JPH11151205A - Refractometer - Google Patents
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- JPH11151205A JPH11151205A JP9339381A JP33938197A JPH11151205A JP H11151205 A JPH11151205 A JP H11151205A JP 9339381 A JP9339381 A JP 9339381A JP 33938197 A JP33938197 A JP 33938197A JP H11151205 A JPH11151205 A JP H11151205A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、走査光を被検光学
系に投影することにより該被検光学系の屈折力を測定す
る屈折力測定装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a refracting power measuring device for measuring a refracting power of a test optical system by projecting a scanning light onto the test optical system.
【0002】[0002]
【従来の技術】今日、被検光学系(投影光を反射する全
てのレンズ、レンズ群又は被検眼をいい、具体的には眼
鏡レンズ、コンタクトレンズ、カメラの交換レンズ、眼
内レンズ等をいう)の屈折力を検影法の原理に基づいて
他覚的に測定する他覚式屈折力測定装置が広く用いられ
ている。この検影法では2方向以上で走査された光を投
影する必要があるため、他覚式屈折測定装置には光源の
光を2方向以上で走査する走査手段が設けられている。
ここで近年、他覚式屈折力測定装置の手持ち化の要求か
らその小型化が進んできており、走査手段についても小
型化したものが提案されている。2. Description of the Related Art Today, an optical system to be inspected (refers to all lenses, lens groups, or eyes to be reflected, specifically, spectacle lenses, contact lenses, interchangeable lenses of cameras, intraocular lenses, etc. The objective type refracting power measuring device which objectively measures the refractive power of the method (1) based on the principle of the radiographic method is widely used. Since this scanning method needs to project light scanned in two or more directions, the objective refractometer is provided with scanning means for scanning light from a light source in two or more directions.
Here, in recent years, miniaturization of the objective type refracting power measuring device has been promoted due to a demand for a handheld device, and a miniaturized scanning unit has been proposed.
【0003】このような走査手段を小型化した他覚式屈
折力測定装置の一例として本出願人による特開昭62‐
5147及び特開平6−165757がある。図5には
特開昭62‐5147における装置の光学系の構成図、
図6には図5のC−C’矢視図を示す。この図5におい
て、光源90の光はチョッパ装置91のチョッパ92を
通過することで所定方向に走査され、投影光学系93を
介して被検光学系たる被検眼Eの眼底に投影される。そ
して眼底にて反射された投影光は受光手段94にて受光
され、被検眼Eの屈折力が算出される。なお符号95は
固視光学系を示す。As an example of an objective refractive power measuring apparatus in which such a scanning means is miniaturized, Japanese Patent Application Laid-Open No.
5147 and JP-A-6-165775. FIG. 5 is a configuration diagram of an optical system of the apparatus in Japanese Patent Laid-Open No. 62-5147,
FIG. 6 is a view taken along the line CC ′ of FIG. In FIG. 5, light from a light source 90 is scanned in a predetermined direction by passing through a chopper 92 of a chopper device 91, and is projected via a projection optical system 93 onto a fundus of an eye E to be inspected, which is an optical system to be inspected. Then, the projection light reflected by the fundus is received by the light receiving means 94, and the refractive power of the eye E is calculated. Reference numeral 95 denotes a fixation optical system.
【0004】ここで図6に示すように、チョッパ92の
半径方向における中間部には、基準線D−D’を中心と
して図面上方にスリット96aが、図面下方にスリット
96bが形成されている。これらスリット96a、96
bは基準線D−D’を中心として線対称であり、一方の
スリット96aが光源の光を所定方向に走査すると共に
他方のスリット96bが光を前記所定方向と直交する方
向に走査する。したがって光源の光をチョッパ92の中
間部の所定の1箇所に照射し、チョッパ92を1回転さ
せることによって、光源の光が2方向に走査される。[0004] As shown in FIG. 6, a slit 96a is formed above the drawing and a slit 96b is formed below the drawing centering on a reference line DD 'at the center of the chopper 92 in the radial direction. These slits 96a, 96
b is line-symmetric with respect to the reference line DD ′. One slit 96a scans the light of the light source in a predetermined direction, and the other slit 96b scans the light in a direction orthogonal to the predetermined direction. Therefore, the light of the light source is irradiated on a predetermined one portion of the intermediate portion of the chopper 92, and the light of the light source is scanned in two directions by rotating the chopper 92 once.
【0005】また特開平6−165757では、上記特
開昭62‐5147に対してその基本的構成が略同様で
ある一方、チョッパのスリット形状が異なる。図7に
は、このチョッパを図6に対応する方向から見た図を示
す。この図7に示すように、チョッパ97には互いに同
形状の4本のスリット98a〜98dと、互いに同形状
の6本のスリット99a〜99fが形成されている。そ
して一方のスリット98a〜98dが光源の光を所定方
向に走査すると共に他方のスリット99a〜99fが光
を前記所定方向と直交する方向に走査する。したがって
光源の光をチョッパ97の中間部の所定の1箇所に照射
し、チョッパ97を回転させることによって、光源の光
が2方向に走査される。なおスリット98a〜98dと
スリット99a〜99fの数を変えているのは、これら
を周波数分離することにより互いに識別可能とするため
である。In Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-165775, the basic configuration is substantially the same as that in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-5147, but the slit shape of the chopper is different. FIG. 7 shows a view of the chopper viewed from a direction corresponding to FIG. As shown in FIG. 7, the chopper 97 is formed with four slits 98a to 98d having the same shape and six slits 99a to 99f having the same shape. One of the slits 98a to 98d scans the light of the light source in a predetermined direction, and the other slits 99a to 99f scan the light in a direction orthogonal to the predetermined direction. Therefore, the light of the light source is irradiated to a predetermined one portion of the intermediate portion of the chopper 97, and the light of the light source is scanned in two directions by rotating the chopper 97. The number of the slits 98a to 98d and the number of the slits 99a to 99f are changed so that they can be distinguished from each other by frequency separation.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のこ
のような屈折力測定装置においては、上述のように走査
手段を小型化するための工夫が施されているものの、下
記のような不具合があった。例えば手持ち式の屈折力測
定装置では被検者及び検者が動くことが多く、可能な限
り短時間で測定することが望まれるのに対し、特開昭6
2‐5147の装置では測定時間の短縮化が困難であっ
た。これは、特開昭62‐5147ではチョッパの半回
転毎に走査方向を変えることから、2方向の走査を行な
うためにチョッパを1回転させる必要があり、したがっ
て屈折力の測定に最低でもチョッパ1回転分の時間を要
するためである。またチョッパーの走査方向が90度変
化する位置、すなわち図6の基準線D−D’上の位置で
は所定方向のスリット96aと所定方向に直交する方向
のスリット96bが混じり合うために正確な測定を行な
うことができないことも、やはり屈折力測定に時間がか
かる一因となっていた。However, in such a conventional refractive power measuring apparatus, although the device for reducing the size of the scanning means has been devised as described above, there have been the following problems. . For example, in a hand-held refractive power measuring device, the subject and the examiner often move, and it is desired that the measurement be performed in the shortest possible time.
