JPH1090702A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH1090702A
JPH1090702A JP24647996A JP24647996A JPH1090702A JP H1090702 A JPH1090702 A JP H1090702A JP 24647996 A JP24647996 A JP 24647996A JP 24647996 A JP24647996 A JP 24647996A JP H1090702 A JPH1090702 A JP H1090702A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
signal line
gate
liquid crystal
pixel
Prior art date
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Pending
Application number
JP24647996A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yumiko Yamada
ゆみ子 山田
Masahiro Seiki
正寛 清木
Miyuki Hashimoto
美由紀 橋本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP24647996A priority Critical patent/JPH1090702A/en
Publication of JPH1090702A publication Critical patent/JPH1090702A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the opening ratio of pixel without applying an undesired voltage to a pixel electrode by providing the pixel electrode on the upper player of a gate line and a signal line through an interlayer insulation film and providing a shield electrode below the signal line through an insulation film. SOLUTION: The insulation film and the interlayer insulation film are formed extensively over almost whose surface of an array substrate 20 to cover a gate line 26, the signal line 27 and a CS electrode 32, etc. Then, the pixel electrode 29 is provided on the interlayer insulation film. The shield electrode 31 extended from the precedent gate line 26 corresponding to each pixel electrode is provided on the partial lower part of the signal line 27 through a gate insulation film. By providing the shield electrode 31 on the lower part of the signal line 27, coupling capacity between the signal electrode 27 and the pixel electrode 29 is reduced, and the pixel electrode 29 is formed efficiently in an are surrounded by the gate line 26 and the signal line 27, and the opening ratio of the pixel is improved.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、液晶表示装置に
係り、特に開口率を向上させた液晶表示装置に関する。
The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device having an improved aperture ratio.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置は、低消費電力、薄型、軽
量などの特徴をもつため、その特徴を生かして、ワープ
ロ、パーソナルコンピュータなどのOA機器をはじめ、
テレビ受像機の表示部として広くも用いられている。特
にアクティブマトリクス型の液晶表示装置は、高解像度
の表示が可能なことから、盛んに開発が進められてい
る。 このようなアクティブマトリクス型液晶表示装置
は、液晶を挟んで対向する一対の基板のうち、一方の基
板をアレイ基板とし、このアレイ基板に、1画素ごとに
スイッチング素子が設けられ、かつマトリクス状に配置
された画素電極を挟んで互いに交差する方向に複数本の
ゲート線と信号線が設けられたものとなっている。
2. Description of the Related Art Liquid crystal display devices have features such as low power consumption, thinness, and light weight. By utilizing these features, OA equipment such as word processors and personal computers can be used.
It is widely used as a display unit of a television receiver. In particular, active matrix type liquid crystal display devices are being actively developed because high resolution display is possible. In such an active matrix type liquid crystal display device, one of a pair of substrates opposed to each other with a liquid crystal interposed therebetween is used as an array substrate, and the array substrate is provided with a switching element for each pixel, and in a matrix. A plurality of gate lines and signal lines are provided in a direction crossing each other across the arranged pixel electrodes.

【0003】図10にそのアレイ基板における1画素当
たりの構成を、また図11にスイッチング素子である薄
膜トランジスタ(TFT)の構成を示す。アレイ基板
は、ガラス基板1の対向基板との対向面に、互いに交差
する方向に複数本のゲート線2と複数本の信号線3がそ
れぞれ並列に設けられ、これらゲート線2と信号線3で
区画された領域に画素電極4がマトリクス状に設けられ
ている。さらにゲート線2と信号線3の交差部の近くに
TFT5が設けられている。このTFT5は、ガラス基
板1上にゲート線2に接続されたゲート電極7が設けら
れ、このゲート電極7上にゲート絶縁膜8a ,8b を介
して順次コンタクト層9、エッチングストッパ層10、
半導体層11が設けられている。またゲート絶縁膜8b
上に上記画素電極4が設けられている。さらに半導体層
11上にソース電極12およびドレイン電極13が設け
られ、そのソース電極12が画素電極4に接続されてい
る。さらにこのアレイ基板には、保護膜14が設けら
れ、この保護膜14上に配向膜(図示せず)が設けられ
たものとなっている。
FIG. 10 shows a configuration per pixel on the array substrate, and FIG. 11 shows a configuration of a thin film transistor (TFT) as a switching element. In the array substrate, a plurality of gate lines 2 and a plurality of signal lines 3 are respectively provided in parallel in a direction intersecting with each other on a surface of the glass substrate 1 facing the opposite substrate. Pixel electrodes 4 are provided in a matrix in the partitioned area. Further, a TFT 5 is provided near the intersection of the gate line 2 and the signal line 3. In the TFT 5, a gate electrode 7 connected to the gate line 2 is provided on a glass substrate 1, and a contact layer 9, an etching stopper layer 10, and an etching stopper layer 10 are sequentially formed on the gate electrode 7 via gate insulating films 8a and 8b.
A semiconductor layer 11 is provided. Also, the gate insulating film 8b
The pixel electrode 4 is provided thereon. Further, a source electrode 12 and a drain electrode 13 are provided on the semiconductor layer 11, and the source electrode 12 is connected to the pixel electrode 4. Further, a protective film 14 is provided on the array substrate, and an alignment film (not shown) is provided on the protective film 14.

【0004】一方、このアレイ基板と対向する対向基板
には、アレイ基板との対向面に、上記TFT5への入射
光を遮蔽する遮光膜、上記画素電極4と対向する対向電
極およびこれら遮光膜、対向電極上に配向膜が設けられ
たものとなっている。
On the other hand, on a counter substrate facing the array substrate, a light shielding film for blocking incident light to the TFT 5, a counter electrode facing the pixel electrode 4 and these light shielding films are provided on a surface facing the array substrate. An alignment film is provided on the counter electrode.

【0005】ところで、上記従来の液晶表示装置は、画
素電極を挟んで互いに交差する方向にゲート線と信号線
が設けられているため、画素電極の面積を広げるには限
界があり、画素の開口率を向上させることがむつかしい
という問題がある。
In the above-mentioned conventional liquid crystal display device, since the gate line and the signal line are provided in a direction intersecting each other with the pixel electrode interposed therebetween, there is a limit in increasing the area of the pixel electrode. There is a problem that it is difficult to improve the rate.

