JPH11299767A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 被検体のはみ出し状態を正確に検出し、はみ
出し状態に応じて正しいリファレンス補正を実施し、正
確なＸ線ＣＴ画像を得る。 【解決手段】 はみ出しの有無を判定する第１判定手段
３と，上記検出値の平均値と累積平均値との差分により
はみ出しの有無を判定する第２判定手段３０と，上記左
右各はみ出し判定部検出値の平均値の差分によりはみ出
しの有無を判定する第３判定手段３００と，上記３つの
判定手段の判定結果に基づき被検体のはみ出し状態を総
合的に判定するはみ出し判定合成手段６とによりはみ出
し判定部を構成し、リファレンス補正量選択器９は上記
はみ出し判定合成手段の判定した被検体のはみ出し状態
に応じてリファレンス補正量を選定し、これにより入力
データメモリ１中のデータを補正して出力データメモリ
１０に格納する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、計測用検出部と共
にリファレンス用検出部を備えたＸ線ＣＴ装置に係り、
特に被検体の一部が有効視野からはみ出していないかど
うかを判定する手段を有し、はみ出し状態に応じて適切
にリファレンス補正をすることのできるＸ線ＣＴ装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】本発明が対象とする従来技術になるＸ線
ＣＴ装置の検出部の概要をローティション／ローティシ
ョン型Ｘ線ＣＴ装置に例をとり図４に示す。

【０００３】図４においてＸ線管１０１とＸ線検出器１
００とは対向配置されており、その間に被検体１２１が
配置できるようになっている。Ｘ線検出器１００には多
チャンネルからなる計測用検出部１０２とその両側にそ
れぞれチャンネルからなるリファレンス用検出部１０３
Ｌ，１０３Ｒが設けられ、またリファレンス用検出部と
計測用検出部上にまたがって、それぞれ８チャンネルか
らなるはみ出し判定部１０４Ｌ，１０４Ｒが設定されて
いる。このはみ出し判定部は被検体１２１がＸ線管とＸ
線検出器で構成する有効視野１２０から、はみ出してい
るか否かを検知するものである。

【０００４】図２は従来のＸ線ＣＴ装置内の画像処理装
置における処理内容及びリファレンス補正器の概要を示
す。図２の（１）に示すようにＸ線検出器からの出力デ
ータを読み取り画像処理装置に送る（データリード）。
この検出器の出力データはＸ線を出さない時でも零には
ならず或る値を持つ。従って、オフセット計測で得られ
たデータにより、上記読み取りデータを補正するオフセ
ット補正が実施される。

【０００５】オフセット補正されたデータはｌｏｇ変換
される。ｌｏｇ変換されたデータをリファレンス補正す
る。Ｘ線管より照射されるＸ線の強度は常に一定ではな
く、照射毎に変動している。そこで被検体に照射される
Ｘ線の強度をリファレンス検出部にて計測し、この値を
用いてＸ線強度の変動による計測データの誤差を補正し
ている。この補正がリファレンス補正である。

【０００６】リファレンス補正されたデータは、エアー
キャリブレーション補正される。検出器の照射されるＸ
線強度に対する感度は各チャンネルごとに異なり、その
ため同一条件でもプリアンプ部の出力電圧が異なる。こ
のチャンネルごとに異なる検出器の感度差を、エアー計
測の各チャンネルの値をもとに補正するのがエアーキャ
リブレーション補正である。

【０００７】これらの上記処理を終えたデータをもとに
画像再構成が行われ、得られた画像データは記憶装置及
び表示装置に送られる。

【０００８】図２の（２）はリファレンス補正処理のブ
ロック図を示す。図において１は入力データメモリであ
り、計測用検出部の出力データのｌｏｇ変換済みデータ
が格納されている。上記入力データメモリから左側リフ
ァレンス用検出部からのデータ２０Ｌが、また右側リフ
ァレンス用検出部からのデータ２０Ｒが取り出され、リ
ファレンス平均値計算器７に入力され両側の平均値２０
を求める。また計測用検出部の出力データのｌｏｇ変換
済みデータ１１０がメモリ１から取り出され、リファレ
ンス用減算器９１にて上記２０，１１０によりリファレ
ンス補正が行われ、補正されたデータ１１１は出力デー
タメモリ１０に格納される。

