JPH10501095A - タンデム質量分析 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 タンデム質量分析装置は、イオン供給源１０、一次飛行時間型手段２０、８０、フラグメントイオンを生成するための衝突セル４０及び二次飛行時間型分析計５０を包含する。二次飛行時間型分析計は、装置の光軸に沿って又はそれに対してある角度で二次場を生じるよう配列されるイオン鏡５１、５２を包含する。一次飛行時間型分析計は、トロイド状又は円筒状静電分析計７０の逐次Ｓ形立体配置を包含し、２つの静電レンズ８０及び９６をイオン鏡のどちらかの側に包含し、又は静電レンズ８０を包含し得る。したがって、一次飛行時間型分析計は二次飛行時間型分析計５０のイオン鏡の入口に又は入口近くに３次元すべてにイオンの空間的収束を提供するための静電場を包含する。時間的収束と共在する空間的収束は、高分解能を生じるために二次場鏡にとっては不可欠な要件である。

Description

【発明の詳細な説明】 タンデム質量分析 本発明は、タンデム質量分析装置に関する。 バイオテクノロジー及び生物科学の領域の拡大により、質量分析からの、特に 複合体混合物及び微量の、言わばピコモル以下で用いられる小及び中型の大きさ の生物分子（100 〜100000 Da）の構造分析に関して、感度に対する要求が増大 した。構造情報に関する同一の要求は、合成ポリマーに関しても生じている。 このような生物分子及び高分子の伝統的質量分析は、双子型セクター、双子型 重極子又はいくつかのハイブリッド組合せ、例えばセクター＋四極子から成るタ ンデム計器により実施された。このような系では、分子は、例えば高速電子衝突 （ＦＡＢ）のようないくつかの技法によりイオン化され、一次質量分析計（ＭＳ １）により質量／エネルギー選択され、次いで選択されたイオンはいくつかの中 性ガスを含有するセルを通過することにより衝突活性化を受ける。このようにし て得られたフラグメントイオンは次に、二次質量分析計（ＭＳ２）で分析される 。 本発明によれば、イオン源、一次飛行時間型分析計、一次分析計からイオンを 解離してフラグメントイオンを発生させるための手段、及び二次飛行時間型分析 計の順次配列を包含するタンデム質量分析装置が提供される。二次飛行時間型分 析計は、二次場を適切に反射するよう配列されるイオン鏡から成り、一次飛行時 間型分析計は二次場イオン鏡の入口又は入口近くにイオンの空間的集束を提供す る静電場手段を包含する。 本発明者は、タンデム飛行時間型質量分析装置が特異性及び感度 の重要な増大を提供すると認識した。にもかかわらず、慣用的飛行時間型分析計 はイオンの空間的拡張を生じ、したがって２つのこのような分析計を直列に使用 することは、構造決定に必要な分解能レベルについては実際的でない。二次場（ 装置の光軸に沿って又はそれと同一角度で）を生じるように配列されるイオン鏡 を包含する二次飛行時間型分析計、及びイオン鏡の入口又は入口近くにイオンの 空間的集束を提供するための静電場手段を包含する一次飛行時間型分析計の使用 により、感度の直接的増大だけでなく高レベルの分解能を提供する有効なイオン タンデム飛行時間型質量分析装置が提供される。 イオン鏡は適切な形態をとり、装置の光軸に沿って放物線状の場を生じるよう 配列される。イオン鏡は二次場に近似し、入口、出口及び他の場所で場を縁取る 作用を容認する。 イオン源は、イオンのパルス化ビーム又は連続ビームを提供する。パルス化は 、エレクトロスプレーのような連続供給源をパルス化するか、又はマトリックス 関連レーザー脱着／イオン化（ＭＡＬＤＩ）のような固有パルス化法を用いて、 例えば質量範囲100 〜100000 Da で分子の無傷分子イオンを提供することにより 達成し得る。イオンのパルスにイオンを圧縮又は集束するための手段が提供され る。集束手段はイオンのパルスをより短い持続時間のイオンパルスに圧縮するか 、又は連続ビームをパルス化ビームに変換する。