JPH113926A - Leaf semiconductor wafer processor - Google Patents
Leaf semiconductor wafer processorInfo
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- JPH113926A JPH113926A JP15467497A JP15467497A JPH113926A JP H113926 A JPH113926 A JP H113926A JP 15467497 A JP15467497 A JP 15467497A JP 15467497 A JP15467497 A JP 15467497A JP H113926 A JPH113926 A JP H113926A
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- wafer
- carrier
- arm
- wafers
- wafer processing
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウェーハを1
枚づつ洗浄する枚葉式ウェーハ洗浄装置等の半導体ウェ
ーハ処理装置に関する。より詳しくは、装置の小型化を
図るためのレイアウトの改良を施した枚葉式半導体ウェ
ーハ処理装置に関するものである。[0001] The present invention relates to a semiconductor wafer.
The present invention relates to a semiconductor wafer processing apparatus such as a single wafer cleaning apparatus for cleaning wafers one by one. More specifically, the present invention relates to a single-wafer-type semiconductor wafer processing apparatus having an improved layout for miniaturizing the apparatus.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体製造工程でのウェーハ洗浄プロセ
スにおいて、所定枚数の半導体ウェーハを収納したキャ
リアから半導体ウェーハを1枚づつ取出し、これを(ウ
ェーハ処理部内回転ステージ)であるスピンナー上に搭
載固定してスピンナーを回転させながら純水等の洗浄液
をかけてウェーハを洗浄する枚葉式ウェーハ洗浄装置が
用いられている。このようなウェーハ洗浄装置は、一連
の半導体製造工程の1プロセスとして、半導体を高品質
に維持するために他のプロセス装置とともにクリーンル
ーム内に設置される。このクリーンルームはスペースが
限られているため、内部に設置する機器はコンパクトな
小型構成であって設置占有面積が小さいことが要求され
る。2. Description of the Related Art In a wafer cleaning process in a semiconductor manufacturing process, semiconductor wafers are taken out one by one from a carrier containing a predetermined number of semiconductor wafers, and the semiconductor wafers are mounted and fixed on a spinner (rotating stage in a wafer processing unit). 2. Description of the Related Art A single-wafer-type wafer cleaning apparatus for cleaning a wafer by applying a cleaning liquid such as pure water while rotating a spinner is used. Such a wafer cleaning apparatus is installed in a clean room together with other process apparatuses in order to maintain a high quality semiconductor as one of a series of semiconductor manufacturing processes. Since the space in this clean room is limited, it is required that the devices installed inside the clean room have a compact and small configuration and a small installation area.
【0003】従来の枚葉式ウェーハ洗浄装置は、ウェー
ハの処理枚数を多くして生産性を高めるため及び洗浄方
法を多様化してブラシ洗浄、ジェット洗浄及び超音波洗
浄等の各種洗浄手段を使用可能とするため、キャリアを
載置するキャリア台を複数個並べて設け複数のキャリア
からそれぞれウェーハを取出し可能とし、さらにスピン
ナーを複数個設置して同時に各スピンナーでウェーハを
洗浄可能とした構成であった。このような構成におい
て、搬送アーム等のウェーハ移送手段により各キャリア
からそれぞれウェーハを取出し各スピンナーで洗浄条件
を変えてウェーハ洗浄を行なっていた。A conventional single wafer cleaning apparatus can use various cleaning means such as brush cleaning, jet cleaning and ultrasonic cleaning in order to increase productivity by increasing the number of processed wafers and diversify the cleaning method. Accordingly, a plurality of carrier tables on which carriers are placed are arranged, and a wafer can be taken out from each of the plurality of carriers. Further, a plurality of spinners are provided, and the wafers can be simultaneously cleaned by the respective spinners. In such a configuration, a wafer is taken out of each carrier by a wafer transfer means such as a transfer arm, and the wafers are cleaned by changing the cleaning conditions with each spinner.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のウェーハ洗浄装置においては、複数のキャリア台お
