JPH11308219A - 障害箇所特定方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 障害の原因となる箇所を基板及び回路素子単
位に特定でき、障害復旧作業を効率良く行えるようにす
る。 【解決手段】 ＡＳＷ１０には、２つの回線が同じ回路
素子を通らないように該各回路素子の接続を組み合わせ
て成る接続構造が実装される。障害特定部３０の接続管
理テーブル３０１には、上記接続構造に対応する各回路
素子毎の回線接続態様情報（各回路素子がどのスロット
のどのポートに接続されるかの情報）が格納される。障
害特定部３０は、各インタフェース基板２０内の障害検
出部２１からの障害情報を基に、該障害情報を得た障害
検出部２１を搭載するインタフェース基板２０を通る回
線（スロット／ポート）をキーとして、接続管理テーブ
ル３０１内の回線接続態様情報を検索することにより障
害箇所を特定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、インタフェース基
板（ユニット）を多数収容し、各インタフェース基板の
回線に対する通信制御をポイント・ツー・ポイント（Po
int-to-Point）でサポートするスイッチ機能を有する制
御基板（ユニット）を搭載する交換機等の通信システム
において、基板や基板内の回路素子単位に障害の発生箇
所を特定可能な障害箇所特定方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】交換機等の通信システムにおいては、通
信データが流れる経路中で、システム内の基板等に実装
されているＬＳＩ等を用いて任意の検出条件に基づいた
障害検出を行うのが一般的である。ここで、非同期転送
モード（ＡＴＭ：AsynchronousTransfer Mode）技術を
用いてＡＴＭセルの交換処理を行うＡＴＭ交換機を例に
挙げて、従来の障害箇所特定方法について説明する。

【０００３】図６は、ＡＴＭ交換機の概略的な回路構成
を示すブロック図であり、ＡＴＭセルの交換を行うＡＴ
Ｍスイッチ基板（ＡＳＷ）１０、ＡＳＷ１０と外部との
入出力インタフェースとして機能するインタフェース基
板２０ａ（Ａ１５０ＡＬＥＤ），２０ｂ（ＡＴＭＡ），
２０ｃ（ＡＴＭＣ２），２０ｄ（Ｆ１．５Ｃ）等を具備
して構成される。尚、同図における実線矢印及び点線矢
印は、当該ＡＴＭ交換機内におけるセルデータの流れを
示したものである。

【０００４】このＡＴＭ交換機において、各インタフェ
ース基板２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄは、ＡＳＷ１
０の所定のスロットの所定のポートを介して当該ＡＳＷ
１０に収容される。図７は、ＡＳＷ１０のインタフェー
ス基板収容構造の一例を示すものである。この例では、
ＡＴＭ交換機が、１システムにつき、ＡＳＷ１０につな
がるインタフェーススロット（スロット３〜１１）を９
つ有し、そのうちの２スロット（スロット３，４）が１
回線ずつ、残りの７スロット（スロット５〜１１）が２
回線ずつ収容しており、合計１６回線がＡＳＷ１０とつ
ながっている。

【０００５】更に、図８は、ＡＳＷ１０内におけるＬＳ
Ｉ（Large Scale Integration）やＩＣ（Integrated Ci
rcuit）等の回路素子の接続構造を示したものである。
この接続構造における各回路素子間の信号線の組み合わ
せは、図７に示す基板収容構造に対応したものである。
すなわち、この例では、上述した合計１６個の回線によ
る通信を全てサポートするために、ＡＳＷ１０で実装す
る「ＧＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣ（符号；１３９〜１４
４）」が最低６個、「ＴＴＬ／ＢＴＬ変換用ＩＣ（符
号；１３１〜１３８）」が最低８個、それぞれ送信側と
受信側とに必要となっている。なお、同図において、Ｏ
Ｂ８及びＳＷ８はＬＳＩにより実現されるものである。
図８におけるＡＳＷ１０内のセルデータの通過する各回
路素子は、ＬＳＩ／ゲートアレイまたは信号レベル変換
用ＩＣなどであるが、これらの詳細な機能については、
障害箇所特定処理と本質的に関係がないためその詳しい
説明は省略する。

