JPH11352689A - Photosensitive resin composition for microfabrication, and method for forming rib pattern - Google Patents

Photosensitive resin composition for microfabrication, and method for forming rib pattern

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JPH11352689A
JPH11352689A JP17049798A JP17049798A JPH11352689A JP H11352689 A JPH11352689 A JP H11352689A JP 17049798 A JP17049798 A JP 17049798A JP 17049798 A JP17049798 A JP 17049798A JP H11352689 A JPH11352689 A JP H11352689A
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JP
Japan
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photosensitive resin
resin composition
weight
polymer
rib
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Pending
Application number
JP17049798A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinichiro Ishino
真一郎 石野
Kimitoku Oshio
公徳 押尾
Hiroyuki Obitani
洋之 帯谷
Toshimi Aoyama
俊身 青山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a photosensitive resin composition for micro-fabrication without deteriorating insulation characteristics and light emitting luminance by incorporating a polymer specified in an alkali content as an essential component. SOLUTION: This photosensitive composition is composed essentially of the polymer having an alkali content of <=200 ppm. It is preferred that in addition to (a) this polymer, (b) a monomer having at least one ethylenially unsaturated group, such as methyl acrylate or methyl methacrylate, oligomers each having an average molecular weight <=3000 or prepolymer, and (c) a photopolymerization initiator in the case of processing an insulation material by using this photosensitive resin composition. This polymer (b) component is added in an amount of 10-100 weight %, preferably, 10-70 weight % of the total solid of this photosensitive resin composition, and the initiator (c) component is added, preferably, in an amount of 0.1-20 weight % of the (b) component.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、感光性樹脂組成物に関
し、さらに詳しくはアルカリ含有量が200ppm以下
のポリマーを主成分とする微細加工用感光性樹脂組成
物、およびそれを用いたリブパターンの形成方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photosensitive resin composition, and more particularly, to a fine processing photosensitive resin composition containing a polymer having an alkali content of 200 ppm or less as a main component, and a rib pattern using the same. A method for forming the same.

【0002】[0002]

【従来技術】半導体素子や液晶、プラズマディスプレイ
パネルなどの各種表示装置は、近年、高精度化が進み、
その加工には感光性樹脂組成物を用いたリソグラフィー
による微細加工が行われている。前記リソグラフィーに
よる微細加工法は、例えばプラズマディスプレイパネル
(以下、PDPという)の製造にみられるように基板上
にリブ形成層を設け、その上に感光性樹脂層を積層し、
マスクパターンを介して活性光線を照射、現像し、得ら
れたパターンを保護膜としてサンドブラスト加工する等
の加工方法である。PDPは前記サンドブラスト加工で
形成したセルやラインを有するリブを焼成し、そのセル
構造やライン間に蛍光体層や電極層を設け、放電ガスを
封入するすることで製造される。
2. Description of the Related Art In recent years, various display devices such as semiconductor devices, liquid crystals, and plasma display panels have been improved in accuracy.
Fine processing by lithography using a photosensitive resin composition is performed for the processing. In the microfabrication method using the lithography, for example, a rib forming layer is provided on a substrate, and a photosensitive resin layer is laminated thereon, as seen in the manufacture of a plasma display panel (hereinafter, referred to as PDP).
It is a processing method such as irradiating an actinic ray through a mask pattern and developing, and performing a sandblasting process on the obtained pattern as a protective film. The PDP is manufactured by firing ribs having cells and lines formed by the sandblasting process, providing a phosphor layer and an electrode layer between the cell structures and the lines, and filling a discharge gas.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、従来の感光
性樹脂組成物を用いてリソグラフィ技術による微細加工
を行うと、絶縁材料の絶縁特性の低下が起こった。特
に、PDPリブの形成においては、絶縁特性の低下に加
えて、発光輝度の低下も起こった。
However, when fine processing by a lithography technique is performed using a conventional photosensitive resin composition, the insulating properties of the insulating material are reduced. In particular, in the formation of the PDP ribs, in addition to the decrease in the insulating properties, the emission luminance also decreased.

【0004】こうした問題を改善するために、本発明者
等は鋭意研究を続けた結果、絶縁材料の絶縁特性の低下
は感光性樹脂組成物中のバインダーとして用いられるポ
リマーに含有するアルカリ、特にナトリウムに起因する
ことを発見した。そして、前記ポリマー中のアルカリ含
有量を200ppm以下にすることで絶縁特性の低下の
ない絶縁材料が得られることを見出して、本発明を完成
したものである。すなわち
In order to solve such problems, the present inventors have conducted intensive studies. As a result, the decrease in the insulating properties of the insulating material is caused by the alkali contained in the polymer used as a binder in the photosensitive resin composition, particularly sodium. Was found to be due to. The inventors have found that by setting the alkali content in the polymer to 200 ppm or less, it is possible to obtain an insulating material without a decrease in insulating properties, and completed the present invention. Ie

【0005】本発明は、アルカリ含有量が200ppm
以下のポリマーを主成分として含有し、絶縁特性や発光
輝度の低下のない微細加工用感光性樹脂組成物を提供す
ることを目的とする。
According to the present invention, an alkali content of 200 ppm
It is an object of the present invention to provide a photosensitive resin composition for fine processing which contains the following polymer as a main component and does not lower insulation properties or emission luminance.

【0006】また、本発明は上記微細加工用感光性樹脂
組成物を用いたリブパターンの形成方法を提供すること
を目的とする。
Another object of the present invention is to provide a method for forming a rib pattern using the photosensitive resin composition for fine processing.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明は、アルカリ含有量が200ppm以下のポリマーを
主成分として含有する微細加工用感光性樹脂組成物、お
よびそれを用いたリブパターンの形成方法に係る。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a photosensitive resin composition for fine processing containing a polymer having an alkali content of 200 ppm or less as a main component, and the formation of a rib pattern using the same. According to the method.