よび複数のスピンナーを備えるため、生産性は高まるも
のの装置全体が大型となって設置面積を広く要するもの
となり、クリーンルーム等の限られたスペースを大きく
占有し他の機器の設置の制約となり、また価格も高価の
ものとなっていた。また、各キャリア台でウェーハを出
し入れする専用の搬送アームおよび各スピンナーでウェ
ーハを出し入れする専用の搬送アームが必要になるとと
もに各キャリアとスピンナー間でのウェーハの移送機構
も別に設けなければならない場合もあり、ウェーハの取
出しや収納のための搬送機構が複雑で大型になって、装
置全体をさらに大型化するとともに費用の増大を来して
いた。また、複数のスピンナーを用いて洗浄を行なうた
め、各ウェーハに対する洗浄条件および洗浄順序や搬送
経路等の制御条件が複雑になって条件設定プロセスが面
倒で手間がかかるものとなっていた。However, in the above-described conventional wafer cleaning apparatus, since a plurality of carrier tables and a plurality of spinners are provided, the productivity is increased, but the entire apparatus is large and requires a large installation area. Thus, a limited space such as a clean room is largely occupied, which restricts the installation of other devices, and the price is high. In addition, a dedicated transfer arm for loading and unloading wafers on each carrier table and a dedicated transfer arm for loading and unloading wafers on each spinner are required, and a mechanism for transferring wafers between each carrier and the spinner must be separately provided. In some cases, a transfer mechanism for taking out and storing a wafer is complicated and large, and the whole apparatus is further increased in size and cost is increased. Further, since cleaning is performed using a plurality of spinners, cleaning conditions for each wafer and control conditions such as a cleaning order and a transport route are complicated, and the condition setting process is troublesome and troublesome.
【0005】本発明は、上記従来技術を考慮してなされ
たものであって、生産性を過度に低下させることなく実
用上必要とされる充分な生産性を保持して装置全体をコ
ンパクトで小型な構成とし、設置面積の減少を図った枚
葉式半導体ウェーハ処理装置の提供を目的とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned prior art, and has a compact and small size as a whole while maintaining sufficient productivity required for practical use without excessively lowering productivity. It is an object of the present invention to provide a single-wafer-type semiconductor wafer processing apparatus having a simple configuration and reducing an installation area.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明では、処理すべき複数枚のウェーハを収納し
たキャリア1個分の載置スペースからなるキャリア台
と、ウェーハに対し1枚づつ処理を施す1ヵ所のみのウ
ェーハ処理部と、ウェーハを保持して前記キャリア台お
よびウェーハ処理部に対しウェーハを出し入れするため
のウェーハ保持手段と、このウェーハ保持手段を搭載し
て昇降動作、旋回動作および直線移動動作させるための
搬送台を備えた搬送機構と、前記キャリア台およびウェ
ーハ処理部間の搬送経路上に設けたウェーハ搭載用の2
つの中間ステージとを備え、前記搬送台の旋回動作の回
転軸を中心として、前記キャリア台、ウェーハ処理部お
よび2つの中間ステージを放射状に配置したことを特徴
とする枚葉式半導体ウェーハ処理装置を提供する。In order to achieve the above object, according to the present invention, there is provided a carrier table comprising a mounting space for one carrier accommodating a plurality of wafers to be processed, and one wafer per wafer. Only one wafer processing unit for performing processing, wafer holding means for holding the wafer and taking the wafer in and out of the carrier table and the wafer processing unit, and mounting the wafer holding means for raising / lowering operation and turning operation And a transfer mechanism having a transfer table for performing linear movement operation, and a transfer mechanism for mounting a wafer provided on a transfer path between the carrier table and the wafer processing unit.
A single-wafer-type semiconductor wafer processing apparatus, comprising: a carrier stage, a wafer processing unit, and two intermediate stages arranged radially around a rotation axis of a rotation operation of the transfer table. provide.
