JPH11258429A - Method for mounting optical bloc, optical system with optical bloc mounted, method for forming optical block and optical block - Google Patents

Method for mounting optical bloc, optical system with optical bloc mounted, method for forming optical block and optical block

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JPH11258429A
JPH11258429A JP6559598A JP6559598A JPH11258429A JP H11258429 A JPH11258429 A JP H11258429A JP 6559598 A JP6559598 A JP 6559598A JP 6559598 A JP6559598 A JP 6559598A JP H11258429 A JPH11258429 A JP H11258429A
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optical block
optical
dicing
mark
forming
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Hironori Sasaki
浩紀 佐々木
Takeshi Kamijo
健 上條
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and highly precisely mount an optical block by passive alignment. SOLUTION: This method for mounting an optical block is carried out by utilizing a photolithographic technology to simultaneously form CGH (computerized hologram) elements 12 and dicing marks 14 on a transparent substrate 10. Then, a plurality of transparent substrates 10 on which the CGH elements 12 and the dicing marks 14 are formed are layered one another to give a layered substrate unit. After that, the layered substrate unit is died along the dicing marks to cut out optical blocks in which a plurality of transparent substrate blocks comprising CGH elements, respectively are layered. Finally, one of cut cross-section faces of each optical block formed by the dicing is brought into contact with the standard face to mount each optical block on a flat substrate for mounting.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、自由空間光配線
光学系を構成する光学装置としての光学ブロックの実装
方法、光学ブロックを実装した光学系、光学ブロックの
形成方法および光学ブロックに関し、特に、計算機ホロ
グラム(Computer generated hologram 、以下、「CG
H素子」とも称する。)を具えた光学ブロックおよびそ
の実装に関する。
The present invention relates to a method for mounting an optical block as an optical device constituting a free-space optical wiring optical system, an optical system mounting the optical block, a method for forming an optical block, and an optical block. Computer generated hologram (hereinafter “CG”)
H element ". ) And an implementation thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、回折現象を利用した回折光学系、
中でも計算機を利用して形成された計算機ホログラム
(CGH素子)が、次のような利点を有するため注目さ
れている。CGH素子は、透明基板に従来のLSI作成
技術、特にフォトリソグラフィ技術を利用して形成でき
るという利点を有する。また、CGH素子は、例えば複
雑な非球面レンズの機能を一枚の基板で実現できるとい
う利点を有する。その上、CGH素子は、焦点距離、偏
向角といった光学特性を任意に制御して形成できるとい
う利点を有する。
2. Description of the Related Art In recent years, a diffraction optical system utilizing a diffraction phenomenon,
Among them, a computer generated hologram (CGH element) formed using a computer has attracted attention because it has the following advantages. The CGH element has an advantage that it can be formed on a transparent substrate by using a conventional LSI fabrication technique, in particular, a photolithography technique. In addition, the CGH element has an advantage that the function of, for example, a complicated aspheric lens can be realized by one substrate. In addition, the CGH element has an advantage that optical characteristics such as a focal length and a deflection angle can be arbitrarily controlled and formed.

【0003】そして、CGH素子が形成された透明基板
から、そのCGH素子を含むように切り出された光学ブ
ロックは、自由空間光配線光学系を構成する。
An optical block cut out from the transparent substrate on which the CGH element is formed so as to include the CGH element constitutes a free-space optical wiring optical system.

【0004】また、光学ブロックは、1枚の透明基板の
みから切り出しても良いが、例えば、CGH素子が形成
された複数の透明基板を積層して、これから光学ブロッ
クを切り出せば、例えば、光の分波、合波、コリメート
および集光といった複数の機能を1つのホログラムとし
て1つの光学ブロックで実現することができる。そし
て、この光学ブロックは、自由空間光配線光学系を構成
する光学装置として機能する。
The optical block may be cut out from only one transparent substrate. For example, if a plurality of transparent substrates on which CGH elements are formed are laminated and the optical block is cut out from this, for example, light A plurality of functions such as demultiplexing, multiplexing, collimating, and condensing can be realized by one optical block as one hologram. Then, this optical block functions as an optical device constituting a free-space optical wiring optical system.

【0005】この出願に係る発明者は、このようなCG
H素子でもって構成された自由空間光配線光学系を「特
願平9−147115」において提案している。この自
由空間光配線光学系は、光通信末端局用の光学装置を構
成している。
[0005] The inventor of the present application has proposed such a CG.
A free-space optical interconnection optical system constituted by H elements is proposed in Japanese Patent Application No. 9-147115. This free space optical interconnection optical system constitutes an optical device for an optical communication terminal station.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】この光学ブロックと他
の光学素子、例えば、光ファイバ、光源、受光素子その
他とを用いて光学系を組み立てて実装するにあたって
は、光学ブロックと各光学素子との位置合わせ(アライ
メント)を精度良く行う必要がある。
In assembling and mounting an optical system using this optical block and other optical elements, for example, an optical fiber, a light source, a light receiving element, and the like, the optical block and each optical element must be connected to each other. It is necessary to perform alignment with high accuracy.

【0007】ところで、この光学ブロックおよび各光学
素子は、それぞれ3次元の自由度を有する。このため、
位置合わせを行うためには、通常、位置合わせの基準と
なる光源を用いたり、外部から位置合わせの基準となる
光信号を導入した上、微動台を用いて光学ブロックおよ
び各光学素子の位置合わせを精度良く行う必要があっ
た。そして、このような、いわゆるアクティブアライメ
ントでは、位置合わせに手間と時間がかかるという問題
点があった。その結果、光学系の製造コストが増大して
しまうという問題点があった。
The optical block and each optical element have three-dimensional degrees of freedom. For this reason,
In order to perform positioning, a light source serving as a reference for positioning is usually used, or an optical signal serving as a reference for positioning is externally introduced, and then the positioning of the optical block and each optical element is performed using a fine adjustment table. Was required to be performed with high accuracy. Then, in such a so-called active alignment, there is a problem that it takes time and effort for alignment. As a result, there is a problem that the manufacturing cost of the optical system increases.

【0008】そこで、光学ブロックを、外部から基準と
なる光信号等を導入することなく、即ち、いわゆるパッ
シブアライメントにより、精度良く容易に実装できる技
術の出現が望まれていた。
Therefore, there has been a demand for a technique capable of easily and accurately mounting an optical block without introducing a reference optical signal or the like from the outside, that is, by so-called passive alignment.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この出願に係る発明者
は、種々の検討および実験を重ねた結果、光学ブロック
を用いて光学系を組み立てるにあたり、平面実装用基板
を利用することに着目した。平面実装用基板について
は、例えば、文献1:「1997年電子情報通信学会エ
レクトロニクスソサエティ大会、論文番号C−3−8
8」に、マイクロオプティカルベンチ(MOB)として
開示されている。そして、このMOBを用いることによ
り、光ファイバや平板マイクロレンズといった光学部品
をパッシブアライメントにより配置することができる。
As a result of various studies and experiments, the inventor of the present application has focused on using a planar mounting substrate in assembling an optical system using an optical block. For the board for planar mounting, see, for example, Reference 1: "1997 IEICE Electronics Society Conference, Paper No. C-3-8.
8 "as a micro-optical bench (MOB). By using this MOB, optical components such as an optical fiber and a flat microlens can be arranged by passive alignment.

【0010】さらに、この発明者は、平面実装用基板の
基準面に光学ブロックの側面を接触させて実装するにあ
たり、光学ブロックの側面を、光学ブロックに含まれる
計算機ホログラムの光軸を基準とした位置精度良く形成
すれば、パッシブアライメントにより光学ブロックを設
計通り位置精度良くかつ容易に実装できることに想到し
た。そして、光学ブロックのダイシングマークを位置精
度良く形成すれば、ダイシングにより切り出される光学
ブロックの切断面としての側面を位置精度良く形成でき
ることに想到した。そして、ダイシングマークをフォト
リソグラフィを用いて形成すれば、ダイシングマークを
位置精度良く形成できることに想到した。
Further, the present inventor, when mounting the optical block by bringing the side surface of the optical block into contact with the reference surface of the planar mounting substrate, uses the side surface of the optical block as a reference for the optical axis of a computer generated hologram included in the optical block. It was conceived that the optical block could be easily mounted with high positional accuracy as designed by passive alignment if it was formed with high positional accuracy. Then, it was conceived that if the dicing marks of the optical block were formed with high positional accuracy, the side surfaces as cut surfaces of the optical block cut out by dicing could be formed with high positional accuracy. Then, they have conceived that if the dicing marks are formed using photolithography, the dicing marks can be formed with high positional accuracy.

【0011】(第1の光学ブロックの実装方法)そこ
で、この発明の第1の光学ブロックの実装方法によれ
ば、基準面を具えた平面実装用基板上に、光学ブロック
を実装する光学ブロックの実装方法であって、(a)透
明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用して、計算機
ホログラム(CGH素子)を形成する工程と、(b)透
明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用して、CGH
素子と特定の位置関係でダイシングマークを形成する工
程と、(c)CGH素子およびダイシングマークの形成
された処理済みの透明基板を、ダイシングマークに沿っ
てダイシングすることにより、CGH素子を含む光学ブ
ロックを切り出す工程と、(d)光学ブロックのダイシ
ングによる切断面の少なくとも1つを、基準面に接触さ
せることにより、当該光学ブロックを平面実装用基板上
に設置する工程とを含むことを特徴とする。
(First mounting method of optical block) Therefore, according to the first mounting method of the optical block of the present invention, the mounting method of the optical block for mounting the optical block on a planar mounting substrate having a reference surface is provided. (A) a step of forming a computer generated hologram (CGH element) on a transparent substrate using a photolithography technique, and (b) a step of forming a CGH on a transparent substrate using a photolithography technique.
Forming a dicing mark in a specific positional relationship with the element; and (c) dicing the processed transparent substrate on which the CGH element and the dicing mark are formed along the dicing mark, thereby forming an optical block including the CGH element. And (d) contacting at least one of the cut surfaces of the optical block by dicing with a reference surface to install the optical block on a planar mounting substrate. .

【0012】このように、この発明の第1の光学ブロッ
クの実装方法によれば、ダイシングマークをフォトリソ
グラフィ技術を利用して形成する。このため、ダイシン
グマークの、CGH素子の光軸からの位置を精度良く決
定することができる。そして、このダイシングマークに
沿ってダイシングを行うので、このダイシングによって
形成された切断面の位置は、精度が良いものとなる。即
ち、光学ブロックの側面としての切断面を位置の精度良
く形成することができる。尚、この発明において、フォ
トリソグラフィ技術は、レジストパタンの形成処理だけ
でなく、エッチング処理も含むものとする。
As described above, according to the first mounting method of the optical block of the present invention, the dicing mark is formed by using the photolithography technique. For this reason, the position of the dicing mark from the optical axis of the CGH element can be accurately determined. Since the dicing is performed along the dicing mark, the position of the cut surface formed by the dicing has high accuracy. That is, the cut surface as the side surface of the optical block can be formed with high positional accuracy. In the present invention, the photolithography technique includes not only a resist pattern forming process but also an etching process.

【0013】そして、この切断面を平面実装用基板の基
準面と接触させて光学ブロックを実装することにより、
この基準面に垂直方向の自由度をなくして、実装するこ
とができる。その上、切断面の位置の精度が良いので、
基準面と光学ブロックに含まれるCGH素子の光軸との
距離を精度良く決定することができる。その結果、パッ
シブアライメントにより精度良く光学ブロックを実装す
ることができる。
Then, the cut surface is brought into contact with the reference surface of the planar mounting substrate to mount the optical block.
This reference plane can be mounted without any degree of freedom in the vertical direction. In addition, because the accuracy of the position of the cut surface is good,
The distance between the reference plane and the optical axis of the CGH element included in the optical block can be accurately determined. As a result, the optical block can be accurately mounted by passive alignment.

【0014】尚、この光学ブロックは、好ましくは、六
面体とするのが良く、六面体であれば、直方体や立方体
であっても良い。また、より好ましくは、この光学ブロ
ックは、その光軸が少なくとも1つの面と平行な面内に
ある構造の六面体とするのがよい。
The optical block is preferably a hexahedron. If it is a hexahedron, it may be a rectangular parallelepiped or a cube. More preferably, the optical block is a hexahedron having a structure in which the optical axis is in a plane parallel to at least one plane.

【0015】また、平面実装用基板に、他の光学素子を
合わせて実装すれば、光学ブロックと、同一の光学系を
構成する他の光学素子との位置合わせを容易に行うこと
ができる。例えば平面実装用基板にV字形状の溝を設け
て、光ファイバを実装すれば、光ファイバを位置精度良
く設置することができる。その結果、光ファイバと光ブ
ロックの位置合わせを容易に行うことができる。
Further, if another optical element is mounted on the board for planar mounting, the alignment between the optical block and another optical element constituting the same optical system can be easily performed. For example, if an optical fiber is mounted by providing a V-shaped groove on a planar mounting substrate, the optical fiber can be installed with high positional accuracy. As a result, the alignment between the optical fiber and the optical block can be easily performed.

