JPH11288926A - Method and device for cleaning of vaporizer - Google Patents

Method and device for cleaning of vaporizer

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JPH11288926A
JPH11288926A JP9141298A JP9141298A JPH11288926A JP H11288926 A JPH11288926 A JP H11288926A JP 9141298 A JP9141298 A JP 9141298A JP 9141298 A JP9141298 A JP 9141298A JP H11288926 A JPH11288926 A JP H11288926A
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JP
Japan
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solvent
vaporizer
liquid
raw material
cleaning
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JP9141298A
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Japanese (ja)
Inventor
Toru Amamiya
亨 雨宮
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Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To sharply reduce the time and the labor spent in cleaning by a method, wherein a special washing solvent inlet port is provided, a cleaning solvent is taken in and out of the port, and a two-stage cleaning is performed using two kinds of solvents. SOLUTION: A solvent inlet port 10 is provided at the downstream of a disc 8 on the side of a cavity 23 o a vaporizer 4. A cleaning solvent is introduced from the inlet 10 into the cavity 23, and the disc 8 and the inside of the cavity 23 are cleaned. Two kinds of solutions are used, and a two-stage cleaning operation is performed. The first solvent is used to dissolve the fixed material, and it is also used as a solution which dissolves the adhered matter of the disc 8 and the cavity 23. However, since the vapor pressure of the first solvent is low, it cannot be removed even when it is evacuated. Therefore, the first solvent is removed by dissolving it using the second solvent having high vapor pressure. Accordingly, the inlet line of the cleaning liquid becomes two. Moreover, the raw material withdrawal operation for cleaning of the vaporizer can be omitted because the solvent inlet line is different from the raw material inlet line.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばDRAM
や、不揮発メモリに使用される高誘電率の誘電体膜の製
造のためのCVD装置の内の液体供給装置の気化器に関
する。DRAMの誘電体膜は従来、SiO2であった。
Si基板を酸化する事によって簡単に作製できて便利で
あった。しかしSiO2は誘電率が低い。誘電体膜の容
量は面積と誘電率に比例する。面積は増やせないので、
より微細なデバイスを作るためにはより高い誘電率の材
料が必要である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
Also, the present invention relates to a vaporizer of a liquid supply device in a CVD apparatus for manufacturing a dielectric film having a high dielectric constant used for a nonvolatile memory. Conventionally, the dielectric film of the DRAM has been SiO 2 .
It could be easily manufactured by oxidizing the Si substrate and was convenient. However, SiO 2 has a low dielectric constant. The capacitance of the dielectric film is proportional to the area and the dielectric constant. Since the area can not be increased,
To make finer devices, higher dielectric constant materials are needed.

【0002】SiNもSiウェファの誘電体膜として有
力でよく使われる。さらに1素子当たりの占有面積を減
らそうとするともっと高い誘電率のものが必要である。
それで酸化タンタルTa2 5 が次の誘電体膜として実
用化されようとしている。現在は1GビットのDRAM
の開発が進行している。1Gとなると酸化タンタルでも
なお誘電率が低すぎる。より高い誘電率をもつ新材料と
して、BST(Ba、Sr、Ti、O)が提案されてい
る。BSTは新規な材料であるが真空蒸着法では作る事
ができない。スパッタリングでも高品質のものができな
い。BSTはCVD法によって成膜しなければならな
い。
[0002] SiN is also influential and often used as a dielectric film of a Si wafer. In order to further reduce the occupied area per element, a higher dielectric constant is required.
Therefore, tantalum oxide Ta 2 O 5 is being put to practical use as the next dielectric film. Currently 1Gbit DRAM
Development is in progress. At 1 G, the dielectric constant of tantalum oxide is still too low. BST (Ba, Sr, Ti, O) has been proposed as a new material having a higher dielectric constant. BST is a new material, but cannot be made by vacuum deposition. High quality cannot be obtained by sputtering. BST must be formed by a CVD method.

【0003】不揮発メモリの記憶材料として強誘電体膜
を用いたものが研究されている。強誘電体として、PZ
T(Pb、Zr、Ti、O)、SBT(SrBi2Ta2
9)などが注目されている。これらもスパッタリング
や真空蒸着法では成膜できず、CVD法によるしかな
い。
[0005] Researches using a ferroelectric film as a storage material of a nonvolatile memory have been studied. PZ as ferroelectric
T (Pb, Zr, Ti, O), SBT (SrBi 2 Ta 2
O 9 ) is attracting attention. These cannot be formed by sputtering or vacuum evaporation, but only by CVD.

【0004】ところがこれら、高誘電体のTa25
BST、PZT、SBTはいずれもCVD法による成膜
が難しい。これら薄膜の材料は低蒸気圧の有機金属化合
物であるから、成膜室へ、原料を安定に供給するのが難
しいからである。
However, these high dielectric Ta 2 O 5 ,
BST, PZT, and SBT are all difficult to form by CVD. This is because the material of these thin films is a low vapor pressure organometallic compound, so that it is difficult to stably supply the raw materials to the film formation chamber.

【0005】そこでこれら高誘電率固体材料は適当な溶
媒に溶かして液状とする。溶液を液体ポンプで送り出し
気化器で気化してCVD成膜室に導くようにしている。
Therefore, these high dielectric constant solid materials are dissolved in an appropriate solvent to be in a liquid state. The solution is sent out by a liquid pump, vaporized by a vaporizer, and led to a CVD film forming chamber.