【0008】本発明の微細加工用感光性樹脂組成物は、
上述のとおりアルカリ含有量が200ppm以下のポリ
マーを主成分として含有するが、該ポリマーは感光性樹
脂組成物のバインダーとして作用し、その具体例として
は、市販のポリビニルアルコール、ポリビニルピロリド
ン、70〜99%部分ケン化ポリ酢酸ビニル、70〜9
9%部分ケン化ポリ酢酸ビニルのホルマール化またはブ
チラール化等による低級(炭素数1〜4)アセタール化
物、70〜99%部分ケン化ポリ酢酸ビニルとp−ベン
ズアルデヒドスルホン酸、β−ブチルアルデヒドスルホ
ン酸、o−ベンズアルデヒドスルホン酸、2,4−ベン
ズアルデヒドスルホン酸等とのアセタール化物、酢酸ビ
ニルとエチレン、アクリレート類、メタクリレート類、
アクリルアミド類、アクリル酸、メタクリル酸等の不飽
和カルボン酸類、ジメチルアミノエチルメタクリレー
ト、ビニルサクシンイミド等のカチオン性モノマー類と
の共重合体、これらの共重合体の部分ケン化物、スチル
バゾリウム基含有部分ケン化ポリ酢酸ビニル、アラビア
ゴム、ヒドロキシメチルセルロース等のポリビニル重合
体やアクリルアミド、メチレンビスアクリルアミド、N
−メチロールアクリルアミド、ダイアセトンアクリルア
ミド、トリアクリルホルマール、ヒドロキシメチルダイ
アセトンアクリルアミド、N,N−ジアクリルアミドジ
メチルエーテル及びこれらに相当するメタクリルアミド
などの(メタ)アクリルアミド系ポリマー、セルロース
誘導体、(メタ)アクリル酸と(メタ)アクリル酸エス
テルとの共重合体等、又はこれらの混合物を挙げること
ができる。該ポリマーのアルカリ含有量を200ppm
以下にするにはイオン交換樹脂を用いた精製等が好適で
ある。
The photosensitive resin composition for fine processing of the present invention comprises
As described above, a polymer having an alkali content of 200 ppm or less is contained as a main component. The polymer acts as a binder for the photosensitive resin composition, and specific examples thereof include commercially available polyvinyl alcohol, polyvinyl pyrrolidone, and 70 to 99. % Partially saponified polyvinyl acetate, 70-9
Lower (ac 1-4) acetalized product by formalization or butyralization of 9% partially saponified polyvinyl acetate, 70-99% partially saponified polyvinyl acetate with p-benzaldehyde sulfonic acid, β-butyraldehyde sulfonic acid , O-benzaldehyde sulfonic acid, acetalized product with 2,4-benzaldehyde sulfonic acid, vinyl acetate and ethylene, acrylates, methacrylates,
Copolymers with unsaturated carboxylic acids such as acrylamides, acrylic acid and methacrylic acid, and cationic monomers such as dimethylaminoethyl methacrylate and vinyl succinimide; partially saponified products of these copolymers; and partially stilbazolium group-containing sakenes Polyvinyl acetate, acrylamide, methylenebisacrylamide, N-vinyl acetate,
(Meth) acrylamide-based polymers such as methylolacrylamide, diacetoneacrylamide, triacrylformal, hydroxymethyldiacetoneacrylamide, N, N-diacrylamidedimethylether and methacrylamide, cellulose derivatives, (meth) acrylic acid and the like. Copolymers with (meth) acrylic acid esters and the like, and mixtures thereof can be mentioned. 200 ppm alkali content of the polymer
Purification using an ion exchange resin or the like is suitable for the following.

【0009】上記微細加工用感光性樹脂組成物を用いた
絶縁材料の加工に当たっては、上記(a)アルカリ含有
量が200ppm以下のポリマーに加えて、(b)少な
くとも1個のエチレン性不飽和基を有するモノマーおよ
び(c)光重合開始剤を含有するのがよい。これらの成
分を含有することで高い精度の微細加工が容易にできる
上に、絶縁材料の絶縁特性の低下を起すことがない。前
記(b)成分としては、メチルアクリレート、メチルメ
タクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2
−ヒドロキシエチルメタクリレート、2−ヒドロキシプ
ロピルアクリレート、2−ヒドロキシプロピルメタクリ
レート、エチレングリコールモノメチルエーテルアクリ
レート、エチレングリコールモノエチルエーテルアクリ
レート、エチレングリコールモノメチルエーテルメタク
リレート、エチレングリコールモノエチルエーテルメタ
クリレート、エチレングリコールジアクリレート、エチ
レングリコールジメタクリレート、トリエチレングリコ
ールジアクリレート、トリエチレングリコールジメタク
リレート、テトラエチレングリコールジアクリレート、
テトラエチレングリコールジメタクリレート、プロピレ
ングリコールジアクリレート、プロピレングリコールジ
メタクリレート、グリセロールアクリレート、グリセロ
ールメタクリレート、イソブチルアクリレート、イソブ
チルメタクリレート、2−エチルヘキシルアクリレー
ト、2−エチルヘキシルメタクリレート、トリメチロー
ルプロパントリアクリレート、トリメチロールプロパン
トリメタクリレート、テトラメチロールプロパンテトラ
アクリレート、テトラメチロールプロパンテトラメタク
リレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペ
ンタエリスリトールトリメタクリレート、ペンタエリス
リトールテトラアクリレート、ペンタエリスリトールテ
トラメタクリレート、ジペンタエリスリトールペンタア
クリレート、ジペンタエリスリトールペンタメタクリレ
ート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート、ジ
ペンタエリスリトールヘキサメタクリレート、1,6−
ヘキサンジオールジアクリレート、ベンジルアクリレー
ト、ベンジルメタクリレート、カルドエポキシジアクリ
レート等の少なくとも1種のモノマー、あるいは平均分
子量の上限3000程度のオリゴマー又はプレポリマー
を挙げることができる。この(b)成分は、微細加工用
感光性樹脂組成物の固形分総量100重量部に対し、1
0〜100重量部、好ましくは10〜70重量部の範囲
で含有するのがよい。
In processing an insulating material using the photosensitive resin composition for microfabrication, in addition to (a) the polymer having an alkali content of 200 ppm or less, (b) at least one ethylenically unsaturated group And a photopolymerization initiator (c). By containing these components, high-precision fine processing can be easily performed, and the insulating properties of the insulating material do not deteriorate. The component (b) includes methyl acrylate, methyl methacrylate, 2-hydroxyethyl acrylate,
-Hydroxyethyl methacrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxypropyl methacrylate, ethylene glycol monomethyl ether acrylate, ethylene glycol monoethyl ether acrylate, ethylene glycol monomethyl ether methacrylate, ethylene glycol monoethyl ether methacrylate, ethylene glycol diacrylate, ethylene glycol Dimethacrylate, triethylene glycol diacrylate, triethylene glycol dimethacrylate, tetraethylene glycol diacrylate,
Tetraethylene glycol dimethacrylate, propylene glycol diacrylate, propylene glycol dimethacrylate, glycerol acrylate, glycerol methacrylate, isobutyl acrylate, isobutyl methacrylate, 2-ethylhexyl acrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, trimethylolpropane triacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, Tetramethylolpropane tetraacrylate, tetramethylolpropane tetramethacrylate, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, pentaerythritol tetramethacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, dipen Dipentaerythritol dimethacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, dipentaerythritol hexamethacrylate, 1,6
Examples include at least one monomer such as hexanediol diacrylate, benzyl acrylate, benzyl methacrylate, and cardo epoxy diacrylate, or an oligomer or prepolymer having an average molecular weight with an upper limit of about 3000. The component (b) is used in an amount of 1 part by weight based on 100 parts by weight of the total solid content of the photosensitive resin composition for fine processing.
It is good to contain in the range of 0 to 100 parts by weight, preferably 10 to 70 parts by weight.

