JPH11258141A - 粒度分布測定装置 - Google Patents

粒度分布測定装置

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JPH11258141A
JPH11258141A JP10082765A JP8276598A JPH11258141A JP H11258141 A JPH11258141 A JP H11258141A JP 10082765 A JP10082765 A JP 10082765A JP 8276598 A JP8276598 A JP 8276598A JP H11258141 A JPH11258141 A JP H11258141A
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JP
Japan
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area sensor
particle size
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particle
image
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JP10082765A
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English (en)
Inventor
Yoshimichi Masuda
吉通 増田
Sadatoshi Kojima
定俊 小島
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Nikkiso Co Ltd
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Nikkiso Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】低解像度のエリアセンサカメラを複数台その測
定視野を下方に向かうに従い拡大させて上下方向に近接
配置することにより、自由落下する粒子群の粒度分布を
高精度に測定し得ると共に、測定装置自体を安価に形成
し得る粒度分布測定装置を提供する。 【解決手段】搬送手段によって搬送され該搬送手段の終
端側から自由落下する粒子群の各粒子の粒度分布を測定
する粒度分布測定装置において、粒子群の落下方向と直
交する方向で上下方向に近接して配置されかつ下方に向
かうに従い測定視野が拡大する複数台の低解像度のエリ
アセンサカメラと、該エリアセンサカメラで撮影された
画像を静止画像として取り込む画像取込手段と、該画像
取込手段で取り込まれた複数の静止画像に基づいて粒度
分布を求める制御手段と、該制御手段で求められた粒度
分布を出力し得る外部出力装置とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、粉体工業分野にお
いて使用され各種粒子群の粒子の粒度分布を測定する粒
度分布測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の粒度分布測定装置は、例
えば図4に示すように、ベルトコンベア3で搬送されく
る粒子群2を、その終端側3aから下方に矢印イの如く
自由落下させ、この自由落下する粒子群2に、照明電源
4に接続されたハロゲンランプ5から光を照射し、この
光の粒子群2の透過状態をハロゲンランプ5と対向して
設けられたエリアセンサカメラ6(もしくはラインセン
サカメラ)で撮影する。
【0003】そして、このエリアセンサカメラ6で撮影
した画像を画像取込装置7で静止画像として取り込み、
この静止画像を画像モニター8に表示させると共に、パ
ソコン等の制御装置9に画像データとして出力する。制
御装置9は、入力された画像データに基づいて粒子群2
の各粒子2aの個数や粒径等を演算すると共に、この演
算結果から粒度分布を算出し、この粒度分布を粒度分布
モニター10やプリンタ11等の外部出力装置に出力す
るように構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この粒
度分布測定装置21にあっては、エリアセンサカメラ6
が一台配置されているのみであるため、このエリアセン