【0006】このように溶媒に溶かす事によって液体と
しさらに気化器により気体とし成膜室へ気体の状態で供
給する方法を液体原料気化成膜法という。固体原料をプ
リカーサとも呼ぶ。PZT、SBT、BSTに属する固
体原料を挙げる。PZTとしてはPb(DPM)2 、Z
r(OtC494 、Ti(O−i−C374 などが
ある。SBTPとしてはSr(DPM)2 、Bi(Ot
493 、Ta(OC255 などがある。BSTと
しては、Ba(DPM)2 、Sr(DPM)2、Ti
(DPM)2 等がある。
[0006] A method of forming a liquid by dissolving it in a solvent and converting it into a gas by a vaporizer and supplying it to the film forming chamber in a gaseous state is called a liquid raw material vaporizing film forming method. The solid raw material is also called a precursor. The solid raw materials belonging to PZT, SBT, and BST are listed. PZT includes Pb (DPM) 2 , Z
r (OtC 4 H 9 ) 4 and Ti (OiC 3 H 7 ) 4 . SBTP includes Sr (DPM) 2 , Bi (Ot
C 4 H 9 ) 3 and Ta (OC 2 H 5 ) 5 . As BST, Ba (DPM) 2 , Sr (DPM) 2 , Ti
(DPM) 2 etc.

【0007】[0007]

【従来の技術】先述のように、高誘電率の誘電体膜薄膜
の原料の有機金属は常温で固体である。固体ではパイプ
系で輸送できないので溶媒に溶かして液状とする。液体
供給装置によって、液体ポンプで液を送り出す。さらに
成膜室直前において気化器によって気化してCVD成膜
室に導くようにしている。図1は液体原料気化成膜装置
の概略図である。液体圧送用ガスボンベ1は窒素やアル
ゴンなど不活性なガスのボンベである。これは液体原料
タンク2につながりタンク内の液体原料に圧力を掛け
る。液体原料タンク2は液体ポンプ3につながる。液体
ポンプ3によって液体原料は気化器4へと圧送される。
液体原料は気化器4で加熱され気化する。これがCVD
成膜室へと導かれる。
2. Description of the Related Art As described above, the organic metal as a raw material of a dielectric film having a high dielectric constant is solid at room temperature. Since solids cannot be transported in a pipe system, they are dissolved in a solvent to form a liquid. The liquid is supplied by a liquid pump by the liquid supply device. Further, immediately before the film forming chamber, the gas is vaporized by the vaporizer and guided to the CVD film forming chamber. FIG. 1 is a schematic diagram of a liquid source vaporization film forming apparatus. The gas cylinder 1 for liquid pressure feeding is a cylinder of an inert gas such as nitrogen or argon. This connects to the liquid source tank 2 and applies pressure to the liquid source in the tank. The liquid source tank 2 is connected to a liquid pump 3. The liquid source is pumped to the vaporizer 4 by the liquid pump 3.
The liquid raw material is heated by the vaporizer 4 and vaporized. This is CVD
It is led to the film formation chamber.

【0008】気化器といっても単に液体を加熱するだけ
ではない。単に加熱して蒸発させただけでは溶媒だけが
蒸発して気体になるだけである。もともと常温で固体で
ある高誘電率原料は溶質としてその溶媒に溶けやすいと
いうものではない。単に加熱蒸発させるだけでは、溶媒
だけが蒸発し溶質は濃縮されて固化して沈澱するだけで
ある。つまり固体原料(溶質)が溶媒から分離してしま
う。蒸留と同じ事である。
[0008] A vaporizer does not merely heat a liquid. Simply heating and evaporating only evaporates the solvent into a gas. High-dielectric-constant raw materials that are originally solid at room temperature are not easily soluble as solutes in their solvents. Simply heating and evaporating only evaporates the solvent and concentrates the solute to solidify and precipitate. That is, the solid raw material (solute) is separated from the solvent. It is the same as distillation.

【0009】そうではなくて溶質を気体にするのが目的
であるので、2相が分離してしまってはなんにもならな
い。そこで気化器には特別な工夫が必要である。例えば
米国特許第5,361,800には液体原料気化成膜法
にふさわしい新規な気化器が提案されている。これは9
9枚の中心に穴のある薄いインコネルディスク(円板)
を重ね合わせて1.2mmの厚さにし中心の穴から外周
部に向けて溶液が流れるようにした円板部を持つ。円板
部は加熱装置によって常温から250℃の温度まで±1
℃の精度で加熱できる。原料の液体は圧力を加えてディ
スク中心からインコネルディスクの狭い隙間を通すよう
にする。数μmの狭い隙間に粘性の高い液体を通すの
で、高い圧力を加える必要がある。ディスク中心は17
kg/cm 2もの高圧で、ディスク外周は成膜室と同程
度の真空である。高圧と真空を分けるためにもディスク
の隙間は狭くないといけない訳である。
[0009] Instead, the purpose is to turn the solute into a gas.
So, if the two phases are separated, nothing will happen
No. Therefore, special measures are required for the vaporizer. For example
U.S. Pat. No. 5,361,800 discloses a liquid source vapor deposition method.
A new vaporizer suitable for the above has been proposed. This is 9
Nine thin Inconel discs with holes in the center (disks)
Are overlapped to a thickness of 1.2 mm, and the outer periphery is from the center hole.
It has a disk part that allows the solution to flow toward the part. Disk
The part is ± 1 from normal temperature to 250 ° C by the heating device.
Can be heated with an accuracy of ° C. The raw material liquid is pressed
Pass the narrow gap of the Inconel disc from the disc center
To Pass highly viscous liquid through a small gap of several μm
It is necessary to apply high pressure. Disc center is 17
kg / cm TwoAt high pressure, the outer circumference of the disk is about the same as the deposition chamber
Degree of vacuum. Disc also to separate high pressure and vacuum
The gap must be narrow.

