JPH1082862A - 荷電粒子計測装置 - Google Patents
荷電粒子計測装置Info
- Publication number
- JPH1082862A JPH1082862A JP23916596A JP23916596A JPH1082862A JP H1082862 A JPH1082862 A JP H1082862A JP 23916596 A JP23916596 A JP 23916596A JP 23916596 A JP23916596 A JP 23916596A JP H1082862 A JPH1082862 A JP H1082862A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- light
- streak camera
- charged particle
- cherenkov light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】煩雑で時間のかかる光軸調整を不必要なものと
し、かつ光信号を診断するストリークカメラを放射線管
理区域から引き離して安全に操作する。 【解決手段】１は荷電粒子を伝搬する真空ダクトで、こ
の内部に、先端に無反射コート１３の処理を施した光フ
ァイバ１１ａを挿入する。この光ファイバ１１ａに荷電
粒子２が衝突し、光ファイバ１１ａ中を、この衝突の際
に発生したチェレンコフ光１２（１２ａ，１２ｂ）が伝
搬する。この光ファイバ１１ａの無反射コート１３を施
していない端部は光ファイバ真空導入端子付フランジ１
４に接続され保持される。このフランジ１４の大気側に
光ファイバ１１ｂが接続され、この光ファイバ１１ｂは
ストリークカメラ８に接続されている。チェレンコフ光
１２ｂは光ファイバ１１ａ、フランジ１４、光ファイバ
１１ｂを介してストリークカメラ８に入射する。
し、かつ光信号を診断するストリークカメラを放射線管
理区域から引き離して安全に操作する。 【解決手段】１は荷電粒子を伝搬する真空ダクトで、こ
の内部に、先端に無反射コート１３の処理を施した光フ
ァイバ１１ａを挿入する。この光ファイバ１１ａに荷電
粒子２が衝突し、光ファイバ１１ａ中を、この衝突の際
に発生したチェレンコフ光１２（１２ａ，１２ｂ）が伝
搬する。この光ファイバ１１ａの無反射コート１３を施
していない端部は光ファイバ真空導入端子付フランジ１
４に接続され保持される。このフランジ１４の大気側に
光ファイバ１１ｂが接続され、この光ファイバ１１ｂは
ストリークカメラ８に接続されている。チェレンコフ光
１２ｂは光ファイバ１１ａ、フランジ１４、光ファイバ
１１ｂを介してストリークカメラ８に入射する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、高エネルギーに加
速された荷電粒子の空間的軸方向長さを容易に計測する
ことが可能な荷電粒子計測装置に関する。
速された荷電粒子の空間的軸方向長さを容易に計測する
ことが可能な荷電粒子計測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の荷電粒子計測装置の構成図を図３
に示す。図３に示すように、真空ダクト１中に挿入した
光変換スクリーン３に荷電粒子２を衝突させる。その
際、光変換スクリーン３は真空とは異なる誘電率を持つ
ため、真空中を飛行していた荷電粒子２は，この光変換
スクリーン３と真空との界面でトランジション・ラジエ
ーションと呼ばれる白色の発光を生じる。
に示す。図３に示すように、真空ダクト１中に挿入した
光変換スクリーン３に荷電粒子２を衝突させる。その
際、光変換スクリーン３は真空とは異なる誘電率を持つ
ため、真空中を飛行していた荷電粒子２は，この光変換
スクリーン３と真空との界面でトランジション・ラジエ
ーションと呼ばれる白色の発光を生じる。
【０００３】上記トランジション・ラジエーションは、
スクリーン３の前方への発光４ａと後方への発光４ｂが
ある。ここで、後方の発光４ｂは、荷電粒子２の飛行航
路とは異なり観測可能であるので、この後方の発光４ｂ
を真空ダクト１の側壁に配置された真空窓付フランジ５
を通して観測する。すなわち、上記後方の発光４ｂを真
空窓付フランジ５を介して取り出し、集光レンズ６ａに
より平行化させ、その後、最低１つの反射ミラー７を用
い、集光レンズ６ｂを通してストリークカメラ８に光信
号１０として入射する。この光信号１０は、荷電粒子２
