JPH11231250A - 走査光学装置 - Google Patents
走査光学装置Info
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- JPH11231250A JPH11231250A JP5438898A JP5438898A JPH11231250A JP H11231250 A JPH11231250 A JP H11231250A JP 5438898 A JP5438898 A JP 5438898A JP 5438898 A JP5438898 A JP 5438898A JP H11231250 A JPH11231250 A JP H11231250A
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- scanning optical
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、特別な接地用部材を付加することな
く、接地を安価で容易に行うことができる走査光学装置
を提供することを目的としている。 【解決手段】本発明は、光源部と、偏向ミラーをスキャ
ナモータ等によって高速回転させ該光源部からの光束を
偏向する偏向器と、該偏向器により偏向された光束を所
定面上に集光するレンズ等を備え、これらを収納した光
学箱に金属製の蓋をネジで固定してなる走査光学装置で
あって、該ネジの少なくとも1つは前記光学箱を貫通し
てその先端が接地された金属の光学台に当接する軸部を
備え、該光学台に前記走査光学装置を取り付けた際、該
軸部先端の該光学台への当接によって該金属製の蓋を接
地するように構成したことを特徴とするものである。
く、接地を安価で容易に行うことができる走査光学装置
を提供することを目的としている。 【解決手段】本発明は、光源部と、偏向ミラーをスキャ
ナモータ等によって高速回転させ該光源部からの光束を
偏向する偏向器と、該偏向器により偏向された光束を所
定面上に集光するレンズ等を備え、これらを収納した光
学箱に金属製の蓋をネジで固定してなる走査光学装置で
あって、該ネジの少なくとも1つは前記光学箱を貫通し
てその先端が接地された金属の光学台に当接する軸部を
備え、該光学台に前記走査光学装置を取り付けた際、該
軸部先端の該光学台への当接によって該金属製の蓋を接
地するように構成したことを特徴とするものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザビームプリ
ンタ等においてレーザビーム偏向用に使用される偏向器
を備えた走査光学装置に関する。
ンタ等においてレーザビーム偏向用に使用される偏向器
を備えた走査光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6に、従来例である走査光学装置の光
学系の構成を示す。図6において、光の進行方向に沿っ
て説明すると、101は光源である半導体レーザであ
る。単一の点光源からレーザ光は、発散しながら出射さ
れるが、102のコリメータレンズを透過することで、
発散光束から平行状態へと変換される。コリメータレン
ズ102の近傍には、103の開口絞りがあり、その絞
り形状に従ってビーム形が決められる。この光ビーム
は、104のシリンドリカルレンズを透過することによ
り、その一方向だけ収束作用をうけて105のポリゴン
ミラー上に線状に集光される。ポリゴンミラー105
は、スキャナモータ106に固定されており、矢印a方
向に高速に回転している。ポリゴンミラー105の鏡面
105aで反射された光ビームはスキャナモータ106
の回転に伴って、高速に偏向走査される。さらに、光ビ
ームは107の球面レンズ、108のトーリックレンズ
から構成されるfθレンズを透過することにより、感光
体ドラム109上に微小なスポットに結像される。
学系の構成を示す。図6において、光の進行方向に沿っ
て説明すると、101は光源である半導体レーザであ
る。単一の点光源からレーザ光は、発散しながら出射さ
れるが、102のコリメータレンズを透過することで、
発散光束から平行状態へと変換される。コリメータレン
ズ102の近傍には、103の開口絞りがあり、その絞
り形状に従ってビーム形が決められる。この光ビーム
は、104のシリンドリカルレンズを透過することによ
り、その一方向だけ収束作用をうけて105のポリゴン
ミラー上に線状に集光される。ポリゴンミラー105
は、スキャナモータ106に固定されており、矢印a方
向に高速に回転している。ポリゴンミラー105の鏡面
105aで反射された光ビームはスキャナモータ106
の回転に伴って、高速に偏向走査される。さらに、光ビ
ームは107の球面レンズ、108のトーリックレンズ
