JPH11347940A - Polishing slurry reproducing device and polishing system using it - Google Patents

Polishing slurry reproducing device and polishing system using it

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JPH11347940A
JPH11347940A JP15700498A JP15700498A JPH11347940A JP H11347940 A JPH11347940 A JP H11347940A JP 15700498 A JP15700498 A JP 15700498A JP 15700498 A JP15700498 A JP 15700498A JP H11347940 A JPH11347940 A JP H11347940A
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JP
Japan
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polishing
slurry
filter
filters
polishing slurry
Prior art date
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Pending
Application number
JP15700498A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshitaka Morioka
善隆 森岡
Motoyuki Obara
基之 小原
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP15700498A priority Critical patent/JPH11347940A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform washing of a filter and its replacement easily without lowering the rate of operation of a polishing device. SOLUTION: A polishing slurry regenerating device 20 is equipped with a plurality of filters 34a and 34b to remove foreign matter from the polishing slurry having done its work, filter selecting means 32a and 32b to supply the used polishing slurry to one of the filters 34a and 34b selectively, and a slurry sendout means 52, etc., to supply the regenerated slurry having passed the filter to the polishing device.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、研磨スラリーを用
いて半導体ウエハー等の平板状基板の表面を平坦化する
研磨システムに関する。特に、研磨装置で使用された使
用済み研磨スラリーを再生利用するスラリー再生装置の
改良に関する。
The present invention relates to a polishing system for flattening the surface of a flat substrate such as a semiconductor wafer using a polishing slurry. In particular, the present invention relates to an improvement in a slurry recycling apparatus for recycling used polishing slurry used in a polishing apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイスの高集積化に伴い、半導
体ウエハの表面を今まで以上に高精度に平坦化すること
が要求されてきている。ウエハの表面を平坦化をする装
置として、現在ではCMP装置(化学機械的研磨装置)
が広く使用されている。一般に、CMP装置において
は、回転する研磨パッドと半導体ウエハの間に研磨スラ
リーが供給される。研磨スラリーは高価であるため、使
用済みの研磨スラリーを再生利用する方法が既に提案さ
れている。
2. Description of the Related Art As semiconductor devices become more highly integrated, it is required to flatten the surface of a semiconductor wafer with higher precision than ever before. At present, CMP equipment (chemical mechanical polishing equipment) is used as an equipment for flattening the surface of a wafer.
Is widely used. Generally, in a CMP apparatus, a polishing slurry is supplied between a rotating polishing pad and a semiconductor wafer. Since polishing slurries are expensive, methods for recycling used polishing slurries have already been proposed.

【0003】一般に、研磨スラリーの再生(循環)装置
においては、フィルターを通過して濾過された使用済み
の研磨スラリーを再生槽に蓄積し、一定量貯まった時点
でCMP装置に戻している。
Generally, in a polishing slurry regenerating (circulating) apparatus, used polishing slurry that has passed through a filter and is filtered is accumulated in a regenerating tank, and is returned to the CMP apparatus when a certain amount is accumulated.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の研磨スラリーの
再生装置においては、長時間の稼働によってフィルター
が目詰まりした場合には、研磨装置の稼働を一旦停止す
る。そして、フィルターを洗浄し、洗浄後のフィルター
を再生装置にセットしてから、研磨装置の作動を再開し
ている。
In the conventional polishing slurry regenerating apparatus, when the filter is clogged due to long-time operation, the operation of the polishing apparatus is temporarily stopped. Then, the filter is washed, and the cleaned filter is set in the regenerating device, and then the operation of the polishing device is restarted.

【0005】このように、フィルターの洗浄中には、研
磨装置の稼働が停止するため、当該研磨装置の稼働率が
低下するという問題があった。また、古くなったフィル
ターを交換する際にも同様の問題がある。
As described above, since the operation of the polishing apparatus is stopped during the cleaning of the filter, there is a problem that the operation rate of the polishing apparatus is reduced. There is a similar problem when replacing an old filter.

【0006】本発明は上記のような状況に鑑みてなされ
たものであり、研磨装置の稼働率を低下させることな
く、フィルターの洗浄、交換作業を容易に行い得る研磨
スラリーの再生装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above situation, and provides a polishing slurry regenerating apparatus capable of easily performing filter cleaning and replacement operations without lowering the operation rate of the polishing apparatus. The purpose is to:

【0007】本発明の他の目的は、研磨装置の稼働率を
低下させることなく、フィルターの洗浄、交換作業を容
易に行い得る研磨スラリーの再生装置を備えた研磨シス
テムを提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a polishing system provided with a polishing slurry regenerating device capable of easily performing filter cleaning and replacement operations without lowering the operation rate of the polishing device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の態様にかかる研磨スラリー再生装置
(20)は、使用後の研磨スラリーに含まれる異物を取
り除く複数のフィルター(34a,34b)と;使用済
みの研磨スラリを複数のフィルター(34a,34b)
の1つに対して選択的に供給するフィルター選択手段
(32a,32b)と;フィルターを通過した再生研磨
スラリーを研磨装置(12)に対して供給するスラリー
送出手段(52他)とを備えている。
In order to solve the above problems, a polishing slurry regenerating apparatus (20) according to a first aspect of the present invention comprises a plurality of filters (for removing foreign substances contained in used polishing slurry). 34a, 34b); a plurality of filters (34a, 34b) used polishing slurry
Filter selection means (32a, 32b) for selectively supplying the regenerated polishing slurry to the polishing apparatus (12). I have.