【0010】高い圧力によってディスクの狭い隙間を溶
液が通る。99枚ものディスクを使うので実効的な接触
面積がきわめて広い。ディスクを通過する短い間に加熱
され溶液のまま蒸発する。相転移の時間が短いので2相
に分離しない。溶液(溶質+溶媒)の状態のまま気体に
なる。これがただちにCVD成膜室へと送られる。
[0010] The high pressure causes the solution to pass through the narrow gap of the disk. Since as many as 99 disks are used, the effective contact area is extremely large. It is heated for a short time after passing through the disk and evaporates as a solution. Since the phase transition time is short, it does not separate into two phases. It becomes a gas in the state of a solution (solute + solvent). This is immediately sent to the CVD film forming chamber.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】液体原料気化成膜法に
使われる原料はこのように、有機金属固体を溶媒に溶か
したものである。有機金属原料は元来固体であるから、
気化器内の環境変化によって溶媒から溶質が分離する。
分離した溶質は固体にもどる。だから、気化器内に原料
の分離生成物が付着する。付着物が堆積すると気化器の
流路を次第に狭める。ために気化効率を低減させ、成膜
室への気化原料の供給を阻害する。そのため所望の性能
をもつ誘電体膜が得られないことがある。甚だしいとき
には、気化器が目詰まりしてしまう。
The raw material used in the liquid raw material vaporization film forming method is obtained by dissolving an organometallic solid in a solvent as described above. Since organometallic raw materials are solid by nature,
The solute is separated from the solvent by the environmental change in the vaporizer.
The separated solute returns to a solid. Therefore, the separated product of the raw material adheres in the vaporizer. When deposits accumulate, the flow path of the vaporizer is gradually narrowed. Therefore, the vaporization efficiency is reduced, and supply of the vaporized raw material to the film formation chamber is hindered. Therefore, a dielectric film having desired performance may not be obtained. In extreme cases, the vaporizer will clog.

【0012】目詰まりすると気化器を分解して気化器か
ら付着物を除去しなければならない。フィルタは99枚
のインコンネル薄板を重ねて1.2mm厚にしたもので
あるから分解して1枚1枚清掃するのは大層な手間がか
かる。また組立にも時間がかかる。成膜室及び周辺配管
もその間大気にさらされる。分解掃除というのはかよう
に手数がかかるので、目詰まりしないようにするほうが
良い。
When clogging occurs, the vaporizer must be disassembled to remove deposits from the vaporizer. Since the filter is made up of 99 inconnel thin plates and has a thickness of 1.2 mm, it takes a lot of time to disassemble and clean one by one. Also, it takes time to assemble. The film forming chamber and the peripheral piping are also exposed to the air during that time. Disassembly and cleaning is troublesome, so it is better to avoid clogging.

【0013】そのため従来は気化器を定期的あるいは随
時に洗浄していた。そのために設けられているのが図1
の溶媒タンク18である。これは溶媒だけを収容したタ
ンクであり、液体原料タンク2と並列に設けられる。こ
れは溶媒だけを液体ポンプ3へあるいは気化器に直接に
供給する。
For this reason, the vaporizer has conventionally been cleaned regularly or as needed. Figure 1 is provided for that purpose.
Solvent tank 18. This is a tank containing only the solvent, and is provided in parallel with the liquid raw material tank 2. This supplies only the solvent to the liquid pump 3 or directly to the vaporizer.

【0014】気化器を洗浄するときは、成膜作業を停止
し、原料導入系(配管、気化器)から原料を完全に除
く。原料ぬきをした後、溶媒タンク18から純粋な溶媒
だけを気化器4内へ流す。気化器には特別の入口はない
ので原料入口と同じ入口から清掃用の溶媒を入れて気化
器を洗浄する。洗浄用円板(ディスク)の狭い隙間を通
さねばならないので高い圧力を加える。原料液体の場合
と同じ事である。溶媒は原料液体と同じ経路をたどって
ディスク中心から外周まで圧送される。高速で流れる溶
媒は気化器ディスクを洗う。付着物は固体原料であるか
らその溶媒によって溶けるはずである。だから溶媒を洗
浄液に使う。気化器ではディスクを加熱して洗浄用溶媒
を流す。だから溶媒は気体になる。溶媒の気体は気化器
から成膜室に入り、ここから真空ポンプによって排気さ
れる。この洗浄方法は気化器を分解すること無く気化器
のディスクに付着した汚れを除くことができる。
When cleaning the vaporizer, the film forming operation is stopped, and the raw material is completely removed from the raw material introduction system (piping, vaporizer). After the raw material is removed, only the pure solvent flows from the solvent tank 18 into the vaporizer 4. Since there is no special inlet for the vaporizer, the vaporizer is cleaned by introducing a cleaning solvent from the same inlet as the raw material inlet. High pressure is applied because it must pass through a narrow gap in the cleaning disc. This is the same as the case of the raw material liquid. The solvent is pumped from the center to the outer periphery of the disk following the same path as the raw material liquid. The fast flowing solvent will wash the vaporizer disk. Since the deposit is a solid material, it should be dissolved by the solvent. So use the solvent for the cleaning solution. In the vaporizer, the disk is heated and a washing solvent flows. So the solvent becomes a gas. The solvent gas enters the deposition chamber from the vaporizer and is exhausted from here by the vacuum pump. This cleaning method can remove dirt adhering to the vaporizer disk without disassembling the vaporizer.

