JPH11110934A - Manufacture of magnetic head - Google Patents

Manufacture of magnetic head

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JPH11110934A
JPH11110934A JP22065798A JP22065798A JPH11110934A JP H11110934 A JPH11110934 A JP H11110934A JP 22065798 A JP22065798 A JP 22065798A JP 22065798 A JP22065798 A JP 22065798A JP H11110934 A JPH11110934 A JP H11110934A
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JP
Japan
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abs
resist film
row
magnetic head
shape
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Application number
JP22065798A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Toyoda
篤志 豊田
Katsumi Ito
勝実 伊藤
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Yamaha Corp
Original Assignee
Yamaha Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a slider for easily forming prescribed crown and camber shapes in an ABS(Air Bearing Surface) in good yield. SOLUTION: A row 21 having magnetic head elements 21a, 21b and 21c is placed on a work 70, and a resist film 71 for ion milling is stuck to an ABS. A photomask 72 having the pattern in a prescribed rail shape is placed on this resist film 71 and then irradiated with ultraviolet rays, and after it is exposed on the pattern having the prescribed rail shape, parts other than exposed parts 71a, 71b, 71c, 71d, 71e and 71d are dissolved in developing solution to be eliminated. After the ABS on this row 21 is irradiated with argon ions Ar<+> and ion milling is performed, diffusion solution 75 obtained by diffusing the fine particles of a hard inorganic compound from an injection nozzle 74 is injected to the ABS of the row 21 and compression stress is applied on a part clashed with the fine particles.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、磁気ディスク装
置等に用いられる薄膜磁気ヘッドの製造方法に係わり、
特に、記録媒体が回転することにより同記録媒体との対
向面が同記録媒体に対して浮上する浮上型磁気ヘッドの
製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a thin-film magnetic head used in a magnetic disk drive or the like.
In particular, the present invention relates to a method for manufacturing a floating magnetic head in which a surface facing a recording medium floats with respect to the recording medium when the recording medium rotates.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の記録媒体が回転することにより同
記録媒体との対向面が同記録媒体に対して浮上する磁気
ヘッド、いわゆる浮上型磁気ヘッドのスライダの空気ベ
アリング面、即ち、ABS(Air Bearing Surface)が
平坦であると、記録媒体が停止しているときにABSが
記録媒体の記録面に密着状態で着地しているため、記録
媒体を駆動するモータの起動時に大きな起動トルクが必
要となったり、記録媒体の記録面に傷が付く等の問題を
生じるため、スライダーのABSの長さ方向を湾曲形状
(以下、クラウン形状という)にするとともに、スライ
ダーのABSの幅方向を湾曲形状(以下、キャンバー形
状という)にする必要がある。
2. Description of the Related Art An air bearing surface of a slider of a magnetic head, that is, a so-called floating magnetic head, in which a surface facing the recording medium floats with respect to the recording medium by rotation of the recording medium, that is, ABS (Air). When the bearing surface is flat, the ABS lands on the recording surface of the recording medium in close contact with the recording medium when the recording medium is stopped. Therefore, a large starting torque is required when the motor that drives the recording medium is started. In such a case, the length of the ABS of the slider is curved (hereinafter, referred to as a crown shape), and the width of the ABS of the slider is curved. (Hereinafter, it is called a camber shape).

【0003】このため、このような浮上型磁気ヘッドは
次のようにして製造されるものである。即ち、ウェハー
プロセスにより複数の薄膜磁気ヘッド素子を縦方向およ
び横方向に多数形成された磁気ヘッドウェハーを1列の
素子列(ロー、以下、単にローという)に切断し、切断
されたローの両面を研磨加工(両面ラッピング加工)し
た後、このローをワークホルダー(治具)に接着してロ
ーのABSをスロートハイトまで研磨(ラッピング)す
るとともに、ABSの空気流入側にテーパ面を形成す
る。この後、ローの背面を研磨した後、ABSにレール
パターンを形成し、ローをスライダ毎に切断して製造さ
れる。
For this reason, such a floating magnetic head is manufactured as follows. That is, a magnetic head wafer in which a plurality of thin film magnetic head elements are formed in a vertical direction and a horizontal direction by a wafer process is cut into one element row (hereinafter simply referred to as a row), and both sides of the cut row are cut. After polishing (double-sided lapping), this row is bonded to a work holder (jig) to polish (lap) the ABS of the row to the throat height, and to form a tapered surface on the air inflow side of the ABS. Thereafter, the rear surface of the row is polished, a rail pattern is formed on the ABS, and the row is cut for each slider, thereby producing the row.

【0004】ところで、上述した両面ラッピング加工に
より、図8(a)に示すように、ロー80の両表面の極
く薄い層(約3μm)には加工で生じた圧縮応力(図8
(a)の矢印参照)が残留するが、両面ラッピング加工
の特徴である両面の応力の完全なバランスにより、高い
平行度と反りの少ないロー80が得られる。
[0004] By the above-mentioned double-sided lapping process, as shown in FIG. 8 (a), extremely thin layers (about 3 μm) on both surfaces of the row 80 have a compressive stress (see FIG.
(Refer to the arrow in (a)), but due to the perfect balance of the stresses on both sides, which is a feature of the double-sided lapping, a row 80 with high parallelism and less warpage is obtained.

【0005】そして、両面ラッピング加工を施した後、
ロー80を所定のスロートハイトとするためのスロート
ハイト加工を行う。このスロートハイト加工において
は、ロー80を治具に接着し、ロー80のABS81を
片面ラッピング加工する。この片面ラッピング加工によ
る加工応力は両面ラッピング加工による加工応力より小
さいため、両面ラッピング加工によりバランスして残留
した圧縮応力のバランスが崩れ、スロートハイト加工中
に加工面(ABS81)が縮んで凹みを生じるが、図8
(b)に示すように、加工面(ABS81)の変形量は
加工により除去され、背面82側は反り(凸部)を呈す
るようになる。
[0005] After the double-sided lapping process,
Throat height processing is performed to make the row 80 a predetermined throat height. In this throat height processing, the row 80 is bonded to a jig, and the ABS 81 of the row 80 is subjected to one-side lapping. Since the processing stress due to the single-sided lapping is smaller than the processing stress due to the double-sided lapping, the balance of the residual compressive stress which is balanced by the double-sided lapping is broken, and the processing surface (ABS81) shrinks during throat height processing to form a dent. But FIG.
As shown in (b), the amount of deformation of the processing surface (ABS 81) is removed by processing, and the rear surface 82 side is warped (convex).

【0006】スロートハイト加工の後、ロー80の背面
82を微細なダイヤモンド砥粒で片面ラッピング加工す
る。この片面ラッピング加工により背面82側の加工応
力が減少するため、背面82側は縮んで凹みを生じる
が、図8(c)に示すように、加工面(背面82)の変
形量は加工により除去され、逆にABS81側は反り
(凸部)を呈するようになる。
After the throat height processing, the back surface 82 of the row 80 is subjected to single-side lapping with fine diamond abrasive grains. Since the processing stress on the rear surface 82 side is reduced by the one-side lapping, the rear surface 82 shrinks to form a dent. However, as shown in FIG. 8C, the deformation amount of the processed surface (rear surface 82) is removed by the processing. On the contrary, the ABS 81 side shows a warp (convex portion).

