JPH11307871A - Semiconductor laser device - Google Patents

Semiconductor laser device

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JPH11307871A
JPH11307871A JP11366098A JP11366098A JPH11307871A JP H11307871 A JPH11307871 A JP H11307871A JP 11366098 A JP11366098 A JP 11366098A JP 11366098 A JP11366098 A JP 11366098A JP H11307871 A JPH11307871 A JP H11307871A
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JP
Japan
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chip
semiconductor laser
laser device
mounting portion
diode chip
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Application number
JP11366098A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiji Kawada
誠治 河田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Publication of JPH11307871A publication Critical patent/JPH11307871A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a semiconductor laser device which exhibits a high radiation property, is low-cost and can perform positioning of light emitting points of an LD(laser diode) chip accurately and easily. SOLUTION: One end of a lead frame 1a is a mounting part 1d in the form of a plate and the other end is an electrode lead 1g. An LD chip 2 is mounted on the surface of the mounting part 1d through a heatsink 3. A resin molded part 4 is formed on the lead frame 1a for sealing the LD chip 2. A transparent cap 5 is fitted on the resin molded part 4 for sealing the LD chip 2. The underside of the mounting part 1d protrudes from the resin molded part 4 and is exposed. The heat generated in the LD chip 2 is dissipated from the underside of the mounting part 1d. Also, one side of the underside of the mounting part 1d is a reference 7 for positioning the light emitting point of the LD chip 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、LDチップが封入
された半導体レーザ装置に関し、特に、プラスチックな
どを用いてLDチップが封入されたプラスチックモール
ドパッケージの半導体レーザ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor laser device in which an LD chip is sealed, and more particularly, to a semiconductor laser device in a plastic mold package in which an LD chip is sealed by using plastic or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は、従来の半導体レーザ装置につい
て説明するための図である。図4(a)が、従来の半導
体レーザ装置を示す断面図であり、図4(b)が図4
(a)のA−A’線断面図である。図4(a)および図
4(b)に示される半導体レーザ装置は、金属ステムを
用いてパッケージされたものである。この半導体レーザ
装置は、CDやDVD用の単品半導体レーザとして最も
一般的に用いられており、全世界で月産1000万個程
度、生産されている。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a diagram for explaining a conventional semiconductor laser device. FIG. 4A is a cross-sectional view showing a conventional semiconductor laser device, and FIG.
FIG. 3A is a sectional view taken along line AA ′ of FIG. The semiconductor laser device shown in FIGS. 4A and 4B is packaged using a metal stem. This semiconductor laser device is most commonly used as a single-piece semiconductor laser for CDs and DVDs, and is produced around 10 million units per month worldwide.

【0003】従来の半導体レーザ装置では、図4(a)
および図4(b)に示されるように、円盤状の金属ステ
ム109の表面から、LD(レーザダイオード)チップ
を搭載するための搭載部109aが突出している。搭載
部109aにはヒートシンク103を介してLDチップ
102が搭載されている。LDチップ102で発生した
熱がヒートシンク103を介して金属ステム109に導
かれる。
In a conventional semiconductor laser device, FIG.
As shown in FIG. 4B, a mounting portion 109a for mounting an LD (laser diode) chip protrudes from the surface of the disk-shaped metal stem 109. The LD chip 102 is mounted on the mounting portion 109a via the heat sink 103. The heat generated in the LD chip 102 is guided to the metal stem 109 via the heat sink 103.

【0004】金属ステム109の裏面からは、その裏面
に対して垂直な方向に延びる棒状のリード部109bが
突出している。また、金属ステム109の中央部には、
金属ステム109の裏面から表面に貫通する棒状の端子
121が固定されている。金属ステム109の表面から
端子121の一端部が突出しており、その一端部がワイ
ヤ122を介してLDチップ102と電気的に接続され
ている。
A rod-shaped lead portion 109b extending in a direction perpendicular to the back surface of the metal stem 109 protrudes from the back surface. Also, at the center of the metal stem 109,
A rod-shaped terminal 121 penetrating from the back surface to the front surface of the metal stem 109 is fixed. One end of the terminal 121 protrudes from the surface of the metal stem 109, and one end of the terminal 121 is electrically connected to the LD chip 102 via a wire 122.

【0005】金属ステム109の表面には、円筒状の金
属製のキャップ110の一方の端面が接合されている。
このキャップ110によって、搭載部109a、ヒート
シンク103、LDチップ102およびワイヤ122
や、端子121の、金属ステム109の表面から突出し
た部分が覆われている。キャップ110の他方の端部に
は、キャップ110の開口部を塞ぐカバーガラス111
が溶着されており、キャップ110およびカバーガラス
111によってLDチップ102などが封止されてい
る。カバーガラス111は、LDチップ102から出射
するレーザ光の出射窓となる。
[0005] One end face of a cylindrical metal cap 110 is joined to the surface of the metal stem 109.
With the cap 110, the mounting portion 109a, the heat sink 103, the LD chip 102, and the wire 122
Also, portions of the terminals 121 protruding from the surface of the metal stem 109 are covered. At the other end of the cap 110, a cover glass 111 for closing the opening of the cap 110 is provided.
, And the LD chip 102 and the like are sealed by the cap 110 and the cover glass 111. The cover glass 111 serves as an emission window for laser light emitted from the LD chip 102.

【0006】図4(a)および図4(b)に示した半導
体レーザ装置の製造方法としては、金属ステム109の
搭載部109aにヒートシンク103を介してLDチッ
プ102を搭載し、LDチップ102のワイヤボンディ
ングを行う。その後、カバーガラス111を融着したキ
ャップ110をプロジェクション溶接で金属ステム10
9の表面に接合することにより、LDチップ102が封
止される。
As a method of manufacturing the semiconductor laser device shown in FIGS. 4A and 4B, an LD chip 102 is mounted on a mounting portion 109a of a metal stem 109 via a heat sink 103, and the LD chip 102 is mounted. Perform wire bonding. Thereafter, the cap 110 to which the cover glass 111 has been fused is attached to the metal stem 10 by projection welding.
The LD chip 102 is sealed by bonding to the surface of the LD chip 102.

【0007】このような半導体レーザ装置では、LDチ
ップ102を封止する方法として金属パッケージが用い
られており、LDチップ102が金属製のキャップ11
0および金属ステム109により覆われている。従っ
て、半導体レーザ装置の内部から外部への熱伝導が高
く、LDチップ102の放熱に関する問題点が少ない。
また、半導体レーザ装置の発光点の位置決めでは金属ス
テム109の裏面が基準面として用いられ、その位置決
めは、金属ステム109の裏面を電子機器などの筐体へ
突き当てることにより行われる。
In such a semiconductor laser device, a metal package is used as a method for sealing the LD chip 102, and the LD chip 102 is made of a metal cap 11.
0 and the metal stem 109. Therefore, heat conduction from the inside to the outside of the semiconductor laser device is high, and there is little problem with heat radiation of the LD chip 102.
In positioning the light emitting point of the semiconductor laser device, the back surface of the metal stem 109 is used as a reference surface, and the positioning is performed by abutting the back surface of the metal stem 109 against a housing of an electronic device or the like.

