JPH1050761A - Tape carrier package and its manufacture - Google Patents

Tape carrier package and its manufacture

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JPH1050761A
JPH1050761A JP8206278A JP20627896A JPH1050761A JP H1050761 A JPH1050761 A JP H1050761A JP 8206278 A JP8206278 A JP 8206278A JP 20627896 A JP20627896 A JP 20627896A JP H1050761 A JPH1050761 A JP H1050761A
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JP
Japan
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integrated circuit
sealing material
circuit chip
tape
dam
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP8206278A
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Japanese (ja)
Inventor
Ryoichi Fujimori
良一 藤森
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
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    • H01L24/79Apparatus for Tape Automated Bonding [TAB]
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    • HELECTRICITY
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To lessen the leaking and spreading of molding sealing material over to the surface of a tape carrier package(TCP) on the opposite side to its surface to its surface to which the molding sealing material is applied, on the occasion of its application. SOLUTION: By providing protruding substances (dams 5) on the backside of a carrier tape, leaking and spreading of molding sealing material is stopped. On the backside to a surface to which a molding sealing material 7 is to be applied, dam material 4 composed of constituents such as polyimide, epoxy, etc., is printed through a stencil mask 3 made up of a stainless or screen mask. This dam material 4 is moved on the stencil mask 3 by a squeegee 6 made out of silicone rubber and so on. The stencil mask 3 had holes bored at desired positions beforehand, and the dam material 4 creeps into these holes. After that, a dam 5 is formed by hardening, based on heating or ultraviolet ray irradiation. Consequently, it becomes possible to stop the leaking and spreading of the molding sealing material over to the backside of the tape carrier package at desired positions.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、テープキャリアパ
ッケージおよびその製造方法に関するものであり、特に
樹脂封止を行う場合に用いると好適のものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a tape carrier package and a method for manufacturing the same, and is particularly suitable for use in a case where resin sealing is performed.

【0002】[0002]

【従来の技術】集積回路チップは、耐環境性を維持でき
るよう保護しつつ外部に設けられた回路と電気的に接続
するために、パッケージと呼ばれる一種の容器形態にし
て使用することが一般的である。近年では、電子機器に
対する軽薄短小の要求が益々盛んになり、当然それに使
用される電子部品の小型軽量化の要求も益々エスカレー
トしているのが現状である。特に集積回路チップの場
合、回路そのものは縮小されているものの外部に設けら
れた外部回路との接続には回路の集積度に応じた多数の
配線が必要で、この相互の配線を干渉させずにパッケー
ジのサイズを小さくすることが課題となっていた。現在
では、この課題を改善するパッケージの一手段として
「テープキャリアパッケージ(以下、「TCP」とい
う)」と呼ばれるパッケージ技術が開発されている。T
CPはパッケージの小型軽量化を図り、かつ電子部品と
しての大量生産の効率をも向上させることを目的に開発
されたものである。
2. Description of the Related Art In general, integrated circuit chips are generally used in the form of a kind of container called a package in order to protect them so as to maintain environmental resistance and to electrically connect them to an external circuit. It is. In recent years, demands for lighter, thinner and smaller electronic devices have become more and more active, and naturally the demand for smaller and lighter electronic components used in electronic devices has been escalating. In particular, in the case of an integrated circuit chip, although the circuit itself is reduced, a large number of wirings according to the degree of integration of the circuit are required for connection to an external circuit provided outside, and these wirings do not interfere with each other. The problem was to reduce the size of the package. At present, a package technology called “tape carrier package (hereinafter, referred to as“ TCP ”)” has been developed as one means of a package for solving this problem. T
The CP has been developed for the purpose of reducing the size and weight of the package and improving the efficiency of mass production as an electronic component.

