JPH11344538A - Circuit board inspection device - Google Patents
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- JPH11344538A JPH11344538A JP16610298A JP16610298A JPH11344538A JP H11344538 A JPH11344538 A JP H11344538A JP 16610298 A JP16610298 A JP 16610298A JP 16610298 A JP16610298 A JP 16610298A JP H11344538 A JPH11344538 A JP H11344538A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、移動機構などを制
御するための操作パネル、および動作条件設定用の画面
を表示可能な表示部を有する回路基板検査装置に関する
ものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board inspection apparatus having an operation panel for controlling a moving mechanism and the like, and a display unit capable of displaying a screen for setting operating conditions.
【0002】[0002]
【従来の技術】この種の回路基板検査装置として、出願
人は、図6,11に示す回路基板検査装置71を既に開
発している。この回路基板検査装置71は、図11に示
すように、検査対象回路基板に接触させられて所定の電
気的検査を行うための検査用プローブ11と(以下、こ
の電気的検査を「プロービング」ともいう)、検査用プ
ローブ11の接触位置や回路部品の良否を映像によって
確認するためのカメラ12と、検査用プローブ11およ
びカメラ12を検査対象回路基板における任意の位置に
移動させるためのX−Y移動機構13と、X−Y移動機
構13の動作制御や後述するディスプレイ74,75の
表示制御など実行する制御部14とを備えている。2. Description of the Related Art As a circuit board inspection apparatus of this type, the applicant has already developed a circuit board inspection apparatus 71 shown in FIGS. As shown in FIG. 11, the circuit board inspection device 71 includes an inspection probe 11 that is brought into contact with a circuit board to be inspected and performs a predetermined electrical inspection (hereinafter, this electrical inspection is also referred to as “probing”). A camera 12 for confirming the contact position of the inspection probe 11 and the quality of the circuit components with an image, and an XY for moving the inspection probe 11 and the camera 12 to an arbitrary position on the circuit board to be inspected. The control unit 14 includes a moving mechanism 13 and a control unit 14 that executes operation control of the XY moving mechanism 13 and display control of displays 74 and 75 described later.
【0003】また、回路基板検査装置71は、図6に示
すように、検査用プローブ11、カメラ12およびX−
Y移動機構13などが収納された検査装置本体72と、
検査装置本体72の上面右手前側に配設されX−Y移動
機構13を制御するための操作パネル73と、検査装置
本体72の上面左側に載置され回路基板検査装置71の
動作条件設定用画面などを表示するディスプレイ74
と、検査装置本体72の上面右側に載置されカメラ12
の映像を表示するディスプレイ75と、ディスプレイ7
4に表示される画面上でデータ入力などを行うための複
数のキーが配列されたキーボードKと、後述するマウス
カーソル47を移動させるマウスMとを備えている。こ
の場合、操作パネル73には、図7に示すように、X−
Y移動機構13による移動対象をカメラ12に選択する
ためのカメラ移動用ボタン81と、X−Y移動機構13
による移動対象を検査用プローブ11に選択するための
プローブ移動用ボタン82と、X−Y移動機構13によ
って検査用プローブ11およびカメラ12をX−Y方向
に移動させる際の移動方向および移動量を制御するため
のキー83a〜83dなどから構成される移動機構操作
キー部83とが配列されている。As shown in FIG. 6, a circuit board inspection apparatus 71 includes an inspection probe 11, a camera 12,
An inspection apparatus main body 72 in which the Y moving mechanism 13 and the like are stored;
An operation panel 73 disposed on the right front side of the upper surface of the inspection apparatus main body 72 for controlling the XY moving mechanism 13, and an operation condition setting screen of the circuit board inspection apparatus 71 mounted on the left upper surface of the inspection apparatus main body 72 Display 74 for displaying etc.
And the camera 12 mounted on the right side of the upper surface of the inspection apparatus main body 72.
75 for displaying the image of the
4 includes a keyboard K on which a plurality of keys for inputting data on the screen displayed on the screen 4 are arranged, and a mouse M for moving a mouse cursor 47 described later. In this case, as shown in FIG.
A camera moving button 81 for selecting the object to be moved by the Y moving mechanism 13 for the camera 12, and an XY moving mechanism 13
Button 82 for selecting a target to be moved by the inspection probe 11, and a moving direction and a moving amount when the inspection probe 11 and the camera 12 are moved in the XY directions by the XY moving mechanism 13. A moving mechanism operation key unit 83 including keys 83a to 83d for control and the like are arranged.
【0004】この回路基板検査装置71では、検査対象
回路基板に対するプロービングを行うための準備とし
て、検査用プローブ11を接触させる検査対象回路基板
上の位置(座標)を予め入力する必要がある。この入力
作業を行う際には、所定操作により、図8に示すプロー
ビング位置設定用画面91をディスプレイ74に表示さ
せると共に、図9に示すカメラ映像表示用画面93をデ
ィスプレイ75に表示させる。この場合、プロービング
位置設定用画面91には、図8に示すように、検査用プ
ローブ11を接触させる座標が入力される座標データ入
力部92と、検査用プローブ11またはカメラ12がX
−Y移動機構13によって移動させられた現在位置の座
標を示す現在位置表示部45と、座標データ入力部92
のセルポインタ92aによって選択されているセルに現
在位置表示部45に表示されている座標をコピーするた
めのCOPYボタン46とが少なくとも表示される。一
方、カメラ映像表示用画面93には、図9に示すよう
に、カメラ12から入力された検査対象回路基板につい
てのカメラ映像93bと、カメラ12の視野中心を示す
十字カーソル93aとが表示される。カメラ移動用ボタ
ン81が操作された際には、この十字カーソル93aの
中心点の座標が、カメラ位置座標として現在位置表示部
45に表示される。In the circuit board inspection apparatus 71, as a preparation for probing the circuit board to be inspected, it is necessary to input in advance the position (coordinates) on the circuit board to be inspected to which the inspection probe 11 is brought into contact. When performing this input operation, a probing position setting screen 91 shown in FIG. 8 is displayed on the display 74 and a camera video display screen 93 shown in FIG. In this case, as shown in FIG. 8, a coordinate data input unit 92 for inputting coordinates for contacting the inspection probe 11 and an inspection probe 11 or the camera 12 are displayed on the probing position setting screen 91, as shown in FIG.
