JPH11347756A - Device and method for removing burr - Google Patents
Device and method for removing burrInfo
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- JPH11347756A JPH11347756A JP10164953A JP16495398A JPH11347756A JP H11347756 A JPH11347756 A JP H11347756A JP 10164953 A JP10164953 A JP 10164953A JP 16495398 A JP16495398 A JP 16495398A JP H11347756 A JPH11347756 A JP H11347756A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザを用いて樹
脂バリを除去する装置及び方法に関する。The present invention relates to an apparatus and a method for removing resin burrs using a laser.
【0002】[0002]
【従来の技術】ICチップの裏面に設けられた電極ラン
ド面に半田ボールを備えるBGA(Ball Grid
Array)タイプのICチップでは、樹脂封入する
際に金型から樹脂があふれ出して電極ランド面に樹脂バ
リが付着する場合がある。そのため、半田ボールを電極
ランド面に固定することが困難であるという問題点があ
る。2. Description of the Related Art A BGA (Ball Grid) having a solder ball on an electrode land surface provided on the back surface of an IC chip.
In an Array type IC chip, when the resin is sealed, the resin may overflow from the mold and resin burrs may adhere to the electrode land surface. Therefore, there is a problem that it is difficult to fix the solder ball to the electrode land surface.
【0003】このような問題点を解決するために、化学
薬品、ウォータージェット、YAGレーザ、第4高調波
YAGレーザ、エキシマレーザ、及び、CO2レーザ等
による樹脂バリの除去が試みられ、一部が実用化されて
いる。In order to solve such a problem, attempts have been made to remove resin burrs using a chemical, a water jet, a YAG laser, a fourth harmonic YAG laser, an excimer laser, a CO 2 laser, or the like. Has been put to practical use.
【0004】しかし、化学薬品によって樹脂バリを除去
する場合は、モールド樹脂部分へ化学薬品が付着した際
に、モールド部分へ悪影響を及ぼすといった問題点があ
る。However, in the case of removing resin burrs with a chemical, there is a problem that when the chemical adheres to the mold resin portion, it adversely affects the mold portion.
【0005】ウォータージェットを用いる場合は、樹脂
バリをはがす取っかかりが必要なため、樹脂バリがラン
ド面の全面に付着している場合には、樹脂バリを除去す
ることが困難であるという問題点がある。In the case of using a water jet, it is necessary to remove the resin burrs, so that it is difficult to remove the resin burrs when the resin burrs adhere to the entire land surface. There is.
【0006】また、YAGレーザ、第4高調波YAGレ
ーザ、エキシマレーザ、及びCO2レーザ等のレーザビ
ームを用いるレーザバリ取り装置には、以下のような問
題点がある。A laser deburring apparatus using a laser beam such as a YAG laser, a fourth harmonic YAG laser, an excimer laser, and a CO 2 laser has the following problems.
【0007】YAGレーザは、樹脂バリに吸収されにく
いため、樹脂バリを除去することが困難である。第4高
調波YAGレーザのレーザビームは、出力が低いので樹
脂バリを除去するのに長時間を必要とする。また、公開
実用新案公報平1−87578には、YAGレーザの第
2高調はを走査して、回路パターンの欠陥部を形成する
導電性ペーストを除去する技術が開示されているが、こ
の技術は未焼成状態のセラミック基板上の不要な導電性
ペーストを除去する技術であり、電極上の樹脂バリを除
去する技術とは全く異なる。Since the YAG laser is hardly absorbed by resin burrs, it is difficult to remove the resin burrs. Since the laser beam of the fourth harmonic YAG laser has a low output, it takes a long time to remove resin burrs. Further, Japanese Utility Model Publication No. Hei 1-87578 discloses a technique of scanning a second harmonic of a YAG laser to remove a conductive paste that forms a defective portion of a circuit pattern. This is a technique for removing unnecessary conductive paste on an unfired ceramic substrate, and is completely different from a technique for removing resin burrs on electrodes.
【0008】エキシマレーザは、レーザビームを電極ラ
ンド面へ効率的に集光するのが困難であり、また、加工
コストが高くなる。In the excimer laser, it is difficult to efficiently focus the laser beam on the electrode land surface, and the processing cost increases.
【0009】CO2レーザのレーザビームは、波長が長
いので熱による加工となり、加工後に樹脂バリの炭化物
が電極ランド面上に残ってしまう。Since the laser beam of the CO 2 laser has a long wavelength, it is processed by heat, and after the processing, carbides of resin burrs remain on the electrode land surface.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】これらの問題点を有す
るため、樹脂バリを除去する場合、電極ランド面へ炭化
物や樹脂バリが付着した状態(残存した状態)で半田ボ
ール付けが行われることがあった。このため、電極ラン
ド面への半田ボール付けを確実に行うことが困難であっ
た。Due to these problems, when removing resin burrs, solder balls may be attached to the electrode lands with carbides or resin burrs attached (remaining). there were. For this reason, it has been difficult to securely attach the solder ball to the electrode land surface.
【0011】本発明は、上記実状に鑑みてなされたもの
であり、樹脂バリを除去することが可能なバリ取り装置
及びバリ除去方法を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a deburring apparatus and a deburring method capable of removing resin burrs.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の第1の観点に係るバリ取り装置は、樹脂バ
リの付着した加工対象物が載置される保持台と、第2高
調波YAGレーザのレーザビームを出力するレーザ源
と、前記レーザ源からのレーザビームを前記加工対象物
へ導くレーザ光学系と、を備え、前記第2高調波YAG
レーザのレーザビームを前記加工対象物に付着した樹脂
バリに照射することにより、樹脂バリを除去すること、
を特徴とする。In order to achieve the above object, a deburring apparatus according to a first aspect of the present invention comprises a holding table on which a workpiece to which a resin burr is attached is placed, and a second harmonic generator. A laser source that outputs a laser beam of a wave YAG laser, and a laser optical system that guides the laser beam from the laser source to the workpiece.
By irradiating a laser beam of a laser beam to resin burrs attached to the object to be processed, removing resin burrs,
It is characterized by.
【0013】このような構成によれば、レーザ源の出力
した第2高調波YAGレーザのレーザビームは、レーザ
光学系によって、保持台に載置された加工対象物に付着
した樹脂バリへ導かれ、樹脂バリを照射する。レーザビ
ームによって照射された樹脂バリは、分解されて加工対
象物から除去される。従って、樹脂バリの除去後に炭化
物が残存することなく、また、短時間で樹脂バリを除去
することが可能である。According to such a configuration, the laser beam of the second harmonic YAG laser output from the laser source is guided by the laser optical system to the resin burr adhered to the workpiece mounted on the holding table. Irradiate resin burrs. The resin burrs irradiated by the laser beam are decomposed and removed from the object to be processed. Therefore, it is possible to remove the resin burrs in a short time without leaving any carbide after removing the resin burrs.
