JPH11326524A - コンピュータ断層撮影装置用の多層シンチレータ - Google Patents

コンピュータ断層撮影装置用の多層シンチレータ

Info

Publication number
JPH11326524A
JPH11326524A JP10324812A JP32481298A JPH11326524A JP H11326524 A JPH11326524 A JP H11326524A JP 10324812 A JP10324812 A JP 10324812A JP 32481298 A JP32481298 A JP 32481298A JP H11326524 A JPH11326524 A JP H11326524A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scintillator
material layer
bundle
input end
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10324812A
Other languages
English (en)
Inventor
David Michael Hoffman
デイヴィッド・マイケル・ホフマン
Hui David He
フイ・デイヴィッド・ヒー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JPH11326524A publication Critical patent/JPH11326524A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/29—Measurement performed on radiation beams, e.g. position or section of the beam; Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2914—Measurement of spatial distribution of radiation
    • G01T1/2985—In depth localisation, e.g. using positron emitters; Tomographic imaging (longitudinal and transverse section imaging; apparatus for radiation diagnosis sequentially in different planes, steroscopic radiation diagnosis)
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2008—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of different types of scintillation detectors, e.g. phoswich
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
    • G01T1/20182—Modular detectors, e.g. tiled scintillators or tiled photodiodes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
    • G01T1/20188—Auxiliary details, e.g. casings or cooling
    • G01T1/2019—Shielding against direct hits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/419—Imaging computed tomograph