A current position display section 45 indicating the coordinates of the current position moved by the −Y moving mechanism 13, and a coordinate data input section 92.
At least a COPY button 46 for copying the coordinates displayed on the current position display section 45 to the cell selected by the cell pointer 92a. On the other hand, the camera image display screen 93 displays a camera image 93b of the circuit board to be inspected input from the camera 12 and a cross cursor 93a indicating the center of the visual field of the camera 12, as shown in FIG. . When the camera moving button 81 is operated, the coordinates of the center point of the cross cursor 93a are displayed on the current position display section 45 as camera position coordinates.
【0005】このような構成により、例えば、低電位側
の検査用プローブ11を検査対象回路基板上のIC21
8における6番端子に接触させるための座標を座標デー
タ入力部92に入力するには、キーボードKのカーソル
移動用キー、またはマウスMを操作することにより、図
8に示すように、「ステップNo.250」行における
「Lx」列のセルにセルポインタ92aを移動させる。
次に、十字カーソル93aの視野中心位置の座標に基づ
いて座標データを入力する場合には、操作パネル73の
カメラ移動用ボタン81を操作する。一方、検査用プロ
ーブ11の先端位置の座標に基づいて座標データを入力
する場合には、プローブ移動用ボタン82を操作する。
例えば、カメラ移動用ボタン81を操作したときには、
移動機構操作キー部83の各キー83a〜83dを操作
してX−Y移動機構13を制御することにより、IC2
18の6番端子の位置にカメラ12を移動させる。With such a configuration, for example, the inspection probe 11 on the low potential side is connected to the IC 21 on the circuit board to be inspected.
In order to input the coordinates for making contact with the No. 6 terminal in No. 8 into the coordinate data input unit 92, the user operates the cursor moving key of the keyboard K or the mouse M, as shown in FIG. . 250 ”, the cell pointer 92a is moved to the cell in the“ Lx ”column.
Next, when inputting coordinate data based on the coordinates of the center of the field of view of the cross cursor 93a, the camera movement button 81 on the operation panel 73 is operated. On the other hand, when inputting coordinate data based on the coordinates of the tip position of the inspection probe 11, the probe moving button 82 is operated.
For example, when the camera moving button 81 is operated,
By operating the keys 83a to 83d of the moving mechanism operation key unit 83 to control the XY moving mechanism 13, the IC2
The camera 12 is moved to the position of the sixth terminal 18.
【0006】この際に、カメラ映像表示用画面93のカ
メラ映像93b、およびプロービング位置設定用画面9
1の現在位置表示部45に表示された座標は、カメラ1
2の移動に伴って逐次変化する。したがって、カメラ映
像93bを参照しつつキー83a〜83dを操作するこ
とにより、図9に示すように、カメラ映像93bにおい
て、十字カーソル93aの視野中心位置とIC218の
6番端子とが重なり合うようにカメラ12を移動させ
る。これにより、図8に示すように、IC218の6番
端子の座標が現在位置表示部45に表示される。続い
て、マウスMを操作することにより、マウスカーソル4
7でCOPYボタン46を選択操作する。これにより、
図10に示すように、現在位置表示部45に表示されて
いる座標が、「ステップNo.250」行における「L
x」列および「Ly」列にコピーされる。以上により、
低電位側の検査用プローブ11をIC218の6番端子
に接触させるための座標入力作業が完了する。なお、検
査用プローブ11の先端位置の座標に基づいて座標デー
タを入力する場合には、検査用プローブ11の先端位置
の座標が現在位置表示部45に表示され、同様な操作に
よって座標データ入力部92にコピーすることができ
る。At this time, the camera image 93b of the camera image display screen 93 and the probing position setting screen 9
The coordinates displayed on the current position display section 45 of the camera 1
It changes sequentially with the movement of 2. Therefore, by operating the keys 83a to 83d while referring to the camera image 93b, as shown in FIG. 9, the camera image 93b is set so that the center of the visual field of the cross cursor 93a and the sixth terminal of the IC 218 overlap. 12 is moved. As a result, as shown in FIG. 8, the coordinates of the sixth terminal of the IC 218 are displayed on the current position display section 45. Subsequently, by operating the mouse M, the mouse cursor 4
At 7, the COPY button 46 is selected and operated. This allows
As shown in FIG. 10, the coordinates displayed on the current position display section 45 are “L” in the “Step No. 250” row.
