JPH109819A - Distance measuring equipment - Google Patents
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- JPH109819A JPH109819A JP16580496A JP16580496A JPH109819A JP H109819 A JPH109819 A JP H109819A JP 16580496 A JP16580496 A JP 16580496A JP 16580496 A JP16580496 A JP 16580496A JP H109819 A JPH109819 A JP H109819A
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体ウェ
ハーのパターンの厚み等を測定する際に使用する距離計
測装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring device used for measuring, for example, the thickness of a pattern on a semiconductor wafer.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、この種の距離計測装置として、以
下に述べる第1の例と、第2の例と、第3の例が一般に
知られている。第1の例は、X,Y,Zの3軸方向のい
ずれにも独立に移動できるステージとそれぞれの軸に位
置を読み取るためのスケールを備えた顕微鏡を用いるも
のである。このような構成のものにおいて、測定したい
測定点が2点ある場合、一方の測定点にピントを合わ
せ、その時点でのX,Y,Zの位置をスケールから読み
取り記憶する。さらに他方の測定点にピントを合わせ、
その時点での位置を記憶する。この記憶内容に基づき、
3次元の距離を算出できるように構成したものである。2. Description of the Related Art Conventionally, as a distance measuring apparatus of this type, a first example, a second example, and a third example described below are generally known. The first example uses a microscope equipped with a stage that can move independently in any of the three axes of X, Y, and Z, and a scale for reading the position on each axis. In such a configuration, when there are two measurement points to be measured, one of the measurement points is focused, and the X, Y, and Z positions at that time are read from the scale and stored. Also focus on the other measurement point,
The position at that time is stored. Based on this memory content,
It is configured so that a three-dimensional distance can be calculated.
【0003】第2の例は、前述の第1の例に合焦位置を
明確にするために、光学的にZ方向、つまり、光軸方向
に特開平4−25711号公報で示す光学式変位計を装
備させたものである。In a second example, in order to clarify the in-focus position in the first example, an optical displacement shown in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-25711 is optically moved in the Z direction, that is, in the optical axis direction. It is equipped with a meter.
【0004】この公知の光学式変位計は、光源と、該光
源から放射された光を被測定表面に集光させるための対
物レンズと、被測定表面による反射光を結像するための
結像レンズと、前記反射光を分割するためのビームスプ
リッタと、該ビームスプリッタにより分割された各反射
光の合焦位置よりも前及び後にそれぞれ配置された、複
数の絞りと、各絞りを通過した反射光の光量をそれぞれ
検出するための、複数の受光素子とを備え、各受光素子
の出力の差に基づいて被測定表面の変位信号を得るもの
である。This known optical displacement meter includes a light source, an objective lens for condensing light emitted from the light source on a surface to be measured, and an image forming device for imaging light reflected by the surface to be measured. A lens, a beam splitter for splitting the reflected light, a plurality of apertures disposed before and after the in-focus position of each reflected light split by the beam splitter, and a reflection passing through each aperture. It is provided with a plurality of light receiving elements for detecting the amounts of light, respectively, and obtains a displacement signal of the surface to be measured based on a difference between outputs of the respective light receiving elements.
【0005】第3の例は、図9に示すようにレーザ光源
31、光検出器32、1次元走査機構33、反射鏡3
4、半射鏡35からなるレーザー走査型顕微鏡本体30
と、走査制御ユニット36、Z方向移動制御回路37、
画像メモリ38、コンピュータ39、モニタ40から構
成されたレーザ走査型顕微鏡を利用し、合焦面の極小領
域の光量を検出するために工夫を施したものを用いる例
である。In a third example, as shown in FIG. 9, a laser light source 31, a photodetector 32, a one-dimensional scanning mechanism 33, a reflecting mirror 3
4. Laser scanning microscope main body 30 including semi-reflective mirror 35
Scanning control unit 36, Z-direction movement control circuit 37,
In this example, a laser scanning microscope including an image memory 38, a computer 39, and a monitor 40 is used, and a device devised for detecting the amount of light in a minimum area of a focal plane is used.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た第1の例では、視野内にある測定点に対してでも、光
軸方向の位置が異なれば、各々の測定点でピント合わせ
が必要となり、手間がかかる。However, in the above-described first example, if the position in the optical axis direction is different even with respect to the measurement point within the field of view, it is necessary to focus on each measurement point. It takes time and effort.
【0007】第2の例では、一般的に視野の中心部分で
しか、前述のような公知の光学式変位計が動作しないた
め、測定点が視野内であってもX,Y方向の移動を余儀
なくされる。In the second example, the above-described known optical displacement meter generally operates only at the center of the field of view, so that movement in the X and Y directions is prevented even when the measurement point is within the field of view. I will be forced.
【0008】第3の例では、図10のようにレーザー光
線などの点光源41や、ピンホール45を使って半射体
42、レンズ43を介して合焦面44の極小領域の光量
を検出する光量検出器46などの特殊な光学系が必要と
なると共に、X,Y方向に走査する機構、例えばステー
ジを駆動する機構か、レンズ43の入力側に光路を移動
させるための機構を持たなければならず、このような機
構を必要とすることから高価となる。In a third example, as shown in FIG. 10, a point light source 41 such as a laser beam or a pinhole 45 is used to detect the amount of light in a minimum area of a focal plane 44 via a projectile 42 and a lens 43. A special optical system such as a light amount detector 46 is required, and a mechanism for scanning in the X and Y directions, for example, a mechanism for driving a stage or a mechanism for moving an optical path to the input side of the lens 43 is not provided. In addition, it is expensive because such a mechanism is required.
