JPH1084166A - Integrated optical semiconductor device - Google Patents

Integrated optical semiconductor device

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JPH1084166A
JPH1084166A JP23740296A JP23740296A JPH1084166A JP H1084166 A JPH1084166 A JP H1084166A JP 23740296 A JP23740296 A JP 23740296A JP 23740296 A JP23740296 A JP 23740296A JP H1084166 A JPH1084166 A JP H1084166A
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JP
Japan
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region
electrode
optical
layer
type
Prior art date
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JP23740296A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaki Toyama
政樹 遠山
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication of JPH1084166A publication Critical patent/JPH1084166A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent a modulation signal from being leaked and to inhibit an increase in a wavelength chirp to make a long-distance optical transmission possible by a method wherein electrodes are provided on an optical waveguide path and a laser region and a modulation region are electrically separated from each other. SOLUTION: An integrated optical semiconductor device is constituted of an N-type InP substrate 1, a well active layer 2, a diffraction grating 3, a light absorption layer which is also used as an optical waveguide layer 4, a P-type InP clad layer 5, P-type contact layers 61 , 62 and 63 , P-type ohmic electrodes 71 , 72 , and 73 , an N-type ohmic electrode 8, insulating films 9, a high reflective film 10 and a non-reflective film 11. Moreover, the device is electrically separated into a laser region 12 and a modulation region 13 by an electrode separation region 14. When a reverse bias voltage is applied to the region 13, a leakage current from the region 13 is made to flow to the outside via the electrode 73 . Thereby, even if the voltage, which is applied to the region 13, is modulated, a modulation signal is prevented from being leaked in the region 12 and an increase in a wavelength chirp is inhibited.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は光半導体装置に係わ
り、特に複数の光半導体素子を集積化した光半導体装置
に関する。
The present invention relates to an optical semiconductor device, and more particularly to an optical semiconductor device in which a plurality of optical semiconductor elements are integrated.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、幹線系光通信システムの長距離化
・大容量化の研究開発が盛んに展開されている。高速変
調時にも低チャープ動作が得られる半導体光変調器は、
幹線系光通信システムのキーデバイスである。特に、半
導体光変調器と半導体レーザとをモノリシックに集積化
することにより、送信光源を低コストで実現することが
できる。
2. Description of the Related Art In recent years, research and development on long-distance and large-capacity trunk optical communication systems have been actively pursued. Semiconductor optical modulators that can achieve low chirp operation even during high-speed modulation,
It is a key device of a trunk optical communication system. In particular, the transmission light source can be realized at low cost by monolithically integrating the semiconductor optical modulator and the semiconductor laser.

【0003】図4には、従来の半導体光変調器/半導体
レーザ集積化光源の導波方向に沿った断面図を示す。図
中、1はn型InP基板、2はInGaAsP多重量子
構造から成る井戸活性層、3は回折格子、4はInGa
AsP多重量子構造から成る光吸収層兼光導波層、5は
p型InPクラッド層、61 、62 はp型InGaAs
コンタクト層、71 、72 はAu/Zu/Auから成る
p型オーミック電極、8はAuGe/Ni/Auから成
るn型オーミック電極、9はSiO2 から成る絶縁膜、
10はSi/SiO2 多層膜から成る高反射膜、11は
SiNx から成る無反射膜である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a conventional semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source taken along the waveguide direction. In the figure, 1 is an n-type InP substrate, 2 is a well active layer having an InGaAsP multiple quantum structure, 3 is a diffraction grating, 4 is InGa
An optical absorption layer and an optical waveguide layer having an AsP multiple quantum structure, 5 is a p-type InP cladding layer, 6 1 and 6 2 are p-type InGaAs.
A contact layer, 7 1 and 7 2 are p-type ohmic electrodes made of Au / Zu / Au, 8 is an n-type ohmic electrode made of AuGe / Ni / Au, 9 is an insulating film made of SiO 2 ,
Reference numeral 10 denotes a high-reflection film made of a Si / SiO 2 multilayer film, and 11 denotes a non-reflection film made of SiN x .