の空間的軸方向長さＬに相当する光の長さを有する。ま
た、上記ストリークカメラ８は、鉛等の放射線シールド
９により放射線に対し遮蔽された場所に保管される。
スクリーン３の前方への発光４ａと後方への発光４ｂが
ある。ここで、後方の発光４ｂは、荷電粒子２の飛行航
路とは異なり観測可能であるので、この後方の発光４ｂ
を真空ダクト１の側壁に配置された真空窓付フランジ５
を通して観測する。すなわち、上記後方の発光４ｂを真
空窓付フランジ５を介して取り出し、集光レンズ６ａに
より平行化させ、その後、最低１つの反射ミラー７を用
い、集光レンズ６ｂを通してストリークカメラ８に光信
号１０として入射する。この光信号１０は、荷電粒子２
の空間的軸方向長さＬに相当する光の長さを有する。ま
た、上記ストリークカメラ８は、鉛等の放射線シールド
９により放射線に対し遮蔽された場所に保管される。
【０００４】ここで、ストリークカメラ８の概略的構成
について図により説明する。図２に示すようにストリー
クカメラ８に入射した光２１はスリット２２を通り、レ
ンズ２３により光電面２４上に集束される。この光電面
２４において、入射光２１は光量に比例した２次電子に
光電変換される。光電変換された２次電子は、急峻な掃
引パルスをストリーク管２９内の偏向電極２５に印加す
ることで偏向される。
について図により説明する。図２に示すようにストリー
クカメラ８に入射した光２１はスリット２２を通り、レ
ンズ２３により光電面２４上に集束される。この光電面
２４において、入射光２１は光量に比例した２次電子に
光電変換される。光電変換された２次電子は、急峻な掃
引パルスをストリーク管２９内の偏向電極２５に印加す
ることで偏向される。
【０００５】このように、時間とともに振幅が増大する
掃引パルスで偏向させることにより、２次電子が蛍光面
２６の異なった位置を叩き蛍光を発する。この蛍光面２
６に写った像をレンズ２７を介してカメラ２８で観察す
る。このため、蛍光面２６にて光信号１０の時間量を２
次電子の１次元の空間量に変換して計測することが可能
となる。このストリークカメラ８で光電変換された荷電
粒子２の空間的軸方向長さＬの信号を計測し、ピコ秒パ
ルスの信号を計測する。
掃引パルスで偏向させることにより、２次電子が蛍光面
２６の異なった位置を叩き蛍光を発する。この蛍光面２
６に写った像をレンズ２７を介してカメラ２８で観察す
る。このため、蛍光面２６にて光信号１０の時間量を２
次電子の１次元の空間量に変換して計測することが可能
となる。このストリークカメラ８で光電変換された荷電
粒子２の空間的軸方向長さＬの信号を計測し、ピコ秒パ
ルスの信号を計測する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の荷電粒
子計測装置では、その空間的軸方向長さＬの信号を取り
込む際以下のような問題があった。すなわち、後方の発
光４ｂをストリークカメラ８まで伝搬させる際の光軸調
整、すなわち集光レンズ６ａ、反射ミラー７、集光レン
ズ６ｂの位置調整が困難で、細心の注意を払って根気よ
く進めなければならず熟練者でなければ時間のかかる作
業であった。また、実際に発生している光を見ながら調
整することは、放射線に対する安全管理上不可能である
ため、調整そのものも勘にたよる作業である。
子計測装置では、その空間的軸方向長さＬの信号を取り
込む際以下のような問題があった。すなわち、後方の発
光４ｂをストリークカメラ８まで伝搬させる際の光軸調
整、すなわち集光レンズ６ａ、反射ミラー７、集光レン
ズ６ｂの位置調整が困難で、細心の注意を払って根気よ
く進めなければならず熟練者でなければ時間のかかる作
業であった。また、実際に発生している光を見ながら調
整することは、放射線に対する安全管理上不可能である
ため、調整そのものも勘にたよる作業である。
【０００７】さらに、スクリーン３に衝突した際に生じ
る後方の発光４ｂが微弱であるため、長い距離を伝搬さ
せることが困難で、光信号１０を診断するストリークカ
メラ８が計測位置の近傍になることが多い。このため放
射線からストリークカメラ８を保護する結果、鉛等の放
射線シールド９により放射線から遮蔽する必要があり、
装置が大掛かりとなる。
る後方の発光４ｂが微弱であるため、長い距離を伝搬さ
せることが困難で、光信号１０を診断するストリークカ
メラ８が計測位置の近傍になることが多い。このため放
射線からストリークカメラ８を保護する結果、鉛等の放
