JPH11329751A - Manufacture of organic light emitting element - Google Patents

Manufacture of organic light emitting element

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Publication number
JPH11329751A
JPH11329751A JP11070351A JP7035199A JPH11329751A JP H11329751 A JPH11329751 A JP H11329751A JP 11070351 A JP11070351 A JP 11070351A JP 7035199 A JP7035199 A JP 7035199A JP H11329751 A JPH11329751 A JP H11329751A
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JP
Japan
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electrode
layer
electrodes
organic light
insulator layer
Prior art date
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Application number
JP11070351A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Sukeyuki Fujii
祐行 藤井
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH11329751A publication Critical patent/JPH11329751A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method capable of manufacturing, with a simple process, an organic light emitting element which can uniformly and stably emit light throughout each picture element region interposed between a first electrode and a second electrode and of which second electrode is hardly damaged. SOLUTION: This manufacturing method for an organic light emitting element wherein an organic electroluminescent layer 7 is formed between first electrodes 2 and second electrodes 6 forms the first electrodes 2 on the main surface of a board, and thereafter forms an insulation layer 8 on the first electrodes 2 and regions among the first electrodes 2 so as to cover the first electrodes 2 in a manner that makes its surface substantially flat, removes the surface of the insulation layer 8 until the clean surfaces of the first electrodes 2 are exposed to make the surface of the insulation layer 8 flush with the surfaces of the first electrodes 2, and thereafter forms an organic electroluminescent layer 7 and the second electrodes 6 on them.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、有機物質のエレク
トロ・ルミネッセンス(EL)現象を利用した有機発光
素子の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an organic light emitting device using an electroluminescence (EL) phenomenon of an organic substance.

【0002】[0002]

【従来の技術】電界発光(エレクトロ・ルミネッセン
ス)素子としては、有機電界発光素子と無機電界発光素
子とが知られており、特に有機電界発光素子は低い電圧
で駆動することができるので、近年ディスプレイとして
使用されるようになってきている。
2. Description of the Related Art Organic electroluminescent elements and inorganic electroluminescent elements are known as electroluminescent (electroluminescent) elements. In particular, organic electroluminescent elements can be driven at a low voltage. It is being used as.

【0003】図4は、有機電界発光素子を用いたディス
プレイを示す断面図である。ガラス基板1の上には、図
4の紙面に対して垂直方向に延びる複数の帯状の透明電
極2がそれぞれ平行になるように形成されている。この
透明電極2が第1電極となる。透明電極2を含む基板1
の上の全面には、有機電界発光層7が形成されている。
有機電界発光層7の上には、透明電極2と交叉するよう
に複数の帯状の第2電極である背面電極6が形成されて
いる。透明電極2と背面電極6とに挟まれることにより
1つのELセルが形成され、これが1画素となってい
る。
FIG. 4 is a sectional view showing a display using an organic electroluminescent device. A plurality of strip-shaped transparent electrodes 2 extending in a direction perpendicular to the paper surface of FIG. 4 are formed on the glass substrate 1 so as to be parallel to each other. This transparent electrode 2 becomes the first electrode. Substrate 1 including transparent electrode 2
The organic electroluminescent layer 7 is formed on the entire surface of the substrate.
On the organic electroluminescent layer 7, a plurality of strip-shaped second electrodes, ie, rear electrodes 6, are formed so as to cross the transparent electrodes 2. One EL cell is formed by being sandwiched between the transparent electrode 2 and the back electrode 6, and this constitutes one pixel.

【0004】有機電界発光層7は、有機質ホール注入輸
送層、発光層、及び有機質電子注入輸送層が順次積層す
ることにより構成されている。透明電極2の厚みに比
べ、有機電界発光層7の厚みはそれ程厚くないため、図
4に示すように、透明電極2のエッジ部において、背面
電極6との間で挟まれる有機電界発光層7の部分、すな
わち図4にN部として示す部分の厚みが薄くなる。特
に、有機電界発光層7を真空蒸着法などのドライプロセ
スで積層して形成した場合に有機電界発光層7が透明電
極2の凹凸に沿って形成されるため、N部の厚みが薄く
なる。透明電極2の中央部にあるM部では有機電界発光
層7の厚みが厚く抵抗が大きくなる。この結果、画素の
領域のうち、厚みの薄いN部では、厚みの厚いM部に比
べ、より大きな電流が流れる。従って、有機電界発光層
7のN部が明るく発光するようになり、発光が不均一に
なると共に、耐電圧性が低下する。
[0004] The organic electroluminescent layer 7 is constituted by sequentially laminating an organic hole injecting and transporting layer, a light emitting layer, and an organic electron injecting and transporting layer. Since the thickness of the organic electroluminescent layer 7 is not so large as compared with the thickness of the transparent electrode 2, the organic electroluminescent layer 7 sandwiched between the back electrode 6 and the edge of the transparent electrode 2 as shown in FIG. , That is, the thickness of the portion shown as N in FIG. 4 is reduced. Particularly, when the organic electroluminescent layer 7 is formed by laminating by a dry process such as a vacuum deposition method, the organic electroluminescent layer 7 is formed along the unevenness of the transparent electrode 2, so that the thickness of the N portion is reduced. In the portion M at the center of the transparent electrode 2, the thickness of the organic electroluminescent layer 7 is large and the resistance is large. As a result, a larger current flows in the thin portion N in the pixel region than in the thick portion M. Therefore, the N portion of the organic electroluminescent layer 7 emits light brightly, the light emission becomes non-uniform, and the withstand voltage decreases.

【0005】また、図4に示すように、背面電極6の表
面にも凹凸が生じるため、背面電極6の凸部が損傷を受
けたり、背面電極6に亀裂が入ったりする場合もある。
このような問題を解決する方法として、電極が埋め込ま
れた平坦な表面の上に有機電界発光層を形成する方法が
考えられる。特開昭57−185607号公報には、表
面が平坦なパターン電極を形成する方法が開示されてい
る。
Further, as shown in FIG. 4, since the surface of the back electrode 6 also has irregularities, the projection of the back electrode 6 may be damaged or the back electrode 6 may be cracked.
As a method of solving such a problem, a method of forming an organic electroluminescent layer on a flat surface in which electrodes are embedded can be considered. JP-A-57-185607 discloses a method of forming a pattern electrode having a flat surface.

【0006】図5は、該公報に開示されたパターン電極
の製造工程を示す断面図である。図5(a)に示すよう
に、ガラス基板1の上に透明電極2を形成する。次に、
図5(b)に示すように、透明電極2の上に、パターニ
ングされたフォトレジスト9を形成し、図5(c)に示
すように、エッチング液を用いるウェットプロセスによ
って、フォトレジスト9をマスクとして、透明電極2を
エッチングすることによりパターニングする。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a manufacturing process of the pattern electrode disclosed in the publication. As shown in FIG. 5A, a transparent electrode 2 is formed on a glass substrate 1. next,
As shown in FIG. 5B, a patterned photoresist 9 is formed on the transparent electrode 2, and as shown in FIG. 5C, the photoresist 9 is masked by a wet process using an etchant. Then, the transparent electrode 2 is patterned by etching.

【0007】次に、図5(d)に示すように、絶縁物層
8を透明電極2の上及びそれ以外の領域のガラス基板1
の上に形成する。絶縁物層8の厚みは、透明電極2の厚
みとほぼ同じになるように形成する。
Next, as shown in FIG. 5D, an insulating layer 8 is applied to the glass substrate 1 on the transparent electrode 2 and other areas.
On top of. The thickness of the insulator layer 8 is formed to be substantially the same as the thickness of the transparent electrode 2.

【0008】該公報によれば、剥離液を侵入させるかあ
るいはプラズマエッチング等により、フォトレジスト9
の上の絶縁物層8をフォトレジスト9と共に除去するこ
とにより、図5(e)に示すような平坦な表面を有する
パターン電極を形成することができる。
According to the publication, a photoresist 9 is introduced by infiltrating a stripping solution or by plasma etching or the like.
By removing the insulator layer 8 on the substrate together with the photoresist 9, a pattern electrode having a flat surface as shown in FIG. 5E can be formed.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際に
は、プラズマエッチングによって、フォトレジスト9上
の絶縁物層8をフォトレジスト9と共に除去する方法
は、以下の理由により不可能であると考えられる。
However, in practice, it is considered impossible to remove the insulator layer 8 on the photoresist 9 together with the photoresist 9 by plasma etching for the following reasons.

【0010】すなわち、透明電極2の上にはフォトレジ
スト9と絶縁物層8が積層されており、その合計の厚み
は、透明電極2が設けられていないガラス基板1上の絶
縁物層8の厚みよりも厚くなる。従って、透明電極2上
の絶縁物層8及びフォトレジスト9を共にプラズマエッ
チングで除去すると、透明電極2が設けられていないガ
ラス基板1上の絶縁物層8も除去されてしまい。図5
(e)に示すような平坦な表面を有するパターン電極を
形成することができない。
That is, a photoresist 9 and an insulating layer 8 are laminated on the transparent electrode 2, and the total thickness thereof is equal to the thickness of the insulating layer 8 on the glass substrate 1 on which the transparent electrode 2 is not provided. It becomes thicker than the thickness. Therefore, if both the insulating layer 8 and the photoresist 9 on the transparent electrode 2 are removed by plasma etching, the insulating layer 8 on the glass substrate 1 on which the transparent electrode 2 is not provided is also removed. FIG.
A pattern electrode having a flat surface as shown in (e) cannot be formed.

