JPH11271175A - Device and method for detecting defect in optical fiber surrounded by covering layer - Google Patents

Device and method for detecting defect in optical fiber surrounded by covering layer

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Publication number
JPH11271175A
JPH11271175A JP2115399A JP2115399A JPH11271175A JP H11271175 A JPH11271175 A JP H11271175A JP 2115399 A JP2115399 A JP 2115399A JP 2115399 A JP2115399 A JP 2115399A JP H11271175 A JPH11271175 A JP H11271175A
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JP
Japan
Prior art keywords
optical fiber
light
photodetector array
defect
reflected
Prior art date
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Pending
Application number
JP2115399A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Christian Jakobsen
ジャコブセン クリスチャン
Flemming Pedersen
ペダーセン フレミング
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Nokia of America Corp
Original Assignee
Lucent Technologies Inc
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Publication date
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Application filed by Lucent Technologies Inc filed Critical Lucent Technologies Inc
Publication of JPH11271175A publication Critical patent/JPH11271175A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To judge whether a defect such as air bubbles exists in an optical fiber by discharging light in a direction that is vertical to the axial direction of the fiber to the covering of the optical fiber and detecting the presence or absence of third reflection rays from the device of the covering in addition to the first and second reflection rays at the boundary between air and the covering. SOLUTION: Optical beams 12 are applied to a covering 14 for surrounding an optical fiber 3 in a direction that is vertical to the axial direction of the fiber 3. Due to the difference in the refractive index between air and the covering 14, first rays 15 and second rays 17 are reflected at a boundary 16 between air and the covering and at a boundary 18, respectively. When no defect exists in the fiber 3, only the first and second rays 15 and 17 are detected by a linear photosensor array 9. However, when a defect 35 exists in the fiber 3, third rays 36 are reflected due to the defect 35 and are focused on the array 9. In this case, all three rays 15, 17, and 36 are detected for the array 9, thus judging the presence of the defect. In this manner, by utilizing the optical characteristics of the fiber covering 14, a defect can be detected.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光ファイバ内の欠陥
を検出する方法及び装置に関し、特に、本発明は、光フ
ァイバ製造工程内に組み入れることができる、光ファイ
バの製造中に光ファイバ内の気泡を光学的に検出する検
出システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for detecting defects in an optical fiber. More particularly, the present invention relates to a method and apparatus for detecting defects in an optical fiber during manufacture of the optical fiber. The present invention relates to a detection system for optically detecting bubbles.

【0002】[0002]

【従来の技術】光通信システムの良好な実装は、光ファ
イバが被る応力に十分に耐え得る機械特性を有する高品
質の光導波ファイバが必要である。各ファイバは該ファ
イバが実装中及び使用中に被る最大応力レベルに対し
て、その全長にわたっで耐えることができなければなら
ない。一本のファイバの故障が数百個の回路の喪失を生
じることを考慮すれば、ファイバ強度の重要性は明らか
である。
2. Description of the Related Art Good implementation of an optical communication system requires a high quality optical fiber having mechanical properties sufficient to withstand the stresses experienced by the optical fiber. Each fiber must be able to withstand the maximum stress level that the fiber experiences during mounting and use, along its entire length. The importance of fiber strength is clear when considering that a single fiber failure results in the loss of hundreds of circuits.

【0003】伸縮状態における光導波ファイバの故障は
通常、表面の傷に関連する。この表面の傷は応力集中を
起こし、元の無傷のガラスの引張り強さよりも低い引張
り強さになってしまう。傷のサイズは応力集中のレベル
と破損応力を決定する。ミクロンサイズの表面上の傷で
さえも応力集中を起こし、ファイバの引張り強さを大幅
に低下させてしまう。
[0003] Failure of an optical waveguide fiber in a stretched state is usually associated with surface flaws. This surface flaw causes stress concentration, resulting in a lower tensile strength than the original intact glass. The size of the flaw determines the level of stress concentration and the failure stress. Even scratches on micron-sized surfaces can cause stress concentration and significantly reduce the tensile strength of the fiber.

【0004】光ファイバは通常、一部融解ガラス・プリ
フォームからの細いファイバ・ガラス繊維の線引きを伴
う連続工程で製造される。炉が、プリフォームを部分的
に融解し、ファイバの線引きを可能とするために使用さ
れる。炉の熱とファイバの線引き速度とは、光ファイバ
を一様な条件の下で連続的に線引きすることが出来るよ
うに、適切にバランスしていなければならない。長尺の
光導波ファイバは相当な潜在的強度を有するが、その強
度は、光ファイバ内に生じている気泡(気泡線)又は孔
によって減少する。更に、光ファイバ内の気泡も又光フ
ァイバの光伝播特性に影響する。
[0004] Optical fibers are usually manufactured in a continuous process involving the drawing of fine fiber glass fibers from a partially molten glass preform. A furnace is used to partially melt the preform and allow the fiber to be drawn. The heat of the furnace and the drawing speed of the fiber must be properly balanced so that the optical fiber can be drawn continuously under uniform conditions. Long optical waveguide fibers have considerable potential strength, but the strength is reduced by bubbles (bubble lines) or holes that are created in the optical fiber. In addition, bubbles in the optical fiber also affect the light propagation characteristics of the optical fiber.

