JPH11111746A - Method and device for manufacturing semiconductor device - Google Patents
Method and device for manufacturing semiconductor deviceInfo
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- JPH11111746A JPH11111746A JP27429497A JP27429497A JPH11111746A JP H11111746 A JPH11111746 A JP H11111746A JP 27429497 A JP27429497 A JP 27429497A JP 27429497 A JP27429497 A JP 27429497A JP H11111746 A JPH11111746 A JP H11111746A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
におけるモールド工程において、樹脂注入時のダイパッ
ドの移動を低減させる半導体装置の製造方法及びその製
造装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device and a manufacturing apparatus for reducing the movement of a die pad during resin injection in a molding process in the manufacture of a semiconductor device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
例えば、特開平3−9538号公報、特開平5−326
587号公報、特開平6−29340号公報に開示され
るものがあった。これらの文献に開示されているよう
に、モールド金型に固定ピンまたは、上下型可動ピンを
設置し、チップを搭載するダイパッドやチップを単に挟
み込むことにより、樹脂注入時のダイパッドの移動(以
下、単にシフトという)を低減させるものであった。2. Description of the Related Art Conventionally, techniques in such a field include:
For example, JP-A-3-9538, JP-A-5-326
587 and JP-A-6-29340. As disclosed in these documents, a fixed pin or an upper and lower mold movable pin is provided in a mold die, and a die pad for mounting a chip or a die pad is simply sandwiched, thereby moving the die pad during resin injection (hereinafter, referred to as a die pad). Shift).
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来構成の装置では、チップを搭載するダイパッドや
チップを単に挟み込むだけなので、上下方向のシフトを
ある程度規制することはできるが、横方向のシフトの規
制ができず、また、正確さに欠けるという問題があっ
た。However, in the above-described conventional apparatus, since the die pad or chip on which the chip is mounted is merely sandwiched, the vertical shift can be restricted to some extent. There was a problem that regulation was not possible and accuracy was lacking.
【0004】本発明は、上記問題点を除去し、樹脂封止
時の上下左右方向のリードフレームのダイパッドのシフ
トを十分に抑えることができる半導体装置の製造方法及
びその製造装置を提供することを目的とする。An object of the present invention is to provide a method and an apparatus for manufacturing a semiconductor device, which can eliminate the above-mentioned problems and can sufficiently suppress the shift of the die pad of the lead frame in the vertical and horizontal directions during resin sealing. Aim.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、 〔1〕半導体装置の製造方法において、モールド金型内
にICチップを搭載したリードフレームをセットし、前
記リードフレームのダイパッドサポートが位置するダイ
パッドの4隅部分を上下型可動ピンで押さえ、樹脂封止
を行うようにしたものである。According to the present invention, there is provided a method for manufacturing a semiconductor device, comprising the steps of: setting a lead frame having an IC chip mounted in a mold; The four corners of the die pad where the die pad support is located are pressed by upper and lower movable pins to perform resin sealing.
【0006】〔2〕上記〔1〕記載の半導体装置の製造
方法において、前記上下型可動ピンが当接する前記ダイ
パッドの部分に係止部を設け、前記リードフレームの移
動を阻止するようにしたものである。 〔3〕上記〔2〕記載の半導体装置の製造方法におい
て、前記上下型可動ピンが、前記ダイパッドに形成され
る凹部に当接し、係止するようにしたものである。[2] In the method of manufacturing a semiconductor device according to the above [1], a locking portion is provided at a portion of the die pad where the upper and lower movable pins abut, so as to prevent the movement of the lead frame. It is. [3] The method for manufacturing a semiconductor device according to the above [2], wherein the upper and lower movable pins are brought into contact with and engaged with a concave portion formed in the die pad.
