JPH11248854A - 光走査による対象物情報検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 走査角や雑音に起因する誤った対象物情報の
検出を防止すること。 【解決手段】 発光素子１６からの光を回転可能なスキ
ャンミラーで反射させて再帰性反射体１２に照射し、こ
の再帰性反射体１２で反射した光をスキャンミラーの反
射を介して受光素子１７で受光し、比較器２７で受光エ
ネルギーをしきい値と比較し光走査範囲内の対象物２４
ａ、２４ｂの情報を検出する装置において、受光素子１
７の受光エネルギーに応じてしきい値を変化させるしき
い値可変手段３０を設ける。しきい値可変手段３０は分
圧回路３２と積分回路３４で構成される。走査角により
受光素子１７の受光エネルギーに差がでたり、近傍の障
害物２５からの乱反射等による雑音で受光素子１７の受
光エネルギーが一定レベルもち上がっても、しきい値可
変手段３０によってしきい値が受光エネルギーに応じて
変化し、走査角や雑音に起因する誤った対象物情報の検
出を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、発光部からの光を
回転可能なスキャンミラーで反射させて再帰性反射体に
照射し、この再帰性反射体で反射した光をスキャンミラ
ーの反射を介して受光部で受光し、受光エネルギーをし
きい値と比較することによって、スキャンミラーと再帰
性反射体の間に形成された光走査範囲内の対象物情報
（例えば対象物が有るか否かの情報）を検出する装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】上述した光走査による対象物情報検出装
置には、図１１に示すようなものが考えられている。す
なわち、光学フィルタなどの基板１０の一方の側面の中
央部分に光走査ユニット１１を配置し、基板１０の一面
の光走査ユニット１１の取付け部を除く３方辺に再帰性
反射体１２が取り付けられている。光走査ユニット１１
は、図１２に示すように、ユニット支持板３１の固定部
（図示省略）が前記基板１０に接着剤などで固着され、
この固定部と一体の略Ｌ字形の支持部１３の上にユニッ
ト本体１４が載せられ角度調整自在に取り付けられてい
る。

【０００３】ユニット本体１４は、下面に前記支持部１
３に遊嵌する略Ｌ字形のＬ字溝１５が形成され、内部に
は、半導体レーザ装置などの発光素子１６と、受光素子
１７が収納され、上面には、発光素子１６から出力した
レーザ光（以下、単に光と記述する）１８を屈折させる
屈折プリズム１９と、この屈折させた光１８を透過させ
るハーフミラー２０を具備したプリズム２１と、スキャ
ンミラー２２とが設けられ、このスキャンミラー２２は
パルスモータ２３により回転自在に設けられている。

【０００４】そして、発光素子１６から出力した光１８
が屈折プリズム１９で屈折し、ハーフミラー２０及びプ
リズム２１を透過してスキャンミラー２２で反射し再帰
性反射体１２に照射する。この再帰性反射体１２では、
入射光と略同一光路を戻りスキャンミラー２２で反射
し、プリズム２１のハーフミラー２０で反射屈折して受
光素子１７で受光される。パルスモータ２３によるスキ
ャンミラー２２の回転により光１８は角度θ（例えば約
１８０°）だけ走査される。この光走査範囲内に対象物
２４ａ、２４ｂが有ると対象物２４ａ、２４ｂによって
光１８が遮断されるので、走査角度θや受光素子１７の
受光エネルギーを監視することによって対象物２４ａ、
２４ｂの有無が検出される。

【０００５】図１１において２５は上述の光走査にとっ
て障害となる障害物を表し、この障害物２５は、発光素
子１６からの光１８を再帰性反射体１２や対象物２４
ａ、２４ｂ以外で反射させて受光素子１７に受光させた
り、不要な外来光を受光素子１７に受光させる物体を総
称し、装置の筐体であったり、装置の周囲に有る物体で
あったりする。

【０００６】図１２の受光素子１７の受光エネルギーを
監視するための電気回路としては、図１３に示すような
回路が考えられる。すなわち、電流・電圧変換回路２６
によって受光素子１７の受光エネルギーに相当した電流
が電圧に変換され、この電圧が比較器２７の＋側に入力
し、比較器２７の−側に基準電圧源２８からの基準電圧
が入力し、この比較器２７の比較出力のレベルがＨレベ
ルかＬレベルかをＭＰＵ（マイクロプロセッサユニッ
ト）２９で判断して、対象物２４ａ、２４ｂの有無を検
出する。図中のＳは、受光素子１７が受光した光のうち
の信号成分（再帰性反射体１２や対象物２４ａ、２４ｂ
で反射した光）を表し、Ｎは雑音成分（障害物２５で反
射した光や外来光）を表す。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図１３
に示した回路では、比較器２７によって受光素子１７の
受光エネルギーに相当した電圧を基準電圧源２８の基準
電圧と比較し、比較出力に基づいて対象物２４ａ、２４
ｂの有無を検出していたので、正しい対象物情報が得ら
れないという問題点があった。すなわち、走査角度θに
よって受光素子１７の受光エネルギーに差がでてくるこ
と、近傍の障害物２５からの乱反射等による雑音でＳＮ
比が悪くなること等の理由によって正しい対象物情報が
得られないという問題点があった。また、対象物情報を
判断する回路の応答速度によっては正しい対象物情報が
得られないという問題点があった。

【０００８】例えば、図１１に示すように光走査範囲内
に２つの対象物２４ａ、２４ｂがある場合、走査角度θ
と受光エネルギーの関係が図１４に示すようになり、一
方の対象物２４ｂの存在は検出できるが他方の対象物２
４ａの存在を検出できないという問題点があった。すな
わち、走査角度θが０（＝０°）、π（＝１８０°）の
ときに受光素子１７は発光素子１６からの光１８の殆ど
を受光するので受光エネルギーが最大となり、再帰性反
射体１２は入射角が直角に近いほど反射エネルギーが大
きいので再帰性反射体１２の両端部と中央部に相当する
走査角度θで受光エネルギーが大きくなり、さらに雑音
によって受光エネルギーのＤＣ（直流）レベルが上が
る。このように受光素子１７の受光エネルギーＪＥが図
１４に示すように走査角度θに応じて変化するのに対し
て、スライスレベルＳＬが一定なので、一方の対象物２
４ｂの存在は検出できるが他方の対象物２４ａの存在を
検出できないという問題点があった。図１４中におい
て、スライスレベルＳＬは比較器２７の−入力側に入力
する基準電圧に相当した光エネルギーの値を表し、Ａは
受光エネルギーＪＥの特性曲線のうちの対象物２４ａに
対応した部分を表し、Ｂは受光エネルギーＪＥの特性曲
線のうちの対象物２４ｂに対応した部分を表す。