から構成されるfθレンズを透過することにより、感光
体ドラム109上に微小なスポットに結像される。
【0003】また、fθレンズを透過することにより、
ポリゴンミラー105で等角速度で偏向走査された光ビ
ームは、感光体ドラム109上で光スポットが等速度で
走査されるように変換される。光スポットは、感光体ド
ラム109上を矢印b方向に繰り返し走査されるが、ポ
リゴンミラー105の反射面の分割誤差があると、繰り
返して走査情報を書き込むタイミングがずれるために、
各反射面で偏向走査された先頭部の光ビームを検知して
いる。画像非有効部の光ビーム110は、111の固定
ミラーで反射され、112の集光レンズを介して、11
3のタイミング検知用センサに導かれる。光学箱114
(不図示)は、以上示した走査光学装置の要素を収納し
ており、光学箱114に蓋115(不図示)が取り付け
られて走査光学装置が完成する。
ポリゴンミラー105で等角速度で偏向走査された光ビ
ームは、感光体ドラム109上で光スポットが等速度で
走査されるように変換される。光スポットは、感光体ド
ラム109上を矢印b方向に繰り返し走査されるが、ポ
リゴンミラー105の反射面の分割誤差があると、繰り
返して走査情報を書き込むタイミングがずれるために、
各反射面で偏向走査された先頭部の光ビームを検知して
いる。画像非有効部の光ビーム110は、111の固定
ミラーで反射され、112の集光レンズを介して、11
3のタイミング検知用センサに導かれる。光学箱114
(不図示)は、以上示した走査光学装置の要素を収納し
ており、光学箱114に蓋115(不図示)が取り付け
られて走査光学装置が完成する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな走査光学装置において、近年は、より高精細でより
高速なプリンターの要求が強くなってきた。これに対応
するため、ポリゴンミラーをより高速回転させると、ポ
リゴンミラーの有効反射面に外部から侵入した塵埃が付
着し、反射率が低下して画像に不良を生じる。そのため
更なる光学箱の密閉が要求されている。また、ポリゴン
ミラーを高速回転させることで騒音が大きくなる。騒音
の観点からも、更なる光学箱の密閉が要求されている。
うな走査光学装置において、近年は、より高精細でより
高速なプリンターの要求が強くなってきた。これに対応
するため、ポリゴンミラーをより高速回転させると、ポ
リゴンミラーの有効反射面に外部から侵入した塵埃が付
着し、反射率が低下して画像に不良を生じる。そのため
更なる光学箱の密閉が要求されている。また、ポリゴン
ミラーを高速回転させることで騒音が大きくなる。騒音
の観点からも、更なる光学箱の密閉が要求されている。
【0005】蓋部材には、通常、樹脂成型品か金属板を
用いるが、蓋に金属を用いれば、樹脂成型品に比べ蓋の
反りによる光学箱との隙間を少なくでき、光学箱の密閉
性を上げることができる。しかしながら、走査光学装置
には、レーザユニットやスキャナモータ等高周波の信号
を取り扱う部材が含まれており、蓋が金属製であるとこ
の蓋がアンテナとなりここから外部へ電磁波を発生させ
るいわゆる放射ノイズが問題となる。そのため、蓋を接
地する必要があり、従来においては、接地するためにア
ース線やアース板が用いられていたが、これらはコスト
が高く、また組み立て性が悪いという点等に問題があっ
た。
用いるが、蓋に金属を用いれば、樹脂成型品に比べ蓋の
反りによる光学箱との隙間を少なくでき、光学箱の密閉
性を上げることができる。しかしながら、走査光学装置
には、レーザユニットやスキャナモータ等高周波の信号
を取り扱う部材が含まれており、蓋が金属製であるとこ
の蓋がアンテナとなりここから外部へ電磁波を発生させ
るいわゆる放射ノイズが問題となる。そのため、蓋を接
地する必要があり、従来においては、接地するためにア
ース線やアース板が用いられていたが、これらはコスト
が高く、また組み立て性が悪いという点等に問題があっ
た。
【0006】そこで、本発明は、上記した従来のものに
おける課題を解決し、特別な接地用部材を付加すること
なく、接地を安価で容易に行うことができる走査光学装
置を提供することを目的とするものである。
おける課題を解決し、特別な接地用部材を付加すること
なく、接地を安価で容易に行うことができる走査光学装
置を提供することを目的とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を達
成するために、走査光学装置をつぎのように構成したこ
とを特徴とするものである。すなわち、本発明の走査光
学装置は、光源部と、偏向ミラーをスキャナモータ等に
よって高速回転させ該光源部からの光束を偏向する偏向
器と、該偏向器により偏向された光束を所定面上に集光
するレンズ等を備え、これらを収納した光学箱に金属製