【0010】また、(c)成分としては、公知の光重合
開始剤が使用でき、特に限定されないが、具体的にベン
ゾフェノン、4、4’−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾ
フェノン、3,3−ジメチル−4−メトキシ−ベンゾフ
ェノン等のベンゾフェノン誘導体、アントラキノン、2
−メチルアントラキノン、2−エチルアントラキノン、
tert−ブチルアントラキノン等のアントラキノン誘
導体、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾ
インエチルエーテル、ベンゾインプロピルエーテルなど
のベンゾインアルキルエーテル誘導体、アセトフェノ
ン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノ
ン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2−ヒドロキ
シ−2−メチルプロピオフェノン、4’−イソプロピル
−2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、2−
メチル−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−モ
ルフォリノ−1−プロパノンなどのアセトフェノン誘導
体、2−クロロチオキサントン、ジエチルチオキサント
ン、イソプロピルチオキサントン、ジイソプロピルチオ
キサントンなどのチオキサントン誘導体、ベンジル、
2,4,6−(トリハロメチル)−s−トリアジン、2
−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダ
ゾリル二量体、9−フェニルアクリジン、1,7−ビス
(9−アクリジニル)ヘプタン、1,5−ビス(9−ア
クリジニル)ペンタン、1,3−ビス(9−アクリジニ
ル)プロパン、ジメチルベンジルケタール、トリメチル
ベンゾイルジフェニルホスフィンオキシド、トリブロモ
メチルフェニルスルホン、2−ベンジル−2−ジメチル
アミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタン−
1−オン、イルガキュア(商品名、チバガイギー社製)
などが挙げられるが、これらに限定されるものではな
い。(c)成分は(b)成分100重量部に対し0.1
〜20重量部の範囲で含有するのがよい。
As the component (c), a known photopolymerization initiator can be used and is not particularly limited. Specific examples include benzophenone, 4,4'-bis (dimethylamino) benzophenone, and 3,3-dimethyl- Benzophenone derivatives such as 4-methoxy-benzophenone, anthraquinone,
-Methylanthraquinone, 2-ethylanthraquinone,
anthraquinone derivatives such as tert-butylanthraquinone, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin alkyl ether derivatives such as benzoin propyl ether, acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone; 2-hydroxy-2-methylpropiophenone, 4'-isopropyl-2-hydroxy-2-methylpropiophenone, 2-
Acetophenone derivatives such as methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-1-propanone; thioxanthone derivatives such as 2-chlorothioxanthone, diethylthioxanthone, isopropylthioxanthone and diisopropylthioxanthone; benzyl;
2,4,6- (trihalomethyl) -s-triazine, 2
-(O-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazolyl dimer, 9-phenylacridine, 1,7-bis (9-acridinyl) heptane, 1,5-bis (9-acridinyl) pentane, 1,3- Bis (9-acridinyl) propane, dimethylbenzylketal, trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, tribromomethylphenylsulfone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butane-
1-one, Irgacure (trade name, manufactured by Ciba Geigy)
And the like, but are not limited thereto. Component (c) is added in an amount of 0.1 to 100 parts by weight of component (b).
The content is preferably in the range of 範 囲 20 parts by weight.