【０００９】本発明は、上述の問題点に鑑みなされたも
ので、走査角度θや雑音に起因する誤った対象物情報の
検出を防止し、対象物が光走査範囲内の何処にあっても
正しい対象物情報を得ることのできる光走査による対象
物情報検出装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、発光
部からの光を回転可能なスキャンミラーで反射させて再
帰性反射体に照射し、この再帰性反射体で反射した光を
スキャンミラーの反射を介して受光部で受光し、受光エ
ネルギーをしきい値と比較することによって、スキャン
ミラーと再帰性反射体の間に形成された光走査範囲内の
対象物情報を検出する装置において、受光部の受光エネ
ルギーに応じてしきい値を変化させるしきい値可変手段
を設けてなることを特徴とする。

【００１１】走査角度θによって受光部の受光エネルギ
ーに差がでてきたり、近傍の障害物からの乱反射等によ
る雑音で受光部の受光エネルギーが一定レベルもち上が
っても、しきい値可変手段によって受光エネルギーと比
較するしきい値が受光部の受光エネルギーに応じて変化
するので、走査角度θや雑音に起因する誤った対象物情
報の検出を防止することができる。

【００１２】請求項２の発明は、請求項１の発明におい
て、しきい値可変手段の構成を簡単にするために、しき
い値可変手段を、受光部の受光エネルギーに相当した電
圧を一定比率で分圧する分圧回路と、この分圧回路に結
合され積分値をしきい値として出力する積分回路とで構
成する。

【００１３】請求項３の発明は、請求項１の発明におい
て、しきい値可変手段の構成を簡単にするために、しき
い値可変手段を、受光部の受光エネルギーに相当した信
号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路と、この
Ａ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期間の平均値を求める
平均値算出回路と、この平均値算出回路で求めた平均値
からＡ／Ｄ変換回路の出力信号に応じて可変可能な定数
を減算する可変定数減算回路と、この可変定数減算回路
の演算値をアナログ信号に変換ししきい値として出力す
るＤ／Ａ変換回路とで構成する。

【００１４】請求項４の発明は、請求項３の発明におい
て、信号の強弱でＳ／Ｎ比が極端に変化し、受光エネル
ギーがなだらかに変化する途中で急激に変化した場合で
も、逆転現象に起因する誤った対象物情報の検出をしな
いようにするために、可変定数減算回路を、平均値算出
回路で求めた平均値から相異なる定数Ｋ１、Ｋ２（Ｋ１
＜Ｋ２）を減算する第１、第２減算器と、Ａ／Ｄ変換回
路の出力信号と第１、第２減算器の一方の演算値とを比
較する比較器と、この比較器の比較出力に応じて第１、
第２減算器の演算値の一方を選択して出力するセレクタ
とで構成する。

【００１５】請求項５の発明は、請求項１の発明におい
て、信号の強弱でＳ／Ｎ比が極端に変化し、受光エネル
ギーが急激な増加から急激な減少へ変化した場合でも、
逆転現象に起因する誤った対象物情報の検出をしないよ
うにするために、受光エネルギーに相当した信号を一定
期間遅延させしきい値と比較する信号として出力する遅
延手段を設け、しきい値可変手段を、受光部の受光エネ
ルギーに相当した信号をディジタル信号に変換するＡ／
Ｄ変換回路と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期
間の平均値を求める平均値算出回路と、この平均値算出
回路で求めた平均値から一定の定数を減算する減算回路
と、この減算回路の演算値をアナログ信号に変換ししき
い値として出力するＤ／Ａ変換回路とで構成する。

【００１６】請求項６の発明は、発光部からの光を回転
可能なスキャンミラーで反射させて再帰性反射体に照射
し、この再帰性反射体で反射した光をスキャンミラーの
反射を介して受光部で受光し、受光エネルギーをしきい
値と比較することによって、スキャンミラーと再帰性反
射体の間に形成された光走査範囲内の対象物情報を検出
する装置において、受光部の受光エネルギーが一定とな
るように発光部の発光エネルギーを制御する発光エネル
ギー制御手段を設けてなることを特徴とする。

【００１７】走査角度θによって若しくは雑音によっ
て、受光部の受光エネルギーが予め設定した標準値より
大きく又は小さくなる方向へ変化すると、この変化に応
じて発光エネルギー制御手段が発光部の発光エネルギー
を小さく又は大きくする方向へ変化させ、受光部の受光
エネルギーを一定値に制御する。このため、走査角度θ
や雑音に起因する誤った対象物情報の検出を防止するこ
とができる。

【００１８】請求項７の発明は、請求項６の発明におい
て、発光エネルギー制御手段の構成を簡単にするため
に、発光エネルギー制御手段を、受光部の受光エネルギ
ーに相当した信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
換回路と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期間に
おける平均値を求める平均値演算手段と、この平均値演
算手段で求めた平均値を予め設定した標準値と比較し、
平均値が標準値より小さいときは発光エネルギを上げる
ための制御信号を発光部へ出力し、平均値が標準値より
大きいときは発光エネルギを下げるための制御信号を発
光部へ出力する発光部制御手段とで構成する。

【００１９】請求項８の発明は、請求項７の発明におい
て、対象物によって受光部の受光エネルギーが途切れた
ときに、直ぐに発光部の発光エネルギーを上げる処理を
行わないようにするために、発光部制御手段に発光部へ
出力する制御信号を一時的に置数するレジスタを設け、
平均値演算手段で求めた平均値が予め設定した下限設定
値以下か否かを判別する下限判別手段と、この下限判別
手段により平均値が下限設定値以下と判別されたとき
に、レジスタの置数値を更新せずに直前の置数値を保持
する置数値保持手段とを設ける。

【００２０】請求項９の発明は、請求項７の発明におい
て、対象物によって受光部の受光エネルギーが途切れた
ときに、直ぐに発光部の発光エネルギーを上げる処理を
行わないようにするために、発光部制御手段に制御信号
を一時的に置数するレジスタを設け、平均値演算手段で
求めた平均値が下限設定値以下か否かを判別する下限判
別手段と、この下限判別手段により平均値が下限設定値
以下と判別されたときに、レジスタの置数値と直前の置
数値との積分値を発光部へ出力する制御信号とする積分
処理手段とを設ける。

