JPH11130594A - Production of fluoride crystal, fluoride crystal and optical part - Google Patents

Production of fluoride crystal, fluoride crystal and optical part

Info

Publication number
JPH11130594A
JPH11130594A JP29305197A JP29305197A JPH11130594A JP H11130594 A JPH11130594 A JP H11130594A JP 29305197 A JP29305197 A JP 29305197A JP 29305197 A JP29305197 A JP 29305197A JP H11130594 A JPH11130594 A JP H11130594A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluoride
crystal
raw material
producing
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP29305197A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3659377B2 (en
Inventor
Ten Ooba
点 大場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OPUTORON KK
Canon Inc
Original Assignee
OPUTORON KK
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by OPUTORON KK, Canon Inc filed Critical OPUTORON KK
Priority to JP29305197A priority Critical patent/JP3659377B2/en
Publication of JPH11130594A publication Critical patent/JPH11130594A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3659377B2 publication Critical patent/JP3659377B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a fluoride crystal excellent in optical characteristics capable of completely removing water content in a raw material and an oven before melting of the raw material by using a reactive gas or solid scavenger and decreasing dislocation density of crystal and improving transmission characteristics as a result and provide a method for producing the fluoride crystal and obtain an optical part. SOLUTION: This method for producing fluoride crystal comprises successively carrying out a step for charging a fluoride raw material into a growing furnace, a step for raising the fluoride raw material to a temperature lower by 50-200 deg.C than the melting point, a step for melting the fluoride raw material in an inert gas atmosphere, a step for growing crystal by immersing seed crystal in a melt and then pulling up the crystal. In the production method, heating is preferably carried out at 100-300 deg.C in a vacuum atmosphere or inert gas atmosphere before raising the temperature of the crystal.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、特に真空紫外域か
ら遠赤外域までの広い波長範囲において用いられる各種
光学素子、レンズ、窓材、プリズム等に好適であるフッ
化物結晶の製造方法およびフッ化物結晶ならびに光学部
品に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for producing a fluoride crystal which is suitable for various optical elements, lenses, window materials, prisms and the like used particularly in a wide wavelength range from the vacuum ultraviolet region to the far infrared region. And optical components.

【0002】[0002]

【従来の技術】ホタル石等のフッ化物結晶は、真空紫外
域から遠赤外域までの広い波長範囲において透過率が高
く、各種光学素子、レンズ、窓材、プリズム等に広く利
用されている。
2. Description of the Related Art Fluorite crystals such as fluorite have high transmittance in a wide wavelength range from the vacuum ultraviolet region to the far infrared region, and are widely used for various optical elements, lenses, window materials, prisms and the like.

【0003】このようなフッ化物結晶は,ブリッジマン
−ストックバーガー法(Stockbarger, J. Opt. Soc, A
m. 39, (1949))によって製造されるのが一般的であ
る。この方法は、黒鉛等を材質とするルツボに原料を入
れ、真空雰囲気中で加熱、融解し、温度勾配のある炉内
でのルツボの移動によって結晶を成長させるものであ
る。結晶の形状制御や大口径化が容易に行えること、装
置が比較的安価であることなどの利点が特徴とされてい
る。
[0003] Such a fluoride crystal is prepared by the Bridgman-Stockberger method (Stockbarger, J. Opt. Soc, A
m. 39, (1949)). In this method, a raw material is put in a crucible made of graphite or the like, heated and melted in a vacuum atmosphere, and a crystal is grown by moving the crucible in a furnace having a temperature gradient. It is characterized by advantages such as easy control of crystal shape and enlargement of the crystal diameter, and relatively low cost of the apparatus.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながらこの方法
は、ルツボ内部で結晶を育成するために、ルツボから融
液中へ不純物が混入しやすい、結晶に転位や欠陥が入り
やすい、成長中の結晶を観察できないため制御が難し
い、などの欠点を有している。
However, in this method, since the crystal is grown inside the crucible, impurities are liable to be mixed into the melt from the crucible, dislocations and defects are likely to enter the crystal, and the growing crystal is It has drawbacks such as difficulty in control because it cannot be observed.

【0005】以上のような欠点を克服するため、チョク
ラルスキー法(引き上げ法)によるフッ化物結晶の育成
が行われている(Nassau, J. Appl. Phys. 32, (1961),
Cockay ne et al, Nature 203, (1964))が、ブリッ
ジマン−ストックバーガー法で育成した結晶に比べて、
転位密度や透過特性の面で全く優れていない(Leckebus
ch & Recker, J. Cyrst. Growth 13/14, (1972))のが
実状である。
In order to overcome the above disadvantages, fluoride crystals are grown by the Czochralski method (pulling method) (Nassau, J. Appl. Phys. 32, (1961),
Cockay ne et al, Nature 203, (1964)), compared to crystals grown by the Bridgman-Stockberger method.
Dislocation density and transmission characteristics are not excellent at all (Leckebus
ch & Recker, J. Cyrst. Growth 13/14, (1972)).

【0006】この原因としては、融解したフッ化物が水
分と反応しやすく、僅かな水分が炉内に残っているだけ
でもすぐに反応して酸化物を形成してしまうことが考え
られる。酸化物が引き上げた結晶中に取り込まれると、
透過特性は低下し、転位密度も大幅に増加する。
It is considered that the cause is that the melted fluoride easily reacts with water, and even if a small amount of water remains in the furnace, it reacts immediately to form an oxide. When the oxides are taken into the pulled crystal,
The transmission characteristics are reduced and the dislocation density is greatly increased.

【0007】本発明は、上述した技術的課題に鑑みなさ
れたものであり、成長炉内の雰囲気を制御することで原
料溶解前に原料および炉内の水分を完全に除去し、その
結果として結晶の転位密度を縮小し透過特性を向上させ
ることのできる、光学特性に優れたフッ化物結晶および
その製造方法を提供することを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above technical problems, and controls the atmosphere in a growth furnace to completely remove the raw material and water in the furnace before melting the raw material. It is an object of the present invention to provide a fluoride crystal having excellent optical characteristics and a method for producing the same, which can reduce the dislocation density and improve the transmission characteristics.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明のフッ化物結晶の
製造方法は、フッ化物原料を成長炉に装入する工程、不
活性ガス雰囲気中において該フッ化物原料を溶解する工
程、種結晶を融液に浸した後引き上げることにより結晶
成長させる工程、を順に行うことを特徴とする。
According to the present invention, there is provided a method for producing a fluoride crystal, comprising the steps of: loading a fluoride raw material into a growth furnace; dissolving the fluoride raw material in an inert gas atmosphere; The step of growing the crystal by dipping it in the melt and pulling it up is performed in order.