【0015】しかしこれは手数の掛かる方法である。洗
浄に先だって原料導入ラインから完全に原料を抜き取る
という煩労な作業が必要である。そうでなければ溶媒タ
ンク18から液体ポンプ3又は気化器4へ溶媒が入って
行かない。ついで溶媒を原料導入ラインから気化器に導
き洗浄する。そのあと洗浄液を抜き取る必要がある。付
着物溶解後の液を抜き取るには、従来は成膜室に到る系
統を併用していた。それで成膜装置の真空ポンプによっ
て真空引きする。成膜室は気化器につながっているので
成膜室と気化器の両方を真空に引くことになる。ところ
が成膜室は容積が大きいし成膜室につながる配管の容積
も大きい。さらに溶媒自身の蒸気圧が低いので、気化器
や配管の脱気に長時間を要した。ために洗浄後の溶媒抜
き取り乾燥に時間がかかったのである。気化器洗浄に時
間がかかると成膜に使える時間が減る。
However, this is a time-consuming method. It is necessary to perform a complicated work of completely removing the raw material from the raw material introduction line prior to the cleaning. Otherwise, the solvent does not enter the liquid pump 3 or the vaporizer 4 from the solvent tank 18. Next, the solvent is introduced from the raw material introduction line to the vaporizer and washed. After that, it is necessary to drain the cleaning liquid. Conventionally, a system that reaches a film forming chamber is used in combination to extract a liquid after dissolving the deposits. Then, vacuum is drawn by a vacuum pump of the film forming apparatus. Since the film forming chamber is connected to the vaporizer, both the film forming chamber and the vaporizer are evacuated. However, the volume of the film formation chamber is large, and the volume of a pipe connected to the film formation chamber is large. Furthermore, since the vapor pressure of the solvent itself was low, it took a long time to deaerate the vaporizer and piping. Therefore, it took time to remove and dry the solvent after washing. If it takes time to clean the vaporizer, the time available for film formation decreases.

【0016】原料抜き取りの手間を省くことのできる気
化器洗浄方法を提供することが本発明の第1の目的であ
る。気化器に洗浄液として溶媒を入れた場合溶媒除去に
要する時間を短縮できる洗浄方法を提供することが本発
明の第2の目的である。
It is a first object of the present invention to provide a vaporizer cleaning method capable of eliminating the trouble of extracting raw materials. It is a second object of the present invention to provide a cleaning method that can reduce the time required for removing a solvent when a solvent is put as a cleaning liquid in a vaporizer.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明の気化器洗浄方法
は、気化器に新しく洗浄溶媒を出入りさせるための導入
口を設け、そこから原料固体を溶解できる第1の溶媒を
導入して気化器を洗浄し、第1の溶媒を抜き取った後、
第1の溶媒を溶かし蒸気圧の高い第2の溶媒を気化器に
導入し第1溶媒を溶かして除去する、ようにしたもので
ある。つまり洗浄溶媒用の特別の導入口を作りここから
洗浄溶媒を出し入れし、さらに溶媒は2種類のものを使
い、第1溶媒で付着物を溶かし、第2溶媒では第1溶媒
を溶かして除去するようにしている。性質の異なる溶媒
を巧みに組み合わせた新規な2段階洗浄法である。
According to the vaporizer cleaning method of the present invention, a vaporizer is provided with an inlet for newly introducing a cleaning solvent, and a first solvent capable of dissolving the raw material solid is introduced through the inlet to vaporize the vaporizer. After washing the vessel and extracting the first solvent,
In this method, a first solvent is dissolved, a second solvent having a high vapor pressure is introduced into a vaporizer, and the first solvent is dissolved and removed. In other words, a special inlet for the washing solvent is created, the washing solvent is taken in and out from this, and two kinds of solvents are used. The first solvent dissolves the deposits, and the second solvent dissolves and removes the first solvent. Like that. It is a novel two-step washing method that skillfully combines solvents with different properties.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】そのような洗浄方法を実現するた
めの本発明の気化器洗浄装置は次のような機構を備え
る。 (1)洗浄用溶媒を出し入れする導入口を気化器に新た
に設ける。 (2)溶媒導入口は、気化器内の原料蒸発用円板(ディ
スク)より下流側に設ける。 (3)溶媒導入口から導入した溶媒によって気化器内の
付着物を溶解除去する。 (4)液導入ライン、液排出ラインは気化器に設けた溶
媒導入口から溶媒を導入し排出する。 (5)液排出ラインは専用の排出ポンプに接続する。 (6)液導入ライン2系統のうち、第1系統には、原料
を溶解する溶媒(第1溶媒X)を流し気化器に初めに導
入し、気化器を洗浄する。第2系統には第1溶媒を溶解
することができ蒸気圧の高い溶媒(第2溶媒Y)を流し
気化器に導入し第1溶媒を洗い流す。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A vaporizer cleaning apparatus according to the present invention for realizing such a cleaning method has the following mechanism. (1) The vaporizer is newly provided with an inlet for taking in and out the washing solvent. (2) The solvent introduction port is provided downstream of the raw material evaporation disk (disk) in the vaporizer. (3) The deposits in the vaporizer are dissolved and removed by the solvent introduced from the solvent inlet. (4) A liquid introduction line and a liquid discharge line introduce and discharge a solvent from a solvent inlet provided in a vaporizer. (5) Connect the liquid discharge line to a dedicated discharge pump. (6) A solvent (first solvent X) for dissolving the raw material flows into the first system of the two systems of the liquid introduction line, and is first introduced into the vaporizer to wash the vaporizer. A solvent having a high vapor pressure capable of dissolving the first solvent (second solvent Y) flows into the second system, and is introduced into a vaporizer to wash out the first solvent.

【0019】[0019]

【実施例】図2は、本発明の気化器洗浄方法を実施する
ための気化器の内部の構造を示すための断面図である。
気化器4は、長手方向の端面に、液体原料導入口5を有
する。反対側の端面には気化原料出口9を有する。さら
に側方にはキャリヤガス導入口7がある。ここからはア
ルゴン、窒素などの不活性なガスが導入される。ガスボ
ンベ(図示せず)とキャリヤガス導入口7の間にはキャ
リヤガスバルブ32が設けられる。気化器4の内部には
広いキャビティ23が形成される。ガスはガス流路24
を通り抜けてキャビティ23に至る。
FIG. 2 is a sectional view showing the internal structure of a vaporizer for carrying out the vaporizer cleaning method of the present invention.
The vaporizer 4 has a liquid material introduction port 5 on an end face in the longitudinal direction. The opposite end face has a vaporized raw material outlet 9. Further on the side there is a carrier gas inlet 7. From here, an inert gas such as argon or nitrogen is introduced. A carrier gas valve 32 is provided between a gas cylinder (not shown) and the carrier gas inlet 7. A wide cavity 23 is formed inside the vaporizer 4. The gas passes through the gas passage 24
To the cavity 23.