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 第１及び第２のシンチレータ材料層を含む多
層シンチレータを提供する。 【解決手段】 シンチレータの第１の材料層（１０４）
は高速のシンチレーション特性を有し、また第２の材料
層（１０８）は第１の材料層よりも高い透明度を有す
る。これら２つの材料層は、光信号が第１の材料層から
第２の材料層に伝達されかつ第２の材料層からそれに隣
接したホトダイオード（９０）に伝達されるようにして
互いに結合されている。個々のシンチレータ材料は、シ
ンチレータにおいて所望の特性が得られるように選択さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はコンピュータ断層撮
影技術に関するものであって、更に詳しく言えば、コン
ピュータ断層撮影の際におけるＸ線の検出に使用される
シンチレータに関する。
【０００２】
【発明の背景】少なくとも一部のコンピュータ断層撮影
（ＣＴ）装置構成においては、Ｘ線源から投射された扇
形ビームは（一般に「撮影平面」と呼ばれる）直交座標
系のＸ−Ｙ平面内に位置するようにコリメーションすな
わち平行化される。このＸ線ビームは撮影すべき対象物
（たとえば患者）を通過する。対象物によって減衰させ
られた後、Ｘ線ビームは放射線検出器アレイに入射す
る。検出器アレイによって受光されるＸ線ビームの強度
は、対象物によるＸ線ビームの減衰度に依存する。アレ
イ中の各々の検出器素子は独立の電気信号を生じるが、
この電気信号はその検出器位置におけるＸ線ビーム減衰
度の測定値である。全ての検出器素子からの減衰度測定
値を独立に収集することによって透過率分布が求められ
る。
【０００３】公知の第三世代ＣＴ装置においては、Ｘ線
源及び検出器アレイは撮影平面内かつ撮影すべき対象物
の周囲でガントリーと共に回転する。その結果、Ｘ線ビ
ームが対象物を横切る角度は絶えず変化する。通例、Ｘ
線源はＸ線管を含んでいて、それは焦点からＸ線ビーム
を放射する。また、Ｘ線検出器は受光されたＸ線ビーム
を平行化するためのコリメータ、コリメータに隣接した
シンチレータ、及びシンチレータに隣接したホトダイオ
ードを通例含んでいる。
【０００４】公知のシンチレータは、各種のシンチレー
タ材料から成る製造される。これらのシンチレータ材料
は幾つかの部類に分類されるが、それらの各々は利点及
び欠点を有している。たとえば、ある種のシンチレータ
材料は高速であるが、光出力が低かったり、放射線損傷
を受け易かったり、あるいは透明度が低いためにＺ軸方
向の不均一性を生じ易かったりする。高速のシンチレー
タ材料を使用することが望ましいとは言え、トレードオ
フの関係でかかる材料の使用が妨げられることもある。
【０００５】このようなわけで、速度、出力信号レベル
及びその他のシンチレータ特性の間において適正なトレ
ードオフをもたらすようなシンチレータを提供すること
は望ましいものである。また、横方向に進む光を自動的
に平行化することができ、従って独立のコリメータがも
はや不要となるようなシンチレータを提供することも望
ましいものである。
【０００６】
【発明の概要】上記及びその他の目的は、複数のシンチ
レータ材料層を含むシンチレータによって達成すること
ができる。かかるシンチレータは、Ｘ線ビーム信号が高
速シンチレーション特性を有する第１のシンチレータ材
料層に入射し、次いで第１の層を通過してから透明度の
一層高い第２のシンチレータ材料層に達するように構成
されている。第２層を通過した後、かかる信号はホトダ
イオードによって受光される。その結果、シンチレータ
素子からの光学的信号は電気信号に変換される。
【０００７】実施の一態様に従えば、上記のシンチレー
タは光学用接着剤を用いて第１のシンチレータ材料層を
第２のシンチレータ材料層に結合することによって製造
される。詳しく述べれば、第１及び第２のシンチレータ
材料層が選択され、そして適当な寸法及び厚さを有する
ように切断される。次いで、第１及び第２のシンチレー
タ材料層が互いに隣接するように配置され、そして結合
される。様々な種類及び厚さの材料層の組合せを選択す
ることにより、かかるシンチレータは特定の結果を生み
出すことができる。一例を挙げれば、一方の材料層を複
数の放射線抵抗性光ファイバから形成することにより、
シンチレータは自動平行化（ｓｅｌｆ−ｃｏｌｌｉｍａ
ｔｉｎｇ）作用を示すことができる。
【０００８】上記のごときシンチレータは、速度、出力
信号レベル及びその他のシンチレータ特性の間において
適正なトレードオフをもたらす。また、かかるシンチレ
ータは横方向に進む光を自動的に平行化することができ
る。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１及び２について述べれば、
「第三世代」のＣＴスキャナを表わすガントリー１２を
含むコンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置１０が示されて
いる。ガントリー１２は、それの反対側に配置された検
出器アレイ１８に向けてＸ線ビーム１６を投射するＸ線
源１４を含んでいる。検出器アレイ１８は、患者２２を