【0004】この光半導体素子では、p型オーミック電
極71 を介して一定の電流を活性層2に注入することで
レーザ発振させると同時に、p型オーミック電極72
介して電圧信号を光吸収層4に印加することで光強度を
変調している。ここで、レーザ領域12と変調器領域1
3との間には電極分離領域14が設けられている。電極
分離領域14では、p型InGaAsコンタクト層6が
エッチング除去されており、レーザ領域12と変調器領
域13とが電気的に干渉しないように配慮されている。
しかしながら、レーザ領域12と変調器領域13とは光
導波層4を介して光学的に結合させる必要があり、電極
分離領域14においても光導波層4上にp型InPクラ
ッド層5を設ける必要がある。したがって、レーザ領域
12と変調器領域13とはp型InPクラッド層5を介
して接続されるため完全には電気的に分離することがで
きず、レーザ領域12と変調器領域13との間に漏れ電
流が流れる。この結果、光吸収層4に電圧変調信号を印
加した際に、活性層2に注入される電流もが変調を受
け、このことが波長チャープの増大を引き起こしてい
た。
[0004] In this optical semiconductor device, simultaneously with the laser oscillation by injecting a constant current into the active layer 2 through the p-type ohmic electrode 71, the light absorption voltage signal through the p-type ohmic electrode 7 2 Light intensity is modulated by applying to the layer 4. Here, the laser region 12 and the modulator region 1
3, an electrode separation region 14 is provided. In the electrode isolation region 14, the p-type InGaAs contact layer 6 is removed by etching so that the laser region 12 and the modulator region 13 are not electrically interfered.
However, the laser region 12 and the modulator region 13 need to be optically coupled via the optical waveguide layer 4, and the p-type InP cladding layer 5 needs to be provided on the optical waveguide layer 4 also in the electrode separation region 14. is there. Therefore, since the laser region 12 and the modulator region 13 are connected via the p-type InP cladding layer 5, they cannot be completely electrically separated from each other. Leakage current flows. As a result, when a voltage modulation signal is applied to the light absorption layer 4, the current injected into the active layer 2 is also modulated, which causes an increase in the wavelength chirp.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来の半
導体光変調器/半導体レーザ集積化光源では、レーザ領
域と変調器領域を完全には電気的に分離することができ
ず、波長チャープの増大を引き起こすという問題点があ
った。
As described above, in the conventional semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source, the laser region and the modulator region cannot be completely electrically separated from each other. There was a problem of causing an increase.

【0006】本発明は、上記事情を考慮して成されたも
ので、その目的とするところは、レーザ領域と変調器領
域とを完全に電気的に分離することにより、波長チャー
プの増大を引き起こすことのない半導体光変調器/半導
体レーザ集積化光源を実現することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to completely increase the wavelength chirp by completely electrically separating a laser region and a modulator region. An object of the present invention is to realize a semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source without any problem.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、複数の光半導
体素子を光導波路を介して接続するように集積化した光
半導体装置において、前記光導波路上に電極を設けてい
ることを特徴とする(請求項1)。本発明の好ましい実
施態様としては、前記電極に一定の電圧を印加すること
(請求項2)、もしくは前記電極が接地されていること
(請求項3)が挙げられる。
According to the present invention, in an optical semiconductor device in which a plurality of optical semiconductor elements are integrated so as to be connected via an optical waveguide, an electrode is provided on the optical waveguide. (Claim 1). As a preferred embodiment of the present invention, a constant voltage is applied to the electrode (claim 2), or the electrode is grounded (claim 3).