【0003】一般的なTCPの形状は、「キャリアテー
プ」と呼ばれるパッケージ化する際の母体に、集積回路
用チップが電気的接続され、少なくとも集積回路チップ
とキャリアテープの接続部および集積回路チップの回路
構成面の必要最低限の部分はモールド封止材と呼ばれる
熱や光によって固まる液状のエポキシ樹脂等の物質で固
められている。キャリアテープは、その厚さが100マ
イクロメートル程度で、長さは帯状となるようにテープ
の全長を数十から数百メートル程度とする。基材には耐
熱耐薬品性を有するポリイミド等を用いてその基材上
に、厚さが30マイクロメートル程度で集積回路チップ
と外部回路とを電気的に接続するための銅等の金属箔か
らなる配線を、搭載しようとする集積回路チップを基準
とした単位回路毎に等間隔に形成されているものであ
る。この基材の上に形成された配線には、集積回路チッ
プや外部回路との良好な接続性を確保するため金あるい
は錫等による厚さ数マイクロメートルのめっきが施され
ている。集積回路用チップはキャリアテープに開けられ
た「デバイスホール」と呼ばれる穴に、「インナーリー
ド」と呼ばれるキャリアテープ上に形成された配線の一
部を突出させたものによって吊り下げられるように搭載
される。なお一般的に集積回路チップの集積度は非常に
高く、キャリアテープと集積回路チップとを接続するイ
ンナーリードの本数は数百本にもおよぶ。このため、イ
ンナーリード一本の太さは百数十平方マイクロメートル
程度の微小サイズにおさえざるを得なくなり、このまま
では機械的な強度(リード自体の強度及び接続強度)が
十分に得られない。また単にインナーリードと接続する
のみでは、集積回路用チップ自体が外部に露出しまうこ
とになり、例えば耐湿性の観点から現状では信頼性に欠
けることになる。したがって一つの電子部品として取り
扱うに十分な機械的強度を確保し、かつ耐環境的な耐久
性を確保するために、所望の位置にモールド封止材を用
いて封止する。一般的には、インナーリードと集積回路
チップの接合部および「能動面」と呼ばれる集積回路チ
ップの回路構成面にモールド封止材を用いる。モールド
封止材には、エポキシ樹脂等を用いるが、その中でも2
0〜1000ポイズ程度の粘性を有する液状の、熱硬化
性あるいは光硬化性で非可塑性の樹脂を用いる。モール
ド封止材に液状の熱や光によって硬化し、かつ元の液状
に戻らない樹脂を使う理由は、細密な領域まで保護材料
となる樹脂を簡単に塗ることができ、しかも集積回路用
チップの動作時に発生する熱やTCPをほかの部品と同
様に洗浄する等により溶け出すことがない様にするため
である。以上の構造をとることにより、数百から数千個
の規模の集積回路用チップがパッケージされた電子部品
を確保することができる。従って部品のサイズを小さく
できるだけでなく、製造時の自動化が図りやすく、大量
生産し易いといった各種利点を有している。
[0003] The general shape of TCP is such that an integrated circuit chip is electrically connected to a packaging base called a "carrier tape", and at least a connection portion between the integrated circuit chip and the carrier tape and an integrated circuit chip. The minimum required portion of the circuit configuration surface is solidified with a material such as a liquid epoxy resin which is solidified by heat or light and is called a mold sealing material. The carrier tape has a thickness of about 100 micrometers and a total length of about tens to hundreds of meters so that the length of the carrier tape is band-shaped. The base material is made of a metal foil such as copper which has a thickness of about 30 micrometers and is used to electrically connect the integrated circuit chip and the external circuit. Are formed at equal intervals for each unit circuit based on the integrated circuit chip to be mounted. The wiring formed on the substrate is plated with gold or tin to a thickness of several micrometers to ensure good connectivity with an integrated circuit chip or an external circuit. The integrated circuit chip is mounted so that it can be hung by a part of the wiring formed on the carrier tape called "inner lead" protruding into a hole called "device hole" opened in the carrier tape. You. In general, the degree of integration of the integrated circuit chip is very high, and the number of inner leads connecting the carrier tape and the integrated circuit chip is several hundred. For this reason, the thickness of one inner lead has to be suppressed to a minute size of about one hundred and several tens of square micrometers, and mechanical strength (strength of the lead itself and connection strength) cannot be sufficiently obtained as it is. In addition, simply connecting to the inner leads exposes the integrated circuit chip itself to the outside, and thus lacks reliability at present, for example, from the viewpoint of moisture resistance. Therefore, in order to ensure mechanical strength sufficient to handle as one electronic component and to ensure environmental resistance, sealing is performed at a desired position using a mold sealing material. In general, a mold encapsulant is used at the joint between the inner lead and the integrated circuit chip and at the circuit configuration surface of the integrated circuit chip called the “active surface”. Epoxy resin or the like is used for the mold sealing material.
A liquid thermosetting or photosetting non-plastic resin having a viscosity of about 0 to 1000 poise is used. The reason for using a resin that hardens by liquid heat or light and does not return to the original liquid for the mold encapsulant is that it can easily apply the resin as a protective material to a fine area, and moreover, it can be used for integrated circuit chips. This is to prevent heat and TCP generated during operation from being melted out by washing or the like like other parts. With the above structure, it is possible to secure electronic components in which hundreds to thousands of integrated circuit chips are packaged. Therefore, not only can the size of the component be reduced, but also there are various advantages such as easy automation in production and easy mass production.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】前述したように、一般
的にテープキャリアパッケージでは、集積回路チップと
インナーリードの接合部および集積回路チップの能動面
を保護するためにモールド封止材を塗布する。上述のT
CPでは、キャリアテープに開けられた穴に集積回路チ
ップは吊り下げた状態となるため、液状のモールド封止
材はその吊り下げられた集積回路チップの能動面に塗布
することになる。粘性を有する液状のモールド封止材を
塗布する場合、通常集積回路用チップの能動面側より滴
下あるいは印刷するのが一般である。しかし平面的にみ
た場合に、キャリアテープと集積回路用チップとは密接
しておらず、0.1から0.5ミリメートル程度の隙間
を有している。これは、キャリアテープに搭載する集積
回路用チップとキャリアテープから集積回路用チップに
接続するインナーリードとが電極以外の部分で接触する
ことが無いように、またインナーリードを折り曲げるた
めに必要となる隙間である。この隙間があることによっ
てTCP裏面にモールド封止材の濡れ広がりが生じてし
まっていた。一般に1ミリメートル程度以下の厚みを要
求されるTCPにあっては、塗布した場合薄く濡れ広が
る特性を有する樹脂を用いることが必要とされている
が、この薄く濡れ広がる特性が災いして、キャリアテー
プのデバイスホールと搭載されている集積回路チップの
隙間から、塗布中のモールド封止材が塗布している面の
裏面側へ流れ出してしまう。塗布面におけるモールド封
止材の塗布範囲は作業者の意志により自由に設定するこ
とができるが、TCPの裏面へ流れ出したモールド封止
材の流れ出し範囲は、モールド封止材の流動特性に依存
するため、範囲を意図的に調整することができないのが
現状である。特に、TCPのサイズを平面的に小さくす
る際には集積回路チップだけでなくキャリアテープのサ
イズも小さくすることから、電子部品としてのTCPを
外部の回路基板に搭載する場合に、ツールによって挟も
うとするTCPの電極が設けられている部分までモール
ド封止材が濡れ広がってしまい、TCPの小型化を妨げ
るという問題点を有することになった。
As described above, generally, in a tape carrier package, a mold encapsulant is applied to protect a joint between an integrated circuit chip and an inner lead and an active surface of the integrated circuit chip. . T described above
In the CP, since the integrated circuit chip is suspended in a hole formed in the carrier tape, the liquid mold sealing material is applied to the active surface of the suspended integrated circuit chip. When applying a viscous liquid mold sealing material, it is general to drop or print from the active surface side of the integrated circuit chip. However, when viewed in plan, the carrier tape and the integrated circuit chip are not in close contact with each other, and have a gap of about 0.1 to 0.5 mm. This is necessary so that the integrated circuit chip mounted on the carrier tape and the inner lead connected from the carrier tape to the integrated circuit chip do not come into contact with parts other than the electrodes, and are necessary to bend the inner lead. It is a gap. The presence of this gap causes the mold sealing material to spread on the back surface of the TCP. Generally, in TCP requiring a thickness of about 1 mm or less, it is necessary to use a resin having a property of spreading and spreading thinly when applied, but the property of spreading and spreading thinly is harmful, and carrier tape is used. The mold sealing material being applied flows out from the gap between the device hole and the mounted integrated circuit chip to the back side of the surface on which the coating is being applied. The application range of the mold sealing material on the application surface can be freely set according to the worker's will, but the range of the mold sealing material flowing out to the back surface of the TCP depends on the flow characteristics of the mold sealing material. Therefore, at present, the range cannot be adjusted intentionally. In particular, when reducing the size of the TCP in a plane, not only the size of the integrated circuit chip but also the size of the carrier tape is reduced. Therefore, when mounting the TCP as an electronic component on an external circuit board, the TCP should be sandwiched between tools. Therefore, there is a problem that the mold sealing material wets and spreads to a portion where the TCP electrode is provided, which hinders downsizing of the TCP.