【０００９】図３は従来技術になるはみ出し判定付きリ
ファレンス補正器のブロック図を示す。

【００１０】入力データメモリ１に取り込まれたｌｏｇ
変換済みデータより左側はみ出し判定部データ１ａ（８
チャンネル分）を取り出し、エアーキャリブレーション
用減算器にてエアーキャリブレーションデータＩｃによ
り補正され、最大値・最小値選別器２に入力する。ここ
で、前記補正された８チャンネル分のデータのうち最大
値と最小値が選別され、差分器にて両者の差分値を求め
る。この差分値は、はみ出し判定フラグ作成器３にてし
きい値３ａと比較されしきい値以内であればはみ出しな
しとして０，しきい値を越えていればはみ出しありとし
て１のフラグ信号を出力し、これをはみ出し判定フラグ
合成器６に入力する。

【００１１】次に入力データメモリ１から右側はみ出し
判定部データ１ｂ（８チャンネル分）を取り出し、前記
と同様にしてはみ出し判定フラグ作成器にてしきい値と
比較して判定し、しきい値以内であれば０，しきい値を
越えていれば２の信号を発生し、これをはみ出し判定フ
ラグ合成器６のＯＲ回路に入力する。

【００１２】この合成器６では左右ともはみ出しなしの
とき０，左側のみはみ出しありの時１，右側のみはみ出
しありの時２，左右ともはみ出しありの時３の信号を出
力し、これをリファレンス選択器９に入力する。

【００１３】一方、入力データメモリ１より左側及び右
側のリファレンス検出部からのデータ２０Ｌ，２０Ｒ
（各チャンネル分）を取り出し、これをリファレンス平
均値計算器７に入力し、両側平均値，左側平均値，右側
平均値を算出してリファレンス補正量選択器９に入力す
る。

【００１４】リファレンス補正量選択器９では、前記し
たはみ出し判定フラグ合成器６の出力値が０の時は両側
平均値を、出力値が１の時は右側平均値を、出力値が２
の時は左側平均値を、出力値が３の時は左右ともはみ出
しがあるのでリファレンス補正をしないという選択をす
る。

【００１５】この選択されたリファレンス補正量によ
り、入力データメモリから取り出したｌｏｇ変換済みデ
ータより１１０をリファレンス減算器９１にて補正し
て、出力データメモリ１０に記憶する。

【００１６】

【発明が解決しようとする課題】図２に示した従来技術
では、被検体が有効視野からはみ出しているか否かに関
係なく、左右リファレンス検出部からのデータより両側
平均値を求め、これにてリファレンス補正している。従
って、被検体のはみ出しがある場合は正確なリファレン
ス補正ができないという問題があった。

【００１７】また、図３に示した従来技術では被検体の
左右はみ出しを判定し、それに従ってリファレンス補正
を正しく行うようにされているが、左右ともはみ出しが
ある場合にはリファレンス補正ができないという問題が
あり、又はみ出しの有無の判断を、左右それぞれの判定
部内の検出値の最大値と最小値の差がしきい値内にある
か、越えているかによって判断している。この判断の仕
方は、はみ出し量が大きくなってくると判定部各チャン
ネル間の差が小さくなり、正しい判断ができなくなると
いう問題があった。本願発明の目的は被検体の有効視野
からのはみ出し状態を正確に判定し、はみ出し状態に応
じて正しいリファレンス補正を実施し、正確な画像を得
ることにある。

【００１８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本願の発明は以下の通りである。 （１）被検体を挟んでその両側に配置され一体となって
被検体の周りを回転するＸ線管及びＸ線検出部と，該Ｘ
線検出部を構成する計測用検出部とその左右両側に設け
たリファレンス検出部と，リファレンス検出部と計測用
検出部にまたがって左右それぞれに設けたはみ出し判定
部と，Ｘ線検出部の検出データのｌｏｇ変換済みデータ
を格納する入力データメモリと，はみ出し判定部からの
データを基に被検体の有効視野からのはみ出しの状態を
判定する手段と，その判定結果に基づき選択したリファ
レンス補正値により前記入力データメモリ中のデータを
補正するリファレンス補正量選択手段とを備えたＸ線Ｃ
Ｔ装置において、被検体の有効視野からのはみ出し状態
を判定する手段が、左右各はみ出し判定部データの最大
値と最小値の差分がしきい値内にあるか否かを判定する
第１判定手段と，左右各はみ出し判定部データの平均値
とはみ出しなしの時の該平均値の累積平均値との差分が
しきい値内にあるか否かを判定する第２判定手段と，は
み出し判定部の左右各平均値の差分がしきい値内にある
か否かを判定する第３判定手段と，上記３つの判定手段
の判定結果に基づいて被検体のはみ出し状態を総合判定
するはみ出し判定合成手段とによって構成されているこ
とを特徴とするＸ線ＣＴ装置。