射線シールド９により放射線から遮蔽する必要があり、
装置が大掛かりとなる。
【０００８】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、その目的とするところは、煩雑で時間のか
かる光軸調整を不必要なものとし、かつ光信号を診断す
るストリークカメラを放射線管理区域から引き離して簡
便な装置でかつ安全に操作することが可能な荷電粒子計
測装置を提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、煩雑で時間のか
かる光軸調整を不必要なものとし、かつ光信号を診断す
るストリークカメラを放射線管理区域から引き離して簡
便な装置でかつ安全に操作することが可能な荷電粒子計
測装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の荷電粒子計測装
置は、荷電粒子伝搬用の真空ダクト中に設けられ該荷電
粒子との衝突によりチェレンコフ光を発生させるチェレ
ンコフ光発生手段と、このチェレンコフ光発生手段によ
り発生したチェレンコフ光を前記真空ダクトより外部に
導出して伝搬する光ファイバと、この光ファイバにより
伝搬された前記チェレンコフ光を記録して前記荷電粒子
の空間的軸方向長さを計測するストリークカメラとを具
備したことを特徴とする。
置は、荷電粒子伝搬用の真空ダクト中に設けられ該荷電
粒子との衝突によりチェレンコフ光を発生させるチェレ
ンコフ光発生手段と、このチェレンコフ光発生手段によ
り発生したチェレンコフ光を前記真空ダクトより外部に
導出して伝搬する光ファイバと、この光ファイバにより
伝搬された前記チェレンコフ光を記録して前記荷電粒子
の空間的軸方向長さを計測するストリークカメラとを具
備したことを特徴とする。
【００１０】本発明による荷電粒子計測装置によれば、
以下の作用・効果を有する。真空ダクト中を進行する荷
電粒子はチェレンコフ光発生手段に衝突する。この衝突
の際、荷電粒子の空間的軸方向長さに相当する光の長さ
を有するチェレンコフ光を発する。このチェレンコフ光
は、チェレンコフ光発生手段内部を伝搬するとともに、
更に真空ダクト外部に導出され、光ファイバに進入す
る。このチェレンコフ光はこの光ファイバ中を伝搬し
て、ストリークカメラに達する。
以下の作用・効果を有する。真空ダクト中を進行する荷
電粒子はチェレンコフ光発生手段に衝突する。この衝突
の際、荷電粒子の空間的軸方向長さに相当する光の長さ
を有するチェレンコフ光を発する。このチェレンコフ光
は、チェレンコフ光発生手段内部を伝搬するとともに、
更に真空ダクト外部に導出され、光ファイバに進入す
る。このチェレンコフ光はこの光ファイバ中を伝搬し
て、ストリークカメラに達する。
【００１１】このストリークカメラでチェレンコフ光は
光量に比例した２次電子に光電変換され、この２次電子
がストリークカメラ内の偏向電極により偏向される。異
なる時間に光電面から放出された２次電子は蛍光面の異
なる位置を叩くため、この蛍光面の空間的強度分布を測
定することで、荷電粒子の空間的軸方向長さを知ること
ができる。
光量に比例した２次電子に光電変換され、この２次電子
がストリークカメラ内の偏向電極により偏向される。異
なる時間に光電面から放出された２次電子は蛍光面の異
なる位置を叩くため、この蛍光面の空間的強度分布を測
定することで、荷電粒子の空間的軸方向長さを知ること
ができる。
【００１２】上記したように、光ファイバにより真空ダ
クトからストリークカメラに直接チェレンコフ光を導く
ことで、複雑な光軸調整を不要とし、かつ発生する微弱
なチェレンコフ光を遠くまで伝搬させることが可能とな
る。
クトからストリークカメラに直接チェレンコフ光を導く
ことで、複雑な光軸調整を不要とし、かつ発生する微弱
なチェレンコフ光を遠くまで伝搬させることが可能とな
る。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の一実施形態を説明する。図１は、本発明の一実施形態
に係る荷電粒子計測装置を示す全体構成図である。図１
において、１は荷電粒子を伝搬する真空ダクトで、この
真空ダクト１内にチェレンコフ光発生用媒体、例えば先
端に無反射コート１３の処理を施した光ファイバ１１ａ
を、真空ダクト１の側壁に設けられた開口部から挿入す
る。
の一実施形態を説明する。図１は、本発明の一実施形態
に係る荷電粒子計測装置を示す全体構成図である。図１