【0014】前記バリ取り装置は、制御装置を更に備
え、前記保持台は、複数の加工対象物を載置し、前記制
御装置は、前記樹脂バリへレーザビームを照射した後、
レーザビームを照射した前記加工対象物に樹脂バリが付
着しているか否かを観察し、付着していない場合は、次
の加工対象物に樹脂バリが付着しているか否かを観察
し、樹脂バリが付着している場合は、前記樹脂バリへレ
ーザビームを照射するよう、前記レーザ光学系と前記レ
ーザ発振器とを制御することが望ましい。The deburring device further includes a control device, wherein the holding table mounts a plurality of objects to be processed, and the control device irradiates the resin burr with a laser beam.
Observe whether or not resin burrs are attached to the processing object irradiated with the laser beam.If not, observe whether or not resin burrs are attached to the next processing object. When burrs are attached, it is desirable to control the laser optical system and the laser oscillator so that the resin burrs are irradiated with a laser beam.
【0015】また、前記制御装置は、前記レーザビーム
を照射した後の観察によって、前記加工対象物へ樹脂バ
リが付着していると判断した場合は、前記樹脂バリへ再
度レーザビームを照射するよう、前記レーザ光学系と前
記レーザ発振器とを制御することが望ましい。Further, when the control device determines from observation after irradiating the laser beam that the resin burr is attached to the object to be processed, the control device re-irradiates the resin burr with the laser beam. It is desirable to control the laser optical system and the laser oscillator.
【0016】さらに、前記制御装置は、樹脂バリの付着
していない状態の前記加工対象物の画像を予め記憶する
手段と、前記観察によって得られた加工対象物の画像と
前記記憶手段に記憶されている樹脂バリの付着していな
い状態の前記加工対象物の画像とを比較して、前記加工
対象物に樹脂バリが付着しているか否かを判断する手段
と、を備えることが望ましい。Further, the control device is configured to previously store an image of the object to be processed without resin burrs attached thereto, and to store the image of the object to be processed obtained by the observation and the storage unit. Means for comparing the image of the processing object in a state where the resin burr is not attached to the processing object to determine whether the resin burr is attached to the processing object.
【0017】このようなバリ取り装置によれば、制御装
置は、樹脂バリへのレーザビームの照射後に、予め記憶
された樹脂バリの付着していない状態の加工対象物の画
像と、観察によって得られた加工対象物の画像とを比較
して、加工対象物へ樹脂バリが付着しているか否か観察
する。制御装置は、この観察によって加工対象物へ樹脂
バリが付着していないと判断すると、他の加工対象物へ
樹脂バリが付着しているか否かを観察し、樹脂バリが付
着していると判断すると、レーザビームを再度照射して
樹脂バリを除去する。従って、レーザビームの照射によ
る樹脂バリの除去が十分でない場合でも、レーザビーム
を再度照射することによって、樹脂バリを除去すること
が可能である。According to such a deburring device, the control device obtains, by irradiating the resin burr with the laser beam, an image of the processing object in a state where the resin burr is not adhered beforehand and an observation. The image of the processed object is compared with the image of the processed object, and it is observed whether or not resin burrs are attached to the processed object. When the control device determines from the observation that resin burrs are not attached to the processing object, the control device observes whether or not resin burrs are attached to other processing objects, and determines that the resin burr is attached. Then, the resin beam is irradiated again to remove the resin burr. Therefore, even when the resin burr is not sufficiently removed by the laser beam irradiation, the resin burr can be removed by re-irradiating the laser beam.
【0018】前記レーザ光学系は、所定の走査パターン
を記憶する走査パターン記憶手段と、前記走査パターン
記憶手段に記憶された走査パターンに従って、前記加工
対象物上で前記レーザビームを走査させる走査手段とを
備えてもよい。The laser optical system includes a scanning pattern storage unit that stores a predetermined scanning pattern, and a scanning unit that scans the laser beam on the workpiece in accordance with the scanning pattern stored in the scanning pattern storage unit. May be provided.
【0019】前記レーザ光学系は、前記走査パターン記
憶手段に走査パターンを登録する手段をさらに備えても
よい。[0019] The laser optical system may further include means for registering a scanning pattern in the scanning pattern storage means.
【0020】また、前記走査手段は、前記走査パターン
記憶手段に記憶された複数の走査パターンの1つを選択
する選択手段と、該選択手段により選択された走査パタ
ーンに従ってレーザビームを走査する手段とを備えても
よい。Further, the scanning means includes a selection means for selecting one of the plurality of scanning patterns stored in the scanning pattern storage means, and a means for scanning a laser beam in accordance with the scanning pattern selected by the selection means. May be provided.
【0021】さらに、前記レーザ光学系は、前記レーザ
源からのレーザビームの径を前記加工対象物のサイズに
応じて調整する手段と、径が調整されたレーザビームを
前記加工対象物に照射する手段と、を備えてもよい。Furthermore, the laser optical system adjusts the diameter of the laser beam from the laser source according to the size of the object, and irradiates the object with the laser beam whose diameter has been adjusted. Means.
【0022】このような構成によれば、使用者は、加工
対象物の形状に応じて走査パターンを走査パターン記憶
手段に登録する。走査手段は、走査パターン記憶手段に
記憶された操作パターンに従って、加工対象物上でレー
ザビームを走査する。従って、加工対象物の形状に応じ
てレーザビームを効率的に走査することが可能である。According to such a configuration, the user registers the scanning pattern in the scanning pattern storage means according to the shape of the object to be processed. The scanning means scans a laser beam on the workpiece according to the operation pattern stored in the scanning pattern storage means. Therefore, it is possible to efficiently scan the laser beam according to the shape of the processing target.
【0023】前記加工対象物は金属から構成されること
が望ましい。Preferably, the object to be processed is made of metal.
【0024】また、前記加工対象物は、半導体チップの
電極のランド面であることが望ましい。Preferably, the object to be processed is a land surface of an electrode of a semiconductor chip.
【0025】このような、バリ取り装置によれば、電極
ランド面に付着した樹脂バリを効率的に除去することが
できる。また、下地が金属であるため、下地が傷むおそ
れもない。さらに、レーザの波長が短いため、レーザビ
ーム11を受けた樹脂バリは熱による加工ではなく、分
解して除去されるので、炭化物がランド面に付着するこ
とを防止できる。According to such a deburring apparatus, resin burrs attached to the electrode land surface can be efficiently removed. Further, since the base is made of metal, there is no possibility that the base is damaged. Further, since the wavelength of the laser is short, the resin burr receiving the laser beam 11 is not processed by heat but is decomposed and removed, so that the carbide can be prevented from adhering to the land surface.