【0011】従って、透明電極2上の絶縁物層8及びフ
ォトレジスト9を除去するには、剥離液を用いる必要が
ある。剥離液を用いた場合、透明電極2の表面に微量の
不純物が残留し易く、この上に有機質電荷注入輸送層を
形成すると、その不純物によって透明電極から有機質電
荷注入輸送層への電荷の注入が阻害され、特性が劣化す
るという問題があった。なお、このような不純物として
は、フォトレジストに含まれる高分子量の成分や、剥離
液に含まれる水分その他の不純物が挙げられ、この不純
物が透明電極の表面に物理的及び/または化学的に吸着
される。
Therefore, in order to remove the insulating layer 8 and the photoresist 9 on the transparent electrode 2, it is necessary to use a stripper. When a stripping solution is used, a trace amount of impurities easily remains on the surface of the transparent electrode 2. When an organic charge injecting and transporting layer is formed thereon, charge injection from the transparent electrode to the organic charge injecting and transporting layer is caused by the impurities. There is a problem that the characteristics are hindered and the characteristics are deteriorated. Examples of such impurities include a high molecular weight component contained in the photoresist, moisture and other impurities contained in the stripping solution, and these impurities are physically and / or chemically adsorbed on the surface of the transparent electrode. Is done.

【0012】従って、上記公報に開示された方法では、
剥離液を用いて平坦なパターン電極を形成した後、透明
電極の表面の微量の不純物を除去するための工程を設け
る必要があり、有機発光素子の製造工程が複雑になり、
費用も増大するという問題があった。
Therefore, in the method disclosed in the above publication,
After forming a flat pattern electrode using a stripping solution, it is necessary to provide a process for removing a small amount of impurities on the surface of the transparent electrode, the manufacturing process of the organic light emitting device becomes complicated,
There was a problem that the cost also increased.

【0013】本発明の目的は、第1電極と第2電極とに
挟まれる画素の領域全体に渡って、均一にかつ安定して
発光させることができ、第2電極が損傷を受け難い有機
発光素子を簡易な工程で製造することができる製造方法
を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an organic light emitting device that can uniformly and stably emit light over the entire region of a pixel sandwiched between a first electrode and a second electrode, and in which the second electrode is hardly damaged. An object of the present invention is to provide a manufacturing method capable of manufacturing an element by a simple process.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の製造方法は、基
板の主面上に複数の帯状の第1電極を互いに離間して形
成する工程と、第1電極を覆うように、第1電極の上及
び第1電極間の領域の上に、その表面が実質的に平坦に
なるように絶縁物層を形成する工程と、絶縁物層の表面
を第1電極の清浄な表面が露出するまで除去し、絶縁物
層の表面と第1電極の表面とを一致させる工程と、除去
後の絶縁物層及び露出した第1電極の上に有機電界発光
層を形成する工程と、有機電界発光層の上に第2電極を
形成する工程とを備えている。
According to the manufacturing method of the present invention, a plurality of strip-shaped first electrodes are formed on a main surface of a substrate at a distance from each other, and the first electrodes are formed so as to cover the first electrodes. Forming an insulator layer on the surface of the first electrode and the region between the first electrodes so that the surface thereof is substantially flat, and removing the surface of the insulator layer until a clean surface of the first electrode is exposed. Removing, making the surface of the insulator layer coincide with the surface of the first electrode; forming the organic electroluminescent layer on the insulator layer after the removal and the exposed first electrode; Forming a second electrode on the substrate.

【0015】本発明において、絶縁物層は、好ましく
は、絶縁性の高分子から形成される。絶縁性の高分子と
しては、加熱により流動性となる物質が好ましく、熱可
塑性樹脂、熱硬化性樹脂及び光硬化性樹脂が好ましく用
いられる。絶縁物層を絶縁性の高分子から形成すること
により、有機発光素子を製造した後、低分子物質を用い
た場合に比べ、絶縁物層の経時変化が少なく、寿命の長
い有機発光素子とすることができる。
In the present invention, the insulator layer is preferably formed from an insulating polymer. As the insulating polymer, a substance which becomes fluid when heated is preferable, and a thermoplastic resin, a thermosetting resin, and a photocurable resin are preferably used. After the organic light-emitting device is manufactured by forming the insulator layer from an insulating polymer, compared to the case of using a low-molecular substance, the insulator layer has less change with time and has a long life. be able to.

【0016】絶縁性の高分子からなる絶縁物層を形成す
る方法として、絶縁性の高分子を溶融した液体を第1電
極を覆うように付着させた後、これを冷却凝固すること
により絶縁物層を形成する方法が挙げられる。具体的に
は、第1電極の上に、高分子を溶融させた液体をキャス
ティングすることにより第1電極を覆うように付着させ
絶縁物層を形成することができる。
As a method of forming an insulating layer made of an insulating polymer, a liquid in which the insulating polymer is melted is applied so as to cover the first electrode, and then the solid is cooled and solidified. A method for forming a layer is given. Specifically, an insulating layer can be formed by casting a liquid obtained by melting a polymer on the first electrode so as to cover the first electrode so as to cover the first electrode.

【0017】絶縁性の高分子を用いて絶縁物層を形成す
る他の方法としては、高分子を溶媒で溶解した溶液を、
第1電極の上にキャスティングした後、溶媒を除去する
ことにより絶縁物層を形成する方法が挙げられる。
As another method for forming an insulating layer using an insulating polymer, a solution obtained by dissolving a polymer in a solvent is used.
After casting on the first electrode, the solvent is removed to form an insulator layer.

【0018】本発明においては、絶縁物層の屈折率が、
透明電極の屈折率よりも小さくなるように、絶縁物層を
形成する物質が選ばれることが好ましい。例えば、IT
Oにより形成した透明電極の屈折率が1.9である場合
には、屈折率1.9未満の物質から絶縁物層を形成する
ことが好ましい。絶縁物層の屈折率は、透明電極の屈折
率よりも3%以上小さいことが好ましく、10%以上小
さいことがより好ましく、15%以上小さいことがさら
に好ましい。
In the present invention, the refractive index of the insulating layer is
It is preferable that a material forming the insulator layer be selected so that the refractive index is smaller than the refractive index of the transparent electrode. For example, IT
When the transparent electrode formed of O has a refractive index of 1.9, it is preferable to form the insulator layer from a substance having a refractive index of less than 1.9. The refractive index of the insulator layer is preferably 3% or less, more preferably 10% or less, even more preferably 15% or more less than the refractive index of the transparent electrode.

【0019】絶縁物層の屈折率を第1電極の屈折率より
も小さくすることにより、発光層から放出される光が第
1電極に導かれる効率が向上する。また、第1電極に導
かれた光は、絶縁物層へ漏れ出すことなく、基板を介し
て放出されるので、光の取出し効率が向上し、消費電力
の小さい有機発光素子とすることができる。
By making the refractive index of the insulating layer smaller than the refractive index of the first electrode, the efficiency with which light emitted from the light emitting layer is guided to the first electrode is improved. In addition, light guided to the first electrode is emitted through the substrate without leaking to the insulating layer, so that light extraction efficiency is improved and an organic light-emitting element with low power consumption can be obtained. .

【0020】本発明において、絶縁物層を除去する工程
は、酸素を含む雰囲気中での紫外線照射によるエッチン
グにより行われることが好ましい。このようなエッチン
グにおいては、第1電極の表面に付着または吸着した絶
縁物及び不純物を、紫外線照射により光励起し、酸素と
反応させて酸化分解することができる。従って、第1電
極の表面を非常に清浄な状態にすることができる。
In the present invention, the step of removing the insulator layer is preferably performed by etching by irradiation with ultraviolet rays in an atmosphere containing oxygen. In such etching, insulators and impurities adhering or adsorbing to the surface of the first electrode can be photo-excited by irradiation with ultraviolet rays, and can be oxidatively decomposed by reacting with oxygen. Therefore, the surface of the first electrode can be made very clean.

【0021】上記紫外線照射によるエッチング、または
プラズマエッチング等のドライエッチングを行う際の雰
囲気は、オゾン濃度が0.01g/m3 以上であること
が好ましい。このようなオゾン濃度とすることにより、
第1電極の表面に付着または吸着した絶縁物及び不純物
の酸化分解を促進することができ、速い速度で第1電極
の表面を清浄化することができる。
It is preferable that the atmosphere at the time of performing the etching by the ultraviolet irradiation or the dry etching such as the plasma etching has an ozone concentration of 0.01 g / m 3 or more. With such an ozone concentration,
Oxidative decomposition of insulators and impurities attached or adsorbed to the surface of the first electrode can be promoted, and the surface of the first electrode can be cleaned at a high speed.