【００２１】請求項１０の発明は、請求項６、７、８又
は９の発明において、発光部の発光エネルギーが極限に
なったことを報知するために、発光部の発光エネルギー
の極限値を予め設定する極限値設定手段と、発光部の発
光エネルギーを制御するための制御信号と極限値設定手
段で設定された極限値とを比較する比較手段と、この比
較手段の比較出力に基づいて発光部の発光エネルギーが
極限になったことを報知する報知手段とを設ける。

【００２２】請求項１１の発明は、請求項６、７、８又
は９の発明において、発光部の発光エネルギーが極限に
なったことを可視光で報知するために、制御手段から発
光部側へ出力する制御信号が極限値を越えたときに可視
光を発光する可視光発光手段を設ける。

【００２３】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光走査による
対象物情報検出装置の一実施形態例を図１を用いて説明
する。図１において図１３と同一部分は同一符号とす
る。図１において、１２は再帰性反射体、１６は発光素
子、１７は受光素子、１８は前記発光素子１６からの
光、２４ａ、２４ｂは情報検出対象としての対象物、２
５は光走査にとって障害となる障害物、２６は前記受光
素子１７の受光エネルギーに相当した電流を電圧に変換
して出力する電流・電圧変換回路、２７は比較器、２９
はＭＰＵを表し、Ｓは前記受光素子１７が受光した光の
うちの信号成分を表し、Ｎは雑音成分を表す。

【００２４】３０はしきい値可変手段で、このしきい値
可変手段３０は、前記電流・電圧変換回路２６の出力電
圧を分圧する分圧回路３２と、この分圧回路３２に結合
され積分値をしきい値として出力する積分回路３４とか
らなり、前記分圧回路３２は抵抗３６、３８で構成さ
れ、前記積分回路３４は前記抵抗３６とコンデンサ４０
で構成されている。

【００２５】つぎに、図１の作用を図２を併用して説明
する。電流・電圧変換回路２６は、受光素子１７の受光
エネルギーに相当した電流を電圧に変換し、この電圧を
比較器２７の＋入力側に出力する。このため、比較器２
７の＋入力側に入力する電圧に相当した受光エネルギー
ＪＥは、図１４の場合と同様に、図２に示すような特性
曲線となる。すなわち、この受光エネルギーＪＥは、走
査角度θが０、πのときに受光エネルギーが最大とな
り、π／２のときに受光エネルギーが大きくなり、さら
に雑音によって受光エネルギーのＤＣレベルが上がって
いる。図２中においてＡは受光エネルギーＪＥの特性曲
線のうちの対象物２４ａに対応した部分を表し、Ｂは受
光エネルギーＪＥの特性曲線のうちの対象物２４ｂに対
応した部分を表す。

【００２６】しきい値可変手段３０は、その分圧回路３
２が電流・電圧変換回路２６の出力電圧を抵抗３６、３
８の値に応じて分圧し、積分回路３４が抵抗３６とコン
デンサ４０による積分値をしきい値として比較器２７の
−入力側に入力する。このため、比較器２７の−入力側
への入力電圧に相当した光エネルギーであるスライスレ
ベルＳＬａは、図２中に点線で示すように、、受光エネ
ルギーＪＥの特性曲線を一定レベル下げた値となり、
Ａ、Ｂの下端点より高いレベルとなる。したがって、対
象物２４ａ、２４ｂの何れに対しても、比較器２７の出
力側に検出信号が現われ、ＭＰＵ２９によって対象物２
４ａ、２４ｂが有ることを判別できる。すなわち、走査
角度θや雑音に起因する誤った対象物情報の検出を防止
することができる。

【００２７】図１の実施形態例では、しきい値可変手段
を分圧回路と積分回路で構成した場合について説明した
が、本発明はこれに限るものでなく、受光素子の受光エ
ネルギーに応じてしきい値を変化させるものであればよ
い。例えば、図３に示すように、しきい値可変手段３０
ａを、電流・電圧変換回路２６の出力電圧Ｅｓをその周
波数の２倍以上の標本化周波数で標本化してディジタル
の電圧Ｖｓに変換するＡ／Ｄ（アナログ／ディジタル）
変換回路４２と、このＡ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖ
ｓの一定期間（例えば３標本化周期）の平均値Ｖｓａを
求める平均値算出回路４４と、この平均値算出回路４４
で求めた平均値ＶｓａからＡ／Ｄ変換回路４２の出力電
圧Ｖｓに応じて可変可能な定数を減算する可変定数減算
回路４６と、この可変定数減算回路４６の演算値をアナ
ログの電圧Ｅｒに変換ししきい値として出力するＤ／Ａ
（ディジタル／アナログ）変換回路４８とで構成した場
合についても利用することができる。

【００２８】前記平均値算出回路４４は、３段に結合さ
れたシフトレジスタ５０₁、５０₂、５０₃、加算器５２
及び除算器５４からなり、前記シフトレジスタ５０₁、
５０₂、５０₃は前記Ａ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖｓ
を順次１標本化クロック分遅延させ、前記加算器５２
は、前記Ａ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖｓと前記シフ
トレジスタ５０₁、５０₂、５０₃のそれぞれから出力す
る電圧とを加算し、前記除算器５４は前記加算器５２で
求めた加算値を４（シフトレジスタの段数＋１）で割っ
た平均値Ｖｓａを出力する。

【００２９】前記可変定数減算回路４６は、前記除算器
５４から出力した平均値Ｖｓａから相異なる定数Ｋ１、
Ｋ２（Ｋ１＜Ｋ２）を減算する第１、第２減算器５６、
５８と、前記Ａ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖｓと前記
第１減算器５６の演算値（Ｖｓａ−Ｋ１）とを比較する
比較器６０と、この比較器６０の比較出力に応じて前記
第１、第２減算器５６、５８の演算値の一方を選択して
出力するセレクタ６２とで構成されている。なお、比較
器６０は、Ａ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖｓと第２減
算器５８の演算値（Ｖｓａ−Ｋ２）とを比較し、その比
較出力でセレクタ６２の切り替えを制御するようにして
もよい。

【００３０】つぎに、図３の場合の作用を図４を併用し
て説明する。 （イ）電流・電圧変換回路２６の出力電圧Ｅｓがなだら
かに変化している場合には、第１減算器５６の演算値
（Ｖｓａ−Ｋ１）がＡ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖｓ
より小さい（Ｖｓａ−Ｋ１＜Ｖｓ）ので、比較器６０の
出力信号がＬレベルとなりセレクタ６２の可動片は実線
で示すように第１減算器５６の演算値（Ｖｓａ−Ｋ１）
を選択する。このため、Ｄ／Ａ変換回路４８は、（Ｖｓ
ａ−Ｋ１）をアナログ信号に変換した電圧Ｅｒを比較器
２７の−入力側に出力する。