【0026】上記目的を達成するため、本発明の第2の
観点に係るバリ除去方法は、被加工物へ付着した樹脂バ
リを除去するバリ除去方法において、前記バリ除去方法
は、前記樹脂バリに対して第2高調波YAGレーザを照
射する照射工程を備えること、を特徴とする。In order to achieve the above object, a burr removing method according to a second aspect of the present invention is directed to a burr removing method for removing resin burr adhering to a workpiece, wherein the burr removing method comprises the steps of: An irradiation step of irradiating a second harmonic YAG laser thereto.
【0027】このようなバリ除去方法によれば、照射工
程は、第2高調波YAGレーザのレーザビームを、被加
工物に付着した樹脂バリへ照射する。レーザビームを照
射された樹脂バリは、分解されて加工対象物から除去さ
れる。従って、樹脂バリの除去後に炭化物が残存するこ
となく、また、短時間で樹脂バリを除去することが可能
である。According to such a deburring method, in the irradiation step, the laser beam of the second harmonic YAG laser is applied to the resin burr adhering to the workpiece. The resin burr irradiated with the laser beam is decomposed and removed from the object to be processed. Therefore, it is possible to remove the resin burrs in a short time without leaving any carbide after removing the resin burrs.
【0028】前記照射工程は、前記レーザを照射後、前
記樹脂バリが残存しているか否かを判別する判別工程
と、前記判別工程によって、前記樹脂バリが残存付着し
ていると判別されると、前記樹脂バリへ前記レーザを再
び照射する再照射工程と、を備えることが望ましい。In the irradiating step, after irradiating the laser, a discriminating step for discriminating whether or not the resin burr remains, and when the discriminating step discriminates that the resin burr remains adhered, And a re-irradiation step of irradiating the laser again to the resin burr.
【0029】このようなバリ除去方法によれば、判別工
程は、樹脂バリへのレーザビームの照射後に、加工対象
物へ樹脂バリが付着しているか否か判別し、樹脂バリが
残存付着していると判断すると、樹脂バリへレーザビー
ムを再度照射して樹脂バリを除去する。従って、レーザ
ビームの照射による加工対象物に付着した樹脂バリの除
去が十分でない場合でも、レーザビームを再度照射する
ことによって、樹脂バリを除去することが可能である。According to such a burr removing method, in the determining step, after the resin burr is irradiated with the laser beam, it is determined whether or not the resin burr has adhered to the object to be processed, and the resin burr is remaining attached. If it is determined that the resin burr is present, the resin burr is irradiated again with the laser beam to remove the resin burr. Therefore, even if the resin burrs attached to the object to be processed by the laser beam irradiation are not sufficiently removed, the resin burrs can be removed by irradiating the laser beam again.
【0030】[0030]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に係る
レーザバリ取り装置100を図面を参照して説明する。
図1は第1の実施の形態に係るレーザバリ取り装置10
0の構成図、図2はレーザバリ取り装置100の加工対
象のICフレーム8とICフレーム8が備えるICチッ
プ81を示す平面図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a laser deburring apparatus 100 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 shows a laser deburring apparatus 10 according to a first embodiment.
FIG. 2 is a plan view showing an IC frame 8 to be processed by the laser deburring apparatus 100 and an IC chip 81 provided in the IC frame 8.
【0031】第1の実施の形態に係るレーザバリ取り装
置100は、例えば、図2に示すICフレーム8に所定
の間隔をおいて配置されたBGA(Ball Grid
Array)タイプのICチップ81〜85のランド
面(電極端子)811に付着した樹脂バリを第2高調波
YAGレーザによって除去するためのものである。この
樹脂バリとは、ICチップをモールドする際に、エポキ
シ樹脂等のモールド樹脂がランド面811等に付着して
形成されるバリである。The laser deburring apparatus 100 according to the first embodiment is, for example, a BGA (Ball Grid) disposed at a predetermined interval on the IC frame 8 shown in FIG.
This is for removing resin burrs adhered to land surfaces (electrode terminals) 811 of Array type IC chips 81 to 85 using a second harmonic YAG laser. The resin burrs are burrs formed when a molding resin such as an epoxy resin adheres to the land surface 811 or the like when the IC chip is molded.
【0032】このレーザバリ取り装置100は、図1に
示すように、第2高調波YAGレーザを発生させるレー
ザ発振器1と、第2高調波YAGレーザを目的位置に導
くレーザ光学系2と、ICフレーム8を保持するXYス
テージ3と、XYステージ3上のICフレーム8を観察
する観察光学系4と、ICフレーム8の位置とICチッ
プ81〜85のランド面811の樹脂バリの付着状態
(バリの有無)とをシーケンサ6へ送信する画像処理装
置5と、XYステージ3と制御装置7とを制御及び駆動
するシーケンサ6と、レーザ発振器1とレーザ光学系2
とを制御及び駆動する制御装置7と、から構成される。As shown in FIG. 1, the laser deburring apparatus 100 includes a laser oscillator 1 for generating a second harmonic YAG laser, a laser optical system 2 for guiding the second harmonic YAG laser to a target position, and an IC frame. The XY stage 3 holding the XY stage 3, the observation optical system 4 for observing the IC frame 8 on the XY stage 3, the position of the IC frame 8, and the adhesion state of the resin burrs on the land surfaces 811 of the IC chips 81 to 85 ) To the sequencer 6, a sequencer 6 for controlling and driving the XY stage 3 and the controller 7, a laser oscillator 1, and a laser optical system 2.
And a control device 7 for controlling and driving the above.
【0033】レーザ発振器1は、Y2AL5O12を結
晶母体とするYAGロッドと、例えば、LiNbO3や
Ba2NaNb5O15等の結晶から構成される高調波
用結晶とを備え、制御装置7の出力指示信号に従って、
基本波長1.06μmのYAGレーザの出力を開始し、
このYAGレーザを高調波用結晶により波長変換し、波
長532nmの第2高調波YAGレーザ(レーザビー
ム)11を生成し、出力する。The laser oscillator 1 is provided with a YAG rod having Y 2 AL 5 O 12 as a crystal matrix, and a harmonic crystal made of a crystal such as LiNbO 3 or Ba 2 NaNb 5 O 15. According to the output instruction signal of the device 7,
Start output of a YAG laser having a fundamental wavelength of 1.06 μm,
The wavelength of this YAG laser is converted by a harmonic crystal, and a second harmonic YAG laser (laser beam) 11 having a wavelength of 532 nm is generated and output.