It is copied to the "x" and "Ly" columns. From the above,
The coordinate input operation for bringing the low-potential-side inspection probe 11 into contact with the sixth terminal of the IC 218 is completed. When inputting coordinate data based on the coordinates of the tip position of the inspection probe 11, the coordinates of the tip position of the inspection probe 11 are displayed on the current position display unit 45, and the coordinate data input unit is operated by the same operation. 92.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】ところが、出願人が既
に開発している回路基板検査装置71には、以下の改善
すべき課題がある。第1に、この回路基板検査装置71
では、座標データ入力部92に座標データを入力する際
に、操作パネル73のボタン81,82や各キー83a
〜83dを操作しつつ、キーボードKやマウスMによっ
てディスプレイ74上に座標データを入力している。し
たがって、オペレータは、操作パネル73の操作と、キ
ーボードKやマウスMの操作とを交互に行わなければな
らない。このため、その際に、姿勢を変えたり、手をい
ちいち移動させたりしなければならず、座標データの入
力作業が煩雑であるばかりでなく、誤操作の発生を招く
と共に長時間化するという課題がある。However, the circuit board inspection apparatus 71 developed by the applicant has the following problems to be improved. First, the circuit board inspection apparatus 71
Then, when inputting the coordinate data into the coordinate data input unit 92, the buttons 81 and 82 of the operation panel 73 and the keys 83a
The user operates the keyboard 83 and the mouse M to input coordinate data on the display 74 while operating the buttons 83d. Therefore, the operator must alternately operate the operation panel 73 and the keyboard K or the mouse M. For this reason, at that time, the posture must be changed or the hand must be moved one by one, which causes not only the trouble of inputting coordinate data but also the problem of causing erroneous operation and increasing the time. is there.
【0008】第2に、検査用プローブ11の先端位置や
カメラ12の十字カーソル93aの視野中心位置を確認
するためにディスプレイ75を見たり、プロービング位
置設定用画面91にコピーするためにディスプレイ74
を見たりというように、ディスプレイ74,75に対し
て交互に視線を移動させなければならない。このため、
座標入力作業がより長時間化すると共に、オペレータの
目に与える疲労が大きいという課題がある。Second, the display 75 is viewed to check the position of the tip of the inspection probe 11 or the center of the field of view of the cross cursor 93a of the camera 12, or the display 74 is copied to the probing position setting screen 91.
It is necessary to alternately move the line of sight with respect to the displays 74 and 75, such as looking at the display. For this reason,
There is a problem that the coordinate input operation is performed for a longer time and the operator has a great deal of fatigue.
【0009】第3に、この回路基板検査装置71では、
別個独立した、プロービング位置設定用画面91などを
表示するためのディスプレイ74と、カメラ映像表示用
画面93を表示するためのディスプレイ75とを使用し
ている。このため、2台のディスプレイを用いることに
より製造コストの上昇を招いているという課題がある。Third, in this circuit board inspection apparatus 71,
A separate display 74 for displaying a probing position setting screen 91 and the like and a separate display 75 for displaying a camera video display screen 93 are used. For this reason, there is a problem that the use of two displays causes an increase in manufacturing cost.
【0010】この場合、例えば、プロービング位置設定
用画面91およびカメラ映像表示用画面93を切替表示
させることにより、1台のディスプレイで両画面を交互
に参照しつつ座標データを入力可能にすることも考えら
れる。しかし、かかる場合には、その切替作業に起因し
て、座標データの入力作業がさらに長時間化してしまう
という問題が生じる。In this case, for example, by switching and displaying a screen 91 for setting a probing position and a screen 93 for displaying a camera image, it is possible to input coordinate data while alternately referring to both screens on one display. Conceivable. However, in such a case, there is a problem that the input operation of the coordinate data is further lengthened due to the switching operation.
【0011】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、動作条件の入力作業を迅速かつ容易に行う
ことが可能な回路基板検査装置を提供することを主目的
とする。また、回路基板検査装置の製造コストを低減す
ることを他の目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and has as its main object to provide a circuit board inspection apparatus capable of quickly and easily inputting operation conditions. Another object is to reduce the manufacturing cost of the circuit board inspection device.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項1記載の回路基板検査装置は、少なくとも移動機構
を制御するための操作スイッチを含む操作パネルと、移
動機構の動作条件を設定するための画面を表示可能な表
示部とを有する回路基板検査装置において、操作パネル
内の操作スイッチと同等に移動機構を制御するための操
作スイッチを表示部に設けたことを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a circuit board inspection apparatus, comprising: an operation panel including at least an operation switch for controlling a moving mechanism; and operating conditions of the moving mechanism. Circuit board inspection apparatus having a display unit capable of displaying a screen for operation, characterized in that an operation switch for controlling a moving mechanism is provided on the display unit in the same manner as an operation switch in an operation panel.
【0013】この回路基板検査装置では、移動機構の動
作条件を設定するための画面と共に、操作パネル内の操
作スイッチと同等に移動機構を制御するための操作スイ
ッチが表示部に表示される。したがって、例えば、表示
部に表示させる操作スイッチをタッチパネルやグラフィ
カルスイッチなどで構成することにより、1つの表示画
面内で、動作条件の設定および移動機構の制御を行うこ
とが可能となる。この場合、タッチパネルで操作スイッ
チを構成したときには、タッチパネルの操作とマウスM
の操作とを同じ姿勢で連続的に行うことが可能となる。
この結果、動作条件設定の作業を迅速かつ容易に行うこ
とが可能となると共に、誤操作の発生を抑制することが
可能となる。[0013] In this circuit board inspection apparatus, an operation switch for controlling the moving mechanism is displayed on the display unit in the same manner as an operation switch in the operation panel, together with a screen for setting operating conditions of the moving mechanism. Therefore, for example, by configuring the operation switches to be displayed on the display unit with a touch panel, a graphical switch, or the like, it is possible to set the operating conditions and control the moving mechanism within one display screen. In this case, when the operation switch is configured by the touch panel, the operation of the touch panel and the mouse M
Can be continuously performed in the same posture.
As a result, the operation for setting the operating conditions can be performed quickly and easily, and the occurrence of erroneous operations can be suppressed.