【0008】上述した金属パッケージの半導体レーザ装
置の問題点としては、個片の部品点数が多く、それぞれ
の部品の作製にコストがかかり、半導体レーザ装置のコ
ストも高くなることが挙げられる。金属ステム109お
よびキャップ110を作製する際にかかるコストはそれ
ぞれ、共に1個あたり数十円かかる。それぞれの部品の
コストが高いという問題点を解決するために、図5に基
づいて後述する半導体レーザ装置が考えられた。
The problems of the above-described metal packaged semiconductor laser device include that the number of individual parts is large, the cost of manufacturing each component is high, and the cost of the semiconductor laser device is also high. The cost required for manufacturing the metal stem 109 and the cap 110 is several tens of yen each. In order to solve the problem that the cost of each component is high, a semiconductor laser device described later with reference to FIG. 5 has been considered.

【0009】図5は、従来の半導体レーザ装置について
説明するための図である。図5(a)が、従来の半導体
レーザ装置を示す上面図であり、図5(b)が、図5
(a)に示した半導体レーザ装置の断面図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a conventional semiconductor laser device. FIG. 5A is a top view showing a conventional semiconductor laser device, and FIG.
It is sectional drawing of the semiconductor laser device shown to (a).

【0010】図5(a)および図5(b)に示される半
導体レーザ装置では、リードフレーム201aの一方の
端部が、LDチップが搭載される板状の搭載部201d
となっている。リードフレーム201aの他方の端部は
電極リード部201gとなっている。搭載部201dの
周囲および裏面を覆うように、リードフレーム201a
に、絶縁部材である樹脂モールド204が形成されてい
る。樹脂モールド204により搭載部201dの側面
や、裏面全体が被覆されている。そして、搭載部201
dの表面や電極リード部201gが樹脂モールド204
から露出している。この搭載部201dの表面にヒート
シンク203を介してLDチップ202が搭載されてい
る。LDチップ202で発生した熱は、ヒートシンク2
03を介してリードフレーム201aに導かれる。
In the semiconductor laser device shown in FIGS. 5A and 5B, one end of a lead frame 201a is connected to a plate-like mounting portion 201d on which an LD chip is mounted.
It has become. The other end of the lead frame 201a is an electrode lead 201g. The lead frame 201a is provided so as to cover the periphery and the back surface of the mounting portion 201d.
In addition, a resin mold 204 as an insulating member is formed. The side surface of the mounting portion 201d and the entire back surface are covered with the resin mold 204. And the mounting unit 201
d and the electrode lead portion 201g are
It is exposed from. An LD chip 202 is mounted on the surface of the mounting portion 201d via a heat sink 203. The heat generated by the LD chip 202 is transferred to the heat sink 2
03 to the lead frame 201a.

【0011】また、樹脂モールド204には、リードフ
レーム201aの電極リード部201gと平行なリード
フレーム201bおよび201cが固定されており、リ
ードフレーム201a,201b,201cが並列に配
置されている。リードフレーム201bのLDチップ2
02側の端部は接続部201eとなっており、また、リ
ードフレーム201cのLDチップ202側の端部は接
続部201fとなっている。接続部201eおよび20
1fのそれぞれの一面は、樹脂モールド204の、搭載
部201dの表面が露出している面と同じ面に露出して
いる。リードフレーム201bの接続部201eの露出
面は、ワイヤ209を介してLDチップ202と電気的
に接続されている。
Further, lead frames 201b and 201c parallel to the electrode lead portions 201g of the lead frame 201a are fixed to the resin mold 204, and the lead frames 201a, 201b and 201c are arranged in parallel. LD chip 2 of lead frame 201b
The end on the 02 side is a connecting portion 201e, and the end on the LD chip 202 side of the lead frame 201c is a connecting portion 201f. Connections 201e and 20
One surface of 1f is exposed on the same surface of the resin mold 204 as the surface of the mounting portion 201d is exposed. The exposed surface of the connection part 201e of the lead frame 201b is electrically connected to the LD chip 202 via the wire 209.

【0012】そして、樹脂モールド204の両側面には
それぞれ、半導体レーザ装置を電子機器の筐体などに取
り付けるために用いられる取付け金具208が取り付け
られている。半導体レーザ装置を筐体に取り付ける際、
取付け金具208を筐体などに突き当てることによりL
Dチップ202の発光点の位置決めが行われる。この取
付け金具208からも、LDチップ202で発生した熱
が放散される。
On both sides of the resin mold 204, mounting brackets 208 used for mounting the semiconductor laser device to a housing of an electronic device or the like are mounted. When attaching the semiconductor laser device to the housing,
By attaching the mounting bracket 208 to a housing or the like, L
The light emitting point of the D chip 202 is positioned. The heat generated in the LD chip 202 is also radiated from the mounting bracket 208.

【0013】このような半導体レーザ装置では、LDチ
ップ202を封止する方法としてプラスティックモール
ドパッケージが用いられており、金属パッケージと比較
して部品点数が少なく、コストが低いという利点があ
る。図4(a)および図4(b)に示した金属ステム1
09およびキャップ110を作製する際にかかるコスト
はそれぞれ、共に1個あたり数十円かかるのに対して、
プラスティックモールドパッケージでは、コストが、1
個あたり数円から十数円となる。
In such a semiconductor laser device, a plastic mold package is used as a method for encapsulating the LD chip 202, and there are advantages in that the number of components is small and the cost is low as compared with a metal package. Metal stem 1 shown in FIGS. 4 (a) and 4 (b)
09 and the cost required to produce the cap 110 each cost several tens of yen per piece,
The cost of plastic mold package is 1
From several yen to more than ten yen per piece.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図5
(a)および図5(b)に示される従来の半導体レーザ
装置では、搭載部201dの裏面全体が樹脂モールド2
04で被覆されており、リードフレーム201aの、L
Dチップ202で発生した熱が伝わる部分である電極リ
ード部201gが細く長い。従って、LDチップ202
の動作が過酷になると、LDチップ202からの熱を効
率よく逃がすことができず、LDチップ202の温度が
上昇してしまうという問題点がある。LDチップの温度
が上昇すると、LDチップの寿命が短くなったり、LD
チップの発振が不可能となったりしてしまうことがあ
る。
However, FIG.
(A) and the conventional semiconductor laser device shown in FIG.
04 of the lead frame 201a.
The electrode lead portion 201g, which is a portion to which heat generated in the D chip 202 is transmitted, is thin and long. Therefore, the LD chip 202
Is severe, heat from the LD chip 202 cannot be efficiently released and the temperature of the LD chip 202 rises. When the temperature of the LD chip rises, the life of the LD chip is shortened,
Oscillation of the chip may become impossible.

