JPH1128203A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH1128203A JPH1128203A JP9199190A JP19919097A JPH1128203A JP H1128203 A JPH1128203 A JP H1128203A JP 9199190 A JP9199190 A JP 9199190A JP 19919097 A JP19919097 A JP 19919097A JP H1128203 A JPH1128203 A JP H1128203A
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- 230000006870 function Effects 0.000 description 16
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 スライス方向に複数配列されているＸ線検出
器の一部を散乱線検出器として用いることで高精度の散
乱Ｘ線補正を行うＸ線ＣＴ装置を提供する。 【解決手段】 Ｘ線源であるＸ線管２００を連続して回
転し、Ｘ線検出器２５０により被検体Ｂの投影データを
複数回連続して計測すると共に、この投影データを基に
被検体Ｂの断層映像を画像処理装置１０３で再構成して
表示装置１００上に逐次表示するＸ線ＣＴ装置におい
て、被検体Ｂを透過するＸ線を検出するＸ線検出器２５
０は、スライス方向に複数列配置されており、コリメー
タ３００によりスライス方向にＸ線をコリメートし、こ
の複数列配置されたＸ線検出器の内の一部の列（例えば
１列目と四列目）の検出器を散乱Ｘ線検出器として用
い、この検出器で検出された散乱線を補正に用いる。こ
れにより、高精度の散乱Ｘ線補正を可能とし、散乱線に
より引き起こされるＣＴ値の落ち込みやＣＴ値一様性の
劣化を抑制し、高画質な画像を得る。
器の一部を散乱線検出器として用いることで高精度の散
乱Ｘ線補正を行うＸ線ＣＴ装置を提供する。 【解決手段】 Ｘ線源であるＸ線管２００を連続して回
転し、Ｘ線検出器２５０により被検体Ｂの投影データを
複数回連続して計測すると共に、この投影データを基に
被検体Ｂの断層映像を画像処理装置１０３で再構成して
表示装置１００上に逐次表示するＸ線ＣＴ装置におい
て、被検体Ｂを透過するＸ線を検出するＸ線検出器２５
０は、スライス方向に複数列配置されており、コリメー
タ３００によりスライス方向にＸ線をコリメートし、こ
の複数列配置されたＸ線検出器の内の一部の列（例えば
１列目と四列目）の検出器を散乱Ｘ線検出器として用
い、この検出器で検出された散乱線を補正に用いる。こ
れにより、高精度の散乱Ｘ線補正を可能とし、散乱線に
より引き起こされるＣＴ値の落ち込みやＣＴ値一様性の
劣化を抑制し、高画質な画像を得る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線を用いて患者
など体内の断層映像を得るＸ線ＣＴ装置に関し、特に、
散乱Ｘ線の悪影響を低減することの可能な構造を備えた
散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置に関する。
など体内の断層映像を得るＸ線ＣＴ装置に関し、特に、
散乱Ｘ線の悪影響を低減することの可能な構造を備えた
散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置は、医療などにおいて既に
広く利用されており、また、様々な利用方法がユーザー
によってなされている。例えば、第３世代のＸ線ＣＴ装
置で説明するならば、Ｘ線源より様々な角度からＸ線を
被検体に向けて照射し、これにより被検体を透過したＸ
線をＸ線検出器で取り込み、この取り込んだデータ（一
般的に、「投影データ」と呼ばれる）を元にして再構成
処理を行い、これにより被検体の断層映像を得る。な
お、取り込んだ投影データから画像を得る再構成処理に
は色々な手法が堤案されており、例えば、逐次近似法，
フーリエ変換法，逆投影法等が知られている。
広く利用されており、また、様々な利用方法がユーザー
によってなされている。例えば、第３世代のＸ線ＣＴ装
置で説明するならば、Ｘ線源より様々な角度からＸ線を
被検体に向けて照射し、これにより被検体を透過したＸ
線をＸ線検出器で取り込み、この取り込んだデータ（一
般的に、「投影データ」と呼ばれる）を元にして再構成
処理を行い、これにより被検体の断層映像を得る。な
お、取り込んだ投影データから画像を得る再構成処理に
は色々な手法が堤案されており、例えば、逐次近似法，
フーリエ変換法，逆投影法等が知られている。
【０００３】ところで、上記のＸ線ＣＴ装置において検
出器で取り込まれる投影データには、純粋に被検体を透
過したデータのみが含まれている訳ではなく、その中に
