JPH11330511A - Thin film solar cell and its forming method - Google Patents
Thin film solar cell and its forming methodInfo
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- JPH11330511A JPH11330511A JP10153610A JP15361098A JPH11330511A JP H11330511 A JPH11330511 A JP H11330511A JP 10153610 A JP10153610 A JP 10153610A JP 15361098 A JP15361098 A JP 15361098A JP H11330511 A JPH11330511 A JP H11330511A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、薄膜太陽電池お
よびその形成方法に関し、特に水素吸蔵性金属であるパ
ラジウムを基材側第1電極に用いて、当該パラジウムか
らなる第1電極が水素を吸蔵することにより脆弱化する
特性を利用してパターン形成した太陽電池とその製造方
法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin-film solar cell and a method for forming the same, and more particularly, to using palladium, which is a hydrogen-absorbing metal, as a substrate-side first electrode, and the first electrode made of the palladium stores hydrogen. The present invention relates to a pattern-formed solar cell utilizing the property of becoming brittle as a result, and a method of manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】低コスト化と量産性の実現可能な太陽電
池としてSCAF(Series−Connectio
n through Appertures form
edon Film)構造太陽電池が提案されている。
このものはフィルム基材上に金属電極、a−Si層、透
明電極を積層して形成するものであるが、薄膜形成後
に、各薄膜層のパターニングを行う必要がある。従来、
このパターニングはフォトリソグラフィー法による化学
的エッチングまたはレーザースクライビングにより行わ
れるのが通常である。2. Description of the Related Art As a solar cell capable of realizing low cost and mass productivity, SCAF (Series-Connectivity) is known.
n through Appartures form
(edon Film) structure solar cell has been proposed.
This is formed by laminating a metal electrode, an a-Si layer, and a transparent electrode on a film substrate, but it is necessary to pattern each thin film layer after forming the thin film. Conventionally,
This patterning is usually performed by chemical etching by photolithography or laser scribing.
【0003】図11は、薄膜太陽電池形成の従来工程を
示す図である。この工程ではまず、図11(A)のよう
に、ガラスやプラスチックフィルムのような基材41を
準備する。次いで、基材上に第1の電極を形成するため
に蒸着、スパッタリング等により金属電極層42となる
金属薄膜を形成する(図11(B))。金属材料として
は導電性のものであればよく、アルミ、銅、クロム、銀
等が用いられる。金属薄膜を電極パターン形状にパター
ン形成するために、当該金属薄膜上に感光性レジスト材
料を塗布して、フォトマスク露光、現像処理を行い(図
11(C))、レジスト膜43を形成する。次に、レジ
スト膜を介して金属薄膜のエッチングを行う(図11
(D))。エッチングは通常塩化第2鉄等による化学エ
ッチングが採用される。レジストを剥離すれば基材上に
は金属電極パターンが形成されている(図11
(E))。通常、このレジスト材料の塗布から、露光、
現像、エッチング、レジスト剥離の一連の工程を「パタ
ーニング」といっている。FIG. 11 is a diagram showing a conventional process of forming a thin-film solar cell. In this step, first, as shown in FIG. 11A, a base material 41 such as glass or a plastic film is prepared. Next, in order to form a first electrode on the base material, a metal thin film to be the metal electrode layer 42 is formed by vapor deposition, sputtering, or the like (FIG. 11B). As the metal material, any conductive material may be used, such as aluminum, copper, chromium, and silver. In order to pattern the metal thin film into an electrode pattern shape, a photosensitive resist material is applied on the metal thin film, photomask exposure and development are performed (FIG. 11C), and a resist film 43 is formed. Next, the metal thin film is etched through the resist film (FIG. 11).
(D)). Usually, chemical etching using ferric chloride or the like is employed for the etching. If the resist is stripped, a metal electrode pattern is formed on the substrate (FIG. 11).
(E)). Usually, from the application of this resist material, exposure,
A series of steps of development, etching, and resist stripping is called “patterning”.
【0004】次に、金属電極上にアモルファスシリコン
層44を、n型、i型、p型の順に3層積層して形成
し、再び感光性レジスト材料を塗布してアモルファスシ
リコン層のパターニングを行う(図11(F))。次い
でシリコン層上に上部電極となる透明導電膜45を形成
した後、再びパターニングを行って透明電極パターンの
形成を行う(図11(G))。最後にパッシベーション
膜46を成膜して薄膜太陽電池セルパターンが完成する
(図11(H))。Next, an amorphous silicon layer 44 is formed on the metal electrode by laminating three layers in the order of n-type, i-type and p-type, and a photosensitive resist material is applied again to pattern the amorphous silicon layer. (FIG. 11F). Next, after a transparent conductive film 45 serving as an upper electrode is formed on the silicon layer, patterning is performed again to form a transparent electrode pattern (FIG. 11G). Finally, a passivation film 46 is formed to complete a thin-film solar cell pattern (FIG. 11H).
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来法
による薄膜太陽電池の化学的エッチングによる形成法で
は「パターニング」を繰り返して行う必要があり太陽電
池の製造コストを高くしていた。これは、レーザースク
ライビング等の場合も同様である。そこで、本発明は、
水素吸蔵性金属であるパラジウムを基材側電極に使用
し、透明電極側からレーザーやサーマルヘッドを用いて
エネルギーを印加することにより、a−Si:H層中の
水素がパラジウム金属中に拡散して、金属の格子間距離
が開き、パラジウム層が剥離し易くなる性質に着眼し、
金属層の剥離と同時に、当該パラジウム層上に形成され
たa−Si:H層、透明電極層を一緒に剥離して太陽電
池を形成しようとするものである。これにより、太陽電
池製造工程中におけるパターニングを上記エッチングに
よらずに行うことができる。As described above, in the conventional method of forming a thin-film solar cell by chemical etching, "patterning" has to be repeatedly performed, thus increasing the manufacturing cost of the solar cell. This is the same in the case of laser scribing and the like. Therefore, the present invention
Hydrogen in the a-Si: H layer diffuses into the palladium metal by using palladium, which is a hydrogen storage metal, as the base electrode and applying energy from the transparent electrode side using a laser or a thermal head. Focusing on the property that the interstitial distance of the metal opens and the palladium layer is easy to peel off,
At the same time when the metal layer is peeled off, the a-Si: H layer and the transparent electrode layer formed on the palladium layer are peeled off together to form a solar cell. Thereby, patterning during the solar cell manufacturing process can be performed without relying on the etching.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の要旨の第1は、絶縁性基材上に、第1電極層、アモ
ルファスシリコン層、透明な第2電極層を基材側から順
に形成した薄膜太陽電池において、当該第1電極層に熱
印加によりパターン形成されたパラジウム層を用いたこ
とを特徴とするアモルファスシリコン薄膜太陽電池、に
ある。かかる太陽電池であるため薄膜太陽電池を低コス
トで量産することができる。The first aspect of the present invention to solve the above problems is to form a first electrode layer, an amorphous silicon layer, and a transparent second electrode layer on an insulating base material from the base material side. An amorphous silicon thin-film solar cell, characterized in that a palladium layer patterned by applying heat to the first electrode layer is used in the thin-film solar cell formed in this order. Since such a solar cell is used, thin-film solar cells can be mass-produced at low cost.