の蓋をネジで固定してなる走査光学装置であって、該ネ
ジの少なくとも1つは前記光学箱を貫通してその先端が
接地された金属の光学台に当接する軸部を備え、該光学
台に前記走査光学装置を取り付けた際、該軸部先端の該
光学台への当接によって該金属製の蓋を接地するように
構成したことを特徴としている。また、本発明の走査光
学装置は、前記軸部先端が、円錐形状であることを特徴
としている。また、本発明の走査光学装置は、前記軸部
先端には、断面V字状の凹部が設けられていることを特
徴としている。また、本発明の走査光学装置は、前記軸
部には、一部に軸方向とほぼ垂直に穴が設けられている
ことを特徴としている。
成するために、走査光学装置をつぎのように構成したこ
とを特徴とするものである。すなわち、本発明の走査光
学装置は、光源部と、偏向ミラーをスキャナモータ等に
よって高速回転させ該光源部からの光束を偏向する偏向
器と、該偏向器により偏向された光束を所定面上に集光
するレンズ等を備え、これらを収納した光学箱に金属製
の蓋をネジで固定してなる走査光学装置であって、該ネ
ジの少なくとも1つは前記光学箱を貫通してその先端が
接地された金属の光学台に当接する軸部を備え、該光学
台に前記走査光学装置を取り付けた際、該軸部先端の該
光学台への当接によって該金属製の蓋を接地するように
構成したことを特徴としている。また、本発明の走査光
学装置は、前記軸部先端が、円錐形状であることを特徴
としている。また、本発明の走査光学装置は、前記軸部
先端には、断面V字状の凹部が設けられていることを特
徴としている。また、本発明の走査光学装置は、前記軸
部には、一部に軸方向とほぼ垂直に穴が設けられている
ことを特徴としている。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明は、上記したように、光学
箱に蓋を固定するためのネジの少なくとも1つが、光学
箱を貫通してその先端が接地された金属の光学台に当接
する軸部を備え、光学台に走査光学装置を取り付けた
際、軸部先端の光学台への当接によって金属製の蓋を接
地するように構成されているから、前記ネジを介して前
記蓋を容易に接地されることが可能となり、特別な接地
用部材を付加する必要はなく接地を安価で容易に行うこ
とができる。また、本発明においては、前記ネジ先端か
ら伸びる軸部の先端形状を円錐形状とすることにより、
接地をより確実に行うことができる。また、本発明にお
いては、前記ネジ先端から伸びる軸部の先端に断面V字
状の凹部を設けることでも、接地を確実に行うことがで
きる。また、本発明においては、前記ネジの先端から伸
びる軸部の一部に軸方向とほぼ垂直に穴を設けるように
することによって、軸部先端が光学台に当接した際の光
学ステーからの反力を前記ネジの弾性変形で吸収して、
光学箱のゆがみ、すなわち光学特性の変化を低減するこ
とができる。
箱に蓋を固定するためのネジの少なくとも1つが、光学
箱を貫通してその先端が接地された金属の光学台に当接
する軸部を備え、光学台に走査光学装置を取り付けた
際、軸部先端の光学台への当接によって金属製の蓋を接
地するように構成されているから、前記ネジを介して前
記蓋を容易に接地されることが可能となり、特別な接地
用部材を付加する必要はなく接地を安価で容易に行うこ
とができる。また、本発明においては、前記ネジ先端か
ら伸びる軸部の先端形状を円錐形状とすることにより、
接地をより確実に行うことができる。また、本発明にお
いては、前記ネジ先端から伸びる軸部の先端に断面V字
状の凹部を設けることでも、接地を確実に行うことがで
きる。また、本発明においては、前記ネジの先端から伸
びる軸部の一部に軸方向とほぼ垂直に穴を設けるように
することによって、軸部先端が光学台に当接した際の光
学ステーからの反力を前記ネジの弾性変形で吸収して、
光学箱のゆがみ、すなわち光学特性の変化を低減するこ
とができる。
【0009】
【実施例】以下に、本発明の実施例について説明する。 [実施例1]本発明の実施例1を図1〜図2を用いて説
明する。図2は、レーザビームプリンタにおいて用いら
れ、感光体を光束によって走査するための、本発明にお
ける実施例1の、走査光学装置の構成を説明する平面図
であり、走査光学装置に含まれる各構成部材の機能を説
明するための図である。図2にはその蓋11を取り除い
た平面図が示されている。走査光学装置は、光学箱1
0、半導体レーザ装置1、半導体レーザ装置1から発生
する光束を平行光束にするコリメータレンズ2、コリメ
ータレンズ2からの平行光束を線状に集光するシリンド
リカルレンズ3、シリンドリカルレンズ3によって集光
されてできる光束の線像の近傍に偏向反射面4aを有す
るポリゴンミラー4と、これを回転させる手段であるス
キャナモータ5、fθレンズ6等を含んで構成されてい
