JPH11218684A - 微分干渉顕微鏡 - Google Patents

微分干渉顕微鏡

Info

Publication number
JPH11218684A
JPH11218684A JP10036665A JP3666598A JPH11218684A JP H11218684 A JPH11218684 A JP H11218684A JP 10036665 A JP10036665 A JP 10036665A JP 3666598 A JP3666598 A JP 3666598A JP H11218684 A JPH11218684 A JP H11218684A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical member
birefringent optical
prism
light beam
differential interference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10036665A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3885334B2 (ja
Inventor
Kumiko Otaki
久美子 大瀧
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP03666598A priority Critical patent/JP3885334B2/ja
Priority to US09/243,332 priority patent/US6034814A/en
Publication of JPH11218684A publication Critical patent/JPH11218684A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3885334B2 publication Critical patent/JP3885334B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】像の背景色の変更にともなう複屈折光学部材の
移動にもかかわらず、像の劣化が少なく高コントラスト
で良好な微分干渉像を得る。 【解決手段】反射型又は透過型の微分干渉顕微鏡におい
て、複屈折光学部材(B)は、複屈折光学部材の光線分
離面(Q)と、複屈折光学部材の入射面(M)の法線と
両プリズムの接合面(C)の法線とを含む楔平面とが交
わる交線方向に平行移動可能に構成されたことを特徴と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、金属面の微小な凹
凸や、生物細胞中の位相物体などを観察するために用い
られる微分干渉顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から用いられている微分干渉顕微鏡
として反射照明型微分干渉顕微鏡の概略断面図を図5に
示す。図5において、光源11からの照明光はコレクタ
レンズ12によって集光された後、偏光子Pによって直
線偏光に変換されてビームスプリッタBSに入射する。
ビームスプリッタBSで反射された照明光は、ウォラス
トンプリズムWに入射する。ウォラストンプリズムWで
は、複屈折作用により振動方向が互いに直交する2つの
直線偏光に分離されて射出される。ウォラストンプリズ
ムWを通過した後においては、上記2偏光成分は見かけ
上ウォラストンプリズムWの光線分離面Qで分離された
ように、僅かな分離角αをもって進行する。そしてコン
デンサレンズの役割を兼ねた対物レンズ13へ向かい、
対物レンズ13の集光作用によって互いにわずかなシア
量Sだけ離れた平行光線に変換され、試料14を照明す
る。
【0003】試料14上の僅かに離れた位置で反射され
た2光線は、対物レンズ13の集光作用によりウォラス
トンプリズムWの光線分離面Q上に集光される。2光線
はウォラストンプリズムWの複屈折作用により1つの光
束に合成され、同一光路上を逆行してビームスプリッタ
BSに入射する。ビームスプリッタBSを透過した後、
検光子Aにより互いに直交する直線偏光中の同一方向の
振動成分だけが取り出されて干渉する。そして試料14
上のわずかに異なる位置で反射する際に付与された2光
