JPH1084005A - Die-bonding device - Google Patents

Die-bonding device

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Publication number
JPH1084005A
JPH1084005A JP25778996A JP25778996A JPH1084005A JP H1084005 A JPH1084005 A JP H1084005A JP 25778996 A JP25778996 A JP 25778996A JP 25778996 A JP25778996 A JP 25778996A JP H1084005 A JPH1084005 A JP H1084005A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pin
tool
push
operation position
chip
Prior art date
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Pending
Application number
JP25778996A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiharu Nakatomi
芳春 中富
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Powertrain Systems Corp
Original Assignee
Tosok Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Tosok Corp filed Critical Tosok Corp
Priority to JP25778996A priority Critical patent/JPH1084005A/en
Publication of JPH1084005A publication Critical patent/JPH1084005A/en
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  • Die Bonding (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To facilitate the setting operation of a lifti-up pin before die-bonding in a die-bonding device. SOLUTION: A contact sensor, which detects the state wherein a tool 18 comes in contact with a chip 50, is provided. After the tool 18 has been brought down to an attracting position (a), the chip 50 is lifted up by raising the contact sernsor (b). The movement of the lift-up pin 9 is controlled from the moving position of the lift-up pin 9 at the point of time when the chip 50 comes in contact with the tool 18 is detected by the contact sensor. Accordingly, the setting operation of the reference movement position of the lift-up pin 9 and the movement position of the lift-up pin 9 when an attraction operation is conducted, are unnecessitated.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ダイボンディング
装置に関する。
[0001] The present invention relates to a die bonding apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体装置の製造ラインに配置さ
れ、リードフレームや基板やパッケージ等の対象物にチ
ップをボンディングするダイボンディング装置では、シ
ートに貼着されたウェハーが複数にカットされることに
より形成されたチップが供給される。ダイボンディング
装置は、一般にシートの裏面側にて上下方向に動作しシ
ートを介して個々のチップを突き上げる突き上げピン
と、X,Y,Z軸方向に動作するボンディングアームの
先端部に上下方向に摺動自在に保持され、突き上げピン
によって突き上げられたチップを吸着するツールとを有
している。そして、ツールが吸着したチップをボンディ
ングアームの動作により前記対象物に移送した後、ボン
ディングするようになっている。なお、ツールには、ボ
ンディングアームに対して上方へ相対移動する際に所定
の付勢力が加わる様になっている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a die bonding apparatus which is arranged on a semiconductor device manufacturing line and bonds a chip to an object such as a lead frame, a substrate or a package, a wafer attached to a sheet is cut into a plurality of pieces. Is provided. The die bonding apparatus generally slides up and down on the back side of a sheet and pushes up on individual chips through the sheet and pushes up individual chips through the sheet, and on the tip of a bonding arm that moves in the X, Y, and Z directions. A tool that is freely held and sucks the chip pushed up by the push-up pin. Then, after the chip that has been sucked by the tool is transferred to the object by the operation of the bonding arm, bonding is performed. It should be noted that a predetermined urging force is applied to the tool when moving relative to the bonding arm upward.

【0003】一方、突き上げピンの動作位置は、ダイボ
ンディングに先立ちツールの吸着位置に合わせて設定さ
れており、かかる設定作業は、作業者がボンディングア
ームを手動で操作するとともに、それぞれの位置をスコ
ープや治具等を用いて調整することにより行われてい
る。また、その設定作業は、摩耗等により突き上げピン
を交換したり、扱うチップの種類が変わったりした場合
等においても行われることとなる。
[0003] On the other hand, the operating position of the push-up pin is set in accordance with the suction position of the tool prior to die bonding. In this setting operation, the operator manually operates the bonding arm and adjusts the respective positions with a scope. The adjustment is performed using a tool or a jig. The setting operation is also performed when the push-up pin is replaced due to wear or the like, or when the type of chip to be handled is changed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た突き上げピンにおける設定作業にあっては、異なるツ
ール毎に、その動作の基準位置が異なるとともに微妙な
調整が必要であるため、何度も動作確認を繰り返しなが
ら行わらければならなず、多大な時間を要するといった
問題があった。
However, in the above-mentioned setting operation for the push-up pin, since the reference position of the operation is different for each different tool and fine adjustment is required, the operation is checked many times. Has to be performed while repeating, and it takes a lot of time.

【0005】本発明はかかる従来の課題に鑑みなされた
ものであって、ダイボンディングに先立つ突き上げピン
に関する設定作業が容易になるダイボンディング装置を
提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and has as its object to provide a die bonding apparatus which facilitates a setting operation for a push-up pin prior to die bonding.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に請求項1の発明にあっては、ボンディングアームと、
該ボンディングアームに設けられたツールと、供給され
たチップの下方で上下方向に動作し、前記チップを突き
上げる突き上げピンとを備え、前記ボンディングアーム
の動作に伴い、該突き上げピンにより突き上げられたチ
ップを前記ツールが吸着するとともに対象物にボンディ
ングするダイボンディング装置において、前記ツールが
前記チップを吸着する吸着動作に際して、前記ツールが
前記チップに当接したことを検知する検知手段と、該検
知手段が、前記ツールが前記チップに当接したことを検
知した時点における前記突き上げピンの突き上げ方向の
動作位置を取得するピン動作位置取得手段と、該ピン動
作位置取得手段により取得された動作位置に基づき、前
記突き上げピンの動作を制御するピン制御手段とを備え
たものとした。
In order to solve the above problems, according to the first aspect of the present invention, a bonding arm,
A tool provided on the bonding arm, and a push-up pin that operates vertically below the supplied chip and pushes up the chip, and moves the chip pushed up by the push-up pin with the operation of the bonding arm. In a die bonding apparatus in which a tool is sucked and bonded to an object, a detecting means for detecting that the tool abuts on the chip is provided in a sucking operation in which the tool sucks the chip, and the detecting means comprises: A pin operating position obtaining means for obtaining an operating position of the push-up pin in a push-up direction at a point in time when it is detected that the tool has contacted the chip, and the push-up operation is performed based on the operating position obtained by the pin operating position obtaining means. And a pin control means for controlling the operation of the pin.

