JPH11118667A - 光フィルタ測定方法 - Google Patents
光フィルタ測定方法Info
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- JPH11118667A JPH11118667A JP27765497A JP27765497A JPH11118667A JP H11118667 A JPH11118667 A JP H11118667A JP 27765497 A JP27765497 A JP 27765497A JP 27765497 A JP27765497 A JP 27765497A JP H11118667 A JPH11118667 A JP H11118667A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 14
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 7
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 21
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】光フィルタの測定における掃引時間を短くし、
かつ波長確度を向上させる。 【解決手段】光源からの所定波長の光信号を光フィルタ
６に入力してその反射率および（または）透過率を測定
するにあたり、光源を波長がそれぞれ異なる光信号を出
力する複数台の波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnで構成し、複
数台の波長可変光源からのそれぞれ異なる波長の光信号
λ1〜λnを順次スキャンして、反射率および（または）
透過率を測定する。
かつ波長確度を向上させる。 【解決手段】光源からの所定波長の光信号を光フィルタ
６に入力してその反射率および（または）透過率を測定
するにあたり、光源を波長がそれぞれ異なる光信号を出
力する複数台の波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnで構成し、複
数台の波長可変光源からのそれぞれ異なる波長の光信号
λ1〜λnを順次スキャンして、反射率および（または）
透過率を測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光フィルタ測定方法
に係わり、特に光ファイバを使用する光通信或いは光セ
ンサの産業分野で光信号を分離する光フィルタを測定す
る光フィルタ測定方法に関する。
に係わり、特に光ファイバを使用する光通信或いは光セ
ンサの産業分野で光信号を分離する光フィルタを測定す
る光フィルタ測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、この種の光フィルタ測定方法
として、下記のような技法が提案されている。 １．広帯域光源１０と光スペクトラムアナライザ１１、
１１aを用いて測定する方法（図２）。
として、下記のような技法が提案されている。 １．広帯域光源１０と光スペクトラムアナライザ１１、
１１aを用いて測定する方法（図２）。
【０００３】この測定方法において、反射特性の測定
は、 広帯域光源１０→光カプラ１２→光フィルタ（反射）１
３→光カプラ１３→スペクトラムアナライザ１１a 透過特性の測定は、 広帯域光源１０→光カプラ１２→光フィルタ（透過）１
３→スペクトラムアナライザ１１ の経路で光が進み、それぞれの特性を測定する。それぞ
れの特定の波長依存性は、光スペクトラムアナライザ１
１、１１aが波長に対して掃引（スキャン）することに
よって測定ができる。
は、 広帯域光源１０→光カプラ１２→光フィルタ（反射）１
３→光カプラ１３→スペクトラムアナライザ１１a 透過特性の測定は、 広帯域光源１０→光カプラ１２→光フィルタ（透過）１
３→スペクトラムアナライザ１１ の経路で光が進み、それぞれの特性を測定する。それぞ
れの特定の波長依存性は、光スペクトラムアナライザ１
１、１１aが波長に対して掃引（スキャン）することに
よって測定ができる。
【０００４】なお、この測定で用いている光カプラ１２
は 光サーキュレータに変更して用いても良い。 ２．波長可変光源１４と光パワーメータ１１、１１aを
用いて測定する方法（図３）。この測定方法において、
反射特性の測定は、 波長可変光源１４→光カプラ１２→光フィルタ（反射）
１３→光カプラ１２→光パワメータ１５a また、透過特性の測定は、波長可変光源１４→光カプラ
１２→フィルタ（透過）１３→光パワメータ１５の経路
で光が進み、それぞれの特性を測定する。それぞれの特
定の波長依存性は、波長可変光源１４が波長に対して掃
引（スキャン）することによって測定ができる。
は 光サーキュレータに変更して用いても良い。 ２．波長可変光源１４と光パワーメータ１１、１１aを
用いて測定する方法（図３）。この測定方法において、
反射特性の測定は、 波長可変光源１４→光カプラ１２→光フィルタ（反射）
１３→光カプラ１２→光パワメータ１５a また、透過特性の測定は、波長可変光源１４→光カプラ