通過した投射Ｘ線を感知する検出器素子２０から構成さ
れている。各々の検出器素子２０は電気信号を生じる
が、この電気信号は入射Ｘ線ビームの強度を表わし、従
って患者２２を通過した際のＸ線ビームの減衰度を表わ
す。Ｘ線投射データを得るための走査に際しては、ガン
トリー１２及びその上に取付けられた構成部品は回転中
心２４の回りに回転する。
【００１０】ガントリー１２の回転及びＸ線源１４の動
作は、ＣＴ装置１０の制御機構２６によって制御され
る。制御機構２６は、Ｘ線源１４に電力及びタイミング
信号を供給するＸ線制御器２８と、ガントリー１２の回
転速度及び位置を制御するガントリーモータ制御器３０
とを含んでいる。制御機構２６中のデータ収集システム
（ＤＡＳ）３２は検出器素子２０からアナログ・データ
を抽出し、そして以後の処理のためにかかるデータをデ
ィジタル信号に変換する。画像再構成器３４は抽出され
かつ計数化されたＸ線データをＤＡＳ３２から受信し、
そして高速の画像再構成を行う。再構成された画像はコ
ンピュータ３６に入力として供給され、そして大容量記
憶装置３８中に記憶される。
【００１１】コンピュータ３６にはまた、キーボードを
有する制御卓４０を介して操作者から命令及び走査パラ
メータが供給される。付属した陰極線管表示装置４２に
より、操作者はコンピュータ３６からの再構成画像及び
その他のデータを観察することができる。操作者から供
給される命令及びパラメータは、ＤＡＳ３２、Ｘ線制御
器２８及びガントリーモータ制御器３０に制御信号及び
情報を供給するためにコンピュータ３６によって使用さ
れる。更にまた、コンピュータ３６は検査台モータ制御
器４４を動作させ、それによってガントリー１２内に患
者２２を配置するための電動検査台４６を制御する。詳
しく述べれば、検査台４６はガントリーの開口４８を通
して患者２２の各部を移動させる。
【００１２】上記に説明された通り、アレイ１８中の各
々の検出器素子２０は独立の電気信号を生じるが、この
電気信号はその検出器位置におけるＸ線ビーム減衰度の
測定値である。詳しく述べれば、各々のＸ線検出器素子
２０はシンチレータ素子を含むのが通例であって、互い
に隣接したシンチレータ素子は非シンチレーション性の
ギャップ（図示せず）によって分離されている。かかる
シンチレータ素子に隣接して配置されたホトダイオード
により、シンチレータ素子からの光出力を表わす電気信
号（図示せず）が発生される。全ての検出器素子２０か
らの減衰度測定値を独立に収集することによって透過率
分布が求められる。
【００１３】現行のシンチレータ材料（図示せず）は、
２つの部類に大別される。第１の部類は光出力が小さく
かつ放射線障害を受け易い高速検出器であり、また第２
の部類は透明度が低くてＺ軸方向の不均一性をもたらす
高速検出器である。本発明に従って製造されるシンチレ
ータについて一般的に述べれば、かかるシンチレータは
少なくとも２つのシンチレータ材料層を含むように構成
される。少なくとも２つの相異なる材料層を設けること
により、最適の組合せの特性を達成することができる。
【００１４】更に詳しく述べれば、図３は互いに隣接し
た第１及び第２のシンチレータ材料層１０４及び１０８
を有するシンチレータ１００とホトダイオード９０とを
含む検出器８０の一部分の略図である。シンチレータ１
００は、Ｘ線ビーム１６（図３には図示せず）が第１の
材料層１０４に入射するように構成されている。第２の
材料層１０８は第１の材料層１０４とホトダイオード９
０との間に配置されている。
【００１５】実施の一態様に従えば、第１の材料層１０
４は高速シンチレーション特性を有する材料〔たとえ
ば、ＧＯＳ（Ｇｄ2 Ｏ3 Ｓ）〕から成り、かつたとえば
０．５ｍｍの厚さＴ１を有している。第２の材料層１０
８は厚さＴ２を有すると共に、第１の材料層１０４より
も高い透明度特性を有している。たとえば、第２の材料
層１０８は約１．５〜２．０ｍｍの厚さＴ２を有するル
メックス(Lumex) 〔（ＹＧｄ）2 Ｏ3 〕の層である。シ
ンチレータ１００は極めて高速であると共に、非常に高
い出力レベル及び改善されたＺ軸方向の均一性を有して
いる。
【００１６】第１及び第２の材料層１０４及び１０８用
の材料としては、その他のシンチレータ材料を選択する
こともできる。たとえば、第１の材料層１０４用の材料
を高い光出力を有するシンチレータ材料の中から選択す
ると共に、第２の材料層１０８用の材料として第１の材
料層１０４よりも小さい放射線損傷係数又は高い均一性
係数を有するシンチレータ材料を使用することもでき
る。選択される特定のシンチレータ材料は、シンチレー
タ１００及び検出器８０において所望される特定の特性
に依存する。
【００１７】別の実施の態様に従えば、第１及び第２の
材料層１０４及び１０８は、２種のシンチレータ材料以
外の様々な材料の中から選択することもできる。その実
例としては、図示されてはいないが、１つのシンチレー
タ材料層とＸ線吸収性の光伝送材料層との組合せ、フィ
ルムスクリーン材料層とシンチレータ材料層との組合
せ、及びフィルムスクリーン材料層とＸ線吸収材料層と
の組合せが挙げられる。たとえば、光吸収材料層はライ
トパイプとして作用し、それによってホトダイオード９
０をＸ線１６から保護するために役立つ。更にまた、第