サカメラ6の測定視野の面積と画素数によって、測定レ
ンジと解像度が決定されてしまう。したがって、測定レ
ンジを拡げると解像度が低下して粒子群2内の微小な粒
子2aを捕らえることができず、結局、測定レンジを犠
牲して、比較的狭い測定レンジで粒子群2の各粒子2a
の粒度分布を測定している。
【0005】また、ベルトコンベア3の終端側3aから
自由落下する粒子群2は、落下と共に空気の対流、抵抗
等を受け、特に軽い粒子の場合に落下と共に横方向に拡
散して、この粒子群2がエリアセンサカメラ6の近傍上
方で例えば図4の矢印ロ及び矢印ハの如く拡散すると、
この拡散により粒子群2がエリアセンサカメラ6の測定
視野から外れてしまうことになる。これらのことから、
上記の粒度分布測定装置21においては、粒子群2の自
由落下方向の極めて狭い範囲(測定視野)のみを撮影し
て粒度分布を測定しているのが実状であり、粒子群の自
由落下に対応した適切な撮影を行うことができず、粒子
群2の高精度な粒度分布測定が困難であるという問題点
があった。
【0006】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、請求項1記載の発明の目的は、エリアセンサ
カメラを複数台上下方向に近接して配置すると共に、そ
の測定視野を下方に向かうに従い拡大させることによっ
て自由落下する粒子群の粒度分布を高精度に測定し得る
粒度分布測定装置を提供することにある。また、請求項
2または3記載の発明の目的は、低解像度のエリアセン
サカメラを複数台その測定視野を下方に向かうに従い拡
大させて上下方向に近接配置することにより、自由落下
する粒子群の粒度分布を高精度に測定し得ると共に、測
定装置自体を安価に形成し得る粒度分布測定装置を提供
することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成すべ
く、本発明のうち請求項1記載の発明は、搬送手段によ
って搬送され搬送手段の終端側から自由落下する粒子群
の各粒子の粒度分布を測定する粒度分布測定装置におい
て、粒子群の落下方向と直交する方向で上下方向に近接
して複数台のエリアセンサカメラを配置すると共に、エ
リアセンサカメラによる粒子群の測定視野を下方に向か
うに従い拡大させたことを特徴とする。
【0008】このように構成することにより、搬送手段
で搬送されその終端側から下方に自由落下する粒子群
は、複数台のエリアセンサカメラで撮影され、この時、
上下方向に配置された各エリアセンサカメラの測定視野
は、下方に向かうに従い拡がる如く設定されており、各
測定視野において粒子群が撮影される。複数台のエリア
センサカメラは、上方の測定視野が狭く下方の測定視野
が広く、すなわち自由落下する粒子群の拡散が少ない上
方側の測定視野が狭く、拡散し易い下方側の測定視野が
広く設定されているため、測定視野と焦点深度が自由落
下する粒子群に応じて拡大し、粒子群の拡散状態を複数
台のエリアセンサカメラで撮影することができて、各粒
子による粒度分布を高精度に測定することができる。
【0009】また、請求項2記載の発明は、搬送手段に
よって搬送され搬送手段の終端側から自由落下する粒子
群の各粒子の粒度分布を測定する粒度分布測定装置にお
いて、粒子群の落下方向と直交する方向で上下方向に近
接して配置されかつ下方に向かうに従い測定視野が拡大
する複数台の低解像度のエリアセンサカメラと、エリア
センサカメラで撮影された画像を静止画像として取り込
む画像取込手段と、画像取込手段で取り込まれた複数の
静止画像に基づいて粒度分布を求める制御手段と、制御
手段で求められた粒度分布を出力し得る外部出力装置と
を具備することを特徴とする。
【0010】このように構成することにより、搬送手段
で搬送されその終端側から下方に自由落下する粒子群
は、上下方向に配置された複数台のエリアセンサカメラ
で撮影され、この撮影された画像が画像取込装置によっ
て静止画像として取り込まれ、制御手段に出力される。
制御手段は、この静止画像を例えば二値化して、撮影し
た粒子群内の各粒子の、測定視野内の個数、粒径及び重
量等を演算し重量比等によって粒度分布を算出して求
め、例えばプリンタや粒度分布モニター等の外部出力装
置に出力する。
【0011】画像取込装置に取り込まれる静止画像は、
測定視野の狭い上方側のエリアセンサカメラによる静止