【0016】また、この発明の光学ブロックの実装方法
の実施にあたり、好ましくは、(a)工程中に(b)工
程を行うのが良い。
In carrying out the method of mounting an optical block according to the present invention, it is preferable to perform the step (b) during the step (a).

【0017】このように、(a)工程中に(b)工程を
行うことにより、ダイシングマークをCGH素子と実質
的に同時に形成すれば、一度のフォトリソグラフィ処理
により、ダイシングマークとCGH素子とを形成するこ
とができる。その結果、ダイシングマークとCGH素子
とを個別に形成する場合に比べて、製造工程を簡単化す
ることができる。
As described above, if the dicing mark is formed substantially simultaneously with the CGH element by performing the step (b) during the step (a), the dicing mark and the CGH element can be formed by one photolithography process. Can be formed. As a result, the manufacturing process can be simplified as compared with the case where the dicing mark and the CGH element are separately formed.

【0018】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークを、CGH素子を囲む正方形の各
頂点の位置であって、当該CGH素子の光軸から等距離
の位置に形成するのが望ましい。
In practicing the present invention, it is preferable that the dicing mark is formed at each vertex of a square surrounding the CGH element and at a position equidistant from the optical axis of the CGH element.

【0019】このように、CGH素子の光軸と、ダイシ
ングにより切り出すブロックを上面から見たときの正方
形の中心(対向する頂点どうしを結ぶ直線の交点)とを
一致させれば、ダイシングにより切り出された光学ブロ
ックの4つの側面のそれぞれとCGH素子の光軸との間
の距離が互いに等しくなる。従って、4つの側面のいず
れでも、実装時に基準面と接触させる面として用いるこ
とができる。
As described above, if the optical axis of the CGH element is coincident with the center of the square (the intersection of the straight line connecting the opposing vertices) when the block cut out by dicing is viewed from the upper surface, the dicing is performed. The distance between each of the four side surfaces of the optical block and the optical axis of the CGH element becomes equal to each other. Therefore, any of the four side surfaces can be used as a surface that comes into contact with the reference surface during mounting.

【0020】上述したダイシングマークは、透明基板に
対するエッチングで形成された溝または凸部として形成
することができる。しかし、フォトリソグラフィ技術の
エッチングによって、透明基板の表面にダイシングマー
クを形成した場合、ダイシングマークの部分の透過率と
その周囲の部分の透過率とは同じままである。このた
め、位置決めの際にダイシングマークを顕微鏡で目視す
るためには、透明基板の表面に完全にピント(焦点)を
合わせること必要である。そのためには、例えば、透明
基板の表面に形成されたCGH素子にピントを合わせる
ことによって、ダイシングマークにピントを合わせる方
法が考えられる。しかしながら、この方法では、CGH
素子と同一視野にダイシングマークがない場合には、C
GH素子にピントを合わせた後、顕微鏡のステージを移
動してダイシングマークを探す必要がある。その場合、
ダイシングマークを確認する作業に時間がかかってしま
う。また、この場合、ダイシングマークの位置を、画像
処理技術を用いて認識させる上でも好ましくない。
The above-mentioned dicing mark can be formed as a groove or a projection formed by etching a transparent substrate. However, when the dicing mark is formed on the surface of the transparent substrate by the etching of the photolithography technique, the transmittance of the portion of the dicing mark and the transmittance of the surrounding portion remain the same. Therefore, in order to visually observe the dicing mark with a microscope at the time of positioning, it is necessary to completely focus on the surface of the transparent substrate. For this purpose, for example, a method of focusing on a dicing mark by focusing on a CGH element formed on the surface of a transparent substrate can be considered. However, in this method, CGH
If there is no dicing mark in the same field of view as the device,
After focusing on the GH element, it is necessary to move the microscope stage to find a dicing mark. In that case,
It takes time to check the dicing mark. In this case, it is not preferable to recognize the position of the dicing mark using an image processing technique.

【0021】そこで、この発明の実施にあたり、好まし
くは、ダイシングマークを、透明基板に設けた金属マー
クとして形成するのが良い。
Therefore, in practicing the present invention, the dicing mark is preferably formed as a metal mark provided on a transparent substrate.

【0022】金属マークは光を透過しないので、その周
囲の部分から判別しやすい。このため、ダイシングマー
クとして金属マークを用いれば、ダイシングマークが形
成された透明基板の表面に完全にピントが合わなくと
も、ダイシングマークの位置を確認することができる。
そのため、ダイシングマークの位置の確認作業を迅速に
行うことができる。また、金属マークを用いれば、画像
処理でダイシングマークを自動的に認識させる上でも好
適である。
Since the metal mark does not transmit light, it can be easily identified from the surrounding area. Therefore, if a metal mark is used as the dicing mark, the position of the dicing mark can be confirmed even if the surface of the transparent substrate on which the dicing mark is formed is not completely in focus.
Therefore, the work of confirming the position of the dicing mark can be performed quickly. The use of metal marks is also suitable for automatically recognizing dicing marks in image processing.

【0023】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、平面実装用基板をシリコンテラス(MOB)とする
のが良い。
In practicing the present invention, preferably, the substrate for planar mounting is a silicon terrace (MOB).

【0024】また、この発明の光学ブロックの実装方法
において、好ましくは、(c)の工程は、(c1)複数
の処理済みの透明基板を互いに積層して積層基板群を形
成する工程と、(c2)積層基板群を、ダイシングマー
クに沿ってダイシングすることにより、光学ブロックを
切り出す工程とを含むのが良い。
In the method of mounting an optical block according to the present invention, preferably, the step (c) includes: (c1) a step of laminating a plurality of processed transparent substrates together to form a laminated substrate group; c2) dicing the stacked substrate group along the dicing mark to cut out an optical block.

【0025】このように、それぞれCGH素子が形成さ
れた透明基板を積層した積層基板群をダイシングすれ
ば、それぞれCGH素子の形成された複数の透明基板ブ
ロックが積層された光学ブロックを形成することができ
る。
As described above, by dicing the laminated substrate group in which the transparent substrates each having the CGH element formed thereon are laminated, an optical block in which a plurality of transparent substrate blocks each having the CGH element formed thereon can be formed. it can.

【0026】また、この発明の光学ブロックの実装方法
において、好ましくは、ダイシングマークは、複数の透
明基板を積層する際に、互いの位置合わせの基準となる
アレンジマークを兼ねるのが良い。
In the optical block mounting method according to the present invention, preferably, the dicing marks also serve as reference marks for positioning each other when a plurality of transparent substrates are laminated.

【0027】このように、ダイシングマークとアレンジ
マークとを共通のものとすれば、フォトリソグラフィに
より形成するパタンの数を減らすことができる。
As described above, if the dicing mark and the arrangement mark are shared, the number of patterns formed by photolithography can be reduced.

【0028】(第2の光学ブロックの実装方法)また、
この発明の第2の光学ブロックの実装方法によれば、基
準面を具えた平面実装用基板上に、光学ブロックを実装
する光学ブロックの実装方法であって、(a)透明基板
に、フォトリソグラフィ技術を利用して、計算機ホログ
ラム(CGH素子)を形成する工程と、(b)透明基板
に、フォトリソグラフィ技術を利用して、CGH素子と
特定の位置関係でダイシングマークを形成する工程と、
(c)CGH素子およびダイシングマークの形成された
処理済みの透明基板を、積層して積層基板群を形成する
工程と、(d)積層基板群を、ダイシングマークに沿っ
てダイシングすることにより、それぞれCGH素子を含
む積層された透明基板ブロックからなる光学ブロックを
切り出す工程と、(e)光学ブロックのダイシングによ
る切断面の少なくとも1つを、基準面に接触させること
により、当該光学ブロックを平面実装用基板上に設置す
る工程とを含むことを特徴とする。
(Method of Mounting the Second Optical Block)
According to the second mounting method of an optical block of the present invention, there is provided a mounting method of an optical block for mounting an optical block on a planar mounting substrate having a reference surface, wherein (a) photolithography is performed on a transparent substrate. A step of forming a computer generated hologram (CGH element) using the technology, and (b) a step of forming a dicing mark on the transparent substrate in a specific positional relationship with the CGH element using a photolithography technique,
(C) a step of laminating the processed transparent substrates on which the CGH elements and the dicing marks are formed to form a laminated substrate group; and (d) dicing the laminated substrate group along the dicing marks. (E) contacting at least one of the cut surfaces of the optical block by dicing with a reference surface to cut out an optical block composed of stacked transparent substrate blocks including a CGH element, thereby mounting the optical block on a plane. And placing it on a substrate.

【0029】このように、この発明の第2の光学ブロッ
クの実装方法によれば、ダイシングマークをフォトリソ
グラフィ技術を利用して形成する。このため、ダイシン
グマークの、CGH素子の光軸からの位置を精度良く決
定することができる。そして、複数の処理済みの透明基
板を積層した積層基板群を、このダイシングマークに沿
ってダイシングするので、このダイシングによって形成
された切断面の位置は、精度が良いものとなる。即ち、
光学ブロックの側面としての切断面を位置の精度良く形
成することができる。尚、この発明において、フォトリ
ソグラフィ技術は、レジストパタンの形成処理だけでな
く、エッチング処理も含むものとする。
As described above, according to the mounting method of the second optical block of the present invention, the dicing mark is formed using the photolithography technique. For this reason, the position of the dicing mark from the optical axis of the CGH element can be accurately determined. Then, since a laminated substrate group in which a plurality of processed transparent substrates are laminated is diced along the dicing mark, the position of the cut surface formed by the dicing has high accuracy. That is,
The cut surface as the side surface of the optical block can be formed with high positional accuracy. In the present invention, the photolithography technique includes not only a resist pattern forming process but also an etching process.

【0030】そして、この切断面を平面実装用基板の基
準面と接触させて光学ブロックを実装することにより、
この基準面に垂直方向の自由度をなくして、実装するこ
とができる。その上、切断面の位置の精度が良いので、
基準面と光学ブロックに含まれるCGH素子の光軸との
距離を精度良く決定することができる。その結果、パッ
シブアライメントにより精度良く光学ブロックを実装す
ることができる。
Then, the cut surface is brought into contact with the reference surface of the planar mounting substrate, and the optical block is mounted.
This reference plane can be mounted without any degree of freedom in the vertical direction. In addition, because the accuracy of the position of the cut surface is good,
The distance between the reference plane and the optical axis of the CGH element included in the optical block can be accurately determined. As a result, the optical block can be accurately mounted by passive alignment.

【0031】尚、この光学ブロックは、好ましくは、六
面体とするのが良く、六面体であれば、直方体や立方体
であっても良い。また、より好ましくは、この光学ブロ
ックは、その光軸が少なくとも1つの面と平行な面内に
ある構造の六面体とするのがよい。
The optical block is preferably a hexahedron. If it is a hexahedron, it may be a rectangular parallelepiped or a cube. More preferably, the optical block is a hexahedron having a structure in which the optical axis is in a plane parallel to at least one plane.

【0032】また、平面実装用基板に、他の光学素子を
合わせて実装すれば、光学ブロックと、同一の光学系を
構成する他の光学素子との位置合わせを容易に行うこと
ができる。例えば平面実装用基板にV字形状の溝を設け
て、光ファイバを実装すれば、光ファイバを位置精度良
く設置することができる。その結果、光ファイバと光ブ
ロックの位置合わせを容易に行うことができる。
Further, if another optical element is mounted on the flat mounting board, the alignment between the optical block and another optical element constituting the same optical system can be easily performed. For example, if an optical fiber is mounted by providing a V-shaped groove on a planar mounting substrate, the optical fiber can be installed with high positional accuracy. As a result, the alignment between the optical fiber and the optical block can be easily performed.

【0033】また、この発明の第2のこう学ブロックの
実装方法において、好ましくは、(a)工程中に、
(b)工程を行うと良い。
[0033] In the second method for mounting a block according to the present invention, preferably, during the step (a),
Step (b) is preferably performed.

【0034】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークを、計算機ホログラムを囲む正方
形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラムの光
軸から等距離の位置に形成するのが良い。
In practicing the present invention, the dicing mark is preferably formed at each vertex of a square surrounding the computer hologram and at the same distance from the optical axis of the computer hologram.

【0035】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークとして、金属マークを形成するの
が良い。
In practicing the present invention, it is preferable to form a metal mark as the dicing mark.

【0036】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、平面実装用基板としてシリコンテラスを用いるのが
良い。
In practicing the present invention, it is preferable to use a silicon terrace as the planar mounting substrate.

【0037】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークは、複数の透明基板を積層する際
に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマークを兼
ねるのが良い。
In practicing the present invention, it is preferable that the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of transparent substrates are laminated.