１及び第２の材料層１０４及び１０８はそれ以外の材料
から成っていてもよい。その実例としては、シンチレー
タ材料層と、シンチレーション特性又は非シンチレーシ
ョン特性を有する高密度ガラスとの組合せが挙げられ
る。
【００１８】シンチレータ１００の製造に際しては、第
１及び第２の材料層１０４及び１０８用の材料が選択さ
れ、そして適当な寸法及び厚さを有するように切断され
る。第１及び第２の材料層１０４及び１０８は、たとえ
ば接合、焼結、光学用接着剤及び光学用液体をはじめと
する様々な手段を用いて互いに結合することもできる
し、あるいは相手方の上に直接に成長させることもでき
る。たとえば、第１の材料層１０４と第２の材料層１０
８とを結合するために光学用接着剤１１６が選択された
場合には、第２の材料層１０８の上面に光学用接着剤１
１６を塗布した後、第２の材料層１０８に隣接して第１
の材料層１０４が配置される。選択される接着剤１１６
の組成は、第１及び第２の材料層１０４及び１０８の種
類並びにシンチレータ１００の所望の特性に応じて変化
する。第１及び第２の材料層１０４及び１０８を互いに
結合した後、シンチレータは当業界において公知の方法
で検出器（図示せず）に加工される。
【００１９】図５に示された別の実施の態様に基づくシ
ンチレータ２００は、第１のシンチレータ材料層２０４
と、複数の放射線発光性光ファイバ２１２から成る第２
の材料層２０８とを含んでいる。放射線抵抗性の光ファ
イバ２１２の各々は、入力端２１６及び出力端２２０を
有している。第１のシンチレータ材料層２０４は上記の
ごとくにして第２の材料層２０８に結合されるか、ある
いは光ファイバ２１２の入力端２１６に直接にドープす
ることによって形成される。たとえば、光ファイバ２１
２が小さい直径及び光反射特性を有する結果、シンチレ
ータ２００は横方向に進む光を自動的に平行化する。こ
のような自動平行化作用により、シンチレータ２００全
体にわたって高い横方向の空間分解能を維持することが
できる。
【００２０】シンチレータ２００の特定の具体例を図６
について説明すれば、光ファイバ２１２が束３０８を成
して配列されている。かかる束３０８は入力端３１２及
び出力端３１６を有している。Ｘ線シンチレータ材料か
ら成る第１の材料層３２０が入力端３１２に対して光学
的に結合されている。第１の材料層３２０は、束３０８
の全体を覆う単一の層（図示せず）として形成すること
もできるし、あるいは個々の入力端３１２を覆う複数の
断片として形成することもできる。後者の場合、第１の
材料層３２０はたとえば入力端３１２にＸ線シンチレー
タ材料をドープすることによって形成される。
【００２１】本発明のシンチレータは、装置の特定の特
性を最適化するために複数のシンチレータ材料層を含ん
でいる。本発明のシンチレータは、様々な種類の材料の
特定の利点を組合わせるようにして製造することができ
る。更にまた、本発明のシンチレータは横方向に進む光
を平行化することもできる。本発明の若干の実施の態様
に関する上記の説明によれば、本発明の目的が達成され
ることは明らかである。上記に本発明が詳しく記載され
ているとは言え、その説明は本発明の例示を目的とした
ものに過ぎないのであって、本発明の範囲を制限するも
のと解すべきでない。特に、上記の説明中ではただ２つ
の材料層が記載されているが、材料層の数は制限されな
いのであって、所望される特定の結果を得るために任意
の数の材料層を結合することができる。従って、本発明
の範囲はもっぱら前記特許請求の範囲によって制限され
ることを理解すべきである。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＣＴ装置の絵画図である。
【図２】図１に示された装置の概略ブロック図である。
【図３】シンチレータ材料層同士を結合する前における
本発明の多層シンチレータの略図である。
【図４】シンチレータ材料層同士を結合した後における
図３の多層シンチレータの略図である。
【図５】図３に示された多層シンチレータの別の具体例
を示す略図である。
【図６】図５に示された光ファイバ・シンチレータの斜
視図である。
【符号の説明】
１０ コンピュータ断層撮影装置 １２ ガントリー １４ Ｘ線源 １６ Ｘ線ビーム １８ 検出器アレイ ２０ 検出器素子 ２６ 制御機構 ２８ Ｘ線制御器 ３０ ガントリーモータ制御器 ３２ データ収集システム ３４ 画像再構成器 ３６ コンピュータ ３８ 大容量記憶装置 ４０ 操作卓 ４４ 検査台モータ制御器 ４６ 検査台 ６０ Ｘ線 ８０ 検出器 ９０ ホトダイオード １００ シンチレータ １０４ 第１の材料層 １０８ 第２の材料層 １１６ 光学用接着剤 ２００ シンチレータ ２０４ 第１の材料層 ２０８ 第２の材料層 ２１２ 光ファイバ ２１６ 入力端 ２２０ 出力端 ３１８ 束 ３１２ 入力端 ３１６ 出力端 ３２０ 第１の材料層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フイ・デイヴィッド・ヒー アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ワウ ケシャ、リンカーンシャー・コート、2806 番