【0009】本発明のフッ化物結晶の製造方法は、フッ
化物原料をフッ化物の固体スカベンジャーとともに成長
炉に装入する工程、装入後、不活性ガス雰囲気または真
空雰囲気において該フッ化物原料を溶解する工程、種結
晶を融液に浸した後引き上げることにより結晶成長させ
る工程、を順に行うことを特徴とする。
In the method for producing a fluoride crystal according to the present invention, a step of charging a fluoride raw material into a growth furnace together with a solid scavenger of fluoride is performed, and after the charging, the raw material is dissolved in an inert gas atmosphere or a vacuum atmosphere. And a step of dipping the seed crystal in the melt and pulling it up to grow the crystal.

【0010】本発明のフッ化物結晶は、上記結晶製造方
法により製造したことを特徴とする。
[0010] The fluoride crystal of the present invention is characterized by being produced by the above-mentioned crystal production method.

【0011】本発明の光学部品は、上記フッ化物結晶を
所定の形状に成形したことを特徴とする。
An optical component according to the present invention is characterized in that the fluoride crystal is formed into a predetermined shape.

【0012】反応性ガスは、酸化物と反応する四フッ化
メタン(CF4)、三フッ化メタン(CHF3)、二フッ
化メタン(CH22)、六フッ化エタン(C26)、八
フッ化プロパン(C38)などのフッ化炭素系ガスであ
るとよい。なお、反応性ガスは不活性ガスで希釈して用
いてもよい。
The reactive gas is methane tetrafluoride (CF 4 ), methane trifluoride (CHF 3 ), methane difluoride (CH 2 F 2 ), ethane hexafluoride (C 2 F) 6 ) and a fluorocarbon-based gas such as propane octafluoride (C 3 F 8 ). Note that the reactive gas may be diluted with an inert gas before use.

【0013】固体スカベンジャーとして用いられるフッ
化物は、フッ化鉛、フッ化亜鉛、フッ化カドミウム、フ
ッ化マンガン、フッ化ビスマス、フッ化ナトリウム、フ
ッ化リチウムであるとよい。
The fluoride used as the solid scavenger is preferably lead fluoride, zinc fluoride, cadmium fluoride, manganese fluoride, bismuth fluoride, sodium fluoride, and lithium fluoride.

【0014】フッ化物結晶は、フッ化カルシウム、フッ
化バリウムまたはフッ化マグネシウムであるどよい。
The fluoride crystals may be calcium fluoride, barium fluoride or magnesium fluoride.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】図2に結晶製造工程例をフローチ
ャートとして示す。以下の各工程を説明する。
FIG. 2 is a flowchart showing an example of a crystal manufacturing process. The following steps will be described.

【0016】(精製工程)本発明においては、結晶成長
工程に先立ちフッ化物原料の精製を行うことが好まし
い。なお、フッ化物原料が水分その他の不純物を含まな
い高純度原料である場合には必ずしも精製工程は必要で
はない。
(Purification Step) In the present invention, it is preferable to purify the fluoride raw material prior to the crystal growth step. In addition, when the fluoride raw material is a high-purity raw material containing no moisture or other impurities, the purification step is not necessarily required.

【0017】フッ化物原料と固体スカベンジャーを図3
に示す精製炉のルツボの中に入れる。固体スカペンジャ
ーは、原料の0.04mol%以上、0.1mol%以
下の量を添加する。
FIG. 3 shows a fluoride raw material and a solid scavenger.
Into the crucible of the refining furnace shown in The solid scavenger is added in an amount of 0.04 mol% or more and 0.1 mol% or less of the raw material.

【0018】なお、図3において、301は精製炉のチ
ャンバーであり、真空排気系に接続されている。302
は断熱材、303はヒーター、304はルツボ、305
はフッ化物原料、306はルツボを引き下げるための引
き下げ軸である。
In FIG. 3, reference numeral 301 denotes a chamber of a refining furnace, which is connected to a vacuum exhaust system. 302
Is a heat insulating material, 303 is a heater, 304 is a crucible, 305
Is a fluoride raw material, and 306 is a lowering shaft for lowering the crucible.

【0019】精製炉のチャンバー301内を真空排気し
た後、ヒーター303に通電してフッ化物原料305を
加熱し、フッ化物原料305を完全に融解する。続いて
融解したフッ化物原料305を徐冷して結晶を成長させ
る(融解・成長)。
After evacuating the inside of the chamber 301 of the purification furnace, the heater 303 is energized to heat the fluoride raw material 305 and completely melt the fluoride raw material 305. Subsequently, the melted fluoride raw material 305 is gradually cooled to grow crystals (melting / growing).

【0020】この工程で得られる結晶は粒界が存在する
ものであってよいため、精密な温度管理は必要としな
い。なお、徐冷の際、ルツボ304を引き下げ軸306
により引き下げるのが好ましい。引き下げることによ
り、不純物の除去効果は一層向上する。
Since the crystal obtained in this step may have a grain boundary, precise temperature control is not required. During slow cooling, the crucible 304 is lowered and the shaft 306 is lowered.
It is preferred that the pressure be lowered. By lowering, the effect of removing impurities is further improved.

【0021】こうして得られた結晶のうち特に上部、即
ち経時的に最後に結晶化した部分を除去する。この部分
は不純物が集まりやすいので、この除去作業によって特
性に悪影警を与える不純物を除去する。
[0021] Of the crystals thus obtained, particularly the upper part, that is, the part that has crystallized last with time is removed. Since impurities tend to collect in this portion, impurities that adversely affect the characteristics are removed by this removing operation.

【0022】より高純度の結晶を得たい場合には、再び
この結晶をルツボ304に入れて反応、溶融、結晶化、
上部除去の一連の工程を複数回繰り返し行う。
If it is desired to obtain a crystal having higher purity, the crystal is put into the crucible 304 again, reacted, melted and crystallized.
A series of steps for removing the upper portion is repeated a plurality of times.

