JPH11223554A - Temperature measuring instrument - Google Patents

Temperature measuring instrument

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JPH11223554A
JPH11223554A JP2446998A JP2446998A JPH11223554A JP H11223554 A JPH11223554 A JP H11223554A JP 2446998 A JP2446998 A JP 2446998A JP 2446998 A JP2446998 A JP 2446998A JP H11223554 A JPH11223554 A JP H11223554A
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JP
Japan
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measured
radiation
temperature
lens
reflection
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JP2446998A
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Hidekazu Tamaoki
英一 玉置
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a temperature measuring instrument which can measure the temperature of an object to be measured with high accuracy in a non- contacting state. SOLUTION: A galvanometer mirror 20, a condenser lens 30, and a reflecting mirror 40 jointly position the point which is optically conjugate with a focal point that is set at the upper end of an optical fiber 51 near the position of the virtual image VI of a reflecting plate 10 when the lower surface of an object OB to be measured for temperature is a mirror surface. In addition, the mirror 20 switches the point which is optically conjugate with the upper end of the fiber 51 between the reflecting surface 10a and the inside of the through hole 10b of the reflecting plate 10. Since the radiant quantity of thermal radiation is measured by means of a radiation thermometer 50 in both states where the conjugate point is switched to the reflecting surface 10a and to the inside of the through hole 0b and the temperature of the object OB is calculated based on the measured radiant quantities, the temperature of the object OB can be measured with high accuracy in a non-contacting state.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、熱放射を基に被
温度測定物の温度を測定する温度測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature measuring device for measuring the temperature of an object to be measured based on heat radiation.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、被温度測定物と非接触でその
温度を測定する温度測定装置では、被温度測定物からの
直接または間接的な熱放射の放射量を捉えて、それをも
とに被温度測定物の温度を測定している。
2. Description of the Related Art Conventionally, a temperature measuring device that measures the temperature of an object to be measured in a non-contact manner without measuring the amount of direct or indirect heat radiation from the object to be measured has been used. First, the temperature of the object to be measured is measured.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、そのような
放射量から被温度測定物の温度を求めるためにはその放
射率の値を知る必要があり、そのため従来の装置では予
め被温度測定物の放射率を求めておき、それを用いてそ
の温度を算出しているが、その放射率は被測定物の材質
(性質)やその表面状態により異なるため、材質(性
質)が互いに異なる複数の被温度測定物の温度測定を行
う際に、各被測定物の正確な放射率を求めることができ
ず、その温度測定結果は精度の低いものとなっていた。
However, in order to obtain the temperature of the object to be measured from such an amount of radiation, it is necessary to know the value of the emissivity. The emissivity is determined in advance, and the temperature is calculated using the emissivity. However, since the emissivity differs depending on the material (properties) of the object to be measured and its surface state, a plurality of materials having different materials (properties) are used. When measuring the temperature of a temperature measurement object, it is not possible to obtain an accurate emissivity of each measurement object, and the temperature measurement result has a low accuracy.

【0004】この発明は、従来技術における上述の問題
の克服を意図しており、非接触による精度の高い温度測
定が行える温度測定装置を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to overcome the above-mentioned problems in the prior art, and an object of the present invention is to provide a temperature measuring device capable of performing non-contact highly accurate temperature measurement.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明の請求項1に記載の装置は、熱放射を基に
被温度測定物の温度を測定する温度測定装置であって、
被温度測定物に対向するとともに、第1の反射率を有す
る第1反射領域と第2の反射率を有する第2反射領域と
を備えた反射板と、反射板の側において被温度測定物か
らの熱放射の放射量を測定する放射量測定手段と、被温
度測定物と放射量測定手段の受光部との間において、被
温度測定物の反射板に対向した面が仮想的に鏡面である
とした場合の受光部と光学的に共役な位置をほぼ反射板
上に位置させる光学系と、放射量測定手段により得られ
た放射量の測定結果をもとに被温度測定物の温度を検出
する温度算出手段と、を備え、さらに、光学系が放射量
測定手段の受光部と共役な位置を反射板における第1反
射領域と第2反射領域との間で切替える放射経路切替え
手段を備える。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a temperature measuring apparatus for measuring a temperature of an object to be measured based on heat radiation.
A reflector provided with a first reflection region having a first reflectance and a second reflection region having a second reflectance while facing the object to be measured; The surface facing the reflection plate of the object to be measured is virtually a mirror surface between the radiation amount measuring means for measuring the radiation amount of the heat radiation and the light receiving portion of the object to be measured and the radiation amount measuring means. The optical system that positions the optically conjugate position with the light-receiving part almost on the reflection plate, and the temperature of the object to be measured is detected based on the measurement result of the radiation amount obtained by the radiation amount measuring means. And a radiation path switching means for switching the position of the optical system conjugate with the light receiving section of the radiation amount measuring means between the first reflection area and the second reflection area of the reflection plate.

【0006】また、この発明の請求項2に記載の装置
は、請求項1に記載の温度測定装置であって、反射板に
おける第1反射領域および第2反射領域のうちの一方が
反射板を貫通する貫通孔であり、他方が貫通孔以外の反
射面であることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the temperature measuring apparatus according to the first aspect, wherein one of the first reflection area and the second reflection area of the reflection plate has the reflection plate. It is a through hole that penetrates, and the other is a reflection surface other than the through hole.

【0007】また、この発明の請求項3に記載の装置
は、請求項2に記載の温度測定装置であって、放射経路
切替え手段がガルバノメータミラーであることを特徴と
する。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the temperature measuring apparatus according to the second aspect, wherein the radiation path switching means is a galvanometer mirror.

【0008】また、この発明の請求項4に記載の装置
は、請求項2に記載の温度測定装置であって、放射経路
切替え手段が、放射量測定手段の受光部に熱放射を集光
するレンズと、レンズをその光軸にほぼ垂直な面内で移
動させるレンズ移動手段と、を備えるものであることを
特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the temperature measuring apparatus according to the second aspect, wherein the radiation path switching means focuses the heat radiation on the light receiving portion of the radiation amount measuring means. It is characterized by comprising a lens and lens moving means for moving the lens in a plane substantially perpendicular to its optical axis.

【0009】また、この発明の請求項5に記載の装置
は、請求項4に記載の温度測定装置であって、レンズ移
動手段が、レンズを保持するレンズ保持手段と、レンズ
保持手段をレンズの光軸と離隔した位置を中心としてレ
ンズの光軸に垂直な面内で回転する回転手段と、を備え
るものであることを特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the temperature measuring apparatus according to the fourth aspect, wherein the lens moving means comprises a lens holding means for holding the lens, and a lens holding means for holding the lens. Rotating means for rotating in a plane perpendicular to the optical axis of the lens about a position separated from the optical axis.