【0007】〔4〕上記〔2〕記載の半導体装置の製造
方法において、前記上下型可動ピンが、前記ダイパッド
に形成される穴部に係止するようにしたものである。 〔5〕上記〔2〕記載の半導体装置の製造方法におい
て、前記上下型可動ピンは、円筒内にバイアスされる押
圧子を備え、前記ダイパッドに形成される凸部を前記円
筒で覆うとともに、前記凸部を前記押圧子で押さえ、係
止するようにしたものである。[4] The method of manufacturing a semiconductor device according to the above [2], wherein the upper and lower movable pins are engaged with holes formed in the die pad. [5] In the method for manufacturing a semiconductor device according to the above [2], the upper and lower movable pins include a pressing element biased in a cylinder, and cover a projection formed on the die pad with the cylinder. The projection is held down by the presser and locked.
【0008】〔6〕上記〔1〕記載の半導体装置の製造
方法において、前記上下型可動ピンは、トランスファー
上昇時の変速点信号を受けて、引き抜いた後、キャビテ
ィの完全充填を行うようにしたものである。 〔7〕半導体装置の製造装置において、モールド金型の
上型と下型にICチップを搭載したリードフレームダイ
パッドサポートが位置するダイパッドの4隅部分に配置
される上下型可動ピンを具備するようにしたものであ
る。[6] In the method of manufacturing a semiconductor device according to the above [1], the upper and lower movable pins are pulled out in response to a shift point signal at the time of transfer ascending, and then the cavity is completely filled. Things. [7] In a semiconductor device manufacturing apparatus, a vertical die movable pin is provided at each of four corners of a die pad where a lead frame die pad support having an IC chip mounted on an upper die and a lower die of a mold die is located. It was done.
【0009】〔8〕上記〔7〕記載の半導体装置の製造
装置において、前記上下型可動ピンは、前記ダイパッド
に形成される凹部に当接するように配置されるようにし
たものである。[8] In the apparatus for manufacturing a semiconductor device according to the above [7], the upper and lower movable pins are arranged so as to be in contact with a concave portion formed in the die pad.
〔9〕上記〔7〕記載の半導体装置の製造装置におい
て、前記上下型可動ピンは、前記ダイパッドに形成され
る穴部に係合するように配置されるようにしたものであ
る。[9] In the semiconductor device manufacturing apparatus according to the above [7], the upper and lower movable pins are arranged so as to be engaged with holes formed in the die pad.
【0010】〔10〕上記〔7〕記載の半導体装置の製
造装置において、前記上下型可動ピンは、円筒内にバイ
アスされる押圧子を備え、前記ダイパッドに形成される
凸部を前記円筒で覆うとともに、前記凸部を前記押圧子
で押さえるように配置するようにしたものである。[10] In the apparatus for manufacturing a semiconductor device according to the above [7], the upper and lower movable pins include a presser biased in a cylinder, and cover the projection formed on the die pad with the cylinder. In addition, the projection is arranged so as to be pressed by the pressing element.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て詳細に説明する。図1は本発明の第1実施例を示す半
導体装置の製造装置の断面図、図2はその半導体装置の
リードフレームのダイパッドの平面図である。これらの
図に示すように、ICチップ1は導電性の接着剤にてリ
ードフレーム5aのダイパッド4aに接着されており、
ゲートと呼ばれる注入口よりモールド樹脂を上型9、下
型10の上キャビティ2,下キャビティ3と呼ばれる部
分に注入することにより封止(パッケージング)され
る。Embodiments of the present invention will be described below in detail. FIG. 1 is a sectional view of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a plan view of a die pad of a lead frame of the semiconductor device. As shown in these figures, the IC chip 1 is bonded to the die pad 4a of the lead frame 5a with a conductive adhesive.
Sealing (packaging) is performed by injecting a mold resin into portions called upper cavities 2 and lower cavities 3 from an injection port called a gate.