【0011】上記微細加工用感光性樹脂組成物を、特に
PDPリブの加工に使用する場合には、(a)成分に加
えて、(d)ジアゾ化合物及び(e)重合体エマルショ
ンを含有するのがよい。前記(d)成分は、(a)成分
と(e)成分の光架橋剤として作用し、解像度よいパタ
ーンを形成するのに役立ち、また(e)成分は、リブ形
成層表面への溶剤の浸透を防止し、その変質を防ぐ。こ
のように本発明のリブ加工用感光性樹脂組成物は、基板
との密着性がよい上にリブ形成層表面への溶剤の浸透が
ないところから、精度の高い絶縁材料が製造でき、かつ
得られた絶縁材料は絶縁特性の低下や発光輝度の低下を
起すことがない。前記(d)成分としては、具体的には
4−ジアゾジフェニルアミン硫酸塩、4−ジアゾジフェ
ニルアミン燐酸塩、3−メトキシ−4−ジアゾジフェニ
ルアミン硫酸塩、4,4’−ジジアゾジフェニルアミ
ン、2,2’−ジジアゾフルオレン、2−ジメチルアミ
ノ−2’−ジアゾフルオレン、3−メトキシ−4−ジア
ゾジフェニルアミン燐酸塩等とパラホルムアルデヒド又
は4,4’−ジメトキシジフェニルエーテルとの縮合物
を挙げることができる。前記(d)成分は、(e)成分
100重量部に対し0.1〜20重量部の範囲で含有す
るのがよい。
When the above-mentioned photosensitive resin composition for fine processing is used particularly for processing a PDP rib, the photosensitive resin composition contains (d) a diazo compound and (e) a polymer emulsion in addition to the component (a). Is good. The component (d) acts as a photo-crosslinking agent for the components (a) and (e) and helps to form a pattern with good resolution, and the component (e) is a solvent that penetrates the surface of the rib-forming layer. And prevent its deterioration. As described above, the photosensitive resin composition for rib processing of the present invention has good adhesiveness to the substrate and has no solvent permeation to the surface of the rib forming layer. The insulating material thus used does not cause a decrease in insulation characteristics or a decrease in light emission luminance. As the component (d), specifically, 4-diazodiphenylamine sulfate, 4-diazodiphenylamine phosphate, 3-methoxy-4-diazodiphenylamine sulfate, 4,4′-diadiazodiphenylamine, 2,2 ′ -Diadiazofluorene, 2-dimethylamino-2'-diazofluorene, 3-methoxy-4-diazodiphenylamine phosphate and the like, and condensates of paraformaldehyde or 4,4'-dimethoxydiphenyl ether. The component (d) is preferably contained in the range of 0.1 to 20 parts by weight based on 100 parts by weight of the component (e).

【0012】また、(e)成分としては、ポリ酢酸ビニ
ル、酢酸ビニル/エチレン重合体、酢酸ビニル/アクリ
ル酸エステル共重合体、スチレン/ブタジエン重合体、
メタクリル酸メチル/ブタジエン共重合体、アクリロニ
トリル/ブタジエン共重合体、クロロプレン共重合体、
イソプレン共重合体、ポリ(メタ)アクリル酸、ポリ塩
化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、シリコ
ーン樹脂、ポリエチレン、ポリウレタン、フッ素樹脂等
の重合体エマルジョンが挙げられ、好ましくは平均粒径
が1〜10μmの範囲の重合体エマルジョンがよい。重
合体エマルジョンの平均粒径が1μm未満ではリブ形成
層表面への溶剤の浸透が起こり易く、また平均粒径が1
0μmを超えると細線パターンの形成を困難にすること
がある。
The component (e) includes polyvinyl acetate, vinyl acetate / ethylene polymer, vinyl acetate / acrylate copolymer, styrene / butadiene polymer,
Methyl methacrylate / butadiene copolymer, acrylonitrile / butadiene copolymer, chloroprene copolymer,
Polymer emulsions of isoprene copolymer, poly (meth) acrylic acid, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polystyrene, silicone resin, polyethylene, polyurethane, fluororesin, etc., preferably having an average particle size of 1 to 10 μm A range of polymer emulsions is preferred. When the average particle size of the polymer emulsion is less than 1 μm, the solvent easily penetrates into the surface of the rib-forming layer, and the average particle size is 1 μm.
If it exceeds 0 μm, it may be difficult to form a fine line pattern.

【0013】上記(e)成分は、微細加工用感光性樹脂
組成物の固形分総量100重量部に対し、20〜90重
量部、好ましくは50〜80重量部の範囲で含有する。
(e)成分の含有量が20重量部未満ではリブ形成層表
面への溶剤の浸透が起ることがあり、90重量部を超え
るとレジストの剥離性が悪くなるため好ましくない。
The component (e) is contained in an amount of 20 to 90 parts by weight, preferably 50 to 80 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total solid content of the photosensitive resin composition for fine processing.
If the content of the component (e) is less than 20 parts by weight, the solvent may penetrate into the surface of the rib-forming layer, and if it exceeds 90 parts by weight, the peelability of the resist deteriorates.

【0014】本発明の微細加工用感光性樹脂組成物は、
水又は有機溶媒に溶解し、それをそのままアプリケータ
ー、バーコーター、ワイヤーバーコーター、ロールコー
ター、カーテンフローコーター等を用いて被加工面に塗
布するか、又は調製した感光性樹脂組成物を可撓性支持
フィルム上に塗布し、その上に離型フィルムを配してド
ライフィルムとし、それを被加工面に貼合する等の方法
で感光性樹脂層に形成される。前記感光性樹脂層は、次
いでマスクパターンを介して活性光線が照射され露光、
現像されて微細パターンの保護膜に形成される。前記保
護膜の上からブラスト材を吹き付けることで微細加工が
良好に実施できる。前記ドライフィルムの可撓性支持フ
ィルムとしては感光性樹脂層を支持する層であるところ
から、膜厚15〜125μmのフィルムがよい。前記フ
ィルムの具体例としては、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリカーボネー
ト、ポリ塩化ビニル等の合成樹脂フィルムを挙げること
ができる。特にポリエチレンテレフタレート(PET)
フィルムは可撓性、腰の点から好ましい。さらに、離型
フィルムは、未使用時に感光性樹脂組成物層を安定に保
護するが、使用時に容易に剥離できるフィルムが好まし
い。前記離型フィルムとしては、PET、ポリエチレ
ン、ポリプロピレン等のフィルムが挙げられるが、シリ
コーンをコーティングまたは焼き付けした厚さ15〜1
25μm程度のPETフィルム、ポリプロピレンフィル
ム、ポリエチレンフィルム等が好適である。前記感光性
樹脂組成物層の厚さは乾燥後の膜厚で20μm以上とす
るが、リブパターンの形成においては23〜50μmの
範囲の厚さが好ましい。乾燥後の膜厚が上記範囲より小
さいと加工時の耐性が悪く、精度の高いパターンの形成
が困難で好ましくない。
The photosensitive resin composition for fine processing of the present invention comprises:
Dissolve it in water or an organic solvent and apply it directly to the surface to be processed using an applicator, bar coater, wire bar coater, roll coater, curtain flow coater, or the like, or prepare the prepared photosensitive resin composition with flexibility. It is formed on the photosensitive resin layer by a method such as coating on a support film, disposing a release film on the support film to form a dry film, and bonding the dry film to a surface to be processed. The photosensitive resin layer is then exposed to actinic rays through a mask pattern and exposed,
It is developed to form a fine pattern protective film. By spraying a blast material on the protective film, fine processing can be performed well. As the flexible support film of the dry film, a film having a thickness of 15 to 125 μm is preferable because it is a layer supporting the photosensitive resin layer. Specific examples of the film include a synthetic resin film such as polyethylene terephthalate, polyethylene, polypropylene, polycarbonate, and polyvinyl chloride. Especially polyethylene terephthalate (PET)
Films are preferred in terms of flexibility and waist. Further, the release film is preferably a film which stably protects the photosensitive resin composition layer when not used, but which can be easily peeled off when used. Examples of the release film include films of PET, polyethylene, polypropylene, etc., which have a thickness of 15 to 1 coated or baked with silicone.
A PET film, a polypropylene film, a polyethylene film or the like having a thickness of about 25 μm is suitable. The thickness of the photosensitive resin composition layer is not less than 20 μm in terms of the thickness after drying, but is preferably in the range of 23 to 50 μm in forming the rib pattern. If the film thickness after drying is smaller than the above range, the resistance during processing is poor, and it is difficult to form a highly accurate pattern, which is not preferable.