【0008】本発明によれば、複数の光半導体素子を接
続する光導波路上にも電極を有している。ここで、前記
電極が半導体材料とオーミック接触するように形成し、
前記電極に一定の電圧を印加すれば、前記電極下の半導
体層の電位を一定に保つと同時に、漏れ電流を前記電極
を介して外部に流すことが可能である。すなわち、前記
電極を挟んだ2つの光半導体素子は、完全に電気的に分
離することができる。この結果、一方の光半導体素子を
電気的に変調しても、もう一方の光半導体素子にまで変
調信号が漏洩することはない。また、前記電極を接地し
た場合には、前記電極下の半導体層を零電位に保つと同
時に、漏れ電流を前記電極を介してアースに流すことが
可能である。従って、この場合にも前記電極を挟んだ2
つの光半導体素子を完全に電気的に分離することができ
る。
According to the present invention, an electrode is also provided on an optical waveguide connecting a plurality of optical semiconductor elements. Here, the electrode is formed to be in ohmic contact with the semiconductor material,
When a constant voltage is applied to the electrode, it is possible to keep the potential of the semiconductor layer below the electrode constant and to allow a leakage current to flow to the outside via the electrode. That is, the two optical semiconductor elements sandwiching the electrode can be completely electrically separated. As a result, even if one optical semiconductor element is electrically modulated, the modulation signal does not leak to the other optical semiconductor element. Further, when the electrode is grounded, it is possible to keep the semiconductor layer under the electrode at zero potential and at the same time to allow a leakage current to flow to the ground via the electrode. Therefore, also in this case, 2
The two optical semiconductor elements can be completely electrically separated.

【0009】また、前記電極が半導体材料とショットキ
ー接触するように形成し、前記電極に逆バイアス電圧を
印加すれば、前記電極下の半導体層を空乏化させること
が可能である。この結果、前記電極を挟んだ2つの光半
導体素子を完全に電気的に分離することができる。
Further, if the electrode is formed so as to make Schottky contact with a semiconductor material and a reverse bias voltage is applied to the electrode, the semiconductor layer below the electrode can be depleted. As a result, the two optical semiconductor elements sandwiching the electrode can be completely electrically separated.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例の形態を図
面を参照して説明する。 (実施例1)図1は、本発明の第1の実施例に係わる半
導体光変調器/半導体レーザ集積化光源の導波方向に垂
直な断面図である。図中、1はn型InP基板、2はI
nGaAsP多重量子構造から成る井戸活性層、3は回
折格子、4はInGaAsP多重量子構造から成る光吸
収層兼光導波層、5はp型InPクラッド層、61 、6
2 、63 、はp型InGaAsコンタクト層、71 、7
2 、73 はAu/Zu/Auから成るp型オーミック電
極、8はAuGe/Ni/Auから成るn型オーミック
電極、9はSiO2 から成る絶縁膜、10はSi/Si
2 多層膜から成る高反射膜、11はSiNx から成る
無反射膜である。尚、通常n型オーミック電極上にはT
i/Pt/Auからの配線となる層が設けられ、この材
料でボンディングパットも形成されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (Embodiment 1) FIG. 1 is a sectional view of a semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source according to a first embodiment of the present invention, which is perpendicular to the waveguide direction. In the figure, 1 is an n-type InP substrate, 2 is I
A well active layer composed of an nGaAsP multiple quantum structure, 3 is a diffraction grating, 4 is a light absorption layer and optical waveguide layer composed of an InGaAsP multiple quantum structure, 5 is a p-type InP cladding layer, 6 1 , 6
2 , 6 3 are p-type InGaAs contact layers, 7 1 , 7
2, 7 3 p-type ohmic electrode made of Au / Zu / Au, 8 are n-type ohmic electrode made of AuGe / Ni / Au, an insulating film made of SiO 2 is 9, the 10 Si / Si
A high reflection film made of an O 2 multilayer film, and 11 is a non-reflection film made of SiN x . It should be noted that, usually, a T
A layer serving as a wiring from i / Pt / Au is provided, and a bonding pad is also formed of this material.