画像と、広い測定視野と焦点深度が拡大された下方側の
エリアセンサカメラによる静止画像、すなわち粒子群の
落下方向に沿った複数箇所の静止画像となり、この取り
込んだ複数の静止画像に基づいて粒度分布が求められ
る。そのため、自由落下する粒子群の測定箇所をより多
くし得て、高精度な粒度分布測定が可能になり、また、
複数のエリアセンサカメラは、その測定視野が予め設定
されることから、低解像度のエリアセンサカメラを使用
することができて、粒度分布測定装置自体を安価に形成
し得る。
【0012】また、請求項3記載の発明は、画像取込手
段が、複数台のエリアセンサカメラの静止画像の取り込
みをその測定視野の大きさに応じた回数行い、各エリア
センサカメラによって得られる画像データ量を略平均化
させることを特徴とする。このように構成することによ
り、測定視野が狭い上方側のエリアセンサカメラによる
静止画像の取込回数を多くし、測定視野が広い下方側の
エリアセンサカメラによる静止画像の取込回数を少なく
する。これにより、複数台のエリアセンサカメラで得ら
れる画像データ量が略平均化され、粒子群の拡散状態に
応じた効率的な画像データが得られて、粒度分布のより
高精度な測定が可能になる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の一例
を図面に基づいて詳細に説明する。図1〜図3は、本発
明に係わる粒度分布測定装置の一実施例を示し、図1が
その概略構成図、図2が測定方法の一例を示す説明図、
図3が画像データの処理方法の一例を示す説明図であ
る。なお、図1において図4と同一部位には同一符号を
付し、その詳細な説明は省略する。
【0014】図1において、粒度分布測定装置1は、照
明電源4に接続されたハロゲンランプ5に対向して、上
下方向に近接して配置された低解像度CCDカメラから
なる2台のエリアセンサカメラ13、14を有してい
る。この各エリアセンサカメラ13、14は、後述する
如くエリアセンサカメラ13の測定視野(測定レンジ)
が狭く、エリアセンサカメラ14の測定視野が広くなる
如く設定されている。そして、この各エリアセンサカメ
ラ13、14で撮影された画像は、カメラコントローラ
等の画像取込装置7に取り込まれ、静止画像として制御
装置9に出力されると共に、静止画像を画像モニター8
に表示させる。
【0015】制御装置9は、図示しないCPU、RA
M、ROM等を有し、画像取込装置7から入力される各
エリアセンサカメラ13、14に対応した2種類の静止
画像を、例えば二値化して静止画像中(測定レンジ内)
における各粒子の個数、面積、粒径及び重量を演算し、
各静止画像の重量比等によって粒度分布をそれぞれ算出
する。そして、この各粒度分布から、後述する如く粒子
群2の粒度分布を算出して、例えば粒度分布モニター1
0に表示させると共に、プリンタ11や図示しない外部
記憶装置等からなる外部出力装置に出力する。
【0016】次に、前記エリアセンサカメラ13、14
による撮影方法の一例と、撮影した画像データに基づく
粒度分布の算出方法の一例を図2及び図3に基づいて説
明する。先ず、エリアセンサカメラ13、14は、その
上方側に位置するエリアセンサカメラ13の測定視野が
狭い視野1に設定され、下方側に位置するエリアセンサ
カメラ14の測定視野が、視野1の粒度速度vに対して
その速度が5倍となる広い視野2に設定されている。
【0017】したがって、下方側に位置するエリアセン
サカメラ14の視野2は、上方側に位置するエリアセン
サカメラ13による視野1に対して、縦方向及び横方向
共に5倍の視野になる如く設定されることになる。そし
て、このように測定視野が設定された2台のエリアセン
サカメラ13、14によって、ベルトコンベア3の終端
側3aの自由落下開始点から自由落下する粒子群2がそ
れぞれ撮影される。
【0018】この時、ベルトコンベア3の終端側3aに
おいて粒子群2がベルトコンベア3の幅方向に均一に拡
がっているとすれば、視野2で計測される粒子数は視野
1で計測される粒子数に対して5倍になることから、画
像取込装置7で、エリアセンサカメラ13による視野1
での取り込みを5回行い、エリアセンサカメラ14によ
る視野2での取り込みを1回行う。これにより、両エリ
アセンサカメラ13、14の視野1、2における画像デ
ータを平均的に取り込む、すなわち両エリアセンサカメ