【００３１】（ロ）受光素子１７からの信号Ｓの強弱に
よってＳ／Ｎ比が極端に変化し、電流・電圧変換回路２
６の出力電圧Ｅｓが図４に示すようになだらかに変化し
ている途中で急激に変化した場合、セレクタ６２が第１
減算器５６の演算値（Ｖｓａ−Ｋ１）を選択し続けてい
ると、平均値算出回路４４の平均化処理によって比較器
２７の−入力側に入力する電圧Ｅｒと＋入力側に入力す
る電圧Ｅｓとの間に部分的な逆転現象（Ｅｒ＞Ｅｓ）が
生じるが、この逆転現象が生じる直前に比較器６０の出
力信号がＬレベルからＨレベルに変化しセレクタ６２の
可動片が点線で示すように第２減算器５８を選択するの
で、電圧Ｅｒが部分的に２点鎖線で示すように補正さ
れ、逆転現象による誤った対象物情報の検出を防止して
いる。すなわち、可変定数減算回路４６が無く、代わり
に第１減算器５６が平均値算出回路４４で求めた平均値
Ｖｓａから定数Ｋ１を減算した値（Ｖｓａ−Ｋ１）をＤ
／Ａ変換回路４８へ出力するだけの構成とした場合に
は、Ｄ／Ａ変換回路４８の出力電圧Ｅｒが図４に×印で
示すような値となり、部分的に逆転現象が生じる。しか
し、図３の実施形態例では、可変定数減算回路４６が有
り、逆転現象が生じる直前にセレクタ６２が第２減算器
５８を選択して（Ｖｓａ−Ｋ２）をＤ／Ａ変換回路４８
へ出力するので、Ｄ／Ａ変換回路４８から出力するＥｒ
は、その一部が図４に○印及び２点鎖線で示すように補
正され、逆転現象による誤った対象物情報の検出を防止
している。

【００３２】図３に示した実施形態例では、可変定数減
算回路４６を第１、第２減算器５６、５８、比較器６０
及びセレクタ６２で構成し、平均値算出回路４４で求め
た平均値ＶｓａからＡ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖｓ
に応じて可変可能な定数Ｋ１、Ｋ２を減算し、この減算
で求めた演算値をＤ／Ａ変換回路４８へ出力し、さらに
電流・電圧変換回路２６の出力電圧Ｅｓを比較器２７の
＋入力側に直接入力するようにしたが、本発明はこれに
限るものでなく、可変定数減算回路４６を無くして代わ
りに第１減算器５６（又は第２減算器５８）のみを設
け、図３に２点鎖線で示すように電流・電圧変換回路２
６の出力側と比較器２７の＋入力側との間に遅延回路６
４を設けた場合についても利用することができる。この
場合、信号の強弱によってＳ／Ｎ比が極端に変化し、電
流・電圧変換回路２６の出力電圧Ｅｓが図５に実線で示
すように急激な増加から急激な減少に変化しても、逆転
現象（Ｅｒ＞Ｅｓ）が生じるのを防止し、誤った対象物
情報の検出を防止できる。すなわち、図３の実施形態例
において、可変定数減算回路４６を無くし、代わりに第
１減算器５６のみを設けただけでは、比較器２７の−入
力側に入力するＥｒが図５に点線で示すようになり、Ｅ
ｓがピークを過ぎて減少に転じた直後に逆転現象（Ｅｒ
＞Ｅｓ）が生じるが、遅延回路６４によって出力電圧Ｅ
ｓを一定期間遅延させた補正電圧Ｅｓｄ（図５に１点鎖
線で示す）が比較器２７の＋入力側に入力するので、逆
転現象が生じるのを防止し、誤った対象物情報の検出を
防止している。

【００３３】図６は本発明の他の実施形態例を示すもの
で、図１と同一部分は同一符号とし説明を省略する。図
６において、１６は発光素子、１７は受光素子、１８は
前記発光素子１６からの光、２６は電流・電圧変換回
路、２７は比較器、２８は基準電圧源、４２はＡ／Ｄ変
換回路、６６は各種の制御処理を行うＭＰＵ、６８は標
準電圧値Ｖｒを置数する標準電圧値レジスタ、７０は積
分処理メモリ、７２はＤ／Ａ変換回路、７４は電圧・電
流変換回路、７６は警告を報知するための報知部（例え
ば警告ランプや警告ブザー）である。

【００３４】前記ＭＰＵ６６は、以下の〜に記述す
る各機能を達成するためのプログラムを格納したＲＯＭ
（リード・オンリ・メモリ）（図示省略）を具備すると
ともに、前記発光素子１６側へ出力する制御信号を一時
的に置数するレジスタ７８及び設定された極限値を置数
する極限値レジスタ８０を具備している。 Ａ／Ｄ変換回路４２の出力電圧Ｖｓの一定期間（例え
ば３標本化期間）における平均値Ｖｓａを求める平均値
演算機能。 前記の平均値演算手段で求めた平均値Ｖｓａを標準
電圧値レジスタ６８の標準電圧値Ｖｒと比較し、Ｖｓａ
＜Ｖｒのときに発光素子１６の発光エネルギを上げるた
めの制御信号をレジスタ７８を介して発光素子１６側へ
出力し、Ｖｓａ＞Ｖｒのときに発光素子１６の発光エネ
ルギを下げるための制御信号をレジスタ７８を介して発
光素子１６側へ出力する発光部制御機能。 前記の平均値演算機能で求めた平均値Ｖｓａが、受
光素子１７の受光エネルギーが途切れたときに相当して
予め設定された下限設定値Ｖｂ以下か否かを判別する下
限判別機能。 前記の下限判別機能により平均値Ｖｓａが下限設定
値Ｖｂ以下と判別されたときに、レジスタ７８の現在の
置数値と直前の置数値との積分値を演算し、この積分値
を積分処理メモリ７０に記憶するとともに、レジスタ７
８を介して発光素子１６側へ出力する積分処理機能。 レジスタ７８に置数された制御信号と極限値レジスタ
８０に置数された極限値Ｖｕとを比較し、制御信号が極
限値Ｖｕ以上のときに発光素子１６の発光エネルギーが
極限になったことを報知するための信号を報知部７６へ
出力する報知部制御機能。