線間の位相差に応じた干渉縞が像面上で拡大像15とし
て観察される。
【0004】かかる従来例において複屈折光学部材とし
て用いられるウォラストンプリズムWは、図6に示す如
く複屈折性をもつ光学材料、例えば水晶や方解石のよう
な結晶等から形成される2枚の楔形プリズムWa、Wb
を、それぞれの光学軸の方向が互いに直交するように貼
り合わせたものである。すなわち、図6においてウォラ
ストンプリズムWに垂直入射する光線Lの進行方向をz
軸とし、紙面内でz軸に直交する方向をy軸とし、紙面
に直交する方向をx軸とし、楔角方向、すなわちプリズ
ムWの入射面Mの法線と2枚の楔形プリズムWa、Wb
の接合面Cの法線とが作る平面(以下、「楔平面」と呼
ぶ)を紙面と同じyz平面ととると、入射側楔形プリズ
ムWaの光学軸cはx軸方向に形成され、射出側楔形プ
リズムWbの光学軸dはy軸方向に形成されている。
【0005】図6において、ウォラストンプリズムWに
垂直入射する光線Lは、プリズムWを構成する複屈折材
料の複屈折作用を受けて振動方向が互いに直交する2つ
の直線偏光LoとLeとに分離し、分離角αをもってプ
リズムWから射出されるが、このとき射出側からみた2
光線の分離点は見かけ上平面Qw、すなわち光線分離面
w上にあるように見える。したがって図5の微分干渉
顕微鏡において、ウォラストンプリズムWの光線分離面
wが対物レンズ13の後側焦点F1と交わるように配置
することにより、前述した如くウォラストンプリズムW
から分離して射出された2光線を対物レンズ13により
平行光線に変換することができ、且つ試料14からの反
射光を再びウォラストンプリズムWで正しく重ね合わせ
ることができる。その結果として、コントラストの高い
微分干渉像を得ている。
【0006】また、対物レンズ13が複数のレンズ群で
構成される場合、その焦点位置がレンズ群の内部に形成
される場合がある。特に顕微鏡光学系の対物レンズで
は、レンズ内部に後側焦点が配置される事が多い。これ
に対し、ウォラストンプリズムWの見かけ上の光線分離
面Qwは必ずプリズムW内部に存在するため、レンズ群
内部の焦点位置にウォラストンプリズムWを配置するこ
とは不可能である。そのため焦点がレンズ群の内部に形
成される場合には、複屈折光学部材としてウォラストン
プリズムWに代わりノマルスキィプリズムNが用いられ
る。
【0007】ノマルスキィプリズムNは、図7に示した
ように、入射側楔形プリズムNaの光学軸eがx軸方向
に形成され、射出側楔形プリズムNbの光学軸gがyz
平面において射出面Rと所定角度εだけ傾けた方向に形
成されている。このように形成することにより、図6の
ウォラストンプリズムWではプリズムW内に形成された
光線分離面Qwを、図7の光線分離面Qnの如くプリズム
N外に形成することができる。したがって焦点位置がレ
ンズ群の内部に形成される場合にはノマルスキィプリズ
ムNが用いられ、プリズムN外に形成された光線分離面
nを対物レンズ13の後側焦点F1と交わるように配置
することで、ウォラストンプリズムWと同様に作用させ
ている。
【0008】図5で示したような従来の微分干渉顕微鏡
においては、干渉色を変化させることにより様々な背景
色のもとで像を観察することができるように、ウォラス
トンプリズムWで分離された2光線が試料を通過する際
に付与された位相差以外に、干渉色を連続的に変化させ
るべく2光線間に意図的に位相差を付与することが一般
に行われている。背景色を連続的に変化させる手段とし
ては、次の方法が知られている。すなわち、第1の方法
として、一般に補償板と呼ばれる複屈折光学材料からな
るプリズムや、平行平板を組み合わせて位相差を可変と
した移相素子を光路中に挿入する方法である。また第2
の方法として、微分干渉顕微鏡に配置されたウォラスト
ンプリズムなどの複屈折光学部材を、複屈折光学部材の
入射面の法線と複屈折光学部材を構成する2つの楔形プ
リズムの接合面Cの法線とを含む楔平面と、光軸に直交
する面との交線方向に平行移動させ、複屈折光学部材内
で分離された2偏光光がそれぞれ入射側楔形プリズムと
射出側楔形プリズムとを通過する光路長の比率を変化さ
せて位相差を付与する方法である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、補償板
や移相素子を光路中に挿入する方法では、微分干渉顕微