【0009】本発明の第2の態様に係る研磨システム
(10)は、研磨パッドによって平板状の基板表面を研
磨する研磨装置(12)と;研磨装置(12)に対して
研磨スラリーを供給するスラリー供給手段(18)と;
研磨装置(12)で使用された研磨スラリーを回収する
回収手段(26a,26b)と;回収された使用済み研
磨スラリーに含まれる異物を取り除く複数のフィルター
(34a,34b)と;使用済み研磨スラリを複数のフ
ィルター(34a,34b)の1つに対して選択的に供
給するフィルター選択手段(32a,32b)とを備え
る。そして、フィルター(34a,34b)を通過した
再生研磨スラリーをスラリー供給手段(18)を介して
研磨装置(12)に供給する。
A polishing system (10) according to a second aspect of the present invention includes: a polishing apparatus (12) for polishing a flat substrate surface with a polishing pad; and supplying a polishing slurry to the polishing apparatus (12). Slurry supply means (18);
Collecting means (26a, 26b) for collecting the polishing slurry used in the polishing apparatus (12); a plurality of filters (34a, 34b) for removing foreign substances contained in the collected used polishing slurry; Filter selection means (32a, 32b) for selectively supplying to one of the plurality of filters (34a, 34b). Then, the regenerated polishing slurry that has passed through the filters (34a, 34b) is supplied to the polishing apparatus (12) via the slurry supply means (18).

【0010】上記のような本発明の第1及び第2の態様
において、複数のフィルター(34a,34b)の各々
に対し、当該フィルターを通過する前の使用済みスラリ
ーを独立して貯めることができるフィルター槽(74
a、74b)を有する再生容器(24、24a、24
b)を設けることができる。また、フィルター選択手段
は、使用中のフィルターを交換する際に、他のフィルタ
ーに研磨スラリーを供給するように当該研磨スラリーの
流路を切り替える切り替え手段(32a、32b)で構
成することができる。
In the first and second aspects of the present invention as described above, each of the plurality of filters (34a, 34b) can independently store the used slurry before passing through the filters. Filter tank (74
a, 74b) (24, 24a, 24)
b) can be provided. Further, the filter selecting means can be constituted by switching means (32a, 32b) for switching the flow path of the polishing slurry so as to supply the polishing slurry to another filter when replacing the filter in use.

【0011】好ましくは、複数のフィルター(34a,
34b)の各々を、再生容器(24,24a,24b)
に対して容易に着脱可能なカートリッジ(64)に装着
する。また、複数のフィルター(34a,34b)の各
々は、水平に対して所定角度傾斜して配置することが好
ましい。
Preferably, a plurality of filters (34a,
34b) in each of the regeneration containers (24, 24a, 24b).
To a cartridge (64) that can be easily attached to and detached from. Further, it is preferable that each of the plurality of filters (34a, 34b) is arranged to be inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て実施例を用いて説明する。以下に示す実施例は、半導
体ウエハの表面を研磨するCMP装置に本発明の技術的
思想を適用したものである。なお、本発明は、半導体ウ
エハの研磨以外にも、磁気ディスクやガラス基板等の種
々のタイプの平板状試料の研磨に適用できることは言う
までもない。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to examples. In the embodiments described below, the technical idea of the present invention is applied to a CMP apparatus for polishing the surface of a semiconductor wafer. It is needless to say that the present invention can be applied to polishing of various types of flat samples such as a magnetic disk and a glass substrate in addition to polishing of a semiconductor wafer.

【0013】[0013]

【実施例】図1は、本発明の実施例に係るCMPシステ
ムの全体構成を示す。CMPシステム10は、CMP装
置本体12と、当該装置12に研磨スラリーを供給する
スラリー供給部(14〜24)とに大別される。CMP
装置本体12は、例えば、特開平5−285825に示
すような周知の構成により、半導体ウエハの表面を研磨
パッドを用いて研磨する。研磨作業中は、研磨パッドと
半導体ウエハの間に研磨スラリーが供給されるようにな
っている。
FIG. 1 shows the overall configuration of a CMP system according to an embodiment of the present invention. The CMP system 10 is roughly divided into a CMP apparatus main body 12 and a slurry supply unit (14 to 24) for supplying a polishing slurry to the CMP apparatus 12. CMP
The apparatus main body 12 polishes the surface of the semiconductor wafer using a polishing pad by a well-known configuration as shown in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-285825. During the polishing operation, a polishing slurry is supplied between the polishing pad and the semiconductor wafer.

【0014】研磨スラリーの供給部(14〜24)は、
再利用でない新規なスラリー原液を供給するスラリー供
給源14と、スラリ供給源14から供給されたスラリー
原液を所定の割合で純水等の希釈液や添加剤と混合し、
所定の濃度にするスラリ混合ユニット16とを備えてい
る。スラリー混合ユニット16から供給された研磨スラ
リーは、スラリー供給ユニット18に送り込まれる。
The polishing slurry supply units (14 to 24)
A slurry supply source 14 that supplies a new slurry stock solution that is not reused, and a slurry stock solution supplied from the slurry supply source 14 is mixed with a diluent or an additive such as pure water at a predetermined ratio,
A slurry mixing unit 16 for adjusting the concentration to a predetermined value. The polishing slurry supplied from the slurry mixing unit 16 is sent to the slurry supply unit 18.

【0015】一方、CMP装置本体12から排出される
使用済みスラリーは、排出ユニット24及び再生ユニッ
ト20に供給される。排出ユニット24に供給されるス
ラリーは、研磨後のウエハやCMP装置本体12を純水
にて洗浄した直後の排出スラリー等、適正濃度にないス
ラリーであり、再生利用されることなく廃棄される。他
方、再生ユニット20に供給されるスラリーは、適正濃
度にあるスラリーであり、濾過再生処理が行われた後
に、スラリー供給ユニット18に戻される。なお、再生
ユニット20の詳細な構成については、後述する。
On the other hand, the used slurry discharged from the CMP apparatus main body 12 is supplied to a discharge unit 24 and a regeneration unit 20. The slurry supplied to the discharge unit 24 is a slurry that does not have an appropriate concentration, such as a polished wafer or a discharged slurry immediately after the CMP apparatus main body 12 is washed with pure water, and is discarded without being recycled. On the other hand, the slurry supplied to the regeneration unit 20 is a slurry having an appropriate concentration, and is returned to the slurry supply unit 18 after the filtration and regeneration processing is performed. The detailed configuration of the reproduction unit 20 will be described later.

