JPH1064860A - Substrate processing device - Google Patents

Substrate processing device

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Publication number
JPH1064860A
JPH1064860A JP21727896A JP21727896A JPH1064860A JP H1064860 A JPH1064860 A JP H1064860A JP 21727896 A JP21727896 A JP 21727896A JP 21727896 A JP21727896 A JP 21727896A JP H1064860 A JPH1064860 A JP H1064860A
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JP
Japan
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substrate
cleaning
reversing
chuck
cleaning apparatus
Prior art date
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Pending
Application number
JP21727896A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsuhiro Fujita
充宏 藤田
Masahide Ikeda
昌秀 池田
Masaru Kitagawa
勝 北川
Nobuyasu Hiraoka
伸康 平岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPH1064860A publication Critical patent/JPH1064860A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processing device of smaller size wherein inversion operation of a substrate is allowed. SOLUTION: A substrate inversion mechanism part 20 comprises a pair of chucks 21 and 21, and with the chuck 21 opened/closed, a substrate W is held or released. The pair of chucks 21 and 21 is inverted by an inversion motor. In addition, the substrate inversion mechanism part 20 is movable in vertical direction by an ascending/descending cylinder 29. At switching of back surface washing/front surface washing of the substrate W, the substrate inversion mechanism part 20 comes down and closes the chuck 21 to hold the substrate W, and then rises to invert the substrate W. Then it comes down again to place the substrate W on a substrate supporting stage 2.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、基板の反転機構部
を備えた基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus provided with a substrate reversing mechanism.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイス等の製造工程において
は、半導体ウエハあるいは液晶表示装置用ガラス基板等
(以下、基板と称する)の洗浄処理が行われている。基
板の洗浄処理では、基板洗浄装置を用い、基板の表面に
洗浄液を供給し、さらに洗浄ブラシで基板表面の汚染を
洗い流すことが行われている。
2. Description of the Related Art In a process of manufacturing a semiconductor device or the like, a cleaning process is performed on a semiconductor wafer or a glass substrate for a liquid crystal display device (hereinafter, referred to as a substrate). In a substrate cleaning process, a substrate cleaning apparatus is used to supply a cleaning liquid to the surface of the substrate, and further to wash away contamination on the substrate surface with a cleaning brush.

【0003】最近では、半導体デバイス等が形成される
基板表面の汚染を洗浄する表面洗浄のみならず、基板の
裏面に付着した汚染物を洗浄するために基板の裏面洗浄
も行われている。
In recent years, not only surface cleaning for cleaning contamination on the surface of a substrate on which semiconductor devices and the like are formed, but also cleaning of the back surface of the substrate for cleaning contaminants adhering to the back surface of the substrate has been performed.

【0004】基板の両面洗浄を行うためには、基板洗浄
装置に基板の表面と裏面のそれぞれを洗浄するための洗
浄ブラシ等を設ける必要がある。しかし、このような基
板洗浄装置は構造が複雑であり、コストも高くなる。
In order to clean both surfaces of a substrate, it is necessary to provide a cleaning brush or the like for cleaning the front and back surfaces of the substrate in the substrate cleaning apparatus. However, such a substrate cleaning apparatus has a complicated structure and increases costs.

【0005】このために、基板を反転させて両面洗浄を
可能とした基板洗浄装置が提案されている。例えば、特
開平6−163493号公報には、一対の基板洗浄ユニ
ットと、一対の基板洗浄ユニット間で基板を搬送する搬
送手段と、基板を反転させる反転ユニットとを備えた基
板洗浄装置が開示されている。この従来の第1の例によ
る基板洗浄装置では、第1の基板洗浄ユニットで基板の
表面を洗浄した後、搬送手段により基板を反転ユニット
へ搬送し、反転ユニットにおいて未洗浄の裏面が上面と
なるように基板を反転させた後、再び搬送手段により第
2の基板洗浄ユニットへ搬送し、基板の裏面を洗浄す
る。
[0005] For this reason, a substrate cleaning apparatus has been proposed in which the substrate is turned upside down to enable double-side cleaning. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-163493 discloses a substrate cleaning apparatus including a pair of substrate cleaning units, a transport unit that transports the substrate between the pair of substrate cleaning units, and a reversing unit that reverses the substrate. ing. In the substrate cleaning apparatus according to the first conventional example, after the front surface of the substrate is cleaned by the first substrate cleaning unit, the substrate is transported to the reversing unit by the transport unit, and the uncleaned back surface of the reversing unit becomes the upper surface. After the substrate is turned over as described above, the substrate is again transported to the second substrate cleaning unit by the transport unit, and the back surface of the substrate is cleaned.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
基板洗浄装置では、基板洗浄ユニット以外に反転ユニッ
トを別個に設ける必要があるため、基板洗浄装置全体が
大型化するという問題がある。さらに、種々の基板処理
ユニットを含む基板処理装置に当該基板洗浄装置をユニ
ットとして組み込んだ場合には、大きなスペースが必要
となり、基板処理装置全体が大型化するという問題があ
る。
However, in the above-described substrate cleaning apparatus, there is a problem that the entire substrate cleaning apparatus is increased in size because it is necessary to separately provide a reversing unit in addition to the substrate cleaning unit. Further, when the substrate cleaning apparatus is incorporated as a unit into a substrate processing apparatus including various substrate processing units, a large space is required, and there is a problem that the entire substrate processing apparatus becomes large.