【0034】レーザ光学系2は、レーザ発振器1から照
射されたレーザビーム11を所定の方向へ反射する複数
の折り返しミラー21、レーザビーム11の径を拡大す
るビームエキスパンダ22、レーザビーム11の偏光方
向の方向性をなくすλ/4板23、レーザビーム11を
目的位置に反射させるガルバノミラー24、及びレーザ
ビーム11を集光する集光レンズ25を備える。ガルバ
ノミラー24は、制御装置7の制御により駆動され、レ
ーザビーム11を目的位置に照射する。The laser optical system 2 includes a plurality of folding mirrors 21 for reflecting the laser beam 11 emitted from the laser oscillator 1 in a predetermined direction, a beam expander 22 for expanding the diameter of the laser beam 11, and a polarization of the laser beam 11. A λ / 4 plate 23 for eliminating the directionality of the direction, a galvano mirror 24 for reflecting the laser beam 11 to a target position, and a condenser lens 25 for condensing the laser beam 11 are provided. The galvanomirror 24 is driven under the control of the control device 7, and irradiates the laser beam 11 to a target position.
【0035】XYステージ3は、加工対象のICフレー
ム8を載置し、シーケンサ6から出力されるICフレー
ム8の目的位置への位置決めを指示する位置決め信号
と、所定距離水平移動するよう指示する移動信号とに従
って、ICフレーム8を水平方向に移動する。The XY stage 3 places the IC frame 8 to be processed, a positioning signal output from the sequencer 6 for instructing positioning of the IC frame 8 to a target position, and a movement for instructing horizontal movement by a predetermined distance. The IC frame 8 is moved in the horizontal direction according to the signal.
【0036】観察光学系4は、XYステージ3上のIC
フレーム8を撮像し、画像信号を画像処理装置5と表示
装置とに出力するディジタルカメラと、ディジタルカメ
ラが取得した画像を表示する表示装置とを備える。The observation optical system 4 is an IC on the XY stage 3.
The digital camera includes a digital camera that captures an image of the frame 8 and outputs an image signal to the image processing device 5 and the display device, and a display device that displays an image acquired by the digital camera.
【0037】画像処理装置5は、内部メモリに予め記憶
されたICフレーム8の正常な位置(基準位置)とカメ
ラから供給された画像信号に基づき、ICフレーム8の
実際の位置と基準位置との間のX方向及びY方向のずれ
量を示す位置ずれ信号をシーケンサ6に出力する。ま
た、画像処理装置5は、シーケンサ6から供給される状
態判別信号に応答し、内部メモリに予め記憶された正常
なランド面(樹脂バリの付着していないランド面)の画
像と観察光学系4から供給された画像信号の示すランド
面の画像とを比較し、ランド面に樹脂バリが付着してい
るか否かを示すバリ状態信号をシーケンサ6へ出力す
る。The image processing device 5 compares the actual position of the IC frame 8 with the reference position based on the normal position (reference position) of the IC frame 8 previously stored in the internal memory and the image signal supplied from the camera. A position shift signal indicating the amount of shift between the X direction and the Y direction is output to the sequencer 6. Further, the image processing device 5 responds to the state determination signal supplied from the sequencer 6 and, in response to the image of the normal land surface (the land surface on which the resin burr does not adhere) stored in the internal memory, and the observation optical system 4. And outputs a burr state signal to the sequencer 6 indicating whether or not resin burrs are adhered to the land surface indicated by the image signal supplied from the printer.
【0038】シーケンサ6は、画像処理装置5から供給
された位置ずれ信号に基づいて、XYステージ3のX方
向及びY方向の移動量を示す位置決め信号をXYステー
ジ3へ出力する。また、シーケンサ6は、画像処理装置
5に状態判別信号を送信し、この状態判別信号に応答し
て画像処理装置5から供給されたバリ状態信号が目的の
ランド面に樹脂バリが付着していることを指示している
際に、樹脂バリの除去を指示する除去信号を制御装置7
に出力し、付着してないと判断すると、処理対象を次の
ランド部に移動するために、XYステージに位置決め信
号を送信する。The sequencer 6 outputs a positioning signal indicating the amount of movement of the XY stage 3 in the X and Y directions to the XY stage 3 based on the position shift signal supplied from the image processing device 5. Further, the sequencer 6 transmits a state determination signal to the image processing apparatus 5, and the burr state signal supplied from the image processing apparatus 5 in response to the state determination signal indicates that the resin burr is attached to the target land surface. Signal, the controller 7 sends a removal signal instructing removal of the resin burr.
If it is determined that the object is not attached, a positioning signal is transmitted to the XY stage in order to move the processing target to the next land portion.
【0039】制御装置7は、マーカソフトを搭載したコ
ンピュータ(以下、パソコン)71、マーカコントロー
ラ72、及びガルバノドライバ73を備え、ガルバノミ
ラー24とレーザ発振器1とを制御及び駆動する。The control device 7 includes a computer (hereinafter, a personal computer) 71 equipped with marker software, a marker controller 72, and a galvano driver 73, and controls and drives the galvanometer mirror 24 and the laser oscillator 1.
【0040】パソコン71は、通信部、入力部と記憶部
とを備え、レーザビーム11の走査順序を示す走査デー
タをマーカソフト(一般に、レーザ加工用のレーザビー
ムの走査順序等を設定し、走査するプログラム)を用い
て予め設定されている。走査データは、例えば、図3に
示すように、ランド面811を矢印の方向へレーザビー
ムを照射するラスタ状711、円弧状712、及び渦巻
き状713等の走査順序を示す。パソコン71は、シー
ケンサ6からの除去信号に応答し、走査データに基づい
て、ランド面上へのレーザビーム11の照射順序を指示
する走査制御信号をマーカコントローラ72へ出力す
る。The personal computer 71 includes a communication unit, an input unit, and a storage unit, and scans the scanning data indicating the scanning order of the laser beam 11 with marker software (generally, sets the scanning order of a laser beam for laser processing and scans the data). The program is set in advance using a program that performs The scanning data indicates, for example, a scanning order such as a raster shape 711, an arc shape 712, and a spiral shape 713 that irradiate a laser beam on the land surface 811 in the direction of the arrow, as shown in FIG. 3. In response to the removal signal from the sequencer 6, the personal computer 71 outputs to the marker controller 72 a scanning control signal for instructing the irradiation order of the laser beam 11 on the land surface based on the scanning data.