Claims (27)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 高速シンチレーション特性を有する第１
    の材料層と、前記第１の材料層よりも高い透明度特性を
    有する第２の材料層とを含むことを特徴とするコンピュ
    ータ断層撮影装置用のシンチレータ。
  2. 【請求項２】 前記第１の材料層がＧＯＳから成る請求
    項１記載のシンチレータ。
  3. 【請求項３】 前記第１の材料層が約０．５ｍｍの厚さ
    を有する請求項２記載のシンチレータ。
  4. 【請求項４】 前記第２の材料層が（ＹＧｄ）2 Ｏ3 か
    ら成る請求項１記載のシンチレータ。
  5. 【請求項５】 前記シンチレータはＸ線ビームが前記第
    １の材料層に入射するように構成されている請求項１記
    載のシンチレータ。
  6. 【請求項６】 前記第１の材料層が前記第２の材料層に
    結合されている請求項１記載のシンチレータ。
  7. 【請求項７】 前記第１の材料層が前記第２の材料層に
    焼結されている請求項１記載のシンチレータ。
  8. 【請求項８】 前記第２の材料層がＸ線吸収性の光伝送
    材料から成る請求項１記載のシンチレータ。
  9. 【請求項９】 前記第２の材料層が非シンチレータ材料
    から成る請求項１記載のシンチレータ。
  10. 【請求項１０】 前記第１の材料層がフィルムスクリー
    ン材料から成る請求項１記載のシンチレータ。
  11. 【請求項１１】 前記第２の材料層が放射線発光性の光
    ファイバ材料から成る請求項１記載のシンチレータ。
  12. 【請求項１２】 前記光ファイバ材料が複数の放射線抵
    抗性光ファイバから成る請求項１１記載のシンチレー
    タ。
  13. 【請求項１３】 前記光ファイバにシンチレータ材料が
    ドープされている請求項１２記載のシンチレータ。
  14. 【請求項１４】 前記第１の材料層が前記第２の材料層
    上に直接に成長させたものである請求項１記載のシンチ
    レータ。
  15. 【請求項１５】 入力端及び出力端を有する光ファイバ
    の束を含んでいて、前記束の前記入力端はＸ線ビームが
    それに入射するように構成され、かつ前記光ファイバの
    少なくとも一部にはＸ線シンチレータ材料がドープされ
    ていることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置用シ
    ンチレータ。
  16. 【請求項１６】 更に、前記束の前記入力端に隣接して
    配置されたシンチレータ材料層を含む請求項１５記載の
    シンチレータ。
  17. 【請求項１７】 更に、前記束の前記入力端に対して光
    学的に結合された複数のシンチレータを含む請求項１５
    記載のシンチレータ。
  18. 【請求項１８】 高速シンチレーション特性を有する第
    １の材料層と、複数の光ファイバから成る第２の材料層
    とを含むことを特徴とするコンピュータ断層撮影装置用
    シンチレータ。
  19. 【請求項１９】 前記光ファイバが束を成して配列され
    ている請求項１８記載のシンチレータ。
  20. 【請求項２０】 前記束が入力端及び出力端を有し、か
    つ前記束の前記入力端が前記第１の材料層に対して光学
    的に結合されている請求項１９記載のシンチレータ。
  21. 【請求項２１】 前記第１の材料層が前記第２の材料層
    の前記入力端上に直接に形成されたものである請求項２
    ０記載のシンチレータ。
  22. 【請求項２２】 前記第２の材料層が前記第１の材料層
    よりも高い透明度特性を有する請求項１８記載のシンチ
    レータ。
  23. 【請求項２３】 前記第２の材料層が複数の放射線抵抗
    性光ファイバから成る請求項１８記載のシンチレータ。
  24. 【請求項２４】 複数の材料層を含んでいて、前記材料
    層の少なくとも１つが高速シンチレーション特性を有す
    る材料及び高い透明度特性を有する材料の少なくとも一
    方から成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置
    用シンチレータ。
  25. 【請求項２５】 第１の材料層が高速シンチレーション
    特性を有し、かつ第２の材料層が前記第１の材料層より
    も高い透明度特性を有する請求項２４記載のシンチレー
    タ。
  26. 【請求項２６】 光ファイバの束を含んでいて、前記束
    が入力端及び出力端を有する請求項２４記載のシンチレ
    ータ。
  27. 【請求項２７】 更に、前記束の前記入力端に配置され
    たシンチレータ材料層を含む請求項２６記載のシンチレ
    ータ。
JP10324812A 1997-11-26 1998-11-16 コンピュータ断層撮影装置用の多層シンチレータ Pending JPH11326524A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/980,193 US6087665A (en) 1997-11-26 1997-11-26 Multi-layered scintillators for computed tomograph systems
US08/980193 1997-11-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11326524A true JPH11326524A (ja) 1999-11-26