【0020】液体原料導入口5に続いて原料流路22が
あり、その途中に原料バルブ6がある。キャビティ23
の内部において、原料流路22の先端に、薄いインコネ
ルの板を重ねて作った液体蒸発用円板8が設けられる。
先述のように例えば99枚の板を重ねて1.2mmの厚
みにしたものである。中心に穴がありこれに原料の通る
配管を通してあり、中心から原料液体が放射状に吹き出
すようになっている。固体原料を溶媒に溶かして溶液と
した液体原料は導入口5から気化器に入りバルブ6を通
り加熱されている液体蒸発用円板(ディスク)の狭い隙
間を通り抜け瞬時に気化する。気化したものはキャビテ
ィ23に広がる。そこにはキャリヤガスとしてのアルゴ
ン、窒素などがあるのでキャリヤガスに混合される。
A raw material flow path 22 is provided following the liquid raw material inlet 5, and a raw material valve 6 is provided in the middle of the flow path 22. Cavity 23
Is provided at the tip of the raw material flow path 22 with a liquid evaporation disk 8 formed by stacking thin Inconel plates.
As described above, for example, 99 plates are stacked to have a thickness of 1.2 mm. There is a hole in the center, through which the raw material passes, so that the raw material liquid radiates radially from the center. The liquid raw material obtained by dissolving the solid raw material in the solvent enters the vaporizer through the inlet 5, passes through the valve 6, passes through the narrow gap of the heated liquid evaporation disk (disk), and is instantaneously vaporized. The vaporized material spreads in the cavity 23. Since there are argon, nitrogen and the like as carrier gas there, they are mixed with the carrier gas.

【0021】図4(1)はそのような成膜作業時の気化
器の状態を示す。気化器に接続する成膜室は真空ポンプ
(図示しない)によって真空引きされているので、混合
ガスは成膜室に吹き込まれる。気化原料出口9と成膜室
の間には原料バルブ33が設けられる。成膜室には加熱
された基板(Si基板など)があってその上に気相反応
した生成物(BST、SBT等)が薄膜として堆積して
行く。以上述べた構成は従来の気化器と同様である。
FIG. 4A shows the state of the vaporizer during such a film forming operation. Since the film formation chamber connected to the vaporizer is evacuated by a vacuum pump (not shown), the mixed gas is blown into the film formation chamber. A source valve 33 is provided between the vaporized source outlet 9 and the film forming chamber. A heated substrate (such as a Si substrate) is provided in the film forming chamber, and products (BST, SBT, etc.) that have undergone a gas phase reaction are deposited thereon as a thin film. The configuration described above is similar to a conventional vaporizer.

【0022】本発明は従来の構成の他に、キャビティ2
3の側方、ディスク8よりも下流に溶媒導入口10を設
けている。これが本発明の気化器の一つの特徴である。
ここから洗浄用の溶媒をキャビティに導入しディスクや
キャビティ内部を洗浄するのである。しかも溶媒は2種
類使い、2段階の洗浄をする。第1の溶媒は原料固体を
溶かす性質のあるものである。これによってディスクや
キャビティの付着物を溶かし溶液とする。しかし第1の
溶媒は蒸気圧が低いので真空引きしても容易には抜けな
い。そこで第1の溶媒を溶かす蒸気圧の高い第2の溶媒
を用いて第1の溶媒を溶かして抜き取るようにする。こ
の2段階洗浄が本発明の最も顕著な特徴である。
In the present invention, in addition to the conventional structure, the cavity 2
A solvent inlet 10 is provided on the side of 3 and downstream of the disk 8. This is one feature of the vaporizer of the present invention.
From here, a cleaning solvent is introduced into the cavity to clean the disk and the inside of the cavity. Moreover, two types of solvents are used, and two-stage washing is performed. The first solvent has a property of dissolving the raw material solid. This dissolves the deposit on the disk or cavity to form a solution. However, since the first solvent has a low vapor pressure, it does not easily come off even when vacuum is applied. Therefore, the first solvent is dissolved and extracted using a second solvent having a high vapor pressure to dissolve the first solvent. This two-step cleaning is the most prominent feature of the present invention.

【0023】そのための溶媒供給排出のラインを図3に
よって説明する。溶液は2種類用いて2段階洗浄するの
で、洗浄液の導入ラインも2つになっている。それに対
して排出ラインは1本である。もちろん排出ラインも2
本に分離しても良い。第1液導入ライン11は第1溶媒
を気化器4に導入するものである。第1バルブ13、第
1入口配管26から配管28、29を通り、給排バルブ
17を通っての溶媒導入口10から気化器4のキャビテ
ィ23に入るようになっている。第2液導入ライン12
は第2溶媒を気化器へと導くものである。
A line for supplying and discharging the solvent for this purpose will be described with reference to FIG. Since two types of solutions are used for two-stage cleaning, the number of cleaning liquid introduction lines is also two. In contrast, there is one discharge line. Of course there are 2 discharge lines
It may be separated into books. The first liquid introduction line 11 is for introducing the first solvent into the vaporizer 4. The first valve 13 and the first inlet pipe 26 pass through the pipes 28 and 29, pass through the supply / discharge valve 17, and enter the cavity 23 of the vaporizer 4 from the solvent inlet 10. Second liquid introduction line 12
Leads the second solvent to the vaporizer.