【０００６】さて、図６において、同図に示す経路に従
ってセルが流れる過程において、当該経路に介在する各
素子毎に、当該各素子のブロック内に示すような異常検
出が行われる。これら各素子毎に検出された障害情報
は、各ＬＳＩのステータスレジスタに規定フラグを立て
たうえで、ファームウェアがそれをポーリングすること
で上位のアプリケーションに伝えられ、処理されるシー
ケンスとなっている。

【０００７】一方で、通話路上に障害を発生させる原因
があることからこの原因を早急に調査し、対策を講じて
正常な状態へ戻すことも要求されるが、この種の従来の
装置では、上述の如く、異常が検出され、障害情報が上
げられてもその原因がどこにあるのか正確に特定できな
いのが現状であった。例えば、図６に示すＡＴＭＣ２
（２０ｃ）内のＣＦＴ（ＲＴＤ）で「未設定セルエラ
ー」が検出され、かつこのＣＦＴ（ＲＴＤ）がスロット
１０に実装された当該ＡＴＭＣ２（２０ｃ）のポート０
かつポート１であった時、外部インタフェースからデー
タを受信し、Ａ１５０ＡＬＥＤ（２０ａ）、ＡＴＭＡ
（２０ｂ）、ＡＳＷ１０を経て対向するＡＴＭＣ２（２
０ｃ）のＣＦＴ（ＲＴＤ）に至るまでの通話路におい
て、図８に示す如く、両ポートともデータがＴＴＬ／Ｂ
ＴＬ変換用ＩＣ１３７及びＧＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣ１
４３を通るため、この障害情報の原因は、ＡＳＷ１０内
の「ＴＴＬ／ＧＴＬ変換用ＩＣ」の故障によるものなの
か、「ＢＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣ」の故障によるものな
のか、あるいはスロット１０に差し込まれているＡＴＭ
Ｃ２基板自体の故障によるものなのかを判断できなかっ
た。

【０００８】このため、上記障害の復旧にあたっては、
当該障害に関係する経路上の基板を１つ１つ取り換えつ
つ、その都度立ち上げから設定までをやり直し、正常動
作を確認する必要があった。また、この場合、動作異常
に関係する基板が複数発生する場合も有り得ることか
ら、１枚ずつの取り換えによる対処だけでは正常動作に
至らないことも起こり得るため、あらゆるケースを想定
した煩雑な検証が必要であった。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上述の如く、従来の通
信システムでは、通話路上に実装されるＬＳＩが検出す
る障害情報を基に、障害内容そのものは認識できるが、
その障害の原因となる箇所の特定が行えず、通信正常化
のための障害復旧作業を行う際、この障害に関係する全
ての基板について基板の差し換えを行い最悪全てのケー
スについて調査する必要が生じ、そのための効率が悪く
調査時間も長くかかり、必然的に通信停止時間も長期化
するという問題点があった。

【００１０】本発明は上記問題点を除去し、障害の原因
となる箇所を基板及び回路素子単位に特定でき、障害復
旧作業を効率良く行えるとともに、上記特定結果に基づ
き障害発生箇所を迂回する通信経路を確立することによ
り通信停止時間を短縮できる障害箇所特定方法及び装置
を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明は、複数の回路素子を実装して成
り、多回線の通信制御をサポートする制御基板に複数の
インタフェース基板を収容して成るシステムにおける障
害箇所特定方法において、前記制御基板上に、同一の回
路素子を複数の回線が通ることがないように前記各回線
と前記回路素子間を接続して成る接続構造を形成すると
ともに、前記各回路素子毎の前記回線に対する接続態様
情報を保持し、前記インタフェース基板上で検出される
障害情報の収集結果を基に、該障害情報が得られたイン
タフェース基板に対応する前記回線をキーとして前記接
続態様情報を検索することにより、少なくとも前記回路
素子及び前記インタフェース基板単位に障害箇所を特定
することを特徴とする。