【0011】本実施例では、電極分離領域(例えば幅5
0μm)14中にp型InGaAsコンタクト層63
p型オーミック電極73 を設けてあり、p型オーミック
電極73 には一定の順バイアス電圧が印加されている。
従って、p型オーミック電極73 下のp型InPクラッ
ド層5は一定電位に保たれている。これと同時に、p型
オーミック電極72 を介して変調器領域(例えば幅20
0μm)13に逆バイアス電圧を印加した場合、変調器
領域13からの漏れ電流はp型オーミック電極73 を介
して外部に流れる。この結果、変調器領域13に印加す
る電圧信号を変調しても、変調信号がレーザ領域(例え
ば幅400μm)12にまで漏洩することはなく、波長
チャープの増大を引き起こすこともない。また、p型オ
ーミック電極73 に印加する電圧を活性層2のON電圧
と同じ値に設定しておけば、p型オーミック電極71
とp型オーミック電極73 下との間でp型InPクラッ
ド層5に電位差を生じない。この結果、レーザ領域12
からの漏れ電流は無く、光出力の減少を招くこともな
い。さらに、p型オーミック電極73 は、p型オーミッ
ク電極71 、72 と同時に形成することが可能であり、
製造工程数を増やす必要も全くない。
In this embodiment, an electrode separation region (for example, having a width of 5
0 μm) 14 in the p-type InGaAs contact layer 6 3 ,
It is provided with a p-type ohmic electrode 7 3, the p-type ohmic electrode 7 3 constant forward bias voltage is applied.
Thus, p-type ohmic electrode 7 3 p-type InP cladding layer 5 below is maintained at a constant potential. At the same time, the modulator region (e.g. width of 20 through the p-type ohmic electrode 7 2
0 .mu.m) when a reverse bias voltage is applied to 13, the leakage current from the modulator region 13 flows to the outside through the p-type ohmic electrode 7 3. As a result, even if the voltage signal applied to the modulator region 13 is modulated, the modulated signal does not leak to the laser region (for example, 400 μm in width) 12 and does not cause an increase in the wavelength chirp. Further, by setting the voltage applied to the p-type ohmic electrode 7 3 to the same value as the ON voltage of the active layer 2, p-type with the p-type ohmic electrode 71 under the p-type ohmic electrode 7 3 below No potential difference occurs in the InP cladding layer 5. As a result, the laser region 12
There is no leakage current from the device, and there is no reduction in light output. Further, p-type ohmic electrode 7 3, it is possible to p-type ohmic electrode 7 1, 7 2 formed at the same time,
There is no need to increase the number of manufacturing steps.

【0012】(実施例2)次に、本発明の第2の実施例
を図2を用いて説明する。図2は、本発明の第2の実施
例に係わる半導体光変調器/半導体レーザ集積化光源の
導波方向に垂直な断面図である。図2において、図1と
同一の部分については、図1と同一の符号を付してその
説明を省略する。
(Embodiment 2) Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view of a semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source according to a second embodiment of the present invention, which is perpendicular to the waveguide direction. 2, the same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals as those in FIG. 1, and description thereof will be omitted.

【0013】この実施例では、電極分離領域14中に設
けられたp型オーミック電極73 は接地されている。従
って、p型オーミック電極73 下のp型InPクラッド
層5は零電位に保たれていると同時に、レーザ領域12
と変調器領域13からの漏れ電流はp型オーミック電極
3 を介してアースに流れる。この結果、レーザ領域1
2と変調器領域13は完全に電気的に分離されている。
また、p型オーミック電極73 はアースと接続しさえす
ればよく、制御端子を増やす必要はない。
[0013] In this embodiment, p-type ohmic electrode 7 3 provided in the electrode isolation region 14 is grounded. Therefore, at the same time the p-type ohmic electrode 7 3 p-type InP cladding layer 5 below is maintained at zero potential, the laser region 12
A leakage current from the modulator region 13 flows to ground through the p-type ohmic electrode 7 3. As a result, the laser region 1
2 and the modulator region 13 are completely electrically separated.
Further, p-type ohmic electrode 7 3 need only be connected to the earth, it is not necessary to increase the control terminal.