【００３５】前記Ｄ／Ａ変換回路７２は、前記ＭＰＵ６
６内のレジスタ７８に置数された制御値をアナログの電
圧に変換して出力し、前記電圧・電流変換回路７４は、
前記Ｄ／Ａ変換回路７２から出力した電圧を電流に変換
して前記発光素子１６へ出力する。

【００３６】つぎに、図６の作用を図７及び図８を併用
して説明する。 （イ）電流・電圧変換回路２６は、受光素子１７の受光
エネルギーに相当した電流を電圧Ｅｓに変換し、この電
圧Ｅｓを比較器２７の＋入力側に出力する。Ａ／Ｄ変換
回路４２は、電流・電圧変換回路２６の出力電圧Ｅｓを
ディジタルの電圧Ｖｓに変換し、この電圧ＶｓをＭＰＵ
６６へ出力する。

【００３７】（ロ）ＭＰＵ６６は、その平均値演算機能
によって、一定期間（例えば３標本化期間）における
入力電圧Ｖｓについての平均値Ｖｓａを演算し、発光部
制御機能によって、平均値Ｖｓａを標準電圧値Ｖｒと
比較し、Ｖｓａ＜Ｖｒのときに発光素子１６の発光エネ
ルギを上げるための制御信号をレジスタ７８を介して発
光素子１６側へ出力し、Ｖｓａ＞Ｖｒのときに発光素子
１６の発光エネルギを下げるための制御信号をレジスタ
７８を介して発光素子１６側へ出力する。このＭＰＵ６
６のレジスタ７８から出力した制御信号はＤ／Ａ変換回
路７２でアナログの電圧に変換され、電圧・電流変換回
路７４で電流に変換されて発光素子１６に供給される。
このため、発光素子１６の発光エネルギーＨＥは、図７
に示すように走査角度θに対して変化し、受光素子１７
の受光エネルギーＪＥａは、図８に示すように光走査範
囲内の走査角度θに対して一定となるとともに、対象物
２４ａ、２４ｂに対応したＡ、Ｂの下端点より高いレベ
ルとなる。したがって、対象物２４ａ、２４ｂの何れに
対しても、比較器２７の出力側に検出信号が現われ、て
対象物２４ａ、２４ｂが有ることを判別できる。すなわ
ち、走査角度θや雑音に起因する誤った対象物情報の検
出を防止することができる。さらに、受光エネルギーの
平均値（平均値Ｖｓａに相当するエネルギー）が一定と
なるように発光素子１７の発光エネルギーを制御してい
るので、対象物２４ａ、２４ｂによって遮られた光エネ
ルギーのＤＣ値（ノイズ成分）が上がらないように制御
することができる。また、図６の場合では、図７に示す
ように、発光素子１６の発光エネルギーＨＥが従来例の
ＨＥｃより小さくなるので、エネルギーを節約できる。

【００３８】（ハ）対象物２４ａ、２４ｂによって受光
素子１７の受光エネルギーＪＥが途切れた場合、ＭＰＵ
６６が、その下限判別機能の判別信号に基づく積分処
理機能によって、レジスタ７８に置数する現在の制御
信号と直前まで置数していた制御信号との積分値を演算
し、この積分値を積分処理メモリ７０に記憶するととも
にレジスタ７８を介してＤ／Ａ変換回路７２へ出力する
ので、発光素子１６の発光エネルギーが急激に上昇する
のを防止している。

【００３９】（ニ）受光エネルギーの平均値に相当した
平均値Ｖｓａを標準電圧値Ｖｒと比較し、比較出力で発
光素子１６の発光エネルギーを制御するフィードバック
制御としたので、受光素子１７の感度や発光素子１６の
発光効率が経年変化である程度劣化しても、又はスキャ
ンミラー２２や再帰性反射体１２が埃等である程度汚れ
ても、対象物２４ａ、２４ｂが有るか否かの情報を正し
く検出することができる。

【００４０】（ホ）本発明による対象物情報検出装置を
複数連携して使用する場合には、各装置の標準電圧値レ
ジスタの標準電圧値Ｖｒを共用することによって、同品
質の検出感度（受信感度）を維持することができる。す
なわち、標準電圧値Ｖｒを共用することによって各装置
の受光素子の受光エネルギーを一定に保つことが可能と
なり、各装置の発光素子の発光効率のバラツキや受光素
子の感度のバラツキが制御されるので、発光素子の発光
効率や受光素子の感度のバラツキに起因する対象物情報
の検出誤差を防止できる。例えば、一方の装置の標準電
圧値Ｖｒ₁が他方の装置の標準電圧値Ｖｒ₂より小さいた
め、発光素子の発光効率や受光素子の感度のバラツキに
よって、図９に実線で示すように、標準電圧値をＶｒ₁
とした一方の装置の受光エネルギーＪＥ₁のレベルの一
部にスライスレベルＳＬとの間で逆転現象が生じた場合
には、同図に１点鎖線で示すような逆転現象が生じない
他方の装置の受光エネルギーＪＥ₂に対応したＶｒ₂を共
通の標準電圧値として共用すれば、発光素子の発光効率
や受光素子の感度のバラツキに起因する対象物情報の検
出誤差を防止できる。この場合、必要に応じてスライス
レベルＳＬを逆転現象が生じない範囲で上げることによ
って、装置の検出感度を同一に保つことができる。

【００４１】（ヘ）受光素子１７の感度や発光素子１６
の発光効率が経年変化によって限度以上劣化し、又はス
キャンミラー２２や再帰性反射体１２が埃等である限度
以上汚れて、レジスタに７８に置数された制御信号が極
限レジスタ８０に置数された極限値Ｖｕ以上になると、
ＭＰＵ６６は、その報知部制御機能によって報知部７
６へ報知信号を出力し、警告ランプや警告ブザーを作動
して特性劣化や汚れが限度以上に達していることを報知
する。

【００４２】図６の実施形態例では、積分処理メモリ７
０を設け、平均値が下限設定値以下と判別されたとき
に、ＭＰＵ６６の積分処理機能によってレジスタ７８
に置数する現在の制御信号と直前まで置数していた制御
信号との積分値を演算し、この積分値を積分処理メモリ
７０に記憶するとともにレジスタ７８を介してＤ／Ａ変
換回路７２へ出力することによって、対象物２４ａ、２
４ｂで受光素子１７の受光エネルギーＪＥが途切れても
発光素子１６の発光エネルギーが急激に上昇しないよう
にしたが、本発明はこれに限るものでなく、積分処理メ
モリ７０を省略するとともに、積分処理機能の代わり
に置数値保持機能をＭＰＵ６６に付加することによっ
て、対象物２４ａ、２４ｂによって受光素子１７の受光
エネルギーＪＥが途切れても発光素子１６の発光エネル
ギーが急激に上昇しないようにしてもよい。この置数値
保持機能は、平均値が下限設定値以下と判別されたと
きに、レジスタ７８の置数値を更新せずに直前の置数値
を保持する機能を表す。