【００１２】また、請求項２の発明は、複数の回路素子
を実装して成り、多回線の通信制御をサポートする制御
基板に複数のインタフェース基板を収容して成るシステ
ムにおける障害箇所特定装置において、前記制御基板上
に形成され、同一の回路素子を複数の回線が通ることが
ないように前記各回線と前記回路素子間を接続して成る
接続構造と、前記各回路素子毎の前記回線に対する接続
態様情報を保持する接続態様情報保持手段と、前記イン
タフェース基板上で検出される障害情報を収集し、該障
害情報が得られたインタフェース基板に対応する前記回
線をキーとして前記接続態様情報を検索することによ
り、少なくとも前記回路素子及び前記インタフェース基
板単位に障害箇所を特定する障害箇所特定手段とを具備
することを特徴とする。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て添付図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明
に係わるＡＴＭ交換機のＡＳＷ１０内の回路素子接続構
造を示す概略図である。同図におけるＡＳＷ１０内の回
路素子の数及び機能構成そのものは従来装置（図８）と
同様である。しかしながら、本発明では、ＡＳＷ１０内
に実装するＴＴＬ／ＢＴＬ変換用ＩＣ１３１〜１３８及
びＧＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣ１３９〜１４４等の接続の
組み合わせを、これらＩＣ等が後述するインタフェース
基板２０とつながるスロット及びポートに関連付けて変
更した点が従来装置と大きく異なっている。具体例とし
ては、図１に示すように、インタフェース基板２０を経
由する２つの回線がＡＳＷ１０内の同じＴＴＬ／ＢＴＬ
変換用ＩＣ１３１〜１３８とＧＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣ
１３９〜１４４を通らないようにこれら各ＩＣの接続の
組み合わせを決定している。

【００１４】かかる接続構造によれば、例えば、ＡＳＷ
１０のスロット３のポート０につながるＣＦＴ（ＲＴ
Ｄ）、スロット４のポート０につながるＣＦＴ（ＲＴ
Ｄ）、スロット６のポート０につながるＣＦＴ（ＲＴ
Ｄ）で同時に異常検出により障害情報が挙げられた場
合、図１におけるＧＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣ１３９が障
害情報の原因と推測でき、スロット６のポート１につな
がるＣＦＴ（ＲＴＤ）、スロット７のポート１につなが
るＣＦＴ（ＲＴＤ）で同時に異常検出により障害情報が
挙げられた場合、同図におけるＴＴＬ／ＢＴＬ変換用Ｉ
Ｃ１３４が障害情報の原因と推測できる。また、スロッ
ト６のポート０につながるＣＦＴ（ＲＴＤ）のみで異常
検出により障害情報が挙げられた場合、ＡＳＷ１０内の
回路素子の異常とは考え難いため、スロット６に挿入さ
れたインタフェース基板２０自体に障害の原因があると
推測できる。

【００１５】図２は、本発明のＡＴＭ交換機における障
害箇所特定機能に係わる部分の構成を示すものである。
同図において、ＡＳＷ１０の各スロット３〜１１にはそ
れぞれスロットの各ポート（上りポート０，１及び下り
ポート０，１：図７参照）を介してインタフェース基板
２０が収容される。これらインタフェース基板２０に
は、ＣＦＴ（ＲＴＤ）等の障害検出部２１がぞれぞれ設
けられ、当該各障害検出部２１は更に障害特定部３０に
接続されている。