【0005】光ファイバは線引きされると直ぐに、例え
ばポリマーのような被覆材の層で被覆される。この被覆
は、線引きファイバの表面に飛塵が衝突し、該表面に付
着することを防止する。飛塵はファイバを弱化させるば
かりか、伝送特性さえも劣化させる。また、被覆はファ
イバを表面摩耗からも保護する。この表面摩耗は引き続
く製造工程及び実装中の取り扱いの結果として起こる。
被覆は、腐食環境からケーブルを保護し、ケーブル構造
体中のファイバに隙間を空ける。しかし、この被覆層は
ファイバ自体の中に存在している気泡や孔によって引き
起こされる問題を解消するものではない。上述の米国出
願第08/815,180号、第08/814,673
号は、光ファイバ被覆内の欠陥検出及び光ファイバ被覆
内の欠陥夫々の間の検出及び弁別を目的としている。
As soon as the optical fiber is drawn, it is coated with a layer of a coating, such as a polymer. The coating prevents flying dust from impinging on and sticking to the surface of the drawn fiber. Dust not only weakens the fiber, but also degrades its transmission characteristics. The coating also protects the fiber from surface wear. This surface wear occurs as a result of subsequent manufacturing processes and handling during mounting.
The coating protects the cable from corrosive environments and opens up the fibers in the cable structure. However, this coating does not eliminate the problems caused by bubbles and pores present in the fiber itself. Nos. 08 / 815,180 and 08 / 814,673 mentioned above.
The issue is aimed at detecting defects in the optical fiber coating and detecting and discriminating between defects in the optical fiber coating, respectively.

【0006】欠陥が光ファイバ中に存在するか否か判定
するために、製造工程で光ファイバが線引きされるに応
じて、光ファイバをモニタすることは当業者に公知であ
る。しかし、このような公知な技術は、被覆層が塗布さ
れる前の線引き工程中に光ファイバを分析しなければな
らず、且つ、光ファイバに包含されている欠陥を検出す
るために複雑なハードウエア及びソフトウエアの双方或
いはそのいずれかを必要とする。
It is well known to those skilled in the art to monitor an optical fiber as it is drawn during the manufacturing process to determine if a defect is present in the optical fiber. However, such known techniques require that the optical fiber be analyzed during the drawing process before the coating layer is applied, and that complicated hardware is required to detect defects contained in the optical fiber. Requires software and / or software.

【0007】例えば、米国特許第4021217号明細
書には、光ファイバが製造される際に、光ファイバに何
らかの被覆層が塗布される前に、光ファイバ欠陥を検出
し、光ファイバの引張り強さを決定するシステムが記載
されている。この米国特許第4021217号明細書に
記載された装置は、光ファイバが線引きされる際に、単
色光の合焦ビームを光ファイバに投射する。光検出器
(例えば、光電子増倍管)が、光ファイバに投射される
光の方向に対して軸外れするように配置される。これに
より、光検出器は光ファイバに含まれる欠陥に対して有
意な散乱光だけを受光する。検出器の出力は、電位計帯
記録紙レコーダにより受信され、検出された散乱光に応
じた散乱軌跡をプロットする。散乱軌跡のピークは光フ
ァイバ内の欠陥に対応する。
For example, US Pat. No. 4,012,217 discloses that when an optical fiber is manufactured, a defect of the optical fiber is detected and the tensile strength of the optical fiber is detected before any coating layer is applied to the optical fiber. A system for determining is described. The device described in U.S. Pat. No. 4,012,217 projects a focused beam of monochromatic light onto an optical fiber as the fiber is drawn. A photodetector (e.g., a photomultiplier tube) is positioned off-axis with respect to the direction of light projected onto the optical fiber. Thus, the photodetector receives only scattered light that is significant for defects included in the optical fiber. The output of the detector is received by an electrometer band recording paper recorder and plots a scattering trajectory corresponding to the detected scattered light. The peak of the scattering trajectory corresponds to a defect in the optical fiber.

【0008】米国特許第5185636号明細書には、
ファイバ内の孔のような欠陥を検出する方法が記載され
ている。この米国特許第5185636号明細書に開示
されている装置は、光ビームを光ファイバに投射するた
めにレーザを使用する。2個の光検出器が光ファイバの
各側面に配置される。レーザビームの干渉性と黒色性の
ために光検出器により検出される遠視野内に干渉バター
ンが生成される。光ファイバ内に含まれる孔は遠視野内
に生成された干渉パターンに少数の縞を生じる。複数個
の光源が使用され、光がファイバ全体を通過して、ブラ
インドスポット(盲点)が存在しないようにされる。こ
れは光ファイバ内の任意の位置に含まれている孔からも
光が反射され、そして、光検出器で検出されることを確
保するためである。光換出器の出力に基づいて空間周波
数スペクトルが生成される。そして、このスペクトルを
分析し、光ファイバ内に孔が存在するか否か判定する。
[0008] US Pat. No. 5,185,636 describes:
A method for detecting defects such as holes in a fiber is described. The device disclosed in U.S. Pat. No. 5,185,636 uses a laser to project a light beam onto an optical fiber. Two photodetectors are located on each side of the optical fiber. An interference pattern is created in the far field detected by the photodetector due to the coherence and blackness of the laser beam. The holes contained in the optical fiber cause a small number of fringes in the interference pattern generated in the far field. Multiple light sources are used to allow light to pass through the fiber so that there are no blind spots. This is to ensure that light is also reflected from a hole included in an arbitrary position in the optical fiber and detected by the photodetector. A spatial frequency spectrum is generated based on the output of the light exchanger. Then, the spectrum is analyzed to determine whether or not a hole exists in the optical fiber.