において、１は荷電粒子を伝搬する真空ダクトで、この
真空ダクト１内にチェレンコフ光発生用媒体、例えば先
端に無反射コート１３の処理を施した光ファイバ１１ａ
を、真空ダクト１の側壁に設けられた開口部から挿入す
る。
【００１４】上記光ファイバ１１ａの、無反射コート１
３を施していない端部には、真空導入端子付フランジ１
４に接続されて保持される。このフランジ１４は、真空
ダクト１の側壁に設けられた開口部を閉塞して真空ダク
ト１内を真空に保持する。またフランジ１４の大気側に
は光ファイバ１１ｂが接続されている。
３を施していない端部には、真空導入端子付フランジ１
４に接続されて保持される。このフランジ１４は、真空
ダクト１の側壁に設けられた開口部を閉塞して真空ダク
ト１内を真空に保持する。またフランジ１４の大気側に
は光ファイバ１１ｂが接続されている。
【００１５】真空ダクト１中を進行する荷電粒子２は、
上記光ファイバ１１ａに当たり、通過する際に、チェレ
ンコフ光１２（１２ａ，１２ｂ）となって光ファイバ１
１ａ内を伝搬する。
上記光ファイバ１１ａに当たり、通過する際に、チェレ
ンコフ光１２（１２ａ，１２ｂ）となって光ファイバ１
１ａ内を伝搬する。
【００１６】上記光ファイバ１１ａにおいて発生したチ
ェレンコフ光１２ｂは、フランジ１４を介して光ファイ
バ１１ｂ中に伝搬していく。ここで、光ファイバ１１ｂ
中を伝搬するチェレンコフ光１２ｂは、荷電粒子２の空
間的軸方向長さＬに相当する光の長さを有している。こ
のチェレンコフ光１２ｂは、さらにこの光ファイバ１１
ｂに接続されたストリークカメラ８に入射して計測され
る。
ェレンコフ光１２ｂは、フランジ１４を介して光ファイ
バ１１ｂ中に伝搬していく。ここで、光ファイバ１１ｂ
中を伝搬するチェレンコフ光１２ｂは、荷電粒子２の空
間的軸方向長さＬに相当する光の長さを有している。こ
のチェレンコフ光１２ｂは、さらにこの光ファイバ１１
ｂに接続されたストリークカメラ８に入射して計測され
る。
【００１７】以下、上記実施形態の動作を説明する。ま
ず、高エネルギーに加速された荷電粒子２を真空ダクト
１中に進入させる。真空ダクト１中を進行する荷電粒子
２はその空間的軸方向長さＬが数ピコ秒しかない。この
荷電粒子２が光ファイバ１１ａに当たり、通過すると
き、高エネルギーで加速しているためチェレンコフ光１
２を発する。このチェレンコフ光１２は、光ファイバ１
１ａ内に進入した点から双方向に伝搬していく。
ず、高エネルギーに加速された荷電粒子２を真空ダクト
１中に進入させる。真空ダクト１中を進行する荷電粒子
２はその空間的軸方向長さＬが数ピコ秒しかない。この
荷電粒子２が光ファイバ１１ａに当たり、通過すると
き、高エネルギーで加速しているためチェレンコフ光１
２を発する。このチェレンコフ光１２は、光ファイバ１
１ａ内に進入した点から双方向に伝搬していく。
【００１８】双方向に伝搬するチェレンコフ光１２のう
ち、その一方に伝搬するチェレンコフ光１２ａは、荷電
粒子の計測には不必要な光となる。そこで、このチェレ
ンコフ光１２ａの伝搬方向にのびる光ファイバ１１ａの
端部に無反射コート１３の処理を施しておき、伝搬する
チェレンコフ光１２ａを吸収する。
ち、その一方に伝搬するチェレンコフ光１２ａは、荷電
粒子の計測には不必要な光となる。そこで、このチェレ
ンコフ光１２ａの伝搬方向にのびる光ファイバ１１ａの
端部に無反射コート１３の処理を施しておき、伝搬する
チェレンコフ光１２ａを吸収する。
【００１９】一方、チェレンコフ光１２ａに対して反対
方向に伝搬するチェレンコフ光１２ｂは、光ファイバ１
１ａ中を伝搬し、真空ダクト１の側壁の開口部に設けら
れた光ファイバ真空導入端子付フランジ１４を介して光
ファイバ１１ｂに進入し、その内部を伝搬し、チェレン
コフ光検出部から十分遠方に設置してあるストリークカ
メラ８に入射する。
方向に伝搬するチェレンコフ光１２ｂは、光ファイバ１
１ａ中を伝搬し、真空ダクト１の側壁の開口部に設けら
れた光ファイバ真空導入端子付フランジ１４を介して光
ファイバ１１ｂに進入し、その内部を伝搬し、チェレン
コフ光検出部から十分遠方に設置してあるストリークカ
メラ８に入射する。
【００２０】このストリークカメラ８において、図２に
示すようにまず入射したチェレンコフ光２１をスリット
２２を通し、レンズ２３により光電面２４上に集束す
る。この光電面２４にて入射光２１を２次電子に光電変
換する。この光電変換された２次電子に急峻な掃引パル
スをストリーク管２９内の偏向電極２５により印加して