【００１６】障害特定部３０は、ファームウェアにより
実現され、上記各インタフェース基板２０内の障害検出
部２１で検出された障害情報をポーリングし、該ポーリ
ング結果に基づき障害発生箇所を特定する機能部であ
る。障害特定部３０内に設けられる接続管理テーブル３
０１は、上記障害箇所特定処理に際して参照する情報を
格納するものである。この接続管理テーブル３０１に格
納される情報は、図１に示した接続構造に対応する各回
路素子毎の回線接続態様を示す情報であり、具体的に
は、各回路素子がどのスロットのどのポートに接続され
るかに関する情報である。なお、図１において、ＴＴＬ
／ＢＴＬ変換用ＩＣ１３１〜１３８やＧＴＬ／ＴＴＬ変
換用ＩＣ１３９〜１４４等の各回路素子のブロック内の
記載内容が上記回線接続態様情報に相当する。これによ
り、例えば、図１におけるＴＴＬ／ＢＴＬ変換用ＩＣ１
３１は、スロット３のポート０とスロット５のポート０
につながる回線に接続されていることが分かる。

【００１７】障害特定部３０は、各インタフェース基板
２０内の障害検出部２１から挙げられる障害情報を基
に、該障害情報のポーリング先の障害検出部２１を搭載
するインタフェース基板２０を通る回線（スロット／ポ
ート）をキーとして上記回線接続態様情報を検索するこ
とにより障害箇所を特定し、必要に応じて当該障害に対
する対応措置を講じる。

【００１８】先に挙げた例に倣えば、ＡＳＷ１０のスロ
ット３のポート０に収容されたインタフェース基板２０
内のＣＦＴ（ＲＴＤ）、スロット４のポート０に収容さ
れたインタフェース基板２０内のＣＦＴ（ＲＴＤ）、ス
ロット６のポート０に収容されたインタフェース基板２
０内のＣＦＴ（ＲＴＤ）で同時に異常検出により障害情
報が挙げられた場合、障害特定部３０は、これら障害情
報を得た３つの経路に介在するＩＣがあるかどうかを上
記接続管理テーブル３０１内の接続態様情報を基にチェ
ックすることにより、図１におけるＧＴＬ／ＴＴＬ変換
用ＩＣ１３９が障害情報の原因であることを特定する。
同様に、スロット６のポート１に接続されたインタフェ
ース基板２０内のＣＦＴ（ＲＴＤ）、スロット７のポー
ト１に収容されたインタフェース基板２０内のＣＦＴ
（ＲＴＤ）で同時に異常検出により障害情報が挙げられ
た場合、障害特定部３０は、これら障害情報を得た２つ
の経路に介在するＩＣとして、図１におけるＴＴＬ／Ｂ
ＴＬ変換用ＩＣ１３４が障害情報の原因であると特定す
る。更に、スロット６のポート０に収容されたインタフ
ェース基板２０内のＣＦＴ（ＲＴＤ）のみで異常検出に
より障害情報が挙げられた場合、障害特定部３０は、こ
の障害情報を得た経路のみに介在するＩＣがないとの判
断により、ＡＳＷ１０内の回路素子の異常ではなく、ス
ロット６に挿入されたインタフェース基板２０自体が障
害の原因であることを特定する。

【００１９】次に、スロット３のポート０とスロット９
のポート０間の通信経路中に通信エラーが発生した場合
における障害特定部３０での障害箇所特定処理について
図３に示すフローチャートを参照して説明する。この場
合、障害特定部３０は、上述したポーリング処理を行い
ながら、まず初めに、スロット３のポート０につながる
ＣＦＴにアラーム（障害情報）が生じたか否かをチェッ
クする（ステップ３０１）。ここで、アラームが生じた
場合（ステップ３０１ＹＥＳ）、スロット３に収容され
たインタフェース基板２０のポート０のＣＦＴ入力以前
を障害箇所として特定し、スロット３に収容された当該
基板２０の交換が必要であることを認識する（ステップ
３１１）。

