JPH1054858A - Apparatus and method for inspection - Google Patents

Apparatus and method for inspection

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JPH1054858A
JPH1054858A JP8211188A JP21118896A JPH1054858A JP H1054858 A JPH1054858 A JP H1054858A JP 8211188 A JP8211188 A JP 8211188A JP 21118896 A JP21118896 A JP 21118896A JP H1054858 A JPH1054858 A JP H1054858A
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JP
Japan
Prior art keywords
statistic
inspection apparatus
allowable range
measured
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP8211188A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Kamimura
秀晶 上村
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
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Publication date
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method, for an inspection, which can self-evaluate a deviation in measured values and an irregularity in measurements by means of a statistical technique. SOLUTION: The characteristic of an object MS to be inspected is evaluated by a characteristic evaluation part 1, a mean value and an irregularity degree are computed on the basis of measured data or a result which is obtained by measuring a prescribed master sample repeatedly, the magnitude of a change amount with reference to an initial state is judged, the degradation of the accuracy of an inspection apparatus MQ itself is detected by a self-detection part 2, and a measured result or a self-detected result is displayed by a display means 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、各種電子機器の
特性検査を行う検査装置及び検査方法に関し、特に自己
診断により常に安定した検査が可能な検査装置及び検査
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method for inspecting characteristics of various electronic devices, and more particularly to an inspection apparatus and an inspection method capable of always performing a stable inspection by self-diagnosis.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、量産品の特性検査を行う特性検
査装置は、当該装置の開発最終段階で、量産品の機能測
定を一品毎に行い、特性検査装置が正しく検査している
かどうかを知る必要がある。この場合、従来では、被検
査対象の中から単一のマスターサンプルを適当に用意
し、これを1回だけ特性検査してみる。そして、予め設
定しておいたしきい値に対して当該マスターサンプルの
特性検査の実測値を大小比較することにより、当該検査
装置の検査結果に狂いが生じていないか否かを判断して
いた。
2. Description of the Related Art In general, a characteristic inspection apparatus for inspecting the characteristics of a mass-produced product performs a function measurement of each mass-produced product at the final stage of development of the device to know whether or not the characteristic inspection device is correctly inspecting. There is a need. In this case, conventionally, a single master sample is appropriately prepared from the object to be inspected, and the characteristic is inspected only once. Then, by comparing the actually measured value of the characteristic test of the master sample with the preset threshold value, it is determined whether or not the inspection result of the inspection device is out of order.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述したマスターサン
プルは、量産品からランダムに抽出したものであり、そ
れ自身があるばらつきを持った母集団のなかの1サンプ
ルである。したがって、予め設定しておいたしきい値に
対して、当該マスターサンプルの特性は元々ばらつきを
有している可能性がある。その結果、上述した方法で
は、特性検査装置のしきい値やばらつきの変化について
正確に測定することはできなかった。
The above-mentioned master sample is randomly extracted from a mass-produced product, and is itself a sample of a population having a certain variation. Therefore, there is a possibility that the characteristics of the master sample originally have a variation with respect to a preset threshold value. As a result, with the above-described method, it was not possible to accurately measure a change in the threshold value or variation of the characteristic inspection device.

【0004】しかしながら、一般に、特性検査装置自体
の精度が経時的変化等によって変化することがあり、こ
の場合には、しきい値にある程度の変動が生じたり、機
能測定を正確に行えなくなったりする。その結果、一
旦、良品であるとの検査結果を得たものについて後に不
良品と判断されたり、逆に良品であるのにも拘わらず不
良品と判断されたりする事態が生じるおそれがあった。
したがって、このような特性検査装置自体の精度を、よ
り正確に検知する必要性があった。
However, in general, the accuracy of the characteristic inspection apparatus itself may change due to a change over time or the like. In this case, the threshold value fluctuates to some extent, and function measurement cannot be performed accurately. . As a result, there is a possibility that a product that once obtained a test result that is a non-defective product is later determined to be a defective product, or may be determined to be a defective product despite being a non-defective product.
Therefore, there is a need to more accurately detect the accuracy of such a characteristic inspection apparatus itself.

【0005】なお、特性検査装置自身が自己判断するも
のとしては例えば特公平6−60918号公報があった
が、これは、使用期間に応じて故障率を演算するもので
あって、過去の多くの故障データを必要としており、膨
大な年月のデータを要する。また、同種の特性検査装置
の故障率を演算しているに過ぎず、個々の特性検査装置
が具体的に故障しているか否かを正確に判断するもので
はない。したがって、特性検査装置の精度を正確に検知
することは必ずしもできなかった。
Japanese Patent Publication No. Hei 6-60918 discloses an example of a characteristic inspection apparatus that makes a self-determination. However, this apparatus calculates a failure rate according to a service period. Of failure data, and a huge amount of data is needed. In addition, it merely calculates the failure rate of the same type of characteristic inspection apparatus, and does not accurately determine whether or not each individual characteristic inspection apparatus has a specific failure. Therefore, it was not always possible to accurately detect the accuracy of the characteristic inspection device.