鏡内に別途補償板や移相素子を追加することから、装置
構成が複雑化し製造コストも高価になるという不都合が
あった。これに対し、複屈折光学部材を楔平面と光軸に
直交する面との交線方向に平行移動させる方法では、新
たな部品を追加することなく背景色を変化させることが
できるという利点を有するため、実際の微分干渉顕微鏡
で採用されることが多いが、次のような不都合があっ
た。
【0010】すなわち、複屈折光学部材として用いられ
るウォラストンプリズムやノマルスキィプリズムの光線
分離面Qは、図6及び図7に図示したように一般にプリ
ズムの楔角方向(すなわち、楔平面内)に傾斜してお
り、その傾き角βはプリズムの構造によって異なってい
る。図6に示したウォラストンプリズムWの光線分離面
wの傾き角βwは比較的小さく、βw=0としてもほぼ
差し支えないのであるが、図7に示したノマルスキィプ
リズムNの光線分離面Qnの傾き角βnは、ウォラストン
プリズムWに比べて非常に大きく、一般に無視できない
大きさとなることが知られている。前述したように対物
レンズ13は一般に複数のレンズ群で構成され、その後
側焦点F1がレンズ内部に存在する場合が多い。そのた
め、ノマルスキィプリズムNの光線分離面Qnがプリズ
ム外部に形成されることを利用して、対物レンズ13側
の複屈折光学部材としては一般にノマルスキィプリズム
Nを用いることが多い。ここで、図5の微分干渉顕微鏡
の複屈折光学部材としてノマルスキィプリズムNを用い
た場合に、プリズムNを楔平面と光軸aに直交する面と
の交線方向に平行移動させた様子を図8に示す。
【0011】図8(a)はプリズム中心軸Jを光軸a上
に配置した標準状態を示している。この状態では、ノマ
ルスキィプリズムNの光線分離面Qnは対物レンズ13
の後側焦点F1とちようど交わっている。一方、図8
(b)は干渉色を変化させるためにプリズムNをプリズ
ムNの楔平面と、光軸aに直交する面との交線方向(図
中y方向)にΔyだけ平行移動させた状態を示してい
る。この状態では、光線分離面Qnと対物レンズ13の
後側焦点F1が光軸a上で大きくずれてしまう。このよ
うな光線分離面Qnと対物レンズ13の後側焦点F1との
ずれは、像の劣化やコントラストの低下を招く原因とな
っていた。
【0012】そこで本発明は、像の背景色の変更にとも
なう複屈折光学部材の移動にもかかわらず、像の劣化が
少なく高コントラストで良好な微分干渉像を得ることを
課題とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、所定の振動方向を持つ偏光光を少なくとも
2つの楔形プリズムを接合してなる複屈折光学部材
(B)へ入射させて偏光方向が互いに直交する2つの直
線偏光成分に分離し、分離された2つの直線偏光成分を
対物レンズ(3)を経由させて被検物(4)へ導き、被
検物(4)の表面で反射された2つの直線偏光成分を対
物レンズ(3)を経由させて複屈折光学部材(B)へ導
いて1つの光束に合成し、合成された光束を検光子
(A)に入射させて2つの直線偏光成分を偏光干渉さ
せ、干渉した光束により被検物(4)の対物レンズ
(3)による像を形成する微分干渉顕微鏡において、複
屈折光学部材(B)は、複屈折光学部材(B)の光線分
離面(Q)と、複屈折光学部材(B)の入射面(M)の
法線と2つの楔形プリズムの接合面(C)の法線とを含
む楔平面とが交わる交線の方向に沿って平行移動可能に
構成されたことを特徴とする微分干渉顕微鏡である。
【0014】本発明はまた、所定の振動方向を持つ偏光
光を少なくとも2つの楔形プリズムを接合してなる照明
側複屈折光学部材(B2)へ入射させて偏光方向が互い
に直交する2つの直線偏光成分に分離し、分離された2
つの直線偏光成分をコンデンサレンズ(6)を経由させ
て被検物(4)へ導き、被検物(4)を透過した2つの
直線偏光成分を対物レンズ(3)を経由させて少なくと
も2つの楔形プリズムを接合してなる結像側複屈折光学
部材(B1)へ導いて1つの光束に合成し、合成された
光束を検光子(A)に入射させて2つの直線偏光成分を
偏光干渉させ、干渉した光束により被検物(4)の対物
レンズ(3)による像を形成する微分干渉顕微鏡におい
て、照明側複屈折光学部材(B2)と結像側複屈折光学
部材(B1)との少なくともいずれか一方を、当該複屈
折光学部材の光線分離面(Q)と、当該複屈折光学部材