【0007】一方、基板洗浄装置の内部に基板を反転さ
せる機構部を有する基板洗浄装置も提案されている。こ
の従来の第2の例による基板洗浄装置は、例えば特開平
3−52226号公報に開示されている。この基板洗浄
装置の反転機構部は、スピンチャック上に水平姿勢で保
持された基板の周縁部を保持し、基板をスピンチャック
の外方に持ち上げて基板の表面が鉛直方向に向くように
保持し、基板の中心を通る鉛直軸を中心に180°回転
させた後、再び基板をスピンチャック上に載置させるこ
とによって基板を反転させるように構成されている。そ
して、この基板反転機構部は、スピンチャックに隣接し
て配置されているため、反転ユニットが基板洗浄ユニッ
トと別個に設けられた従来の第1の例による基板洗浄装
置に比べて基板洗浄装置を小型化することができる。
On the other hand, a substrate cleaning apparatus having a mechanism for reversing a substrate inside the substrate cleaning apparatus has also been proposed. The substrate cleaning apparatus according to the second conventional example is disclosed in, for example, JP-A-3-52226. The reversing mechanism of the substrate cleaning apparatus holds the peripheral portion of the substrate held in a horizontal posture on the spin chuck, lifts the substrate to the outside of the spin chuck, and holds the substrate so that the surface of the substrate is oriented vertically. After the substrate is rotated by 180 ° about a vertical axis passing through the center of the substrate, the substrate is mounted on the spin chuck again to invert the substrate. Since the substrate reversing mechanism is disposed adjacent to the spin chuck, the substrate reversing unit can be used in comparison with the substrate cleaning apparatus according to the first conventional example in which the reversing unit is provided separately from the substrate cleaning unit. The size can be reduced.

【0008】しかしながら、この基板洗浄装置の反転機
構部はスピンチャック以外の場所では基板を水平に保持
することができないため、基板洗浄装置の外部に設けら
れる基板搬送装置と反転機構部との間で直接基板の受渡
しを行うことができない。したがって、基板洗浄装置の
内部に基板受渡し台を別途設け、この基板受渡し台を介
して反転機構部と基板搬送装置との間で基板の受渡しを
行う。このために、基板洗浄装置の内部に基板受渡し台
を設けるスペースが必要となり、小型化を阻害する要因
となっている。
[0008] However, since the reversing mechanism of the substrate cleaning apparatus cannot hold the substrate horizontally at a place other than the spin chuck, a reversing mechanism is provided between the substrate transport device provided outside the substrate cleaning apparatus and the reversing mechanism. The board cannot be delivered directly. Therefore, a substrate transfer table is separately provided inside the substrate cleaning apparatus, and the substrate is transferred between the reversing mechanism and the substrate transfer device via the substrate transfer table. For this reason, a space for providing a substrate delivery table is required inside the substrate cleaning apparatus, which is a factor that hinders miniaturization.

【0009】本発明の目的は、基板の反転動作が可能で
ありかつ小型化された基板処理装置を提供することであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a downsized substrate processing apparatus capable of performing a substrate inversion operation.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る基板処理装置は、基板を水平姿勢に保持して
基板に対して所定の処理を行う基板処理部と、基板の端
縁を保持して水平軸の周りに反転させる反転手段とを備
えたものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for performing a predetermined process on a substrate while holding the substrate in a horizontal posture, and an edge of the substrate. And an inverting means for inverting around the horizontal axis while holding

【0011】第2の発明に係る基板処理装置は、第1の
発明に係る基板処理装置の構成において、反転手段が、
基板の端縁を保持する基板保持部材と、基板保持部材を
水平軸の周りに反転させる反転駆動部と、基板保持部材
を昇降させる昇降駆動部とを備えたものである。
A substrate processing apparatus according to a second aspect of the present invention is the substrate processing apparatus according to the first aspect, wherein the reversing means comprises:
The apparatus includes a substrate holding member for holding an edge of a substrate, an inversion driving unit for inverting the substrate holding member around a horizontal axis, and an elevation driving unit for elevating and lowering the substrate holding member.

