JP2009523248A - 光信号計測システム - Google Patents

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Abstract

光信号計測システム[1200]は、調整可能な光学フィルタ[402]を設ける[1202]。未知の光信号[628]が調整可能な光学フィルタ[402]を介してを走査される[1204]。調整可能な光学フィルタ[402]をOSAおよびPMD計測のうちの少なくとも一方については走査モードで、CD計測についてはステッピングモードで動作させることにより、調整可能な光学フィルタ[402]を介して走査される未知の光信号[628]の波長および色分散値が計測される[1206]。未知の光信号[628]における波長および分散値が特定される[1208]。

Description

関連出願への相互参照
この出願は、2006年1月10日に出願された、米国仮特許出願番号第60/757,961号の本出願である米国特許出願番号第11/615,986号の利益を請求する。
本出願は、サンライズ・テレコム・インコーポレイテッド(Sunrise Telecom Incorporated)に譲渡される2005年1月31日に出願の同時係属中の米国特許出願連続番号第11/048,455号に関連付けられる主題を含む。
本出願はさらに、サンライズ・テレコム・インコーポレイテッド(Sunrise Telecom Incorporated)に譲渡される2006年1月10日に出願の同時係属中の米国特許出願連続番号第11/329,522号に関連付けられる主題を含む。
技術分野
この発明は、一般的には光学スペクトルおよび分散分析に関し、より特定的にはファブリ−ペローフィルタを用いる広波長域光学スペクトル偏波モードおよび色分散アナライザに関する。
光ファイバ電気通信(「テレコム」)分野は、光ファイバケーブルおよび光ファイバネットワークのような技術を含む。光ファイバネットワークは、会話、データ通信(たとえばファックスのメッセージ)、コンピュータ間のデータ転送、ケーブルテレビ、インターネットなどのような多種多様な日常の情報信号を搬送する。このような情報は、町の中の場所から場所へと同様に、町同士の間で伝送される。急速に増加する通信トラフィックのため、昔ながらの金属ワイヤケーブルの低容量と比較して、光ファイバの容量増加がより一層必要とされる。
光ファイバケーブルは典型的には個々の光ファイバの束からなる。1つの光ファイバは、光の単一の波長上で何千ものデータおよび通信信号を搬送し得る。それと同じ単一の光ファイバはさらに複数の波長の光を搬送し得、これにより非常に多くの複数の光信号を同時に搬送することが可能になる。各波長だけでも10Gbit/秒を超える速度で転送するデータを搬送し得る。
このような光ネットワークを設計するとともにそれらの通信を維持するには、色および偏波分散の両方を計測し、光強度、波長、および光ファイバを通る光信号の波長の各々での光信号対雑音比を監視するなどのようなさまざまな高感度分析を行なう必要がある。このような分析は従来、色分散(「CD」)、偏波モード分散(「PMD」)、および光学スペクトルアナライザ(「OSA」)を含むいくつかの分析ツールによって行なわれる。
色分散とは、異なる波長を有する光が異なるスピードで媒体を通るということを意味する。異なる波長成分からなる光パルスは、光ファイバを通る際に、CDにより広がることになる。CDを計測するにはいくつかの方法がある。CDの1タイプでは、異なる波長を有する光信号間の相対的時間遅延の計測に基づいて色分散分析を行なう。
偏波モード分散とは、異なる偏波モードを有する光が異なるスピードで媒体を通ることを意味する。異なる偏波モードからなる光パルスは、光ファイバを通る際に、PMDによ
り広がることになる。PMDを計測するにはいくつかの方法がある。これらの方法のうちの1つは「固定アナライザ法」と呼ばれる。この方法を用いる場合、全光強度分布および光信号の特定の偏波モード分布のそれの両方が計測および比較され、PMDは光強度スペクトルの比のピークを計数することから導き出される。
OSAは、波長の関数として、示唆されるように光強度を計測することである光スペクトル分析(同様に「OSA」と呼ばれる)を行なう。OSAの利用には、スペクトル純度および強度分布についてレーザおよび/または発光ダイオード(「LED」)光源を検査すること、信号品質および雑音指数について波長分割多重(「WDM」)システムの光伝送システムを監視すること、さまざまな光学装置および構成要素の伝送特性を検査することなどが含まれる。
OSAは典型的には、分析されることになる光信号を調整可能な光学フィルタに通すことにより行なわれる。「調整可能」とは、そのフィルタが光信号の個々の成分(波長)を分解または抽出するよう調節され得るということを意味する。
OSAを作成するのに3つの基本的なタイプのフィルタが広く用いられる。すなわち、回折格子、ファブリ−ペロー(「FP」)フィルタ、およびマイケルソン干渉計である。調整可能なFPフィルタ(「TFPF」)は、OSAに対して多くの利点を有する。これらの間での主なものは、その相対的に単純な設計、小さいサイズ、速いスピード、制御しやすさ、および非常に近い間隔にある光信号(すなわち、ほとんど全く同じ周波数または波長を有する信号)を識別するための高感度である。
レンズが設けられた調整可能なFP干渉計(「FPI」)は、物理、化学、天文学、およびその他の多様な科学分野における光学スペクトル計測において重要な役割を長らく果たしてきた。光ファイバシステムに適合される、レンズが設けられた小型のFPIは、媒体分解能調整(フィネス=100)を与え得る。しかしながら、レンズのないファイバFPI(「FFPI」)は、光ファイバシステムにおける調整機能について、500より大きい分解能で動作し得る。このような高性能の調整可能なFFPIは、受動または能動光ファイバ装置の波長応答を正確に計測するための呼掛器システムを可能としてきた。
OSAの光分解能は、確実に分解され得る2つのスペクトル成分の間の最小の波長間隔をとることである。高い光分解能を達成するよう、フィルタは十分に狭い3−dB帯域幅(「BW」)を有するべきである。さらに、多くの計測の場合、計測されることになるさまざまなスペクトル成分は等しい振幅のものではない。その場合、フィルタのBWのみが懸念事項ではなくなる。伝送のピークからある距離(たとえば±25GHz)離れたところでの光除去比(「ORR」)に関して特定されるフィルタ波形も重要である。例には、分布帰還型の(「DFB」)レーザのサイドモード抑圧の計測と、WDM光通信システムにおけるさまざまな波長チャネルの光信号対雑音比(「OSNR」)を計測することとが含まれる。
FPフィルタOSAの波長走査範囲は、その自由スペクトル範囲(「FSR」)によって制限される。同じフィネス値の場合、FPフィルタのBWはそのFSRに比例する。これは、FSRが大きくなればなるほど、BWが大きくなり、分解能が悪化することを意味する。したがって、多くのFPフィルタOSA適用例には、2つの主な課題がある。一方の課題は、(たとえば、高密度波長分割多重(「DWDM」)システムを特徴付けるために)光信号対雑音比(「S/N」)計測に対して非常に高いダイナミックレンジを達成することである。他方の課題は、十分に狭い帯域幅を維持しつつ、波長の非常に広い走査範囲(たとえば、1260nmから1640nmまで)を達成することである。OSNRを向上することで波長走査範囲が損なわれることがあるべきではない。真の課題は、より高
いOSNRとより広い波長とを同時に達成することである。
公知のFPフィルタOSAは、重なり合いがないよう調整され得る近接するFPオーダ(光学オーダ)の間のスペクトル分離であるフィルタのFSRにより、制限された波長走査範囲を有する。FSRは、FPフィルタのキャビティ長に反比例する。キャビティ長を低減することにより、FPフィルタは非常に大きいFSRを有し得る。キャビティ長を増加させることにより、FPフィルタは非常に小さいFSRを有し得る。FPフィルタのFSRはフィルタのBWとそのフィネスとの積にも比例する。同じフィネス値の場合、キャビティ長を増加させ、したがってFSRを低減させることにより、非常に狭い3−dB BWを有するFPフィルタが作製され得、これにより非常に良好なスペクトル分解能を提供する。BWがより小さくなれば、同じFSRを維持するようフィネスはより大きくなる必要がある。FPフィルタのフィネス値が同じ場合、FSRが大きくなればなるほど、BWが大きくなる。BWが大きくなればなるほど、スペクトル分解能は悪化するので、多くの適用例においてこれは望ましくない。したがって、OSAを構成するのにFPフィルタを用いる際に、FPフィルタのFSRがフィルタの波長走査範囲を制限することになる。