【0007】上記課題を解決する本発明の要旨の第2
は、絶縁性基材上に、第1電極層、アモルファスシリコ
ン層、透明な第2電極層を基材側から順に形成し、絶縁
性基材の反対面に第3電極層が設けられ、第3電極層が
第2電極層と、基材、第1電極層およびアモルファスシ
リコン光電変換層を貫通する第1の接続孔を通じ、第1
電極層とは絶縁された状態で接続され、第3電極層の第
2電極層と接続される領域とは分離された領域におい
て、第3電極層が第1電極層と、少なくとも基材を貫通
する第2の接続孔を通じて接続されている薄膜太陽電池
において、当該第1電極層に熱印加によりパターン形成
されたパラジウム層を用いたことを特徴とするアモルフ
ァスシリコン薄膜太陽電池、にある。かかる太陽電池で
あるため薄膜太陽電池を低コストで量産することができ
る。[0007] The second aspect of the present invention to solve the above problems is as follows.
Forming a first electrode layer, an amorphous silicon layer, and a transparent second electrode layer in this order on the insulating base material from the base material side, and providing a third electrode layer on the opposite surface of the insulating base material; The first three electrode layers pass through the first connection hole penetrating the second electrode layer and the base material, the first electrode layer, and the amorphous silicon photoelectric conversion layer.
The third electrode layer penetrates the first electrode layer and at least the base material in a region that is connected to the electrode layer in an insulated state and is separated from a region of the third electrode layer that is connected to the second electrode layer. An amorphous silicon thin-film solar cell, wherein a palladium layer patterned by applying heat to the first electrode layer is used in the thin-film solar cell connected through the second connection hole. Since such a solar cell is used, thin-film solar cells can be mass-produced at low cost.
【0008】上記課題を解決する本発明の要旨の第3
は、絶縁性基材上に、第1電極層となるパラジウムを堆
積し、当該第1電極層上に、アモルファスシリコン層を
はさんで、透明な第2電極層を設けた後、第1電極層の
パラジウム層にアモルファスシリコン層の水素を拡散さ
せるとともに熱印加して当該パラジウム薄層を脆弱化し
て剥離させ、同時に当該パラジウム層上のアモルファス
シリコン層と透明な第2電極を剥離してパターニングを
行う工程を含むことを特徴とするアモルファスシリコン
薄膜太陽電池の形成法、にある。かかる太陽電池の形成
法であるため薄膜太陽電池を低コストで量産することが
できる。[0008] The third aspect of the present invention to solve the above problems is as follows.
Comprises depositing palladium as a first electrode layer on an insulating base material, forming a transparent second electrode layer on the first electrode layer with an amorphous silicon layer interposed therebetween, and then forming the first electrode The hydrogen of the amorphous silicon layer is diffused into the palladium layer of the layer, and heat is applied to weaken the thin palladium layer and separate it. At the same time, the amorphous silicon layer on the palladium layer and the transparent second electrode are separated and patterned. A method for forming an amorphous silicon thin-film solar cell, comprising the steps of: With this method of forming a solar cell, thin-film solar cells can be mass-produced at low cost.
【0009】上記課題を解決する本発明の要旨の第4
は、絶縁性基材上に、第1電極層となるパラジウムを堆
積し、当該第1電極層上に、アモルファスシリコン層を
はさんで、透明な第2電極層を設け、絶縁性基材の反対
面に第3電極層を設け、基材、第1電極層およびアモル
ファスシリコン層を貫通する第1の接続孔を通じて第3
電極層と第2電極層とが第1電極層とは絶縁された状態
で接続し、当該第3電極層と第2電極層とが接続される
領域とは分離された領域において、第3電極層と第1電
極層が、少なくとも基材を貫通する第2の接続孔を通じ
て接続されている薄膜太陽電池の形成法において、第1
電極層のパラジウム層にアモルファスシリコン層の水素
を拡散させるとともに熱印加して当該パラジウム薄層を
脆弱化して剥離させ、同時に当該パラジウム層上のアモ
ルファスシリコン層と透明な第2電極を剥離してパター
ニングを行う工程を含むことを特徴とするアモルファス
シリコン薄膜太陽電池の形成法、にある。かかる太陽電
池の形成法であるため薄膜太陽電池を低コストで量産す
ることができる。A fourth aspect of the present invention for solving the above-mentioned problems is as follows.
Comprises depositing palladium to be a first electrode layer on an insulating base material, providing a transparent second electrode layer on the first electrode layer with an amorphous silicon layer interposed therebetween, A third electrode layer is provided on the opposite surface, and the third electrode layer is formed through a first connection hole penetrating the base material, the first electrode layer, and the amorphous silicon layer.
The electrode layer and the second electrode layer are connected to the first electrode layer in an insulated state, and the third electrode layer is separated from the region where the third electrode layer is connected to the second electrode layer. In the method for forming a thin-film solar cell, in which the layer and the first electrode layer are connected through at least a second connection hole penetrating the base material,
Hydrogen of the amorphous silicon layer is diffused into the palladium layer of the electrode layer, and heat is applied to weaken the thin palladium layer and peel it off, and at the same time peel off the amorphous silicon layer on the palladium layer and the transparent second electrode to pattern it And a method of forming an amorphous silicon thin film solar cell. With this method of forming a solar cell, thin-film solar cells can be mass-produced at low cost.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】本発明は、新規な太陽電池とその
形成法にかかり、太陽電池を構成する基材側金属電極
層、アモルファスシリコン層、透明電極層の各層を、エ
ッチングやレーザーパターニングを使用せず、基材側電
極に水素吸蔵性金属であるパラジウムを使用することに
よりパターン形成することを特徴とする。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention relates to a novel solar cell and a method for forming the same. The metal electrode layer, the amorphous silicon layer, and the transparent electrode layer on the substrate side constituting the solar cell are etched or laser-patterned. It is characterized in that a pattern is formed by using palladium, which is a hydrogen storage metal, for the substrate-side electrode without using it.