【0012】第3の発明に係る基板処理装置は、第1ま
たは第2の発明に係る基板処理装置の構成において、基
板処理部が、基板を保持して回転する基板回転保持部材
を含むものである。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first or second aspect of the present invention, the substrate processing section includes a substrate rotation holding member that rotates while holding the substrate.

【0013】第1〜第3の発明に係る基板処理装置にお
いては、基板処理部の上方において反転手段が基板を反
転させるように構成されている。このために、基板を反
転させるための平面スペースを新たに設ける必要がなく
なり、基板処理装置の省スペース化を図ることができ
る。
In the substrate processing apparatus according to the first to third aspects of the present invention, the reversing means reverses the substrate above the substrate processing section. Therefore, it is not necessary to newly provide a plane space for inverting the substrate, and the space of the substrate processing apparatus can be saved.

【0014】特に、第2の発明に係る基板処理装置にお
いては、基板保持部材が基板の端縁を保持し、昇降駆動
部が基板保持部材を昇降させるとともに、反転駆動部が
基板保持部材を水平軸の周りに反転させるように動作す
ることにより、基板を基板処理部の上方において反転さ
せることができる。これにより、基板を反転させるため
の余分なスペースを確保する必要がなくなり、基板処理
装置の省スペース化を図ることができる。
In particular, in the substrate processing apparatus according to the second aspect of the invention, the substrate holding member holds the edge of the substrate, the elevating drive unit moves the substrate holding member up and down, and the inversion drive unit moves the substrate holding member horizontally. By operating to flip around the axis, the substrate can be flipped above the substrate processing unit. Thus, it is not necessary to secure an extra space for inverting the substrate, and the space of the substrate processing apparatus can be saved.

【0015】特に、第3の発明に係る基板処理装置にお
いては、基板処理部が基板を保持して回転する基板回転
保持部材を有している。これにより、例えば基板洗浄装
置や基板の裏面のコーティング処理を行う塗布装置等に
おいて、基板の反転動作が可能になるとともに、省スペ
ース化を図ることができる。
In particular, in the substrate processing apparatus according to the third invention, the substrate processing section has a substrate rotation holding member which rotates while holding the substrate. As a result, for example, in a substrate cleaning device or a coating device that performs a coating process on the back surface of the substrate, the inversion operation of the substrate can be performed and the space can be saved.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施例による基
板洗浄装置の平面図である。図2は、図1に示す基板洗
浄装置の正面図である。なお、図2では、基板洗浄装置
の主要部の構成について示している。図1および図2に
おいて、基板洗浄装置は、その機能から大別して、基板
Wを保持して回転するスピンチャック1、基板Wに洗浄
液を供給して洗浄を行うノズル部4、ブラシ機構部7、
および基板Wをスピンチャック1に載置し、さらに反転
させる基板反転ユニット8を備えている。
FIG. 1 is a plan view of a substrate cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a front view of the substrate cleaning apparatus shown in FIG. FIG. 2 shows a configuration of a main part of the substrate cleaning apparatus. 1 and 2, the substrate cleaning apparatus is roughly classified according to its function. The spin chuck 1 holds and rotates the substrate W, the nozzle unit 4 that supplies a cleaning liquid to the substrate W to perform cleaning, the brush mechanism unit 7,
And a substrate reversing unit 8 for placing the substrate W on the spin chuck 1 and further reversing the substrate W.

【0017】スピンチャック1は、モータ5の回転軸6
の先端に固定される基板支持台2を有している。基板支
持台2の上面には、基板Wの端縁に当接して水平方向の
位置を規制する複数の基板保持ピン3が形成されてい
る。基板保持ピン3は基板Wの端縁に当接する位置と端
縁から離間した位置との間を移動可能に構成されてお
り、例えば磁力などにより駆動される。
The spin chuck 1 has a rotating shaft 6 of a motor 5.
Has a substrate support 2 fixed to the tip of the substrate. A plurality of substrate holding pins 3 are formed on the upper surface of the substrate support 2 to abut on the edge of the substrate W to regulate the horizontal position. The substrate holding pins 3 are configured to be movable between a position in contact with an edge of the substrate W and a position separated from the edge, and are driven by, for example, a magnetic force.

