JPH1137981A - 超音波検査用試験片の製造方法 - Google Patents
超音波検査用試験片の製造方法Info
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- JPH1137981A JPH1137981A JP9196914A JP19691497A JPH1137981A JP H1137981 A JPH1137981 A JP H1137981A JP 9196914 A JP9196914 A JP 9196914A JP 19691497 A JP19691497 A JP 19691497A JP H1137981 A JPH1137981 A JP H1137981A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 様々な種類の異物を試験片の内部に人工欠陥
として精度よく一体的に配置できる超音波検査用試験片
の製造方法を提供する。 【解決手段】 上母材１と下母材２の接合面３、４の少
なくとも一方に真空脱気するための凹部５を形成し、凹
部５に人工欠陥８を収納するための収納穴７を形成し、
収納穴７と人工欠陥８と接合面３、４とを化学的に洗浄
して表面の酸化膜を取り除いた後に収納穴７に人工欠陥
８を収納し、上下母材１、２を重ね合わせてその接合面
３、４および凹部５を真空封入し、その真空封入品をＨ
ＩＰして各部材を拡散接合するようにした。
として精度よく一体的に配置できる超音波検査用試験片
の製造方法を提供する。 【解決手段】 上母材１と下母材２の接合面３、４の少
なくとも一方に真空脱気するための凹部５を形成し、凹
部５に人工欠陥８を収納するための収納穴７を形成し、
収納穴７と人工欠陥８と接合面３、４とを化学的に洗浄
して表面の酸化膜を取り除いた後に収納穴７に人工欠陥
８を収納し、上下母材１、２を重ね合わせてその接合面
３、４および凹部５を真空封入し、その真空封入品をＨ
ＩＰして各部材を拡散接合するようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超音波検査用試験
片の製造方法に関する。
片の製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】金属部品にクラックや空隙が発生してい
るか否か、または異物等が混入しているか否かを超音波
によって非破壊検査する際に、その非破壊検査装置をキ
ャリブレーションする試験片として、図４に示すような
超音波検査用試験片ａが知られている。
るか否か、または異物等が混入しているか否かを超音波
によって非破壊検査する際に、その非破壊検査装置をキ
ャリブレーションする試験片として、図４に示すような
超音波検査用試験片ａが知られている。
【０００３】この超音波検査用試験片ａは、円柱体ｂの
下面ｃに底面ｄがフラットな孔ｅを所定深さ形成し、そ
の孔ｅの開口部に蓋部材ｆを取り付けて構成されてい
る。かかる試験片ａを用いたキャリブレーションは、試
験片ａの上面ｇに向けて超音波を発射し、上面ｇで反射
したサーフェスエコーＳと、孔底面ｄで反射した欠陥エ
コーＦと、下面ｃで反射したボトムエコーＢとの時間差
データに基いてなされる。
下面ｃに底面ｄがフラットな孔ｅを所定深さ形成し、そ
の孔ｅの開口部に蓋部材ｆを取り付けて構成されてい
る。かかる試験片ａを用いたキャリブレーションは、試
験片ａの上面ｇに向けて超音波を発射し、上面ｇで反射
したサーフェスエコーＳと、孔底面ｄで反射した欠陥エ
コーＦと、下面ｃで反射したボトムエコーＢとの時間差
データに基いてなされる。
【０００４】このキャリブレーション後に金属部品の超
音波検査を行えば、試験片ａの孔底面ｄが金属部品のク
ラックや空隙やそこに染み込んだ水を模擬するため、金
属部品のクラックや空隙等を的確に検出できる。金属部
品の母材金属の音響インピーダンスと空気もしくは水と
の音響インピーダンスとは大きく異なり、超音波がそれ
らの界面で非常に効率よく反射するからである。
音波検査を行えば、試験片ａの孔底面ｄが金属部品のク
ラックや空隙やそこに染み込んだ水を模擬するため、金
属部品のクラックや空隙等を的確に検出できる。金属部
品の母材金属の音響インピーダンスと空気もしくは水と