【0005】従って本発明の目的は、モールド封止材を
塗布する際に塗布する反対側の面(「TCPの裏面」と
いう)へのモールド封止材の濡れ広がりを小さくするこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to reduce the spread of the mold sealing material on the opposite surface (hereinafter referred to as the "back surface of TCP") of the mold sealing material.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
し、目的を達成するためになされたもので、請求項1に
記載のテープキャリアパッケージは、集積回路チップの
配設されるデバイスホールを有するキャリアテープと、
前記キャリアテープ上に設けられるとともに一部が前記
デバイスホール内に突出して設けられ前記集積回路チッ
プの各電極とそれぞれ接続されているリードと、少なく
とも前記集積回路チップの前記電極の形成面を被覆する
樹脂と、を有するテープキャリアパッケージであって、
前記集積回路チップの前記電極形成面側と反対面側とな
る前記キャリアテープの前記デバイスホール周辺に突起
を設けたことを特徴とする。キャリアテープのモールド
封止材を塗布する面と相対する面において、モールド封
止材を濡れ広がりを止めようとする位置にダムを設ける
ことにより、濡れ広がろうとするモールド封止材がダム
によってせき止められることになり、モールド封止材の
濡れ広がりを止めることができる。これにより、TCP
の集積回路用チップを搭載する部分や外部の回路基板と
接続する電極部分以外のデッドスペースとなっていた部
分を小さくすることができるため、TCPの平面的なサ
イズを小さくすることができるようになる。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems and attain the object, and a tape carrier package according to claim 1 is a device hole in which an integrated circuit chip is provided. A carrier tape having
A lead provided on the carrier tape and partly protruding into the device hole and connected to each electrode of the integrated circuit chip, and covers at least a surface on which the electrode of the integrated circuit chip is formed. A tape carrier package having a resin,
A projection is provided around the device hole of the carrier tape on the side opposite to the electrode forming side of the integrated circuit chip. By providing a dam on the surface of the carrier tape opposite to the surface on which the mold sealing material is applied, at the position where the mold sealing material is prevented from wetting and spreading, the damping prevents the mold sealing material from spreading and damping. Therefore, the spread of the mold sealing material can be stopped. With this, TCP
Since the dead space other than the portion for mounting the integrated circuit chip and the electrode portion connected to the external circuit board can be reduced, the planar size of the TCP can be reduced. Become.