【0018】このスピンチャック1は、モータ5の回転
により基板Wを保持して回転する。また、スピンチャッ
ク1の周囲には、基板保持台2の周囲を取り囲むように
カップ17が配置されている。カップ17は昇降手段
(図示省略)により上下方向に移動可能に形成されてい
る。
The spin chuck 1 holds and rotates the substrate W by the rotation of the motor 5. A cup 17 is arranged around the spin chuck 1 so as to surround the periphery of the substrate holder 2. The cup 17 is formed so as to be able to move up and down by means of elevating means (not shown).

【0019】ブラシ機構部7は、基板Wの表面に純水を
供給する純水ノズル15、基板Wの乾燥を補助するため
のN2 ガスノズル16、および洗浄ブラシ11を備えた
洗浄アーム部10を備えている。洗浄アーム部10は、
鉛直方向に昇降可能に構成されており、さらに先端部に
取り付けられた洗浄ブラシ11がスピンチャック1の外
方に設けられた待機ポット12と基板Wの表面との間を
揺動可能に構成されている。また、洗浄ブラシ11は鉛
直方向の周りで回転自在に構成されており、基板Wの表
面に接して回転することによって基板Wの汚染物を除去
する。
The brush mechanism 7 includes a pure water nozzle 15 for supplying pure water to the surface of the substrate W, an N 2 gas nozzle 16 for assisting the drying of the substrate W, and a cleaning arm 10 having a cleaning brush 11. Have. The cleaning arm unit 10
The cleaning brush 11 attached to the tip portion is configured so as to be able to move up and down in the vertical direction, and is swingable between a standby pot 12 provided outside the spin chuck 1 and the surface of the substrate W. ing. The cleaning brush 11 is configured to be rotatable around a vertical direction, and removes contaminants on the substrate W by rotating while being in contact with the surface of the substrate W.

【0020】基板反転ユニット8は、基板Wを保持しか
つ反転させる基板反転機構部20と、基板反転機構部2
0を昇降させる昇降機構部27とを有している。図3
は、基板反転機構部20の側面図であり、図4は図3に
示す基板反転機構部20の平面図である。ここで、
(a)は基板を保持した状態を示しており、(b)は基
板を解放した状態を示している。さらに、図5は図3中
のX−X線断面図である。
The substrate reversing unit 8 includes a substrate reversing mechanism 20 for holding and reversing the substrate W, and a substrate reversing mechanism 2.
And a lifting mechanism 27 that raises and lowers 0. FIG.
Is a side view of the substrate reversing mechanism section 20, and FIG. 4 is a plan view of the substrate reversing mechanism section 20 shown in FIG. here,
(A) shows a state where the substrate is held, and (b) shows a state where the substrate is released. FIG. 5 is a sectional view taken along line XX in FIG.

【0021】まず、図3および図4に示すように、基板
反転機構部20は、基板Wの端縁を保持する一対のチャ
ック21,21を有している。チャック21は円弧状に
形成され、基板Wの端縁に当接する側に複数(図示の例
では2個)のピン22が形成されている。ピン22は基
板Wの端縁が当接する部分に溝が形成されたテフロン等
の樹脂の成形体から構成されている。チャック21の基
部はチャック支持体23に固定されている。チャック支
持体23は回転プレート25に取り付けられたガイド2
4に沿って水平方向に摺動可能に取り付けられている。
また、図5に示すように、一対のチャック21,21の
それぞれに接続されるチャック支持体23,23はバネ
35によって常時互いに接近する方向に付勢されてい
る。
First, as shown in FIGS. 3 and 4, the substrate reversing mechanism 20 has a pair of chucks 21 and 21 for holding the edge of the substrate W. The chuck 21 is formed in an arc shape, and a plurality of (two in the illustrated example) pins 22 are formed on the side that contacts the edge of the substrate W. The pin 22 is formed of a resin molding such as Teflon having a groove formed at a portion where the edge of the substrate W contacts. The base of the chuck 21 is fixed to a chuck support 23. The chuck support 23 includes a guide 2 attached to the rotating plate 25.
4 so as to be slidable in the horizontal direction.
Further, as shown in FIG. 5, the chuck supports 23, 23 connected to the pair of chucks 21, 21, respectively, are constantly urged by a spring 35 in a direction approaching each other.