【0009】米国特許第4021217号明細書、米国
特許第5185636号明細書に開示されているシステ
ムは、両方とも、何らかの被覆層が光ファイバに塗布さ
れる前に、光ファイバ内の欠陥の光学的検出を実行す
る。更に、それらのシステムは、両方とも、ハードウエ
ア、ソフトウエアの双方或いはそのいずれかの観点で言
えばかなり複雑である。例えば、米国特許第51856
36号明細書に開示されているシステムは、欠陥によっ
て散乱された光を検出するための少なくとも1個の光電
子増倍管及び散乱軌跡を記録する電位計帯記録紙レコー
ダを使用している。米国特許第4021217号明細書
に開示されているシステムは、検査中のファイバに光を
投射するための複数個の光検出器と、ファイバによる反
射及び屈折によって各光検出器上に生成された遠視野干
渉パターンをそれぞれ投射するための複数個の光学系と
を使用する必要が有る。続いて高速フーリエ変換(FF
T)を利用して周波数スペクトルを生成する複雑な技術
が実行され、ファイバの径を判定している。ファイバの
外径成分の周波数が判定され、且つ、ファイバの周波数
スペクトルが同じ径を持つ無欠陥ファイバの周波数スペ
クトルと一致するかどうかを判定する。
[0009] The systems disclosed in US Pat. Nos. 4,012,217 and 5,185,636 both use optical systems to detect defects in an optical fiber before any coating layer is applied to the optical fiber. Perform discovery. Moreover, both of these systems are fairly complex in terms of hardware and / or software. For example, U.S. Pat.
The system disclosed in U.S. Pat. No. 36 uses at least one photomultiplier tube for detecting light scattered by a defect and an electrometer recording paper recorder that records the scattering trajectory. The system disclosed in U.S. Pat. No. 4,012,217 includes a plurality of photodetectors for projecting light onto a fiber under inspection and a remote detector generated on each photodetector by reflection and refraction by the fiber. It is necessary to use a plurality of optical systems for projecting the field interference pattern. Then fast Fourier transform (FF
A complex technique for generating a frequency spectrum using T) is performed to determine the fiber diameter. The frequency of the outer diameter component of the fiber is determined, and it is determined whether the frequency spectrum of the fiber matches the frequency spectrum of a defect-free fiber having the same diameter.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】これに対し、本発明
は、光ファイバ被覆の光学特性を利用して欠陥検出シス
テムの複雑さを低減する光ファイバ内の光学的欠陥を検
出するシステムを提供することを目的とする。特に、本
発明ではファイバを包囲している被覆の屈折率とファイ
バ自体の屈折率との間には僅かな差しか存在しない事実
を利用する。本発明では、光ファイバ被覆へファイバと
垂直な方向に投射された光が、この光が最初に当たる空
気と被覆との境界及びこの光がファイバを通り被覆の外
へ抜け出るときに当たる空気と被覆との境界でそれぞれ
反射される。被覆とファイバとの境界では、被覆の屈折
率とファイバの屈折率との値がが極めて近いので光は反
射されない。従って、ファイバ内に欠陥が無いときは、
空気と被覆との境界での第1の欠陥の反射からもたらさ
れる光線と、空気と被覆との境界での第2の反射からも
たらされる光線との2本の光線が検出される。しかし、
ファイバ内に欠陥が有るときは、空気と被覆との境界で
の第1の欠陥及び第2の反射光と、欠陥によって引き起
こされる第3の反射光との3本の光線が検出される。本
発明では、それら3本の反射光は全て互いに平行にな
り、且つ、被覆上へ投射される光の方向と垂直になるこ
とが判定された。光学的検出装置がそれらの反射光を検
出し、信号処理装置が、検出された反射光の数に基づい
て欠陥がファイバ内に存在するかどうかを判定する。
SUMMARY OF THE INVENTION In contrast, the present invention provides a system for detecting optical defects in an optical fiber that utilizes the optical properties of the optical fiber coating to reduce the complexity of the defect detection system. The purpose is to: In particular, the present invention takes advantage of the fact that there is little difference between the refractive index of the coating surrounding the fiber and the refractive index of the fiber itself. In the present invention, the light projected onto the optical fiber coating in a direction perpendicular to the fiber is the light that first strikes the boundary between the air and the coating and the light that strikes the fiber through the fiber and out of the coating. Each is reflected at the border. At the interface between the coating and the fiber, light is not reflected because the refractive index of the coating is very close to the refractive index of the fiber. Therefore, when there is no defect in the fiber,
Two rays are detected, one resulting from the reflection of the first defect at the air-coating interface and the other resulting from the second reflection at the air-coating interface. But,
When there is a defect in the fiber, three rays are detected: a first defect and a second reflected light at the boundary between the air and the coating, and a third reflected light caused by the defect. In the present invention, it has been determined that all three reflected lights are parallel to each other and perpendicular to the direction of the light projected onto the coating. An optical detector detects the reflected light, and a signal processor determines whether a defect exists in the fiber based on the number of detected reflected light.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、光ファ
イバ内の欠陥を検出するための光学的検出システムが提
供される。本システムは、光ファイバの被覆層上へ光ビ
ームを投射するための光源を具備する。レンズ系が、被
覆層からの反射光及び光ファイバ内の欠陥からの反射光
を光検出器アレイ上に合焦させる。光検出器アレイは、
光が光ファイバを包囲している被覆層に入り込むときに
空気と被覆層との境界で反射された光線と、光が光ファ
イバを通過した後、被覆層から抜け出るときに空気と被
覆層との境界で反射された光線とを受光する。例えば、
気泡のような欠陥が光ファイバ内に存在すると、第3の
光線が欠陥によって反射され、光検出器アレイによって
検出される。光検出器アレイと電気的に接続されてい
る、例えば、マイクロプロセッサのような信号処理装置
が光検出器アレイからの出力信号を受信し、この出力信
号を処理して欠陥が検出されたかどうかを判定する。
According to the present invention, there is provided an optical detection system for detecting defects in an optical fiber. The system includes a light source for projecting a light beam onto a coating layer of an optical fiber. A lens system focuses the reflected light from the coating layer and the reflected light from defects in the optical fiber onto the photodetector array. The photodetector array is
The light reflected at the boundary between the air and the coating layer when the light enters the coating layer surrounding the optical fiber, and the light reflected by the air and the coating layer when the light exits the coating layer after passing through the optical fiber. The light reflected from the boundary is received. For example,
If a defect, such as a bubble, is present in the optical fiber, a third light beam is reflected by the defect and detected by the photodetector array. A signal processing device, such as a microprocessor, electrically connected to the photodetector array, receives the output signal from the photodetector array and processes the output signal to determine whether a defect has been detected. judge.