【0024】気化器洗浄は次のような手順で行うことが
できる。成膜室での成膜作業が中止されている間に行
う。ガスバルブ32、気化器内の原料バルブ6、気化原
料出口のバルブ33、溶媒排出バルブ30、第2バルブ
14を閉じる。気化器4のキャビティ23は真空に引か
れた状態である。
The vaporizer cleaning can be performed in the following procedure. This is performed while the film forming operation in the film forming chamber is stopped. The gas valve 32, the raw material valve 6 in the vaporizer, the valve 33 at the vaporized raw material outlet, the solvent discharge valve 30, and the second valve 14 are closed. The cavity 23 of the vaporizer 4 is in a state of being evacuated.

【0025】第1液導入ライン11の第1バルブ13を
開き、さらに給排バルブ17を開く。第1溶媒が気化器
のキャビティ23に側方から入る。これが図4の(2)
に示す状態である。第1溶媒がキャビティに満ちてい
る。汚れは第1溶媒に溶ける。第1バルブ13、給排バ
ルブ17を閉じる。その状態で適当な時間T1放置す
る。第1溶媒は固体原料を溶解する溶媒である。成膜原
料の溶媒として使っている溶媒と同一であっても良いし
別異であっても良い。第1溶媒Xが気化器の円板や内壁
に付いた汚れ(固体原料が分離して固化したものなど)
を溶かす。洗浄溶媒は液体蒸発円板8のディスクの外周
から隙間に入る。暫くして溶媒排出バルブ30を開いて
気化器4から汚れを含んだ第1溶媒を抜き取る。さらに
真空に引く。図4(3)はこのような第1溶媒排出後の
気化器の状態を示す。
The first valve 13 of the first liquid introduction line 11 is opened, and the supply / discharge valve 17 is further opened. The first solvent enters the cavity 23 of the vaporizer from the side. This is (2) in FIG.
This is the state shown in FIG. The first solvent is filling the cavity. The stain dissolves in the first solvent. The first valve 13 and the supply / discharge valve 17 are closed. T 1 is left appropriate time in that state. The first solvent is a solvent that dissolves the solid raw material. It may be the same as or different from the solvent used as the solvent for the film forming raw material. Dirt attached to the disk or inner wall of the vaporizer with the first solvent X (eg, solid material separated and solidified)
Dissolve. The cleaning solvent enters the gap from the outer periphery of the disk of the liquid evaporation disk 8. After a while, the solvent discharge valve 30 is opened and the first solvent containing dirt is extracted from the vaporizer 4. Apply further vacuum. FIG. 4C shows the state of the vaporizer after the first solvent is discharged.

【0026】ついで、バルブ30を閉じ、再度第1バル
ブ13を開いて、第1溶媒Xを気化器4に導入する。同
じようにある待機時間T1 ののち気化器から第1溶媒X
を引き抜き真空にする。このように適当な回数だけ第1
溶媒Xを気化器に入れて繰り返し汚れを洗い流す。汚れ
が落ちたら第1溶媒を完全に抜き取ればよいのである
が、第1溶媒は蒸気圧が低いので真空ポンプで引いただ
けではなかなか抜けない。図4(3)に示すように第1
溶媒の液滴などが残留している。それで第2溶媒を使う
のである。
Next, the valve 30 is closed, the first valve 13 is opened again, and the first solvent X is introduced into the vaporizer 4. Similarly, after a certain waiting time T 1 , the first solvent X is removed from the vaporizer.
And vacuum is applied. Thus, the first number of times
Solvent X is put into a vaporizer to repeatedly wash away dirt. When the dirt is removed, the first solvent may be completely removed. However, since the first solvent has a low vapor pressure, it cannot be easily removed only by pulling with a vacuum pump. As shown in FIG.
Solvent droplets remain. That is why the second solvent is used.

【0027】バルブ32、33、30、13を閉じ、第
2液導入ライン12の第2バルブ14を開く。第2溶媒
Yがバルブ14、配管27、28、29、バルブ17を
通り溶媒導入口10から気化器4の内部のキャビティ2
3に入る。既に汚れは取れているが第1溶媒が残留して
内壁やディスクが濡れている。第2溶媒は蒸気圧が高く
て、第1溶媒を溶かすような溶媒とする。図4の(4)
はそのような状態の気化器をしめす。第1溶媒Xによっ
てそれにふさわしい第2溶媒Yは異なる。
The valves 32, 33, 30, and 13 are closed, and the second valve 14 of the second liquid introduction line 12 is opened. The second solvent Y passes through the valve 14, the pipes 27, 28, 29, and the valve 17, and passes through the solvent inlet 10 through the cavity 2 inside the vaporizer 4.
Enter 3. The dirt has already been removed, but the first solvent remains and the inner wall and the disk are wet. The second solvent is a solvent having a high vapor pressure and dissolving the first solvent. (4) in FIG.
Shows a vaporizer in such a state. The second solvent Y suitable for the first solvent X differs depending on the first solvent X.

【0028】第1溶媒Xがn−酢酸ブチルの場合、第2
溶媒Yはエタノール、イソプロピルアルコール、メタノ
ール、テトラヒドロフラン、ノルマルヘキサンなどであ
る。バルブ14、17を閉じて、適当な時間T2 待機す
る。バルブ30を開いて第2溶媒Yを排出する。真空ポ
ンプで引いて真空にひく。これが図4(5)に示す状態
である。第2溶媒による第1溶媒の溶解除去は1回だけ
行っても良いし、複数回行っても良い。第2溶媒は蒸気
圧がより高いので、真空ポンプによって気化器から容易
に排除することができる。このように2種類の溶媒を使
って、2段階洗浄するので第1溶媒を完全に除く事がで
きる。溶媒導入排出部16の配管、バルブの配置、組み
合わせは任意である。バルブ17は省く事もできる。
When the first solvent X is n-butyl acetate, the second solvent X
The solvent Y is ethanol, isopropyl alcohol, methanol, tetrahydrofuran, normal hexane, or the like. By closing the valve 14 and 17, appropriate time T 2 waits. The valve 30 is opened to discharge the second solvent Y. Use a vacuum pump to draw a vacuum. This is the state shown in FIG. The dissolution and removal of the first solvent by the second solvent may be performed only once, or may be performed a plurality of times. Since the second solvent has a higher vapor pressure, it can be easily removed from the vaporizer by a vacuum pump. Since the two-step washing is performed using two kinds of solvents as described above, the first solvent can be completely removed. Arrangement and combination of piping and valves of the solvent introduction / discharge unit 16 are arbitrary. The valve 17 can be omitted.