の音響インピーダンスとは大きく異なり、超音波がそれ
らの界面で非常に効率よく反射するからである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような試
験片ａのみを用いたキャリブレーションでは、母材金属
中に含まれる可能性のある様々な種類の異物（欠陥）を
模擬しているとはいえず、例えば金属部品中に音響イン
ピーダンスが母材金属と大差ない異物が存在している場
合、その異物を検査時に見落としてしまうことも考えら
れる。
験片ａのみを用いたキャリブレーションでは、母材金属
中に含まれる可能性のある様々な種類の異物（欠陥）を
模擬しているとはいえず、例えば金属部品中に音響イン
ピーダンスが母材金属と大差ない異物が存在している場
合、その異物を検査時に見落としてしまうことも考えら
れる。
【０００６】この対策としては、試験片ａの内部に音響
インピーダンスが母材金属と大差ない異物を収容した試
験片を製作すればよいのであるが、キャリブレーション
のためには上記異物を試験片の内部の所定の箇所に精度
よく収容する必要があり、実際にはその製作は極めて困
難である。
インピーダンスが母材金属と大差ない異物を収容した試
験片を製作すればよいのであるが、キャリブレーション
のためには上記異物を試験片の内部の所定の箇所に精度
よく収容する必要があり、実際にはその製作は極めて困
難である。
【０００７】すなわち、試験片ａの鋳造時に上記異物を
鋳込むことが考えられるが、これでは異物の場所を精度
よく管理できず、キャリブレーションには使えない。ま
た、上記孔ｅに溶融した異物金属を流し込もうとして
も、孔ｅの内径が１mm程度と小さいため、孔ｅの奥まで
流し込むことができない。
鋳込むことが考えられるが、これでは異物の場所を精度
よく管理できず、キャリブレーションには使えない。ま
た、上記孔ｅに溶融した異物金属を流し込もうとして
も、孔ｅの内径が１mm程度と小さいため、孔ｅの奥まで
流し込むことができない。
【０００８】また、図４の孔ｅの内部の奥に上記異物を
挿入したとしても、単に挿入しただけではその異物と孔
底面ｄとが一体とならないので、超音波は結局孔底面ｄ
で反射してしまい、異物の音響インピーダンスを模擬し
ていることにはならず、図４に示す孔ｅのみのものと変
わらないことになる。
挿入したとしても、単に挿入しただけではその異物と孔
底面ｄとが一体とならないので、超音波は結局孔底面ｄ
で反射してしまい、異物の音響インピーダンスを模擬し
ていることにはならず、図４に示す孔ｅのみのものと変
わらないことになる。
【０００９】以上の事情を考慮して創案された本発明の
目的は、様々な種類の異物を試験片の内部に人工欠陥と
して精度よく一体的に配置できる超音波検査用試験片の
製造方法を提供することにある。
目的は、様々な種類の異物を試験片の内部に人工欠陥と
して精度よく一体的に配置できる超音波検査用試験片の
製造方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく本
発明に係る超音波検査用試験片の製造方法は、上母材と
下母材の接合面の少なくとも一方に外部と連通した凹部
を形成し、該凹部に人工欠陥を収納するための収納穴を
形成し、該収納穴と人工欠陥と接合面とを化学的に洗浄
して表面の酸化膜を取り除いた後に収納穴に人工欠陥を
収納し、上下母材を重ね合わせてその接合面および上記
凹部を真空封入し、その真空封入品を焼結して各部材を
拡散接合するようにしたものである。
発明に係る超音波検査用試験片の製造方法は、上母材と
下母材の接合面の少なくとも一方に外部と連通した凹部
を形成し、該凹部に人工欠陥を収納するための収納穴を
形成し、該収納穴と人工欠陥と接合面とを化学的に洗浄
して表面の酸化膜を取り除いた後に収納穴に人工欠陥を
収納し、上下母材を重ね合わせてその接合面および上記
凹部を真空封入し、その真空封入品を焼結して各部材を
拡散接合するようにしたものである。
【００１１】本発明によれば、接合面、収納穴、凹部お
よび人工欠陥が化学的に洗浄されて表面の酸化膜が取り
除かれているため、焼結時に高温高圧が加わることによ
って各部材が一体的に拡散接合される。また、接合面お
よび凹部が真空封入されているので、焼結時に空気が各