【0006】この画素の開口率を向上させることができ
る構造として、特開平3−288824号公報、特開平
6−130416号公報などには、特にTFTのソース
電極およびドレイン電極を覆うように層間絶縁膜を設け
ることで、画素電極をゲート線や信号線上に重ねること
ができる構造が示されている。このような構成にするこ
とにより、従来、ゲート線と画素電極の間、信号線と画
素電極の間に設けられていた遮光膜が不要となり、画素
の開口率を向上させることができる。
As a structure capable of improving the aperture ratio of the pixel, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. Hei 3-288824 and Hei 6-130416 disclose an interlayer insulating film particularly so as to cover a source electrode and a drain electrode of a TFT. A structure in which a pixel electrode is overlapped with a gate line or a signal line by providing a film is shown. With such a configuration, the light-shielding film conventionally provided between the gate line and the pixel electrode and between the signal line and the pixel electrode becomes unnecessary, and the aperture ratio of the pixel can be improved.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記のように、アクテ
ィブマトリクス型液晶表示装置の画素の開口率を向上さ
せることができる構造として、TFTのソース電極およ
びドレイン電極を覆うように層間絶縁膜を設け、画素電
極をゲート線や信号線上に重ねることができる構造とす
ることにより、従来、ゲート線と画素電極の間、信号線
と画素電極の間に設けられていた遮光膜を不要として、
画素の開口率を向上させることができる液晶表示装置が
提案されている。
As described above, an interlayer insulating film is provided so as to cover the source electrode and the drain electrode of the TFT as a structure capable of improving the aperture ratio of the pixel of the active matrix type liquid crystal display device. By employing a structure in which a pixel electrode can be overlaid on a gate line or a signal line, a light-shielding film conventionally provided between a gate line and a pixel electrode and between a signal line and a pixel electrode is unnecessary.
A liquid crystal display device capable of improving the aperture ratio of a pixel has been proposed.

【0008】しかし、この液晶表示装置では、層間絶縁
膜を比誘電率の高い膜で形成しても、ゲート線や信号線
に電圧がかかると、ゲート線と画素電極の間および信号
線と画素電極の間にカップリング容量(寄生容量)が発
生し、画素電極に不所望な電圧がかかるという問題があ
る。
However, in this liquid crystal display device, even if the interlayer insulating film is formed of a film having a high relative dielectric constant, when a voltage is applied to the gate line or the signal line, the voltage is applied between the gate line and the pixel electrode and between the signal line and the pixel. There is a problem that a coupling capacitance (parasitic capacitance) is generated between the electrodes and an undesired voltage is applied to the pixel electrodes.

【0009】この発明は、上記問題点に鑑みてなされた
ものであり、画素電極に不所望な電圧を与えることな
く、画素の開口率を向上させることができる液晶表示装
置を構成することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to constitute a liquid crystal display device capable of improving the aperture ratio of a pixel without applying an undesired voltage to a pixel electrode. And

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】絶縁基板に複数本のゲー
ト線、これらゲート線と交差する方向に複数本の信号
線、複数個の薄膜トランジスタおよびマトリクス状に配
置された複数個の画素電極が形成されたアレイ基板を有
する液晶表示装置において、画素電極を層間絶縁膜を介
してゲート線および信号線よりも上層に位置させ、信号
線の下に絶縁膜を介してシールド電極を設けた。
A plurality of gate lines, a plurality of signal lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix are formed on an insulating substrate in a direction intersecting the gate lines. In the liquid crystal display device having the array substrate thus formed, the pixel electrode was positioned above the gate line and the signal line via the interlayer insulating film, and the shield electrode was provided below the signal line via the insulating film.

【0011】また、上記液晶表示装置において、シール
ド電極を信号線に沿ってゲート線から延在させ、層間絶
縁膜を介してこのシールド電極上に画素電極を形成し
た。
In the above liquid crystal display device, a shield electrode extends from a gate line along a signal line, and a pixel electrode is formed on the shield electrode via an interlayer insulating film.

【0012】また、画素電極の信号線側の周辺部を、シ
ールド電極をマスクとするセルフアライメントによりシ
ールド電極の上部に位置するように設けた。
Further, the peripheral portion of the pixel electrode on the signal line side is provided so as to be located above the shield electrode by self-alignment using the shield electrode as a mask.

【0013】また、信号線を透明導電膜で形成し、この
信号線と画素電極を、シールド電極をマスクとするセル
フアライメントにより形成可能に構成した。
Further, the signal line is formed of a transparent conductive film, and the signal line and the pixel electrode can be formed by self-alignment using the shield electrode as a mask.

【0014】また、シールド電極を透明導電膜で形成
し、画素電極の信号線側を、信号線をマスクとするセル
フアライメントにより形成可能に構成した。
Further, the shield electrode is formed of a transparent conductive film, and the signal line side of the pixel electrode can be formed by self-alignment using the signal line as a mask.

【0015】また、シールド電極の形成されていないア
レイ基板上の領域にブラックマトリクスを設けた。
Further, a black matrix is provided in a region on the array substrate where no shield electrode is formed.

【0016】また、絶縁基板に複数本のゲート線、これ
らゲート線と交差する方向に複数本の信号線、複数個の
薄膜トランジスタおよびマトリクス状に配置された複数
個の画素電極が設けられたアレイ基板を有する液晶表示
装置において、画素電極を層間絶縁膜を介してゲート線
および信号線よりも上部に位置させ、信号線の下部に絶
縁膜を介してシールド電極を設け、かつゲート線上に上
記絶縁膜を介してCs用電極を形成し、このCs用電極
と画素電極とを電気的に接続してゲート線との間に補助
容量を形成する構造とした。
An array substrate having an insulating substrate provided with a plurality of gate lines, a plurality of signal lines in a direction intersecting the gate lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix. A pixel electrode is positioned above a gate line and a signal line via an interlayer insulating film, a shield electrode is provided below the signal line via an insulating film, and the insulating film is provided on the gate line. , An electrode for Cs is formed, and the Cs electrode and the pixel electrode are electrically connected to form a storage capacitor between the gate electrode and the gate electrode.