【0012】この実施例では、樹脂注入時に発生するダ
イパッド4aのシフトを低減させるために、上型9、下
型10にそれぞれ上型可動ピン6、下型可動ピン7を取
り付けている。その場合、上下型可動ピン6,7を取り
付ける位置としては、図2に示すように、ワイヤ配線の
少ないダイパッドサポート8付近、言い換えれば、ダイ
パッド4aの4辺のコーナー部、つまり、ダイパッド4
aの4隅とするのが、ワイヤへのダメージ防止、支えの
効果の点から有効である。なお、11は後述するが、凹
部である。In this embodiment, the upper movable pin 6 and the lower movable pin 7 are attached to the upper mold 9 and the lower mold 10, respectively, in order to reduce the shift of the die pad 4a generated at the time of resin injection. In this case, as shown in FIG. 2, the position at which the upper and lower movable pins 6 and 7 are attached is in the vicinity of the die pad support 8 where the wire wiring is small, in other words, the corners of the four sides of the die pad 4a, that is, the die pad 4
The four corners a are effective from the viewpoint of preventing damage to the wire and supporting the wire. In addition, 11 is a recessed part although it mentions later.
【0013】そこで、上下型可動ピン6,7は通常状態
(樹脂注入しない状態)では、上型9と下型10の各々
上下キャビティ2,3の底の面迄下がっている。次い
で、ICチップ1を接着したリードフレーム5aが下型
10にセットされた後、上型9と合わさり、所定の圧力
まで達した時、ゲートより溶融したモールド樹脂が注入
される。Therefore, the upper and lower mold movable pins 6 and 7 are lowered to the bottom surfaces of the upper and lower cavities 2 and 3 of the upper mold 9 and the lower mold 10 in a normal state (a state in which the resin is not injected). Next, after the lead frame 5a to which the IC chip 1 is adhered is set in the lower die 10, it is fitted with the upper die 9, and when a predetermined pressure is reached, molten mold resin is injected from the gate.
【0014】この樹脂注入時の圧力や上キャビティ2と
下キャビティ3の充填バランスの差から発生するダイパ
ッド4aのシフトを防ぐために、上下型可動ピン6,7
が上下キャビティ2,3より出て、ダイパッド4aを挟
み込み、動かないように固定する。上下型可動ピン6,
7による固定位置としては、前述の様にワイヤダメージ
の少ない、また、支えの効果が大きいダイパッド4aの
各コーナー部とする。In order to prevent the shift of the die pad 4a caused by the pressure at the time of the resin injection and the difference in the filling balance between the upper cavity 2 and the lower cavity 3, the upper and lower movable pins 6 and 7 are used.
Comes out of the upper and lower cavities 2 and 3, sandwiches the die pad 4 a, and fixes it so as not to move. Vertical movable pin 6,
The fixing position of the die pad 7 is, as described above, at each corner of the die pad 4a where wire damage is small and the effect of supporting is large.
【0015】また、上下型可動ピン6,7が出たり、引
っ込む動作は金型を搭載するモールド装置(プレス)の
トランスファー上昇の変速点の信号を利用して行う。こ
のトランスファー上昇の変速点について述べると、図3
に示すように、トランスファー21がある程度上昇して
モールド樹脂23が大方キャビティに充填されると、変
速点22に至る。ここで、上下型可動ピン6,7を抜い
て、上下キャビティ2,3を完全に充填してキャビティ
充填完了となる。The movement of the upper and lower movable pins 6 and 7 is performed by using a signal of a shift point of a transfer rise of a molding device (press) on which a mold is mounted. The shift point of the transfer rise is described in FIG.
As shown in (2), when the transfer 21 rises to some extent and the mold resin 23 fills the majority of the cavity, the shift point 22 is reached. Here, the upper and lower mold movable pins 6 and 7 are removed, and the upper and lower cavities 2 and 3 are completely filled to complete the cavity filling.
【0016】したがって、上下型可動ピン6,7はパッ
ケージの形成には何ら支障をきたすことはない。更に、
図4に示すように、ダイパッド4aの押さえる部分には
凹部11を設けて、上下型可動ピン6,7が入るように
する。ここでは、上下型可動ピン4本で押さえた時の例
を示している。Therefore, the upper and lower movable pins 6 and 7 do not hinder the formation of the package. Furthermore,
As shown in FIG. 4, a concave portion 11 is provided in a portion to be held by the die pad 4a so that the upper and lower movable pins 6 and 7 can be inserted. Here, an example is shown in which four upper and lower movable pins are pressed.