多くの技術的状況において、精密なOSA、色分散(「CD」)、および偏波モード分散(「PMD」)の計測がなされなければならない。これには複数の機器を利用することが必要となり、これらの機器を当該部位に運び、次いで個々にローカルの光ネットワークに接続し、個々にさまざまな計測を行なうよう動作させる必要がある暫定またはフィールド位置ではかなり不便となり得る。したがって、このようなOSA、CD、およびPMD計測機能を単一の多機能モジュールへと組合せるのは有利である。これは、共通の構成要素(たとえば電源)の重複を低減させることで実質的な構成要素のコストを節約するだけでなく、FPフィルタのような洗練された構成要素をこのような計測すべてに対して用いる実現性を開くことになり、大幅なコスト削減とともに検査機器性能の大幅な向上がなされる。
残念なことに、先行の装置ではこれまで、効果的に、経済的に、かつ満足のいくように、精密なOSA、CD、およびPMD計測を組合せることができなかった。たとえば、先行の装置はただ1つのFPフィルタを用いて、光通信波長の全範囲(たとえば1260nmから1640nmまで)にわたるすべてのこのような計測に対応することができなかった。1つの解決されない技術的障壁は、たとえば、このようなFPフィルタを全光通信波長範囲にわたって非常に正確に動作させる必要があるだけでなく、OSAおよびPMD計測については走査モードで動作させる必要があるが、CD計測についてはステッピングモードで動作させる必要があることである。
したがって、DWDMおよびCWDM(「低密度波長分割多重」)適用例の場合、1260nmから1630nmの広波長範囲にわたってOSA、CD、およびPMD計測を提供および実行し得る高性能、高精密の統合計測システムに対する必要性が未だにある。全光通信帯域についてこのような分析を行ない得るようなシステムに対する必要性がある。さらに、光の波長の計測に単一のTFPFのみを用いてこれらの機能を効果的に提供するようなシステムに対して特に必要性がある。このような広波長範囲、さらにはさらに拡張された波長範囲にわたってこれらの機能を効果的に提供するような単一のTFPFシステムに対してさらにまだ必要性がある。
絶えず増加する競争プレッシャー、高まる消費者の期待、および市場における有効な製品差異の実現性の低下に鑑みて、これらの問題に答えを見つけることが不可欠である。さらに、コストを節約し、効率を向上し、性能を向上し、このような競争プレッシャーに合致する必要性が絶えず増加しているために、これらの問題に答えを見つけるという不可欠な必要性に対してさらに大きな緊急性が加えられる。
これらの問題の解決策は長い間求められてきたが、先行の技術開発は如何なる解決策も教示または示唆していない。したがって、これらの問題の解決策は当業者には長らくわからなかった。
発明の開示
この発明は光信号計測システムを提供する。この光信号計測システムは、調整可能なファブリ−ペロー(「FP])光学フィルタを有し、未知の光信号が調整可能なFP光学フィルタを介して走査される。このFPフィルタを走査モードで動作させることにより、未知の信号の波長、強度、OSNR、およびPMD情報が計測され得る。FPフィルタをステッピングモードで動作させることにより、光信号の色分散が計測され得る。
この発明のある実施例は、上述したものに加えてまたはこれらの代わりに他の局面を有する。これらの局面は、添付の図面を参照し、以下の詳細な説明を読むことで当業者には明らかとなるであろう。
以下の説明では、この発明の完全な理解を提供するよう多くの具体的な詳細が与えられる。しかしながら、この発明はこれら具体的な詳細がなくても実施され得るということは明らかであろう。この発明を不明瞭にするのを避けるよう、周知の回路およびシステム構成の中には詳細に開示されないものもある。同様に、装置の実施例を示す図は半概略的であり、尺度決めされているわけではなく、特に寸法のうちのいくつかは提示の明確さのためのものであり、図面では誇張されて示される。さらに、いくつかの特徴を共通に有する複数の実施例が開示および記載される場合、図示、記載、およびその理解の明確さおよび容易さのために、互いに類似および同様の特徴は同様の参照番号を用いて通常は記載されることになる。
この発明に従うと、光の波長および分散の計測のためのシステムが開示される。より特定的には、ファブリ−ペロー(「FP」)フィルタベースの光学スペクトルアナライザ(「OSA」)、色分散(「CD」)、および偏波モード分散(「PMD」)計測システムの単一システムへの組合せを可能としつつ、拡張された波長範囲にわたって大幅に改善される精度を予想外に達成する正確な計測システムが発見され開示される。したがって、この発明はファブリ−ペロー干渉計(「FPI」)を用いる、光学波長走査、光学スペクトル分析、色、および偏波モード分散測定のための装置の技術水準を実質的に進歩させる。
十分に狭い帯域幅(「BW」)を維持し、これにより良好なスペクトル分解能を維持しつつ、FPフィルタの固有の自由スペクトル範囲(「FSR」)よりも実質的に大きい広波長範囲を走査するのにFPフィルタが用いられ得るということが発見された。
この発明は、OSA、CD、およびPMD計測の3つすべてのための全広帯域および中間帯域の複数波長計測のために単一のFPIを用いる。この点において、380nm以上の波長走査範囲を有する全帯域OSAが単一の調整可能なFPフィルタを用いて実現され得るということが発見された。一実施例では、FPフィルタは、約180nmのFSRと、1460nmと1650nmとの間で80pmより小さい3−dB BWとを有する。他の波長領域では、約1260nmから1470nmまで、FSRは若干より小さい。たとえばO、E、S、C、およびL帯域のような全電気通信(「テレコム」)波長帯域をカバーする、たとえば1260nmから1640nmまでの非常に広い波長範囲を複数の光学オーダのFPフィルタが走査するのを可能にするのに、よく規定されたバンドパスフィ
ルタ(「BPF」)が用いられる。BPFの分離に依って、異なる帯域間での光信号分離は45dBよりも大きくなり得る。この実施例におけるFPフィルタベースのOSAは、FPフィルタのFSRよりもはるかに大きい波長走査範囲を有する。
ここで図1を参照すると、そこに図示されるのは、全帯域OSA400(図4)における調整可能なFPフィルタ(「TFPF」)402(図示せず、図4参照)としてこの発明において用いられる調整可能なFPI100の概略図である。調整可能なFPI100は、その中において規定されるとともに部分的に反射性のある鏡102および104を有する。鏡102および104は、空気、ガラスなどのような適切な誘電性媒体で充填されたキャビティ106のようなギャップによって分離される。光線108が調整可能なFPI100に入り、通過し、透過したフィルタリングされた光線110として調整可能なFPI100を出る。
ここで図2を参照すると、そこに図示されるのは入射、反射、および透過した光ビームと、空気のギャップを有するFPフィルタにおけるそれらに伴う電界の相互作用および分析とを示すベクトル図200である。光線108の入射電界R0は、係数ro(キャビティ106の「外側で反射(reflected outside)」に由来)で部分的に鏡102にて反射され、係数ti(キャビティ106の「内側で透過(transmitted inside)」に由来)で部分的に透過される。キャビティ106における係数tiで透過した電界は、鏡104を通ってキャビティ106から出る際に、鏡104の後ろにおいて遅延されるとともに係数t0で乗算されて現れる。以下の式に合致する場合、鏡102から反射した光線R1、R2、R3などは最大の破壊的干渉を経験することになり、鏡104から透過した光線T1、T2、T3などは最大の建設的増強を経験することになる。
式中、mは0より大きい任意の整数であり、
L(図2)は共振キャビティ(たとえばキャビティ106)の長さであり、
nは共振キャビティの中の媒体の屈折率であり、
λは光信号の波長、したがって透過した光波の波長である。
ここで図3を参照すると、そこに図示されるのはFPフィルタの透過プロファイルを説明するのに用いられ得るエアリー関数A(λ)のグラフ300である。
式中、I0はピーク透過光強度であり、
FはFPフィルタのフィネスであり、
λは光波の波長である。
以下の式は、調整可能なFPI100の共振周波数fmを確立する。
調整可能なFPI100の自由スペクトル範囲(「FSR」)302としてモード間隔が規定される。光波の周波数fに関して、そのFSR302は以下のとおりである。
光波の波長λに関して、そのFSR302は以下のとおりである。
1500nm領域において約180nmのFSR302を有するFPフィルタの場合、キャビティ長は約12.5μmである。
調整可能なFPI100のBWは半値全幅(「FWHM」)として規定される。それは、以下の式(Hz)で規定される。