は、Ｘ線が被検体によって散乱された散乱Ｘ線や、装置
による散乱Ｘ線等も含まれている。このように、投影デ
ータには、被検体を透過しただけの直接線のみではな
く、様々な原因による散乱線が含まれている。
出器で取り込まれる投影データには、純粋に被検体を透
過したデータのみが含まれている訳ではなく、その中に
は、Ｘ線が被検体によって散乱された散乱Ｘ線や、装置
による散乱Ｘ線等も含まれている。このように、投影デ
ータには、被検体を透過しただけの直接線のみではな
く、様々な原因による散乱線が含まれている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この散乱線の影響とし
ては、実際には被検体を透過していないデータがＸ線検
出器により取得されることとなるため、最終的に再構成
処理によって得られる画像上において、ＣＴ値の一様性
などを著しく劣化させる要因となっている。また、人体
の骨等、Ｘ線吸収係数が高い物質の周辺でも、やはり、
このＣＴ値の落ち込みにより、得られる画像上で黒く表
示されてしまい、臨床の場では、誤診を招くことにもな
り兼ねない。
ては、実際には被検体を透過していないデータがＸ線検
出器により取得されることとなるため、最終的に再構成
処理によって得られる画像上において、ＣＴ値の一様性
などを著しく劣化させる要因となっている。また、人体
の骨等、Ｘ線吸収係数が高い物質の周辺でも、やはり、
このＣＴ値の落ち込みにより、得られる画像上で黒く表
示されてしまい、臨床の場では、誤診を招くことにもな
り兼ねない。
【０００５】そこで、従来、かかる投影データに入り込
んだ散乱線を取り除く散乱線補正方法が各種提案されて
いる。例えば、ある投影角度の投影データのチャンネル
方向の合計値から、実験的に予測した散乱線量を求めて
おき、これを投影データから取り除く方法や、特に、ス
ライス方向に複数の検出器を配置していない一次元のＸ
線検出器では、周辺のチャンネルを散乱線検出器として
用い、この散乱線検出器に入り込んだデータを散乱線量
として補正に用いる等の方法などが提案されている。
んだ散乱線を取り除く散乱線補正方法が各種提案されて
いる。例えば、ある投影角度の投影データのチャンネル
方向の合計値から、実験的に予測した散乱線量を求めて
おき、これを投影データから取り除く方法や、特に、ス
ライス方向に複数の検出器を配置していない一次元のＸ
線検出器では、周辺のチャンネルを散乱線検出器として
用い、この散乱線検出器に入り込んだデータを散乱線量
として補正に用いる等の方法などが提案されている。
【０００６】しかしながら、上記の従来技術では、特
に、スライス方向に複数のＸ線検出器を有しているＸ線
ＣＴ装置では、上記のような効果的な散乱線補正法につ
いての堤案は何らなされていないのが現状である。
に、スライス方向に複数のＸ線検出器を有しているＸ線
ＣＴ装置では、上記のような効果的な散乱線補正法につ
いての堤案は何らなされていないのが現状である。
【０００７】本発明では、スライス方向に設けた複数の
Ｘ線検出器の一部を利用することにより、正確に散乱線
量を測定して効果的な散乱補正を行い、もって、高画質
な画像を得ることが可能な散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装
置を提供することをその目的とするものである。
Ｘ線検出器の一部を利用することにより、正確に散乱線
量を測定して効果的な散乱補正を行い、もって、高画質
な画像を得ることが可能な散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装
置を提供することをその目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、上記の
目的を達成するために提供される散乱線補正機能付Ｘ線
ＣＴ装置は、Ｘ線源を連続して回転して被検体の投影デ
ータを複数回連続して計測すると共に、この投影データ
を基に被検体の断層映像を再構成して表示装置上に逐次
表示するＸ線ＣＴ装置において、前記被検体を透過する
Ｘ線を検出するＸ線検出器は、スライス方向に複数列配
置されており、この複数列配置されたＸ線検出器の内の
一部の列の検出器を、散乱線検出器として用いるもので
ある。
目的を達成するために提供される散乱線補正機能付Ｘ線
ＣＴ装置は、Ｘ線源を連続して回転して被検体の投影デ
ータを複数回連続して計測すると共に、この投影データ
を基に被検体の断層映像を再構成して表示装置上に逐次
表示するＸ線ＣＴ装置において、前記被検体を透過する
Ｘ線を検出するＸ線検出器は、スライス方向に複数列配
置されており、この複数列配置されたＸ線検出器の内の
一部の列の検出器を、散乱線検出器として用いるもので
ある。
【０００９】すなわち、本発明によれば、複数のＸ線検
出器内の一部を散乱線検出器として用いることにより正
確な散乱線量を測定し、これを補正に用いることで散乱