【0015】次に、本発明の微細加工用感光性樹脂組成
物を用いたPDPの製造方法の具体例を示す。
Next, a specific example of a method for producing a PDP using the photosensitive resin composition for fine processing of the present invention will be described.

【0016】(i)リブ形成層の形成 ガラス等の基材上に無機粉末とビヒクルとを分散したペ
ーストを塗布、乾燥してリブ形成層を形成する。前記無
機粉末としては、ホウ酸鉛ガラス、ホウ酸亜鉛ガラスな
どSi、B、Pb、Na、K、Mg、Ca、Ba、T
i、Zr、Al等の各種酸化物からなるガラス類、酸化
コバルト、酸化鉄、酸化クロム、酸化ニッケル、酸化
銅、酸化マンガン、酸化ネオジウム、酸化バナジウム、
酸化セリウム、チペークイエロー、酸化カドミウム、ア
ルミナ、シリカ、マグネシア、スピネル、Y2SiO5
Ce、CaWO4:Pb、BaMgAl1423:Eu、
ZnS:(Ag,Cd)、Y23:Eu、Y2SiO5
Eu、Y3Al512:Eu、Zn3(PO42:Mn、
YBO3:Eu、(Y,Gd)BO3:Eu、GdB
3:Eu、ScBO3:Eu、LuBO3:Eu、Zn2
SiO4:Mn、BaAl1219:Mn、SrAl13
19:Mn、CaAl1219:Mn、YBO3:Tb、B
aMgAl1423:Mn、LuBO3:Tb、GdB
3:Tb、ScBO3:Tb、Sr6Si33Cl4:E
u、ZnO:Zn、ZnS:(Cu,Al)、ZnS:
Ag、Y23S:Eu、ZnS:Zn、(Y,Cd)B
3:Eu、BaMgAl1223:Eu等の蛍光物質、
鉄、ニッケル、銅、アルミニウム、銀、金等の導電性粒
子が挙げられ、またビヒクルとしては、セルロース、カ
ルボキシメチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロー
ス、ヒドロキシプロピルセルロース、メチルセルロー
ス、エチルセルロース、エチルヒドロキシエチルセルロ
ース、カルボキシメチルエチルセルロース等の高分子化
合物や線状(メタ)アクリル共重合体が挙げられる。
(I) Formation of Rib Forming Layer A paste in which an inorganic powder and a vehicle are dispersed is applied on a base material such as glass and dried to form a rib forming layer. Examples of the inorganic powder include lead borate glass, zinc borate glass and the like, Si, B, Pb, Na, K, Mg, Ca, Ba, T
Glasses composed of various oxides such as i, Zr, Al, etc., cobalt oxide, iron oxide, chromium oxide, nickel oxide, copper oxide, manganese oxide, neodymium oxide, vanadium oxide,
Cerium oxide, chipeque yellow, cadmium oxide, alumina, silica, magnesia, spinel, Y 2 SiO 5 :
Ce, CaWO 4 : Pb, BaMgAl 14 O 23 : Eu,
ZnS: (Ag, Cd), Y 2 O 3 : Eu, Y 2 SiO 5 :
Eu, Y 3 Al 5 O 12 : Eu, Zn 3 (PO 4 ) 2 : Mn,
YBO 3 : Eu, (Y, Gd) BO 3 : Eu, GdB
O 3 : Eu, ScBO 3 : Eu, LuBO 3 : Eu, Zn 2
SiO 4 : Mn, BaAl 12 O 19 : Mn, SrAl 13 O
19: Mn, CaAl 12 O 19 : Mn, YBO 3: Tb, B
aMgAl 14 O 23 : Mn, LuBO 3 : Tb, GdB
O 3 : Tb, ScBO 3 : Tb, Sr 6 Si 3 O 3 Cl 4 : E
u, ZnO: Zn, ZnS: (Cu, Al), ZnS:
Ag, Y 2 O 3 S: Eu, ZnS: Zn, (Y, Cd) B
Fluorescent substances such as O 3 : Eu, BaMgAl 12 O 23 : Eu,
Iron, nickel, copper, aluminum, silver, conductive particles such as silver, gold and the like, and as the vehicle, cellulose, carboxymethylcellulose, hydroxyethylcellulose, hydroxypropylcellulose, methylcellulose, ethylcellulose, ethylhydroxyethylcellulose, carboxymethylethylcellulose and the like Examples include a polymer compound and a linear (meth) acrylic copolymer.