【0007】かかる構成において、ピン制御手段は、ピ
ン動作位置取得手段により取得された動作位置に基づ
き、前記突き上げピンの動作を制御するため、突き上げ
ピンの上下方向の動作位置を事前に設定する必要がなく
なる。
In this configuration, the pin control means needs to set the vertical operation position of the push-up pin in advance in order to control the operation of the push-up pin based on the operation position acquired by the pin operation position acquisition means. Disappears.

【0008】また、請求項2の発明では、前記ピン動作
位置取得手段により取得された動作位置に基づき、前記
突き上げピンの上下方向の動作位置の基準となる基準動
作位置を設定する基準動作位置設定手段と、該基準動作
位置設定手段により設定された基準動作位置を記憶する
基準動作位置記憶手段とを備え、前記ピン制御手段が、
前記基準動作位置記憶手段に記憶された基準動作位置を
基準として前記突き上げピンの動作を制御するものとし
た。
Further, in the invention according to claim 2, a reference operation position setting for setting a reference operation position as a reference of an up-down operation position of the push-up pin based on the operation position acquired by the pin operation position acquisition means. Means, reference operation position storage means for storing the reference operation position set by the reference operation position setting means, the pin control means,
The operation of the push-up pin is controlled based on the reference operation position stored in the reference operation position storage means.

【0009】かかる構成において、ピン制御手段は、基
準動作位置設定手段により設定された後、ピン動作位置
記憶手段に記憶された動作位置を基準として突き上げピ
ンの動作を制御するため、吸着動作を一度だけ行わせれ
ば、ダイボンディングに先立って行われる突き上げピン
に関する設定作業を自動的に行い得る。
In this configuration, the pin control means, after being set by the reference operation position setting means, controls the operation of the push-up pin based on the operation position stored in the pin operation position storage means, so that the suction operation is performed once. If this is done, the setting operation for the push-up pins performed prior to the die bonding can be automatically performed.

【0010】また、請求項3の発明では、前記ピン動作
位置取得手段により取得された動作位置を記憶する突き
上げ動作位置記憶手段と、該突き上げ動作位置記憶手段
に事前に記憶された動作位置、及び前記吸着動作に際し
て前記ピン動作位置取得手段により取得された動作位置
に基づき、前記吸着動作に関する検査を行う吸着動作検
査手段とを備えたものとした。
According to the third aspect of the present invention, the push-up operation position storage means for storing the operation position acquired by the pin operation position acquisition means, the operation position previously stored in the push-up operation position storage means, and And a suction operation inspecting means for inspecting the suction operation based on the operation position obtained by the pin operation position obtaining means at the time of the suction operation.

【0011】かかる構成において、例えば吸着動作時に
ツールと吸着したチップとの間に異物が存在したり、チ
ップ突き上げピンの先端が破損したりすると、吸着動作
に伴いピン動作位置取得手段により取得される動作位置
と、事前に突き上げ動作位置記憶手段に記憶されている
動作位置とに違いが生じ、それが、吸着動作検査手段に
より検査される。従って、ダイボンディングを行いつつ
吸着動作検査手段による検査結果から吸着動作時におけ
る不具合の発生を知り得る。
In such a configuration, for example, if a foreign object exists between the tool and the sucked chip during the suction operation, or if the tip of the tip push-up pin is damaged, the pin operation position obtaining means obtains the tip when the suction operation is performed. A difference occurs between the operation position and the operation position stored in advance in the push-up operation position storage means, and the difference is inspected by the suction operation inspection means. Therefore, it is possible to know the occurrence of a defect during the suction operation from the inspection result by the suction operation inspection means while performing the die bonding.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
に従って説明する。図1は、本発明にかかるダイボンデ
ィング装置を示したものであって、ダイボンディング装
置は、リードフレームを搬送する搬送レール1と、ウェ
ハー供給部Aと、ボンディング部Bとを備えている。ウ
ェハー供給部AにはX−Yテーブル2が設けられてい
る。X−Yテーブル2上には、複数のチップに分割され
たウェハーが貼着されたシート3をウェハーリング4を
用いて保持するウェハー保持機構部5が、支柱6を介し
て設けられている。ウェハー保持機構部5の下方には突
き上げ機構部7が設けられている。突き上げ機構部7
は、突き上げヘッド8と、その内部で上下動することに
より供給されたチップ50をシート3の裏面側から突き
上げる突き上げピン9とを有している(図5参照)。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a die bonding apparatus according to the present invention. The die bonding apparatus includes a transfer rail 1 for transferring a lead frame, a wafer supply unit A, and a bonding unit B. An XY table 2 is provided in the wafer supply unit A. On the XY table 2, a wafer holding mechanism unit 5 that holds a sheet 3 to which a wafer divided into a plurality of chips is attached by using a wafer ring 4 is provided via a support 6. A push-up mechanism 7 is provided below the wafer holding mechanism 5. Thrust mechanism 7
Has a push-up head 8 and push-up pins 9 for pushing up a chip 50 supplied by moving up and down inside the sheet 3 from the back side of the sheet 3 (see FIG. 5).