【0012】本発明の好ましい実施態様では、本発明の
欠陥検出方法及び装置が光ファイバ・ケーブル製造工程
に組み入れられ、その結果、ファイバの製造中にそのフ
ァイバ内に生じる欠陥を検出することができ、それら欠
陥を排除し且つ将来的に欠陥が発生するのを防止するか
或いはその何れかを行うように製造工程を調整すること
が出来る。本発明の好ましい実施態様では、レーザ光が
レーザから光ファイバを包囲している被覆へファイバの
軸方向と垂直な方向、即ち、ファイバの流れ方向と垂直
な方向に投射される。ファイバの軸方向とレーザ光の投
射方向との双方に垂直に配置されたレンズ系がレーザ光
の各反射光を受光し、受光されたそれら反射光を光検出
器アレイ上に合焦させる。光検出器アレイは各光信号を
電気信号に変換し、それら電気信号を信号処理装置へ出
力する。信号処理装置はそれら電気信号を処理して光フ
ァイバ内に欠陥が存在するかどうかを判定する。
In a preferred embodiment of the present invention, the defect detection method and apparatus of the present invention is incorporated into a fiber optic cable manufacturing process so that defects occurring within the fiber during fiber manufacture can be detected. The manufacturing process can be tailored to eliminate these defects and / or prevent them from occurring in the future. In a preferred embodiment of the present invention, laser light is projected from the laser onto a coating surrounding the optical fiber in a direction perpendicular to the fiber axis, i.e., perpendicular to the fiber flow direction. A lens system arranged perpendicular to both the axial direction of the fiber and the projection direction of the laser beam receives each reflected beam of the laser beam and focuses the received reflected beam on the photodetector array. The photodetector array converts each optical signal into an electric signal and outputs the electric signal to a signal processing device. The signal processor processes the electrical signals to determine whether a defect exists in the optical fiber.

【0013】本発明の好ましい実施態様では、ファイバ
内に欠陥が無いときは、光検出器アレイが光が被覆に入
り込むときに空気と被覆との境界で反射された第1の欠
陥の反射光線を検出し、光が光ファイバを通過した後、
被覆層から抜け出るときに空気と被覆との境界で反射さ
れた第2の反射光線を検出することが判定された。ファ
イバ内に欠陥が存在するときは、ホトセンサ・アレイは
3本以上の反射光線を検出することとなる。信号処理装
置が3本以上の反射光線に関する電気信号を受信する
と、信号処理装置は光ファイバ内に欠陥が存在すると判
定する。信号処理装置は光検出器アレイによって検出さ
れた反射光線の数を計数し、光ファイバに存在している
欠陥の数を判定する。
In a preferred embodiment of the present invention, when there are no defects in the fiber, the photodetector array filters the reflected light of the first defect reflected at the air / coating boundary as light enters the coating. After detecting and the light has passed through the optical fiber,
It was determined to detect a second reflected ray reflected at the boundary between the air and the coating when exiting the coating layer. If there is a defect in the fiber, the photosensor array will detect more than two reflected rays. When the signal processing device receives an electrical signal related to three or more reflected light beams, the signal processing device determines that a defect exists in the optical fiber. The signal processor counts the number of reflected light rays detected by the photodetector array to determine the number of defects present in the optical fiber.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】図1は、光ファイバ内の欠陥を検
出するための本発明の装置1の好ましい実施態様を示
す。一般的に、被覆付き光ファイバ2はファイバと被覆
層とからなる。それら被覆層は、代表的には紫外線を照
射することにより硬化するポリマーからなる。本発明を
説明するために、被覆付き光ファイバ2はそれを包囲し
ている単一の被覆層からなるものとして説明する。本発
明の装置1は、レーザである光源7と、線形ホトセンサ
・アレイである光検出器アレイ9と、アナログ/デジタ
ル変換器及びマイクロプロセッサからなる信号処理装置
10とを具備する。
FIG. 1 shows a preferred embodiment of an apparatus 1 according to the invention for detecting defects in an optical fiber. Generally, the coated optical fiber 2 comprises a fiber and a coating layer. These coating layers are typically made of a polymer that cures when irradiated with ultraviolet light. For purposes of describing the present invention, the coated optical fiber 2 will be described as consisting of a single coating layer surrounding it. The device 1 of the present invention comprises a light source 7 which is a laser, a photodetector array 9 which is a linear photosensor array, and a signal processing device 10 comprising an analog / digital converter and a microprocessor.

【0015】図2に示されるように、概ね単色光のコヒ
ーレント・ビーム12がレーザ7によって光ファイバ3
を包囲している被覆14上へ光ファイバ3の軸方向と垂
直な方向に投射される。空気の屈折率と被覆14の屈折
率との差のために、第1の光線15が空気と被覆との境
界16で反射される。ファイバ3を包囲している被覆1
4から抜け出るときに、第2の光線17が空気と被覆と
の境界18で反射される。第1の反射光線15と第2の
反射光線17とは対物レンズ22で結像され、レンズ系
8の円柱レンズ(シリンドリカルレンズ)23によって
線形ホトセンサ・アレイ9上に合焦される。円柱レンズ
23はそれら反射光線を集光し、その結果、それらが線
形ホトセンサ・アレイ9上に更に高い強度に現れる。線
形ホトセンサ・アレイ9は各光信号をアナログ電気信号
に変換し、それらアナログ電気信号は信号処理装置10
に含まれるアナログ/デジタル変換器(ADC)25に
よってデジタル信号に変換される。続いて、それらデジ
タル信号が信号処理装置10のADC25からマイクロ
プロセッサ30へ出力される。続いて、マイクロプロセ
ッサ30でそれらデジタル信号が分析され、光ファイバ
3内に欠陥が存在するかどうかが判定される。
As shown in FIG. 2, a coherent beam 12 of substantially monochromatic light is applied to an optical fiber 3 by a laser 7.
Is projected in a direction perpendicular to the axial direction of the optical fiber 3 onto the coating 14 surrounding the optical fiber 3. Due to the difference between the index of refraction of air and the index of refraction of the coating 14, the first ray 15 is reflected at the interface 16 of air and coating. Coating 1 surrounding fiber 3
Upon exiting 4, the second ray 17 is reflected at the air / cladding interface 18. The first reflected light beam 15 and the second reflected light beam 17 are imaged by the objective lens 22 and focused on the linear photosensor array 9 by the cylindrical lens (cylindrical lens) 23 of the lens system 8. The cylindrical lenses 23 collect the reflected rays so that they appear on the linear photosensor array 9 at a higher intensity. The linear photosensor array 9 converts each optical signal into an analog electric signal, and the analog electric signal is converted into a signal processing device 10.
Is converted into a digital signal by an analog / digital converter (ADC) 25 included in. Subsequently, the digital signals are output from the ADC 25 of the signal processing device 10 to the microprocessor 30. Subsequently, the digital signals are analyzed by the microprocessor 30 to determine whether or not a defect exists in the optical fiber 3.