With the device of 2-5147, it was difficult to shorten the measurement time. This is because in Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 62-5147, the scanning direction is changed every half rotation of the chopper, so that it is necessary to rotate the chopper once to perform scanning in two directions. This is because it takes time for the rotation. Further, at the position where the scanning direction of the chopper changes by 90 degrees, that is, at the position on the reference line DD ′ in FIG. 6, since the slit 96a in the predetermined direction and the slit 96b in the direction orthogonal to the predetermined direction are mixed, accurate measurement is performed. The inability to do so also contributed to the time-consuming refractive power measurement.
【0007】また特開平6−165757の装置では、
スリット98a〜98dとスリット99a〜99fを介
して2方向の走査がほぼ同時に行われるために、受光し
た信号を周波数別に分離することが必要になり、分離能
力の高いフィルターを備えた周波数分離回路を設ける必
要がある等、装置コストを増加させるという問題があっ
た。また検影法ではスリットの幅に応じて走査時間が異
なり、その結果として測定時間、測定精度あるいは測定
範囲が異なる。換言すれば所望の精度や範囲で測定を行
なうためには、スリットの最適幅がある程度決まってく
る。ここで特開平6−165757のように所定方向走
査用のスリット98a〜98dと直交方向走査用のスリ
ット99a〜99fの数を変えた場合には、これら両ス
リットの幅が相互に異なるので、一方のスリットの幅を
最適幅にしても、他方は最適幅にできず、最適な測定精
度等を得ることができないという問題があった。In the apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-165775,
Since scanning in two directions is performed almost simultaneously through the slits 98a to 98d and the slits 99a to 99f, it is necessary to separate received signals by frequency, and a frequency separation circuit having a filter having a high separation ability is required. There is a problem that the cost of the apparatus is increased, for example, it is necessary to provide the apparatus. Further, in the radiographic method, the scanning time varies depending on the width of the slit, and as a result, the measurement time, the measurement accuracy, or the measurement range varies. In other words, in order to perform measurement with a desired accuracy and range, the optimum width of the slit is determined to some extent. Here, when the number of slits 98a to 98d for scanning in a predetermined direction and the number of slits 99a to 99f for orthogonal scanning are changed as in JP-A-6-165775, the widths of these slits are different from each other. Even if the width of the slit is set to the optimum width, the other cannot be set to the optimum width, and there is a problem that the optimum measurement accuracy and the like cannot be obtained.
【0008】本発明は、従来のこのような屈折力測定装
置における問題点に鑑みてなされたもので、小型であり
ながら、高速な測定が可能であり、また高性能で低コス
トの屈折力測定装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the problems of such a conventional refractive power measuring apparatus, and is capable of high-speed measurement while being small in size, and of high performance and low cost. It is intended to provide a device.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために請求項1に記載の本発明は、光源と、前記光源
の光をチョッパを介して所定方向にスリット走査する走
査手段と、前記走査手段にて走査された光を被検光学系
に投影する投影光学系と、前記投影光学系にて前記被検
光学系に投影され反射された光を受光する受光光学系
と、前記受光光学系における受光器間の信号の位相差に
基づいて前記被検光学系の屈折力を算出する算出手段と
を備える屈折力測定装置において、前記光源を第1の光
源と第2の光源から形成すると共に、これら第1の光源
と第2の光源とを前記走査手段のチョッパの回転中心に
対し互いに略90度隔てて配置し、前記走査手段のチョ
ッパには、互いに略同一方向に向けて配置された複数の
スリットを形成し、前記走査手段と前記投影光学系との
間に、前記走査手段にて走査された前記第1の光源の光
と前記第2の光源の光とを同一経路を介して前記投影光
学系に導く合成光学系を設けることを特徴として構成さ
れている。In order to achieve the above object, according to the present invention, there is provided a light source, scanning means for slit-scanning light from the light source in a predetermined direction via a chopper, A projection optical system for projecting the light scanned by the scanning means onto the test optical system, a light receiving optical system for receiving the light projected and reflected on the test optical system by the projection optical system, and A refractive power measuring device comprising: a calculating unit configured to calculate a refractive power of the test optical system based on a phase difference of a signal between optical receivers in the optical system, wherein the light source includes a first light source and a second light source. At the same time, the first light source and the second light source are arranged at substantially 90 degrees from each other with respect to the rotation center of the chopper of the scanning unit, and are arranged on the chopper of the scanning unit in substantially the same direction. Formed multiple slits, A combination for guiding the light of the first light source and the light of the second light source scanned by the scanning unit between the scanning unit and the projection optical system to the projection optical system via the same path. It is characterized by providing an optical system.
【0010】また請求項2に記載の本発明は、請求項1
に記載の本発明において、前記第1の光源と第2の光源
とを所定間隔で交互に点灯させる光源制御手段を備え、
前記算出手段は前記所定間隔に基づいて前記第1の光源
の光と第2の光源の光とを識別することを特徴として構
成されている。[0010] The present invention described in claim 2 provides the present invention in claim 1.
In the present invention described in the above, further comprising light source control means for alternately lighting the first light source and the second light source at a predetermined interval,
The calculation means is configured to identify the light of the first light source and the light of the second light source based on the predetermined interval.
【0011】また請求項3に記載の本発明は、請求項1
に記載の本発明において、前記第1の光源と第2の光源
とを互いに異なる所定周波数で点灯させる光源制御手段
を備え、前記算出手段は前記所定周波数に基づいて前記
第1の光源の光と第2の光源の光とを識別することを特
徴として構成されている。The present invention described in claim 3 provides the present invention in claim 1.