【００１９】（２）被検体を挟んでその両側に配置され
一体となって被検体の周りを回転するＸ線管及びＸ線検
出部と，該Ｘ線検出部を構成する計測用検出部とその左
右両側に設けたリファレンス検出部と，リファレンス検
出部と計測用検出部にまたがって左右それぞれに設けた
はみ出し判定部と，Ｘ線検出部の検出データのｌｏｇ変
換済みデータを格納する入力データメモリと，はみ出し
判定部からのデータを基に被検体の有効視野からのはみ
出しの状態を判定する手段と，その判定結果に基づき選
択したリファレンス補正値により前記入力データメモリ
中のデータを補正するリファレンス補正量選択手段とを
備えたＸ線ＣＴ装置において、前記リファレンス検出部
の検出データを基に左側，右側及び両側の各リファレン
ス平均値を算出するリファレンス平均値計算器と，前記
リファレンス補正量選択手段により選択されて入力デー
タメモリ中のデータを補正した値を累積平均して仮リフ
ァレンス補正量を算出する手段と，はみ出し判定手段の
判定結果に基づきリファレンス平均値計算器算出の各平
均値及び仮リファレンス補正量の内から１つを選択して
前記入力データメモリ中のデータを補正するリファレン
ス補正量選択手段とを設けたことを特徴とするＸ線ＣＴ
装置。

【００２０】（３）被検体を挟んでその両側に配置され
一体となって被検体の周りを回転するＸ線管及びＸ線検
出部と，該Ｘ線検出部を構成する計測用検出部とその左
右両側に設けたリファレンス検出部と，リファレンス検
出部と計測用検出部にまたがって左右それぞれに設けた
はみ出し判定部と，Ｘ線検出部の検出データのｌｏｇ変
換済みデータを格納する入力データメモリと，はみ出し
判定部からのデータを基に被検体の有効視野からのはみ
出しの状態を判定する手段と，その判定結果に基づき選
択したリファレンス補正値により前記入力データメモリ
中のデータを補正するリファレンス補正量選択手段とを
備えたＸ線ＣＴ装置において、左右各はみ出し判定部デ
ータの最大値と最小値の差分がしきい値内にあるか否か
を判定する第１判定手段と，左右各はみ出し判定部デー
タの平均値を算出する手段と，はみ出しなしの時の該平
均値の累積平均値を算出する手段と，前記平均値と累積
平均値との差分がしきい値内にあるか否かを判定する第
２判定手段と，はみ出し判定部の左右各平均値の差分が
しきい値内にあるか否かを判定する第３判定手段と，上
記３つの判定手段の判定結果に基づき被検体のはみ出し
状態を総合判定するはみ出し判定合成手段と，前記リフ
ァレンス検出部の検出データを基に左側，右側及び両側
の各リファレンス平均値を算出するリファレンス平均値
計算器と，前記リファレンス補正量選択手段により選択
されて入力データメモリ中のデータを補正した値を累積
平均して仮リファレンス補正量を算出する手段と，はみ
出し判定合成手段の判定結果に基づきリファレンス平均
値計算器算出の各平均値及び仮リファレンス補正量の内
から１つを選択して前記入力データメモリ中のデータを
補正するリファレンス補正量選択手段とを設けたことを
特徴とするＸ線ＣＴ装置。

【００２１】（４）前記（３）において、各スキャンに
おける一連の処理の終了後、次回スキャン開始時のＸ線
管の管電圧，管電流が前回スキャン時と同一か否かを検
知する手段と、同一の時は、はみ出し判定部の前記累積
平均値と仮リファレンス補正量をそのまま保持し、同一
でない時は両者を０に更新する手段とを設けたことを特
徴とするＸ線ＣＴ装置。