【0022】ここで、図4を参照して一対のチャック2
1,21の開閉機構および開閉動作について説明する。
まず、図4(a)に示すように、チャック21,21の
開閉機構として3本のリンクからなるリンク機構部30
bが用いられている。第1リンク31bは、その中心が
固定プレート34bに回動自在に支持されており、その
両端には、それぞれ第2リンク32bおよび第3リンク
33bが回動自在に取り付けられている。第2リンク3
2bの他端は、一方のチャック支持体23に回動自在に
接続されている。また、第3リンク33bの他端は、他
方のチャック支持体23に回動可能に接続されている。
なお、リンク機構部30aの第1〜第3リンク31a〜
33aおよび固定プレート34aも上記と同様に構成さ
れている。
Here, referring to FIG.
The opening / closing mechanism and opening / closing operation of Nos. 1 and 21 will be described.
First, as shown in FIG. 4A, a link mechanism unit 30 including three links as an opening / closing mechanism of the chucks 21 and 21.
b is used. The center of the first link 31b is rotatably supported by the fixed plate 34b, and a second link 32b and a third link 33b are rotatably attached to both ends thereof. Second link 3
The other end of 2b is rotatably connected to one chuck support 23. The other end of the third link 33b is rotatably connected to the other chuck support 23.
The first to third links 31a to 31a of the link mechanism 30a
33a and the fixing plate 34a are also configured in the same manner as described above.

【0023】また、上述したように、チャック支持体2
3,23はそれぞれガイド24に沿ってスライド移動可
能に取り付けられている。一対のチャック21,21が
閉じた状態(基板を保持した状態)では第1〜第3リン
ク31b〜33bはそれぞれ折り曲げられた状態にあ
る。そして、第1リンク31bと第3リンク33bとの
連結部に対向してリンク駆動シリンダ36が配置されて
いる。
Also, as described above, the chuck support 2
Each of the reference numerals 3 and 23 is slidably mounted along a guide 24. In a state where the pair of chucks 21 and 21 are closed (a state where the substrate is held), the first to third links 31b to 33b are in a bent state, respectively. The link drive cylinder 36 is disposed so as to face the connecting portion between the first link 31b and the third link 33b.

【0024】図4(b)に示すように、基板Wを解放す
る場合には、リンク駆動シリンダ36のロッドを伸張
し、第1リンク31bと第3リンク33bとの接続部を
前方に押し出す。すると、第1リンク31bが時計方向
に回動し、ガイド24に案内され、第2リンク32bお
よび第3リンク33bがそれぞれチャック保持体23,
23を互いに遠ざかる方向へ押し出す。これにより、一
対のチャック21,21が開かれた状態となる。
As shown in FIG. 4B, when releasing the substrate W, the rod of the link drive cylinder 36 is extended, and the connecting portion between the first link 31b and the third link 33b is pushed forward. Then, the first link 31b rotates clockwise, is guided by the guide 24, and the second link 32b and the third link 33b are respectively connected to the chuck holder 23,
23 are extruded away from each other. As a result, the pair of chucks 21 and 21 are opened.

【0025】また、リンク駆動シリンダ36のロッドを
元の位置に後退させると、一対のチャック支持体23,
23間に接続されたバネ35(図5参照)の復元力によ
りチャック支持体23,23が図4(a)に示す位置に
引き戻され、これに伴って一対のチャック21,21が
基板Wを保持する位置に復帰する。
When the rod of the link drive cylinder 36 is retracted to the original position, the pair of chuck supports 23,
The chuck supports 23, 23 are pulled back to the position shown in FIG. 4A by the restoring force of the spring 35 (see FIG. 5) connected between the chucks 23, and the pair of chucks 21, 21 hold the substrate W together. Return to the holding position.

【0026】なお、図3および図5に示すように、一対
のチャック21,21の開閉機構を構成するリンク機構
部30a,30bの構成は、一対のチャック支持体2
3,23を挟んで上下方向に回転対称の形状に形成され
ている。これにより、後述する動作により一対のチャッ
ク21,21およびチャック支持体23,23が反転さ
れた場合でも、1つのリンク駆動シリンダ36によって
チャック21,21の開閉動作を行わせることができ
る。
As shown in FIGS. 3 and 5, the link mechanisms 30a and 30b constituting the opening / closing mechanism of the pair of chucks 21 and 21 are formed of a pair of chuck support members 2a and 2b.
It is formed in a shape that is rotationally symmetric in the up-down direction with respect to 3, 23. Thus, even if the pair of chucks 21 and 21 and the chuck supports 23 and 23 are inverted by an operation described later, the opening and closing operation of the chucks 21 and 21 can be performed by one link drive cylinder 36.