In the present invention described in above, further comprising light source control means for lighting the first light source and the second light source at predetermined frequencies different from each other, the calculating means and the light of the first light source based on the predetermined frequency It is characterized in that it is distinguished from the light of the second light source.
【0012】また請求項4に記載の本発明は、請求項1
乃至3に記載の本発明において、前記第1の光源の光と
第2の光源の光とを互いに略平行な平行光とする平行光
学系を備え、該平行光学系と前記合成光学系との間に前
記走査手段のチョッパを配置することを特徴として構成
されている。The present invention described in claim 4 provides the present invention in claim 1.
In the present invention described in any one of (3) to (3), a parallel optical system that converts the light of the first light source and the light of the second light source into parallel light that is substantially parallel to each other is provided. It is characterized in that a chopper of the scanning means is disposed therebetween.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、本発明の屈折力測定装置の
一実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図
1は本測定装置の光学系の構成を示す図であり、図2
(a)は図1のA−A’矢視図、図2(b)はチョッパ
とLEDの配置を図2(a)に対応した配置で示す概念
図、図3は図1のB−B’矢視図、図4は図1の算出回
路の構成図である。図1において本測定装置は、被検光
学系E(被検眼として図示する)の屈折力を他覚的に測
定するものであり、光源1、平行光学系2、走査手段た
るチョッパ装置3、合成光学系4、投影光学系5、受光
光学系6、算出手段たる算出回路7及び光源制御手段た
る光源制御回路8を備えて構成されている。なお本測定
装置における基本的な測定原理は、特開昭62‐514
7及び特開平6−165757に開示されているものと
略同じであり、2方向に走査した被検光学系Eに投影す
ることにより測定を行なうものである。但し本形態で
は、チョッパには一方向のみのスリットのみを形成する
一方、光源を2つ設けること等によって2方向走査を達
成している。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the refractive power measuring apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an optical system of the present measurement apparatus, and FIG.
(A) is a view taken along the line AA ′ in FIG. 1, FIG. 2 (b) is a conceptual diagram showing the arrangement of the chopper and the LED in an arrangement corresponding to FIG. 2 (a), and FIG. 3 is a BB in FIG. FIG. 4 is a configuration diagram of the calculation circuit of FIG. In FIG. 1, the present measuring apparatus objectively measures the refractive power of an optical system E to be inspected (illustrated as an eye to be inspected), and includes a light source 1, a parallel optical system 2, a chopper device 3 as a scanning means, It comprises an optical system 4, a projection optical system 5, a light receiving optical system 6, a calculation circuit 7 as calculation means, and a light source control circuit 8 as light source control means. The basic measuring principle of this measuring apparatus is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-514.
7 and disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. HEI 6-165775, in which the measurement is performed by projecting onto the test optical system E scanned in two directions. However, in this embodiment, the chopper is formed with only one slit in one direction, while two light sources are provided to achieve two-way scanning.
【0014】光源1は被検光学系Eに投影するための光
を発するもので、後述のように配置されると共に後述の
タイミングにて点灯される第1の光源たるLED11及
び第2の光源たるLED12を有して構成されている。
平行光学系2はLED11,12から発せられた光を互
いに略平行な平行光とするもので、2つのLED11,
12それぞれの光軸上に配置されるレンズ21,22を
有して構成されている。そして2つのLED11,12
の光はレンズ21,22にて平行光とされた状態で後述
するハーフミラー42に導かれ、したがってLED11
から後述するハーフミラー42に至る光路の長さと、L
ED12からハーフミラー42に至る光路の長さとが異
なるために光に生ずる障害(光の幅が異なることにより
生じるボケ等)が防止される。The light source 1 emits light for projecting onto the test optical system E. The light source 1 is a first light source LED 11 and a second light source which are arranged as described below and are turned on at a later-described timing. It has an LED 12.
The parallel optical system 2 converts light emitted from the LEDs 11 and 12 into parallel light substantially parallel to each other.
12 are provided with lenses 21 and 22 arranged on the respective optical axes. And two LEDs 11, 12
Is guided to a half mirror 42, which will be described later, in a state where the light is collimated by the lenses 21 and 22.
And the length of an optical path from the optical path to a half mirror 42 described later, and L
Since the length of the optical path from the ED 12 to the half mirror 42 is different, obstacles occurring in the light (such as blurring caused by a difference in the light width) are prevented.
【0015】走査手段たるチョッパ装置3はLED1
1,12にて発せられた光を互いに直交する2方向(本
実施形態においては水平方向及び垂直方向)に走査する
もので、薄厚円形のチョッパ31と、該チョッパ31を
回転させるための回転モータ32とを有して構成されて
いる。このチョッパ31には従来技術と同様、図2
(a)に示すように、その基板に該基板の透過率に比べ
て透過率の低い部分(図2(a)において黒色で示す部
分)を設けることによって、外周縁にチョッパ31の回
転速度を検出するためのパターン33が形成され、また
同様にして該パターン33より内周側にはチョッパ31
の回転中心から渦を巻くような放射状の6本のスリット
34a〜34fが形成されている。これらスリット34
a〜34fによりLED11,12の光が遮られて縞が
形成され、この縞が被検光学系Eに投影される。なお基
板の透過率及びスリット34a〜34fの透過率は、L
ED11,12からの光がチョッパ31を通過して後述
する受光素子にて受光された際、基板とスリット34a
〜34fのいずれを透過したのかが判別できる程度の差
が生じる透過率であればよく、例えば基板の透過率が1
00%、スリット34a〜34fの透過率が50%とさ
れる。The chopper device 3 serving as a scanning means includes an LED 1
The light emitted by the light sources 1 and 12 is scanned in two directions perpendicular to each other (in the present embodiment, the horizontal direction and the vertical direction). The thin circular chopper 31 and a rotation motor for rotating the chopper 31 are provided. 32. As in the prior art, this chopper 31
As shown in FIG. 2A, by providing a portion of the substrate having a lower transmittance than that of the substrate (a portion shown in black in FIG. 2A), the rotation speed of the chopper 31 is reduced at the outer peripheral edge. A pattern 33 for detection is formed, and a chopper 31 is similarly provided on the inner peripheral side of the pattern 33.