の入射面(M)の法線と2つの楔形プリズムの接合面
(C)の法線とを含む楔平面とが交わる交線の方向に沿
って平行移動可能に構成されたことを特徴とする微分干
渉顕微鏡である。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の第1実施例に係る反射型
微分干渉顕微鏡の概略断面図を図1に示す。図1におい
て、光源1からの照明光はコレクタレンズ2によって集
光された後、偏光子Pによって直線偏光に変換されてビ
ームスプリッタBSに入射する。ビームスプリッタBS
で反射された照明光は、ビームスプリッタBSと対物レ
ンズ3との間に配置されたノマルスキィプリズムからな
るプリズムBに入射する。
【0016】プリズムBに入射した照明光は、複屈折作
用により振動方向が互いに直交する2つの直線偏光に分
離して射出される。プリズムBを通過した後において
は、上記2光線は見かけ上プリズムBの光線分離面Qで
分離されたように、僅かな分離角αをもって進行する。
そして上記2光線はコンデンサレンズの役割を兼ねた対
物レンズ3へ向かうが、プリズムBの光線分離面Qは対
物レンズ3の後側焦点Fと交わるように配置されている
ので、対物レンズ3に入射した上記2光線は対物レンズ
3の集光作用によって互いにわずかなシア量Sだけ離れ
た平行光線に変換され、試料4を照明する。
【0017】試料4上の僅かに離れた位置で反射された
2光線は、対物レンズ3の集光作用によりプリズムBの
光線分離面Q上に集光される。2光線はプリズムBの複
屈折作用により1つの光束に合成され、同一光路上を逆
行するようになる。そしてビームスプリッタBSに到達
してビームスプリッタBSを透過した後、検光子Aによ
り互いに直交する直線偏光中の同一方向の振動成分だけ
が取り出されて干渉し、試料4上のわずかに異なる位置
で反射する際に付与された2光線間の位相差に応じた干
渉縞が像面上で拡大像5として観察される。
【0018】本実施例の反射型微分干渉顕微鏡において
は、観察像の背景色を変化させるためにプリズムBはプ
リズムBの楔平面と光線分離面Qとの交線方向(光軸a
と直交する直線とのなす角度β)に平行移動可能に構成
されている。すなわちプリズムBの移動方向(光軸aと
直交する直線とのなす角度γ)は、γ=βに設定され
る。この場合楔平面と光線分離面Qとの交線方向に平行
移動させても、光線分離面Qの光軸a上での位置が変化
しないため、常にプリズムBの光線分離面Qと対物レン
ズ3の後側焦点Fとを光軸a上で一致させることができ
るので、像の劣化が少なく高コントラストで良好な微分
干渉像を維持しながら観察像の背景色を変化させること
が可能となる。
【0019】本発明の第2実施例に係る透過型微分干渉
顕微鏡の概略断面図を図2に示す。図2において、光源
1からの照明光はコレクタレンズ2によって集光された
後、偏光子Pに入射して直線偏光に変換される。偏光子
Pと試料4との間の光路中には光源1側から順に、ノマ
ルスキィプリズムからなる照明側プリズムB2と、試料
4を照明するコンデンサレンズ6とが配置されている。
偏光子Pを通過した直線偏光は、照明側プリズムB2に
入射して互いに振動方向が直交する2つの直線偏光に分
離される。分離された2光線は照明側プリズムB2を通
過した後コンデンサレンズ6へ向かうが、照明側プリズ
ムB2の光線分離面Q2はコンデンサレンズ6の前側焦
点F2と交わるように配置されているので、コンデンサ
レンズ6に入射した2光線はわずかな分離角αをもって
進行し、コンデンサレンズ6の集光作用によって互いに
わずかなシア量Sだけ離れた平行光線となって試料4を
照明する。
【0020】試料4上のわずかに離れた位置を透過した
透過光は、対物レンズ3の集光作用によりノマルスキィ
プリズムからなる結像側プリズムB1に集光される。結
像側プリズムB1の光線分離面Q1は対物レンズ3の後
側焦点F1と交わるように配置されているので、2光線
は結像側プリズムB1の複屈折作用により合成され、同
一光路上を進行する。そして検光子Aに入射し、検光子
Aによって互いに直交する直線偏光中の同一方向振動成
分だけが取り出されて干渉する。その結果、試料4内の
わずかに異なる位置を透過する際に付与された、2光線
間の位相差に応じた干渉縞が、像面上で拡大像5として
観察される。
【0021】本実施例の透過型微分干渉顕微鏡において