【００２２】

【発明の実施の形態】図１に示す実施の形態により本発
明の内容を具体的に説明する。入力データメモリ１に取
り込まれたｌｏｇ変換済みデータより左側はみ出し判定
部データ１ａ（８チャンネル分）を取り出し、エアーキ
ャリブレーションデータＩｃを使ってエアーキャリブレ
ーション用減算器１’にて補正する。補正されたデータ
は最大値，最小値選別器２に入力され、ここで入力デー
タ中の最大値，最小値が選択され差分器２’にて両者の
差分値を求める。この差分値は、はみ出し判定フラグ作
成器３にてしきい値３ａと比較され、しきい値以内であ
ればはみ出しなしとして信号０，しきい値を越えていれ
ばはみ出しありとしてフラグ信号１を出力し、これらに
信号Ａとしてはみ出し判定フラグ合成器のＯＲ回路Ｆに
入力する。

【００２３】次に入力データメモリ１から右側ははみ出
し判定部データ１ｂ（８チャンネル分）を取り出し、上
記と同様にしてはみ出し判定フラグ作成器にてしきい値
と比較して判定し、しきい値以内であればはみ出しなし
として信号０を、しきい値を越えていればはみ出しあり
として信号２をそれぞれ出力し、これを信号Ｃとしては
み出し判定フラグ合成器６のＯＲ回路Ｇの一方に入力す
る。

【００２４】次に、前記エアーキャリブレーションデー
タＩｃにより補正された左側はみ出し判定部データＩａ
−Ｉｃを、はみ出し判定部平均値計算器４に入力してそ
の平均値ａを求める。この平均値ａと、はみ出し判定部
累積平均値計算器５内のはみ出し判定部累積平均値５ａ
とを差分器４’に入力してその差分Δａを求める。

【００２５】差分Δａは、はみ出し判定フラグ作成器３
０にてしきい値３ｂと比較され、差分がしきい値以内で
あればはみ出しなしとして信号０，しきい値外であれば
はみ出しありとして信号１を出力し、これら信号をＢと
して前記ＯＲ回路Ｆの他方に入力する。

【００２６】右側はみ出し判定部データ１ｂについても
同様に処理して、その平均値（ｂ）と累積平均値（５
ｂ）との差分（Δｂ）を求め、差分がしきい値内であれ
ばはみ出しなしとして信号０，しきい値外であればはみ
出しありとして信号２を出力し、これら信号をＤとして
前記ＯＲ回路Ｇの他方に入力する。

【００２７】次に、前記したはみ出し判定部の左右の平
均値ａ，ｂの差分を差分器４″にて計算し、はみ出し判
定フラグ作成器３００（Ｅ）でしきい値３ｃと比較して
差分がしきい値内であれば、はみ出しなしとして信号０
を、差分がしきい値外であって、且つ左側が大きい場合
には信号１，しきい値外であって、且つ右側が大きい場
合は信号２を出力し、はみ出し判定フラグ合成器６のＯ
Ｒ回路Ｉの一方に入力する。

【００２８】はみ出し判定フラグ合成器６内の合成（論
理和）の内容を表１に示し、以下簡単に説明する。左側
は見出し判定部からの信号Ａ，Ｂを処理する回路Ｆで
は、信号ＡとＢがいずれも０（しきい値内）であれば信
号０を出力し、ＡとＢのいずれかが１（しきい値外）で
あれば信号１を出力してＯＲ回路Ｈの一方に入力する。

【００２９】右側はみ出し判定部からの信号Ｃ，Ｄを処
理する回路Ｇでは信号ＣとＤがいずれも０（しきい値
内）であれば信号０を出力し、ＣとＤのいずれかが２
（しきい値外）であれば信号２を出力してＯＲ回路Ｈの
他方に入力する。

【００３０】回路Ｈでは、回路Ｆからの左側はみ出し判
定部についての処理信号０，１と、回路Ｇからの右側は
み出し判定部についての処理信号０，２について処理し
て、左右ともはみ出しなしの時０，左側のみはみ出しの
時信号１，右側のみはみ出しの時２，左右ともはみ出し
の時３の各信号を出力し、回路Ｉの他方に入力する。

【００３１】回路Ｉでは回路Ｈからの信号とはみ出し判
定フラグ作成器３００（Ｅ）からの信号を受けて表１に
示すように処理し、はみ出し判定フラグ合成器６からの
出力信号として０（左右ともはみ出しなし），１（左側
はみ出しあり），２（右側はみ出しあり），３（左右と
もはみ出しあり）のいずれかが出力され、リファレンス
補正量選択器９に送られる。