【0017】このように構成したので、第1実施例で
は、上下型可動ピン6,7で押さえるダイパッド4aに
凹部11を設けたことにより、ダイパッド4aの上下方
向に加え、横方向のシフトを防ぐことができる。また、
上記実施例では、ダウンセットがない平板状のダイパッ
ドについて説明したが、図5に示すように、ダウンセッ
トがある場合についても実施することができる。With this configuration, in the first embodiment, the concave portion 11 is provided in the die pad 4a pressed by the upper and lower movable pins 6 and 7, thereby preventing the die pad 4a from shifting in the horizontal direction in addition to the vertical direction. be able to. Also,
In the above embodiment, a flat die pad without downset has been described. However, as shown in FIG. 5, the present invention can be applied to a case where there is downset.
【0018】すなわち、ダウンセットがあるリードフレ
ーム5bのダイパッド4bにICチップ1が搭載されて
いる場合にも、同様に実施することができる。次に、本
発明の第2実施例について説明する。図6は本発明の第
2実施例を示す半導体装置の製造装置の要部拡大断面図
である。That is, the present invention can be similarly carried out when the IC chip 1 is mounted on the die pad 4b of the lead frame 5b having the downset. Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 6 is an enlarged sectional view of a main part of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a second embodiment of the present invention.
【0019】この図に示すように、この実施例では、ダ
イパッド4a,4bには、上型可動ピン6の先端のテー
パ部6Aが係止する貫通穴12A、下型可動ピン7の先
端のテーパ部7Aが係止する貫通穴12Bをそれぞれ形
成する。このように構成したので、第2実施例では、上
型可動ピン6、下型可動ピン7のそれぞれがダイパッド
4a,4bに係止することにより、ダイパッド4a,4
bの上下方向に加え、横方向のシフトを防ぐことができ
る。As shown in this figure, in this embodiment, the die pads 4a and 4b have through holes 12A in which the tapered portions 6A at the tips of the upper movable pins 6 are locked, and the taper at the tips of the lower movable pins 7 are provided. Each of the through holes 12B to which the portion 7A is locked is formed. With this configuration, in the second embodiment, the upper die movable pin 6 and the lower die movable pin 7 are locked to the die pads 4a and 4b, respectively, so that the die pads 4a and 4b
The horizontal shift can be prevented in addition to the vertical direction of b.
【0020】また、貫通穴12A,12Bに上下型可動
ピン6,7が入り、ダイパッド4a,4bを固定するた
め、第1実施例より正確な位置決めを行うことができ
る。次に、本発明の第3実施例について説明する。図7
は本発明の第3実施例を示す半導体装置の製造装置の要
部拡大断面図である。Further, since the upper and lower movable pins 6 and 7 enter the through holes 12A and 12B and fix the die pads 4a and 4b, more accurate positioning can be performed than in the first embodiment. Next, a third embodiment of the present invention will be described. FIG.
FIG. 9 is an enlarged sectional view of a main part of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a third embodiment of the present invention.
【0021】この図に示すように、この実施例では、上
型可動ピン6、下型可動ピン7のそれぞれの先端部は円
筒形状をなし、その円筒13内に押圧子14をスプリン
グ15によりバイアスがかかるように装着する。一方、
ダイパッド4a,4bには、ダイパッドサポートが位置
するダイパッド4a,4bの4隅部分に凸部16を形成
する。As shown in this figure, in this embodiment, the tip of each of the upper movable pin 6 and the lower movable pin 7 has a cylindrical shape, and a pressing element 14 is biased by a spring 15 in the cylinder 13. Attach so that on the other hand,
On the die pads 4a and 4b, protrusions 16 are formed at four corners of the die pads 4a and 4b where the die pad support is located.