【0014】請求項2記載の回路基板検査装置は、請求
項1記載の回路基板検査装置において、表示部に設けた
操作スイッチは、ソフトウェア処理によって表示部に表
示されたグラフィカルスイッチであることを特徴とす
る。According to a second aspect of the present invention, in the circuit board inspection apparatus of the first aspect, the operation switches provided on the display unit are graphical switches displayed on the display unit by software processing. And
【0015】この回路基板検査装置では、操作パネル内
の操作スイッチと同等に移動機構を制御するための操作
スイッチをソフトウェア処理によって表示部に表示させ
る。したがって、オペレータは、動作条件の設定および
移動機構の制御をキーボードとマウスとで行うことが可
能となる。このため、操作の際の手の動きが最小限度ま
で少なくなり、動作条件の設定に要する時間をさらに短
時間化することが可能となると共に、誤操作の発生をさ
らに抑制することが可能となる。加えて、表示部に表示
させる操作スイッチをタッチパネルなどによって構成し
た場合と比較して、回路基板検査装置の製造コストを低
減することが可能となる。In this circuit board inspection apparatus, an operation switch for controlling the moving mechanism is displayed on the display unit by software processing in the same manner as the operation switch in the operation panel. Therefore, the operator can set the operating conditions and control the moving mechanism using the keyboard and the mouse. For this reason, the movement of the hand at the time of the operation is reduced to the minimum, the time required for setting the operation conditions can be further shortened, and the occurrence of erroneous operation can be further suppressed. In addition, it is possible to reduce the manufacturing cost of the circuit board inspection device as compared with the case where the operation switches displayed on the display unit are configured by a touch panel or the like.
【0016】請求項3記載の回路基板検査装置は、請求
項1または2記載の回路基板検査装置において、移動機
構によって移動制御されると共に動作条件としての検査
用プローブの移動位置を確認可能なカメラを備え、カメ
ラによる回路基板の映像を表示部に表示させることを特
徴とする。According to a third aspect of the present invention, there is provided a circuit board inspection apparatus according to the first or second aspect, wherein the camera is controlled to move by a moving mechanism and can confirm a movement position of the inspection probe as an operating condition. And displaying an image of the circuit board by the camera on the display unit.
【0017】この回路基板検査装置では、移動機構の動
作条件を設定する際に、表示部に表示させた操作スイッ
チの操作に連動して移動するカメラの映像が、その操作
スイッチおよび動作条件設定用の画面と共に表示され
る。したがって、カメラの映像を参照しつつ、動作条件
を入力することができる。このため、視線の移動が最小
限度まで抑えられる結果、オペレータの目に与える疲労
を低減することが可能となると共に、動作条件の設定に
要する時間をさらに短時間化することが可能となり、加
えて、誤操作の発生をさらに抑制することが可能とな
る。In this circuit board inspection apparatus, when setting the operating condition of the moving mechanism, the image of the camera moving in conjunction with the operation of the operating switch displayed on the display unit is displayed on the operating switch and the operating condition setting. Is displayed with the screen of. Therefore, it is possible to input the operating conditions while referring to the image of the camera. For this reason, the movement of the line of sight is suppressed to the minimum, so that the fatigue given to the operator's eyes can be reduced, and the time required for setting the operating conditions can be further shortened. In addition, it is possible to further suppress occurrence of erroneous operation.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係る回路基板検査装置の実施の形態について説明す
る。なお、出願人が既に開発している回路基板検査装置
71と同一の構成要素については、同一の符号を付して
重複した説明を省略する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment of a circuit board inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Note that the same components as those of the circuit board inspection device 71 that have already been developed by the applicant are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
【0019】最初に、回路基板検査装置1の構成につい
て図1,5を参照して説明する。First, the configuration of the circuit board inspection apparatus 1 will be described with reference to FIGS.
【0020】回路基板検査装置1は、図5に示すよう
に、キーボードK、マウスM、本体側操作パネル3、デ
ィスプレイ4、検査用プローブ11、カメラ12、X−
Y移動機構13、制御部14、RAM15およびROM
16を備えている。キーボードKおよびマウスMは、図
1に示すように、検査装置本体2のテーブル2aに載置
され、回路基板検査装置1の動作条件などを設定する際
のデータ入力、およびディスプレイ4に表示されるマウ
スカーソル47の移動に用いられる。本体側操作パネル
3は、図2に示すように、X−Y移動機構13による移
動対象をカメラ12に選択するためのカメラ移動用ボタ
ン31と、X−Y移動機構13による移動対象を検査用
プローブ11に選択するためのプローブ移動用ボタン3
2と、X−Y移動機構13によって検査用プローブ11
およびカメラ12をX−Y方向に移動させる際の移動方
向および移動量を制御するためのキー33a〜33dな
どから構成される移動機構操作キー部33とが配列され
ている。この本体側操作パネル3は、各ボタン31,3
2やキー33a〜33dなどを操作した際に、その操作
されたボタンなどの縁部が緑色に点灯する。また、ディ
スプレイ4は、本発明における表示部に相当し、動作条
件設定用画面や、カメラ12によって撮影された検査対
象回路基板の映像などを表示する。As shown in FIG. 5, the circuit board inspection apparatus 1 includes a keyboard K, a mouse M, an operation panel 3, a display 4, a test probe 11, a camera 12, an X-
Y moving mechanism 13, control unit 14, RAM 15, and ROM
16 is provided. As shown in FIG. 1, the keyboard K and the mouse M are placed on the table 2 a of the inspection apparatus main body 2, and are displayed on the display 4 when inputting data for setting operation conditions and the like of the circuit board inspection apparatus 1. Used to move the mouse cursor 47. As shown in FIG. 2, the main body side operation panel 3 includes a camera movement button 31 for selecting a movement target by the XY movement mechanism 13 for the camera 12, and an inspection target for the movement target by the XY movement mechanism 13. Probe moving button 3 for selecting probe 11
2 and the inspection probe 11 by the XY moving mechanism 13.