線の悪影響抑制し、アーチファクトを低減させ、ＣＴ値
の一様性の良好な画像を得ることが出来るようにしたも
のである。
出器内の一部を散乱線検出器として用いることにより正
確な散乱線量を測定し、これを補正に用いることで散乱
線の悪影響抑制し、アーチファクトを低減させ、ＣＴ値
の一様性の良好な画像を得ることが出来るようにしたも
のである。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付の図面を用いて詳細に説明する。まず、図２に
は、本発明の実施の形態になる散乱線補正機能付Ｘ線Ｃ
Ｔ装置の全体構成が示されている。図からも明らかなよ
うに、このＸ線ＣＴ装置は、表示装置１００と、装置全
体を統括するホストコンピュータ１０１と、Ｘ線発生系
やＸ線検出系などを搭載し、スリップリングによって連
続スキャンが可能なスキャナ系１０２と、画像の前処理
や画像再構成処理あるいは各種解析処理を担当する、プ
リアンプ（図３において、符号１０６で示す）を含む画
像処理装置１０３と、前記Ｘ線発生系に高電圧を供給す
る高電圧発生装置１０４と、その上に被検者を載せる患
者テーブルｌ０５などから構成される。なお、図示しな
いが、ホストコンピュータ１０ｌは、その入力装置とし
て、キーボード，マウス，トラッキングボール等を備え
ている。
て、添付の図面を用いて詳細に説明する。まず、図２に
は、本発明の実施の形態になる散乱線補正機能付Ｘ線Ｃ
Ｔ装置の全体構成が示されている。図からも明らかなよ
うに、このＸ線ＣＴ装置は、表示装置１００と、装置全
体を統括するホストコンピュータ１０１と、Ｘ線発生系
やＸ線検出系などを搭載し、スリップリングによって連
続スキャンが可能なスキャナ系１０２と、画像の前処理
や画像再構成処理あるいは各種解析処理を担当する、プ
リアンプ（図３において、符号１０６で示す）を含む画
像処理装置１０３と、前記Ｘ線発生系に高電圧を供給す
る高電圧発生装置１０４と、その上に被検者を載せる患
者テーブルｌ０５などから構成される。なお、図示しな
いが、ホストコンピュータ１０ｌは、その入力装置とし
て、キーボード，マウス，トラッキングボール等を備え
ている。
【００１１】図３は、上記スキャナ系１０２の詳細な説
明図であり、本発明の散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置に
よれば、高電圧発生装置１０４から供給される高電圧に
よりＸ線を発生するＸ線管２００は、図示しないチャン
ネルコリメータにより、チャンネル方向のＸ線照射範囲
を予め設定されて被検体Ｂに照射される。一方、被検体
Ｂを介してＸ線源である前記Ｘ線管２００と対向する位
置には、Ｘ線検出器２５０が配置される構造となってお
り、これらが被検体あるいは被写体Ｂ等の周囲を回りな
がら、様々な角度から投影データを求めるようになって
いる（第３世代ＣＴ）。
明図であり、本発明の散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置に
よれば、高電圧発生装置１０４から供給される高電圧に
よりＸ線を発生するＸ線管２００は、図示しないチャン
ネルコリメータにより、チャンネル方向のＸ線照射範囲
を予め設定されて被検体Ｂに照射される。一方、被検体
Ｂを介してＸ線源である前記Ｘ線管２００と対向する位
置には、Ｘ線検出器２５０が配置される構造となってお
り、これらが被検体あるいは被写体Ｂ等の周囲を回りな
がら、様々な角度から投影データを求めるようになって
いる（第３世代ＣＴ）。
【００１２】次に、本発明になる散乱線補正機能付Ｘ線
ＣＴ装置の特徴となる、スライス方向に複数配列された
Ｘ線検出器の構造とその動作について、図４により説明
する。
ＣＴ装置の特徴となる、スライス方向に複数配列された
Ｘ線検出器の構造とその動作について、図４により説明
する。
【００１３】このスライス方向に複数配列されたＸ線検
出器２５０は、図４（ａ）からも明らかなように、スラ
イス方向に複数列のＸ線検出器を配列して構成されてお
り、本実施の形態の例では、例えば、４列のＸ線検出器
を配列して構成されたＸ線検出器が示されている。ま
た、図４（ｂ）には、このスライス方向に４列のＸ線検
出器を配列してなるＸ線検出器２５０のスライス方向の
断面が示されている。
出器２５０は、図４（ａ）からも明らかなように、スラ
イス方向に複数列のＸ線検出器を配列して構成されてお
り、本実施の形態の例では、例えば、４列のＸ線検出器
を配列して構成されたＸ線検出器が示されている。ま
た、図４（ｂ）には、このスライス方向に４列のＸ線検
出器を配列してなるＸ線検出器２５０のスライス方向の
断面が示されている。
【００１４】これに対し、比較のため、現在多く普及し
ている第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線源であるＸ