【0007】またテープキャリアパッケージの製造方法
としては、請求項2に記載の如く、テープキャリアパッ
ケージにモールド封止材の濡れ広がりを止める樹脂流出
防止部となる突起を、前記テープキャリアパッケージの
前記モールド封止材を塗布する面と相対する面に設ける
工程を含んでなることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a tape carrier package, comprising: forming a protrusion serving as a resin outflow prevention portion for stopping the spread of a mold sealing material on the tape carrier package; The method is characterized in that it includes a step of providing a surface opposite to a surface on which a sealing material is applied.

【0008】また、請求項3に記載の製造方法では、前
記突起は、孔版印刷によって設けることを特徴とする。
孔版印刷によってダムを設ける場合は、キャリアテープ
のモールド塗布面に使用されているモールド封止材の流
れ出し止めのダムに使用している材料が強要できるた
め、キャリアテープ製造が従来の製造工程のままに行う
ことを可能にする。
According to a third aspect of the present invention, the projection is provided by stencil printing.
When a dam is provided by stencil printing, the material used for the dam for stopping the flow of the mold sealing material used for the mold application surface of the carrier tape can be forced, so the carrier tape manufacturing remains the same as the conventional manufacturing process. To be able to do.

【0009】また、請求項4に記載の製造方法では、請
求項3の内容にかわって、前記突起は、ディスペンス塗
布によって設けることを特徴とする。ディスペンス塗布
によってダムを設ける場合は、突起物としてのダムの高
さを高くすることができるような粘性の高い材料を適用
することが可能となり、より確実な濡れ広がり防止が期
待できる。
According to a fourth aspect of the present invention, in place of the third aspect, the protrusion is provided by dispensing. When the dam is provided by dispensing, it is possible to apply a highly viscous material capable of increasing the height of the dam as a projection, and it is possible to expect more reliable prevention of wet spreading.