ラ13、14で得られる画像データの量を略同じ量とす
る(平均化する)ことができる。
【0019】このようにして画像取込装置7に取り込ま
れた静止画像は、画像データとして制御装置9に出力さ
れ、制御装置9内で前述した如く各粒子の粒径等が演算
される。制御装置9はこの演算されたデータに基づい
て、各視野1、2の粒度分布を算出し、この各粒度分布
を合成することによって、粒子群2の粒度分布を算出す
る。
【0020】この各粒度分布の合成は、例えばエリアセ
ンサカメラ13で撮影された視野1の画像データに基づ
く粒度分布が図3(a)で、エリアセンサカメラ14で
撮影された視野2の画像データに基づく粒度分布が図3
(b)の場合、粒径の重なる粒径幅部分(粒径A部分)
のデータ(度数)のみを抽出し、この粒径Aのデータを
合成することによって、図3(c)に示す粒度分布を算
出する。この粒度分布が粒子群2の粒度分布となり、こ
れが、粒度分布モニター10に表示されると共に、プリ
ンタ11に印字される。なお、図3(a)、(b)の粒
径Aにおける度数の差Sは、測定上の誤差を表してい
る。
【0021】このように、上記実施例の粒度分布測定装
置1にあっては、粒子群2が自由落下する方向に沿って
2台のエリアセンサカメラ13、14を近接して配置す
ると共に、両エリアセンサカメラ13、14の測定視野
1、2を異ならせているため、粒子群2の測定視野が落
下方向に沿って拡がり、エリアセンサカメラ13、14
による測定箇所数を従来に比較して大幅に増やすことが
でき、自由落下する粒子群2の粒度分布を高精度に測定
することができる。
【0022】特に、上方側のエリアセンサカメラ13の
測定視野1を狭くし、下方側のエリアセンサカメラ14
の測定視野2を視野1の5倍となるように広く設定して
いるため、ベルトコンベア3の終端側3aの自由落下開
始点の直下の、まだ空気の対流や抵抗等によって拡散さ
れていない部分の粒子群2をエリアセンサカメラ13で
撮影し、所定位置まで自由落下した粒子群2を、測定視
野と共に焦点深度が拡大しているエリアセンサカメラ1
4によって撮影することができる。その結果、2台のエ
リアセンサカメラ13、14で粒子群2の自由落下の拡
散に対応した撮影が可能になり、粒子群2の粒度分布測
定をより高精度に行うことが可能になる。
【0023】また、エリアセンサカメラ13による視野
1の撮影画像の取り込みを5回行い、エリアセンサカメ
ラ14による視野2の撮影画像の取り込みを1回行うた
め、各視野1、2から得られる画像データ量を略平均化
することができると共に、測定回数をより増やすことが
できて、粒子群2のより高精度な粒度分布測定が可能に
なる。
【0024】さらに、2台設けられるエリアセンサカメ
ラ13、14は、予め設定された測定視野1、2を所定
の解像度で撮影すれば良いため、各エリアセンサカメラ
13、14として、予め設定された測定視野1、2で所
定の解像度が得られる一般的な画素数(例えば25万画
素)の低解像度のエリアセンサカメラ13、14を使用
することができ、例えば100万画素程度の超高解像度
のエリアセンサカメラを使用する必要がなくなる。その
結果、低解像度のエリアセンサカメラ13、14を2台
使用しても、一台の超高解像度のエリアセンサカメラを
使用する場合に比較して、そのコストを十分の一以下に
することができて、安価で高精度な粒度分布測定装置1
を得ることができる。
【0025】なお、上記実施例においては、エリアセン
サカメラ13、14を上下方向に2台配置する場合につ
いて説明したが、本発明はこれに限定されるものでもな
く、例えば上下方向に3台以上のエリアセンサカメラを
配置し、各エリアセンサカメラの測定視野が下方に向か
うに従い拡がるように設定しても良い。また、上記実施
例においては、エリアセンサカメラ14による視野2
が、エリアセンサカメラ13による視野1の5倍になる
場合を例にして説明したが、この倍数に限定されるもの
でもなく、所定倍数になるように設定することができ
る。
【0026】さらに、上記実施例においては、各エリア
センサカメラ13、14による粒度分布の粒径が重なる
部分(粒径A部分)のデータを合成することによって、
粒子群2の全体の粒度分布を算出したが、例えば全ての
粒径データに基づいて全体の粒度分布を算出したり、一
定間隔の所定の粒径幅に関する粒径データに基づいて全
体の粒度分布を算出しても良い。また、上記実施例にお