【0027】次に、基板の反転を行う機構の構成につい
て説明する。上述したチャック支持体23、ガイド24
およびリンク機構部30a,30bは回転プレート25
に固定あるいは移動可能に接続されている。そして、こ
の回転プレート25は反転モータ26の回転軸に固定さ
れている。したがって、図5に示すように、反転モータ
26(図3参照)を180°回転させることにより回転
プレート25が同様に180°回転する。これにより、
一対のチャック21およびこれに保持された基板Wが反
転する。
Next, the structure of the mechanism for reversing the substrate will be described. The chuck support 23 and the guide 24 described above.
And the link mechanisms 30a and 30b are
Fixed or movable. The rotating plate 25 is fixed to a rotating shaft of a reversing motor 26. Therefore, as shown in FIG. 5, by rotating the reversing motor 26 (see FIG. 3) by 180 °, the rotating plate 25 is similarly rotated by 180 °. This allows
The pair of chucks 21 and the substrate W held thereon are inverted.

【0028】さらに、基板反転機構部20を昇降させる
昇降機構部27の構成および動作について説明する。図
2に示すように、基板反転機構部20は、昇降部材28
により支持されている。昇降部材28の下端は昇降用シ
リンダ29の可動部に接続されている。そして、昇降用
シリンダ28の昇降動作に応じて、基板反転機構部20
がスピンチャック1に近接する位置とスピンチャック1
の上方に退避した位置との間を移動する。
Further, the structure and operation of the elevating mechanism 27 for elevating the substrate reversing mechanism 20 will be described. As shown in FIG. 2, the substrate reversing mechanism 20 includes a lifting member 28.
Supported by The lower end of the elevating member 28 is connected to the movable part of the elevating cylinder 29. Then, in accordance with the elevating operation of the elevating cylinder 28, the substrate reversing mechanism 20
Is located near the spin chuck 1 and the spin chuck 1
To move to the position withdrawn above.

【0029】上記の構成において、主にスピンチャック
1が本発明の基板処理部を構成する。さらに、一対のチ
ャック21,21およびリンク機構部30a,30bが
本発明の反転手段の基板保持部材を構成し、回転プレー
ト25および反転モータ26が本発明の反転手段の反転
駆動部を構成し、昇降用シリンダ29が本発明の反転手
段の昇降駆動部を構成する。
In the above configuration, the spin chuck 1 mainly constitutes the substrate processing section of the present invention. Further, the pair of chucks 21 and 21 and the link mechanisms 30a and 30b constitute a substrate holding member of the reversing means of the present invention, and the rotating plate 25 and the reversing motor 26 constitute a reversing drive of the reversing means of the present invention. The elevating cylinder 29 constitutes an elevating drive unit of the reversing means of the present invention.

【0030】次に、上記の構成を有する基板洗浄装置の
動作について説明する。図6は、基板洗浄装置の動作を
示すフローチャートである。以下、図6および図1〜図
5を参照して説明する。
Next, the operation of the substrate cleaning apparatus having the above configuration will be described. FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the substrate cleaning apparatus. Hereinafter, description will be made with reference to FIG. 6 and FIGS. 1 to 5.

【0031】まず、基板洗浄装置の外部に設けられた基
板搬送装置により基板Wが基板洗浄装置の内部に搬送さ
れる。そして、基板洗浄装置の基板支持台2の上面の基
板保持ピン3の上に基板Wを載置して基板洗浄装置の外
部に退避する(ステップS1)。この状態では、基板W
は表面が上方に向けられている。
First, the substrate W is transported into the substrate cleaning apparatus by a substrate transport apparatus provided outside the substrate cleaning apparatus. Then, the substrate W is placed on the substrate holding pins 3 on the upper surface of the substrate support 2 of the substrate cleaning apparatus and retracted outside the substrate cleaning apparatus (Step S1). In this state, the substrate W
Is facing upward.

【0032】次に、基板反転機構部20が一対のチャッ
ク21,21を開放した状態で下降し、基板保持ピン3
上に載置された基板Wの端縁を保持し、上昇する。そし
て、反転モータ26を駆動し、回転プレート25を回転
させて基板Wの裏面が上面となるように反転する(ステ
ップS2)。
Next, the substrate reversing mechanism 20 descends with the pair of chucks 21 and 21 opened, and the substrate holding pins 3
The edge of the substrate W placed thereon is held and lifted. Then, the reversing motor 26 is driven to rotate the rotating plate 25, thereby reversing the substrate W such that the back surface of the substrate W faces the upper surface (step S2).