【0007】このような加工の後、ロー80を各スライ
ダー80a毎に切断することにより、図8(d)に示す
ように、スライダー80aのABS81aがその長さ方
向(図8(d)のx−x方向)に所定量湾曲したクラウ
ン形状が形成されるとともに、その幅方向(図8(d)
のy−y方向)に所定量湾曲したキャンバ形状が形成さ
れたスライダー80aが得られる。
After such processing, the row 80 is cut for each slider 80a, and as shown in FIG. 8D, the ABS 81a of the slider 80a is moved in the length direction (x in FIG. 8D). A crown shape curved by a predetermined amount in the −x direction is formed, and the crown shape is formed in the width direction (FIG. 8D).
(Y-y direction), a slider 80a having a camber shape curved by a predetermined amount is obtained.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようにロー80を製造すると、ロー80のABSに所
定のクラウン形状およびキャンバ形状が形成される反
面、1列づつに切断されたローの厚み(ABSと背面の
間隔)は0.3〜0.6mmと極めて薄いため、両面ラ
ッピング加工において不均一にラッピングされることと
なって、ABSと背面に生じる残留応力も不均一にな
り、ロー80全体としては曲がり、うねり等を生じて、
ほぼ真直なロー80が得られ難く、歩留まりが悪いとい
う問題を生じた。そこで、この発明は上記問題点に鑑み
てなされたものであって、ABSに所定のクラウン形状
およびキャンバー形状を容易に形成できるスライダーを
歩留まりよく得られるようにすることにある。
However, when the row 80 is manufactured as described above, a predetermined crown shape and camber shape are formed on the ABS of the row 80, but the thickness of the row cut in rows ( Since the distance between the ABS and the rear surface is extremely thin, 0.3 to 0.6 mm, the lapping process is unevenly performed in the double-sided lapping process. Bends, swells, etc.
It was difficult to obtain a substantially straight row 80, and the yield was poor. Therefore, the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a slider that can easily form a predetermined crown shape and camber shape on an ABS with a high yield.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】こ
の発明は、記録媒体が回転することにより同記録媒体と
の対向面が同記録媒体に対して浮上する磁気ヘッドの製
造方法であって、上記課題を解決するために、本発明の
第1の特徴は、複数の薄膜磁気ヘッド素子が複数列形成
された磁気ヘッドウェハーを1列毎に切断した素子列
(ロー)を所定のスロートハイトになるように研磨する
研磨工程と、この研磨工程により研磨された素子列のA
BSを所定のレール形状とするためフォトエッチングす
るフォトエッチング工程と、このフォトエッチング工程
により所定のレール形状に形成されたABSに研磨材を
高速で噴射して同ABSのレール形状以外の部位(な
お、この部位を後述するキャビティという)の表面層に
圧縮応力を発生させる硬化処理工程とを備え、硬化処理
工程により発生した圧縮応力によりABSを所定の湾曲
形状となるように形成したことにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a method for manufacturing a magnetic head in which a surface facing a recording medium floats with respect to the recording medium by rotating the recording medium. In order to solve the above-described problem, a first feature of the present invention is that an element row (row) obtained by cutting a magnetic head wafer in which a plurality of thin film magnetic head elements are formed in a plurality of rows for each row has a predetermined throat height. A polishing step of polishing so as to make the element row polished by the polishing step.
A photo-etching step of photo-etching the BS to have a predetermined rail shape, and a portion other than the rail shape of the ABS by spraying abrasive at a high speed onto the ABS formed in the predetermined rail shape by the photo-etching step. And a hardening step of generating a compressive stress in the surface layer of the cavity (to be described later), and the ABS is formed to have a predetermined curved shape by the compressive stress generated in the hardening step.

【0010】このように、硬化処理工程により所定のレ
ール形状に形成されたABSに研磨材を高速で噴射して
キャビティの表面層に圧縮応力を発生させるようにする
と、キャビティの表面層に残留応力が発生する。ABS
に圧縮応力が残留することにより、この圧縮応力はAB
Sから膨張しようする方向に力が作用するので、この残
留応力に起因してABSに所定のクラウン形状およびキ
ャンバー形状が形成されるようになる。また、ABSを
所定のレール形状に形成した後、引き続いてABSに所
定のクラウン形状およびキャンバー形状が得られるよう
になるので、この種のABSの加工が容易にできるよう
になり、製造工程の簡略化が可能となるとともに、この
種の磁気ヘッドを安価に製造できるようになる。
[0010] As described above, when compressive stress is generated in the surface layer of the cavity by injecting the abrasive at high speed onto the ABS formed into a predetermined rail shape by the hardening process, residual stress is generated in the surface layer of the cavity. Occurs. ABS
, The compressive stress becomes AB
Since a force acts in a direction to expand from S, a predetermined crown shape and camber shape are formed on the ABS due to the residual stress. Further, after the ABS is formed into a predetermined rail shape, a predetermined crown shape and camber shape can be continuously obtained on the ABS, so that it is possible to easily process this kind of ABS and simplify the manufacturing process. This makes it possible to manufacture such a magnetic head at low cost.

【0011】そして、本発明の第2の特徴は、上述した
フォトエッチング工程は、研磨工程により研磨されたロ
ーのABSにミリング用レジストフィルムを貼着するレ
ジストフィルム貼着工程と、このレジストフィルム貼着
工程により貼着されたレジストフィルムを所定のレール
形状のフォトマスクを介して露光する露光工程と、この
露光工程によりレジストフィルムの感光した部位あるい
は感光しない部位をABSより除去するとともに所定の
レール形状になるようにレジストフィルムを残存させる
現像工程と、この現像工程により残存したレジストフィ
ルムをマスクとしてエッチングするイオンミリング工程
とを備え、このイオンミリング工程によりABSに所定
のレール形状を形成するようにしている。
[0011] A second feature of the present invention is that the photo-etching step includes a resist film adhering step of adhering a milling resist film to the raw ABS polished in the polishing step, and a resist film adhering step. An exposure step of exposing the resist film adhered in the attaching step through a photomask having a predetermined rail shape, and removing an exposed or unexposed part of the resist film from the ABS by the exposure step and a predetermined rail shape. A developing step of leaving the resist film so that the resist film remains, and an ion milling step of etching using the resist film remaining in the developing step as a mask, and forming a predetermined rail shape on the ABS by the ion milling step. I have.

【0012】このように、ABSにミリング用レジスト
フィルムを貼着した後、このレジストフィルムを所定の
形状のフォトマスクを介して露光して現像することによ
り、ミリング用レジストフィルムの感光した部位あるい
は感光しない部位が除去されて、ミリング用レジストフ
ィルムに所定のレール形状が形成される。この所定のレ
ール形状に形成されたミリング用レジストフィルムが残
存するABSにアルゴンイオン等を照射してイオンミリ
ングによりエッチングすることにより、所定のレール形
状に形成されたミリング用レジストフィルムが残存した
状態で正確に所定のレール形状のABSが形成されるよ
うになる。
As described above, after the milling resist film is adhered to the ABS, the resist film is exposed to light through a photomask having a predetermined shape and developed to thereby expose the milled resist film to a light-sensitive portion or a light-sensitive portion. The portions not to be removed are removed, and a predetermined rail shape is formed on the milling resist film. By irradiating the ABS where the resist film for milling formed in this predetermined rail shape remains with argon ions or the like and performing ion milling, the resist film for milling formed in the predetermined rail shape is left. An ABS having a predetermined rail shape is accurately formed.