【0029】[0029]

【表1】 [Table 1]

【0030】第1溶媒によって、気化器の内部、円板を
洗浄したあと、第2溶媒によって第1溶媒を洗い流すよ
うにしたのが本発明の巧みなところである。第1溶媒は
先述のように酢酸ブチルを使う事ができる。これは固体
原料(溶質)によって適当なものを選ぶ必要がある。第
2溶媒は溶質には依存せず、第1溶媒を溶かす事ができ
しかも蒸気圧が高いということが条件になる。第1溶媒
をn−酢酸ブチルとするとき、第2溶媒はエタノールの
他に、イソプロピルアルコール(沸点82.7℃)、メ
タノール(沸点64.56℃)、テトラヒドロフラン
(沸点66.0℃)、ノルマルヘキサン(沸点69.0
℃)などを用いることができる。
It is a skill of the present invention that the first solvent is used to wash the inside of the vaporizer and the disk, and then the second solvent is used to wash away the first solvent. As the first solvent, butyl acetate can be used as described above. It is necessary to select an appropriate one depending on the solid raw material (solute). The second solvent does not depend on the solute, and the condition is that the first solvent can be dissolved and the vapor pressure is high. When the first solvent is n-butyl acetate, the second solvent is ethanol, isopropyl alcohol (boiling point 82.7 ° C.), methanol (boiling point 64.56 ° C.), tetrahydrofuran (boiling point 66.0 ° C.), normal Hexane (boiling point 69.0
° C).

【0031】[0031]

【発明の効果】(1)溶媒導入ラインが、原料導入ライ
ンと別系統になるから、気化器洗浄のために、原料ライ
ンから原料を抜き取る作業が不要になる。原料抜き取り
作業を省く事によって清掃の時間、手間を大幅に減縮で
きる。 (2)液導入ライン、液排出ラインを気化器に対して一
本化することによって、気化器の構造を大きく変える必
要がなくなる。バルブ17を設ける場合は気化器の内容
積を大きく変える事がない。 (3)液導入ライン2系統のうち、第1の系統には、原
料を可溶とする、または原料を溶かすのに使用したのと
同じ溶媒を使用し、第2の系統には、第1の系統に使用
する溶媒を可溶とし、かつ蒸気圧の高い第2の溶媒、例
えばエタノールを使用する事によって、最終的に気化器
を真空引きによって溶媒を完全に除去するの要する時間
を短縮する事ができる。 (4)液体供給装置の断続使用において、未使用時に溶
媒でクリーニングすることができる。
(1) Since the solvent introduction line is a separate system from the raw material introduction line, it is not necessary to extract the raw material from the raw material line for cleaning the vaporizer. By omitting the raw material extraction work, the cleaning time and labor can be greatly reduced. (2) By unifying the liquid introduction line and the liquid discharge line for the vaporizer, it is not necessary to largely change the structure of the vaporizer. When the valve 17 is provided, the internal volume of the vaporizer does not change significantly. (3) Of the two liquid introduction lines, the first uses the same solvent as that used for dissolving or dissolving the raw material, and the second uses the first solvent for the second system. By using a second solvent having a high vapor pressure, for example, ethanol, solubilizing the solvent used in the system, and finally reducing the time required for completely removing the solvent by evacuation of the vaporizer. Can do things. (4) When the liquid supply device is used intermittently, it can be cleaned with a solvent when not in use.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】固体原料を溶媒に溶かした液体原料を気化して
成膜室へ導入する液体原料供給装置の構成図。
FIG. 1 is a configuration diagram of a liquid source supply device that vaporizes a liquid source obtained by dissolving a solid source in a solvent and introduces the liquid source into a film formation chamber.

【図2】固体原料を溶媒に溶かしてなる液体原料を気化
する気化器の断面図。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a vaporizer for vaporizing a liquid material obtained by dissolving a solid material in a solvent.

【図3】本発明の気化器クリーニング方法を行うための
溶媒導入排出部を設けた気化器の配管バルブなどの系統
図。
FIG. 3 is a system diagram of a piping valve and the like of a vaporizer provided with a solvent introduction / discharge unit for performing the vaporizer cleaning method of the present invention.