【0006】そこで、この発明の課題は、統計的手法に
より、測定値のずれ、測定ばらつき等を自己評価し得る
検査装置及び検査方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and an inspection method which can self-evaluate a deviation of a measured value, a variation in measurement, and the like by a statistical method.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく、
この発明は、被検査対象の特性検査を行う検査装置であ
って、前記被検査対象の特性を測定する特性測定手段
と、測定された特性に基づいて前記被検査対象が良品で
あるか否かを分別する分別手段と、前記特性測定手段で
の測定値を蓄積記録する記録手段と、前記記録手段に蓄
積記録された測定値の平均値及びばらつき度合の少なく
とも一方の統計量を演算する統計量演算手段と、前記統
計量演算手段で演算された前記統計量と、複数の前記被
検査対象を予め実測しまたは単一の前記被検査対象を複
数回実測することで得られた基準統計量との差を検出す
る統計量誤差検出手段と、前記統計量誤差検出手段で検
出された統計量の差に基づいて当該統計量が予め設定さ
れた所定の許容範囲を越えているか否かを判断する統計
量許容範囲判断手段と、前記統計量許容範囲判断手段に
よって統計量が前記所定の許容範囲を越えていると判断
した際に当該検査装置自体が不良状態である旨を表示し
且つ統計量が前記所定の許容範囲を越えていないと判断
した際に、前記分別手段での分別結果を表示する表示手
段とを備えるものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems,
The present invention is an inspection apparatus for performing a characteristic inspection of an object to be inspected, a characteristic measuring unit for measuring characteristics of the object to be inspected, and determining whether the object to be inspected is a non-defective product based on the measured characteristics. Classification means for classifying the values, recording means for accumulating and recording the measured values in the characteristic measuring means, and a statistic for calculating at least one of the average value and the degree of dispersion of the measured values accumulated and recorded in the recording means The calculating means, the statistic calculated by the statistic calculating means, and a reference statistic obtained by previously measuring a plurality of the test objects or measuring the single test object a plurality of times. And a statistic error detecting means for detecting a difference between the statistic values and a statistic difference detected by the statistic error detecting means determines whether or not the statistic value exceeds a predetermined allowable range. Statistical tolerance judgment method When the statistic allowable range determining means determines that the statistic exceeds the predetermined allowable range, it indicates that the inspection apparatus itself is in a defective state and the statistic exceeds the predetermined allowable range. Display means for displaying the result of sorting by the sorting means when it is determined that the sorting has not been performed.

【0008】望ましくは、前記分別手段は、前記統計量
許容範囲判断手段によって、統計量が前記所定の許容範
囲を越えていると判断した際に、分別動作を停止する機
能を有するものである。
Preferably, the classification means has a function of stopping the classification operation when the statistic allowable range determination means determines that the statistic exceeds the predetermined allowable range.

【0009】上記構成において、予め初期状態におい
て、複数の前記被検査対象を実測し、その平均値及びば
らつき度合の少なくとも一方を演算して基準統計量を得
ておく。
In the above configuration, in the initial state, a plurality of the objects to be inspected are actually measured, and at least one of the average value and the degree of variation is calculated to obtain a reference statistic.

【0010】その後、当該基準統計量の対象とされた前
記被検査対象とは別の被検査対象の検査の際には、前記
特性測定手段で測定した実測データを前記記録手段で蓄
積記録した後、前記実測データの平均値及びばらつき度
合の少なくとも一方の統計量を演算する。そして、演算
された前記統計量と前記基準統計量との差を検出し、前
記統計量の差に基づいて当該統計量が予め設定された所
定の許容範囲を越えているか否かを判断する。
[0010] Thereafter, when inspecting an object to be inspected other than the object to be inspected, which is the object of the reference statistic, the actual measurement data measured by the characteristic measuring means is stored and recorded by the recording means. Calculate at least one of the average value and the degree of variation of the actually measured data. Then, a difference between the calculated statistic and the reference statistic is detected, and it is determined whether or not the statistic exceeds a predetermined allowable range based on the difference in the statistic.

【0011】ここで、前記統計量が前記所定の許容範囲
を越えていると判断した場合には、当該検査装置自体が
不良状態である旨を前記表示手段で表示する。一方、前
記統計量が前記所定の許容範囲を越えていないと判断し
た場合には、前記被検査対象が良品であるか否かを分別
手段で分別しさらに前記分別手段での分別結果を表示手
段で表示する。
Here, when it is determined that the statistic exceeds the predetermined allowable range, the display means indicates that the inspection apparatus itself is defective. On the other hand, when it is determined that the statistic does not exceed the predetermined allowable range, whether or not the inspection target is a non-defective product is classified by a classification unit, and the classification result by the classification unit is displayed. To display.

【0012】あるいは、予め初期状態において、単一の
前記被検査対象を複数回実測し、その平均値及びばらつ
き度合の少なくとも一方を演算して基準統計量を得てお
く。
Alternatively, in the initial state, the single test object is actually measured a plurality of times, and at least one of the average value and the degree of variation is calculated to obtain a reference statistic.

【0013】その後、当該基準統計量の対象とされた前
記被検査対象と同一の単一の前記被検査対象を所定回数
連続して繰り返し測定したデータを前記記録手段で蓄積
記録し、蓄積記録されたデータの平均値及びばらつき度
合の少なくとも一方の統計量を演算した後、演算された
前記統計量と前記基準統計量との差を検出する。そし
て、前記統計量の差に基づいて当該統計量が予め設定さ
れた所定の許容範囲を越えているか否かを判断し、前記
統計量が前記所定の許容範囲を越えていると判断した際
には、当該検査装置自体が不良状態である旨を前記表示
手段で表示する。
[0013] Thereafter, data obtained by repeatedly measuring the same single test object identical to the test object set as the target of the reference statistic a predetermined number of times is accumulated and recorded by the recording means. After calculating at least one statistic of the average value and the degree of variation of the calculated data, a difference between the calculated statistic and the reference statistic is detected. Then, it is determined whether or not the statistic exceeds a predetermined allowable range based on the difference between the statistic, and when it is determined that the statistic exceeds the predetermined allowable range, Displays on the display means that the inspection apparatus itself is defective.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