【0022】第1電極に直接に接する有機電界発光層を
構成する層(例えば、有機質ホール注入輸送層)の物質
のイオン化ポテンシャルと、第1電極のイオン化ポテン
シャルの差が小さいほど、第1電極から、第1電極に直
接に接する有機電界発光層中の層へのキャリアーの注入
が容易になることが、物質間の電子移動の一般的な理論
から推定される。従って、第1電極に直接に接する有機
電界発光層中の層のイオン化ポテンシャルとの差が小さ
くなるように、上記第1電極のエッチングを行うことに
より、第1電極の表面を第1電極に直接に接する有機電
界発光層中の層へのキャリアーの注入に適した状態とす
ることができ、駆動電圧の低い有機発光素子とすること
ができる。第1電極に直接に接する有機質ホール注入輸
送層等の有機電界発光層を構成する層の物質のイオン化
ポテンシャルと、第1電極のイオン化ポテンシャルの差
は、0.3エレクトロンボルト以下とするのが好まし
く、0.2エレクトロンボルト以下とするのがより好ま
しい。
The smaller the difference between the ionization potential of the material of the layer constituting the organic electroluminescent layer (for example, the organic hole injecting and transporting layer) and the ionization potential of the first electrode, the smaller the distance from the first electrode. The fact that it is easy to inject carriers into a layer in the organic electroluminescent layer that is in direct contact with the first electrode is presumed from a general theory of electron transfer between substances. Therefore, the first electrode is etched so that the difference from the ionization potential of the layer in the organic electroluminescent layer directly in contact with the first electrode is reduced, so that the surface of the first electrode is directly in contact with the first electrode. A state suitable for injecting carriers into a layer in the organic electroluminescent layer in contact with the organic light emitting layer can be obtained, and an organic light emitting element having a low driving voltage can be obtained. The difference between the ionization potential of the material of the layer constituting the organic electroluminescent layer such as the organic hole injection / transport layer directly in contact with the first electrode and the ionization potential of the first electrode is preferably 0.3 electron volts or less. , 0.2 electron volts or less.

【0023】また、上記エッチングは、第1電極のイオ
ン化ポテンシャルの絶対値が、4.7エレクトロンボル
ト以上となるように行われることが好ましく、4.8エ
レクトロンボルト以上となるように行われることがより
好ましい。この第1電極のイオン化ポテンシャルの絶対
値は、真空順位の値を基準値の0とするときの値であ
る。
The etching is preferably performed so that the absolute value of the ionization potential of the first electrode is 4.7 electron volts or more, and more preferably 4.8 electron volts or more. More preferred. The absolute value of the ionization potential of the first electrode is a value when the value of the vacuum order is set to 0 as a reference value.

【0024】本発明においては、絶縁物層の除去を、プ
ラズマエッチングによって行ってもよい。本発明におけ
る有機電界発光層は、例えば、発光層と、有機質ホール
注入輸送層及び/または有機質電子注入輸送層とを備え
ている。具体的には、有機質ホール注入輸送層、発光
層、及び有機質電子注入輸送層を積層した3層構造のも
のや、有機質ホール注入輸送層と発光層からなる2層構
造のものや、発光層と有機質電子注入輸送層からなる2
層構造のものなどが挙げられる。また、4層以上の多層
構造のものであってもよい。
In the present invention, the insulating layer may be removed by plasma etching. The organic electroluminescent layer in the present invention includes, for example, a light emitting layer, and an organic hole injection / transport layer and / or an organic electron injection / transport layer. Specifically, a three-layer structure in which an organic hole injecting and transporting layer, a light emitting layer, and an organic electron injecting and transporting layer are stacked, a two-layer structure including an organic hole injecting and transporting layer and a light emitting layer, and a light emitting layer 2 consisting of an organic electron injection / transport layer
Those having a layer structure are exemplified. Further, it may have a multilayer structure of four or more layers.

【0025】本発明の有機発光素子は、従来から公知の
種々の駆動方式を採用することができる。例えば、単純
マトリックス方式であってもよいし、TFTによるアク
ティブマトリックス方式であってもよい。
The organic light emitting device of the present invention can employ various known driving methods. For example, a simple matrix system or an active matrix system using TFTs may be used.

【0026】単純マトリックス方式の有機発光素子の場
合、基板上に形成される第1電極は、複数の帯状の電極
として形成される。また、第2電極は、第1電極と実質
的に垂直な方向に延びる複数の帯状の電極となるように
形成される。この場合、絶縁物層の表面と第1電極の表
面を一致させる工程の後で、特開平8−315981号
公報に開示された公知の方法に従って、第1電極を露出
させた基板の上に複数の電気絶縁性の隔壁を、第1電極
と実質的に垂直な方向に延びるように形成した後、順
次、有機電界発光層と、第2電極とを形成するようにし
てもよい。
In the case of a simple matrix type organic light-emitting device, the first electrode formed on the substrate is formed as a plurality of strip-shaped electrodes. Further, the second electrode is formed to be a plurality of strip-shaped electrodes extending in a direction substantially perpendicular to the first electrode. In this case, after the step of matching the surface of the insulator layer with the surface of the first electrode, a plurality of layers are formed on the substrate with the first electrode exposed according to a known method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-315981. May be formed so as to extend in a direction substantially perpendicular to the first electrode, and then the organic electroluminescent layer and the second electrode may be sequentially formed.

【0027】TFTアクティブマトリックス方式の場合
には、薄膜トランジスタ(TFT)が形成された基板上
に第1電極が形成される。この場合第1電極は、薄膜ト
ランジスタのドレイン電極またはソース電極であっても
よいし、ドレイン電極またはソース電極に接続された電
極であってもよい。さらに、公知の方法に従って、TF
Tと第1電極との間に、平坦化された層間絶縁膜を配
し、層間絶縁膜に設けられたコンタクトホールを介して
第1電極とTFTのドレイン電極またはソース電極とを
電気的に接続するようにしたものであってもよい。
In the case of the TFT active matrix system, a first electrode is formed on a substrate on which a thin film transistor (TFT) is formed. In this case, the first electrode may be a drain electrode or a source electrode of the thin film transistor, or may be an electrode connected to the drain electrode or the source electrode. Further, according to a known method, TF
A planarized interlayer insulating film is arranged between T and the first electrode, and the first electrode is electrically connected to a drain electrode or a source electrode of the TFT via a contact hole provided in the interlayer insulating film. It may be configured to do so.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】図1は、本発明に従う第1の実施
形態の有機発光素子の製造工程を示す断面図である。図
1(a)を参照して、絶縁基板であるガラス基板1の上
に、複数の帯状の透明電極2をそれぞれ平行にパターニ
ングして形成する。透明電極2は、紙面に対して垂直方
向に延びている。透明電極2の厚みは、例えば200n
mであり、80nm〜2μmの範囲で変更可能であり、
好ましくは100nm〜1μmの範囲で変更可能であ
る。
FIG. 1 is a sectional view showing a manufacturing process of an organic light emitting device according to a first embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1A, a plurality of strip-shaped transparent electrodes 2 are formed by patterning in parallel on a glass substrate 1 which is an insulating substrate. The transparent electrode 2 extends in a direction perpendicular to the paper surface. The thickness of the transparent electrode 2 is, for example, 200 n
m, which can be changed in the range of 80 nm to 2 μm,
Preferably, it can be changed in the range of 100 nm to 1 μm.

【0029】本実施例では、透明電極2は酸化インジウ
ム錫(ITO)を用いて形成している。そのパターニン
グ方法は、FeCl3 を含む塩酸水溶液によるウェット
エッチング法を用いることができ、他の公知の方法を用
いてもよい。
In this embodiment, the transparent electrode 2 is formed using indium tin oxide (ITO). As the patterning method, a wet etching method using a hydrochloric acid aqueous solution containing FeCl 3 can be used, and another known method may be used.

【0030】次に、図1(b)を参照して、透明電極2
を含むガラス基板1上の全面に、絶縁物層8を形成す
る。絶縁物層8は、25℃における密度が0.915g
/cm 3 の長鎖分岐状の分子構造を有する融点115℃
の低密度ポリエチレンから形成する。低密度ポリエチレ
ンの25℃における密度は、0.90g/cm3 〜0.
93g/cm3 の範囲で変更してもよい。また、融点は
107℃〜120℃の範囲で変更してもよい。この低密
度ポリエチレンを190℃で溶融させ、得られた融液を
キャスティングすることにより絶縁物層8を形成する。
ポリエチレンを溶融させる温度は、110℃〜320℃
の範囲で変更することができ、好ましくは150℃〜2
30℃の範囲で変更することができ、さらに好ましくは
170℃〜210℃の範囲で変更することができる。
Next, referring to FIG.
An insulating layer 8 is formed on the entire surface of the glass substrate 1 including
You. The density of the insulator layer 8 at 25 ° C. is 0.915 g.
/ Cm ThreeMelting point 115 ° C having a long-chain branched molecular structure
From low density polyethylene. Low density polyethylene
Density at 25 ° C. is 0.90 g / cmThree~ 0.
93g / cmThreeMay be changed in the range of. The melting point is
The temperature may be changed in the range of 107 ° C to 120 ° C. This low density
Polyethylene is melted at 190 ° C and the resulting melt is
The insulating layer 8 is formed by casting.
The temperature at which polyethylene is melted is 110 ° C. to 320 ° C.
Can be changed in the range of, preferably 150 ° C. ~ 2
It can be changed in the range of 30 ° C., more preferably
It can be changed in the range of 170 ° C to 210 ° C.

【0031】図1(b)に示すように、隣接する透明電
極2の間の領域における絶縁物層8の厚みをDとする。
本実施例では、厚みDを例えば1μmとする。Dは、透
明電極2の厚みdを超える範囲で設定可能であり、好ま
しくは1.1d〜4dの範囲で変更することができ、さ
らに好ましくは1.5d〜3.0dの範囲で変更するこ
とができ、最も好ましくは2.4d〜2.6dの範囲で
変更することができる。
As shown in FIG. 1B, the thickness of the insulator layer 8 in a region between the adjacent transparent electrodes 2 is D.
In this embodiment, the thickness D is, for example, 1 μm. D can be set in a range exceeding the thickness d of the transparent electrode 2, can be preferably changed in a range of 1.1d to 4d, and more preferably be changed in a range of 1.5d to 3.0d. And most preferably can be changed in the range of 2.4d to 2.6d.