【0041】マーカコントローラ72は、パソコン71
から供給された走査制御信号に基づき、レーザビーム1
1を走査データにより定義されたルートで走査するよう
に、ガルバノミラー24を駆動するための駆動信号をガ
ルバノドライバ73へ出力し、また、レーザビームの出
力を指示する出力制御信号をレーザ発振器1へ出力す
る。The marker controller 72 includes a personal computer 71
Laser beam 1 based on the scanning control signal supplied from
A drive signal for driving the galvanomirror 24 is output to the galvano driver 73 so that the laser beam 1 is scanned along the route defined by the scan data, and an output control signal for instructing the output of the laser beam is output to the laser oscillator 1. Output.
【0042】ガルバノドライバ73は、マーカコントロ
ーラ72から供給された駆動信号に従って、ガルバノミ
ラー24を動作させる。The galvano driver 73 operates the galvanometer mirror 24 in accordance with the drive signal supplied from the marker controller 72.
【0043】次に、本実施の形態に係るレーザバリ取り
装置100の動作を説明する。Next, the operation of the laser deburring apparatus 100 according to this embodiment will be described.
【0044】搬送ロボット等は、XYステージ3上に、
例えば、図2に示すICフレーム8を載置する。観察光
学系4のカメラは、XYステージ3上に載置されたIC
フレーム8を撮影し、その画像信号を画像処理装置5へ
出力する。The transfer robot and the like are placed on the XY stage 3,
For example, the IC frame 8 shown in FIG. 2 is placed. The camera of the observation optical system 4 is an IC mounted on the XY stage 3.
The frame 8 is photographed, and the image signal is output to the image processing device 5.
【0045】画像処理装置5は、画像信号から、XYス
テージ上のICフレーム8の位置を求め、予め記憶され
ているICフレーム8の正常な位置と比較し、X、Y各
方向のずれを求め、求めたずれ(偏差)を示す位置ずれ
信号をシーケンサ6へ伝達する。位置ずれ量は、例え
ば、ICチップ上に形成された位置合わせ用のマークと
基準位置とのずれ量を判別すること等により、判別する
ことができる。The image processing device 5 obtains the position of the IC frame 8 on the XY stage from the image signal, compares it with the normal position of the IC frame 8 stored in advance, and obtains the deviation in each of the X and Y directions. , And transmits a position shift signal indicating the obtained shift (deviation) to the sequencer 6. The amount of positional deviation can be determined, for example, by determining the amount of deviation between a positioning mark formed on the IC chip and the reference position.
【0046】シーケンサ6は、位置ずれ信号に従って、
そのずれを調整するため移動信号をXYステージ3へ送
信する。XYステージ3は、移動信号に基づいてX方向
及びY方向に水平移動し、ICフレーム8を目的位置に
配置する。The sequencer 6 operates according to the displacement signal.
A movement signal is transmitted to the XY stage 3 to adjust the displacement. The XY stage 3 horizontally moves in the X and Y directions based on the movement signal, and arranges the IC frame 8 at a target position.
【0047】画像処理装置5は、観察光学系4の出力画
像に基づいてICフレーム8が目的位置に配置されたか
否かを再度判断し、ICフレーム8が目的位置に配置さ
れていないと判断すると、位置ずれ信号をシーケンサ6
へ再度送信してXYステージを再度微調整をし、目的位
置に達するまで同様の動作を繰り返す。ICフレーム8
が目的位置に配置されたと判断すると、予め記憶されて
いる正常なランド面の画像と観察光学系4が出力するラ
ンド面の画像とを比較し、ランド面に樹脂バリが付着し
ているか否かを示すバリ状態信号をシーケンサ6へ送信
する。例えば、画像処理装置5は、予め記憶されている
正常なランド面の画像と間作光学系4が出力するランド
面の画像とのパターンマッチングを行い、例えば、一致
度が90%以上のときは、樹脂バリが存在しないことを
示すバリ状態信号を出力し、それ以外の場合に、樹脂バ
リが付着していることを示すバリ状態信号を出力する。The image processing device 5 determines again whether or not the IC frame 8 is located at the target position based on the output image of the observation optical system 4, and determines that the IC frame 8 is not located at the target position. Sequencer 6
And the XY stage is finely adjusted again, and the same operation is repeated until the target position is reached. IC frame 8
Is determined at the target position, the image of the normal land surface stored in advance is compared with the image of the land surface output by the observation optical system 4 to determine whether resin burrs are attached to the land surface. Is transmitted to the sequencer 6. For example, the image processing device 5 performs pattern matching between the image of the normal land surface stored in advance and the image of the land surface output by the interpolating optical system 4. For example, when the matching degree is 90% or more, A burr state signal indicating that no resin burr is present, otherwise outputting a burr state signal indicating that the resin burr is attached.
【0048】シーケンサ6は、受信したバリ状態信号に
基づいて、目的のランド面に樹脂バリが付着しているか
否かを判別し、樹脂バリが付着していると判別した場合
には、樹脂バリの除去を指示する除去信号をパソコン7
1へ送信する。The sequencer 6 determines whether or not resin burrs are attached to the target land surface based on the received burr state signal. A removal signal instructing removal of the PC 7
Send to 1.
【0049】除去信号に応答して、パソコン71は、予
め入力されている走査データに基づき、レーザビーム1
1の照射パターンを示す走査制御信号をマーカコントロ
ーラ72へ送信する。マーカコントローラ72は、走査
制御信号に基づき、ガルバノミラー24の動作を制御す
るための駆動制御信号をガルバノドライバ73へ出力す
ると共にレーザビーム11の出力開始を指示する出力指
示信号をレーザ発振器1へ送信する。ガルバノドライバ
73は、駆動制御信号に従ってガルバノミラー24を駆
動する。In response to the removal signal, the personal computer 71 sets the laser beam 1 based on the previously input scanning data.
A scanning control signal indicating the first irradiation pattern is transmitted to the marker controller 72. The marker controller 72 outputs a drive control signal for controlling the operation of the galvanometer mirror 24 to the galvano driver 73 based on the scanning control signal, and transmits an output instruction signal for instructing the output start of the laser beam 11 to the laser oscillator 1. I do. The galvanometer driver 73 drives the galvanometer mirror 24 according to the drive control signal.
【0050】出力指示信号に応答し、レーザ発振器1
は、YAGレーザのレーザビーム11を高調波用結晶に
よって波長変換し、第2高調波YAGレーザのレーザビ
ーム11を発生させる。In response to the output instruction signal, the laser oscillator 1
Converts the wavelength of the laser beam 11 of the YAG laser by the harmonic crystal, and generates the laser beam 11 of the second harmonic YAG laser.