【0010】さらに、この発明の請求項6に記載の装置
は、請求項4に記載の温度測定装置において、放射経路
変更手段が、レンズを複数備えるものであって、レンズ
移動手段が、複数のレンズをそれぞれの光軸が平行で、
かつそれぞれ半径の異なる同心円周上に保持するレンズ
保持手段と、半径の異なる同心円周の中心を軸として光
軸に垂直な面内でレンズ保持手段を回転する回転手段
と、を備えるものであることを特徴とする。
Further, according to a sixth aspect of the present invention, in the temperature measuring apparatus of the fourth aspect, the radiation path changing means includes a plurality of lenses, and the lens moving means includes a plurality of lenses. The lens is parallel with each optical axis,
And a lens holding means for holding the concentric circles having different radii, and a rotating means for rotating the lens holding means in a plane perpendicular to the optical axis about the center of the concentric circles having different radii. It is characterized by.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】<1.発明の原理>各実施の形態
の説明の前に、以下においてこの発明の温度測定の原理
について説明していく。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS <1. Principle of the Invention> Before describing the embodiments, the principle of temperature measurement according to the present invention will be described below.

【0012】一般に、不透明(透過率が「0」)の物体
が熱平衡状態にある場合には、キルヒホッフの法則によ
り以下の関係式が成り立つ。
In general, when an opaque (transmittance is “0”) object is in a thermal equilibrium state, the following relational expression holds according to Kirchhoff's law.

【0013】[0013]

【数1】 (Equation 1)

【0014】ここで、ρおよびεはそれぞれ被温度測定
物の反射率および放射率を表わす「1」以下の正の値を
とる。
Here, ρ and ε are positive values of “1” or less representing the reflectance and the emissivity of the object to be measured, respectively.

【0015】以下、このような被温度測定物からの熱放
射をもとにその温度を測定する場合について説明する。
Hereinafter, a case of measuring the temperature based on the heat radiation from the object to be measured will be described.

【0016】図1はこの発明の温度測定の原理を説明す
るための図である。図示のように、この発明では反射板
の近くにそれに対向して被温度測定物を保持する。そし
て、その下方には放射量を測定するための放射量測定手
段が設けられている。
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of temperature measurement according to the present invention. As shown in the drawing, in the present invention, the object to be measured is held near the reflector and opposed thereto. A radiation amount measuring means for measuring the radiation amount is provided below the radiation amount measuring unit.

【0017】黒体の温度Tにおける熱放射の放射量をL
b(T)と表わすと、放射率εの被温度測定物からの直
接の熱放射の放射量はεLb(T)で表わされる。さら
に、その熱放射は反射板により反射されると、その放射
量は反射板の反射率Rを用いてRεLb(T)と表わさ
れる熱放射となり、被温度測定物に向かう。さらに、そ
の熱放射は再び反射板により反射されると、その放射量
は数1の式を用いてεR(1−ε)Lb(T)となる。
このようにして、順次、被温度測定物と反射板との間で
多重反射を繰り返していくと、反射板側で受ける被温度
測定物からの見かけの放射量Ieffは初項εLb(T)、
公比R(1−ε)(>1)の無限等比級数として表わさ
れるため、次式となる。
The amount of heat radiation at the temperature T of the black body is represented by L
When expressed as b (T), the radiation amount of the direct thermal radiation from the object to be measured having the emissivity ε is expressed as εLb (T). Further, when the heat radiation is reflected by the reflector, the amount of the radiation becomes heat radiation represented by RεLb (T) using the reflectance R of the reflector, and travels toward the object to be measured. Further, when the heat radiation is reflected again by the reflector, the amount of the radiation becomes εR (1−ε) Lb (T) using the equation of Equation 1.
In this way, when multiple reflections are sequentially repeated between the object to be measured and the reflector, the apparent radiation amount Ieff received from the object to be measured received on the reflector side becomes the first term εLb (T),
Since it is expressed as an infinite geometric series of the common ratio R (1−ε) (> 1), the following equation is obtained.

【0018】[0018]

【数2】 (Equation 2)

【0019】ただし、ここで見かけの放射率εeffは次
式で与えられる。
Here, the apparent emissivity εeff is given by the following equation.

【0020】[0020]

【数3】 (Equation 3)

【0021】したがって、反射板の反射率Rおよび被温
度測定物の放射率εが既知であれば、見かけの放射量I
effを測定することにより数2および数3の式から被温
度測定物の温度Tは求められるはずであるが、実際には
反射板の反射率Rおよび被温度測定物の放射率εは、様
々な要因により異なる値をとるものであり、とりわけ、
被温度測定物の放射率εはその材質および表面状態に大
きく依存するため、これを予め測定しておいて、数3の
式に用いると正確な被温度測定物の温度Tが得られな
い。
Therefore, if the reflectance R of the reflector and the emissivity ε of the object to be measured are known, the apparent radiation amount I
By measuring eff, the temperature T of the object to be measured should be obtained from Equations 2 and 3, but in actuality, the reflectance R of the reflector and the emissivity ε of the object to be measured are various. Values may vary depending on factors such as
Since the emissivity ε of the object to be measured greatly depends on its material and surface condition, if this is measured in advance and is used in the equation (3), an accurate temperature T of the object to be measured cannot be obtained.

【0022】すなわち、数3の式を代入した数2の式に
おいて未知数は被温度測定物の温度Tと放射率εの2つ
となるため、この式のみからでは被温度測定物の温度T
は一意に求められない。そこで、この発明では反射板に
反射率の異なる2つの領域を設け、それぞれの領域(そ
れらの反射率R1,R2)における多重反射後の熱放射
に対して数3の式を適用し、上記2つの未知数に対して
それら2式を連立して被温度測定物の温度Tを求めるこ
とによって温度測定の精度を高めている。すなわち、2
種の見かけの放射量I1,I2を求める式は次式となる。
That is, in the equation of the equation (2) into which the equation of the equation (3) is substituted, two unknowns are the temperature T of the object to be measured and the emissivity ε.
Is not uniquely sought. Therefore, in the present invention, two regions having different reflectivities are provided on the reflector, and the expression of Equation 3 is applied to the heat radiation after multiple reflection in each region (the reflectivities R1 and R2). The accuracy of the temperature measurement is improved by obtaining the temperature T of the object to be measured by simultaneously combining the two equations for the two unknowns. That is, 2
The formula for obtaining the apparent radiation amounts I1 and I2 of the species is as follows.