【0013】一方、前記ボンディング部Bには、X軸モ
ータ(図示せず)とY軸モータ10とZ軸モータ11と
によって駆動されるボンディングヘッド駆動部12が設
けられている。ボンディングヘッド駆動部12には、前
記搬送レール1の上方に向かい延出するとともに上下方
向に動作するボンディングアーム13が設けられてい
る。ボンディングアーム13の先端部分であるボンディ
ングヘッドには、図2に示すように取付部14が設けら
れている。取付部14にはコレットホルダ15が上下方
向に摺動自在でかつ回転駆動可能に支持されている。コ
レットホルダ15には、前述した突き上げピン9により
突き上げられたチップを吸着するコレット16が内嵌さ
れている。また、コレットホルダ15の上部には、上部
を球面状に成形された永久磁石17が露出して取り付け
られている。なお、コレットホルダ15及びコレット1
6によってツール18が構成されている。
On the other hand, the bonding section B is provided with a bonding head drive section 12 driven by an X-axis motor (not shown), a Y-axis motor 10 and a Z-axis motor 11. The bonding head drive unit 12 is provided with a bonding arm 13 extending upwardly of the transport rail 1 and operating in a vertical direction. The bonding head, which is the tip of the bonding arm 13, is provided with a mounting portion 14 as shown in FIG. A collet holder 15 is supported by the mounting portion 14 so as to be slidable in the vertical direction and rotatable. A collet 16 for sucking the chip pushed up by the push-up pin 9 is fitted in the collet holder 15. Further, a permanent magnet 17 whose upper part is formed into a spherical shape is exposed and attached to the upper part of the collet holder 15. The collet holder 15 and the collet 1
6 constitutes a tool 18.

【0014】また、ボンディングヘッドには、略くの字
型に成形された荷重伝達アーム19が、その折曲部分に
位置する支点Oを中心として上下方向へ回動できるよう
支持されている。荷重伝達アーム19の一端には、前記
コレットホルダ15の直上に延出する吊り下げ部材20
が設けられている。吊り下げ部材20の図示しない内部
には永久磁石が設けられており、その永久磁石と前記コ
レットホルダ15側の永久磁石17との磁力により、前
記ツール18が回転自在に吊り下げられている。前記荷
重伝達アーム19の他端側には荷重機構部Cが形成され
ている。すなわち、荷重伝達アーム19の他端側とボン
ディングアーム13側に支持された調整ねじ21との間
には、その他端側を図で上方へ付勢するコイルスプリン
グ22が張設されている。ボンディングアーム13に
は、荷重伝達アーム19の他端側の上方への回動限界位
置を決めるストッパ23が設けられており、これによ
り、荷重伝達アーム19の一端に磁着され吊り下げられ
たツール18が一定の位置で停止され、かつその位置か
ら上方へ移動しようとするとき下向きの荷重が付加され
るようになっている。
The bonding head supports a load transmission arm 19 formed in a substantially U-shape so as to be able to turn up and down around a fulcrum O located at the bent portion. At one end of the load transmitting arm 19, a suspending member 20 extending directly above the collet holder 15 is provided.
Is provided. A permanent magnet is provided inside the suspension member 20 (not shown), and the tool 18 is rotatably suspended by the magnetic force of the permanent magnet and the permanent magnet 17 on the collet holder 15 side. On the other end side of the load transfer arm 19, a load mechanism C is formed. That is, between the other end of the load transmitting arm 19 and the adjusting screw 21 supported on the bonding arm 13 side, a coil spring 22 that urges the other end upward in the drawing is stretched. The bonding arm 13 is provided with a stopper 23 for determining an upward rotation limit position on the other end side of the load transmitting arm 19, whereby a tool magnetically attached to and suspended from one end of the load transmitting arm 19 is provided. 18 is stopped at a certain position, and a downward load is applied when trying to move upward from that position.

【0015】荷重伝達アーム19の他端側の下面には、
ボンディングアーム13に設けられた固定子24と共に
リニアモータ25を構成する可動子26が設けられてい
る。リニアモータ25は、固定子24に電力(電圧又は
電流)を供給することにより可動子26を近接又は離間
させるものであって、供給電力の変化によりコイルスプ
リング22のバネ力を増減し、それにより荷重伝達アー
ム19を介してツール18に伝達される前述した下向き
の荷重を変化させる。また、ボンディングアーム13側
には前記コイルスプリング22に近接して、本発明の検
出手段でる着地センサ27が設けられている。着地セン
サ27は、荷重伝達アーム19が図で僅かに右方向へ回
動した際それを検知することにより、荷重伝達アーム1
9の一端側に磁着されたツール18がボンディングアー
ム13に対して相対的に上方へ移動したことを検知す
る。すなわち、ツール18がチップに当接したことを検
知する。
On the lower surface on the other end side of the load transmitting arm 19,
A mover 26 that constitutes a linear motor 25 together with a stator 24 provided on the bonding arm 13 is provided. The linear motor 25 supplies the electric power (voltage or current) to the stator 24 to move the movable element 26 close to or away from the movable element 26. The linear motor 25 increases or decreases the spring force of the coil spring 22 by changing the supplied electric power. The above-described downward load transmitted to the tool 18 via the load transmission arm 19 is changed. In addition, a landing sensor 27 serving as a detecting means of the present invention is provided on the bonding arm 13 side in the vicinity of the coil spring 22. The landing sensor 27 detects when the load transmitting arm 19 is slightly turned to the right in the figure, and thereby detects the load transmitting arm 1.
It detects that the tool 18 magnetically attached to one end side of 9 moves upward relative to the bonding arm 13. That is, it detects that the tool 18 has contacted the chip.