【0009】本発明では、以上のような課題を除去する
ためなされたもので、その目的とするところは、既存の
光学顕微鏡に何等変更を加えずに標本の距離を測定でき
る距離計測装置を提供することにある。The present invention has been made in order to eliminate the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a distance measuring apparatus capable of measuring the distance of a sample without making any change to an existing optical microscope. Is to do.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項1に対応する発明は、標本に対する合焦位置
を調節可能な焦準機構を有する光学顕微鏡と、前記焦準
機構により合焦位置を変化させながら前記標本の複数の
画像を撮影する撮影手段と、前記撮影手段により撮影し
た複数の画像を記憶する画像記憶手段と、前記画像記憶
手段により記憶された複数枚の画像を加算し、記憶する
画像加算記憶手段と、前記画像加算記憶手段により加算
記憶された画像を読出し2次元の画像の回復処理を行う
画像処理手段と、前記画像処理手段により処理された画
像を表示する画像表示手段と、測定したい位置の画像を
前記画像表示手段の画面で指示する座標位置指示手段
と、前記画像記憶手段と、前記画像加算記憶手段と、前
記座標位置指示手段の制御・演算を行う中央処理手段
と、前記座標位置指示手段で指示した位置において前記
撮影手段によって得られた複数の画像のうち最大コント
ラスト値を有する画像に対応するステージの位置を求
め、それらの差から前記標本の距離を検出する合焦位置
検出手段と、を具備したことを特徴とする距離計測装置
である。According to a first aspect of the present invention, there is provided an optical microscope having a focusing mechanism capable of adjusting a focusing position with respect to a specimen, and a focusing mechanism provided by the focusing mechanism. A photographing means for photographing a plurality of images of the specimen while changing the position; an image storing means for storing a plurality of images photographed by the photographing means; and a plurality of images stored by the image storing means. Image addition and storage means for storing, image processing means for reading out the image added and stored by the image addition and storage means and performing a two-dimensional image restoration process, and image display for displaying the image processed by the image processing means Means, coordinate position indicating means for indicating an image of a position to be measured on the screen of the image display means, the image storage means, the image addition storage means, and the coordinate position indicating means. Central processing means for controlling and calculating; and obtaining a position of a stage corresponding to an image having a maximum contrast value among a plurality of images obtained by the photographing means at a position designated by the coordinate position designating means, and calculating a difference between them. And a focusing position detecting means for detecting a distance of the sample from the distance measuring device.
【0011】請求項1に対応する発明によれば、顕微鏡
のステージを光軸方向に駆動し、標本画像を加算するこ
とで深さ方向に複数の合焦面を持つ画像が得られ、測定
点毎にピント調整がいらず、視野内にある複数の測定点
を1度に指示、測定できる。さらに、取り込んだ画像を
1度に1画面で見ることができる。According to the first aspect of the present invention, an image having a plurality of focal planes in the depth direction is obtained by driving the stage of the microscope in the optical axis direction and adding the sample images, thereby obtaining a measurement point. Focus adjustment is not required each time, and a plurality of measurement points within the visual field can be indicated and measured at once. Further, the captured image can be viewed on one screen at a time.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。 <第1の実施の形態>図1は、本発明の第1の実施の形
態に係る距離計測装置の構成図である。Embodiments of the present invention will be described below. <First Embodiment> FIG. 1 is a configuration diagram of a distance measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention.
【0013】本実施例の距離計測装置は、概略以下の構
成からなっている。すなわち、焦準機構として図示しな
い標本を載置するステージ3を光軸方向にステージ駆動
回路4により移動可能に構成した光学顕微鏡1と、ステ
ージ1の高さ位置を変える毎に標本の画像を撮影する撮
影手段例えばCCDカメラ2と、CCDカメラ2により
撮影した画像を記憶する画像記憶手段例えばアナログ信
号処理回路7、フレームメモリ8からなるものと、フレ
ームメモリ8により記憶された複数枚の画像をフレーム
単位で加算し、記憶する画像加算記憶手段、例えば画像
加算器10、加算メモリ12からなるものと、加算メモ
リ12により加算記憶された画像を読出し2次元の画像
の回復処理を行う画像処理手段、例えば除算器13、空
間フィルタ回路14からなるものと、フレームメモリ8
により記憶された複数枚の画像を圧縮し、1画面分の画
像に構成する画像構成手段、例えばフレームメモリ制御
回路9と、空間フィルタ回路14により処理された画
像、またはフレームメモリ制御回路9により圧縮された
画像の何れか1つの画像を表示する画像表示手段、例え
ば信号切換器15、画像表示メモリ17、信号切換器1
9、ビデオ信号処理回路20、テレビモニター5からな
るものと、測定したい位置の画像をテレビモニター5の
画面で指示する座標位置指示手段、例えばポインティン
グデバイス6、ポインティングデバイス制御回路25か
らなるものと、フレームメモリ制御回路9と、加算メモ
リ制御回路11と、ポインティングデバイス制御回路2
5の制御・演算を行う中央処理手段、例えばCPU22
からなるものと、ポインティングデバイス6で指示した
位置のCCDカメラ2によって得られた画像のコントラ
ストの最大値に対応するステージ3の位置を求め、それ
らの差から標本の距離を検出する合焦位置検出手段、例
えばRAM23、CPU22からなるものである。The distance measuring apparatus according to the present embodiment has the following configuration. That is, an optical microscope 1 in which a stage 3 on which a sample (not shown) is mounted as a focusing mechanism is movable in a direction of an optical axis by a stage driving circuit 4, and an image of the sample is taken every time the height position of the stage 1 is changed. Image capturing means such as a CCD camera 2, image storing means for storing an image captured by the CCD camera 2, such as an analog signal processing circuit 7, a frame memory 8, and a plurality of images stored in the frame memory 8 as frames. Image addition and storage means for adding and storing in units, for example, an image addition means including an image adder 10 and an addition memory 12, and an image processing means for reading out an image added and stored by the addition memory 12 and performing a two-dimensional image restoration process; For example, one comprising a divider 13 and a spatial filter circuit 14 and a frame memory 8
, And compresses the image processed by the spatial memory circuit 14, or the image processed by the spatial filter circuit 14, or compressed by the frame memory control circuit 9. Image display means for displaying any one of the displayed images, for example, signal switch 15, image display memory 17, signal switch 1
9, a video signal processing circuit 20 and a television monitor 5; and a coordinate position designating means for designating an image of a position to be measured on the screen of the television monitor 5, such as a pointing device 6 and a pointing device control circuit 25. Frame memory control circuit 9, addition memory control circuit 11, pointing device control circuit 2
5, a central processing unit for performing control / calculation, for example, the CPU 22
And the position of the stage 3 corresponding to the maximum value of the contrast of the image obtained by the CCD camera 2 at the position indicated by the pointing device 6, and the focus position detection for detecting the distance of the sample from the difference therebetween. Means, for example, a RAM 23 and a CPU 22.