And a moving mechanism operation key unit 33 including keys 33a to 33d for controlling a moving direction and a moving amount when the camera 12 is moved in the XY directions. The operation panel 3 on the main body side includes buttons 31 and 3
When the user operates the key 2 or the keys 33a to 33d, the edge of the operated button or the like is lit in green. The display 4 corresponds to a display unit in the present invention, and displays an operation condition setting screen, an image of the circuit board to be inspected photographed by the camera 12, and the like.
【0021】一方、カメラ12は、小型のCCD(Char
ge Coupled Device )カメラが採用されており、X−Y
移動機構13によって移動させられて、検査対象回路基
板についての映像データを制御部14を介してディスプ
レイ4に出力する。制御部14は、移動機構操作キー部
33の各ボタンやキーの操作または設定された条件に従
ってのX−Y移動機構13の動作制御や、ディスプレイ
4の表示制御などを実行する。RAM15は、制御部1
4の演算結果を一時的に記憶し、ROM16は、制御部
14の動作プログラムや各種の表示用データなどを記憶
する。On the other hand, the camera 12 has a small CCD (Char
ge Coupled Device) camera is adopted, XY
It is moved by the moving mechanism 13 and outputs video data on the circuit board to be inspected to the display 4 via the control unit 14. The control unit 14 controls the operation of the buttons and keys of the moving mechanism operation key unit 33 or the operation control of the XY moving mechanism 13 according to the set conditions, the display control of the display 4, and the like. The RAM 15 stores the control unit 1
4 is temporarily stored, and the ROM 16 stores an operation program of the control unit 14, various display data, and the like.
【0022】次に、プロービング用の座標データを入力
する手順について、図面を参照して説明する。Next, a procedure for inputting coordinate data for probing will be described with reference to the drawings.
【0023】最初に、所定の操作により、図3に示すプ
ロービング位置設定用画面41をディスプレイ4に表示
させる。この場合、プロービング位置設定用画面41に
は、同図に示すように、検査用プローブ11の接触位置
についての座標を入力するための座標データ入力部42
と、カメラ12の映像43bを映し出すカメラ映像表示
部43とが表示される。また、プロービング位置設定用
画面41には、本発明におけるグラフィカルスイッチに
それぞれ相当するカメラ移動ボタン51、プローブ移動
用ボタン52および移動機構操作キー部53を含む疑似
操作パネル44と、検査用プローブ11またはカメラ1
2の現在位置座標を示す現在位置表示部45と、座標デ
ータ入力部42のセルポインタ42aによって選択され
ているセルに現在位置表示部45に表示されている座標
をコピーするためのCOPYボタン46と、COPYボ
タン46などを選択するためのマウスカーソル47とが
表示される。First, a probing position setting screen 41 shown in FIG. 3 is displayed on the display 4 by a predetermined operation. In this case, the probing position setting screen 41 has a coordinate data input section 42 for inputting the coordinates of the contact position of the inspection probe 11 as shown in FIG.
And a camera video display unit 43 that displays the video 43b of the camera 12 is displayed. The probing position setting screen 41 includes a pseudo operation panel 44 including a camera movement button 51, a probe movement button 52, and a movement mechanism operation key unit 53, each corresponding to a graphical switch according to the present invention; Camera 1
And a COPY button 46 for copying the coordinates displayed on the current position display section 45 to the cell selected by the cell pointer 42a of the coordinate data input section 42. , A mouse cursor 47 for selecting the COPY button 46 and the like.
【0024】この場合、検査用プローブ11およびカメ
ラ12が互いに離間させられている。したがって、カメ
ラ映像表示用画面43を参照しつつプロービング用の座
標データを入力するときには、カメラ移動用ボタン31
またはカメラ移動ボタン51を操作する。これにより、
現在位置表示部45には、カメラ12の現在位置座標が
表示される。一方、検査用プローブ11の先端位置を目
視しつつプロービング用の座標データを入力するすると
きには、プローブ移動用ボタン32またはプローブ移動
用ボタン52を操作する。これにより、現在位置表示部
45には、検査用プローブ11の先端の現在位置座標が
表示される。In this case, the inspection probe 11 and the camera 12 are separated from each other. Therefore, when inputting the probing coordinate data while referring to the camera image display screen 43, the camera movement button 31
Alternatively, the camera moving button 51 is operated. This allows
The current position display section 45 displays the current position coordinates of the camera 12. On the other hand, when inputting the probing coordinate data while observing the tip position of the inspection probe 11, the probe moving button 32 or the probe moving button 52 is operated. As a result, the current position coordinates of the tip of the inspection probe 11 are displayed on the current position display section 45.