【0016】また、ダイボンディング装置には、本発明
の制御手段である図3のコントローラー31が設けられ
ている。コントローラー31には、前述したウェハー供
給部Aの突き上げ機構部7に設けられた前記突き上げピ
ン9を昇降するピン昇降モータ32と、前述したボンデ
ィング部BにおけるX軸モータ33、Y軸モータ10、
Z軸モータ11、ボンディングヘッド駆動部12を駆動
するヘッドアクチュエータ34、着地センサ27、各種
の動作モードを設定するモードスイッチ35が接続され
ている。なお、モードスイッチ35は具体的には各種の
動作モード毎に割り当てられた複数の動作スイッチによ
り構成されている。前記コントローラー31の内部に
は、図示しないがダイボンディング装置の制御プログラ
ムが予め記憶されたROM、及び制御プログラムの実行
に必要な各種のデータが記憶されかつ必要に応じて更新
されるRAMが設けられており、コントローラー31は
前記制御プログラムに基づきダイボンディング装置の動
作を制御する。コントローラー31による前述したX軸
モータ33等の駆動系の制御は、各々から送られるパル
スをカウントしたパルス数に基づき行われる。なお、前
記ボンディングアーム13は、Z軸モータ11によって
上下方向へ駆動される。
Further, the die bonding apparatus is provided with a controller 31 shown in FIG. 3, which is control means of the present invention. The controller 31 includes a pin lifting motor 32 for raising and lowering the push-up pins 9 provided in the push-up mechanism 7 of the wafer supply unit A, an X-axis motor 33, a Y-axis motor 10 for the bonding unit B,
A Z-axis motor 11, a head actuator 34 for driving the bonding head drive unit 12, a landing sensor 27, and a mode switch 35 for setting various operation modes are connected. The mode switch 35 is specifically composed of a plurality of operation switches assigned for each operation mode. Inside the controller 31, although not shown, a ROM in which a control program of the die bonding apparatus is stored in advance and a RAM in which various data necessary for executing the control program are stored and updated as necessary are provided. The controller 31 controls the operation of the die bonding apparatus based on the control program. The control of the drive system such as the X-axis motor 33 by the controller 31 is performed based on the number of pulses obtained by counting the pulses sent from each. The bonding arm 13 is driven by the Z-axis motor 11 in the vertical direction.

【0017】次に、以上の構成からなるダイボンディン
グ装置の動作を、本発明に係るコントローラー31の処
理内容を示したフローチャートに従い説明する。図4
は、実際のダイボンディング作業に先立つツール高さ設
定処理を示すものである。コントローラー31は設定作
業用の動作スイッチが操作されることにより動作を開始
し、ボンディングアーム13を動作させ、ホームポジシ
ョンにあるツール18を、位置決めされたチップ50の
直上へ移動する(SA1)。次に、ツール18を高速に
て下降させる(SA2)。かかる際には、Z軸モータ1
1から送られるとともに、ツール18がホームポジショ
ンから下降した量を示すパルス数Pを逐次取得してお
り、それが予め設定されたパルス数N1となったら(S
A3でYES)下降速度を低速に変更する(SA4)。
やがてツール18がチップ50に当接した後、ボンディ
ングアーム13に対するツール18の相対的な上方へ移
動が検知されると(SA5でYES)、その時点でツー
ル18を停止させる(SA6)。次に、その時点のパル
ス数Pから、予め設定された、着地センサ27の不感帯
域におけるツール18の上方への移動量を示すパルス数
xと、オフセット量を示すパルス数Z1とを減算した
値、すなわちツール18の吸着位置を示すパルス数P1
を記憶する(SA7)。引き続き、ツール18にチップ
50を吸着させるとともにツール18を上昇させ、かつ
搬送レール1上のリードフレームにおけるボンディング
ポイントの直上へ移動した後(SA8)、ステップSA
9へ進む。なお、以上の処理に伴うツール18の動作を
図5(a)〜(d)に示す。
Next, the operation of the die bonding apparatus having the above configuration will be described with reference to a flowchart showing the processing contents of the controller 31 according to the present invention. FIG.
Shows a tool height setting process prior to the actual die bonding operation. The controller 31 starts operating when an operation switch for setting operation is operated, operates the bonding arm 13, and moves the tool 18 at the home position to just above the positioned chip 50 (SA1). Next, the tool 18 is lowered at a high speed (SA2). In such a case, the Z-axis motor 1
1 and the number of pulses P indicating the amount by which the tool 18 has descended from the home position is sequentially acquired. When the number of pulses P reaches the preset number of pulses N1, (S
(YES in A3) The descending speed is changed to a low speed (SA4).
When the movement of the tool 18 relative to the bonding arm 13 is detected after the tool 18 comes into contact with the chip 50 (YES in SA5), the tool 18 is stopped at that time (SA6). Next, a value obtained by subtracting a preset pulse number x indicating the amount of upward movement of the tool 18 in the dead zone of the landing sensor 27 and a pulse number Z1 indicating the offset amount from the pulse number P at that time. That is, the pulse number P1 indicating the suction position of the tool 18
Is stored (SA7). Subsequently, after the chip 50 is attracted to the tool 18 and the tool 18 is lifted and moved to just above the bonding point in the lead frame on the transport rail 1 (SA8), the step SA
Go to 9. The operation of the tool 18 associated with the above processing is shown in FIGS.

【0018】そして、ツール18を高速にて下降させ、
前記パルス数Pを逐次取得するともにそれが予め設定さ
れたパルス数N2となったら(SA10でYES)下降
速度を低速に変更する(SA11)。やがてチップ50
がリードフレームに当接した後、ツール18がボンディ
ングアーム13に対して相対的に上方へ移動し、それが
検知されると(SA12でYES)、その時点でツール
18を停止させる(SA13)。次に、その時点のパル
ス数Pから、前述したパルス数xを減算した値、すなわ
ちツール18のボンディング位置を示すパルス数P2を
記憶する(SA14)。しかる後、ツール18をホーム
ポジションへ移動させ(SA15)、処理を終了する。
これにより、吸着動作時やボンディング動作時における
ツール18の上下方向の動作位置を自動的に設定され
る。よって、ダイボンディングに先立つ設定作業を極め
て容易に行うことができる。
Then, the tool 18 is lowered at a high speed,
The pulse number P is sequentially obtained, and when the pulse number P reaches the preset pulse number N2 (YES in SA10), the descending speed is changed to a low speed (SA11). Eventually chip 50
After the tool abuts on the lead frame, the tool 18 moves relatively upward with respect to the bonding arm 13, and when this is detected (YES in SA12), the tool 18 is stopped at that time (SA13). Next, a value obtained by subtracting the above-mentioned pulse number x from the pulse number P at that time, that is, the pulse number P2 indicating the bonding position of the tool 18 is stored (SA14). Thereafter, the tool 18 is moved to the home position (SA15), and the process ends.
Thus, the vertical operation position of the tool 18 during the suction operation or the bonding operation is automatically set. Therefore, the setting operation prior to the die bonding can be performed extremely easily.