Family

ID=25527402

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10324812A Pending JPH11326524A (ja) 1997-11-26 1998-11-16 コンピュータ断層撮影装置用の多層シンチレータ

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6087665A (ja)
JP (1) JPH11326524A (ja)
CN (1) CN1222246C (ja)
DE (1) DE19853648A1 (ja)
IL (1) IL127003A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009544026A (ja) * 2006-07-20 2009-12-10 ジーエスアイ ヘルムホルツツェントゥルム フュア シュヴェリオーネンフォルシュング ゲーエムベーハー 材料標本の材料組成を決定する方法
JP2013019914A (ja) * 2012-10-29 2013-01-31 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出器
JP2015525352A (ja) * 2012-06-21 2015-09-03 レイキャン テクノロジー カンパニー リミテッド（スーヂョウ） 多層シンチレーション結晶及びｐｅｔ検出器

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6444988B1 (en) * 1999-12-20 2002-09-03 Eastman Kodak Company Electronic imaging screen with optical interference coating
US6553092B1 (en) * 2000-03-07 2003-04-22 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Multi-layer x-ray detector for diagnostic imaging
US6479824B1 (en) 2000-11-08 2002-11-12 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for CT imaging and other applications
US6700948B2 (en) 2000-12-12 2004-03-02 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Low-cost, multislice CT detector with multiple operating modes
US6873678B2 (en) 2000-12-28 2005-03-29 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc Methods and apparatus for computed tomographic cardiac or organ imaging
US6654443B1 (en) 2002-02-25 2003-11-25 Ge Medical Systems Global Technology Co., Llc Thermal sensing detector cell for a computed tomography system and method of manufacturing same
US6775348B2 (en) * 2002-02-27 2004-08-10 General Electric Company Fiber optic scintillator with optical gain for a computed tomography system and method of manufacturing same
JP2006517289A (ja) * 2003-02-10 2006-07-20 ディジラッド コーポレーション 予め成形された反射器を備えたシンチレーターアセンブリ
US6859514B2 (en) * 2003-03-14 2005-02-22 Ge Medical Systems Global Technology Company Llc CT detector array with uniform cross-talk
US7099429B2 (en) * 2003-10-06 2006-08-29 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for radiation detectors and methods of manufacture
WO2005038490A1 (en) * 2003-10-22 2005-04-28 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detection device, scintillator panel, method of making the same, making apparatus, and radiation image pick-up system
US6898265B1 (en) 2003-11-20 2005-05-24 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for radiation detectors and methods of manufacture
US7092481B2 (en) * 2004-05-19 2006-08-15 General Electric Company Direct conversion energy discriminating CT detector
EP1681584B1 (en) * 2005-01-13 2009-09-09 Aloka Co., Ltd. Scintillator member and manufacturing method thereof, and radiation measuring device
DE102005018329B4 (de) * 2005-04-20 2008-10-30 Siemens Ag Detektormodul für Röntgen- oder Gammastrahlung auf Basis von Wellenleitern
EP2359162A1 (en) * 2008-11-21 2011-08-24 Siemens A/S Radiation detector with doped optical guides
US8729478B2 (en) * 2010-06-09 2014-05-20 Carestream Health, Inc. Dual screen radiographic detector with improved spatial sampling
DE102011080892B3 (de) * 2011-08-12 2013-02-14 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenstrahlungsdetektor zur Verwendung in einem CT-System
WO2013063577A1 (en) * 2011-10-28 2013-05-02 The University Of Chicago Color x-ray histology for multi-stained biologic sample
EP3008490B1 (en) * 2013-06-13 2019-10-16 Koninklijke Philips N.V. Detector for radiotherapy treatment guidance and verification
US9482763B2 (en) * 2014-05-08 2016-11-01 Baker Hughes Incorporated Neutron and gamma sensitive fiber scintillators
ES2778676T3 (es) * 2015-10-28 2020-08-11 Nokia Technologies Oy Un aparato y métodos asociados para tomografía computarizada
CN106443754B (zh) * 2016-11-16 2019-02-01 奕瑞影像科技（太仓）有限公司 X射线图像摄取装置
EP3651650A4 (en) * 2017-07-13 2021-03-17 Rush University Medical Center ENERGY RESOLUTION DIFFUSION IMAGING METHOD, APPARATUS AND SYSTEM DURING RADIOTHERAPY
CN109545810A (zh) * 2018-11-20 2019-03-29 京东方科技集团股份有限公司 一种平板探测器及其制备方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5391879A (en) * 1993-11-19 1995-02-21 Minnesota Mining And Manufacturing Company Radiation detector
US5594253A (en) * 1994-12-28 1997-01-14 Lockheed Missiles And Space Company, Inc. Hybrid luminescent device for imaging of ionizing and penetrating radiation