【0011】以下、本発明の実施形態を図面を参照して
説明することとするが、本発明は以下の実施形態に限定
されるものではない。図1は、本発明の薄膜太陽電池の
一例を示す平面図である。本発明の薄膜太陽電池1は、
絶縁性基材11上に、基材側第1電極であるパラジウム
層、a−Si:H層、透明な第2電極層を順次積層して
形成し、基材の裏面に第3電極層を形成する。絶縁性基
材11には電流収集孔となる第1接続孔14と、基材の
両側縁部において直列接続孔となる第2接続孔15とが
形成されている。第1接続孔14は第2電極層と第3電
極層とを接続するための貫通孔であり、第2接続孔15
は第3電極層の形成されない基材の両側縁に穿孔されて
基材上面の第1電極層と基材下面の第3電極層との接続
を行う。いずれも接続孔を通じる導電層により導通が図
られている。第3電極層を設けるのは、第2電極層とな
る透明導電材料の抵抗値が高いため透明電極層を流れる
電流を第3電極層を流れる電流に置き換えることにより
ジュール損失を低下させようとするものである。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, but the present invention is not limited to the following embodiments. FIG. 1 is a plan view showing an example of the thin-film solar cell of the present invention. The thin-film solar cell 1 of the present invention comprises:
A palladium layer serving as a substrate-side first electrode, an a-Si: H layer, and a transparent second electrode layer are sequentially laminated on an insulating substrate 11, and a third electrode layer is formed on the back surface of the substrate. Form. A first connection hole 14 serving as a current collection hole and a second connection hole 15 serving as a series connection hole are formed at both side edges of the base material in the insulating base material 11. The first connection hole 14 is a through hole for connecting the second electrode layer and the third electrode layer, and the second connection hole 15
Are perforated on both side edges of the substrate on which the third electrode layer is not formed, and connect the first electrode layer on the upper surface of the substrate to the third electrode layer on the lower surface of the substrate. In each case, conduction is achieved by a conductive layer passing through the connection hole. The reason for providing the third electrode layer is to reduce the Joule loss by replacing the current flowing through the transparent electrode layer with the current flowing through the third electrode layer because the transparent conductive material serving as the second electrode layer has a high resistance value. Things.
【0012】なお、図1中、点線で囲まれた矩形状の部
分の内側は、基材下面にパターン形成された第3電極層
12が存在する領域を表し、実線で囲まれた矩形状の幅
の広い領域は、基材上面に順次積層形成された第1電極
層とa−Si:H層がある部分を示し、実線の内側にな
る矩形状部分(第2接続孔15を含まない部分)にはさ
らに透明な第3電極層が積層形成されていることを示し
ている。当該積層部には、熱印加により基材11面より
パラジウムからなる第1電極層を剥離することによりa
−Si:H層、第2電極層を一緒に剥離して設けた分離
線18が形成されており、これにより単位の太陽電池セ
ルを構成している。同様の分離線は第3の電極層にも分
離線19として形成されているが当該分離線は電極形成
の際のマスク手段等によりパターン形成されたものであ
る。In FIG. 1, the inside of the rectangular portion surrounded by the dotted line represents the region where the third electrode layer 12 patterned on the lower surface of the base material exists, and the rectangular shape surrounded by the solid line. The wide region indicates a portion where the first electrode layer and the a-Si: H layer are sequentially formed on the upper surface of the base material, and is a rectangular portion inside the solid line (a portion not including the second connection hole 15). () Shows that a transparent third electrode layer is further formed by lamination. The first electrode layer made of palladium is peeled off from the surface of the base material 11 by applying heat to the laminated portion so that a
A separation line 18 formed by peeling the -Si: H layer and the second electrode layer together is formed, thereby constituting a unit solar cell. A similar separation line is also formed as a separation line 19 in the third electrode layer, but the separation line is formed by patterning using a mask means or the like when forming the electrode.
【0013】図2は、本発明の薄膜太陽電池を示す断面
図である。図2(A)は、図1のA−A線における断面
を、図2(B)は、図1のB−B線における断面を示し
ている。また、図2(C)は、第1電極層16、第2電
極層26、第3電極層36の関係が明瞭となるように、
図2(A)に、図2(B)の直列接続孔15の要素を加
えて図示したものである。FIG. 2 is a sectional view showing a thin-film solar cell according to the present invention. FIG. 2A shows a cross section taken along the line AA in FIG. 1, and FIG. 2B shows a cross section taken along the line BB in FIG. In FIG. 2C, the relationship between the first electrode layer 16, the second electrode layer 26, and the third electrode layer 36 is clearly shown.
FIG. 2 (A) is shown by adding the elements of the series connection hole 15 of FIG. 2 (B).
【0014】図2(A)のように、基材11の下面には
第3電極層36、基材11の上面にはパラジウムによる
第1電極層16が形成され、当該第1電極層上にa−S
i:H層20、透明な第2電極層26、パッシベーショ
ン膜32が形成されている。第1接続孔14は、基材1
1に第1の電極層16が形成された後にパンチング等に
より孔径φ=2〜5mm程度に穿孔されたもので、その
後、a−Si:H層20をCVD法等により積層するた
め、当該層は接続孔の内側面にも付着し、第1電極層1
6を絶縁した状態にすることができる。その後、第2電
極層を形成すれば、第3電極層と第2電極層とを電気的
に接続することができる。As shown in FIG. 2A, a third electrode layer 36 is formed on the lower surface of the substrate 11, and a first electrode layer 16 of palladium is formed on the upper surface of the substrate 11, and the first electrode layer 16 is formed on the first electrode layer. a-S
i: An H layer 20, a transparent second electrode layer 26, and a passivation film 32 are formed. The first connection hole 14 is
In FIG. 1, the first electrode layer 16 is formed and then punched to a hole diameter of about 2 to 5 mm by punching or the like. Thereafter, the a-Si: H layer 20 is laminated by a CVD method or the like. Also adheres to the inner surface of the connection hole, and the first electrode layer 1
6 can be insulated. After that, if the second electrode layer is formed, the third electrode layer and the second electrode layer can be electrically connected.