【0022】そこで、樹脂注入時には、ダイパッド4
a,4bの凸部16を覆うように円筒13が位置すると
ともに、押圧子14が凸部16を押圧する。このように
構成したので、第3実施例では、特に、ダイパッドの厚
みが無く、凹部を付けられないような場合に有効であ
る。なお、本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、
これらを本発明の範囲から排除するものではない。Therefore, when injecting the resin, the die pad 4
The cylinder 13 is positioned so as to cover the convex portions 16a and 4b, and the pressing element 14 presses the convex portions 16. With such a configuration, the third embodiment is particularly effective when the thickness of the die pad is small and a recess cannot be formed. It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible based on the gist of the present invention.
They are not excluded from the scope of the present invention.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、以下のような効果を奏することができる。 (A)樹脂封止時の上下左右方向のリードフレームのダ
イパッドのシフトを十分に抑えることができる。As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained. (A) The shift of the die pad of the lead frame in the vertical and horizontal directions at the time of resin sealing can be sufficiently suppressed.
【0024】(B)上型可動ピン6、下型可動ピンのそ
れぞれをダイパッドに係止することにより、ダイパッド
の上下方向に加え、横方向のシフトを防ぐことができ
る。また、穴にピンが入り、ダイパッドを固定するた
め、第1実施例より正確な位置決めを行うこうとができ
る。 (C)ダイパッドの厚みが無く、凹部を付けられないよ
うな場合に有効である。(B) By locking each of the upper movable pin 6 and the lower movable pin to the die pad, it is possible to prevent the die pad not only in the vertical direction but also in the horizontal direction. Further, since the pins are inserted into the holes and the die pad is fixed, more accurate positioning can be performed than in the first embodiment. (C) It is effective when the thickness of the die pad is not so large that a concave portion cannot be formed.
【図1】本発明の第1実施例を示す半導体装置の製造装
置の断面図である。FIG. 1 is a sectional view of an apparatus for manufacturing a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第1実施例を示す半導体装置のリード
フレームのダイパッドの平面図である。FIG. 2 is a plan view of a die pad of a lead frame of the semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.
【図3】本発明の第1実施例を示す半導体装置の製造に
おけるトランスファー上昇時の変速点の説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a shift point when a transfer is raised in manufacturing the semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第1実施例を示す半導体装置の製造装
置の要部断面図である。FIG. 4 is a sectional view of a main part of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第1実施例の変形例を示す半導体装置
の製造装置の断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view of a semiconductor device manufacturing apparatus showing a modification of the first embodiment of the present invention.
【図6】本発明の第2実施例を示す半導体装置の製造装
置の要部拡大断面図である。FIG. 6 is an enlarged sectional view of a main part of an apparatus for manufacturing a semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.
【図7】本発明の第3実施例を示す半導体装置の製造装
置の要部拡大断面図である。FIG. 7 is an enlarged sectional view of a main part of a semiconductor device manufacturing apparatus according to a third embodiment of the present invention.
1 ICチップ 2 上キャビティ 3 下キャビティ 4a,4b ダイパッド 5a,5b リードフレーム 6 上型可動ピン 6A,7A テーパ部 7 下型可動ピン 8 ダイパッドサポート 9 上型 10 下型 11 凹部 12A,12B 貫通穴 13 円筒 14 押圧子 15 スプリング 16 凸部 21 トランスファー 22 変速点 23 モールド樹脂 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 IC chip 2 Upper cavity 3 Lower cavity 4a, 4b Die pad 5a, 5b Lead frame 6 Upper die movable pin 6A, 7A Taper part 7 Lower die movable pin 8 Die pad support 9 Upper die 10 Lower die 11 Concave part 12A, 12B Through hole 13 Cylinder 14 Presser 15 Spring 16 Convex part 21 Transfer 22 Shift point 23 Mold resin
Claims (10)
モールド金型内にICチップを搭載したリードフレーム
をセットし、(b)前記リードフレームのダイパッドサ
ポートが位置するダイパッドの4隅部分を上下型可動ピ
ンで押さえ、樹脂封止を行うことを特徴とする半導体装
置の製造方法。1. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising:
A lead frame on which an IC chip is mounted is set in a mold, and (b) four corners of the die pad on which the die pad support of the lead frame is located are pressed with upper and lower movable pins to perform resin sealing. Semiconductor device manufacturing method.