【0015】本発明の目的は、LDチップからの熱を十
分に放出することでき、コストが低いうえに、LDチッ
プの発光点の位置決めを精度よく、かつ簡単に行うこと
ができる半導体レーザ装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor laser device capable of sufficiently releasing heat from an LD chip, reducing the cost, and accurately and easily positioning the light emitting point of the LD chip. To provide.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、レーザダイオードチップと、レーザダイ
オードチップが表面に搭載される搭載部を有するリード
フレームと、搭載部に搭載されたレーザダイオードチッ
プを封入するためにリードフレームの少なくとも一部を
被覆する絶縁部材とを有する半導体レーザ装置におい
て、リードフレームの搭載部の裏面の少なくとも一部が
前記絶縁部材から露出しており、かつ、搭載部の裏面
の、露出した部分が、レーザダイオードチップの発光点
の位置を決めるための基準となっている。
In order to achieve the above object, the present invention provides a laser diode chip, a lead frame having a mounting portion on which the laser diode chip is mounted on a surface, and a laser mounted on the mounting portion. A semiconductor laser device having an insulating member covering at least a part of the lead frame for enclosing the diode chip, wherein at least a part of the back surface of the mounting portion of the lead frame is exposed from the insulating member; The exposed portion of the back surface of the portion serves as a reference for determining the position of the light emitting point of the laser diode chip.

【0017】上記の発明では、リードフレームの搭載部
の裏面の少なくとも一部が絶縁部材から露出しているこ
とにより、搭載部の裏面の、露出した部分から、レーザ
ダイオードチップで発生した熱が放散されるので、半導
体レーザ装置から効率よく熱を逃がすことができる。ま
た、搭載部の裏面の、露出した部分が、レーザダイオー
ドチップの発光点の位置を決めるための基準となってい
ることにより、例えば、半導体レーザ装置を電子機器の
筐体に取り付ける際に、搭載部の裏面の、露出した部分
を筐体の基準面に押し当てたり、画像処理の基準とした
りすることで、レーザダイオードチップの発光点を精度
よく配置させることができる。また、半導体レーザ装置
を電子機器の筐体に取り付ける際に、搭載部の裏面の、
露出した部分を筐体の金属部分などと当接させること
で、レーザダイオードチップで発生した熱を効率よく逃
すことができる。
In the above invention, since at least a portion of the back surface of the mounting portion of the lead frame is exposed from the insulating member, heat generated by the laser diode chip is radiated from the exposed portion of the back surface of the mounting portion. Therefore, heat can be efficiently released from the semiconductor laser device. Also, since the exposed portion of the back surface of the mounting portion serves as a reference for determining the position of the light emitting point of the laser diode chip, for example, when mounting the semiconductor laser device to the housing of the electronic device, By pressing the exposed portion of the back surface of the portion against the reference surface of the housing or as a reference for image processing, the light emitting point of the laser diode chip can be accurately arranged. Also, when the semiconductor laser device is mounted on the housing of the electronic device,
By bringing the exposed portion into contact with a metal portion of the housing or the like, heat generated in the laser diode chip can be efficiently released.

【0018】また、レーザダイオードチップから出射す
るレーザ光の進行方向に配置され、レーザダイオードチ
ップ側と反対側から入射してレーザダイオードチップに
向かって進むレーザ光を、レーザダイオードチップに向
かう方向とは異なる方向に反射するマイクロプリズム
と、マイクロプリズムで反射されたレーザ光が入射する
受光素子とがレーザダイオードチップと共に封入されて
いてもよい。
Further, the laser light which is arranged in the traveling direction of the laser light emitted from the laser diode chip and which is incident from the side opposite to the laser diode chip and travels toward the laser diode chip is defined as the direction toward the laser diode chip. A microprism that reflects light in different directions and a light receiving element on which the laser light reflected by the microprism enters may be sealed together with the laser diode chip.

【0019】さらに、リードフレームの搭載部の形状が
板状であり、搭載部と平行な方向にレーザダイオードチ
ップからレーザ光が出射するように、搭載部にレーザダ
イオードチップが搭載されていることが好ましい。
Furthermore, the mounting portion of the lead frame is plate-shaped, and the laser diode chip is mounted on the mounting portion so that laser light is emitted from the laser diode chip in a direction parallel to the mounting portion. preferable.

【0020】上記のように、板状の搭載部と平行な方向
にレーザダイオードチップからレーザ光が出射するよう
に、搭載部にレーザダイオードチップが搭載されている
ことにより、前述したマイクロプリズムなどをレーザダ
イオードチップと共に封入する際、マイクロプリズムと
レーザダイオードチップとが板状の搭載部と平行な方向
に並ぶことになる。従ってこの場合、半導体レーザ装置
を薄型化することができる さらに、リードフレームが棒状の電極リード部を複数有
しており、複数の電極リード部のうち特定の数の電極リ
ード部が前記絶縁部材の一方の側面から突出し、かつ、
複数の電極部のうち、前記特定の数の電極リード部を除
く電極リード部が前記絶縁部材の他方の側面から突出し
ていてもよい。
As described above, since the laser diode chip is mounted on the mounting portion so that laser light is emitted from the laser diode chip in a direction parallel to the plate-shaped mounting portion, the above-described micro prism and the like can be used. When enclosing together with the laser diode chip, the microprisms and the laser diode chip are arranged in a direction parallel to the plate-shaped mounting portion. Therefore, in this case, the semiconductor laser device can be made thinner. Furthermore, the lead frame has a plurality of rod-shaped electrode leads, and a specific number of the electrode leads among the plurality of electrode leads is formed of the insulating member. Protruding from one side, and
Among the plurality of electrode portions, the electrode lead portions other than the specific number of electrode lead portions may protrude from the other side surface of the insulating member.

【0021】さらに、レーザダイオードチップで発生し
た熱をリードフレームに導くためのヒートシンクを介し
てレーザダイオードチップがリードフレームの搭載部に
搭載されていることや、前記絶縁部材の材質として樹脂
が用いられていることが好ましい。
Further, the laser diode chip is mounted on a mounting portion of the lead frame via a heat sink for guiding heat generated by the laser diode chip to the lead frame, and resin is used as a material of the insulating member. Is preferred.

