JPH11202232A - Multibeam scanning device - Google Patents
Multibeam scanning deviceInfo
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- JPH11202232A JPH11202232A JP2025898A JP2025898A JPH11202232A JP H11202232 A JPH11202232 A JP H11202232A JP 2025898 A JP2025898 A JP 2025898A JP 2025898 A JP2025898 A JP 2025898A JP H11202232 A JPH11202232 A JP H11202232A
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- JP
- Japan
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- holder
- laser
- laser unit
- optical box
- scanning
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- Pending
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- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザプリンタや
デジタル複写機などにおいて光書き込みに用いられるマ
ルチビーム走査装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-beam scanning device used for optical writing in a laser printer, a digital copying machine, or the like.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般的なマルチビームレーザユニット1
10を図2、3に示す。発光点を複数個持っている半導
体レーザ101はホルダー102の嵌合穴109に圧入
又は接着等で固定される。その後コリメータレンズ20
2、絞り201を内蔵する鏡筒103は、XYZ3方向
に調整後、ホルダー102に公知の技術(例えば、整理
番号2198028)等で接着固定される。このよう
に、調整が完了したレーザユニット110を今度は図4
における光学部品、例えば、FθレンズF、回転多面鏡
R等が取り付けられている光学箱106に固定する際、
図5に示すようにスポット40を所定のピッチ(副走査
方向)間隔、即ちDピッチを調整するために、図2で示
すAA’方向の回転調整を施す必要がある。例えば、D
ピッチは600DPIでは42μm程度、1200DP
Iでは21μm程度と非常に細かいピッチを±数μm程
度で調整する必要がある。以上のような、AA’方向の
回転調整後、光学箱106に設けられたメネジ107に
対してホルダー102に設けられた長穴104を介して
ネジ105でレーザユニット110が光学箱106に固
定される。2. Description of the Related Art General multi-beam laser unit 1
10 is shown in FIGS. The semiconductor laser 101 having a plurality of light emitting points is fixed to the fitting hole 109 of the holder 102 by press-fitting or bonding. Then the collimator lens 20
2. The lens barrel 103 containing the aperture 201 is adjusted in the XYZ directions, and is then adhesively fixed to the holder 102 by a known technique (for example, reference number 2198028). In this manner, the laser unit 110 that has been adjusted is now shown in FIG.
When fixing to the optical box 106 in which the optical parts in, for example, the Fθ lens F, the rotating polygon mirror R, etc. are attached,
As shown in FIG. 5, in order to adjust the interval between the spots 40 at a predetermined pitch (sub-scanning direction), that is, the D pitch, it is necessary to perform rotation adjustment in the AA ′ direction shown in FIG. For example, D
Pitch is about 42μm at 600DPI, 1200DP
In the case of I, a very fine pitch of about 21 μm needs to be adjusted to about ± several μm. After the rotation adjustment in the AA ′ direction as described above, the laser unit 110 is fixed to the optical box 106 with the screw 105 through the elongated hole 104 provided in the holder 102 with respect to the female screw 107 provided in the optical box 106. You.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来例では以下の欠点があった。副走査ピッチ調整し
た後、レーザユニット(ホルダー)をネジ等で光学箱に
固定しているが、ホルダーと光学箱の熱膨張率が違うと
高温、又は低温においてホルダーと光学箱の熱膨張差分
の膨張、収縮を発生するため、照射位置、ピント位置、
副走査ピッチが変動してしまう問題があった。副走査ピ
ッチの変動について記述すると以下のようになる。例え
ば、感光体上で副走査ピッチが21μm、主走査ピッチ
が1.5mm程度とすると、副走査ピッチが2μm変動
(10%変動)した場合、半導体レーザの2つの発光点
間隔は変化しないので、主走査ピッチは10%変動して
いることになる。すなわち、主走査ピッチは、150μ
mの変動を発生する。この走査装置において、BD(ビ
ームディテクト;書き出し位置検出)をどちらか一方で
のみ取っていた場合においては、他方の書き出し位置が
150μm変動してしまうことになる。このため、従来
例のものにおいては、感光体上のドット位置ずれにな
り、高品質の画像を提供することができないという問題
があった。However, the above-mentioned prior art has the following disadvantages. After adjusting the sub-scanning pitch, the laser unit (holder) is fixed to the optical box with screws etc. If the thermal expansion coefficient of the holder and the optical box are different, the difference in thermal expansion between the holder and the optical box at high or low temperature Irradiation position, focus position,
There was a problem that the sub-scanning pitch fluctuated. The variation of the sub-scanning pitch is described as follows. For example, if the sub-scanning pitch is about 21 μm and the main scanning pitch is about 1.5 mm on the photoconductor, if the sub-scanning pitch fluctuates by 2 μm (10% fluctuation), the interval between the two light emitting points of the semiconductor laser does not change. The main scanning pitch is changed by 10%. That is, the main scanning pitch is 150 μm.