【0017】(ii)リブ画定パターンの形成 リブ形成層に微細加工用感光性樹脂組成物を塗布する
か、又はドライフィルムで感光性樹脂組成物層を形成し
たのち、所定のマスクパターンを備えたマスクを密着さ
せ、マスクパターンの上から活性光線を照射して露光、
現像してリブ画定マスクパターンを形成する。得られた
リブ画定マスクパターンの上からブラスト材を吹き付
け、露出部分を選択的に研削除去してバリアリブやプラ
イミングリブ等のリブパターンを形成する。使用するブ
ラスト材としては、ガラスビーズ、SiC、SiO2
Al23、ZrO2、有機プラスチック材等の1〜50
0μm程度の微粒子が挙げられる。サンドブラスト処理
で残存する感光性樹脂組成物層は剥離液で除去される
が、該剥離液としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリ
ウム、過ヨウ素酸、過ヨウ素酸ナトリウム、有機アルカ
リ等の剥離液が挙げられる。
(Ii) Formation of Rib Defining Pattern After applying the photosensitive resin composition for fine processing to the rib forming layer or forming the photosensitive resin composition layer with a dry film, a predetermined mask pattern was provided. The mask is brought into close contact with the mask pattern and irradiated with actinic rays to expose it.
Develop to form rib definition mask pattern. A blast material is sprayed on the obtained rib definition mask pattern, and the exposed portion is selectively ground and removed to form a rib pattern such as a barrier rib or a priming rib. As the blast material to be used, glass beads, SiC, SiO 2 ,
1 to 50 of Al 2 O 3 , ZrO 2 , organic plastic material, etc.
Fine particles of about 0 μm can be mentioned. The photosensitive resin composition layer remaining in the sandblasting treatment is removed with a stripping solution. As the stripping solution, a stripping solution such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, periodic acid, sodium periodate, or an organic alkali is used. No.

【0018】(iv)PDPの製造 上記リブパターンの形成した基板を、500℃以上の温
度で焼成し、リブを得たのち、そのセル内またはライン
間に蛍光体層や電極層を設け、放電ガスを封入してPD
Pに製造する。
(Iv) Manufacture of PDP The substrate on which the above-mentioned rib pattern is formed is fired at a temperature of 500 ° C. or more to obtain ribs. Then, a phosphor layer or an electrode layer is provided in the cell or between the lines, and discharge is performed. PD with gas
P.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】次に実施例に基づいて本発明をさ
らに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によって何
ら限定されるものではない。
Next, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.

【0020】[0020]

【実施例】実施例1 PVA(日本合成化学社製:Tー350、カルボキシル
基変性ポリビニルアルコール、Na含有量0.18重量
%)の15重量%水溶液100重量部にイオン交換樹脂
(オルガノ社製:アンバーライト)を10重量部入れ、
12時間混合したのち、250メッシュのフィルターで
ろ過し、ナトリウム含有量が80ppmのPVA水溶液
を得た。
Example 1 An ion exchange resin (manufactured by Organo Co., Ltd.) was added to 100 parts by weight of a 15% by weight aqueous solution of PVA (manufactured by Nippon Synthetic Chemical: T-350, carboxyl group-modified polyvinyl alcohol, Na content: 0.18% by weight). : 10 parts by weight of Amberlite)
After mixing for 12 hours, the mixture was filtered through a 250-mesh filter to obtain a PVA aqueous solution having a sodium content of 80 ppm.

【0021】実施例2 水溶性セルロース(信越化学工業社製:メトローズ60
SH、Na含有量0.16重量%)の15重量%水溶液
100重量部に、イオン交換樹脂(オルガノ社製:アン
バーライト)を10重量部入れ、12時間混合したの
ち、250メッシュのフィルターでろ過して得たセルロ
ース溶液をエバポレーターで水分除去することにより、
ナトリウム含有量が50ppmの粉末状セルロース得
た。
Example 2 Water-soluble cellulose (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd .: Metroze 60)
10 parts by weight of an ion exchange resin (manufactured by Organo: Amberlite) is added to 100 parts by weight of a 15% by weight aqueous solution containing SH and Na (0.16% by weight), mixed for 12 hours, and then filtered through a 250 mesh filter. By removing water from the cellulose solution obtained by evaporator,
Powdered cellulose having a sodium content of 50 ppm was obtained.

【0022】次いで、以下のように微細加工用感光性樹
脂組成物を調製した。 (1)上記粉末状セルロースのエチレングリコール モノエチルエーテル希釈溶液(固形分濃度10重量%) 150重量部 (2)ペンタエリスリトールトリアクリレートと ペンタエリスリトールテトラアクリレートとの混合物 である3L(商品名、新中村化学社製) 15重量部 (3)ホウ珪酸ナトリウムガラス粉末 67重量部 (4)イルガキュア 651(商品名、チバガイギー社製) 3重量部 を三本ロールでよく混練した。
Next, a photosensitive resin composition for fine processing was prepared as follows. (1) Ethylene glycol monoethyl ether diluted solution of the above powdered cellulose (solid content concentration: 10% by weight) 150 parts by weight (2) 3L which is a mixture of pentaerythritol triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate (trade name, Shin-Nakamura) (3) sodium borosilicate glass powder 67 parts by weight (4) Irgacure 651 (trade name, manufactured by Ciba Geigy) 3 parts by weight was well kneaded with a three-roll mill.

【0023】次に、調製した微細加工用感光性樹脂組成
物を乾燥後の膜厚が150μmとなるようにPDP用基
板上に塗布し、80℃で1時間間乾燥し、80μmライ
ン/220μmスペースのネガマスクを介して超高圧水
銀灯により、300mJ/cm2のエネルギー量で照射
し露光した。しかる後、40℃の温水で120秒間スプ
レー現像し、水洗した後、80℃で10分間乾燥し、リ
ブパターンを形成した。
Next, the prepared photosensitive resin composition for fine processing is applied on a PDP substrate so that the film thickness after drying becomes 150 μm, and dried at 80 ° C. for 1 hour to obtain a 80 μm line / 220 μm space. Exposure was performed by irradiating with an energy amount of 300 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp through a negative mask. Thereafter, the film was spray-developed with warm water of 40 ° C. for 120 seconds, washed with water, and dried at 80 ° C. for 10 minutes to form a rib pattern.