【0023】[0023]

【数4】 (Equation 4)

【0024】[0024]

【数5】 (Equation 5)

【0025】また、数4および数5の式から黒体の放射
量Lb(T)を消去して被温度測定物の放射率εについ
て解くと次式となる。
Further, when the radiation amount Lb (T) of the black body is eliminated from the equations (4) and (5) and the emissivity ε of the object to be measured is solved, the following equation is obtained.

【0026】[0026]

【数6】 (Equation 6)

【0027】そして、図1に示すように、この発明の装
置では放射経路変更手段(図1ではガルバノメータミラ
ーを図示)により、反射板における反射率の異なる各領
域により多重反射を受けた熱放射を個別に放射量測定手
段に導くことにより、それぞれの見かけの放射量I1お
よびI2を測定し、それとともに予め測定しておいた反
射率R1およびR2を数6の式に用いて放射率εを求め、
さらにそれを数4または数5に用いて黒体の放射量Lb
(T)を求める。そして、それをもとに予め知られてい
る黒体の放射量Lb(T)の温度分布を基に被温度測定
物の温度Tを求める。
As shown in FIG. 1, in the apparatus according to the present invention, the radiation path changing means (in FIG. 1, a galvanometer mirror is shown) converts the heat radiation, which has been subjected to multiple reflections by the regions having different reflectivities in the reflector, to the heat radiation. By individually leading to the radiation amount measuring means, the respective apparent radiation amounts I1 and I2 are measured, and the reflectances R1 and R2 measured in advance are used to obtain the emissivity ε using the equation (6). ,
Further, using it in Equation 4 or Equation 5, the radiation amount Lb of the black body
Find (T). Then, the temperature T of the object to be measured is determined based on the temperature distribution of the radiation amount Lb (T) of the black body known in advance based on the temperature T.

【0028】ただし、数4および数5の式は反射板の反
射率R1またはR2がほぼ「0」の場合にも成立するもの
となっている。すなわち、反射板における反射面と異な
る反射率を有する領域として貫通孔を備える場合には、
その付近における被温度測定物からの熱放射は反射され
ることなく貫通孔に入射するため、多重反射は発生せ
ず、したがって、その際の放射量は前述のようにほぼε
Lb(T)となるものと考えられるが、数4においてR1
=0(または数5においてR2=0)としても、その結
果はεLb(T)となり、したがって数4および数5は
こういった場合も含んだものとなっている。
However, the equations (4) and (5) hold even when the reflectivity R1 or R2 of the reflector is substantially "0". That is, when a through-hole is provided as a region having a different reflectance from the reflection surface of the reflection plate,
Since the heat radiation from the object to be measured in the vicinity is incident on the through-hole without being reflected, multiple reflection does not occur. Therefore, the radiation amount at that time is approximately ε as described above.
It is considered that Lb (T) is obtained.
Even if = 0 (or R2 = 0 in Equation 5), the result is εLb (T), and therefore Equations 4 and 5 include such cases.

【0029】<2.第1の実施の形態>以下、第1の実
施の形態について図面に基づいて説明する。
<2. First Embodiment> Hereinafter, a first embodiment will be described with reference to the drawings.

【0030】<<2−1.機構的構成>>図2はこの発
明の第1の実施の形態である温度測定装置の機構的構成
を示す図である。以下、図2を用いて、この温度測定装
置の機構的構成について説明していく。
<< 2-1. Mechanical Configuration >> FIG. 2 is a diagram showing a mechanical configuration of the temperature measuring device according to the first embodiment of the present invention. Hereinafter, the mechanical configuration of the temperature measuring device will be described with reference to FIG.

【0031】図示のようにこの温度測定装置1は反射板
10、ガルバノメータミラー20、集光レンズ30、反
射鏡40および放射温度計50を備えている。
As shown, the temperature measuring device 1 includes a reflector 10, a galvanometer mirror 20, a condenser lens 30, a reflector 40, and a radiation thermometer 50.

【0032】反射板10はその上面が反射率の高い反射
面10aとして形成され、温度測定の際には、その上面
が被温度測定物OBに対向するように設置される。
The upper surface of the reflecting plate 10 is formed as a reflecting surface 10a having a high reflectivity. When measuring the temperature, the reflecting plate 10 is installed such that the upper surface faces the object OB to be measured.

【0033】なお、反射板10には貫通孔10bが設け
られており、貫通孔10bは反射板10の反射面10a
と反射率が異なる領域、より詳細には反射率Rがほぼ
「0」の領域となっているとともに、この貫通孔10b
を通じて熱放射が後述の光ファイバ51上端に達するた
めの放射経路としても機能するものとなっている。
The reflecting plate 10 is provided with a through hole 10b, and the through hole 10b is formed on the reflecting surface 10a of the reflecting plate 10.
And, more specifically, a region where the reflectance R is approximately “0”, and the through hole 10 b
It also functions as a radiation path through which heat radiation reaches the upper end of the optical fiber 51 described later.

【0034】ガルバノメータミラー20は図示のように
軸回りに回動自在に設けられており、集光レンズ30に
向けて反射する熱放射(反射板10との間の多重反射後
の放射も含む)の放射元の方向を変化させる。集光レン
ズ30は反射鏡40を介してガルバノメータミラー20
からの熱放射を放射温度計50の光ファイバ51の上端
に集光する。
The galvanometer mirror 20 is provided so as to be rotatable around an axis as shown in the figure, and heat radiation reflected toward the condenser lens 30 (including radiation after multiple reflection with the reflector 10). Change the direction of the radiation source. The condenser lens 30 is connected to the galvanometer mirror 20 via the reflecting mirror 40.
Is condensed on the upper end of the optical fiber 51 of the radiation thermometer 50.

【0035】ここで、ガルバノメータミラー20、集光
レンズ30および反射鏡40よりなる光学系は協働して
光ファイバ51上端を1つの焦点とし、それと光学的に
共役な点(「光学的に共役な位置」に相当)を被温度測
定物OBの下面(反射板10に対向した面)が仮想的に
鏡面であるとした場合の反射板10の上面(被温度測定
物OBに対向した面)近傍に位置させるように調整され
ている。換言すれば、被温度測定物OBの測定面に関し
て、反射板10の反射面10aと光学的に面対称な仮想
面の近傍に上記の共役点がある。
Here, the optical system composed of the galvanometer mirror 20, the condenser lens 30, and the reflecting mirror 40 cooperates to set the upper end of the optical fiber 51 as one focal point, and to a point optically conjugate with the focal point ("optically conjugate"). The upper surface of the reflector 10 (the surface facing the object OB) when the lower surface of the object OB (the surface facing the reflector 10) is assumed to be virtually a mirror surface. It is adjusted to be located near. In other words, with respect to the measurement surface of the object to be measured OB, the above conjugate point is located near the virtual plane optically symmetric with respect to the reflection surface 10a of the reflection plate 10.