【0023】(単結晶成長工程−反応性ガスを使用する
場合)図4は、引き上げ法に用いられる結晶成長炉の例
である。
(Single Crystal Growth Step—Using Reactive Gas) FIG. 4 shows an example of a crystal growth furnace used for the pulling method.

【0024】成長炉はチャンバー1により形成されてお
り、内部にルツボ4が配置されている。ルツボ4の周囲
にはヒーター3が設けられており、さらにその周囲には
保温筒2が設けられている。チャンバー1内は真空ポン
プ5により排気可能となっており、また、反応性ガス源
6a、不活性ガス源6bから反応性ガス、不活性ガスあ
るいはこれらの混合ガスをチャンバー1内に導入可能と
なっている。これらガスは排気口12から排気される。
なお、10は種結晶9を引き上げるための引き上げ軸で
あり、11はチャンバー11内を外部から観察するため
の覗き窓である。
The growth furnace is formed by a chamber 1 and has a crucible 4 disposed therein. The heater 3 is provided around the crucible 4, and the heat retaining cylinder 2 is further provided around the heater 3. The interior of the chamber 1 can be evacuated by a vacuum pump 5, and a reactive gas, an inert gas, or a mixed gas thereof can be introduced into the chamber 1 from a reactive gas source 6a and an inert gas source 6b. ing. These gases are exhausted from the exhaust port 12.
Reference numeral 10 denotes a pulling shaft for pulling up the seed crystal 9, and reference numeral 11 denotes a viewing window for observing the inside of the chamber 11 from outside.

【0025】精製したフッ化物原料を図4に示す成長炉
のルツボ4内に入れる。
The purified fluoride raw material is put into the crucible 4 of the growth furnace shown in FIG.

【0026】成長炉のチャンバー1内を真空ポンプ5に
より真空排気した後、ヒーター3に通電してフッ化物原
料を加熱し、ルツボ4周辺の温度を好ましくは100℃
以上300℃以下の温度にして数時間保持して、フッ化
物原料の表面やルツボ4、チャンバー1の内壁などに吸
着している水分を除去する(脱水)。
After the inside of the chamber 1 of the growth furnace is evacuated by the vacuum pump 5, the heater 3 is energized to heat the fluoride raw material, and the temperature around the crucible 4 is preferably 100 ° C.
The temperature is kept at 300 ° C. or lower and kept for several hours to remove water adsorbed on the surface of the fluoride raw material, the crucible 4 and the inner wall of the chamber 1 (dehydration).

【0027】ここで、100℃未満では、水分の除去が
不十分であり、300℃を超えると原料と水分と反応し
て酸化物が多量に発生してしまうことがある。また、1
50〜250℃がより好ましく、170〜220℃がさ
らに好ましい。
If the temperature is lower than 100 ° C., the removal of water is insufficient. If the temperature is higher than 300 ° C., the raw material reacts with water to generate a large amount of oxides. Also, 1
50-250 degreeC is more preferable, and 170-220 degreeC is still more preferable.

【0028】また、保持時間は4〜48時間が好まし
く、24〜48時間がより好ましい。4時間未満では、
水分除去が不十分であり、48時間を超えると特に支障
はないが時間がかかる。
The holding time is preferably 4 to 48 hours, more preferably 24 to 48 hours. In less than four hours,
Moisture removal is insufficient, and if it exceeds 48 hours, there is no particular problem, but it takes time.

【0029】脱水工程後、反応性ガスを0.1気圧以上
0.5気圧以下の圧力で成長炉のチャンバー1内に充填
し、次いでArなどの不活性ガスを充填して成長炉のチ
ャンバー1内圧を約1気圧にする。1気圧とするのは、
1気圧未満では原料溶解時に多量の原料が気化してしま
うためである。
After the dehydration step, a reactive gas is charged into the chamber 1 of the growth furnace at a pressure of 0.1 atm or more and 0.5 atm or less, and then an inert gas such as Ar is charged into the chamber 1 of the growth furnace. The internal pressure is adjusted to about 1 atm. One atmosphere is
If the pressure is less than 1 atm, a large amount of the raw material is vaporized when the raw material is dissolved.

【0030】反応性ガスとしては、四フッ化メタン(C
4)、三フッ化メタン(CHF3)、二フッ化メタン
(CH22)、六フッ化エタン(C26)、八フッ化プ
ロパン(C38)あることが望ましい。
As the reactive gas, methane tetrafluoride (C
F 4 ), methane trifluoride (CHF 3 ), methane difluoride (CH 2 F 2 ), ethane hexafluoride (C 2 F 6 ), and propane octafluoride (C 3 F 8 ) are desirable.

【0031】また、本発明は、原料中の不純物、特に酸
化物を除去するために反応性ガスを用いるが、反応性ガ
スはフッ化水素系ガスとしてはHF、あるいはF2,N
3,SF6,XeF2,BF3およびフッ化炭素系ガスが
挙げられる。とりわけフッ化炭素系ガスは原料と反応し
た後、除去しやすいため好ましく用いることができる。
In the present invention, a reactive gas is used to remove impurities, particularly oxides, in the raw material. The reactive gas is HF or F 2 , N 2 as a hydrogen fluoride-based gas.
Examples include F 3 , SF 6 , XeF 2 , BF 3 and a fluorocarbon-based gas. In particular, a fluorocarbon-based gas can be preferably used because it is easily removed after reacting with a raw material.

【0032】反応性ガスを導入後、温度をゆっくりと上
げ、好ましくは融点から50〜200℃以下の温度で不
活性ガスを50cc/min以上500cc/min以
下で流入し、炉内圧を約1気圧に保ち、炉内雰囲気を徐
々に不活性ガス雰囲気へと置換する。
After the introduction of the reactive gas, the temperature is slowly increased, preferably at 50 to 200 ° C. from the melting point, an inert gas is introduced at a flow rate of 50 cc / min to 500 cc / min, and the furnace pressure is reduced to about 1 atm. , And gradually replace the atmosphere in the furnace with an inert gas atmosphere.