【0017】また、絶縁基板に複数本のゲート線、これ
らゲート線と交差する方向に複数本の信号線、複数個の
薄膜トランジスタおよびマトリクス状に配置された複数
個の画素電極が設けられたアレイ基板を有する液晶表示
装置において、画素電極を層間絶縁膜を介してゲート線
および信号線よりも上部に位置させ、さの信号線の下部
に絶縁膜を介してシールド電をが設け、このシールド電
極をゲート線とは独立のCs線で構成した。
An array substrate having an insulating substrate provided with a plurality of gate lines, a plurality of signal lines in a direction intersecting the gate lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix. In the liquid crystal display device having the above, the pixel electrode is located above the gate line and the signal line via the interlayer insulating film, and a shield electrode is provided below the signal line via the insulating film. A Cs line independent of the gate line was used.

【0018】また、絶縁基板に複数本のゲート線、これ
らゲート線と交差する方向に複数本の信号線、複数個の
薄膜トランジスタおよびマトリクス状に配置された複数
個の画素電極が設けられたアレイ基板を有する液晶表示
装置において、薄膜トランジスタをゲート線上に設け
た。
An array substrate having an insulating substrate provided with a plurality of gate lines, a plurality of signal lines in a direction intersecting the gate lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix. , The thin film transistor is provided on the gate line.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を実施例に基づいて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0020】[0020]

【実施例1】図1に実施例1のアクティブマトリクス型
液晶表示装置の1画素当たりの構成を、図2、3、4に
それぞれそのII-II 線,III-III 線,IV-IV 線断面での
構成を示す。
Embodiment 1 FIG. 1 shows a configuration per pixel of an active matrix type liquid crystal display device of Embodiment 1, and FIGS. 2, 3 and 4 show cross sections taken along lines II-II, III-III and IV-IV, respectively. Is shown.

【0021】この液晶表示装置は、所定間隔離れて対向
するアレイ基板20と対向基板21を有し、これら基板
20,21間に液晶組成物22が介在する構造に形成さ
れている。
This liquid crystal display device has an array substrate 20 and a counter substrate 21 facing each other at a predetermined interval, and is formed in a structure in which a liquid crystal composition 22 is interposed between these substrates 20 and 21.

【0022】そのアレイ基板20は、透明なガラスから
なる絶縁基板24の対向基板21との対向面に絶縁膜2
5が設けられ、この絶縁膜25上に互いに交差する方向
に複数本のゲート線26と複数本の信号線27がそれぞ
れ並列に設けられている。これらゲート線26と信号線
27の交差部では、信号線27は、酸化ケイ素(SiO
x )からなるゲート絶縁膜28を介してゲート線26上
に位置する。そしてこれらゲート線26と信号線27で
区画された複数個の領域に、それぞれITO(indium T
in Oxide)などの透明導電膜からなる画素電極29がマ
トリクス状に設けられている。これら画素電極29は、
それぞれ前順位のゲート線26および両側に位置する下
記シールド電極と周辺部が重畳している。またゲート線
26と信号線27の交差部の近くのゲート線26上に
は、後述する薄膜トランジスタ30(TFT)が設けら
れている。さらに信号線27の一部の下部には、各画素
電極29に対応して、前順位のゲート線26から延在す
るシールド電極31が上記ゲート絶縁膜28を介して設
けられている。このシールド電極31の幅は、この実施
例1では、信号線27の幅よりも広く形成されている。
またゲート線26上には、各画素電極29に対応して、
後述するCs用電極32が設けられている。
The array substrate 20 has an insulating film 2 on the surface of the insulating substrate 24 made of transparent glass facing the opposite substrate 21.
5, a plurality of gate lines 26 and a plurality of signal lines 27 are provided in parallel on the insulating film 25 in directions intersecting each other. At the intersections of the gate lines 26 and the signal lines 27, the signal lines 27 are made of silicon oxide (SiO 2).
x ) is located on the gate line 26 via the gate insulating film 28. A plurality of regions (particularly ITO (indium T
The pixel electrodes 29 made of a transparent conductive film such as in Oxide are provided in a matrix. These pixel electrodes 29
The peripheral portion overlaps with the preceding gate line 26 and the following shield electrodes located on both sides, respectively. Further, a thin film transistor 30 (TFT) described later is provided on the gate line 26 near the intersection of the gate line 26 and the signal line 27. Further, below a part of the signal line 27, a shield electrode 31 extending from the previous gate line 26 is provided via the gate insulating film 28 in correspondence with each pixel electrode 29. In the first embodiment, the width of the shield electrode 31 is formed wider than the width of the signal line 27.
On the gate line 26, corresponding to each pixel electrode 29,
An electrode 32 for Cs described later is provided.

【0023】上記TFT30(図2参照)は、絶縁基板
24上に絶縁膜25を介して上記ゲート線26の一部を
ゲート電極34として、このゲート電極34上に上記ゲ
ート絶縁膜28を介して、順次アモルファスシリコン
(a−Si)からなる半導体層35、i−ストッパー層
36、オーミックコンタクト層37が設けられ、このオ
ーミックコンタクト層37上に上記信号線に接続された
ドレイン電極38およびソース電極39が設けられてい
る。さらにその上に絶縁膜40および表面が平坦化され
た層間絶縁膜41が設けられている。これら絶縁膜40
および層間絶縁膜41は、アレイ基板のほぼ全面にわた
って延在し、上記ゲート線、信号線、Cs用電極などを
覆っている。そしてその層間絶縁膜41上に上記画素電
極29が設けられている。この画素電極29は、上記絶
縁膜40および層間絶縁膜41を貫通するコンタクトホ
ール42を介してソース電極39に接続されている。ま
たこの画素電極29は、図4に示したように、上記絶縁
膜40および層間絶縁膜41を介してシールド電極31
上まで延在している。
The TFT 30 (see FIG. 2) has a part of the gate line 26 as a gate electrode 34 on an insulating substrate 24 via an insulating film 25 and a gate insulating film 28 on the gate electrode 34. A semiconductor layer 35 made of amorphous silicon (a-Si), an i-stopper layer 36, and an ohmic contact layer 37 are sequentially provided. On the ohmic contact layer 37, a drain electrode 38 and a source electrode 39 connected to the signal line are provided. Is provided. Further thereon, an insulating film 40 and an interlayer insulating film 41 whose surface is flattened are provided. These insulating films 40
The interlayer insulating film 41 extends over substantially the entire surface of the array substrate and covers the gate lines, signal lines, Cs electrodes, and the like. The pixel electrode 29 is provided on the interlayer insulating film 41. The pixel electrode 29 is connected to a source electrode 39 via a contact hole 42 penetrating the insulating film 40 and the interlayer insulating film 41. Further, as shown in FIG. 4, the pixel electrode 29 is connected to the shield electrode 31 via the insulating film 40 and the interlayer insulating film 41.
It extends up.