【0036】さらに、上記光学系は、ガルバノメータミ
ラー20のミラー面の回動動作によって光ファイバ51
上端と光学的に共役な点が反射板10の貫通孔10b内
の位置CP1にある状態と、反射板10の反射面10a
(上面)内の位置CP2にある状態との間で切替える
(以下、この切替えを「放射経路切替え」という)放射
経路切替え部として機能する。
Further, the optical system is provided with an optical fiber 51 by rotating the mirror surface of the galvanometer mirror 20.
A state in which a point optically conjugate with the upper end is located at the position CP1 in the through hole 10b of the reflection plate 10 and the reflection surface 10a of the reflection plate 10
It functions as a radiation path switching unit that switches between the state at the position CP2 in (upper surface) (hereinafter, this switching is referred to as “radiation path switching”).

【0037】これは、言い換えると被温度測定物OBの
下面が仮想的に鏡面であるとした場合の虚像空間内での
光ファイバ51上端と光学的に共役な点を反射板10の
虚像位置VIの近傍に位置させ、その虚像空間内での光
ファイバ51上端と光学的に共役な点を、反射板10の
上記虚像位置VIのうち貫通孔10bの虚像位置VI1
内にある状態とその他の反射板10の反射面10aの虚
像位置VI2にある状態との間で切替え可能ということ
である。
In other words, a point optically conjugate with the upper end of the optical fiber 51 in the virtual image space when the lower surface of the object to be measured OB is virtually a mirror surface is referred to as a virtual image position VI of the reflector 10. , And a point optically conjugate with the upper end of the optical fiber 51 in the virtual image space is defined by the virtual image position VI1 of the through hole 10b among the virtual image positions VI of the reflection plate 10.
In the virtual image position VI2 on the reflection surface 10a of the reflection plate 10 can be switched between the state of the reflection plane 10 and the state of the reflection plane 10a.

【0038】放射温度計50は内部に、その上端が受光
部として機能する光ファイバ51と、センサ部52と、
図示しないCPUおよびメモリ等を備えた演算部53と
を備えており、熱放射をもとに、反射板10の各部の反
射率や被温度測定物OBの温度Tを求める。
The radiation thermometer 50 has therein an optical fiber 51 whose upper end functions as a light receiving section, a sensor section 52,
An arithmetic unit 53 having a CPU, a memory, and the like (not shown) is provided, and the reflectance of each part of the reflector 10 and the temperature T of the object to be measured OB are obtained based on heat radiation.

【0039】光ファイバ51は上端に入射する熱放射を
センサ部52に導光する。センサ部52は熱放射を捉
え、その放射量I1,I2を示す電気信号を生成し演算部
53に送る放射量測定手段として機能する。
The optical fiber 51 guides the heat radiation incident on the upper end to the sensor section 52. The sensor unit 52 functions as a radiation amount measuring unit that captures the heat radiation, generates an electric signal indicating the radiation amounts I1 and I2, and sends the electric signal to the calculation unit 53.

【0040】演算部53はセンサ部52から送られた放
射量I1,I2や予め記憶している検量用物体の放射率ε
を示す電気信号をもとに、被温度測定物OBの温度Tや
反射板10の各部の反射率R1,R2を表わす信号を生成
する温度算出手段として機能する。
The calculation unit 53 calculates the radiation amounts I1, I2 sent from the sensor unit 52 and the emissivity ε of the calibration object stored in advance.
Function as temperature calculating means for generating signals representing the temperature T of the object to be measured OB and the reflectances R1 and R2 of the respective parts of the reflector 10 based on the electric signal indicating

【0041】<<2−2.測定手順>>以下において、
第1の実施の形態における温度測定装置1による被温度
測定物OBの温度測定について説明する。
<< 2-2. Measurement procedure >>
A description will be given of the temperature measurement of the temperature measurement object OB by the temperature measurement device 1 according to the first embodiment.

【0042】まず、作業者はこの装置の校正作業を行
う。すなわち、作業者が、熱電対等が取り付けられた放
射率が既知の検量用物体をこの装置の反射板10の反射
面10aに対向するように(図2の被温度測定物OBの
代わりに)設置する。
First, an operator performs a calibration operation of the apparatus. That is, the operator installs a calibration object having a known emissivity to which a thermocouple or the like is attached so as to face the reflection surface 10a of the reflection plate 10 of this apparatus (instead of the object to be measured OB in FIG. 2). I do.

【0043】そして、この装置を起動すると、放射温度
計50により放射量I1,I2および熱電対により検量用
物体の温度Tが測定される。これらのうち、放射量I
1,I2の検出は、以下のように行われる。すなわち、放
射温度計50は捉えた熱放射の放射量信号を時系列的に
メモリに記録していく。すると、得られる放射量信号は
ガルバノメータミラー20による放射経路切替え動作と
同期した周期的な(正弦波のような)波形を示す。CP
Uは、それに対してピーク検出を行い、その信号の極大
値を光ファイバ51上端と光学的に共役な点が前述の位
置CP2にある状態での多重反射後の熱放射の放射量と
し、逆に放射量信号の極小値を前述の位置CP1にある
状態での放射量として検出する。
When the apparatus is activated, the radiation thermometer 50 measures the radiation amounts I1 and I2 and the thermocouple the temperature T of the calibration object. Of these, the radiation amount I
1, I2 is detected as follows. That is, the radiation thermometer 50 records the captured radiation signal of heat radiation in the memory in a time-series manner. Then, the obtained radiation amount signal shows a periodic waveform (such as a sine wave) synchronized with the radiation path switching operation by the galvanometer mirror 20. CP
U performs peak detection on the signal, and determines the maximum value of the signal as the amount of heat radiation after multiple reflection in a state where the point optically conjugate with the upper end of the optical fiber 51 is at the position CP2 described above. The minimum value of the radiation amount signal is detected as the radiation amount in the state at the position CP1 described above.