【0038】(光学ブロックを実装した光学系)また、
この発明の光学ブロックを実装した光学系によれば、基
準面を具えた平面実装用基板上に、光学ブロックを実装
した光学系であって、光学ブロックは、計算機ホログラ
ムおよびダイシングマークの形成された透明基板から、
当該ダイシングマークに沿ったダイシングにより、この
計算機ホログラムを含む領域として切り出されたもので
あり、このダイシングマークは、フォトリソグラフィ技
術を利用して形成されたものであることを特徴とする。
(Optical System Mounted with Optical Block)
According to the optical system in which the optical block of the present invention is mounted, an optical system in which the optical block is mounted on a planar mounting substrate having a reference surface, wherein the optical block has a computer-generated hologram and a dicing mark formed thereon. From the transparent substrate,
It is cut out as an area including the computer generated hologram by dicing along the dicing mark, and the dicing mark is formed using a photolithography technique.

【0039】このように、この発明の光学ブロックを実
装した光学系によれば、光学ブロックを形成するための
ダイシングマークをフォトリソグラフィ技術を利用して
形成する。このため、ダイシングマークの位置を、光学
ブロックの光軸からの距離の精度良く決定することがで
きる。そして、この位置精度良く形成されたダイシング
マークに沿ってダイシングを行うので、このダイシング
によって形成された切断面の位置は、精度が良いものと
なる。即ち、光学ブロックの切断面としての側面は、位
置の精度が良いものとなる。
As described above, according to the optical system in which the optical block of the present invention is mounted, the dicing mark for forming the optical block is formed using the photolithography technique. For this reason, the position of the dicing mark can be accurately determined with respect to the distance from the optical axis of the optical block. Since the dicing is performed along the dicing mark formed with high positional accuracy, the position of the cut surface formed by the dicing has high accuracy. That is, the side surface as the cut surface of the optical block has high positional accuracy.

【0040】そして、この切断面は平坦面であって、こ
の切断面を平面実装用基板の基準面と接触させて光学ブ
ロックを実装してあるので、この基準面に垂直方向の自
由度をなくして、実装することができる。その上、切断
面の位置の精度が良いので、基準面と光学ブロックの光
軸との間の距離が精度良く決定される。その結果、この
光学系によれば、パッシブアライメントにより精度良く
光学ブロックを実装することができる。
Since the cut surface is a flat surface and the optical block is mounted by bringing the cut surface into contact with the reference surface of the planar mounting substrate, the degree of freedom in the vertical direction is eliminated from the reference surface. And can be implemented. In addition, since the accuracy of the position of the cut surface is high, the distance between the reference surface and the optical axis of the optical block is determined with high accuracy. As a result, according to this optical system, the optical block can be mounted with high precision by passive alignment.

【0041】また、平面実装用基板に、他の光学素子を
合わせて実装すれば、光学ブロックと他の光学素子との
位置合わせを容易に行うことができる。例えばV字形状
の溝を設けて、光ファイバを実装すれば、光ファイバと
光ブロックの位置合わせを容易に行うことができる。
Further, if another optical element is mounted on the planar mounting substrate, the alignment between the optical block and the other optical element can be easily performed. For example, if an optical fiber is mounted by providing a V-shaped groove, the positioning of the optical fiber and the optical block can be easily performed.

【0042】また、この発明の光学ブロックを実装した
光学系の実施にあたり、好ましくは、ダイシングマーク
は、CGH素子を囲む正方形の各頂点の位置であって、
当該CGH素子の光軸から等距離の位置に形成されたも
のであることが望ましい。
In implementing the optical system having the optical block according to the present invention, preferably, the dicing mark is located at each vertex of a square surrounding the CGH element,
It is desirable that the CGH element is formed at a position equidistant from the optical axis of the CGH element.

【0043】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークを、金属マークとするのが良い。
In practicing the present invention, preferably, the dicing mark is a metal mark.

【0044】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、平面実装用基板をシリコンテラスとするのが良い。
In practicing the present invention, it is preferable that the planar mounting substrate is a silicon terrace.

【0045】また、この発明の光学ブロックを実装した
光学系において、好ましくは、光学ブロックは、処理済
みの透明基板が互いに積層された積層基板群を、ダイシ
ングマークに沿ってダイシングすることにより切り出さ
れたものであるのが良い。
In the optical system mounted with the optical block of the present invention, preferably, the optical block is cut out by dicing a laminated substrate group in which processed transparent substrates are laminated together along a dicing mark. Good thing.

【0046】このように、それぞれCGH素子が形成さ
れた透明基板を積層した積層基板群をダイシングすれ
ば、それぞれCGH素子の形成された複数の透明基板ブ
ロックが積層された光学ブロックを形成することができ
る。
As described above, by dicing the laminated substrate group in which the transparent substrates on which the CGH elements are formed are diced, an optical block in which a plurality of transparent substrate blocks on which the CGH elements are formed is formed. it can.

【0047】また、この発明の光学ブロックを実装した
光学系において、好ましくは、ダイシングマークは、複
数の透明基板を積層する際に、互いの位置合わせの基準
となるアレンジマークを兼ねるのが良い。
In the optical system having the optical block according to the present invention, preferably, the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of transparent substrates are laminated.

【0048】(第1の光学ブロックの形成方法)また、
この発明の光学ブロックの形成方法によれば、(a)透
明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用して、計算機
ホログラム(CGH素子)を形成する工程と、(b)透
明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用して、このC
GH素子と特定の位置関係でダイシングマークを形成す
る工程と、(c)計算機ホログラムおよびダイシングマ
ークの形成された処理済みの透明基板を、ダイシングマ
ークに沿ってダイシングすることにより、CGH素子を
含む光学ブロックを切り出す工程とを含むことを特徴と
する。
(Method of Forming First Optical Block)
According to the method of forming an optical block of the present invention, (a) a step of forming a computer generated hologram (CGH element) on a transparent substrate by using photolithography technology; and (b) a photolithography technology on the transparent substrate. Use this C
Forming a dicing mark in a specific positional relationship with the GH element; and (c) dicing the processed transparent substrate on which the computer generated hologram and the dicing mark are formed along the dicing mark, thereby forming an optical element including the CGH element. Cutting out blocks.

【0049】このように、この発明の光学ブロックの形
成方法によれば、ダイシングマークをフォトリソグラフ
ィ技術を利用して形成する。このため、光学ブロックの
光軸からダイシングマークの位置までの距離を精度良く
決定することができる。そして、このダイシングマーク
に沿ってダイシングを行うので、このダイシングによっ
て形成された切断面の位置は、光軸からの距離の精度が
良いものとなる。即ち、光学ブロックの側面としての切
断面を位置の精度良く形成することができる。
As described above, according to the optical block forming method of the present invention, the dicing mark is formed by using the photolithography technique. Therefore, the distance from the optical axis of the optical block to the position of the dicing mark can be accurately determined. Since the dicing is performed along the dicing mark, the position of the cut surface formed by the dicing has high accuracy in the distance from the optical axis. That is, the cut surface as the side surface of the optical block can be formed with high positional accuracy.

【0050】従って、この切断面を実装対象に接触させ
て、光学ブロックを実装すれば、パッシブアライメント
により精度良く光学ブロックを実装することができる。
Therefore, if the cut surface is brought into contact with the mounting object and the optical block is mounted, the optical block can be mounted with high precision by passive alignment.

【0051】また、この発明の光学ブロックの形成方法
の実施にあたり、好ましくは、(a)工程中に(b)工
程を行うのが良いまた、この発明の光学ブロックの形成
方法において、好ましくは、ダイシングマークを、各C
GH素子をそれぞれ囲む正方形の各頂点の位置であっ
て、当該CGH素子の光軸から等距離の位置に形成する
のが望ましい。
In carrying out the method of forming an optical block according to the present invention, it is preferable to perform the step (b) during the step (a). In the method of forming an optical block according to the present invention, The dicing mark for each C
It is desirable to form each of the vertices of a square surrounding the GH element at the same distance from the optical axis of the CGH element.

【0052】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークとして、金属マークを形成するの
が良い。
In practicing the present invention, it is preferable to form a metal mark as the dicing mark.

【0053】また、この発明の光学ブロックの形成方法
において、好ましくは、(c)の工程は、(c1)複数
の処理済みの透明基板を互いに積層して積層基板群を形
成する工程と、(c2)積層基板群を、ダイシングマー
クに沿ってダイシングすることにより、それぞれCGH
素子を含む透明基板ブロックが積層された構成を有する
光学ブロックを切り出す工程とを含むのが良い。
In the method of forming an optical block according to the present invention, preferably, the step (c) comprises: (c1) a step of laminating a plurality of processed transparent substrates together to form a laminated substrate group; c2) By dicing the laminated substrate group along the dicing mark, each CGH
Cutting out an optical block having a configuration in which transparent substrate blocks including elements are stacked.

【0054】このように、それぞれCGH素子が形成さ
れた透明基板を積層した積層基板群をダイシングすれ
ば、それぞれCGH素子の形成された複数の透明基板ブ
ロックが積層された光学ブロックを形成することができ
る。
As described above, by dicing the laminated substrate group in which the transparent substrates each having the CGH element formed thereon are laminated, an optical block in which a plurality of transparent substrate blocks each having the CGH element formed thereon can be formed. it can.

【0055】また、この発明の光学ブロックの形成方法
において、好ましくは、ダイシングマークは、複数の透
明基板を積層する際に、互いの位置合わせの基準となる
アレンジマークを兼ねるのが良い。
In the method of forming an optical block according to the present invention, it is preferable that the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of transparent substrates are laminated.

【0056】(第2の光学ブロックの形成方法)また、
この発明の第2の光学ブロックの形成方法によれば、
(a)透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用し
て、計算機ホログラム(CGH素子)を形成する工程
と、(b)透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用
して、CGH素子と特定の位置関係でダイシングマーク
を形成する工程と、(c)CGH素子およびダイシング
マークの形成された処理済みの透明基板を積層して積層
基板群を形成する工程と、(d)積層基板群を、ダイシ
ングマークに沿ってダイシングすることにより、それぞ
れCGH素子を含む積層された透明基板ブロックからな
る光学ブロックを切り出す工程とを含むことを特徴とす
る。
(Method of Forming Second Optical Block)
According to the second optical block forming method of the present invention,
(A) a step of forming a computer generated hologram (CGH element) on a transparent substrate by using photolithography technology; and (b) a step of forming a specific positional relationship with the CGH element on the transparent substrate by using photolithography technology. A step of forming a dicing mark; (c) a step of laminating a processed transparent substrate on which the CGH element and the dicing mark are formed to form a laminated substrate group; and (d) a step of forming the laminated substrate group along the dicing mark. And cutting out an optical block composed of laminated transparent substrate blocks each including a CGH element by dicing.

【0057】このように、この発明の光学ブロックの形
成方法によれば、ダイシングマークをフォトリソグラフ
ィ技術を利用して形成する。このため、光学ブロックの
光軸からダイシングマークの位置までの距離を精度良く
決定することができる。そして、このダイシングマーク
に沿ってダイシングを行うので、このダイシングによっ
て形成された切断面の位置は、光軸からの距離の精度が
良いものとなる。即ち、光学ブロックの側面としての切
断面を位置の精度良く形成することができる。
As described above, according to the optical block forming method of the present invention, the dicing marks are formed by using the photolithography technique. Therefore, the distance from the optical axis of the optical block to the position of the dicing mark can be accurately determined. Since the dicing is performed along the dicing mark, the position of the cut surface formed by the dicing has high accuracy in the distance from the optical axis. That is, the cut surface as the side surface of the optical block can be formed with high positional accuracy.

【0058】従って、この切断面を実装対象に接触させ
て、光学ブロックを実装すれば、パッシブアライメント
により精度良く光学ブロックを実装することができる。
Therefore, if the cut surface is brought into contact with the mounting object and the optical block is mounted, the optical block can be mounted with high precision by passive alignment.

【0059】また、この発明の第2の光学ブロックの形
成方法において、好ましくは、(a)工程中に、(b)
工程を行うのが良い。
In the second method of forming an optical block according to the present invention, preferably, (b) is performed during the step (a).
It is good to carry out the process.

【0060】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークを、計算機ホログラムを囲む正方
形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラムの光
軸から等距離の位置に形成するのが良い。
In practicing the present invention, it is preferable that the dicing mark is formed at the position of each vertex of a square surrounding the computer hologram and at the same distance from the optical axis of the computer hologram.

【0061】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークとして、金属マークを形成するの
が良い。
In practicing the present invention, it is preferable to form a metal mark as the dicing mark.

【0062】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークは、複数の透明基板を積層する際
に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマークを兼
ねるのが良い。
In practicing the present invention, it is preferable that the dicing marks also serve as reference marks for positioning each other when a plurality of transparent substrates are laminated.

【0063】(光学ブロック)また、この発明の光学ブ
ロックによれば、計算機ホログラム(CGH素子)およ
びダイシングマークの形成された透明基板から、当該ダ
イシングマークに沿ったダイシングにより、CGH素子
を含む領域として切り出された光学ブロックであって、
ダイシングマークは、フォトリソグラフィ技術を利用し
て形成されたものであることを特徴とする。
(Optical Block) According to the optical block of the present invention, the transparent substrate on which the computer generated hologram (CGH element) and the dicing mark are formed is diced along the dicing mark to form a region including the CGH element. An optical block cut out,
The dicing mark is formed using a photolithography technique.