部材接合の邪魔になることはない。また、収納穴内に人
工欠陥を収容しているので、収納穴の位置を調整すれば
人工欠陥の位置を正確に設定できる。また、様々な種類
の人工欠陥を使用することができる。
よび人工欠陥が化学的に洗浄されて表面の酸化膜が取り
除かれているため、焼結時に高温高圧が加わることによ
って各部材が一体的に拡散接合される。また、接合面お
よび凹部が真空封入されているので、焼結時に空気が各
部材接合の邪魔になることはない。また、収納穴内に人
工欠陥を収容しているので、収納穴の位置を調整すれば
人工欠陥の位置を正確に設定できる。また、様々な種類
の人工欠陥を使用することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を添付
図面に基いて説明する。
図面に基いて説明する。
【００１３】まず、図１(a) に示すように、円柱体を上
下に二分割した上母材１と下母材２とを用意する。上母
材１の下面が接合面３となり、下母材２の上面が接合面
４となる。上下母材１、２の材質は、検査すべき金属部
品と同様なものが用いられ、上下共材であり、例えば、
航空機用の金属部品ではチタン系合金が用いられる。こ
れら上下母材１、２は、図２(A) および図２(B) に示す
ように中実となっている。
下に二分割した上母材１と下母材２とを用意する。上母
材１の下面が接合面３となり、下母材２の上面が接合面
４となる。上下母材１、２の材質は、検査すべき金属部
品と同様なものが用いられ、上下共材であり、例えば、
航空機用の金属部品ではチタン系合金が用いられる。こ
れら上下母材１、２は、図２(A) および図２(B) に示す
ように中実となっている。
【００１４】次に、下母材２の接合面４に、後工程で真
空脱気するための凹部５を形成する。凹部５は、下部材
２の接合面４の周縁に、真空引きのための開口６を有す
る。凹部５の深さＬは、後述する真空封入時に上記開口
６から内部の空気を完全に真空引きできると共に、後述
するＨＩＰ時に上母材１の接合面３が変形して凹部５に
嵌まり込むことができる深さに設定されている。具体的
には、０．１ｍｍ程度が望ましい。なお、図例では、凹
部５を２ヶ所形成したが、１ヶ所でも３ヶ所以上でもよ
い。
空脱気するための凹部５を形成する。凹部５は、下部材
２の接合面４の周縁に、真空引きのための開口６を有す
る。凹部５の深さＬは、後述する真空封入時に上記開口
６から内部の空気を完全に真空引きできると共に、後述
するＨＩＰ時に上母材１の接合面３が変形して凹部５に
嵌まり込むことができる深さに設定されている。具体的
には、０．１ｍｍ程度が望ましい。なお、図例では、凹
部５を２ヶ所形成したが、１ヶ所でも３ヶ所以上でもよ
い。
【００１５】次に、上記凹部５に、後述する人工欠陥を
収納するための収納穴７を形成する。収納穴７は、接合
を密にするために、好ましくは機械加工によって成形さ
れる。何故なら、仮に放電加工によって収納穴７を成形
すると、その加工面に再溶融層（電気スパークで溶融し
た母材金属の一部が周囲の冷却油で冷やされて瞬間的に
固まって加工面に生成される層）が生成されてしまい、
その再溶融層が人工欠陥８の接合の邪魔になるからであ
る。なお、図例では、収納穴７を四角状に４ヶ所配置し
たが、これに限らず収納穴７の位置や深さや数は検査す
べき金属部品に応じて適宜設定される。
収納するための収納穴７を形成する。収納穴７は、接合
を密にするために、好ましくは機械加工によって成形さ
れる。何故なら、仮に放電加工によって収納穴７を成形
すると、その加工面に再溶融層（電気スパークで溶融し
た母材金属の一部が周囲の冷却油で冷やされて瞬間的に
固まって加工面に生成される層）が生成されてしまい、
その再溶融層が人工欠陥８の接合の邪魔になるからであ
る。なお、図例では、収納穴７を四角状に４ヶ所配置し
たが、これに限らず収納穴７の位置や深さや数は検査す
べき金属部品に応じて適宜設定される。
【００１６】次に、図１(b) に示すように、上記収納穴
７に収納する人工欠陥８を用意する。人工欠陥８は、上
記収納穴７に嵌まるように円柱状に形成されている。人
工欠陥８の材質は、様々なものが採用される。例えば、
航空機用のチタン系合金を検査する場合には、チタン系
