JPH11146268A - Film scanner and method for scanning cinefilm - Google Patents

Film scanner and method for scanning cinefilm

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Publication number
JPH11146268A
JPH11146268A JP10207405A JP20740598A JPH11146268A JP H11146268 A JPH11146268 A JP H11146268A JP 10207405 A JP10207405 A JP 10207405A JP 20740598 A JP20740598 A JP 20740598A JP H11146268 A JPH11146268 A JP H11146268A
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JP
Japan
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value
scanning
reference pattern
scan
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP10207405A
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Japanese (ja)
Inventor
Berthold Eiberger
アイベルガー ベルトホルト
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips Electronics NV
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Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips Electronics NV filed Critical Koninklijke Philips Electronics NV
Publication of JPH11146268A publication Critical patent/JPH11146268A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N3/00Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
    • H04N3/36Scanning of motion picture films, e.g. for telecine
    • H04N3/38Scanning of motion picture films, e.g. for telecine with continuously moving film
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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    • HELECTRICITY
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To surely obtain the position of a perforation hole even when there are damage and stain of the perforation hole by mutually offsetting scan value and the value of a reference pattern and generating a correction signal from an absolute offset of the scan value and the reference pattern which detect optimum equality. SOLUTION: An evaluating device mutually offsets scan value and the value of a reference pattern, also calculates the equality degree of the scan value and the reference patter in each calculation step and generates a correction signal from an absolute offset of the scan value and the reference value which detect optimum equality. Here, it is advantageous to mutually and separately calculate horizontal and vertical deviations in order to calculate the equality degree of the scan value and the reference pattern. Therefore, a dimension line 40 is provided perpendicularly to edges that are checked respectively, and for instance, the scan value 42 of an upper edge 43 is calculated from a perforation hole 41.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パーフォレーショ
ン孔を光学的に走査する走査装置と、パーフォレーショ
ン孔の走査値を基準パターンと比較して画像位置誤りを
補償するための補正信号を発生する評価装置とを有する
フィルムスキャナに関する。本発明はまた、フィルムの
パーフォレーション孔を光学的に走査して基準パターン
と比較して、画像位置誤りを補償するための補正信号を
発生する、シネフィルムの走査方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a scanning device for optically scanning a perforated hole, and an evaluation device for comparing a scanning value of the perforated hole with a reference pattern to generate a correction signal for compensating an image position error. And a film scanner having the same. The invention also relates to a method of scanning a cine film, which optically scans the perforation holes of the film and compares it with a reference pattern to generate a correction signal for compensating for image position errors.

【0002】[0002]

【従来の技術】シネフィルム材から電気信号へ変換する
ために、フィルムスキャナ内のフィルムは光電走査装置
内またはその近傍を通過ないし通り抜ける。この場合に
従来から、順次走査される画像の画像位置を一定に保た
なければならない問題があった。一部で周期的な画像位
置の変動、一部で定常的な画像位置の変動は画像位置誤
りと称され、この誤りは種々異なる原因を有している。
1つには撮影カメラおよびネガ/ポジ複写機における位
置決め誤差が原因として考えられる。しかし他方ではフ
ィルムスキャナの画像位置誤りおよびトラッキングエラ
ーが別の画像位置誤りを生じさせることもある。
2. Description of the Prior Art In order to convert cine film material into electrical signals, the film in a film scanner passes through or near a photoelectric scanning device. In this case, there has conventionally been a problem that the image position of the sequentially scanned image must be kept constant. Partially periodic image position fluctuations and partly steady image position fluctuations are referred to as image position errors, which have various causes.
One of the possible causes is a positioning error in the photographing camera and the negative / positive copier. However, on the other hand, image position errors and tracking errors of the film scanner can cause other image position errors.

【0003】画像位置誤りを低減させるために、種々異
なる解決手段が存在する。例えばドイツ連邦共和国特許
第3736789号明細書から、走査される各フィルム
画像のための基準点としてこれらの画像にそれぞれ1つ
ずつ対応するパーフォレーション孔を走査することが公
知である。走査装置、例えばフィルムの走行方向に対し
て所定の角度だけ傾けて設けられているラインセンサに
より、パルス状の信号が発生され、この信号は記憶され
ていた基準パターンと比較される。そのつど実際に走査
されるパルス状信号と記憶されていた基準パターンとの
時間的な偏差から、計算回路において、そのつど走査さ
れたパーフォレーション孔の水平ずれ(水平オフセッ
ト)および垂直ずれ(垂直オフセット)が水平ベクトル
信号および垂直ベクトル信号として求められる。これら
のベクトル信号は補正回路に供給され、この補正回路に
おいて走査されたフィルム画像が測定されたパーフォレ
ーション孔の水平ずれおよび垂直ずれに相応にそれぞれ
相互にシフトされる。パーフォレーション孔をフィルム
画像のための基準点として使用することは、機械的に制
約されるフィルムの位置決め誤差を充分に保証できる利
点を有する。なぜならそのつど走査されるパーフォレー
ション孔の位置と、この孔が対応しているフィルム画像
の位置とは通常の場合きわめて小さな許容誤差で相互に
関連しているからである。
[0003] Different solutions exist to reduce image position errors. For example, from DE 37 36 789 A1, it is known to scan perforation holes, one for each of these images, as reference points for each film image to be scanned. A pulse signal is generated by a scanning device, for example, a line sensor provided at a predetermined angle to the running direction of the film, and this signal is compared with a stored reference pattern. From the temporal deviation between the pulse-like signal actually scanned in each case and the stored reference pattern, the calculation circuit detects the horizontal deviation (horizontal offset) and the vertical deviation (vertical offset) of the perforated hole scanned in each case. Are obtained as a horizontal vector signal and a vertical vector signal. These vector signals are supplied to a correction circuit in which the scanned film image is shifted relative to each other in accordance with the measured horizontal and vertical displacement of the perforated holes. Using perforation holes as reference points for film images has the advantage that mechanically constrained film positioning errors can be well assured. This is because the position of the perforated hole to be scanned in each case and the position of the film image to which it corresponds is usually correlated with very small tolerances.