【0014】以下、以上の構成について具体的に説明す
る。撮影手段としてのCCDカメラ2から標本画像を入
力し、加工した画像を表示するテレビモニター5が装置
本体26に接続される。また、装置本体26にポインテ
ィングデバイス6が接続されており、ポインティングデ
バイス6によってテレビモニター5に表示された画像上
の任意の位置の座標を指示できるようになっている。Hereinafter, the above configuration will be specifically described. A television monitor 5 for inputting a sample image from the CCD camera 2 as a photographing means and displaying a processed image is connected to the apparatus main body 26. Further, the pointing device 6 is connected to the apparatus main body 26 so that the pointing device 6 can indicate the coordinates of an arbitrary position on the image displayed on the television monitor 5.
【0015】装置本体26は、CCDカメラ2、アナロ
グ信号処理回路7、フレームメモリ8、フレームメモリ
制御回路9、画像データ加算器10、加算メモリ制御回
路11、加算メモリ12、除算器13、空間フィルタ回
路14、信号切換器15、表示メモリ制御回路16、画
像表示メモリ17、オーバーレイメモリ18、信号切換
器19、ビデオ信号処理回路20、ステージ駆動I/F
回路21、CPU22、RAM23、ROM24、ポイ
ンティングデバイス制御回路25を備えている。The apparatus main body 26 includes a CCD camera 2, an analog signal processing circuit 7, a frame memory 8, a frame memory control circuit 9, an image data adder 10, an addition memory control circuit 11, an addition memory 12, a divider 13, a spatial filter. Circuit 14, signal switch 15, display memory control circuit 16, image display memory 17, overlay memory 18, signal switch 19, video signal processing circuit 20, stage drive I / F
A circuit 21, a CPU 22, a RAM 23, a ROM 24, and a pointing device control circuit 25 are provided.
【0016】CCDカメラ2の映像出力端子に、CCD
カメラ2からの映像アナログ信号をデジタル画像に変換
するアナログ信号処理回路7が接続され、アナログ信号
処理回路7の出力(デジタル画像データ)は、16画面
分の画像を格納できる容量を有するフレームメモリ8に
接続されている。フレームメモリ8には、書き込みアド
レス及び読み出しアドレスを出力するフレームメモリ制
御回路9が接続されている。An image output terminal of the CCD camera 2 has a CCD
An analog signal processing circuit 7 for converting a video analog signal from the camera 2 into a digital image is connected. An output (digital image data) of the analog signal processing circuit 7 is a frame memory 8 having a capacity capable of storing images for 16 screens. It is connected to the. The frame memory 8 is connected to a frame memory control circuit 9 for outputting a write address and a read address.
【0017】フレームメモリ8に格納されたデジタル画
像データは、画像データ加算器10の一方の入力端子と
信号切換器15の一方の入力端子に接続される。画像デ
ータ加算器10の他方の入力端子には、加算メモリ12
の出力端子が接続されている。The digital image data stored in the frame memory 8 is connected to one input terminal of an image data adder 10 and one input terminal of a signal switch 15. The other input terminal of the image data adder 10 has an addition memory 12
Output terminals are connected.
【0018】画像データ加算器10の出力端子は加算メ
モリ12の入力端子に接続され、画像データ加算器10
内では加算メモリ12の内容とフレームメモリ8から入
力された画像の加算演算が行われる。The output terminal of the image data adder 10 is connected to the input terminal of the addition memory 12, and the image data adder 10
Inside, the addition operation of the contents of the addition memory 12 and the image input from the frame memory 8 is performed.