【0024】上記Cs用電極32(図3参照)は、基板
24上に絶縁膜25を介して設けられたゲート線34上
に、ゲート絶縁膜28を介して設けられている。このC
s用電極32は、これを覆う絶縁膜40および層間絶縁
膜41を貫通するコンタクトホール44を介して、上記
画素電極29に接続されている。
The Cs electrode 32 (see FIG. 3) is provided via a gate insulating film 28 on a gate line 34 provided on the substrate 24 via an insulating film 25. This C
The s electrode 32 is connected to the pixel electrode 29 via a contact hole 44 penetrating the insulating film 40 and the interlayer insulating film 41 covering the s electrode 32.

【0025】なお、上記各部材の設けられたアレイ基板
20は、その各部材を覆うようにその上にポリイミド樹
脂からなる配向膜45a が設けられている。
The array substrate 20 provided with the above members is provided with an alignment film 45a made of a polyimide resin so as to cover the respective members.

【0026】一方、対向基板21は、上記アレイ基板2
0と対向する他方の基板46の対向面にITOなどの透
明導電膜からなる共通電極47が設けられ、この共通電
極47上にアレイ基板のTFT形成部分を遮光するブラ
ックマトリクス層48が設けられている。さらにこれら
共通電極47およびブラックマトリクス層48上にポリ
イミド樹脂からなる配向膜45b が設けられている。
On the other hand, the opposing substrate 21 is
A common electrode 47 made of a transparent conductive film such as ITO is provided on a facing surface of the other substrate 46 facing 0, and a black matrix layer 48 for shielding a TFT forming portion of the array substrate from light is provided on the common electrode 47. I have. Further, an alignment film 45b made of a polyimide resin is provided on the common electrode 47 and the black matrix layer 48.

【0027】この液晶表示装置は、つぎのように製造さ
れる。
This liquid crystal display device is manufactured as follows.

【0028】アレイ基板20については、絶縁基板24
の対向基板21との対向面に基板24からの汚染防止お
よび基板24の保護を目的として、スパッタリング法ま
たはプラズマ・ケミカル・ベーパー・デポジッション
(CVD)法により、絶縁膜25を約300nmの厚さに
形成する。
As for the array substrate 20, the insulating substrate 24
In order to prevent contamination from the substrate 24 and protect the substrate 24 on the surface facing the opposite substrate 21, the insulating film 25 is formed to a thickness of about 300 nm by a sputtering method or a plasma chemical vapor deposition (CVD) method. Formed.

【0029】ついで、この絶縁膜21上にスパッタリン
グ法により、モリブデン・タングステン(MoW)ある
いはモリブデン・タンタル(MoTa)を約200nmの
厚さに堆積し、四フッ化炭素(CF4 )と酸素(O2
の混合ガスを用いてプラズマ・ケミカル・ドライ・エッ
チング(CDE)法によりエッチングして、絶縁基板2
4の板面に対して30°以下のテーパ側面をもつゲート
線26およびシールド電極31を形成する。このような
ゲート線26およびシールド電極31は、四フッ化炭素
の流量を160sccm、酸素の流量を320sccmとし、エ
ッチング圧力30Pa でエッチングすることにより得ら
れる。
Next, molybdenum-tungsten (MoW) or molybdenum-tantalum (MoTa) is deposited on the insulating film 21 to a thickness of about 200 nm by sputtering, and carbon tetrafluoride (CF 4 ) and oxygen (O 2 ) are deposited. 2 )
Is etched by a plasma chemical dry etching (CDE) method using a mixed gas of
The gate line 26 and the shield electrode 31 having a tapered side surface of 30 ° or less with respect to the plate surface of No. 4 are formed. Such a gate line 26 and the shield electrode 31 are obtained by etching at a flow rate of carbon tetrafluoride of 160 sccm and a flow rate of oxygen of 320 sccm at an etching pressure of 30 Pa.

【0030】ついで、上記ゲート線26やシールド電極
31などの形成された絶縁基板24に、たとえばテトラ
エチルオキシシラン(TEOS)ガスを用いてプラズマ
CVD法により酸化ケイ素(SiOx )を堆積して、表
面が平坦なゲート絶縁膜28を形成する。
Next, silicon oxide (SiO x ) is deposited on the insulating substrate 24 on which the gate lines 26 and the shield electrodes 31 are formed by plasma CVD using, for example, tetraethyloxysilane (TEOS) gas. Forms a flat gate insulating film 28.

【0031】つぎに、プラズマCVD法によりアモルフ
ァスシリコン(a−Si)を500nmの厚さに堆積し、
エッチングして半導体層35を形成する。
Next, amorphous silicon (a-Si) is deposited to a thickness of 500 nm by a plasma CVD method.
The semiconductor layer 35 is formed by etching.

【0032】つぎに、プラズマCVD法により窒化ケイ
素(SiNx )を堆積し、エッチングしてi−ストッパ
ー層36を形成する。その後、プラズマCVD法により
a−Siを50nmの厚さに堆積し、CDE法により
不要部分を除去して、半導体層35上のドレイン電極3
8およびソース電極39形成部分にオーミックコンタク
ト層37を形成する。
Next, silicon nitride (SiN x ) is deposited by plasma CVD and etched to form an i-stopper layer 36. Thereafter, n + a-Si is deposited to a thickness of 50 nm by a plasma CVD method, unnecessary portions are removed by a CDE method, and the drain electrode 3 on the semiconductor layer 35 is removed.
An ohmic contact layer 37 is formed at the portion where the source electrode 39 is formed.

【0033】つぎに、スパッタリング法によりモリブデ
ンMo/アルミニウムAl/モリブデンMoの3層から
なる金属層を30nm/350nm/70nmの厚さに堆積
し、エッチングして、 上記オーミックコンタクト層3
7上にドレイン電極38、ソース電極39、シールド線
31上にゲート絶縁28を介して信号線27、ゲート線
26上にゲート絶縁28を介してCs用電極32を形成
する。
Next, a metal layer composed of three layers of molybdenum Mo / aluminum Al / molybdenum Mo is deposited to a thickness of 30 nm / 350 nm / 70 nm by a sputtering method and etched to form the ohmic contact layer 3.
The signal line 27 is formed on the drain electrode 38 and the source electrode 39, the shield line 31 via the gate insulation 28, and the Cs electrode 32 on the gate line 26 via the gate insulation 28.