【0007】この構成によれば、キャリア1個を搭載す
るキャリア台と、1ヵ所のウェーハ処理部と2つの中間
ステージがウェーハ搬送経路の範囲内で放射状に並設さ
れるため、小型でコンパクトなレイアウトが実現可能に
なる。この場合、2つの中間ステージを利用してキャリ
アから取出したウェーハおよび処理が終了したウェーハ
をそれぞれ待機させて順番に処理プロセスを施す等の制
御シーケンスプログラムにより半導体製造工程上充分な
生産効率で処理を実行することができる。したがって、
実用上必要とする生産性を充分に維持したまま、装置の
小型化ができ、クリーンルーム等の限られた設置スペー
ス内において他の機器の設置の制約を軽減し、製造プロ
セス全体の配置レイアウトの自由度を高め、プロセス全
体としての生産性を高めることができ、また費用の低減
を図ることができる。[0007] According to this configuration, the carrier table on which one carrier is mounted, one wafer processing unit and two intermediate stages are radially juxtaposed within the range of the wafer transfer path. Layout becomes feasible. In this case, the processing is performed with sufficient production efficiency in the semiconductor manufacturing process by a control sequence program in which the wafer taken out of the carrier and the processed wafer are put on standby using the two intermediate stages and the processing processes are sequentially performed. Can be performed. Therefore,
The equipment can be downsized while maintaining the productivity required for practical use, reducing the restrictions on the installation of other equipment in a limited installation space such as a clean room, and freeing the layout of the entire manufacturing process. Thus, the productivity of the whole process can be increased, and the cost can be reduced.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】好ましい実施の形態においては、
前記ウェーハ保持手段は、前記キャリア台に対しウェー
ハを出し入れするための第1アームと、前記ウェーハ処
理部に対しウェーハを出し入れするための第2アームと
からなり、該第1および第2アームはアーム長手方向を
揃えて配設され、前記各アームはこの長手方向に沿って
別々に移動可能であることを特徴としている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In a preferred embodiment,
The wafer holding means includes a first arm for taking a wafer in and out of the carrier table, and a second arm for taking a wafer in and out of the wafer processing unit, wherein the first and second arms are arms. The arm is arranged in a longitudinal direction, and each of the arms is separately movable along the longitudinal direction.
【0009】この構成によれば、ウェーハ処理部の処理
形態に応じてウェーハの保持形態がキャリアからのウェ
ーハの保持形態と異なる場合に、2本のアームを用いて
これらの長手方向を揃えて別々に直線駆動可能とするこ
とにより、スペースを増大させることなく効率的なウェ
ーハ搬送シーケンスを達成することができる。According to this configuration, when the holding mode of the wafer is different from the holding mode of the wafer from the carrier in accordance with the processing mode of the wafer processing unit, the two arms are used to align their longitudinal directions and separate them. By enabling the linear drive, an efficient wafer transfer sequence can be achieved without increasing the space.
【0010】さらに好ましい実施の形態においては、前
記ウェーハ処理部は、回転洗浄装置からなることを特徴
としている。In a further preferred embodiment, the wafer processing section comprises a rotary cleaning device.
【0011】この構成により、特にレイアウト上小型化
の要求が大きいウェーハ洗浄プロセスでのコンパクトな
配置構造が得られる。According to this configuration, a compact arrangement structure can be obtained particularly in a wafer cleaning process which requires a large reduction in layout.
【0012】[0012]
【実施例】図1は本発明に係る枚葉式半導体ウェーハ洗
浄装置の斜視図であり、図2はその上面の構成配置およ
びその動作の説明図である。FIG. 1 is a perspective view of a single wafer type semiconductor wafer cleaning apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is an explanatory view of the arrangement and operation of the upper surface thereof.
【0013】この半導体ウェーハ洗浄装置は、装置本体
1を基台としてこの上にキャリア台2が設けられる。こ
のキャリア台2は、所定枚数のウェーハを収容したキャ
リア3を1個だけ載置する構成であり、作業者が台上に
キャリア3を搭載するときのガイド部材(図示しない)
やキャリア3が搭載されたことを検知するキャリア3内
のウェーハの有無を検知するセンサー(図示しない)等
が備る。In this semiconductor wafer cleaning apparatus, an apparatus main body 1 is used as a base, and a carrier table 2 is provided thereon. The carrier table 2 has a configuration in which only one carrier 3 containing a predetermined number of wafers is placed, and a guide member (not shown) when an operator mounts the carrier 3 on the table.