【0064】このように、この発明の光学ブロックによ
れば、ダイシングマークをフォトリソグラフィ技術を利
用して形成している。このため、光学ブロックの光軸か
らダイシングマークの位置までの距離を精度良く決定す
ることができる。そして、このダイシングマークに沿っ
てダイシングを行っているので、この発明の光学ブロッ
クは、ダイシングによって形成された切断面の光軸から
の位置の精度が良いものとなる。即ち、光学ブロックの
側面としての切断面を位置の精度が良いものとなる。
As described above, according to the optical block of the present invention, the dicing marks are formed using the photolithography technique. Therefore, the distance from the optical axis of the optical block to the position of the dicing mark can be accurately determined. Since the dicing is performed along the dicing marks, the optical block of the present invention has a high precision in the position of the cut surface formed by dicing from the optical axis. That is, the position of the cut surface as the side surface of the optical block can be accurately determined.

【0065】従って、この切断面を実装対象に接触させ
て、光学ブロックを実装すれば、パッシブアライメント
により精度良く光学ブロックを実装することができる。
Therefore, if the cut surface is brought into contact with the mounting object and the optical block is mounted, the optical block can be mounted with high precision by passive alignment.

【0066】また、この発明の光学ブロックにおいて、
好ましくは、光学ブロックは、透明基板が互いに積層さ
れた積層基板群からダイシングマークに沿ったダイシン
グにより、複数のと梅基板ブロックが積層されたものと
して切り出すのが良い。
In the optical block of the present invention,
Preferably, the optical block is cut out from a stacked substrate group in which the transparent substrates are stacked on each other by dicing along a dicing mark as a plurality of stacked ume substrate blocks.

【0067】このように、それぞれCGH素子が形成さ
れた透明基板を積層した積層基板群をダイシングすれ
ば、それぞれCGH素子の形成された複数の透明基板ブ
ロックが積層された光学ブロックとなる。
As described above, by dicing the laminated substrate group in which the transparent substrates on which the CGH elements are respectively formed are laminated, an optical block in which a plurality of transparent substrate blocks on which the CGH elements are respectively formed is laminated.

【0068】また、この発明の光学ブロックにおいて、
好ましくは、ダイシングマークは、複数の透明基板を積
層する際に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマ
ークを兼ねるのが良い。
Further, in the optical block of the present invention,
Preferably, the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of transparent substrates are laminated.

【0069】また、この発明の光学ブロックの実施にあ
たり、好ましくは、ダイシングマークは、各CGH素子
をそれぞれ囲む正方形の頂点の位置であって、当該CG
H素子の光軸から等距離の位置に形成されたものである
と良い。
In implementing the optical block of the present invention, preferably, the dicing mark is a position of a vertex of a square surrounding each CGH element, and
It is preferable that the H element be formed at a position equidistant from the optical axis of the H element.

【0070】また、この発明の実施にあたり、好ましく
は、ダイシングマークを、金属マークとするのが良い。
In practicing the present invention, preferably, the dicing mark is a metal mark.

【0071】[0071]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施の形態について説明する。尚、参照する図面は、
この発明が理解できる程度に各構成成分の大きさ、形状
および配置関係を概略的に示してあるにすぎない。従っ
て、この発明は図示例に限定されるものではない。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The drawings to be referred to are
Only the size, shape and arrangement of each component are schematically shown to the extent that the present invention can be understood. Therefore, the present invention is not limited to the illustrated example.

【0072】(第1の実施の形態)この発明では、先
ず、透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用して、
計算機ホログラム(CGH素子)とダイシングマークと
を形成する。
(First Embodiment) In the present invention, first, a photolithography technique is used to form a transparent substrate on a transparent substrate.
A computer generated hologram (CGH element) and a dicing mark are formed.

【0073】そこで、この実施の形態では、石英の透明
基板に、通常のフォトリソグラフィ技術を利用して、複
数のCGH素子を形成する。そして、この実施の形態で
は、CGH素子を形成する際に、フォトリソグラフィ技
術を利用してダイシングマークも同時に形成する。
Therefore, in this embodiment, a plurality of CGH elements are formed on a quartz transparent substrate by using ordinary photolithography technology. In this embodiment, when forming a CGH element, a dicing mark is also formed at the same time using photolithography technology.

【0074】また、フォトリソグラフィを行うにあたっ
ては、従来周知の技術を用いると良い。例えば、先ず、
透明基板上にフォトレジスト(図示せず)及び金属膜
(図示せず)を順次に積層して形成する。次に、電子線
リソグラフィーを用いて、この金属膜に、CGH素子の
マスクパタンおよびダイシングマークのマスクパタンを
描画して金属マスクパタンを形成する。次に、この金属
マスクパタンを介してフォトレジストを露光することに
より、金属マスクパタンをフォトレジストに転写してレ
ジストパタンを形成する。次に、このレジストパタンを
エッチングマスクとして用いて、透明基板10に対して
エッチングを行うことにより、図1の(A)に示すよう
に、CGH素子12およびダイシングマーク14を形成
する。各CGH素子12は、その光軸が、透明基板10
のこれら素子が形成された上面に垂直な方向となるよう
に形成されている。
In performing photolithography, a conventionally well-known technique may be used. For example, first
A photoresist (not shown) and a metal film (not shown) are sequentially laminated on a transparent substrate. Next, a mask pattern of a CGH element and a mask pattern of a dicing mark are drawn on the metal film using electron beam lithography to form a metal mask pattern. Next, by exposing the photoresist through this metal mask pattern, the metal mask pattern is transferred to the photoresist to form a resist pattern. Next, the CGH element 12 and the dicing mark 14 are formed by etching the transparent substrate 10 using this resist pattern as an etching mask, as shown in FIG. The optical axis of each CGH element 12 is
Are formed in a direction perpendicular to the upper surface on which these elements are formed.

【0075】図1の(A)は、石英の透明基板10の上
面に、複数のCGH素子12およびダイシングマーク1
4をそれぞれ形成した様子を示す。この実施の形態で
は、図1の(A)に示すように、各CGH素子12の輪
郭を円形としている。この構成例では、各CGH素子1
2を行列配列させてあり、個々のCGH素子12の周囲
の四点に、全体的に行列位置となるようにダイシングマ
ークを配列させてある。また、ダイシングマーク14と
して十字形状の溝または凸部としている。そして、これ
らのダイシングマーク14は、フォトリソグラフィ技術
を利用して形成するので、設計通りの位置に精度良く形
成することができる。
FIG. 1 (A) shows a plurality of CGH elements 12 and dicing marks 1 on an upper surface of a quartz transparent substrate 10.
4 shows a state in which each is formed. In this embodiment, as shown in FIG. 1A, the contour of each CGH element 12 is circular. In this configuration example, each CGH element 1
2 are arranged in a matrix, and dicing marks are arranged at four points around each of the CGH elements 12 so as to be in a matrix position as a whole. Further, the dicing mark 14 is a cross-shaped groove or projection. Since these dicing marks 14 are formed by using the photolithography technique, they can be formed accurately at the designed positions.

【0076】また、ダイシングマーク14を、透明基板
10をエッチングして形成する代わりに、透明基板10
にフォトリソグラフィ技術を利用して、金属マークを設
けてこのマークをダイシングマーク14としても良い。
金属マークの形成にあたっては、例えば、透明基板10
の主表面上全面にアルミニウム(Al)を蒸着してアル
ミニウム層(図示せず)を形成し、次に、不要な部分、
即ち、ダイシングマーク以外の部分をウエットエッチン
グにより除去すると良い。
Further, instead of forming the dicing mark 14 by etching the transparent substrate 10,
Alternatively, a metal mark may be provided using photolithography technology, and this mark may be used as the dicing mark 14.
In forming the metal mark, for example, the transparent substrate 10
An aluminum layer (not shown) is formed by evaporating aluminum (Al) on the entire surface of the main surface of
That is, portions other than the dicing marks may be removed by wet etching.

【0077】また、この金属マークを他の方法で形成す
ることもできる。例えば、透明基板10の主表面のう
ち、ダイシングマークを形成しない部分をフォトレジス
トパタン(図示せず)で覆った後、レジストパタンから
露出している透明基板10の部分に、金属を蒸着して金
属マークを形成しても良い。
The metal mark can be formed by another method. For example, after covering a portion of the main surface of the transparent substrate 10 where no dicing mark is formed with a photoresist pattern (not shown), a metal is deposited on the portion of the transparent substrate 10 exposed from the resist pattern. A metal mark may be formed.

【0078】そして、この実施の形態では、ダイシング
マーク14を、各CGH素子12をそれぞれ囲む正方形
の各頂点の位置であって、当該CGH素子12の光軸か
ら等距離の位置に形成する。ここで、図1の(B)およ
び(C)を参照して、ダイシングマーク14とCGH素
子12との配置関係について、1つのCGH素子12に
着目して説明する。図1の(B)は、図1の(A)に示
した、透明基板10の上面の一部分を示す拡大図であ
る。また、図1の(C)は、図1の(A)に示した透明
基板10の一部分を切り取って示す斜視図である。
In this embodiment, the dicing mark 14 is formed at each vertex of a square surrounding each CGH element 12 and at the same distance from the optical axis of the CGH element 12. Here, with reference to FIGS. 1B and 1C, an arrangement relationship between the dicing mark 14 and the CGH element 12 will be described focusing on one CGH element 12. FIG. FIG. 1B is an enlarged view showing a part of the upper surface of the transparent substrate 10 shown in FIG. FIG. 1C is a perspective view showing a part of the transparent substrate 10 shown in FIG.

【0079】そして、図1の(B)および(C)には、
1つのCGH素子12およびそれを取り囲む4つの十字
形状のダイシングマーク14を示す。この4つのダイシ
ングマーク14は、このCGH素子12を取り囲む正方
形(図1の(B)において、点線Sで示す。)の各頂点
に位置している。そして、この正方形Sの対角線C1お
よびC2どうしの交点Aは、CGH素子12の光軸と一
致している。また、この正方形Sの一辺の長さは、数1
00μm〜2mm程度である。
FIG. 1B and FIG. 1C show
One CGH element 12 and four cross-shaped dicing marks 14 surrounding it are shown. The four dicing marks 14 are located at the vertices of a square (indicated by a dotted line S in FIG. 1B) surrounding the CGH element 12. The intersection A between the diagonal lines C1 and C2 of the square S coincides with the optical axis of the CGH element 12. The length of one side of the square S is expressed by the following equation.
It is about 00 μm to 2 mm.

【0080】次に、このCGH素子12およびダイシン
グマーク14をそれぞれ形成した処理済みの透明基板1
0を、ダイシングマーク14に沿ってダイシングする。
個々で、ダイシングマーク14に沿ってダイシングする
とは、行方向および列方向に並んだダイシングマーク1
4の十字の交点を結ぶ直線に沿って、行方向および列方
向にそれぞれダイシングすることをいう。そして、この
ダイシングにより、CGH素子12をそれぞれ含む光学
ブロックが切り出される。尚、この実施の形態では、ダ
イシングを行うにあたり、通常のダイシングソーを用い
る。また、光学ブロックの切り出し面は、ダイシングソ
ーによる切断面であるので、平坦面となる。
Next, the processed transparent substrate 1 on which the CGH element 12 and the dicing mark 14 have been formed, respectively.
0 is diced along the dicing mark 14.
Dicing individually along the dicing mark 14 means that the dicing marks 1 arranged in the row direction and the column direction are used.
This refers to dicing in a row direction and a column direction along a straight line connecting the intersections of the crosses 4. Then, by this dicing, optical blocks each including the CGH element 12 are cut out. In this embodiment, a normal dicing saw is used for dicing. Further, the cut surface of the optical block is a flat surface because it is a cut surface by a dicing saw.

【0081】また、この発明では、上述したような1枚
の処理済みの透明基板10だけから光学ブロックを切り
出す場合だけでなく、複数の処理済みの透明基板を積層
した積層基板群から光学ブロックを切り出しても良い。
In the present invention, not only the optical block is cut out from only one processed transparent substrate 10 as described above, but also the optical block is formed from a laminated substrate group in which a plurality of processed transparent substrates are stacked. You may cut it out.

【0082】その場合は、CGH素子12およびダイシ
ングマーク14がそれぞれ形成された処理済みの透明基
板10を形成した後、先ず、複数の処理済みの透明基板
10を互いに積層して積層基板群を形成する。この実施
の形態では、透明基板10の積層にあたり、ダイシング
マーク14をアレンジマークとして用いて、各透明基板
10の位置合わせを行う。そして、この位置合わせによ
り、互いに異なる透明基板10上に形成されたCGH素
子12の光軸どうしを一致させる。
In this case, after forming the processed transparent substrate 10 on which the CGH element 12 and the dicing mark 14 are respectively formed, first, a plurality of processed transparent substrates 10 are stacked on each other to form a stacked substrate group. I do. In this embodiment, when laminating the transparent substrates 10, the respective transparent substrates 10 are aligned using the dicing marks 14 as arrangement marks. By this alignment, the optical axes of the CGH elements 12 formed on the different transparent substrates 10 are made to coincide with each other.