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009544026A (ja) * 2006-07-20 2009-12-10 ジーエスアイ ヘルムホルツツェントゥルム フュア シュヴェリオーネンフォルシュング ゲーエムベーハー 材料標本の材料組成を決定する方法
JP2015525352A (ja) * 2012-06-21 2015-09-03 レイキャン テクノロジー カンパニー リミテッド（スーヂョウ） 多層シンチレーション結晶及びｐｅｔ検出器
US9395452B2 (en) 2012-06-21 2016-07-19 Raycan Technology Co., Ltd. Multilayer scintilation crystal and pet detector
JP2013019914A (ja) * 2012-10-29 2013-01-31 Hamamatsu Photonics Kk 放射線検出器

Also Published As

Publication number Publication date
DE19853648A1 (de) 1999-05-27
IL127003A0 (en) 1999-09-22
CN1217906A (zh) 1999-06-02
CN1222246C (zh) 2005-10-12
US6087665A (en) 2000-07-11
IL127003A (en) 2001-12-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH11326524A (ja) コンピュータ断層撮影装置用の多層シンチレータ
EP1132754B1 (en) Scintillator for X-ray detector
US4179100A (en) Radiography apparatus
JP4070283B2 (ja) コリメータ、コリメータ用のコーミング用具及びｘ線を検出する装置
JP6043474B2 (ja) タイル構成可能な多面検出器を備える容積測定計算機式断層写真法システム
JP5897890B2 (ja) 積重ね型フラット・パネルｘ線検出器アセンブリ及び該検出器アセンブリを備えるｃｔイメージング・システム
US4187427A (en) Structure for collimated scintillation detectors useful in tomography
US20080063138A1 (en) Gos Ceramic Scintillating Fiber Optics X-Ray Imaging Plate for Use In Medical Df and Rf Imaging and in Ct
US6479824B1 (en) Scintillator arrays for CT imaging and other applications
US6947517B2 (en) Scintillator array having a reflector with integrated air gaps
US20080165922A1 (en) Laminated ct collimator and method of making same
JP2004279419A (ja) セグメント式光学カプラを有するｃｔ検出器、並びに該検出器の製造方法
JP2008311651A (ja) 半導体光電子増倍器の構造
US20050111613A1 (en) Scintillator arrays for radiation detectors and methods of manufacture
JPH10339778A (ja) Ｘ線コンピュータトモグラフ装置
US7655915B2 (en) Collimator assembly for computed tomography system
US20020075992A1 (en) System and method of computer tomography imaging using a cerium doped lutetium orthosilicate scintillator
JPH11276470A (ja) 断層撮影システム及びそれ用のシンチレ―タ
JPH05345041A (ja) 高エネルギー放射線検出装置
JP4502422B2 (ja) 検出器及びマルチスライス型コンピュータ断層撮影システム
US7112798B2 (en) Tailorable CT-detector assembly
JP2008304349A (ja) シンチレータ部材およびｘ線ｃｔ装置
JPS58118977A (ja) 放射線検出器
JPH1184013A (ja) 放射線検出器
JP6951092B2 (ja) 放射線検出器、シンチレータアレイ、及びシンチレータアレイの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050530

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080513

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080612

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080819