線管２００と、そのＸ線検出器２５０’の概略が、添付
の図５に示されている。すなわち、図５（ａ）にも明ら
かなように、この第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線
検出器２５０’は、１列のＸ線検出器で構成されてい
る。
ている第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線源であるＸ
線管２００と、そのＸ線検出器２５０’の概略が、添付
の図５に示されている。すなわち、図５（ａ）にも明ら
かなように、この第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線
検出器２５０’は、１列のＸ線検出器で構成されてい
る。
【００１５】続いて、上記図４と図５に示した本発明に
なる散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出器２５０
と、第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器２５
０’との比較を以下に説明する。まず、図５に示す上記
第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器２５０’の
構造では、図５（ｂ）に示すように、被写体Ｂを透過し
たＸ線は、上記Ｘ線検出器２５０’で得られるものであ
るが、しかしながら、この場合、１回のスキャンで断層
像は、１断面分しか得られない。
なる散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出器２５０
と、第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器２５
０’との比較を以下に説明する。まず、図５に示す上記
第３世代のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器２５０’の
構造では、図５（ｂ）に示すように、被写体Ｂを透過し
たＸ線は、上記Ｘ線検出器２５０’で得られるものであ
るが、しかしながら、この場合、１回のスキャンで断層
像は、１断面分しか得られない。
【００１６】これに対して、上記図４（ａ）に示すよう
に、スライス方向に４列のＸ線検出器を配列してなるＸ
線検出器２５０を備えたＸ線ＣＴ装置では、１回のスキ
ャンで、４断面分を得ることが可能になる。なお、実際
に、この１回のスキャンで得た４断面分のデータから４
断面を再構成しようとする場合には、上記した通常の再
構成処理に加え、さらに補正が必要となり、また、この
複数の検出器からの補正及び画像再構成方法について
は、各種の方法が堤案されているが、ここでは、本発明
とは直接関連しないことから、その補正についての説明
は省略する。
に、スライス方向に４列のＸ線検出器を配列してなるＸ
線検出器２５０を備えたＸ線ＣＴ装置では、１回のスキ
ャンで、４断面分を得ることが可能になる。なお、実際
に、この１回のスキャンで得た４断面分のデータから４
断面を再構成しようとする場合には、上記した通常の再
構成処理に加え、さらに補正が必要となり、また、この
複数の検出器からの補正及び画像再構成方法について
は、各種の方法が堤案されているが、ここでは、本発明
とは直接関連しないことから、その補正についての説明
は省略する。
【００１７】なお、ここで、上述の本発明の散乱線補正
機能付Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器２５０ように、
Ｘ線検出器を複数（４列）配列にした場合の利点を考え
ると、１回のスキャンで得ることができる断屠像は著し
く増大する（４倍に増加する）ので、Ｘ線ＣＴ検査にお
けるスループットが向上し、患者に与える負担を軽減す
ることに加えて、患者が受ける被曝線量を低減すること
が挙げられる。また、Ｘ線源に対しても、１スキャン分
の曝射で複数枚（４枚）の断層像が得られるわけである
から、相対的にＸ線源の寿命が延びることともなる。
機能付Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器２５０ように、
Ｘ線検出器を複数（４列）配列にした場合の利点を考え
ると、１回のスキャンで得ることができる断屠像は著し
く増大する（４倍に増加する）ので、Ｘ線ＣＴ検査にお
けるスループットが向上し、患者に与える負担を軽減す
ることに加えて、患者が受ける被曝線量を低減すること
が挙げられる。また、Ｘ線源に対しても、１スキャン分
の曝射で複数枚（４枚）の断層像が得られるわけである
から、相対的にＸ線源の寿命が延びることともなる。
【００１８】次に、本発明のスライス方向に複数配列さ
れたＸ線検出器を具備した散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装