式中、rはフィルタの鏡の反射率であり、
cは真空における光のスピードであり、
nはフィルタキャビティの中の媒体の屈折率であり、
Lはフィルタのキャビティ(たとえばキャビティ106)の長さである。
BWをモード間隔、たとえばFSR302、に関連付けることで、フィネスFが得られる。
エアリー関数A(λ)は以下のローレンツ型分布によって近似され得る。
式中、fは透過した光波の周波数であり、
0はピーク伝送周波数であり、
FSRはFPフィルタの自由スペクトル範囲である。
ローレンツ型分布の3−dB BWは、FPフィルタのそれと同じである。
光ファイバ通信における高密度波長分割多重(「DWDM」)適用例の場合、フィルタのBWについての要件は数十ピコメータの範囲内である。以前のFPフィルタOSA実現例では、FPフィルタOSAの波長走査範囲はそのFSRよりも若干小さかった。
しかしながら、ここで教示されるように、これらの技術的ハードルは、所望の走査を同時に行なうよう構成され得る複数のFSR302を同時に用いることにより解消され得ることが発見された。これにより、複数のFSRを一緒に連結することにより商業的に実用的なFSRおよびBWを維持および利用することが可能になる。
この発明の実施例に従って、ここで図4を参照すると、そこに図示されるのはTFPF402のような調整可能な光学フィルタを用いる全帯域OSA400の光学回路概略図である。全帯域OSA400で用いられるTFPF402のキャビティ長は、従来、好適なデジタル−アナログ変換器(「DAC」)回路404を介してコントローラ/アナライザ406によって制御される圧電変換器(図示せず)により制御される。
上記の式(1)に従えば、TFPF402の共振光学波長はそのキャビティ長L(図2)の関数である。しかしながら式(1)はさらに、同じキャビティ長では、別個の複数の光学波長が、このような光学波長の各々が異なる光学オーダmにある状態で、同時に共振し得るということも示す。TFPF402のFSR302(図3)は、その近隣の光学オーダからの信号の干渉なしにフィルタが走査し得る最大の波長範囲を規定する。FPフィルタについての以前のFSRの例で示されるように、FPフィルタに基づく既存のOSAの非常に制限された波長範囲がこれで説明される。
ここで、これらの制限は、よく規定されたBPFを利用することで異なる波長帯域を同時に走査するようTFPF402の複数の光学オーダを用いることにより解決される。一実施例では、全帯域OSA400のTFPF402は、(1550nm領域で)約180nmのFSR302を有し、約50pmの3−dB BWを有する。以下により特定的に記載されるようなBPFにより、TFPF402の複数の光学オーダが異なる波長帯域にわたって同時に走査をするよう用いられ得る。全帯域OSA400はしたがって、テレコム適用例についての全波長帯域(O、E、S、C、およびL帯域)をカバーする、たとえば1260nmから1640nmまでの、TFPF402のFSR302よりもはるかに大きい波長範囲にわたって走査するのに用いられ得る。したがって、この発明は単一のFPフィルタを用いる全テレコム帯域適用例のためにOSAを用いる。
一実施例では、全帯域OSA400は、光源410およびその中で規定されるフィルタ412を有する波長基準アーム408を含む。光源410は、ドライバ414を介してコントローラ/アナライザ406により制御される、たとえば1550nmに中心を置く広帯域LEDである。フィルタ412は、約100GHz(800pm)のFSRと、約80pmのBWとを有する固定キャビティ長FPI416を含む。固定キャビティ長FPI
416は、ファイバブラッググレーティング(「FBG」)、たとえば1nmのBWを有するFBG418、と組合され、約1550nmでのその共振ピークのうちの1つをブロックする。固定キャビティ長FPI416およびFBG418を有する波長基準アーム408はしたがって、ピコメートルの精度を有する波長基準システムを構成する。サーミスタ420が、フィルタ412についての温度較正情報をコントローラ/アナライザ406に与える。
固定キャビティ長FPI416は、たとえば100GHzの固定FSRを有する固定キャビティ長FPIである。FBG418は固定キャビティ長FPI416の共振ピークのBWよりも若干大きいBWを有する。FBG418は、固定キャビティ長FPI416の共振ピークのうちの1つをブロックするよう事前に規定されるノッチング位置を有する。LED光源410、固定キャビティ長FPI416、およびFBG418のこの組合せにより、1460nmと1650nmとの間の波長範囲について1pmより小さい精度を正確な波長基準に与えることができる。
全帯域OSA400はさらに、TFPF402およびその中で規定されるDAC回路404を有する光検知アーム422を含む。さらに、光検知アーム422はBPF424、426、および428、3方向スプリッタ430、検知器434、436、および438、ならびにその中で規定されるアナログ−デジタル変換器(「ADC」)440のような回路網を含む。BPF428および検知器434は、たとえばOテレコム帯域のための第1の検知チャネル442を規定する。BPF426および検知器436は、たとえばEテレコム帯域のための第2の検知チャネル444を規定する。BPF424および検知器438は、たとえばS、C、およびL(「S−C−L」)テレコム帯域のための第3の検知チャネル446を規定する。
第1、第2、および第3の検知チャネル442、444、および446の出力はそれぞれADC440に接続され、ADC440はこれら出力をデジタルの形態に処理し、それぞれのデータをコントローラ/アナライザ406に転送する。光検知アーム422はしたがって、TFPF402のFSR302よりも大きい波長範囲にわたって走査を行なうために構成され、検知チャネル442、444、および446は、TFPF402が走査してフィルタリングした波長の別個の複数の光学オーダを同時かつ個々に検知するために構成される。
波長分割多重(「WDM」)信号のような未知の光信号が全帯域OSA400への入力448の上に与えられる。この入力448は光学スイッチ452に接続される。全帯域OSA400が入力448からの未知のWDM信号を走査する前に、光学スイッチ452は、TFPF402に波長基準および較正情報を与えるよう構成される波長基準アーム408に対して設定される。波長基準および較正情報は次いで走査され、その結果がコントローラ/アナライザ406に保存される。
次いで、光学スイッチ452が入力448上の未知のWDM信号に接続するよう設定され、走査が再び、今回は入力448からの未知のWDM信号に対して、TFPF402がこの未知の光信号をフィルタリングする状態でなされる。第1、第2、および第3の検知チャネル442、444、および446から得られる出力は次いで以下に記載するように分析され、出力454の上にて、入力448からの未知のWDM信号の全帯域スペクトル分析を提供する。
記載したようにこれら3つのテレコム帯域を検知するよう、一実施例におけるBPF424、426、および428は以下の値を有する。
BPF424:〜1457nmから〜1650nmまでを通過、他の波長をブロックする。
BPF426:〜1345nmから〜1490nmまでを通過、他の波長をブロックする。
BPF428:〜1260nmから〜1378nmまでを通過、他の波長をブロックする。
これにより、第1の検知チャネル442については1260nmから1378nmまでの波長検知範囲508(図5参照)、第2の検知チャネル444については1345nmから1490nmの波長検知範囲510(図5参照)、第3の検知チャネル446については1457nmから1650nmまでの波長検知範囲512(図5参照)が作成および規定される。
別の実施例では、BPF424、426、および428の通過帯域は若干異なり得る。たとえば、
BPF424:〜1465nmから〜1650nmまでを通過、他の波長をブロックする。
BPF426:〜1350nmから〜1480nmまでを通過、他の波長をブロックする。
BPF428:〜1260nmから〜1370nmまでを通過、他の波長をブロックする。
したがって、近接するBPFの対の通過帯域には、たとえば10nmから30nmの幅でいくらか重なり合いがある。この重なり合いは有益であるということが発見されたが、この重なり合いは他の光学オーダからの信号が識別できないほど広くあるべきではない。