【0004】ただし、パーフォレーション孔の位置を公
知の従来技術により求めるためには、走査されるパーフ
ォレーション孔の幾何学的形状を基準パターンとできる
限り正確に一致させなければならない。パーフォレーシ
ョン孔の損傷または汚れは平均化しか行われず、特にエ
ラーが偶然生じた場合には必然的に誤った画像位置補正
が行われることになってしまう。
However, in order to determine the position of the perforation hole by the known prior art, the geometrical shape of the perforation hole to be scanned must match the reference pattern as accurately as possible. Damage or dirt on the perforation holes is only averaged, and erroneous image position correction is necessarily performed, especially when an error occurs accidentally.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、パー
フォレーション孔に損傷または汚れがある場合にもパー
フォレーション孔の位置を確実に求めることである。そ
の際に走査されるフィルム画像の分解能を高めて、これ
までほとんど見えなかった画像位置誤りを見えるように
する必要もある。このため本発明の別の課題は、パーフ
ォレーション孔の位置をきわめて正確に求めることであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to reliably determine the position of a perforation hole even if the perforation hole is damaged or dirty. It is also necessary to increase the resolution of the film image scanned at this time, so that image position errors that were hardly visible until now can be seen. Therefore, another object of the present invention is to determine the position of a perforation hole very accurately.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この課題は、評価装置が
設けられており、評価装置により、複数の計算ステップ
において走査値および基準パターンの値が相互にオフセ
ットされ、かつ評価装置により、各計算ステップにおい
て走査値と基準パターンとの一致の度合が求められて、
最適な一致が検出される走査値および基準パターンの絶
対的なオフセットから補正信号が発生されるように構成
して解決される。課題はまた、複数の計算ステップにお
いて走査値および基準パターンの値を相互にオフセット
し、各計算ステップにおいて走査値と基準パターンとの
一致の度合を求め、最適な一致が検出される走査値およ
び基準パターンの絶対的なオフセットから補正信号を発
生することにより解決される。
An object of the present invention is to provide an evaluation device, wherein the scanning device and the value of the reference pattern are offset from each other in a plurality of calculation steps by the evaluation device, and each evaluation is performed by the evaluation device. In the step, the degree of coincidence between the scan value and the reference pattern is determined,
The problem is solved by configuring the correction signal to be generated from a scan value at which an optimum match is detected and an absolute offset of the reference pattern. The task also involves offsetting the scan value and the value of the reference pattern in a plurality of calculation steps, determining the degree of coincidence between the scan value and the reference pattern in each calculation step, and determining a scan value and a reference value at which an optimum match is detected. The problem is solved by generating a correction signal from the absolute offset of the pattern.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】例えば評価装置として計算ユニッ
トが設けられており、この計算ユニットにおいてパーフ
ォレーション孔の走査値と基準パターンとが相互に段階
的に垂直方向および水平方向へオフセットされる。計算
ユニットは各オフセット段階において走査値と基準パタ
ーンとの一致のための判定基準を形成し、続いて走査値
と基準パターンとが最適に一致するオフセットステップ
を求め、この最適な一致のオフセットステップに基づく
水平方向のオフセットおよび垂直方向のオフセットを画
像偏差の補償のための補正信号として送出する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS For example, a calculation unit is provided as an evaluation device, in which a scanning value of a perforated hole and a reference pattern are offset stepwise in a vertical direction and a horizontal direction with respect to each other. The calculation unit forms a criterion for matching the scan value with the reference pattern at each offset stage, and then determines an offset step at which the scan value and the reference pattern optimally match. The horizontal offset and the vertical offset based on the offset are transmitted as correction signals for compensating the image deviation.

【0008】パーフォレーション孔のエッジの特性を表
す走査値はこのようにして全体的または部分的に、その
つどのパーフォレーション孔に固有の形式で関係づけら
れ、そこから正確な位置または正確な位置偏差が求めら
れる。基準パターンを走査値に対して(または走査値を
基準パターンに対して)段階的にオフセットすることに
より、基準パターンと記憶されている走査値との最適な
一致が求められる。最適な一致を達成するためにオフセ
ットしなければならない基準パターンまたは走査値の値
および方向は、直接にそのつど走査されるパーフォレー
ション孔の水平ずれおよび垂直ずれを生じさせる。最適
な一致はこの場合に重みづけ関数を介して求めることが
でき、この場合に最適な一致の度合すなわち一致の高い
クォリティは、求められた一致誤差の逆数に等しい。相
応に適切な重みづけ関数を選択すること、例えば走査値
と基準パターンとの間の差の2乗を加算することによ
り、障害的な走査値の影響を抑圧することができる。
The scan values characterizing the edges of the perforation holes are thus wholly or partly related in a manner specific to the respective perforation hole, from which the exact position or the exact position deviation is determined. Desired. By stepwise offsetting the reference pattern with respect to the scan value (or the scan value with respect to the reference pattern), an optimal match between the reference pattern and the stored scan value is determined. The values and directions of the reference patterns or scan values that must be offset to achieve an optimal match directly result in horizontal and vertical displacement of the perforated holes that are scanned each time. The best match can then be determined via a weighting function, in which case the degree of the best match, ie the quality of the match, is equal to the reciprocal of the determined match error. By selecting a correspondingly appropriate weighting function, for example by adding the square of the difference between the scan value and the reference pattern, the effects of a faulty scan value can be suppressed.

【0009】一致のクォリティは相互にオフセットされ
る走査画像と基準パターンの複数の組合せに対して求め
られるので、障害的な走査値が容易に検出され、除去さ
れる。各オフセット段階に対して特に一致の度合が求め
られるため、各オフセット段階において他のオフセット
段階に無関係に走査値のプロージビリティ検査が可能に
なる。このために有利には計算ユニットが設けられてお
り、この計算ユニットは、走査値から計算された、走査
されたパーフォレーション孔の位置に対する差が所定の
閾値を超過するパーフォレーション孔の走査値を比較過
程から取り除く。パーフォレーション孔の予測すべき幾
何学的形状を考慮して空間的に隣接する測定結果から平
均値を形成することにより、個々の測定値と平均値との
間の偏差が求められ、平均値からきわめて強く偏差する
測定値は更なる信号処理過程から選別除去される。この
手段により、例えば測定対象物の不均一な照明、汚れや
ひっかき傷、フィルム損傷などのフィルムエッジの障害
量によって生じる誤りを選別除去することができる。複
数の走査値が使用されるため、どんな場合にも充分な数
の評価可能な測定結果が残ることが保証されている。
[0009] Since the quality of the match is determined for a plurality of combinations of the scanned image and the reference pattern that are offset from each other, faulty scan values are easily detected and eliminated. Since the degree of coincidence is particularly determined for each offset stage, the scanability of the scan value can be checked in each offset stage independently of the other offset stages. For this purpose, a calculation unit is preferably provided, which compares the scan values of the perforated holes calculated from the scan values, the difference of the positions of the scanned perforations being greater than a predetermined threshold value. Remove from. By forming an average from spatially adjacent measurements taking into account the expected geometry of the perforated holes, the deviation between the individual measurements and the average is determined, from which the average is determined. Strongly deviating measurements are filtered out of further signal processing. By this means, it is possible to selectively eliminate errors caused by the amount of obstacles at the film edge such as uneven illumination of the object to be measured, dirt, scratches, film damage and the like. Since multiple scan values are used, it is ensured that a sufficient number of evaluable measurement results remain in any case.

【0010】このために例えば、複数の走査値から走査
値と基準パターンとの偏差に対する平均値を形成し、平
均値からの偏差が閾値を超過する走査値を平均値形成部
から選別除去し、かつ残った走査値から新たに平均値を
形成するように構成されている。この過程は残っている
走査値のすべてが所定の閾値を超過しなくなるまで繰り
返される。この手段により、走査値の平均と比べてあま
りに基準パターンから隔たっているか、またはあまりに
基準パターンに近いために基準パターンに対する差が他
の走査値と一致しない走査値が完全に除去される。この
ようなプロージビリティの監視により、重みづけ関数と
しては走査値と基準パターンとの差を加算するだけで充
分である。
For this purpose, for example, an average value for a deviation between the scan value and the reference pattern is formed from a plurality of scan values, and a scan value having a deviation from the average value exceeding a threshold is selectively removed from the average value forming section. Further, it is configured to form a new average value from the remaining scan values. This process is repeated until all remaining scan values do not exceed the predetermined threshold. By this means, scan values that are too far from or too close to the reference pattern compared to the average of the scan values and whose difference from the reference pattern does not match other scan values are completely eliminated. By monitoring such prosability, it is sufficient to add the difference between the scan value and the reference pattern as a weighting function.