【0033】ここで、融点から50〜200℃以下の温
度までを反応性ガス雰囲気とするのは、200℃以下の
温度未満では、酸化物の反応が不十分であり、50℃下
の温度を超えると反応性ガスが原料中に残留し、結晶の
透光性が低下するからである。より好ましくは融点から
75〜175℃下、さらに好ましくは融点から100〜
150℃下である。
Here, the reason why the temperature from the melting point to the temperature of 50 to 200 ° C. or less is set as the reactive gas atmosphere is that if the temperature is lower than 200 ° C. or less, the reaction of the oxide is insufficient, and If it exceeds, the reactive gas remains in the raw material, and the translucency of the crystal decreases. It is more preferably 75 to 175 ° C below the melting point, and still more preferably 100 to 100 ° C from the melting point.
150 ° C.

【0034】さらに加熱を続け、フッ化物原料を完全に
融解する。その後、種結晶9を融液に浸し、引き上げ軸
10により徐々に種結晶9引き上げることによって単結
晶を成長させる。引き上げ速度は1時間あたり0.1〜
5.0mmが好ましい。
Heating is further continued to completely melt the fluoride raw material. Thereafter, the seed crystal 9 is immersed in the melt, and the seed crystal 9 is gradually pulled up by the pulling shaft 10 to grow a single crystal. Lifting speed is 0.1 ~ per hour
5.0 mm is preferred.

【0035】(単結晶成長工程−団体スカベンジャーを
使用する場合)精製したフッ化物原料と固体スカベンジ
ャーとを図4に示す成長炉のルツボ4内に装入する。
(Single Crystal Growth Step—When Using Group Scavenger) A purified fluoride raw material and a solid scavenger are charged into a crucible 4 of a growth furnace shown in FIG.

【0036】固体スカベンジャーの添加量は、フッ化物
原料の0.001mol%以上、0.01mol%以下
が望ましい。0.001mol未満では酸化物除去が困
難であり、0.01molを超えると固体スカベンジャ
ーが多量に結晶中に取り込まれる。また、固体スカベン
ジャーの量は0.001〜0.005molがより望ま
しく、0.001〜0.003molがさらに望まし
い。
The addition amount of the solid scavenger is desirably 0.001 mol% or more and 0.01 mol% or less of the fluoride raw material. If it is less than 0.001 mol, it is difficult to remove oxides, and if it exceeds 0.01 mol, a large amount of solid scavenger is taken into the crystal. Further, the amount of the solid scavenger is more preferably 0.001 to 0.005 mol, and further preferably 0.001 to 0.003 mol.

【0037】固体スカベンジャーとして用いられるフッ
化物は、フッ化鉛、フッ化亜鉛、フッ化カドミウム、フ
ッ化マンガン、フッ化ビスマス、フッ化ナトリウム、フ
ッ化リチウムであることが望ましい。
The fluoride used as the solid scavenger is preferably lead fluoride, zinc fluoride, cadmium fluoride, manganese fluoride, bismuth fluoride, sodium fluoride, and lithium fluoride.

【0038】成長炉のチャンバー1内を真空ポンプ5に
より真空排気した後、ヒーター3に通電してフッ化物原
料を加熱し、特にルツボ4周辺の温度を100℃以上3
00℃以下にして数時間保持して、原料表面やルツボな
どに吸着している水分を除去する(脱水)。
After evacuating the inside of the chamber 1 of the growth furnace by the vacuum pump 5, the heater 3 is energized to heat the fluoride raw material. In particular, the temperature around the crucible 4 is set to 100 ° C. or higher.
The temperature is kept at 00 ° C. or lower, and the temperature is maintained for several hours to remove water adsorbed on the surface of the raw material or the crucible (dehydration).

【0039】その後、Arなどの不活性ガスを充填して
成長炉のチャンバー1内の圧力を約1気圧にする。
Thereafter, an inert gas such as Ar is filled to set the pressure in the chamber 1 of the growth furnace to about 1 atm.

【0040】そして、不活性ガスを50cc/min以
上500cc/min以下で流入し、成長炉のチャンバ
ー1内の圧力を約1気圧に保ち、温度を上げ原料を完全
に融解する。その後、種結晶を融液に浸し、徐々に引き
上げることによって単結晶を成長させる。引き上げ速度
は1時間あたり0.1〜5.0mmが好ましい。
Then, an inert gas is introduced at a flow rate of 50 cc / min or more and 500 cc / min or less, the pressure in the chamber 1 of the growth furnace is maintained at about 1 atm, the temperature is raised, and the raw material is completely melted. Thereafter, the seed crystal is immersed in the melt and gradually pulled up to grow a single crystal. The lifting speed is preferably 0.1 to 5.0 mm per hour.

【0041】(アニール工程)続いて、結晶成長したフ
ッ化物単結晶を図5に示すアニール炉で熱処理する。な
お、図5において、501はアニール炉のチャンバー、
502は断熱材、503はヒーター、504はルツボ、
505はフッ化物結晶である。
(Annealing Step) Subsequently, the crystal-grown fluoride single crystal is heat-treated in an annealing furnace shown in FIG. In FIG. 5, reference numeral 501 denotes a chamber of an annealing furnace,
502 is a heat insulating material, 503 is a heater, 504 is a crucible,
505 is a fluoride crystal.

【0042】このアニール工程では、ルツボ504をフ
ッ化物結晶融点の400〜500℃以下の温度に加熱す
る。加熱時間は20時間以上、より好ましくは20〜3
0時間である。
In this annealing step, the crucible 504 is heated to a temperature of 400 to 500 ° C. or less of the fluoride crystal melting point. The heating time is 20 hours or more, more preferably 20 to 3 hours.
0 hours.

【0043】なお、フッ化マグネシウムのように熱衝撃
に対して強度のある結晶は、アニール工程を省略しても
かまわない。
In the case of a crystal having a strength against thermal shock such as magnesium fluoride, the annealing step may be omitted.

【0044】(加工、組立工程)その後は、必要とされ
る光学物品の形状(凸レンズ、凹レンズ、円盤状、板状
等)に整形する。又、必要に応じて、反射防止膜をフッ
化物結晶の光学物品裏面に設けるとよい。反射防止膜と
しては、フッ化マグネシウムや酸化アルミニウム、酸化
タンタルが好適に用いられ、これらは抵抗加熱による蒸
着や電子ビーム蒸着やスパッタリングなどで形成でき
る。本発明により得られた光学物品は水をほとんど含ま
ない為に反射防止膜の密着性も優れたものとなる。
(Processing and assembling steps) Thereafter, the optical article is shaped into a required shape (convex lens, concave lens, disk shape, plate shape, etc.). If necessary, an antireflection film may be provided on the back surface of the fluoride crystal optical article. As the antireflection film, magnesium fluoride, aluminum oxide, or tantalum oxide is preferably used, and these can be formed by vapor deposition by resistance heating, electron beam vapor deposition, sputtering, or the like. Since the optical article obtained by the present invention hardly contains water, the adhesion of the antireflection film is excellent.