And a sensor (not shown) for detecting the presence or absence of a wafer in the carrier 3 for detecting that the carrier 3 is mounted.
【0014】このキャリア台2と対向する位置の装置本
体1上の1ヵ所にウェーハを洗浄処理するスピンナー4
が設けられる。このスピンナー4は、ウェーハ20を搭
載して固定保持する回転台4aと、この回転台4aの両
側に設けた旋回可能な高圧ジェットアーム4bおよびブ
ラシアーム4cを備え、さらに図示しない純水等の洗浄
液の供給系および排水系や洗浄中に発生するミストを抑
制したり排出するための排気系を備えている。A spinner 4 for cleaning a wafer at one position on the apparatus main body 1 at a position facing the carrier table 2.
Is provided. The spinner 4 includes a rotary table 4a on which the wafer 20 is mounted and fixedly held, and a rotatable high-pressure jet arm 4b and a brush arm 4c provided on both sides of the rotary table 4a. The system is provided with a supply system and a drainage system, and an exhaust system for suppressing and discharging mist generated during cleaning.
【0015】キャリア台2とスピンナー4との間には、
搬送台10を有する搬送機構9が設けられる。この搬送
台10上に、キャリア台2からウェーハを出し入れする
ための第1アーム7およびスピンナー4の回転台4aに
ウェーハを着脱するための第2アーム8が備る。これら
の第1アーム7および第2アーム8は、アームの長手方
向を揃えて上下に重ねて設けられ、搬送機構9の搬送台
10上に長手方向に別々に移動可能に装着される。Between the carrier table 2 and the spinner 4,
A transfer mechanism 9 having a transfer table 10 is provided. A first arm 7 for taking a wafer in and out of the carrier table 2 and a second arm 8 for attaching / detaching the wafer to / from a rotating table 4a of the spinner 4 are provided on the carrier table 10. The first arm 7 and the second arm 8 are provided vertically one above the other with the longitudinal directions of the arms aligned, and mounted on a transfer table 10 of the transfer mechanism 9 so as to be separately movable in the longitudinal direction.
【0016】すなわち、第1および第2アーム7、8の
後端部はそれぞれ反対方向にL字状に屈曲し、このL字
状屈曲端部が、搬送台10の各側面のカバー10aのス
リット(図示しない)を通してガイドレール11に係合
し、各アーム7、8をそれぞれ長手方向にスライドして
伸縮動作させる(矢印R)。図1および図2(A)の実
線は、第1アーム7が搬送台10上に引込んだ状態でそ
の上の第2アーム8が搬送台10から伸びて突出した状
態を示している。That is, the rear ends of the first and second arms 7 and 8 are bent in the L-shape in opposite directions, respectively, and the L-shaped bent ends are formed by slits in the cover 10a on each side surface of the carrier 10. The arm 7 is engaged with the guide rail 11 through a not-shown part, and the arms 7 and 8 are slid in the longitudinal direction to extend and contract (arrow R). The solid lines in FIGS. 1 and 2A show a state in which the first arm 7 is retracted onto the carrier 10 and the second arm 8 thereon extends from the carrier 10 and protrudes.
【0017】第1アーム7の先端部にはウェーハ移送時
にウェーハを保持する例えば真空チャックやメカチャッ
ク構造等からなるウェーハチャック手段(図示しない)
が設けられる。また、第2アーム8の先端部にはウェー
ハ外周を機械的に保持する円弧状チャック8aが備る。
なお、図1および図2(A)は、L字状に屈曲した第2
アーム8の後端部の下側に第1アーム7の先端が隠れた
状態を示す。A wafer chuck means (not shown) having, for example, a vacuum chuck or a mechanical chuck structure for holding the wafer at the time of transferring the wafer is provided at the tip of the first arm 7.