【0016】光ファイバ3内に欠陥が存在しないとき
は、第1、第2の光線15、17のみが線形ホトセンサ
・アレイ9によって検出される。しかし、光ファイバ3
内に欠陥35が存在するときは、その欠陥35によって
第3の光線36が反射され、レンズ系8によってホトセ
ンサ・アレイ9上に合焦される。この場合、ホトセンサ
・アレイ9は3本の光線15,17、36を全て検出す
る。マイクロプロセッサ30はADC25の出力を受信
し、ホトセンサ・アレイ9によって検出された光線数に
基づいてファイバ3内に欠陥が存在することを判定す
る。
When there are no defects in the optical fiber 3, only the first and second rays 15, 17 are detected by the linear photosensor array 9. However, the optical fiber 3
When there is a defect 35 therein, the third light ray 36 is reflected by the defect 35 and focused on the photosensor array 9 by the lens system 8. In this case, the photosensor array 9 detects all three rays 15, 17, and 36. Microprocessor 30 receives the output of ADC 25 and determines that there is a defect in fiber 3 based on the number of rays detected by photosensor array 9.

【0017】この目的に適する多種の様々な信号処理装
置が存在する。この目的にマイクロプロセッサが使用さ
れるが、様々なタイプの比較器回路が線形ホトセンサ・
アレイ9によって発生されたアナログ信号が所定しきい
値を超えたときを検出し、被覆付き光ファイバ2から反
射光線が検出されたことを表示するように設計すること
ができる。これらの機能はアナログ回路又はデジタル回
路を使用して実行することができる。従って、本発明
の、ホトセンサ・アレイ9からの電気信号を分析し、光
ファイバ3内に欠陥が存在するかどうかを判定する構成
は、何も特定の構成に限定されるものではない。
There are many different signal processing devices suitable for this purpose. Microprocessors are used for this purpose, but various types of comparator circuits are used for linear photosensors.
It can be designed to detect when the analog signal generated by the array 9 exceeds a predetermined threshold and to indicate that reflected light has been detected from the coated optical fiber 2. These functions can be performed using analog or digital circuits. Therefore, the configuration of the present invention for analyzing the electric signal from the photosensor array 9 and determining whether a defect exists in the optical fiber 3 is not limited to any particular configuration.

【0018】空気と被覆との境界16、18は円筒形状
であるから、極めて狭い視野の対物レンズ22により、
極めて小さな径の影像のみが線形ホトセンサ・アレイ9
上に現れる。対物レンズ22は、狭い視野を持つ微視鏡
対物レンズであり、その結果、反射光の極めて限られた
径部分のみが円柱レンズ23により影像をホトセンサ・
アレイ9上に合焦させるのに寄与する。これにより、影
像中に現れる光がはっきり分かれている極めて細い線と
して現れるようになる。対物レンズ22の視野内に在
る、照光されたファイバ3の軸方向の長さの全てが、影
像がホトセンサ・アレイ9上に形成されるのに寄与す
る。従って、ホトセンサ・アレイ9上に形成されている
影像は、ファイバ3内に欠陥が存在しないときは2本の
くっきりした平行線で形成されている。
Since the boundaries 16 and 18 between the air and the coating are cylindrical, the objective lens 22 has a very narrow field of view.
Only very small diameter images are linear photosensor arrays 9
Appear on top. The objective lens 22 is a microscopic objective lens having a narrow field of view. As a result, only a very limited diameter portion of the reflected light is subjected to the photo-
It contributes to focusing on the array 9. As a result, the light appearing in the image appears as a very thin line that is clearly separated. All of the axial length of the illuminated fiber 3 within the field of view of the objective lens 22 contributes to the formation of an image on the photosensor array 9. Therefore, the image formed on the photosensor array 9 is formed by two sharp parallel lines when no defect exists in the fiber 3.

【0019】これら2本の線は常時存在し、これら2本
の線が常時ホトセンサ・アレイ9上の同位置に在り、且
つ、ホトセンサ・アレイ9が影像面内に正しく置かれて
いるときは鮮明であるので、これら2本の線をホトセン
サ・アレイ9の整列状態を連続的に示す表示として使用
することが出来る。もしホトセンサ・アレイ9が影像面
内に無ければ、オーバヘッド・プロジェクタによってス
クリーンに投射された影像がそのレンズ系が正しく合焦
されていないときにぼやける様子と同様に、影像がぼや
け、その影像内の各線がにじむ。
These two lines are always present, and they are sharp when the two lines are always at the same position on the photosensor array 9 and the photosensor array 9 is correctly placed in the image plane. Therefore, these two lines can be used as a display for continuously indicating the alignment state of the photosensor array 9. If the photosensor array 9 is not in the image plane, the image will be blurred, similar to the way the image projected on the screen by the overhead projector will be blurred when the lens system is not properly focused. Each line blurs.

【0020】気泡(airline)が存在すると、最初の2本
の線の間に第3の線が現れる。更に、その第3の線の強
度は気泡の径が増大するにつれて増大する。従って、そ
の第3の線の強度は、ファイバ3内に存在している欠陥
の大きさを示す表示信号として使用することが出来る。
気泡のような欠陥の大きさをこの線の強度から見積もる
ことが出来る方法は比較的に簡単明瞭である。
In the presence of an airline, a third line appears between the first two lines. Further, the strength of the third line increases as the bubble diameter increases. Therefore, the intensity of the third line can be used as an indication signal indicating the size of the defect existing in the fiber 3.
The manner in which the size of a defect, such as a bubble, can be estimated from the intensity of this line is relatively straightforward.