置の動作について説明する。図４（ａ）及び（ｂ）での
説明では、Ｘ線検出器２５０には被写体Ｂを透過したＸ
線のみが得られるようになっているが、実際には、図６
の様に、被検体Ｂに当たって散乱されたＸ線や、ＣＴ装
置によって散乱されたＸ線など、様々に散乱された散乱
線が、被写体Ｂを透過したＸ線（直接線）と共にＸ線検
出器２５０には入ってくる。これらの散乱線による影響
は、前述したように、最終的な再構成画像上で、ＣＴ値
の一様性低下や高吸収体の回りの黒い落ち込みになって
現れる。
れたＸ線検出器を具備した散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装
置の動作について説明する。図４（ａ）及び（ｂ）での
説明では、Ｘ線検出器２５０には被写体Ｂを透過したＸ
線のみが得られるようになっているが、実際には、図６
の様に、被検体Ｂに当たって散乱されたＸ線や、ＣＴ装
置によって散乱されたＸ線など、様々に散乱された散乱
線が、被写体Ｂを透過したＸ線（直接線）と共にＸ線検
出器２５０には入ってくる。これらの散乱線による影響
は、前述したように、最終的な再構成画像上で、ＣＴ値
の一様性低下や高吸収体の回りの黒い落ち込みになって
現れる。
【００１９】そこで、本発明の散乱線補正機能付Ｘ線Ｃ
Ｔ装置では、この散乱Ｘ線のみを検出して、補正に用い
るものであるが、その検出構造について以下に示す。
Ｔ装置では、この散乱Ｘ線のみを検出して、補正に用い
るものであるが、その検出構造について以下に示す。
【００２０】まず、図１に示すように、Ｘ線源から曝射
されたＸ線をスライス方向にコリメータ３００で絞り、
複数（具体的には、４個）あるＸ線検出器２５０のう
ち、例えば１番目（図の符号１）と４番目（図の符号
４）の列の検出器には、Ｘ線源２００からのＸ線が直接
線は入らず、中央部の２番目（図の符号２）と３番目
（図の符号３）にだけに入るようにする。この時のコリ
メータ３００の開口幅などは、ＣＴ装置の幾何学関係か
ら容易に計算することができる。また、コリメータ３０
０自身には、現在のＣＴ装置に具備されスライス厚制御
に用いられているのもを流用することができる。
されたＸ線をスライス方向にコリメータ３００で絞り、
複数（具体的には、４個）あるＸ線検出器２５０のう
ち、例えば１番目（図の符号１）と４番目（図の符号
４）の列の検出器には、Ｘ線源２００からのＸ線が直接
線は入らず、中央部の２番目（図の符号２）と３番目
（図の符号３）にだけに入るようにする。この時のコリ
メータ３００の開口幅などは、ＣＴ装置の幾何学関係か
ら容易に計算することができる。また、コリメータ３０
０自身には、現在のＣＴ装置に具備されスライス厚制御
に用いられているのもを流用することができる。
【００２１】次に、上記のような検出構造によれば、理
論的には検出器２５０の１番目と４番目の列の検出器に
は何のデータも入り込むことはない。しかしながら、実
際には、散乱されたＸ線がデータとして検出される。そ
の場合、この１番目と４番目の列の検出器によって検出
されたデータは、被写体Ｂを透過したＸ線（直接線）は
一切含んでおらず、散乱されたＸ線のみのデータであ
る。このようにして、すなわち、上記検出器２５０の１
番目と４番目の列の検出器によって検出されたデータに
より、散乱Ｘ線を精度高く実測することが出来ることと
なる。
論的には検出器２５０の１番目と４番目の列の検出器に
は何のデータも入り込むことはない。しかしながら、実
際には、散乱されたＸ線がデータとして検出される。そ
の場合、この１番目と４番目の列の検出器によって検出
されたデータは、被写体Ｂを透過したＸ線（直接線）は
一切含んでおらず、散乱されたＸ線のみのデータであ
る。このようにして、すなわち、上記検出器２５０の１
番目と４番目の列の検出器によって検出されたデータに
より、散乱Ｘ線を精度高く実測することが出来ることと
なる。
【００２２】なお、この散乱Ｘ線の実測では、コリメー
タ３００を絞り込んで測定するため、本スキャンの前に
プレスキャンを実行することによってデータをＣＴ装置
に記憶しておき（例えば、ホストコンピュータ１０１の
メモリ等）、次回からのスキャンの際に、上記実測され
て記憶されたＸ線検出器２５０の１番目と４番目の列の
散乱線データを用いて、具体的には、Ｘ線検出器２５０
の１番目〜４番目までの列の検出器で検出されたデータ
から差し引くことにより、この散乱線補正を容易に行う
ことが出来る。なお、次回からのスキャンの場合では、
コリメータ３００の絞り込みの操作は必要ないため、得
られる断層画像は、複数のＸ線検出器分、この例では４
枚の断層画像分のデータが得られる。
タ３００を絞り込んで測定するため、本スキャンの前に
プレスキャンを実行することによってデータをＣＴ装置
に記憶しておき（例えば、ホストコンピュータ１０１の
メモリ等）、次回からのスキャンの際に、上記実測され