ここで図5を参照すると、そこに図示されるのは、この発明において開示される、1260nmから1640nmの全テレコム波長範囲にわたるシームレスなOSA走査のためのTFPF402(図4)およびシステムの複数の光学オーダを示すグラフ500である。さまざまなフィルタ(たとえば、BPF424、426、および428(図4))は上述したようによく規定され、m番目の光学オーダの近隣の光学オーダ、すなわちm+1番目およびm−1番目の光学オーダに対する適切なブロッキングを与える。したがって、図4に関連して上述した実施例では、S−C−L帯域のためのBPF424は、約1457nmから1650nm(波長検知範囲512)までの通過チャネルを有し、他の波長帯域からの信号をブロックする。E帯域のためのBPF426は、約1345nmから1490nm(波長検知範囲510)までの通過チャネルを有し、他の波長帯域からの信号をブロックする。O帯域のためのBPF428は、約1260nmから1378nm(波長検知範囲508)までの通過チャネルを有し、それ以外の波長帯域からの信号をブロックする。
動作において、DAC回路404(図4)は、TFPF402が入力448(図4)の未知のWDM信号の端から端までの異なる波長成分にわたって時間とともに連続的に調整されると、走査を規定するよう掃引モードでTFPF402のキャビティ長を制御する。図5では、Y軸(「DAC→TFPF」)は、TFPF402における圧電変換器(「PZT」)(図示せず)を制御する電圧に比例する、TFPF402への(ポイントでの)DAC回路404入力読取値である。X軸は、TFPF402の瞬間のキャビティ長に対
応するTFPF402の共振波長λである。当該技術では公知であるように、このキャビティ長はちょうど記載したようにPZTの制御電圧の関数である。
図5では、6つの曲線(「O−帯域−3」、「O−帯域−2」、「E−帯域−2」、「S−C−L−帯域−2」、「E−帯域−1」、および「S−C−L−帯域−1」)は、異なる光学オーダについてTFPF402の共振波長がDAC回路404からの制御ポイントにどのように応答するかを示す。6つの曲線は3つの延長カーブに結合され得、O−帯域−3曲線は第1の延長カーブ502であり、O−帯域−2、E−帯域−2、およびS−C−L−帯域−2曲線は第2の延長曲線504であり、E−帯域−1およびS−C−L−帯域−1は第3の延長曲線506である。これら3つの延長曲線502、504、および506は、TFPF402のλm+1、λm、およびλm-1に対する3つのそれぞれ異なる光学オーダを示す。
例として、DAC回路404が約1190(X軸のちょうど上)のポイントを送り出すと、約1260nmおよび約1455nmの信号が同時に共振し始めることになる。しかしながら、O帯域のための検知器434(図4)は、自身の波長検知範囲508において1260nmの信号しか見ず、第1の検知チャネル442(図4)のためのBPF428によるブロッキングのため、その波長検知範囲508の外側にある1455nm信号は見えない。
DAC回路404入力がスペクトル分析掃引の間に増加すると、TFPF402の共振波長が増加し、処理はO帯域のためのBPF428がその検知器434に向かう信号をブロックする1378nmまで続く。しかしながら、E帯域のための検知器436(図4)は約1345nmでデータを収集し始める。1345nmと1378nmとの間の信号は検知器434および436の両方によって検知され、これによりOおよびE帯域にわたってシームレスな走査を提供する。
E帯域のための検知器436は、E帯域のためのBPF426がその検知器436に向かう信号をブロックする1490nmまでデータを収集し続ける。S−C−L帯域のための検知器438(図4)は、約1457nmでデータを収集し始める。1457nmと1490nmとの間の領域は、E−帯域およびS−C−L帯域検知器436および438の両方によって検知され、これによりEおよびS−C−L帯域にわたってシームレスな走査を提供する。
一実施例では、DAC回路404は0から32768ポイントまで掃引する。式(1)および図5の両方は、各波長が異なる光学オーダで共振し得ることを示す。たとえば、1260nmの信号は2つの異なるDAC値、すなわち約1190および22220で共振することになる。1460nmの信号は別の2つのDAC値、すなわち約2190および26110で共振することになる。O帯域の場合は、17000ポイント(約1380nmに対応)より高い如何なるDAC値も、これらの複数の光学オーダによる混合を避けるよう無視され得る。同様にE帯域の場合も、12000ポイント(約1330nmに対応)より低い如何なるDAC値も、このような混合を避けるよう無視され得る。したがって、全OおよびE帯域の場合、曲線O−帯域−3上のDACポイントは用いられない。これは(m+1)番目の光学オーダのためである。単純さのため、番号「3」はオーダ(m+1)番目を示すのに用いられる。全OおよびE帯域の場合、曲線O−帯域−2および曲線E−帯域−2の上のDACポイントのみが用いられる。これはm番目の光学オーダのためである。さらに、番号「2」はオーダm番目を示すのに用いられる。S、C、およびL帯域の場合、曲線S−C−L−帯域−1の上のDACポイントのみが用いられる。これは(m−1)番目の光学オーダのためである。単純さのため、番号「1」はオーダ(m−1)番目を示すのに用いられる。
したがって、ここで教示されるように、たとえば1260nmから1650nmまでの全テレコム波長帯域のためのシームレスな走査が、全波長スパンよりもはるかに少ないFSRを有するFPフィルタに基づいたOSAを用いて可能になるということが発見された。この広い走査範囲は、式(6)が規定するように、フィルタのBWを犠牲にすることなく達成される。大きい波長走査範囲のための以前の技術および設計では、全走査範囲よりも大きい大きなFSRを有するフィルタが用いられなければならない。しかしながら、同じフィネスの場合、FSRが大きくなると、フィルタのBWが大きくなり、これによりスペクトル分解能が悪化する。これは、以前の設計ではスペクトル分解能を犠牲にしないとより大きい走査範囲が達成されないということを意味する。しかしながらこの発明は、各々の光学オーダについて同じFSRを維持しつつ、より大きなOSA走査範囲を達成する(すなわち、より大きな「正味のFSR」を達成する)。したがって、FPフィルタの各光学オーダについての元々のBWは維持され、これにより全OSA走査範囲についてフィルタの高スペクトル分解能(フィルタの固有のFSRのものと比較可能)を守る。
これにより得られる別の重大な改善は、複数のFSRまたは光学オーダが同時に走査され得、これにより一度に1つのFSRだけが走査される場合の走査スピードと比較して大幅に走査処理がスピードアップするということである。
したがって、TFPF402のいくつかの光学オーダは完全に分離され、そのため複数のオーダの光信号は同時であるが、区別されかつ分離されて検知および分析され得る。したがって、全帯域OSAは、FPフィルタ自身のFSR302自体よりもはるかに大きいはるかに広い範囲を高速に走査するようにTFPF402のような単一のFPフィルタをうまくかつ有益に利用する。
ちょうど記載したこの実施例のためのBPFが与える分離は約40dBであり、これは光信号対騒音比(「OSNR」)に対して40dBの計測範囲を保証する。この開示に基づくと、よりよい分離により、OSNRについてさらによりよいダイナミックレンジが与えられ得るということは当業者には明らかであろう。
ここで図6を参照すると、そこに図示されるのはこの発明の実施例に従った光信号計測システム600を示す概略図である。光信号計測システム600は全帯域OSA400(図4)の構成要素および機能に似た多くの構成要素および機能を有するため、これらは同様の参照番号を付されて示される。
しかしながら、この発明に従った全帯域OSA400と光信号計測システム600との大きな違いは、光信号計測システム600は全帯域OSAを行なうだけでなく、さらに全帯域CDおよび全帯域PMD計測も同様に行なうということである。これら3つの重要な計測機能(OSA、CD、およびPMD)は単一のFPI、すなわちTFPF402のみを用いて、単一の光信号計測システム600へと組合せ得るということが予想外に発見された。これはより一層驚くべきことであり同様に予期されないことである。なぜならばOSAおよびPMD計測は未知の入力信号の連続する掃引により行なわれるが、CD計測は具体的な、離散的な、間隔をおいた波長位置で、設定された期間の間に未知の入力信号を計測することによって行なわれるステッピングモードまたは方法により行なわれる(掃引というよりも)ステップ計測であるからである。
CD計測は連続的に掃引されないため、非常に異なるとともに従来は非常に難しかった形の制御が計測フィルタ上で実現されなければならない。このような制御はFPフィルタの場合に特に難しく、したがってCD計測のためにFBGのような他のフィルタ構成を優先させることになった。しかしながら、ここで発見され教示されるように、単一のFPI
のみを用いて3つの計測機能(OSA、CD、およびPMD)のすべてを経済的かつ効率的に組合せ、さまざまな先行技術の複数の別個の計測システムではより高いコストでしか利用可能でない機能よりも優れた3つの計測機能すべてについて計測精度および性能を実現することが可能である。