m. In this scanning device, if only one of the BD (beam detection; writing position detection) is taken, the writing position of the other will vary by 150 μm. For this reason, in the case of the conventional example, there is a problem that a dot position shift on the photoconductor causes a high quality image to not be provided.
【0004】そこで、本発明は、上記従来のものにおけ
る課題を解決し、高温、又は低温状態において、レーザ
ユニットの照射位置、ピント位置、副走査ピッチ等が変
動しないマルチビーム走査装置を提供することを目的と
している。Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned problems in the prior art, and to provide a multi-beam scanning apparatus in which the irradiation position, focus position, sub-scanning pitch and the like of a laser unit do not fluctuate in a high or low temperature state. It is an object.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、複数の発光点を有する半導体レーザ、半
導体レーザを保持するホルダー及び発光されたビームを
略平行光とするコリメータレンズで構成されているレー
ザユニットと、該レーザユニットから出射されたレーザ
光を偏向する偏向器と、感光体に偏向走査するための各
種レンズとを備え、これらを光学箱に取り付けてなるマ
ルチビーム走査装置において、前記レーザユニットの半
導体レーザを保持するホルダーと前記光学箱とを、熱膨
張率がほぼ同一の材質によって形成したことを特徴とす
るものである。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, the present invention provides a semiconductor laser having a plurality of light emitting points, a holder for holding the semiconductor laser, and a collimator lens for making the emitted beam substantially parallel light. A multi-beam scanning device comprising a laser unit having the above configuration, a deflector for deflecting laser light emitted from the laser unit, and various lenses for deflecting and scanning a photosensitive member, and attaching these to an optical box. Wherein the holder for holding the semiconductor laser of the laser unit and the optical box are formed of materials having substantially the same coefficient of thermal expansion.
【0006】[0006]
【発明の実施の形態】本発明では、ホルダーと光学箱の
熱膨張率をほぼ同一な材質にしたので、副走査ピッチの
調整であるレーザユニット(ホルダー)の回転調整後
に、光学箱にレーザユニットをネジ、接着等で固定した
状態で、高温、又は低温時でも光学箱の膨張、収縮とい
う外力がホルダーに加わることがないので、レーザユニ
ットの照射位置、ピント位置、副走査ピッチが変動しな
いマルチビーム走査装置を構成することができる。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In the present invention, since the thermal expansion coefficient of the holder and the optical box are made of substantially the same material, the laser unit is attached to the optical box after rotation adjustment of the laser unit (holder) for adjusting the sub-scanning pitch. Even when the temperature is high or low, no external force such as expansion or contraction of the optical box is applied to the holder while the optical unit is fixed with screws, adhesive, etc., so that the irradiation position, focus position and sub-scanning pitch of the laser unit do not change. A beam scanning device can be configured.