偏向する。偏向された２次電子は、蛍光面２６を叩く。
示すようにまず入射したチェレンコフ光２１をスリット
２２を通し、レンズ２３により光電面２４上に集束す
る。この光電面２４にて入射光２１を２次電子に光電変
換する。この光電変換された２次電子に急峻な掃引パル
スをストリーク管２９内の偏向電極２５により印加して
偏向する。偏向された２次電子は、蛍光面２６を叩く。
【００２１】ここで、時間とともに振幅が増大する掃引
パルスで偏向を行ったことにより、２次電子が蛍光面を
叩く位置は時間により異なる。また入射したチェレンコ
フ光２１の長さに比例した量として蛍光面２６に像が写
るので、蛍光している蛍光面の長さを測定することで、
入射光２１の時間的強度分布を知ることができ、すなわ
ち荷電粒子２の長さを測定することができる。
パルスで偏向を行ったことにより、２次電子が蛍光面を
叩く位置は時間により異なる。また入射したチェレンコ
フ光２１の長さに比例した量として蛍光面２６に像が写
るので、蛍光している蛍光面の長さを測定することで、
入射光２１の時間的強度分布を知ることができ、すなわ
ち荷電粒子２の長さを測定することができる。
【００２２】このように光ファイバ１１ａ，１１ｂを用
いることで、ストリークカメラ８に光を導くまでの光軸
の複雑な調整が不要となる。またチェレンコフ光１２ｂ
をその光強度を弱めることなく自由に引き回すことが可
能となる。
いることで、ストリークカメラ８に光を導くまでの光軸
の複雑な調整が不要となる。またチェレンコフ光１２ｂ
をその光強度を弱めることなく自由に引き回すことが可
能となる。
【００２３】さらに、ストリークカメラ８を計測装置か
ら十分遠方に設置することが可能となり、ストリークカ
メラ８を放射線から遮蔽させるための放射線シールド等
の装置が不必要となる。また、スクリーンモニタを手近
に置くことが可能となるので設定その他の調整が容易に
なる。
ら十分遠方に設置することが可能となり、ストリークカ
メラ８を放射線から遮蔽させるための放射線シールド等
の装置が不必要となる。また、スクリーンモニタを手近
に置くことが可能となるので設定その他の調整が容易に
なる。
【００２４】なお、上記実施形態においてはチェレンコ
フ光発生手段として光ファイバを用いた場合について示
したが、その他の媒体を用いてチェレンコフ光を発生さ
せてもよいことは勿論である。
フ光発生手段として光ファイバを用いた場合について示
したが、その他の媒体を用いてチェレンコフ光を発生さ
せてもよいことは勿論である。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
ファイバによりチェレンコフ光を直接ストリークカメラ
に導くことで、複雑な光軸調整をする必要がなく簡便に
かつ正確に荷電粒子の長さを計測することが可能とな
る。
ファイバによりチェレンコフ光を直接ストリークカメラ
に導くことで、複雑な光軸調整をする必要がなく簡便に
かつ正確に荷電粒子の長さを計測することが可能とな
る。
【００２６】また、微弱な光を遠くまで伝搬させること
が可能となり、ストリークカメラを放射線管理区域から
引き離すことで安全に荷電粒子の長さを計測することが
可能となる。
が可能となり、ストリークカメラを放射線管理区域から
引き離すことで安全に荷電粒子の長さを計測することが
可能となる。
【図１】本発明の一実施形態に係る荷電粒子計測装置を
示す全体構成図。
示す全体構成図。
【図２】同実施形態におけるストリークカメラを示す構
成図。
成図。
【図３】従来の荷電粒子計測装置の全体構成図。
１ 真空ダクト ２ 荷電粒子 ８ ストリークカメラ １１ａ，１１ｂ 光ファイバ １２ａ，１２ｂ チェレンコフ光 １３ 無反射コート １４ 光ファイバ真空導入端子付フランジ ２１ 入射光 ２２ スリット ２３ レンズ ２４ 光電面 ２５ 偏向電極 ２６ 蛍光面 ２７ レンズ ２８ カメラ ２９ ストリーク管
Claims (1)
- 【請求項１】 荷電粒子伝搬用の真空ダクト中に設けら
れ、該荷電粒子との衝突によりチェレンコフ光を発生さ
せるチェレンコフ光発生手段と、 前記チェレンコフ光発生手段により発生したチェレンコ
フ光を前記真空ダクトより外部に導出して伝搬する光フ
ァイバと、 前記光ファイバにより伝搬された前記チェレンコフ光を
記録して前記荷電粒子の空間的軸方向長さを計測するス
トリークカメラとを具備したことを特徴とする荷電粒子