【0034】ついで、上記ドレイン電極38やソース電
極39などの形成された絶縁基板24に、プラズマCV
D法によりSiNx を堆積して絶縁膜40を形成する。
さらに、スピンコート法によりアクリル系樹脂を主成分
とする感光剤を塗布し、90°で1分間加熱したのち、
フォトリソグラフィ法により露光、現像して層間絶縁膜
41を形成する。
Next, the plasma CV is applied to the insulating substrate 24 on which the drain electrode 38 and the source electrode 39 are formed.
The insulating film 40 is formed by depositing SiN x by the method D.
Furthermore, after applying a photosensitive agent containing an acrylic resin as a main component by a spin coating method and heating it at 90 ° for 1 minute,
The interlayer insulating film 41 is formed by exposing and developing by photolithography.

【0035】ついで、上記層間絶縁膜41をレジストと
して絶縁膜40をエッチングし、ソース電極39および
Cs用電極32に達するコンタクトホール42,44を
形成する。
Then, the insulating film 40 is etched by using the interlayer insulating film 41 as a resist to form contact holes 42 and 44 reaching the source electrode 39 and the Cs electrode 32.

【0036】つぎに、上記層間絶縁膜41上にスパッタ
リング法によりITOを堆積し、リアクティブ・イオン
・エッチング(RIE)およびHF系エッチング液を用
いて画素電極29およびゲート線26上のパッド部の開
口を形成する。
Next, ITO is deposited on the interlayer insulating film 41 by a sputtering method, and the pad portions on the pixel electrodes 29 and the gate lines 26 are formed using reactive ion etching (RIE) and an HF-based etchant. Form an opening.

【0037】その後、上記画素電極29やTFT30な
どの形成された面上にポリイミド樹脂を塗布し、ラビン
グ処理して配向膜45a を形成する。
Thereafter, a polyimide resin is applied on the surface on which the pixel electrodes 29, the TFTs 30 and the like are formed, and rubbing is performed to form an alignment film 45a.

【0038】一方、対向基板21については、絶縁基板
46のアレイ基板20との対向面にスパッター法により
ITOを堆積して共通電極47を形成し、ついで、この
共通電極47上にスパッター法によりクロームCrなど
の金属膜を形成し、フォトリソグラフィ法によりエッチ
ングして、アレイ基板20のTFT形成部分を遮光する
ブラックマトリクス層48を形成する。さらに、これら
共通電極47およびブラックマトリクス層48上にポリ
イミド樹脂を塗布し、ラビング処理して配向膜45b を
形成する。
On the other hand, with respect to the opposing substrate 21, ITO is deposited on the surface of the insulating substrate 46 facing the array substrate 20 by sputtering to form a common electrode 47, and then the common electrode 47 is formed on the common electrode 47 by sputtering. A metal film such as Cr is formed and etched by a photolithography method to form a black matrix layer 48 that shields a portion of the array substrate 20 where a TFT is to be formed. Further, a polyimide resin is applied on the common electrode 47 and the black matrix layer 48 and rubbed to form an alignment film 45b.

【0039】つぎに、上記アレイ基板20と対向基板2
1を所定間隔離して対向し、これら基板20,21の周
辺部を接着剤によりシールしたのち、両基板20,21
間に液晶組成物22を封入する。
Next, the array substrate 20 and the opposing substrate 2
After sealing the peripheral portions of the substrates 20 and 21 with an adhesive, the substrates 20 and 21 are separated from each other.
The liquid crystal composition 22 is sealed therebetween.

【0040】ところで、上記のように液晶表示装置を構
成すると、アレイ基板20の画素電極29は、ゲート線
26や信号線27よりも上部に設けられた層間絶縁膜4
1上に位置し、信号線27が画素のブラックマトリクス
となるため、信号線27と対向基板21のブラックマト
リクス層48とにより画素の開口率を決定でき、上記実
施例では82%と画素の開口率を向上させることができ
る。しかも、層間絶縁膜41の表面を平坦化することに
より、この層間絶縁膜41上に形成される画素電極29
の段切れやカバーレージの低下を防止することができ
る。
By the way, when the liquid crystal display device is configured as described above, the pixel electrode 29 of the array substrate 20 has the interlayer insulating film 4 provided above the gate line 26 and the signal line 27.
1, the signal line 27 serves as a black matrix of pixels. Therefore, the aperture ratio of the pixel can be determined by the signal line 27 and the black matrix layer 48 of the counter substrate 21. In the above embodiment, the aperture ratio of the pixel is 82%. Rate can be improved. Moreover, by planarizing the surface of the interlayer insulating film 41, the pixel electrode 29 formed on the interlayer insulating film 41 is formed.
Can be prevented from being cut off and the coverage can be reduced.

【0041】また、信号線27の下部にシールド電極3
1を設けたことにより、信号線27と画素電極29との
カップリングを大幅に小さくすることができる。すなわ
ち、図4(図1におけるIV-IV 線断面)に示した信号線
27と画素電極29との間隔xを変数として、信号線2
7と画素電極29との間のカップリング容量(寄生容
量)を調べたところ、図5に信号線と画素電極とが重な
っている場合を−x値として曲線50で示した関係が得
られた。この曲線50で示したカップリング容量は、シ
ールド電極のない従来構造の場合について示した曲線5
1にくらべて、いちじるしく小さく、x=2μm とした
場合、約2.1×10-3 pFと、大幅に小さくなってい
る。
The shield electrode 3 is provided below the signal line 27.
By providing 1, the coupling between the signal line 27 and the pixel electrode 29 can be significantly reduced. That is, with the distance x between the signal line 27 and the pixel electrode 29 shown in FIG. 4 (cross section taken along line IV-IV in FIG.
When the coupling capacitance (parasitic capacitance) between the pixel electrode 7 and the pixel electrode 29 was examined, the relationship shown by the curve 50 in FIG. . The coupling capacitance shown by the curve 50 is the same as the curve 5 shown for the case of the conventional structure without the shield electrode.
When x = 2 μm, the value is much smaller than 2.1, that is, about 2.1 × 10 −3 pF.