【0025】一方、疑似操作パネル44の各ボタン5
1,52などは、本体側操作パネル3の各ボタン31,
32などと同一デザインで表示され、かつ同一機能が割
り当てられる。したがって、疑似操作パネル44の各ボ
タン51,52などをマウスカーソル47で選択操作す
ることにより、対応する本体側操作パネル3の各ボタン
31,32などを操作したときと同様にして、X−Y移
動機構13が制御される。具体的には、カメラ移動ボタ
ン51、プローブ移動用ボタン52、および移動機構操
作キー部53のキー53a〜53dには、それぞれ、本
体側操作パネル3のカメラ移動用ボタン31、プローブ
移動用ボタン32、および移動機構操作キー部33のキ
ー33a〜33dと同一機能が割り当てられる。また、
疑似操作パネル44および本体側操作パネル3の互いに
対応する各ボタンおよびキー同士は、互いに連動させら
れ、例えば、マウスカーソル47でカメラ移動ボタン5
1を選択操作したときには、図2に示すように、カメラ
移動用ボタン31の縁部が緑色に点灯し、カメラ移動用
ボタン31を操作したときには、図3に示すように、カ
メラ移動ボタン51の縁部が反転表示される。On the other hand, each button 5 on the pseudo operation panel 44
1, 52, etc., each button 31,
32 and the like are displayed in the same design, and the same functions are assigned. Therefore, by selecting and operating each of the buttons 51 and 52 of the pseudo operation panel 44 with the mouse cursor 47, the XY is performed in the same manner as when the corresponding buttons 31 and 32 of the corresponding operation panel 3 are operated. The moving mechanism 13 is controlled. Specifically, the camera movement button 51, the probe movement button 52, and the keys 53a to 53d of the movement mechanism operation key unit 53 include a camera movement button 31, a probe movement button 32 of the main body side operation panel 3, respectively. , And the same functions as the keys 33a to 33d of the moving mechanism operation key unit 33. Also,
The buttons and keys corresponding to each other on the simulated operation panel 44 and the main body side operation panel 3 are linked with each other.
2, the edge of the camera movement button 31 is illuminated in green as shown in FIG. 2, and when the camera movement button 31 is operated, as shown in FIG. The edge is highlighted.
【0026】次いで、プロービング位置設定用画面41
上において、例えば、低電位側の検査用プローブ11を
検査対象回路基板上のIC218における6番端子に接
触させるための座標データを入力するときには、以下の
手順を実行する。まず、図3に示すように、キーボード
Kのカーソル移動用キー、またはマウスMを操作するこ
とにより、座標データ入力部42の「ステップNo.2
50」行における「Lx」列のセルにセルポインタ42
aを移動させる。次に、マウスカーソル47でカメラ移
動ボタン51を選択操作する。次いで、疑似操作パネル
44における移動機構操作キー部53の各キー53a〜
53dをマウスカーソル47で適宜選択操作する。これ
により、X−Y移動機構13によってカメラ12が移動
させられる。Next, a screen 41 for setting a probing position
Above, for example, when inputting coordinate data for bringing the low potential side inspection probe 11 into contact with the sixth terminal of the IC 218 on the inspection target circuit board, the following procedure is executed. First, as shown in FIG. 3, by operating the cursor moving key of the keyboard K or the mouse M, the “step No. 2” of the coordinate data input section 42 is operated.
The cell pointer 42 points to the cell in the “Lx” column in the “50” row.
Move a. Next, the camera moving button 51 is selected and operated with the mouse cursor 47. Next, each key 53a-53 of the moving mechanism operation key unit 53 on the pseudo operation panel 44
53d is appropriately selected and operated by the mouse cursor 47. Thereby, the camera 12 is moved by the XY moving mechanism 13.
【0027】この際に、カメラ映像表示部43の映像4
3b、および現在位置表示部45に表示された座標は、
カメラ12の移動に伴って逐次変化する。したがって、
カメラ映像表示部43の十字カーソル43aと、映像4
3bにおけるIC218の6番端子とが互いに重なり合
うように、カメラ映像表示部43の映像43bを参照し
つつ、キー53a〜53dを選択操作する。これによ
り、同図に示すように、IC218の6番端子の座標が
現在位置表示部45に表示される。次いで、マウスカー
ソル47でCOPYボタン46を選択操作することによ
り、図4に示すように、現在位置表示部45に表示され
ていた座標が、「ステップNo.250」行における
「Lx」列および「Ly」列にコピーされる。以上によ
り、低電位側の検査用プローブ11を検査対象回路基板
上のIC218における6番端子に接触させるための座
標データの入力が完了する。At this time, the image 4 of the camera image display 43 is displayed.
3b and the coordinates displayed on the current position display section 45 are:
It changes sequentially as the camera 12 moves. Therefore,
The cross cursor 43a of the camera image display unit 43 and the image 4
The keys 53a to 53d are selected and operated while referring to the image 43b of the camera image display unit 43 so that the 6th terminal of the IC 218 in 3b overlaps with each other. Thus, the coordinates of the sixth terminal of the IC 218 are displayed on the current position display section 45 as shown in FIG. Next, by selecting and operating the COPY button 46 with the mouse cursor 47, as shown in FIG. 4, the coordinates displayed on the current position display section 45 are changed to the "Lx" column in the "Step No. 250" row and the "Lx" column. Ly "column. As described above, the input of the coordinate data for bringing the inspection probe 11 on the low potential side into contact with the sixth terminal of the IC 218 on the circuit board to be inspected is completed.
【0028】なお、他の回路部品についての座標データ
を入力する際にも、上記した手順と同様にして実行す
る。また、検査用プローブ11の先端位置の座標に基づ
いて座標データを入力する場合には、プローブ移動用ボ
タン52を選択操作することにより、検査用プローブ1
1の先端位置の座標が現在位置表示部45に表示され
る。したがって、上記した手順と同様な操作によって座
標データ入力部42に、現在位置表示部45の座標をコ
ピーすることができる。When inputting coordinate data for other circuit components, the same procedure as described above is executed. When inputting coordinate data based on the coordinates of the position of the tip of the inspection probe 11, the operation of selecting the probe moving button 52 can be performed.