【0013】このため、次工程の硬化処理工程におい
て、ABSに研磨材を高速で噴射しても、ミリング用レ
ジストフィルムが残存している部分には圧縮応力を生じ
させることなく、レール形状以外の部位(キャビティ)
の表面層に圧縮応力を発生させることができるようにな
る。ABSに圧縮応力が残留することにより、この圧縮
応力はABSから膨張しようする方向に力が作用するの
で、この残留応力に起因してABSに所定のクラウン形
状およびキャンバー形状が形成されるようになる。
For this reason, in the subsequent curing step, even if the abrasive is sprayed on the ABS at a high speed, a compressive stress is not generated in the portion where the resist film for milling remains, and the portion other than the rail shape is formed. Site (cavity)
A compressive stress can be generated in the surface layer of When a compressive stress remains in the ABS, a force acts in a direction in which the compressive stress expands from the ABS, so that a predetermined crown shape and camber shape are formed in the ABS due to the residual stress. .

【0014】さらに、本発明の第3の特徴は、上述の研
磨材は硬質の無機化合物からなる微粒子としたことにあ
る。ABSに衝突する微粒子が硬質の無機化合物である
と、この微粒子が衝突した部位には容易に圧縮応力が発
生する。この圧縮応力は微粒子の粒度、衝突速度あるい
は衝突面の面積を調節することにより自由に調整するこ
とが可能であるので、この微粒子の衝突により形成され
るクラウン形状およびキャンバー形状は自由に調整でき
るようになる。
A third feature of the present invention resides in that the above-mentioned abrasive is made of fine particles made of a hard inorganic compound. If the fine particles that collide with the ABS are hard inorganic compounds, compressive stress is easily generated at the site where the fine particles collide. This compressive stress can be freely adjusted by adjusting the particle size of the fine particles, the collision speed or the area of the collision surface, so that the crown shape and camber shape formed by the collision of the fine particles can be freely adjusted. become.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、この発明の磁気ヘッドの製
造方法の好適な実施形態を図1〜図6を参照しながら、
以下の1〜10の工程順に説明する。なお、図1はウェ
ハープロセスにより複数の薄膜磁気ヘッド素子が縦方向
および横方向に多数形成された磁気ヘッドウェハーを模
式的に示す図であり、図2はスライシング工程において
磁気ヘッドウェハーの素子列(ロー;以下、ローとい
う)を複数列毎のブロックに切断した状態を示す図であ
り、図3は切断されたブロックをワークホルダー(治
具)に接着し、このブロックの最下段のローのABSを
ラッピングする状態を示す図であり、図4はラッピング
後のローを切断する状態を示す図であり、図5は切断さ
れた1列のローを示す図であり、図6は1列のローのA
BSにレールを形成するためのフォトエッチングから硬
化処理まで一連の工程を示す図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A preferred embodiment of a method of manufacturing a magnetic head according to the present invention will be described below with reference to FIGS.
Description will be made in the following order of steps 1 to 10. FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a magnetic head wafer in which a plurality of thin film magnetic head elements are formed in a vertical direction and a horizontal direction by a wafer process, and FIG. 2 is a diagram illustrating an element array of the magnetic head wafer in a slicing process. FIG. 3 is a view showing a state in which a row is cut into blocks for each of a plurality of rows. FIG. 3 shows a state in which the cut block is bonded to a work holder (jig), and the ABS of the lowest row of this block is attached. FIG. 4 is a view showing a state in which a row after wrapping is cut, FIG. 5 is a view showing a cut row of one row, and FIG. 6 is a view showing one row of cut row. A
It is a figure which shows a series of processes from photoetching for forming a rail in BS to hardening process.

【0016】1.ブロック切断工程 図1に示すように、磁気ヘッドウェハー10はMg
2,CaF2,SrF2,BaF2,LiF等のフッ化物
を含有するアルミナ焼結体よりなる基板の表面10a
に、ウェハープロセスにより複数の薄膜磁気ヘッド素子
が縦方向のロー11,12,13・・・となるように多
数形成されている。例えば、縦方向のロー11には薄膜
磁気ヘッド素子11a,11b,11c・・・が多数形
成されている。なお、ロー12,13・・・についても
同様である。
1. Block cutting step As shown in FIG.
Surface 10a of substrate made of sintered alumina containing fluoride such as F 2 , CaF 2 , SrF 2 , BaF 2 , and LiF
A plurality of thin film magnetic head elements are formed by a wafer process so as to be rows 11, 12, 13,... In the vertical direction. For example, a number of thin-film magnetic head elements 11a, 11b, 11c,... Note that the same applies to the rows 12, 13,....

【0017】このように、薄膜磁気ヘッド素子が縦方向
のロー11,12,13・・・として形成された磁気ヘ
ッドウェハー10のロー11,12,13・・・の複数
列(例えば10列)を1ブロックとして、図2に示すよ
うに、複数のブロック20,30,40・・・(なお、
図2においてはブロック20,30,40のみを示して
いるが、実際は多数のブロック(例えば10ブロック)
となる)に切断する。このように、ブロック20,3
0,40毎に磁気ヘッドウェハー10を切断すると、各
ブロック20,30,40は磁気ヘッドウェハー10の
高い真直度を保持したまま切断されるとともに、切断さ
れた各ブロック20,30,40は1列のローに比較し
てはるかに剛性が高いので、真直度の高いブロック2
0,30,40となる。
Thus, a plurality of rows (for example, 10 rows) of rows 11, 12, 13,... Of the magnetic head wafer 10 in which the thin-film magnetic head elements are formed as the rows 11, 12, 13,. As one block, as shown in FIG. 2, a plurality of blocks 20, 30, 40,.
Although FIG. 2 shows only the blocks 20, 30, and 40, actually, a large number of blocks (for example, 10 blocks)
Cut). Thus, blocks 20, 3
When the magnetic head wafer 10 is cut at every 0, 40, the blocks 20, 30, 40 are cut while maintaining the high straightness of the magnetic head wafer 10, and the cut blocks 20, 30, 40 are cut at 1, respectively. High straightness block 2 because it is much stiffer than row rows
0, 30, and 40.

【0018】このようにして切断された1ブロック、例
えばブロック20は、ロー21,22・・・からなり、
ロー21(ロー22・・・についても同様である)には
薄膜磁気ヘッド素子21a,21b,22c・・・が形
成されている。そして、このブロック20(30,4
0)の側面20a(30a,40a)はABSとなり、
側面20b(30b,40b)はABSに対する背面と
なる。以後の工程においては、説明を簡単にするために
ブロック20についてのみ説明する。
One block cut in this way, for example, block 20, is made up of rows 21, 22,.
The rows 21 (the same applies to the rows 22...) Are formed with thin-film magnetic head elements 21 a, 21 b, 22 c. Then, this block 20 (30, 4)
0) side surface 20a (30a, 40a) becomes ABS,
The side surface 20b (30b, 40b) is the back surface for the ABS. In the subsequent steps, only the block 20 will be described to simplify the description.