【0015】図2(B)の第2接続孔15は、基材に薄
膜が形成される以前の最初の段階において、基材の側縁
部に、パンチング等により孔径φ=2〜5mm程度に穿
孔される。その後、基材11の裏面に第3電極層をニッ
ケル等の金属薄膜をスパッタリング等で形成する。第3
電極層は単位のセル間が分離線19により分離した形状
となるようにマスク等を用いて形成する。続いて、第1
電極層をパラジウムを用いて薄膜形成する。この薄膜は
スパッタリング等により形成するため、金属薄膜が接続
孔内の側面にも付着し、第3電極層と第1電極層との導
通が得られることになる。In the first stage before the thin film is formed on the base material, the second connection hole 15 shown in FIG. 2B is formed on the side edge of the base material so as to have a hole diameter of about 2 to 5 mm by punching or the like. Perforated. Thereafter, a third electrode layer is formed on the back surface of the substrate 11 by sputtering a metal thin film such as nickel. Third
The electrode layer is formed using a mask or the like so that the unit cells have a shape separated by the separation line 19. Then, the first
An electrode layer is formed as a thin film using palladium. Since this thin film is formed by sputtering or the like, the metal thin film also adheres to the side surface in the connection hole, and conduction between the third electrode layer and the first electrode layer is obtained.
【0016】本発明の太陽電池は、図2(C)のように
構成され、第1電極16と第2電極26との間に電位が
発生し、第1の接続孔14間の距離において1単位のセ
ル(UC)を構成している。この単位セルを連続して形
成し次の単位セルに直列接続することにより高電圧が得
られる。以上は、基材裏面に第3電極を設ける実施形態
について記載したが、本発明はかかる実施形態に限らず
第1電極と第2電極からなる一般的な太陽電池単位セル
を直列接続する形態において第1電極をパターン形成さ
れたパラジウムによる電極とした形態であっても良い。The solar cell according to the present invention is configured as shown in FIG. 2C, in which a potential is generated between the first electrode 16 and the second electrode 26, and the potential is 1 at the distance between the first connection holes 14. It constitutes a unit cell (UC). A high voltage can be obtained by continuously forming these unit cells and connecting them in series to the next unit cell. In the above, the embodiment in which the third electrode is provided on the back surface of the base material is described. The first electrode may be in the form of a patterned palladium electrode.
【0017】次に、本発明の薄膜太陽電池の形成方法の
一例について説明する。本発明の薄膜太陽電池は各種の
態様が可能であるが、絶縁性基材11上に、基材表面側
の第1電極16、a−Si:H層20、透明な第2電極
層26を順次積層して形成され、基材裏面側には第3電
極12が形成される例について説明する。図3〜図9
は、本発明の薄膜太陽電池の形成法の一例を示す図であ
る。まず、図3のように、基材11の表裏に第1電極層
16と第3電極層36を形成するが、最初にまず、第2
接続孔15をパンチング等により基材11の第2電極層
26を形成しない側縁部に形成し、その後、第3電極層
36を基材にスパッタリング等により薄膜形成する。前
記のように、第3電極層36は分離線19が形成される
ようにマスクを使用してパターン成膜する。続いて、第
1電極層をパラジウムを使用してスパッタリング等によ
り薄膜形成する。その後、第1電極面側からパンチング
等により第1接続孔14を穿孔する。第1電極層形成の
際、パラジウムは第2接続孔の内側面にも付着するの
で、第3電極層と第1電極層とが電気的に接続されるこ
とになる。もっとも当該接続孔内には、第3電極層形成
の際にも孔内側面に付着するが、図3では省略して図示
されている。Next, an example of a method for forming a thin-film solar cell of the present invention will be described. The thin-film solar cell of the present invention can have various aspects. The first electrode 16, the a-Si: H layer 20, and the transparent second electrode layer 26 on the surface of the insulating substrate 11 are provided on the insulating substrate 11. An example in which the third electrodes 12 are formed by sequentially laminating and the third electrode 12 is formed on the back surface side of the base material will be described. 3 to 9
FIG. 3 is a diagram showing an example of a method for forming a thin-film solar cell of the present invention. First, as shown in FIG. 3, the first electrode layer 16 and the third electrode layer 36 are formed on the front and back of the base material 11.
The connection hole 15 is formed on the side edge of the base material 11 where the second electrode layer 26 is not formed by punching or the like, and then the third electrode layer 36 is formed as a thin film on the base material by sputtering or the like. As described above, the third electrode layer 36 is formed into a pattern using a mask so that the separation line 19 is formed. Subsequently, a thin film is formed on the first electrode layer by sputtering or the like using palladium. After that, the first connection hole 14 is punched from the first electrode surface side by punching or the like. At the time of forming the first electrode layer, palladium also adheres to the inner surface of the second connection hole, so that the third electrode layer and the first electrode layer are electrically connected. Although the connection hole adheres to the inner surface of the hole when the third electrode layer is formed, it is omitted in FIG.
【0018】次に、図4のように第1電極層16上にa
−Si:H層20、透明な第2電極層26を順次薄膜形
成する。その際、a−Si:H層材料は第1接続孔内側
面にも付着するため第1電極層16の側面を覆い、第3
電極層と第2電極層を接続する際の絶縁層としての役割
を果たすことになる。次に、第2電極層26を薄膜形成
すると第2電極層材料は第1接続孔14の内側面にも付
着して、第3電極層36に達するので第1電極層16を
絶縁した状態で第2電極と第3電極とを電気的に接続す
ることになる。Next, as shown in FIG. 4, a is formed on the first electrode layer 16.
-A thin film of the Si: H layer 20 and the transparent second electrode layer 26 is formed sequentially. At this time, since the a-Si: H layer material also adheres to the inner surface of the first connection hole, it covers the side surface of the first electrode layer 16,
It functions as an insulating layer when connecting the electrode layer and the second electrode layer. Next, when the second electrode layer 26 is formed as a thin film, the material of the second electrode layer also adheres to the inner surface of the first connection hole 14 and reaches the third electrode layer 36, so that the first electrode layer 16 is insulated. The second electrode and the third electrode are electrically connected.