{第1実施形態} <検査装置の構成>図1はこの発明の第1実施形態の検
査装置MQを示すブロック図である。この検査装置MQ
は、被検査対象MSの特性を測定し且つ評価する特性評
価部1と、その測定結果に基づいて検査装置MQ自身の
検査精度の劣化を検知する自己検知部2と、これらの測
定結果または自己検知結果を表示する表示手段3とを備
える。
<< First Embodiment >><Configuration of Inspection Apparatus> FIG. 1 is a block diagram showing an inspection apparatus MQ according to a first embodiment of the present invention. This inspection device MQ
Is a characteristic evaluation unit 1 that measures and evaluates the characteristics of the inspection target MS, a self-detection unit 2 that detects deterioration of the inspection accuracy of the inspection device MQ itself based on the measurement result, Display means 3 for displaying a detection result.

【0015】特性評価部1は、被検査対象MSの特性を
測定する特性測定手段11と、その特性測定結果に基づ
き被検査対象MSが合格品か否かを判断して良品と不良
品とを分別し且つ分別結果を表示手段3に表示させる分
別手段12とを備える。
The characteristic evaluation section 1 includes a characteristic measuring means 11 for measuring the characteristics of the inspection target MS, and determines whether the inspection target MS is a passing product or not based on the characteristic measurement result, and determines a non-defective product and a defective product. A classification unit 12 for performing classification and displaying the classification result on the display unit 3.

【0016】自己検知部2は、特性評価部1の特性測定
手段11で測定した特性の測定値を記録する記録手段1
4と、記録手段14に記録された特性の測定値の平均値
を演算する平均値演算手段15と、平均値演算手段15
の演算結果に基づいて演算された平均値と予め記録され
た基準平均値との差を検出する平均値誤差検出手段16
と、平均値誤差検出手段16で検出された平均値の差が
予め設定された第1の許容範囲を越えているか否かを判
断する平均誤差許容判断手段17と、記録手段14に記
録された特性の測定値の分散を演算する分散演算手段1
8と、分散演算手段18の演算結果に基づいて演算され
た分散と予め設定された基準分散(最大分散Smax)と
の差を検出する分散誤差検出手段19と、分散誤差検出
手段19での検出結果に基づいて分散が予め設定された
第2の許容範囲(最大分散Smax)を越えているか否か
を判断する分散許容判断手段21と、平均誤差許容判断
手段17及び分散許容判断手段21の判断結果の少なく
とも一方が予め設定された第1または第2の許容範囲を
越えていると判断した際に、当該検査装置MQ自体が不
良状態である旨を表示手段3に出力報知する出力手段2
2とを備える。
The self-detecting unit 2 is a recording unit 1 for recording the measured values of the characteristics measured by the characteristic measuring unit 11 of the characteristic evaluating unit 1.
4, average value calculating means 15 for calculating the average value of the measured values of the characteristics recorded in the recording means 14, and average value calculating means 15
Average error detecting means 16 for detecting the difference between the average calculated on the basis of the calculation result and the reference average recorded in advance.
The average error tolerance determining means 17 for determining whether or not the difference between the average values detected by the average value error detecting means 16 exceeds a preset first allowable range; Dispersion calculation means 1 for calculating dispersion of measured values of characteristics
8, a variance error detecting means 19 for detecting a difference between the variance calculated based on the calculation result of the variance calculating means 18 and a preset reference variance (maximum variance Smax), and a detection by the variance error detecting means 19 Based on the result, the variance allowance determining means 21 for determining whether or not the variance exceeds a second allowable range (maximum variance Smax) set by the variance allowance determination means 17 and the variance allowance determination means 21 When it is determined that at least one of the results exceeds the preset first or second allowable range, the output unit 2 that notifies the display unit 3 that the inspection apparatus MQ itself is in a defective state.
2 is provided.

【0017】ここで、特性評価部1の分別手段12は、
自己検知部2の平均誤差許容判断手段17または分散許
容判断手段21によって平均値の差または分散が許容で
きない程度に大と判断された場合は、被検査対象MSの
特性の測定を停止する機能を有している。
Here, the classification means 12 of the characteristic evaluation section 1
When the average difference or variance determination unit 17 or the variance tolerance determination unit 21 of the self-detecting unit 2 determines that the difference or the variance of the average values is too large to be unacceptable, a function of stopping the measurement of the characteristics of the inspection target MS is provided. Have.

【0018】また、平均誤差許容判断手段17または分
散許容判断手段21での判断時において許容できないと
判断された場合に出力手段22から表示手段3に出力報
知する情報としては、例えば「エラー:装置の測定誤差
が大で、メンテナンスの必要があります。」といったエ
ラーメッセージが出力されることになり、また許容範囲
内であるときは表示手段3への出力は停止したままとさ
れる。
The information to be output from the output means 22 to the display means 3 when it is determined that the average error tolerance determination means 17 or the variance tolerance determination means 21 does not allow the error is, for example, "Error: device: Is too large and maintenance is required. ", And the output to the display means 3 is stopped when it is within the allowable range.

【0019】なお、これらの特性評価部1及び自己検知
部2は、CPU、ROMおよびRAM等を備える一般的
なマイクロコンピュータチップが使用され、その演算動
作はすべて予め格納されたソフトウェアによって実行さ
れるものである。
A general microcomputer chip having a CPU, a ROM, a RAM, and the like is used for the characteristic evaluation section 1 and the self-detection section 2, and all the arithmetic operations are executed by software stored in advance. Things.