【0021】本発明は特定の実施態様について説明され
たが、本発明はそれらの実施態様に限定されるものでは
ない。例えば、前記以外の構成要素を本発明の装置を構
成するために使用することができる。使用される光検出
器アレイのタイプは光ファイバ内の欠陥を検出するのに
好適な全てのタイプのものであることができる。
Although the invention has been described with respect to particular embodiments, the invention is not limited to those embodiments. For example, components other than those described above can be used to construct the device of the present invention. The type of photodetector array used can be of any type suitable for detecting defects in optical fibers.

【0022】本発明の目的を達成するために、前記以外
の方法も使用できる。例えば、光ファイバは一次被覆
層、二次被覆層の双方が塗布された後で検査されるのが
好ましいが、一次被覆層が塗布された後で二次被覆が塗
布される前に、光ファイバが検査されるようにすること
が出来る。或いはまた、ファイバはそれら被覆層の何れ
かが塗布される前に検査されるようにすることが出来
る。しかし、もし本発明のシステムが何れかの被覆層が
塗布される前に光ファイバ内の欠陥を検出するために使
用される場合は、光ファイバの外方領域内の欠陥によっ
て引き起こされた反射が隠れるか、又は空気とファイバ
との各境界によって引き起こされた反射によって不明瞭
になり、その結果欠陥を検出することがより困難になる
か又は不能になる。欠陥検出を1つ以上の被覆層が光フ
ァイバに塗布された後に実行することにより、それら被
覆の存在によって、確実に、常に存在する外側の両反射
線が欠陥から反射された光に対応する線とは干渉しなく
なるので、更に信頼性の高い結果が得られる。
Other methods can be used to achieve the objects of the present invention. For example, an optical fiber is preferably inspected after both the primary coating and the secondary coating are applied, but after the primary coating is applied and before the secondary coating is applied, the optical fiber is Can be checked. Alternatively, the fibers can be inspected before any of the coatings are applied. However, if the system of the present invention is used to detect defects in the optical fiber before any coating is applied, the reflection caused by the defects in the outer region of the optical fiber will be reduced. Hidden or obscured by reflections caused by air-fiber boundaries, making it more difficult or impossible to detect defects. Performing the defect detection after one or more coating layers have been applied to the optical fiber ensures that the presence of those coatings ensures that both outer reflected lines that are always present correspond to the light reflected from the defect. Does not interfere with the above, so that a more reliable result can be obtained.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光ファイバ被覆の光学特性を利用して欠陥検出システム
の複雑さを低減する光ファイバ内の光学的欠陥を検出す
るシステムが得られる。
As described above, according to the present invention,
A system is provided for detecting optical defects in an optical fiber that utilizes the optical properties of the optical fiber coating to reduce the complexity of the defect detection system.

【0024】本発明システムは、光ファイバ・ケーブル
製造工程に組み入れることが出来る。その結果、ファイ
バの製造中にそのファイバ内に生じる欠陥を検出するこ
とが出来、それら欠陥を排除し且つ将来的に欠陥が発生
するのを防止するか或いはその何れかを行うように製造
工程を調整することが出来る利点がある。
The system of the present invention can be incorporated into a fiber optic cable manufacturing process. As a result, defects occurring in the fiber during its manufacture can be detected, and the manufacturing process can be rejected and / or prevent future defects from occurring in the manufacturing process. There is an advantage that can be adjusted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】好ましい実施態様による、光ファイバ内の欠陥
を検出するための本発明の装置のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of an apparatus of the present invention for detecting defects in an optical fiber according to a preferred embodiment.

【図2】光を本発明のレンズ系上に反射する、被覆と空
気との各境界及び欠陥とを例示する図1に示される装置
のブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram of the apparatus shown in FIG. 1 illustrating the coating and air boundaries and defects that reflect light onto the lens system of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光ファイバ内の欠陥検出装置 2 被覆付き光ファイバ 3 光ファイバ 7 光源 8 集光レンズ系 9 光検出器アレイ 10 信号処理装置 12 光ビーム 14 被覆層 15 第1の反射光 16 第1の境界 17 第2の反射光 18 第2の境界 22 対物レンズ 23 円柱レンズ 25 アナログ/デジタル変換器 30 マイクロプロセッサ 35 欠陥 36 第3の反射光 Reference Signs List 1 Defect detection device in optical fiber 2 Coated optical fiber 3 Optical fiber 7 Light source 8 Condensing lens system 9 Photodetector array 10 Signal processing device 12 Light beam 14 Coating layer 15 First reflected light 16 First boundary 17 Second reflected light 18 Second boundary 22 Objective lens 23 Cylindrical lens 25 Analog / digital converter 30 Microprocessor 35 Defect 36 Third reflected light

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 596077259 600 Mountain Avenue, Murray Hill, New Je rsey 07974−0636U.S.A. (72)発明者 フレミング ペダーセン デンマーク ディーケー−3520,ファラ ム,バークホジターラッサーン 405イー ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (71) Applicant 596077259 600 Mountain Avenue, Murray Hill, New Jersey 07974-0636 U.S.A. S. A. (72) Inventor Fleming Peddersen DK-3520, Denmark, Pharam, Burke Hospital Rassan 405E