【0032】上記キャスティングの際のガラス基板1の
温度は、60℃程度とし、ポリエチレンが急速に凝固し
ないようにすることが好ましい。ガラス基板1の温度
は、0℃〜105℃の範囲で変更することができ、好ま
しくは40℃〜80℃の範囲で変更することができる。
It is preferable that the temperature of the glass substrate 1 at the time of the casting be about 60 ° C. so that polyethylene does not rapidly solidify. The temperature of the glass substrate 1 can be changed in a range of 0 ° C. to 105 ° C., and preferably in a range of 40 ° C. to 80 ° C.

【0033】また、キャスティングの際に、ガラス基板
1を回転させ、遠心力を利用して、絶縁物層8の膜厚が
不均一にならないように回転せることが好ましい。ま
た、このような回転により、絶縁物層8の表面をより平
坦にすることができる。
In casting, it is preferable to rotate the glass substrate 1 and to use a centrifugal force so that the thickness of the insulating layer 8 does not become uneven. In addition, the surface of the insulator layer 8 can be made flatter by such rotation.

【0034】上記のようにキャスティングすることによ
り、ポリエチレンの溶融液体の表面張力が作用し、絶縁
物層8の表面は自然に平坦な表面として形成される。透
明電極2上の部分における絶縁物層8の厚みは、(D−
d)となる。
By performing the casting as described above, the surface tension of the molten liquid of polyethylene acts, and the surface of the insulator layer 8 is naturally formed as a flat surface. The thickness of the insulator layer 8 in the portion on the transparent electrode 2 is (D−
d).

【0035】ポリエチレンを用いて形成した絶縁物層8
の20℃における波長589nmのフラウンホーファー
線のD線に対する屈折率は、1.51であった。なお、
以下に示す屈折率は、これと同様に20℃における波長
589nmに対する屈折率である。
Insulator layer 8 formed using polyethylene
The refractive index of the Fraunhofer line having a wavelength of 589 nm at 20 ° C. with respect to the D line was 1.51. In addition,
Similarly, the refractive index shown below is the refractive index for a wavelength of 589 nm at 20 ° C.

【0036】次に、図1(c)に示すように、絶縁物層
8の表面全体を、酸素を含む雰囲気中で紫外線照射する
ことによりエッチングする。このエッチングは、透明電
極2の清浄な表面が露出するまで行う。このエッチング
により、絶縁物層8の表面と透明電極2の表面とが一致
するようになる。このエッチングにより、透明電極2が
設けられている領域以外の領域における絶縁物層8の厚
みがdとなり、透明電極2の厚みと同一になる。
Next, as shown in FIG. 1C, the entire surface of the insulator layer 8 is etched by irradiating it with ultraviolet rays in an atmosphere containing oxygen. This etching is performed until a clean surface of the transparent electrode 2 is exposed. By this etching, the surface of the insulator layer 8 and the surface of the transparent electrode 2 come to coincide. By this etching, the thickness of the insulating layer 8 in a region other than the region where the transparent electrode 2 is provided becomes d, which is the same as the thickness of the transparent electrode 2.

【0037】上記エッチングの際、ガラス基板1の温度
を60℃とした。ガラス基板1の温度は、0℃〜105
℃の範囲で変更することができ、好ましくは40℃〜8
0℃の範囲で変更することができる。また、上記エッチ
ングは、オゾン(O3 )を含む酸素雰囲気中で行った
が、この酸素雰囲気は、純酸素を流量が毎分3リットル
となるように一定流量で沿面放電方式のオゾン発生器に
供給することにより得た。また、紫外線は、入力電力3
00Wの低圧水銀ランプ2本を光源とし、波長185n
m及び波長254nmに主要なピーク成分を有する紫外
線を照射した。
At the time of the above etching, the temperature of the glass substrate 1 was set to 60 ° C. The temperature of the glass substrate 1 is 0 ° C. to 105
° C, preferably between 40 ° C and 8 ° C.
It can be changed in the range of 0 ° C. The etching was performed in an oxygen atmosphere containing ozone (O 3 ). This oxygen atmosphere was supplied to a surface discharge type ozone generator at a constant flow rate such that pure oxygen was supplied at a flow rate of 3 liters per minute. Obtained by feeding. Also, the ultraviolet light is input power 3
Two low-pressure mercury lamps of 00W are used as light sources, and the wavelength is 185n.
Ultraviolet light having a main peak component at m and a wavelength of 254 nm was irradiated.

【0038】透明電極2の清浄な表面が露出するまでの
所要時間は、およそ15分間であった。この際、ランプ
の管壁と基板表面の最上部との距離は5mmとしたが、
基板表面で十分な強度の紫外線が得られれば、距離は任
意に設定することができる。
The time required until the clean surface of the transparent electrode 2 was exposed was about 15 minutes. At this time, the distance between the lamp tube wall and the top of the substrate surface was 5 mm,
The distance can be set arbitrarily as long as ultraviolet light with sufficient intensity is obtained on the substrate surface.

【0039】本実施例では、絶縁物層8の近傍のオゾン
濃度を9.8g/m3 としたが、オゾン濃度0.01g
/m3 以上であれば、オゾン添加による絶縁物及び不純
物の酸化分解の促進の効果を期待することができる。好
ましくは濃度0.1g/m3以上であり、さらに好まし
くは濃度1g/m3 以上であり、特に好ましくは濃度5
g/m3 以上である。
In this embodiment, the ozone concentration in the vicinity of the insulator layer 8 is 9.8 g / m 3 , but the ozone concentration is 0.01 g / m 3.
If it is at least / m 3 , the effect of promoting the oxidative decomposition of insulators and impurities by adding ozone can be expected. The concentration is preferably 0.1 g / m 3 or more, more preferably 1 g / m 3 or more, and particularly preferably 5 g / m 3 or more.
g / m 3 or more.

【0040】次に、透明電極2の露出部分を清浄化する
工程を行うことなく、引き続いて、有機電界発光層7を
形成した。この有機電界発光層7の上に、背面電極6を
透明電極2と交差する方向に帯状の電極を複数平行に形
成する。背面電極6は、真空蒸着法により形成した。
Next, the organic electroluminescent layer 7 was subsequently formed without performing the step of cleaning the exposed portion of the transparent electrode 2. On the organic electroluminescent layer 7, a plurality of strip-shaped electrodes are formed in parallel with the back electrode 6 in a direction crossing the transparent electrode 2. The back electrode 6 was formed by a vacuum deposition method.

【0041】図2は、図1(d)に示すA−A線に沿う
断面図である。図2に示すように、有機電界発光層7
は、有機質ホール注入輸送層3、発光層4、及び有機質
電子注入輸送層5が順次積層されることにより形成され
ている。
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA shown in FIG. As shown in FIG. 2, the organic electroluminescent layer 7
Is formed by sequentially laminating an organic hole injection / transport layer 3, a light emitting layer 4, and an organic electron injection / transport layer 5.

【0042】透明電極2は、ITO、酸化錫(Sn
2 )、金(Au)等から形成することができるが、本
実施例ではITOから形成している。有機質ホール注入
輸送層3は、トリフェニルアミン誘導体である4,
4′,4″−tris(3−methylphenyl
phenylamino)triphenylamin
e(通称「MTDA」)から形成されている。有機質ホ
ール注入輸送層3の厚みは、本実施例では70nmであ
るが、例えば、10nm〜80nmの範囲で変更するこ
とができる。
The transparent electrode 2 is made of ITO, tin oxide (Sn
O 2 ), gold (Au) or the like, but in this embodiment, it is made of ITO. The organic hole injection / transport layer 3 is composed of a triphenylamine derivative,
4 ', 4 "-tris (3-methylphenyl
phenylamino) triphenylamine
e (commonly called “MTDA”). The thickness of the organic hole injecting and transporting layer 3 is 70 nm in the present embodiment, but can be changed within a range of, for example, 10 nm to 80 nm.

【0043】発光層4は、N,N′−Diphenyl
−N,N′−dibenzyl[1,1′−biphe
nyl]−4,4′−diamine(通称「TP
D」)を主成分として、これに5,6,11,12−T
etraphenylnaphthacene(通称
「Rubrene」)を重量比で5%含有させたものか
ら形成することができる。Rubreneの重量比は
0.5%〜15%の範囲で変更することができ、さらに
は2%〜6%の範囲で変更することができる。発光層4
の厚みは、本実施例では20nmであるが、例えば、5
nm〜45nmの範囲で変更することができる。
The light emitting layer 4 is made of N, N'-Diphenyl.
-N, N'-dibenzyl [1,1'-biphe
nyl] -4,4'-diamine (commonly called "TP
D ") as the main component and 5,6,11,12-T
It can be formed from those containing 5% by weight of ethraphenylnapthacene (commonly referred to as “Rubrene”). The weight ratio of Rubrene can be changed in the range of 0.5% to 15%, and further, it can be changed in the range of 2% to 6%. Light emitting layer 4
Is 20 nm in the present embodiment, for example, 5 nm.
It can be changed in the range of nm to 45 nm.

【0044】有機質電子注入輸送層5は、Alumin
um tris(quinoline−8−olat
e)(通称「Alq3 」)から形成される。有機質電子
注入輸送層5の厚みは、本実施例では60nmである
が、例えば、10nm〜80nmの範囲で変更すること
ができる。
The organic electron injecting and transporting layer 5 is made of Aluminum
um tris (quinoline-8-olat
e) (commonly called “Alq 3 ”). The thickness of the organic electron injecting and transporting layer 5 is 60 nm in this embodiment, but can be changed in a range of, for example, 10 nm to 80 nm.