【0044】そして、得られた検量用物体の温度Tおよ
び放射量I1,I2の測定値と予めメモリに記憶されてい
た既知の放射率εの値が前述の数4および数5の式に代
入され反射率R1,R2が求められ、放射温度計50のメ
モリに記憶される。
Then, the obtained measured values of the temperature T and the radiant quantities I1 and I2 of the calibration object and the value of the known emissivity ε previously stored in the memory are substituted into the above-mentioned equations (4) and (5). Then, the reflectances R1 and R2 are obtained and stored in the memory of the radiation thermometer 50.

【0045】つぎに、作業者が検量用物体を除去し、代
わりに被温度測定物OBを上記と同様にこの装置に取り
付ける。
Next, the operator removes the object for calibration, and attaches the object to be measured OB to the apparatus in the same manner as described above.

【0046】そして、再度この装置を起動すると上記と
同様にして放射量I1,I2が測定され、それらの測定値
と上記校正作業によって求められていた反射率R1およ
びR2が数6の式に用いられ、そのタイミングでの被温
度測定物OBの放射率εが求められ、さらにその放射率
εと放射量I1,I2、反射板10の反射率R1およびR2
を数4または数5に用いることによって被温度測定物O
Bの温度Tが求められる。
When the apparatus is started again, the radiation amounts I1 and I2 are measured in the same manner as described above, and the measured values and the reflectances R1 and R2 obtained by the above calibration work are used in the equation (6). The emissivity .epsilon. Of the object to be measured OB at that timing is obtained, and the emissivity .epsilon.
Is used in Equation 4 or Equation 5 to obtain the object to be measured O
The temperature T of B is determined.

【0047】さらに、放射温度計50は、それらととも
に予め記憶されている反射板10の各部の反射率R1,
R2とを前述のように数6の式に用いて放射率εを求
め、それを数4または数5の式に用いることによって被
温度測定物OBの温度Tを算出し、第1の実施の形態に
おける被温度測定物OBの温度測定を終了する。
Further, the radiation thermometer 50 has the reflectances R 1, R 1,
As described above, the emissivity ε is obtained by using R2 and the equation (6), and the temperature T of the object to be measured OB is calculated by using it in the equation (4) or (5). The temperature measurement of the object to be measured OB in the mode is ended.

【0048】以上、説明したように第1の実施の形態に
よれば、ガルバノメータミラー20により、被温度測定
物OBの測定面を鏡面とした場合の光ファイバ51上端
と光学的に共役な位置を反射板10における反射面10
aと貫通孔10bとの間で切替えることができるので、
それぞれの状態での放射量I1,I2の測定値に基づい
て、被温度測定物OBの放射率を求めつつ被温度測定物
OBの温度を求めることにより、1つの放射量測定値と
予め測定しておいた被温度測定物OBの放射率とに基づ
いて温度測定を行う場合に比べて、非接触による精度の
高い温度測定を行うことができる。
As described above, according to the first embodiment, the galvanometer mirror 20 is used to determine the position optically conjugate with the upper end of the optical fiber 51 when the measurement surface of the object to be measured OB is a mirror surface. Reflection surface 10 of reflection plate 10
a and can be switched between the through hole 10b,
By measuring the temperature of the object to be measured OB while determining the emissivity of the object to be measured OB based on the measured values of the amounts of radiation I1 and I2 in each state, one measured value of the amount of radiation is measured in advance. Compared to the case where temperature measurement is performed based on the emissivity of the object to be measured OB, the temperature can be measured with high accuracy by non-contact.

【0049】また、反射面10aと反射率の異なる領域
を反射板10を貫通する貫通孔10bとしているため、
容易かつ安価に反射板10を形成することができる。
Since a region having a different reflectance from the reflection surface 10a is formed as a through hole 10b penetrating the reflection plate 10,
The reflection plate 10 can be easily and inexpensively formed.

【0050】<3.第2の実施の形態>以下、第2の実
施の形態について図面に基づいて説明していく。
<3. Second Embodiment> Hereinafter, a second embodiment will be described with reference to the drawings.

【0051】図3は第2の実施の形態である温度測定装
置2の断面図である。第2の実施の形態では第1の実施
の形態においてガルバノメータミラー20、集光レンズ
30、反射鏡40を含めた光学系を集光レンズ30のみ
とし、放射経路変更手段およびレンズ移動手段として超
音波モータ60のロータ61に集光レンズ30を設けた
ものとしている。
FIG. 3 is a sectional view of a temperature measuring device 2 according to the second embodiment. In the second embodiment, the optical system including the galvanometer mirror 20, the condenser lens 30, and the reflection mirror 40 in the first embodiment is only the condenser lens 30, and the ultrasonic wave is used as a radiation path changing unit and a lens moving unit. The condenser lens 30 is provided on the rotor 61 of the motor 60.

【0052】図4は超音波モータ60のロータ61の平
面図である。図示のように集光レンズ30はレンズ保持
手段の機能を果たすロータ61の回転中心RCに対して
わずかに偏芯して設けられており、ロータ61が集光レ
ンズ30の光軸に垂直な面内で回転することにより集光
レンズ30がその面内で移動するようになっており、よ
り詳細には集光レンズ30は最大でレンズ移動距離Δx
だけ水平方向に移動するものとなっている。これによ
り、以下のように十分な放射経路切替えが可能となって
いる。
FIG. 4 is a plan view of the rotor 61 of the ultrasonic motor 60. As shown in the drawing, the condenser lens 30 is provided slightly eccentric with respect to the rotation center RC of the rotor 61 which functions as a lens holding means, and the rotor 61 has a surface perpendicular to the optical axis of the condenser lens 30. The condensing lens 30 moves within that plane by rotating within the lens. More specifically, the condensing lens 30 moves at a maximum lens movement distance Δx
It moves only horizontally. Thereby, sufficient radiation path switching is possible as described below.

【0053】図5は集光レンズ30の水平方向の偏位に
よる放射経路切替えの状況を示す図である。図示のよう
に光ファイバ51の上端と光学的に共役な点は、集光レ
ンズ30が第1位置LP1に位置する際には、被温度測
定物OBの下面を鏡面とした場合に反射板10の貫通孔
10b内の位置CP1(虚像空間で考える場合には虚像
位置VI1)にあり、逆に集光レンズ30が第2位置L
P2に位置する際には反射板10の反射面10a内の位
置CP2(虚像空間で考える場合には虚像位置VI2)
にあるものとなっている。
FIG. 5 is a diagram showing a state of switching the radiation path due to the horizontal displacement of the condenser lens 30. As shown, the point optically conjugate with the upper end of the optical fiber 51 is that when the condenser lens 30 is located at the first position LP1, the reflecting plate 10 Is located at a position CP1 (virtual image position VI1 when considered in a virtual image space) in the through hole 10b, and the condensing lens 30 is moved to the second position L
When located at P2, a position CP2 in the reflection surface 10a of the reflection plate 10 (a virtual image position VI2 when considered in a virtual image space).
It is in what.