【0083】ここで、図2の(A)に、3枚の透明基板
10を積層した積層基板群16を示す。尚、図2の
(A)では、積層基板群16の構成の理解を容易にする
ため、各透明基板10どうし互いに離間させて示す。ま
た、図2の(A)では、各透明基板10上に形成したC
GH素子12およびダイシングマーク14を、便宜的に
格子形状として示す。
Here, FIG. 2A shows a laminated substrate group 16 in which three transparent substrates 10 are laminated. In FIG. 2A, the transparent substrates 10 are shown separated from each other to facilitate understanding of the configuration of the laminated substrate group 16. In FIG. 2A, the C formed on each transparent substrate 10 is shown.
The GH element 12 and the dicing mark 14 are shown as a lattice shape for convenience.

【0084】次に、積層基板群16を、ダイシングマー
ク14に沿ってダイシングすることにより、それぞれC
GH素子12の形成された複数の透明基板ブロックが積
層された光学ブロック20を切り出す。
Next, the laminated substrate group 16 is diced along the dicing marks 14 so that
An optical block 20 in which a plurality of transparent substrate blocks on which the GH elements 12 are formed is cut out.

【0085】ここで、図2の(B)に、ダイシングによ
り切り出された光学ブロック20の斜視図を示す。図2
の(B)に示すように、この光学ブロック20は、3つ
の透明基板ブロック10aを積層して構成されている。
そして、各透明基板ブロック10aには、それぞれ1つ
ずつCGH素子12を形成してある。そして、各透明基
板ブロック10aは、各CGH素子12の光軸22が互
いに一致するように貼り合わせてある。
FIG. 2B is a perspective view of the optical block 20 cut out by dicing. FIG.
As shown in (B), the optical block 20 is configured by stacking three transparent substrate blocks 10a.
One CGH element 12 is formed on each transparent substrate block 10a. Each transparent substrate block 10a is bonded so that the optical axes 22 of the respective CGH elements 12 coincide with each other.

【0086】そして、この光ブロック20は、フォトリ
ソグラフィ技術を利用して精度良く形成されたダイシン
グマーク14に沿って切断されているので、この光学ブ
ロック20の側面である切断面24と、光軸22との間
の離間距離は、実質的に設計通りに精度良く形成されて
いる。そして、この実施の形態では、CGH素子12の
光軸22と4つの側面24との距離が互いに等しいの
で、4つの平坦な側面のいずれでも、基準面と接触させ
る面として用いることができる。
Since the optical block 20 is cut along the dicing mark 14 accurately formed by using the photolithography technique, the cut surface 24 which is the side surface of the optical block 20 and the optical axis 20 are cut. The separation distance between them is substantially accurately formed as designed. In this embodiment, since the distance between the optical axis 22 of the CGH element 12 and the four side surfaces 24 is equal to each other, any of the four flat side surfaces can be used as a surface that comes into contact with the reference surface.

【0087】また、図2の(A)および(B)において
は、透明基板10のCGH素子12の形成された面を、
一方の向きに揃えて、各透明基板10を積層してある
が、この発明では、CGH素子12が形成された面どう
しを対向させて透明基板10どうしを積層して光学ブロ
ックを切り出しても良い。
In FIGS. 2A and 2B, the surface of the transparent substrate 10 on which the CGH element 12 is formed is
Although the transparent substrates 10 are stacked in one direction, the optical blocks may be cut out by stacking the transparent substrates 10 with the surfaces on which the CGH elements 12 are formed facing each other in the present invention. .

【0088】次に、光学ブロックのダイシングによる切
断面の1つを、基準面に接触させることにより、当該光
学ブロックを平面実装用基板上に設置する。
Next, one of the cut surfaces of the optical block by dicing is brought into contact with the reference surface, so that the optical block is set on the flat mounting substrate.

【0089】ここで、図3の(A)および(B)に、平
面実装用基板の一例を示す。図3の(A)は、この実施
の形態で用いる平面実装用基板26の側面図である。ま
た、図3の(B)は、この平面実装用基板26の上面図
である。また、この実施の形態では、平面実装用基板2
6として、シリコンで形成されたシリコンテラスを用い
る。
Here, FIGS. 3A and 3B show an example of a planar mounting substrate. FIG. 3A is a side view of the planar mounting substrate 26 used in this embodiment. FIG. 3B is a top view of the planar mounting substrate 26. Further, in this embodiment, the planar mounting substrate 2
As 6, a silicon terrace made of silicon is used.

【0090】この平面実装用基板26は、上面に一段下
げて設けられた基準面28を具えている。この基準面2
8の大きさは、光学ブロック20aがガタつかずに嵌り
込む大きさであるのが好ましいが、光学ブロック20a
が緩やかに嵌り込む大きさであっても良い。そして、こ
の基準面に隣接するの片側のテラスの表面には、光ファ
イバを固定するための、V字状の断面形状を有する溝
(V字溝)30を設けてある。このV字溝30は、平面
実装用基板26の一端から基準面28側に向かう方向に
沿って平面実装用基板26の幅方向の中心に設けてあ
る。
The planar mounting substrate 26 has a reference surface 28 provided one step lower on the upper surface. This reference plane 2
Preferably, the size of the optical block 20a is such that the optical block 20a fits without rattling.
May be loosely fitted. A groove (V-shaped groove) 30 having a V-shaped cross section for fixing the optical fiber is provided on the surface of the terrace on one side adjacent to the reference surface. The V-shaped groove 30 is provided at the center in the width direction of the planar mounting substrate 26 along a direction from one end of the planar mounting substrate 26 toward the reference surface 28 side.

【0091】次に、図3の(C)および(D)に、この
平面実装用基板26の基準面28に、光学ブロック20
aを実装した様子を示す。図3の(C)は、平面実装用
基板26およびこれに実装された光学ブロック20aの
側面図である。また、図3の(D)は、平面実装用基板
26および光学ブロック20aの上面図である。
Next, FIGS. 3C and 3D show that the optical block 20 is placed on the reference surface 28 of the planar mounting substrate 26.
3 shows a state in which a is mounted. FIG. 3C is a side view of the planar mounting substrate 26 and the optical block 20a mounted thereon. FIG. 3D is a top view of the planar mounting substrate 26 and the optical block 20a.

【0092】図3の(C)および(D)に示す光学ブロ
ック20aは、上述の光学ブロック20と同様にして形
成されたものである。従って、光学ブロック20aの側
面24aも、光学ブロック20aの光軸からの位置精度
良く形成されている。
The optical block 20a shown in FIGS. 3C and 3D is formed in the same manner as the optical block 20 described above. Therefore, the side surface 24a of the optical block 20a is also formed with high positional accuracy from the optical axis of the optical block 20a.

【0093】尚、この光学ブロック20aは、2つの透
明基板ブロック10aのCGH素子12を形成した面を
互いに対向させて張り合わせたものである。
The optical block 20a is obtained by laminating two transparent substrate blocks 10a such that the surfaces on which the CGH elements 12 are formed face each other.

【0094】そして、光学ブロック20aの切断面であ
る側面24aの1つを平面実装用基板26の基準面28
と接触させて光学ブロック20aを設置することによ
り、この基準面28に垂直方向の自由度をなくして、実
装することができる。その上、側面24aの、光学ブロ
ックの光軸に対する位置の精度が良いので、基準面28
と光学ブロック20aの光軸との距離を精度良く決定す
ることができる。その結果、パッシブアライメントによ
り精度良く光学ブロック20aを実装することができ
る。
Then, one of the side surfaces 24a, which is the cut surface of the optical block 20a, is connected to the reference surface 28 of the planar mounting substrate 26.
By mounting the optical block 20a in contact with the reference surface 28, the reference plane 28 can be mounted without any degree of freedom in the vertical direction. In addition, since the accuracy of the position of the side surface 24a with respect to the optical axis of the optical block is good, the reference surface 28
The distance between the optical block 20a and the optical axis of the optical block 20a can be accurately determined. As a result, the optical block 20a can be mounted with high precision by passive alignment.

【0095】また、この平面実装用基板26には、自由
空間光配線光学系としての光学ブロック20aの他に光
ファイバ32および受光器34が実装されている。この
受光器34は、基準面より一段高いもう一方のテラス上
面28aに、フリップチップボンディングにより設置さ
れている。また、この光ファイバ32は、V字溝30に
実装されている。従って、V字溝30に固定される光フ
ァイバ32の光軸と基準面28との間の距離および他方
のテラス上面28aに搭載される受光器その他の光学素
子の光軸と基準面28との間の距離を、光学ブロック2
0aの光軸とその切断面との間の距離と一致するように
設計して、これらを作成しておけば、光学ブロック20
a、光ファイバ32および受光器34の位置合わせを精
度良くかつ容易に行うことができる。即ち、光ファイバ
32の光軸と光学ブロック20aの光軸と受光器34の
光軸は2次元平面内での軸合わせとなるので、それぞれ
の光軸の位置合わせを容易に行うことができる。
Further, an optical fiber 32 and a light receiver 34 are mounted on the planar mounting board 26 in addition to the optical block 20a as a free space optical wiring optical system. The light receiver 34 is installed on the other terrace upper surface 28a one step higher than the reference surface by flip chip bonding. The optical fiber 32 is mounted in the V-shaped groove 30. Therefore, the distance between the optical axis of the optical fiber 32 fixed to the V-shaped groove 30 and the reference surface 28 and the distance between the optical axis of the optical receiver and other optical elements mounted on the other terrace upper surface 28a and the reference surface 28 The distance between the optical block 2
The optical block 20a is designed so as to coincide with the distance between the optical axis of the optical block 0a and the cut surface of the optical block 0a.
a. The positioning of the optical fiber 32 and the light receiver 34 can be performed accurately and easily. That is, since the optical axis of the optical fiber 32, the optical axis of the optical block 20a, and the optical axis of the light receiver 34 are aligned in a two-dimensional plane, the respective optical axes can be easily aligned.

【0096】また、光学ブロック20aを構成する透明
基板ブロック10aのうち、光ファイバ側の1段目の透
明基板ブロック10aに形成されたCGH素子12は、
点光源から発散した光を平行光束に変換する、いわゆる
コリメートレンズの働きを有する。従って、光ファイバ
32から出射された発散球面波は、この1段目のCGH
素子12によって、一旦平行光束に変換される。また、
光学ブロック20を構成する透明基板ブロック10aの
うち、受光器34側の2段目の透明基板ブロック10a
に形成されたCGH素子12は、1段目の透明基板ブロ
ック10aから入射された平行光束を受光器34に集光
させる機能を有する。
The CGH element 12 formed on the first-stage transparent substrate block 10a on the optical fiber side among the transparent substrate blocks 10a constituting the optical block 20a is:
It has the function of a so-called collimating lens that converts light divergent from a point light source into a parallel light flux. Accordingly, the divergent spherical wave emitted from the optical fiber 32 is converted into the first-stage CGH.
The light is once converted into a parallel light beam by the element 12. Also,
Of the transparent substrate blocks 10a constituting the optical block 20, the second-stage transparent substrate block 10a on the light receiver 34 side
The CGH element 12 has a function of condensing the parallel light beam incident from the first-stage transparent substrate block 10a on the light receiver 34.

【0097】尚、1段目および2段目の透明基板ブロッ
ク10aにそれぞれ形成されたCGH素子12の機能
は、1枚のCGH素子12に集約して担わせることも可
能である。しかし、この実施の形態のように、2枚のC
GH素子12に機能を分担させると、機能を1枚のCG
H素子12に集約した場合よりも、結合効率の向上を図
ることができる。
The functions of the CGH elements 12 formed on the first-stage and second-stage transparent substrate blocks 10a can be collectively performed by one CGH element 12. However, as in this embodiment, two C
When the function is assigned to the GH element 12, the function is assigned to one CG
The coupling efficiency can be improved as compared with the case where the H elements 12 are integrated.

【0098】(第2の実施の形態)次に、この発明の方
法で形成した光学ブロックを用いて、光通信末端局用光
学装置の光学系を構成した例について説明する。図4
は、第2の実施の形態の光学系の斜視図である。
(Second Embodiment) Next, an example in which an optical system of an optical device for an optical communication terminal station is configured by using an optical block formed by the method of the present invention will be described. FIG.
FIG. 4 is a perspective view of an optical system according to a second embodiment.

【0099】図4には、平面実装用基板26の基準面2
8に、光学ブロック40を実装した光学系を示す。この
光学ブロック40は、上述の第1の実施の形態における
光学ブロック20および20aと同様にして形成された
ものである。従って、光学ブロック40の側面38も、
光学ブロック40の光軸からの距離の位置精度良く形成
されている。
FIG. 4 shows the reference surface 2 of the planar mounting substrate 26.
8 shows an optical system on which the optical block 40 is mounted. The optical block 40 is formed in the same manner as the optical blocks 20 and 20a in the first embodiment. Therefore, the side surface 38 of the optical block 40 also
The optical block 40 is formed with a high positional accuracy from the optical axis.