DACを用いてFPIを制御する(たとえばDAC回路404を用いてTFPF402を制御する)先行のCD計測の原理的な困難さは、TFPF402から所望の波長を正確に得るのにDAC回路404をどこの値に設定すべきかを正確に知ることである。TMこれは、従来得られず公知でなかった非常に高い程度の安定性を必要とする。たとえば、1つのステップ計測のためのDAC回路404の値を次のステップ計測のための値に変えると、TFPF402はしたがってDAC回路404によって次の波長をフィルタリングするための位置にステッピングされることになる。しかしながら、TFPF402は物理的な装置であるため、正確な次の値に瞬時に変位することはない。むしろ、TFPF402の実際の物理的な波長設定は少しドリフトし得るか、または常にシフトし得、これにより次の計測のためにTFPF402の精度を維持することが非常に難しくなる。
したがって、この発明において、光信号計測システム600の安定性、正確な制御、および精密な較正は、従来公知でない有益な新しい要素および特徴である。したがって、以下の較正および動作についての記載が、光信号計測システム600自体の記載の後に続くことになる。
図6を参照するとわかり得るように、光信号計測システム600は全帯域OSA400(図4)に関連して上述した構成要素のほとんどを組込み、これによりその中の全帯域OSA400およびTFPF402の全波長帯域性能を活用する。しかしながら、加えて、光信号計測システム600では、上で示したようにTFPF402はCDおよびPMD計測のような光ファイバに対する分散計測を行なうのにさらに用いられる。TFPF402のような単一のFPフィルタはしたがって全波長帯域(たとえば、全O、E、S、C、およびL帯域をカバーする1260nmから1640nmまで)についてOSA、CD、およびPMD分析を行なう。
光信号計測システム600は2つの1×3光学スイッチ、すなわち第1の光学スイッチ602および第2の光学スイッチ604を含む。第1の光学スイッチ602の3つのポートの各々は、O、E、およびS−C−L帯域のためのそれぞれの光学路についての第1、第2、および第3の検知チャネル442、444、および446にそれぞれ接続される。第2の光学スイッチ604の3つのポートの各々は、OSA検知器606、PMD検知器608、およびCD検知器610をそれぞれ有する(「OSA」、「PMD」、および「CD」とそれぞれ書かれた)OSA、PMD、およびCD検知チャネルにそれぞれ接続される。
OSA検知チャネルはOSA計測のためのものであり、OSA検知器606を含む。OSA検知器606はその検知結果をADC440に渡し、ADC440はOSA検知器606からの出力をデジタルの形態に処理し、それぞれのデータをコントローラ/アナライザ406に転送する。
PMD検知チャネルはPMD計測のためのものであり、PMD検知器608およびポラライザ612を含む。ポラライザ612は第2の光学スイッチ604から光信号を受取り、光信号を偏波し、それをPMD検知器608に転送する。PMD検知器608はその検知結果をADC440に渡し、ADC440はPMD検知器608からの出力をデジタルの形態に処理し、それぞれのデータをコントローラ/アナライザ406に転送する。
CD検知チャネルはCD計測のためのものであり、一実施例では2つのFBG616、クロック618、および時間−デジタル変換器(「TDC」)620を含むCDドーターボード614の上に構成される。CDボード614は第2の光学スイッチ604から光信号を受取り、さらにここで記載されるようにそれを処理し、それぞれの出力データをコントローラ/アナライザ406に転送する。
全帯域OSA計測の場合、光信号計測システム600の動作は上述したようであり、第2の光学スイッチ604がOSA計測器606を含むOSAチャネルに設定される。TFPF402は走査モードで動作し、第1の光学スイッチ602が、走査されることになる、O、E、およびS−C−L帯域のためのさまざまな第1、第2、および第3の検知チャネル442、444、および446をそれぞれ選択するよう動作する。
全帯域PMD計測の場合も、光信号計測システム600の動作は走査モードでTFPF402を動作させることによりなされるが、第2の光学スイッチ604はPMD検知器608を含むPMDチャネルに設定される。第1の光学スイッチ602は、走査されることになる、O、E、およびS−C−L帯域のためのさまざまな第1、第2、および第3の検知チャネル442、444、および446をそれぞれ選択するよう同様に動作する。
ここで開示されるような調整可能なフィルタ構成に基づくPMD計測は、「固定アナライザ法」と呼ばれる。連続して掃引されるPMD走査が完了し、PMD通路内のPMD検知器608が受取った出力はPP(λ)としてコントローラ/アナライザ406により記録される。同様に、OSA通路におけるOSA検知器606が受取った出力は、PTot(λ)としてコントローラ/アナライザ406によって記録される。次いで、(「R(λ)−関数」または単純に「R−関数」と呼ばれる)出力比R(λ)は次のように計算される。
計測されるR(λ)からPMDを計算する2つの方法、たとえば極値計数およびフーリエ変換がある。極値計数法を用いる場合、R(λ)関数は最小波長λ1から最大波長λ2までの等間隔の波長間隔で得られるべきである。Nは窓の中の極値(最大値および最小値の両方)の数である。代替的には、波長範囲はλ1およびλ2が極値と一致するように再規定され得、その場合はNは極値(λ1およびλ2を含む)の数から1を引いた数である。PMD値<Δτ>を求める公式は以下のとおりである。
式中、cは真空における光のスピードであり、
kは強いモード結合がない場合は1.0に等しく、強いモード結合の制限がある場合は0.82に等しいモード結合係数である。
ここで図7を参照すると、そこに図示されるのは、この発明に従った、弱いモード結合
がある場合の固定アナライザ法についての出力比関数R(λ)のグラフ700である。
ここで図8を参照すると、そこに図示されるのは、この発明に従った、強いモード結合がある場合の固定アナライザ法についての出力比関数R(λ)のグラフ800である。
全帯域CD計測の場合、再び図6を参照すると、光信号計測システム600の動作はTFPF402をステッピングモードで動作させることによりなされ、第2の光学スイッチ604はCD検知器610を含むCDチャネルに設定される。第1の光学スイッチ602は、走査されることになる、O、E、およびS−C−L帯域のためのさまざまな第1、第2、および第3の検知チャネル442、444、および446をそれぞれ選択するよう所望のように動作される。
より特定的には、TFPF402構成に基づく一実施例におけるCD計測は、異なるステッピングされた波長の各々で相対的時間遅延を計測する「時間遅延法」を用いる。次いで、CDはファイバの既知の長さを通る伝搬の間にさまざまな波長が経験する相対的群遅延の計測から類推される。群遅延はさまざまなステッピングされた波長の各々でパルスが経験する遅延を検知、記録、および処理することにより時間範囲において計測される。
ここで図9Aおよび図9Bを参照すると、そこに図示されるのは群遅延がどのように計測されるかを示すそれぞれの概略図900および902である。図9Aでは、外部のLED904は、500−psの長さの光パルス906を発するようパルサによって駆動される広帯域発光ダイオードを含む。検査中のファイバがない場合、パルス906はTFPF402のみを通り、TFPF402はステッピングモードで動作するとともに各波長λごとに1つの、遅延τだけ分離される連続するパルス908を生成する。図9Bに示されるように、検査中のファイバ910がある場合、ファイバを通るパルス906の伝搬の間、色分散が連続するパルス912の間の遅延をたとえばτ’まで修正する。CDボード614における時間分解検出ではこの新しい遅延が計測される。差τ’−τが群遅延であり、そこから色分散が類推され得る。光子計数検知が、所望の高感度および高時間分解能を得るよう用いられる。このような光子計数は、たとえば「ファイバ計測のための光子計数技術(Photon-counting techniques for fiber measurements)」(ブルーノ・ハットナー(Bruno Huttner)およびユルゲン・ブレンデル(Jurgen Brendel))、ライトウェーブ(LIGHTWAVE)、2000年8月、に記されるように公知である。