【0016】スラリー供給ユニット18は、スラリー混
合ユニット16から供給される新規な研磨スラリーと、
再生ユニット20から供給される再生スラリーとを混合
してフィルターユニット22に供給するようになってい
る。フィルターユニット22は、CMP装置本体12に
供給される直前の研磨スラリーを濾過する。
The slurry supply unit 18 includes a new polishing slurry supplied from the slurry mixing unit 16;
The regenerated slurry supplied from the regenerating unit 20 is mixed and supplied to the filter unit 22. The filter unit 22 filters the polishing slurry immediately before being supplied to the CMP apparatus main body 12.

【0017】次に、上記のように構成されたCMPシス
テム10の全体的な動作について簡単に説明する。スラ
リー供給源14からスラリー混合ユニット16に供給さ
れたスラリー原液は、所定の割合で純水と混合された
後、スラリー供給ユニット18に送り込まれる。
Next, the overall operation of the CMP system 10 configured as described above will be briefly described. The stock slurry supplied from the slurry supply source 14 to the slurry mixing unit 16 is mixed with pure water at a predetermined ratio, and then sent to the slurry supply unit 18.

【0018】一方、CMP装置本体12から排出され、
再生ユニット20に供給された使用済みスラリーは、当
該再生ユニット20において濾過、再生処理を施され、
再生スラリーとしてスラリー供給ユニット18に供給さ
れる。
On the other hand, it is discharged from the CMP apparatus main body 12 and
The used slurry supplied to the regeneration unit 20 is subjected to filtration and regeneration treatment in the regeneration unit 20,
The regenerated slurry is supplied to the slurry supply unit 18.

【0019】スラリー混合ユニット16から供給された
新規なスラリーと、再生ユニット20から供給された再
生スラリーとは、スラリー供給ユニット18において混
合された後、フィルターユニット22に送り込まれる。
そして、フィルターユニット22で再度濾過されたスラ
リーがCMP装置本体12に供給される。
The new slurry supplied from the slurry mixing unit 16 and the regenerated slurry supplied from the regenerating unit 20 are mixed in the slurry supplying unit 18 and then sent to the filter unit 22.
Then, the slurry filtered again by the filter unit 22 is supplied to the CMP apparatus main body 12.

【0020】図2は、上述した再生ユニット20の詳細
構成を示す。本発明の主な特徴は、この再生ユニット2
0内に存在する。再生ユニット20は、スラリー再生装
置としての役割を担うものであり、使用済みスラリーを
再生するための第1及び第2の再生容器24a,24b
と、CMP装置本体12から回収された使用済みスラリ
ーを第1及び第2の再生容器24a,24bに各々導く
配管26a,26bとを備えている。
FIG. 2 shows a detailed configuration of the above-mentioned reproducing unit 20. The main feature of the present invention is that the reproduction unit 2
Exists in 0. The regenerating unit 20 plays a role as a slurry regenerating device, and includes first and second regenerating containers 24a and 24b for regenerating used slurry.
And pipes 26a and 26b for guiding the used slurry recovered from the CMP apparatus main body 12 to the first and second regeneration vessels 24a and 24b, respectively.

【0021】配管26aの第1再生容器24aとの連結
部には、バルブ32aが設けられている。同様に、配管
26bの第2再生容器24bとの連結部には、バルブ3
2bが設けられている。これらのバルブ32a,32b
は、一方が閉鎖され、他方が解放されるというように、
選択的に開閉制御されるものであり、手動バルブ或いは
電磁弁が使用できるが、本実施例においては電磁弁を使
用するものとする。
A valve 32a is provided at a connection portion of the pipe 26a with the first regeneration container 24a. Similarly, a valve 3 is connected to the connection between the pipe 26b and the second regeneration container 24b.
2b is provided. These valves 32a, 32b
Is that one is closed and the other is released,
The valve is selectively opened and closed, and a manual valve or an electromagnetic valve can be used. In this embodiment, an electromagnetic valve is used.

【0022】第1再生容器24a内部には、フィルター
34aが配置されている。同様に、第2再生容器24b
内部には、フィルター34bが配置されている。これら
のフィルター34a,34bとしては、例えば、100
メッシュや200メッシュの粗さのフィルターを用いる
ことができる。また、フィルター34a,34bは、各
々、水平に対して約30度の傾斜をもって配置されてい
る。なお、フィルター34a,34bの傾斜角度は、フ
ィルターの目の粗さやスラリーの粘性等を考慮して決め
ることが望ましく、例えば、10〜60度の範囲で設定
することができる。なお、フィルター34a、34b
は、実際には図3に示すようなカートリッジに装着され
ており、その構成については後述する。
A filter 34a is disposed inside the first regeneration container 24a. Similarly, the second regeneration container 24b
A filter 34b is arranged inside. As these filters 34a and 34b, for example, 100
A mesh or a filter having a roughness of 200 mesh can be used. Each of the filters 34a and 34b is arranged at an inclination of about 30 degrees with respect to the horizontal. Note that the inclination angles of the filters 34a and 34b are desirably determined in consideration of the roughness of the filters, the viscosity of the slurry, and the like, and can be set, for example, in the range of 10 to 60 degrees. The filters 34a, 34b
Is actually mounted on a cartridge as shown in FIG. 3, and its configuration will be described later.

【0023】フィルター34a、34bを傾斜させるこ
とにより、使用済みスラリーがフィルター全面に行き渡
り易くなり、フィルター面を有効に利用できるため、フ
ィルターの寿命が延びる等の効果が期待できる。
By inclining the filters 34a and 34b, the used slurry can be easily spread over the entire surface of the filter, and the filter surface can be used effectively, so that the effect of extending the life of the filter can be expected.

【0024】第1再生容器24a内は、フィルター34
aより上部であって、使用済みスラリーが供給され、フ
ィルター34aを通過する前のスラリーを貯めることが
できる第1フィルター槽74aと、フィルター34aよ
り下部でフィルター34aを通過した後のスラリーを貯
める第1再生槽76aとに分割されている。同様に、第
2再生容器24b内は、第2フィルター槽74bと第2
再生槽76bとに分割されている。
The inside of the first regeneration container 24a contains a filter 34.
a first filter tank 74a, which is above the a and in which used slurry is supplied and can store the slurry before passing through the filter 34a, and a first filter tank 74a which stores the slurry after passing through the filter 34a below the filter 34a. It is divided into one regeneration tank 76a. Similarly, inside the second regeneration container 24b, the second filter tank 74b and the second
And a regeneration tank 76b.