【0045】こうして得られたレンズや窓材は、各種レ
ーザーの光学系などに非常に有用となる。また、成長過
程で不純物をドーピングすることによって、機能性光学
素子をつくることも可能となる。
The lenses and window materials thus obtained are very useful for various laser optical systems. Further, by doping impurities during the growth process, it becomes possible to produce a functional optical element.

【0046】[0046]

【実施例】以下に実施例をあげて本発明をより詳細に説
明する。
The present invention will be described in more detail with reference to the following examples.

【0047】(実施例1)合成フッ化カルシウム原料
に、スカベンジャーとしてフッ化亜鉛をフッ化カルシウ
ムに対して0.1mol%程度添加して混合した。次い
で、この混合物を図3に示す精製炉のルツボに入れて1
360℃に加熱して原料を溶融した後、ルツボを降下さ
せて徐冷し、原料を結晶化させた。ルツボ上部にあたる
結晶化したフッ化カルシウムの上部を厚さ1mm除去し
た。
Example 1 Zinc fluoride was added as a scavenger to a synthetic calcium fluoride raw material at about 0.1 mol% with respect to calcium fluoride and mixed. Next, this mixture was placed in a crucible of a refining furnace shown in FIG.
After heating to 360 ° C. to melt the raw material, the crucible was lowered and gradually cooled to crystallize the raw material. The upper part of the crystallized calcium fluoride corresponding to the upper part of the crucible was removed by 1 mm in thickness.

【0048】次に、上記結晶ブロックを、図4に示す単
結晶引き上げ炉用ルツボに入れた。炉内を真空排気し
て、ルツボを加熱した。真空圧を6×10-4Torr、
温度を200℃にして5時間保持した後、四フッ化メタ
ンを0.2気圧炉内に注入した。さらにArを注入し、
全体の圧力が1気圧になるようにした。そして、ルツボ
の温度をゆっくりと800℃まで上げた。その時点から
Arを500cc/minの流量にて炉内に流通させ、
炉内雰囲気を徐々にAr雰囲気へと置換した。その時の
炉内圧は1気圧になるように調節した。
Next, the crystal block was placed in a crucible for a single crystal pulling furnace shown in FIG. The furnace was evacuated to heat the crucible. Vacuum pressure of 6 × 10 -4 Torr,
After maintaining the temperature at 200 ° C. for 5 hours, methane tetrafluoride was injected into a 0.2 atmosphere furnace. Inject Ar further,
The total pressure was adjusted to 1 atm. Then, the temperature of the crucible was slowly increased to 800 ° C. From that point, Ar was passed through the furnace at a flow rate of 500 cc / min.
The atmosphere in the furnace was gradually replaced with an Ar atmosphere. The furnace pressure at that time was adjusted to 1 atm.

【0049】さらに加熱を続け、温度を1380℃まで
上げて原料を完全に融解した。ルツボと種結晶とを回転
させ、種結晶をゆっくりと降下し、融液面に接触させ
た。覗き窓から観察しながらヒーターの出力を調節し、
種結晶を5mm/hの速度で上昇させ単結晶を成長させ
た。
The heating was continued and the temperature was raised to 1380 ° C. to completely melt the raw materials. The crucible and the seed crystal were rotated, and the seed crystal was slowly lowered and brought into contact with the melt surface. Adjust the output of the heater while observing from the viewing window,
The seed crystal was raised at a speed of 5 mm / h to grow a single crystal.

【0050】次にアニール炉のルツボに成長させたフッ
化カルシウム単結晶と、0.1重量%のフッ化亜鉛を入
れた。炉内を排気してルツボの温度を室温から900℃
に速度100℃/hで上昇させた後、20時間900℃
に保持した。そして、6℃/hの速度で温度を下げ、室
温まで冷却した。
Next, a calcium fluoride single crystal grown in a crucible of an annealing furnace and 0.1% by weight of zinc fluoride were charged. Evacuate the furnace and raise the temperature of the crucible from room temperature to 900 ° C
At a rate of 100 ° C./h for 20 hours at 900 ° C.
Held. Then, the temperature was lowered at a rate of 6 ° C./h and cooled to room temperature.

【0051】こうして得られたフッ化カルシウム単結晶
を切断、研磨して10mm厚の円盤とし、透過スペクト
ルと転位密度を測定した。その一部を表1及び図1に示
す。
The thus obtained calcium fluoride single crystal was cut and polished to obtain a disk having a thickness of 10 mm, and the transmission spectrum and the dislocation density were measured. A part is shown in Table 1 and FIG.

【0052】なお、転位密度は、希釈した硝酸に試料を
浸して表面をエッチングし、その際に生じたエッチピッ
トを計数して測定した。
The dislocation density was measured by immersing a sample in diluted nitric acid, etching the surface, and counting the number of etch pits generated at that time.

【0053】測定結果を表1および図1に示す。The measurement results are shown in Table 1 and FIG.

【0054】(実施例2)高純度合成フッ化カルシウム
原料に、スカベンジャーとしてフッ化亜鉛をフッ化カル
シウムに対して0.1mol%程度添加して混合した。
次いで、この混合物を図3に示す精製炉のルツボに入れ
て1360℃に加熱して原料を溶解した後、ルツボを降
下させて徐冷し、原料を結晶化させた。ルツボ上部にあ
たる結晶化したフッ化カルシウムの上部を厚さ1mm除
去した。
Example 2 Zinc fluoride as a scavenger was added to a high purity synthetic calcium fluoride raw material at about 0.1 mol% with respect to calcium fluoride and mixed.
Next, the mixture was placed in a crucible of a refining furnace shown in FIG. 3 and heated to 1360 ° C. to dissolve the raw material, and then the crucible was lowered and gradually cooled to crystallize the raw material. The upper part of the crystallized calcium fluoride corresponding to the upper part of the crucible was removed by 1 mm in thickness.