計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23916596A JPH1082862A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 荷電粒子計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23916596A JPH1082862A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 荷電粒子計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1082862A true JPH1082862A (ja) | 1998-03-31 |
Family
ID=17040704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23916596A Withdrawn JPH1082862A (ja) | 1996-09-10 | 1996-09-10 | 荷電粒子計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1082862A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10135092A1 (de) * | 2001-07-15 | 2003-01-30 | Hahn Meitner Inst Berlin Gmbh | Messvorrichtung zur Dosismessung hochenergetischer Teilchenstrahlung |
| FR2897443A1 (fr) * | 2006-02-13 | 2007-08-17 | Centre Nat Rech Scient | Equipement de caracterisation d'un faisceau de particules |
| KR101249267B1 (ko) | 2011-01-24 | 2013-04-01 | 건국대학교 산학협력단 | 체렌코프 방사선 측정을 통한 치료용 양성자선의 상대선량 측정 광섬유 센서 시스템 및 이를 이용한 측정 방법 |
| JP2015531061A (ja) * | 2012-08-03 | 2015-10-29 | ライトポイント メディカル リミテッド | 放射性医薬品の光学的撮像のための試料チャンバ |
| US9322927B2 (en) | 2012-07-23 | 2016-04-26 | Konkuk University Industrial Cooperation Corp. | Fiber-optic sensor system for measuring relative dose of therapeutic proton beam by measuring cerenkov radiation and method of measuring using the same |
-
1996
- 1996-09-10 JP JP23916596A patent/JPH1082862A/ja not_active Withdrawn
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|---|---|---|---|---|
| DE10135092A1 (de) * | 2001-07-15 | 2003-01-30 | Hahn Meitner Inst Berlin Gmbh | Messvorrichtung zur Dosismessung hochenergetischer Teilchenstrahlung |
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| WO2007093735A2 (fr) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Centre National De La Recherche Scientifique - Cnrs | Equipement de caracterisation d'un faisceau de particules |
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