【００４３】図６の実施形態例では、報知部７６を設け
るとともに、ＭＰＵ６６に報知部制御機能を設けるこ
とによって、レジスタ７８に置数された制御信号と極限
値レジスタ８０に置数された極限値Ｖｕとを比較し、制
御信号が極限値Ｖｕ以上のときに報知部７６の警告ラン
プや警告ブザーを作動し、受光素子１７の感度や発光素
子１６の発光効率が経年変化によって限度以上劣化し、
又はスキャンミラー２２や再帰性反射体１２が埃等であ
る限度以上汚れてていることを報知するようにしたが、
本発明はこれに限るものでなく、例えば図１０に示すよ
うに、報知部制御機能を省略したＭＰＵ６６ａを設
け、報知部７６の代わりに可視光発光手段８２を設ける
ようにしてもよい。この可視光発光手段８２は直列接続
されたツエナーダイオード８４と発光ダイオード８６か
らなり、Ｄ／Ａ変換回路７２から電圧・電流変換回路７
４へ出力するアナログの制御電圧を分岐して取り出し、
この制御電圧をツエナーダイオード８４を介して発光ダ
イオード８６へ供給し、制御電圧が予め設定された極限
値を越えたときに発光ダイオード８６から可視光を発光
し、受光素子１７の感度や発光素子１６の発光効率が経
年変化によって限度以上劣化し、又はスキャンミラー２
２や再帰性反射体１２が埃等で限度以上汚れてているこ
とを報知するようにしてもよい。

【００４４】図６の実施形態例では、極限値設定手段及
び報知手段、又は可視光発光手段を設けることによて、
受光素子１７の感度や発光素子１６の発光効率が経年変
化によって限度以上劣化し、又はスキャンミラー２２や
再帰性反射体１２が埃等である限度以上汚れてているこ
とを報知するようにしたが、本発明はこれに限るもので
なく、極限値設定手段及び報知手段、及び可視光発光手
段を省略した場合についても利用することができる。

【００４５】図６の実施形態例では、発光部制御手段が
制御信号を一時的に置数するレジスタを具備し、平均値
演算手段で求めた平均値が下限設定値以下か否かを判別
する下限判別手段を設け、この下限判別手段で平均値が
下限設定値以下と判別されたときにレジスタの置数値と
直前の置数値との積分値を発光部へ出力する制御信号と
する積分処理手段、又は下限判別手段で平均値が下限設
定値以下と判別されたときにレジスタの置数値を更新せ
ずに直前の置数値を保持する置数値保持手段を設けた場
合について説明したが、本発明はこれに限るものでな
く、レジスタ及び下限判別手段を省略するとともに、積
分処理手段及び置数値保持手段を省略した場合について
も利用することができる。

【００４６】図６の実施形態例では、発光エネルギー制
御手段は、受光素子の受光エネルギーに相当した信号を
ディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路と、このＡ／
Ｄ変換回路の出力信号の一定期間における平均値を求め
る平均値演算手段と、この平均値演算手段で求めた平均
値を標準値と比較し、平均値が標準値より小さいときは
発光エネルギを上げるための制御信号を発光素子へ出力
し、平均値が標準値より大きいときは発光エネルギを下
げるための制御信号を発光素子へ出力する発光部制御手
段とで構成された場合について説明したが、本発明はこ
れに限るものでなく、受光素子の受光エネルギーが一定
となるように発光素子の発光エネルギーを制御するもの
であればよい。

【００４７】

【発明の効果】請求項１の発明は、発光部からの光を回
転可能なスキャンミラーで反射させて再帰性反射体に照
射し、この再帰性反射体で反射した光をスキャンミラー
の反射を介して受光部で受光し、受光エネルギーをしき
い値と比較することによって、スキャンミラーと再帰性
反射体の間に形成された光走査範囲内の対象物情報を検
出する装置において、受光部の受光エネルギーに応じて
しきい値を変化させるしきい値可変手段を設け、走査角
度θによって受光部の受光エネルギーに差がでてきた
り、近傍の障害物からの乱反射等による雑音によって受
光部の受光エネルギーが一定レベルもち上がっても、し
きい値可変手段によって受光エネルギーと比較するしき
い値が受光部の受光エネルギーに応じて変化するように
したので、走査角度θや雑音に起因する誤った対象物情
報の検出を防止し、対象物が光走査範囲内の何処にあっ
ても正しい対象物情報を得ることができる。

【００４８】請求項２の発明は、請求項１の発明におい
て、しきい値可変手段を、受光部の受光エネルギーに相
当した電圧を一定比率で分圧する分圧回路と、この分圧
回路に結合され積分値をしきい値として出力する積分回
路とで構成したので、しきい値可変手段の構成を簡単に
することができる。

【００４９】請求項３の発明は、請求項１の発明におい
て、しきい値可変手段を、受光部の受光エネルギーに相
当した信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路
と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期間の平均値
を求める平均値算出回路と、この平均値算出回路で求め
た平均値からＡ／Ｄ変換回路の出力信号に応じて可変可
能な定数を減算する可変定数減算回路と、この可変定数
減算回路の演算値をアナログ信号に変換ししきい値とし
て出力するＤ／Ａ変換回路とで構成したので、しきい値
可変手段の構成を簡単にすることができる。

【００５０】請求項４の発明は、請求項３の発明におい
て、可変定数減算回路を、平均値算出回路で求めた平均
値から相異なる定数Ｋ１、Ｋ２（Ｋ１＜Ｋ２）を減算す
る第１、第２減算器と、Ａ／Ｄ変換回路の出力信号と第
１、第２減算器の一方の演算値とを比較する比較器と、
この比較器の比較出力に応じて第１、第２減算器の演算
値の一方を選択して出力するセレクタとで構成したの
で、信号の強弱でＳ／Ｎ比が極端に変化し、受光エネル
ギーがなだらかに変化する途中で急激に変化した場合で
も、逆転現象に起因する誤った対象物情報の検出をしな
いようにすることができる。