【００２０】また、アラームが生じていない場合（ステ
ップ３０１ＮＯ）、次にスロット３のポート１の通信状
態をチェックし、通信エラーが発生したか否かを判定す
る（ステップ３０２）。ここで、通信エラーが発生して
いれば（ステップ３０２ＹＥＳ）、スロット３に収容さ
れたインタフェース基板２０自体が障害であると特定
し、当該基板２０の交換が必要であることを認識する
（ステップ３１２）。また、通信エラーが発生していな
い場合（ステップ３０２ＮＯ）、次にスロット９のポー
ト０につながるＣＦＴにアラームが無いかどうかをチェ
ックする（ステップ３０３）。ここで、アラーム無しの
場合（ステップ３０３ＹＥＳ）、スロット９に収容され
たインタフェース基板２０のポート０のＣＦＴ出力以後
が障害であると特定し、スロット９に収容された当該基
板２０の交換が必要であることを認識する（ステップ３
１３）。

【００２１】また、アラーム有りの場合、次にスロット
９のポート１のＣＦＴの通信状態をチェックし、通信エ
ラーが発生したか否かを判定する（ステップ３０４）。
ここで、通信エラーが発生していれば（ステップ３０４
ＹＥＳ）、スロット９に収容されたインタフェース基板
２０自体が障害であると特定し、当該基板の交換が必要
であることを認識する（ステップ３１４）。

【００２２】また、通信エラーが発生していない場合
（ステップ３０４ＮＯ）、スロット５のポート０の通信
状態をチェックし、通信エラーが発生したか否かを判定
する（ステップ３０５）。ここで、通信エラーが発生し
ていれば（ステップ３０５ＹＥＳ）、更に、スロット４
のポート０及びスロット６のポート０の通信状態をチェ
ックし、共に通信エラーが発生したか否かを判定する
（ステップ３０６）。

【００２３】ここで、通信エラーが発生していれば（ス
テップ３０６ＹＥＳ）、ＡＳＷ１０のＴＴＬ／ＢＴＬ変
換用ＩＣが壊れている疑いがあり、このＡＳＷ１０ある
いはＴＴＬ／ＢＴＬ変換用ＩＣの交換が必要であると認
識する（ステップ３１５）。また、通信エラーが発生し
ていない場合（ステップ３０６ＮＯ）、スロット３かス
ロット９のＢＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣかマザーボード上
のパターンが障害であると特定し、当該ＩＣの交換かパ
ターン調査が必要であると認識する（ステップ３１
６）。

【００２４】一方、ステップ３０５において通信エラー
が発生していない場合、スロット４のポート０及びスロ
ット６のポート０の通信状態をチェックし、共に通信エ
ラーが発生したか否かを判定する（ステップ３０７）。
ここで、通信エラーが発生していれば（ステップ３０７
ＹＥＳ）、ＡＳＷ１０のＧＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣが壊
れている疑いがあり、このＡＳＷ１０あるいはＧＴＬ／
ＴＴＬ変換用ＩＣの交換が必要であると認識する（ステ
ップ３１７）。また、通信エラーが発生していない場合
（ステップ３０７ＮＯ）、ＡＳＷ１０内のＯＢ８または
ＳＷ８のＬＳＩ１１０，１２０（図１参照）が壊れてい
る疑いがあり、このＡＳＷ１０の交換が必要であると認
識する（ステップ３１８）。

【００２５】上述の如く、本発明では、ＡＳＷ１０内に
実装する各回路素子とＡＴＭ交換機のインタフェース
（インタフェース基板２０）が実装される各スロットの
各ポートとの組み合わせを適宜に変え、各インタフェー
ス基板２０から挙げられる障害情報を基に障害が発生し
ている回線が単独であるか複数であるか、また複数の場
合には、通話路上、その複数の回線だけが共通して関与
する回路素子があるかどうかを見極めながら、障害発生
箇所を絞り込むようにしたものである。