【0020】また、平均値誤差検出手段16及び分散誤
差検出手段19で使用する基準平均値及び基準分散は、
量産当初の一定期間内の測定値が記録手段14に記録さ
れて平均値演算手段15及び分散演算手段18により演
算された初期演算値が使用される。
The reference average value and reference variance used in the average value error detecting means 16 and the variance error detecting means 19 are as follows:
The measured values within a certain period of time at the beginning of mass production are recorded in the recording means 14 and the initial operation values calculated by the average value operation means 15 and the dispersion operation means 18 are used.

【0021】<動作>上記の検査装置MQの被検査対象
MSの例として車両搭載用のECU30を図2に示す。
このECU30は、ドアを開けてドアスイッチ34がO
Nになると、制御部36からの指令でNPNトランジス
タ35がオン動作されて室内灯31が点灯し、逆にドア
スイッチ34を切ると、即ちドアを閉じると、同じく制
御部36からの指令でNPNトランジスタ35の動作が
制御されて、時間Tの間、室内灯31の点灯状態を維持
した後、消灯するという機能を有している。この消灯時
の時間Tの制御は、ECU30内の計時手段(タイマ
ー)によって行われる。
<Operation> FIG. 2 shows a vehicle-mounted ECU 30 as an example of the inspection target MS of the inspection apparatus MQ.
The ECU 30 opens the door and sets the door switch 34 to O
When N is reached, the NPN transistor 35 is turned on by a command from the control unit 36 to turn on the interior light 31. Conversely, when the door switch 34 is turned off, that is, when the door is closed, the NPN transistor 35 is also turned on by a command from the control unit 36. The operation of the transistor 35 is controlled so that the lighting state of the interior light 31 is maintained for the time T and then turned off. The control of the time T at the time of turning off the light is performed by a timer means (timer) in the ECU 30.

【0022】なお、このECU30に対して、検査装置
MQは、NPNトランジスタ35と車両室内灯31との
間の接続点33に接続されるものとする。
It is assumed that the inspection device MQ is connected to a connection point 33 between the NPN transistor 35 and the vehicle interior light 31 with respect to the ECU 30.

【0023】このようなECU30について、図3のよ
うに、接続点33へ印加する電圧レベルVを検査する。
The voltage level V applied to the connection point 33 of the ECU 30 is inspected as shown in FIG.

【0024】一般に、製品には特性についてのばらつき
があるが、統計的には特性の分布はほぼ一様な分布とな
るはずである。したがって、初期状態に対して特性測定
の精度が変化しない限り、実測データの発生頻度は図5
中の曲線のような所定の分布に近似するはずである。逆
に、初期状態に対して特性測定の精度が変化すると、特
性測定結果は、図6のように、実測データBr1,Br
2の平均値V1,V2が初期状態の分布Bpの平均値(基
準平均値)VQに対して変化したり、または図7のよう
に、実測データBr1,Br2,…,Brnの分散Sv
1,Sv2,…,Svnが初期状態の分布Bpの分散(基準
分散)SvQに対して変化したりする。このことを利用
し、この実施形態では、実際の特性評価に利用した実測
データをそのまま利用することで、検査装置MQ自体の
自己評価をも同時に行う。
In general, products have variations in characteristics, but statistically the distribution of characteristics should be substantially uniform. Therefore, as long as the accuracy of the characteristic measurement does not change from the initial state, the frequency of occurrence of the actually measured data is shown in FIG.
It should approximate a given distribution, such as the curve in the middle. Conversely, when the accuracy of the characteristic measurement changes with respect to the initial state, the characteristic measurement result becomes the actual measurement data Br1, Br as shown in FIG.
2 change with respect to the average value (reference average value) VQ of the distribution Bp in the initial state, or as shown in FIG. 7, the variance Sv of the measured data Br1, Br2,.
.., Svn change with respect to the variance (reference variance) SvQ of the distribution Bp in the initial state. Taking advantage of this, in this embodiment, the self-evaluation of the inspection apparatus MQ itself is also performed at the same time by using the actual measurement data used for the actual characteristic evaluation as it is.

【0025】まず、図4中のステップS1において、E
CU30の製造物毎の実測データを特性評価部1の特性
測定手段11によって収集するとともに、自己検知部2
の記録手段14に記録する。このときに次表のような実
測値Vi,Vii,〜,Vnが得られたとする。
First, in step S1 in FIG.
The actual measurement data for each product of the CU 30 is collected by the characteristic measuring unit 11 of the characteristic evaluation unit 1 and the self-detection unit 2
Is recorded in the recording means 14. At this time, it is assumed that measured values Vi, Vii,..., Vn as shown in the following table are obtained.

【0026】[0026]

【表1】 [Table 1]

【0027】この場合の実測値Vi,Vii,〜,Vnの
分布は図5のようになり、この分布から電圧レベルの平
均値Vav及び分散Sを求めることができる。
The distribution of the measured values Vi, Vii,..., Vn in this case is as shown in FIG. 5, from which the average value Vav and the variance S of the voltage level can be obtained.

【0028】いま、所定のロット数だけ実測データが蓄
積されたとし、図6及び図7のように平均値演算手段1
5で平均値Vavを、分散演算手段18で分散Sをそれぞ
れ得たとする(ステップS2)。このときの演算式は次
の通りである。
Now, assuming that actual measurement data has been accumulated for a predetermined number of lots, the average value calculating means 1 is used as shown in FIGS.
It is assumed that the average value Vav is obtained at 5 and the variance S is obtained at the variance calculation means 18 (step S2). The arithmetic expression at this time is as follows.