【0007】[0007]
【実施例】本発明の実施例を図1に従って説明する。図
1において、半導体レーザ1は、ホルダー3に接着や圧
入で固定されている。その後、コリメータレンズ5を保
持している鏡筒4をXYZ方向の所定位置に移動調整後
接着する。この調整によってレーザユニットにおけるメ
カニカル調整は完了する。また、調整が完了したレーザ
ユニット110を光学箱6に取り付ける際、光学箱6に
設けられた嵌合穴7に対してホルダー3に設けられた嵌
合部8を嵌合することでホルダー3が光学箱6に位置決
めされる。An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 1, a semiconductor laser 1 is fixed to a holder 3 by bonding or press-fitting. Thereafter, the lens barrel 4 holding the collimator lens 5 is moved and adjusted to a predetermined position in the XYZ directions, and then bonded. With this adjustment, the mechanical adjustment in the laser unit is completed. Also, when the adjusted laser unit 110 is mounted on the optical box 6, the holder 3 is fitted by fitting the fitting portion 8 provided on the holder 3 into the fitting hole 7 provided on the optical box 6. It is positioned in the optical box 6.
【0008】その後、副走査ピッチの調整をレーザユニ
ット110をBB’方向に回転することで実施する。B
B’方向への回転調整は、ホルダー3に設けられた回転
調整用穴10に回転調整用治具13に設けられた回転調
整用ピン11を嵌合させて、回転調整用治具13を回転
させて行う。所定のDPI(解像度)に対応したピッチ
になったところで回転調整を完了させ、ネジ9をホルダ
ー3に設けられた固定用穴10を光学箱6に設けられた
メネジ14にネジ込むことでホルダー3を光学箱6に固
定する。Thereafter, the sub-scanning pitch is adjusted by rotating the laser unit 110 in the BB 'direction. B
The rotation adjustment in the direction B ′ is performed by fitting the rotation adjustment pin 11 provided on the rotation adjustment jig 13 into the rotation adjustment hole 10 provided on the holder 3 and rotating the rotation adjustment jig 13. Let me do it. At the pitch corresponding to a predetermined DPI (resolution), the rotation adjustment is completed, and the screw 9 is screwed into the fixing hole 10 provided in the holder 3 into the female screw 14 provided in the optical box 6 to thereby fix the holder 3. Is fixed to the optical box 6.
【0009】このようにして組立、調整されたレーザユ
ニット110のホルダー3と光学箱6の材質を考える
と、例えば、光学箱6の材質をガラス30〜50%含有
するPC(ポリカーボネート)にすることは容易であ
る。また、ホルダー2を同様な材質にすることも最近の
樹脂走査レンズにおいては可能になってきた。これは、
樹脂走査レンズにおいては温度変化によって屈折率が変
化するため、焦点位置が変化するという現象が発生する
が、ホルダー2の熱膨張を積極的に利用すると、先程の
焦点位置のずれをキャンセルし、焦点位置ずれを非常に
小さくすることができるからである。Considering the materials of the holder 3 and the optical box 6 of the laser unit 110 assembled and adjusted in this way, for example, the optical box 6 is made of PC (polycarbonate) containing 30 to 50% of glass. Is easy. Further, it is possible to make the holder 2 of a similar material in recent resin scanning lenses. this is,
In a resin scanning lens, the refractive index changes due to a change in temperature, so that a phenomenon occurs that the focal position changes. However, if the thermal expansion of the holder 2 is positively used, the above-described shift of the focal position is canceled, and the focus position is changed. This is because the displacement can be made very small.
【0010】[0010]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
レーザユニットの半導体レーザを保持するホルダーと光
学箱とを、熱膨張率がほぼ同一の材質にすることによ
り、高温、又は低温状態において、両者の熱膨張差によ
る膨張、収縮の外力が前記ホルダーに加わることがな
く、レーザユニットの照射位置、ピント位置、副走査ピ
ッチが変動しない高品質の画像を形成することの可能な
マルチビーム走査装置を実現することができる。As described above, according to the present invention,
By making the holder for holding the semiconductor laser of the laser unit and the optical box substantially the same in thermal expansion coefficient, in a high-temperature or low-temperature state, an external force of expansion and contraction due to a difference in thermal expansion between the two is applied to the holder. It is possible to realize a multi-beam scanning apparatus capable of forming a high-quality image in which the irradiation position, the focus position, and the sub-scanning pitch of the laser unit do not change without any addition.