【0054】なお、光ファイバ51の上端断面の内径
r、レンズ移動距離Δx、光ファイバ51上端と集光レ
ンズ30との距離S1および集光レンズ30と被温度測
定物OBの下面による反射板10の虚像位置VIとの距
離S2が以下に示す条件を満足するように形成されてい
るために、第2の実施の形態でも第1の実施の形態と同
様に、光ファイバ51上端と光学的に共役な点が反射板
10の貫通孔10b内の位置CP1にある状態と、反射
板10の反射面10a内の位置CP2にある状態との間
で切替える放射経路切替えが確実に行えるものとなって
いる。
Incidentally, the inner diameter r of the cross section of the upper end of the optical fiber 51, the lens moving distance Δx, the distance S1 between the upper end of the optical fiber 51 and the condenser lens 30, the reflection plate 10 formed by the condenser lens 30 and the lower surface of the object OB to be measured. Is formed such that the distance S2 from the virtual image position VI satisfies the following condition, so that the optical fiber 51 is optically connected to the upper end of the optical fiber 51 in the second embodiment as in the first embodiment. Radiation path switching for switching between a state in which the conjugate point is at the position CP1 in the through hole 10b of the reflector 10 and a state in the position CP2 in the reflection surface 10a of the reflector 10 can be performed reliably. I have.

【0055】以下に、その条件を示す。まず、仮想的に
反射板10の虚像位置VIにおける集光レンズ30によ
る光ファイバ51の上端の断面の像を考える。そして、
集光レンズ30がレンズ移動距離Δxだけ離れた状態の
それぞれによる上記の光ファイバ51の上端の断面の像
が互いに重なり合わなければ、放射経路切替えが確実に
行える。以下、そのための条件式を求める。
The conditions are described below. First, an image of the cross section of the upper end of the optical fiber 51 by the condenser lens 30 at the virtual image position VI of the reflector 10 is considered. And
If the images of the cross sections at the upper end of the optical fiber 51 in the state where the condenser lens 30 is separated by the lens moving distance Δx do not overlap each other, the radiation path can be reliably switched. Hereinafter, a conditional expression for that will be obtained.

【0056】集光レンズ30の水平移動による光ファイ
バ51の上端と光学的に共役な点の水平方向の共役点移
動距離Dと集光レンズ30のレンズ移動距離Δxとの関
係は幾何学的関係からほぼ次式で与えられる。
The relationship between the horizontal movement distance D of the point optically conjugate with the upper end of the optical fiber 51 due to the horizontal movement of the condenser lens 30 and the lens movement distance Δx of the condenser lens 30 is a geometric relationship. Is approximately given by

【0057】[0057]

【数7】 (Equation 7)

【0058】また、図5より、集光レンズ30の倍率は
S2/S1で与えられるから、光ファイバ51上端の断
面の内径(直径)をdと表わすと、その虚像位置VIに
おける像の内径はS2d/S1となるから、これが上記
共役点移動距離D以下であればよい。したがって、求め
る理想的な条件式は次式となる。
Further, from FIG. 5, since the magnification of the condenser lens 30 is given by S2 / S1, if the inner diameter (diameter) of the cross section at the upper end of the optical fiber 51 is represented by d, the inner diameter of the image at the virtual image position VI is Since S2d / S1, the distance may be equal to or less than the conjugate point moving distance D. Therefore, the ideal condition to be obtained is as follows.

【0059】[0059]

【数8】 (Equation 8)

【0060】ただし、この条件式はセンサ52で捉える
熱放射の放射量の最大値と最小値が最も異なるようにす
るための条件式であって、必ずしもこの条件式を満たさ
なければ放射経路切替えが行えないわけではない。
However, this conditional expression is a conditional expression for making the maximum value and the minimum value of the amount of heat radiation captured by the sensor 52 the most different, and if this conditional expression is not always satisfied, the radiation path switching is not performed. It's not impossible.

【0061】また、これら以外の機構的構成は第1の実
施の形態と同様であり、温度測定も放射経路切替えを超
音波モータ60の回転により集光レンズ30を水平移動
することにより行うこと以外は第1の実施の形態と同様
である。したがって、第2の実施の形態でも第1の実施
の形態と同様の効果を有するのに加えて、1枚の集光レ
ンズ30を移動させることにより、放射経路切替えを行
うことができるので、複数の集光レンズ30を必要とす
る後述の第3の実施の形態のような装置に比べて容易か
つ安価に装置を製作することができる。
The mechanical structure other than these is the same as that of the first embodiment, and the temperature measurement is performed except that the radiation path is switched by moving the condenser lens 30 horizontally by the rotation of the ultrasonic motor 60. Are the same as in the first embodiment. Therefore, in the second embodiment, in addition to having the same effect as the first embodiment, the radiation path can be switched by moving one condensing lens 30, so that a plurality of The device can be manufactured easily and at low cost as compared with a device such as the third embodiment described below, which requires the condenser lens 30 described above.

【0062】<4.第3の実施の形態>以下、第3の実
施の形態について図面に基づいて説明していく。
<4. Third Embodiment> A third embodiment will be described below with reference to the drawings.

【0063】図6は第3の実施の形態である温度測定装
置3の断面図である。第2の実施の形態では放射経路変
更手段およびレンズ移動手段として超音波モータ60の
ロータ61に集光レンズ30を設けていたのに対し、第
3の実施の形態ではその代わりに、モータ70と、その
回転軸71に取り付けられ、集光レンズ30を保持する
円盤状のレンズ保持部材80とを備えている。
FIG. 6 is a sectional view of a temperature measuring device 3 according to the third embodiment. In the second embodiment, the condenser lens 30 is provided on the rotor 61 of the ultrasonic motor 60 as a radiation path changing unit and a lens moving unit, whereas in the third embodiment, a motor 70 and a And a disc-shaped lens holding member 80 attached to the rotating shaft 71 and holding the condenser lens 30.