【0029】 Vav=(Vi+Vii+Viii+…+Vn)/n …(1) S=[{(Vi−Vav)2+…+(Vn−Vav)2}/(n−1)]1/2…(2) 今、この平均値Vav及び分散Sとして、ある機会(デー
タBr1)には平均値V1,分散Sv1を得、また別の機
会(データBr2)には平均値V2,分散Sv2を、さら
に別の機会(データBrn)には平均値Vn(図示せ
ず),分散Svnを得たものとする。
Vav = (Vi + Vii + Viii +... + Vn) / n (1) S = [{(Vi−Vav) 2 +... + (Vn−Vav) 2 } / (n−1)] 1/2 (2) Now, as the average value Vav and the variance S, the average value V1 and the variance Sv1 are obtained at a certain opportunity (data Br1), and the average value V2 and the variance Sv2 are obtained at another opportunity (data Br2). It is assumed that an average value Vn (not shown) and a variance Svn have been obtained for (data Brn).

【0030】それぞれの機会につき、ステップS3にお
いて、演算された平均値V1,V2(,…,Vn)と予め
記録された基準平均値VQとの差Δv1,Δv2(,…,
Δvn)を平均値誤差検出手段16によって求めると共
に、演算された分散Sv1,Sv2,…,Svnと予め記録
された許容可能な最大分散Smaxとの差ΔSv1,ΔSv
2,…,ΔSvnを分散誤差検出手段19によって求め
る。そして、引き続き、ステップS4において、平均値
の差Δv1,Δv2(,…,Δvn)が予め設定された第
1の許容範囲Lvを越えているか否かを平均誤差許容判
断手段17で判断すると共に、分散の差ΔSv1,ΔS
v2,…,ΔSvnが負の値であるか否か、すなわち分散
Sv1,Sv2,…,Svnが予め設定された最大分散Sma
xを越えているか否かを分散許容判断手段21で判断す
る。
For each opportunity, in step S3, the differences Δv1, Δv2 (,..., V) between the calculated average values V1, V2 (,..., Vn) and the pre-recorded reference average value VQ.
Δvn) is obtained by the average value error detecting means 16 and the differences ΔSv1, ΔSv between the calculated variances Sv1, Sv2,..., Svn and the previously recorded maximum allowable variance Smax.
2,..., ΔSvn are obtained by the dispersion error detecting means 19. Then, in step S4, the average error tolerance determining means 17 determines whether or not the difference Δv1, Δv2 (,..., Δvn) between the average values exceeds a first allowable range Lv set in advance. Variance difference ΔSv1, ΔS
.., Svn are negative values, that is, the variances Sv1, Sv2,.
Whether or not x is exceeded is determined by the dispersion allowance determining means 21.

【0031】平均値の差Δv1,Δv2(,…,Δvn)
または分散Sv1,Sv2,…,Svnが許容できる程度
すなわち各許容範囲Lv,Smaxより小であると判断さ
れた場合は、引き続き特性評価部1の分別手段12にそ
の旨を伝達して分別手段12を機能させ、当該被検査対
象について良品と不良品とを分別し、その分別結果を表
示手段3に表示した上で、検査を続行する(ステップS
5)。このとき、出力手段22は動作せず、表示手段3
にはエラーメッセージが表示されない。例えば図6及び
図7のいずれの場合も、Br1の平均の差Δv1及び分
散Sv1が許容範囲Lv及び最大分散Smaxより小さいの
で許容される。
Average value differences Δv1, Δv2 (,..., Δvn)
Alternatively, if it is determined that the variances Sv1, Sv2,..., Svn are permissible, that is, smaller than the respective allowable ranges Lv, Smax, the fact is continuously transmitted to the classification unit 12 of the characteristic evaluation unit 1 and the classification unit 12 is notified. Is performed, the non-defective product and the non-defective product are separated for the inspection target, the result of the separation is displayed on the display unit 3, and the inspection is continued (Step S).
5). At this time, the output unit 22 does not operate, and the display unit 3
Does not display an error message. For example, in both cases of FIGS. 6 and 7, the average difference Δv1 and the variance Sv1 of Br1 are allowed because they are smaller than the allowable range Lv and the maximum variance Smax.

【0032】一方、平均値の差Δv1,Δv2(,…,Δ
vn)または分散Sv1,Sv2,…,Svnが許容できな
い程度すなわち各許容範囲Lv,Smaxより大であると
判断された場合は、特性評価部1の分別手段12にその
旨を伝達して分別手段12を停止するとともに、表示手
段3に信号を送信して所定のエラーメッセージを表示さ
せる(ステップS6)。例えば図6の場合、Br2の平
均の差Δv2が許容範囲Lvより大きいので許容されな
い。また、図7の場合、データBr1,Br2は最大分
散Smaxより小さいため許容されるが、データBrnは
最大分散Smaxより大であるため許容されない。この場
合、作業者が適正なメンテナンスを行うか、検査装置M
Q自体を交換することになる。
On the other hand, the differences Δv1, Δv2 (,.
vn) or when the variances Sv1, Sv2,..., Svn are determined to be unacceptable, that is, larger than the respective allowable ranges Lv, Smax, the fact is transmitted to the classification means 12 of the characteristic evaluation unit 1 and the classification is performed. At step S6, a signal is transmitted to the display means 3 to display a predetermined error message (step S6). For example, in the case of FIG. 6, the average difference Δv2 of Br2 is larger than the allowable range Lv, so that it is not allowed. In the case of FIG. 7, the data Br1 and Br2 are allowed because they are smaller than the maximum variance Smax, but the data Brn are not allowed because they are larger than the maximum variance Smax. In this case, whether the worker performs appropriate maintenance or the inspection device M
Q itself will be exchanged.