【0010】また、請求項5に記載の製造方法では、請
求項3または4の内容にかわって、前記突起は、レーザ
ーによって設けることを特徴とする。レーザーによって
ダムを設ける場合、レーザー光によりキャリアテープそ
のものを突起状にするため、改めて材料を選択し購入す
る必要がなく、製造装置の設備投資のみで対応が可能と
なる。
According to a fifth aspect of the present invention, in place of the third or fourth aspect, the projection is provided by a laser. When a dam is provided by a laser, the carrier tape itself is formed into a protruding shape by a laser beam, so that it is not necessary to select and purchase a new material, and it is possible to cope only with capital investment of a manufacturing apparatus.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
1から図6により説明する。まずその前に、一般的なT
CPについて説明する。一般的なTCPの形状は、キャ
リアテープと呼ばれるパッケージ化する際の母体に、集
積回路用チップが電気的接続され、少なくとも集積回路
チップとキャリアテープの接続部および集積回路チップ
の回路構成面の必要最低限の部分はモールド封止材と呼
ばれる熱や光によって固まる液状のエポキシ樹脂等の物
質で固められている。キャリアテープは、その厚さが1
00マイクロメートル程度で、長さは帯状となるように
テープの全長を数十から数百メートル程度になる。キャ
リアテープの基材には耐熱耐薬品性を有するポリイミド
等を用いて、その基材上に厚さが30マイクロメートル
程度で集積回路チップと外部回路とを電気的に接続する
ための銅等の金属箔からなる配線が、単位回路毎に等間
隔に形成されているものである。この基材の上に形成さ
れた配線には、集積回路チップや外部回路との良好な接
続性を確保するため金あるいは錫等による厚さ数マイク
ロメートルのめっきが施されている。集積回路チップは
キャリアテープに開けられたデバイスホール内で、キャ
リアテープ上に形成された配線の一部をそのホール内に
突出させたもの、すなわちインナーリードによって吊り
下げられる。インナーリードと集積回路チップとの接続
は、予め集積回路チップに形成された外部との電気的な
接続を行うための電極上にバンプと呼ばれる金等からな
る導電性の突起を設けておき、このバンプと錫メッキを
施されたキャリアテープのインナーリードとを接続部一
個所あたり数十グラムの圧力でしかも300度から50
0度の範囲の温度を与えながら加えることにより金と錫
の共晶合金を形成させることによって行う。ただし、集
積回路チップの集積度が非常に高いことから、キャリア
テープと集積回路チップとを接続するインナーリードの
本数は数百本にもなるため、インナーリード一本の太さ
が百数十平方マイクロメートルとなり、このままでは機
械的な強度が十分に得られず、集積回路用チップも外部
に露出することになる。したがって一つの電子部品とし
て取り扱うに十分な機械的強度を確保し、かつ耐環境的
な耐久性を確保するために、インナーリードと集積回路
用チップの接合部および能動面と呼ばれる集積回路用チ
ップの回路構成面にモールド封止材と呼ばれるエポキシ
等からなる20から1000ポイズ程度の粘性を有する
液状の、熱硬化性あるいは光硬化性で非可塑性の樹脂を
塗り、50度から150度程度の範囲の熱を加えること
により固める。モールド封止材に液状の熱や光によって
硬化し、かつ元の液状に戻らない樹脂を使う理由は、細
かい部分まで保護材料としての樹脂を簡単に塗ることが
でき、かつ集積回路用チップの動作時にその動作効率の
低さより発生する熱やTCPをほかの部品同様に洗浄す
る等により溶け出すことがない様にするためである。以
上の製造方法により、連続して数百から数千個の規模で
一度に集積回路用チップを容器に収納した電子部品とす
ることができるため、部品としてのサイズを小さくでき
るだけでなく、製造時の自動化が図りやすく、大量生産
しやすい利点を有している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. First, before the general T
The CP will be described. The general shape of TCP is that a chip for packaging is called a carrier tape, and an integrated circuit chip is electrically connected to a mother body at the time of packaging. The minimum part is solidified with a material such as a liquid epoxy resin which is solidified by heat or light called a mold sealing material. Carrier tape has a thickness of 1
The length of the tape is about several tens to several hundreds of meters so that the length of the tape is about 00 micrometers. The base material of the carrier tape is made of polyimide or the like having heat resistance and chemical resistance. The base material has a thickness of about 30 micrometers and is made of copper or the like for electrically connecting an integrated circuit chip to an external circuit. Wiring made of metal foil is formed at equal intervals for each unit circuit. The wiring formed on the substrate is plated with gold or tin to a thickness of several micrometers to ensure good connectivity with an integrated circuit chip or an external circuit. The integrated circuit chip is suspended in a device hole formed in the carrier tape by a part of a wiring formed on the carrier tape protruding into the hole, that is, an inner lead. For the connection between the inner lead and the integrated circuit chip, a conductive projection made of gold or the like called a bump is provided on an electrode formed in the integrated circuit chip for making an electrical connection with the outside in advance. The bump and the inner lead of the tin-plated carrier tape are connected at a pressure of several tens of grams per connection point and at a temperature of 300 to 50 degrees.
This is done by forming a eutectic alloy of gold and tin by applying while giving a temperature in the range of 0 degrees. However, since the degree of integration of the integrated circuit chip is very high, the number of inner leads connecting the carrier tape and the integrated circuit chip is several hundred, and the thickness of one inner lead is more than one hundred and ten square. In this case, sufficient mechanical strength cannot be obtained, and the integrated circuit chip is also exposed to the outside. Therefore, in order to ensure sufficient mechanical strength to handle as one electronic component and to ensure environmental resistance, the junction between the inner lead and the integrated circuit chip and the integrated circuit chip called the active surface are required. A liquid thermosetting or photocuring non-plastic resin having a viscosity of about 20 to 1000 poise, which is made of epoxy or the like called a mold sealing material, is applied to the circuit configuration surface. Harden by applying heat. The reason for using a resin that is cured by liquid heat or light and does not return to the original liquid for the mold encapsulant is that the resin as a protective material can be easily applied to fine parts, and the operation of integrated circuit chips This is in order to prevent heat or TCP generated due to its low operation efficiency from being melted out by washing or the like like other parts. According to the above-described manufacturing method, electronic components in which a chip for an integrated circuit is housed in a container at a time on a scale of several hundreds to several thousands can be obtained, so that not only can the size of the component be reduced, but also It has the advantage of being easy to automate and easy to mass produce.