【0064】図7はこの装置におけるレンズ保持部材8
0の平面図である。図示のように第3の実施の形態の装
置のレンズ保持部材80は6個の集光レンズ30を、互
いに半径の異なる同心の円周C1,C2上に備えるもの
となっている。そして、各集光レンズ30の位置する円
周C1,C2の半径は互いにレンズ移動距離Δxだけ異
なるものとなっている。このような構成のもとに、レン
ズ保持部材80を円周C1,C2の中心を軸として集光
レンズ30の光軸に垂直な面内においてモータ70によ
り回転することによって、光ファイバ51上方を通過す
る際に各集光レンズ30は交互にレンズ移動距離Δxだ
け水平方向にずれることになる。このような動作によ
り、あたかも1つの集光レンズ30が光ファイバ51上
方において移動する第2の実施の形態と同様の状況とな
り、第3の実施の形態の装置でも第2の実施の形態の装
置と同様に放射経路切替えが可能となっている。
FIG. 7 shows a lens holding member 8 in this device.
0 is a plan view. As shown in the figure, the lens holding member 80 of the device according to the third embodiment has six condensing lenses 30 on concentric circles C1 and C2 having different radii. The radii of the circumferences C1 and C2 at which the condenser lenses 30 are located are different from each other by the lens movement distance Δx. Under such a configuration, the lens holding member 80 is rotated by a motor 70 in a plane perpendicular to the optical axis of the condenser lens 30 with the centers of the circumferences C1 and C2 as axes. When passing, the condenser lenses 30 are alternately shifted in the horizontal direction by the lens movement distance Δx. By such an operation, a situation similar to that of the second embodiment in which one condensing lens 30 moves above the optical fiber 51 is obtained, and the apparatus of the third embodiment is also the same as the apparatus of the second embodiment. The radiation path can be switched in the same manner as described above.

【0065】また、上記以外の機構的構成は第1の実施
の形態と同様であり、各部の長さは数8の条件式を満た
すものとなっている。また、温度測定は放射経路切替え
をモータ70の回転により集光レンズ30を水平移動し
て切替えることにより行うこと以外は第1の実施の形態
と同様である。したがって、第3の実施の形態でも第1
の実施の形態と同様の効果を有する。
The mechanical structure other than the above is the same as that of the first embodiment, and the length of each part satisfies the conditional expression (8). The temperature measurement is the same as that of the first embodiment except that the radiation path is switched by horizontally moving the condenser lens 30 by the rotation of the motor 70 and switching. Therefore, in the third embodiment, the first
This has the same effect as that of the embodiment.

【0066】<5.変形例>上記の第1〜第3の実施の
形態の温度測定装置では、反射板10の反射面10aと
反射率の異なる領域として貫通孔10bを備えるものと
したが、この発明はこれに限られず、貫通孔10bの代
わりにハーフミラーを設け、それにより異なる放射量I
1,I2を測定するものとしてもよい。
<5. Modifications> In the temperature measuring devices of the first to third embodiments, the through-hole 10b is provided as a region having a different reflectance from the reflection surface 10a of the reflection plate 10, but the present invention is not limited to this. Instead, a half mirror is provided in place of the through hole 10b, so that a different radiation amount I
1, I2 may be measured.

【0067】また、上記第1〜第3の実施の形態では発
明の原理の項で説明したように、数6の式から被温度測
定物OBの放射率εを求め、それを用いて被温度測定物
OBの温度を求めたが、放射率εを求めないで数4およ
び数5の式から放射率εを消去し、直接、放射量I1お
よびI2から温度Tを求めてもよい。
In the first to third embodiments, as described in the principle of the present invention, the emissivity ε of the object to be measured OB is obtained from the equation (6), and the temperature Although the temperature of the measured object OB is obtained, the emissivity ε may be eliminated from the equations of Equations 4 and 5 without obtaining the emissivity ε, and the temperature T may be directly obtained from the radiances I1 and I2.

【0068】また、放射経路変更手段として上記第1の
実施の形態ではガルバノメータミラーを用い、第2およ
び第3の実施の形態では集光レンズをその光軸と垂直な
平面内で移動させる機構を用いたが、この発明はこれに
限られず、ガルバノメータミラーの代わりにレゾナント
スキャナ、ペンタプリズム、モノゴンミラーやポリゴン
ミラー等を用いることもできる。
In the first embodiment, a galvanometer mirror is used as the radiation path changing means. In the second and third embodiments, a mechanism for moving the condenser lens in a plane perpendicular to the optical axis is provided. Although used, the present invention is not limited to this, and a resonant scanner, a pentaprism, a monogon mirror, a polygon mirror, or the like can be used instead of the galvanometer mirror.

【0069】さらに、上記第1〜第3の実施の形態では
光ファイバ51上端に熱放射を集光させるために集光レ
ンズ30を用いたが、この発明はこれに限られず、凹面
鏡等のその他の集光手段を用いてもよい。
Further, in the first to third embodiments, the condenser lens 30 is used for condensing the heat radiation on the upper end of the optical fiber 51. However, the present invention is not limited to this, and the present invention is not limited to this. May be used.

【0070】[0070]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1ないし請
求項5の発明によれば、放射経路切替え手段により、被
温度測定物の反射板に対向した面が仮想的に鏡面である
とした場合の放射量測定手段の受光部と光学的に共役な
位置を反射板における第1の反射率を有する第1反射領
域と第2の反射率を有する第2反射領域との間で切替え
ることができるので、それぞれの状態での放射量の測定
値に基づいて被温度測定物の温度を測定することによ
り、1つの測定値に基づいて温度測定を行う場合に比べ
て、非接触による精度の高い温度測定を行うことができ
る。
As described above, according to the first to fifth aspects of the present invention, the surface of the object to be measured facing the reflector is virtually a mirror surface by the radiation path switching means. In this case, the position optically conjugate with the light receiving section of the radiation amount measuring means can be switched between the first reflection area having the first reflectance and the second reflection area having the second reflectance on the reflector. Since the temperature of the object to be measured can be measured based on the measured value of the radiation amount in each state, the accuracy of non-contact can be improved as compared with the case where the temperature is measured based on one measured value. Temperature measurement can be performed.

【0071】さらに、請求項2の発明によれば、反射板
における第1反射領域および第2反射領域のうちの一方
が反射板を貫通する貫通孔であるため、容易かつ安価に
反射板を形成することができる。
Further, according to the second aspect of the present invention, one of the first reflection region and the second reflection region in the reflection plate is a through hole penetrating the reflection plate, so that the reflection plate can be formed easily and inexpensively. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の温度測定の原理を説明するための図
である。
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of temperature measurement according to the present invention.

【図2】第1の実施の形態である温度測定装置の機構的
構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a mechanical configuration of the temperature measuring device according to the first embodiment.

【図3】第2の実施の形態である温度測定装置の断面図
である。
FIG. 3 is a sectional view of a temperature measuring device according to a second embodiment.