【0019】2.ラッピング工程 上述のようにして作製したブロック20を、図3に示す
ようなワークホルダー(治具)50の取り付け面上に載
置し、ブロック20の端部とワークホルダー50の取り
付け面とをロジン系ワックスなどの接着剤51で接着す
る。このとき、ブロック20の最下段のローの背面が接
着面となるように、即ち、ブロック20の最上端のロー
のABSが上端面となるようにして、ブロック20はワ
ークホルダー50の取り付け面上に接着される。
2. Lapping Step The block 20 manufactured as described above is placed on the mounting surface of the work holder (jig) 50 as shown in FIG. 3, and the end of the block 20 and the mounting surface of the work holder 50 are rosin-bonded. Adhesion is performed with an adhesive 51 such as a system wax. At this time, the back surface of the lowermost row of the block 20 serves as an adhesive surface, that is, the ABS of the uppermost row of the block 20 serves as an upper end surface. Adhered to.

【0020】この後、このワークホルダー50に接着さ
れたブロック20が下向きとなるようにワークホルダー
50を回転させて、図3に示すようなラップ盤60の上
に載置する。そして、研磨砥粒容器61内に収容された
ダイヤモンド0.5μmなどからなる研磨砥粒62をポ
ンプ63にてラップ盤60上に吹き付けながらラップ盤
60を回転させてブロック20の最下段のローのABS
をラッピングする。このラッピングに際して、図5に示
すように、ロー21の底面(図5のα線)からラッピン
グの目標位置(図5のβ線)まで加工する。なお、図5
のγ線はエレメントハイトの基準線となり、β線からγ
線までの高さがエレメントハイト(例えば1μmであっ
て、MRヘッドの場合はMR素子の高さ)となる。
Thereafter, the work holder 50 is rotated so that the block 20 adhered to the work holder 50 faces downward, and is placed on a lapping machine 60 as shown in FIG. Then, the lapping machine 60 is rotated while spraying the polishing abrasive grains 62 made of diamond 0.5 μm or the like accommodated in the polishing abrasive grain container 61 onto the lapping board 60 by the pump 63, so that the lowermost row of the block 20 is removed. ABS
Wrap. At the time of this lapping, as shown in FIG. 5, processing is performed from the bottom of the row 21 (α line in FIG. 5) to the target position of lapping (β line in FIG. 5). FIG.
Is the reference line for the element height, and
The height to the line is the element height (for example, 1 μm, and in the case of an MR head, the height of the MR element).

【0021】3.ロー切断工程 ブロック20の最下段のローのABSを所定のエレメン
トハイトとなるようにラッピングした後、ワークホルダ
ー50をラップ盤60上から取り外して、図4に示すよ
うに、ワークホルダー50を横向きにし、ABSが所定
のエレメントハイトとなるようにラッピングされたロー
21を図示しない切断ブレードを回転させて切断する。
3. Row Cutting Step After wrapping the ABS of the lower row of the block 20 so as to have a predetermined element height, the work holder 50 is removed from the lapping machine 60, and the work holder 50 is turned sideways as shown in FIG. Then, the row 21 wrapped so that the ABS has a predetermined element height is cut by rotating a cutting blade (not shown).

【0022】このようにして、ブロック20の最下段の
ローのABSを所定のエレメントハイトとなるようにラ
ッピングするようにすると、ブロック20は1列のロー
に比較して剛性が大きくかつその真直度が大きいため、
このABSが均一になってラッピング加工を効率よく行
うことができるようになる。また、ABSが均一である
と、このローのエレメントハイトも均一になって歩留ま
りのよいラッピング加工が行えるようになる。
In this manner, when the ABS of the lowermost row of the block 20 is wrapped so as to have a predetermined element height, the block 20 has greater rigidity and straightness than the row of rows. Is large,
This ABS becomes uniform, so that the lapping process can be performed efficiently. Further, when the ABS is uniform, the element height of the row is also uniform, so that lapping with a good yield can be performed.

【0023】4.反復工程 このようにして、ABSが所定のエレメントハイトとな
るようにラッピングされたロー21を切断することによ
り、ブロック20はロー21を切断した分だけ短くな
る。ついで、再度、このように短くなったブロック20
が接着されたワークホルダー50をラップ盤60の上に
載置して、研磨砥粒容器61内に収容されたダイヤモン
ド0.5μmなどからなる研磨砥粒62をポンプ63に
てラップ盤60上に吹き付けながらラップ盤60を回転
させて、短くなったブロック20の最下段のロー22の
ABSをラッピングし、ロー22のエレメントハイトが
所定の高さになるまでラッピング加工する。
4. Iterative process In this manner, by cutting the wrapped row 21 so that the ABS has a predetermined element height, the block 20 is shortened by the length of the cut of the row 21. Then, again, the block 20 thus shortened
The work holder 50 to which is adhered is placed on a lapping machine 60, and polishing abrasive grains 62 made of diamond 0.5 μm or the like stored in a polishing abrasive grain container 61 are placed on the lapping machine 60 by a pump 63. The lapping machine 60 is rotated while spraying to wrap the ABS of the lower row 22 of the shortened block 20 until the element height of the row 22 reaches a predetermined height.

【0024】ロー22のABSをラッピングした後、ワ
ークホルダー50をラップ盤60上から取り外してワー
クホルダー50を横向きにし、ロー21を切断した場合
と同様にロー22を切断する。
After wrapping the ABS of the row 22, the work holder 50 is removed from the lapping machine 60, the work holder 50 is turned sideways, and the row 22 is cut in the same manner as when the row 21 is cut.

【0025】このようなラッピング加工、ロー切断の加
工処理を繰り返し、ブロック20の残りのローが1列に
なっときに最後のラッピング加工を行って、ブロック2
0のラッピング加工、切断の処理を終了する。ブロック
30,40・・・についても同様にしてラッピング加
工、切断の処理を行って、各ローのABSが所定のエレ
メントハイトになるようする。
The above lapping and row cutting processes are repeated, and when the remaining rows of the block 20 are aligned, the last lapping process is performed.
The wrapping processing and cutting processing of 0 are completed. Similarly, wrapping and cutting are performed on the blocks 30, 40,... So that the ABS of each row has a predetermined element height.

【0026】ついで、このようにして各ローのABSが
所定のエレメントハイトとなるようにラッピング加工さ
れた各ロー21,22・・・のABSが接着面となるよ
うに、即ち、背面がラッピング加工面となるようにそれ
ぞれワークホルダー50に接着し、上述したABSのラ
ッピング加工と同様にして各ロー21,22,・・・の
背面をそれぞれラッピング加工する。この場合、背面の
ラッピング加工はABSのラッピング加工により生じた
残留圧縮応力とほぼバランスするような残留圧縮応力が
生じるようにラッピング加工する必要がある。
Then, the ABS of each row 21, 22... Wrapped so that the ABS of each row has a predetermined element height becomes an adhesive surface, that is, the back surface is wrapped. Are adhered to the work holders 50 so as to form surfaces, and the back surfaces of the rows 21, 22,... Are each wrapped in the same manner as the ABS lapping process described above. In this case, it is necessary to perform the lapping process on the back surface so as to generate a residual compressive stress that substantially balances the residual compressive stress generated by the ABS lapping process.