【0042】また、ゲート線26の一部をゲート電極3
4として、ゲート線26と信号線27との交差部の近く
に主要部がゲート線26と重なるようにTFT30が形
成されているので、ゲート線26とシールド電極31と
の間隔を10μm と非常に小さくでき、かつ対向基板2
1のブラックマトリクス層48を小さくすることができ
る。その結果、画素の開口率を向上させ、同時にゲート
電極30とシールド電極27とのショートを回避するこ
とができる。
A part of the gate line 26 is connected to the gate electrode 3.
4, since the TFT 30 is formed near the intersection of the gate line 26 and the signal line 27 so that the main part overlaps the gate line 26, the distance between the gate line 26 and the shield electrode 31 is very small, 10 μm. Can be made small and the counter substrate 2
One black matrix layer 48 can be made smaller. As a result, the aperture ratio of the pixel can be improved, and at the same time, a short circuit between the gate electrode 30 and the shield electrode 27 can be avoided.

【0043】また、Cs用電極32を信号線27と同一
金属でゲート絶縁膜28を介してゲート線26上に形成
され、Cs部がゲート線26によって遮光される領域内
に位置するため、Cs部によりさらに遮光されることは
ない。したがってこの点からも画素の開口率を向上させ
ることができる。特にCs用電極32の幅をゲート線2
6の幅より小さくすることにより、合わせずれによるC
s値の変動を防ぐようにしながら開口率を向上させるこ
とができる。また、Cs用電極32の幅をゲート線26
の幅より大きくすることにより、ゲート線26の幅を1
00%利用して、不所望な遮光部を設けることなくCs
部を形成することができる。
Further, since the Cs electrode 32 is formed of the same metal as the signal line 27 on the gate line 26 via the gate insulating film 28, and the Cs portion is located in a region shielded by the gate line 26, the Cs electrode 32 is formed. No light is further blocked by the part. Therefore, also from this point, the aperture ratio of the pixel can be improved. In particular, the width of the Cs electrode 32 is
By making the width smaller than 6, the C due to misalignment is reduced.
The aperture ratio can be improved while preventing a change in the s value. In addition, the width of the Cs electrode 32 is
, The width of the gate line 26 is set to 1
Cs without providing an undesired light shielding part
A part can be formed.

【0044】なお、上記実施例1では、画素電極にゲー
ト電圧を供給するゲート線に対して画素電極を離して設
けたが、この画素電極にゲート電圧を供給するゲート線
に重畳して設けてもよい。このように重畳して設ける
と、ブラックマトリクスなしで液晶表示装置を構成する
ことが可能となる。
In the first embodiment, the pixel electrode is provided apart from the gate line for supplying the gate voltage to the pixel electrode. However, the pixel electrode is provided so as to overlap the gate line for supplying the gate voltage to the pixel electrode. Is also good. By thus overlapping, a liquid crystal display device can be configured without a black matrix.

【0045】また、層間絶縁膜の膜厚を厚く、あるいは
誘電率の小さい材料、たとえばパーフルオロアニルビニ
ルエーテルまたはパーフルオロブテニルビニルエーテル
から誘導された繰返し単位をもつフッ素環状重合体から
なる有機溶剤、サイドトップ(旭硝子社製、比誘電率約
2.1)などにより形成することにより、信号線と画素
電極との間のカップリング容量をさらに低減することが
できる。
Further, an organic solvent comprising a fluorine-containing polymer having a repeating unit derived from a material having a large interlayer insulating film or a small dielectric constant, for example, perfluoroanyl vinyl ether or perfluorobutenyl vinyl ether; The coupling capacitance between the signal line and the pixel electrode can be further reduced by forming it with a top (a relative dielectric constant of about 2.1, manufactured by Asahi Glass Co., Ltd.) or the like.

【0046】[0046]

【実施例2】図6に実施例2のアクティブマトリクス型
液晶表示装置の1画素当たりの構成を示す。この液晶表
示装置は、シールド電極31がゲート線26とは独立に
設けられている。そのシールド電極31は、Cs線を兼
ねており、信号線27に沿って画素電極29の両側に位
置する部分と、画素電極29を横切ってこれら両側に位
置する部分を接続する部分とから構成されている。そし
て、その画素電極29を横切って両側に位置する部分を
接続する部分上にCs電極32が設けられている。
Embodiment 2 FIG. 6 shows a configuration per pixel of an active matrix type liquid crystal display device of Embodiment 2. In this liquid crystal display device, the shield electrode 31 is provided independently of the gate line 26. The shield electrode 31 also serves as a Cs line, and includes a portion located on both sides of the pixel electrode 29 along the signal line 27, and a portion connecting the portions located on both sides across the pixel electrode 29. ing. A Cs electrode 32 is provided on a portion connecting the portions located on both sides across the pixel electrode 29.

【0047】なお、その他の部分については、実施例1
と同じであるので、同一部分に同一符号を付して、その
説明を省略する。
The other parts are described in the first embodiment.
Therefore, the same reference numerals are given to the same parts, and the description thereof will be omitted.

【0048】このように液晶表示装置を構成すると、ゲ
ート線26の負荷が小さくなるため、高精細な液晶表示
装置などのゲート線時定数が低い方が好ましいデバイ
ス、あるいはHコモン反転駆動などのCs時定数が小さ
い方が好ましいデバイスに適した液晶表示装置とするこ
とができる。
When the liquid crystal display device is configured in this manner, the load on the gate line 26 is reduced. Therefore, it is preferable that the gate line time constant be lower, such as a high-definition liquid crystal display device, or Cs such as H common inversion drive. A liquid crystal display device suitable for a device having a smaller time constant is preferable.

【0049】[0049]

【実施例3】図7に実施例3のアクティブマトリクス型
液晶表示装置の構成を示す。この液晶表示装置は、信号
線27をITOなどの透明導電膜で構成し、かつこの信
号線27の幅を下部にシールド電極31の幅と等しくし
たものである。
Third Embodiment FIG. 7 shows the structure of an active matrix type liquid crystal display device according to a third embodiment. In this liquid crystal display device, the signal line 27 is made of a transparent conductive film such as ITO, and the width of the signal line 27 is equal to the width of the shield electrode 31 at the bottom.