【0100】そして、この光学ブロック40は、3つの
透明基板ブロック42、44および46を積層して構成
している。1段目の透明基板ブロック42の主表面に
は、1番目のCGH素子48および2番目のCGH素子
50がそれぞれ形成されている。また、2段目の透明基
板ブロック44の主表面には、3番目のCGH素子52
が形成されており、さらに、その周囲の主表面に波長選
択フィルタ54が形成されている。図4においては、波
長選択フィルタ54を便宜的に斜線で示している。ま
た、3段目の透明基板ブロック46の主表面には、4番
目のCGH素子56および5番目のCGH素子58がそ
れぞれ形成されている。そして、この光学ブロック40
では、CGH素子が形成された主表面の向きを一方向に
揃えて、各透明基板ブロック42、44および46を互
いに積層している。
The optical block 40 is formed by stacking three transparent substrate blocks 42, 44 and 46. On the main surface of the first-stage transparent substrate block 42, a first CGH element 48 and a second CGH element 50 are formed, respectively. The third surface of the CGH element 52 is provided on the main surface of the second-stage transparent substrate block 44.
Are formed, and further, a wavelength selection filter 54 is formed on a main surface around the filter. In FIG. 4, the wavelength selection filter 54 is shaded for convenience. On the main surface of the third-stage transparent substrate block 46, a fourth CGH element 56 and a fifth CGH element 58 are formed, respectively. Then, this optical block 40
In this example, the transparent substrate blocks 42, 44 and 46 are stacked on each other with the direction of the main surface on which the CGH element is formed being aligned in one direction.

【0101】そして、この光学ブロック40は、その側
壁38の1つを基準面28に接触させることにより、平
面実装用基板26上に設置してある。尚、この実施の形
態では、光学ブロック40は、各透明基板ブロック4
2,44,および46のCGH素子のそれぞれ形成され
た主表面を受光器34および発光器36側に向けて実装
している(図4)。
The optical block 40 is placed on the planar mounting board 26 by bringing one of the side walls 38 into contact with the reference plane 28. In this embodiment, the optical block 40 is provided with each transparent substrate block 4.
The main surfaces formed of the CGH elements 2, 44, and 46 are mounted facing the light receiver 34 and the light emitter 36 (FIG. 4).

【0102】このように、切断面である側面38を平面
実装用基板26の基準面28と接触させて光学ブロック
40を実装することにより、この接触した基準面28に
垂直方向の自由度をなくして、光学ブロック40を実装
することができる。その上、側面38の位置の精度が良
いので、基準面28と光学ブロック40の光軸との距離
を精度良く決定することができる。その結果、パッシブ
アライメントにより精度良く光学ブロックを実装するこ
とができる。
As described above, by mounting the optical block 40 by bringing the side surface 38, which is the cut surface, into contact with the reference surface 28 of the planar mounting substrate 26, the degree of freedom in the vertical direction is eliminated from the contacted reference surface 28. Thus, the optical block 40 can be mounted. In addition, the accuracy of the position of the side surface 38 is good, so that the distance between the reference surface 28 and the optical axis of the optical block 40 can be accurately determined. As a result, the optical block can be accurately mounted by passive alignment.

【0103】また、この平面実装用基板26には、自由
空間光配線光学系としての光学ブロック40の他に、2
本の光ファイバ32、受光器としてのフォトダイオード
(PD)34および発光器としての半導体レーザ(L
D)36が実装されている。この受光器34および発光
器36は、基準面より一段高いテラス上面28aに、フ
リップチップボンディングによりそれぞれ固定されてい
る。また、2本の光ファイバ32のうちの1本は入力端
子に接続されており、もう1本は出力端子に接続されて
いる。また、2本の光ファイバ32は、それぞれV字溝
30に個別に実装されている。
In addition to the optical block 40 as a free-space optical wiring optical system, the planar mounting substrate 26
Optical fiber 32, a photodiode (PD) 34 as a light receiver, and a semiconductor laser (L
D) 36 is implemented. The light receiver 34 and the light emitter 36 are fixed to the terrace upper surface 28a one step higher than the reference surface by flip chip bonding. One of the two optical fibers 32 is connected to an input terminal, and the other is connected to an output terminal. The two optical fibers 32 are individually mounted in the V-shaped grooves 30, respectively.

【0104】従って、この実施の形態では、光学ブロッ
ク40、光ファイバ32,受光器34および発光器36
の位置合わせを精度良くかつ容易に行うことができる。
Therefore, in this embodiment, the optical block 40, the optical fiber 32, the light receiver 34, and the light emitter 36
Can be accurately and easily performed.

【0105】次に、図5を参照して、図4に示した光学
ブロックの機能について説明する。図5は、第2の実施
の形態の光学系の機能の説明に供する図である。
Next, the function of the optical block shown in FIG. 4 will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a diagram for explaining the function of the optical system according to the second embodiment.

【0106】図5に示すように、第2の実施の形態の光
学系は、光通信端末局用光学装置としての機能を有す
る。この光学装置には、入力端子から波長1.3μmの
光信号と波長1.5μmの光信号とが波長多重され波長
多重光信号が入力される。波長1.3μmの光信号は、
例えば音声情報を伝搬するのに使用される。また、波長
1.5μmの光信号は、例えば映像情報を伝搬するのに
使用される。
As shown in FIG. 5, the optical system according to the second embodiment has a function as an optical device for an optical communication terminal. In this optical device, an optical signal having a wavelength of 1.3 μm and an optical signal having a wavelength of 1.5 μm are wavelength-multiplexed from an input terminal, and a wavelength-multiplexed optical signal is input. An optical signal having a wavelength of 1.3 μm is
For example, it is used to propagate audio information. An optical signal having a wavelength of 1.5 μm is used, for example, for transmitting video information.

【0107】そして、光学装置に入力された波長多重光
信号は、波長分波素子において、波長1.3μmの光信
号と波長1.5μmの光信号とに分波される。分波され
た波長1.5μmの光信号は、出力端子へ出力される。
また、分波された波長1.3μmの光信号は、光カップ
ラーに入力される。光カップラーに入力した波長1.3
μmの光信号は、受光器34へ入力する。また、発光器
36から出力された波長1.3μmの光信号は、光カッ
プラーおよび波長分波素子を経て入力端子へ出力され
る。
The wavelength division multiplexed optical signal input to the optical device is split into a 1.3 μm wavelength optical signal and a 1.5 μm wavelength optical signal in a wavelength demultiplexer. The demultiplexed optical signal having a wavelength of 1.5 μm is output to the output terminal.
The demultiplexed optical signal having a wavelength of 1.3 μm is input to the optical coupler. 1.3 wavelength input to the optical coupler
The optical signal of μm is input to the light receiver 34. The 1.3 μm wavelength optical signal output from the light emitter 36 is output to the input terminal via the optical coupler and the wavelength demultiplexer.

【0108】そして、図5に示すこの光通信端末局用光
学装置のうち、破線で囲んだ部分、即ち、波長分波素子
および光カップラーと同等の機能を、光学ブロック40
は有している。尚、光学ブロック40は、この他に、集
光機能およびコリメートレンズの機能を有している。
In the optical device for an optical communication terminal station shown in FIG. 5, a portion surrounded by a broken line, that is, a function equivalent to the wavelength demultiplexing element and the optical coupler is provided by the optical block 40.
Has. The optical block 40 has a light collecting function and a collimating lens function in addition to the above.

【0109】次に、光学ブロック40を構成する各透明
基板ブロック42、44および46にそれぞれ構成され
た各CGH素子の機能について説明する。
Next, the function of each CGH element provided in each of the transparent substrate blocks 42, 44 and 46 constituting the optical block 40 will be described.

【0110】1段目の透明基板ブロック42に形成され
た1番目のCGH素子48は、入力端子から光ファイバ
32を経て光学ブロックに入射した波長多重光信号から
なる発散球面波を平行光束とするコリメート機能を有す
る。さらに、1番目のCGH素子48は、この平行光束
を、2段目の透明基板ブロック44に形成された波長選
択フィルタ54へ向ける偏向機能を有する。
The first CGH element 48 formed on the first-stage transparent substrate block 42 converts a divergent spherical wave composed of a wavelength-division multiplexed optical signal incident on the optical block from the input terminal via the optical fiber 32 into a parallel light flux. Has a collimating function. Further, the first CGH element 48 has a deflecting function of directing the parallel light beam to the wavelength selection filter 54 formed on the second-stage transparent substrate block 44.

【0111】この波長選択フィルタ54は、誘電体の多
層膜からなる誘電体フィルタである。そして、この波長
選択フィルタ54は、波長多重光信号のうちの波長1.
5μmの光信号を選択的に反射し、一方、波長1.3μ
mの光信号を選択的に透過する。
The wavelength selection filter 54 is a dielectric filter composed of a dielectric multilayer film. The wavelength selection filter 54 outputs the wavelength 1.x of the wavelength multiplexed optical signal.
A 5 μm optical signal is selectively reflected, while a wavelength of 1.3 μm.
m optical signals are selectively transmitted.

【0112】波長選択フィルタ54により反射された波
長1.5μmの光信号は、1段目の透明基板ブロック4
2に形成された2番目のCGH素子50によって、出力
端子に接続された方の光ファイバ32に集光される。そ
して、この光ファイバに集光された波長1.5μmの光
信号は、出力端子へ出力される。
The optical signal having a wavelength of 1.5 μm reflected by the wavelength selection filter 54 is transmitted to the first-stage transparent substrate block 4.
The light is condensed on the optical fiber 32 connected to the output terminal by the second CGH element 50 formed in FIG. Then, the optical signal having a wavelength of 1.5 μm collected on the optical fiber is output to an output terminal.

【0113】一方、波長選択フィルタ54を透過した波
長1.3μmの光信号は、2段目の透明基板ブロック4
4に形成された3番目のCGH素子52により、その約
40%の光が、−1次回折光として、4番目のCGH素
子56に向けて偏向される。
On the other hand, the optical signal having a wavelength of 1.3 μm transmitted through the wavelength selection filter 54 is transmitted to the second-stage transparent substrate block 4.
By the third CGH element 52 formed in No. 4, about 40% of the light is deflected toward the fourth CGH element 56 as -1st-order diffracted light.

【0114】3段目の透明基板ブロック46に形成され
た4番目のCGH素子56は、偏向された1,3μmの
光信号の平行光束を、受光器34に向けて集光する集光
機能を有する。そして、集光された1.3μmの光信号
は、受光器34によって検出される。
The fourth CGH element 56 formed on the third-stage transparent substrate block 46 has a light-condensing function of condensing the deflected parallel light flux of the 1.3 μm optical signal toward the light receiver 34. Have. Then, the collected 1.3 μm optical signal is detected by the light receiver 34.

【0115】また、発光器36としての半導体レーザか
ら出射された波長1.3μmの光信号は、3段目の透明
基板ブロック46に形成された5番目のCGH素子58
によって、平行光束にされて、3番目のCGH素子52
に入射される。そして、この平行光束にされた波長1.
3μmの光信号は、3番目のCGH素子52、1番目の
CGH素子48および光ファイバ32を介して、入力端
子へ出力される。
The optical signal having a wavelength of 1.3 μm emitted from the semiconductor laser as the light emitter 36 is supplied to the fifth CGH element 58 formed on the third-stage transparent substrate block 46.
Is converted into a parallel light beam by the third CGH element 52.
Is incident on. Then, the wavelength 1.
The 3 μm optical signal is output to the input terminal via the third CGH element 52, the first CGH element 48, and the optical fiber 32.

【0116】このようにして、第2の実施の形態の光学
系は、波長1.5μmの光信号については一方向通信、
波長1.3μmの光信号については双方向通信が可能
な、光通信端末局用光学装置として機能する。
As described above, the optical system according to the second embodiment performs one-way communication for an optical signal having a wavelength of 1.5 μm.
An optical signal having a wavelength of 1.3 μm functions as an optical device for an optical communication terminal capable of performing bidirectional communication.

【0117】上述した各実施の形態では、これらの発明
を特定の材料を用い、特定の条件で構成した例について
のみ説明したが、これらの発明は多くの変更および変形
を行うことができる。例えば、上述した実施の形態で
は、ダイシングマークをCGH素子を形成する際に同時
に形成したが、この発明では、ダイシングマークの形成
時期はこれに限定する必要はない。例えば、ダイシング
マークを、CGH素子を形成した後に形成しても良い。
また、例えばダイシングマークをCGH素子を形成する
前に形成しても良い。
In each of the embodiments described above, only examples in which these inventions are configured using specific materials and under specific conditions have been described. However, these inventions can be subjected to many changes and modifications. For example, in the above-described embodiment, the dicing mark is formed at the same time when the CGH element is formed. However, in the present invention, the timing of forming the dicing mark does not need to be limited to this. For example, the dicing mark may be formed after forming the CGH element.
Further, for example, a dicing mark may be formed before forming a CGH element.