る。偏向反射面4aにおいて偏向反射された光束は、f
θレンズ6を介して反射鏡7に入射し、反射鏡7におい
て反射されて、不図示の感光体を照射する。
明する。図2は、レーザビームプリンタにおいて用いら
れ、感光体を光束によって走査するための、本発明にお
ける実施例1の、走査光学装置の構成を説明する平面図
であり、走査光学装置に含まれる各構成部材の機能を説
明するための図である。図2にはその蓋11を取り除い
た平面図が示されている。走査光学装置は、光学箱1
0、半導体レーザ装置1、半導体レーザ装置1から発生
する光束を平行光束にするコリメータレンズ2、コリメ
ータレンズ2からの平行光束を線状に集光するシリンド
リカルレンズ3、シリンドリカルレンズ3によって集光
されてできる光束の線像の近傍に偏向反射面4aを有す
るポリゴンミラー4と、これを回転させる手段であるス
キャナモータ5、fθレンズ6等を含んで構成されてい
る。偏向反射面4aにおいて偏向反射された光束は、f
θレンズ6を介して反射鏡7に入射し、反射鏡7におい
て反射されて、不図示の感光体を照射する。
【0010】fθレンズ6は、偏向反射面4aで反射さ
れる光束が感光体上においてスポットを形成するように
集光され、また前記スポットの走査速度が等速に保たれ
るように設計されている。このようなfθレンズ6の特
性を得るために、fθレンズ6は、球面レンズ6aとト
ーリックレンズ6bの2つのレンズで構成されている。
ポリゴンミラー4の回転によって、感光体においては光
束による主走査が行われ、また感光体がその円筒の軸線
まわりに回転駆動することによって副走査が行われる。
このようにして感光体の表面には静電潜像が形成され
る。図2に示すように、偏向走査装置の照射位置調整
は、光学箱10の箱枠の外側に設けた、位置決めピン
8,9によって行われている。11は位置決めピン8の
ガイド孔、12は位置決めピン9のガイド孔である。偏
向走査装置のx方向の照射位置調整は位置決めピン8お
よび9を共にx方向に沿って同じ向きに移動させること
によって行われている。また、偏向走査装置のθ方向の
調整は、位置決めピン8と位置決めピン9を、それぞれ
x方向に沿って逆の向きに移動させることによって、θ
方向の回転移動を行う。
れる光束が感光体上においてスポットを形成するように
集光され、また前記スポットの走査速度が等速に保たれ
るように設計されている。このようなfθレンズ6の特
性を得るために、fθレンズ6は、球面レンズ6aとト
ーリックレンズ6bの2つのレンズで構成されている。
ポリゴンミラー4の回転によって、感光体においては光
束による主走査が行われ、また感光体がその円筒の軸線
まわりに回転駆動することによって副走査が行われる。
このようにして感光体の表面には静電潜像が形成され
る。図2に示すように、偏向走査装置の照射位置調整
は、光学箱10の箱枠の外側に設けた、位置決めピン
8,9によって行われている。11は位置決めピン8の
ガイド孔、12は位置決めピン9のガイド孔である。偏
向走査装置のx方向の照射位置調整は位置決めピン8お
よび9を共にx方向に沿って同じ向きに移動させること
によって行われている。また、偏向走査装置のθ方向の
調整は、位置決めピン8と位置決めピン9を、それぞれ
x方向に沿って逆の向きに移動させることによって、θ
方向の回転移動を行う。
【0011】図1には、図2に示した走査光学装置に蓋
13が取り付けられた状態の要部断面図を示す。蓋13
はネジ14によって光学箱10に固定されている。ネジ
14の先端には軸部14aが設けられている。走査光学
装置を光学台15に固定すると、軸部14aは光学台1
5と当接する。光学台15は接地されており、ネジ14
と当接することにより、蓋13が接地されている。軸部
14aと光学台15の当接する部分には、切り欠き15
aが設けられている。これによって、走査光学装置が光
学台から反力を受けて光学特性が変化したり、光学箱1
0が変形し、蓋13と光学箱10の密着部分の一部が浮
き上がって防塵性能を損なうのを防止することができ
る。切り欠き部15aは、軸部14aと当接すると弾性
変形するように構成されている。上記の方法により、部
品点数を増やすことなく金属材料の蓋を容易に接地する
ことができる。本実施例においては、このように蓋を光
学箱に固定するネジを用いて、蓋を接地するようにした
ものだが、全てのネジに接地作用をもたせる必要は無
い。場合によっては1本のみでも良い。また、何ヶ所か
接地させた方が良い場合には、最適な位置にある固定ネ
ジを選択して接地作用をもたせても良い。
13が取り付けられた状態の要部断面図を示す。蓋13
はネジ14によって光学箱10に固定されている。ネジ
14の先端には軸部14aが設けられている。走査光学
装置を光学台15に固定すると、軸部14aは光学台1
