップの電極とリード
の内端部分を導電性のワイヤで接続する工程と、前記半
導体チップ,ワイヤおよびリードの内端部分を樹脂から
なるパッケージで被う工程と、前記リードフレームの不
要部分を切断除去するとともに前記パッケージから突出
するリードを成形する工程とを有する半導体装置の製造
方法であって、前記リード成形時には前記パッケージの
下側に他の半導体装置を位置させることができる空間を
有するようにリードを足高に形成し、その後前記空間機
能を損なうことなくモールドして前記パッケージから突
出する足高リード部分を前記パッケージと一体となる樹
脂体で補強することを特徴とする半導体装置の製造方
法。
6. A step of preparing a lead frame made of a metal plate, a step of fixing a semiconductor chip to a predetermined portion of the lead frame, and connecting electrodes of the semiconductor chip and inner ends of the leads by conductive wires. And covering the inner end portions of the semiconductor chip, wires and leads with a package made of resin, and cutting and removing unnecessary portions of the lead frame and forming leads protruding from the package. A method of manufacturing a semiconductor device, wherein at the time of forming the lead, a lead is formed at a foot height so as to have a space under which the other semiconductor device can be located, without impairing the space function. Molding and reinforcing a foot-height lead portion protruding from the package with a resin body integrated with the package A method for manufacturing a semiconductor device, comprising:
【請求項7】 パッケージと、前記パッケージの側面か
ら突出する複数のリードと、前記パッケージの角部に設
けられ前記リードと同程度の長さ突出するバンパーとを
有する半導体装置であって、前記リードは下方に向かっ
て長い足高構造となり前記パッケージの下に他の半導体
装置を位置させることができる空間を有することを特徴
とする半導体装置。
7. A semiconductor device comprising: a package; a plurality of leads projecting from a side surface of the package; and a bumper provided at a corner of the package and projecting as long as the leads. Is a semiconductor device having a foot height structure that is long downward, and having a space in which another semiconductor device can be positioned under the package.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2006294983A (en) * 2005-04-13 2006-10-26 Ricoh Co Ltd Three-dimensional compact circuit component and its manufacturing method

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