て記憶されたＸ線検出器２５０の１番目と４番目の列の
散乱線データを用いて、具体的には、Ｘ線検出器２５０
の１番目〜４番目までの列の検出器で検出されたデータ
から差し引くことにより、この散乱線補正を容易に行う
ことが出来る。なお、次回からのスキャンの場合では、
コリメータ３００の絞り込みの操作は必要ないため、得
られる断層画像は、複数のＸ線検出器分、この例では４
枚の断層画像分のデータが得られる。
【００２３】さらに、高精度な補正が必要であれば、コ
リメータ３００を絞り込んで、Ｘ線検出器２５０の１番
目と４番目の検出器は散乱Ｘ線検出用の検出器として扱
い、投影データの取得には２番目と３番目のＸ線検出器
のみを使用し、スキャン中には、順次取り込んだ散乱Ｘ
線量を補正に用いることも可能である。しかし、この場
合には、１番目と４番目のＸ線検出器は散乱Ｘ線検出器
となるので、これらによって断層画像を得ることは出来
なくなる。つまり、その場合には、２枚分だけの断層画
像が得られることとなる。
リメータ３００を絞り込んで、Ｘ線検出器２５０の１番
目と４番目の検出器は散乱Ｘ線検出用の検出器として扱
い、投影データの取得には２番目と３番目のＸ線検出器
のみを使用し、スキャン中には、順次取り込んだ散乱Ｘ
線量を補正に用いることも可能である。しかし、この場
合には、１番目と４番目のＸ線検出器は散乱Ｘ線検出器
となるので、これらによって断層画像を得ることは出来
なくなる。つまり、その場合には、２枚分だけの断層画
像が得られることとなる。
【００２４】なお、これまでの説明では、Ｘ線検出器２
５０の１番目と４番目の列の検出器を散乱Ｘ線検出器と
して用いるものとして説明したが、本発明ではこれにの
み限定されることなく、例えば、１番目の列の検出器の
みを、あるいは、４番目の列の検出器のみを上記散乱Ｘ
線検出器として用いるようにすることも可能である。
５０の１番目と４番目の列の検出器を散乱Ｘ線検出器と
して用いるものとして説明したが、本発明ではこれにの
み限定されることなく、例えば、１番目の列の検出器の
みを、あるいは、４番目の列の検出器のみを上記散乱Ｘ
線検出器として用いるようにすることも可能である。
【００２５】以上は一般のＣＴ装置の例で述べたが、Ｃ
Ｔ透視法と呼ばれるリアルタイム再構成を行うことので
きる高速ＣＴ装置での散乱線補正にも適用して効果大で
ある。ここで高速ＣＴ装置とは、Ｘ線源を連続して回転
して被検体の投影データを複数回連続して計測すると共
に、このデータをもとに断層像を再構成して逐次にリア
ルタイムで表示するようにした装置である。
Ｔ透視法と呼ばれるリアルタイム再構成を行うことので
きる高速ＣＴ装置での散乱線補正にも適用して効果大で
ある。ここで高速ＣＴ装置とは、Ｘ線源を連続して回転
して被検体の投影データを複数回連続して計測すると共
に、このデータをもとに断層像を再構成して逐次にリア
ルタイムで表示するようにした装置である。
【００２６】
【発明の効果】以上の詳細な説明からも明らかなよう
に、本発明になる散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置によれ
ば、スライス方向に複数列のＸ線検出器を配列してなる
Ｘ線ＣＴ装置にいて、その複数のＸ線検出器列の一部の
Ｘ線検出器列を散乱Ｘ線検出器として用いることによ
り、正確な散乱Ｘ線量の測定を可能にし、これを補正に
用いることにより、アーチファクトを低減させて高画質
な断層画像を得ることを可能にするという優れた効果を
発揮する。
に、本発明になる散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置によれ
ば、スライス方向に複数列のＸ線検出器を配列してなる
Ｘ線ＣＴ装置にいて、その複数のＸ線検出器列の一部の
Ｘ線検出器列を散乱Ｘ線検出器として用いることによ
り、正確な散乱Ｘ線量の測定を可能にし、これを補正に
用いることにより、アーチファクトを低減させて高画質
な断層画像を得ることを可能にするという優れた効果を
発揮する。
【図１】本発明の実施の形態になる散乱線補正機能付Ｘ
線ＣＴ装置におけるＸ線検出器の構造とその動作を示す
一部拡大断面図である。
線ＣＴ装置におけるＸ線検出器の構造とその動作を示す
一部拡大断面図である。
【図２】上記本発明の散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置の
全体構成を示す概略図である。
全体構成を示す概略図である。
【図３】上記本発明の散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置に
おけるスキャナ部分の構成を示す図である。
おけるスキャナ部分の構成を示す図である。
【図４】上記本発明の散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置に