【0022】上記のように、レーザダイオードチップを
封入するための絶縁部材の材質として樹脂が用いられ、
レーザダイオードチップが樹脂モールドパッケージによ
り封止されることにより、従来の金属パッケージと比較
して部品点数が少なくなり、半導体レーザ装置のコスト
が低くなる。
As described above, resin is used as the material of the insulating member for enclosing the laser diode chip,
By sealing the laser diode chip with the resin mold package, the number of components is reduced as compared with the conventional metal package, and the cost of the semiconductor laser device is reduced.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0024】(第1の実施の形態)図1は、本発明の第
1の実施形態の半導体レーザ装置について説明するため
の図である。図1(a)が本実施形態の半導体レーザ装
置の上面と平行な方向での断面図であり、図1(b)が
本実施形態の半導体レーザ装置の側面と平行な方向での
断面図である。
(First Embodiment) FIG. 1 is a diagram for explaining a semiconductor laser device according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1A is a cross-sectional view in a direction parallel to a top surface of the semiconductor laser device of the present embodiment, and FIG. 1B is a cross-sectional view in a direction parallel to a side surface of the semiconductor laser device of the present embodiment. is there.

【0025】本実施形態の半導体レーザ装置では図1
(a)および図1(b)に示すように、リードフレーム
1aの一方の端部が、LDチップが搭載される板状の搭
載部1dとなっている。リードフレーム1aの他方の端
部は、一方向に延びる電極リード部1gとなっている。
リードフレーム1aの搭載部1dの表面には、ヒートシ
ンク3を介してLDチップ2が搭載されている。LDチ
ップ2は、電極リード部1gと平行な方向にLDチップ
2からレーザ光が出射するように配置されている。リー
ドフレーム1aには、LDチップ2およびヒートシンク
3を封入するための樹脂モールド4が形成されている。
この樹脂モールド4によって、LDチップ2の上面およ
び、LDチップ2の、LDチップ2から出射するレーザ
光の進行方向側を除いて、LDチップ2およびヒートシ
ンク3が覆われている。
In the semiconductor laser device of the present embodiment, FIG.
As shown in FIG. 1A and FIG. 1B, one end of the lead frame 1a is a plate-shaped mounting portion 1d on which an LD chip is mounted. The other end of the lead frame 1a is an electrode lead 1g extending in one direction.
The LD chip 2 is mounted on the surface of the mounting portion 1d of the lead frame 1a via the heat sink 3. The LD chip 2 is arranged so that laser light is emitted from the LD chip 2 in a direction parallel to the electrode lead portion 1g. A resin mold 4 for enclosing the LD chip 2 and the heat sink 3 is formed on the lead frame 1a.
The LD chip 2 and the heat sink 3 are covered with the resin mold 4 except for the upper surface of the LD chip 2 and the side of the LD chip 2 in the traveling direction of the laser light emitted from the LD chip 2.

【0026】また、樹脂モールド4によって、搭載部1
dの側面および、リードフレーム1aの、搭載部1dと
電極リード部1gとの間の部分が被覆されている。搭載
部1dは電極リード部1gよりも厚くなっており、搭載
部1dの裏面側の部分が樹脂モールド4から突出して露
出している。搭載部1dの裏面の、樹脂モールド4から
露出した部分の一辺が、半導体レーザ装置を位置決めす
る際の基準7となっている。搭載部1dにLDチップ2
を搭載する際、LDチップ2が基準7から、決められた
位置に精度よく配置させる。
The mounting portion 1 is formed by the resin mold 4.
d and the portion of the lead frame 1a between the mounting portion 1d and the electrode lead portion 1g. The mounting portion 1d is thicker than the electrode lead portion 1g, and a portion on the back surface side of the mounting portion 1d is projected and exposed from the resin mold 4. One side of the back surface of the mounting portion 1d exposed from the resin mold 4 is a reference 7 for positioning the semiconductor laser device. LD chip 2 on mounting part 1d
Is mounted, the LD chip 2 is accurately arranged at a position determined from the reference 7.

【0027】さらに、樹脂モールド4には、電極リード
部1gと平行なリードフレーム1bおよび1cがリード
フレーム1aと共に固定されている。リードフレーム1
b,1a,1cはこの順番で並列に並べられ、3つのリ
ードフレームは同一平面内に配置されている。リードフ
レーム1bのLDチップ2側の端部は接続部1eとなっ
ており、また、リードフレーム1cのLDチップ2側の
端部は接続部1fとなっている。接続部1eおよび1f
のそれぞれの一面は、樹脂モールド4の、搭載部1dの
表面が露出している面と同じ面に露出している。リード
フレーム1bの接続部1eの露出面は、ワイヤ9を介し
てLDチップ2と電気的に接続されている。
Further, lead frames 1b and 1c parallel to the electrode lead portion 1g are fixed to the resin mold 4 together with the lead frame 1a. Lead frame 1
b, 1a, and 1c are arranged in parallel in this order, and the three lead frames are arranged in the same plane. The end of the lead frame 1b on the LD chip 2 side is a connection part 1e, and the end of the lead frame 1c on the LD chip 2 side is a connection part 1f. Connections 1e and 1f
Are exposed on the same surface of the resin mold 4 as the surface on which the surface of the mounting portion 1d is exposed. The exposed surface of the connection portion 1e of the lead frame 1b is electrically connected to the LD chip 2 via the wire 9.

【0028】そして、樹脂モールド4には、LDチップ
2の上面および、LDチップ2の、LDチップ2から出
射するレーザ光の進行方向側を覆うように透明キャップ
5が取り付けられている。これにより、LDチップ2お
よびシートシンク3が半導体レーザ装置の内部に封入さ
れる。
A transparent cap 5 is attached to the resin mold 4 so as to cover the upper surface of the LD chip 2 and the side of the LD chip 2 in the traveling direction of the laser light emitted from the LD chip 2. Thus, the LD chip 2 and the sheet sink 3 are sealed inside the semiconductor laser device.

【0029】このような半導体レーザ装置では、LDチ
ップ2からレーザ光を出射させるためにLDチップ2に
電流を流すことによってLDチップ2で熱が発生する。
LDチップ2で発生した熱はヒートシンク3を通じてリ
ードフレーム1aの搭載部1dに伝わり、搭載部1dに
伝わった熱が搭載部1dの裏面から半導体レーザ装置の
外部に放出される。また、半導体レーザ装置を電子機器
などに取り付ける際、電子機器の金属製の筐体に基準面
7を接触させることにより、LDチップ2からの熱を半
導体レーザ装置から効率よく放出させることができる。
In such a semiconductor laser device, heat is generated in the LD chip 2 by causing a current to flow through the LD chip 2 in order to emit laser light from the LD chip 2.
The heat generated in the LD chip 2 is transmitted to the mounting portion 1d of the lead frame 1a through the heat sink 3, and the heat transmitted to the mounting portion 1d is released from the back surface of the mounting portion 1d to the outside of the semiconductor laser device. Further, when the semiconductor laser device is mounted on an electronic device or the like, the heat from the LD chip 2 can be efficiently emitted from the semiconductor laser device by bringing the reference surface 7 into contact with the metal housing of the electronic device.