【0019】加算メモリ12の出力端子は、除算器13
の一方の入力端子に接続され、除算器13の他方の入力
端子にはCPU22からの画像加算枚数信号が入力さ
れ、除算器13で適切なデータ値に加工される。除算器
13の出力端子には、公知の空間フィルタ回路14の入
力端子が接続され、空間フィルタ回路14内では、画像
の回復処理などが行われる。具体的には、例えば予め求
めた積算点像強度分布(ある点についてピントがあって
いる状態から無限に離した状態での全ての点像強度分布
を積算したもの)を逆に変換することにより、画像の回
復処理が行われ、加算された複数の画像のそれぞれの合
焦面の全体に渡ってピントの合った画像を得ることがで
きる。The output terminal of the addition memory 12 is connected to a divider 13
, And the other input terminal of the divider 13 receives the image addition number signal from the CPU 22, and the divider 13 processes the signal into an appropriate data value. An output terminal of the divider 13 is connected to an input terminal of a well-known spatial filter circuit 14, and in the spatial filter circuit 14, image restoration processing and the like are performed. Specifically, for example, a previously calculated integrated point image intensity distribution (integrated of all point image intensity distributions in a state in which a point is infinitely separated from a focused state) is inversely converted. Then, an image recovery process is performed, and an in-focus image can be obtained over the entire in-focus plane of each of the plurality of added images.
【0020】ここで、図2を参照して空間フィルタ回路
14について説明する。空間フィルタ回路14は、3×
3から7×7のマトリクスからなり、(図2では3×3
のマトリックス)、各行は対応するラインの画素データ
を順次ラッチするデータラッチ回路51〜53が直列に
設けられている。各ラッチ回路51〜53でラッチされ
た画素データは、それぞれ対応して設けられた乗算部5
4〜56で所定の係数が乗算される。これらの各乗算部
54〜56に設定される係数は、係数レジスタ57〜5
9に記憶されており、各々対応する係数ラッチ回路61
〜63を介して各乗算部54〜56に与えられる。各段
の行50,70,90には、対応するラインの画素デー
タが入力され、各データラッチ回路51〜53でラッチ
された画素値と、対応する各係数レジスタ57〜59に
記憶された係数との積が加算器100に入力される。そ
して、加算器100は入力された全ての積を加算して、
その加算値を空間フィルタ回路14の出力とする。Here, the spatial filter circuit 14 will be described with reference to FIG. The spatial filter circuit 14 has 3 ×
It consists of a matrix of 3 to 7 × 7 (in FIG. 2, 3 × 3
In each row, data latch circuits 51 to 53 for sequentially latching pixel data of a corresponding line are provided in series. The pixel data latched by each of the latch circuits 51 to 53 is supplied to a corresponding one of the multipliers 5 provided.
A predetermined coefficient is multiplied by 4-56. Coefficients set in these multipliers 54 to 56 are stored in coefficient registers 57 to 5.
9 and the corresponding coefficient latch circuits 61
6363 to the multiplication units 54〜56. Pixel data of the corresponding line is input to the rows 50, 70, and 90 of each stage, and the pixel values latched by the data latch circuits 51 to 53 and the coefficients stored in the corresponding coefficient registers 57 to 59 are stored. Is input to the adder 100. Then, the adder 100 adds all the input products,
The sum is used as the output of the spatial filter circuit 14.
【0021】このような空間フィルタ回路14では、係
数レジスタの記憶する係数値をマトリクスで変更するこ
とで入力する画像に対して、エッジ強調や、平均化、ノ
イズ除去などを施し、処理後の画像として出力すること
ができる。The spatial filter circuit 14 performs edge enhancement, averaging, noise removal, and the like on an input image by changing a coefficient value stored in a coefficient register in a matrix, and processes the processed image. Can be output as
【0022】空間フィルタ回路14の出力端子は信号切
換器15の一方の入力端子に接続され、信号切換器15
の他方の入力端子にフレームメモリ8の出力端子が接続
され、空間フィルタ回路14の出力である加算・フィル
タ処理された画像と、フレームメモリ8からの何も加工
されない画像のいずれかに切換えることが可能になって
いる。信号切換器15の出力端子は、画像表示メモリ1
7の入力端子に接続される。また、画像表示メモリ17
には読みだしアドレスと書き込みアドレスを画像表示メ
モリ17またはオーバーレイメモリ18に出力する表示
メモリ制御回路16が接続されている。The output terminal of the spatial filter circuit 14 is connected to one input terminal of a signal switch 15 and the signal switch 15
The output terminal of the frame memory 8 is connected to the other input terminal of the frame memory 8 so as to switch between the added and filtered image output from the spatial filter circuit 14 and the unprocessed image from the frame memory 8. It is possible. The output terminal of the signal switch 15 is connected to the image display memory 1
7 input terminal. The image display memory 17
Is connected to a display memory control circuit 16 which outputs a read address and a write address to the image display memory 17 or the overlay memory 18.
【0023】また、オーバーレイメモリ18の出力端子
と画像表示メモリ17の出力端子は、それぞれ信号切換
器19の入力端子に接続され、信号切換器19により画
像表示メモリ17の出力またはオーバーレイメモリ18
の出力のどちらか一方が選択されてビデオ信号処理回路
20に送られ、ビデオ信号処理回路20によりビデオ信
号に処理され、これがテレビモニター5に出力表示され
る。An output terminal of the overlay memory 18 and an output terminal of the image display memory 17 are respectively connected to input terminals of a signal switch 19, and the output of the image display memory 17 or the overlay memory 18 is controlled by the signal switch 19.
Is selected and sent to the video signal processing circuit 20, where it is processed into a video signal by the video signal processing circuit 20, and this is output and displayed on the television monitor 5.
【0024】オーバーレイメモリ18には、ポインティ
ングデバイス6の座標位置を示す矢印などの形状データ
や現在のステージの座標を表す文字データなどを書き込
むことで、測定操作を補助ことができる。The measurement operation can be assisted by writing into the overlay memory 18 shape data such as an arrow indicating the coordinate position of the pointing device 6 and character data indicating the coordinates of the current stage.