【0011】有利には、走査値と基準パターンとの一致
の度合を求める場合に、パーフォレーション孔の水平エ
ッジに対応する走査値についてはそれぞれの水平基準エ
ッジに対する垂直方向の差だけを比較結果に含め、また
パーフォレーション孔の垂直エッジに対応する走査値に
ついては水平方向の差だけを比較結果に含める。この場
合に重みづけ関数は値の組の個々の成分として処理され
る。これは補正信号の垂直成分および水平成分が完全に
相互に無関係に求められているからである。補正信号の
2つの成分のうち一方が誤って求められた場合でも、他
の成分の算出への悪影響は生じない。
[0011] Advantageously, when determining the degree of coincidence between the scan value and the reference pattern, for the scan value corresponding to the horizontal edge of the perforation hole, only the difference in the vertical direction with respect to each horizontal reference edge is included in the comparison result. For the scanning value corresponding to the vertical edge of the perforation hole, only the difference in the horizontal direction is included in the comparison result. In this case, the weighting functions are treated as individual components of a set of values. This is because the vertical and horizontal components of the correction signal are determined completely independently of each other. Even if one of the two components of the correction signal is erroneously obtained, there is no adverse effect on the calculation of the other components.

【0012】本発明の別の実施例ではまず重みづけ関数
により、それぞれ1つずつの値が個々に横方向の各エッ
ジに対して求められ、それぞれ対向するエッジに対する
平均値が形成される。これにより実際にはパーフォレー
ション孔の中心が検出される。対向するエッジを組にし
て平均することにより、それぞれのパーフォレーション
孔の位置検出の正確性が高められる。
In another embodiment of the invention, a weighting function is used to determine one value each for each lateral edge and form an average value for each opposing edge. Thereby, the center of the perforation hole is actually detected. By averaging the pairs of opposing edges, the accuracy of the position detection of each perforation hole is improved.

【0013】有利には計算ユニットは基準パターンとし
て直線部を有しており、この直線部はそのつど比較すべ
きパーフォレーション孔のエッジに対して直角に配置さ
れる。横方向エッジが円弧状に形成されているパーフォ
レーション孔では、基準パターンの直線部は、横方向エ
ッジのそれぞれの円弧状の曲線部の接線に直角に配置さ
れる。直線部を基準パターンとして使用することの利点
は、パーフォレーション孔の位置が幾何学的形状(直
線、円弧)と比較されて、比較がきわめて高い精度で行
われる点である。基準パターンの直線部を使用すること
により、汚れまたは損傷に起因する測定値を特に簡単に
除去可能である。これは直線部上にない走査値は最初か
ら計算されないためである。基準パターンの直線部上に
ある走査値は一義的にパーフォレーション孔の輪郭上の
所定のポイントに対応させることができるので、各ポイ
ントに対してパーフォレーション孔の輪郭との差を求め
ることができる。これにより、差が複数の他の走査値か
ら強く偏差する走査値を簡単に識別することができる。
The computing unit preferably has a straight section as a reference pattern, which is arranged at right angles to the edge of the perforation hole to be compared in each case. In a perforation hole in which the horizontal edge is formed in an arc shape, the straight portion of the reference pattern is arranged at right angles to the tangent of each arc-shaped curved portion of the horizontal edge. The advantage of using the straight part as the reference pattern is that the position of the perforation hole is compared with the geometrical shape (straight line, arc) and the comparison is made with very high accuracy. By using the straight part of the reference pattern, measurements due to dirt or damage can be particularly easily removed. This is because scan values that are not on the straight line are not calculated from the beginning. Since the scanning value on the linear portion of the reference pattern can uniquely correspond to a predetermined point on the contour of the perforation hole, the difference between each point and the contour of the perforation hole can be obtained. This makes it possible to easily identify a scan value whose difference strongly deviates from a plurality of other scan values.

【0014】[0014]

【実施例】本発明を以下に実施例に則して詳細に説明す
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail below with reference to embodiments.

【0015】図1には実施例としてフィルムスキャナの
主要部分の概略図と、本発明により構成されたパーフォ
レーション孔検出用の検出回路とフィルムスキャナとの
共働作用が示されている。フィルム1はこの場合連続的
に供給リール2から矢印3の方向へキャプスタンローラ
4を介して巻取リール5へ送られる。供給リール2、キ
ャプスタンローラ4、巻取リール5は電気モータ6、
7、8により駆動され、これらの電気モータは送り制御
装置9すなわち走行制御装置により制御される。このた
めに、フィルム走行路の供給リール2の近傍に配置され
ている第1のセンシングレバー11を用いて、フィルム
の張力が測定される。測定されたフィルム張力は送り制
御装置9に供給され、この送り制御装置は内部の制御回
路により供給リールモータ6をできる限り一定のフィル
ム走行が保証されるように制御する。巻取リール5の近
傍に配置されている第2のセンシングレバー12を用い
て、同様にフィルム張力は巻取リールモータ8により巻
取過程において制御される。フィルム走行路には複数の
ガイドローラ10が設けられており、これらのガイドロ
ーラによりフィルム1のフィルム走行路が予め定められ
ている。
FIG. 1 shows a schematic view of a main part of a film scanner as an embodiment, and shows a cooperative operation of a detection circuit for detecting perforation holes and a film scanner constituted according to the present invention. In this case, the film 1 is continuously fed from the supply reel 2 to the take-up reel 5 via the capstan roller 4 in the direction of arrow 3. The supply reel 2, the capstan roller 4, and the take-up reel 5 are electric motors 6,
These electric motors are driven by a feed control device 9, that is, a travel control device. For this purpose, the film tension is measured using the first sensing lever 11 arranged near the supply reel 2 on the film traveling path. The measured film tension is supplied to a feed control device 9, which controls a supply reel motor 6 by an internal control circuit so as to ensure as constant a film running as possible. Using the second sensing lever 12 arranged near the take-up reel 5, the film tension is similarly controlled by the take-up reel motor 8 during the take-up process. A plurality of guide rollers 10 are provided on the film traveling path, and the film traveling path of the film 1 is predetermined by these guide rollers.

【0016】フィルム1の光学的走査のために、フィル
ム1は旋回可能なガイドローラ13により、フィルムが
キャプスタンローラに部分的に巻き付くように案内され
る。これによりフィルム送り速度は専らキャプスタンロ
ーラ4またはキャプスタンモータ7により決定される。
早送り動作または早巻き戻し動作において旋回可能なガ
イドローラ13はフィルム1から第2の矢印14の方向
に外側へ旋回され、フィルムはキャプスタンローラ4に
もはや巻き付かない。この場合にはフィルム送りは専ら
供給リールモータ7および巻取リールモータ9により行
われる。
For optical scanning of the film 1, the film 1 is guided by pivotable guide rollers 13 so that the film partially winds around the capstan rollers. Thus, the film feed speed is determined exclusively by the capstan roller 4 or the capstan motor 7.
In the fast-forward or fast-rewind operation, the pivotable guide roller 13 is pivoted outward from the film 1 in the direction of the second arrow 14 so that the film no longer winds around the capstan roller 4. In this case, film feeding is performed exclusively by the supply reel motor 7 and the take-up reel motor 9.