【0014】(実施例3)次に、本発明の第3の実施例
を図3を用いて説明する。図3は、本発明の第3の実施
例に係わる半導体光変調器/半導体レーザ集積化光源の
導波方向に垂直な断面図である。図3において、図1と
同一の部分については、図1と同一の符号を付してその
説明を省略する。
(Embodiment 3) Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a cross-sectional view of a semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source according to a third embodiment of the present invention, which is perpendicular to the waveguide direction. 3, the same components as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals as those in FIG. 1, and the description thereof is omitted.

【0015】この実施例では、電極分離領域14中にお
いて、p型InPクラッド層5上にショットキー電極1
5が形成されている。ショットキー電極15には逆バイ
アス電圧が印加されており、ショットキー電極15下の
p型InPクラッド層5は完全に空乏化している。この
結果、レーザ領域12と変調器領域13とを電気的に分
離することが可能である。また、ショットキー電極15
下におけるp型InPクラッド層5の導波方向に垂直な
方向での断面積は20μm2 、例えばPtからなるショ
ットキー電極15の長さが10μmである。従って、空
乏層16の容量は約0.2fFと極めて小さく、高周波
信号もほとんど漏洩しない。
In this embodiment, the Schottky electrode 1 is formed on the p-type InP cladding layer 5 in the electrode isolation region 14.
5 are formed. A reverse bias voltage is applied to the Schottky electrode 15, and the p-type InP cladding layer 5 below the Schottky electrode 15 is completely depleted. As a result, the laser region 12 and the modulator region 13 can be electrically separated. In addition, the Schottky electrode 15
The cross-sectional area of the lower p-type InP cladding layer 5 in the direction perpendicular to the waveguide direction is 20 μm 2 , and the length of the Schottky electrode 15 made of, for example, Pt is 10 μm. Therefore, the capacitance of the depletion layer 16 is as small as about 0.2 fF, and the high frequency signal hardly leaks.

【0016】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではない。実施例では、InGaAsP系の半導
体レーザ装置について説明したが、AlGaInP系、
InGaAsSb系、ZnCdSSe系など、様々な材
料系について本発明を適用することができる。また、実
施例では、半導体光変調器と半導体レーザとを集積化し
た素子について説明したが、他に複数の光変調器を集積
化した素子や、光増幅器を集積化した素子構造において
も、本発明は有効である。さらに、活性層、光吸収層に
はバルク材料を用いてもよく、半導体基板の導電型もn
型基板に限るものではない。その他、本発明の主旨を逸
脱しない範囲で、種々変形して実施することができる。
The present invention is not limited to the embodiment described above. In the embodiment, an InGaAsP-based semiconductor laser device has been described.
The present invention can be applied to various material systems such as an InGaAsSb system and a ZnCdSSe system. Further, in the embodiments, the device in which the semiconductor optical modulator and the semiconductor laser are integrated has been described. However, the present invention is also applicable to an element in which a plurality of optical modulators are integrated and an element structure in which an optical amplifier is integrated. The invention is valid. Further, a bulk material may be used for the active layer and the light absorbing layer, and the conductivity type of the semiconductor substrate is also n.
It is not limited to the mold substrate. In addition, various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
レーザ領域と変調器領域とを完全に電気的に分離するこ
とが可能であり、レーザ領域と変調器領域との間で変調
信号が漏洩することはない。従って、波長チャープの増
大を引き起こすこともなく、長距離光伝送が可能な半導
体光変調器/半導体レーザ集積化光源を提供することが
できる。この結果、幹線系光通信システムの送信光源を
低コストで実現することができる。
As described in detail above, according to the present invention,
The laser region and the modulator region can be completely electrically separated from each other, and no modulation signal leaks between the laser region and the modulator region. Therefore, it is possible to provide a semiconductor light modulator / semiconductor laser integrated light source capable of long-distance optical transmission without increasing the wavelength chirp. As a result, a transmission light source of the trunk optical communication system can be realized at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1の実施例に係わる半導体光変調
器/半導体レーザ集積化光源の導波方向に沿った断面
図。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source according to a first embodiment of the present invention, taken along a waveguide direction.