Six radial slits 34a to 34f are formed so as to spiral from the center of rotation. These slits 34
The light from the LEDs 11 and 12 is blocked by a to 34f to form a stripe, and the stripe is projected onto the optical system E to be measured. The transmittance of the substrate and the transmittance of the slits 34a to 34f are L
When the light from the EDs 11 and 12 passes through the chopper 31 and is received by a light receiving element described later, the substrate and the slit 34a
To 34f may be used as long as the difference is large enough to discriminate which one of the substrates has transmitted the light.
00%, and the transmittance of the slits 34a to 34f is 50%.
【0016】各スリット34a〜34fは、従来技術と
同様に下記式 r=EXP(tanΦ・θ+K/nπ) r:チョッパ31の中心からの距離 θ:チョッパ31上における角度位置(図3の右上45
度方向を基準とする) n:スリットの本数(本形態において6) Φ:受光部上におけるスリット走査の方向を示す角度
(図3の右上45度方向を基準とする) K:0,1,2... にて一般的に表される曲線状に形成されている。Each of the slits 34a to 34f is, as in the prior art, given by the following equation: r = EXP (tanΦ.theta. + K / n.pi.) R: distance from the center of chopper 31 .theta .: angular position on chopper 31
N: Number of slits (6 in this embodiment) Φ: Angle indicating the direction of slit scanning on the light receiving unit (based on the upper right 45 ° direction in FIG. 3) K: 0, 1, 2. . . Are formed in a curved shape generally represented by.
【0017】特に本形態における6本のスリット34a
〜34fは、図2(a)に示すように、互いに略同一形
状に形成されかつ等間隔で配置されており、特に従来と
異なり、互いに略同一方向に向けて配置されている。こ
こで「同一方向に向けて」とは、上記式中における値Φ
が同値であることを意味する。このようにスリット34
a〜34fを形成することの効果について、チョッパ3
1と2つのLED11,12との配置関係を交えて説明
する。In particular, the six slits 34a in the present embodiment
As shown in FIG. 2 (a), .about.34f are formed in substantially the same shape and are arranged at equal intervals. Particularly, unlike the conventional art, they are arranged in substantially the same direction. Here, “toward the same direction” means the value Φ in the above equation.
Are equivalent. Thus, the slit 34
a to 34f, the chopper 3
The description will be made with reference to the arrangement relationship between 1 and the two LEDs 11 and 12.
【0018】図2(b)はチョッパ31とLED11,
12との配置を説明するための概念図であり、符号3
5、36、37,38はそれぞれチョッパ31の外形、
チョッパ31の回転中心、LED11の光軸中心、LE
D12の光軸中心を示す。この図3に示すように、LE
D11,12はチョッパ31の回転中心36に対し互い
に略90度隔てて配置されている。すなわちLED11
の光軸中心37とチョッパ31の回転中心36とを結ぶ
線分と、LED11の光軸中心38とチョッパ31の回
転中心36とを結ぶ線分とが互いになす角度αが略90
度になるように配置されている。FIG. 2 (b) shows the chopper 31 and the LED 11,
12 is a conceptual diagram for explaining the arrangement with reference numeral 12, and reference numeral 3
5, 36, 37 and 38 are the outer shapes of the chopper 31, respectively.
Center of rotation of chopper 31, center of optical axis of LED 11, LE
The center of the optical axis of D12 is shown. As shown in FIG.
D11 and D12 are arranged at a distance of about 90 degrees from the rotation center 36 of the chopper 31. That is, LED11
The angle α between the line segment connecting the optical axis center 37 of the chopper 31 and the line segment connecting the optical axis center 38 of the LED 11 and the rotation center 36 of the chopper 31 is approximately 90.
It is arranged so that it becomes a degree.
【0019】したがって、図2(a)において、チョッ
パ31が矢印方向に回転すると、例えばLED11の光
に対してチョッパ31のスリット34aが図面水平方向
に遮光を開始する際、LED12の光に対してスリット
34cが図面垂直方向の遮光を終了する。このようにL
ED11の光はチョッパ31によって常時水平方向に走
査される一方、LED12の光はチョッパ31によって
常時垂直方向に走査され、すなわちLED11の光とL
ED12の光とは常に互いに直交する方向に走査され、
したがって2方向に走査された走査光を得ることができ
る。Therefore, in FIG. 2A, when the chopper 31 rotates in the direction of the arrow, for example, when the slit 34a of the chopper 31 starts to block light in the horizontal direction in the drawing with respect to the light of the LED 11, for example, The slit 34c terminates the light shielding in the vertical direction in the drawing. Thus L
The light of the ED 11 is constantly scanned in the horizontal direction by the chopper 31, while the light of the LED 12 is constantly scanned in the vertical direction by the chopper 31, that is, the light of the LED 11 and L
The light from the ED 12 is always scanned in directions orthogonal to each other,
Therefore, scanning light scanned in two directions can be obtained.
【0020】ここで走査方向を水平方向と垂直方向とし
たのは、後述する受光素子の配置方向に対応させたため
であり、受光素子が他の方向で配置されている場合には
その配置方向に合わせて走査方向を変えてもよい。また
互いに直交する方向でなくともよい。あるいは受光素子
の配置方向に対応させなくともよく、演算処理にて対応
させることも可能である。例えばLED11とLED1
2とを互いの相対関係を維持したままチョッパ31の回
転中心36を中心として回転させ、図2(a)とは異な
る位置に配置することも可能である。Here, the reason why the scanning direction is set to the horizontal direction and the vertical direction is to correspond to the arrangement direction of the light receiving elements described later, and in the case where the light receiving elements are arranged in another direction, the scanning direction is set in the arrangement direction. The scanning direction may be changed accordingly. Further, the directions need not be orthogonal to each other. Alternatively, it is not necessary to correspond to the arrangement direction of the light receiving element, and it is also possible to correspond by the arithmetic processing. For example, LED11 and LED1
2 can be rotated around the rotation center 36 of the chopper 31 while maintaining the relative relationship with each other, and can be arranged at a position different from that shown in FIG.