【0017】走査中の送り速度を制御するためにフィル
ム走行路に速度センサとして、タコディスク16に固定
連結されたスプロケット15が設けられている。タコデ
ィスク16は送り速度に相応してパルス信号(以下タコ
パルスと称する)を送出し、このパルス信号は送り制御
装置9に供給される。操作パネル17でセットされたパ
ラメータとタコディスク16から送出されたタコパルス
とに依存して、キャプスタンモータ7を駆動するための
制御信号が発生される。
A sprocket 15 fixedly connected to an octopus disk 16 is provided as a speed sensor on the film traveling path in order to control the feed speed during scanning. The tach disk 16 sends out a pulse signal (hereinafter referred to as tacho pulse) corresponding to the feed speed, and this pulse signal is supplied to the feed control device 9. A control signal for driving the capstan motor 7 is generated depending on the parameters set on the operation panel 17 and the tach pulse sent from the tach disk 16.

【0018】フィルム送り時にフィルム1は走査ユニッ
ト18を通過して走行する。この走査ユニットではフィ
ルム1は、概略的にランプ19および集光レンズ20と
して図示されている照明装置により照明される。フィル
ム1の画像内容を映し出す光は画像走査センサ21、2
2、23、24を介して走査される。第1の画像走査セ
ンサ21は輝度信号Wの走査に使用され、他の画像走査
センサ22、23、24は色成分信号RGBの走査に使
用される。輝度信号Wおよび色成分信号RGBはビデオ
信号処理ユニット25に供給され、このビデオ信号処理
ユニットで受信された信号がそれぞれ所望のビデオ信号
フォーマットに変換され、インターフェース26でスタ
ジオ標準方式で使用可能となる。
At the time of feeding the film, the film 1 travels through the scanning unit 18. In this scanning unit, the film 1 is illuminated by an illumination device, which is schematically shown as a lamp 19 and a condenser lens 20. Light for projecting the image content of the film 1 is transmitted to the image scanning sensors 21 and 2.
Scanned via 2, 23, 24. The first image scanning sensor 21 is used for scanning the luminance signal W, and the other image scanning sensors 22, 23, and 24 are used for scanning the color component signals RGB. The luminance signal W and the color component signals RGB are supplied to a video signal processing unit 25, and the signals received by the video signal processing unit are respectively converted into a desired video signal format, and can be used in a studio standard manner at the interface 26. .

【0019】フィルム1が走査ユニット18において光
電変換される場合、このフィルムはさらに画像位置誤り
検出用装置を通過する。この画像位置誤り検出用装置す
なわちセンタリングエラー検出用装置はこの実施例で
は、フィルム1の一方側の第2の照明装置27、フィル
ム1の他方側のスプロケットに対するパーフォレーショ
ン孔センサ28、コンピュータ計算ユニット29から構
成されている。パーフォレーション孔センサ28として
例えば、独立した製品として付加可能なラインカメラが
適している。さらにパーフォレーション孔センサ28と
してCCDラインセンサを使用することもできる。コン
ピュータ計算ユニット29はパーフォレーション孔セン
サ28の出力信号を評価し、水平画像位置誤りおよび垂
直画像位置誤りに対する補正信号Cを発生する。この補
正信号はビデオ信号処理ユニット25に供給される。補
正信号Cにより公知のように信号変換時に個々の各ビデ
オ画像が水平位置および垂直位置で相応にオフセットさ
れ、そのつど画像位置誤りが補正される。この実施例で
説明されているフィルムスキャナにはビデオ信号処理ユ
ニット25としていわゆるディジタル画像効果装置(D
VE)が集積されている。ただし技術的に等価な解決手
段として、ビデオ信号および補正信号を外部インターフ
ェースを介して外部に接続されたDVE装置に供給して
もよい。
When the film 1 is photoelectrically converted in the scanning unit 18, the film further passes through a device for detecting an image position error. In this embodiment, the image position error detecting device, that is, the centering error detecting device, includes a second lighting device 27 on one side of the film 1, a perforation hole sensor 28 for a sprocket on the other side of the film 1, and a computer calculation unit 29. It is configured. For example, a line camera that can be added as an independent product is suitable as the perforation hole sensor 28. Further, a CCD line sensor can be used as the perforation hole sensor 28. Computer computing unit 29 evaluates the output signal of perforation hole sensor 28 and generates a correction signal C for horizontal and vertical image position errors. This correction signal is supplied to the video signal processing unit 25. In a known manner, the individual video pictures are offset correspondingly in the horizontal and vertical position by the correction signal C during the signal conversion, each time correcting the picture position error. In the film scanner described in this embodiment, a so-called digital image effect device (D
VE) is integrated. However, as a technically equivalent solution, the video signal and the correction signal may be supplied to an externally connected DVE device via an external interface.

【0020】フィルム送り制御装置9は有利にはタコデ
ィスク16のタコパルスを評価することにより、速度が
異なる場合にも実質的に同一の垂直方向ピクセル分解能
が得られるように、パーフォレーション孔センサ20の
ライン周波数を選択されたフィルム速度に適合させる。
個々のフィルム画像に対して所定のパーフォレーション
孔(例えばそのつど最上部のパーフォレーション孔)を
一義的に対応させるために、この実施例ではフィルムス
キャナに別の目的で、新たなフィルム画像の開始を特徴
付けるための、そのつど形成される同期パルス“フレー
ムフィルムスタート”が使用される。
The film advance controller 9 advantageously evaluates the tach pulses of the tach disk 16 so that substantially the same vertical pixel resolution is obtained at different speeds so that the line of the perforation hole sensor 20 can be obtained. Adapt the frequency to the selected film speed.
In order to uniquely assign a predetermined perforation hole (for example, the uppermost perforation hole) uniquely to the individual film image, in this embodiment the film scanner is characterized by the start of a new film image for another purpose. For this purpose, the respectively generated sync pulse "frame film start" is used.

【0021】1つのフィルム画像に対応するパーフォレ
ーション孔は通常1回の打ち抜き過程で形成されるの
で、個々の各フィルム画像に対応するパーフォレーショ
ン孔の幾何学的サイズは一定である。このためあまりひ
どく変形したパーフォレーション孔または損傷したパー
フォレーション孔がないかぎりは、各画像に対してその
つど同じ位置にあるパーフォレーション孔を走査するこ
とにより充分正確な1つの基準点を計算することが可能
である。1つのフィルム画像に対応する複数のパーフォ
レーション孔または全てのパーフォレーション孔の走査
および評価では、重大な損傷を有するパーフォレーショ
ン孔がある場合、1つのフィルム画像に対応する複数の
パーフォレーション孔または全てのパーフォレーション
孔の平均により基準点を求めるように改善を行うことが
できる。
Since the perforation holes corresponding to one film image are usually formed in one punching process, the geometric size of the perforation holes corresponding to each individual film image is constant. Unless there is a very badly deformed or damaged perforation hole, it is possible to calculate a sufficiently accurate reference point for each image by scanning the correspondingly located perforation hole for each image. is there. Scanning and evaluating the perforation holes or all perforation holes corresponding to one film image indicates that if there is a perforation hole having significant damage, the perforation holes or all perforation holes corresponding to one film image may be detected. Improvements can be made to determine the reference point by averaging.