【００２６】このように、ＡＳＷ１０につながる個々の
回線に対し、ＢＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣやＧＴＬ／ＴＴ
Ｌ変換用ＩＣをうまく組み合わせることで、インタフェ
ース基板２０による障害発生なのか、あるいはＡＳＷ１
０内の特定箇所での障害発生なのかを容易に推測できる
本発明の構成によれば、この障害箇所を避けるべく迂回
通信パスを確立して通信を救済するといった機能構成へ
の発展も容易となる。この障害対策の一例としては、Ａ
ＳＷ１０を現用系と待機糸とに２重化しておき、上述し
た方法により現用系のＡＳＷ１０が障害情報の原因であ
ると特定した場合に、ファームウェアからの指示によ
り、待機系のＡＳＷ１０へと系の切り換えを行う方法が
ある。この方法によれば、現用系から待機系への切り換
えにより通信を継続できるのは勿論、切り換え後、障害
の発生したＡＳＷ１０の交換に通信を維持したままで対
処可能となる。また、インタフェース基板２０が障害情
報の原因であると特定した場合の障害対策としては、当
該障害情報の原因であると特定されたインタフェース基
板２０を通らない迂回パスを新たに設定することにより
通信を維持する方法があり、この場合にも、通信停止に
よる時間的なロスを最小限に抑えることができる。

【００２７】以下、本発明の障害箇所特定方法に基づく
通信救済制御の具体的な例について、図４及び図５を参
照して説明する。ここで、図４はＡＳＷ１０の障害救済
制御に係わるシステム構成例を示し、図５はインタフェ
ース基板障害時の障害救済制御に係わるシステム構成例
を示している。

【００２８】図４において、ＡＳＷ１０内には、＃０で
示す現用系スイッチと＃１で示す待機系スイッチが予め
用意されている。通常状態においては、現用系スイッチ
＃０により交換処理を行っている。この処理中、障害特
定部３０により、障害情報が検出されかつこの障害情報
がＡＳＷ１０が原因であることが特定された場合、この
特定結果を図示しない制御部に伝え、該制御部からＡＳ
Ｗ１０に対して、現用系スイッチ＃０から待機系スイッ
チ＃１に切り換える制御を実施することにより通信を維
持できる。また、この場合、上記切り換え制御後、通信
を中断することなく、障害の起きた現用系スイッチ＃０
の交換作業を行うことができる。

【００２９】また、図５において、相互に対向するノー
ドＡとノードＢは、各々ＡＳＷ１０及びスロットＡ，
Ｂ，ＣとＡＳＷ１０′及びスロットＡ′，Ｂ′，Ｃ′を
具備して構成され、スロットＢとＢ′、スロットＣと
Ｃ′が互いに外部ケーブル５０，５１により接続されて
いる。係る構成において、障害の無い場合、ノードＡの
スロットＡに接続された端末ＡとノードＢのスロット
Ａ′に接続された端末Ｂとは、スロットＡ→パスＰ１→
ＡＳＷ１０→パスＰ２→スロットＣ→外部ケーブル５０
→スロットＣ′→パスＰ３→ＡＳＷ１０′→パスＰ４→
スロットＡ′という経路により通信を行うことができ
る。

【００３０】この通信中、ノードＢにおいて、スロット
Ｃ′に障害が発生すると、当該ノードＢの障害特定部３
０では、この時の障害情報を取得し、かつこの障害情報
がスロットＣ′が原因であることを特定できる。この
時、当該特定結果を図示しない制御部に伝えることで、
当該制御部から、上記障害の原因であるスロットＣ′を
通るパスＰ２及びＰ３の代わりにパスＰ５及びＰ６を切
り換え設定する制御を行うことができる。これにより、
スロットＣ′の障害特定後、端末Ａと端末Ｂとは、スロ
ットＡ→パスＰ１→ＡＳＷ１０→パスＰ５→スロットＢ
→外部ケーブル５１→スロットＢ′→パスＰ６→ＡＳＷ
１０′→パスＰ４→スロットＡ′という経路により通信
を維持でき、通信停止による時間的なロスを最小限に抑
えることができる。