Claims (15)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被覆層(14)によって包囲されている
光ファイバ(3)内の欠陥を検出する装置において、 前記被覆層(14)に光ビーム(12)を投射する光源
と、 前記光源によって前記被覆層上に投射され空気と前記被
覆層との第1の境界(16)で反射された光に対応する
第1の反射光(15)を受光し、前記被覆層上に投射さ
れ前記被覆層上に投射された前記光が前記ファイバを通
過した後に空気と前記被覆層との第2の境界(18)で
反射された光に対応する第2の反射光(17)を受光
し、前記光源によって前記被覆層上に投射され前記光フ
ァイバ内に包含されている第1の欠陥(35)によって
反射された光に対応する第3の反射光(36)を受光す
る、集光レンズ系(8)と、 前記レンズ系(8)に隣接して配置され、前記レンズ系
によって合焦された前記第1、第2、第3の反射光(1
5,17,36)を受けて、それらの合焦された光に応
答する電気出力信号を発生する光検出器アレイ(9)
と、 前記光検出器アレイ(9)へ電気的に接続され、前記光
検出器アレイからの前記電気出力信号を受信し、前記電
気出力信号を処理して前記光検出器アレイが前記第1、
第2、第3の反射光を検出したかどうかを判定し、もし
前記光検出器アレイが前記第1、第2,第3の反射光を
検出したことが判定されると欠陥が前記光ファイバ内に
存在することを示す表示信号を発生する信号処理装置
(10)と、からなることを特徴とする被覆層で包囲さ
れた光ファイバ内の欠陥検出装置。
An apparatus for detecting defects in an optical fiber (3) surrounded by a coating layer (14), comprising: a light source that projects a light beam (12) onto the coating layer (14); A first reflected light (15) corresponding to light projected on the coating layer and reflected at a first boundary (16) between air and the coating layer is received, and is projected on the coating layer to form the coating. Receiving second reflected light (17) corresponding to light reflected at a second boundary (18) between air and the coating layer after the light projected on the layer has passed through the fiber; A condensing lens system (36) for receiving a third reflected light (36) corresponding to light reflected by the first defect (35) contained in the optical fiber and projected on the coating layer by a light source; 8), disposed adjacent to the lens system (8); The first, second, and third reflected lights (1) focused by the lens system
5,17,36) and a photodetector array (9) for generating an electrical output signal responsive to the focused light.
And electrically connected to the photodetector array (9), receiving the electrical output signal from the photodetector array, processing the electrical output signal and allowing the photodetector array to receive the first,
Determining whether the second and third reflected lights have been detected; if it is determined that the photodetector array has detected the first, second and third reflected lights, a defect is detected in the optical fiber; A signal processing device (10) for generating a display signal indicating the presence of the defect within the optical fiber.
【請求項2】 前記光ビーム(12)は前記光ファイバ
(3)の長手方向軸と垂直な方向に前記光ファイバ
(3)の前記被覆層(14)上へ投射されることを特徴
とする、請求項1に記載の装置。
2. The light beam (12) is projected onto the coating layer (14) of the optical fiber (3) in a direction perpendicular to a longitudinal axis of the optical fiber (3). The apparatus of claim 1.
【請求項3】 前記光源がレーザであることを特徴とす
る、請求項1に記載の装置。
3. The apparatus according to claim 1, wherein said light source is a laser.
【請求項4】 前記光検出器アレイ(9)が、前記被覆
層(14)への前記光ビーム(12)の投射方向と垂直
で且つ前記光ファイバ(3)の長手方向軸と垂直な位置
に配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の
装置。
4. The position of the photodetector array (9) perpendicular to the direction of projection of the light beam (12) onto the cover layer (14) and perpendicular to the longitudinal axis of the optical fiber (3). The device according to claim 1, wherein the device is arranged at
【請求項5】 前記信号処理装置(10)がアナログ/
デジタル変換器(25)及びマイクロプロセッサ(3
0)からなり、前記アナログ/デジタル変換器(25)
は前記光検出器アレイ(9)から前記電気出力信号を受
信して前記電気出力信号をデジタル信号に変換し、前記
マイクロプロセッサ(30)は前記デジタル信号を受信
し、前記デジタル信号を処理して欠陥が前記光ファイバ
(3)内に存在するかどうかを判定することを特徴とす
る、請求項1に記載の装置。
5. The signal processing device according to claim 1, wherein
Digital converter (25) and microprocessor (3
0), said analog / digital converter (25)
Receives the electrical output signal from the photodetector array (9) and converts the electrical output signal to a digital signal, and the microprocessor (30) receives the digital signal and processes the digital signal Device according to claim 1, characterized in that it is determined whether a defect is present in the optical fiber (3).
【請求項6】 前記信号処理装置(10)が前記光検出
器アレイ(9)によって検出された反射光の個数を計数
し、且つ、3本以上の反射光が検出されたかどうかを判
定し、もし前記信号処理装置(10)が3本以上の反射
光が検出されたことを判定すると、前記信号処理装置
(10)はそのことを示す表示信号を出力することを特
徴とする、請求項1に記載の装置。
6. The signal processing device (10) counts the number of reflected lights detected by the photodetector array (9), and determines whether three or more reflected lights have been detected, If the signal processing device (10) determines that three or more reflected lights have been detected, the signal processing device (10) outputs a display signal indicating this. An apparatus according to claim 1.
【請求項7】 前記信号処理装置(10)が、前記光検
出器アレイ(9)から出力された前記電気信号の大きさ
に基づいて前記第1の欠陥(35)の大きさを示す表示
信号を発生し、前記第1の欠陥(35)の大きさが増大
するにつれて前記光検出器アレイ(9)から出力される
前記電気信号の大きさが増大することを特徴とする、請
求項1に記載の装置。
7. A display signal indicating a magnitude of the first defect (35) based on a magnitude of the electric signal output from the photodetector array (9). And the magnitude of the electrical signal output from the photodetector array (9) increases as the magnitude of the first defect (35) increases. The described device.
【請求項8】 欠陥が検出されたかどうかに関する前記
判定が光ファイバ製造工程で使用され、前記製造工程で
生成されている光ファイバ内の欠陥の発生を防止又は最
小にすることを特徴とする、請求項1に記載の装置。
8. The method according to claim 1, wherein the determination as to whether a defect has been detected is used in an optical fiber manufacturing process to prevent or minimize the occurrence of defects in the optical fiber created in the manufacturing process. The device according to claim 1.