【0022】この実施例ではパーフォレーション孔の走
査のために、パーフォレーション孔を赤外線光源例えば
赤外線ダイオードを用いて照明し、赤外線感受性のライ
ンセンサにより走査が行われる。走査されるフィルム1
と画像走査センサ21、22、23、24との間に赤外
線カットフィルタ30が配置されており、このカットフ
ィルタは可視光の領域で透過性を有する。このようにし
て、パーフォレーション孔の照明に使用される光に起因
する画像走査センサ21、22、23、24への障害は
回避される。
In this embodiment, in order to scan the perforation hole, the perforation hole is illuminated by using an infrared light source, for example, an infrared diode, and scanning is performed by an infrared-sensitive line sensor. Film 1 to be scanned
An infrared cut filter 30 is arranged between the image scanning sensors 21, 22, 23, and 24, and the cut filter has transparency in a visible light region. In this way, obstacles to the image scanning sensors 21, 22, 23, 24 due to light used to illuminate the perforation holes are avoided.

【0023】パーフォレーション孔を赤外線を用いて照
明することにより、驚くべきことに、得られた走査信号
がパーフォレーション孔のエッジ領域で減衰の最大値を
有するので、エッジは特に簡単に検出可能となる。減衰
の最大値の理由として、打ち抜き過程によりエッジ領域
で赤外線透過領域における材料の透過性の変化が生じる
ことが考えられる。図2にはフィルム材1の長手軸線に
沿って切断された断面図が示されており、このフィルム
材は通常の透過性を有する領域31と、打ち抜き過程に
より透過性を低減されている領域32と、パーフォレー
ション孔の領域33とを有する。下側にはパーフォレー
ション孔29の出力電圧Uがそれぞれフィルムの送り
方向に沿った同じ位置で示されている。有利には微分回
路により信号の経過の変化が検出される。図2にはグラ
ジエント法により得られた関連のパルス状信号のピーク
34、35が示されている。これらの信号ピークはコン
ピュータ計算ユニット29に走査値として供給される。
By illuminating the perforation holes with infrared light, the edges are surprisingly particularly easy to detect because the obtained scanning signal has a maximum of attenuation in the edge region of the perforation holes. The reason for the maximum attenuation may be that the punching process causes a change in the permeability of the material in the infrared transmitting region in the edge region. FIG. 2 shows a cross-sectional view of the film material 1 cut along the longitudinal axis, the film material having a normal transmissive area 31 and an area 32 of reduced transmissivity due to the punching process. And a region 33 of a perforation hole. The output voltage U s of sprocket hole 29 on the lower side are indicated by the same position along the feeding direction of each film. A change in the course of the signal is preferably detected by a differentiating circuit. FIG. 2 shows the peaks 34 and 35 of the relevant pulse-like signal obtained by the gradient method. These signal peaks are supplied to the computer calculation unit 29 as scan values.

【0024】有利にはパーフォレーション孔は走査すべ
きフィルムの水平軸線に対してわずかに傾けられて配置
されており、このため走査検出精度が向上される。図3
に示されているパーフォレーション孔36の走査パター
ンと同様に、ライン走査においても検出された走査値の
幾何学的歪みが生じる。しかしこの幾何学的歪みは、時
間的な偏差がフィルムの送り速度に比例しているため、
走査値の簡単な換算により消去できる。パーフォレーシ
ョン孔のすべての走査値はコンピュータ計算ユニット2
9において(特に図示はされていない)メモリに一時記
憶される。評価装置はメモリ内に一時記憶された走査値
にランダムにアクセス可能である。
Advantageously, the perforation holes are arranged slightly inclined with respect to the horizontal axis of the film to be scanned, so that the scanning detection accuracy is improved. FIG.
Similarly to the scanning pattern of the perforation hole 36 shown in FIG. 7, the geometrical distortion of the detected scanning value occurs in the line scanning. However, this geometric distortion is because the time deviation is proportional to the film feed speed,
It can be eliminated by simple conversion of the scanning value. All scan values of the perforated holes are calculated by computer
At 9 (not specifically shown), it is temporarily stored in a memory. The evaluation device can randomly access the scan values temporarily stored in the memory.

【0025】次に基準パーフォレーション孔と走査され
た各パーフォレーション孔の走査値との最適な一致の度
合を求めるために、図5に示されたフローチャートに則
して適切な方法のステップについて説明する。走査値は
通常所定の基準画像の基準点と比較および評価可能であ
るが、水平ずれと垂直ずれとを相互に別々に計算すると
有利であることがわかった。このために基準点から形成
された基準パーフォレーション孔の代わりにディメンシ
ョンラインが使用される。このディメンションラインは
それぞれ検査すべきエッジに対して直角に設けられてい
る。図4にはこのようなディメンションライン40から
形成されている基準パターンと、この基準パターンに基
づくパーフォレーション孔41の輪郭とが示されてい
る。図4にはさらに走査されたパーフォレーション孔の
走査値42、44、46、48も示されている。簡単化
のために、それぞれ走査されるパーフォレーション孔の
上側エッジ43に対応する走査値42、走査されるパー
フォレーション孔の左側エッジ45に対応する走査値4
4、走査されるパーフォレーション孔の右側エッジ47
に対応する走査値46、走査されるパーフォレーション
孔の下側エッジ49に対応する走査値48のみが示され
ている。
Next, the steps of an appropriate method will be described with reference to the flowchart shown in FIG. 5 in order to determine the optimum degree of coincidence between the reference perforation hole and the scan value of each perforated hole scanned. Although the scan values can usually be compared and evaluated with reference points of a given reference image, it has proven advantageous to calculate the horizontal and vertical offsets separately from each other. For this purpose, dimension lines are used instead of reference perforation holes formed from reference points. The dimension lines are each provided at right angles to the edge to be examined. FIG. 4 shows a reference pattern formed from such dimension lines 40 and a contour of the perforation hole 41 based on the reference pattern. FIG. 4 also shows the scan values 42, 44, 46 and 48 of the perforated holes that have been further scanned. For simplicity, a scan value 42 corresponding to the upper edge 43 of the perforated hole to be scanned and a scan value 4 corresponding to the left edge 45 of the perforated hole to be scanned, respectively.
4. Right edge 47 of the perforated hole to be scanned
And only the scan value 48 corresponding to the lower edge 49 of the perforated hole to be scanned are shown.