【0055】次に、上記結晶ブロックを、図4に示す単
結晶引き上げ炉のルツボにスカベンジャーとともに入れ
た。スカベンジャーは、フッ化亜鉛をフッ化カルシウム
結晶ブロックに対して0.01mol%の量を添加し
た。炉内を真空排気して、ルツボを加熱した。真空度を
6×10-4Torr、温度を200℃にして5時間保持
した後、Arを注入し、全体の圧力が1気圧となるよう
にした。さらに加熱を続け、温度を1380℃まで上げ
て原料を完全に融解した。ルツボと種結晶とを回転さ
せ、種結晶をゆっくりと降下し、融液面に接触させた。
覗き窓から観察しながらヒーターの出力を調節し、種結
晶を5mm/hの速度で上昇させ単結晶を成長させた。
Next, the above crystal block was put together with a scavenger in a crucible of a single crystal pulling furnace shown in FIG. The scavenger added zinc fluoride in an amount of 0.01 mol% based on the calcium fluoride crystal block. The furnace was evacuated to heat the crucible. After maintaining the vacuum degree at 6 × 10 −4 Torr and the temperature at 200 ° C. for 5 hours, Ar was injected to adjust the whole pressure to 1 atm. The heating was continued and the temperature was raised to 1380 ° C. to completely melt the raw materials. The crucible and the seed crystal were rotated, and the seed crystal was slowly lowered and brought into contact with the melt surface.
The output of the heater was adjusted while observing through the viewing window, and the seed crystal was raised at a speed of 5 mm / h to grow a single crystal.

【0056】次にアニール炉のルツボに成長させたフッ
化カルシウム単結晶と、0.1重量%のフッ化亜鉛を入
れた。炉内を排気してルツボの温度を室温から900℃
に速度100℃/hで上昇させた後、20時間900℃
に保持した。そして、6℃/hの速度で温度を下げ、室
温まで冷却した。
Next, a calcium fluoride single crystal grown in a crucible of an annealing furnace and 0.1% by weight of zinc fluoride were put. Evacuate the furnace and raise the temperature of the crucible from room temperature to 900 ° C
At a rate of 100 ° C./h for 20 hours at 900 ° C.
Held. Then, the temperature was lowered at a rate of 6 ° C./h and cooled to room temperature.

【0057】こうして得られたフッ化カルシウム単結晶
の透過スペクトルと転位密度は、実施例1の場合と同様
であった。
The transmission spectrum and dislocation density of the calcium fluoride single crystal thus obtained were the same as in Example 1.

【0058】(比較例1)成長法としてブリッジマン法
を用いた以外は、実施例1および2と同じ原料を用い
て、実施例2と同様にしてフッ化カルシウム単結晶を作
製した。得られた結晶の透過率は実施例1および2より
も悪化し、転位密度は著しく大きいことが分かった。
Comparative Example 1 A calcium fluoride single crystal was produced in the same manner as in Example 2 except that the Bridgman method was used as the growth method, and using the same raw materials as in Examples 1 and 2. It was found that the transmittance of the obtained crystal was worse than that of Examples 1 and 2, and the dislocation density was extremely large.

【0059】[0059]

【表1】 (実施例3)本例では脱水時の加熱温度を温度を各種変
化させて調べた。その結果を表2に示す。
[Table 1] Example 3 In this example, the heating temperature during dehydration was investigated by changing the temperature in various ways. Table 2 shows the results.

【0060】その結果、加熱温度を好適な温度に設定す
ることで高い透過率と低い転位密度を有する結晶を製造
することができることがわかった。
As a result, it was found that a crystal having a high transmittance and a low dislocation density can be produced by setting the heating temperature to a suitable temperature.

【0061】[0061]

【表2】 (実施例4)本例では、固体スカベンジャーの添加量の
影響を調べた。その結果を表3に示す。その結果、固体
スカベンジャーの添加量を好適な添加量に設定すること
で高い透過率と低い転位密度を有する結晶を製造するこ
とができることがわかった。
[Table 2] Example 4 In this example, the effect of the amount of solid scavenger added was examined. Table 3 shows the results. As a result, it was found that a crystal having high transmittance and low dislocation density can be produced by setting the addition amount of the solid scavenger to a suitable addition amount.

【0062】[0062]

【表3】 (実施例5)本例では、反応性ガス雰囲気中において加
熱する際の温度の影響を調べた。その結果を表4に示
す。その結果、好適な温度を設定することで高い透過率
と低い転位密度を有する結晶を製造することができるこ
とがわかった。
[Table 3] Example 5 In this example, the effect of temperature upon heating in a reactive gas atmosphere was examined. Table 4 shows the results. As a result, it was found that a crystal having a high transmittance and a low dislocation density can be produced by setting a suitable temperature.

【0063】[0063]

【表4】 [Table 4]

【0064】[0064]

【発明の効果】本発明によれば、光学特性に優れ転位密
度の少ないフッ化物結晶を提供することができる。その
結果、安定性、信頼性の高いレーザー用光学部品や、種
々の光学素子を提供することが可能となる。
According to the present invention, it is possible to provide a fluoride crystal having excellent optical properties and low dislocation density. As a result, it is possible to provide stable and reliable laser optical components and various optical elements.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例および比較例における結果を示すグラフ
である。
FIG. 1 is a graph showing the results of Examples and Comparative Examples.

【図2】光学部品製造までの工程を示すフローチャート
図である。
FIG. 2 is a flowchart showing steps up to the production of an optical component.

【図3】フッ化物原料の精製炉を示す断面図である。FIG. 3 is a sectional view showing a refining furnace for a fluoride raw material.

【図4】単結晶成長炉を示す断面図である。FIG. 4 is a sectional view showing a single crystal growth furnace.