【0019】a−Si:H層20は、3層(n型、i
型、p型層)のa−Si:H層をCVD法等により順次
堆積する。この3層のa−Si:H層は、連続した薄膜
として形成すればよいので、マスク等を使用する必要は
ない。a−Si:H層20の形成は各種の方法が知られ
ているが、多用される方法はシランガス(SiH4 )を
真空炉中に導入し、電界を印加しプラズマ放電すること
により基材上にa−Si:H薄膜を形成する方法があ
る。このとき、シランガスに不純物を添加しない場合は
i型層が、ジボラン(B2 H6 )を不純物として添加す
るとp型層が、フォスヒン(PH3 )を添加するとn型
層を形成することができる。すなわち、ガスの切替えに
よって、n・i・p型層の接合を形成できる。このよう
にn・i・p型はガスの切替えだけで1つの反応層で形
成することができるが、各層を分離した反応室で行うラ
インで連続的に形成することもできる。この場合には残
留不純物が悪影響を及ぼすことが少ない効果がある。な
お、図4では、a−Si:H層は一つの層に図示されて
いるが実際には前記の3層になっている。The a-Si: H layer 20 has three layers (n type, i
A-Si: H layers are sequentially deposited by a CVD method or the like. Since the three a-Si: H layers may be formed as a continuous thin film, it is not necessary to use a mask or the like. Various methods are known for forming the a-Si: H layer 20, but the most frequently used method is to introduce a silane gas (SiH 4 ) into a vacuum furnace, apply an electric field, and perform a plasma discharge on the substrate. There is a method of forming an a-Si: H thin film. At this time, when no impurities are added to the silane gas, an i-type layer can be formed, when diborane (B 2 H 6 ) is added as an impurity, a p-type layer can be formed, and when phosphine (PH 3 ) is added, an n-type layer can be formed. . That is, the junction of the nip layer can be formed by switching the gas. Thus, the nip type can be formed in one reaction layer only by switching the gas, but it can also be formed continuously in a line where each layer is separated in a reaction chamber. In this case, there is an effect that the residual impurities hardly have an adverse effect. In FIG. 4, the a-Si: H layer is shown as one layer, but actually has the three layers described above.
【0020】続いて、第2の電極層26を透明な導電性
材料で形成する。第2電極層26もパターン形成する必
要はなく、基材上に連続状に形成する。薄膜形成は、ス
パッタリングや電子ビーム蒸着、抵抗加熱蒸着、イオン
プレーティング等で形成することができる。Subsequently, a second electrode layer 26 is formed of a transparent conductive material. The second electrode layer 26 does not need to be formed in a pattern, and is formed continuously on the base material. The thin film can be formed by sputtering, electron beam evaporation, resistance heating evaporation, ion plating, or the like.
【0021】第2電極層26を形成した後、光電変換層
を単位のセルに分離するための分離線18を形成する
(図5)。これには図5のように、熱印加を行うことが
できる手段、例えば、サーマルヘッドや熱ワイヤ、レー
ザー光線を当該分離予定部に沿って走行させる。これに
よりa−Si:H層の水素(H)が解離してパラジウム
層中に拡散する(図6、図7)。水素が拡散する結果、
パラジウム金属の格子間距離が開きパラウム層16が脆
弱化して基材11から剥離しやすくなり、軽い振動や払
拭により簡単に基材11から剥離する。この際、当該電
極層上のa−Si:H層20、第2電極層26も一緒に
剥離するので単位セル間を分離する分離線18を形成す
ることができる(図8)。最後に、パッシベーション膜
32を全面に形成して薄膜太陽電池が完成する(図
9)。After the formation of the second electrode layer 26, a separation line 18 for separating the photoelectric conversion layer into unit cells is formed (FIG. 5). For this, as shown in FIG. 5, a means capable of applying heat, for example, a thermal head, a heat wire, or a laser beam is caused to travel along the portion to be separated. As a result, hydrogen (H) in the a-Si: H layer dissociates and diffuses into the palladium layer (FIGS. 6 and 7). As a result of hydrogen diffusion,
The interstitial distance of the palladium metal is increased, the palladium layer 16 is weakened and easily peeled from the substrate 11, and easily peeled from the substrate 11 by light vibration or wiping. At this time, the a-Si: H layer 20 and the second electrode layer 26 on the electrode layer are also peeled together, so that the separation line 18 for separating the unit cells can be formed (FIG. 8). Finally, a passivation film 32 is formed on the entire surface to complete a thin-film solar cell (FIG. 9).
【0022】図10は、アモルファスシリコン層を示す
図である。この部分が光起電力層となる部分で、基材側
からn型アモルファスシリコン層20n、i型アモルフ
ァスシリコン層20i、p型アモルファスシリコン層2
0pが積層されている。太陽光は透明な第2電極層を透
過して光子が吸収され、一対の電子と正孔ができるが、
シリコン層内部に存在する電界によって電子はn型へ、
正孔はp型へ移動するため、n型からp型へ向かう電流
が生じる。この電流を外部へとり出して利用する。FIG. 10 shows an amorphous silicon layer. This portion becomes a photovoltaic layer, and from the substrate side, n-type amorphous silicon layer 20n, i-type amorphous silicon layer 20i, p-type amorphous silicon layer 2
0p are stacked. Sunlight penetrates the transparent second electrode layer and absorbs photons, creating a pair of electrons and holes.
Due to the electric field existing inside the silicon layer, the electrons become n-type,
Since holes move to the p-type, a current is generated from the n-type to the p-type. This current is taken out and used.
【0023】<材質に関する実施例>絶縁性基材として
は、絶縁性プラスチックフィルムが好ましく用いられ、
なかでも耐熱性、耐候性の高い、ポリイミド、アラミ
ド、ポリエーテルサルホン、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリエチレンナフタレート等のフィルムが好まし
い。これらの材質のフィルムであって厚みが、20μm
〜1.0mm程度のものが好ましく使用される。第1電
極層の材料としては、パラジウムの他、水素吸蔵性のあ
る金属または合金であって導電性のものを使用すること
ができる。第2電極層としては、太陽光を透過させる透
明性のもので導電性の材料が使用できる。一般的にはI
n2 O2 −SnO2 (ITO)が使用され、その他Zn
O、SnO2 等が使用される。第3電極層としては、ニ
ッケルの他、アルミニウム、銀、銅等の導電性金属を使
用することができる。<Examples of Materials> As the insulating base material, an insulating plastic film is preferably used.
Among them, films of polyimide, aramid, polyethersulfone, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, etc., having high heat resistance and high weather resistance are preferred. A film of these materials having a thickness of 20 μm
Those having a thickness of about 1.0 mm are preferably used. As the material of the first electrode layer, besides palladium, a conductive metal metal or alloy having a hydrogen absorbing property can be used. As the second electrode layer, a transparent conductive material that transmits sunlight can be used. Generally I
n 2 O 2 —SnO 2 (ITO) is used, and other Zn
O, SnO 2 or the like is used. As the third electrode layer, a conductive metal such as aluminum, silver, and copper can be used in addition to nickel.