は、観察像の背景色を変化させるために結像側プリズム
B1を結像側プリズムB1の楔平面と光線分離面Qとの
交線方向(光軸aと直交する直線とのなす角度β)に平
行移動可能に構成されている。すなわち結像側プリズム
B1の移動方向(光軸aと直交する直線とのなす角度
γ)は、γ=βに設定される。第1実施例の場合と同様
に、楔平面と光線分離面Q1との交線方向に平行移動さ
せても、光線分離面Q1の光軸a上での位置が変化しな
いため、常に結像側プリズムB1の光線分離面Q1と対
物レンズ3の後側焦点F1とを光軸a上で一致させるこ
とができるので、像の劣化が少なく高コントラストで良
好な微分干渉像を維持しながら観察像の背景色を変化さ
せることが可能となる。なお、本実施例においては照明
側プリズムB2を照明側プリズムB2の楔平面と光線分
離面Q2との交線方向に平行移動可能に構成してもよ
い。このように構成しても、光線分離面Q2の光軸a上
での位置が変化しないため、常に照明側プリズムB2の
光線分離面Q2とコンデンサレンズ6の前側焦点F2とを
光軸上で一致させることができる。また、結像側プリズ
ムB1と照明側プリズムB2とを共に平行移動可能に構
成することも可能である。
【0022】本発明の第3実施例に係る反射型微分干渉
顕微鏡の概略断面図を図3に示す。本実施例において
は、第1実施例のプリズムBを楔平面に直交する回転軸
を中心として傾けて配置している。一般に微分干渉顕微
鏡顕微鏡では倍率の異なる複数の対物レンズを切り替え
ながら像観察を行うことが多い。また第2実施例で示し
たような透過型微分干渉顕微鏡に使用するコンデンサレ
ンズも対物レンズの開口数や用途に応じて数種類を切り
替えて用いることが多い。これら対物レンズやコンデン
サレンズの焦点位置は一般にレンズによって異なるた
め、レンズの焦点と複屈折光学部材の光線分離面とを正
確に一致させるためには、使用するレンズに合わせてレ
ンズ毎に異なる複屈折光学部材を用意する必要がある。
複屈折光学部材は複屈折光学部材毎に光線分離面の傾き
角が異なるので、複屈折光学部材の移動方向も複屈折光
学部材毎に変更する必要があり、そのため顕微鏡の装置
本体には複屈折光学部材毎に移動方向を変化させる機構
が必要となる。そこで本実施例においては、対物レンズ
やコンデンサレンズを切り替える際に異なる複屈折光学
部材を使用する場合においても、複屈折光学部材の移動
方向は常に一定方向に設定し、その複屈折光学部材の移
動方向に対応させて複屈折光学部材の方を傾けて配置す
るものである。これによって複屈折光学部材毎に移動方
向を変化させる機構を不要とすることが可能となる。
【0023】すなわち本実施例では、プリズムBの移動
方向γを一定に定め、使用するプリズムBの光線分離面
Qの傾き角βをプリズムBの移動方向γに一致するよう
にプリズムBを傾けて配置するのである。その傾き方向
はプリズムBの楔平面と直交する回転軸を中心として設
定され、プリズムBの入射面Mの法線nと光軸aとのな
す傾き角ηは、β=γとなるように使用するプリズムB
毎に所定の傾き角ηを設定する。そしてこの傾き角ηを
保ったままプリズムBを移動方向γに移動させて、背景
色を連続的に変化させる。具体的には、例えば一定の移
動方向γにスライドさせることができる不図示のプリズ
ムホルダを顕微鏡本体に取付け、それぞれのプリズムB
をβ=γとなる傾き角ηに調整してプリズムホルダに保
持する。そしてプリズムホルダを常に移動方向γにスラ
イドさせることにより、複数の異なるプリズムBを傾き
角ηと平行に移動させることが可能となる。
【0024】つぎに本実施例におけるプリズムBの傾き
角ηの設定について具体的に説明する。ノマルスキィプ
リズムであるプリズムBの拡大図を図4に示す。図4に
おいて、プリズムBの楔平面(紙面)における光軸aに
対する入射面Mの法線nの傾き角をη、プリズムBの楔
角をθ、射出側楔形プリズムBbの光学軸gが射出面R
とのなす傾き角をεとする。このη、θ、εが光軸aに
直交する面に対する光線分離面Qの傾き角βを決める変
数であり、以下これら3変数が満たすべき条件式を説明
する。
【0025】図4における光軸a上の入射光線Lは、プ
リズムB内で楔平面に平行な面内(yz面)で振動する
偏光成分Leと、楔平面に垂直な面内(xz面)で振動
する偏光成分Loとの2光線に分離して進行する。この