【図2】 本発明の第2の実施例に係わる半導体光変調
器/半導体レーザ集積化光源の導波方向に沿った断面
図。
FIG. 2 is a cross-sectional view of a semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source according to a second embodiment of the present invention, taken along a waveguide direction.

【図3】 本発明の第3の実施例に係わる半導体光変調
器/半導体レーザ集積化光源の導波方向に沿った断面
図。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source according to a third embodiment of the present invention, taken along a waveguide direction.

【図4】 従来の半導体光変調器/半導体レーザ集積化
光源の導波方向に沿った断面図。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a conventional semiconductor optical modulator / semiconductor laser integrated light source along a waveguide direction.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…n型InP基板 2…活性層 3…回折格子 4…光吸収層兼光導波層 5…p型InPクラッド層 61 、62 、63 …p型InGaAsコンタクト層 71 、72 、73 …p型オーミック電極 8…n型オーミック電極 9…絶縁膜 10…高反射膜 11…無反射膜 12…レーザ領域 13…変調器領域 14…電極分離領域 15…p型ショットキー電極 16…空乏層1 ... n-type InP substrate 2 ... active layer 3 ... diffraction grating 4 ... light absorbing layer and light waveguide layer 5 ... p-type InP cladding layer 6 1, 6 2, 6 3 ... p-type InGaAs contact layer 7 1, 7 2, 7 3 ... p-type ohmic electrode 8 ... n-type ohmic electrode 9 ... insulating film 10 ... high-reflection film 11 ... non-reflection film 12 ... laser region 13 ... modulator region 14 ... electrode separation region 15 ... p-type Schottky electrode 16 ... Depletion layer

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の光半導体素子を光導波路を介して接
続してなる集積化光半導体装置において、前記光導波路
の一部上に電極を設けたことを特徴とする集積化光半導
体装置。
1. An integrated optical semiconductor device comprising a plurality of optical semiconductor elements connected via an optical waveguide, wherein an electrode is provided on a part of the optical waveguide.
【請求項2】前記電極に一定の電圧を印加することを特
徴とする請求項1記載の集積化光半導体装置。
2. The integrated optical semiconductor device according to claim 1, wherein a constant voltage is applied to said electrode.
【請求項3】前記電極が接地されていることを特徴とす
る請求項1記載の集積化光半導体装置。
3. The integrated optical semiconductor device according to claim 1, wherein said electrode is grounded.
【請求項4】一つの基板上に半導体レーザと、このレー
ザからの光を導波する光導波路と、この光導波路からの
光を変調する光変調器とを設けた集積化光半導体装置に
おいて、前記光導波路上の一部に、絶縁層を介して電極
を設けたことを特徴とする集積化半導体装置。
4. An integrated optical semiconductor device comprising: a semiconductor laser provided on one substrate; an optical waveguide for guiding light from the laser; and an optical modulator for modulating light from the optical waveguide. An integrated semiconductor device, wherein an electrode is provided on a part of the optical waveguide via an insulating layer.
JP23740296A 1996-09-09 1996-09-09 Integrated optical semiconductor device Pending JPH1084166A (en)

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JP23740296A Pending JPH1084166A (en) 1996-09-09 1996-09-09 Integrated optical semiconductor device

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010278385A (en) * 2009-06-01 2010-12-09 Anritsu Corp Semiconductor light emitting element and variable wavelength laser beam source using the same
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JP2017527121A (en) * 2014-09-08 2017-09-14 オクラロ テクノロジー リミテッド Monolithically integrated wavelength tunable semiconductor laser

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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