【0026】わかりやすくするために数本のディメンシ
ョンラインのみが示されている。評価のために設けられ
ているディメンションラインの有意義な最大数は、パー
フォレーション孔の走査ユニットとコンピュータ計算ユ
ニットにかかるコストによって定まる。この実施例では
相応の手段、例えば走査ユニットにおけるフィルムエッ
ジの支持案内部を用いて、スプライス部の約30個の画
素の基本的な安定性が得られる。有利には、パーフォレ
ーション孔のコーナで得られた走査値も評価から選別除
去される。なぜならコーナの湾曲部の評価を行えば比較
的大きな計算コストがかかり、逆に評価を行わなくても
多数の走査値が残っているため精度への重大な悪影響は
生じないからである。
For clarity, only a few dimension lines are shown. The meaningful maximum number of dimension lines provided for evaluation is determined by the cost of the scanning unit and the computer unit of the perforation holes. In this embodiment, the basic stability of about 30 pixels of the splice is obtained by means of corresponding measures, for example, the support guide of the film edge in the scanning unit. Advantageously, the scan values obtained at the corners of the perforation holes are also filtered out of the evaluation. This is because the evaluation of the curved portion of the corner requires a relatively large calculation cost, and conversely, a large number of scan values remain without the evaluation, so that no serious adverse effect on the accuracy is caused.

【0027】基準パターンとそのつどの走査値との比較
を実施すべき回数を低減するために有利には粗いサーチ
から開始して段階的にサーチを細かくする。サーチ過程
のイニシャライズのために第1の計算ステップ501で
は、基準パターンをオフセットする段階幅nをまず8つ
の画素に設定する。サーチが開始される位置x、yはイ
ニシャライズの際に基準パーフォレーション孔のゼロ位
置x=0、y=0に設定される。
In order to reduce the number of times the comparison between the reference pattern and the respective scan value has to be performed, the search is advantageously refined in stages starting from a coarse search. In a first calculation step 501 for initializing the search process, a step width n for offsetting the reference pattern is first set to eight pixels. The positions x and y where the search is started are set to zero positions x = 0 and y = 0 of the reference perforation hole at the time of initialization.

【0028】次の計算ステップ502から510までに
おいて、マトリクスE[i,j]が形成される。
In the next calculation steps 502 to 510, a matrix E [i, j] is formed.

【0029】−4≦i≦3および−4≦j≦3にて E[i,j]=F(SrcWin(x+n・i,Y+n・
j);RefWin(x,y)) サーチウィンドウ内の、可能な各オフセット位置i,j
に対する走査値SrcWinは、走査値と基準パターンとの比
較誤差Eを有する。マトリクスE[]を計算するため
に、相互に交錯する2つの計数ループにより、パーフォ
レーション孔の走査値はサーチウィンドウの左下のコー
ナ(i=−4,j=−4)で開始されて左から右へオフ
セットされる。この場合に計数ループは走行変数i、j
のための2つのインクリメンテーションブロック50
5、507と、各ループの終了を決定するための決定ブ
ロック506、509とから形成される。各ステップに
おいて計算ステップ502の重みづけ関数F()を用い
て、オフセット走査値SrcWin()と基準パターンRefWin()
との比較誤差が計算され、相応の個所でマトリクスE
[i,j]に代入される。サーチウィンドウの右側の境
界(i=3)に達すると、サーチウィンドウはその位置
を1つだけ上側へオフセットされ(j=i+1)、サー
チウィンドウの左側でのサーチが新たに開始される。マ
トリクスE[]の計算は、サーチウィンドウの右上側の
コーナ(i=3,j=3)に達すると終了される。
At -4≤i≤3 and -4≤j≤3, E [i, j] = F (SrcWin (x + ni *, Y + n *)
j); RefWin (x, y)) Each possible offset position i, j in the search window
Has a comparison error E between the scan value and the reference pattern. To calculate the matrix E [], the scanning values of the perforated holes are started at the lower left corner of the search window (i = -4, j = -4) and left to right by two interlacing counting loops. Offset to In this case, the counting loop consists of the running variables i, j
Incrementation block 50 for
5, 507 and decision blocks 506, 509 for determining the end of each loop. In each step, the offset scan value SrcWin () and the reference pattern RefWin () are calculated using the weighting function F () of the calculation step 502.
Is calculated, and the matrix E is calculated where appropriate.
Is assigned to [i, j]. When the right boundary of the search window is reached (i = 3), the search window is offset by one position upward (j = i + 1) and a new search on the left side of the search window is started. The calculation of the matrix E [] is terminated when the upper right corner (i = 3, j = 3) of the search window is reached.

【0030】基準パターンRefWinと走査値SrcWinとの一
致の度合が増すにつれて、比較時に生じる比較誤差Eは
わずかになる。この実施例ではパーフォレーション孔の
水平ずれと垂直ずれが相互に別々に計算されるので、マ
トリクス要素E[i,j]に対して値の組e、e
生じる。値の組のうち第1の値eは垂直エッジの比較
に対する比較誤差、すなわち水平方向の比較誤差を表
し、第2の値eは水平エッジの比較に対する比較誤
差、すなわち垂直方向の比較誤差を表す。このために一
方では、オフセットされた基準パターンの垂直のディメ
ンションラインの上にあるパーフォレーション孔の上側
および下側エッジの全ての走査値k=(1...K)に対
して、それぞれその距離d(k)(図4を参照)がオ
フセットされた基準パターンの上側および下側エッジの
ために計算される。基準パターンの上側および下側エッ
ジは直線状であるため、距離d(k)はそれぞれの走
査値42と基準パーフォレーション孔41の上側ないし
下側エッジとの垂直ずれに等しい。同様に他方では、横
方向エッジに対応する走査値1∈(1...L)に対して
距離d(図4を参照)が計算される。この距離d
は、ディメンションライン上に配置される走査点44
が、ディメンションラインと基準パターンの輪郭との交
点に対して有する距離である。生じる総和はそれぞれの
計算に使用される数KないしLにより除算され、この総
和により平均された比較誤差
As the degree of coincidence between the reference pattern RefWin and the scan value SrcWin increases, the comparison error E generated during the comparison becomes smaller. Since the horizontal displacement and vertical displacement of the perforation holes in this embodiment is mutually calculated separately, matrix elements E [i, j] with respect to the value set e x, e y occurs. The first value e x Comparison error for comparison of the vertical edges of the set value, that represents the comparison error in a horizontal direction, compared error second value e y for comparing the horizontal edge, i.e. the vertical direction of the comparison error Represents For this purpose, on the one hand, for all scan values k = (1... K) of the upper and lower edges of the perforation hole above the vertical dimension line of the offset reference pattern, respectively, the distance d y (k) (see FIG. 4) is calculated for the upper and lower edges of the offset reference pattern. Since the upper and lower edges of the reference pattern are linear, the distance d y (k) is equal to the vertical offset between the respective scan value 42 and the upper or lower edge of the reference perforation hole 41. Similarly, on the other hand, the distance d x (see FIG. 4) is calculated for the scan value 1∈ (1... L) corresponding to the lateral edge. This distance d
x is the scanning point 44 located on the dimension line
Is the distance to the intersection of the dimension line and the contour of the reference pattern. The resulting sum is divided by the number K or L used in each calculation, and the comparison error averaged by this sum

【0031】[0031]

【数1】 (Equation 1)