【0025】第1フィルター槽74aと第2フィルター
槽74bの上部は、オーバーフローライン36によって
連結されている。そして、一方の再生容器で濾過作業を
行っている最中に、スラリーが当該再生容器内のフィル
ター槽でオーバーフローしそうになった場合に、オーバ
ーフローしそうになったスラリーが他方の再生容器に自
動的に送り込まれるようになっている。
The upper portions of the first filter tank 74a and the second filter tank 74b are connected by an overflow line 36. And, when the slurry is about to overflow in the filter tank in the regeneration vessel during the filtration operation in one regeneration vessel, the slurry that is about to overflow is automatically transferred to the other regeneration vessel. It is to be sent.

【0026】第1再生容器24a中には、3つのセンサ
ー38a、40a、42aが挿入されている。センサ3
8aは、フロート式の下限センサであり、再生槽76a
内のスラリーのレベルが汲み上げ停止位置に達したこと
を検出する。そして、この下限センサ38aによって汲
み上げ停止位置を検出したときに、ポンプ52によるス
ラリーの排出(吸い上げ)を停止するようになってい
る。センサ40aは、フロート式の上限センサであり、
再生槽76a内のスラリーのレベルが汲み上げ開始位置
に達したことを検出する。
Three sensors 38a, 40a and 42a are inserted in the first regeneration container 24a. Sensor 3
8a is a float type lower limit sensor,
It detects that the level of the slurry inside has reached the pumping stop position. When the pumping stop position is detected by the lower limit sensor 38a, the discharge (suction) of the slurry by the pump 52 is stopped. The sensor 40a is a float type upper limit sensor,
It detects that the level of the slurry in the regeneration tank 76a has reached the pumping start position.

【0027】そして、この上限センサ40aによって汲
み上げ開始位置を検出したときに、ポンプ52によるス
ラリーの排出(吸い上げ)を開始するようになってい
る。また、センサ42aは、オーバーフローセンサであ
り、フィルター槽74a内のスラリーの上限位置を検
出、スラリーが当該センサ42aの位置に達した時点
で、警報を発すると共に、バルブ32a、32bを制御
して、使用する再生容器を変更するようになっている。
When the pumping start position is detected by the upper limit sensor 40a, the pump 52 starts discharging (sucking) the slurry. The sensor 42a is an overflow sensor, detects the upper limit position of the slurry in the filter tank 74a, issues an alarm when the slurry reaches the position of the sensor 42a, and controls the valves 32a and 32b, The regeneration container to be used is changed.

【0028】第2再生容器24b中にも第1の再生容器
24aと同様に、3つのセンサー38b、40b、42
bが配置されている。センサ38bは、フロート式の下
限センサであり、再生槽76b内のスラリーのレベルが
汲み上げ停止位置に達したことを検出する。そして、こ
の下限センサ38bによって汲み上げ停止位置を検出し
たときに、ポンプ52によるスラリーの排出(吸い上
げ)を停止するようになっている。センサ40bは、フ
ロート式の上限センサであり、再生容器24b内のスラ
リーのレベルが汲み上げ開始位置に達したことを検出す
る。
In the second regenerating container 24b, three sensors 38b, 40b and 42 are provided similarly to the first regenerating container 24a.
b is arranged. The sensor 38b is a float-type lower limit sensor, and detects that the level of the slurry in the regeneration tank 76b has reached the pumping stop position. When the pumping stop position is detected by the lower limit sensor 38b, the discharge (suction) of the slurry by the pump 52 is stopped. The sensor 40b is a float type upper limit sensor, and detects that the level of the slurry in the regeneration container 24b has reached the pumping start position.

【0029】そして、この上限センサ40bによって汲
み上げ開始位置を検出したときに、ポンプ52によるス
ラリーの排出(吸い上げ)を開始するようになってい
る。また、センサ42bは、オーバーフローセンサであ
り、フィルター槽74a内のスラリーの上限位置を検
出、スラリーが当該センサ42bの位置に達した時点
で、警報を発すると共に、バルブ32a、32bを制御
して、使用する再生容器を変更するようになっている。
When the pumping start position is detected by the upper limit sensor 40b, the pump 52 starts discharging (sucking) the slurry. The sensor 42b is an overflow sensor, detects the upper limit position of the slurry in the filter tank 74a, issues an alarm when the slurry reaches the position of the sensor 42b, and controls the valves 32a and 32b, The regeneration container to be used is changed.

【0030】第1再生容器24aには、ドレイン用配管
44aが接続されており、必要に応じて再生槽76a内
のスラリーをバルブ48aを介して受け皿46aに排出
(廃棄)するようになっている。第2再生容器24bも
第1再生容器24aと同様に、ドレイン用配管44bが
接続されており、必要に応じて再生槽76b内のスラリ
ーをバルブ48bを介して受け皿46bに排出(廃棄)
するようになっている。
A drain pipe 44a is connected to the first regenerating vessel 24a, and the slurry in the regenerating vessel 76a is discharged (discarded) to a receiving tray 46a via a valve 48a as required. . Similarly to the first regeneration container 24a, the second regeneration container 24b is also connected to the drain pipe 44b, and discharges (disposes) the slurry in the regeneration tank 76b to the tray 46b via the valve 48b as necessary.
It is supposed to.

【0031】第1再生槽76aには、再生用配管50a
の一端が接続されている。再生用配管50aの多端は、
バルブ54a及び逆止弁56aを介してマグネットタイ
プのポンプ52に連結されている。そして、バルブ54
aを開放した状態で、ポンプ52を駆動することによっ
て、第1再生槽76a内のスラリーが吸い上げられるよ
うになっている。
The first regeneration tank 76a has a regeneration pipe 50a
Are connected at one end. The multi-end of the regeneration pipe 50a
It is connected to the magnet type pump 52 via a valve 54a and a check valve 56a. And the valve 54
By driving the pump 52 with a opened, the slurry in the first regeneration tank 76a is sucked up.