【請求項9】 被覆層によって包囲されている光ファイ
バを検査し、前記光ファイバ内に形成された気泡を検出
する方法において、 前記光ファイバの前記被覆層(14)に光ビーム(1
2)を投射するステップと、 前記光源によって前記被覆層(14)上に投射され、空
気と前記被覆層との第1の境界(16)で反射された光
に対応する第1の反射光(15)を光検出器アレイ
(9)上に合焦させるステップと、 前記被覆層(14)上に投射され、前記被覆層上に投射
された前記光が前記光ファイバを通過した後に空気と前
記被覆層との第2の境界(18)で反射された光に対応
する第2の反射光(17)を前記光検出器アレイ(9)
上に合焦させるステップと、 前記光源によって前記被覆層(14)上に投射され、前
記光ファイバ(3)内に包含されている第1の欠陥(3
5)によって反射された光に対応する第3の反射光(3
6)を前記光検出器アレイ(9)上に合焦させるステッ
プと、 前記光検出器アレイ上(9)に合焦されている前記第
1、第2、第3の反射光(15,17,36)に関する
情報を包含する電気出力信号を前記光検出器アレイ
(9)の出力として発生するステップと、 前記電気出力信号を信号処理装置(10)で処理し、前
記光検出器アレイ(9)が前記第1、第2、第3の反射
光(15,17,36)を検出したかどうかを判定し
て、もし前記光検出器アレイ(9)が前記第1、第2、
第3の反射光を検出した場合、前記信号処理装置(1
0)が、欠陥(35)が前記光ファイバ(3)内に存在
することを示す表示信号を発生するようにするステップ
と、 からなることを特徴とする、被覆層で包囲された光ファ
イバ内の欠陥検出方法。
9. A method for inspecting an optical fiber surrounded by a coating layer and detecting bubbles formed in the optical fiber, comprising: a light beam (1) applied to the coating layer (14) of the optical fiber;
Projecting 2); and a first reflected light () corresponding to the light projected by the light source onto the cover layer (14) and reflected at a first boundary (16) between air and the cover layer. 15) focusing the light onto the photodetector array (9); and projecting the light projected onto the coating layer (14) onto the coating layer after passing the optical fiber through the optical fiber. A second reflected light (17) corresponding to light reflected at a second boundary (18) with the coating layer is applied to the photodetector array (9).
Focusing on the first defect (3) projected onto the coating layer (14) by the light source and contained in the optical fiber (3).
The third reflected light (3) corresponding to the light reflected by 5)
6) focusing the light on the photodetector array (9); and the first, second, and third reflected lights (15, 17) focused on the photodetector array (9). Generating an electrical output signal containing information about the photodetector array (9) as an output of the photodetector array (9); processing the electrical output signal in a signal processing device (10); ) Has detected the first, second, and third reflected light (15, 17, 36), and if the photodetector array (9) has the first, second,
When the third reflected light is detected, the signal processing device (1
0) generating an indication signal indicating that a defect (35) is present in said optical fiber (3), wherein the optical fiber is surrounded by a coating layer. Defect detection method.
【請求項10】 前記光投射ステップにおいて、前記光
ビーム(12)が前記光ファイバ(3)の長手方向軸と
垂直な方向に前記被覆層(14)上へ投射されることを
特徴とする、請求項9に記載の方法。
10. The light projecting step, wherein the light beam (12) is projected onto the coating layer (14) in a direction perpendicular to a longitudinal axis of the optical fiber (3). The method according to claim 9.
【請求項11】 前記被覆層(14)上へ投射される前
記光ビーム(12)がレーザによって発生されることを
特徴とする、請求項10に記載の方法。
11. The method according to claim 10, wherein the light beam (12) projected onto the covering layer (14) is generated by a laser.
【請求項12】 前記光検出器アレイ(9)は、前記被
覆層(14)上への前記光ビーム(12)の投射方向と
垂直で且つ前記光ファイバ(3)の前記長手方向軸と垂
直な位置に配置されていることを特徴とする、請求項1
0に記載の方法。
12. The photodetector array (9) is perpendicular to the direction of projection of the light beam (12) onto the cover layer (14) and perpendicular to the longitudinal axis of the optical fiber (3). 2. The device according to claim 1, wherein:
The method according to 0.
【請求項13】 前記信号処理装置(10)がアナログ
/デジタル変換器(25)及びマイクロプロセッサ(3
0)からなり、前記アナログ/デジタル変換器(25)
は前記光検出器アレイ(9)から前記電気出力信号を受
信して前記電気出力信号をデジタル信号に変換し、前記
マイクロプロセッサ(30)は前記デジタル信号を受信
し、前記デジタル信号を処理して欠陥が前記光ファイバ
(3)内に存在するかどうかを判定することを特徴とす
る、請求項10に記載の方法。
13. The signal processing device (10) comprises an analog / digital converter (25) and a microprocessor (3).
0), said analog / digital converter (25)
Receives the electrical output signal from the photodetector array (9) and converts the electrical output signal to a digital signal, and the microprocessor (30) receives the digital signal and processes the digital signal The method according to claim 10, characterized in that it is determined whether a defect is present in the optical fiber (3).
【請求項14】 前記信号処理装置(10)が前記光検
出器アレイ(9)によって検出された反射光の個数を計
数し、且つ、3本以上の反射光が検出されたかどうかを
判定し、もし前記信号処理装置(10)が3本以上の反
射が検出されたことを判定すると、前記信号処理装置
(10)はそのことを示す表示信号を出力することを特
徴とする、請求項10に記載の方法。
14. The signal processing device (10) counts the number of reflected lights detected by the photodetector array (9), and determines whether three or more reflected lights are detected, If the signal processing device (10) determines that three or more reflections have been detected, the signal processing device (10) outputs a display signal indicating this. The described method.
【請求項15】 前記信号処理装置(10)が、前記光
検出器アレイ(9)から出力された前記電気信号の大き
さに基づいて前記第1の欠陥の欠陥の大きさを示す表示
信号を発生し、前記第1の欠陥の大きさが増大するにつ
れて前記光検出器アレイから出力された前記電気信号の
大きさが増大することを特徴とする、請求項10に記載
の方法。
15. The signal processing device (10) outputs a display signal indicating the size of the first defect based on the size of the electric signal output from the photodetector array (9). The method of claim 10, wherein the magnitude of the electrical signal output from the photodetector array increases as the magnitude of the generated first defect increases.
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