【0033】さらに、基板反転機構部20が下降し、基
板Wを基板保持ピン3上に載置し、チャック21を開放
して上方に退避する(ステップS3)。そして、所定の
シーケンスに従って基板Wの裏面洗浄処理が行われる
(ステップS4)。
Further, the substrate reversing mechanism 20 descends, places the substrate W on the substrate holding pins 3, opens the chuck 21, and retreats upward (step S3). Then, the back surface cleaning processing of the substrate W is performed according to a predetermined sequence (Step S4).

【0034】裏面洗浄処理が終了すると、再び基板反転
機構部20がチャック21を開放した状態で下降し、ス
ピンチャック1上の基板Wの端縁を保持し、さらに上方
へ移動する(ステップS5)。そして、再度回転プレー
ト25を回転し、基板Wの表面が上面となるように基板
Wを反転する(ステップS6)。
When the back surface cleaning process is completed, the substrate reversing mechanism 20 descends again with the chuck 21 opened, holds the edge of the substrate W on the spin chuck 1, and moves further upward (step S5). . Then, the rotating plate 25 is rotated again, and the substrate W is turned over so that the surface of the substrate W becomes the upper surface (step S6).

【0035】ここで、この基板洗浄装置が裏面洗浄のみ
を行う場合には(ステップS7)、基板搬送装置により
基板Wを基板洗浄装置の外方へ搬出する(ステップS1
0)。
Here, when the substrate cleaning device performs only the back surface cleaning (step S7), the substrate W is carried out of the substrate cleaning device by the substrate transfer device (step S1).
0).

【0036】また、この基板洗浄装置により両面洗浄を
行う場合には(ステップS7)、未洗浄の表面を上方に
向けた基板Wを保持したまま、基板反転機構部20が下
降し、基板保持ピン3に基板Wを引き渡す(ステップS
8)。そして、所定のシーケンスに従って基板の表面洗
浄処理を行う(ステップS9)。
When the two-sided cleaning is performed by the substrate cleaning apparatus (step S7), the substrate reversing mechanism 20 descends while holding the substrate W with the uncleaned surface facing upward, and the substrate holding pin is moved. 3 (Step S)
8). Then, the substrate surface is cleaned according to a predetermined sequence (step S9).

【0037】基板Wの裏面および表面の洗浄処理が終了
すると、基板Wは外部に設けられた基板搬送装置により
搬出される(ステップS10)。このように、本実施例
による基板洗浄装置は、基板Wの両面の洗浄処理を行う
ことができるのみならず、裏面洗浄処理のみに使用する
ことができる。
When the cleaning process of the back surface and the front surface of the substrate W is completed, the substrate W is carried out by a substrate transfer device provided outside (step S10). As described above, the substrate cleaning apparatus according to the present embodiment can perform not only the cleaning process on both surfaces of the substrate W but also the back surface cleaning process.

【0038】なお、基板の裏面洗浄のみを行う場合に
は、上記のように基板Wの裏面を洗浄した後、再び基板
の表面が上面となる状態で基板Wを搬出するだけでな
く、裏面洗浄が終了した状態、すなわち、裏面が上面に
向けられた状態で基板Wを搬出するように使用してもよ
い。
When only the back surface of the substrate W is to be cleaned, after cleaning the back surface of the substrate W as described above, not only the substrate W is unloaded with the front surface of the substrate facing upward but also the back surface cleaning. May be used so as to carry out the substrate W in a state where is finished, that is, in a state where the back surface is turned to the upper surface.

【0039】また、上記の基板洗浄装置では、スピンチ
ャック1の上方で基板Wの反転動作を行うように構成し
ているので、スピンチャック1の外方で基板Wの反転の
ためのスペースを確保する必要がなくなり、これにより
基板洗浄装置の構造を小型化することができる。
Further, in the above-described substrate cleaning apparatus, since the reversing operation of the substrate W is performed above the spin chuck 1, a space for reversing the substrate W is secured outside the spin chuck 1. Therefore, the structure of the substrate cleaning apparatus can be reduced in size.