【0045】背面電極6は、MgとInを重量比で9:
1の比率で共蒸着した合金から形成される。背面電極6
の厚みは、本実施例では、200nmであるが、例え
ば、50nm〜500nmの範囲で変更することができ
る。また、Inの含有量は、重量比で、0.01%〜9
5%の範囲で変更することができ、好ましくは1%〜7
5%の範囲で、さらに好ましくは5%〜25%の範囲で
変更することができる。
The back electrode 6 is composed of Mg and In in a weight ratio of 9: 9.
It is formed from an alloy co-deposited at a ratio of 1. Back electrode 6
Is 200 nm in the present embodiment, but can be changed in the range of, for example, 50 nm to 500 nm. The content of In is 0.01% to 9% by weight.
It can be changed in the range of 5%, preferably 1% to 7%.
It can be changed in the range of 5%, more preferably in the range of 5% to 25%.

【0046】有機質ホール注入輸送層3、発光層4、及
び有機質電子注入輸送層5からなる有機電界発光層7の
全体の厚みは、例えば、25nm〜205nmの範囲で
変更することができる。
The overall thickness of the organic electroluminescent layer 7 composed of the organic hole injecting and transporting layer 3, the light emitting layer 4, and the organic electron injecting and transporting layer 5 can be changed, for example, in the range of 25 nm to 205 nm.

【0047】上記の有機電界発光表示装置を駆動させる
には、任意の画素に対応する電極の間に、5〜20V程
度の電圧を印加すればよく、このとき有機質電子注入輸
送層5から発光層4へ注入された電子が、発光層4内
で、有機質ホール注入輸送層3から発光層4へ注入され
たホールと再結合することによって画素が発光する。
To drive the above-mentioned organic light emitting display device, a voltage of about 5 to 20 V may be applied between electrodes corresponding to arbitrary pixels. The electrons injected into the light-emitting layer 4 recombine with the holes injected from the organic hole injection / transport layer 3 into the light-emitting layer 4 in the light-emitting layer 4 to emit light.

【0048】本実施例の有機電界発光表示装置において
は、図1(c)に示すように、透明電極2の表面と絶縁
物層8の表面とが一致しているため、この上に有機電界
発光層7及び背面電極6を積層しても、有機電界発光層
7及び背面電極6の表面は平坦な状態であり、凹凸形状
とならない。従って、有機電界発光層7の厚みを全体的
に均一な厚みとすることができる。従って、有機発光素
子を駆動させた場合、電極形状に対応した均一な発光を
得ることができる。また、背面電極6の表面が平坦であ
るため、損傷を受けることがなくなる。
In the organic electroluminescent display device of the present embodiment, as shown in FIG. 1C, the surface of the transparent electrode 2 and the surface of the insulator layer 8 coincide with each other. Even when the light emitting layer 7 and the back electrode 6 are stacked, the surfaces of the organic electroluminescent layer 7 and the back electrode 6 are flat and do not have an uneven shape. Therefore, the thickness of the organic electroluminescent layer 7 can be made uniform overall. Therefore, when the organic light emitting element is driven, uniform light emission corresponding to the electrode shape can be obtained. Further, since the surface of the back electrode 6 is flat, it is not damaged.

【0049】次に、以上のようにして製造された有機発
光素子の発光特性を評価した。透明電極2の幅と、該透
明電極2と交差するように形成された背面電極6の幅を
それぞれ2mmとし、1画素あたりの発光部分の面積を
4mm2 とした実験用の有機発光素子について評価し
た。その結果、印加電圧が3Vのときに、輝度0.6c
d/m2 の緑色の発光が得られた。
Next, the light emitting characteristics of the organic light emitting device manufactured as described above were evaluated. Evaluation of an organic light-emitting element for an experiment in which the width of the transparent electrode 2 and the width of the back electrode 6 formed so as to intersect with the transparent electrode 2 were each 2 mm, and the area of the light-emitting portion per pixel was 4 mm 2. did. As a result, when the applied voltage is 3 V, the luminance is 0.6 c.
A green light emission of d / m 2 was obtained.

【0050】印加電圧を大きくするにつれて輝度も増大
し、5V印加時には輝度80cd/m2 となり、10V
印加時には輝度5000cd/m2 となり、15V印加
時には輝度54000cd/m2 となった。
As the applied voltage increases, the luminance also increases. When 5 V is applied, the luminance becomes 80 cd / m 2 and the luminance becomes 10 cd / m 2 .
Luminance 5000 cd / m 2 becomes the time of the application, was the luminance 54000cd / m 2 at the time of 15V is applied.

【0051】この緑色発光のスペクトルを分析したとこ
ろ、発光層4に含まれるRubreneの蛍光極大波長
と一致し、波長562nmに最大の発光ピークが存在し
たので、発光はRubreneの励起状態に基づくもの
と考えられる。
When the spectrum of the green light emission was analyzed, it coincided with the fluorescence maximum wavelength of Rubrene contained in the light-emitting layer 4 and had a maximum light emission peak at a wavelength of 562 nm. Therefore, the light emission was based on the excited state of Rubrene. Conceivable.

【0052】初期輝度500cd/m2 から、直流定電
流電源装置を用いて、約5mA/cm2 の一定電流密度
となるように直流電圧を連続的に印加して、連続発光試
験を行った。輝度が半減して250cd/m2 に達する
までの時間である輝度半減期は、1300時間であっ
た。
From the initial luminance of 500 cd / m 2 , a continuous light emission test was performed by continuously applying a DC voltage to a constant current density of about 5 mA / cm 2 using a DC constant current power supply. The luminance half-life, which is the time required for the luminance to decrease by half to reach 250 cd / m 2 , was 1300 hours.

【0053】図1(c)に示す工程が終了した時点にお
いて、透明電極2の表面のイオン化ポテンシャルを測定
した。その結果、真空順位を基準値の0としたとき、
4.83エレクトロンボルトの測定値が得られた。この
イオン化ポテンシャルの測定は、理研計器社製の測定装
置であるRiken AC−1を用いて、大気雰囲気中
の紫外線照射による低エネルギー電子計数方式の原理に
基づいて、室温約20℃、紫外線の光量650nW、計
数時間5秒の条件で行った。
When the step shown in FIG. 1C was completed, the ionization potential of the surface of the transparent electrode 2 was measured. As a result, when the vacuum order is set to the reference value of 0,
A measurement of 4.83 electron volts was obtained. The measurement of the ionization potential was performed at room temperature of about 20 ° C. and the amount of ultraviolet light based on the principle of a low-energy electron counting method by irradiating ultraviolet light in the atmosphere using a Riken AC-1 measuring device manufactured by Riken Keiki Co., Ltd. The measurement was performed under the conditions of 650 nW and a counting time of 5 seconds.

【0054】有機質ホール注入輸送層3を構成するMT
DATAのイオン化ポテンシャルを測定した。試料とし
ては、予め昇華による精製を行ったMTDATAの粉末
を用い、上記と同様してイオン化ポテンシャルを測定し
たところ、5.0エレクトロンボルトの測定値が得られ
た。
MT constituting the organic hole injection / transport layer 3
The ionization potential of DATA was measured. As a sample, a powder of MTDATA that had been purified by sublimation in advance was used, and the ionization potential was measured in the same manner as described above. As a result, a measured value of 5.0 eV was obtained.

【0055】今日広く認められている電子移動の理論に
よれば、2つの接した層の間の電荷移動は、それぞれの
層のエネルギー準位の差が小さい程容易に起こることが
知られている。
According to the widely accepted theory of electron transfer, it is known that charge transfer between two adjacent layers occurs more easily as the difference between the energy levels of the respective layers is smaller. .

【0056】イオン化ポテンシャルの値は、その物質の
最高被占有電子軌道のエネルギー準位を直接的に示す指
標であるから、上記の実施例の有機発光装置において、
透明電極2と有機質ホール注入輸送層3とのエネルギー
準位の差は、(5.0−4.83)エレクトロンボル
ト、すなわち0.2エレクトロンボルト以下であり、非
常に小さい値である。従って、透明電極2から有機質ホ
ール注入輸送層3への正孔の注入が非常に効率良く行わ
れており、このため3Vの低い印加電圧においても輝度
0.6cd/m2 の比較的明るい発光が得られたと考え
られる。
Since the value of the ionization potential is an index directly indicating the energy level of the highest occupied electron orbital of the substance, in the organic light emitting device of the above embodiment,
The energy level difference between the transparent electrode 2 and the organic hole injection / transport layer 3 is (5.0-4.83) electron volts, that is, 0.2 electron volts or less, which is a very small value. Accordingly, holes are injected from the transparent electrode 2 into the organic hole injection / transport layer 3 very efficiently, and relatively bright light emission with a luminance of 0.6 cd / m 2 is obtained even at a low applied voltage of 3 V. Probably obtained.