【0024】上記PDP用基板を電気炉中に入れ、30
〜570℃まで10℃/minで昇温し、570℃で1
0分間焼成してPDP基板を製造した。PDP基板上の
感光性樹脂組成物は完全に分解しており、リブの変色や
電気抵抗値の低下がなかった。
The PDP substrate was placed in an electric furnace,
To 570 ° C at a rate of 10 ° C / min.
By firing for 0 minutes, a PDP substrate was manufactured. The photosensitive resin composition on the PDP substrate was completely decomposed, and there was no discoloration of the ribs and no decrease in electric resistance.

【0025】 実施例3 (i)微細加工用感光性樹脂組成物の調製 下記成分 (1)実施例1のPVA水溶液 140重量部 (2)ポリ酢酸ビニルエマルション(ヘキスト合成社製:MA−6) (固形分50%、平均粒径6μm) 150重量部 をかきまぜ機で1時間混合したのち、70μmのグラス
フィルターでろ過し、そのろ液100重量部に、ジアゾ
化合物として3−メトキシ−4−ジアゾジフェニルアミ
ン硫酸塩と4,4’−ジメトキシジフェニルエーテルの
リン酸浴中での縮合物(縮合比2:1)の20重量%水
溶液8重量部を加えてかきまぜ、脱泡して微細加工用感
光性樹脂組成物を調製した。
Example 3 (i) Preparation of photosensitive resin composition for microfabrication The following components (1) 140 parts by weight of PVA aqueous solution of Example 1 (2) Polyvinyl acetate emulsion (MA-6, manufactured by Hoechst Gosei Co., Ltd.) (Solid content: 50%, average particle size: 6 μm) 150 parts by weight were mixed by a stirrer for 1 hour, followed by filtration through a 70 μm glass filter, and 100 parts by weight of the filtrate was added with 3-methoxy-4-diazo as a diazo compound as a diazo compound. Add 8 parts by weight of a 20% by weight aqueous solution of a condensate of diphenylamine sulfate and 4,4′-dimethoxydiphenyl ether in a phosphoric acid bath (condensation ratio 2: 1), stir and remove bubbles to remove photosensitive resin for fine processing. A composition was prepared.

【0026】(ii)リブの形成 次に、下記組成 ・エチルセルロース(ハーキュレス社製:TKK021) 5重量部 ・ホウ珪酸ナトリウムガラス粉末(平均粒子径12μm) 320重量部 ・エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート 75重量部 からなるペースト組成物をよく混練したものを乾燥後の
膜厚が150μmとなるようにPDP用基板上に塗布し
150℃で20分間乾燥してリブ形成層を形成した。こ
のリブ形成層の上に上記に調整したリブ加工用感光性樹
脂組成物を乾燥後の膜厚が30μmとなるように塗布、
乾燥し、10μmライン/120μmスペースのネガマ
スクを介して超高圧水銀灯により400mJ/cm2
エネルギー量で照射し露光した。しかる後、40℃の温
水で90秒間スプレー現像し、水洗した後、80℃で1
0分間乾燥し、リブ画定マスクパターンを得た。得られ
たリブ画定マスクパターンは目視による観察で、パター
ンに欠けや剥がれ等がみられず、リブ形成層表面へのし
みこみから生じる変質層も確認されず、また、10μm
の細線ラインが良好に形成されていた。
(Ii) Formation of ribs Next, the following composition: 5 parts by weight of ethyl cellulose (manufactured by Hercules: TKK021) 320 parts by weight of sodium borosilicate glass powder (average particle diameter 12 μm) 320 parts by weight of ethylene glycol monoethyl ether acetate 75 parts by weight The resulting paste composition was kneaded well and applied to a PDP substrate so that the film thickness after drying was 150 μm, and dried at 150 ° C. for 20 minutes to form a rib forming layer. The rib-forming photosensitive resin composition adjusted as described above is applied on the rib forming layer such that the film thickness after drying is 30 μm.
It was dried and irradiated with an energy amount of 400 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp through a negative mask of 10 μm line / 120 μm space. Thereafter, spray development was performed for 90 seconds with warm water at 40 ° C., followed by washing with water.
After drying for 0 minutes, a rib definition mask pattern was obtained. The resulting rib definition mask pattern was visually observed. The pattern did not show any chipping or peeling, and no altered layer caused by seepage into the surface of the rib forming layer was observed.
Was formed satisfactorily.

【0027】上記リブ画定マスクパターンを介してSi
C#800の研磨材をブラスト圧0.5kg/cm2
5分間サンドブラスト処理し、リブ形成層を切削した。
次いで2重量%の過ヨウ素酸ナトリウム溶液に120秒
間浸漬したのち、22℃の水でスプレーし、残存水溶性
樹脂組成物層を除去した。PDP用基板上に得られたリ
ブパターンは断面形状がほぼ矩形であった。
Through the above-mentioned rib defining mask pattern,
The abrasive material of C # 800 was sandblasted at a blast pressure of 0.5 kg / cm 2 for 5 minutes to cut the rib forming layer.
Next, after immersing in a 2% by weight sodium periodate solution for 120 seconds, the residue was sprayed with water at 22 ° C. to remove the remaining water-soluble resin composition layer. The cross-sectional shape of the rib pattern obtained on the PDP substrate was substantially rectangular.

【0028】上記PDP用基板を電気炉中に入れ、30
〜570℃まで10℃/minで昇温し、570℃で1
0分間焼成してPDP基板を製造した。PDP基板上の
感光性樹脂組成物は完全に分解しており、リブの変色や
電気抵抗値の低下がなかった。
The PDP substrate was placed in an electric furnace,
To 570 ° C at a rate of 10 ° C / min.
By firing for 0 minutes, a PDP substrate was manufactured. The photosensitive resin composition on the PDP substrate was completely decomposed, and there was no discoloration of the ribs and no decrease in electric resistance.