【0040】図7は、本実施例による基板洗浄装置を組
み込んだ基板処理装置の平面図である。この基板処理装
置では、基板の表面に対する洗浄処理と基板の裏面に対
する洗浄処理とを異なる方法によって行うことが可能な
装置の例を示している。この場合には、裏面洗浄に用い
られる基板洗浄装置40について上記実施例による基板
反転機構部20を備えた基板洗浄装置を配置し、表面洗
浄処理を行う基板洗浄装置50については従来より知ら
れる片面洗浄用の洗浄装置を用いることができる。この
場合においても、基板反転機構部20を有する基板洗浄
装置40が小型化されることにより、基板処理装置全体
を小型化することができる。
FIG. 7 is a plan view of a substrate processing apparatus incorporating the substrate cleaning apparatus according to the present embodiment. In this substrate processing apparatus, an example of an apparatus capable of performing a cleaning process on a front surface of a substrate and a cleaning process on a rear surface of a substrate by different methods is shown. In this case, a substrate cleaning device provided with the substrate reversing mechanism unit 20 according to the above-described embodiment is arranged for the substrate cleaning device 40 used for back surface cleaning, and a conventionally known single-sided substrate cleaning device 50 for performing the front surface cleaning process is provided. A cleaning device for cleaning can be used. Also in this case, the size of the substrate cleaning apparatus 40 having the substrate reversing mechanism 20 is reduced, so that the entire substrate processing apparatus can be reduced in size.

【0041】なお、本発明による基板反転機構部20を
備えた基板処理装置としては、基板洗浄装置のみなら
ず、基板の裏面に所定のコーティング処理を行ういわゆ
る裏面コータなどにも適用することができる。
The substrate processing apparatus provided with the substrate reversing mechanism 20 according to the present invention can be applied not only to a substrate cleaning apparatus but also to a so-called back coater for performing a predetermined coating process on the back surface of a substrate. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例による基板洗浄装置の平面図で
ある。
FIG. 1 is a plan view of a substrate cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す基板洗浄装置の正面図である。FIG. 2 is a front view of the substrate cleaning apparatus shown in FIG.

【図3】基板反転機構部の側面図である。FIG. 3 is a side view of a substrate reversing mechanism.

【図4】(a)は基板保持状態における基板反転機構部
の平面図であり、(b)は基板を解放した状態の基板反
転機構部の平面図である。
4A is a plan view of the substrate reversing mechanism in a substrate holding state, and FIG. 4B is a plan view of the substrate reversing mechanism in a state where the substrate is released.

【図5】図3中の切断線X−X線断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along line XX in FIG. 3;

【図6】本発明の実施例による基板洗浄装置の動作を示
すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating an operation of the substrate cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention.

【図7】本実施例による基板洗浄装置を有する基板処理
装置の平面図である。
FIG. 7 is a plan view of a substrate processing apparatus having the substrate cleaning apparatus according to the present embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スピンチャック 2 基板支持台 8 基板反転ユニット 20 基板反転機構部 21 チャック 22 ピン 23 チャック支持体 24 ガイド 25 回転プレート 26 反転モータ 27 昇降機構部 29 昇降用シリンダ 30a,30b リンク機構部 35 バネ 36 リンク駆動シリンダ Reference Signs List 1 spin chuck 2 substrate support 8 substrate reversing unit 20 substrate reversing mechanism 21 chuck 22 pin 23 chuck support 24 guide 25 rotating plate 26 reversing motor 27 elevating mechanism 29 elevating cylinder 30a, 30b link mechanism 35 spring 36 link Drive cylinder

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北川 勝 京都市伏見区羽束師古川町322番地 大日 本スクリーン製造株式会社洛西事業所内 (72)発明者 平岡 伸康 京都市伏見区羽束師古川町322番地 大日 本スクリーン製造株式会社洛西事業所内 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Masaru Kitagawa 322 Habushishi Furukawacho, Fushimi-ku, Kyoto-shi Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd. Dainippon Screen Manufacturing Co., Ltd.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を水平姿勢に保持して前記基板に対
して所定の処理を行う基板処理部と、 前記基板の端縁を保持して水平軸の周りに反転させる反
転手段とを備えたことを特徴とする基板処理装置。
A substrate processing unit configured to perform a predetermined process on the substrate while holding the substrate in a horizontal posture; and a reversing unit configured to hold an edge of the substrate and reverse the substrate around a horizontal axis. A substrate processing apparatus characterized by the above-mentioned.
【請求項2】 前記反転手段は、 前記基板の端縁を保持する基板保持部材と、 前記基板保持部材を前記水平軸の周りに反転させる反転
駆動部と、 前記基板保持部材を昇降させる昇降駆動部とを備えたこ
とを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
2. The inverting means includes: a substrate holding member that holds an edge of the substrate; an inversion driving unit that inverts the substrate holding member around the horizontal axis; and a lifting drive that moves the substrate holding member up and down. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a unit.
【請求項3】 前記基板処理部は、前記基板を保持して
回転する基板回転保持部材を含むことを特徴とする請求
項1または2記載の基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing unit includes a substrate rotation holding member that rotates while holding the substrate.
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