【0030】半導体レーザ装置を使用する場合、レンズ
などの光学素子と組み合わせて使用することが圧倒的に
多い。この場合、光学距離を正確に決めるために、本実
施形態では前述したように、レーザ光が搭載部1dおよ
び電極リード部1gと平行な方向に出射するようにLD
チップ2を配置し、リードフレーム1aの基準7と、L
Dチップ2の発光点の位置との関係(基準7と発光点と
の距離)を規定して組み立てている。これにより、半導
体レーザ装置の使用時に、基準7を筐体のざぐりなどに
突き当てて半導体レーザ装置を固定すれば、発光点の位
置を規定することができる。
When a semiconductor laser device is used, it is overwhelmingly used in combination with an optical element such as a lens. In this case, in order to accurately determine the optical distance, in the present embodiment, as described above, the laser beam is emitted so as to be emitted in a direction parallel to the mounting portion 1d and the electrode lead portion 1g.
The chip 2 is arranged, and the reference 7 of the lead frame 1a and L
The relationship between the position of the light emitting point of the D chip 2 and the distance (the distance between the reference 7 and the light emitting point) is defined. Thus, when the semiconductor laser device is used, if the reference 7 is abutted against a counterbore of the housing and the semiconductor laser device is fixed, the position of the light emitting point can be defined.

【0031】以上で説明したように、本実施形態の半導
体レーザ装置では、リードフレーム1aの搭載部1dの
裏面が樹脂モールド4から露出していることにより、搭
載部1dの裏面から、LDチップ2で発生した熱が放散
されるので、半導体レーザ装置から効率よく熱を逃がす
ことができる。また、搭載部1dの裏面側の部分の一辺
が、LDチップ2の発光点の位置を決めるための基準7
となっていることにより、半導体レーザ装置を電子機器
の筐体に取り付ける際に、基準7を筐体の基準面に押し
当てたり、画像処理の基準としたりすることで、LDチ
ップ2の発光点を精度よく、かつ簡便に配置させること
ができる。また、半導体レーザ装置を電子機器の筐体に
取り付ける際に、搭載部1dの裏面側の部分を筐体の金
属部分などと当接させることで、LDチップ2で発生し
た熱を効率よく逃すことができる。
As described above, in the semiconductor laser device of the present embodiment, since the back surface of the mounting portion 1d of the lead frame 1a is exposed from the resin mold 4, the LD chip 2 Since the heat generated in the semiconductor laser device is dissipated, the heat can be efficiently released from the semiconductor laser device. In addition, one side of the back side of the mounting portion 1d is used as a reference 7 for determining the position of the light emitting point of the LD chip 2.
When the semiconductor laser device is mounted on the housing of the electronic device, the reference 7 is pressed against the reference surface of the housing or used as a reference for image processing, so that the light emitting point of the LD chip 2 can be adjusted. Can be arranged accurately and easily. Further, when the semiconductor laser device is mounted on the housing of the electronic device, the heat generated by the LD chip 2 can be efficiently dissipated by bringing the back surface portion of the mounting portion 1d into contact with a metal portion of the housing. Can be.

【0032】さらに、LDチップ2を封止する方法とし
て、樹脂モールドパッケージが用いられていることによ
り、半導体レーザ装置のコストが低く抑えられる。
Further, since a resin mold package is used as a method of sealing the LD chip 2, the cost of the semiconductor laser device can be kept low.

【0033】(第2の実施の形態)図2は、本発明の第
2の実施形態の半導体レーザ装置について説明するため
の図である。図2(a)が本実施形態の半導体レーザ装
置の上面と平行な方向での断面図であり、図2(b)が
本実施形態の半導体レーザ装置の側面と平行な方向での
断面図である。本実施形態の半導体レーザ装置では、第
1の実施形態のものと比較して、半導体レーザ装置の両
側からリードフレームが突出している点が異なってい
る。
(Second Embodiment) FIG. 2 is a view for explaining a semiconductor laser device according to a second embodiment of the present invention. FIG. 2A is a cross-sectional view in a direction parallel to the upper surface of the semiconductor laser device of the present embodiment, and FIG. 2B is a cross-sectional view in a direction parallel to the side surface of the semiconductor laser device of the present embodiment. is there. The semiconductor laser device of the present embodiment is different from the semiconductor laser device of the first embodiment in that the lead frames protrude from both sides of the semiconductor laser device.

【0034】本実施形態の半導体レーザ装置では図2
(a)および図2(b)に示すように、リードフレーム
21aが、LDチップが搭載される板状の搭載部21d
と、搭載部21dの一方の側面から突出する電極リード
部21gと、搭載部21dの他方の側面から突出する電
極リード部21hとで構成されている。搭載部21dの
厚みはリードフレーム21aの他の部分の厚みよりも厚
くなっている。
In the semiconductor laser device of this embodiment, FIG.
As shown in FIG. 2A and FIG. 2B, the lead frame 21a is a plate-shaped mounting portion 21d on which the LD chip is mounted.
And an electrode lead portion 21g projecting from one side surface of the mounting portion 21d, and an electrode lead portion 21h projecting from the other side surface of the mounting portion 21d. The thickness of the mounting portion 21d is larger than the thickness of other portions of the lead frame 21a.

【0035】リードフレーム21aには、リードフレー
ム21aに搭載されるLDチップを封入するための絶縁
部材である樹脂モールド24が形成されている。リード
フレーム21aの一部は、樹脂モールド24によって被
覆されているが、搭載部21dの表面および裏面や、電
極リード部21gおよび21hは樹脂モールド24から
露出している。搭載部21dの裏面側の部分は樹脂モー
ルド24から突出しており、突出した部分の一辺が基準
27となっている。
A resin mold 24, which is an insulating member for enclosing an LD chip mounted on the lead frame 21a, is formed on the lead frame 21a. Although a part of the lead frame 21a is covered with the resin mold 24, the front and back surfaces of the mounting portion 21d and the electrode lead portions 21g and 21h are exposed from the resin mold 24. A portion on the back surface side of the mounting portion 21d protrudes from the resin mold 24, and one side of the protruding portion is a reference 27.