【0032】第2再生槽76bも第1再生槽76aと同
様に、再生用配管50bの一端が接続されている。再生
用配管50bの多端は、バルブ54b及び逆止弁56b
を介してポンプ52に連結されている。そして、バルブ
54bを開放した状態で、ポンプ52を駆動することに
よって、第2再生槽76b内のスラリーが吸い上げられ
るようになっている。なお、上述した第1及び第2再生
容器24a、24bは、内部の状態を観察しやすいよう
に、各々透明のアクリル板によって、四角柱状に成形さ
れている。
As in the case of the first regeneration tank 76a, one end of the regeneration pipe 50b is connected to the second regeneration tank 76b. The multi-end of the regeneration pipe 50b includes a valve 54b and a check valve 56b.
Is connected to the pump 52 via the. Then, by driving the pump 52 with the valve 54b opened, the slurry in the second regeneration tank 76b is sucked up. The first and second regenerating containers 24a and 24b are each formed of a transparent acrylic plate into a quadrangular prism shape so that the internal state can be easily observed.

【0033】ポンプ52には、循環用配管58と廃棄用
配管60が連結されており、通常は、ポンプ52によっ
て汲み上げたスラリーを循環用配管58を介してスラリ
ー供給ユニット18(図1)に送り込むようになってい
る。一方、再生槽76a、76b内のスラリーを空にす
る場合には、ドレイン用配管44aから排出しきれずに
再生槽76a、76bに残っているスラリーを廃棄用配
管60から排出する。なお、上述した各配管は、塩化ビ
ニル(例えば、ポリプロピレン)等の耐酸性(耐スラリ
性)の材料によって製造される。
A circulation pipe 58 and a waste pipe 60 are connected to the pump 52. Usually, the slurry pumped by the pump 52 is sent to the slurry supply unit 18 (FIG. 1) through the circulation pipe 58. It has become. On the other hand, when the slurry in the regenerating tanks 76a and 76b is emptied, the slurry remaining in the regenerating tanks 76a and 76b that cannot be completely discharged from the drain pipe 44a is discharged from the waste pipe 60. Each of the above-mentioned pipes is made of an acid-resistant (slurry-resistant) material such as vinyl chloride (for example, polypropylene).

【0034】図3は、第1再生容器24a内にセットさ
れるフィルター34aのカートリッジ64の構成を示
す。また、図4は、カートリッジ64をセットした再生
容器24aの内部の様子を示す。なお、第2再生容器2
4b内のフィルター34bについても同様のカートリッ
ジが使用されるため、ここでは、フィルター34aのカ
ートリッジ64のみについて説明する。フィルターカー
トリッジ64は、フィルター34aを保持するカートリ
ッジ本体66と、本体66を再生容器24a内に設置
し、更には取り出し易いように設けられたハンドル7
0、72とを備えている。
FIG. 3 shows the structure of the cartridge 64 of the filter 34a set in the first regeneration container 24a. FIG. 4 shows the inside of the regeneration container 24a in which the cartridge 64 is set. The second regeneration container 2
Since the same cartridge is used for the filter 34b in the filter 4b, only the cartridge 64 of the filter 34a will be described here. The filter cartridge 64 includes a cartridge main body 66 for holding the filter 34a, and a handle 7 provided with the main body 66 installed in the regeneration container 24a and further provided for easy removal.
0 and 72.

【0035】カートリッジ本体66は、第1再生容器2
4aの内側に張り出した突起部82に対して、良好に保
持されるように、外周部がフランジ状に成形されてい
る。ハンドル72の上部には、オペレータが掴みやすい
ように開口部72aが設けられている。(ハンドル70
も同様)
The cartridge main body 66 includes the first regeneration container 2.
The outer peripheral portion is formed in a flange shape so as to be held well with respect to the protrusion 82 projecting inward of 4a. An opening 72a is provided at an upper portion of the handle 72 so that the operator can easily grasp the opening 72a. (Handle 70
The same applies)

【0036】図4に示すように、第1再生容器24aに
カートリッジ64がセットされる。第1再生容器24a
は、フィルター34aの上部であって仕切り板84で仕
切られた、使用済みスラリーが配管26aを介して供給
される第1フィルター槽74aと、フィルター34aに
より濾過された後のスラリーを貯留する第1再生槽76
aに分割されている。フィルター槽74aは、フィルタ
ー34aが目詰まりを起こした場合、フィルター34a
を通過する前の使用済みスラリーを一定量貯めることが
できるようになっている。また、フィルター槽74aの
上部にはオーバーフローライン36が接続されており、
フィルター槽74aに貯まる使用済みスラリーがオーバ
ーフローする前に、もう一方のフィルター槽74bへ流
出できるようになっている。センサ42aはフィルター
槽74a内に、センサ38a及び40aは再生槽76a
内に設置されている。なお、説明の便宜上、図4にはセ
ンサ38aのみを示すものとする。
As shown in FIG. 4, a cartridge 64 is set in the first regeneration container 24a. First regeneration container 24a
Is a first filter tank 74a in which used slurry is supplied through a pipe 26a and is separated from the filter 34a by a partition plate 84, and a first filter tank 74a for storing the slurry after being filtered by the filter 34a. Regeneration tank 76
a. When the filter 34a is clogged, the filter tank 74a
A certain amount of used slurry before passing through can be stored. The overflow line 36 is connected to the upper part of the filter tank 74a,
Before the used slurry stored in the filter tank 74a overflows, it can flow out to the other filter tank 74b. Sensor 42a is in filter tank 74a, and sensors 38a and 40a are in regeneration tank 76a.
It is installed in. For convenience of explanation, FIG. 4 shows only the sensor 38a.