図6を再び参照すると、ステッピングモードでTFPF402を動作させるよう、CDボード614は計測中の未知の光信号または他の光信号と時間同期する。これは、2方向スプリッタ622を介して光学スイッチ452から計測中の光信号(たとえば光信号入力線628上の信号)を通すことにより達成される。2方向スプリッタ622は、計測中の光信号をTFPF402とCDボード614の上のクロック618とに送る。クロック618は次いで、2方向スプリッタ622からTFPF402に同時に送られたのと同じ光信号であるその信号に同期する。
TFPF402をステッピングモードで動作する場合、計測期間の間に、TFPF402は各離散ステップの各選択された正確な波長で安定されなければならない。各CD計測の前に、光学スイッチ452は波長基準または較正アーム408に向けられる。TFPF402は掃引モードで動作している。光学スイッチ604はOSAアームに向けられる。TFPF402は、FPI416による複数の共振波長ピークおよび欠落ピークとを有する較正光学スペクトルを介して掃引される。これらのピークの波長位置は、欠落ピークの既知の位置によりわかる。このように、TFPF402を駆動するDACポイント(DAC回路404値)と波長位置との関係が確立される。次いで、光学スイッチ452は光信号入力アーム448に向けられ、光学スイッチ604はCDアームに向けられる。現在ス
テッピングモードで動作しているTFPF402はCD計測のために第1の波長位置λ1に設定される。波長λ1のこのパルスの相対的到着タイミングは、時間分解検知アーム614(すなわち、CDドーターボード614)によって検知および記録される。次いで、別の較正および計測サイクルが始まる。光学スイッチ452は波長較正アーム408に向けられ、較正が再び行なわれる。TFPF402はCD計測のために第2の波長位置λ2に調整される。波長λ2のこのパルスの相対的到着タイミングは、時間分解検知アーム614によって検知および記録される。最後の波長パルスの相対的到着タイミングが計測されるまで同様のことが行なわれる。
ここで図10を参照すると、そこに図示されるのは計測された相対的群遅延対波長の例1000である。多くの場合、群遅延対波長は二次の多項式で示され得る。
ここで図11を参照すると、そこに図示されるのは色分散対波長の例1100である。色分散は波長上の群遅延の導関数として計算される。
一実施例では、CD検知器610(図6)は個々の光子のレベルまで光子計数するために構成されるアバランシェ光検出器(「APD」)を含む。CD計測の場合、この発明を用いれば、単光子計数を行なうことが可能になる。このような単光子計数能力は同様に実質的な利点である。なぜならば、光信号の中にはCD検知器610に先立ついくつかのフィルタリング段階の後では非常に弱くなり得るものがあるからである(上述のハットナーおよびブレンデルを参照のこと)。
全体の動作では、光信号計測システム600はまず必要とされるように較正される。いくつかの状況では、較正は、適切で、既知で、かつ通常の広帯域調整可能較正レーザ源が利用可能である実験室環境(または同様の場所)における周期的な較正である。このような較正は、たとえば較正基準626からの光較正信号624を用いて行なわれ得る。較正基準626はたとえば事前に較正される調整可能なレーザであり得る。
一実施例では、光信号計測システム600の較正は、TFPF402を通じて(たとえば光学スイッチ452を介して)既知の波長で光源を送り、TFPF402にその波長の信号を検知させるDAC回路404値を関連付けることにより行なわれる。この処理は、所望の波長の分だけについて繰返され得るか、またはDAC回路404値、対応するTFPF402位置、および対応する波長の間に関係が確立されるよう利用可能な波長の分だけについて繰返され得る。この較正処置は、光信号計測システム600のTFPF402のいくつかの光学オーダの各々について、計測されるDAC回路404値と対応する波長値との間に1対1の較正関連性が作り出される。TFPF402が走査する波長の別個の複数の光学オーダを較正および直接的に関連付けるこれらの関連性は安定的であり、長期間にわたって、かつさまざまな利用およびフィールド条件(たとえばさまざまな温度、電源電圧など)の下でも確実に利用され得ることが発見された。
フィールド適用の場合、単一の現在の(「インフィールド」)較正調整計測で十分であり得る。このような単一較正調整計測は、単純に現在の動作条件についてオフセットを決定する。次いでこのオフセットは、全帯域スペクトル範囲にわたって、現在のインフィールド較正オフセットとともに用いられ得る全先行の(たとえば、実験室または卓上の)較正に適用され得る。以前の(卓上の)較正は、たとえばコントローラ/アナライザ406に記憶され得る。
別の実施例では、較正関連性は、たとえばコントローラ/アナライザ406に記憶される相互参照表において、より早い時間(たとえば実験室または卓上較正処置の一部として)に最初に同様に取得され得る。次いで、この相互参照表を後で参照することにより、任
意の所与のDAC値について、検知された波長がたとえば第1の検知チャネル442において何になるか、検知された波長が第2の検知チャネル444において何になるか、検知された波長が第3の検知チャネル446において何になるかを決定することができる。一実施例では、この関連性相互参照表は「較正マッピング表」と呼ばれる。
現在すぐに見つかり得る特定の動作および環境条件についての較正マッピング表のために調整が作り出されるように別の較正処置が用いられてもよい。フィールド状況では、たとえば元々の較正の間に存在したのとは異なる温度差、電圧差、湿度差などが適合される必要があり得る。なお、較正マッピング表における相対的な波長値は互いに対して安定したままであり、このようなフィールド条件の下でもそれらの1対1の関連性は維持される。
しかしながらフィールド条件によって、DAC値が対応する波長の異なる組に対応するようにDACオフセットが作り出され得る。したがって、フィールド較正は波長基準システムが用いられることになるちょうど前に行なわれ得る。フィールド較正は、光信号入力線628に接続される局所的に利用可能な外部の較正基準源を用いてか、または波長基準アーム408のような内部で利用可能な基準源を用いて行なわれ得る。
したがって、波長基準アーム408のような利用可能なフィールド較正基準源を用いて、DACポイントと利用可能な源の基準波長との間の現在のリアルタイムの関係が確立され、一実施例では、たとえばコントローラ/アナライザ406に記憶される第2の表に保存される。この第2の表における値によって、元々の較正マッピング表と、現在の実際のフィールドDACと、波長基準システムの関連付けられるフィールド波長値との間の関連性および相互参照が確立される。一実施例では、この第2の関連性相互参照表は「動的マッピング表」と呼ばれる。
付加的な(第3の)表も便利だと判明し得る。一実施例では、たとえば、DAC値に対する調整またはオフセットは、フィールド較正光源基準波長が該当する検知チャネル(たとえば第1、第2、または第3の検知チャネル442、444、または446)における各々の波長について計算および生成され得、たとえばコントローラ/アナライザ406に記憶される。一実施例では、オフセットのこの第3の表は「動的オフセット表」と呼ばれる。
光信号入力線628に与えられる未知の波長に対して走査を行なうよう、検知された(未知の)波長について得られるDAC値は次いで動的オフセット表における値に従って調整(補償)され、これにより走査されている波長の非常に正確な計測を達成する。
より特定的には、1つ以上の未知の光信号が光信号入力線628を通じて光信号計測システム600に入力される。これらの未知の信号は次いでTFPF402を通じて走査され、波長信号がTFPF402によって個々に選択され、第2の光学スイッチ604によって選ばれた検知器によって検知されると、対応するDAC回路404読取値が得られる。対応するドリフティングポイントを差引いた後、動的オフセット表に記載されるように、各計測されたDAC回路404値に対応する正確な波長位置が較正マッピング表を通じて差引かれ、これにより未知の信号における正確な波長を特定する。TFPF402を通じて走査される未知の光信号の対応する波長値は、たとえばコントローラ/アナライザ406における記憶装置によって計測および特定されるか、または出力454を通じて送信されるデータとして計測および特定される。
したがって、一実施例では、調整可能な光学フィルタを通じて未知の光信号を走査する原理動作は光信号計測システム600の装置のさまざまな部分で行なわれ得る。これらの
部分は、DAC回路404の制御下にあるとともに、コントローラ/アナライザ406における回路網の制御下にあるTFPF402を含み、行なわれることになる計測に対して適切なように第1、第2、および第3の検知チャネル442、444、および446をさらに含む。同様に、調整可能な光学フィルタを通じて走査される未知の光信号の波長値を計測する原理的な動作は、行なわれることになる計測に対して適切なように、検知器606、608、および610を含む光信号計測システム600の装置のさまざまな構成要素によって行なわれ得る。同様に、未知の光信号における波長値を特定する原理的な動作は、コントローラ/アナライザ406における回路網の制御によりおよび/または制御の下でなされ得る。