5と当接する。光学台15は接地されており、ネジ14
と当接することにより、蓋13が接地されている。軸部
14aと光学台15の当接する部分には、切り欠き15
aが設けられている。これによって、走査光学装置が光
学台から反力を受けて光学特性が変化したり、光学箱1
0が変形し、蓋13と光学箱10の密着部分の一部が浮
き上がって防塵性能を損なうのを防止することができ
る。切り欠き部15aは、軸部14aと当接すると弾性
変形するように構成されている。上記の方法により、部
品点数を増やすことなく金属材料の蓋を容易に接地する
ことができる。本実施例においては、このように蓋を光
学箱に固定するネジを用いて、蓋を接地するようにした
ものだが、全てのネジに接地作用をもたせる必要は無
い。場合によっては1本のみでも良い。また、何ヶ所か
接地させた方が良い場合には、最適な位置にある固定ネ
ジを選択して接地作用をもたせても良い。
【0012】[実施例2]図3に本発明の実施例2を示
す。実施例1と同一部材は同一番号にて示す。軸部14
aの先端は円錐形状になっている。これによって光学台
15との接地圧を上昇することができ、より確実に接地
を実現することができる。
す。実施例1と同一部材は同一番号にて示す。軸部14
aの先端は円錐形状になっている。これによって光学台
15との接地圧を上昇することができ、より確実に接地
を実現することができる。
【0013】[実施例3]図4に本発明の実施例3を示
す。実施例1と同一部材は同一番号にて示す。軸部14
aの先端には断面V字状の凹部が設けられている。この
方法でも光学台15との接地圧を上昇することができ、
より確実に接地を実現することができるほか、突端部が
無いので組み立て作業者の安全性も向上している。
す。実施例1と同一部材は同一番号にて示す。軸部14
aの先端には断面V字状の凹部が設けられている。この
方法でも光学台15との接地圧を上昇することができ、
より確実に接地を実現することができるほか、突端部が
無いので組み立て作業者の安全性も向上している。
【0014】[実施例4]図5に本発明の実施例4を示
す。実施例1と同一部材は同一番号にて示す。軸部14
aの一部には、軸方向とほぼ垂直な穴14bが設けられ
ている。穴14bは光学台に接すると図5右のようにた
わんで光学台15からの反力を吸収する。この方法で
は、光学台に穴を設けなくても良くなるので、光学台の
剛性向上や、穴からの塵埃の進入の防止に寄与する。
す。実施例1と同一部材は同一番号にて示す。軸部14
aの一部には、軸方向とほぼ垂直な穴14bが設けられ
ている。穴14bは光学台に接すると図5右のようにた
わんで光学台15からの反力を吸収する。この方法で
は、光学台に穴を設けなくても良くなるので、光学台の
剛性向上や、穴からの塵埃の進入の防止に寄与する。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、光学箱
に蓋を固定するためのネジの少なくとも1つが、光学箱
を貫通してその先端が接地された金属の光学台に当接す
る軸部を備え、光学台に走査光学装置を取り付けた際、
軸部先端の光学台への当接によって金属製の蓋を接地す
るように構成されているから、前記ネジを介して前記蓋
を容易に接地されることが可能となり、特別な接地用部
材を付加する必要はなく接地を安価で容易に行うことが
できる。また、本発明においては、前記ネジ先端から伸
びる軸部の先端形状を円錐形状とすることにより、接地
をより確実に行うことができる。また、本発明において
は、前記ネジ先端から伸びる軸部の先端に断面V字状の
凹部を設けることでも、接地を確実に行うことができ
る。また、本発明においては、前記ネジの先端から伸び
る軸部の一部に軸方向とほぼ垂直に穴を設けるようにす
ることによって、軸部先端が光学台に当接した際の光学
ステーからの反力を緩和して、光学特性の変化や蓋の反
りを低減することができる。
に蓋を固定するためのネジの少なくとも1つが、光学箱
を貫通してその先端が接地された金属の光学台に当接す
る軸部を備え、光学台に走査光学装置を取り付けた際、
軸部先端の光学台への当接によって金属製の蓋を接地す
るように構成されているから、前記ネジを介して前記蓋
を容易に接地されることが可能となり、特別な接地用部
材を付加する必要はなく接地を安価で容易に行うことが
できる。また、本発明においては、前記ネジ先端から伸
びる軸部の先端形状を円錐形状とすることにより、接地
をより確実に行うことができる。また、本発明において
は、前記ネジ先端から伸びる軸部の先端に断面V字状の
凹部を設けることでも、接地を確実に行うことができ
る。また、本発明においては、前記ネジの先端から伸び
る軸部の一部に軸方向とほぼ垂直に穴を設けるようにす
ることによって、軸部先端が光学台に当接した際の光学