集束は、一次質量分析計の前、 一次質量分析計の後、又は両方で起こる。 イオン「集束器」と組合せて用いられるこの種のイオン鏡は、飛行時間型を基 礎にした公知のタンデム質量分析系によって得られるものと比較して、質量分解 能を大きく改良させる。イオン鏡を使用すれば、いかなる逆戻りも必要とせずに 、質量スペクトルを検出で きるし、、質量スペクトルを絶対精度で容易に校正し得る。 イオン鏡を通したイオンの飛行時間はその質量対電荷比に依っており、そのエ ネルギーとは完全に無関係であるため、イオンに及ぼすイオン「集束器」の作用 による、そしてフラグメンテーションの一部としてのエネルギーの分配によるそ のエネルギーの非常に実質的な拡散を蒙る場合でさえ、高度の質量分析が得られ る。 イオン「集束器」は、「集束器」区域を限定する静電手段を包含し、それによ り一次質量分析計によって選択されたイオンのパルスを「集束器」区域に入れる 入口と、それによりパルスを「集束器」区域に出す出口を有する。静電手段は、 「集束器」区域に入ったパルス中のイオンに静電加速力を適用するよう作用し、 それにより、「集束器」区域の出口からのそれらの距離に比例して、イオンを高 エネルギーに加速する。 好ましくは、一次質量分析計は、光軸に対して直角な拡散、機械の光軸に沿っ た拡散、パケット内のイオンのエネルギーの拡散及び時間の収束に関して等圧イ オンパケットの収束を提供し得る飛行時間型（ＴＯＦ）分析手段を包含する。 好ましくは、一次分析計は、逐次Ｓ形立体配置の複数のトロイド状又は円筒状 静電分析計を包含する。この装置は、解離セルに収束した空間のある点で異なる 質量のイオンの場合とはやがては離れる特定の点に収束等圧イオンパケットを提 供する。さらにそれは、三重等時性収束という利点を有する。 別の実施態様において、一次飛行時間型手段は、静電レンズの後にイオン鏡を 包含する。好ましくは、一次飛行時間型手段はイオン鏡の後に二次静電レンズを さらに包含する。イオン鏡は実質的光学強度が０であるグリッド付きでない平面 鏡である。さらに別の実施態様では、一次飛行時間型手段は、静電レンズを包含 する。その時 、イオン源は静電レンズにイオンを加速するための静電手段を含有する。この配 列は少数の成分しか含まず、設定するのが相対的に簡単である。静電レンズは、 ポテンシャル上昇時に軸方向対称体を包含し得る。一次飛行時間型手段に関して 記載された構造は、分解能の有意の改良を生じる空間的収束を可能にする。空間 的収束の概念は、この分野においては有意の進歩である。 本発明の３つの実施態様を、実施例により添付の図面を参照しながら、ここに 説明する。 図１は、本発明の第一の実施態様によるタンデム質量分析装置の図である。 図２は、図１の実施態様の一次質量分析計の横断面の平面図である。 図３は、図１のタンデム質量分析装置に用いられるイオン「集束器」の略図で ある。 図４は、未解離前駆体イオン及び２つのフラグメントイオンの飛行経路の略図 である。この配列の二次場は、Ｘ軸方向のＸＺ面に対して垂直である。 図５及び６は、２次元二次場を有するイオン鏡の１型のそれぞれ横断の横断面 図及び透視図を示す。 図７は、本発明の第二の実施態様によるタンデム質量分析装置の図である。 図８は、本発明の第三の実施態様によるタンデム質量分析装置の図である。 図１を参照すると、タンデム質量分析系は、「集束器」１０、飛行時間型分析 計２０、イオンレンズＬ及びそらせ板Ｄ₁、イオン「集束器」３０、イオンが解 離するセル４０、そらせ板Ｄ₂並びにＴＯＦ（飛行時間型）分析のための二次場 イオン鏡を装備したパルス 化イオン源又は連続供給源の連続配列を包含する。 イオン源１０により生成されるイオンは、短パルスで、典型的には300〜500 n s未満の持続時間で質量分析計２０に入れられる。 検査中の標本は、どちらもパルス化モードで発生させ得るレーザービーム又は イオンビームを用いてイオン化し得る。イオン化ビームを生成するパルスは、相 対的に短い持続時間を有し、その結果生じるイオンは、静電抽出場を用いて飛行 時間型分析計２０に入れるために、供給源から抽出される。