【0033】以上は、図3中の電圧レベルVに関する測
定の例であるが、ドアスイッチ34をOFFした時点か
ら車両室内灯31が消灯するまでの遅延時間T等、さら
に他の伝送部品の異なった機能特性の評価に関しても、
全く同一の手順で特性測定及び精度劣化の自己検知を行
えばよい。
The above is an example of the measurement relating to the voltage level V in FIG. 3. However, the difference in other transmission components such as the delay time T from the time when the door switch 34 is turned off to the time when the vehicle interior light 31 is turned off, etc. The evaluation of the functional characteristics
Characteristic measurement and self-detection of accuracy deterioration may be performed by exactly the same procedure.

【0034】以上のように、製品の特性評価のために測
定した実測データをそのまま利用するだけで、検査装置
MQ自身の自己評価をも併せて容易に行うことができ
る。
As described above, the self-evaluation of the inspection apparatus MQ itself can also be easily performed simply by using the actual measurement data measured for evaluating the characteristics of the product.

【0035】{第2実施形態}この発明の第2実施形態
は、第1実施形態と同一の構成の検査装置MQを使用す
るものであるが、第1実施形態では特性評価のために測
定した実測データを直接使用して、検査装置MQ自身の
自己評価を行っていたのに対し、この実施形態では、自
己評価の対象となる単一のマスターサンプルを決めてお
き、同じマスターサンプルを連続して繰り返し測定する
ことで、測定結果に変化がないか否かを検出するもので
ある。
Second Embodiment A second embodiment of the present invention uses an inspection apparatus MQ having the same configuration as that of the first embodiment. However, in the first embodiment, measurement is performed for characteristic evaluation. In contrast to the self-evaluation of the inspection apparatus MQ itself using the measured data directly, in this embodiment, a single master sample to be self-evaluated is determined, and the same master sample is continuously used. It is intended to detect whether there is no change in the measurement result by repeatedly performing the measurement.

【0036】この実施形態の動作を図8のフローチャー
トに従って説明する。まず、ステップT1において、所
定のマスターサンプルを用意し、このマスターサンプル
について、特性評価部1の特性測定手段11によって、
予め定められた十分な回数nだけ連続して繰り返し所定
の特性を測定し、その測定結果を自己検知部2の記録手
段14に記録する。
The operation of this embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. First, in step T1, a predetermined master sample is prepared, and the characteristic measurement unit 11 of the characteristic evaluation unit 1 prepares the master sample.
A predetermined characteristic is measured repeatedly and continuously for a predetermined sufficient number n, and the measurement result is recorded in the recording means 14 of the self-detecting unit 2.

【0037】所定のロット数だけ実測データが蓄積され
たら、前述した数式(1)(2)(図6及び図7参照)
に従って、平均値演算手段15及び分散演算手段18で
平均値Vav及び分散Sをそれぞれ演算する(ステップT
2)。
When the measured data is accumulated for a predetermined number of lots, the above-mentioned equations (1) and (2) (see FIGS. 6 and 7)
, The average value Vav and the variance S are calculated by the average value calculating means 15 and the variance calculating means 18 (step T).
2).

【0038】ステップT3において、演算された平均値
Vavと予め記録された基準平均値VQとの差Δvを平均
値誤差検出手段16によって求めると共に、演算された
分散Sと予め記録された最大分散Smaxとの差ΔSvを
分散誤差検出手段19によって求める。そして、ステッ
プT4において、引き続き、平均値の差Δvが予め設定
された第1の許容範囲Lvを越えているか否かを平均誤
差許容判断手段17で判断すると共に、分散の差ΔSv
が負の値であるか否か、すなわち分散Sが予め設定され
た最大分散Smaxを越えているか否かを分散許容判断手
段21で判断する。
In step T3, the difference Δv between the calculated average value Vav and the previously recorded reference average value VQ is determined by the average value error detecting means 16, and the calculated variance S and the previously recorded maximum variance Smax Is obtained by the dispersion error detecting means 19. Then, in step T4, the average error allowance determining means 17 determines whether the average difference Δv exceeds a first allowable range Lv set in advance, and the variance difference ΔSv
Is a negative value, that is, whether the variance S exceeds a preset maximum variance Smax is determined by the dispersion allowance determination means 21.

【0039】このとき、平均値の差Δvまたは分散Sが
許容できる程度すなわち各許容範囲Lv,Smaxより小
であると判断された場合は、出力手段22は動作せず、
表示手段3にはエラーメッセージが表示されない。
At this time, if it is determined that the difference Δv of the average values or the variance S is allowable, that is, smaller than each allowable range Lv, Smax, the output means 22 does not operate, and
No error message is displayed on the display means 3.

【0040】一方、平均値の差Δvまたは分散Sが許容
できない程度すなわち許容範囲Lv,Smaxより大であ
ると判断された場合は、表示手段3に信号を送信して所
定のエラーメッセージを表示させる(ステップT5)。
On the other hand, if it is determined that the average difference Δv or the variance S is unacceptable, that is, larger than the allowable range Lv, Smax, a signal is transmitted to the display means 3 to display a predetermined error message. (Step T5).

【0041】このように、所定のマスターサンプルを使
用することで、検査装置MQ自身の自己評価を容易に行
うことができる。
As described above, by using a predetermined master sample, the self-evaluation of the inspection apparatus MQ itself can be easily performed.

【0042】なお、上記の各実施形態では、実測データ
として平均値及び分散を測定しているが、いずれか一方
のみを測定するものであってもよく、あるいは、データ
のばらつき度合として分散に代えて標準偏差等の他の種
類のパラメータを演算するようにしてもよい。
In the above embodiments, the average value and the variance are measured as the actually measured data. However, only one of them may be measured, or the variation of the data may be replaced by the variance. Alternatively, another type of parameter such as a standard deviation may be calculated.