【0024】[0024]
【実施例】以下、本発明の実施例について、図3〜図1
0を参照して説明する。 <導電性基材の準備>絶縁性基材11として、幅10c
m、厚み、0.5mmのポリイミドフィルムを用いた。
最初、基材に第2接続孔15となる細孔を、2mmの孔
径で形成した。次に、基材裏面にスパッタリング法によ
り、金属ニッケルによる薄層をパターン成膜し、基材裏
面側第3電極層36とした。膜厚は500Åとした。そ
の後、基材表面にパラジウム金属による第1電極層16
をスパッタリング法により成膜した。膜厚は500Åと
した。その後、第1電極層側から第1接続孔14となる
細孔を、2mmの孔径で形成した(図3)。FIG. 3 to FIG. 1 show an embodiment of the present invention.
0 will be described. <Preparation of conductive substrate> Width 10c as insulating substrate 11
A polyimide film having a thickness of 0.5 mm and a thickness of 0.5 mm was used.
First, a pore serving as the second connection hole 15 was formed in the base material with a diameter of 2 mm. Next, a thin layer made of metallic nickel was pattern-formed on the back surface of the base material by a sputtering method to form a third back surface side electrode layer 36 on the base material. The film thickness was 500 °. Then, the first electrode layer 16 made of palladium metal is formed on the surface of the base material.
Was formed by a sputtering method. The film thickness was 500 °. Thereafter, a fine hole serving as the first connection hole 14 was formed with a diameter of 2 mm from the first electrode layer side (FIG. 3).
【0025】各成膜条件は次のとおりである。 <第3電極層形成> (スパッタ条件) 成膜温度 : 300°C スパッタ圧力 : 5mTorr DCパワー : 2.5kw Ar流量 : 100sccm 堆積速度 : 10Å/sec (パターニング) パターン形成法: マスクデポジション法 マスクパターン形状: ストライプ状(ラインアンドスペース) (図1の形状において分離線19間100mm、分離線幅20mm) <第1電極層形成> (スパッタ条件) 成膜温度 : 300°C スパッタ圧力 : 5mTorr DCパワー : 2.0kw Ar流量 : 100sccm 堆積速度 : 8Å/secThe respective film forming conditions are as follows. <Formation of Third Electrode Layer> (Sputtering conditions) Film forming temperature: 300 ° C. Sputter pressure: 5 mTorr DC power: 2.5 kW Ar flow rate: 100 sccm Deposition rate: 10 ° / sec (patterning) Pattern forming method: mask deposition method mask Pattern shape: Stripe shape (line and space) (100 mm between separation lines 19, separation line width 20 mm in the shape of FIG. 1) <Formation of first electrode layer> (Sputtering conditions) Film formation temperature: 300 ° C. Sputter pressure: 5 mTorr DC Power: 2.0 kw Ar flow rate: 100 sccm Deposition rate: 8Å / sec
【0026】その後、基材を真空炉中に導入して、CV
D法により、a−Si:H層20を第1電極層であるパ
ラジウム金属層上に積層して形成した。a−Si:H層
は、基板側から最初に、P(燐)ドープによるn型の
a−Si:H(n)層を形成し、ノンドープのi型の
a−Si:H(i)層を形成し、最後に、B(ほう
素)ドープによるp型のa−Si:H(p)層を形成す
ることにより行った(図4)。Thereafter, the substrate is introduced into a vacuum furnace, and the CV
The a-Si: H layer 20 was formed by lamination on the palladium metal layer as the first electrode layer by Method D. The a-Si: H layer is formed by first forming an n-type a-Si: H (n) layer by P (phosphorus) doping from the substrate side, and then forming a non-doped i-type a-Si: H (i) layer. And finally forming a p-type a-Si: H (p) layer by B (boron) doping (FIG. 4).
【0027】各成膜条件は次のとおりである。 (Pドープa−Si:H(n層)成膜条件) 成膜温度 : 300°C a−Si:H/H2 /PH3 流量 : 10sccm/30sccm/10sccm 成膜圧力 : 50mTorr RFパワー: 50W 堆積速度 : 10Å/sec 膜 厚 : 500Å (a−Si:H(i層)成膜条件) 成膜温度 : 300°C a−Si:H/H2 流量:10sccm/50sccm 成膜圧力 : 50mTorr RFパワー: 50W 堆積速度 : 10Å/sec 膜 厚 : 3000Å (B2 H6 ドープa−Si:H(p層)成膜条件) 成膜温度 : 300°C a−Si:H/H2 流量/B2 H6 : 10sccm/30sccm/5sccm 成膜圧力 : 50mTorr RFパワー: 50W 堆積速度 : 10Å/sec 膜 厚 : 300ÅThe respective film forming conditions are as follows. (P-doped a-Si: H (n layer) film forming conditions) Film forming temperature: 300 ° C. a-Si: H / H 2 / PH 3 Flow rate: 10 sccm / 30 sccm / 10 sccm Film forming pressure: 50 mTorr RF power: 50 W Deposition rate: 10 ° / sec Film thickness: 500 ° (a-Si: H (i-layer) film forming conditions) Film forming temperature: 300 ° C. a-Si: H / H 2 flow rate: 10 sccm / 50 sccm Film forming pressure: 50 mTorr RF Power: 50 W Deposition rate: 10Å / sec Film thickness: 3000Å (B 2 H 6 -doped a-Si: H (p layer) film formation conditions) Film formation temperature: 300 ° C. a-Si: H / H 2 flow rate / B 2 H 6 : 10 sccm / 30 sccm / 5 sccm Film forming pressure: 50 mTorr RF power: 50 W Deposition rate: 10 ° / sec Film thickness: 300 °
【0028】<第2電極層形成>a−Si:H層20上
に、ITOによる透明な第2電極層26を反応性スパッ
タリング法により全面に形成した。成膜条件は以下のと
おりである。 (スパッタ条件) ターゲット: In2 O3 −SnO2 焼結ターゲット (SnO2 :10wt%) 成膜温度 : 250°C 成膜圧力 : 5mTorr DCパワー: 2.0kW Ar/O2 流量:100sccm/3sccm 堆積速度 : 10Å/sec 膜 厚 : 1000Å<Formation of Second Electrode Layer> A transparent second electrode layer 26 of ITO was formed on the entire surface of the a-Si: H layer 20 by a reactive sputtering method. The film forming conditions are as follows. (Sputtering conditions) Target: In 2 O 3 -SnO 2 sintered target (SnO 2 : 10 wt%) Film forming temperature: 250 ° C. Film forming pressure: 5 mTorr DC power: 2.0 kW Ar / O 2 Flow rate: 100 sccm / 3 sccm Deposition rate: 10Å / sec Film thickness: 1000Å
【0029】<パターン形成>パラジウム金属第1電極
層、a−Si:H層、透明第2電極層に対して以下のよ
うにパターン形成を行った(図5、図6、図7、図
8)。赤熱したニクロム線(φ:0.5mm)を第2電
極層(ITO)の表面に接触させると、第1電極層のパ
ラジウム金属は、微細な細片となって、ポリイミドフィ
ルム基材上に浮上し、軽い振動を与えると(またはブラ
シで払拭すると)当該層上に形成されたa−Si:H
層、第2電極層とともに剥離した。これにより分離線1
8により単位セルに分離された薄膜太陽電池とすること
ができた。<Pattern formation> Pattern formation was performed on the palladium metal first electrode layer, a-Si: H layer, and transparent second electrode layer as follows (FIGS. 5, 6, 7, and 8). ). When a red-hot nichrome wire (φ: 0.5 mm) is brought into contact with the surface of the second electrode layer (ITO), the palladium metal of the first electrode layer becomes fine strips and floats on the polyimide film substrate. When a slight vibration is applied (or wiped with a brush), the a-Si: H
The layer and the second electrode layer were peeled off. Thereby, the separation line 1
8, a thin-film solar cell separated into unit cells was obtained.