合金に含まれることがあると言われるハードアルファ
（ＴｉにＮが数％程度拡散した非常に硬く脆い材質）や
Ｍｏなどが採用される。なお、各収納穴７には、同じ材
質のみならず、異なった材質の人工欠陥８を収容しても
よい。
７に収納する人工欠陥８を用意する。人工欠陥８は、上
記収納穴７に嵌まるように円柱状に形成されている。人
工欠陥８の材質は、様々なものが採用される。例えば、
航空機用のチタン系合金を検査する場合には、チタン系
合金に含まれることがあると言われるハードアルファ
（ＴｉにＮが数％程度拡散した非常に硬く脆い材質）や
Ｍｏなどが採用される。なお、各収納穴７には、同じ材
質のみならず、異なった材質の人工欠陥８を収容しても
よい。
【００１７】次に、上記収納穴７と人工欠陥８と接合面
３、４とを化学的に洗浄し（ケミカルミーリングやエッ
ジング等）、表面の酸化膜を取り除く。後工程でＨＩＰ
をするとき、各部材３、４、７、８の表面に酸化膜があ
ると良好な拡散接合が確保できないからである。こうし
て各部材３、４、７、８の表面を清浄化したならば、収
納穴７に人工欠陥８を収納する。
３、４とを化学的に洗浄し（ケミカルミーリングやエッ
ジング等）、表面の酸化膜を取り除く。後工程でＨＩＰ
をするとき、各部材３、４、７、８の表面に酸化膜があ
ると良好な拡散接合が確保できないからである。こうし
て各部材３、４、７、８の表面を清浄化したならば、収
納穴７に人工欠陥８を収納する。
【００１８】次に、図１(c) に示すように、上下母材
１、２を重ね合わせてその接合面３、４および上記凹部
５を真空封入する。具体的には、上下母材１、２の接合
面３、４の周囲の数ヶ所を溶接によって仮止めし、それ
を電子ビーム溶接するための真空チャンバ（図示せず）
に収容し、チャンバ内を真空引きすることによって接合
面３、４および凹部５を真空状態とし、チャンバ内にて
接合面３、４の周囲を周方向に電子ビーム溶接し、溶接
ビード９によって開口６および接合面３、４同士の継ぎ
目を塞ぐ。これにより、接合面３、４および凹部５が真
空封入される。
１、２を重ね合わせてその接合面３、４および上記凹部
５を真空封入する。具体的には、上下母材１、２の接合
面３、４の周囲の数ヶ所を溶接によって仮止めし、それ
を電子ビーム溶接するための真空チャンバ（図示せず）
に収容し、チャンバ内を真空引きすることによって接合
面３、４および凹部５を真空状態とし、チャンバ内にて
接合面３、４の周囲を周方向に電子ビーム溶接し、溶接
ビード９によって開口６および接合面３、４同士の継ぎ
目を塞ぐ。これにより、接合面３、４および凹部５が真
空封入される。
【００１９】次に、図１(d) に示すように、上記工程で
得られた真空封入品を真空チャンバから取り出し、その
真空封入品にＨＩＰ（熱間静水圧処理：Hot Isostatic
Process ）を施す。すると、上母材１の接合面３が下母
材の凹部５に嵌まり込むように変形し、接合面３、４、
凹部５、収納穴７および人工欠陥８が化学的に洗浄され
て表面の酸化膜が取り除かれているため、ＨＩＰ時の高
温高圧（約９００℃、約１３００気圧）により、上下の
接合面３、４同士および収納穴７と人工欠陥８とが拡散
接合され、これらが一体となる。なお、上記温度圧力条
件（約９００℃、約１３００気圧）は、ＨＩＰ時の母材
金属組織に影響ないように設定される。
得られた真空封入品を真空チャンバから取り出し、その
真空封入品にＨＩＰ（熱間静水圧処理：Hot Isostatic
Process ）を施す。すると、上母材１の接合面３が下母
材の凹部５に嵌まり込むように変形し、接合面３、４、
凹部５、収納穴７および人工欠陥８が化学的に洗浄され
て表面の酸化膜が取り除かれているため、ＨＩＰ時の高
温高圧（約９００℃、約１３００気圧）により、上下の
接合面３、４同士および収納穴７と人工欠陥８とが拡散
接合され、これらが一体となる。なお、上記温度圧力条
件（約９００℃、約１３００気圧）は、ＨＩＰ時の母材
金属組織に影響ないように設定される。
【００２０】このとき、接合面３、４および凹部５が溶
接ビード９によって真空封入されているので、ＨＩＰ時
に相互に押し潰れようとする各部材３、４、７、８の変
形が空気によって邪魔されることはなく、速やかに各部
材３、４、７、８が変形して拡散接合がなされる。ま