【0021】次に、合成光学系4はチョッパ装置3にて
水平方向に走査されたLED11の光と垂直方向に走査
されたLED12の光とを同一経路を介して投影光学系
5に導くもので、反射ミラー41及びハーフミラー42
を有して構成されている。ハーフミラー42は装置3を
隔ててレンズ21の光軸上に配置され、LED11にて
発せられチョッパ装置3にて走査された光を透過して投
影光学系5に導く。また反射ミラー41はチョッパ装置
3を隔ててレンズ22の光軸上に配置され、LED12
にて発せられチョッパ装置3にて走査された光をハーフ
ミラー42に導く。このように反射ミラー41を介して
ハーフミラー42に導かれた光は、該ハーフミラー42
においてLED11からの光と合成されると共に該ハー
フミラー42にて投影光学系5に導かれる。したがって
従来と同様に2方向に走査された光が図1に符号43に
て示される同一の経路を介して投影光学系5に導かれる
ので、単一光源から発せられ2方向に走査された光と略
同質の光を得ることができる。Next, the combining optical system 4 guides the light of the LED 11 scanned in the horizontal direction by the chopper device 3 and the light of the LED 12 scanned in the vertical direction to the projection optical system 5 through the same path. , Reflection mirror 41 and half mirror 42
Is configured. The half mirror 42 is arranged on the optical axis of the lens 21 with the device 3 interposed therebetween, and transmits the light emitted from the LED 11 and scanned by the chopper device 3 to guide it to the projection optical system 5. The reflection mirror 41 is disposed on the optical axis of the lens 22 with the chopper device 3 interposed therebetween, and the LED 12
The light emitted by the chopper device 3 and scanned by the chopper device 3 is guided to the half mirror 42. The light guided to the half mirror 42 via the reflection mirror 41 in this manner is
Is combined with the light from the LED 11 and guided to the projection optical system 5 by the half mirror 42. Therefore, light scanned in two directions is guided to the projection optical system 5 through the same path indicated by reference numeral 43 in FIG. 1 as in the prior art, so that light emitted from a single light source and scanned in two directions is used. Light of substantially the same quality can be obtained.
【0022】投影光学系5はチョッパ装置3にて走査さ
れた光を被検光学系Eに投影するもので、従来技術と同
様にレンズ51とハーフミラー52を有して構成されて
いる。これらレンズ51及びハーフミラー52はハーフ
ミラー42の透過光軸上に配置されており、ハーフミラ
ー42からの光がレンズ51を介してハーフミラー52
に導かれ、該ハーフミラー52にて被検光学系Eに向け
て反射される。The projection optical system 5 projects the light scanned by the chopper device 3 onto the optical system E to be measured, and includes a lens 51 and a half mirror 52 as in the prior art. The lens 51 and the half mirror 52 are disposed on the transmission optical axis of the half mirror 42, and light from the half mirror 42 is transmitted through the lens 51 to the half mirror 52.
And reflected by the half mirror 52 toward the test optical system E.
【0023】受光光学系6は投影光学系5にて投影され
被検光学系Eにて反射された光を受光するためのもの
で、従来技術と同様にレンズ61、絞り62及び受光器
63を有して構成されている。これらレンズ61、絞り
62及び受光器63はハーフミラー52の光軸上に配置
されており、被検光学系Eにて反射されハーフミラー5
2にて透過された光がレンズ61を介して絞り62に導
かれ、該絞り62にて所定範囲に絞られた後、受光器6
3にて受光される。この受光器63からは自己の受光量
に応じた電圧の出力信号が出力される。この受光器63
は、図3に示すように、4つの受光素子63a〜63d
を有して構成されており、これら4つの受光素子63a
〜63dは点Pを中心として上下及び左右に対称な十字
状に配置されている。The light receiving optical system 6 receives the light projected by the projection optical system 5 and reflected by the test optical system E. The light receiving optical system 6 includes a lens 61, a diaphragm 62 and a light receiver 63 as in the prior art. It is configured to have. The lens 61, the aperture 62, and the light receiver 63 are arranged on the optical axis of the half mirror 52, and are reflected by the optical system
The light transmitted through 2 is guided to a stop 62 through a lens 61 and is stopped down to a predetermined range by the stop 62.
The light is received at 3. The light receiver 63 outputs an output signal of a voltage corresponding to the amount of received light. This light receiver 63
Are four light receiving elements 63a to 63d as shown in FIG.
The four light receiving elements 63a
63d are arranged in a cross shape symmetrical about the point P in the vertical and horizontal directions.
【0024】算出手段たる算出回路7は、受光光学系6
における受光素子63a〜63dの信号の位相差に基づ
いて被検光学系Eの屈折力を算出する。この算出原理は
特開平6−165757と同様で公知であるため概要の
み説明するが、ある特定のスリットにてLED11,1
2の光が遮光されることにより形成される縞が受光素子
間を通過するのに必要とした時間(以下、位相差)を測
定し、該測定された位相差に基づいて被検光学系Eの円
柱度数、球面度数及び円柱軸度を算出することができ
る。The calculating circuit 7 serving as calculating means includes a light receiving optical system 6
The refractive power of the test optical system E is calculated based on the phase difference between the signals of the light receiving elements 63a to 63d. Since the calculation principle is similar to that of Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-165775, only the outline will be described.
The time required for the fringes formed by blocking the light of No. 2 to pass between the light receiving elements (hereinafter, phase difference) is measured, and based on the measured phase difference, the test optical system E is measured. Can be calculated.
【0025】算出回路7は具体的には、図4に示すよう
に、信号増幅器71a〜71d、マルチプレクサ72、
水平方向の走査時における位相差を検出する水平位相差
検出器73、垂直方向の走査時における位相差を検出す
る垂直位相差検出器74、演算部75及び制御部76を
有して構成されている。このうち信号増幅器71a〜7
1dは各受光素子63a〜63dの出力信号を増幅する
ものであり、マルチプレクサ72は信号増幅器71a〜
71dにて増幅された信号の入力先を選択的に振り分け
るもので、後述する光源制御回路8と同期を取ることに
よって、水平方向走査時の出力を水平位相差検出器73
にのみ入力する一方、垂直方向走査時の出力を垂直位相
差検出器74にのみ入力するよう信号の振り分けを行な
う。また演算部75は、水平位相差検出器73にて検出
された位相差及び垂直位相差検出器74にて検出された
位相差に基づいて被検光学系Eの屈折力を算出する。制
御部76は、これら信号増幅器71a〜71d、マルチ
プレクサ72、水平位相差検出器73、垂直位相差検出
器74及び演算部75を制御するものである。As shown in FIG. 4, the calculation circuit 7 specifically includes signal amplifiers 71a to 71d, a multiplexer 72,
A horizontal phase difference detector 73 that detects a phase difference during horizontal scanning, a vertical phase difference detector 74 that detects a phase difference during vertical scanning, an arithmetic unit 75, and a control unit 76 are configured. I have. Among them, the signal amplifiers 71a to 71a
1d amplifies the output signals of the light receiving elements 63a to 63d, and the multiplexer 72 includes signal amplifiers 71a to 71d.