【0032】が生じる。計算ステップ502に続いて選
別除去ステップ503では、それぞれの平均値e、e
からの絶対差が所定の閾値よりも大きい走査値のすべ
てを実際の走査値から選別除去する。続く決定ブロック
504において走査値が選別除去されたことが確認され
続けているかぎり、比較誤差を計算するステップ502
が繰り返される。この場合に選別除去ブロック503に
おいて選別除去された走査値はもはや考慮されない。計
算ステップ502、および平均値からきわめて強く偏差
する走査値に対する選別除去ステップ503は、選別除
去すべき走査値が存在しなくなるまで繰り返される。こ
のようにして、汚れているエッジまたは損傷したエッジ
から生じた走査値を確実に選別除去することができ、比
較結果に悪影響を与えない。このようにして誤り決定が
回避される。
Occurs. In culling step 503 following the calculation step 502, each average value e x, e
All scan values whose absolute difference from y is greater than a predetermined threshold are culled from the actual scan values. Calculating the comparison error step 502 as long as it is still determined in the subsequent decision block 504 that the scan value has been filtered out.
Is repeated. In this case, the scan values that have been rejected in the reject block 503 are no longer considered. The calculation step 502 and the culling step 503 for scan values that deviate very strongly from the average are repeated until there are no more scan values to cull. In this way, scan values resulting from dirty or damaged edges can be reliably filtered out without adversely affecting the comparison result. In this way, erroneous decisions are avoided.

【0033】マトリクスE[]が形成されるとただちに
次の計算ステップ510において、最小の誤りを有する
値の組のマトリクス要素がサーチされる。このマトリク
ス要素のアドレスにより、低減されたサーチ幅n=1を
有する新たな計算過程のために、新たなサーチ領域x、
yが定められる。計算ステップ502から509までの
全てがもう一度繰り返された後、最小の比較誤差を有す
るマトリクス要素が、ずれをパーフォレーション孔セン
サの1画素の精度で表す。複数の走査値が使用されるた
め、もう1度サーチ幅をn=1/8まで低減し、かつ計
算ステップ502から509までを新たに実行すること
により、パーフォレーション孔センサの所定の分解能よ
りも高い精度でずれが求められる。残っている基準点か
ら対応する幾何学的形状“直線”または“円弧”が近似
的に求められ、そこからサブピクセル精度のずれが求め
られる。
As soon as the matrix E [] is formed, in the next calculation step 510 the matrix element of the set of values with the least error is searched. Due to the address of this matrix element, a new search area x, for a new calculation process with a reduced search width n = 1
y is determined. After all of the calculation steps 502 to 509 have been repeated once more, the matrix element with the smallest comparison error represents the deviation to the accuracy of one pixel of the perforation hole sensor. Since a plurality of scan values are used, the search width is again reduced to n = 1/8 and the calculation steps 502 to 509 are newly performed, so that the resolution is higher than the predetermined resolution of the perforation hole sensor. Misalignment is required with accuracy. From the remaining reference points, the corresponding geometrical shape "straight line" or "circular arc" is approximately determined, from which the sub-pixel accuracy deviation is determined.

【0034】円弧状の横方向エッジを有するパーフォレ
ーション孔の場合、ディメンションライン上に配置され
る走査点と、ディメンションラインと基準パターンの交
点と間の横方向の距離dの計算は他の計算に比べて比
較的面倒である。なぜなら三角関数を計算しなければな
らないからである。しかし図示されているように、それ
ぞれの円弧状の部分の接線に垂直なディメンションライ
ンの代わりに、直交する走査ラスタに位置しているディ
メンションライン(図6を参照)を使用する場合、使用
可能な結果を得ることができる。
[0034] For sprocket hole having an arcuate transverse edges, and the scanned points are arranged on the dimension line, the calculation of the lateral distance d x between the intersection of dimension line and the reference pattern in other calculations It is relatively troublesome in comparison. This is because the trigonometric function must be calculated. However, as shown, it is possible to use dimension lines (see FIG. 6) that lie on orthogonal scanning rasters instead of dimension lines that are perpendicular to the tangent of each arc. The result can be obtained.

【0035】別の実施例では、円弧状の横方向エッジを
有するパーフォレーション孔(例えば“N”タイプのパ
ーフォレーション孔で公知である)において、パーフォ
レーション孔の位置を2つの段階で検出する。すなわち
第1の段階では上述のように、パーフォレーション孔の
上側および下側エッジの位置が相互に別々に検出され、
2つのエッジの間の対称軸線が求められる。第2の段階
では、2つの円弧状の横方向エッジに中心がすでに求め
られた対称軸線上に位置する完全な円を相関させる。エ
ッジと円との相関時に求められた円の中心は求めるべき
パーフォレーション孔の中心と同一である。
In another embodiment, the position of the perforation hole is detected in two stages in a perforation hole having an arcuate lateral edge (for example, known as an "N" type perforation hole). That is, in the first stage, as described above, the positions of the upper and lower edges of the perforation hole are detected separately from each other,
An axis of symmetry between the two edges is determined. In the second stage, two arc-shaped lateral edges are correlated with a complete circle centered on the axis of symmetry already determined. The center of the circle obtained at the time of correlation between the edge and the circle is the same as the center of the perforation hole to be obtained.

【0036】さらに種々異なる適用が可能である。孔の
中心を計算しないでパーフォレーション孔のエッジの一
部分を直接に基準として使用する手段を用いてもよい。
Further, various different applications are possible. Means may be used that does not calculate the center of the hole and uses a portion of the edge of the perforated hole directly as a reference.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】フィルムスキャナの概略図である。FIG. 1 is a schematic diagram of a film scanner.

【図2】赤外線領域におけるパーフォレーション孔とそ
れに関連する信号の波形を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a waveform of a perforation hole and a signal related thereto in an infrared region.

【図3】フィルム送りの水平軸線に対して傾けられたパ
ーフォレーション孔センサによる走査値を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing scan values obtained by a perforation hole sensor tilted with respect to a horizontal axis of film feeding.

【図4】円弧状の横方向エッジを有するパーフォレーシ
ョン孔において、パーフォレーション孔のエッジに対し
て直角に配置される基準パターンを示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a reference pattern arranged at a right angle to an edge of a perforation hole in a perforation hole having an arc-shaped lateral edge.

【図5】計算ユニットにより実行される計算ステップを
説明するためのフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart for explaining calculation steps performed by a calculation unit.