１２→フィルタ（透過）１３→光パワメータ１５の経路
で光が進み、それぞれの特性を測定する。それぞれの特
定の波長依存性は、波長可変光源１４が波長に対して掃
引（スキャン）することによって測定ができる。
【０００５】また、波長可変光源１４の波長モニターに
は波長計１６を用いて波長確度を良くしている。なお、
本測定で用いているカプラ１３は光サーキュレータに、
また光パワメータ１５、１５aをスペクトラムアナライ
ザに変更して用いても良い。
は波長計１６を用いて波長確度を良くしている。なお、
本測定で用いているカプラ１３は光サーキュレータに、
また光パワメータ１５、１５aをスペクトラムアナライ
ザに変更して用いても良い。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】広帯域光源と光スペク
トラムアナライザを用いて測定する方法では、波長を掃
引（スキャン）する時間が短い（数分）で終了するが、
測定する際の波長確度がスペクトラムアナライザに依存
するため 波長の測定確度が悪くなってしまう（例えば
＜±0.3nm）。
トラムアナライザを用いて測定する方法では、波長を掃
引（スキャン）する時間が短い（数分）で終了するが、
測定する際の波長確度がスペクトラムアナライザに依存
するため 波長の測定確度が悪くなってしまう（例えば
＜±0.3nm）。
【０００７】波長可変光源と光パワメータを用いて測定
する方法では、波長確度は 光波長計を用いるため良く
なる（例えば±0.005nm）。ただし、この波長可変光源
と光パワメータを用いて測定する方式では掃引するステ
ップを細かくすると、波長可変光源の1回の掃引時間
（数百ms）が累積されるため掃引時間は数十分以上、長
いものでは1時間程度と長くなってしまう。このため、
測定におけるコストアップの要因となるという難点があ
った。
する方法では、波長確度は 光波長計を用いるため良く
なる（例えば±0.005nm）。ただし、この波長可変光源
と光パワメータを用いて測定する方式では掃引するステ
ップを細かくすると、波長可変光源の1回の掃引時間
（数百ms）が累積されるため掃引時間は数十分以上、長
いものでは1時間程度と長くなってしまう。このため、
測定におけるコストアップの要因となるという難点があ
った。
【０００８】
【発明の目的】本発明は上述した難点に鑑みなされたも
ので、光フィルタの測定における掃引時間を短くし、か
つ波長確度を向上する光フィルタ測定方法を提供するこ
とを目的とする。
ので、光フィルタの測定における掃引時間を短くし、か
つ波長確度を向上する光フィルタ測定方法を提供するこ
とを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明の光フィルタ測定方法は、光源からの所定波長の
光信号を光フィルタに入力してその反射率および（また
は）透過率を測定するにあたり、光源を波長がそれぞれ
異なる光信号を出力する複数台の波長可変光源で構成
し、複数台の波長可変光源からのそれぞれ異なる波長の
光信号を順次スキャンして、反射率および（または）透
過率を測定することからなる。
本発明の光フィルタ測定方法は、光源からの所定波長の
光信号を光フィルタに入力してその反射率および（また
は）透過率を測定するにあたり、光源を波長がそれぞれ
異なる光信号を出力する複数台の波長可変光源で構成
し、複数台の波長可変光源からのそれぞれ異なる波長の
光信号を順次スキャンして、反射率および（または）透
過率を測定することからなる。
【００１０】この光フィルタ測定方法において、光フィ
ルタはファイバグレーティング、誘電体多層膜フィルタ
および光導波路型波長選択型フィルタの１つである。こ
の光フィルタ測定方法において、波長可変光源は 半導
体レーザおよびファイバレーザの１つである。この光フ
ィルタ測定方法において、光信号の波長を計測する光波
長計を備えている。
ルタはファイバグレーティング、誘電体多層膜フィルタ
および光導波路型波長選択型フィルタの１つである。こ
の光フィルタ測定方法において、波長可変光源は 半導
体レーザおよびファイバレーザの１つである。この光フ
ィルタ測定方法において、光信号の波長を計測する光波
長計を備えている。
【００１１】この光フィルタ測定方法において、光信号
の波長を計測する光スペクトラムアナライザおよび（ま
たは）光パワメータを備えている。
の波長を計測する光スペクトラムアナライザおよび（ま
たは）光パワメータを備えている。
【００１２】
【作用】このように構成された光フィルタ測定方法にお
いて、光源からの所定波長の光信号を光フィルタに入力
してその反射率および（または）透過率を測定する。こ
の場合、光源を波長がそれぞれ異なる光信号を出力する
複数台の波長可変光源で構成し、複数台の波長可変光源
からのそれぞれ異なる波長の光信号を順次スキャンし
て、反射率および（または）透過率を測定する。これに
より光フィルターの測定時間が約1時間かかっていたも
のが10分程度に短縮することができ、これによって測定
の効率がよくなる。
いて、光源からの所定波長の光信号を光フィルタに入力
してその反射率および（または）透過率を測定する。こ