【0036】本実施形態の半導体レーザ装置を電子機器
などに組み付ける組立装置において、組立装置側の基準
面に基準27を押し当てたり、基準27を画像処理の基
準として使うことにより、半導体レーザ装置の組み付け
位置の精度を出すことができる。
In an assembling apparatus for assembling the semiconductor laser device of the present embodiment to an electronic device or the like, the reference 27 is pressed against a reference surface of the assembling apparatus or the reference 27 is used as a reference for image processing. The accuracy of the assembling position can be improved.

【0037】搭載部21dの表面にはヒートシンク23
を介してLDチップ22が搭載されている。ここで、L
Dチップ22の発光点の位置が基準27から、決められ
た所定の距離に精度よく配置されるように、LDチップ
22が設置されている。
A heat sink 23 is provided on the surface of the mounting portion 21d.
, An LD chip 22 is mounted. Where L
The LD chip 22 is installed such that the position of the light emitting point of the D chip 22 is accurately arranged at a predetermined distance determined from the reference 27.

【0038】樹脂モールド24には、電極リード部21
gと共に半導体レーザ装置の一方の側面から突出するリ
ードフレーム21cと、電極リード部21hと共に半導
体レーザ装置の他方の側面から突出するリードフレーム
21bとが固定されている。リードフレーム21bとL
Dチップ22とはワイヤ29を介して電気的に接続され
ている。そして、LDチップ22およびヒートシンク2
3を封入するように、樹脂モールド24に透明キャップ
25が取り付けられている。
The resin lead 24 has an electrode lead 21
A lead frame 21c projecting from one side surface of the semiconductor laser device together with g, and a lead frame 21b projecting from the other side surface of the semiconductor laser device together with the electrode lead portion 21h are fixed. Lead frame 21b and L
The D chip 22 is electrically connected via a wire 29. Then, the LD chip 22 and the heat sink 2
3, a transparent cap 25 is attached to the resin mold 24.

【0039】このような半導体レーザ装置を電子機器な
どの筐体に搭載する際、筐体の凹部などに基準27を押
し当てることにより、LDチップ22の光軸の調整や、
LDチップ22の発光点の光軸方向での位置決めを行う
ことができる。
When such a semiconductor laser device is mounted on a housing of an electronic device or the like, adjustment of the optical axis of the LD chip 22 is performed by pressing the reference 27 against a concave portion of the housing.
The light emitting point of the LD chip 22 can be positioned in the optical axis direction.

【0040】本実施形態の半導体レーザ装置において
も、第1の実施形態と同様に、LDチップ22で発生し
た熱が搭載部21dの裏面から放出されるので、LDチ
ップ22の温度上昇が抑制される。
In the semiconductor laser device of this embodiment, as in the first embodiment, since the heat generated in the LD chip 22 is released from the back surface of the mounting portion 21d, the temperature rise of the LD chip 22 is suppressed. You.

【0041】さらに、搭載部21dの裏面の、樹脂モー
ルド4から露出した部分を筐体などと接触させることに
より、LDチップ22で発生した熱を搭載部21dの裏
面から筐体に逃がすことが可能である。また、この半導
体レーザ装置のパッケージはプラスティックモールドに
よるものであるので、従来の金属製パッケージに比べコ
ストを低くすることが可能である。
Further, by contacting a portion of the back surface of the mounting portion 21d exposed from the resin mold 4 with a housing or the like, heat generated in the LD chip 22 can be released from the back surface of the mounting portion 21d to the housing. It is. Further, since the package of this semiconductor laser device is made of a plastic mold, the cost can be reduced as compared with a conventional metal package.

【0042】(第3の実施の形態)図3は、本発明の第
3の実施形態の半導体レーザ装置について説明するため
の図である。図3(a)が本実施形態の半導体レーザ装
置の上面と平行な方向での断面図であり、図3(b)が
本実施形態の半導体レーザ装置の側面と平行な方向での
断面図である。本実施形態の半導体レーザ装置では、第
1および第2の実施形態のものと比較して、LDチップ
と共にマイクロプリズムおよび受光素子が封入されてい
る点が大きく異なっている。
(Third Embodiment) FIG. 3 is a view for explaining a semiconductor laser device according to a third embodiment of the present invention. FIG. 3A is a cross-sectional view in a direction parallel to the upper surface of the semiconductor laser device of the present embodiment, and FIG. 3B is a cross-sectional view in a direction parallel to the side surface of the semiconductor laser device of the present embodiment. is there. The semiconductor laser device of the present embodiment is significantly different from the semiconductor laser devices of the first and second embodiments in that a microprism and a light receiving element are sealed together with an LD chip.

【0043】本実施形態の半導体レーザ装置では図3
(a)および図3(b)に示すように、リードフレーム
41aが、LDチップが搭載される板状の搭載部41d
と、搭載41dの一方の側面から突出する電極リード部
41gと、搭載部41dの他方の側面から突出する電極
リード部41hとで構成されている。搭載部41dの厚
みはリードフレーム41aの他の部分の厚みよりも厚く
なっている。
In the semiconductor laser device of this embodiment, FIG.
As shown in FIG. 3A and FIG. 3B, the lead frame 41a is a plate-like mounting portion 41d on which the LD chip is mounted.
And an electrode lead portion 41g projecting from one side surface of the mounting 41d, and an electrode lead portion 41h projecting from the other side surface of the mounting portion 41d. The thickness of the mounting portion 41d is thicker than the thickness of other portions of the lead frame 41a.

【0044】リードフレーム41aには、リードフレー
ム41aに搭載されるLDチップ42を封入するための
絶縁部材である樹脂モールド44が形成されている。リ
ードフレーム41aの一部は、樹脂モールド44によっ
て被覆されているが、搭載部41dの表面および裏面
や、電極リード部41gおよび41hは樹脂モールド4
4から露出している。搭載部41dの裏面側の部分は樹
脂モールド44から突出しており、突出した部分の一辺
が基準47となっている。
On the lead frame 41a, a resin mold 44, which is an insulating member for enclosing the LD chip 42 mounted on the lead frame 41a, is formed. Although a part of the lead frame 41a is covered with the resin mold 44, the front and back surfaces of the mounting portion 41d and the electrode lead portions 41g and 41h are covered with the resin mold 44.
It is exposed from 4. A portion on the back surface side of the mounting portion 41 d protrudes from the resin mold 44, and one side of the protruding portion serves as a reference 47.

【0045】本実施形態の半導体レーザ装置を電子機器
に組み付ける組立装置において、組立装置側の基準面に
基準47を押し当てたり、基準47を画像処理の基準と
して使うことにより、半導体レーザ装置の組み付け位置
の精度を出すことができる。
In the assembling apparatus for assembling the semiconductor laser device of the present embodiment to an electronic device, the assembling of the semiconductor laser device is performed by pressing the reference 47 against the reference surface of the assembling apparatus or using the reference 47 as a reference for image processing. Position accuracy can be improved.