【0027】このようにして、ABSが所定のエレメン
トハイトとなるようにラッピング加工された各ロー2
1,22・・・を順次ロー21,22・・・毎に切断し
た後、各ロー21,22,・・・の背面をそれぞれラッ
ピング加工することにより、図5に示すように、複数個
の磁気ヘッド素子21a,21b,21c,21d,2
1e,21fを有するロー21(なお、他のローについ
ても同様である)が作製される。なお、図5において
は、磁気ヘッド素子は21a,21b,21c,21
d,21e,21fの6個が示されているが、この個数
は磁気ヘッドウェハー10の作製時に決定され、何個の
素子としても良い。
In this manner, each row 2 wrapped so that the ABS has a predetermined element height.
., Are sequentially cut for each row 21, 22,..., And the back surface of each row 21, 22,. Magnetic head elements 21a, 21b, 21c, 21d, 2
A row 21 having 1e and 21f (the same applies to other rows) is produced. In FIG. 5, the magnetic head elements 21a, 21b, 21c, 21
Although six d, 21e, and 21f are shown, the number is determined when the magnetic head wafer 10 is manufactured, and may be any number of elements.

【0028】5.レジストフィルム貼着工程 このようにして作製したロー21を、図6(a)に示す
ように、短冊状のワーク70上に載置する。ついで、ワ
ーク70上に載置したロー21のABS上にイオンミリ
ング用レジストフィルム71を貼着する。このイオンミ
リング用レジストフィルム71は感光性樹脂からなり、
紫外線が当たることにより現像液(例えば、水酸化ナト
リウム(NaOH)水溶液)に浸漬しても溶け難いネガ
型の感光性樹脂により形成されている。なお、感光性樹
脂は紫外線が当たることにより現像液に浸漬すると溶け
易くなるポジ型の感光性樹脂を用いても良い。
5. Resist Film Attaching Step The row 21 manufactured as described above is placed on a strip-shaped work 70 as shown in FIG. Next, a resist film 71 for ion milling is attached on the ABS of the row 21 placed on the work 70. This ion milling resist film 71 is made of a photosensitive resin,
It is formed of a negative photosensitive resin that is hardly soluble even when immersed in a developing solution (for example, an aqueous solution of sodium hydroxide (NaOH)) by being irradiated with ultraviolet rays. As the photosensitive resin, a positive photosensitive resin which is easily melted when immersed in a developer by being irradiated with ultraviolet rays may be used.

【0029】6.露光工程 ついで、図6(b)に示すように、ABS上にイオンミ
リング用レジストフィルム71が貼着されたロー21の
ABSに所定のレール形状のパターンが形成されたフォ
トマスク72を載置し、このフォトマスク72の上部に
配置した紫外線ランプ73よりフォトマスク72上に紫
外線を照射する。フォトマスク72上に紫外線を照射す
ると、所定のレール形状のパターンが形成されたフォト
マスク72を通過した紫外線はイオンミリング用レジス
トフィルム71を所定のレール形状のパターンに感光す
る。イオンミリング用レジストフィルム71の紫外線に
より感光した部分71a,71b,71c,71d,7
1e,71fは硬化し、後の現像工程において現像液
(例えば、水酸化ナトリウム(NaOH)水溶液)に浸
漬しても溶けにくくなる。
6. Exposure Step Next, as shown in FIG. 6B, a photomask 72 on which a predetermined rail-shaped pattern is formed is placed on the ABS of the row 21 in which the ion milling resist film 71 is stuck on the ABS. Then, ultraviolet rays are irradiated on the photomask 72 from an ultraviolet lamp 73 disposed above the photomask 72. When the photomask 72 is irradiated with ultraviolet rays, the ultraviolet rays that have passed through the photomask 72 on which the predetermined rail-shaped pattern is formed expose the ion milling resist film 71 to the predetermined rail-shaped pattern. UV-exposed portions 71a, 71b, 71c, 71d, 7 of the ion milling resist film 71
1e and 71f are hardened and hardly dissolved even when immersed in a developing solution (for example, sodium hydroxide (NaOH) aqueous solution) in a later developing step.

【0030】7.現像工程 ついで、イオンミリング用レジストフィルム71を所定
のレール形状のパターンに感光したロー21を現像液
(例えば、水酸化ナトリウム(NaOH)水溶液)に浸
漬し、イオンミリング用レジストフィルム71の感光さ
れた部分71a,71b,71c,71d,71e,7
1f以外の部分のミリング用レジストフィルム30を現
像液(例えば、水酸化ナトリウム(NaOH)水溶液)
に溶解させて除去するとともに、感光された部分71
a,71b,71c,71d,71e,71fを残存さ
せる。
[7] Developing Step Next, the row 21 in which the ion milling resist film 71 was exposed to a predetermined rail-shaped pattern was immersed in a developing solution (for example, an aqueous solution of sodium hydroxide (NaOH)) to expose the ion milling resist film 71 to light. Portions 71a, 71b, 71c, 71d, 71e, 7
The milling resist film 30 in a portion other than 1f is developed with a developing solution (for example, sodium hydroxide (NaOH) aqueous solution)
To remove the exposed portion 71
a, 71b, 71c, 71d, 71e, 71f are left.

【0031】8.イオンミリング工程 ついで、図6(c)に示すように所定のレールパターン
に感光された部分71a,71b,71c,71d,7
1e,71fが残存したロー21のABS上にアルゴン
イオンAr+を照射し、イオンミリング用レジストフィ
ルム71の感光された部分71a,71b,71c,7
1d,71e,71fをマスクとしてイオンミリングを
行う。このイオンミリングにより、図6(d)に示すよ
うに、ABSのイオンミリング用レジストフィルム71
が残存した部分71a,71b,71c,71d,71
e,71f以外のABSの部位21g,21h,21
i,21j,21k,21l,21mは溝状にエッチン
グされて、図7に例示すようなレールパターンが形成さ
れる。
8. Ion Milling Step Next, as shown in FIG. 6C, portions 71a, 71b, 71c, 71d, and 7 exposed to a predetermined rail pattern.
Irradiation of argon ions Ar + onto the ABS of the row 21 with the remaining 1e and 71f is performed, and the exposed portions 71a, 71b, 71c and 7 of the resist film 71 for ion milling are irradiated.
Ion milling is performed using 1d, 71e and 71f as a mask. By this ion milling, as shown in FIG. 6D, the resist film 71 for ion milling of ABS is used.
71a, 71b, 71c, 71d, 71 where
e, sites 21g, 21h, 21 of ABS other than 71f
The grooves i, 21j, 21k, 211, and 21m are etched into grooves to form a rail pattern as shown in FIG.

【0032】9.硬化処理工程 イオンミリングを行った後、ABSに残存したイオンミ
リング用レジストフィルム71をそのまま使用して、即
ち、イオンミリング用レジストフィルム71の感光され
た部分71a,71b,71c,71d,71e,71
fをマスクとして図6(d)に示すように、噴射装置7
4より硬質無機化合物、例えば、炭化珪素(SiC)、
二酸化珪素(SiO2)、酸化アルミニウム(Al
23)等の粒度が1000〜2000メッシュの微粒子
を分散させた分散液75をロー21のABSに向けて高
速で噴射してウェットブラスト加工(あるいはホーニン
グ加工)を行う。
9. Curing Step After the ion milling, the ion milling resist film 71 remaining on the ABS is used as it is, that is, the exposed portions 71a, 71b, 71c, 71d, 71e, 71 of the ion milling resist film 71.
As shown in FIG. 6D, using the f as a mask,
4, harder inorganic compounds such as silicon carbide (SiC),
Silicon dioxide (SiO 2 ), aluminum oxide (Al
A dispersion 75 in which fine particles having a particle size of 1000 to 2000 mesh such as 2 O 3 ) are dispersed is jetted at high speed toward the ABS of the row 21 to perform wet blasting (or honing).