【0019】図6は、実際のダイボンディングに先立つ
突き上げピン突き上げ高さ設定処理を示すものである。
コントローラー31は、設定作業用の動作スイッチが操
作されることにより動作を開始し、図4のステップSA
1〜SA4と同様の処理を行う(SB1〜SB4)。や
がて前記パルス数Pが図4のステップSA7で記憶した
吸着位置を示すパルス数P1となったら(SB5でYE
S)、つまりツール18が設定された吸着位置に達した
ら、その時点でツール18を停止させる(SB6)。次
に、前記ピン昇降モータ32を駆動し突き上げピン9を
上昇させる(SB7)。やがて、突き上げピン9がチッ
プ50に当接するとともに、ツール18がボンディング
アーム13に対して相対的に上方へ移動し、着地センサ
27によりそれが検知されると(SB8でYES)、突
き上げピン9を停止させる(SB9)。
FIG. 6 shows a process of setting the height of the push-up pins prior to the actual die bonding.
The controller 31 starts operation by operating an operation switch for setting operation, and proceeds to step SA in FIG.
The same processing as in 1 to SA4 is performed (SB1 to SB4). Eventually, when the pulse number P reaches the pulse number P1 indicating the suction position stored in step SA7 in FIG. 4 (YE in SB5).
S), that is, when the tool 18 reaches the set suction position, the tool 18 is stopped at that time (SB6). Next, the pin lifting motor 32 is driven to raise the push-up pin 9 (SB7). Eventually, when the push-up pin 9 comes into contact with the chip 50 and the tool 18 moves upward relative to the bonding arm 13 and the landing sensor 27 detects it (YES in SB8), the push-up pin 9 is released. Stop (SB9).

【0020】次に、その時点におけるピン昇降モータ3
2から送られたパルス数Qから、前述したパルス数x
と、予め設定されている突き上げ動作量を示すパルス数
Mとを減算した値、すなわち突き上げピン9の基準動作
位置を示すパルス数Q0を記憶する(SB10)。引き
続き突き上げピン9を下降させ(SB11)、パルス数
Qが前記パルス数Q0となったら(SB12でYE
S)、つまり動作基準位置に達したら、その時点で突き
上げピン9を停止させる(SB13)。しかる後、ツー
ル18をホームポジションへ移動させた後(SB1
4)、設定処理を終了する。なお、前述した処理に伴う
突き上げピン9及びツール18の動作を図7(a)〜
(d)に示す。これにより、突き上げピン9のチップ5
0の吸着動作時における動作位置、及び動作基準位置が
自動的に設定される。よって、ダイボンディングに先立
って行われる突き上げピン9に関する設定作業を容易に
行うことができる。なお、かかる設定作業は、摩耗等に
より突き上げピン9を交換したり、チップ50の種類が
変わったりした場合等においても行われる。
Next, the pin elevating motor 3 at that time is
From the number of pulses Q sent from 2, the number of pulses x
And a value obtained by subtracting the pulse number M indicating the push-up operation amount set in advance, that is, the pulse number Q0 indicating the reference operation position of the push-up pin 9 is stored (SB10). Subsequently, the push-up pin 9 is lowered (SB11), and when the pulse number Q reaches the pulse number Q0 (YE in SB12).
S), that is, when it reaches the operation reference position, the push-up pin 9 is stopped at that time (SB13). Then, after moving the tool 18 to the home position (SB1
4), the setting process ends. The operations of the push-up pin 9 and the tool 18 associated with the above-described processing are shown in FIGS.
(D). Thereby, the tip 5 of the push-up pin 9
The operation position and the operation reference position at the time of the suction operation of 0 are automatically set. Therefore, the setting operation regarding the push-up pins 9 performed prior to the die bonding can be easily performed. The setting operation is also performed when the push-up pin 9 is replaced due to wear or the like, or when the type of the tip 50 is changed.

【0021】図8は、ダイボンディングにおけるコント
ローラー31の処理内容を示すフローチャートである。
すなわちコントローラー31は、作業開始用の動作スイ
ッチが操作されることにより動作を開始し、図6のステ
ップSB1〜SB6と同様の手順で、ツール18を吸着
位置へ移動しかつ停止させた後(SC1)、突き上げピ
ン9を上昇させる(SC2)。やがて、着地センサ27
によって、ツール18におけるボンディングアーム13
に対する相対的な上方への移動が検知されると(SC3
でYES)、その時点のパルス数Qとパルス数(Q0+
x+M)との差が、±K(予め設定された値)の範囲内
か否かを判断する(SC4)。つまり、その時点におけ
る突き上げピン9の動作位置と、図6のステップSB1
0で取得されたパルス数Q0に基づき間接的に記憶され
ている、設定時における動作位置との差が、予め決めら
れた許容範囲内であるか否かを判断する。ここで、かか
る判断の結果がYESであれば、そのままステップSC
5へ進む。
FIG. 8 is a flowchart showing the processing contents of the controller 31 in die bonding.
That is, the controller 31 starts the operation by operating the operation switch for starting the operation, moves the tool 18 to the suction position and stops it in the same procedure as steps SB1 to SB6 in FIG. ), The push-up pin 9 is raised (SC2). Eventually, the landing sensor 27
The bonding arm 13 in the tool 18
When an upward movement relative to is detected (SC3
YES), the number of pulses Q and the number of pulses (Q0 +
x + M) is determined to be within a range of ± K (a preset value) (SC4). That is, the operating position of the push-up pin 9 at that time and the step SB1 in FIG.
It is determined whether or not the difference from the operating position at the time of setting, which is indirectly stored based on the number of pulses Q0 acquired at 0, is within a predetermined allowable range. Here, if the result of this determination is YES, step SC
Go to 5.