【0057】上記第1の実施形態においては、絶縁物層
を除去する工程を、酸素雰囲気中での紫外線照射による
エッチングにより行ったが、これに代えて酸素雰囲気中
のプラズマエッチングにより絶縁物層を除去した実施例
を示す。ガラス基板1とチャンバーの温度を20℃と
し、チャンバー内の圧力を一旦0.4mPaまで減圧し
てから、流量3.5SCCM、すなわち標準状態におけ
る毎分の流量3.5cm 3 の純酸素を導入しながら、チ
ャンバー内の圧力を0.5Paに保ち、高周波の投入電
力を200Wとして、酸素プラズマを発生させてプラズ
マエッチングを行った。透明電極2の表面が露出するま
でに要する所要時間は、およそ2時間であった。
In the first embodiment, the insulating layer
Removal process by ultraviolet irradiation in an oxygen atmosphere
Performed by etching, but instead in an oxygen atmosphere
Example in which insulator layer was removed by plasma etching
Is shown. The temperature of the glass substrate 1 and the chamber is 20 ° C.
And reduce the pressure in the chamber to 0.4 mPa once.
After that, the flow rate is 3.5 SCCM, that is, in the standard state.
3.5cm per minute flow rate ThreeWhile introducing pure oxygen
The pressure in the chamber is maintained at 0.5 Pa,
Generates oxygen plasma with a power of 200 W
Ma etching was performed. Until the surface of the transparent electrode 2 is exposed
Took about 2 hours.

【0058】それ以降の工程は、上記第1の実施形態と
同様にして有機発光素子を作成した。得られた有機発光
素子の特性を評価したところ、印加電圧が3Vのときに
は発光が観測されず、5V印加時に輝度7cd/m2
緑色発光が得られ、10V印加時に輝度3000cd/
2 となり、15V印加時にはショートが発生して素子
が破壊された。
In the subsequent steps, an organic light emitting device was prepared in the same manner as in the first embodiment. When the characteristics of the obtained organic light-emitting device were evaluated, no light emission was observed when the applied voltage was 3 V, green light emission having a luminance of 7 cd / m 2 was obtained when 5 V was applied, and 3000 cd / m 2 when 10 V was applied.
m 2 , and a short circuit occurred when a voltage of 15 V was applied, and the element was destroyed.

【0059】初期輝度500cd/m2 から、直流電圧
を連続的に印加して、連続発光試験を行ったところ、輝
度半減期は約600時間であった。また、プラズマエッ
チングによる絶縁物層の除去が終了し、図1(c)に示
すような状態になった時点で、透明電極2の表面のイオ
ン化ポテンシャルを測定した。その結果、真空順位を基
準値の0としたときの値として、4.64エレクトロン
ボルトの測定値が得られた。
From the initial luminance of 500 cd / m 2 , a continuous light emission test was performed by continuously applying a DC voltage. As a result, the luminance half life was about 600 hours. When the removal of the insulator layer by plasma etching was completed and the state as shown in FIG. 1C was reached, the ionization potential of the surface of the transparent electrode 2 was measured. As a result, a measured value of 4.64 electron volts was obtained as a value when the vacuum rank was set to 0 as a reference value.

【0060】上記プラズマエッチングを用いた実施例の
発光素子が、紫外線照射によるエッチングを用いた実施
例の発光素子に比べ優れた特性が得られなかった理由
は、透明電極の表面が十分に清浄化されていなかったた
めと思われる。すなわち、透明電極の表面と、有機質ホ
ール注入輸送層とのエネルギー準位の差は、(5.0−
4.64)エレクトロンボルト、すなわち0.4エレク
トロンボルト程度であり、第1の実施形態の場合に比較
して大きな値となっている。従って、透明電極から有機
質ホール注入輸送層への正孔の注入の効率が低くなり、
良好な特性が得られなかったものと考えられる。
The reason why the light emitting device of the embodiment using the above plasma etching could not obtain superior characteristics as compared with the light emitting device of the embodiment using the etching by irradiation of ultraviolet rays, was that the surface of the transparent electrode was sufficiently cleaned. Probably because it was not. That is, the difference in energy level between the surface of the transparent electrode and the organic hole injection / transport layer is (5.0-
4.64) Electron volts, that is, about 0.4 electron volts, which is a large value compared to the case of the first embodiment. Therefore, the efficiency of hole injection from the transparent electrode to the organic hole injection transport layer is reduced,
It is probable that good characteristics were not obtained.

【0061】図3は、本発明に従う第2の実施形態の有
機発光素子を示す断面図である。本実施例では、薄膜ト
ランジスタ1bが形成された基板1aを用いている。基
板1aの凸部の上に第1電極2aが形成されている。こ
の第1電極2aは、薄膜トランジスタ1bのドレイン電
極またはソース電極であるか、あるいはドレイン電極ま
たはソース電極に接続された電極である。
FIG. 3 is a sectional view showing an organic light emitting device according to a second embodiment of the present invention. In this embodiment, the substrate 1a on which the thin film transistor 1b is formed is used. The first electrode 2a is formed on the projection of the substrate 1a. The first electrode 2a is a drain electrode or a source electrode of the thin film transistor 1b, or an electrode connected to the drain electrode or the source electrode.

【0062】図1に示す第1の実施形態と同様に、第1
電極2aを覆うように絶縁物層8を形成した後、第1電
極2aの表面が露出するまで、酸素雰囲気中での紫外線
によるエッチングで絶縁物層8の表面を除去した後、有
機電界発光層7及び背面電極6を積層して形成する。
As in the first embodiment shown in FIG.
After the insulating layer 8 is formed so as to cover the electrode 2a, the surface of the insulating layer 8 is removed by etching with ultraviolet light in an oxygen atmosphere until the surface of the first electrode 2a is exposed. 7 and the back electrode 6 are formed by lamination.

【0063】薄膜トランジスタの構成及び形成方法は、
特に限定されるものではなく、例えば、特開平8−54
836号公報及び特開平8−234683号公報に開示
されているものを用いることができる。特に、多結晶シ
リコン薄膜を用いるボトムゲート型の薄膜トランジスタ
が好ましく用いられる。
The structure and forming method of the thin film transistor are as follows.
There is no particular limitation.
No. 836 and JP-A-8-234683 can be used. In particular, a bottom-gate thin film transistor using a polycrystalline silicon thin film is preferably used.

【0064】絶縁物層8を形成する材料としては、上記
実施例では低密度ポリエチレンを用いたが、これに限定
されるものではなく、熱可塑性もしくは融解性の絶縁物
であれば絶縁物層8を構成する物質として用いることが
できる。
As a material for forming the insulating layer 8, low-density polyethylene is used in the above embodiment, but the material is not limited to this. If the insulating layer 8 is a thermoplastic or fusible insulating material, Can be used.

【0065】絶縁物を溶融してキャスティングにより絶
縁物層8を形成する場合の絶縁物層8を構成する物質の
キャスト時の温度は、適度な流動性が得られ、かつ基板
及び第1電極への熱的な悪影響が避けられるような温度
であればよい。以下に絶縁物層を構成する物質の好適な
具体例を、( )内にキャスト時の物質の温度の好適な
範囲を付けて示す。
When the insulating material is melted to form the insulating layer 8 by casting, the temperature of the material constituting the insulating layer 8 at the time of casting is set so that appropriate fluidity can be obtained and the substrate and the first electrode can be heated. Any temperature may be used as long as the thermal adverse effect of the above can be avoided. Preferred specific examples of the substance constituting the insulating layer are shown in parentheses with a suitable range of the temperature of the substance at the time of casting.

【0066】ポリプロピレン(190℃〜290℃)や
ポリブチレン(140℃〜190℃)等のポリオレフィ
ン(140℃〜320℃)、メチルペンテン樹脂(27
0℃〜320℃)、EVA樹脂(180℃〜220
℃)、AS樹脂(180℃〜290℃)、ABS樹脂
(190℃〜270℃)、メタクリル酸メチル−スチレ
ン共重合体(170℃〜260℃)、ポリスチレン(1
80℃〜270℃)等のポリアレーン、ポリエチレンテ
レフタレート(270℃〜320℃)、ポリエステル
(220℃〜410℃)、ポリメタクリル酸メチル(1
60℃〜260℃)、ポリカーボネート(280℃〜3
00℃)、ポリアセタール(180℃〜240℃)、ポ
リフェニレンエーテル(220℃〜350℃)、ポリエ
ーテルケトン、ポリアリルエーテルケトン(380℃〜
430℃)、ポリエーテルエーテルケトン(350℃〜
400℃)、熱可塑性ポリイミド(340℃〜425
℃)、ポリアクリロニトリル(180℃〜210℃)、
ポリアミドイミド(320℃〜370℃)、ポリエーテ
ルイミド(340℃〜430℃)、ポリアミド(230
℃〜300℃)、ポリウレタン(220℃〜270
℃)、ポリクロロトリフルオロエチレンやポリビニリデ
ンフルオライド等のフッ素樹脂(180℃〜310
℃)、ポリ塩化ビニル(150℃〜210℃)、ポリ塩
化ビニリデン(150℃〜200℃)、塩素化ポリエチ
レン(150℃〜200℃)、ポリスルホン(330℃
〜400℃)、ポリエーテルスルホン(310℃〜40
0℃)、ポリフェニレンスルフィド(310℃〜340
℃)、及びケイ素樹脂、ポリシロキサン、ポリシロキサ
ニルメタクリレート(170℃〜290℃)等である。
Polyolefins (140 ° C. to 320 ° C.) such as polypropylene (190 ° C. to 290 ° C.) and polybutylene (140 ° C. to 190 ° C.), methylpentene resin (27
0 ° C to 320 ° C), EVA resin (180 ° C to 220 ° C)
° C), AS resin (180 ° C to 290 ° C), ABS resin (190 ° C to 270 ° C), methyl methacrylate-styrene copolymer (170 ° C to 260 ° C), polystyrene (1
Polyarene such as 80 ° C to 270 ° C), polyethylene terephthalate (270 ° C to 320 ° C), polyester (220 ° C to 410 ° C), polymethyl methacrylate (1
60 ° C to 260 ° C), polycarbonate (280 ° C to 3 ° C)
00 ° C), polyacetal (180 ° C to 240 ° C), polyphenylene ether (220 ° C to 350 ° C), polyetherketone, polyallyletherketone (380 ° C to
430 ° C), polyetheretherketone (350 ° C ~
400 ° C), thermoplastic polyimide (340 ° C to 425
C), polyacrylonitrile (180-210 C),
Polyamide imide (320 ° C. to 370 ° C.), polyether imide (340 ° C. to 430 ° C.), polyamide (230
C. to 300 C.), polyurethane (220 C. to 270 C.)
℃), fluorine resin such as polychlorotrifluoroethylene and polyvinylidene fluoride (180 ℃ ~ 310
° C), polyvinyl chloride (150 ° C to 210 ° C), polyvinylidene chloride (150 ° C to 200 ° C), chlorinated polyethylene (150 ° C to 200 ° C), polysulfone (330 ° C)
~ 400 ° C), polyether sulfone (310 ° C ~ 40
0 ° C.), polyphenylene sulfide (310 ° C. to 340
° C), silicon resin, polysiloxane, polysiloxanyl methacrylate (170 ° C to 290 ° C).