おけるＸ線検出器の構造とその動作を説明する図であ
る。
おけるＸ線検出器の構造とその動作を説明する図であ
る。
【図５】上記本発明との比較のための、第３世代のＸ線
ＣＴ装置におけるＸ線検出器の構造とその動作を説明す
る図である。
ＣＴ装置におけるＸ線検出器の構造とその動作を説明す
る図である。
【図６】上記本発明の散乱線補正機能付Ｘ線ＣＴ装置に
おけるＸ線検出器のスライス方向からみた散乱線の入射
を説明する図である。
おけるＸ線検出器のスライス方向からみた散乱線の入射
を説明する図である。
１００ 表示装置 １０１ ホストコンピュータ １０２ スキャナ １０３ 画像処理装置 １０４ 高電圧発生装置 １０５ 患者テーブル ２００ Ｘ線源 ２５０ 検出器 ３００ コリメータ Ｂ 被検体
Claims (1)
- 【請求項１】 Ｘ線源と、Ｘ線検出器とを持ち、画像再
構成を行うＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線検出器は、
スライス方向に複数列配置されており、この複数列配置
されたＸ線検出器の内の一部の列の検出器を、散乱線検
出器として用いることを特徴とする散乱線補正機能付Ｘ
線ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9199190A JPH1128203A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9199190A JPH1128203A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1128203A true JPH1128203A (ja) | 1999-02-02 |
Family
ID=16403647
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9199190A Pending JPH1128203A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1128203A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001112747A (ja) * | 1999-10-19 | 2001-04-24 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US7190758B2 (en) | 2003-07-29 | 2007-03-13 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray CT system |
| JP2007508561A (ja) * | 2003-10-14 | 2007-04-05 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 非対称ｃｓｃｔ |
| US20130058450A1 (en) * | 2011-09-01 | 2013-03-07 | Xin Liu | Method and apparatus for adaptive scatter correction |
-
1997
- 1997-07-10 JP JP9199190A patent/JPH1128203A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001112747A (ja) * | 1999-10-19 | 2001-04-24 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US7190758B2 (en) | 2003-07-29 | 2007-03-13 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray CT system |
| JP2007508561A (ja) * | 2003-10-14 | 2007-04-05 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 非対称ｃｓｃｔ |
| US20130058450A1 (en) * | 2011-09-01 | 2013-03-07 | Xin Liu | Method and apparatus for adaptive scatter correction |
| US9320477B2 (en) * | 2011-09-01 | 2016-04-26 | General Electric Company | Method and apparatus for adaptive scatter correction |
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