【0037】図5は、本実施例のスラリー再生装置(再
生ユニット)の制御系の構成を示す。スラリー再生装置
は、コントローラ90によって統括的に制御されてい
る。コントローラ90には、入力データとして、第1及
び第2再生容器24a、24b中に挿入された各センサ
(38a、40a、42a、38b、40b、42b)
の出力信号が供給される。コントローラ90は、これら
のセンサ(38a、40a、42a、38b、40b、
42b)からのデータに基づいて、バルブ32a、54
a、32b、54b及びポンプ52を制御するととも
に、アラーム92を駆動するようになっている。
FIG. 5 shows a configuration of a control system of the slurry regenerating apparatus (regenerating unit) of the present embodiment. The slurry regenerating apparatus is generally controlled by a controller 90. Each sensor (38a, 40a, 42a, 38b, 40b, 42b) inserted into the first and second regeneration containers 24a, 24b as input data to the controller 90.
Are supplied. The controller 90 controls these sensors (38a, 40a, 42a, 38b, 40b,
Based on the data from 42b), the valves 32a, 54
a, 32b, 54b and the pump 52 as well as an alarm 92.

【0038】次に、上記のように構成されたスラリー再
生装置20の使用方法及び作用について説明する。ま
ず、第1再生容器24aを使用するために、コントロー
ラ90の制御によってバルブ32aをオープンにし、バ
ルブ32bをクローズにする。これにより、CMP装置
本体12から送られる使用済みスラリーが配管26aを
介して第1フィルター槽74aにのみ供給される。第1
フィルター槽74a内に供給された使用済みスラリーは
フィルターカートリッジ64のフィルター34aの傾斜
に沿って流れると同時に、当該フィルター34aを通過
し、濾過されて下方に落ちていく。
Next, the method of use and operation of the slurry regenerating apparatus 20 configured as described above will be described. First, in order to use the first regeneration container 24a, the valve 32a is opened and the valve 32b is closed under the control of the controller 90. As a result, the used slurry sent from the CMP apparatus main body 12 is supplied only to the first filter tank 74a via the pipe 26a. First
The used slurry supplied into the filter tank 74a flows along the slope of the filter 34a of the filter cartridge 64, and at the same time, passes through the filter 34a, is filtered, and falls downward.

【0039】そして、第1再生槽76a内のスラリーの
量(レベル)が汲み上げ開始位置に達したことを上限セ
ンサ40aが検知すると、コントローラ90はバルブ5
4aを開放してポンプ52による再生スラリの汲み上げ
動作を開始する。一方、第1再生槽76a内のスラリー
の量(レベル)が汲み上げ停止位置に達したことを下限
センサ38aが検知すると、コントローラ90はバルブ
54aを閉鎖してポンプ52による再生スラリの汲み上
げ動作を停止する。
When the upper limit sensor 40a detects that the amount (level) of the slurry in the first regenerating tank 76a has reached the pumping start position, the controller 90 sets the valve 5
4a is opened to start the operation of pumping the regenerated slurry by the pump 52. On the other hand, when the lower limit sensor 38a detects that the amount (level) of the slurry in the first regeneration tank 76a has reached the pumping stop position, the controller 90 closes the valve 54a and stops the pump 52 from pumping the regenerated slurry. I do.

【0040】ポンプ52の駆動によって第1再生槽74
aから汲み上げられた再生スラリーは、循環用配管58
を介してスラリー供給ユニット18(図1)に供給され
る。このようなスラリーの循環動作の中で、フィルター
34aの目詰まり等の原因によって第1フィルター槽7
4a内のスラリーの量が増加し続け、オーバーフローセ
ンサー42aが作動すると、コントローラ90はアラー
ム92を作動すると同時にバルブ32aを閉鎖すると共
に、バルブ32bを開放する。ここで、オーバーフロー
センサー42aが正常に作動しないか、フィルター34
の目詰まり等によってスラリーが急激に上昇した場合に
は、第1フィルター槽74aのスラリーがオーバーフロ
ーライン36を介して第2フィルター槽74bに供給さ
れる。
The first regeneration tank 74 is driven by driving the pump 52.
The regenerated slurry pumped from a
Is supplied to the slurry supply unit 18 (FIG. 1). In such a circulation operation of the slurry, the first filter tank 7 may be removed due to clogging of the filter 34a or the like.
If the amount of slurry in 4a continues to increase and overflow sensor 42a is activated, controller 90 activates alarm 92 and simultaneously closes valve 32a and opens valve 32b. Here, the overflow sensor 42a does not operate normally or the filter 34
When the slurry rises rapidly due to clogging or the like, the slurry in the first filter tank 74a is supplied to the second filter tank 74b via the overflow line 36.

【0041】アラーム92が作動した場合、あるいはオ
ペレータがフィルター43aの洗浄が必要と判断した場
合には、コントローラ90の制御によりバルブ32aを
閉鎖すると共に、バルブ32bを開放することにより、
CMP装置本体12から回収される使用済みスラリーの
流路を第2再生容器24bに切り替える。そして、第2
再生容器24bを利用して使用済みスラリーの濾過作業
をしている間に、第1再生容器24aのフィルターカー
トリッジ64を取り外し、フィルター34aの洗浄を行
う。ここで、第1再生容器24a全体を装置から取り外
して、当該容器24a内を完全に洗浄することもでき
る。
When the alarm 92 is activated, or when the operator determines that the filter 43a needs to be cleaned, the valve 32a is closed and the valve 32b is opened under the control of the controller 90, whereby
The flow path of the used slurry collected from the CMP apparatus main body 12 is switched to the second regeneration container 24b. And the second
While the used slurry is being filtered using the regeneration container 24b, the filter cartridge 64 of the first regeneration container 24a is removed, and the filter 34a is washed. Here, it is also possible to remove the entire first regeneration container 24a from the apparatus and completely clean the inside of the container 24a.

【0042】図6は、第2の実施例のスラリー再生装置
を示している。図6に示す再生装置においては、2つの
フィルター34a、34bを通過した後のスラリーを貯
める再生槽を共用している点が第1の実施例と異なる。
1つの再生容器24内に2つのフィルター槽、すなわ
ち、仕切り板と再生容器内壁とフィルターカートリッジ
64a及びフィルター34aによって形成された第1フ
ィルター槽74aと、仕切り板と再生容器内壁とフィル
ターカートリッジ64b及びフィルター34bによって
形成された第2フィルター槽74bが形成されている。
FIG. 6 shows a slurry regenerating apparatus according to a second embodiment. The regenerating apparatus shown in FIG. 6 differs from the first embodiment in that a regenerating tank for storing the slurry after passing through the two filters 34a and 34b is shared.
Two filter tanks in one regeneration vessel 24, that is, a first filter vessel 74a formed by a partition plate, a regeneration vessel inner wall, a filter cartridge 64a, and a filter 34a, a partition plate, a regeneration vessel inner wall, a filter cartridge 64b, and a filter A second filter tank 74b formed by 34b is formed.