の場合、光源を波長がそれぞれ異なる光信号を出力する
複数台の波長可変光源で構成し、複数台の波長可変光源
からのそれぞれ異なる波長の光信号を順次スキャンし
て、反射率および（または）透過率を測定する。これに
より光フィルターの測定時間が約1時間かかっていたも
のが10分程度に短縮することができ、これによって測定
の効率がよくなる。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の光フィルタ測定方
法における好ましい実施の形態例を図面にしたがって説
明する。本発明の光フィルタ測定方法の測定系を図１に
示す。複数台の波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnから出力され
た光信号λ1〜λnは、合波器２を通り1本の光ファイバ
３に入射される。複数台の波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの
それぞれは数nm（１〜２nm）の波長間隔で最大波長幅約
１００nmで波長可変可能であり、隣接する波長可変光源
間は波長帯域が相違していない。波長可変光源ＬＳ1〜
ＬＳnの光信号λ1〜λnは光ファイバ３から光カプラ４
を通り、一方は波長計５に、もう一方は光フィルタ６へ
入射される。波長計５では波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの
波長のモニターを行なっている。光フィルタ６へ入射さ
れた波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの光信号λ1〜λnは、光
フィルタ６で反射され光カプラ４、４aを通り光スペク
トラムアナライザ７に入射され、その時の反射光の強度
を測定する。また、光フィルタ６を透過した光は、光カ
プラ４ｂを通り光スペクトラムアナライザ８に入射され
透過光強度を測定する。このような測定を波長可変光源
ＬＳ1〜ＬＳnの波長を変えて測定することによって、フ
ィルタ特性の波長依存性を測定していく。この時、波長
可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの波長を変える時は、同時に行
い、掃引時間が短縮されることになる。複数台の波長可
変光源ＬＳ1〜ＬＳnからのそれぞれ異なる波長の光信号
λ1〜λnが順次スキャンされ、反射率および（または）
透過率が測定される。
法における好ましい実施の形態例を図面にしたがって説
明する。本発明の光フィルタ測定方法の測定系を図１に
示す。複数台の波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnから出力され
た光信号λ1〜λnは、合波器２を通り1本の光ファイバ
３に入射される。複数台の波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの
それぞれは数nm（１〜２nm）の波長間隔で最大波長幅約
１００nmで波長可変可能であり、隣接する波長可変光源
間は波長帯域が相違していない。波長可変光源ＬＳ1〜
ＬＳnの光信号λ1〜λnは光ファイバ３から光カプラ４
を通り、一方は波長計５に、もう一方は光フィルタ６へ
入射される。波長計５では波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの
波長のモニターを行なっている。光フィルタ６へ入射さ
れた波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの光信号λ1〜λnは、光
フィルタ６で反射され光カプラ４、４aを通り光スペク
トラムアナライザ７に入射され、その時の反射光の強度
を測定する。また、光フィルタ６を透過した光は、光カ
プラ４ｂを通り光スペクトラムアナライザ８に入射され
透過光強度を測定する。このような測定を波長可変光源
ＬＳ1〜ＬＳnの波長を変えて測定することによって、フ
ィルタ特性の波長依存性を測定していく。この時、波長
可変光源ＬＳ1〜ＬＳnの波長を変える時は、同時に行
い、掃引時間が短縮されることになる。複数台の波長可
変光源ＬＳ1〜ＬＳnからのそれぞれ異なる波長の光信号
λ1〜λnが順次スキャンされ、反射率および（または）
透過率が測定される。
【００１４】この光フィルタ測定方法において、光フィ
ルタ６はファイバグレーティング、誘電体多層膜フィル
タおよび光導波路型波長選択型フィルタの１つである。
波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnは半導体レーザおよびファイ
バレーザの何れか１つである。この光フィルタ測定方法
において、光信号λ1〜λnの波長を計測する光スペクト
ラムアナライザ７、８の代わりに光パワメータ９、１０
を使用してもよく、両者を併用することも可能である。
ルタ６はファイバグレーティング、誘電体多層膜フィル
タおよび光導波路型波長選択型フィルタの１つである。
波長可変光源ＬＳ1〜ＬＳnは半導体レーザおよびファイ
バレーザの何れか１つである。この光フィルタ測定方法
において、光信号λ1〜λnの波長を計測する光スペクト