【図5】アニール炉を示す断面図である。FIG. 5 is a sectional view showing an annealing furnace.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 成長炉のチャンバー、 2 保温筒、 3 ヒーター、 4 ルツボ、 5 真空ポンプ、 6a 反応性ガス源、 6b 不活性ガス源、 7 原料融液(フッ化物原料)、 8 結晶、 9 種結晶、 10 引き上げ軸、 11 覗き窓、 12 排気口、 13a,13b バルブ、 301 精製炉のチャンバー、 302 断熱材、 303 ヒーター、 304 ルツボ、 305 フッ化物原料、 501 アニール炉のチャンバー、 502 断熱材、 503 ヒーター、 504 ルツボ、 505 フッ化物結晶。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Growth furnace chamber, 2 Heating cylinder, 3 Heater, 4 Crucible, 5 Vacuum pump, 6a Reactive gas source, 6b Inert gas source, 7 Raw material melt (fluoride raw material), 8 crystals, 9 seed crystals, 10 Pull-up shaft, 11 viewing window, 12 exhaust port, 13a, 13b valve, 301 refining furnace chamber, 302 heat insulator, 303 heater, 304 crucible, 305 fluoride raw material, 501 annealing furnace chamber, 502 heat insulator, 503 heater, 504 crucible, 505 fluoride crystal.

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 フッ化物原料を成長炉に装入する工程、 不活性ガス雰囲気中において該フッ化物原料を溶解する
工程、 種結晶を融液に浸した後引き上げることにより結晶成長
させる工程、 を順に行うことを特徴とするフッ化物結晶の製造方法。
1. A step of charging a fluoride raw material into a growth furnace, a step of dissolving the fluoride raw material in an inert gas atmosphere, and a step of growing a crystal by immersing a seed crystal in a melt and pulling it up. A method for producing a fluoride crystal, which is performed in order.
【請求項2】 前記装入する工程後、つづいて反応性ガ
ス雰囲気においてフッ化物原料を加熱する工程を行うこ
とを特徴とする請求項1記載のフッ化物結晶の製造方
法。
2. The method for producing a fluoride crystal according to claim 1, wherein, after the charging step, a step of heating the fluoride raw material in a reactive gas atmosphere is performed.
【請求項3】 前記加熱する工程において、フッ化物原
料の融点より50〜200℃低い温度に加熱する前に、
真空雰囲気または不活性ガス雰囲気において100〜3
00℃の温度で加熱を行うことを特徴とする請求項1記
載のフッ化物結晶の製造方法。
3. In the heating step, before heating to a temperature lower by 50 to 200 ° C. than a melting point of the fluoride raw material,
100 to 3 in a vacuum atmosphere or an inert gas atmosphere
The method for producing a fluoride crystal according to claim 1, wherein the heating is performed at a temperature of 00 ° C.
【請求項4】 反応性ガスはフッ化炭素系ガスであるこ
とを特徴とする請求項2または3記載の結晶製造方法。
4. The method according to claim 2, wherein the reactive gas is a fluorocarbon-based gas.
【請求項5】 フッ化炭素系ガスは、四フッ化メタン
(CF4)、三フッ化メタン(CHF3)、二フッ化メタ
ン(CH22)、六フッ化エタン(C26)、八フッ化
プロパン(C38)であることを特徴とする請求項4記
載の結晶製造方法。
5. The carbon fluoride gas includes methane tetrafluoride (CF 4 ), methane trifluoride (CHF 3 ), methane difluoride (CH 2 F 2 ), and ethane hexafluoride (C 2 F 6). 5.) The method according to claim 4, wherein propane octafluoride (C 3 F 8 ) is used.
【請求項6】 フッ化物原料は、フッ化カルシウム、フ
ッ化バリウムまたはフッ化マグネシウムであることを特
徴とする請求項1ないし5のいずれか1項記載の結晶製
造方法。
6. The crystal production method according to claim 1, wherein the fluoride raw material is calcium fluoride, barium fluoride or magnesium fluoride.
【請求項7】 フッ化物原料をフッ化物の固体スカベン
ジャーとともに成長炉に装入する工程、 装入後、不活性ガス雰囲気または真空雰囲気において該
フッ化物原料を溶解する工程、 種結晶を融液に浸した後引き上げることにより結晶成長
させる工程、を順に行うことを特徴とするフッ化物結晶
の製造方法。
7. A step of charging a fluoride raw material together with a solid scavenger of fluoride into a growth furnace, a step of dissolving the fluoride raw material in an inert gas atmosphere or a vacuum atmosphere after the charging, and converting a seed crystal into a melt. A method of growing a crystal by dipping and then pulling up the crystal in order.
【請求項8】 溶解前に、真空雰囲気または不活性ガス
雰囲気において100〜300℃の温度で加熱を行うこ
とを特徴とする請求項6記載のフッ化物結晶の製造方
法。
8. The method for producing a fluoride crystal according to claim 6, wherein heating is performed at a temperature of 100 to 300 ° C. in a vacuum atmosphere or an inert gas atmosphere before melting.
【請求項9】 固体スカベンジャーとして用いるフッ化
物は、フッ化鉛、フッ化亜鉛、フッ化カドミウム、フッ
化マンガン、フッ化ビスマス、フッ化ナトリウム、フッ
化リチウムの1または2種以上であることを特徴とする
請求項7または8記載の結晶製造方法。
9. The fluoride used as a solid scavenger is one or more of lead fluoride, zinc fluoride, cadmium fluoride, manganese fluoride, bismuth fluoride, sodium fluoride, and lithium fluoride. The method for producing a crystal according to claim 7 or 8, wherein
【請求項10】 固体スカベンジャーを、原料の0.1
mol%以下0.001mol%以上添加することを特
徴とする請求項7ないし9のいずれか1項記載の結晶製
造方法。
10. The solid scavenger is charged with 0.1% of the raw material.
The method for producing a crystal according to any one of claims 7 to 9, wherein 0.001 mol% or less is added in an amount of 0.001 mol% or less.
【請求項11】 フッ化物原料は、フッ化カルシウム、
フッ化バリウムまたはフッ化マグネシウムであることを
特徴とする請求項7ないし10のいずれか1項記載の結
晶製造方法。
11. The fluoride raw material is calcium fluoride,
The crystal production method according to any one of claims 7 to 10, wherein the crystal is barium fluoride or magnesium fluoride.
【請求項12】 請求項1ないし6のいずれか1項記載
の結晶製造方法により製造したフッ化物結晶。
12. A fluoride crystal produced by the method for producing a crystal according to claim 1.
【請求項13】 請求項7ないし11のいずれか1項記
載の結晶製造方法により製造したフッ化物結晶。
13. A fluoride crystal produced by the method for producing a crystal according to claim 7. Description:
【請求項14】 請求項12または13記載のフッ化物
結晶を所定の形状に成形した光学部品。
14. An optical component formed by molding the fluoride crystal according to claim 12 into a predetermined shape.
JP29305197A 1997-10-24 1997-10-24 Method for producing fluoride crystals Expired - Lifetime JP3659377B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29305197A JP3659377B2 (en) 1997-10-24 1997-10-24 Method for producing fluoride crystals