【0025】CPU22は、内部バスを介してフレーム
メモリ制御回路9、加算メモリ制御回路11、表示メモ
リ制御回路16に接続されると共に、これらを通してそ
れぞれフレームメモリ8、加算メモリ12、画像表示メ
モリ17、オーバーレイメモリ18に接続されている。The CPU 22 is connected to the frame memory control circuit 9, the addition memory control circuit 11, and the display memory control circuit 16 via the internal bus, and through these, the frame memory 8, the addition memory 12, the image display memory 17, It is connected to an overlay memory 18.
【0026】さらに、CPU22は、画像データ加算器
10、除算器13、空間フィルタ回路14、ステージ駆
動I/F回路21、RAM23、ROM24とポインテ
ィングデバイス制御回路25には、内部バスを介して接
続されている。ステージ駆動I/F回路21は顕微鏡1
のステージ駆動回路4に接続されている。Further, the CPU 22 is connected to the image data adder 10, the divider 13, the spatial filter circuit 14, the stage drive I / F circuit 21, the RAM 23, the ROM 24, and the pointing device control circuit 25 via an internal bus. ing. The stage drive I / F circuit 21 is the microscope 1
Is connected to the stage drive circuit 4.
【0027】次に、以上のように構成された第1の実施
の形態の動作について説明する。顕微鏡1に取り付けら
れたCCDカメラ2により、ステージ3に載置されてい
る標本の画像を取り込み、この標本画像信号は、アナロ
グ信号処理回路7でデジタル信号に変換され、画像デー
タとしてフレームメモリ制御回路9から発生する書き込
みアドレス及び読みだしアドレスと共に、フレームメモ
リ8に順次格納される。Next, the operation of the first embodiment configured as described above will be described. An image of a sample placed on the stage 3 is captured by a CCD camera 2 attached to a microscope 1, and this sample image signal is converted into a digital signal by an analog signal processing circuit 7, and is converted into image data as a frame memory control circuit. Along with the write address and read address generated from 9, they are sequentially stored in the frame memory 8.
【0028】画像データ加算器10は、加算メモリ制御
回路11により加算メモリ12から読み出された画像デ
ータとフレームメモリ8から読み出された画像データを
加算する。加算された画像データは、加算メモリ制御回
路11により生成された加算メモリ12の書き込みアド
レスに格納される。また、加算メモリ12から読み出さ
れた画像データは次の除算器13で適切なデータ値に加
工され、空間フィルタ回路14へ入力される。空間フィ
ルタ回路14では、7行×7列のマトリックスまでの2
次元の画像処理が施され、除算器13の出力画像の回復
処理が行われる。The image data adder 10 adds the image data read from the addition memory 12 and the image data read from the frame memory 8 by the addition memory control circuit 11. The added image data is stored at the write address of the addition memory 12 generated by the addition memory control circuit 11. The image data read from the addition memory 12 is processed into an appropriate data value by the next divider 13 and input to the spatial filter circuit 14. In the spatial filter circuit 14, two rows up to a matrix of 7 rows × 7 columns
A two-dimensional image processing is performed, and a restoration process of the output image of the divider 13 is performed.
【0029】空間フィルタ回路14は、前記顕微鏡1の
結像光学系の射出の開口数、結像光学系の瞳関数及び結
像光学系の波長等で決まる受光素子上で積算点像強度分
布の広がりと、CCDカメラ2の受光素子の大きさと相
対関係によって空間フィルタ回路14のフィルタ特性を
変更させる。空間フィルタ特性を変更させるためには、
フィルタ係数またはフィルタサイズの一方または両方を
変化させる。The spatial filter circuit 14 calculates the integrated point image intensity distribution on the light receiving element determined by the numerical aperture of the exit of the imaging optical system of the microscope 1, the pupil function of the imaging optical system, the wavelength of the imaging optical system, and the like. The filter characteristics of the spatial filter circuit 14 are changed according to the spread and the relative relationship with the size of the light receiving element of the CCD camera 2. To change the spatial filter characteristics,
Change one or both of the filter coefficients or filter size.
【0030】信号切換器15から出力された画像データ
は、画像表示メモリ制御回路16によって生成される書
き込みアドレスに従って、画像表示メモリ17に記憶さ
れる。The image data output from the signal switch 15 is stored in the image display memory 17 according to the write address generated by the image display memory control circuit 16.
【0031】フレームメモリ制御回路9でフレームメモ
リ8から1枚ずつ画像を読み出すとき、画素、ラインを
間引くことで縦横方向に画像を圧縮することができる。
そして、画像表示メモリ制御回路16によって、画像表
示メモリ17の格納アドレスを圧縮された画素数、ライ
ン数分だけにして、図3のように1枚ごとに右方向にず
らしていくことで、画像表示メモリ17にフレームメモ
リ8から取り込んだ16枚の画像を1度に表示すること
ができる。When reading out images one by one from the frame memory 8 by the frame memory control circuit 9, the image can be compressed in the vertical and horizontal directions by thinning out pixels and lines.
Then, the image display memory control circuit 16 sets the storage address of the image display memory 17 to the number of compressed pixels and the number of lines, and shifts each image to the right as shown in FIG. 16 images taken from the frame memory 8 can be displayed on the display memory 17 at one time.
【0032】画像表示メモリ制御回路16によって生成
された読みだしアドレスで画像表示メモリ17から読み
出された画像データと、オーバーレイメモリ18から読
み出された補足情報データは、信号切換器19で補足情
報データが優先的に選択され、ビデオ信号処理回路20
で映像信号に変換され、画像と共にテレビモニター5に
表示される。The image data read from the image display memory 17 at the read address generated by the image display memory control circuit 16 and the supplementary information data read from the overlay memory 18 are converted by the signal switch 19 into supplementary information. The data is preferentially selected, and the video signal processing circuit 20
Is converted into a video signal, and is displayed on the television monitor 5 together with the image.