あるいは、より長い イオン化パルスを用い得るが、この場合、抽出場がパルス化される。分析計２０ は、選定された質量対電荷比を有するイオンだけを選択するように向けられる。 レーザーパルスの例では、パルスは標的物質をイオン化し、揮発させて、一次 飛行時間型ステージ２０に対する測時を開始する。一次飛行時間型質量分析計２ ０は、図２に示すような波状経路で次へと供給する「Ｓ」形立体配置の４つのト ロイド状静電分析計を包含する。そらせ板Ｄ₁は一次検出器、即ち一次質量分析 計の末端及び衝突セル４０の前のイオン増倍器でビームを再収束する。次に、予 備飛行時間型スペクトルを記録する。この予備実験からの測時は、所望の質量の イオンパケットを解離セル４０に入らせるそらせ板Ｄ₁の脱活性化を測時するた めに用いられる。あるいは、全質量の全イオンを解離セルに入らせる。衝突活性 化後、フラグメントイオンを二次飛行時間型質量分析器５０に進めた後、チャン ネルプレート又は他の検出器集成装置で質量分離及び検出を実施する。 ２組の静電そらせ板Ｄ₁及びＤ₂を用いて、イオン鏡５０の入口での入射の角度 を制御して、感度を最適化する。 ＴＯＦ質量分析計の最適質量分解能Ｒがイオンパルスの持続時間又は時間幅Δ Ｔに並びに分析計を通過するイオンの飛行時間Ｔに関 係することは公知であり、それらは以下のように表される： したがって、質量分解能Ｒは、イオンパルスの時間幅ΔＴができるだけ短い場 合に改良される。例えば、ＴＯＦ質量分析計５０の飛行経路に入っているイオン は、典型的には、10 keVのオーダーのエネルギーを有し、飛行経路が１m である 場合には、質量5000で5000の分解能は、パルス幅ΔＴが14 ns 又はそれ未満のオ ーダーを有する場合にのみ達成される。 イオン集束器を初期段階で用いる場合には、質量選択イオンパケットは、予備 的飛行時間型スペクトルを用いて圧縮されて、解離セル４０内の焦点で空間的又 は時間的に拡散したイオンを圧縮する作用を有する集束器１０を横切る勾配を成 したパルスを測時する。 あるいは、全（親及び生成物質）イオンの飛行時間を供給源から測時し得る。 この場合、そらせ板Ｄ₁を用いない。満足すべきスペクトルが得られた後、親イ オンに付与される運動エネルギーは、別の飛行時間型実験のために少量ずつ変え られる。この二次実験では、親イオン飛行時間はエネルギーシフトに関連した時 間だけ変えられるが、しかしフラグメントイオンの飛行時間は、そのそれぞれの 親イオンとの関係で固定されたままである。これは、個々の親イオンに関連した 各組のフラグメントが識別可能であるため、全親イオンフラグメンテーションを 同時に分析可能にする。 イオン集束器３０は、供給源１０により生成されたイオンパルスをもっと短い 持続時間のパルスに圧縮するために、イオンレンズＬとＴＯＦ質量分析計５０と の間に提供される。 図３に示すように、イオン「集束器」３０は、通常は基底ポテンシャルで保持 される１対の電極Ｐ₁、Ｐ₂を包含する。質量選択親 イオンのパルスをもっと短いパルスに圧縮するために、パルスが電極間の「集束 器」区域Ｓ₁内に完全に位置する場合には、電極Ｐ₁即ち質量分析計２０に近いほ うの電極を迅速に正電圧Ｖ₁（正イオンに対して）に上り勾配にする。 この電圧はパルス中の各イオンにイオン鏡５０の方向の静電加速力を施し、基 底化電極Ｐ₁からのその分離に比例する量だけ高エネルギーにイオンを加速する 。集束器区域に先ず入り、そして電極Ｐ₁により近く存在するパルス中のイオン は、加速場では、後に「集束器」区域に入ったイオンよりも費やす時間が少ない 。したがって、「後期イオン」は「初期イオン」を捕まえる傾向がある。パルス 中のイオンがすべて実質的に同時にＴＯＦ質量分析計の入口に到達するように、 ２つの電極プレートを分離する距離ｓ、下流プレートとＴＯＦ質量分析計５０と を分離する距離ｄ、及び電極プレートＰ₁に適用される電圧Ｖ₁を選択する。 各パルス中の質量選択イオンに加速電圧Ｖ₁を施すことの有意の結果は、それ らのエネルギーの有意の拡散を導入することである。