The coordinates of the first tip position are displayed on the current position display section 45. Therefore, the coordinates of the current position display section 45 can be copied to the coordinate data input section 42 by the same operation as the procedure described above.
【0029】このように、この回路基板検査装置1で
は、プロービング用の座標データを入力する際に、入力
操作に必要な情報がディスプレイ4上にすべて表示さ
れ、かつその際の操作をキーボードの各キーおよびマウ
スMのみで行うことができる。このため、従来の回路基
板検査装置71とは異なり、その操作の際の姿勢や手の
動きを最小限度まで少なくすることができる結果、座標
データを迅速かつ容易に入力することができる。加え
て、1つのディスプレイ4を見ているだけでよいため、
目の疲れも少なく、誤操作を抑制することもできる。As described above, in the circuit board inspection apparatus 1, when inputting the probing coordinate data, all the information necessary for the input operation is displayed on the display 4, and the operation at that time is performed on the keyboard. It can be performed only with the key and the mouse M. Therefore, unlike the conventional circuit board inspection apparatus 71, the posture and the movement of the hand at the time of the operation can be reduced to the minimum, so that the coordinate data can be input quickly and easily. In addition, because you only need to look at one display 4,
Eye fatigue is less, and erroneous operation can be suppressed.
【0030】なお、本発明は、上記した本発明の実施の
形態に示した構成に限定されない。例えば、本発明の実
施の形態では、疑似操作パネル44をマウスカーソル4
7で選択操作することにより操作可能に構成している
が、これに代えて、圧電方式、静電容量方式、赤外線方
式などのタッチパネルで構成することもできる。また、
本発明の実施の形態では、座標データ入力部42、カメ
ラ映像表示部43および疑似操作パネル44をプロービ
ング位置設定用画面41上に並べて表示しているが、こ
れらの表示レイアウトや表示デザインなどは、本発明の
実施の形態に示した例に限定されず、オペレータが見易
いレイアウトや表示デザインに適宜変更することができ
るし、各表示画面の一部が互いに重なり合うように表示
させたりすることもできる。かかる場合には、ディスプ
レイ4の表示エリアを、より有効に活用することができ
る。The present invention is not limited to the configuration shown in the above-described embodiment of the present invention. For example, in the embodiment of the present invention, the pseudo operation panel 44 is
Although it is configured to be operable by performing a selection operation at 7, a touch panel of a piezoelectric type, a capacitance type, an infrared type, or the like may be used instead. Also,
In the embodiment of the present invention, the coordinate data input unit 42, the camera image display unit 43, and the pseudo operation panel 44 are displayed side by side on the probing position setting screen 41, but the display layout and display design thereof are as follows. The present invention is not limited to the example shown in the embodiment of the present invention, and can be appropriately changed to a layout or a display design that is easy for the operator to see, and the display screens can be displayed so as to partially overlap each other. In such a case, the display area of the display 4 can be more effectively utilized.
【0031】[0031]
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の回路基板
検査装置によれば、操作パネル内の操作スイッチと同等
に移動機構を制御するための操作スイッチを表示部に設
けたことにより、操作パネルに視線を移動させる必要が
なくなるため、動作条件設定の作業を迅速かつ容易に行
うことができると共に、誤操作の発生を未然に防止する
ことができる。As described above, according to the circuit board inspection apparatus of the first aspect, the operation switch for controlling the moving mechanism is provided on the display unit in the same manner as the operation switch in the operation panel. Since it is not necessary to move the line of sight to the operation panel, the operation for setting the operation conditions can be performed quickly and easily, and the occurrence of an erroneous operation can be prevented.
【0032】また、請求項2記載の回路基板検査装置に
よれば、表示部に設けた操作スイッチがソフトウェア処
理によって表示されたグラフィカルスイッチであるた
め、動作条件の設定および移動機構の制御をキーボード
とマウスとで行うことができ、これにより、操作の際の
姿勢や手の動きを最小限度まで少なくすることができ
る。この結果、動作条件の設定に要する時間をさらに短
時間化することができると共に、誤操作の発生を、より
確実に防止することができる。加えて、タッチパネルな
どと比較して、回路基板検査装置の製造コストを低減す
ることができる。According to the circuit board inspection apparatus of the present invention, since the operation switches provided on the display unit are the graphical switches displayed by software processing, the setting of the operating conditions and the control of the moving mechanism are performed by the keyboard. The operation can be performed with a mouse, whereby the posture and the movement of the hand during operation can be reduced to the minimum. As a result, the time required for setting the operating conditions can be further shortened, and the occurrence of an erroneous operation can be more reliably prevented. In addition, the manufacturing cost of the circuit board inspection device can be reduced as compared with a touch panel or the like.
【0033】さらに、請求項3記載の回路基板検査装置
によれば、カメラによる回路基板の映像を表示部に表示
させることにより、カメラの映像を参照しつつ、動作条
件を入力することができ、これにより、視線の移動が最
小限度まで抑えることができる。この結果、オペレータ
の目に与える疲労を低減することができると共に、動作
条件の設定に要する時間をさらに短時間化することがで
き、加えて、誤操作の発生を、さらに確実に防止するこ
とができる。Further, according to the circuit board inspection apparatus of the third aspect, by displaying the image of the circuit board by the camera on the display unit, it is possible to input the operating conditions while referring to the image of the camera. Thereby, the movement of the line of sight can be suppressed to the minimum. As a result, the fatigue given to the eyes of the operator can be reduced, the time required for setting the operating conditions can be further shortened, and the occurrence of erroneous operation can be more reliably prevented. .