【0067】有機発光素子に耐熱性を持たせるために
は、絶縁物層8を構成する物質としては、融点が100
℃以上のものを用いるのが好ましい。また、絶縁物層8
を構成する物質としては、加熱収縮が少ないものを用い
るのが好ましい。
In order to make the organic light-emitting element have heat resistance, the material constituting the insulator layer 8 must have a melting point of 100.
It is preferable to use one having a temperature of not lower than ° C. Also, the insulator layer 8
It is preferable to use a substance having a small heat shrinkage as a material constituting the above.

【0068】また、有機発光素子からの光の放出効率を
向上させるために、絶縁物層8を構成する物質として
は、透明電極2よりも光の屈折率が小さな物質を用いる
のが好ましい。
In order to improve the light emission efficiency of the organic light emitting device, it is preferable to use a material having a smaller light refractive index than that of the transparent electrode 2 as a material constituting the insulating layer 8.

【0069】本発明の実施の形態で用いたITOからな
る透明電極の屈折率は、波長589nmのD線に対し
て、1.9であった。屈折率が小さい絶縁物層8を構成
する物質の好適な具体例を、( )内に屈折率の代表的
な値を付記して以下に示す。
The refractive index of the transparent electrode made of ITO used in the embodiment of the present invention was 1.9 with respect to the D line having a wavelength of 589 nm. Preferable specific examples of the substance constituting the insulator layer 8 having a small refractive index are shown below, with typical values of the refractive index added in parentheses.

【0070】フッ素樹脂(1.40)、ポリメタクリル
酸メチル(1.49)、ポリカーボネート(1.5
9)、ポリスチレン(1.59)、ポリシロキサン
(1.4〜1.9)。
Fluororesin (1.40), polymethyl methacrylate (1.49), polycarbonate (1.5
9), polystyrene (1.59), polysiloxane (1.4 to 1.9).

【0071】次に、本発明に従う第3の実施形態の有機
発光素子の製造について説明する。ポリエチレンの代わ
りに、融点155℃のポリ塩化ビニリデンを用いて、絶
縁物層8を形成する以外は、上記第1の実施形態と同様
にして有機発光素子を作成した。なお、ポリ塩化ビニリ
デンとしては、融点が150℃〜205℃の範囲内の、
ポリ塩化ビニリデンのホモポリマーまたはアクリロニト
リルなどを含むコポリマーを用いるのが好ましい。キャ
スティングの際のポリ塩化ビニリデンの温度は230℃
とした。このキャスティング時の温度は、例えば150
℃〜335℃の範囲で変更することができ、好ましくは
180℃〜300℃の範囲で変更することができ、さら
に好ましくは205℃〜265℃の範囲で変更すること
ができる。
Next, the manufacture of the organic light emitting device according to the third embodiment of the present invention will be described. An organic light-emitting device was produced in the same manner as in the first embodiment except that the insulating layer 8 was formed using polyvinylidene chloride having a melting point of 155 ° C. instead of polyethylene. The polyvinylidene chloride has a melting point in the range of 150 ° C to 205 ° C.
It is preferable to use a homopolymer of polyvinylidene chloride or a copolymer containing acrylonitrile or the like. The temperature of polyvinylidene chloride during casting is 230 ° C
And The temperature during this casting is, for example, 150
The temperature can be changed in the range of from ℃ to 335 ° C, preferably in the range of from 180 ° C to 300 ° C, and more preferably in the range of from 205 ° C to 265 ° C.

【0072】また、キャスティング時のガラス基板1の
温度は100℃とした。このガラス基板の温度は、0℃
〜145℃の範囲で変更することができ、好ましくは4
0℃〜130℃の範囲で変更することができ、さらに好
ましくは70℃〜115℃の範囲で変更することができ
る。ポリ塩化ビニリデンを用いて形成した絶縁物層8の
波長589nmのD線に対する屈折率は、1.95であ
った。
The temperature of the glass substrate 1 during casting was 100 ° C. The temperature of this glass substrate is 0 ° C.
145 ° C., preferably 4 ° C.
The temperature can be changed in the range of 0 ° C to 130 ° C, and more preferably in the range of 70 ° C to 115 ° C. The refractive index of the insulator layer 8 formed using polyvinylidene chloride with respect to the D line at a wavelength of 589 nm was 1.95.

【0073】次に、このようにして得られた有機発光素
子の発光特性を評価した。5V印加時の輝度は70cd
/m2 であり、10V印加時の輝度は4500cd/m
2 であった。従って、第1の実施形態と比較すると、輝
度は約10%低くなった。これは、ポリ塩化ビニリデン
の屈折率が1.95であり、ITOからなる透明電極の
屈折率1.9よりも大きいために、有機発光素子内部で
生じた光が、ITOからガラス基板を通って外部に放射
される効率が低くなり、ポリ塩化ビニリデン層の内部で
反射を繰り返しながら吸収されて損失となる割合が増加
したためと考えられる。なお、有機電界発光層7を構成
するTPDとAlq3 の屈折率は、1.7であった。
Next, the light emitting characteristics of the organic light emitting device thus obtained were evaluated. The luminance at the time of applying 5 V is 70 cd
/ M 2 and the luminance when 10 V is applied is 4500 cd / m
Was 2 . Therefore, the luminance was reduced by about 10% as compared with the first embodiment. This is because the refractive index of polyvinylidene chloride is 1.95, which is larger than the refractive index of the transparent electrode made of ITO, which is 1.9. This is presumably because the efficiency of radiation to the outside was reduced, and the ratio of loss due to absorption while repeating reflection inside the polyvinylidene chloride layer was increased. The refractive index of TPD and Alq 3 constituting the organic electroluminescent layer 7 was 1.7.

【0074】上記実施例においては、絶縁物層を構成す
る物質を溶融しキャスティングすることにより絶縁物層
8を形成したが、本発明はこれに限定されるものではな
い。例えば、絶縁物層を構成する物質を溶媒を用いて溶
解させた溶液をキャストし、その後溶媒を乾燥させるこ
とにより絶縁物層を形成してもよい。この場合、溶媒と
しては、水分などの不純物が含まれないように注意深く
精製した溶媒を用いるのが好ましい。また、溶媒として
は、酸性の弱い物質を用いるのが好ましい。
In the above embodiment, the insulator layer 8 is formed by melting and casting the material constituting the insulator layer, but the present invention is not limited to this. For example, the insulating layer may be formed by casting a solution in which a substance included in the insulating layer is dissolved using a solvent, and then drying the solvent. In this case, it is preferable to use a solvent that has been carefully purified so as not to contain impurities such as moisture. It is preferable to use a weakly acidic substance as the solvent.

【0075】このように溶媒で溶解した溶液を用いて絶
縁物層を構成する物質の好適な具体例としては、EVA
樹脂、ポリスチレン、AS樹脂、ABS樹脂、ポリメタ
クリル酸メチル、ポリカーボネート、ポリフェニレンエ
ーテル、ポリスルホン等を挙げることができる。
As a preferred specific example of the substance constituting the insulating layer using the solution dissolved in the solvent as described above, EVA is used.
Resin, polystyrene, AS resin, ABS resin, polymethyl methacrylate, polycarbonate, polyphenylene ether, polysulfone, and the like can be given.

【0076】[0076]

【発明の効果】本発明によれば、絶縁物層の表面と第1
電極の表面とが一致したパターン電極の上に有機電界発
光層を形成することができる。従って、有機電界発光層
に凹凸が形成されることがなく、有機電界発光層を均一
な厚みで形成することができる。従って、有機発光素子
を駆動させる場合、均一に発光させることができる。ま
た、第2電極の表面に凹凸が形成されないので、第2電
極の表面が損傷を受けることがなくなる。
According to the present invention, the surface of the insulator layer and the first
The organic electroluminescent layer can be formed on the pattern electrode having the same surface as the electrode. Therefore, no unevenness is formed on the organic electroluminescent layer, and the organic electroluminescent layer can be formed with a uniform thickness. Therefore, when driving the organic light emitting element, it is possible to emit light uniformly. In addition, since no irregularities are formed on the surface of the second electrode, the surface of the second electrode is not damaged.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に従う一実施例を示す断面図。FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment according to the present invention.