【0051】レーザビーム11は、折り返しミラー21
によってビームエキスパンダ22へ導かれ、ビームエキ
スパンダ22によってビーム径を拡大されてλ/4板2
3へ至る。レーザビーム11は、λ/4板23によって
直線偏光から円偏光へ変換され、折り返しミラー21に
よってガルバノミラー24へ導かれる。The laser beam 11 is reflected by the folding mirror 21
Is guided to the beam expander 22, the beam diameter is expanded by the beam expander 22, and the λ / 4 plate 2
To 3. The laser beam 11 is converted from linearly polarized light into circularly polarized light by the λ / 4 plate 23, and guided to the galvano mirror 24 by the return mirror 21.
【0052】ガルバノミラー24は、ガルバノドライバ
73の駆動によって、レーザビーム11を走査する。ガ
ルバノミラー24に走査されたレーザビーム11は、集
光レンズ25によって集光され、目的のランド面に照射
され、図3に示すようなパターンで走査される。The galvanometer mirror 24 scans the laser beam 11 by driving the galvanometer driver 73. The laser beam 11 scanned by the galvanomirror 24 is condensed by a condenser lens 25, irradiated on a target land surface, and scanned in a pattern as shown in FIG.
【0053】ランド面に付着した樹脂バリは、レーザビ
ームの照射を受けると、分解されてランド面から除去さ
れる。The resin burrs attached to the land surface are decomposed and removed from the land surface when irradiated with the laser beam.
【0054】レーザビーム11の走査が終了すると、画
像処理装置5は、予め記憶されている正常なランド面の
画像と観察光学系4からの画像信号が示すランド面の画
像とを比較し、樹脂バリの有無を示すバリ状態信号をシ
ーケンサ6へ送信する。When the scanning by the laser beam 11 is completed, the image processing device 5 compares the image of the normal land surface stored in advance with the image of the land surface indicated by the image signal from the observation optical system 4, and A burr state signal indicating the presence or absence of a burr is transmitted to the sequencer 6.
【0055】バリ状態信号を受信したシーケンサ6は、
ランド面に樹脂バリが付着しているか否かを判断し、ラ
ンド面に樹脂バリが付着していると判断すると、樹脂バ
リの除去を指示する除去信号を制御装置7へ再度出力す
る。The sequencer 6, which has received the burr state signal,
It is determined whether resin burrs are attached to the land surface. If it is determined that resin burrs are attached to the land surface, a removal signal instructing removal of the resin burr is output to the control device 7 again.
【0056】除去信号を受信した制御装置7は、レーザ
発振器1とガルバノミラー24とを制御及び駆動して、
ランド面に付着した樹脂バリを再度除去する。The control device 7 having received the removal signal controls and drives the laser oscillator 1 and the galvanomirror 24,
The resin burr adhering to the land surface is removed again.
【0057】また、シーケンサ6は、ランド面に樹脂バ
リが付着していないと判断すると、ランド面切替信号を
制御装置7に出力する。When the sequencer 6 determines that no resin burr is attached to the land surface, the sequencer 6 outputs a land surface switching signal to the control device 7.
【0058】ランド面切替信号に応答して、制御装置7
は、予め記憶された順序に従い、次の順番のランド面に
ついて、上述の同様の処理を行い、樹脂バリを除去す
る。The control device 7 responds to the land surface switching signal.
Performs the same processing as described above on the land surface in the next order in accordance with the order stored in advance to remove resin burrs.
【0059】シーケンサ6は、1つのICチップについ
ての全てのランド面について、樹脂バリの除去を終了す
ると、XYステージ3に移動信号を出力し、XYステー
ジ3を所定距離水平移動して、次の処理対象のICチッ
プ82が、観察光学系4の観察範囲に位置し、続いて、
レーザバリ取り装置100によって樹脂バリを除去され
る。When the sequencer 6 finishes removing the resin burrs on all the land surfaces of one IC chip, it outputs a movement signal to the XY stage 3 to move the XY stage 3 horizontally by a predetermined distance, and The IC chip 82 to be processed is located in the observation range of the observation optical system 4, and subsequently,
The resin burr is removed by the laser burr removing device 100.
【0060】以上説明したように、このレーザバリ取り
装置100は、ICチップ81のランド面に第2高調波
YAGレーザを走査して樹脂バリを除去する。第2高調
波YAGレーザは、樹脂の吸収率が高く、効率的に樹脂
バリを除去することができる。また、下地が金属である
ため、下地が傷むおそれもない。さらに、レーザの波長
が短いため、レーザビーム11を受けた樹脂バリは熱に
よる加工ではなく、分解して除去されるので、炭化物が
ランド面に付着することを防止できる。As described above, the laser deburring apparatus 100 removes resin burrs by scanning the land surface of the IC chip 81 with the second harmonic YAG laser. The second harmonic YAG laser has a high resin absorptance and can efficiently remove resin burrs. Further, since the base is made of metal, there is no possibility that the base is damaged. Further, since the wavelength of the laser is short, the resin burr receiving the laser beam 11 is not processed by heat but is decomposed and removed, so that the carbide can be prevented from adhering to the land surface.
【0061】さらに、一度目のレーザビーム11の走査
によって、樹脂バリを完全に除去することができなくと
も、ランド面に樹脂が残っている場合は、レーザビーム
11を再度走査するので、樹脂バリをほぼ完全に除去す
ることが可能となる。従って、ランド面上への半田ボー
ル付けを高めることができ、ICチップの歩留まりを高
めることができる。さらに、比較的小容量のレーザ発振
器(レーザ源)を使用できる。Further, even if the resin burr cannot be completely removed by the first scanning of the laser beam 11, if the resin remains on the land surface, the laser beam 11 is scanned again. Can be almost completely removed. Therefore, solder balls can be more easily attached to the land surface, and the yield of IC chips can be increased. Further, a relatively small capacity laser oscillator (laser source) can be used.
【0062】本実施の形態に係るレーザバリ取り装置1
00は、ランド面上でレーザビーム11を走査して、ラ
ンド面に付着した樹脂バリを除去したがが、この発明
は、この構成に限定されず、ランド面に第2高調波YA
Gレーザを照射して、樹脂バリを除去することができる
任意の構成を採用することができる。Laser deburring apparatus 1 according to this embodiment
In No. 00, the laser beam 11 was scanned on the land surface to remove resin burrs adhering to the land surface. However, the present invention is not limited to this configuration.
Any configuration capable of removing resin burrs by irradiating a G laser can be employed.