【0030】<SNX 膜の形成>最後にパッシベーショ
ン膜32としてCVD法による真空成膜法によりSNX
膜を形成して薄膜太陽電池を完成した(図9)。なお、
成膜条件は以下のとおりである。 (パッシベーション膜成膜条件) 成膜温度 : 250°C a−Si:H/N2 /NH3 流量 : 30sccm/500sccm/50sccm 成膜圧力 : 30mTorr RFパワー: 250W 堆積速度 : 25Å/sec 膜 厚 : 500Å[0030] <SN X film formation> last SN X by vacuum deposition by the CVD method as a passivation film 32
A thin film solar cell was completed by forming a film (FIG. 9). In addition,
The film forming conditions are as follows. (Passivation film deposition conditions) Deposition temperature: 250 ° C a-Si: H / N 2 / NH 3 Flow rate: 30 sccm / 500 sccm / 50 sccm Deposition pressure: 30 mTorr RF power: 250 W Deposition rate: 25 ° / sec Film thickness: 500Å
【0031】図10は、アモルファスシリコン層を示す
図である。この部分が光電変換層となる部分で、基板側
からn型アモルファスシリコン層20n、i型アモルフ
ァスシリコン層20i、p型アモルファスシリコン層2
0pが積層されている。太陽光は透明導電膜を透過して
光子が吸収され、一対の電子と正孔ができるが、シリコ
ン基板内部に存在する電界によって電子はn型へ、正孔
はp型へ移動するため、n型からp型へ向かう電流が生
じる。この電流を外部にとり出して利用する。FIG. 10 is a diagram showing an amorphous silicon layer. This portion is to be a photoelectric conversion layer. From the substrate side, an n-type amorphous silicon layer 20n, an i-type amorphous silicon layer 20i, and a p-type amorphous silicon layer 2
0p are stacked. Sunlight penetrates the transparent conductive film, absorbs photons, and forms a pair of electrons and holes. However, electrons move to n-type and holes move to p-type due to an electric field existing inside the silicon substrate. A current flows from the mold to the p-type. This current is taken out and used.
【0032】上記で作製された薄膜太陽電池にAM−1
(赤道上での太陽輻射スペクトルを再現した標準光源)
を照射したところ、初期における太陽電池変換効率は8
%であった。AM-1 was added to the thin-film solar cell prepared above.
(Standard light source that reproduces the solar radiation spectrum on the equator)
Irradiation, the initial solar cell conversion efficiency was 8
%Met.
【0033】[0033]
【発明の効果】以上のとおり、本発明の薄膜太陽電池は
水素吸蔵性金属であるパラジウムを使用しているのでパ
ターン化が容易である。また本発明の形成法によれば、
化学エッチングやレーザーパターニングのプロセスを必
要としないでパラジウムの特性を利用して薄膜のパター
ン形成が容易になり、工程数が大幅に削減され、設備投
資、生産コスト、歩留りが改善され、太陽電池のコスト
の低減に貢献できる。As described above, since the thin-film solar cell of the present invention uses palladium, which is a hydrogen storage metal, patterning is easy. According to the formation method of the present invention,
Utilizing the properties of palladium without the need for chemical etching or laser patterning processes, the patterning of thin films is facilitated, the number of steps is greatly reduced, and capital investment, production costs and yields are improved, It can contribute to cost reduction.
【図1】 本発明の薄膜太陽電池の一例を示す平面図で
ある。FIG. 1 is a plan view showing an example of a thin-film solar cell of the present invention.
【図2】 本発明の薄膜太陽電池を示す断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a thin-film solar cell of the present invention.
【図3】 本発明の薄膜太陽電池形成の第1工程を示す
図である。FIG. 3 is a view showing a first step of forming a thin-film solar cell of the present invention.
【図4】 本発明の薄膜太陽電池形成の第2工程を示す
図である。FIG. 4 is a view showing a second step of forming the thin-film solar cell of the present invention.
【図5】 本発明の薄膜太陽電池形成の第3工程を示す
図である。FIG. 5 is a view showing a third step of forming the thin-film solar cell of the present invention.
【図6】 本発明の薄膜太陽電池形成の第4工程を示す
図である。FIG. 6 is a view showing a fourth step of forming the thin-film solar cell of the present invention.
【図7】 本発明の薄膜太陽電池形成の第5工程を示す
図である。FIG. 7 is a view showing a fifth step of forming the thin-film solar cell of the present invention.
【図8】 本発明の薄膜太陽電池形成の第6工程を示す
図である。FIG. 8 is a view showing a sixth step of forming the thin-film solar cell of the present invention.
【図9】 本発明の薄膜太陽電池形成の第7工程を示す
図である。FIG. 9 is a view showing a seventh step of forming the thin-film solar cell of the present invention.
【図10】 アモルファスシリコン層を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an amorphous silicon layer.