た、空気による酸化膜の生成も生じないため、各部材
３、４、７、８が確実に拡散接合がなされる。
接ビード９によって真空封入されているので、ＨＩＰ時
に相互に押し潰れようとする各部材３、４、７、８の変
形が空気によって邪魔されることはなく、速やかに各部
材３、４、７、８が変形して拡散接合がなされる。ま
た、空気による酸化膜の生成も生じないため、各部材
３、４、７、８が確実に拡散接合がなされる。
【００２１】こうして各部材３、４、７、８が一体的に
拡散接合されて試験片１０が製造されるので、キャリブ
レーション時に上母材１の上面１１に向けて超音波１２
を発射したとき、上部材１と下部材２との接合面３，４
の界面にて超音波１２が反射することはなく、試験片１
０としての機能が確保される。また、人工欠陥８と母材
１、２とが拡散接合により完全に一体化しているので、
この試験片１０においては、上記超音波１２は人工欠陥
８の部分で人工欠陥８の音響インピーダンスに基いて反
射し、異物（ハードアルファやＭｏ等）を的確に模擬で
きる。
拡散接合されて試験片１０が製造されるので、キャリブ
レーション時に上母材１の上面１１に向けて超音波１２
を発射したとき、上部材１と下部材２との接合面３，４
の界面にて超音波１２が反射することはなく、試験片１
０としての機能が確保される。また、人工欠陥８と母材
１、２とが拡散接合により完全に一体化しているので、
この試験片１０においては、上記超音波１２は人工欠陥
８の部分で人工欠陥８の音響インピーダンスに基いて反
射し、異物（ハードアルファやＭｏ等）を的確に模擬で
きる。
【００２２】また、収納穴７内に人工欠陥８を収容して
いるので、収納穴７の位置を調整すれば人工欠陥８の位
置を正確に設定でき、厳密性が要求されるキャリブレー
ション用試験片として成立する。また、収納穴７に収納
する人工欠陥８の種類を変えれば様々な異物を模擬でき
る。すなわち、従来模擬が困難であった母材１、２と音
響インピーダンスが近い材質の異物も模擬できる。よっ
て、従来キャリブレーションが困難であったハードアル
ファ等も模擬でき、検査の信頼性が飛躍的に高まる。
いるので、収納穴７の位置を調整すれば人工欠陥８の位
置を正確に設定でき、厳密性が要求されるキャリブレー
ション用試験片として成立する。また、収納穴７に収納
する人工欠陥８の種類を変えれば様々な異物を模擬でき
る。すなわち、従来模擬が困難であった母材１、２と音
響インピーダンスが近い材質の異物も模擬できる。よっ
て、従来キャリブレーションが困難であったハードアル
ファ等も模擬でき、検査の信頼性が飛躍的に高まる。
【００２３】なお、上記超音波検査用試験片１０を上下
逆に使用し、キャリブレーション時に下母材２の下面１
３に向けて超音波を発射するようにしてもよい。また、
上記超音波検査用試験片１９の下母材２に従来と同様の
孔１４を開けて蓋１５をすれば、一つの試験片１０でハ
ードアルファやＭｏ等の異物の模擬の他に、従来と同様
の割れや空隙をも模擬できる。
逆に使用し、キャリブレーション時に下母材２の下面１
３に向けて超音波を発射するようにしてもよい。また、
上記超音波検査用試験片１９の下母材２に従来と同様の
孔１４を開けて蓋１５をすれば、一つの試験片１０でハ
ードアルファやＭｏ等の異物の模擬の他に、従来と同様
の割れや空隙をも模擬できる。
【００２４】図３は、図１(c) の真空封入を別の方法
（Canning 法）によって行った例を示す説明図である。
図示するようにこのCanning 法の場合には、図１(c) に
示すように、上下母材１、２を重ね合わせてその接合面
３、４の周囲の数ヶ所を溶接によって仮止めしたなら
ば、その仮止め品をステンレスなどの缶１６に収容し、
その内部を真空引きした後に入口１７を溶接等によって
封印する。これにより、図１(c) に示す電子ビーム溶接
法と同様に缶１６内にて接合面３、４および凹部５が真
空封入される。
（Canning 法）によって行った例を示す説明図である。
図示するようにこのCanning 法の場合には、図１(c) に
示すように、上下母材１、２を重ね合わせてその接合面
３、４の周囲の数ヶ所を溶接によって仮止めしたなら
ば、その仮止め品をステンレスなどの缶１６に収容し、