ここで図12を参照すると、そこに図示されるのはこの発明の実施例に従った光信号計測システム1200のフローチャートである。システム1200は、ブロック1202において調整可能な光学フィルタを設けることと、ブロック1204において調整可能な光学フィルタを介して未知の光信号を走査することと、ブロック1206において調整可能な光学フィルタをOSAおよびPMD計測のうちの少なくとも一方については走査モードで、CD計測についてはステッピングモードで動作させることにより、調整可能な光学フィルタを介して走査される未知の光信号の波長および色分散値を計測することと、ブロック1208において未知の光信号における波長および分散値を特定することとを含む。
このように、この発明は光信号特性の計測について多くの局面を有することがわかった。
1つの局面はしたがって、この発明が調整可能なFP干渉計を用いる光学スペクトル分析、偏波モード分散、および色分散装置、方法、ならびに関連するシステムについて当該技術の水準を実質的に進歩させることである。
この発明の原理的な局面は、FP干渉計の特定の局面および能力から利益を得かつそれらを用いる非常に効果的であるとともに効率的なOSA−CD−PMD光信号計測システムの提供である。
この発明の別の重要な局面は、単一のTFPFしか用いず、かつそれしか必要としないこのようなシステムを提供することである。
別の局面は、この発明が、FPフィルタベースのOSA、CD、およびPMD計測システムの単一システムへ組合せることを可能としつつ、拡張された波長範囲にわたって大幅に改善された精度を予想外に達成する正確な計測システムを提供することである。
この発明のさらに別の局面は、OSA、CD、およびPMD計測の3つすべてに対して、容易にかつ安定して較正される単一のTFPFのみを用いることを可能にすることである。
別の重要な局面は、単一の光信号計測システムにおける単一のTFPFは、OSAおよびPMA計測については掃引モード、CD計測についてはステッピングモードで、双方ともに高精度で容易に動作し得ることである。
さらに別の局面は、OSA、CD、およびPMD計測の3つすべてを単一システムへと効果的に組合せることにより、構成要素、アセンブリ、および製造コストに対して大幅な節約および効率性が達成されることである。
この発明の主な局面は、したがって、広くかつ拡張された波長範囲にわたって光の波長
の複数の計測のために高精密および高精度のTFPFを用いる光学スペクトルアナライザおよび基準システムを提供することである。
この発明のさらに重要な局面は、コスト削減、システムの簡素化、および性能の向上といった歴史的な傾向を有益に支持ならびに補助するということである。結果として、この発明のこれらおよびその他の有益な局面はさらに、当該技術水準を少なくとも次のレベルにまで高める。
したがって、この発明の光信号計測システムは、光学スペクトル分析のための重要で、これまで未知で、入手不可能であった解決策、能力、および機能的な局面を提供するということがわかった。結果得られるシステムは、簡単であり、コスト効果が高く、複雑でなく、非常に汎用的かつ効果的であり、公知の技術を適合させることにより実現され得、したがって高性能光信号計測システムを効率的かつ経済的に製造および動作させるのに適している。
この発明は特定の最良の形態に関して記載されてきたが、多くの代替例、修正例、および変形例は上記記載に照らし合わせると当業者には明らかであろうことは理解されるべきである。特許請求の範囲内であるこのような代替例、修正例、および変形例はすべて包括されることが意図される。本明細書にこれまでに記載されたか、または添付の図面に記載されたすべての事柄は例示的かつ非限定的な意味で解釈されるべきである。
調整可能なファブリ−ペロー干渉計の概略図である。 図1の調整可能なファブリ−ペロー干渉計における光ビームおよびそれに伴う電界を示すベクトル図である。 ファブリ−ペローフィルタの透過プロファイルを説明するのに用いられ得るエアリー関数のグラフの図である。 この発明の実施例に従った全帯域光学スペクトルアナライザの光学回路概略図である。 図4の光学フィルタの複数の光学オーダを示すとともに、全テレコム波長範囲にわたるシームレスな光学スペクトル分析を示すグラフの図である。 この発明の実施例に従った光信号計測システムを示す概略図である。 この発明に従った、弱いモード結合の場合の固定アナライザPMD計測法についてのR関数のグラフの図である。 この発明に従った、強いモード結合の場合の固定アナライザPMD計測法についてのR関数のグラフの図である。 検査されるファイバがない場合の群遅延計測を示す概略図である。 ファイバが検査中である、図9Aに似た概略図である。 計測された相対的群遅延対波長を示すグラフの図である。 色分散対波長を示すグラフの図である。 この発明の実施例に従った光信号計測システムのフローチャートの図である。

Claims (12)

  1. 調整可能な光学フィルタ[402]を設けること[1202]と、
    前記調整可能な光学フィルタ[402]を介して未知の光信号[628]を走査すること[1204]と、
    前記調整可能な光学フィルタ[402]を
    OSAおよびPMD計測のうちの少なくとも一方については走査モードで、
    CD計測についてはステッピングモードで動作させることにより、
    前記調整可能な光学フィルタ[402]を介して走査される前記未知の光信号[628]の波長および色分散値を計測すること[1206]と、
    前記未知の光信号[628]における前記波長および前記分散値を特定すること[1208]とを含む、光信号計測システム[1200]。
  2. 調整可能な光学フィルタ[402]を設けること[1202]は、単一のファブリ−ペローフィルタ[402]を設けることをさらに含む、請求項1に記載のシステム[1200]。
  3. CD計測について、前記ステッピングモードの各ステップの各波長で前記調整可能な光学フィルタ[402]を安定化させることをさらに含む、請求項1に記載のシステム[1200]。
  4. CD計測についてはステッピングモードで色分散値を計測すること[1206]は、アバランシェ光検知器[610]を用いて前記未知の光信号[628]を計測することをさらに含む、請求項1に記載のシステム[1200]。
  5. 少なくとも実質的に1260nmから実質的に1640nmまでの波長の範囲を走査することをさらに含む、請求項1に記載のシステム[1200]。
  6. 相対的群遅延を計測し、次いで波長上で前記群遅延の導関数から前記色分散を計算することにより前記CD計測を行なうことをさらに含む、請求項1に記載のシステム[1200]。
  7. 調整可能な光学フィルタ[402]と、
    前記調整可能な光学フィルタ[402]を介して未知の光信号[628]を走査するための装置[600]と、
    前記調整可能な光学フィルタ[402]を
    OSAおよびPMD計測のうちの少なくとも一方については走査モードで、
    CD計測についてはステッピングモードで動作させることにより、
    前記調整可能な光学フィルタ[402]を介して走査される前記未知の光信号[628]の波長および色分散値を計測するための装置[600]と、
    前記未知の光信号[628]における前記波長および前記分散値を特定するための回路網[406、440、614]とを含む、光信号計測システム[600]。
  8. 前記調整可能な光学フィルタ[402]は、単一のファブリ−ペローフィルタ[402]をさらに含む、請求項7に記載のシステム[600]。
  9. CD計測について、前記ステッピングモードの各ステップの各波長で前記調整可能な光学フィルタ[402]を安定化させるための装置[408]をさらに含む、請求項7に記載のシステム[600]。
  10. CD計測についてはステッピングモードで色分散値を計測するための前記装置[600]はアバランシェ光検知器[610]をさらに含む、請求項7に記載のシステム[600]。
  11. 前記調整可能な光学フィルタ[402]は、少なくとも実質的に1260nmから実質的に1640nmまでの波長の範囲を走査するために構成される調整可能な光学フィルタ[402]をさらに含む、請求項7に記載のシステム[600]。