【0022】一方、ステップSC3の判断結果がNOで
ある場合、例えば、ツール18と吸着したチップ50と
の間に異物が存在したり、図9に示すように、突き上げ
ピン9の先端が破損したりしていた場合には、ステップ
SC18に進み、トラブルの発生を報知するとともに、
全ての動作を停止させた後(SC19)、処理を一旦終
了する。その後は動作指令の待機状態となる。これによ
り、ダイボンディングを行いつつチップ50の吸着動作
時における不具合の発生を知らせることができる。その
結果、ボンディング不良を引き起こす要因となる、吸着
動作時の不具合を直ちに発見することにより、歩留りの
向上を図ることが可能となる。
On the other hand, if the decision result in the step SC3 is NO, for example, there is a foreign substance between the tool 18 and the sucked chip 50, or the tip of the push-up pin 9 is damaged as shown in FIG. If not, the process proceeds to step SC18 to notify the occurrence of a trouble,
After stopping all the operations (SC19), the process is temporarily terminated. After that, it is in a standby state for an operation command. Thus, it is possible to notify the occurrence of a problem during the suction operation of the chip 50 while performing the die bonding. As a result, it is possible to improve the yield by immediately discovering a defect at the time of the suction operation, which causes a bonding failure.

【0023】また、ステップSC5では、ステップSC
3でYESとなった時点のパルス数Qがパルス数(Q0
+x+M+M1)となったか否かを判断する。M1は、
予め設定された余剰突き上げ量を示すパルス数であっ
て、突き上げられたチップ50がツール18に当接した
後、更にチップ50が突き上げられてツール18が所定
量上方へ移動し、ステップSC5の判断結果がYESと
なると突き上げピン9を停止させる(SC6)。しかる
後、ツール18にチップ50を吸着させ、ツール18を
ボンディングポイント直上へ移動するとともに(SC
7)、突き上げピン9を予め設定したパルス数Q0が示
す基準動作位置へ移動させる(SC8)。これによりチ
ップ50の吸着動作が終了する。なお、前述したよう
に、チップ50がツール18に当接した後、突き上げピ
ン9により更にチップ50を一定量だけ突き上げさせる
ことにより、チップ50を吸着する際におけるツール1
8に対するチップ50の位置ずれが防止される。
In step SC5, step SC5
The number of pulses Q at the time of YES at 3 is the number of pulses (Q0
+ X + M + M1). M1 is
This is a preset number of pulses indicating the excess push-up amount. After the pushed-up tip 50 comes into contact with the tool 18, the tip 50 is further pushed up and the tool 18 moves upward by a predetermined amount. If the result is YES, the push-up pin 9 is stopped (SC6). Thereafter, the chip 50 is sucked to the tool 18, the tool 18 is moved to a position immediately above the bonding point (SC
7) The push-up pin 9 is moved to the reference operation position indicated by the preset pulse number Q0 (SC8). Thus, the suction operation of the chip 50 ends. As described above, after the tip 50 contacts the tool 18, the tip 50 is further pushed up by a predetermined amount by the push-up pin 9, so that the tool 1 at the time of sucking the tip 50 is moved.
8 is prevented from being displaced.

【0024】次に、ボンディングポイント直上に移動し
たツールを高速で下降させ(SC9)、Z軸モータ11
から送られたパルス数Pが前述したパルス数N2となっ
たら(SC10でYES)、下降速度を低速に変更する
(SC11)。やがてチップ50がリードフレームに当
接した後、ツール18がボンディングアーム13に対し
て相対的に上方へ移動し、それが検知されると(SC1
2でYES)、その時点のパルス数Pから前記パルス数
xを減算した値と、予め記憶されているパルス数P2と
の差が、±K(予め設定された値)の範囲内か否かを判
断する(SC13)。つまり、その時点における突き上
げピン9の動作位置と、事前に記憶されている設定時に
おける動作位置との差が、予め決められた許容範囲内で
あるか否かを判断する。
Next, the tool that has just moved to the position just above the bonding point is lowered at high speed (SC9), and the Z-axis motor 11
When the number of pulses P sent from the above becomes the above-mentioned number of pulses N2 (YES in SC10), the descending speed is changed to a low speed (SC11). Eventually, after the chip 50 comes into contact with the lead frame, the tool 18 moves upward with respect to the bonding arm 13 and when it is detected (SC1
2; YES), whether the difference between the value obtained by subtracting the pulse number x from the pulse number P at that time and the pulse number P2 stored in advance is within a range of ± K (a preset value). Is determined (SC13). That is, it is determined whether or not the difference between the operating position of the push-up pin 9 at that time and the operating position at the time of setting stored in advance is within a predetermined allowable range.

【0025】かかる判断の結果がNOである場合、例え
ば、図10(a)に示すようにツール18と吸着したチ
ップ50との間(又はチップ50とリードフレーム55
との間)に異物100が存在したり、図10(b)に示
すようにツール18の先端が破損したりしていた場合に
は、前述したステップSC18、SC19の処理を行っ
た後、処理を一旦終了して、動作指令の待機状態とな
る。これにより、ダイボンディングを行いつつ、ボンデ
ィング動作時における不具合の発生を知らせことができ
る。その結果、ボンディング不良を引き起こす要因とな
る、ボンディング動作時の不具合を直ちに発見すること
により、歩留りの向上を図ることが可能となる。
If the result of this determination is NO, for example, as shown in FIG. 10A, the distance between the tool 18 and the sucked chip 50 (or between the chip 50 and the lead frame 55)
In the case where the foreign matter 100 is present between the steps (a) and (b), or the tip of the tool 18 is damaged as shown in FIG. 10 (b), the processing in steps SC18 and SC19 described above is performed. Is temporarily terminated, and a standby state for an operation command is set. Thus, it is possible to notify the occurrence of a defect during the bonding operation while performing the die bonding. As a result, it is possible to improve the yield by immediately finding a defect at the time of the bonding operation, which causes the bonding defect.