【００５１】請求項５の発明は、請求項１の発明におい
て、受光エネルギーに相当した信号を一定期間遅延させ
しきい値と比較する信号として出力する遅延手段を設
け、しきい値可変手段を、受光部の受光エネルギーに相
当した信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路
と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期間の平均値
を求める平均値算出回路と、この平均値算出回路で求め
た平均値から一定の定数を減算する減算回路と、この減
算回路の演算値をアナログ信号に変換ししきい値として
出力するＤ／Ａ変換回路とで構成したので、信号の強弱
でＳ／Ｎ比が極端に変化し、受光エネルギーが急激な増
加から急激な減少へ変化した場合でも、逆転現象に起因
する誤った対象物情報の検出をしないようにすることが
できる。

【００５２】請求項６の発明は、発光部からの光を回転
可能なスキャンミラーで反射させて再帰性反射体に照射
し、この再帰性反射体で反射した光をスキャンミラーの
反射を介して受光部で受光し、受光エネルギーをしきい
値と比較することによって、スキャンミラーと再帰性反
射体の間に形成された光走査範囲内の対象物情報を検出
する装置において、受光部の受光エネルギーが一定とな
るように発光部の発光エネルギーを制御する発光エネル
ギー制御手段を設け、走査角度θや雑音によって、受光
部の受光エネルギーが予め設定した標準値より大きくな
る又は小さくなる方向へ変化すると、この変化に応じて
発光エネルギー制御手段が発光部の発光エネルギーを小
さく又は大きくする方向へ変化させ、受光部の受光エネ
ルギーを一定値に制御するので、走査角度θや雑音に起
因する誤った対象物情報の検出を防止し、対象物が光走
査範囲内の何処にあっても正しい対象物情報を得ること
ができる。

【００５３】請求項７の発明は、請求項６の発明におい
て、発光エネルギー制御手段を、受光部の受光エネルギ
ーに相当した信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
換回路と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期間に
おける平均値を求める平均値演算手段と、この平均値演
算手段で求めた平均値を予め設定した標準値と比較し、
平均値が標準値より小さいときは発光エネルギを上げる
ための制御信号を発光部へ出力し、平均値が標準値より
大きいときは発光エネルギを下げるための制御信号を発
光部へ出力する発光部制御手段とで構成したので、発光
エネルギー制御手段の構成を簡単にすることができる。

【００５４】請求項８の発明は、請求項７の発明におい
て、発光部制御手段に発光部へ出力する制御信号を一時
的に置数するレジスタを設け、平均値演算手段で求めた
平均値が予め設定した下限設定値以下か否かを判別する
下限判別手段と、この下限判別手段により平均値が下限
設定値以下と判別されたときに、レジスタの置数値を更
新せずに直前の置数値を保持する置数値保持手段とを設
けたので、対象物によって受光部の受光エネルギーが途
切れたときに、直ぐに発光部の発光エネルギーを上げる
処理を行わないようにすることができる。

【００５５】請求項９の発明は、請求項７の発明におい
て、発光部制御手段に制御信号を一時的に置数するレジ
スタを設け、平均値演算手段で求めた平均値が下限設定
値以下か否かを判別する下限判別手段と、この下限判別
手段により平均値が下限設定値以下と判別されたとき
に、レジスタの置数値と直前の置数値との積分値を発光
部へ出力する制御信号とする積分処理手段とを設けたの
で、対象物によって受光部の受光エネルギーが途切れた
ときに、直ぐに発光部の発光エネルギーを上げる処理を
行わないようにすることができる。

【００５６】請求項１０の発明は、請求項６、７、８又
は９の発明において、発光部の発光エネルギーの最大値
に相当した極限値を予め設定する極限値設定手段と、発
光部の発光エネルギーを制御するための制御信号と極限
値設定手段で設定された極限値とを比較する比較手段
と、この比較手段の比較出力に基づいて発光部の発光エ
ネルギーが極限になったことを報知する報知手段とを設
けたので、発光部の発光エネルギーが極限になったこと
を報知することができる。

【００５７】請求項１１の発明は、請求項６、７、８又
は９の発明において、制御手段から発光部側へ出力する
制御信号が極限値を越えたときに可視光を発光する可視
光発光手段を設けたので、発光部の発光エネルギーが極
限になったことを可視光で報知することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光走査による対象物情報検出装置
の一実施形態例を示すブロック図である。

【図２】図１の作用を説明する受光エネルギーの特性図
である。

【図３】図１のしきい値可変手段の他の実施形態例を示
すブロック図である。

【図４】図３の作用を説明する受光エネルギーの特性図
である。

【図５】図３において、可変定数減算回路４６を単なる
減算器で置き換えるとともに、遅延回路６４を挿入した
実施形態例の作用を説明する受光エネルギーの特性図で
ある。