The input destination of the signal amplified by 71d is selectively distributed. By synchronizing with the light source control circuit 8 described later, the output at the time of horizontal scanning is output to the horizontal phase difference detector 73.
, While the output during vertical scanning is input only to the vertical phase difference detector 74. The arithmetic unit 75 calculates the refractive power of the optical system E based on the phase difference detected by the horizontal phase difference detector 73 and the phase difference detected by the vertical phase difference detector 74. The control unit 76 controls the signal amplifiers 71a to 71d, the multiplexer 72, the horizontal phase difference detector 73, the vertical phase difference detector 74, and the arithmetic unit 75.
【0026】光源制御手段たる光源制御回路8は、LE
D11,12に電気的に接続され、これらLED11,
12を所定間隔で交互に点灯させる。ここで所定間隔と
は、各LED11,12の点灯時間中に少なくとも1つ
の縞が完全に形成され、かつチョッパ31の1回転を待
たずに水平方向及び垂直方向の2方向での走査が可能と
なるような間隔である。特に本実施形態のように光源と
してLEDを用いている場合には高速での交互に点灯が
可能となる。The light source control circuit 8 serving as light source control means
D11, 12 are electrically connected to these LEDs 11,
12 are turned on alternately at predetermined intervals. Here, the predetermined interval means that at least one stripe is completely formed during the lighting time of each of the LEDs 11 and 12, and scanning in two directions, horizontal and vertical, is possible without waiting for one rotation of the chopper 31. It is such an interval. In particular, when an LED is used as a light source as in the present embodiment, alternate high-speed lighting is possible.
【0027】この光源制御回路8は算出回路7のマルチ
プレクサ72に電気的に接続されており、マルチプレク
サ72ではこの光源制御回路8からLED11,12の
点灯タイミングを取得し、このタイミングに基づいて信
号の振り分けを行なう。すなわちLED11が点灯して
いる場合には水平方向走査時であるため、信号増幅器7
1a〜71dにて増幅された信号を水平位相差検出器7
3にのみ出力し、LED12が点灯している場合には垂
直方向走査時であるため、信号増幅器71a〜71dに
て増幅された信号を垂直位相差検出器74にのみ出力す
る。本形態では上述のようにLED11,12を交互に
点灯させてこの点灯間隔に基づいて水平方向の出力と垂
直方向の出力を分離しているので、従来のように周波数
分離回路を用いる必要がなく、低コストで装置を構成で
きる。The light source control circuit 8 is electrically connected to the multiplexer 72 of the calculation circuit 7, and the multiplexer 72 obtains the lighting timing of the LEDs 11 and 12 from the light source control circuit 8, and based on this timing, the signal of the LED 11 and 12 is obtained. Make a distribution. That is, when the LED 11 is turned on, it is during the horizontal scanning, so that the signal amplifier 7 is turned on.
The signals amplified by 1a to 71d are converted to horizontal phase difference detector 7
3, and when the LED 12 is lit, it is during vertical scanning, so that the signal amplified by the signal amplifiers 71 a to 71 d is output only to the vertical phase difference detector 74. In the present embodiment, as described above, the LEDs 11 and 12 are alternately lit, and the output in the horizontal direction and the output in the vertical direction are separated based on the lighting interval. Therefore, it is not necessary to use a frequency separation circuit as in the related art. The device can be configured at low cost.
【0028】また当然のことながら、このマルチプレク
サ72の振り分けにはLED11,12の点灯からマル
チプレクサ72での振り分け動作に至る間の時間遅れが
考慮される。またマルチプレクサ72は光源制御回路8
からLED11,12の点灯タイミングを取得しなくと
もよく、これらマルチプレクサ72及び光源制御回路8
に対して基準となる信号を与える基準回路を設け、該基
準回路から点灯タイミングを取得してもよい。It is needless to say that the time lag between the lighting of the LEDs 11 and 12 and the allocating operation by the multiplexer 72 is taken into account in the allocation of the multiplexer 72. The multiplexer 72 is connected to the light source control circuit 8.
It is not necessary to obtain the lighting timing of the LEDs 11 and 12 from the multiplexer 72 and the light source control circuit 8.
, A reference circuit for providing a reference signal may be provided, and the lighting timing may be obtained from the reference circuit.
【0029】本実施形態の屈折力測定装置は上述のよう
に構成されているので、光源制御回路8にてLED1
1,12が交互点灯され、該LED11,12から発せ
られた光が平行光学系2にて平行光とされた後、それぞ
れチョッパ装置3のチョッパ31によって走査される。
特にこの走査において、LED11,12が互いに90
度隔てて配置されていることから、チョッパ31には同
一方向のみのスリット34a〜34fが形成されている
にも関わらず、LED11,12はそれぞれ90度異な
る方向に走査され、2方向走査を達成することができ
る。そして2方向走査された光は合成光学系4にて同一
経路で導かれ、従来と同様に単一光として被検光学系E
に投影される。そして受光光学系6にて受光され、算出
回路7を介して光源制御回路8の点灯間隔に基づいて屈
折力が算出される。Since the refractive power measuring device of the present embodiment is configured as described above, the light source control circuit 8 controls the LED 1
The light emitted from the LEDs 11 and 12 is turned on alternately, and the light emitted from the LEDs 11 and 12 is converted into parallel light by the parallel optical system 2, and then scanned by the chopper 31 of the chopper device 3.
Particularly, in this scanning, the LEDs 11 and 12
Because the slits 34a to 34f are formed only in the same direction in the chopper 31, the LEDs 11 and 12 are respectively scanned in directions different from each other by 90 degrees, so that two-directional scanning is achieved. can do. The light scanned in two directions is guided by the combining optical system 4 along the same path, and as a single light, the test optical system E
Projected to The light is received by the light receiving optical system 6, and the refractive power is calculated via the calculation circuit 7 based on the lighting interval of the light source control circuit 8.