【0050】その他の部分については、実施例1と同じ
であるので、同一部分に同一符号を付して、その説明を
省略する。
The other parts are the same as those in the first embodiment, and the same parts are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0051】このように信号線27を透明導電膜で構成
すると、シールド電極31をマスクとしたセルフアライ
メントで画素電極29を形成するようしたものであり、
画素の開口率を一層向上させることができる。また信号
線27と画素電極29との間のカップリング容量を低減
することができる。
When the signal line 27 is made of a transparent conductive film as described above, the pixel electrode 29 is formed by self-alignment using the shield electrode 31 as a mask.
The aperture ratio of the pixel can be further improved. Further, the coupling capacitance between the signal line 27 and the pixel electrode 29 can be reduced.

【0052】[0052]

【実施例4】図8に実施例4のアクティブマトリクス型
液晶表示装置の構成を示す。この液晶表示装置は、信号
線27の幅を下部にシールド電極31の幅よりも小さく
し、シールド電極31をマスクとしたセルフアライメン
トにより画素電極29を形成できるようにしたものであ
る。
Fourth Embodiment FIG. 8 shows the configuration of an active matrix type liquid crystal display device of a fourth embodiment. In this liquid crystal display device, the width of the signal line 27 is smaller than the width of the shield electrode 31 at the lower portion, and the pixel electrode 29 can be formed by self-alignment using the shield electrode 31 as a mask.

【0053】その他の部分については、実施例1と同じ
であるので、同一部分に同一符号を付して、その説明を
省略する。
The other parts are the same as those in the first embodiment, and therefore, the same parts are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0054】このようにすると、画素の開口率を大きく
することができ、かつ信号線26と画素電極29との間
のカップリング容量を低減することができる。
In this way, the aperture ratio of the pixel can be increased, and the coupling capacitance between the signal line 26 and the pixel electrode 29 can be reduced.

【0055】[0055]

【実施例5】図9に実施例5のアクティブマトリクス型
液晶表示装置の構成を示す。この液晶表示装置は、シー
ルド電極31をITOなどの透明導電膜で構成し、かつ
シールド電極31の幅を信号線27の幅よりも大きくし
たものである。
Fifth Embodiment FIG. 9 shows the structure of an active matrix type liquid crystal display device of a fifth embodiment. In this liquid crystal display device, the shield electrode 31 is made of a transparent conductive film such as ITO, and the width of the shield electrode 31 is larger than the width of the signal line 27.

【0056】その他の部分については、実施例1と同じ
であるので、同一部分に同一符号を付して、その説明を
省略する。
The other parts are the same as those in the first embodiment, and the same parts are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.

【0057】このようにシールド電極31を透明導電膜
で構成すると、信号線27をマスクとしたセルフアライ
メントで画素電極29を形成することができ、画素の開
口率に影響を与えることなくシールド電極27の幅を大
きくすることができる。
When the shield electrode 31 is made of a transparent conductive film in this manner, the pixel electrode 29 can be formed by self-alignment using the signal line 27 as a mask, and the shield electrode 27 can be formed without affecting the aperture ratio of the pixel. Can be increased in width.

【0058】[0058]

【発明の効果】上述のようにこの発明によれば、信号線
の下部にシールド電極を設けたことにより、信号線と画
素電極との間のカップリング容量を低減して、画素電極
をゲート線と信号線により囲まれた領域に無駄なく形成
することができ、画素の開口率を向上させることができ
る。
As described above, according to the present invention, by providing the shield electrode below the signal line, the coupling capacitance between the signal line and the pixel electrode is reduced, and the pixel electrode is connected to the gate line. Can be formed without waste in a region surrounded by the signal lines and the aperture ratio of the pixel can be improved.

【0059】また、ゲート線の一部をゲート電極とし
て、TFTの主要部をゲート線上に設けたことにより、
この点からも画素の開口率を向上させることができた。
In addition, by providing a main part of the TFT on the gate line with a part of the gate line as a gate electrode,
From this point as well, the aperture ratio of the pixel could be improved.

【0060】また、信号線またはその下部のシールド電
極を透明導電膜で形成することにより、シールド電極ま
たは信号線をマスクとしてセルフアライメントにより画
素電極を形成することができ、それにより、画素の開口
率を一層向上させることができ、かつ信号線と画素電極
との間のカップリング容量を低減することができる。
Further, by forming the signal line or the shield electrode under the signal line with a transparent conductive film, the pixel electrode can be formed by self-alignment using the shield electrode or the signal line as a mask. Can be further improved, and the coupling capacitance between the signal line and the pixel electrode can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施の形態における実施例1のアク
ティブマトリクス型液晶表示装置の1画素当たりの構成
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration per pixel of an active matrix liquid crystal display device of Example 1 in an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示したアクティブマトリクス型液晶表示
装置のII-II 線断面図である。
FIG. 2 is a sectional view of the active matrix type liquid crystal display device shown in FIG. 1, taken along the line II-II.

【図3】同じく図1に示したアクティブマトリクス型液
晶表示装置のIII-III 線断面図である。
3 is a sectional view of the active matrix type liquid crystal display device shown in FIG. 1, taken along the line III-III.

【図4】同じく図1に示したアクティブマトリクス型液
晶表示装置のIV-IV 線断面図である。
FIG. 4 is a sectional view of the active matrix type liquid crystal display device shown in FIG. 1, taken along the line IV-IV.

【図5】実施例1のアクティブマトリクス型液晶表示装
置の信号線と画素電極との間のカップリング容量を説明
するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a coupling capacitance between a signal line and a pixel electrode of the active matrix liquid crystal display device according to the first embodiment.

【図6】この発明の実施の形態における実施例2のアク
ティブマトリクス型液晶表示装置の1画素当たりの構成
を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a configuration per pixel of an active matrix liquid crystal display device of Example 2 in an embodiment of the present invention.

【図7】この発明の実施の形態における実施例3のアク
ティブマトリクス型液晶表示装置の構成を示す断面図で
ある。
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a configuration of an active matrix liquid crystal display device of Example 3 in an embodiment of the present invention.

【図8】この発明の実施の形態における実施例4のアク
ティブマトリクス型液晶表示装置の構成を示す断面図で
ある。
FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a configuration of an active matrix liquid crystal display device of Example 4 in an embodiment of the present invention.