【００３２】一方、入力データメモリ１より左側及び右
側のリファレンス検出部からのデータ２０Ｌ，２０Ｒ
（各チャンネル）を取り出し、これをリファレンス平均
値計算器７に入力し、両側平均値，左側平均値，右側平
均値を算出してリファレンス補正量選択器９に入力す
る。

【００３３】リファレンス補正量選択器９では、前記し
たはみ出し判定フラグ合成器６の出力信号が０の時は両
側平均値を選択し、出力信号が１の時は右側平均値を選
択し、出力信号が２の時は左側平均値を選択し、出力信
号が３の時は仮リファレンス補正量計算器から３の仮リ
ファレンス補正量８ａを選択し、これら選択した補正量
を使って、入力データメモリ１に取り込んだｌｏｇ変換
済みデータ１１０をリファレンス量減算器９１にて補正
する。リファレンス補正されたデータは出力データメモ
リ１０に格納する。

【００３４】図１に示した仮リファレンス補正量計算器
８においては、計測スキャンの先頭ビューでは、前回結
果格納部に格納された値は０であり、第２ビューでは累
積平均は先頭ビューにてリファレンス補正量選択器９の
選択した値がそのまま累積平均として取り入れられ、こ
れを前回結果として選択器９に送る。次のビュー以降
は、選択器９での選択結果（値）を累積平均値計算部に
リターンさせてその値の２分の１を加え、また該計算器
での前回（計算）結果をリターンさせその２分の１を加
えて累積平均値を算出する。また、各計測スキャン終了
後のリセット信号により前回結果を０に初期化する。

【００３５】また、図１に示すはみ出し判定部累積平均
値計算器５では計測スキャンの先頭ビューでは、前回結
果は０である。第２ビューでは、はみ出し判定フラグ合
成器６の出力信号（０）を受けて選択した値がそのまま
累積平均値となり、これを次回ビュー時の前回結果とし
て差分器４’に送る。それ以降のビューでは、はみ出し
判定フラグ合成器６からの信号がはみ出しなしの時は、
その信号０を受けて累積平均値５ａを更新する。即ち、
今回計測時のはみ出し判定部の平均値ａを選択し、また
前回計算結果の５ａをリターンさせて、それぞれ１／２
ずつ加えて累積平均値を更新する。この更新は左右はみ
出し判定部のデータ処理用の左右各ブロックについてそ
れぞれ行われる。はみ出し判定フラグ合成器６からの信
号がはみ出しありの時は、選択は前回結果の５ａを選択
し、選択した５ａの１／２と、前回結果５ａの１／２と
を加えて累積平均値は５ａとなるまた、計測スキャン終
了後にリセット信号が与えられた場合は前回結果を０に
初期化する。なお各ビュー毎にはみ出し検出部平均値と
前回結果の選択をする。

【００３６】以上述べたように、スキャン終了後に前記
累積平均値計算器５及び前記補正量計算器８における前
回結果を０に初期化すると、次回スキャンの先頭ビュー
においてそれぞれ前回結果が０となるので、左右はみ出
し判定部の平均値と累積平均値の差分によるはみ出し判
定ができない。また、はみ出し判定フラグ合成器６の判
定が両側はみ出しありとなっても仮リファレンス補正リ
ファレンスが０なのでリファレンス補正ができないとい
う問題が発生する。

【００３７】よって、本発明においては次のような処理
手段をとることによりこの問題を解決する。即ち、一連
の処理が終了した後、次のスキャン（Ｓｃａｎ（走
査））の開始時にＸ線管の管電圧・管電流が前回と同一
条件か否かを判断して同一の場合は前記累積平均値５ａ
及び仮リファレンス補正量８ａをリセット（０クリア）
しない（上記以外の場合は従来どおりリセットする）。

【００３８】これにより次回スキャンの先頭ビュー計測
は前回スキャンの最終ビューの次ビューと同じことにな
り、先頭ビュー時に被検体のはみ出しが生じても、スキ
ャンの途中でのはみ出しと同様に５ａを使ったはみ出し
判定フラグ作成器３０の処理及び仮リファレンス補正量
を使ったリファレンス補正量選択器９による処理がで
き、２スキャン目以降が全周にわたって両側はみ出しの
場合でも、はみ出し判定の処理，判定結果に従ったリフ
ァレンス補正が可能となる。