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29305197A JP3659377B2 (en) 1997-10-24 1997-10-24 Method for producing fluoride crystals

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11130594A true JPH11130594A (en) 1999-05-18
JP3659377B2 JP3659377B2 (en) 2005-06-15

Family

ID=17789849

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29305197A Expired - Lifetime JP3659377B2 (en) 1997-10-24 1997-10-24 Method for producing fluoride crystals

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3659377B2 (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6537372B1 (en) 1999-06-29 2003-03-25 American Crystal Technologies, Inc. Heater arrangement for crystal growth furnace
US6602345B1 (en) 1999-06-29 2003-08-05 American Crystal Technologies, Inc., Heater arrangement for crystal growth furnace
EP1422321A1 (en) * 2002-11-19 2004-05-26 Tokuyama Corporation As-grown single crystal of calcium fluoride
JP2007008743A (en) * 2005-06-29 2007-01-18 Hitachi Chem Co Ltd Method for producing fluoride single crystal
DE10142651C5 (en) * 2001-08-31 2009-04-23 Schott Ag Process for the preparation of highly homogeneous radiation-resistant, dispersion-free single crystals, an ingot obtained therefrom and their use
WO2012011372A1 (en) * 2010-07-22 2012-01-26 日本結晶光学株式会社 Fluorite
US8333838B2 (en) 2003-04-23 2012-12-18 Stella Chemifa Corporation Method for producing fluoride crystal
CN103147119A (en) * 2013-03-21 2013-06-12 北京雷生强式科技有限责任公司 Preparation method and growth equipment of magnesium fluoride crystal
CN114622279A (en) * 2022-03-18 2022-06-14 四川奇峰景行光学科技有限公司 Fluoride polycrystalline raw material treatment device and method

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6602345B1 (en) 1999-06-29 2003-08-05 American Crystal Technologies, Inc., Heater arrangement for crystal growth furnace
US6758902B2 (en) 1999-06-29 2004-07-06 American Crystal Technologies, Inc. Heater arrangement for crystal growth furnace
US6537372B1 (en) 1999-06-29 2003-03-25 American Crystal Technologies, Inc. Heater arrangement for crystal growth furnace
DE10142651C5 (en) * 2001-08-31 2009-04-23 Schott Ag Process for the preparation of highly homogeneous radiation-resistant, dispersion-free single crystals, an ingot obtained therefrom and their use
EP1422321A1 (en) * 2002-11-19 2004-05-26 Tokuyama Corporation As-grown single crystal of calcium fluoride
US8333838B2 (en) 2003-04-23 2012-12-18 Stella Chemifa Corporation Method for producing fluoride crystal
JP2007008743A (en) * 2005-06-29 2007-01-18 Hitachi Chem Co Ltd Method for producing fluoride single crystal
WO2012011372A1 (en) * 2010-07-22 2012-01-26 日本結晶光学株式会社 Fluorite
JP5260796B2 (en) * 2010-07-22 2013-08-14 日本結晶光学株式会社 Fluorite
US8784970B2 (en) 2010-07-22 2014-07-22 Nihon Kessho Kogaku Co., Ltd. Fluorite
US9448330B2 (en) 2010-07-22 2016-09-20 Nihon Kessho Kogaku Co., Ltd. Fluorite
CN103147119A (en) * 2013-03-21 2013-06-12 北京雷生强式科技有限责任公司 Preparation method and growth equipment of magnesium fluoride crystal
CN103147119B (en) * 2013-03-21 2015-09-16 北京雷生强式科技有限责任公司 A kind of preparation method of magnesium fluoride crystal and growth apparatus
CN114622279A (en) * 2022-03-18 2022-06-14 四川奇峰景行光学科技有限公司 Fluoride polycrystalline raw material treatment device and method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3659377B2 (en) 2005-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3260582A1 (en) Method for producing silicon carbide single crystal ingot and silicon carbide single crystal ingot
JP2001354494A (en) Method for growing single crystal having large volume from calcium fluoride and use of the single crystal
JP3659377B2 (en) Method for producing fluoride crystals
US6340390B1 (en) Method for manufacturing silicon single crystal
JP4174086B2 (en) Seed and fluoride crystals for crystal growth
JPH11228292A (en) Raw material for producing fluoride crystal and its purification, fluoride crystal and its production, and optical component
US3959442A (en) Preparing single crystals of Li(Ho,Y,Er,Tm,Dy)F4 in HF atmosphere
US20020083890A1 (en) Tantalum crucible fabrication and treatment
JP4463730B2 (en) Method for producing metal fluoride single crystal
KR100782998B1 (en) Method for growth of silicon carbide single crystal, silicon carbide seed crystal, and silicon carbide single crystal
JPH0341433B2 (en)
JP4072269B2 (en) Method for producing fluoride
JPH07206597A (en) Method for producing znse bulk single crystal
US20040231582A1 (en) Annealing method for halide crystal
JP3717562B2 (en) Single crystal manufacturing method
JP4425185B2 (en) Annealing method of metal fluoride single crystal
CN116716659B (en) Growth method of calcium fluoride crystal and calcium fluoride crystal
JP2003221297A (en) Method for producing calcium fluoride crystal
JP2004231502A (en) As-grown single crystal body of barium fluoride
JPH11116393A (en) Growth of inorganic fluoride single crystal
JP2003119095A (en) Method of producing fluoride single crystal
JPH0543400A (en) Production of gaas single crystal
JP2749016B2 (en) Method for cleaning container for producing single crystal and method for producing single crystal
JPH06196430A (en) Annealing method for inp single crystal
JPH02196082A (en) Production of silicon single crystal

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040713

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040728

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040927

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050309

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050309

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080325

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090325

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100325

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100325

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110325

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120325

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130325

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140325

Year of fee payment: 9

EXPY Cancellation because of completion of term