【0046】搭載部41dの表面にはヒートシンク43
を介してLDチップ42が搭載されている。ここで、L
Dチップ42の発光点の位置が基準47から、決められ
た所定の距離に精度よく配置されるように、LDチップ
42が設置されている。また、LDチップ42から、搭
載部41dと平行な方向にレーザ光が出射するようにL
Dチップ42が搭載されている。
A heat sink 43 is provided on the surface of the mounting portion 41d.
, An LD chip 42 is mounted. Where L
The LD chip 42 is installed such that the position of the light emitting point of the D chip 42 is accurately arranged at a predetermined distance determined from the reference 47. Also, the laser beam is emitted from the LD chip 42 in a direction parallel to the mounting portion 41d.
The D chip 42 is mounted.

【0047】樹脂モールド44の、搭載部41dの表面
が露出している面上には、LDチップ42から出射する
レーザ光の進行方向に配置されたマイクロプリズム52
と、マイクロプリズム52と樹脂モールド44との間に
挟まれるIC内蔵受光素子52とが搭載されている。マ
イクロプリズム52は、LDチップ42側と反対側から
マイクロプリズム53に入射してLDチップ42に向か
って進むレーザ光をIC内蔵受光素子52に向けて反射
するものである。マイクロプリズム53で反射されてI
C内蔵受光素子52に入射するレーザ光はIC内蔵受光
素子52で電気信号に変換される。
On the surface of the resin mold 44 where the surface of the mounting portion 41 d is exposed, a micro prism 52 arranged in the traveling direction of the laser light emitted from the LD chip 42.
And an IC built-in light receiving element 52 sandwiched between the microprism 52 and the resin mold 44 are mounted. The microprism 52 reflects the laser beam incident on the microprism 53 from the side opposite to the LD chip 42 side and traveling toward the LD chip 42 toward the light receiving element 52 with a built-in IC. Reflected by the microprism 53
The laser beam incident on the light receiving element 52 with built-in C is converted into an electric signal by the light receiving element 52 with built-in IC.

【0048】樹脂モールド44には、電極リード部41
gと共に半導体レーザ装置の一方の側面から突出するリ
ードフレーム41c,41j,41lと、電極リード部
41hと共に半導体レーザ装置の他方の側面から突出す
るリードフレーム41b,41i,41kとが固定され
ている。リードフレーム41bとLDチップ42とはワ
イヤ49を介して電気的に接続されている。そして、L
Dチップ42、ヒートシンク43、IC内蔵受光素子5
2およびマイクロプリズム53を封入するように、樹脂
モールド44に透明キャップ45が取り付けられてい
る。
The resin lead 44 has an electrode lead 41
The lead frames 41c, 41j, and 41l projecting from one side of the semiconductor laser device together with g, and the lead frames 41b, 41i, and 41k projecting from the other side of the semiconductor laser device together with the electrode lead portions 41h are fixed. The lead frame 41b and the LD chip 42 are electrically connected via wires 49. And L
D chip 42, heat sink 43, light receiving element 5 with built-in IC
A transparent cap 45 is attached to the resin mold 44 so that the microcaps 2 and the microprism 53 are sealed.

【0049】本実施形態の半導体レーザ装置は、CDや
DVDなどの光ディスクを再生するために用いられる。
この場合、半導体レーザ装置から出射したレーザ光を光
ディスクの記録媒体に照射し、光ディスクで反射された
反射光をIC内蔵受光素子52で受光することによって
光ディスクの信号が読み出される。
The semiconductor laser device of this embodiment is used for reproducing an optical disk such as a CD or a DVD.
In this case, the signal of the optical disk is read by irradiating the recording medium of the optical disk with the laser light emitted from the semiconductor laser device and receiving the light reflected by the optical disk by the light receiving element 52 with built-in IC.

【0050】本実施形態の半導体レーザ装置の動作とし
ては、LDチップ42から出射したレーザ光がマイクロ
プロプリズム53および透明キャップ45を通って光デ
ィスクに照射される。光ディスクに照射されたレーザ光
は光ディスクでLDチップ42に向かう方向に反射さ
れ、反射されたレーザ光が半導体レーザ装置内に戻って
マイクロプリズム53に入射する。マイクロプリズム5
3に入射したレーザ光はマイクロプリズム53によって
IC内蔵受光素子52に向けて反射され、IC内蔵受光
素子52で電気信号に変換される。
In the operation of the semiconductor laser device of this embodiment, the laser light emitted from the LD chip 42 is irradiated on the optical disk through the micropro prism 53 and the transparent cap 45. The laser light applied to the optical disk is reflected on the optical disk in a direction toward the LD chip 42, and the reflected laser light returns to the inside of the semiconductor laser device and enters the microprism 53. Micro prism 5
The laser light incident on 3 is reflected by the micro prism 53 toward the light receiving element 52 with built-in IC, and is converted into an electric signal by the light receiving element 52 with built-in IC.

【0051】このように光ディスクを再生する時などに
用いられる半導体レーザ装置においても、第1および第
2の実施形態と同様に、半導体レーザ装置の位置決めを
突き当てにより行うことができる。また、放熱性が高い
半導体レーザ装置が得られる。さらに、搭載部41dと
平行な方向にLDチップ42からレーザ光が出射するよ
うにLDチップ42が搭載されているので、マイクロプ
リズム53とLDチップ42とが搭載部41dと平行な
方向に並ぶことになり、半導体レーザ装置の薄型化が可
能となる。
In the semiconductor laser device used for reproducing an optical disk as described above, the positioning of the semiconductor laser device can be performed by abutting, as in the first and second embodiments. Further, a semiconductor laser device having high heat dissipation can be obtained. Furthermore, since the LD chip 42 is mounted so that laser light is emitted from the LD chip 42 in a direction parallel to the mounting portion 41d, the microprism 53 and the LD chip 42 are arranged in a direction parallel to the mounting portion 41d. And the thickness of the semiconductor laser device can be reduced.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、リードフ
レームの搭載部の裏面の少なくとも一部が絶縁部材から
露出していることにより、レーザダイオードチップで発
生した熱を効率よく逃がすことができ、半導体レーザ装
置の温度上昇を抑制することができるので、レーザダイ
オードチップの特性が変化することがなく、信頼性の高
い半導体レーザ装置が得られるという効果がある。その
上、搭載部の裏面の、露出した部分が、レーザダイオー
ドチップの発光点の位置を決めるための基準となってい
ることにより、例えば、半導体レーザ装置を電子機器の
筐体に取り付ける際に、搭載部の裏面の、露出した部分
を筐体の基準面に押し当てたり、画像処理の基準とした
りすることで、レーザダイオードチップの発光点を簡単
に、かつ、精度よく配置させることができるという効果
がある。
As described above, according to the present invention, since at least a part of the back surface of the mounting portion of the lead frame is exposed from the insulating member, the heat generated by the laser diode chip can be efficiently released. Since the temperature rise of the semiconductor laser device can be suppressed, there is an effect that the characteristics of the laser diode chip do not change and a highly reliable semiconductor laser device can be obtained. In addition, because the exposed portion of the back surface of the mounting portion is a reference for determining the position of the light emitting point of the laser diode chip, for example, when attaching the semiconductor laser device to the housing of the electronic device, By pressing the exposed part of the back surface of the mounting part against the reference surface of the housing or as a reference for image processing, it is possible to easily and accurately arrange the light emitting points of the laser diode chip. effective.