【0012】また、TCPの電子部品としての使用方法
は、TCPを搭載しようとする回路基板に対して、TC
Pに設けられている電極を回路基板の電極に半田付け、
あるいは異方性の導電特性を有する接着剤あるいは粘着
テープによって接続することが一般である。この際、T
CPの電極はキャリアテープの同一平面状に構成されて
いることから、「ツール」と呼ばれるブロック状の工具
でTCPと回路基板の電極を挟むことにより一括して回
路基板に接合することになる。
A method of using TCP as an electronic component is as follows: a circuit board on which TCP is to be mounted;
The electrode provided on P is soldered to the electrode on the circuit board,
Alternatively, the connection is generally made with an adhesive or an adhesive tape having anisotropic conductive properties. At this time, T
Since the electrodes of the CP are formed on the same plane of the carrier tape, the TCP and the electrodes of the circuit board are sandwiched by a block-shaped tool called a "tool", so that the electrodes are collectively joined to the circuit board.

【0013】さて、図1から図3は本発明の実施の形態
を示した一例である。図1は本発明を適用した製品の概
略の平面外観図であり、図2は図1に示すA−A’断面
図である。また、図3および図4はモールド封止材の濡
れ広がり防止に使用するダムの、孔版印刷による製造方
法の概要を説明するものである。図1及び図2におい
て、1は集積回路用チップであり、その回路構成面(能
動面)には複数の電極を有している。2はキャリアテー
プであり、前述したように集積回路チップをパッケージ
化する際の母体となるものである。5は樹脂流出防止部
(以下、「ダム」という)である。7は必要部分を封止
したモールド封止材である。集積回路チップ1を接合す
る前のキャリアテープ2に対して、図3に示すように、
モールド封止材7を塗布する面の裏面へステンレスやス
クリーンマスクからなる孔版マスク3を介してポリイミ
ドやエポキシ等の樹脂で構成されたダム材4を印刷す
る。孔版マスク3には、キャリアテープ2上のダム5を
設けようとする位置と一致する部分に、設けようとする
大きさの穴が開けられている。ダム材4は孔版マスク3
上に置かれ、シリコーンゴム等からなるスキージ6によ
って前記穴の位置へ移動させられる。この時、ダム材4
の重みとスキージ6から受ける圧力によって、孔版マス
ク3に開けられた穴の中へダム材4が入り込む。図4に
示すように、スキージ6は孔版マスク3に開けられた穴
よりも十分に大きい物を使用することで、穴の中に入っ
たダム材4を掻き出すことなく、孔版マスク6の厚み分
だけのダム材4を孔版マスク6の穴の中に充填すること
ができる。孔版マスクとスキージによる前述した一連の
作業の後、孔版マスク3をキャリアテープ2より取り外
すと、キャリアテープ上に必要量のダム材4が残る。ダ
ム材が加熱することによって硬化する特性を有している
場合、50から200度の範囲でダム材4の印刷された
キャリアテープ2を加熱してダム材4を硬化させダム5
にする。また、ダム材4が紫外線光によって硬化する特
性を有している場合、300から600ナノメートルの
範囲の波長の紫外線光を5から10秒程度、100から
200ワット毎メートルの強度で照射することにより硬
化させる。これより後は、前述した方法により集積回路
チップをキャリアテープに接合し、モールド封止材を使
用してテープキャリアと集積回路チップの接合部および
集積回路チップの能動面を保護する。この時に、先にキ
ャリアテープの裏面に設けたダム5によって図2に示す
幅8の分だけモールド封止材の濡れ広がりを止めること
ができる。
FIGS. 1 to 3 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a schematic plan external view of a product to which the present invention is applied, and FIG. 2 is a sectional view taken along the line AA ′ shown in FIG. FIG. 3 and FIG. 4 explain the outline of a method of manufacturing a dam used for preventing the wetting and spreading of the mold sealing material by stencil printing. 1 and 2, reference numeral 1 denotes an integrated circuit chip having a plurality of electrodes on a circuit configuration surface (active surface). Reference numeral 2 denotes a carrier tape, which serves as a base for packaging the integrated circuit chip as described above. Reference numeral 5 denotes a resin outflow prevention unit (hereinafter, referred to as “dam”). Reference numeral 7 denotes a mold sealing material that seals necessary parts. With respect to the carrier tape 2 before the integrated circuit chip 1 is bonded, as shown in FIG.
A dam member 4 made of a resin such as polyimide or epoxy is printed on the back surface of the surface on which the mold sealing material 7 is applied via a stencil mask 3 made of stainless steel or a screen mask. The stencil mask 3 is provided with a hole of a size to be provided in a portion corresponding to a position on the carrier tape 2 where the dam 5 is to be provided. Dam material 4 is stencil mask 3
It is placed on the top and moved to the position of the hole by a squeegee 6 made of silicone rubber or the like. At this time, dam material 4
And the pressure received from the squeegee 6 causes the dam member 4 to enter the hole formed in the stencil mask 3. As shown in FIG. 4, by using a squeegee 6 that is sufficiently larger than the hole formed in the stencil mask 3, the stencil 6 can be removed by the thickness of the stencil mask 6 without scraping out the dam member 4 that has entered the hole. Only the dam member 4 can be filled in the holes of the stencil mask 6. After the series of operations described above using a stencil mask and a squeegee, when the stencil mask 3 is removed from the carrier tape 2, a necessary amount of dam material 4 remains on the carrier tape. When the dam material has a property of being hardened by heating, the carrier tape 2 on which the dam material 4 is printed is heated in the range of 50 to 200 degrees to harden the dam material 4 and harden the dam 5.
To When the dam member 4 has a property of being cured by ultraviolet light, the ultraviolet light having a wavelength in the range of 300 to 600 nanometers is irradiated at an intensity of 100 to 200 watts per meter for about 5 to 10 seconds. To cure. Thereafter, the integrated circuit chip is bonded to the carrier tape by the above-described method, and the joint between the tape carrier and the integrated circuit chip and the active surface of the integrated circuit chip are protected using a mold sealing material. At this time, the spreading of the mold sealing material by the width 8 shown in FIG. 2 can be stopped by the dam 5 previously provided on the back surface of the carrier tape.