とき、プリズムBの入射面M、接合面C及び射出面Rの
各面の法線に対して光線がなす角度を、光線Leについ
てはそれぞれxe1、xe2、xe3とし、光線Loに
ついてはそれぞれxo1、xo2、xo3とする。ここ
でxe1、xo1、xo2、及びxo3はη、θの関数
であり、xe2及びxe3はη、θ、εの関数である。
η、θ、εを決めると、これら光線Leと光線Loの各
屈折角は、すべて偏光光線追跡を行うことにより一意に
求められる。
【0026】このとき、試料4面上での微分干渉のシア
量をSとし、対物レンズ3の焦点距離をfとすると、プ
リズムB射出後の2光線の分離角αは、次式で表され
る。 また、光線分離面Qの傾き角βについては、近似的に、 が成り立つ。
【0027】いま、光線分離面Qの傾き角βをプリズム
Bの移動方向γと等しくする条件を求めるには、(2)
式においてβ=γとおけばよい。さらに、この(1)式
及び(2)式を満たし、且つ光線分離面Qの光軸方向位
置が使用するレンズの焦点と光軸a上で一致するように
適当なθ、η、εを決定すればよい。また、特に(2)
式においてβ=γ=ηとなる配置をとれば、プリズムB
の傾き角ηに沿ってプリズムBをそのまま移動させるだ
けで、常にプリズムBの光線分離面Qと使用するレンズ
の焦点と光軸a上で一致させながら干渉色を変化させる
ことができるので、プリズムBの移動機構を簡略に構成
することができる。
【0028】なお、本実施例は反射型微分干渉顕微鏡の
用いるプリズムBについて適用する場合を説明したが、
第2実施例に係る透過型微分干渉顕微鏡に用いる結像側
プリズムB1及び照明側プリズムB2についても同様に
適用することが可能である。また、本実施例においてウ
ォラストンプリズムやノマルスキィプリズムを図4、図
6、及び図7において説明したが、これらのプリズムを
構成する結晶の組み合わせ方は図示した配置に限定する
ものではない。例えばノマルスキィプリズムでは、図7
に示したように入射側楔形プリズムNaの光学軸eをx
軸方向に形成し、出射側楔形プリズムNbの光学軸gを
yz面内でy軸に対して所定角度γ傾けて形成している
が、これとは逆に、入射側楔形プリズムNaの光学軸e
をyz面内でy軸に対して所定角度γ傾けて形成し、出
射側楔形プリズムNbの光学軸gをx軸方向に形成した
ものを用いてもよい。また、3つ以上の楔形プリズムを
組み合わせて形成したものを用いてもよい。
【0029】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、微分干渉
顕微鏡において複屈折光学部材を複屈折光学部材の楔平
面と光線分離面との交線方向に平行移動可能に構成する
ことによって、常に複屈折光学部材の光線分離面と対物
レンズ及びコンデンサレンズの焦点とを光軸上で一致さ
せることができるので、像の劣化が少なく高コントラス
トで良好な微分干渉像を維持しながら観察像の背景色を
変化させることが可能となった。特に、対物レンズ及び
コンデンサレンズに対応して使用される各々の複屈折光
学部材について、光線分離面の傾き角が常に一定となる
ように複屈折光学部材を光軸に対し傾けて配置すること
で、複屈折光学部材は複屈折光学部材を取り替えても常
に一定方向に移動させればよいので、装置を簡略に構成
することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る反射型微分干渉顕微
鏡の概略断面図である。
【図2】本発明の第2実施例に係る透過型微分干渉顕微
鏡の概略断面図である。
【図3】本発明の第3実施例に係る反射型微分干渉顕微
鏡の概略断面図である。
【図4】ノマルスキィプリズムを通過する光線の状態を
説明する図である。
【図5】従来の透過照明型微分干渉顕微鏡の概略断面図
である。
【図6】ウォラストンプリズムの断面図である。
【図7】ノマルスキィプリズムの断面図である。
【図8】従来の複屈折光学部材の光線分離面と焦点の位
置関係を説明する図である。
【符号の説明】
1…光源 2…コレクタレンズ 3…対物レンズ 4…試料 5…拡大像 6…コンデンサレン
ズ P…偏光子 A…検光子 B、B1、B2…プリズム BS…ビームスプリ
ッタ a…光軸 Q、Q1、Q2
w、Qn…光線分離面 F1…対物レンズ後側焦点 F2…コンデンサレン
ズ前側焦点 M…プリズム入射面 C…プリズム接合面 R…プリズム射出面