【0029】実施例4 実施例3で使用した感光性樹脂組成物を乾燥後の膜厚が
100μmとなるようにPDP用基板上に塗布し、45
℃で30分間乾燥し、220μmライン/80μmスペ
ースのネガマスクを介して超高圧水銀灯により、1J/
cm2のエネルギー量で露光した。次いで40℃の温水
で120秒間スプレー現像し、水洗し、45℃で20分
間乾燥してリフトオフパターンを得た。
Example 4 The photosensitive resin composition used in Example 3 was applied on a PDP substrate so that the film thickness after drying was 100 μm,
At 30 ° C. for 30 minutes, and 1 J /
Exposure was performed with an energy amount of cm 2 . Subsequently, it was spray-developed with warm water at 40 ° C. for 120 seconds, washed with water, and dried at 45 ° C. for 20 minutes to obtain a lift-off pattern.

【0030】次に下記組成 ・ヒドロキシプロピルセルロース (日本曹達化学社製:HPC) 0.5重量部 ・ヒドロキシプロピルメタクリリレート 9.5重量部 ・ポリオキシエチレンモノアクリレート 日本油脂社製:AE−350) 7重量部 ・イスガキュア 651(チバガイギー社製) 3重量部 ・ホウ珪酸ナトリウムガラス粉末 80重量部 からなるペースト組成物をよく混練したものをリフトオ
フパターンのスペース部が完全に埋まるように塗布し、
1J/cm2のエネルギー量で露光し、2重量%過ヨウ
素酸ナトリウム溶液に120秒間浸漬した。次いで22
℃の水でスプレーし、残存感光性樹脂組成物を除去し、
PDP用基板上にリブパターンを形成した。
Next, 0.5 parts by weight of hydroxypropyl cellulose (Nippon Soda Chemical Co., Ltd .: HPC) 9.5 parts by weight of hydroxypropyl methacrylate Polyoxyethylene monoacrylate AE-350 (manufactured by NOF Corporation) 7 parts by weight ・ Isgacure 651 (manufactured by Ciba-Geigy) 3 parts by weight ・ Sodium borosilicate glass powder 80 parts by weight A well kneaded paste composition is applied so that the space of the lift-off pattern is completely filled.
Exposure was performed with an energy amount of 1 J / cm 2 , and the film was immersed in a 2% by weight sodium periodate solution for 120 seconds. Then 22
Spray with water at ℃, remove the remaining photosensitive resin composition,
A rib pattern was formed on a PDP substrate.

【0031】上記PDP基板を実施例3と同様にして焼
成してPDP基板を製造した。感光性樹脂組成物は完全
に分解しており、リブの変色や電気抵抗値の低下がなか
った。
The PDP substrate was fired in the same manner as in Example 3 to produce a PDP substrate. The photosensitive resin composition was completely decomposed, and there was no discoloration of the ribs and no decrease in electric resistance.

【0032】比較例1 実施例3において、PVA(日本合成化学社製:Tー3
50、カルボキシル基変性ポリビニルアルコール、Na
含有量0.18重量%)の15重量%水溶液を使用した
以外は、実施例3と同様にしてリブの形成を行ったとこ
ろ、感光性樹脂組成物は完全に分解しておらず、リブ壁
面が黒色に変色し、電気抵抗値の低下も確認された。
Comparative Example 1 In Example 3, PVA (T-3 manufactured by Nippon Synthetic Chemical Co., Ltd.) was used.
50, carboxyl group-modified polyvinyl alcohol, Na
A rib was formed in the same manner as in Example 3 except that a 15% by weight aqueous solution having a content of 0.18% by weight) was used. Turned black, and a decrease in electric resistance was also confirmed.

【0033】[0033]

【発明の効果】本発明の微細加工用感光性脂組成物は、
バインダー成分としてアルカリ含有量が200ppm以
下のポリマーを含有し、それを用いた微細加工において
は絶縁材料の絶縁特性を低下することがない。特にPD
Pリブの加工においては、絶縁特性の低下がない上に、
発光輝度の低下を起すことがない。
The photosensitive fat composition for fine processing of the present invention comprises:
It contains a polymer having an alkali content of 200 ppm or less as a binder component, and does not deteriorate the insulating properties of the insulating material in fine processing using the same. Especially PD
In the processing of P-ribs, there is no decrease in insulation properties,
There is no decrease in light emission luminance.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青山 俊身 神奈川県川崎市中原区中丸子150番地 東 京応化工業株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Toshimi Aoyama 150 Nakamurako, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Inside Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】アルカリ含有量が200ppm以下のポリ
マーを主成分として含有する微細加工用感光性樹脂組成
物。
1. A photosensitive resin composition for fine processing comprising a polymer having an alkali content of 200 ppm or less as a main component.
【請求項2】アルカリ含有量が200ppm以下のポリ
マー、少なくとも1個のエチレン性不飽和基を有するモ
ノマー及び光重合開始剤を含有する微細加工用感光性樹
脂組成物。
2. A photosensitive resin composition for fine processing comprising a polymer having an alkali content of 200 ppm or less, a monomer having at least one ethylenically unsaturated group, and a photopolymerization initiator.
【請求項3】アルカリ含有量が200ppm以下のポリ
マー、ジアゾ化合物及び重合体エマルションを含有する
微細加工用感光性樹脂組成物。
3. A photosensitive resin composition for fine processing, comprising a polymer having an alkali content of 200 ppm or less, a diazo compound and a polymer emulsion.
【請求項4】基板にリブ形成層を設け、その上に請求項
3に記載の微細加工用感光性樹脂組成物を積層し、次い
でマスクパターンを介して活性光線を照射してリブ画定
マスクパターンを形成したのち、サンドブラスト加工で
リブパターンを形成し、焼成することを特徴とするリブ
パターンの形成方法。
4. A rib forming layer is provided on a substrate, and the photosensitive resin composition for fine processing according to claim 3 is laminated thereon, and then actinic rays are irradiated through a mask pattern to form a rib defining mask pattern. Forming a rib pattern by sandblasting and baking.
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