【0030】さてこれまで本発明の一実施形態について
説明したが、本発明は前記に示した実施形態に限定され
ず、その技術的思想の範囲内において種々異なる形態に
て実施されてよいものであり、以下、これら異なる形態
について説明する。まず図1に示す全ての光学的要素、
その配置、図4に示す全ての電気的要素は、周知及び公
知の手段にて置換、転用されてよい。また上記形態にお
いては平行光学系2によって平行光を生成することによ
り、光路の長さによる障害を防止したが、この障害が無
視できる程度であれば平行光学系2を省略してもよく、
あるいはLEDとスリットとの距離を調節することによ
って障害を防止してもよい。Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and may be implemented in various forms within the scope of the technical idea. Therefore, these different modes will be described below. First, all the optical elements shown in FIG.
All the electrical elements shown in FIG. 4 may be replaced or diverted by well-known and known means. Further, in the above embodiment, the parallel light is generated by the parallel optical system 2, thereby preventing the obstacle due to the length of the optical path. However, if the obstacle is negligible, the parallel optical system 2 may be omitted.
Alternatively, the obstacle may be prevented by adjusting the distance between the LED and the slit.
【0031】また光源制御回路によってLEDを交互に
点灯させることで水平方向と垂直方向を識別可能とした
が、他の方法で識別することも可能である。例えばLE
DとLEDとを互いに異なる所定周波数で点灯させる光
源制御回路を設けると共に、算出手段にはマルチプレク
サに代えて周波数分離回路を設けることにより、周波数
差に基づいて水平方向と垂直方向を識別可能としてもよ
い。この場合には2方向の同時走査が可能となるので、
さらに高速測定が可能となる。The horizontal direction and the vertical direction can be identified by alternately lighting the LEDs by the light source control circuit. However, it is also possible to identify by a different method. For example LE
By providing a light source control circuit for lighting D and the LED at predetermined different frequencies and providing a frequency separating circuit in place of the multiplexer in the calculating means, the horizontal direction and the vertical direction can be distinguished based on the frequency difference. Good. In this case, simultaneous scanning in two directions becomes possible,
Further, high-speed measurement becomes possible.
【0032】[0032]
【発明の効果】前記したように請求項1に記載の本発明
は、光源を第1の光源と第2の光源から形成すると共
に、これら第1の光源と第2の光源とを走査手段のチョ
ッパの回転中心に対し互いに略90度隔てて配置し、走
査手段のチョッパには、互いに略同一方向に向けて配置
された複数のスリットを形成し、走査手段と投影光学系
との間に、走査手段にて走査された第1の光源の光と第
2の光源の光とを同一経路を介して投影光学系に導く合
成光学系を設けることにより、チョッパの1回転を待つ
ことなく2方向走査が完了し、またスリットが1方向に
配置されていることから2方向のスリットが交じり合う
ようなこともないため、従来に比べて極めて高速に測定
を行なうことができる。また同じ幅のスリットによって
光を2方向走査できるので、最も最適な幅のスリットの
みによって測定を行なうことが可能となり、測定精度等
の測定装置の諸性能を向上させることができる。As described above, according to the first aspect of the present invention, the light source is formed of the first light source and the second light source, and the first light source and the second light source are used as scanning means. The slits are arranged at substantially 90 degrees from each other with respect to the center of rotation of the chopper, and a plurality of slits are formed in the chopper of the scanning unit so as to be oriented substantially in the same direction. By providing a combining optical system that guides the light of the first light source and the light of the second light source scanned by the scanning means to the projection optical system via the same path, two directions without waiting for one rotation of the chopper. Since the scanning is completed and the slits are arranged in one direction, the slits in two directions do not intersect with each other, so that the measurement can be performed at an extremely high speed as compared with the related art. In addition, since light can be scanned in two directions by slits having the same width, measurement can be performed only with the slit having the most optimal width, and various performances of the measuring device such as measurement accuracy can be improved.
【0033】さらに請求項2に記載の本発明は、第1の
光源と第2の光源とを所定間隔で交互に点灯させる光源
制御手段を備え、算出手段は所定間隔に基づいて第1の
光源の光と第2の光源の光とを識別することにより、光
源の点灯間隔に基づいて出力の方向別の分離を行なうこ
とができ、周波数分離回路のような比較的高価な回路が
不要となるので、低コストで屈折力測定装置を構成する
ことができる。Further, according to the present invention, there is provided a light source control means for alternately turning on the first light source and the second light source at a predetermined interval, and the calculating means comprises a first light source based on the predetermined interval. By distinguishing the light of the second light source from the light of the second light source, the output can be separated in each direction based on the lighting interval of the light source, and a relatively expensive circuit such as a frequency separation circuit becomes unnecessary. Therefore, the refractive power measuring device can be configured at low cost.
【0034】さらにまた請求項3に記載の本発明は、第
1の光源と第2の光源とを互いに異なる所定周波数で点
灯させる光源制御手段を備え、算出手段は所定周波数に
基づいて第1の光源の光と第2の光源の光とを識別する
ことにより、2方向の同時走査が可能となるので、さら
に高速の屈折力測定を行なうことができる。Further, according to the present invention, there is provided a light source control means for turning on the first light source and the second light source at predetermined mutually different frequencies, and the calculating means based on the predetermined frequency. By distinguishing the light of the light source from the light of the second light source, simultaneous scanning in two directions becomes possible, so that a higher-speed refractive power measurement can be performed.
【0035】しかも請求項4に記載の本発明は、第1の
光源の光と第2の光源の光とを互いに略平行な平行光と
する平行光学系を備え、該平行光学系と合成光学系との
間に走査手段のチョッパを配置することにより、2箇所
において発せられた光が互いに略同じ状態とされた後に
走査され合成されるので、各光源から合成点に至る光路
長の差に起因する障害を防止することができる。Further, according to the present invention, there is provided a parallel optical system for converting the light of the first light source and the light of the second light source into parallel light which is substantially parallel to each other. By arranging the chopper of the scanning means between the light source and the system, the light emitted at the two locations is scanned and synthesized after being brought into substantially the same state as each other, so that the difference in the optical path length from each light source to the synthesis point is reduced. The resulting failure can be prevented.