【0033】このウェットブラスト加工においては、残
存したイオンミリング用レジストフィルム71が削られ
る量は非常に少ないため、新たなレジストフィルム等を
追加してウェットブラスト用のマスクを形成する必要が
ない。また、ウェットブラスト加工時には、レール面自
体は残存したイオンミリング用レジストフィルム71で
保護されているので、ウェットブラスト加工による損傷
を受けることがない。また、レール面とレール面との間
の溝状の領域、即ち上述したイオンミリング加工が施さ
れた部分はキャビティと呼ばれるが、キャビティ全体に
亘ってイオンミリング用レジストフィルム71が設けら
れていないため、キャビティ全体にウェットブラスト加
工が施される。
In this wet blasting process, since the amount of the remaining resist film 71 for ion milling is extremely small, it is not necessary to form a mask for wet blast by adding a new resist film or the like. In addition, at the time of wet blasting, the rail surface itself is protected by the remaining resist film 71 for ion milling, so that it is not damaged by the wet blasting. Further, the groove-shaped region between the rail surfaces, that is, the portion on which the above-described ion milling is performed is called a cavity. However, since the ion milling resist film 71 is not provided over the entire cavity. The entire cavity is subjected to wet blasting.

【0034】キャビティ全体の深さ(ローの主平面に対
して垂直な方向に沿った距離)は、イオンミリング加工
とウェットブラスト加工の両加工により決定されるが、
形成されるキャビティの深さの80〜90%は、イオン
ミリング加工により形成され、全体の10〜20%の深
さはウェットブラスト加工により形成される。なお、こ
の高速噴射における水圧は3〜5kg/cm2とし、噴
射時間は30秒〜2分程度とするのが好ましい。
The depth of the entire cavity (the distance along the direction perpendicular to the main plane of the row) is determined by both ion milling and wet blasting.
80 to 90% of the depth of the formed cavity is formed by ion milling, and the entire depth of 10 to 20% is formed by wet blasting. The water pressure in this high-speed injection is preferably 3 to 5 kg / cm 2 , and the injection time is preferably about 30 seconds to 2 minutes.

【0035】この微粒子の高速噴射により、所定のレー
ル形状のパターンに感光された部分71a,71b,7
1c,71d,71e,71fが残存したロー21のA
BS以外の部位21g,21h,21i,21j,21
k,21l,21mに微粒子が衝突する。この微粒子が
衝突した部位21g,21h,21i,21j,21
k,21l,21mの表面層には衝突力により圧縮応力
が作用する。この微粒子が衝突した部位21g,21
h,21i,21j,21k,21l,21mの表面層
に圧縮応力が作用すると、この圧縮応力は残留し、残留
した圧縮応力はABSから膨張しようする方向に力が作
用する。
The portions 71a, 71b, 7 exposed to a predetermined rail-shaped pattern by the high-speed injection of the fine particles.
A of row 21 with 1c, 71d, 71e, 71f remaining
Parts 21g, 21h, 21i, 21j, 21 other than BS
Particles collide with k, 211 and 21m. 21g, 21h, 21i, 21j, 21 where these particles collided
Compressive stress acts on the surface layers of k, 211, and 21m due to the impact force. 21g, 21 where these particles collided
When a compressive stress acts on the surface layers of h, 21i, 21j, 21k, 211, and 21m, the compressive stress remains, and the residual compressive stress acts in a direction in which the ABS expands from the ABS.

【0036】一方、ABSの内、微粒子が衝突した部位
21g,21h,21i,21j,21k,21l,2
1m以外の部位、即ち、残存したイオンミリング用レジ
ストフィルム71が有る部分(71a,71b,71
c,71d,71e,71f)は膨張を妨げるように作
用するので、この残留応力に起因して所定のレール形状
のパターンに応じてABSは湾曲し、所定のレール形状
のパターンに応じたクラウン形状およびキャンバー形状
が形成されるようになる。したがって、レール形状のパ
ターンを変化させることにより、自由にクラウン形状お
よびキャンバー形状を調整できるようになる。
On the other hand, portions 21g, 21h, 21i, 21j, 21k, 211, and 2 of the ABS where the particles collided.
A portion other than 1 m, that is, portions (71a, 71b, 71) having the remaining ion milling resist film 71.
c, 71d, 71e, and 71f) act to prevent expansion, so that the ABS is curved in accordance with a predetermined rail shape pattern due to the residual stress, and the crown shape is determined in accordance with the predetermined rail shape pattern. And a camber shape is formed. Therefore, the crown shape and the camber shape can be freely adjusted by changing the rail shape pattern.

【0037】本発明においては、まず、イオンミリング
加工を施して、キャビティの深さの大部分を形成してお
いてから、つづいて、ウェットブラスト加工を施してい
るので、キャビティが形成されていないローにそのまま
ウェットブラスト加工を施してクラウン形状およびキャ
ンバー形状を形成する場合に比べて、より少ない加工応
力でクラウン形状およびキャンバー形状を形成すること
ができ、過大なクラウン形状およびキャンバー形状が生
じたり、ローがねじれたりすることがなく、加工応力を
制御しやすくなる。
In the present invention, first, ion milling is performed to form a large part of the depth of the cavity, and subsequently, wet blasting is performed, so that no cavity is formed. Compared to forming a crown and camber shape by performing wet blasting on the raw as it is, it is possible to form a crown shape and camber shape with less processing stress, and an excessive crown shape and camber shape may occur, The processing stress can be easily controlled without the row being twisted.

【0038】一方、キャビティの一部の領域にウェット
ブラスト加工を施して加工応力を発生させる場合には、
ウェットブラスト加工を施す領域が狭いので、キャビテ
ィの中にさらに深さが異なる溝が生じる程の深さまでウ
ェットブラスト加工を施さないと、所望の加工応力を生
じさせることができない。このような加工の結果、キャ
ビティ中に段差を生じることとなる。このような深さの
異なる溝あるいは段差は、スライダの浮上特性に悪影響
を及ぼす。
On the other hand, when wet blasting is performed on a part of the cavity to generate processing stress,
Since the region where the wet blasting is performed is narrow, a desired processing stress cannot be generated unless the wet blasting is performed to such a depth that a groove having a further different depth is formed in the cavity. As a result of such processing, a step is generated in the cavity. Such grooves or steps having different depths adversely affect the flying characteristics of the slider.