【0043】[0043]

【発明の効果】請求項1に記載の発明によれば、検査に
当たって、平均値またはばらつき度合といった統計量に
許容できない程度の変化が生じた場合に、製品の特性評
価だけでなく、検査装置自身の自己評価をも併せて自動
的に行うことができる。したがって、常に安定した検査
が可能となる。
According to the first aspect of the present invention, when an unacceptable change occurs in a statistic such as an average value or a degree of variation in the inspection, not only the evaluation of the product characteristics but also the inspection apparatus itself. Self-evaluation can also be performed automatically. Therefore, stable inspection can always be performed.

【0044】特に、請求項2に記載の発明によれば、統
計量が所定の許容範囲を越えていると判断した場合に分
別動作を停止するよう構成されているので、検査装置が
誤った検査結果を出力するのを防止できる。
In particular, according to the second aspect of the present invention, the classification device is configured to stop the sorting operation when it is determined that the statistic exceeds the predetermined allowable range. Outputting the result can be prevented.

【0045】また、請求項3に記載の発明によれば、被
検査対象の特性検査のために測定した実測データをその
まま利用するだけで、検査装置自身の自己評価をも併せ
て自動的に行うことができるので、検査装置自身の自己
評価のための特別な作業を要しない分、労力を軽減でき
る。
According to the third aspect of the present invention, the self-evaluation of the inspection apparatus itself is automatically performed by simply using the actual measurement data measured for the characteristic inspection of the inspection object. Since no special work is required for the self-evaluation of the inspection apparatus itself, labor can be reduced.

【0046】あるいは、請求項4に記載の発明によれ
ば、検査装置の自己評価を行う際、同一のマスターサン
プルを所定回数連続して繰り返し測定し、その測定結果
に基づいて検査装置の自己評価を行っているので、かか
る検査装置自身に何らかの差が生じた場合に自己評価を
極めて正確に行うことができるという効果がある。
According to the fourth aspect of the present invention, when the self-evaluation of the inspection apparatus is performed, the same master sample is repeatedly and repeatedly measured a predetermined number of times, and the self-evaluation of the inspection apparatus is performed based on the measurement result. Is performed, the self-evaluation can be performed very accurately when any difference occurs in the inspection apparatus itself.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の検査装置を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an inspection device of the present invention.

【図2】被検査対象としての装置例を示す回路概略図で
ある。
FIG. 2 is a schematic circuit diagram showing an example of a device to be inspected.

【図3】被検査対象としての装置例の動作を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing the operation of an example of the apparatus as an object to be inspected.

【図4】この発明の第1実施形態の検査装置の動作を示
すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart showing an operation of the inspection device according to the first embodiment of the present invention.

【図5】検査装置の実測データの分布を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a distribution of measured data of the inspection device.

【図6】検査装置の実測データの平均値が初期状態に比
べて変化した状態を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a state in which the average value of the actual measurement data of the inspection device has changed compared to the initial state.

【図7】検査装置の実測データのばらつき度合が初期状
態に比べて変化した状態を示す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a state in which the degree of variation in measured data of the inspection apparatus has changed compared to the initial state.

【図8】この発明の第2実施形態の検査装置の動作を示
すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing an operation of the inspection device according to the second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 特性評価部 2 自己検知部 3 表示手段 11 特性測定手段 12 分別手段 14 記録手段 15 平均値演算手段 16 平均値誤差検出手段 17 平均誤差許容判断手段 18 分散演算手段 19 分散誤差検出手段 21 分散許容判断手段 22 出力手段 30 ECU 31 室内灯 32 駆動部 33 制御部 33a CPU 33b 接続点 34 ドアスイッチ 35 PNPトランジスタ MQ 検査装置 MS 被検査対象 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Characteristic evaluation part 2 Self-detection part 3 Display means 11 Characteristic measurement means 12 Classification means 14 Recording means 15 Average value calculation means 16 Average value error detection means 17 Average error tolerance judgment means 18 Dispersion calculation means 19 Dispersion error detection means 21 Dispersion tolerance Judging means 22 Output means 30 ECU 31 Interior light 32 Drive unit 33 Control unit 33a CPU 33b Connection point 34 Door switch 35 PNP transistor MQ Inspection device MS Inspection target