Is provided. An arcuate chuck 8a for mechanically holding the outer periphery of the wafer is provided at the tip of the second arm 8.
FIGS. 1 and 2A show a second L-shaped bent portion.
The state where the tip of the first arm 7 is hidden under the rear end of the arm 8 is shown.
【0018】第1および第2アーム7、8を搭載した搬
送台10は、搬送機構9に内蔵した駆動装置(図示しな
い)により、搬送台10の中心Oを軸として、矢印P
(図2)のように回転可能で且つ矢印Q(図1)のよう
に昇降動作可能であり、さらに前述のように第1および
第2アーム7、8を矢印R(図1)のようにガイドレー
ル11に沿ってそれぞれ独立に伸縮スライド駆動する。The transfer table 10 on which the first and second arms 7 and 8 are mounted is driven by a driving device (not shown) built in the transfer mechanism 9 with the center P of the transfer table 10 as an axis.
It is rotatable as shown in FIG. 2 and can be moved up and down as shown by arrow Q (FIG. 1). Further, as described above, the first and second arms 7, 8 are moved as shown by arrow R (FIG. 1). The telescopic slide is driven independently along the guide rails 11.
【0019】第1および第2アーム7、8の旋回範囲お
よび伸縮範囲内で搬送台10に近接した位置に、第1中
間ステージ5および第2中間ステージ6が設けられる。
これらの中間ステージ5、6とキャリア台2およびスピ
ンナー4は、搬送台10の回転中心Oを中心として放射
状に配置される。この第1中間ステージ5(及び/又は
第2中間ステージ6)には、ウェーハの結晶方向性を一
定に揃えるためのオリエンテーションフラットの位置合
せ機構(オリフラ合せ機構)を設けてもよい。また、第
2中間中間ステージ6(及び/又は第1中間ステージ
5)には搭載したウェーハの表裏反転機構を設けてもよ
い。A first intermediate stage 5 and a second intermediate stage 6 are provided at positions close to the transfer table 10 within the turning range and the telescopic range of the first and second arms 7 and 8.
The intermediate stages 5 and 6, the carrier table 2 and the spinner 4 are arranged radially about the rotation center O of the transfer table 10. The first intermediate stage 5 (and / or the second intermediate stage 6) may be provided with an orientation flat alignment mechanism (orientation flat alignment mechanism) for uniformly aligning the crystal orientation of the wafer. The second intermediate intermediate stage 6 (and / or the first intermediate stage 5) may be provided with a mechanism for reversing the mounted wafer.
【0020】上記構成の半導体ウェーハ洗浄装置の洗浄
プロセスの動作シーケンスの一例を示せば以下のとおり
である。An example of the operation sequence of the cleaning process of the semiconductor wafer cleaning apparatus having the above configuration is as follows.
【0021】まず、第1、第2両アーム7、8を搬送台
10上に縮めた状態で搬送台10を回転し、スライド方
向をキャリア台2に向ける。ここで、図2(B)のよう
に、第1アーム7を伸してキャリア3内のウェーハを吸
着して取り出す。このとき、搬送台10はその搬送機構
9内の昇降装置により、取り出すべきウェーハの高さに
位置決めされている。ウェーハを保持した第1アーム7
を縮めた状態で搬送台10を回転して第1アーム7を第
1中間ステージ5の方向に向け、ここでアームを伸して
中間ステージ5上にウェーハを搭載し、第1アーム7は
搬送台10上に引込む。続いてこの第1中間ステージ5
上のウェーハを第2アーム8が伸びて掴み、ウェーハを
保持した状態で搬送台10上に縮む。続いて搬送台10
が回転して第2アーム8のスライド方向をスピンナー4
に向ける。ここで、図2(A)に示すように、第2アー
ム8が伸びてウェーハ20をスピンナー4内の回転台4
a上にセットしてその後搬送台10上に縮む。First, the carrier 10 is rotated with the first and second arms 7 and 8 contracted on the carrier 10, and the sliding direction is directed to the carrier 2. Here, as shown in FIG. 2B, the first arm 7 is extended and the wafer in the carrier 3 is sucked and taken out. At this time, the transfer table 10 is positioned at the height of the wafer to be taken out by the lifting device in the transfer mechanism 9. First arm 7 holding wafer
The transfer table 10 is rotated in a state in which the first arm 7 is directed toward the first intermediate stage 5, and the arm is extended to mount a wafer on the intermediate stage 5. Pull in on table 10. Next, this first intermediate stage 5
The second arm 8 stretches and grips the upper wafer, and shrinks onto the carrier 10 while holding the wafer. Subsequently, the transfer table 10
Is rotated to change the sliding direction of the second arm 8 to the spinner 4.