例えば、イオン源１０によ り生成されたイオンパルスが、イオン集束器の電極Ｐ₁、Ｐ₂に及ぶように50mmに 亘区域に拡散される場合、イオン鏡５０に到達しつつある親イオンのエネルギー は10 keV（これが加速場からのエネルギーを全く受け取らないパルス中の先頭イ オンのエネルギーである場合）〜14 keV（加速場から4 keVの最大エネルギーを 受け取るパルス中の後尾イオンのエネルギー）の範囲である。 圧縮イオンパルス（典型的には10 ns又はそれ未満の時間幅を有する）は、Ｔ ＯＦ質量分析計５０の入口に位置するセル４０を通過する。１つの可能性は、ガ ス衝突によりイオンを分解することである。別の可能性は、レーザーパルスを用 いて圧縮化パルスを構成す る質量選択親イオンを解離することである。圧縮化イオンパルスは時間及び空間 ともに十分に限定されているため、レーザーパルスは時間焦点での各イオンパル スの到着に一致するよう同時性を持たせ得る。 質量選択親イオンの解離により生成されるフラグメントイオンは親イオンと同 じ軌道上にあり、したがってイオン鏡５０を入れる前に導入される時間拡散はほ とんどない。イオン鏡５０に導入される未解離前駆体イオン及びフラグメントイ オンは２つの理由により、実質的エネルギー拡散を示す。同一質量のイオンは前 期のようにイオン集束器の作用により、大きなエネルギー拡散を示す。異なる質 量のイオンは異なるエネルギーを有する（質量Ｍ_Fの各フラグメントイオンは、 それが得られる前駆体イオン（質量Ｍ_P）のエネルギーの分画Ｍ_P／Ｍ_Fを有する ）。 イオン鏡５０の二次場Ｅは、分析計の飛行経路に導入されるイオンが異なるエ ネルギーを有する場合でも、高質量分解能が得られるようにする。場領域へのイ オンの浸透の深さの一関数として線状に増大する静電反射力Ｆにイオンをさらす 。この力はＸ方向に作用し（図４）、Ｚ軸からのイオンの分離ｘに直接比例する 大きさを有する。 静電反射力Ｆは以下のように表される： Ｆ ＝ −ｋｑｘ （式中、ｋは定数であり、ｑは電荷である）。 場領域におけるイオンの動きの等式は、単純な調和運動の減衰に関連したもの と類似しており、イオン質量ｍが入口の点１から反射の点２まで移動する間の時 間間隔ｔは以下の式で示される： したがって、イオンは次式により示される総時間間隔ｔ’に関する場領域を占 める： この結果が示すように、イオンは、その質量対電荷比（ｍ／ｑ）にのみ依って いる時間間隔に関する場領域Ｅを占め、これにより、本例と同様に、それらが異 なるエネルギーを有する場合でさえ、その質量対電荷比の一関数としてイオンが 互いに識別される。 イオン鏡を通過するイオンの飛行時間がＹＺ面における平面検出器により測定 した場合に相対的に大きな角度範囲に及ぶＸ−Ｙ面での角度偏差とは無関係であ るということが判明した。 図４は、例として、飛行経路、その後の非解離前駆体イオンＩ_P及び質量Ｍ_O（ １）、Ｍ_O（２）をそれぞれ有する２つの娘イオンＩ_O（１）、Ｉ_O（２）（ここ で、Ｍ_O（１）＞Ｍ_O（２）である）を示す。この例においては、イオンはすべて 同一電荷を有すると仮定する。 最も重い非解離前駆体イオンＩ_Pは場領域を通過する最長飛行時間を有し、そ れらは最外側経路に沿って移動するが、一方軽い娘イオンＩ_O（２）は最短飛行 時間を有し、それらは低エネルギーを有するために最内側経路を取る。 異なる質量を有するイオンは、異なる位置で場領域に存在する。イオンは、例 えば時間−焦点面に取り付けられるマルチチャンネル板検出器を用いて検出し得 る。 前述のように、２組のそらせ板Ｄ₁、Ｄ₂を用いて、ＴＯＦ質量分析計に入るイ オンの入射角∝を制御し得る。第二の組のそらせ板Ｄ₂の特別な機能は、検出器 でのイオンの空間的拡散を低減することであり、これにより全イオンが検出され る。その終わりまで、そ らせ板Ｄ₂は全イオンを検出器で受理される静電偏向イオンに当てる。原則とし て、全質量スペクトルを構成する全非解離前駆体イオン及びフラグメントイオン を収集することができる。 