【0039】しかしながら、本発明においては、イオン
ミリング加工時のイオンミリング用レジストフィルム7
1をそのままマスクとして使用して、ウェットブラスト
加工を施すので、キャビティ部全体にウェットブラスト
加工を施すことが可能となり、キャビティの中に深さの
異なる新たな溝あるいは段差を生じさせることがない。
この結果、スライダの浮上特性に悪影響を及ぼすことも
ない。
However, in the present invention, the ion milling resist film 7 during the ion milling process is used.
Since wet blasting is performed by using 1 as it is as a mask, wet blasting can be performed on the entire cavity portion, and no new groove or step having a different depth is generated in the cavity.
As a result, the flying characteristics of the slider are not adversely affected.

【0040】そして、微粒子が衝突することにより発生
する圧縮応力は微粒子の粒度あるいは衝突速度を調節す
ることにより自由に調整することが可能であるので、こ
の微粒子の衝突により形成されるクラウン形状およびキ
ャンバー形状は自由に調整できるようになる。
Since the compressive stress generated by the collision of the fine particles can be freely adjusted by adjusting the particle size or the collision speed of the fine particles, the crown shape and the camber formed by the collision of the fine particles can be adjusted. The shape can be adjusted freely.

【0041】10.スライダ作製工程 硬化処理工程により、各薄膜磁気ヘッド素子21a,2
1b,21c,21d,21e,21fのABSが所定
のレール形状となったロー21を洗浄液で洗浄してイオ
ンミリング用レジストフィルム71を除去した後、各薄
膜磁気ヘッド素子21a,21b,21c,21d,2
1e,21f毎に切断し、ABSが所定のクラウン形状
およびキャンバー形状となったスライダーが得られる。
10. Slider manufacturing process By the hardening process, each thin-film magnetic head element 21a, 2
After the row 21 in which the ABS of 1b, 21c, 21d, 21e and 21f has a predetermined rail shape is washed with a washing liquid to remove the ion milling resist film 71, the thin film magnetic head elements 21a, 21b, 21c and 21d are removed. , 2
The slider is cut at each of 1e and 21f to obtain a slider in which the ABS has a predetermined crown shape and camber shape.

【0042】図7はロー21のABSであるレール形状
のパターンの例を示す図であり、これらの図に示すよう
なレール形状のパターンになるようにフォトマスク72
のレール形状のパターンは形成されている。なお、図7
において、ハッチング部は硬化処理工程において微粒子
が衝突した部分、即ちキャビティを示しており、図7の
上部は各スライダの前部(空気流入側)となり、図7の
下部は各スライダの後部(空気流出側)となる。
FIG. 7 is a view showing an example of a rail-shaped pattern which is the ABS of the row 21. The photomask 72 is formed so as to have a rail-shaped pattern as shown in these figures.
Are formed. FIG.
In FIG. 7, a hatched portion indicates a portion where fine particles collide in the curing process, that is, a cavity. The upper part of FIG. 7 is a front part (air inflow side) of each slider, and the lower part of FIG. (Outflow side).

【0043】ここで、図7(1)においては、ABSが
コ字状のレール形状となるように、スライダAの左右両
端部A1,A2および中央部A3に微粒子を衝突させる。
図7(2)においては、スライダBのコ字状の両側辺の
中央部が内方に突起したレール形状となるように、スラ
イダBの左右両端部B1,B2および中央部B3に微粒子
を衝突させる。図7(3)においては、スライダCの前
部のABSに左右対称に四角形のレール形状に形成する
とともに、後部のABSにコ字状のレール形状に形成す
るために、スライダCの中央部C1に微粒子を衝突させ
る。
Here, in FIG. 7A, fine particles are made to collide with the left and right end portions A 1 and A 2 and the center portion A 3 of the slider A so that the ABS has a U-shaped rail shape.
In FIG. 7 (2), the left and right ends B 1 , B 2 and the center B 3 of the slider B are arranged so that the center of both sides of the U-shape of the slider B has a rail shape protruding inward. Collision with fine particles. In FIG. 7 (3), in order to form a square rail shape symmetrically on the front ABS of the slider C and to form a U-shaped rail shape on the rear ABS, a center portion C of the slider C is formed. Particles are made to collide with 1 .

【0044】図7(4)においては、スライダDの前部
のABSに左右対称に四角形のレール形状に形成すると
ともに、後部のABSにコ字状の両側辺上部に傾斜部を
設けたレール形状に形成するために、スライダDの中央
部D1に微粒子を衝突させる。図7(5)においては、
スライダEの前部のABSに左右対称に四角形のレール
形状に形成するとともに、後部のABSに左右対称に鉤
型のレール形状に形成形成するために、スライダEの中
央部E1に微粒子を衝突させる。図7(6)において
は、スライダFの前部のABSに左右対称に四角形のレ
ール形状に形成するとともに、後部のABSに左右対称
に長方形の一辺を傾斜させたレール形状に形成形成する
ために、スライダFの中央部F1に微粒子を衝突させ
る。
In FIG. 7 (4), the slider D is formed to have a square rail shape symmetrically with respect to the ABS at the front portion of the slider D, and the inclined portion is formed at the rear portion of the ABS at the upper portion of both sides of the U-shape. to form, the impinging particles in the central portion D 1 of the slider D. In FIG. 7 (5),
And forming the front of the rail shape of a square symmetrically ABS of the slider E, in order to form form the rail shape of the hook-shaped symmetrically to the rear of the ABS, collision particulates in the central portion E 1 of the slider E Let it. In FIG. 7 (6), the slider F is formed in a square rail shape symmetrically on the front ABS on the front portion, and is formed on the rear ABS symmetrically in a rail shape in which one side of the rectangle is inclined symmetrically on the left and right sides. , colliding fine particles in the central portion F 1 of the slider F.

【0045】なお、上記各スライダA,B,C,D,
E,Fにおいては、スライダA,B,C,D,E,Fの
長さ方向の硬化面積(図7のハッチング部)が大きくな
るほど、即ち、スライダA→B→C→D→E→Fとなる
にしたがってクラウン形状が大きくなり、スライダA,
B,C,D,E,Fの幅方向の硬化面積(図7のハッチ
ング部)が大きくなるほど、即ち、スライダA→B→C
→D→E→Fとなるにしたがってキャンバー形状が大き
くなる。したがって、各スライダA,B,C,D,E,
Fのようにそのレール形状を変化させることにより、ク
ラウン形状およびキャンバー形状をコントロールするこ
とができるようになる。
The above sliders A, B, C, D,
In E and F, as the hardened area in the length direction of the sliders A, B, C, D, E and F (hatched portion in FIG. 7) becomes larger, that is, the sliders A → B → C → D → E → F , The crown shape becomes larger, and the slider A,
As the cured area in the width direction of B, C, D, E, and F (the hatched portion in FIG. 7) increases, that is, the slider A → B → C
The camber shape becomes larger as the order of → D → E → F. Therefore, each slider A, B, C, D, E,
By changing the rail shape like F, the crown shape and camber shape can be controlled.

【0046】上述したように、本実施形態においては、
所定のレール形状に形成されたABSをイオンミリング
用レジストフィルム71で保護した状態で、硬質の微粒
子をローに高速で噴射してレール形状以外の部位の表面
層に圧縮応力を発生させて所定のクラウン形状およびキ
ャンバー形状を形成するようにしているので、製造工程
の簡略化が可能となるとともに、この種の磁気ヘッドを
安価に製造できるようになる。
As described above, in this embodiment,
In a state where the ABS formed in a predetermined rail shape is protected by the resist film 71 for ion milling, hard fine particles are jetted at a high speed at a low speed to generate a compressive stress on a surface layer of a portion other than the rail shape, thereby generating a predetermined stress. Since the crown shape and the camber shape are formed, the manufacturing process can be simplified, and this type of magnetic head can be manufactured at low cost.