ステーからの反力を緩和して、光学特性の変化や蓋の反
りを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1における、走査光学装置の接
地部付近を示す要部断面図である。
地部付近を示す要部断面図である。
【図2】本発明の実施例1における、走査光学装置を説
明する図である。
明する図である。
【図3】本発明の実施例2における走査光学装置の接地
部付近を説明する要部断面図である。
部付近を説明する要部断面図である。
【図4】本発明の実施例3における走査光学装置の接地
部付近を説明する要部断面図である。
部付近を説明する要部断面図である。
【図5】本発明の実施例4における走査光学装置の接地
部付近を説明する図である。
部付近を説明する図である。
【図6】従来の走査光学装置を説明する断面図である。
4:ポリゴンミラー 5:スキャナモータ 6:fθレンズ 10:光学箱 13:光学箱蓋 14:蓋固定ネジ 15:光学台
Claims (4)
- 【請求項1】光源部と、偏向ミラーをスキャナモータ等
によって高速回転させ該光源部からの光束を偏向する偏
向器と、該偏向器により偏向された光束を所定面上に集
光するレンズ等を備え、これらを収納した光学箱に金属
製の蓋をネジで固定してなる走査光学装置であって、 該ネジの少なくとも1つは前記光学箱を貫通してその先
端が接地された金属の光学台に当接する軸部を備え、該
光学台に前記走査光学装置を取り付けた際、該軸部先端
の該光学台への当接によって該金属製の蓋を接地するよ
うに構成したことを特徴とする走査光学装置。 - 【請求項2】前記軸部先端は、円錐形状であることを特
徴とする請求項1に記載の走査光学装置。 - 【請求項3】前記軸部先端には、断面V字状の凹部が設
けられていることを特徴とする請求項1に記載の走査光
学装置。 - 【請求項4】前記軸部には、一部に軸方向とほぼ垂直に
穴が設けられていることを特徴とする走査光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5438898A JPH11231250A (ja) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | 走査光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5438898A JPH11231250A (ja) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | 走査光学装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11231250A true JPH11231250A (ja) | 1999-08-27 |
Family
ID=12969317
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5438898A Pending JPH11231250A (ja) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | 走査光学装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11231250A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1464504A1 (en) * | 2003-03-19 | 2004-10-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser scanning apparatus |
-
1998
- 1998-02-18 JP JP5438898A patent/JPH11231250A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1464504A1 (en) * | 2003-03-19 | 2004-10-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser scanning apparatus |
JP2004286819A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Canon Inc | レーザ走査装置 |
US6829002B2 (en) | 2003-03-19 | 2004-12-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Laser scanning apparatus |
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