その内部を真空引きした後に入口１７を溶接等によって
封印する。これにより、図１(c) に示す電子ビーム溶接
法と同様に缶１６内にて接合面３、４および凹部５が真
空封入される。
【００２５】その後、その缶１６に前実施形態と同様の
ＨＩＰを施す。すると、缶１６が圧縮されて皺々になっ
て上下母材１、２の表面に押し付けられ、前実施形態と
同様に各部材３、４、７、８が圧縮変形して拡散接合さ
れる。こうして前実施形態と同様の試験片１０を製造で
きる。なお、このCanning 法の場合には、凹部５（開口
６）の深さは数ｍｍ程度であってもよい。
ＨＩＰを施す。すると、缶１６が圧縮されて皺々になっ
て上下母材１、２の表面に押し付けられ、前実施形態と
同様に各部材３、４、７、８が圧縮変形して拡散接合さ
れる。こうして前実施形態と同様の試験片１０を製造で
きる。なお、このCanning 法の場合には、凹部５（開口
６）の深さは数ｍｍ程度であってもよい。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る超音波
検査用試験片の製造方法によれば、母材に内在し得る様
々な種類の異物を人工欠陥として試験片の内部に精度よ
く且つ試験片と一体的に配置できる。
検査用試験片の製造方法によれば、母材に内在し得る様
々な種類の異物を人工欠陥として試験片の内部に精度よ
く且つ試験片と一体的に配置できる。
【図１】本実施形態に係る超音波検査用試験片の製造方
法の概略工程図である。
法の概略工程図である。
【図２】図２(A) は図１(a) のA-A 線断面図、図２(B)
は図１(a) のB-B 線断面図である。
は図１(a) のB-B 線断面図である。
【図３】図１(c) の別の実施形態を示す説明図である。
【図４】従来の超音波検査用試験片の斜視図である。
１ 上母材 ２ 下母材 ３ 接合面 ４ 接合面 ５ 凹部 ７ 収納穴 ８ 人工欠陥
Claims (1)
- 【請求項１】 上母材と下母材の接合面の少なくとも一
方に外部と連通した凹部を形成し、該凹部に人工欠陥を
収納するための収納穴を形成し、該収納穴と人工欠陥と
接合面とを化学的に洗浄して表面の酸化膜を取り除いた
後に収納穴に人工欠陥を収納し、上下母材を重ね合わせ
てその接合面および上記凹部を真空封入し、その真空封
入品を焼結して各部材を拡散接合することを特徴とする
超音波検査用試験片の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9196914A JPH1137981A (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | 超音波検査用試験片の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9196914A JPH1137981A (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | 超音波検査用試験片の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1137981A true JPH1137981A (ja) | 1999-02-12 |
Family
ID=16365771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9196914A Pending JPH1137981A (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | 超音波検査用試験片の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1137981A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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1997
- 1997-07-23 JP JP9196914A patent/JPH1137981A/ja active Pending
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