【図4】気化器の様々の状態を示す概略断面図。図4
(1)は成膜作業時の状態である。図4(2)は第1溶
媒導入時の状態、図4(3)は第1溶媒を排出し真空引
きした状態、図4(4)は第2溶媒導入時の状態、図4
(5)は第2溶媒排出時の状態を示す。
FIG. 4 is a schematic sectional view showing various states of the vaporizer. FIG.
(1) is a state at the time of the film forming operation. 4 (2) is a state when the first solvent is introduced, FIG. 4 (3) is a state where the first solvent is discharged and evacuated, and FIG. 4 (4) is a state when the second solvent is introduced.
(5) shows a state at the time of discharging the second solvent.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 液体圧送用ガスボンベ 2 液体原料タンク 3 液体ポンプ 4 気化器 5 液体原料導入口 6 原料バルブ 7 キャリヤガス導入口 8 液体蒸発用円板 9 気化原料出口 10 溶媒導入口 11 第1液導入ライン 12 第2液導入ライン 13 第1バルブ 14 第2バルブ 16 溶媒導入排出部 17 給排バルブ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Gas cylinder for liquid pressure feed 2 Liquid source tank 3 Liquid pump 4 Vaporizer 5 Liquid source inlet 6 Source valve 7 Carrier gas inlet 8 Liquid evaporation disk 9 Vaporized source outlet 10 Solvent inlet 11 First liquid inlet line 12 2 liquid introduction line 13 1st valve 14 2nd valve 16 Solvent introduction and discharge part 17 Supply and discharge valve

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 液体原料導入口と気化原料出口とキャビ
ティと液体蒸発円板を有し常温で固体である原料を溶媒
に溶解した液体原料を圧力と熱を加えて気化するための
気化器を清掃する方法であって、液体原料導入口、気化
原料出口の他に溶媒導入口を設け、溶媒導入口から原料
固体を溶解することのできる第1溶媒Xを気化器に導入
して内部を洗浄してから排出する動作を1回または複数
回繰り返し、第1溶媒を溶解でき第1溶媒より蒸気圧の
高い第2溶媒Yを気化器の内部に導入して排出する動作
を1回または複数回繰り返すことを特徴とする気化器の
クリーニング方法。
1. A vaporizer having a liquid raw material inlet, a vaporized raw material outlet, a cavity, and a liquid evaporating disk, and for applying pressure and heat to evaporate a liquid raw material obtained by dissolving a raw material that is solid at room temperature in a solvent, by applying pressure and heat. A method for cleaning, in which a solvent inlet is provided in addition to a liquid material inlet and a vaporized material outlet, and a first solvent X capable of dissolving the raw material solid is introduced into the vaporizer through the solvent inlet to clean the inside. And then repeating the operation of discharging one or more times, and introducing or discharging the second solvent Y capable of dissolving the first solvent and having a higher vapor pressure than the first solvent into the vaporizer once or more times. A method for cleaning a vaporizer, characterized by being repeated.
【請求項2】 液体原料導入口と気化原料出口とキャビ
ティと液体蒸発円板を有し常温で固体である原料を溶媒
に溶解した液体原料を圧力と熱を加えて気化するための
気化器を清掃する装置であって、液体原料導入口及び気
化原料出口とは別に気化器に設けられる溶媒導入口と、
溶媒導入口につながり第1溶媒Xを気化器に導入するた
めの第1液導入ラインと、溶媒導入口につながり第2溶
媒Yを気化器に導入するための第2液導入ラインと、溶
媒導入口につながり溶媒を排出するための溶媒排出ライ
ンとを設けたことを特徴とする気化器のクリーニング装
置。
2. A vaporizer having a liquid material inlet, a vaporized material outlet, a cavity, and a liquid evaporating disk, and for applying pressure and heat to vaporize a liquid material obtained by dissolving a raw material that is solid at room temperature in a solvent. A device for cleaning, a solvent inlet provided in the vaporizer separately from the liquid material inlet and the vaporized material outlet,
A first liquid introduction line leading to the solvent inlet and introducing the first solvent X into the vaporizer; a second liquid introduction line leading to the solvent inlet and introducing the second solvent Y into the vaporizer; A vaporizer cleaning device, comprising a solvent discharge line connected to a mouth for discharging a solvent.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003079421A1 (en) * 2002-03-18 2003-09-25 Kabushiki Kaisha Watanabe Shoko Method of depositing cvd thin film
WO2004051139A1 (en) * 2002-12-02 2004-06-17 Kabushiki Kaisha Watanabe Shoko Raw solution feeding system for vaporizer and method of cleaning the raw solution feeding system
WO2004075271A1 (en) * 2003-02-18 2004-09-02 Wacom Electric Co., Ltd. Carburetor, method of vaporizing material solution, and method of washing carburetor
WO2007086393A1 (en) * 2006-01-24 2007-08-02 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing system
JP2013008978A (en) * 2006-01-24 2013-01-10 Hitachi Kokusai Electric Inc Cleaning method of vaporization unit
JP2017094265A (en) * 2015-11-24 2017-06-01 古河電気工業株式会社 Raw material vaporization feeding device and raw material vaporization feeding method

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003079421A1 (en) * 2002-03-18 2003-09-25 Kabushiki Kaisha Watanabe Shoko Method of depositing cvd thin film
WO2004051139A1 (en) * 2002-12-02 2004-06-17 Kabushiki Kaisha Watanabe Shoko Raw solution feeding system for vaporizer and method of cleaning the raw solution feeding system
KR101107529B1 (en) * 2002-12-02 2012-02-06 가부시키가이샤 와타나베 쇼코 Raw solution feeding system for vaporizer and method of cleaning the raw solution feeding system
WO2004075271A1 (en) * 2003-02-18 2004-09-02 Wacom Electric Co., Ltd. Carburetor, method of vaporizing material solution, and method of washing carburetor
WO2007086393A1 (en) * 2006-01-24 2007-08-02 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing system
JP2007227871A (en) * 2006-01-24 2007-09-06 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate processing system
KR100950400B1 (en) * 2006-01-24 2010-03-29 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 Substrate processing system
JP2013008978A (en) * 2006-01-24 2013-01-10 Hitachi Kokusai Electric Inc Cleaning method of vaporization unit
US8506714B2 (en) 2006-01-24 2013-08-13 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing system
US8641829B2 (en) 2006-01-24 2014-02-04 Hitachi Kokusai Electric Inc. Substrate processing system
JP2017094265A (en) * 2015-11-24 2017-06-01 古河電気工業株式会社 Raw material vaporization feeding device and raw material vaporization feeding method

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