【0033】CPU22は、フレームメモリ制御回路9
を通して、フレームメモリ8を読み書きし、加算メモリ
制御回路11を通して、加算メモリ12を読み書きし、
画像表示メモリ制御回路16を通して画像表示メモリ1
7とオーバーレイメモリ18を読み書きする。また、C
PU22は3つのフレームメモリ制御回路9、加算メモ
リ制御回路11、表示メモリ制御回路16を適切にコン
トロールすると共に、空間フィルタ回路14の設定や2
次元の画像処理係数を設定できる。CPU22の動作を
記録したプログラム、または、演算に必要な変数等は、
RAM23やROM24に記憶される。The CPU 22 controls the frame memory control circuit 9
To read and write the frame memory 8, and read and write the addition memory 12 through the addition memory control circuit 11.
Image display memory 1 through image display memory control circuit 16
7 and the overlay memory 18 are read and written. Also, C
The PU 22 appropriately controls the three frame memory control circuits 9, the addition memory control circuit 11, and the display memory control circuit 16, and sets the spatial filter circuit 14
Dimensional image processing coefficients can be set. The program recording the operation of the CPU 22 or the variables and the like necessary for the operation are as follows:
It is stored in the RAM 23 or the ROM 24.
【0034】CPU22は、ポインティングデバイス制
御回路25を通して接続されたポインティングデバイス
6から指示ポイントの平面上の移動量を検出し、移動量
にあった座標位置を矢印などの形状(補足情報データ)
をオーバーレイメモリ18に書き込むことで、画面上の
座標を指示することができる。The CPU 22 detects the movement amount of the designated point on the plane from the pointing device 6 connected through the pointing device control circuit 25, and indicates the coordinate position corresponding to the movement amount in the form of an arrow or the like (supplementary information data).
Is written in the overlay memory 18, the coordinates on the screen can be designated.
【0035】CPU22は、ステージ駆動I/F回路2
1を通してステージ3を上下に駆動すると共に、ステー
ジ3の位置をステージ駆動回路4から読み取ることがで
きる。The CPU 22 includes a stage drive I / F circuit 2
The stage 3 can be driven up and down through 1 and the position of the stage 3 can be read from the stage drive circuit 4.
【0036】このような装置本体26は、CPU22に
よって装置本体26内の動作が管理される。装置本体2
6を使って、半導体ウェハーのパターン検査工程でシリ
コンウェハー上に形成されたパターンの厚みを測定する
方法について説明する。The operation of the apparatus main body 26 in the apparatus main body 26 is controlled by the CPU 22. Device body 2
6, a method of measuring the thickness of a pattern formed on a silicon wafer in a pattern inspection process of a semiconductor wafer will be described.
【0037】図4のような厚さの異なるパターンの測定
点P0からP2までの高さの差を測定する場合を例にと
る。まず、光軸方向に複数の面にピントのあった画像を
取り込む手法から説明する。An example will be described in which the height difference between the measurement points P0 to P2 of the patterns having different thicknesses as shown in FIG. 4 is measured. First, a description will be given of a method of capturing an image in which a plurality of surfaces are focused in the optical axis direction.
【0038】一般に、光学顕微鏡は、高倍率の対物レン
ズを使用した場合、焦点深度が浅くなり、焦点が合って
いない画像のコントラストは、図5のように低くなる。
そこで、予め、使用する顕微鏡の光学性能から低コント
ラストの場合のコントラスト値を得て、コントラストの
しきい値を決定しておく。ステージ3を光軸方向に移動
しながらコントラストを求め、しきい値に達した位置を
画像取込位置とする。In general, when a high magnification objective lens is used in an optical microscope, the depth of focus becomes shallow, and the contrast of an unfocused image becomes low as shown in FIG.
Therefore, a contrast value in the case of low contrast is obtained in advance from the optical performance of the microscope to be used, and the threshold value of the contrast is determined in advance. The contrast is obtained while moving the stage 3 in the direction of the optical axis, and the position where the threshold is reached is set as the image capturing position.
【0039】または、CCDカメラ2で取り込んだ画像
をテレビモニター5で確認しながらオペレータが画像取
込位置を決定するようにしてもよい。コントラスト測定
ライン(コントラストの計算領域)は、図6のように
し、例えば次の(1)式のような計算式で行う。Alternatively, the operator may determine the image capturing position while checking the image captured by the CCD camera 2 on the television monitor 5. The contrast measurement line (contrast calculation area) is as shown in FIG. 6, and is calculated by the following formula (1), for example.
【0040】[0040]
【数1】 (Equation 1)
【0041】半導体ウェハーの場合、シリコン面から形
成されるパターンの膜厚は、重ねる層ごとの厚さと枚数
によっておおよそ決定できる。そこから、ステージ3の
光軸方向の移動量と加算する画像の枚数を決める。そこ
で、画像取込位置から、決定されたステージ3の光軸方
向の移動量と加算する画像の枚数に従って、加算メモリ
12に加算画像を生成する。加算された画像は、除算器
13で加算枚数で画像データを除算し、空間フィルタ回
路14で、エッジ強調などの回復処理を施した後に画像
表示メモリ17に送り、テレビモニター5で表示する。
この光軸方向の複数の面にピントのあった画像で標本全
体のイメージをつかむ。In the case of a semiconductor wafer, the film thickness of a pattern formed from a silicon surface can be roughly determined by the thickness and the number of layers to be overlapped. Then, the number of images to be added to the moving amount of the stage 3 in the optical axis direction is determined. Therefore, an addition image is generated in the addition memory 12 in accordance with the determined moving amount of the stage 3 in the optical axis direction and the number of images to be added from the image capturing position. The added image is divided by the divider 13 into image data by the number of added images, subjected to recovery processing such as edge enhancement by the spatial filter circuit 14, sent to the image display memory 17, and displayed on the television monitor 5.