【図1】本発明の実施例1であるマルチビームレーザユ
ニット外観図。FIG. 1 is an external view of a multi-beam laser unit according to a first embodiment of the present invention.
【図2】一般的であるマルチビームレーザユニット外観
図。FIG. 2 is an external view of a general multi-beam laser unit.
【図3】一般的なマルチビームレーザユニット断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view of a general multi-beam laser unit.
【図4】一般的なマルチビーム走査装置外観図。FIG. 4 is an external view of a general multi-beam scanning device.
【図5】スポットの副走査間隔の拡大図。FIG. 5 is an enlarged view of a sub-scanning interval of a spot.
1:半導体レーザ 3:ホルダー 4:鏡筒 5:コリメータレンズ 6:光学箱 7:嵌合穴 8:嵌合部 9:ネジ 10:固定用穴 11:回転調整用ピン 12:回転調整用穴 13:回転調整用治具 1: Semiconductor laser 3: Holder 4: Lens barrel 5: Collimator lens 6: Optical box 7: Fitting hole 8: Fitting part 9: Screw 10: Fixing hole 11: Rotation adjustment pin 12: Rotation adjustment hole 13 : Rotation adjustment jig
Claims (1)
体レーザを保持するホルダー及び発光されたビームを略
平行光とするコリメータレンズで構成されているレーザ
ユニットと、該レーザユニットから出射されたレーザ光
を偏向する偏向器と、感光体に偏向走査するための各種
レンズとを備え、これらを光学箱に取り付けてなるマル
チビーム走査装置において、前記レーザユニットの半導
体レーザを保持するホルダーと前記光学箱とが、熱膨張
率がほぼ同一の材質によって形成されていることを特徴
とするマルチビーム走査装置。1. A laser unit comprising a semiconductor laser having a plurality of light emitting points, a holder for holding the semiconductor laser, and a collimator lens for making the emitted beam substantially parallel light, and a laser emitted from the laser unit. In a multi-beam scanning apparatus comprising a deflector for deflecting light and various lenses for deflecting and scanning a photoconductor, and attaching them to an optical box, a holder for holding a semiconductor laser of the laser unit and the optical box Are formed of materials having substantially the same coefficient of thermal expansion.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2025898A JPH11202232A (en) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Multibeam scanning device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2025898A JPH11202232A (en) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Multibeam scanning device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11202232A true JPH11202232A (en) | 1999-07-30 |
Family
ID=12022182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2025898A Pending JPH11202232A (en) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Multibeam scanning device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11202232A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001100128A (en) * | 1999-09-29 | 2001-04-13 | Canon Inc | Multi-beam scanner |
JP2003043388A (en) * | 2001-07-31 | 2003-02-13 | Canon Inc | Scanning optical device and imaging apparatus using the same |
US7835040B2 (en) | 2006-02-27 | 2010-11-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning apparatus and image forming apparatus |
US20130342628A1 (en) * | 2012-06-22 | 2013-12-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning apparatus and image forming apparatus including the optical scanning apparatus |
-
1998
- 1998-01-16 JP JP2025898A patent/JPH11202232A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2001100128A (en) * | 1999-09-29 | 2001-04-13 | Canon Inc | Multi-beam scanner |
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US20130342628A1 (en) * | 2012-06-22 | 2013-12-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning apparatus and image forming apparatus including the optical scanning apparatus |
US9069279B2 (en) * | 2012-06-22 | 2015-06-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical scanning apparatus and image forming apparatus including the optical scanning apparatus |
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