Turn to. Here, as shown in FIG. 2A, the second arm 8 is extended to move the wafer 20 to the turntable 4 in the spinner 4.
a and then shrink onto the carrier 10.
【0022】ここでスピンナー4によるウェーハ洗浄が
行なわれる。この洗浄動作中に、搬送台10が回転し
て、第1アーム7を駆動して次に洗浄するウェーハをキ
ャリア3から取出し、これを前述のように第1中間ステ
ージ5上に搭載する。Here, wafer cleaning by the spinner 4 is performed. During this cleaning operation, the transfer table 10 rotates to drive the first arm 7 to take out the wafer to be cleaned next from the carrier 3 and mount it on the first intermediate stage 5 as described above.
【0023】スピンナー4によるウェーハ洗浄が終了す
ると、第2アーム8がこれを取出し、回転して第2中間
ステージ6上にこの洗浄終了ウェーハを搭載する(図2
(A)二点鎖線)。その後、第2アーム8は、前述のよ
うに、第1中間ステージ5上のウェーハを掴んでこれを
スピンナー4にセットする。When the wafer cleaning by the spinner 4 is completed, the second arm 8 takes it out, rotates and mounts the cleaned wafer on the second intermediate stage 6 (FIG. 2).
(A) Two-dot chain line). Thereafter, the second arm 8 grabs the wafer on the first intermediate stage 5 and sets it on the spinner 4 as described above.
【0024】さらに前述の第1アーム7は、既に洗浄を
施したウェーハが搭載されている第2中間ステージ6に
向かい、この洗浄後のウェーハを吸着してこれをキャリ
ア3内に収納する。以上の動作を繰り返して、キャリア
3内のウェーハを順番に洗浄する。Further, the above-mentioned first arm 7 is directed to the second intermediate stage 6 on which the already cleaned wafer is mounted, sucks the washed wafer and stores it in the carrier 3. By repeating the above operation, the wafers in the carrier 3 are sequentially cleaned.
【0025】図3は、本発明の応用例を示す。本発明の
ウェーハ処理装置21の基本構造は図1のウェーハ洗浄
装置の構成である。この基本構造のウェーハ処理装置2
1を発展させた構造として、(a)に示すように、第1
中間ステージ5にオリフラ合せ機構を組込み、矢印Aの
ようにステージ回転機能をもたせてオリフラ合せを行な
うことができる。また、(b)に示すように、第1中間
ステージ5(及び/又は第2中間ステージ6)を矢印B
のように昇降動作可能とするとともに、矢印Cのように
ウェーハの表裏反転機構を備えることができる。FIG. 3 shows an application example of the present invention. The basic structure of the wafer processing apparatus 21 of the present invention is the configuration of the wafer cleaning apparatus shown in FIG. Wafer processing equipment 2 of this basic structure
As shown in FIG.
An orientation flat aligning mechanism is incorporated in the intermediate stage 5, and an orientation flat alignment can be performed with a stage rotation function as shown by an arrow A. Further, as shown in (b), the first intermediate stage 5 (and / or the second intermediate stage 6) is
, And a mechanism for turning the wafer upside down as shown by the arrow C can be provided.