【００３９】更に、Ｘ線ＣＴ装置に被検体を入れる前に
被検体の撮影条件と同一の管電圧・感電流で予めスキャ
ンしておくことにより、左右の各はみ出し判定部累積平
均値５ａと仮リファレンス補正量８ａがデフォルト（ｄ
ｅｆａｕｌｔ）設定できるので、初回スキャンの先頭ビ
ュー時にも、はみ出し判定処理及びリファレンス補正処
理が可能となる。

【００４０】

【発明の効果】本発明においては計測用検出部の左右両
側に設けた複数チャンネルによりなるはみ出し判定部の
検出値について、左右それぞれの最大値と最小値の差
分，検出値の平均値と累積平均値の差分及び左右各判定
部平均値間の差分の３つについて、しきい値を越えてい
るか否かを調べ、はみ出しの有無を総合的に判定してい
るので、従来技術に比し判定の制度を格段に向上させる
ことができる。

【００４１】また、計測ビュー毎に選択したリファレン
ス補正値を累積平均し仮リファレンス補正量として準備
し、両側はみ出しがあるときにもこれを用いて適切なリ
ファレンス補正ができるようにした。

【００４２】更に、各計測スキャン毎に仮リファレンス
補正量及びはみ出し判定部累積平均値をリセットする際
にもＸ線管の管電圧・管電流が前回スキャン時と変わら
ないときは、そのままホールドして次回スキャンの先頭
ビュー時のはみ出し判定及びリファレンス補正が支障な
く行えるようになっているので、より正確なＸ線画像を
得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態説明図である。

【図２】Ｘ線ＣＴ装置におけるリファレンス補正の従来
技術説明図である。

【図３】はみ出し判定付きリファレンス補正の従来例説
明図である。

【図４】Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器の取り付け状
況概要図である。

【符号の説明】

１ 入力データメモリ １ａ 左側はみ出し判定部データ １ｂ 右側はみ出し判定部データ ２ 最大値最小値選別器 ３，３０，３００ はみ出し判定フラグ作成器 ４ はみ出し判定部平均値計算器 ５ はみ出し判定部累積平均計算器 ５ａ はみ出し判定部累積平均値 ６ はみ出し判定フラグ合成器 ７ リファレンス平均値計算器 ８ 仮リファレンス補正量計算器 ８ａ 仮リファレンス補正量 ９ リファレンス補正量選択器 １０ 出力データメモリ ２０Ｌ 左側リファレンス検出部データ ２０Ｒ 右側リファレンス検出部データ １００ Ｘ線検出器 １０１ Ｘ線管 １０２ 計測用検出部 １０３Ｌ 左側リファレンス検出部 １０３Ｒ 右側リファレンス検出部 １０４Ｌ 左側はみ出し判定部 １０４Ｒ 右側はみ出し判定部 １１０ ｌｏｇ変換済み入力データ １２０ 有効視野 １２１ 被検体

【表１】

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検体を挟んでその両側に配置され一体
   となって被検体の周りを回転するＸ線管及びＸ線検出部
   と，該Ｘ線検出部を構成する計測用検出部とその左右両
   側に設けたリファレンス検出部と，リファレンス検出部
   と計測用検出部にまたがって左右それぞれに設けたはみ
   出し判定部と，Ｘ線検出部の検出データのｌｏｇ変換済
   みデータを格納する入力データメモリと，はみ出し判定
   部からのデータを基に被検体の有効視野からのはみ出し
   の状態を判定する手段と，その判定結果に基づき選択し
   たリファレンス補正値により前記入力データメモリ中の
   データを補正するリファレンス補正量選択手段とを備え
   たＸ線ＣＴ装置において、被検体の有効視野からのはみ
   出し状態を判定する手段が、左右各はみ出し判定部デー
   タの最大値と最小値の差分がしきい値内にあるか否かを
   判定する第１判定手段と，左右各はみ出し判定部データ
   の平均値とはみ出しなしの時の該平均値の累積平均値と
   の差分がしきい値内にあるか否かを判定する第２判定手
   段と，はみ出し判定部の左右各平均値の差分がしきい値
   内にあるか否かを判定する第３判定手段と，上記３つの
   判定手段の判定結果に基づいて被検体のはみ出し状態を
   総合判定するはみ出し判定合成手段とによって構成され
   ていることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。