  12. 相対的群遅延を計測し、次いで波長上で前記群遅延の導関数から前記色分散を計算することにより前記CD計測を行なうための回路網[406、614]をさらに含む、請求項7に記載のシステム[600]。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014056073A (ja) * 2012-09-12 2014-03-27 Seiko Epson Corp 光学モジュール、電子機器、及び駆動方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4753137B2 (ja) * 2005-11-29 2011-08-24 独立行政法人情報通信研究機構 光強度測定器のキャリブレーション方法及び装置
US7812962B2 (en) 2007-05-09 2010-10-12 Luciol Instruments Sa Polarization mode dispersion measurement using an improved fixed analyzer method
EP2493101A1 (en) * 2011-02-24 2012-08-29 Alcatel Lucent Fast OMSP setup optimized for coherent detection
CN102353452B (zh) * 2011-10-21 2013-04-24 华中科技大学 一种f-p腔自由光谱范围测量系统
US9362428B2 (en) 2012-11-27 2016-06-07 Artilux, Inc. Photonic lock based high bandwidth photodetector
US10388806B2 (en) 2012-12-10 2019-08-20 Artilux, Inc. Photonic lock based high bandwidth photodetector
US10916669B2 (en) 2012-12-10 2021-02-09 Artilux, Inc. Photonic lock based high bandwidth photodetector
CN104348544B (zh) * 2013-08-05 2017-11-10 北京凌云光子技术有限公司 测量光传输信道质量参数的方法及装置
US10644187B2 (en) 2015-07-24 2020-05-05 Artilux, Inc. Multi-wafer based light absorption apparatus and applications thereof
JP6930869B2 (ja) * 2017-06-28 2021-09-01 パイオニア株式会社 撮像装置、撮像方法及びプログラム
US10527784B1 (en) * 2018-11-15 2020-01-07 General Electric Company Systems and methods for providing a stable wavelength reference in an integrated photonic circuit
US10911156B1 (en) 2019-12-20 2021-02-02 The Boeing Company Optical communications monitoring apparatus, methods, and systems
US11867615B2 (en) 2022-03-25 2024-01-09 Trutag Technologies, Inc. Field calibration for near real-time Fabry Perot spectral measurements

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5892582A (en) 1996-10-18 1999-04-06 Micron Optics, Inc. Fabry Perot/fiber Bragg grating multi-wavelength reference
US6064721A (en) 1997-10-22 2000-05-16 Telecommunications Techniques Corporation Modular test instrument
EP1106979B1 (de) 1999-08-11 2001-11-14 Acterna Eningen GmbH Anordnung zur gleichzeitigen Analyse mehrerer optischer Leitungen
DE19942276A1 (de) 1999-09-04 2001-03-15 Wandel & Goltermann Prisma für optischen Spektrumanalysator
DE50000086D1 (de) 2000-01-18 2002-02-21 Acterna Eningen Gmbh Optisches Reflexionsgitter und Verfahren zu seiner Optimierung sowie optisches Spektrometer
EP1150144A1 (de) 2000-04-18 2001-10-31 Acterna Eningen GmbH Polarisationsvorrichtung basierend auf verdrehbaren, festverbundenen Lichtwellenleitern
EP1236981A1 (de) 2000-10-11 2002-09-04 Acterna Eningen GmbH Optisches Spektrometer mit variabler Bandbreite
US6795607B1 (en) 2000-10-11 2004-09-21 Ciena Corporation Use of tunable laser for optical performance monitoring in WDM system
EP1223416B1 (de) 2000-11-02 2002-07-31 Acterna Eningen GmbH Spektrale Bandbreitenkalibrierung eines optischen Spektrumanalysators
DE50100041D1 (de) 2001-02-16 2002-11-21 Acterna Eningen Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Messen der chromatischen Dispersion einer optischen Übertragungsstrecke
US6748179B2 (en) 2001-03-07 2004-06-08 Harris Corporation WDM channel monitoring system and method
US6619864B2 (en) 2001-03-15 2003-09-16 Optinel Systems, Inc. Optical channel monitor with continuous gas cell calibration
JP2003234527A (ja) 2002-02-06 2003-08-22 Acterna R & D Kk 波長可変光源装置
EP1378734B1 (de) 2002-07-06 2004-12-15 Acterna Germany GmbH Optisches Spektrometer mit mehreren spektralen Bandbreiten
US6977720B2 (en) * 2003-08-05 2005-12-20 Agilent Technologies, Inc. Characterization of active and passive optical properties of an optical device
US7113666B2 (en) 2004-06-03 2006-09-26 Sunrise Telecom Incorporated Method and apparatus for spectrum deconvolution and reshaping

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014056073A (ja) * 2012-09-12 2014-03-27 Seiko Epson Corp 光学モジュール、電子機器、及び駆動方法
US11029509B2 (en) 2012-09-12 2021-06-08 Seiko Epson Corporation Optical module, electronic device, and driving method

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