【0026】さらに本発明は、図3(c)に示すよう
に、スピンナー4に代えてイオンエッチング等の処理を
施すエッチング装置22を設置し、枚葉式のエッチング
装置として適用することができる。また、(d)に示す
ように、スピンナー4に代えてレジスト除去用のアッシ
ング装置23を設置してアッシング処理を施すこともで
きる。さらに本発明は、枚葉式のCVD装置や蒸着装置
あるいはRTP等の熱処理装置等にも適用可能である。Further, as shown in FIG. 3 (c), the present invention can be applied as a single wafer type etching apparatus by installing an etching apparatus 22 for performing a process such as ion etching instead of the spinner 4. Further, as shown in (d), an ashing device 23 for removing the resist may be provided in place of the spinner 4 to perform the ashing process. Further, the present invention is also applicable to a single wafer type CVD apparatus, a vapor deposition apparatus, a heat treatment apparatus such as RTP, and the like.
【0027】また、前述の実施例のスピンナーは、純水
による洗浄であってもよいし、他の薬液による洗浄を施
してもよい。また、洗浄用のスピンナー以外にも、レジ
ストのスピンコーティングや他層配線の層間絶縁膜塗布
用のスピンコーターとしても適用可能である。The spinner of the above-described embodiment may be cleaned with pure water, or may be cleaned with another chemical. In addition to the spinner for cleaning, the present invention can also be applied as a spin coater for spin coating of a resist or coating an interlayer insulating film of another layer wiring.
【0028】[0028]
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、キャ
リア1個を搭載するキャリア台と、1ヵ所のウェーハ処
理部と2つの中間ステージがウェーハ搬送経路の範囲内
で放射状に並設されるため、小型でコンパクトなレイア
ウトが実現可能になる。この場合、2つの中間ステージ
を利用してキャリアから取出したウェーハおよび処理が
終了したウェーハをそれぞれ待機させて順番に処理プロ
セスを施す等の制御シーケンスプログラムにより半導体
製造工程上充分な生産効率で処理を実行することができ
る。したがって、実用上必要とする生産性を充分に維持
したまま、装置の小型化ができ、クリーンルーム等の限
られた設置スペース内において他の機器の設置の制約を
軽減し、製造プロセス全体の配置レイアウトの自由度を
高め、プロセス全体としての生産性を高めることがで
き、また費用の低減を図ることができる。As described above, according to the present invention, the carrier table on which one carrier is mounted, one wafer processing unit and two intermediate stages are radially arranged within the range of the wafer transfer path. Therefore, a small and compact layout can be realized. In this case, the processing is performed with sufficient production efficiency in the semiconductor manufacturing process by a control sequence program in which the wafer taken out of the carrier and the processed wafer are put on standby using the two intermediate stages and the processing processes are sequentially performed. Can be performed. Therefore, it is possible to reduce the size of the apparatus while sufficiently maintaining the productivity required for practical use, reduce the restrictions on the installation of other equipment in a limited installation space such as a clean room, and arrange the layout of the entire manufacturing process. , The productivity of the whole process can be increased, and the cost can be reduced.
【図1】 本発明の実施例に係るウェーハ洗浄装置の斜
視図。FIG. 1 is a perspective view of a wafer cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】 図1の実施例の動作説明図。FIG. 2 is an operation explanatory diagram of the embodiment of FIG. 1;
【図3】 本発明の応用例の説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram of an application example of the present invention.
1:装置本体、2:キャリア台、3:キャリア、4:ス
ピンナー、5:第1中間ステージ、6:第2中間ステー
ジ、7:第1アーム、8:第2アーム、9:搬送機構、
10:搬送台、11:ガイドレール。1: apparatus main body, 2: carrier stage, 3: carrier, 4: spinner, 5: first intermediate stage, 6: second intermediate stage, 7: first arm, 8: second arm, 9: transport mechanism,
10: conveyance stand, 11: guide rail.