この形態のエネルギー非依存性イオン鏡の特徴は、解離セル４０を基底ポテン シャルに保持し得ることであり、イオンビームの遅滞及びその後の空間的脱収束 の必要がないようにし、あらゆるエネルギー依存性抽出光学の必要がないように する。 さらに別の実施態様では、二次場は軸、例えばＸ軸について回転対称を有する 。このような場は、円錐電極面を有する１つの電極と、円錐電極面に面した双曲 線又は球面電極面を有する第二電極から成る電極構造により生成される。第二電 極は第一電極に関して遅延ポテンシャルで保持される。 上記のようなタンデム質量分析系は、大型分子、例えば生物学的及びポリマー 標本の構造分析に特別な用途を見出す。イオン鏡を徹イオンの飛行時間がその質 量対電荷比に依っており、そしてそれらのエネルギーとは全く無関係であるため 、イオンが前駆体対イオンに及ぼすイオン集束器の作用によるそのエネルギーの 実質的拡散を受ける場合でさえ、高度質量分解が得られる。 本発明の第二の実施態様をここに記載するが、これは第一の実施態様と似てい る。第一の実施態様との差異のみを記載し、等価の特徴に関しては同一参考文献 番号を用いる。 第二の実施態様は、一次飛行時間型分析計がさらに異なる形態を取ることを除 いて第一の実施態様と同一である。等価の特徴に関しては同一参考文献番号を用 いる。第二の実施態様の一次飛行時間型質量分析計の最初の部分は、静電レンズ ８０を包含し、この後に平面イオン鏡が提供され、これは光学強度０を示す。こ れは２つの平行な平面荷電グリッド９２の形態をとり、一方が他方の上に提供さ れる。各グリッドの要素９４は、静電レンズ８０からのイオンの光学経路に垂直 に小さい角度で提供される。イオンは鏡９３に反射されて、一次静電レンズ８０ と同一であるさらに別の静電レンズ９６を通り抜ける。次にイオンは解離セル４ ０に向かう。静電レンズ８０及び９６は必要な空間的収束を達成するのに役立つ 。 第三の実施態様は第一の実施態様と同様であるが、但し、一次タンデム質量分 析計２０は４つのトロイド状静電分析計の形態を取らず、その代わりに単一静電 レンズ８０を包含する。レンズは円筒管の形態で、これは数kVの上昇ポテンシャ ルで存在し、地面に接続される周囲管状囲い又は遮蔽８２を有する。使用に際し ては、およそ短い持続時間のレーザーパルスをレンズ８６を通して収束させ、標 的物質８８に向ける。表面の標的物質８８の一部を揮発させる。標的物質８８上 のレーザー収束点に隣接した２つの近い間隔で開口したプレート９０は、標的物 質イオンの発射「雲」が静電レンズ８０及び装置の残りの部分に向けられるよう に順次反らされるポテンシャルで標的物質と一緒にホモジネートされる。 各々の実施態様における一次飛行時間型質量分析計は、二次質量分析計５０の 入口で、又は入口近くで空間的収束が可能である。時間収束も提供され、これら の特徴により３つの実施態様の装置は既存の装置より優れた分解能の有意の改良 を提供し得る。 時間収束と共在する空間的収束は、高分解能を示すためには二次場鏡にとって 不可欠な要件である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＤＥ， ＤＫ，ＥＳ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，ＩＴ，ＬＵ，Ｍ Ｃ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ，ＣＦ，ＣＧ ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＭＬ，ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ， ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＫＥ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＺ，ＵＧ)， ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，Ｃ Ｈ，ＣＮ，ＣＺ，ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ ，ＧＥ，ＨＵ，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ， ＫＺ，ＬＫ，ＬＲ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，Ｍ Ｎ，ＭＷ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＴ， ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ (72)発明者 レイノルズ，デビット ジョン イギリス国，コベントリー シーブイ５ ６ビージェイ，サー ヘンリー パークス ロード 106 (72)発明者 マカロフ，アレキサンダー アレクシービ チ イギリス国，コベントリー シーブイ３ ６ジェイジー，アンカーウェイ ロード 106

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．イオン供給源、一次飛行時間型手段、一次飛行時間型手段からイオンを解 離してフラグメントイオンを生成するための手段、及び二次飛行時間型手段の順 次配列から成るタンデム質量分析装置であって、二次飛行時間型手段が装置の光 軸に沿って反射し実質的二次的場を生じるよう配列されるイオン鏡を包含し、一 次飛行時間型手段がイオン鏡の入口又は入口近くにイオンの空間的収束を提供す るための静電場手段を包含する装置。 ２．イオン鏡が装置の光軸に沿って放物線場を生じるよう配列される請求項１ 載のタンデム質量分析装置。 ３．イオン源がイオンのパルス化ビームを発射するよう配列される請求項１又 は２記載のタンデム質量分析装置。 ４．イオンをイオンのパルスに圧縮又は集束するための手段を包含する請求項 １、２又は３記載のタンデム質量分析装置。 ５．イオン集束手段が一次飛行時間型手段により選択されたイオンのパルスが 集束器区域に入る入口、並びにパルスが集束器区域を出る出口を有する集束器区 域を限定し、集束器区域に入った時に静電加速又は減速力をパルス中のイオンに 適用し、それにより集束器区域の出口からのそれらの分離に比例してより高又は 低エネルギーにイオンを加速又は減速するよう操作可能である静電手段を包含す る請求項４記載のタンデム質量分析装置。 ６．イオン集束手段の静電手段がそれぞれの電気メッキ層を集束器区域への入 口又はそこからの出口に包含する請求項５記載のタンデム質量分析装置。 ７．一次飛行時間型手段が光軸に対して正常な拡散、機械のこうじくに沿った 拡散、パケット内のイオンのエネルギーの拡散及び時 間的収束に関して等圧イオンパケットの収束を提供するよう配列される前記請求 項のいずれかに記載のタンデム質量分析装置。 ８．一次飛行時間型手段が複数のトロイド状又は円筒状静電装置の逐次Ｓ形立 体配置を包含する前記請求項のいずれかに記載のタンデム質量分析装置。 ９．一次飛行時間型手段が２、３又は４つの上記静電装置を包含する請求項８ 記載のタンデム質量分析装置。 １０．一次飛行時間型手段が静電レンズを包含する請求項１〜７のいずれかに 記載のタンデム質量分析装置。 １１．イオン源がイオンを静電レンズ中に加速するための静電手段を含む請求 項１０記載のタンデム質量分析装置。 １２．静電レンズが上昇ポテンシャルで軸対称体を包含する請求項１０又は１ １記載のタンデム質量分析装置。 １３．一次飛行時間型手段が静電レンズの後にイオン鏡をさらに包含する請求 項１０、１１又は１２記載のタンデム質量分析装置。 １４．一次飛行時間型手段がイオン鏡の後に二次静電レンズをさらに包含する 請求項１３記載のタンデム質量分析装置。 １５．イオン鏡がグリッドのない平面鏡で光学強度が実質的に０である請求項 １３又は１４記載のタンデム質量分析装置。