いては、光源としてハロゲンランプを使用したが、例え
ばストロボランプ、キセノンランプ、蛍光灯等、適宜の
光源を使用することもできるし、画像取込装置7を制御
装置9とは別体で設けることなく、制御装置9内に一体
的に配設することもできる。
【0027】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1記載の発
明によれば、搬送手段の終端側から自由落下する粒子群
のうち、拡散が少ない上方側の粒子群を測定視野の狭い
上方のエリアセンサカメラで撮影し、拡散し易い下方側
の粒子群を測定視野が広い下方のエリアセンサカメラで
撮影することができ、粒子群の自由落下に対応した撮影
が可能になり、この撮影した画像データに基づいて粒子
群の粒度分布を高精度に測定することができる。
【0028】また、請求項2記載の発明によれば、画像
取込装置に取り込まれる静止画像は、測定視野の狭い上
方側のエリアセンサカメラによる静止画像と、測定視野
の広い下方側のエリアセンサカメラによる静止画像から
なる複数箇所の静止画像となり、この静止画像に基づい
て粒度分布が求められるため、粒子群の落下方向に沿っ
た静止画像によって、粒子群の粒度分布を高精度に測定
することができると共に、低解像度のエリアセンサカメ
ラを使用することができて、安価な粒度分布測定装置を
得ることができる。
【0029】また、請求項3記載の発明によれば、請求
項2記載の発明の効果に加え、測定視野が狭い上方側の
エリアセンサカメラによる静止画像の取込回数を多く
し、測定視野が広い下方側のエリアセンサカメラによる
静止画像の取込回数を少なくするため、各エリアセンサ
カメラで得られる画像データ量が略平均化され、粒子群
の拡散状態に応じた効率的な画像データが得られて、粒
度分布をより高精度に測定することができる等の効果を
奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる粒度分布測定装置の一実施例を
示す概略構成図
【図2】同その測定方法の一例を示す説明図
【図3】同画像データの処理方法の一例を示す説明図
【図4】従来の粒度分布測定装置を示す概略構成図
【符号の説明】
1 粒度分布測定装置 2 粒子群 2a 粒子 3 ベルトコンベア 3a 終端側 4 照明電源 5 ハロゲンランプ 7 画像取込装置 8 画像モニター 9 制御装置 10 粒度分布モニター 11 プリンタ 13、14 エリアセンサカメラ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】搬送手段によって搬送され該搬送手段の終
    端側から自由落下する粒子群の各粒子の粒度分布を測定
    する粒度分布測定装置において、 前記粒子群の落下方向と直交する方向で上下方向に近接
    して複数台のエリアセンサカメラを配置すると共に、該
    エリアセンサカメラによる粒子群の測定視野を下方に向
    かうに従い拡大させたことを特徴とする粒度分布測定装
    置。
  2. 【請求項2】搬送手段によって搬送され該搬送手段の終
    端側から自由落下する粒子群の各粒子の粒度分布を測定
    する粒度分布測定装置において、 前記粒子群の落下方向と直交する方向で上下方向に近接
    して配置されかつ下方に向かうに従い測定視野が拡大す
    る複数台の低解像度のエリアセンサカメラと、該エリア
    センサカメラで撮影された画像を静止画像として取り込
    む画像取込手段と、該画像取込手段で取り込まれた複数
    の静止画像に基づいて粒度分布を求める制御手段と、該
    制御手段で求められた粒度分布を出力し得る外部出力装
    置とを具備することを特徴とする粒度分布測定装置。
  3. 【請求項3】前記画像取込手段は、複数台のエリアセン
    サカメラの静止画像の取り込みをその測定視野の大きさ
    に応じた回数行い、各エリアセンサカメラによって得ら
    れる画像データ量を略平均化させることを特徴とする請
    求項2記載の粒度分布測定装置。
JP10082765A 1998-03-13 1998-03-13 粒度分布測定装置 Pending JPH11258141A (ja)

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