ラムアナライザ７、８の代わりに光パワメータ９、１０
を使用してもよく、両者を併用することも可能である。
【００１５】［実施例１］波長可変光源を２台使用し、
光カプラ、光スペクトラムアナライザ、波長計を用いて
光フィルタの測定を行なった。この時の測定条件を表１
に示す。この時の測定時間は18 分であった。 ［実施例２］波長可変光源を４台使用し、光カプラ、光
スペクトラムアナライザ、波長計を用いて光フィルタの
測定を行なった。この時の測定条件を表１に示す。この
時の測定時間は １0 分であった。
光カプラ、光スペクトラムアナライザ、波長計を用いて
光フィルタの測定を行なった。この時の測定条件を表１
に示す。この時の測定時間は18 分であった。 ［実施例２］波長可変光源を４台使用し、光カプラ、光
スペクトラムアナライザ、波長計を用いて光フィルタの
測定を行なった。この時の測定条件を表１に示す。この
時の測定時間は １0 分であった。
【００１６】［実施例３］波長可変光源を２台使用し、
光カプラ、光パワメータ、波長計を用いて光フィルタの
測定を行なった。なお、波長可変光源を変調し、光パワ
メータで同期をとって測定を行なっている。この時の測
定条件を表１に示す。この時の測定時間は８分であっ
た。
光カプラ、光パワメータ、波長計を用いて光フィルタの
測定を行なった。なお、波長可変光源を変調し、光パワ
メータで同期をとって測定を行なっている。この時の測
定条件を表１に示す。この時の測定時間は８分であっ
た。
【００１７】
【表１】
【００１８】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の光フィルタ測定方法によれば、波長可変光源を複数
台で構成したので、光フィルターの測定時間が約1時間
かかっていたものが10分程度に短縮することができ、こ
れによって測定の効率がよくなった。
明の光フィルタ測定方法によれば、波長可変光源を複数
台で構成したので、光フィルターの測定時間が約1時間
かかっていたものが10分程度に短縮することができ、こ
れによって測定の効率がよくなった。
【図１】本発明の光フィルタ測定方法の一実施例を示す
構成図。
構成図。
【図２】従来の光フィルタ測定方法の構成図。
【図３】従来の光フィルタ測定方法の構成図。
ＬＳ1〜ＬＳn・・・・・複数台の波長可変光源 λ1〜λn・・・・・光信号 ５・・・・・波長計 ６・・・・・光フィルタ ７、８・・・・・光スペクトラムアナライザ ９、１０・・・・・光パワメータ
Claims (5)
- 【請求項１】光源からの所定波長の光信号を光フィルタ
に入力してその反射率および（または）透過率を測定す
る光フィルタ測定方法であって、 前記光源を波長がそれぞれ異なる光信号を出力する複数
台の波長可変光源で構成し、前記複数台の波長可変光源
からのそれぞれ異なる波長の光信号を順次スキャンし
て、前記反射率および（または）透過率を測定すること
を特徴とする光フィルタ測定方法。 - 【請求項２】前記光フィルタはファイバグレーティン
グ、誘電体多層膜フィルタおよび光導波路型波長選択型
フィルタの１つであることを特徴とする請求項1記載の
光フィルタ測定方法。 - 【請求項３】前記波長可変光源は 半導体レーザおよび
ファイバレーザの１つであることを特徴とする請求項1
記載の光フィルタ測定方法。 - 【請求項４】前記光信号の波長を計測する光波長計を備
えたことを特徴とする請求項1記載の光フィルタ測定方
法。 - 【請求項５】前記光信号の波長を計測する光スペクトラ
ムアナライザおよび（または）光パワメータを備えたこ
とを特徴とする請求項1記載の光フィルタ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27765497A JPH11118667A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 光フィルタ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27765497A JPH11118667A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 光フィルタ測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11118667A true JPH11118667A (ja) | 1999-04-30 |
Family
ID=17586449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27765497A Withdrawn JPH11118667A (ja) | 1997-10-09 | 1997-10-09 | 光フィルタ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11118667A (ja) |
-
1997
- 1997-10-09 JP JP27765497A patent/JPH11118667A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050104 |