【0043】第1フィルター槽74aには配管26a
が、第2フィルター槽74bには配管26bがそれぞれ
接続されており、バルブ32a、32bを制御すること
により、どちらか一方のフィルター槽に使用済みスラリ
ーが供給されるようになっている。また、第1フィルタ
ー槽74aと第2フィルター槽74bとは、オーバーフ
ローライン35で接続されている。センサ38、40は
再生槽76内に挿入されており、オーバーフローセンサ
42a、42bは、それぞれフィルター槽74a、74
b内に挿入されている。その他、使用方法や作用につい
ては、第1の実施例と同様である。
The first filter tank 74a has a pipe 26a.
However, the pipe 26b is connected to the second filter tank 74b, and the used slurry is supplied to one of the filter tanks by controlling the valves 32a and 32b. The first filter tank 74a and the second filter tank 74b are connected by an overflow line 35. The sensors 38 and 40 are inserted into the regeneration tank 76, and the overflow sensors 42a and 42b are connected to the filter tanks 74a and 74b, respectively.
b. Other uses and functions are the same as those in the first embodiment.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
CMP装置の稼働率を低下させることなく、スラリー再
生装置のフィルターの洗浄、交換作業を容易に行うこと
ができる。すなわち、長時間の稼働によってフィルター
が目詰まりした場合にも、研磨装置の稼働を停止するこ
となく、フィルターを洗浄し、あるいは交換することが
できる。
As described above, according to the present invention,
The washing and replacement work of the filter of the slurry regenerating apparatus can be easily performed without lowering the operation rate of the CMP apparatus. That is, even when the filter is clogged due to long-term operation, the filter can be washed or replaced without stopping the operation of the polishing apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明の第1の実施例にかかるCMP
システムの全体構成を示す概略図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a CMP according to a first embodiment of the present invention;
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an entire configuration of a system.

【図2】図2は、第1の実施例にかかるスラリー再生装
置(再生ユニット)の構成を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a slurry regenerating apparatus (regenerating unit) according to the first embodiment.

【図3】図3は、第1の実施例にかかるフィルターカー
トリッジの構成を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view illustrating a configuration of a filter cartridge according to the first embodiment.

【図4】図4は、図3に示すフィルターカートリッジの
使用状態を示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a use state of the filter cartridge shown in FIG. 3;

【図5】図5は、第1の実施例にかかるスラリー再生装
置(再生ユニット)の制御系の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration of a control system of the slurry regenerating apparatus (regenerating unit) according to the first embodiment;

【図6】図6は、本発明の第2の実施例にかかるスラリ
ー再生装置(再生ユニット)の構成を示す説明図であ
る。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a configuration of a slurry regenerating apparatus (regeneration unit) according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10・・・CMPシステム 12・・・CMP装置本体 18・・・スラリー供給ユニット 20・・・再生ユニット 24a、24b・・・再生容器 34a、34b・・・フィルター 32a、32b・・・バルブ 64・・・フィルターカートリッジ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... CMP system 12 ... CMP apparatus main body 18 ... Slurry supply unit 20 ... Regeneration unit 24a, 24b ... Regeneration container 34a, 34b ... Filter 32a, 32b ... Valve 64. ..Filter cartridges