【図2】図1(d)に示すA−A線に沿う断面図。FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA shown in FIG.

【図3】本発明に従う他の実施例を示す断面図。FIG. 3 is a sectional view showing another embodiment according to the present invention.

【図4】従来の有機発光素子を示す断面図。FIG. 4 is a sectional view showing a conventional organic light emitting device.

【図5】平坦な表面を有するパターン電極の従来の製造
方法を示す断面図。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a conventional method for manufacturing a pattern electrode having a flat surface.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ガラス基板 2…透明電極 6…背面電極 7…有機電界発光層 8…絶縁物層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Glass substrate 2 ... Transparent electrode 6 ... Back electrode 7 ... Organic electroluminescent layer 8 ... Insulator layer

Claims (22)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の主面上に複数の第1電極を互いに
離間して形成する工程と、 前記第1電極を覆うように、前記第1電極の上及び前記
第1電極間の領域の上に、その表面が実質的に平坦にな
るように絶縁物層を形成する工程と、 前記絶縁物層の表面を前記第1電極の清浄な表面が露出
するまで除去し、前記絶縁物層の表面と前記第1電極の
表面とを一致させる工程と、 除去後の前記絶縁物層及び露出した前記第1電極の上に
有機電界発光層を形成する工程と、 前記有機電界発光層の上に第2電極を形成する工程とを
備える有機発光素子の製造方法。
A step of forming a plurality of first electrodes on a main surface of a substrate at a distance from each other; and forming a plurality of first electrodes on an area between the first electrodes so as to cover the first electrodes. Forming an insulator layer so that the surface thereof is substantially flat; removing the surface of the insulator layer until a clean surface of the first electrode is exposed; A step of matching a surface with a surface of the first electrode; a step of forming an organic electroluminescent layer on the insulator layer after the removal and the exposed first electrode; Forming a second electrode.
【請求項2】 前記絶縁物層が、実質的に絶縁性の高分
子から形成されている請求項1に記載の有機発光素子の
製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the insulator layer is formed of a substantially insulating polymer.
【請求項3】 前記実質的に絶縁性の高分子が加熱状態
で流動性を有する物質である請求項2に記載の有機発光
素子の製造方法。
3. The method according to claim 2, wherein the substantially insulating polymer is a substance having fluidity in a heated state.
【請求項4】 前記絶縁物層を形成する工程が、前記実
質的に絶縁性の高分子を溶融した液体を前記第1電極を
覆うように付着させた後、これを冷却凝固することによ
り絶縁物層を形成する工程である請求項2に記載の有機
発光素子の製造方法。
4. The step of forming the insulator layer comprises applying a liquid obtained by melting the substantially insulating polymer so as to cover the first electrode, and cooling and solidifying the liquid. The method for manufacturing an organic light-emitting device according to claim 2, which is a step of forming an object layer.
【請求項5】 前記実質的に絶縁性の高分子を溶融させ
た液体を前記第1電極の上にキャスティングすることに
より前記第1電極を覆うように付着させる請求項4に記
載の有機発光素子の製造方法。
5. The organic light emitting device according to claim 4, wherein a liquid in which the substantially insulating polymer is melted is cast on the first electrode so as to cover the first electrode. Manufacturing method.
【請求項6】 前記実質的に絶縁性の高分子を溶媒で溶
解した溶液を、前記第1電極の上にキャスティングした
後、溶媒を除去することにより、前記絶縁物層を形成す
る請求項2に記載の有機発光素子の製造方法。
6. The insulating layer is formed by casting a solution obtained by dissolving the substantially insulating polymer with a solvent on the first electrode, and then removing the solvent. 3. The method for producing an organic light-emitting device according to item 1.
【請求項7】 前記絶縁物層の屈折率が、前記第1電極
の屈折率よりも小さくなるように、前記絶縁物層を形成
する物質が選ばれる請求項1に記載の有機発光素子の製
造方法。
7. The organic light emitting device according to claim 1, wherein a material forming the insulator layer is selected such that a refractive index of the insulator layer is smaller than a refractive index of the first electrode. Method.
【請求項8】 前記絶縁物層の屈折率が、前記第1電極
の屈折率よりも3%以上小さい請求項7に記載の有機発
光素子の製造方法。
8. The method according to claim 7, wherein a refractive index of the insulator layer is smaller than a refractive index of the first electrode by 3% or more.
【請求項9】 前記絶縁物層が、屈折率1.9未満の物
質から形成される請求項7に記載の有機発光素子の製造
方法。
9. The method according to claim 7, wherein the insulator layer is formed of a material having a refractive index of less than 1.9.
【請求項10】 前記絶縁物層を除去する工程が、酸素
を含む雰囲気中での紫外線照射によるエッチングにより
行われる請求項1に記載の有機発光素子の製造方法。
10. The method for manufacturing an organic light emitting device according to claim 1, wherein the step of removing the insulator layer is performed by etching by ultraviolet irradiation in an atmosphere containing oxygen.
【請求項11】 エッチングを行う際の雰囲気が、オゾ
ン濃度0.01g/m3 以上である請求項10に記載の
有機発光素子の製造方法。
11. The method for manufacturing an organic light-emitting device according to claim 10, wherein an atmosphere in which the etching is performed has an ozone concentration of 0.01 g / m 3 or more.
【請求項12】 前記エッチングは、前記第1電極のイ
オン化ポテンシャルの絶対値が、4.7エレクトロンボ
ルト以上となるように行われる請求項10に記載の有機
発光素子の製造方法。
12. The method according to claim 10, wherein the etching is performed so that an absolute value of an ionization potential of the first electrode is equal to or more than 4.7 electron volts.
【請求項13】 前記エッチングは、前記第1電極に直
接接する有機電界発光層の構成層の物質のイオン化ポテ
ンシャルと、前記第1電極のイオン化ポテンシャルの差
が、0.3エレクトロンボルト以下となるように行われ
る請求項10に記載の有機発光素子の製造方法。
13. The etching according to claim 1, wherein a difference between an ionization potential of a material of a constituent layer of the organic electroluminescent layer in direct contact with the first electrode and an ionization potential of the first electrode is 0.3 electron volts or less. The method for manufacturing an organic light-emitting device according to claim 10, wherein the method is performed.
【請求項14】 前記絶縁物層の除去工程が、プラズマ
エッチングによって行われる請求項1に記載の有機発光
素子の製造方法。
14. The method according to claim 1, wherein the step of removing the insulator layer is performed by plasma etching.
【請求項15】 エッチングを行う際の雰囲気が、オゾ
ン濃度0.01g/m3 以上である請求項14に記載の
有機発光素子の製造方法。
15. The method for manufacturing an organic light-emitting device according to claim 14, wherein an atmosphere in which the etching is performed has an ozone concentration of 0.01 g / m 3 or more.
【請求項16】 前記エッチングは、前記第1電極のイ
オン化ポテンシャルの絶対値が、4.7エレクトロンボ
ルト以上となるように行われる請求項14に記載の有機
発光素子の製造方法。
16. The method according to claim 14, wherein the etching is performed so that an absolute value of an ionization potential of the first electrode is equal to or more than 4.7 electron volts.
【請求項17】 前記エッチングは、前記第1電極に直
接接する有機電界発光層の構成層の物質のイオン化ポテ
ンシャルと、前記第1電極のイオン化ポテンシャルの差
が、0.3エレクトロンボルト以下となるように行われ
る請求項14に記載の有機発光素子の製造方法。
17. The method according to claim 17, wherein a difference between an ionization potential of a material of a constituent layer of the organic electroluminescent layer in direct contact with the first electrode and an ionization potential of the first electrode is 0.3 electron volts or less. The method for manufacturing an organic light emitting device according to claim 14, wherein the method is performed.
【請求項18】 前記有機電界発光層が、発光層と、有
機質ホール注入輸送層及び/または有機質電子注入輸送
層とを備える請求項1記載の有機発光素子の製造方法。
18. The method according to claim 1, wherein the organic electroluminescent layer comprises a light emitting layer, and an organic hole injecting and transporting layer and / or an organic electron injecting and transporting layer.
【請求項19】 前記第1電極が、複数の帯状の電極で
ある請求項1に記載の有機発光素子の製造方法。
19. The method according to claim 1, wherein the first electrode is a plurality of strip-shaped electrodes.
【請求項20】 前記第2電極が、前記第1電極と実質
的に垂直な方向に延びる複数の帯状の電極である請求項
19に記載の有機発光素子の製造方法。
20. The method according to claim 19, wherein the second electrode is a plurality of strip-shaped electrodes extending in a direction substantially perpendicular to the first electrode.
【請求項21】 前記基板は、薄膜トランジスタが形成
された基板であり、前記第1電極が薄膜トランジスタの
ドレイン電極またはソース電極である請求項1に記載の
有機発光素子の製造方法。
21. The method according to claim 1, wherein the substrate is a substrate on which a thin film transistor is formed, and the first electrode is a drain electrode or a source electrode of the thin film transistor.
【請求項22】 前記基板は、薄膜トランジスタが形成
された基板であり、前記第1電極が、薄膜トランジスタ
のドレイン電極またはソース電極に接続された電極であ
る請求項1に記載の有機発光素子の製造方法。
22. The method according to claim 1, wherein the substrate is a substrate on which a thin film transistor is formed, and the first electrode is an electrode connected to a drain electrode or a source electrode of the thin film transistor. .
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