【0014】また、本発明の他の実施の形態を、図1お
よび図5、図6により説明する。
Another embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1, 5 and 6. FIG.

【0015】図5および図6にそれぞれ異なる製造方法
の概略の説明図をしめす。これは、図1のB−B’断面
にあたるものである。キャリアテープ上へのダムの設置
方法について、図5に示す例では、キャリアテープの所
望の位置に、内径0.1から1ミリメートル程度の中空
のパイプを取り付けたダム材4を入れた容器9より、ダ
ム材を滴下することでダム5の形を作る。
FIGS. 5 and 6 show schematic explanatory views of different manufacturing methods. This corresponds to the BB 'section in FIG. Regarding the method of installing the dam on the carrier tape, in the example shown in FIG. Then, the shape of the dam 5 is formed by dripping the dam material.

【0016】また、図6に示す例では、テープキャリア
2の所望の位置に、1ワット程度以下の出力の気体レー
ザーを当てる。キャリアテープはポリイミド等の耐熱性
を有するフィルムで構成されていることから、レーザー
光の当たった部分だけが高温に晒され分子の結合が緩み
体積が膨張する。この様にして、前述したダム材を印刷
したり滴下するように突起物が形成されるため、モール
ド封止材の濡れ広がりを止めることができる。
In the example shown in FIG. 6, a gas laser having an output of about 1 watt or less is applied to a desired position of the tape carrier 2. Since the carrier tape is made of a heat-resistant film such as polyimide, only the portion irradiated with the laser beam is exposed to a high temperature to loosen the bonds of molecules and expand the volume. In this way, since the projections are formed such that the above-described dam member is printed or dropped, it is possible to stop the spread of the mold sealing material from spreading.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明によれば、図2に示すように、集
積回路チップを接続したキャリアテープを保護するため
に塗布するモールド封止材のTCP裏面への濡れ広がり
を、所望の位置で止めることができる。また、モールド
封止材の塗布量で濡れ広がりを制御する必要がなくなる
ため、モールド封止材の集積回路チップ上の厚みを確保
することが可能となり、モールド封止材の厚みに関する
製造上の管理が容易となる。
According to the present invention, as shown in FIG. 2, a mold encapsulant applied to protect a carrier tape to which an integrated circuit chip is connected is spread on a TCP back surface at a desired position. You can stop it. In addition, since it is not necessary to control the wetting and spreading by the applied amount of the mold sealing material, it is possible to secure the thickness of the mold sealing material on the integrated circuit chip, and to control the thickness of the mold sealing material in manufacturing. Becomes easier.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に基づく実施例の概要の外観図。FIG. 1 is a schematic external view of an embodiment according to the present invention.