The image of the entire specimen is grasped by the image in which the plurality of surfaces in the optical axis direction are focused.
【0042】次に、測定したい測定点をポインティング
デバイス6を使ってテレビモニター5の画面上で指定す
る。このように指定した測定点を中心にコントラストを
求める領域を限定する。測定領域は、図7のようにX,
Y方向にパターンを充分含む範囲とする。そして、ステ
ージ3をはじめの画像取込位置に戻し、ステージ3を制
御可能な最小の移動量で移動させながら、移動するごと
に測定点のコントラスト値とステージ3の移動位置をR
AM23に記録する。ステージ3の移動終了点は、メカ
的な移動限界点かコントラスト値としきい値とに基づい
てCPU22が判断する。Next, a measurement point to be measured is specified on the screen of the television monitor 5 using the pointing device 6. The area for which the contrast is to be obtained is limited around the measurement point designated in this way. The measurement area is X, as shown in FIG.
The range is set to sufficiently include the pattern in the Y direction. Then, the stage 3 is returned to the initial image capturing position, and while moving the stage 3 with the minimum controllable amount of movement, the contrast value of the measurement point and the moving position of the stage 3 are set to R each time the stage 3 moves.
Record in AM23. The CPU 22 determines the end point of the movement of the stage 3 based on a mechanical movement limit point or a contrast value and a threshold value.
【0043】ステージ3が移動終了点に達した段階で、
RAM23には図8のように測定点毎のステージ位置と
そのときのコントラスト値が記録されているので、コン
トラストの最大値に対応するステージ3の位置(Z0
面、Z1 面)をそれぞれ求め、それらのテージ3の位置
の差から測定点の高さが求められる。当然、測定点毎の
平面座標も使えば、3次元空間の距離を算出できる。When the stage 3 reaches the end point of the movement,
Since the RAM 23 stores the stage position for each measurement point and the contrast value at that time as shown in FIG. 8, the position (Z0) of the stage 3 corresponding to the maximum contrast value is recorded.
Plane and Z1 plane) are obtained, and the height of the measurement point is obtained from the difference between the positions of these tages 3. Naturally, the distance in the three-dimensional space can be calculated by using the plane coordinates of each measurement point.
【0044】このように本実施形態によれば、予め測定
画像の光軸方向の複数の面にピントの合った画像を作り
出すことで、視野内の任意の計測点を一度に指定できる
とともに計測毎に光軸を移動させる必要がない。As described above, according to the present embodiment, an arbitrary image point within the visual field can be specified at a time by creating an image that is focused on a plurality of surfaces in the optical axis direction of the measurement image in advance. There is no need to move the optical axis.
【0045】また、測定点毎にコントラストを算出する
領域を独立に設定することで、より正確に測定点に依存
したコントラストが求められ、合焦位置の決定の精度が
向上する。In addition, by independently setting the area for calculating the contrast for each measurement point, the contrast depending on the measurement point can be obtained more accurately, and the accuracy of determining the focus position can be improved.
【0046】<実施形態の変形>なお、前述した実施形
態では、コントラストを求める際の計算領域として縦、
横方向のコントラストの測定ラインを選んであるが、対
角線上の測定ラインでもよい。<Modification of Embodiment> In the above-described embodiment, the vertical and horizontal calculation regions are used when calculating the contrast.
Although the horizontal contrast measurement line is selected, a diagonal measurement line may be used.
【0047】また、コントラストの計算式は、(1)式
に基づいて行う場合について説明したが、これに限らな
い。さらに、顕微鏡1のステージ駆動回路4から、ステ
ージ位置を読み取れる構成としたが、ステージ位置を読
み取れる機構がない場合は、ステージ3を移動する際に
ロータリーエンコーダー等で移動量を測定するようにす
ればよい。Although the calculation of the contrast is performed based on the equation (1), the present invention is not limited to this. Further, the stage position can be read from the stage drive circuit 4 of the microscope 1. However, if there is no mechanism capable of reading the stage position, the moving amount may be measured by a rotary encoder or the like when moving the stage 3. Good.
【0048】また、テレビモニター5の画面上のXY方
向の長さは、長さがあらかじめわかっている標本でテレ
ビモニター5上の1画素当たりの長狭を校正(キャリブ
レーション)しておけばよい。The length in the X and Y directions on the screen of the television monitor 5 may be obtained by calibrating the length per pixel on the television monitor 5 with a sample whose length is known in advance. .
【0049】標本の合焦位置を調節する焦準機構として
標本を載置するステージを移動させるようにしている
が、ステージは動かずに対物レンズ等の光学系を移動さ
せるようにしてもよい。Although the stage on which the sample is mounted is moved as a focusing mechanism for adjusting the focus position of the sample, an optical system such as an objective lens may be moved without moving the stage.
【0050】[0050]
【発明の効果】本発明によれば、既存の光学顕微鏡に何
等変更を加えずに標本の距離を測定できる距離計測装置
を提供できる。According to the present invention, it is possible to provide a distance measuring apparatus capable of measuring the distance of a specimen without making any change to an existing optical microscope.