おいて、前記上下型可動ピンが当接する前記ダイパッド
の部分に係止部を設け、前記リードフレームの移動を阻
止することを特徴とする半導体装置の製造方法。2. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein a locking portion is provided at a portion of the die pad where the upper and lower mold movable pins abut, to prevent the movement of the lead frame. Device manufacturing method.
おいて、前記上下型可動ピンが、前記ダイパッドに形成
される凹部に当接し、係止することを特徴とする半導体
装置の製造方法。3. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 2, wherein the upper and lower movable pins abut and lock a recess formed in the die pad.
おいて、前記上下型可動ピンが、前記ダイパッドに形成
される穴部に係止することを特徴とする半導体装置の製
造方法。4. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 2, wherein the upper and lower movable pins are engaged with holes formed in the die pad.
おいて、前記上下型可動ピンは、円筒内にバイアスされ
る押圧子を備え、前記ダイパッドに形成される凸部を前
記円筒で覆うとともに、前記凸部を前記押圧子で押さ
え、係止することを特徴とする半導体装置の製造方法。5. The method for manufacturing a semiconductor device according to claim 2, wherein the upper and lower movable pins include a presser biased in a cylinder, and cover the projection formed on the die pad with the cylinder. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising: pressing the projection with the pressing element and locking the projection.
おいて、前記上下型可動ピンは、トランスファー上昇時
の変速点信号を受けて、引き抜いた後、キャビティの完
全充填を行うことを特徴とする半導体装置の製造方法。6. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein the upper and lower movable pins are completely filled with a cavity after being pulled out in response to a shift point signal at the time of transfer rise. A method for manufacturing a semiconductor device.
ドフレームダイパッドサポートが位置するダイパッドの
4隅部分に配置される上下型可動ピンを具備することを
特徴とする半導体装置の製造装置。7. An apparatus for manufacturing a semiconductor device, comprising upper and lower movable pins arranged at four corners of a die pad on which a lead frame die pad support on which an IC chip is mounted on an upper mold and a lower mold of a mold die is located. An apparatus for manufacturing a semiconductor device, comprising:
おいて、前記上下型可動ピンは、前記ダイパッドに形成
される凹部に当接するように配置されることを特徴とす
る半導体装置の製造装置。8. The apparatus for manufacturing a semiconductor device according to claim 7, wherein said upper and lower movable pins are arranged so as to contact a concave portion formed in said die pad.
おいて、前記上下型可動ピンは、前記ダイパッドに形成
される穴部に係合するように配置されることを特徴とす
る半導体装置の製造装置。9. The semiconductor device manufacturing apparatus according to claim 7, wherein said movable pin is disposed so as to engage with a hole formed in said die pad. apparatus.
において、前記上下型可動ピンは、円筒内にバイアスさ
れる押圧子を備え、前記ダイパッドに形成される凸部を
前記円筒で覆うとともに、前記凸部を前記押圧子で押さ
えるように配置することを特徴とする半導体装置の製造
装置。10. The apparatus for manufacturing a semiconductor device according to claim 7, wherein the upper and lower movable pins include a presser biased in a cylinder, and cover the projection formed on the die pad with the cylinder. An apparatus for manufacturing a semiconductor device, wherein the convex portion is arranged to be pressed by the pressing element.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27429497A JPH11111746A (en) | 1997-10-07 | 1997-10-07 | Method and device for manufacturing semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27429497A JPH11111746A (en) | 1997-10-07 | 1997-10-07 | Method and device for manufacturing semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11111746A true JPH11111746A (en) | 1999-04-23 |
Family
ID=17539648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27429497A Withdrawn JPH11111746A (en) | 1997-10-07 | 1997-10-07 | Method and device for manufacturing semiconductor device |
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