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】本発明の実施の形態に係る回路基板検査装置の
外観斜視図である。FIG. 1 is an external perspective view of a circuit board inspection device according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施の形態に係る回路基板検査装置に
おける本体側操作パネルのキー配列を示した図である。FIG. 2 is a diagram showing a key arrangement of a main body side operation panel in the circuit board inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.
【図3】本発明の実施の形態に係るプロービング位置設
定用画面の表示画面図である。FIG. 3 is a display screen diagram of a probing position setting screen according to the embodiment of the present invention.
【図4】本発明の実施の形態に係るプロービング位置設
定用画面における座標データ入力部の表示画面図であ
る。FIG. 4 is a display screen diagram of a coordinate data input unit on a probing position setting screen according to the embodiment of the present invention.
【図5】本発明の実施の形態に係る回路基板検査装置の
電気的構成を示したブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing an electrical configuration of the circuit board inspection device according to the embodiment of the present invention.
【図6】出願人が既に開発している回路基板検査装置の
外観斜視図である。FIG. 6 is an external perspective view of a circuit board inspection apparatus that has been already developed by the applicant.
【図7】出願人が既に開発している回路基板検査装置に
おける操作パネルのキー配列を示した図である。FIG. 7 is a diagram showing a key arrangement of an operation panel in a circuit board inspection apparatus which has been already developed by the applicant;
【図8】出願人が既に開発している回路基板検査装置に
おけるプロービング位置設定用画面の表示画面図であ
る。FIG. 8 is a display screen diagram of a screen for setting a probing position in a circuit board inspection apparatus which has already been developed by the applicant.
【図9】出願人が既に開発している回路基板検査装置に
おけるカメラ映像表示用画面の表示画面図である。FIG. 9 is a display screen diagram of a camera image display screen in a circuit board inspection device that has been already developed by the applicant.
【図10】出願人が既に開発している回路基板検査装置
のプロービング位置設定用画面における座標データ入力
部の表示画面図である。FIG. 10 is a display screen diagram of a coordinate data input unit on a probing position setting screen of a circuit board inspection device which has been already developed by the applicant.
【図11】出願人が既に開発している回路基板検査装置
の電気的構成を示したブロック図である。FIG. 11 is a block diagram showing an electrical configuration of a circuit board inspection device that has been already developed by the applicant.
1 回路基板検査装置 3 本体側操作パネル 4 ディスプレイ 13 X−Y移動機構 14 制御部 31 カメラ移動用ボタン 32 プローブ移動用ボタン 33 移動機構操作キー部 33a〜33d キー 41 プロービング位置設定用画面 42 座標データ入力部 43 カメラ映像表示部 43b 映像 44 疑似操作パネル 51 カメラ移動用ボタン 52 プローブ移動用ボタン 53 移動機構操作キー部 53a〜53d キー DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board inspection apparatus 3 Main body side operation panel 4 Display 13 XY moving mechanism 14 Control part 31 Camera moving button 32 Probe moving button 33 Moving mechanism operation key part 33a-33d key 41 Probing position setting screen 42 Coordinate data Input unit 43 Camera image display unit 43b Image 44 pseudo operation panel 51 Camera moving button 52 Probe moving button 53 Moving mechanism operation key unit 53a to 53d key
Claims (3)
作スイッチを含む操作パネルと、前記移動機構の動作条
件を設定するための画面を表示可能な表示部とを有する
回路基板検査装置において、 前記操作パネル内の前記操作スイッチと同等に前記移動
機構を制御するための操作スイッチを前記表示部に設け
たことを特徴とする回路基板検査装置。1. A circuit board inspection apparatus comprising: an operation panel including at least an operation switch for controlling a moving mechanism; and a display unit capable of displaying a screen for setting operating conditions of the moving mechanism. A circuit board inspection device, wherein an operation switch for controlling the moving mechanism is provided on the display unit in the same manner as the operation switch in the panel.
フトウェア処理によって当該表示部に表示されたグラフ
ィカルスイッチであることを特徴とする請求項1記載の
回路基板検査装置。2. The circuit board inspection apparatus according to claim 1, wherein the operation switch provided on the display unit is a graphical switch displayed on the display unit by software processing.
共に前記動作条件としての検査用プローブの移動位置を
確認可能なカメラを備え、当該カメラによる回路基板の
映像を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項
1または2記載の回路基板検査装置。3. A camera controlled by the moving mechanism and capable of confirming a moving position of the inspection probe as the operating condition, wherein an image of a circuit board by the camera is displayed on the display unit. The circuit board inspection device according to claim 1 or 2, wherein
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16610298A JPH11344538A (en) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | Circuit board inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16610298A JPH11344538A (en) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | Circuit board inspection device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11344538A true JPH11344538A (en) | 1999-12-14 |
Family
ID=15825062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16610298A Pending JPH11344538A (en) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | Circuit board inspection device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11344538A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1203962A2 (en) * | 2000-11-03 | 2002-05-08 | Tektronix, Inc. | A test instrument powered video camera |
US6970004B2 (en) | 2000-02-25 | 2005-11-29 | Hitachi, Ltd. | Apparatus for inspecting defects of devices and method of inspecting defects |
WO2007032077A1 (en) * | 2005-09-15 | 2007-03-22 | Advantest Corporation | Tcp handler |
JP2014202665A (en) * | 2013-04-08 | 2014-10-27 | 日置電機株式会社 | Data processor |
-
1998
- 1998-05-29 JP JP16610298A patent/JPH11344538A/en active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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EP1203962A3 (en) * | 2000-11-03 | 2003-01-15 | Tektronix, Inc. | A test instrument powered video camera |
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