【図６】本発明に係る光走査による対象物情報検出装置
の他の実施形態例を示すブロック図である。

【図７】図６中の発光素子の発光エネルギーの特性図で
ある。

【図８】図６中の受光素子の受光エネルギーの特性図で
ある。

【図９】図６に係る装置を２個連携して使用する場合の
標準電圧値レジスタに置数する標準電圧値を共用する場
合を説明する受光エネルギーの特性図である。

【図１０】図６の実施形態例において、一部を省略し、
一部を変更し、一部を付加した実施形態例の要部を示す
ブロック図である。

【図１１】本発明を利用した光走査による対象物情報検
出装置の平面図である。

【図１２】図１１中の光走査ユニットの取付け状態を示
す側面図である。

【図１３】図１１の装置に用いる電気回路の従来例を示
すブロック図である。

【図１４】図１３の作用を説明する受光エネルギー特性
図である。

【符号の説明】

１１…光走査ユニット、 １２…再帰性反射体、 １６
…発光素子、 １７…受光素子、 １８…発光素子１６
から出力した光、 ２４ａ、２４ｂ…対象物、２５…障
害物、 ２６…電流・電圧変換回路、 ２７…比較器、
２９…ＭＰＵ（マイクロプロセッサ）、 ３０、３０
ａ…しきい値可変手段、 ３２…分圧回路、 ３４…積
分回路、 ３６、３８…抵抗、 ４０…コンデンサ、
４２…Ａ／Ｄ変換回路、 ４４…平均値算出回路、 ４
６…可変定数減算回路、 ４８、７２…Ｄ／Ａ変換回
路、 ５０₁〜５０₃…シフトレジスタ、 ５２…加算
器、５４…除算器、 ５６、５８…減算器、 ６０…比
較器、 ６２…セレクタ、６４…遅延回路、 ６６、６
６ａ…ＭＰＵ（発光エネルギー制御手段の要部を構成す
るマイクロプロセッサ）、 ６８…標準電圧値レジス
タ、 ７０…積分処理メモリ、 ７４…電圧・電流変換
回路、 ７６…報知部、 ７８…レジスタ、８０…極限
値レジスタ、 ８２…可視光発光手段、 ８４…ツエナ
ーダイオード、 ８６…発光ダイオード、 Ａ…受光エ
ネルギーＪＥの特性曲線のうちの対象物２４ａに対応し
た部分、 Ｂ…受光エネルギーＪＥの特性曲線のうちの
対象物２４ｂに対応した部分、 ＪＥ、ＪＥａ、Ｊ
Ｅ₁、ＪＥ₂…受光エネルギー、Ｋ１、Ｋ２…定数、 Ｓ
Ｌ、ＳＬａ…スライスレベル。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岸 俊行 神奈川県川崎市高津区末長1116番地 株式 会社富士通ゼネラル内 (72)発明者 中沢 文彦 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】発光部からの光を回転可能なスキャンミラ
   ーで反射させて再帰性反射体に照射し、この再帰性反射
   体で反射した光を前記スキャンミラーの反射を介して受
   光部で受光し、受光エネルギーをしきい値と比較するこ
   とによって、前記スキャンミラーと前記再帰性反射体の
   間に形成された光走査範囲内の対象物情報を検出する装
   置において、前記受光部の受光エネルギーに応じて前記
   しきい値を変化させるしきい値可変手段を設けてなるこ
   とを特徴とする光走査による対象物情報検出装置。
2. 【請求項２】しきい値可変手段は、受光部の受光エネル
   ギーに相当した電圧を一定比率で分圧する分圧回路と、
   この分圧回路に結合され積分値をしきい値として出力す
   る積分回路とからなる請求項１記載の光走査による対象
   物情報検出装置。
3. 【請求項３】しきい値可変手段は、受光部の受光エネル
   ギーに相当した信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ
   変換回路と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期間
   の平均値を求める平均値算出回路と、この平均値算出回
   路で求めた平均値から前記Ａ／Ｄ変換回路の出力信号に
   応じて可変可能な定数を減算する可変定数減算回路と、
   この可変定数減算回路の演算値をアナログ信号に変換し
   しきい値として出力するＤ／Ａ変換回路とからなる請求
   項１記載の光走査による対象物情報検出装置。
4. 【請求項４】可変定数減算回路は、平均値算出回路で求
   めた平均値から相異なる定数Ｋ１、Ｋ２（Ｋ１＜Ｋ２）
   を減算する第１、第２減算器と、Ａ／Ｄ変換回路の出力
   信号と前記第１、第２減算器の一方の演算値とを比較す
   る比較器と、この比較器の比較出力に応じて前記第１、
   第２減算器の演算値の一方を選択して出力するセレクタ
   とからなる請求項３記載の光走査による対象物情報検出
   装置。
5. 【請求項５】受光エネルギーに相当した信号を一定期間
   遅延させしきい値と比較する信号として出力する遅延手
   段を設け、しきい値可変手段は、受光部の受光エネルギ
   ーに相当した信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変
   換回路と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一定期間の
   平均値を求める平均値算出回路と、この平均値算出回路
   で求めた平均値から一定の定数を減算する減算回路と、
   この減算回路の演算値をアナログ信号に変換ししきい値
   として出力するＤ／Ａ変換回路とからなる請求項１記載
   の光走査による対象物情報検出装置。
6. 【請求項６】発光部からの光を回転可能なスキャンミラ
   ーで反射させて再帰性反射体に照射し、この再帰性反射
   体で反射した光を前記スキャンミラーの反射を介して受
   光部で受光し、受光エネルギーをしきい値と比較するこ
   とによって、前記スキャンミラーと前記再帰性反射体の
   間に形成された光走査範囲内の対象物情報を検出する装
   置において、前記受光部の受光エネルギーが一定となる
   ように前記発光部の発光エネルギーを制御する発光エネ
   ルギー制御手段を設けてなることを特徴とする光走査に
   よる対象物情報検出装置。
7. 【請求項７】発光エネルギー制御手段は、受光部の受光
   エネルギーに相当した信号をディジタル信号に変換する
   Ａ／Ｄ変換回路と、このＡ／Ｄ変換回路の出力信号の一
   定期間における平均値を求める平均値演算手段と、この
   平均値演算手段で求めた平均値を予め設定した標準値と
   比較し、前記平均値が前記標準値より小さいときは発光
   エネルギを上げるための制御信号を発光部へ出力し、前
   記平均値が前記標準値より大きいときは発光エネルギを
   下げるための制御信号を前記発光部へ出力する発光部制
   御手段とを具備してなる請求項６記載の光走査による対
   象物情報検出装置。
8. 【請求項８】発光部制御手段は発光部へ出力する制御信
   号を一時的に置数するレジスタを具備してなり、平均値
   演算手段で求めた平均値が予め設定した下限設定値以下
   か否かを判別する下限判別手段と、この下限判別手段に
   より平均値が下限設定値以下と判別されたときに、前記
   レジスタの置数値を更新せずに直前の置数値を保持する
   置数値保持手段とを設けてなる請求項７記載の光走査に
   よる対象物情報検出装置。
9. 【請求項９】発光部制御手段は発光部へ出力する制御信
   号を一時的に置数するレジスタを具備してなり、平均値
   演算手段で求めた平均値が下限設定値以下か否かを判別
   する下限判別手段と、この下限判別手段により平均値が
   下限設定値以下と判別されたときに、前記レジスタの置
   数値と直前の置数値との積分値を発光部へ出力する制御
   信号とする積分処理手段とを設けてなる請求項７記載の
   光走査による対象物情報検出装置。
10. 【請求項１０】発光部の発光エネルギーの極限値を予め
    設定する極限値設定手段と、前記発光部の発光エネルギ
    ーを制御するための制御信号と前記極限値設定手段で設
    定された極限値とを比較し、前記制御信号が前記極限値
    以上のときにこれを報知する報知手段とを設けてなる請
    求項７、８又は９記載の光走査による対象物情報検出装
    置。
11. 【請求項１１】発光部制御手段から発光部側へ出力する
    制御信号が予め設定された極限値を越えたときに可視光
    を発光する可視光発光手段を設けてなる請求項７、８又
    は９記載の光走査による対象物情報検出装置。