【0063】例えば、図4に示すレーザバリ取り装置2
00のように、処理対象のランド面全体にレーザが照射
される構成としてもよい。For example, the laser deburring apparatus 2 shown in FIG.
As in the case of 00, the entire land surface to be processed may be irradiated with laser.
【0064】このレーザバリ取り装置200は、図1に
示すレーザバリ取り装置100とほぼ同一の構成を有す
る。しかし、レーザバリ取り装置200では、λ/4板
の代わりに円状マスクを備える。円状マスク26は、ラ
ンド面の形状よりもやや大きな穴を備え、円状マスク2
6を通過したレーザビーム11の径は穴とほぼ同一とな
る。The laser deburring apparatus 200 has substantially the same configuration as the laser deburring apparatus 100 shown in FIG. However, the laser deburring apparatus 200 includes a circular mask instead of the λ / 4 plate. The circular mask 26 has a hole slightly larger than the shape of the land surface.
The diameter of the laser beam 11 that has passed through 6 becomes almost the same as that of the hole.
【0065】以下、レーザバリ取り装置200の動作を
説明する。レーザ発振器1は、YAGレーザのレーザビ
ーム11を高調波用結晶によって波長変換し、第2高調
波YAGレーザのレーザビーム11を発生させる。Hereinafter, the operation of the laser deburring apparatus 200 will be described. The laser oscillator 1 converts the wavelength of the laser beam 11 of the YAG laser by using the crystal for harmonics, and generates the laser beam 11 of the second harmonic YAG laser.
【0066】レーザビーム11は、折り返しミラー21
によってビームエキスパンダ22へ導かれ、ビームエキ
スパンダ22によってビーム径を拡大されて円状マスク
26へ至る。レーザビーム11は、円状マスク26によ
ってその径をランド面よりもやや大きい径に絞られ、折
り返しミラー21によってガルバノミラー24へ導かれ
る。The laser beam 11 is reflected by the folding mirror 21
The beam is expanded by the beam expander 22, and the beam diameter is expanded by the beam expander 22 to reach the circular mask 26. The diameter of the laser beam 11 is narrowed down to a diameter slightly larger than the land surface by the circular mask 26, and is guided to the galvano mirror 24 by the return mirror 21.
【0067】ガルバノミラー24は、ガルバノドライバ
73の駆動に従って、レーザビーム11を目的のランド
面へ導く。ガルバノミラー24に導かれたレーザビーム
11は、集光レンズ25によってランド面とほぼ同一の
径になるように集光され、目的のランド面に照射され
る。The galvanometer mirror 24 guides the laser beam 11 to a target land surface in accordance with the driving of the galvanometer driver 73. The laser beam 11 guided to the galvanomirror 24 is condensed by the condensing lens 25 so as to have substantially the same diameter as the land surface, and is irradiated on the target land surface.
【0068】ランド面に付着した樹脂バリは、レーザビ
ームの照射を受けると、分解されてランド面から除去さ
れる。The resin burrs attached to the land surface are decomposed and removed from the land surface when irradiated with the laser beam.
【0069】このような構成によれば、レーザビーム1
1を走査する必要がなく、樹脂バリのための制御が容易
である。According to such a configuration, the laser beam 1
It is not necessary to scan 1 and control for resin burr is easy.
【0070】また、図1の構成では、予め定められた走
査パターンを特定する走査データがパソコン71に格納
されたが、例えば、複数の走査パターンを特定する走査
データをパソコン71に格納しておき、処理対象のラン
ド面の形状やサイズに応じて、任意の走査データを、例
えば、キーボード等から選択できるようにしてもよい。
このような構成によれば、処理対象のランド面に応じた
処理を迅速且つ容易に選択することができる。さらに、
処理対象は、BGAタイプのICチップの金属電極のラ
ンド面に限定されず、樹脂バリが付着した種々の対象の
バリの除去に利用できる。また、処理対象にレーザを導
くための構成も、図1又は図4に示した構成に限定され
ず、任意の構成を採用することができる。In the configuration of FIG. 1, the scan data for specifying a predetermined scan pattern is stored in the personal computer 71. For example, the scan data for specifying a plurality of scan patterns is stored in the personal computer 71. According to the shape and size of the land surface to be processed, arbitrary scanning data may be selected from, for example, a keyboard or the like.
According to such a configuration, it is possible to quickly and easily select a process according to a land surface to be processed. further,
The processing object is not limited to the land surface of the metal electrode of the BGA type IC chip, and can be used for removing various burrs to which resin burrs adhere. Further, the configuration for guiding the laser to the object to be processed is not limited to the configuration shown in FIG. 1 or FIG. 4, and any configuration can be adopted.
【0071】[0071]
【発明の効果】以上説明したように、この発明のレーザ
バリ取り装置によれば、樹脂バリに第2高調波YAGレ
ーザを照射するので、樹脂バリを適切に除去することが
可能である。As described above, according to the laser deburring apparatus of the present invention, the resin burr is irradiated with the second harmonic YAG laser, so that the resin burr can be appropriately removed.
【図1】本発明の実施の形態に係るレーザバリ取り装置
を示す構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing a laser deburring apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1のレーザバリ取り装置の加工対象のICチ
ップとそのICチップを備えるICフレームを示す平面
図である。FIG. 2 is a plan view showing an IC chip to be processed by the laser deburring apparatus of FIG. 1 and an IC frame provided with the IC chip.
【図3】図1のレーザバリ取り装置の走査データを示す
平面図である。FIG. 3 is a plan view showing scanning data of the laser deburring apparatus of FIG. 1;
【図4】本発明の実施の形態に係るレーザバリ取り装置
の変形例を示す構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram showing a modified example of the laser deburring apparatus according to the embodiment of the present invention.