【図9】この発明の実施の形態における実施例5のアク
ティブマトリクス型液晶表示装置の構成を示す断面図で
ある。
FIG. 9 is a sectional view showing a configuration of an active matrix liquid crystal display device of Example 5 in an embodiment of the present invention.

【図10】従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置
の1画素当たりの構成を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a configuration per pixel of a conventional active matrix liquid crystal display device.

【図11】従来のアクティブマトリクス型液晶表示装置
におけるTFTの構成を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a TFT in a conventional active matrix liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

20…アレイ基板 21…対向基板 26…ゲート線 27…信号線 28…ゲート絶縁膜 29…画素電極 30…薄膜トランジスタ 31…シールド電極 32…Cs用電極 40…絶縁膜 41…層間絶縁膜 47…共通電極 48…ブラックマトリクス層 Reference Signs List 20 array substrate 21 counter substrate 26 gate line 27 signal line 28 gate insulating film 29 pixel electrode 30 thin film transistor 31 shield electrode 32 Cs electrode 40 insulating film 41 interlayer insulating film 47 common electrode 48 ... Black matrix layer

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁基板に複数本のゲート線、これらゲ
ート線と交差する方向に複数本の信号線、複数個の薄膜
トランジスタおよびマトリクス状に配置された複数個の
画素電極が設けられたアレイ基板を有する液晶表示装置
において、 上記画素電極は層間絶縁膜を介して上記ゲート線および
信号線よりも上部に位置し、上記信号線の下部に絶縁膜
を介してシールド電極が設けられていることを特徴とす
る液晶表示装置。
An array substrate provided with a plurality of gate lines, a plurality of signal lines in a direction intersecting with the gate lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix on an insulating substrate. Wherein the pixel electrode is located above the gate line and the signal line via an interlayer insulating film, and a shield electrode is provided below the signal line via an insulating film. Characteristic liquid crystal display device.
【請求項2】 シールド電極は信号線に沿ってゲート線
から延在し、層間絶縁膜を介してこのシールド電極上に
画素電極が設けられていることを特徴とする請求項1記
載の液晶表示装置。
2. The liquid crystal display according to claim 1, wherein the shield electrode extends from the gate line along the signal line, and a pixel electrode is provided on the shield electrode via an interlayer insulating film. apparatus.
【請求項3】 画素電極は信号線側の周辺部がシールド
電極をマスクとするセルフアライメントにより上記シー
ルド電極の上部に位置するように形成されていることを
特徴とする請求項1記載の液晶表示装置。
3. The liquid crystal display according to claim 1, wherein the pixel electrode is formed so that a peripheral portion on the signal line side is located above the shield electrode by self-alignment using the shield electrode as a mask. apparatus.
【請求項4】 信号線が透明導電膜で形成され、この信
号線と画素電極がシールド電極をマスクとするセルフア
ライメントにより形成可能に構成されていることを特徴
とする請求項1記載の液晶表示装置。
4. The liquid crystal display according to claim 1, wherein the signal line is formed of a transparent conductive film, and the signal line and the pixel electrode can be formed by self-alignment using the shield electrode as a mask. apparatus.
【請求項5】 シールド電極が透明導電膜で形成され、
画素電極の信号線側が信号線をマスクとするセルフアラ
イメントにより形成可能に構成されていることを特徴と
する請求項1記載の液晶表示装置。
5. The shield electrode is formed of a transparent conductive film,
2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the signal line side of the pixel electrode can be formed by self-alignment using the signal line as a mask.
【請求項6】 シールド電極の形成されていないアレイ
基板上の領域にブラックマトリクスが形成されている特
徴とする請求項1記載の液晶表示装置。
6. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein a black matrix is formed in a region on the array substrate where no shield electrode is formed.
【請求項7】 絶縁基板に複数本のゲート線、これらゲ
ート線と交差する方向に複数本の信号線、複数個の薄膜
トランジスタおよびマトリクス状に配置された複数個の
画素電極が設けられたアレイ基板を有する液晶表示装置
において、 上記画素電極は層間絶縁膜を介して上記ゲート線および
信号線よりも上部に位置し、上記信号線の下部に絶縁膜
を介してシールド電極が設けられ、かつ上記ゲート線上
に上記絶縁膜を介してCs用電極が形成され、このCs
用電極と上記画素電極とが電気的に接続されて上記ゲー
ト線との間に補助容量を形成することを特徴とする液晶
表示装置。
7. An array substrate having an insulating substrate provided with a plurality of gate lines, a plurality of signal lines in a direction intersecting the gate lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix. Wherein the pixel electrode is located above the gate line and the signal line via an interlayer insulating film, a shield electrode is provided below the signal line via an insulating film, and the gate electrode An electrode for Cs is formed on the wire via the insulating film, and the Cs
A liquid crystal display device, wherein an auxiliary electrode is electrically connected to the pixel electrode to form an auxiliary capacitor between the gate electrode and the pixel electrode.
【請求項8】 絶縁基板に複数本のゲート線、これらゲ
ート線と交差する方向に複数本の信号線、複数個の薄膜
トランジスタおよびマトリクス状に配置された複数個の
画素電極が設けられたアレイ基板を有する液晶表示装置
において、 上記画素電極は層間絶縁膜を介して上記ゲート線および
信号線よりも上部に位置し、上記信号線の下部に絶縁膜
を介してシールド電極が設けられ、このシールド電極が
上記ゲート線とは独立のCs線から延在していることを
特徴とする液晶表示装置。
8. An array substrate provided with a plurality of gate lines, a plurality of signal lines in a direction intersecting the gate lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix on an insulating substrate. Wherein the pixel electrode is located above the gate line and the signal line via an interlayer insulating film, and a shield electrode is provided below the signal line via an insulating film. Extending from a Cs line independent of the gate line.
【請求項9】 絶縁基板に複数本のゲート線、これらゲ
ート線と交差する方向に複数本の信号線、複数個の薄膜
トランジスタおよびマトリクス状に配置された複数個の
画素電極が設けられたアレイ基板を有する液晶表示装置
において、 上記薄膜トランジスタは上記ゲート線上に設けられてい
ることを特徴とする液晶表示装置。
9. An array substrate in which an insulating substrate is provided with a plurality of gate lines, a plurality of signal lines in a direction intersecting the gate lines, a plurality of thin film transistors, and a plurality of pixel electrodes arranged in a matrix. 2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the thin film transistor is provided on the gate line.
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