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の振動方向を持つ偏光光を少なくとも
    2つの楔形プリズムを接合してなる複屈折光学部材へ入
    射させて偏光方向が互いに直交する2つの直線偏光成分
    に分離し、分離された該2つの直線偏光成分を対物レン
    ズを経由させて被検物へ導き、該被検物の表面で反射さ
    れた前記2つの直線偏光成分を前記対物レンズを経由さ
    せて前記複屈折光学部材へ導いて1つの光束に合成し、
    合成された光束を検光子に入射させて前記2つの直線偏
    光成分を偏光干渉させ、干渉した光束により前記被検物
    の前記対物レンズによる像を形成する微分干渉顕微鏡に
    おいて、 前記複屈折光学部材は、該複屈折光学部材の光線分離面
    と、該複屈折光学部材の入射面の法線と前記2つの楔形
    プリズムの接合面の法線とを含む楔平面とが交わる交線
    の方向に沿って平行移動可能に構成されたことを特徴と
    する微分干渉顕微鏡。
  2. 【請求項2】前記複屈折光学部材は、ノマルスキィプリ
    ズムから形成された請求項1記載の微分干渉顕微鏡。
  3. 【請求項3】前記複屈折光学部材は、前記楔平面に直交
    する回転軸を中心として傾けて配置された請求項1又は
    2記載の微分干渉顕微鏡。
  4. 【請求項4】複屈折光学部材の前記入射面は、該複屈折
    光学部材の光線分離面と平行に形成された請求項3記載
    の微分干渉顕微鏡。
  5. 【請求項5】所定の振動方向を持つ偏光光を少なくとも
    2つの楔形プリズムを接合してなる照明側複屈折光学部
    材へ入射させて偏光方向が互いに直交する2つの直線偏
    光成分に分離し、分離された該2つの直線偏光成分をコ
    ンデンサレンズを経由させて被検物へ導き、該被検物を
    透過した前記2つの直線偏光成分を対物レンズを経由さ
    せて少なくとも2つの楔形プリズムを接合してなる結像
    側複屈折光学部材へ導いて1つの光束に合成し、合成さ
    れた光束を検光子に入射させて前記2つの直線偏光成分
    を偏光干渉させ、干渉した光束により前記被検物の前記
    対物レンズによる像を形成する微分干渉顕微鏡におい
    て、 前記照明側複屈折光学部材と前記結像側複屈折光学部材
    との少なくともいずれか一方を、当該複屈折光学部材の
    光線分離面と、当該複屈折光学部材の入射面の法線と前
    記2つの楔形プリズムの接合面の法線とを含む楔平面と
    が交わる交線の方向に沿って平行移動可能に構成された
    ことを特徴とする微分干渉顕微鏡。
  6. 【請求項6】前記照明側複屈折光学部材と前記結像側複
    屈折光学部材との少なくともいずれか一方は、ノマルス
    キィプリズムから形成された請求項5記載の微分干渉顕
    微鏡。
  7. 【請求項7】前記照明側複屈折光学部材と前記結像側複
    屈折光学部材との少なくともいずれか一方は、前記楔平
    面に直交する回転軸を中心として傾けて配置された請求
    項5又は6記載の透過照明型微分干渉顕微鏡。
  8. 【請求項8】前記照明側複屈折光学部材と前記結像側複
    屈折光学部材との少なくともいずれか一方は、複屈折光
    学部材の前記入射面が該複屈折光学部材の光線分離面と
    平行に形成された請求項7記載の微分干渉顕微鏡。
JP03666598A 1998-02-02 1998-02-02 微分干渉顕微鏡 Expired - Lifetime JP3885334B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP03666598A JP3885334B2 (ja) 1998-02-02 1998-02-02 微分干渉顕微鏡
US09/243,332 US6034814A (en) 1998-02-02 1999-02-01 Differential interference microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP03666598A JP3885334B2 (ja) 1998-02-02 1998-02-02 微分干渉顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11218684A true JPH11218684A (ja) 1999-08-10
JP3885334B2 JP3885334B2 (ja) 2007-02-21