【0118】また、例えば、上述した実施の形態では、
CGH素子の光軸に対して対象の形状に光学ブロックを
ダイシングにより切り出したが、この発明では、切り出
し方法はこれに限定されない。また、この実施の形態で
は、光ファイバの光軸と光学ブロックの光軸とを一致さ
せるように位置決めを行ったが、この発明では、光軸ど
うしは必ずしも一致させる必要はない。例えば、いわゆ
る軸ずれ型として実装しても良い。
Further, for example, in the above-described embodiment,
Although the optical block is cut into a target shape with respect to the optical axis of the CGH element by dicing, the cutting method is not limited to this in the present invention. Further, in this embodiment, the positioning is performed so that the optical axis of the optical fiber and the optical axis of the optical block coincide with each other. However, in the present invention, the optical axes do not always need to coincide with each other. For example, it may be mounted as a so-called off-axis type.

【0119】また、例えば、上述の実施の形態では、基
準面を上面よりも一段低くした平面実装用基板の例につ
いて説明したが、この発明では、平面実装用基板の形状
はこれに限定する必要はなく、任意好適な形状の平面実
装用基板を使用することができる。例えば、基準面が上
面と同じ高さの平面実装用基板を使用しても良い。
Further, for example, in the above-described embodiment, the example of the planar mounting substrate in which the reference surface is one step lower than the upper surface has been described. However, in the present invention, the shape of the planar mounting substrate needs to be limited to this. However, it is possible to use a planar mounting substrate having any suitable shape. For example, a planar mounting substrate having a reference surface at the same height as the upper surface may be used.

【0120】また、例えば、上述の実施の形態では、複
数の透明基板ブロックが積層された光学ブロックの例に
ついて説明したが、この発明では、光学ブロックは、複
数の透明基板ブロックが積層されたものに限定する必要
はない。例えば、1枚の透明基板に形成されたCGH素
子をダイシングにより切り出したものを光学ブロックと
しても良い。
For example, in the above-described embodiment, an example of an optical block in which a plurality of transparent substrate blocks are stacked has been described. However, in the present invention, an optical block in which a plurality of transparent substrate blocks are stacked is described. It is not necessary to limit to. For example, a CGH element formed on one transparent substrate cut out by dicing may be used as an optical block.

【0121】また、例えば、上述した実施の形態では、
ダイシングマークがアライメントマークを兼ねた例につ
いて説明したが、この発明では、アライメントマークを
ダイシングマークと個別に形成しても良い。その場合、
アライメントマークの数は、ダイシングマークの数より
も少数で良い。
For example, in the above-described embodiment,
Although the example in which the dicing mark also serves as the alignment mark has been described, in the present invention, the alignment mark may be formed separately from the dicing mark. In that case,
The number of alignment marks may be smaller than the number of dicing marks.

【0122】また、例えば、上述した実施の形態では、
ダイシングマークとして、十字形状のマークを形成した
例について説明したが、この発明では、ダイシングマー
クの形状はこれに限定されず、任意好適な形状のダイシ
ングマークを形成することができる。
For example, in the above-described embodiment,
Although an example in which a cross-shaped mark is formed as the dicing mark has been described, in the present invention, the shape of the dicing mark is not limited to this, and a dicing mark having any suitable shape can be formed.

【0123】また、例えば、上述した実施の形態では、
透明基板として石英基板を用いたが、この発明では、透
明基板の材料は、光学系が使用する光源波長に対して、
透過光の損失が十分に小さく、かつ、CGH素子を形成
することができるものであれば良い。例えば、透明基板
としてシリコン基板を用いても良い。
For example, in the above-described embodiment,
Although a quartz substrate was used as the transparent substrate, in the present invention, the material of the transparent substrate is different from the light source wavelength used by the optical system.
Any material may be used as long as the loss of transmitted light is sufficiently small and a CGH element can be formed. For example, a silicon substrate may be used as the transparent substrate.

【0124】また、例えば、上述した実施の形態では、
複数の透明基板を積層した積層体から光学ブロックを切
り出して形成する場合、各透明基板にそれぞれCGH素
子およびダイシングマークを形成したが、この発明で
は、積層する全ての透明基板にCGH素子およびダイシ
ングマークをそれぞれ形成しておく必要はなく、例え
ば、CGH素子およびダイシングマークを形成した処理
済みの透明基板に、例えばCGH素子だけが形成された
透明基板を積層してダイシング対象としての積層基板群
を形成しても良い。
Further, for example, in the above-described embodiment,
When an optical block is cut out from a laminated body in which a plurality of transparent substrates are laminated, a CGH element and a dicing mark are formed on each transparent substrate. In the present invention, however, a CGH element and a dicing mark are formed on all the laminated transparent substrates. For example, a transparent substrate on which only a CGH element is formed is laminated on a processed transparent substrate on which a CGH element and a dicing mark are formed to form a laminated substrate group as a dicing target, for example. You may.

【0125】[0125]

【発明の効果】この発明によれば、ダイシングマークを
フォトリソグラフィ技術を利用して形成する。このた
め、ダイシングマークの位置を精度良く決定することが
できる。そして、このダイシングマークに沿ってダイシ
ングを行うので、このダイシングによって形成された切
断面の位置は、精度が良いものとなる。即ち、光学ブロ
ックの切断面としての側面を位置精度良く形成すること
ができる。
According to the present invention, a dicing mark is formed using a photolithography technique. Therefore, the position of the dicing mark can be accurately determined. Since the dicing is performed along the dicing mark, the position of the cut surface formed by the dicing has high accuracy. That is, the side surface as the cut surface of the optical block can be formed with high positional accuracy.

【0126】そして、この切断面を平面実装用基板の基
準面と接触させて光学ブロックを実装することにより、
光学ブロックを基準面に垂直方向の自由度をなくして実
装することができる。その上、切断面の位置の精度が良
いので、基準面と光学ブロックの光軸との距離を精度良
く決定することができる。その結果、パッシブアライメ
ントにより精度良く容易に光学ブロックを実装すること
ができる。
Then, the cut surface is brought into contact with the reference surface of the planar mounting substrate, and the optical block is mounted.
The optical block can be mounted without the degree of freedom in the direction perpendicular to the reference plane. In addition, since the accuracy of the position of the cut surface is good, the distance between the reference surface and the optical axis of the optical block can be accurately determined. As a result, the optical block can be easily and accurately mounted by the passive alignment.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(A)は、透明基板の上面図であり、(B)
は、透明基板の上面拡大図であり、(C)は、透明基板
の一部分の斜視図である。
FIG. 1A is a top view of a transparent substrate, and FIG.
3 is an enlarged top view of the transparent substrate, and FIG. 3C is a perspective view of a part of the transparent substrate.

【図2】(A)は、積層基板群の説明に供する図であ
り、(B)は、光学ブロックの斜視図である。
FIG. 2A is a diagram for explaining a laminated substrate group, and FIG. 2B is a perspective view of an optical block.

【図3】(A)は、平面実装用基板の側面図であり、
(B)は、平面実装用基板の上面図であり、(C)は、
光学ブロックを実装した平面実装用基板の側面図であ
り、(D)は、光学ブロックを実装した平面実装用基板
の上面図である。
FIG. 3A is a side view of a planar mounting substrate,
(B) is a top view of the planar mounting substrate, and (C) is
It is a side view of the board for planar mounting in which the optical block was mounted, and (D) is a top view of the board for planar mounting in which the optical block was mounted.

【図4】第2の実施の形態の光学系の説明に供する斜視
図である。
FIG. 4 is a perspective view for explaining an optical system according to a second embodiment;

【図5】第2の実施の形態の光学系の光通信端末局用光
学装置の機能の説明に供する図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining functions of an optical device for an optical communication terminal station in an optical system according to a second embodiment;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10:透明基板 10a:透明基板ブロック 12:CGH素子 14:ダイシングマーク 16:積層基板群 20、20a:光学ブロック 22:光軸 24、24a:側面、切断面 26:平面実装用基板 28:基準面 28a:テラス上面 30:V字溝 32:光ファイバ 34:受光器(フォトダイオード) 36:発光器(半導体レーザ) 38:側面 40:光学ブロック 42、44、46:透明基板ブロック 48、50、52、56、58:CGH素子 54:波長選択フィルタ Reference Signs List 10: transparent substrate 10a: transparent substrate block 12: CGH element 14: dicing mark 16: laminated substrate group 20, 20a: optical block 22: optical axis 24, 24a: side surface, cut surface 26: substrate for planar mounting 28: reference surface 28a: Terrace upper surface 30: V-shaped groove 32: Optical fiber 34: Light receiver (photodiode) 36: Light emitter (semiconductor laser) 38: Side surface 40: Optical block 42, 44, 46: Transparent substrate block 48, 50, 52 , 56, 58: CGH element 54: Wavelength selection filter