フロントページの続き (72)発明者 西崎 光広 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内Continued on the front page (72) Inventor Mitsuhiro Nishizaki 6-7-35 Kita Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Inside Sony Corporation
Claims (3)
ャリア1個分の載置スペースからなるキャリア台と、 ウェーハに対し1枚づつ処理を施す1ヵ所のみのウェー
ハ処理部と、 ウェーハを保持して前記キャリア台およびウェーハ処理
部に対しウェーハを出し入れするためのウェーハ保持手
段と、 このウェーハ保持手段を搭載して昇降動作、旋回動作お
よび直線移動動作させるための搬送台を備えた搬送機構
と、 前記キャリア台およびウェーハ処理部間の搬送経路上に
設けたウェーハ搭載用の2つの中間ステージとを備え、 前記搬送台の旋回動作の回転軸を中心として、前記キャ
リア台、ウェーハ処理部および2つの中間ステージを放
射状に配置したことを特徴とする枚葉式半導体ウェーハ
処理装置。1. A carrier table comprising a mounting space for one carrier accommodating a plurality of wafers to be processed, a single wafer processing unit for processing wafers one by one, and holding the wafers. And a wafer holding means for taking in and out of the wafer with respect to the carrier table and the wafer processing unit, and a transfer mechanism having a transfer table for carrying the wafer holding means to perform a lifting operation, a turning operation, and a linear movement operation. And two intermediate stages for mounting a wafer provided on a transfer path between the carrier table and the wafer processing unit, wherein the carrier table, the wafer processing unit, and 2 are arranged around a rotation axis of a rotation operation of the transfer table. A single wafer type semiconductor wafer processing apparatus, wherein two intermediate stages are radially arranged.
に対しウェーハを出し入れするための第1アームと、 前記ウェーハ処理部に対しウェーハを出し入れするため
の第2アームとからなり、 該第1および第2アームはアーム長手方向を揃えて配設
され、 前記各アームはこの長手方向に沿って別々に移動可能で
あることを特徴とする請求項1に記載の枚葉式半導体ウ
ェーハ処理装置。2. The wafer holding means comprises a first arm for taking a wafer in and out of the carrier table, and a second arm for taking a wafer in and out of the wafer processing unit. The single-wafer type semiconductor wafer processing apparatus according to claim 1, wherein the second arm is arranged with the arm longitudinal direction aligned, and each of the arms is separately movable along the longitudinal direction.
なることを特徴とする請求項1または2に記載の枚葉式
半導体ウェーハ処理装置。3. The single wafer processing apparatus according to claim 1, wherein the wafer processing section comprises a rotary cleaning apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15467497A JPH113926A (en) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | Leaf semiconductor wafer processor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15467497A JPH113926A (en) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | Leaf semiconductor wafer processor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH113926A true JPH113926A (en) | 1999-01-06 |
Family
ID=15589435
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15467497A Pending JPH113926A (en) | 1997-06-12 | 1997-06-12 | Leaf semiconductor wafer processor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH113926A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115346900A (en) * | 2022-09-22 | 2022-11-15 | 常州银河电器有限公司 | Full-automatic silicon chip corrosion cleaning grooving machine |
CN116230588A (en) * | 2023-02-07 | 2023-06-06 | 深圳市鑫承诺环保产业股份有限公司 | Continuous conveying type cleaning machine for semiconductor silicon wafers |
-
1997
- 1997-06-12 JP JP15467497A patent/JPH113926A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115346900A (en) * | 2022-09-22 | 2022-11-15 | 常州银河电器有限公司 | Full-automatic silicon chip corrosion cleaning grooving machine |
CN115346900B (en) * | 2022-09-22 | 2024-01-23 | 常州银河电器有限公司 | Full-automatic silicon wafer corrosion cleaning grooving machine |
CN116230588A (en) * | 2023-02-07 | 2023-06-06 | 深圳市鑫承诺环保产业股份有限公司 | Continuous conveying type cleaning machine for semiconductor silicon wafers |
CN116230588B (en) * | 2023-02-07 | 2024-03-19 | 深圳市鑫承诺环保产业股份有限公司 | Continuous conveying type cleaning machine for semiconductor silicon wafers |
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A977 | Report on retrieval |
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|
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