【図6】円弧状の横方向エッジを有するパーフォレーシ
ョン孔のための別の基準パターンを示す図である。
FIG. 6 shows another reference pattern for a perforation hole having an arcuate lateral edge.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 フィルム 2 供給リール 4 キャプスタンローラ 5 巻取リール 6、7、8 電気モータ 9 送り制御装置 10、13 ガイドローラ 11、12 センシングレバー 15 スプロケット 16 タコディスク 17 操作パネル 18 走査ユニット 19、20、27 照明装置 21〜24 画像走査センサ 25 ビデオ信号処理装置 26 インターフェース 28 パーフォレーション孔センサ 29 計算ユニット 30 赤外線カットフィルタ 31〜33 フィルムの各領域 34、35 信号ピーク 36、41 パーフォレーション孔 37、42、44、46、48 走査値 40 ディメンションライン 43、45、47、49 パーフォレーション孔のエッ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Film 2 Supply reel 4 Capstan roller 5 Take-up reel 6, 7, 8 Electric motor 9 Feed control device 10, 13 Guide roller 11, 12 Sensing lever 15 Sprocket 16 Tach disk 17 Operation panel 18 Scanning unit 19, 20, 27 Illumination devices 21 to 24 Image scanning sensor 25 Video signal processing device 26 Interface 28 Perforation hole sensor 29 Calculation unit 30 Infrared cut filter 31 to 33 Each region of film 34, 35 Signal peak 36, 41 Perforation holes 37, 42, 44, 46 , 48 scan value 40 dimension line 43, 45, 47, 49 edge of perforation hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 590000248 Groenewoudseweg 1, 5621 BA Eindhoven, Th e Netherlands ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (71) Applicant 590000248 Groenewoodsweg 1, 5621 BA Eindhoven, The Netherlands

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パーフォレーション孔を光学的に走査す
る走査装置と、パーフォレーション孔の走査値を基準パ
ターンと比較して画像位置誤りを補償するための補正信
号を発生する評価装置とを有するフィルムスキャナにお
いて、 評価装置(29)が設けられており、 該評価装置により、複数の計算ステップにおいて走査値
および基準パターンの値が相互にオフセットされ、 かつ該評価装置により、各計算ステップにおいて走査値
と基準パターンとの一致の度合が求められて、最適な一
致が検出される走査値および基準パターンの絶対的なオ
フセットから補正信号が発生される、ことを特徴とする
フィルムスキャナ。
1. A film scanner comprising: a scanning device that optically scans a perforation hole; and an evaluation device that generates a correction signal for compensating an image position error by comparing a scanning value of the perforation hole with a reference pattern. An evaluation device (29), by which the scanning value and the value of the reference pattern are offset from each other in a plurality of calculation steps, and by the evaluation device, the scanning value and the reference pattern in each calculation step. And a correction signal is generated from a scanning value at which an optimum match is detected and an absolute offset of the reference pattern.
【請求項2】 評価装置(29)が設けられており、該
評価装置によりパーフォレーション孔の走査値と基準パ
ターンとが相互に段階的に水平オフセットおよび垂直オ
フセットされ、各オフセットステップにおいて走査値と
基準値とを一致させるための判定基準が形成され、走査
値と基準値とが最適に一致するオフセットステップが求
められ、該走査値と基準値とが最適に一致するオフセッ
トステップに基づく水平オフセットおよび垂直オフセッ
トが画像位置誤りを補償するための補正信号として使用
される、請求項1記載のフィルムスキャナ。
2. An evaluation device (29) is provided which horizontally and vertically offsets a scanning value of a perforation hole and a reference pattern with respect to each other in a stepwise manner. A criterion for matching the values is formed, an offset step at which the scan value and the reference value optimally match is obtained, and a horizontal offset and a vertical offset based on the offset step at which the scan value and the reference value optimally match are determined. The film scanner of claim 1, wherein the offset is used as a correction signal to compensate for image position errors.
【請求項3】 評価装置(29)が設けられており、該
評価装置により、比較過程で求められた水平オフセット
および垂直オフセットが更なる比較過程の開始点として
低減された段階幅で行われる、請求項1または2記載の
フィルムスキャナ。
3. An evaluation device (29) is provided by which the horizontal offset and the vertical offset determined in the comparison process are performed with reduced step width as a starting point for a further comparison process. The film scanner according to claim 1.
【請求項4】 評価装置(29)が設けられており、該
評価装置により、走査値から計算された、走査されたパ
ーフォレーション孔の位置に対する差が所定の閾値を超
過する場合、該差を有するパーフォレーション孔の走査
値が比較過程から選別除去される、請求項1から3まで
のいずれか1項記載のフィルムスキャナ。
4. An evaluator (29) is provided, the evaluator comprising, if the difference calculated from the scan value to the position of the scanned perforation hole exceeds a predetermined threshold value. 4. The film scanner according to claim 1, wherein the scanning values of the perforated holes are filtered out of the comparison process.
【請求項5】 評価装置(29)が設けられており、該
評価装置により、複数の走査値から走査値と基準パター
ンとの偏差に対する平均値が形成され、平均値からの偏
差が閾値を超過する走査値が平均値形成部から選別除去
され、残っている走査値から新たに平均値が形成され
る、請求項4記載のフィルムスキャナ。
5. An evaluation device (29) is provided, the evaluation device forming an average value from a plurality of scan values with respect to a deviation between a scan value and a reference pattern, and a deviation from the average value exceeding a threshold value. 5. The film scanner according to claim 4, wherein the scanning values to be performed are selectively removed from the average value forming section, and a new average value is formed from the remaining scanning values.
【請求項6】 評価装置(29)が複数のディメンショ
ンラインを有しており、該ディメンションラインはそれ
ぞれ比較すべきパーフォレーション孔のエッジに対して
近似的に垂直である、請求項1から5までのいずれか1
項記載のフィルムスキャナ。
6. The evaluation device according to claim 1, wherein the evaluation device has a plurality of dimension lines, each dimension line being approximately perpendicular to the edge of the perforation hole to be compared. Any one
The film scanner according to the item.
【請求項7】 評価装置(29)が設けられており、該
評価装置により、補正信号の水平成分はパーフォレーシ
ョン孔の横方向エッジに対応する走査値からのみ形成さ
れ、補正信号の垂直成分はパーフォレーション孔の上側
および下側エッジに対応する走査値からのみ形成され
る、請求項1から6までのいずれか1項記載のフィルム
スキャナ。
7. An evaluation device (29) is provided, by which the horizontal component of the correction signal is formed only from the scanning values corresponding to the lateral edges of the perforation holes, and the vertical component of the correction signal is perforated. 7. A film scanner according to claim 1, wherein the film scanner is formed only from scan values corresponding to the upper and lower edges of the hole.
【請求項8】 評価装置(29)が設けられており、該
評価装置により、対向するエッジにおいて2つのエッジ
の偏差が相互に別々に計算され、かつ別々に計算された
エッジの中心線が偏差として使用される、請求項7記載
のフィルムスキャナ。
8. An evaluation device (29) is provided, by which the deviation of two edges at opposing edges is calculated separately from one another and the center line of the separately calculated edges is deviated. The film scanner according to claim 7, which is used as a scanner.
【請求項9】 フィルムのパーフォレーション孔を光学
的に走査して基準パターンと比較して、画像位置誤りを
補償するための補正信号を発生する、シネフィルムの走
査方法において、 複数の計算ステップにおいて走査値および基準パターン
の値を相互にオフセットし、 各計算ステップにおいて走査値と基準パターンとの一致
の度合を求め、 最適な一致が検出される走査値および基準パターンの絶
対的なオフセットから補正信号を発生する、ことを特徴
とするシネフィルムの走査方法。
9. A method for scanning a cine film, comprising: optically scanning a perforation hole of a film to compare with a reference pattern to generate a correction signal for compensating for an image position error. Offset the value and the value of the reference pattern from each other, determine the degree of coincidence between the scan value and the reference pattern in each calculation step, and calculate the correction signal from the scan value at which the best match is detected and the absolute offset of the reference pattern. Generating a cine film.
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