【0026】一方、ステップSC13の判断の結果がY
ESであれば、更にステップSC12でYESとなった
時点のパルス数Pがパルス数(P2+Z2)となったか
否かを判断する(SC14)。Z2は、予め設定された
ツール18の沈み込み量を示すパルス数であって、チッ
プ50の着地後にボンディングアーム13が更に下方へ
移動して、チップ50に所定のボンディング荷重が加え
られると、前記判断の結果がYESとなり、その時点で
ツール18を停止させる(SC15)。続くステップS
C16では、ツール18にスクラブ動作を行わせチップ
50をリードフレーム55にボンディングさせる。その
後、ツール18をホームポジションへ移動し(SC1
7)、処理を終了する。
On the other hand, if the result of the determination in step SC13 is Y
If it is ES, it is further determined whether or not the pulse number P at the time of YES in step SC12 has become the pulse number (P2 + Z2) (SC14). Z2 is a preset number of pulses indicating the amount of sinking of the tool 18, and when the bonding arm 13 moves further downward after the chip 50 lands and a predetermined bonding load is applied to the chip 50, The result of the determination is YES, at which point the tool 18 is stopped (SC15). Subsequent step S
At C16, the tool 18 performs a scrub operation to bond the chip 50 to the lead frame 55. Thereafter, the tool 18 is moved to the home position (SC1).
7), the process ends.

【0027】なお、前述したステップSC4,SC14
においては、コントローラー31に、吸着動作時におけ
る突き上げピン9の動作位置、又はボンディング動作時
におけるツール18の動作位置を示すパルス数と、事前
に記憶した動作位置を示すパルス数との差が、予め決め
られた許容範囲内であるか否かを単に判断させるだけと
したが、それにとどまらず、事前に記憶した動作位置に
対する、検査時点における動作位置の高低を検査させる
ようにしてもよい。さらに、その検査結果に基づき、吸
着動作時又はボンディング動作時に発生した不具合の種
類をも判断させ、報知させるようにしてもよい。
Note that steps SC4 and SC14 described above are performed.
In the controller 31, the difference between the number of pulses indicating the operating position of the push-up pin 9 during the suction operation or the operating position of the tool 18 during the bonding operation and the number of pulses indicating the operating position stored in advance is determined in advance. Although the determination is merely made as to whether or not the value is within a predetermined allowable range, the present invention is not limited to this, and the height of the operation position at the time of inspection with respect to the operation position stored in advance may be inspected. Further, based on the inspection result, the type of the trouble that has occurred during the suction operation or the bonding operation may be determined and reported.

【0028】一方、本実施の形態においては、突き上げ
ピン9及びツール18(ボンディングアーム)の動作位
置の設定及び制御に際しては、予め設定されたパルス数
xを減算又は加算することにより、着地センサ27の不
感帯域におけるツール18の上方への移動量を勘案して
動作位置の補正を行うものを示したが、着地センサ27
に不感帯域が存在しないものを使用する場合には、前記
補正は不要である。また、本実施の形態においては、着
地センサ27が、ボンディングアーム13に対するツー
ル18の相対的な上方への移動を、荷重伝達アーム19
すなわち他の部材を介して間接的に検知するため、チッ
プ50の吸着動作時やボンディング動作時にツール18
に発生するチャタリングの影響を受けることなく、ツー
ル18の前記移動を検知できる。このため、より正確に
ツール18がボンディングアーム13に対して相対的に
上方へ移動した時点を知ることができる。その結果、突
き上げピン9及びツール18(ボンディングアーム1
3)の動作位置をより正確に制御することができる。
On the other hand, in the present embodiment, when setting and controlling the operating positions of the push-up pin 9 and the tool 18 (bonding arm), the preset number of pulses x is subtracted or added, whereby the landing sensor 27 is set. Although the operation position is corrected in consideration of the amount of upward movement of the tool 18 in the dead zone of FIG.
In the case of using a filter having no dead zone, the correction is unnecessary. Further, in the present embodiment, the landing sensor 27 detects the upward movement of the tool 18 relative to the bonding arm 13 by using the load transmitting arm 19.
That is, since the detection is performed indirectly via another member, the tool 18 is not used during the suction operation of the chip 50 or the bonding operation.
The movement of the tool 18 can be detected without being affected by chattering occurring in the tool 18. Therefore, it is possible to more accurately know the point in time when the tool 18 has moved upward relative to the bonding arm 13. As a result, the push-up pin 9 and the tool 18 (bonding arm 1)
The operation position of 3) can be controlled more accurately.

【0029】また、本実施の形態においては、ダイボン
ディングに先立つ設定作業によって、突き上げピン9、
及びツール18、すなわちボンディングアーム13の動
作位置を、コントローラー31に予め設定させかつ記憶
させる場合について説明したが、これに限らず、着地セ
ンサ27が、ツール18がボンディングアーム13に対
して相対的に上方へ移動したことを検知した時点におけ
る動作位置を基準として、ダイボンディング時におけ
る、突き上げピン9、及びツール18(ボンディングア
ーム13)の動作位置を制御させるようにしてもよい。
その場合には、それらの動作位置を事前に設定する必要
がなくなる。
In this embodiment, the push-up pins 9 and 9 are set by a setting operation prior to die bonding.
And the operation position of the tool 18, that is, the operation position of the bonding arm 13 is previously set and stored in the controller 31. However, the present invention is not limited thereto. The operating position of the push-up pin 9 and the tool 18 (bonding arm 13) at the time of die bonding may be controlled based on the operating position at the time of detecting the upward movement.
In that case, it is not necessary to set those operation positions in advance.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように請求項1の発明にお
いては、ピン制御手段によって、ピン動作位置取得手段
により取得された動作位置に基づき突き上げピンの動作
を制御させ、突き上げピンの上下方向の動作位置を事前
に設定する必要がなくなるようにした。よって、ダイボ
ンディングに先立つ設定作業が極めて容易となる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the operation of the push-up pin is controlled by the pin control means based on the operation position acquired by the pin operation position acquisition means, and the vertical movement of the push-up pin is controlled. It is no longer necessary to set the operating position in advance. Therefore, setting work prior to die bonding becomes extremely easy.