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検査対象の特性検査を行う検査装置で
あって、 前記被検査対象の特性を測定する特性測定手段と、 測定された特性に基づいて、前記被検査対象が良品であ
るか否かを分別する分別手段と、 前記特性測定手段での測定値を蓄積記録する記録手段
と、 前記記録手段に蓄積記録された測定値の平均値及びばら
つき度合の少なくとも一方の統計量を演算する統計量演
算手段と、 前記統計量演算手段で演算された前記統計量と、複数の
前記被検査対象を予め実測しまたは単一の前記被検査対
象を複数回実測することで得られた基準統計量との差を
検出する統計量誤差検出手段と、 前記統計量誤差検出手段で検出された統計量の差に基づ
いて当該統計量が予め設定された所定の許容範囲を越え
ているか否かを判断する統計量許容範囲判断手段と、 前記統計量許容範囲判断手段によって、統計量が前記所
定の許容範囲を越えていると判断した際に、当該検査装
置自体が不良状態である旨を表示し、且つ、統計量が前
記所定の許容範囲を越えていないと判断した際に、前記
分別手段での分別結果を表示する表示手段とを備える検
査装置。
1. An inspection apparatus for inspecting characteristics of an object to be inspected, comprising: a characteristic measuring means for measuring characteristics of the object to be inspected; and whether the object to be inspected is a non-defective product based on the measured characteristics. Classification means for classifying whether or not the measurement result is recorded; recording means for accumulating and recording the measured values by the characteristic measuring means; and calculating at least one of statistics of an average value and a degree of dispersion of the measured values accumulated and recorded in the recording means. A statistic calculation means, the statistic calculated by the statistic calculation means, and a reference statistic obtained by previously measuring a plurality of the test objects or measuring the single test object a plurality of times. A statistic error detecting means for detecting a difference between the statistic and the statistic, and determining whether or not the statistic exceeds a predetermined allowable range based on a difference in the statistic detected by the statistic error detecting means. Statistics to be judged Disconnecting means, when the statistic allowable range determining means determines that the statistic exceeds the predetermined allowable range, displays that the inspection apparatus itself is in a defective state, and the statistic is An inspection apparatus comprising: a display unit that displays a classification result by the classification unit when it is determined that the difference does not exceed the predetermined allowable range.
【請求項2】 請求項1に記載の検査装置であって、前
記分別手段は、前記統計量許容範囲判断手段によって、
統計量が前記所定の許容範囲を越えていると判断した際
に、分別動作を停止する機能を有する検査装置。
2. The inspection apparatus according to claim 1, wherein the classification unit includes a statistic allowable range determination unit.
An inspection apparatus having a function of stopping a sorting operation when it is determined that a statistic exceeds the predetermined allowable range.
【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の検査装
置を使用する検査方法であって、 予め初期状態において、複数の前記被検査対象を実測
し、その平均値及びばらつき度合の少なくとも一方を演
算して基準統計量を得る工程と、 その後、当該基準統計量の対象とされた前記被検査対象
とは別の被検査対象の検査の際に、前記特性測定手段で
測定した実測データを前記記録手段で蓄積記録する工程
と、 前記記録手段に蓄積記録された前記実測データの平均値
及びばらつき度合の少なくとも一方の統計量を演算する
工程と、 演算された前記統計量と前記基準統計量との差を検出す
る工程と、 前記統計量の差に基づいて当該統計量が予め設定された
所定の許容範囲を越えているか否かを判断する工程と、 前記統計量が前記所定の許容範囲を越えていると判断し
た場合に、当該検査装置自体が不良状態である旨を前記
表示手段で表示し、前記統計量が前記所定の許容範囲を
越えていないと判断した場合に、前記被検査対象が良品
であるか否かを分別手段で分別しさらに前記分別手段で
の分別結果を表示手段で表示する工程とを備える検査方
法。
3. An inspection method using the inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein a plurality of the objects to be inspected are measured in advance in an initial state, and at least one of an average value and a degree of variation is measured. Calculating a reference statistic, and then, when inspecting an object to be inspected other than the object to be inspected which is the object of the reference statistic, the actual measurement data measured by the characteristic measuring means A step of storing and recording by the recording unit; a step of calculating at least one statistic of the average value and the degree of variation of the actually measured data stored and recorded in the recording unit; and the calculated statistic and the reference statistic. Detecting a difference between the statistic and the statistic, and determining whether or not the statistic exceeds a predetermined allowable range based on the difference between the statistic; and Over When it is determined that the inspection device itself is in a defective state, the display means displays on the display means, and when it is determined that the statistic does not exceed the predetermined allowable range, the inspection target is A step of classifying whether or not the product is non-defective by a classification unit, and displaying a result of the classification by the classification unit on a display unit.
【請求項4】 請求項1または請求項2に記載の検査装
置を使用する検査方法であって、 予め初期状態において、単一の前記被検査対象を複数回
実測し、その平均値及びばらつき度合の少なくとも一方
を演算して基準統計量を得る工程と、 その後に、当該基準統計量の対象とされた前記被検査対
象と同一の単一の前記被検査対象を所定回数連続して繰
り返し測定したデータを前記記録手段で蓄積記録する工
程と、 前記記録手段に蓄積記録されたデータの平均値及びばら
つき度合の少なくとも一方の統計量を演算する工程と、 演算された前記統計量と前記基準統計量との差を検出す
る工程と、 前記統計量の差に基づいて当該統計量が予め設定された
所定の許容範囲を越えているか否かを判断する工程と、 前記統計量が前記所定の許容範囲を越えていると判断し
た際に、当該検査装置自体が不良状態である旨を前記表
示手段で表示する工程とを備える検査方法。
4. An inspection method using the inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein a single object to be inspected is actually measured a plurality of times in advance in an initial state, and the average value and the degree of variation are measured. A step of calculating at least one of the above to obtain a reference statistic, and thereafter, the same single test object as the test object which is the target of the reference statistic is repeatedly measured a predetermined number of times continuously Accumulating and recording data by the recording means; calculating at least one statistic of the average value and the degree of variation of the data accumulated and recorded in the recording means; and the calculated statistic and the reference statistic Detecting a difference between the statistic and the statistic, and determining whether or not the statistic exceeds a predetermined allowable range based on the difference between the statistic; and Over A step of displaying on the display means that the inspection apparatus itself is in a defective state when it is determined that the inspection apparatus is in a defective state.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007521842A (en) * 2003-09-23 2007-08-09 ニューロコム インターナショナル インコーポレイテッド Method and apparatus for reducing errors in screening test enforcement
JP2007248200A (en) * 2006-03-15 2007-09-27 Nec Electronics Corp Maintenance system and method of semiconductor testing device
WO2021065086A1 (en) * 2019-09-30 2021-04-08 株式会社アドバンテスト Maintenance apparatus, maintenance method, and maintenance program

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