【図1】本発明の一実施形態における装置の光学系の構
成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an optical system of an apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図2(a)は図1のA−A’矢視図、図2
(b)はチョッパとLEDの配置を図2(a)に対応し
た配置で示す概念図である。FIG. 2A is a view taken along the line AA ′ of FIG. 1, FIG.
FIG. 2B is a conceptual diagram showing the arrangement of the chopper and the LEDs in an arrangement corresponding to FIG.
【図3】図1のB−B’矢視図である。FIG. 3 is a view taken in the direction of arrows B-B 'in FIG.
【図4】図1の算出回路の構成図である。FIG. 4 is a configuration diagram of a calculation circuit of FIG. 1;
【図5】従来の装置の光学系の構成図を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a configuration diagram of an optical system of a conventional device.
【図6】図5のC−C’矢視図である。6 is a view taken in the direction of arrows C-C 'in FIG.
【図7】従来の他の装置のチョッパを図6に対応する方
向から見た図である。FIG. 7 is a view of a chopper of another conventional apparatus viewed from a direction corresponding to FIG.
E 被検光学系 α 角度 1 光源 2 平行光学系 3 チョッパ装置 4 合成光学系 5 投影光学系 6 受光光学系 7 算出回路 8 光源制御回路 11、12 LED 21、22、51、61 レンズ 31 チョッパ 32 回転モータ 33 パターン 34a〜34f スリット 35 チョッパの外形 36 チョッパの回転中心 37,38 LEDの光軸中心 41 反射ミラー 42、52 ハーフミラー 43 経路 61 絞り 62 受光器 63a〜63d 受光素子 71a〜71d 信号増幅器 72 マルチプレクサ 73 水平位相差検出器 74 垂直位相差検出器 75 演算部 76 制御部 E Test optical system α angle 1 Light source 2 Parallel optical system 3 Chopper device 4 Synthetic optical system 5 Projection optical system 6 Light receiving optical system 7 Calculation circuit 8 Light source control circuit 11, 12 LED 21, 22, 51, 61 Lens 31 Chopper 32 Rotation motor 33 Pattern 34a-34f Slit 35 Chopper outer shape 36 Chopper rotation center 37,38 LED optical axis center 41 Reflection mirror 42,52 Half mirror 43 Path 61 Aperture 62 Light receiver 63a-63d Light receiver 71a-71d Signal amplifier 72 Multiplexer 73 Horizontal phase difference detector 74 Vertical phase difference detector 75 Operation unit 76 Control unit
Claims (4)
査する走査手段と、 前記走査手段にて走査された光を被検光学系に投影する
投影光学系と、 前記投影光学系にて前記被検光学系に投影され反射され
た光を受光する受光光学系と、 前記受光光学系における受光器間の信号の位相差に基づ
いて前記被検光学系の屈折力を算出する算出手段と、を
備える屈折力測定装置において、 前記光源を第1の光源と第2の光源から形成すると共
に、これら第1の光源と第2の光源とを前記走査手段の
チョッパの回転中心に対し互いに略90度隔てて配置
し、 前記走査手段のチョッパには、互いに略同一方向に向け
て配置された複数のスリットを形成し、 前記走査手段と前記投影光学系との間に、前記走査手段
にて走査された前記第1の光源の光と前記第2の光源の
光とを同一経路を介して前記投影光学系に導く合成光学
系を設けること、を特徴とする屈折力測定装置。A light source; scanning means for slit-scanning the light of the light source in a predetermined direction via a chopper; a projection optical system for projecting the light scanned by the scanning means onto an optical system to be measured; A light receiving optical system that receives the light projected and reflected on the test optical system by the projection optical system, and a refractive power of the test optical system based on a phase difference of a signal between light receivers in the light receiving optical system. A refractive power measuring device comprising: a calculating means for calculating; a light source formed from a first light source and a second light source; and the first light source and the second light source being rotated by a chopper of the scanning means. A plurality of slits are arranged at substantially 90 degrees from each other with respect to the center, and a plurality of slits are arranged in the chopper of the scanning unit in substantially the same direction, and between the scanning unit and the projection optical system, Before being scanned by the scanning means A refracting power measuring device, comprising: a combining optical system that guides the light of the first light source and the light of the second light source to the projection optical system via the same path.
で交互に点灯させる光源制御手段を備え、前記算出手段
は前記所定間隔に基づいて前記第1の光源の光と第2の
光源の光とを識別すること、を特徴とする請求項1に記
載の屈折力測定装置。2. A light source control unit for alternately lighting the first light source and the second light source at a predetermined interval, wherein the calculation unit determines the light of the first light source and the second light source based on the predetermined interval. The refractive power measuring device according to claim 1, wherein the light from the light source is identified.
なる所定周波数で点灯させる光源制御手段を備え、前記
算出手段は前記所定周波数に基づいて前記第1の光源の
光と第2の光源の光とを識別すること、を特徴とする請
求項1に記載の屈折力測定装置。3. A light source control means for lighting the first light source and the second light source at predetermined frequencies different from each other, wherein the calculation means determines the light of the first light source and the second light source based on the predetermined frequency. The refractive power measuring device according to claim 1, wherein the light from the light source is identified.
互いに略平行な平行光とする平行光学系を備え、該平行
光学系と前記合成光学系との間に前記走査手段のチョッ
パを配置すること、を特徴とする請求項1乃至3に記載
の屈折力測定装置。4. A parallel optical system for converting the light of the first light source and the light of the second light source into parallel light substantially parallel to each other, wherein the scanning is performed between the parallel optical system and the combining optical system. 4. A refracting power measuring device according to claim 1, wherein a chopper of means is arranged.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9339381A JPH11151205A (en) | 1997-11-25 | 1997-11-25 | Refractometer |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP9339381A JPH11151205A (en) | 1997-11-25 | 1997-11-25 | Refractometer |
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JPH11151205A true JPH11151205A (en) | 1999-06-08 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9339381A Pending JPH11151205A (en) | 1997-11-25 | 1997-11-25 | Refractometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11151205A (en) |
-
1997
- 1997-11-25 JP JP9339381A patent/JPH11151205A/en active Pending
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