【図2】本発明に基づく実施例の効果を説明する断面
図。
FIG. 2 is a sectional view for explaining the effect of the embodiment according to the present invention.

【図3】本発明の手段1に基づく実施例の製造方法の一
過程を示す断面図。
FIG. 3 is a sectional view showing one step of a manufacturing method of an embodiment based on the means 1 of the present invention.

【図4】本発明の手段1に基づく実施例の製造方法の一
過程を示す断面図。
FIG. 4 is a sectional view showing one step of a manufacturing method according to an embodiment based on the means 1 of the present invention.

【図5】本発明の手段2に基づく実施例の製造方法を示
す断面図。
FIG. 5 is a sectional view showing a manufacturing method of an embodiment based on the means 2 of the present invention.

【図6】本発明の手段3に基づく実施例の製造方法を示
す断面図。
FIG. 6 is a sectional view showing a manufacturing method of an embodiment based on the means 3 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 集積回路チップ 2 キャリアテープ 3 孔版マスク 4 ダム材 5 ダム 6 スキージ 7 モールド封止材 8 ダムの有無によるモールド封止材の濡れ広がりの差 9 ダム材を入れた容器 10 レーザー光発振器 11 レーザー光 REFERENCE SIGNS LIST 1 integrated circuit chip 2 carrier tape 3 stencil mask 4 dam material 5 dam 6 squeegee 7 mold sealing material 8 difference in wet spreading of mold sealing material depending on the presence or absence of dam 9 container containing dam material 10 laser light oscillator 11 laser light

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 集積回路チップの配設されるデバイスホ
ールを有するキャリアテープと、前記キャリアテープ上
に設けられるとともに一部が前記デバイスホール内に突
出して設けられ前記集積回路チップの各電極とそれぞれ
接続されているリードと、少なくとも前記集積回路チッ
プの前記電極の形成面を被覆する樹脂と、を有するテー
プキャリアパッケージであって、 前記集積回路チップの前記電極形成面側と反対面側とな
る前記キャリアテープの前記デバイスホール周辺に突起
を設けたことを特徴とするテープキャリアパッケージ。
1. A carrier tape having a device hole in which an integrated circuit chip is provided, and each electrode of the integrated circuit chip provided on the carrier tape and partially protruding into the device hole. A tape carrier package comprising: a connected lead; and a resin that covers at least a surface of the integrated circuit chip on which the electrodes are formed, wherein the tape carrier package is a surface opposite to the electrode forming surface of the integrated circuit chip. A tape carrier package, wherein a projection is provided around the device hole of a carrier tape.
【請求項2】 テープキャリアパッケージの製造方法で
あって、前記テープキャリアパッケージにモールド封止
材の濡れ広がりを止める樹脂流出防止部となる突起を、
前記テープキャリアパッケージの前記モールド封止材を
塗布する面と相対する面に設ける工程を含んでなること
を特徴とするテープキャリアパッケージの製造方法。
2. A method for manufacturing a tape carrier package, comprising: forming a protrusion serving as a resin outflow prevention portion for stopping the spread of a mold sealing material on the tape carrier package;
A method for manufacturing a tape carrier package, comprising a step of providing the tape carrier package on a surface opposite to a surface on which the mold sealing material is applied.
【請求項3】 前記突起は、孔版印刷によって設けるこ
とを特徴とする請求項2記載のテープキャリアパッケー
ジの製造方法。
3. The method according to claim 2, wherein the projections are provided by stencil printing.
【請求項4】 前記突起は、ディスペンス塗布によって
設けることを特徴とする請求項2記載のテープキャリア
パッケージの製造方法。
4. The method according to claim 2, wherein the protrusion is provided by dispensing.
【請求項5】 前記突起は、レーザーによって設けるこ
とを特徴とする請求項2記載のテープキャリアパッケー
ジの製造方法。
5. The method according to claim 2, wherein the protrusion is provided by a laser.
JP8206278A 1996-08-05 1996-08-05 Tape carrier package and its manufacture Withdrawn JPH1050761A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6582993B1 (en) 1999-12-02 2003-06-24 Fujitsu Limited Method of underfilling semiconductor device

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