【0031】また、請求項2の発明では、ピン制御手段
により、ピン動作位置記憶手段に記憶された基準動作位
置を基準として突き上げピンの動作を制御させ、吸着動
作を一度だけ行わせれば、ダイボンディングに先立って
行われる突き上げピンに関する設定作業を自動的に行い
得るようにした。よって、ダイボンディングに先立つ設
定作業が極めて容易となる。
According to the second aspect of the present invention, if the pin control means controls the operation of the push-up pin based on the reference operation position stored in the pin operation position storage means and performs the suction operation only once, The setting work on the push-up pins performed prior to the bonding can be automatically performed. Therefore, setting work prior to die bonding becomes extremely easy.

【0032】また、請求項3の発明では、ダイボンディ
ングを行いつつ、吸着動作検査手段による検査結果から
吸着動作時における不具合の発生を知り得るようにし
た。よって、ボンディング不良を引き起こす要因とな
る、吸着動作時の不具合を直ちに発見することが可能と
なり、その結果、歩留りの向上を図ることが可能とな
る。
Further, according to the third aspect of the present invention, it is possible to know the occurrence of a defect during the suction operation from the inspection result by the suction operation inspection means while performing the die bonding. Therefore, it is possible to immediately find a defect at the time of the suction operation, which causes a bonding failure, and as a result, it is possible to improve the yield.

【0033】[0033]

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態を示すダイボンディング
装置の側面図である。
FIG. 1 is a side view of a die bonding apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】ボンディングヘッドを示す図1の要部拡大図で
ある。
FIG. 2 is an enlarged view of a main part of FIG. 1 showing a bonding head.

【図3】ダイボンディング装置を示すブロック図であ
る。
FIG. 3 is a block diagram illustrating a die bonding apparatus.

【図4】ダイボンディングに先立つツール高さ設定処理
を示すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing a tool height setting process prior to die bonding.

【図5】ツール高さ設定処理に伴うツールの動作を示す
説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an operation of a tool accompanying a tool height setting process.

【図6】ダイボンディングに先立つ突き上げピン突き上
げ高さ設定処理を示すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing push-up pin push-up height setting processing prior to die bonding.

【図7】突き上げピン突き上げ高さ設定処理に伴うツー
ル及び突き上げピンの動作を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing operations of a tool and a push-up pin in a push-up pin push-up height setting process.

【図8】ダイボンディング時の処理内容を示すフローチ
ャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing processing contents at the time of die bonding.

【図9】チップの吸着動作時に発生する不具合の例を示
す状態図である。
FIG. 9 is a state diagram illustrating an example of a problem that occurs during a chip suction operation.

【図10】ボンディング動作時に発生する不具合の例を
示す状態図である。
FIG. 10 is a state diagram showing an example of a defect that occurs during a bonding operation.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

9 突き上げピン 11 Z軸モータ 13 ボンディングアーム 18 ツール 27 着地センサ(検出手段) 31 コントローラー 9 push-up pin 11 Z-axis motor 13 bonding arm 18 tool 27 landing sensor (detection means) 31 controller

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ボンディングアームと、該ボンディング
アームに設けられたツールと、供給されたチップの下方
で上下方向に動作し、前記チップを突き上げる突き上げ
ピンとを備え、前記ボンディングアームの動作に伴い、
該突き上げピンにより突き上げられたチップを前記ツー
ルが吸着するとともに対象物にボンディングするダイボ
ンディング装置において、 前記ツールが前記チップを吸着する吸着動作に際して、
前記ツールが前記チップに当接したことを検知する検知
手段と、 該検知手段が、前記ツールが前記チップに当接したこと
を検知した時点における前記突き上げピンの突き上げ方
向の動作位置を取得するピン動作位置取得手段と、 該ピン動作位置取得手段により取得された動作位置に基
づき、前記突き上げピンの動作を制御するピン制御手段
と、 を備えたことを特徴とするダイボンディング装置。
1. A bonding arm, a tool provided on the bonding arm, and a push-up pin that operates in a vertical direction below a supplied chip and pushes up the chip.
In a die bonding apparatus in which the tool pushed up by the push-up pin is sucked by the tool and bonded to an object, the tool performs a suction operation of sucking the chip.
Detecting means for detecting that the tool has contacted the chip; and a pin for acquiring an operating position of the push-up pin in the pushing direction at the time when the detecting means detects that the tool has contacted the chip. A die bonding apparatus comprising: an operating position obtaining unit; and a pin control unit that controls the operation of the push-up pin based on the operating position obtained by the pin operating position obtaining unit.
【請求項2】 前記ピン動作位置取得手段により取得さ
れた動作位置に基づき、前記突き上げピンの上下方向の
動作位置の基準となる基準動作位置を設定する基準動作
位置設定手段と、 該基準動作位置設定手段により設定された基準動作位置
を記憶する基準動作位置記憶手段とを備え、前記ピン制
御手段が、前記基準動作位置記憶手段に記憶された基準
動作位置を基準として前記突き上げピンの動作を制御す
ることを特徴とする請求項1記載のダイボンディング装
置。
2. A reference operation position setting means for setting a reference operation position serving as a reference of a vertical operation position of the push-up pin, based on the operation position acquired by the pin operation position acquisition means; Reference operation position storage means for storing the reference operation position set by the setting means, wherein the pin control means controls the operation of the push-up pin based on the reference operation position stored in the reference operation position storage means. The die bonding apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記ピン動作位置取得手段により取得さ
れた動作位置を記憶する突き上げ動作位置記憶手段と、 該突き上げ動作位置記憶手段に事前に記憶された動作位
置、及び前記吸着動作に際して前記ピン動作位置取得手
段により取得された動作位置に基づき、前記吸着動作に
関する検査を行う吸着動作検査手段と、 を備えたことを特徴とする請求項1又は2記載のダイボ
ンディング装置。
3. A push-up operation position storage means for storing an operation position acquired by said pin operation position acquisition means, an operation position previously stored in said push-up operation position storage means, and said pin operation during said suction operation. The die bonding apparatus according to claim 1, further comprising: a suction operation inspection unit that performs an inspection on the suction operation based on the operation position acquired by the position acquisition unit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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