1 レーザ発振器 11 YAGレーザ(レーザビーム) 2 レーザ光学系 21 折り返しミラー 22 ビームエキスパンダ 23 λ/4板 24 ガルバノミラー 25 集光レンズ 26 円状マスク 3 XYステージ 4 観察光学系 5 画像処理装置 6 シーケンサ 7 制御装置 71 パソコン 711 走査データ 712 走査データ 713 走査データ 72 マーカコントローラ 73 ガルバノドライバ 8 ICフレーム 81 ICチップ 82 ICチップ 83 ICチップ 84 ICチップ 85 ICチップ 811 ランド面 100 レーザバリ取り装置 200 レーザバリ取り装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser oscillator 11 YAG laser (laser beam) 2 Laser optical system 21 Folding mirror 22 Beam expander 23 λ / 4 plate 24 Galvano mirror 25 Condensing lens 26 Circular mask 3 XY stage 4 Observation optical system 5 Image processing device 6 Sequencer 7 Control device 71 Personal computer 711 Scan data 712 Scan data 713 Scan data 72 Marker controller 73 Galvano driver 8 IC frame 81 IC chip 82 IC chip 83 IC chip 84 IC chip 85 IC chip 811 Land surface 100 Laser deburring device 200 Laser deburring device
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // B29L 31:34 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI // B29L 31:34
Claims (12)
る保持台と、 第2高調波YAGレーザのレーザビームを出力するレー
ザ源と、 前記レーザ源からのレーザビームを前記加工対象物へ導
くレーザ光学系と、を備え、 前記第2高調波YAGレーザのレーザビームを前記加工
対象物に付着した樹脂バリに照射することにより、樹脂
バリを除去すること、 を特徴とするバリ取り装置。1. A holding table on which a workpiece to which resin burrs adhere is placed, a laser source for outputting a laser beam of a second harmonic YAG laser, and a laser beam from the laser source for the workpiece. A laser optical system that guides the laser beam to the processing object, and irradiating a laser beam of the second harmonic YAG laser to a resin burr adhered to the object to be processed, thereby removing the resin burr. .
た後、レーザビームを照射した前記加工対象物に樹脂バ
リが付着しているか否かを観察し、付着していない場合
は、次の加工対象物に樹脂バリが付着しているか否かを
観察し、樹脂バリが付着している場合は、前記樹脂バリ
へレーザビームを照射するよう、前記レーザ光学系と前
記レーザ発振器とを制御すること、 を特徴とする請求項1に記載のバリ取り装置。2. The apparatus according to claim 1, further comprising a control device, wherein the holding table mounts a plurality of processing objects, and the control device irradiates the resin burrs with a laser beam and then irradiates the processing object with the laser beam. Observe whether resin burrs are attached to the object, if not, observe whether resin burrs are attached to the next workpiece, and if resin burrs are attached The deburring apparatus according to claim 1, wherein the laser optical system and the laser oscillator are controlled so as to irradiate the resin burr with a laser beam.
した後の観察によって、前記加工対象物へ樹脂バリが付
着していると判断した場合は、前記樹脂バリへ再度レー
ザビームを照射するよう、前記レーザ光学系と前記レー
ザ発振器とを制御すること、 を特徴とする請求項2に記載のバリ取り装置。3. The control device according to claim 1, wherein, when the control device determines that resin burrs are adhered to the workpiece by observation after irradiating the laser beam, the controller irradiates the resin burrs again with the laser beam. The deburring device according to claim 2, wherein the laser optical system and the laser oscillator are controlled.
を予め記憶する手段と、 前記観察によって得られた加工対象物の画像と前記記憶
手段に記憶されている樹脂バリの付着していない状態の
前記加工対象物の画像とを比較して、前記加工対象物に
樹脂バリが付着しているか否かを判断する手段と、 を備えることを特徴とする請求項2又は3に記載のバリ
取り装置。4. The processing device according to claim 1, wherein the control device is configured to store in advance an image of the processing object to which no resin burr is attached, and to store the processing object image obtained by the observation and the storage means. Means for comparing the image of the processing object in a state where the resin burr is not attached to the processing object to determine whether the resin burr is attached to the processing object. The deburring device according to claim 2.
を記憶する走査パターン記憶手段と、 前記走査パターン記憶手段に記憶された走査パターンに
従って、前記加工対象物上で前記レーザビームを走査さ
せる走査手段とを備える、 ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の
バリ取り装置。5. A laser optical system, comprising: a scan pattern storage unit for storing a predetermined scan pattern; and a scan for scanning the laser beam on the workpiece in accordance with the scan pattern stored in the scan pattern storage unit. The deburring apparatus according to any one of claims 1 to 4, further comprising means.
を登録する手段をさらに備える、ことを特徴とする請求
項5に記載のバリ取り装置。6. The deburring apparatus according to claim 5, further comprising means for registering a scanning pattern in said scanning pattern storage means.
段に記憶された複数の走査パターンの1つを選択する選
択手段と、該選択手段により選択された走査パターンに
従ってレーザビームを走査する手段と、を備えることを
特徴とする請求項5又は6に記載のバリ取り装置。7. The scanning means includes: a selection means for selecting one of a plurality of scanning patterns stored in the scanning pattern storage means; and a means for scanning a laser beam according to the scanning pattern selected by the selection means. The deburring apparatus according to claim 5 or 6, further comprising:
レーザビームの径を前記加工対象物のサイズに応じて調
整する手段と、径が調整されたレーザビームを前記加工
対象物に照射する手段と、を備えることを特徴とする請
求項1乃至4の何れか1項に記載のバリ取り装置。8. A laser optical system, comprising: means for adjusting a diameter of a laser beam from the laser source in accordance with a size of the processing object; and irradiating the processing object with the laser beam whose diameter has been adjusted. The deburring apparatus according to any one of claims 1 to 4, further comprising means.
とを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載のバ
リ取り装置。9. The deburring apparatus according to claim 1, wherein the object to be processed is made of metal.
のランド面であることを特徴とする請求項1乃至9の何
れか1項に記載のバリ取り装置。10. The deburring apparatus according to claim 1, wherein the object to be processed is a land surface of an electrode of a semiconductor chip.
バリ除去方法において、 前記バリ除去方法は、前記樹脂バリに対して第2高調波
YAGレーザを照射する照射工程を備えること、 を特徴とするバリ除去方法。11. A burr removing method for removing resin burr adhering to a workpiece, wherein the burr removing method includes an irradiation step of irradiating the resin burr with a second harmonic YAG laser. Burr removal method.
前記樹脂バリが残存しているか否かを判別する判別工程
と、 前記判別工程によって、前記樹脂バリが残存付着してい
ると判別されると、前記樹脂バリへ前記レーザを再び照
射する再照射工程と、 を備えることを特徴とする請求項11に記載のバリ除去
方法。12. The irradiating step, after irradiating the laser,
A discriminating step of discriminating whether or not the resin burr remains; and a re-irradiating step of re-irradiating the laser to the resin burr when the discriminating step determines that the resin burr is remaining attached. The method according to claim 11, further comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10164953A JP3052934B2 (en) | 1998-06-12 | 1998-06-12 | Deburring apparatus and deburring method |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP10164953A JP3052934B2 (en) | 1998-06-12 | 1998-06-12 | Deburring apparatus and deburring method |
Publications (2)
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JPH11347756A true JPH11347756A (en) | 1999-12-21 |
JP3052934B2 JP3052934B2 (en) | 2000-06-19 |
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