Family

ID=12476165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP03666598A Expired - Lifetime JP3885334B2 (ja) 1998-02-02 1998-02-02 微分干渉顕微鏡

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6034814A (ja)
JP (1) JP3885334B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016508600A (ja) * 2013-01-24 2016-03-22 ラムダ − エックス ハイパースペクトル・イメージングにおける改善又はそれに関する改善

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6911638B2 (en) 1995-02-03 2005-06-28 The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Wavefront coding zoom lens imaging systems
US7218448B1 (en) * 1997-03-17 2007-05-15 The Regents Of The University Of Colorado Extended depth of field optical systems
US20020118457A1 (en) * 2000-12-22 2002-08-29 Dowski Edward Raymond Wavefront coded imaging systems
US20020195548A1 (en) * 2001-06-06 2002-12-26 Dowski Edward Raymond Wavefront coding interference contrast imaging systems
US6536898B1 (en) * 2000-09-15 2003-03-25 The Regents Of The University Of Colorado Extended depth of field optics for human vision
US6873733B2 (en) 2001-01-19 2005-03-29 The Regents Of The University Of Colorado Combined wavefront coding and amplitude contrast imaging systems
US6842297B2 (en) 2001-08-31 2005-01-11 Cdm Optics, Inc. Wavefront coding optics
US7209239B2 (en) * 2002-10-02 2007-04-24 Kla-Tencor Technologies Corporation System and method for coherent optical inspection
US20060063989A1 (en) * 2004-08-19 2006-03-23 Hogan Josh N Compact non-invasive analysis system
US7652845B2 (en) * 2005-02-23 2010-01-26 Seagate Technology Llc Stress relief features for an overmolded base
US20100081916A1 (en) * 2008-09-29 2010-04-01 Searete Llc, A Limited Liability Corporation Of The State Of Delaware. Histological facilitation systems and methods
US20100081915A1 (en) * 2008-09-29 2010-04-01 Searete Llc, Alimited Liability Corporation Of The State Of Delaware Histological facilitation systems and methods
US20100081926A1 (en) * 2008-09-29 2010-04-01 Searete Llc, A Limited Liability Corporation Of The State Of Delaware Histological facilitation systems and methods
US20100081928A1 (en) * 2008-09-29 2010-04-01 Searete Llc, A Limited Liability Corporation Of The State Of Delaware Histological Facilitation systems and methods
US20100081927A1 (en) * 2008-09-29 2010-04-01 Searete Llc, A Limited Liability Corporation Of The State Of Delaware Histological facilitation systems and methods
US20100081924A1 (en) * 2008-09-29 2010-04-01 Searete Llc, A Limited Liability Corporation Of The State Of Delaware Histological facilitation systems and methods
TW201015109A (en) * 2008-10-03 2010-04-16 Ind Tech Res Inst Differential interference contrast microscope
US9535200B2 (en) * 2012-12-19 2017-01-03 The Aerospace Corporate Complete-stokes fourier-domain imaging polarimeter

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3868168A (en) * 1973-01-16 1975-02-25 American Optical Corp Combination of birefringent elements for polarizing interferential systems
JPH02151825A (ja) * 1988-12-05 1990-06-11 Olympus Optical Co Ltd 微分干渉顕微鏡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016508600A (ja) * 2013-01-24 2016-03-22 ラムダ − エックス ハイパースペクトル・イメージングにおける改善又はそれに関する改善

Also Published As

Publication number Publication date
US6034814A (en) 2000-03-07
JP3885334B2 (ja) 2007-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3885334B2 (ja) 微分干渉顕微鏡
JP3656252B2 (ja) 微分干渉顕微鏡
US4763968A (en) Surgical microscope
JP2007121499A (ja) 微分干渉観察方法及び顕微鏡
US3963353A (en) Monolithic beam splitter mirror arrangement
EP1882968A1 (en) Polarization microscope
JPH04362911A (ja) 実体顕微鏡
US20010040723A1 (en) Differential interference optical system
JP3289941B2 (ja) システム顕微鏡
JP2004334222A (ja) 重畳画像を生成するための顕微鏡及び鏡検方法。
EP0173345B1 (en) Method and apparatus for simultaneously observing a transparent object from two directions
US3877779A (en) Dual magnification microscope
US3007371A (en) Microscopes
GB2076176A (en) Focusing Optical Apparatus
US4406526A (en) Focusing of optical viewing apparatus
US11086117B2 (en) Apparatus and method for light-sheet-like illumination of a sample
JPH07253545A (ja) 微分干渉顕微鏡
SU1125592A1 (ru) Оптическа система дл получени промежуточного изображени при осуществлении контрастных методов в микроскопах
US20030043459A1 (en) Differential interference microscope
JPH11218679A (ja) 微分干渉顕微鏡
JPH1138327A (ja) 実体顕微鏡の同軸落射照明装置
US6549334B1 (en) Transmission illumination type differential interference microscope
JPS62166311A (ja) 実体顕微鏡
JP2001021807A (ja) 透過照明型微分干渉顕微鏡
JPH11218680A (ja) 透過照明型微分干渉顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050125

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20050128

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060511

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060516

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060706

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060808

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061005

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20061031

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20061113

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091201

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121201

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121201

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151201

Year of fee payment: 9

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151201

Year of fee payment: 9

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151201

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term