【図11】 薄膜太陽電池形成の従来工程を示す図であ
る。FIG. 11 is a view showing a conventional process of forming a thin-film solar cell.
11 基材 14 第1接続孔 15 第2接続孔 16 第1電極層 18 分離線 19 分離線 20 アモルファスシリコン層 26 第2電極層 32 パッシベーション膜 36 第3電極層 41 基材 42 電極層 43 レジスト膜 44 アモルファスシリコン層 45 透明導電膜 46 パッシベーション膜 Reference Signs List 11 base material 14 first connection hole 15 second connection hole 16 first electrode layer 18 separation line 19 separation line 20 amorphous silicon layer 26 second electrode layer 32 passivation film 36 third electrode layer 41 base material 42 electrode layer 43 resist film 44 Amorphous silicon layer 45 Transparent conductive film 46 Passivation film
Claims (4)
ァスシリコン層、透明な第2電極層を基材側から順に形
成した薄膜太陽電池において、当該第1電極層に熱印加
によりパターン形成されたパラジウム層を用いたことを
特徴とするアモルファスシリコン薄膜太陽電池。1. A thin-film solar cell in which a first electrode layer, an amorphous silicon layer, and a transparent second electrode layer are sequentially formed on an insulating substrate from the substrate side, and the first electrode layer is patterned by applying heat. An amorphous silicon thin film solar cell using the formed palladium layer.
ァスシリコン層、透明な第2電極層を基材側から順に形
成し、絶縁性基材の反対面に第3電極層が設けられ、第
3電極層が第2電極層と、基材、第1電極層およびアモ
ルファスシリコン光電変換層を貫通する第1の接続孔を
通じ、第1電極層とは絶縁された状態で接続され、第3
電極層の第2電極層と接続される領域とは分離された領
域において、第3電極層が第1電極層と、少なくとも基
材を貫通する第2の接続孔を通じて接続されている薄膜
太陽電池において、当該第1電極層に熱印加によりパタ
ーン形成されたパラジウム層を用いたことを特徴とする
アモルファスシリコン薄膜太陽電池。2. A first electrode layer, an amorphous silicon layer, and a transparent second electrode layer are sequentially formed on an insulating substrate from the substrate side, and a third electrode layer is provided on the opposite surface of the insulating substrate. A third electrode layer is connected to the second electrode layer in a state of being insulated from the first electrode layer through a first connection hole penetrating the base material, the first electrode layer, and the amorphous silicon photoelectric conversion layer; Third
A thin-film solar cell in which the third electrode layer is connected to the first electrode layer at least through a second connection hole penetrating the base material in a region of the electrode layer separated from a region connected to the second electrode layer. 3. The amorphous silicon thin film solar cell according to claim 1, wherein a palladium layer patterned by applying heat is used for the first electrode layer.
ジウムを堆積し、当該第1電極層上に、アモルファスシ
リコン層をはさんで、透明な第2電極層を設けた後、第
1電極層のパラジウム層にアモルファスシリコン層の水
素を拡散させるとともに熱印加して当該パラジウム薄層
を脆弱化して剥離させ、同時に当該パラジウム層上のア
モルファスシリコン層と透明な第2電極を剥離してパタ
ーニングを行う工程を含むことを特徴とするアモルファ
スシリコン薄膜太陽電池の形成法。3. After depositing palladium to be a first electrode layer on an insulating base material and providing a transparent second electrode layer on the first electrode layer with an amorphous silicon layer interposed therebetween, Hydrogen of the amorphous silicon layer is diffused into the palladium layer of the first electrode layer and heat is applied to weaken the thin palladium layer and separate it, and simultaneously separate the amorphous silicon layer on the palladium layer and the transparent second electrode. A method of forming an amorphous silicon thin film solar cell, comprising the step of performing patterning by using
ジウムを堆積し、当該第1電極層上に、アモルファスシ
リコン層をはさんで、透明な第2電極層を設け、絶縁性
基材の反対面に第3電極層を設け、基材、第1電極層お
よびアモルファスシリコン層を貫通する第1の接続孔を
通じて第3電極層と第2電極層とが第1電極層とは絶縁
された状態で接続し、当該第3電極層と第2電極層とが
接続される領域とは分離された領域において、第3電極
層と第1電極層が、少なくとも基材を貫通する第2の接
続孔を通じて接続されている薄膜太陽電池の形成法にお
いて、第1電極層のパラジウム層にアモルファスシリコ
ン層の水素を拡散させるとともに熱印加して当該パラジ
ウム薄層を脆弱化して剥離させ、同時に当該パラジウム
層上のアモルファスシリコン層と透明な第2電極を剥離
してパターニングを行う工程を含むことを特徴とするア
モルファスシリコン薄膜太陽電池の形成法。4. A palladium layer serving as a first electrode layer is deposited on an insulating base material, and a transparent second electrode layer is provided on the first electrode layer with an amorphous silicon layer interposed therebetween. A third electrode layer is provided on the opposite surface of the substrate, and the third electrode layer and the second electrode layer are connected to each other through a first connection hole penetrating the substrate, the first electrode layer, and the amorphous silicon layer. The third electrode layer and the first electrode layer are connected in an insulated state, and in a region separated from a region where the third electrode layer and the second electrode layer are connected, the third electrode layer and the first electrode layer penetrate at least the base material. In the method for forming a thin-film solar cell connected through the two connection holes, hydrogen of the amorphous silicon layer is diffused into the palladium layer of the first electrode layer, and heat is applied to weaken the palladium thin layer to separate it. Amorphous on the palladium layer A method for forming an amorphous silicon thin film solar cell, comprising a step of patterning by peeling a silicon layer and a transparent second electrode.
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---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009104561A1 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | シャープ株式会社 | Solar cell and method for manufacturing solar cell |
JP2013051426A (en) * | 2007-09-24 | 2013-03-14 | Qualcomm Mems Technologies Inc | Interferometric photovoltaic cell |
-
1998
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Cited By (4)
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JP2013051426A (en) * | 2007-09-24 | 2013-03-14 | Qualcomm Mems Technologies Inc | Interferometric photovoltaic cell |
WO2009104561A1 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | シャープ株式会社 | Solar cell and method for manufacturing solar cell |
JP5203397B2 (en) * | 2008-02-21 | 2013-06-05 | シャープ株式会社 | Manufacturing method of solar cell |
US9054254B2 (en) | 2008-02-21 | 2015-06-09 | Sharp Kabushiki Kaisha | Solar cell and method of manufacturing solar cell |
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