Claims (35)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基準面を具えた平面実装用基板上に、光
学ブロックを実装する光学ブロックの実装方法であっ
て、 (a)透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用し
て、計算機ホログラムを形成する工程と、 (b)前記透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用
して、前記計算機ホログラムと特定の位置関係でダイシ
ングマークを形成する工程と、 (c)前記計算機ホログラムおよび前記ダイシングマー
クの形成された処理済みの透明基板を、当該ダイシング
マークに沿ってダイシングすることにより、前記計算機
ホログラムを含む光学ブロックを切り出す工程と、 (d)前記光学ブロックのダイシングによる切断面の少
なくとも1つを、前記基準面に接触させることにより、
当該光学ブロックを前記平面実装用基板上に設置する工
程とを含むことを特徴とする光学ブロックの実装方法。
1. An optical block mounting method for mounting an optical block on a planar mounting substrate having a reference surface, comprising: (a) forming a computer generated hologram on a transparent substrate by using photolithography technology; (B) forming a dicing mark on the transparent substrate in a specific positional relationship with the computer hologram using photolithography technology; and (c) forming the computer hologram and the dicing mark. Dicing the processed transparent substrate along the dicing mark to cut out an optical block including the computer generated hologram; and (d) at least one of the cut surfaces of the optical block obtained by dicing is defined by the reference By contacting the surface
Mounting the optical block on the substrate for planar mounting.
【請求項2】 請求項1に記載の光学ブロックの実装方
法において、 前記(a)工程中に、前記(b)工程を行うことを特徴
とする光学ブロックの実装方法。
2. The method for mounting an optical block according to claim 1, wherein the step (b) is performed during the step (a).
【請求項3】 請求項1に記載の光学ブロックの実装方
法において、 前記ダイシングマークを、計算機ホログラムを囲む正方
形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラムの光
軸から等距離の位置に形成することを特徴とする光学ブ
ロックの実装方法。
3. The method for mounting an optical block according to claim 1, wherein the dicing mark is formed at each vertex of a square surrounding the computer hologram and at a position equidistant from the optical axis of the computer hologram. A method of mounting an optical block.
【請求項4】 請求項1に記載の光学ブロックの実装方
法において、 前記ダイシングマークとして、金属マークを形成するこ
とを特徴とする光学ブロックの実装方法。
4. The method of mounting an optical block according to claim 1, wherein a metal mark is formed as the dicing mark.
【請求項5】 請求項1に記載の光学ブロックの実装方
法において、 前記平面実装用基板としてシリコンテラスを用いること
を特徴とする光学ブロックの実装方法。
5. The method for mounting an optical block according to claim 1, wherein a silicon terrace is used as the planar mounting substrate.
【請求項6】 請求項1に記載の光学ブロックの実装方
法において、 前記(c)工程は、 (c1)複数の前記処理済みの透明基板を互いに積層し
て積層基板群を形成する工程と、 (c2)前記積層基板群を、前記ダイシングマークに沿
ってダイシングすることにより、前記光学ブロックを切
り出す工程とを含むことを特徴とする光学ブロックの実
装方法。
6. The method of mounting an optical block according to claim 1, wherein the step (c) comprises: (c1) laminating a plurality of the processed transparent substrates to form a laminated substrate group; (C2) dicing the group of laminated substrates along the dicing mark to cut out the optical block.
【請求項7】 請求項6に記載の光学ブロックの実装方
法において、 前記ダイシングマークは、複数の前記透明基板を積層す
る際に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマーク
を兼ねることを特徴とする光学ブロックの実装方法。
7. The method for mounting an optical block according to claim 6, wherein the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of the transparent substrates are stacked. How to mount optical blocks.
【請求項8】 基準面を具えた平面実装用基板上に、光
学ブロックを実装する光学ブロックの実装方法であっ
て、 (a)透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用し
て、計算機ホログラムを形成する工程と、 (b)前記透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用
して、前記計算機ホログラムと特定の位置関係でダイシ
ングマークを形成する工程と、 (c)前記計算機ホログラムおよび前記ダイシングマー
クの形成された処理済みの透明基板を、積層して積層基
板群を形成する工程と、 (d)前記積層基板群を、前記ダイシングマークに沿っ
てダイシングすることにより、それぞれ前記計算機ホロ
グラムを含む積層された透明基板ブロックからなる光学
ブロックを切り出す工程と、 (e)前記光学ブロックのダイシングによる切断面の少
なくとも1つを、前記基準面に接触させることにより、
当該光学ブロックを前記平面実装用基板上に設置する工
程とを含むことを特徴とする光学ブロックの実装方法。
8. An optical block mounting method for mounting an optical block on a planar mounting substrate having a reference surface, comprising: (a) forming a computer generated hologram on a transparent substrate by using a photolithography technique; (B) forming a dicing mark on the transparent substrate in a specific positional relationship with the computer hologram using photolithography technology; and (c) forming the computer hologram and the dicing mark. (D) dicing the laminated substrate group along the dicing mark to form a laminated transparent substrate including the computer generated hologram. Cutting out an optical block composed of a substrate block; and (e) reducing the cut surface of the optical block by dicing. The Kutomo one by contacting to the reference plane,
Mounting the optical block on the substrate for planar mounting.
【請求項9】 請求項8に記載の光学ブロックの実装方
法において、 前記(a)工程中に、前記(b)工程を行うことを特徴
とする光学ブロックの実装方法。
9. The method of mounting an optical block according to claim 8, wherein the step (b) is performed during the step (a).
【請求項10】 請求項8に記載の光学ブロックの実装
方法において、 前記ダイシングマークを、計算機ホログラムを囲む正方
形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラムの光
軸から等距離の位置に形成することを特徴とする光学ブ
ロックの実装方法。
10. The method for mounting an optical block according to claim 8, wherein the dicing mark is formed at each vertex of a square surrounding the computer hologram and at a position equidistant from the optical axis of the computer hologram. A method of mounting an optical block.
【請求項11】 請求項8に記載の光学ブロックの実装
方法において、 前記ダイシングマークとして、金属マークを形成するこ
とを特徴とする光学ブロックの実装方法。
11. The method for mounting an optical block according to claim 8, wherein a metal mark is formed as the dicing mark.
【請求項12】 請求項8に記載の光学ブロックの実装
方法において、 前記平面実装用基板としてシリコンテラスを用いること
を特徴とする光学ブロックの実装方法。
12. The method for mounting an optical block according to claim 8, wherein a silicon terrace is used as the planar mounting substrate.
【請求項13】 請求項8に記載の光学ブロックの実装
方法において、 前記ダイシングマークは、複数の前記透明基板を積層す
る際に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマーク
を兼ねることを特徴とする光学ブロックの実装方法。
13. The method for mounting an optical block according to claim 8, wherein the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of the transparent substrates are stacked. How to mount optical blocks.
【請求項14】 基準面を具えた平面実装用基板上に、
光学ブロックを実装した光学系であって、 前記光学ブロックは、計算機ホログラムおよびダイシン
グマークの形成された透明基板から、当該ダイシングマ
ークに沿ったダイシングにより、前記計算機ホログラム
を含む領域として切り出されたものであり、 前記ダイシングマークは、フォトリソグラフィ技術を利
用して形成されたものであることを特徴とする光学ブロ
ックを実装した光学系。
14. On a planar mounting substrate having a reference surface,
An optical system mounted with an optical block, wherein the optical block is cut out from a transparent substrate on which a computer generated hologram and a dicing mark are formed, as a region including the computer generated hologram, by dicing along the dicing mark. An optical system in which an optical block is mounted, wherein the dicing mark is formed using a photolithography technique.
【請求項15】 請求項14に記載の光学ブロックを実
装した光学系において、 前記ダイシングマークは、計算機ホログラムを囲む正方
形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラムの光
軸から等距離の位置に形成されたものであることを特徴
とする光学ブロックを実装した光学系。
15. The optical system in which the optical block according to claim 14 is mounted, wherein the dicing mark is a position of each vertex of a square surrounding the computer hologram, and a position equidistant from an optical axis of the computer hologram. An optical system having an optical block mounted thereon.
【請求項16】 請求項14に記載の光学ブロックを実
装した光学系において、 前記ダイシングマークを、金属マークとしたことを特徴
とする光学ブロックを実装した光学系。
16. An optical system mounted with the optical block according to claim 14, wherein the dicing mark is a metal mark.
【請求項17】 請求項14に記載の光学ブロックを実
装した光学系において、 前記平面実装用基板をシリコンテラスとしたことを特徴
とする光学ブロックを実装した光学系。
17. An optical system in which the optical block according to claim 14 is mounted, wherein the substrate for planar mounting is a silicon terrace.
【請求項18】 請求項14に記載の光学ブロックを実
装した光学系において、 前記光学ブロックは、前記透明基板が互いに積層された
積層基板群から、前記ダイシングマークに沿ったダイシ
ングにより、それぞれ前記計算機ホログラムを含む透明
基板ブロックが積層された構造として切り出されたもの
であることを特徴とする光学ブロックを実装した光学
系。
18. The optical system in which the optical block according to claim 14 is mounted, wherein each of the optical blocks is formed by a computer from a group of laminated substrates on which the transparent substrates are laminated by dicing along the dicing mark. An optical system mounted with an optical block, wherein the optical block is cut out as a structure in which a transparent substrate block including a hologram is laminated.
【請求項19】 請求項18に記載の光学ブロックを実
装した光学系において、 前記ダイシングマークは、複数の前記透明基板を積層す
る際に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマーク
を兼ねることを特徴とする光学ブロックを実装した光学
系。
19. The optical system in which the optical block according to claim 18 is mounted, wherein the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of the transparent substrates are stacked. An optical system equipped with the characteristic optical block.
【請求項20】 (a)透明基板に、フォトリソグラフ
ィ技術を利用して、計算機ホログラムを形成する工程
と、 (b)透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用し
て、前記計算機ホログラムと特定の位置関係でダイシン
グマークを形成する工程と、 (c)前記計算機ホログラムおよび前記ダイシングマー
クの形成された処理済みの透明基板を、前記ダイシング
マークに沿ってダイシングすることにより、前記計算機
ホログラムを含む光学ブロックを切り出す工程とを含む
ことを特徴とする光学ブロックの形成方法。
20. A step of forming a computer generated hologram on a transparent substrate using a photolithography technique; and (b) a step of forming the computer generated hologram on a transparent substrate using a photolithography technique. Forming a dicing mark in a relation; and (c) dicing the computer-generated hologram and the processed transparent substrate on which the dicing mark has been formed along the dicing mark, thereby forming an optical block including the computer-generated hologram. And a cutting step.
【請求項21】 請求項20に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記(a)工程中に、前記(b)工程を行うことを特徴
とする光学ブロックの形成方法。
21. The method for forming an optical block according to claim 20, wherein the step (b) is performed during the step (a).
【請求項22】 請求項20に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記ダイシングマークを、前記計算機ホログラムを囲む
正方形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラム
の光軸から等距離の位置に形成することを特徴とする光
学ブロックの形成方法。
22. The method of forming an optical block according to claim 20, wherein the dicing mark is positioned at each vertex of a square surrounding the computer hologram and at a position equidistant from the optical axis of the computer hologram. A method for forming an optical block, comprising: forming an optical block;
【請求項23】 請求項20に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記ダイシングマークとして、金属マークを形成するこ
とを特徴とする光学ブロックの形成方法。
23. The method of forming an optical block according to claim 20, wherein a metal mark is formed as the dicing mark.
【請求項24】 請求項20に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記(c)の工程は、 (c1)複数の前記処理済みの透明基板を互いに積層し
て積層基板群を形成する工程と、 (c2)前記積層基板群を、前記ダイシングマークに沿
ってダイシングすることにより、前記光学ブロックを切
り出す工程とを含むことを特徴とする光学ブロックの形
成方法。
24. The method of forming an optical block according to claim 20, wherein the step (c) comprises: (c1) laminating a plurality of the processed transparent substrates together to form a laminated substrate group. (C2) a step of cutting out the optical block by dicing the laminated substrate group along the dicing mark.
【請求項25】 請求項24に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記ダイシングマークは、複数の前記透明基板を積層す
る際に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマーク
を兼ねることを特徴とする光学ブロックの形成方法。
25. The method for forming an optical block according to claim 24, wherein the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of the transparent substrates are stacked. Of forming an optical block.
【請求項26】 (a)透明基板に、フォトリソグラフ
ィ技術を利用して、計算機ホログラムを形成する工程
と、 (b)透明基板に、フォトリソグラフィ技術を利用し
て、前記計算機ホログラムと特定の位置関係でダイシン
グマークを形成する工程と、 (c)前記計算機ホログラムおよび前記ダイシングマー
クの形成された処理済みの透明基板を積層して積層基板
群を形成する工程と、 (d)前記積層基板群を、前記ダイシングマークに沿っ
てダイシングすることにより、それぞれ前記計算機ホロ
グラムを含む積層された透明基板ブロックからなる光学
ブロックを切り出す工程とを含むことを特徴とする光学
ブロックの形成方法。
26. (a) forming a computer generated hologram on a transparent substrate by using photolithography technology; and (b) forming the computer generated hologram on the transparent substrate by using photolithography technology. (C) laminating the computer-generated hologram and the processed transparent substrate on which the dicing mark has been formed to form a laminated substrate group; and (d) forming the laminated substrate group. Dicing along the dicing mark to cut out optical blocks each comprising a laminated transparent substrate block including the computer generated hologram.
【請求項27】 請求項26に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記(a)工程中に、前記(b)工程を行うことを特徴
とする光学ブロックの形成方法。
27. The method of forming an optical block according to claim 26, wherein the step (b) is performed during the step (a).
【請求項28】 請求項26に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記ダイシングマークを、前記計算機ホログラムを囲む
正方形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラム
の光軸から等距離の位置に形成することを特徴とする光
学ブロックの形成方法。
28. The method for forming an optical block according to claim 26, wherein the dicing mark is positioned at each vertex of a square surrounding the computer hologram and at a position equidistant from the optical axis of the computer hologram. A method for forming an optical block, comprising: forming an optical block;
【請求項29】 請求項26に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記ダイシングマークとして、金属マークを形成するこ
とを特徴とする光学ブロックの形成方法。
29. The method for forming an optical block according to claim 26, wherein a metal mark is formed as the dicing mark.
【請求項30】 請求項26に記載の光学ブロックの形
成方法において、 前記ダイシングマークは、複数の前記透明基板を積層す
る際に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマーク
を兼ねることを特徴とする光学ブロックの形成方法。
30. The method of forming an optical block according to claim 26, wherein the dicing mark also serves as an alignment mark that serves as a reference for alignment when a plurality of the transparent substrates are stacked. Of forming an optical block.
【請求項31】 計算機ホログラムおよびダイシングマ
ークの形成された透明基板から、当該ダイシングマーク
に沿ったダイシングにより、前記計算機ホログラムを含
む領域として切り出された光学ブロックであって、 前記ダイシングマークは、フォトリソグラフィ技術を利
用して形成されたものであることを特徴とする光学ブロ
ック。
31. An optical block cut out from a transparent substrate on which a computer generated hologram and a dicing mark are formed as a region including the computer generated hologram by dicing along the dicing mark, wherein the dicing mark is formed by photolithography. An optical block characterized by being formed using technology.
【請求項32】 請求項31に記載の光学ブロックにお
いて、 前記ダイシングマークは、計算機ホログラムを囲む正方
形の各頂点の位置であって、当該計算機ホログラムの光
軸から等距離の位置に形成されたものであることを特徴
とする光学ブロック。
32. The optical block according to claim 31, wherein the dicing mark is a position of each vertex of a square surrounding the computer generated hologram and formed at a position equidistant from an optical axis of the computer generated hologram. An optical block, characterized in that:
【請求項33】 請求項31に記載の光学ブロックにお
いて、 前記ダイシングマークを、金属マークとしたことを特徴
とする光学ブロック。
33. The optical block according to claim 31, wherein the dicing mark is a metal mark.
【請求項34】 請求項31に記載の光学ブロックにお
いて、 前記光学ブロックは、前記透明基板が互いに積層された
積層基板群から、前記ダイシングマークに沿ったダイシ
ングにより、それぞれ前記計算機ホログラムを含む透明
基板ブロックが積層された構造として切り出されたもの
であることを特徴とする光学ブロック。
34. The optical block according to claim 31, wherein the optical block includes a transparent substrate including the computer generated hologram by dicing along the dicing mark from a laminated substrate group in which the transparent substrates are laminated. An optical block, wherein the block is cut out as a laminated structure.
【請求項35】 請求項34に記載の光学ブロックにお
いて、 前記ダイシングマークは、複数の前記透明基板を積層す
る際に、互いの位置合わせの基準となるアレンジマーク
を兼ねることを特徴とする光学ブロック。
35. The optical block according to claim 34, wherein the dicing mark also serves as an arrangement mark serving as a reference for mutual alignment when a plurality of the transparent substrates are stacked. .
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