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】研磨装置で使用される研磨スラリーの再生
装置において、 使用済みの研磨スラリーに含まれる異物を取り除く複数
のフィルターと;前記使用済みの研磨スラリーを前記複
数のフィルターの1つに対して選択的に供給するフィル
ター選択手段と;前記フィルターを通過した再生研磨ス
ラリーを前記研磨装置に対して供給するスラリー送出手
段とを備えたことを特徴とする研磨スラリー再生装置。
An apparatus for regenerating a polishing slurry used in a polishing apparatus, comprising: a plurality of filters for removing foreign substances contained in a used polishing slurry; and a method for applying the used polishing slurry to one of the plurality of filters. A polishing slurry regenerating apparatus, comprising: a filter selecting means for selectively supplying the regenerated polishing slurry having passed through the filter to the polishing apparatus.
【請求項2】前記複数のフィルターの各々に対し、当該
フィルターを通過する前の前記使用済みスラリーを独立
して貯めることができるフィルター槽を有する再生容器
を更に備えたことを特徴とする請求項1に記載の研磨ス
ラリー再生装置。
2. The apparatus according to claim 1, further comprising a regeneration vessel having a filter tank capable of independently storing the used slurry before passing through the filters, for each of the plurality of filters. 2. The polishing slurry regeneration device according to 1.
【請求項3】前記複数のフィルターの各々に対し、当該
フィルターを通過する前の前記使用済みスラリーを独立
して貯めることができるフィルター槽と、当該フィルタ
ーを通過した後の研磨スラリーを貯める再生槽とを備え
た再生容器を、それぞれ独立して設けたことを特徴とす
る請求項1に記載の研磨スラリー再生装置。
3. A filter tank capable of independently storing the used slurry before passing through the filter for each of the plurality of filters, and a regenerating tank storing polishing slurry after passing through the filter. The polishing slurry regenerating apparatus according to claim 1, wherein the regenerating vessels having the following are provided independently of each other.
【請求項4】前記フィルター選択手段は、前記研磨スラ
リーの流路を切り替える切り替え手段であることを特徴
とする請求項1、2又は3に記載の研磨スラリー再生装
置。
4. A polishing slurry regenerating apparatus according to claim 1, wherein said filter selecting means is a switching means for switching a flow path of said polishing slurry.
【請求項5】前記複数のフィルターの各々は、前記再生
容器に対して容易に着脱可能なカートリッジに装着され
ていることを特徴とする請求項2、3又は4に記載の研
磨スラリー再生装置。
5. The polishing slurry regenerating apparatus according to claim 2, wherein each of the plurality of filters is mounted on a cartridge that can be easily attached to and detached from the regenerating container.
【請求項6】前記複数のフィルターの各々は、水平に対
して所定角度傾斜して配置されることを特徴とする請求
項1、2、3、4又は5に記載の研磨スラリー再生装
置。
6. The polishing slurry recycling apparatus according to claim 1, wherein each of the plurality of filters is arranged at a predetermined angle with respect to the horizontal.
【請求項7】前記フィルターの傾斜角度は、10度〜6
0度であることを特徴とする請求項6に記載の研磨スラ
リー再生装置。
7. An inclination angle of the filter is from 10 degrees to 6 degrees.
The polishing slurry regenerating apparatus according to claim 6, wherein the angle is 0 degree.
【請求項8】使用中のフィルターが取り付けられた前記
フィルター槽中の研磨スラリーが所定レベル以上に達し
た時に、当該フィルター槽内の研磨スラリーの余剰分を
他のフィルター槽側に自動的に送り込むオーバーフロー
パスを更に備えたことを特徴とする請求項2、3、4、
5、6又は7に記載の研磨スラリー再生装置。
8. When the polishing slurry in the filter tank to which the filter in use is attached has reached a predetermined level or more, surplus polishing slurry in the filter tank is automatically sent to another filter tank side. 5. The method according to claim 2, further comprising an overflow path.
The polishing slurry regenerating apparatus according to 5, 6, or 7.
【請求項9】研磨パッドによって平板状の基板表面を研
磨する研磨装置と;前記研磨装置に対して研磨スラリー
を供給するスラリー供給手段と;前記研磨装置で使用さ
れた研磨スラリーを回収する回収手段と;前記回収され
た使用済み研磨スラリーに含まれる異物を取り除く複数
のフィルターと;前記使用済み研磨スラリーを前記複数
のフィルターの1つに対して選択的に供給するフィルタ
ー選択手段とを備え、 前記フィルターを通過した再生研磨スラリーを前記スラ
リー供給手段を介して前記研磨装置に供給することを特
徴とする研磨システム。
9. A polishing apparatus for polishing a flat substrate surface with a polishing pad; a slurry supply means for supplying a polishing slurry to the polishing apparatus; and a collecting means for collecting the polishing slurry used in the polishing apparatus. A plurality of filters for removing foreign substances contained in the collected used polishing slurry; and a filter selecting means for selectively supplying the used polishing slurry to one of the plurality of filters, A polishing system, wherein a regenerated polishing slurry that has passed through a filter is supplied to the polishing apparatus via the slurry supply unit.
【請求項10】前記スラリー供給手段は、前記再生研磨
スラリーと新規な研磨スラリーとを所定の比率で混合し
て前記研磨装置に供給する構成であることを特徴とする
請求項9に記載の研磨システム。
10. The polishing apparatus according to claim 9, wherein said slurry supply means is configured to mix said regenerated polishing slurry and new polishing slurry at a predetermined ratio and to supply them to said polishing apparatus. system.
【請求項11】前記複数のフィルターの各々に対し、当
該フィルターを通過する前の前記使用済みスラリーを独
立して貯めることができるフィルター槽を有する再生容
器を更に備えたことを特徴とする請求項9又は10に記
載の研磨システム。
11. A regenerating container having a filter tank capable of independently storing the used slurry before passing through the filters, for each of the plurality of filters. The polishing system according to 9 or 10.
【請求項12】前記複数のフィルターの各々に対し、当
該フィルターを通過する前の前記使用済みスラリーを独
立して貯めることができるフィルター槽と、当該フィル
ターを通過した後の研磨スラリーを貯める再生槽とを備
えた再生容器を、それぞれ独立して設けたことを特徴と
する請求項9又は10に記載の研磨システム。
12. A filter tank capable of independently storing the used slurry before passing through the filter for each of the plurality of filters, and a regenerating tank storing polishing slurry after passing through the filter. 11. The polishing system according to claim 9, wherein regeneration vessels each comprising
【請求項13】前記フィルター選択手段は、前記研磨ス
ラリーの流路を切り替える切り替え手段であることを特
徴とする請求項9、10、11又は12に記載の研磨シ
ステム。
13. The polishing system according to claim 9, wherein said filter selecting means is switching means for switching a flow path of said polishing slurry.
【請求項14】前記複数のフィルターの各々は、前記再
生容器に対して容易に着脱可能なカートリッジに装着さ
れていることを特徴とする請求項11、12又は13に
記載の研磨システム。
14. The polishing system according to claim 11, wherein each of said plurality of filters is mounted on a cartridge which is easily detachable from said regeneration container.
【請求項15】前記複数のフィルターの各々は、水平に
対して所定角度傾斜して配置されることを特徴とする請
求項9、10、11、12、13又は14に記載の研磨
システム。
15. The polishing system according to claim 9, wherein each of the plurality of filters is arranged at a predetermined angle with respect to the horizontal.
【請求項16】前記フィルターの傾斜角度は、10度〜
60度であることを特徴とする請求項15に記載の研磨
システム。
16. An inclination angle of the filter is 10 degrees or more.
The polishing system according to claim 15, wherein the angle is 60 degrees.
【請求項17】使用中のフィルターが取り付けられた前
記フィルター槽中の研磨スラリーが所定レベル以上に達
した時に、当該フィルター槽内の研磨スラリーの余剰分
を他のフィルター槽側に自動的に送り込むオーバーフロ
ーパスを更に備えたことを特徴とする請求項9、10、
11、12、13、14、15又は16に記載の研磨シ
ステム。
17. When the polishing slurry in the filter tank to which the used filter is attached reaches a predetermined level or more, the surplus polishing slurry in the filter tank is automatically sent to another filter tank side. 11. The method according to claim 9, further comprising an overflow path.
The polishing system according to claim 11, 12, 13, 14, 15, or 16.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020003939A (en) * 2000-06-27 2002-01-16 장정훈 System for regenerating slurry of chemical mechanical polishing apparatus
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