【0047】そして、ABSに衝突する微粒子が硬質の
無機化合物であると、この微粒子が衝突した部位には容
易に圧縮応力が発生するとともに、この圧縮応力は微粒
子の粒度、衝突速度あるいは衝突面の面積を調節するこ
とにより自由に調整することが可能であるので、この微
粒子の衝突により形成されるクラウン形状およびキャン
バー形状は自由に調整できるようになって、所定のクラ
ウン形状およびキャンバー形状を容易に形成することが
可能となる。
When the fine particles colliding with the ABS are hard inorganic compounds, a compressive stress is easily generated at a portion where the fine particles collide, and the compressive stress is caused by the particle size of the fine particles, the collision speed or the collision surface. Since it is possible to freely adjust by adjusting the area, the crown shape and camber shape formed by the collision of the fine particles can be freely adjusted, and the predetermined crown shape and camber shape can be easily adjusted. It can be formed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 磁気ヘッドウェハーを模式的に示す図であ
る。
FIG. 1 is a diagram schematically showing a magnetic head wafer.

【図2】 磁気ヘッドウェハーをブロックに切断した状
態を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a state where a magnetic head wafer is cut into blocks.

【図3】 ブロックの最下段のローのABSをラッピン
グする状態を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a state in which the lowest row ABS of a block is wrapped.

【図4】 ラッピング後のローを切断する状態を示す図
である。
FIG. 4 is a diagram showing a state in which a row after wrapping is cut.

【図5】 切断された1列のローを示す図である。FIG. 5 is a diagram showing one row of cut rows.

【図6】 1列のローのABSをフォトエッチングする
工程から硬化処理工程までの一連の工程を示す図であ
る。
FIG. 6 is a diagram showing a series of steps from a step of photo-etching a row of ABS to a step of curing.

【図7】 ABSに形成するレール形状のパターンの例
を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing an example of a rail-shaped pattern formed on the ABS.

【図8】 従来のラッピング後のスライダーを示す図で
ある。
FIG. 8 is a view showing a conventional slider after wrapping.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…磁気ヘッドウェハー、11a,11b,11c…
磁気ヘッド素子、20,30,40…ローのブロック、
21a,21b,21c…磁気ヘッド素子、50…ワー
クホルダー(治具)、51…接着剤、60…反強磁性
膜、60…ラップ盤、61…研磨砥粒容器、62…研磨
砥粒、63…ポンプ、α…ローのABSの下端面、β…
ラッピングの目標位置、γ…エレメントハイトの基準
線、70…ワーク、71…ミリング用レジストフィル
ム、72…フォトマスク、73…紫外線ランプ、74…
噴射装置、75…微粒子(研磨材)が分散した分散液
10 ... magnetic head wafer, 11a, 11b, 11c ...
Magnetic head element, 20, 30, 40 ... row block,
21a, 21b, 21c: magnetic head element, 50: work holder (jig), 51: adhesive, 60: antiferromagnetic film, 60: lapping machine, 61: polishing abrasive container, 62: polishing abrasive, 63 … Pump, α… lower end face of low ABS, β…
Target position of lapping, γ: Element height reference line, 70: Work, 71: Milling resist film, 72: Photomask, 73: Ultraviolet lamp, 74:
Injection device, 75: dispersion liquid in which fine particles (abrasive) are dispersed

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 記録媒体が回転することにより同記録媒
体との対向面が同記録媒体に対して浮上する磁気ヘッド
の製造方法であって、 複数の薄膜磁気ヘッド素子が形成された素子列を所定の
スロートハイトになるように研磨する研磨工程と、 前記研磨工程により研磨された素子列のABSを所定の
レール形状とするためにフォトエッチングするフォトエ
ッチング工程と、 前記フォトエッチング工程により所定のレール形状に形
成されたABSに研磨材を高速で噴射して同ABSのレ
ール形状以外の部位の表面層に圧縮応力を発生させる硬
化処理工程とを備え、 前記硬化処理工程により発生した圧縮応力により前記A
BSを所定の湾曲形状となるように形成したことを特徴
とする磁気ヘッドの製造方法。
1. A method for manufacturing a magnetic head in which a recording medium rotates so that a surface facing the recording medium floats with respect to the recording medium, the method comprising: forming an element row on which a plurality of thin film magnetic head elements are formed. A polishing step of polishing to a predetermined throat height; a photoetching step of photoetching the ABS of the element row polished by the polishing step to have a predetermined rail shape; and a predetermined rail by the photoetching step. A hardening treatment step of injecting an abrasive at a high speed to the ABS formed into a shape to generate a compressive stress in a surface layer of a portion other than the rail shape of the ABS, wherein the compressive stress generated in the hardening process step A
A method for manufacturing a magnetic head, wherein a BS is formed to have a predetermined curved shape.
【請求項2】 前記フォトエッチング工程は、 前記研磨工程により研磨された素子列のABSにミリン
グ用レジストフィルムを貼着するレジストフィルム貼着
工程と、 前記貼着されたレジストフィルムを所定のレール形状の
フォトマスクを介して同レジストフィルムを露光する露
光工程と、 前記露光工程によりレジストフィルムの感光しない部位
あるいは感光した部位を前記ABSより除去するととも
に、前記所定のレール形状になるようにレジストフィル
ムを残存させる現像工程と、 前記現像工程により残存された前記所定のレール形状の
レジストフィルムをマスクとしてエッチングするイオン
ミリング工程とを備え、 前記イオンミリング工程により前記ABSに前記所定の
レール形状を形成するようにしたことを特徴とする請求
項1に記載の磁気ヘッドの製造方法。
2. The photo-etching step includes: a resist film attaching step of attaching a milling resist film to the ABS of the element row polished by the polishing step; and a step of forming the attached resist film into a predetermined rail shape. An exposure step of exposing the same resist film through a photomask, and removing the unexposed or exposed areas of the resist film from the ABS by the exposing step, and removing the resist film so as to have the predetermined rail shape. A developing step of remaining, and an ion milling step of etching using the resist film of the predetermined rail shape left by the developing step as a mask, wherein the predetermined rail shape is formed on the ABS by the ion milling step. 2. The method according to claim 1, wherein Method for producing a mounting of the magnetic head.
【請求項3】 前記研磨材は硬質の無機化合物からなる
微粒子であることを特徴とする請求項1または請求項2
に記載の磁気ヘッドの製造方法。
3. The abrasive according to claim 1, wherein the abrasive is fine particles made of a hard inorganic compound.
3. The method for manufacturing a magnetic head according to claim 1.
JP22065798A 1997-08-07 1998-08-04 Manufacture of magnetic head Pending JPH11110934A (en)

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JP9-213631 1997-08-07
JP21363197 1997-08-07
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7392580B2 (en) 2005-08-26 2008-07-01 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Method for manufacturing a slider using electromagnetic wave

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7392580B2 (en) 2005-08-26 2008-07-01 Sae Magnetics (H.K.) Ltd. Method for manufacturing a slider using electromagnetic wave

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