【図1】本発明の距離計測装置の第1の実施の形態を示
すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a distance measuring device according to the present invention.
【図2】図1の空間フィルタ回路の機能を説明するため
の図。FIG. 2 is a view for explaining functions of the spatial filter circuit of FIG. 1;
【図3】図1の表示メモリ制御回路16の機能を説明す
るための図。FIG. 3 is a diagram for explaining functions of a display memory control circuit 16 of FIG. 1;
【図4】図1の距離計測装置の動作を説明するための
図。FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the distance measuring device in FIG. 1;
【図5】光学顕微鏡における画像のコントラストと光軸
の関係を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a relationship between an image contrast and an optical axis in an optical microscope.
【図6】図1のコントラストの計算領域を説明するため
の図。FIG. 6 is a view for explaining a contrast calculation area in FIG. 1;
【図7】図1のポインティングデバイスを使用して測定
領域を限定する場合の説明図。FIG. 7 is an explanatory diagram of a case where a measurement region is limited using the pointing device of FIG. 1;
【図8】図1の測定原理を説明するための図。FIG. 8 is a view for explaining the measurement principle of FIG. 1;
【図9】従来のレーザ走査型顕微鏡の概略構成を示す
図。FIG. 9 is a diagram showing a schematic configuration of a conventional laser scanning microscope.
【図10】図9の課題を説明するための図。FIG. 10 is a view for explaining the problem in FIG. 9;
1…顕微鏡、 2…CCDカメラ、 3…ステージ、 4…ステージ駆動回路、 5…テレビモニター、 6…ポインティングデバイス、 7…アナログ信号処理回路、 8…フレームメモリ、 9…フレームメモリ制御回路、 10…画像データ加算器、 11…加算メモリ制御回路、 12…加算メモリ、 13…除算器、 14…空間フィルタ回路、 15…信号切換器、 16…表示メモリ制御回路、 17…画像表示メモリ、 18…オーバーレイメモリ、 19…信号切換器、 20…ビデオ信号処理回路、 21…ステージ駆動I/F回路、 22…CPU、 23…RAM、 24…ROM、 25…ポインティングデバイス制御回路、 26…装置本体。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Microscope, 2 ... CCD camera, 3 ... Stage, 4 ... Stage drive circuit, 5 ... TV monitor, 6 ... Pointing device, 7 ... Analog signal processing circuit, 8 ... Frame memory, 9 ... Frame memory control circuit, 10 ... Image data adder, 11 addition memory control circuit, 12 addition memory, 13 divider, 14 spatial filter circuit, 15 signal switcher, 16 display memory control circuit, 17 image display memory, 18 overlay Memory: 19: Signal switcher, 20: Video signal processing circuit, 21: Stage drive I / F circuit, 22: CPU, 23: RAM, 24: ROM, 25: Pointing device control circuit, 26: Device body.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/66 G03B 3/00 A ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Agency reference number FI Technical indication location H01L 21/66 G03B 3/00 A
Claims (2)
機構を有する光学顕微鏡と、 前記焦準機構により合焦位置を変化させながら前記標本
の複数の画像を撮影する撮影手段と、 前記撮影手段により撮影した複数の画像を記憶する画像
記憶手段と、 前記画像記憶手段により記憶された複数枚の画像を加算
し、記憶する画像加算記憶手段と、 前記画像加算記憶手段により加算記憶された画像を読出
し2次元の画像の回復処理を行う画像処理手段と、 前記画像処理手段により処理された画像を表示する画像
表示手段と、 測定したい位置の画像を前記画像表示手段の画面で指示
する座標位置指示手段と、 前記画像記憶手段と、前記画像加算記憶手段と、前記座
標位置指示手段の制御・演算を行う中央処理手段と、 前記座標位置指示手段で指示した位置において前記撮影
手段によって得られた複数の画像のうち最大コントラス
ト値を有する画像に対応するステージの位置を求め、そ
れらの差から前記標本の距離を検出する合焦位置検出手
段と、を具備したことを特徴とする距離計測装置。1. An optical microscope having a focusing mechanism capable of adjusting a focus position with respect to a sample, an imaging means for shooting a plurality of images of the sample while changing a focus position by the focusing mechanism, and the imaging Image storage means for storing a plurality of images taken by means, image addition and storage means for adding and storing a plurality of images stored by the image storage means, and images added and stored by the image addition storage means Image processing means for reading the image and performing a two-dimensional image restoration process; image display means for displaying the image processed by the image processing means; and a coordinate position for indicating an image at a position to be measured on the screen of the image display means. Instruction means; the image storage means; the image addition storage means; a central processing means for controlling and calculating the coordinate position instruction means; Focusing position detecting means for determining a position of a stage corresponding to an image having a maximum contrast value among a plurality of images obtained by the photographing means at a position, and detecting a distance of the sample from a difference therebetween. A distance measuring device characterized by the above-mentioned.
枚の画像を圧縮し、1画面分の画像に構成する画像構成
手段を有する請求項1記載の距離計測装置。2. The distance measuring apparatus according to claim 1, further comprising an image forming unit configured to compress a plurality of images stored by the image storing unit and form an image for one screen.
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JP16580496A JP3652014B2 (en) | 1996-06-26 | 1996-06-26 | Distance measuring device |
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1996
- 1996-06-26 JP JP16580496A patent/JP3652014B2/en not_active Expired - Fee Related
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US11842815B2 (en) | 2020-01-07 | 2023-12-12 | Hoya Corporation | Endoscope system, processor, diagnostic support method, and computer program |
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