【図4】第2の実施の形態における超音波モータのロー
タの平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a rotor of an ultrasonic motor according to a second embodiment.

【図5】集光レンズの水平方向の偏位による放射経路切
替えの状況を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a state of radiation path switching due to horizontal displacement of a condenser lens.

【図6】第3の実施の形態である温度測定装置の断面図
である。
FIG. 6 is a sectional view of a temperature measuring device according to a third embodiment.

【図7】第3の実施の形態におけるレンズ保持部材の平
面図である。
FIG. 7 is a plan view of a lens holding member according to a third embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1〜3 温度測定装置 10 反射板 10a 反射面(第1反射領域または第2反射領域) 10b 貫通孔(第1反射領域または第2反射領域) 20 ガルバノメータミラー(放射経路切替え部) 30 集光レンズ 50 放射温度計 51 光ファイバ(受光部) 52 センサ部(放射量測定手段) 53 演算部(温度算出手段) 60 超音波モータ 61 ロータ(レンズ保持手段) 70 モータ(回転手段) 80 レンズ保持部材 OB 被温度測定物 1-3 Temperature measuring device 10 Reflecting plate 10a Reflecting surface (first reflecting region or second reflecting region) 10b Through hole (first reflecting region or second reflecting region) 20 Galvanometer mirror (radiation path switching unit) 30 Condensing lens Reference Signs List 50 radiation thermometer 51 optical fiber (light receiving unit) 52 sensor unit (radiation amount measuring unit) 53 arithmetic unit (temperature calculating unit) 60 ultrasonic motor 61 rotor (lens holding unit) 70 motor (rotating unit) 80 lens holding member OB Object to be measured

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 熱放射を基に被温度測定物の温度を測定
する温度測定装置であって、 被温度測定物に対向するとともに、第1の反射率を有す
る第1反射領域と第2の反射率を有する第2反射領域と
を備えた反射板と、 前記反射板の側において前記被温度測定物からの熱放射
の放射量を測定する放射量測定手段と、 被温度測定物と前記放射量測定手段の受光部との間にお
いて、前記被温度測定物の前記反射板に対向した面が仮
想的に鏡面であるとした場合の前記受光部と光学的に共
役な位置をほぼ前記反射板上に位置させる光学系と、 前記放射量測定手段により得られた放射量の測定結果を
もとに被温度測定物の温度を検出する温度算出手段と、
を備え、さらに、 前記光学系が前記放射量測定手段の前記受光部と共役な
位置を前記反射板における前記第1反射領域と前記第2
反射領域との間で切替える放射経路切替え手段を備える
ことを特徴とする温度測定装置。
1. A temperature measuring device for measuring a temperature of an object to be measured based on heat radiation, wherein the first and second reflection areas have a first reflectance and a second reflection area facing the object to be measured. A reflection plate having a second reflection region having reflectivity; radiation amount measuring means for measuring a radiation amount of heat radiation from the object to be measured on the side of the reflection plate; an object to be measured and the radiation Between the light receiving unit of the quantity measuring means and the optically conjugate position with the light receiving unit in the case where the surface of the object to be measured which faces the reflection plate is virtually a mirror surface; An optical system positioned above, and a temperature calculation unit that detects the temperature of the object to be measured based on the measurement result of the radiation amount obtained by the radiation amount measurement unit,
The optical system further includes a position conjugate with the light receiving unit of the radiation amount measuring means, the first reflection area in the reflection plate and the second reflection area.
A temperature measurement device comprising: a radiation path switching unit that switches between a reflection area and a reflection area.
【請求項2】 請求項1に記載の温度測定装置であっ
て、 前記反射板における前記第1反射領域および前記第2反
射領域のうちの一方が前記反射板を貫通する貫通孔であ
り、他方が前記貫通孔以外の反射面であることを特徴と
する温度測定装置。
2. The temperature measuring device according to claim 1, wherein one of the first reflection region and the second reflection region in the reflection plate is a through hole penetrating the reflection plate, and the other. Is a reflection surface other than the through hole.
【請求項3】 請求項2に記載の温度測定装置であっ
て、 前記放射経路切替え手段がガルバノメータミラーである
ことを特徴とする温度測定装置。
3. The temperature measuring device according to claim 2, wherein said radiation path switching means is a galvanometer mirror.
【請求項4】 請求項2に記載の温度測定装置であっ
て、 前記放射経路切替え手段が、 前記放射量測定手段の前記受光部に前記熱放射を集光す
るレンズと、 前記レンズをその光軸にほぼ垂直な面内で移動させるレ
ンズ移動手段と、を備えるものであることを特徴とする
温度測定装置。
4. The temperature measuring device according to claim 2, wherein the radiation path switching unit comprises: a lens for condensing the heat radiation on the light receiving unit of the radiation amount measuring unit; A lens moving means for moving the lens in a plane substantially perpendicular to the axis.
【請求項5】 請求項4に記載の温度測定装置であっ
て、 前記レンズ移動手段が、 前記レンズを保持するレンズ保持手段と、 前記レンズ保持手段を前記レンズの光軸と離隔した位置
を中心として前記レンズの光軸に垂直な面内で回転する
回転手段と、を備えるものであることを特徴とする温度
測定装置。
5. The temperature measuring apparatus according to claim 4, wherein the lens moving unit is a lens holding unit that holds the lens, and the lens holding unit is centered on a position separated from the optical axis of the lens. A rotation unit that rotates in a plane perpendicular to the optical axis of the lens.
【請求項6】 請求項4に記載の温度測定装置におい
て、 前記放射経路変更手段が、前記レンズを複数備えるもの
であって、 前記レンズ移動手段が、 前記複数のレンズをそれぞれの光軸が平行で、かつそれ
ぞれ半径の異なる同心円周上に保持するレンズ保持手段
と、 前記半径の異なる同心円周の中心を軸として前記光軸に
垂直な面内で前記レンズ保持手段を回転する回転手段
と、を備えるものであることを特徴とする温度測定装
置。
6. The temperature measuring apparatus according to claim 4, wherein the radiation path changing unit includes a plurality of the lenses, and the lens moving unit includes a plurality of lenses each having an optical axis parallel to each other. And a lens holding means for holding the concentric circles having different radii, and a rotating means for rotating the lens holding means in a plane perpendicular to the optical axis with the center of the concentric circle having the different radius as an axis. A temperature measuring device, comprising:
JP2446998A 1998-02-05 1998-02-05 Temperature measuring instrument Pending JPH11223554A (en)

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