【００３１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
制御基板上で、同一の回路素子を複数の回線が通ること
がないように各回線と回路素子間の接続態様を工夫する
一方、インタフェース基板上で検出される障害情報の収
集結果を基に、該障害情報が得られたインタフェース基
板に対応する回線をキーとして上記接続態様を解析する
ことにより回路素子及びインタフェース基板単位に障害
箇所を特定するようにしたため、インタフェース基板に
よる障害発生なのか、あるいは制御基板内のある特定箇
所による障害なのかを容易に推測して障害の原因となっ
た基板等の交換に短時間で対処でき、障害復旧作業の効
率化に寄与できる。

【００３２】また、障害の原因特定の容易性を生かし
て、ファームウェアにより、障害発生基板等を迂回させ
るパスの再設定を自動的に行うといった機能構成への発
展も可能であり、通信状態の損失を最小限に抑え、通信
の品質向上にも寄与できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係わるＡＴＭ交換機のＡＳＷ内の回路
素子間接続態様を示す図。

【図２】本発明に係わるＡＴＭ交換機の障害箇所特定機
能部分の概略構成図。

【図３】図２における障害特定部での障害箇所特定処理
を示すフローチャート。

【図４】本発明に係わるＡＳＷの障害救済制御に係わる
システム構成例を示す図。

【図５】本発明に係わるインタフェース基板障害時の障
害救済制御に係わるシステム構成例を示す図。

【図６】ＡＴＭ交換機の回路構成を示す概略図。

【図７】図６におけるＡＳＷに対するインタフェース基
板収容構造の一例を示す図。

【図８】従来のＡＴＭ交換機のＡＳＷ内の回路素子間接
続態様を示す図。

【符号の説明】

１０，１０′ ＡＴＭ（非同期転送モード）スイッチ基
板（ＡＳＷ） １１０，１２０ ＡＳＷ内ＬＳＩ（Large Scale Integr
ation） １３１〜１３８ ＴＴＬ／ＢＴＬ変換用ＩＣ（Integrat
ed Circuit） １３９〜１４４ ＧＴＬ／ＴＴＬ変換用ＩＣ ２０ インタフェース基板 ２０ａ インタフェース基板（Ａ１５０ＡＬＥＤ） ２０ｂ インタフェース基板（ＡＴＭＡ） ２０ｃ インタフェース基板（ＡＴＭＣ２） ２０ｄ インタフェース基板（Ｆ１．５Ｃ） ２１ 障害検出部 ３０ 障害特定部 ３０１ 接続管理テーブル ５０，５１ 外部ケーブル Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４，Ｐ５，Ｐ６ 通話パス

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の回路素子を実装して成り、多回線
   の通信制御をサポートする制御基板に複数のインタフェ
   ース基板を収容して成るシステムにおける障害箇所特定
   方法において、 前記制御基板上に、同一の回路素子を複数の回線が通る
   ことがないように前記各回線と前記回路素子間を接続し
   て成る接続構造を形成するとともに、 前記各回路素子毎の前記回線に対する接続態様情報を保
   持し、 前記インタフェース基板上で検出される障害情報の収集
   結果を基に、該障害情報が得られたインタフェース基板
   に対応する前記回線をキーとして前記接続態様情報を検
   索することにより、少なくとも前記回路素子及び前記イ
   ンタフェース基板単位に障害箇所を特定することを特徴
   とする障害箇所特定方法。
2. 【請求項２】 複数の回路素子を実装して成り、多回線
   の通信制御をサポートする制御基板に複数のインタフェ
   ース基板を収容して成るシステムにおける障害箇所特定
   装置において、 前記制御基板上に形成され、同一の回路素子を複数の回
   線が通ることがないように前記各回線と前記回路素子間
   を接続して成る接続構造と、 前記各回路素子毎の前記回線に対する接続態様情報を保
   持する接続態様情報保持手段と、 前記インタフェース基板上で検出される障害情報を収集
   し、該障害情報が得られたインタフェース基板に対応す
   る前記回線をキーとして前記接続態様情報を検索するこ
   とにより、少なくとも前記回路素子及び前記インタフェ
   ース基板単位に障害箇所を特定する障害箇所特定手段と
   を具備することを特徴とする障害箇所特定装置。