【0053】さらに、レーザダイオードチップを封入す
るための絶縁部材の材質として樹脂を用い、レーザダイ
オードチップが樹脂モールドパッケージにより封止され
ることにより、従来の金属パッケージと比較して部品点
数が少なくなり、半導体レーザ装置のコストが低くなる
という効果がある。
Further, by using resin as a material of the insulating member for enclosing the laser diode chip and sealing the laser diode chip with a resin mold package, the number of parts is reduced as compared with a conventional metal package. This has the effect of reducing the cost of the semiconductor laser device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態の半導体レーザ装置に
ついて説明するための図である。
FIG. 1 is a diagram for describing a semiconductor laser device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施形態の半導体レーザ装置に
ついて説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for describing a semiconductor laser device according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第3の実施形態の半導体レーザ装置に
ついて説明するための図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a semiconductor laser device according to a third embodiment of the present invention.

【図4】従来の技術による半導体レーザ装置について説
明するための図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining a semiconductor laser device according to a conventional technique.

【図5】従来の技術による半導体レーザ装置について説
明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a semiconductor laser device according to a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a、1b、1c、21a、21b、21c、41c、
41b、41i、41j、41k、41l リードフ
レーム 1d、21d、41d 搭載部 1e、1f 接続部 1g、21g、21h、41g、41h 電極リード
部 2、22、42 LDチップ 3、23、43 ヒートシンク 4、24、44 樹脂モールド 5、25、45 透明キャップ 7、27、47 基準 9、29、49 ワイヤ 52 IC内蔵受光素子 53 マイクロプリズム
1a, 1b, 1c, 21a, 21b, 21c, 41c,
41b, 41i, 41j, 41k, 41l Lead frame 1d, 21d, 41d Mounting part 1e, 1f Connection part 1g, 21g, 21h, 41g, 41h Electrode lead part 2, 22, 42 LD chip 3, 23, 43 Heat sink 4, 24, 44 Resin mold 5, 25, 45 Transparent cap 7, 27, 47 Reference 9, 29, 49 Wire 52 IC built-in light receiving element 53 Micro prism

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザダイオードチップと、該レーザダ
イオードチップが表面に搭載される搭載部を有するリー
ドフレームと、前記搭載部に搭載された前記レーザダイ
オードチップを封入するために前記リードフレームの少
なくとも一部を被覆する絶縁部材とを有する半導体レー
ザ装置において、 前記リードフレームの前記搭載部の裏面の少なくとも一
部が前記絶縁部材から露出しており、かつ、前記搭載部
の裏面の、露出した部分が、前記レーザダイオードチッ
プの発光点の位置を決めるための基準となっていること
を特徴とする半導体レーザ装置。
At least one of a lead frame having a laser diode chip, a mounting portion on which the laser diode chip is mounted on a surface, and at least one of the lead frames for enclosing the laser diode chip mounted on the mounting portion. An insulating member covering the portion, at least a part of the back surface of the mounting portion of the lead frame is exposed from the insulating member, and the exposed portion of the back surface of the mounting portion is A semiconductor laser device serving as a reference for determining a position of a light emitting point of the laser diode chip.
【請求項2】 前記レーザダイオードチップから出射す
るレーザ光の進行方向に配置され、前記レーザダイオー
ドチップ側と反対側から入射して前記レーザダイオード
チップに向かって進むレーザ光を、前記レーザダイオー
ドチップに向かう方向とは異なる方向に反射するマイク
ロプリズムと、該マイクロプリズムで反射されたレーザ
光が入射する受光素子とが前記レーザダイオードチップ
と共に封入されている請求項1項に記載の半導体レーザ
装置。
2. A laser beam, which is arranged in a traveling direction of laser light emitted from the laser diode chip and is incident from a side opposite to the laser diode chip side and travels toward the laser diode chip, is transmitted to the laser diode chip. 2. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein a microprism that reflects light in a direction different from a direction toward the light-receiving element and a light-receiving element on which the laser light reflected by the microprism is incident are enclosed together with the laser diode chip.
【請求項3】 前記リードフレームの前記搭載部の形状
が板状であり、前記搭載部と平行な方向に前記レーザダ
イオードチップからレーザ光が出射するように、前記搭
載部に前記レーザダイオードチップが搭載されている請
求項1または2に記載の半導体レーザ装置。
3. The mounting portion of the lead frame has a plate shape, and the laser diode chip is mounted on the mounting portion such that laser light is emitted from the laser diode chip in a direction parallel to the mounting portion. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein the semiconductor laser device is mounted.
【請求項4】 前記リードフレームが棒状の電極リード
部を複数有しており、複数の前記電極リード部のうち特
定の数の電極リード部が前記絶縁部材の一方の側面から
突出し、かつ、複数の前記電極部のうち、前記特定の数
の電極リード部を除く電極リード部が前記絶縁部材の他
方の側面から突出している請求項1〜3のいずれか1項
に記載の半導体レーザ装置。
4. The lead frame has a plurality of rod-shaped electrode leads, and a specific number of the electrode leads among the plurality of electrode leads protrudes from one side surface of the insulating member. 4. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein, of said electrode portions, electrode lead portions other than said specific number of electrode lead portions project from the other side surface of said insulating member. 5.
【請求項5】 前記レーザダイオードチップで発生した
熱を前記リードフレームに導くヒートシンクを介して前
記レーザダイオードチップが前記リードフレームの前記
搭載部に搭載されている請求項1〜4のいずれか1項に
記載の半導体レーザ装置。
5. The laser diode chip is mounted on the mounting portion of the lead frame via a heat sink for guiding heat generated by the laser diode chip to the lead frame. 3. The semiconductor laser device according to 1.
【請求項6】 前記絶縁部材の材質として樹脂が用いら
れている請求項1〜5のいずれか1項に記載の半導体レ
ーザ装置。
6. The semiconductor laser device according to claim 1, wherein a resin is used as a material of said insulating member.
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