JPH1049866A - Texture working method for substrate for magnetic disk - Google Patents

Texture working method for substrate for magnetic disk

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JPH1049866A
JPH1049866A JP20825596A JP20825596A JPH1049866A JP H1049866 A JPH1049866 A JP H1049866A JP 20825596 A JP20825596 A JP 20825596A JP 20825596 A JP20825596 A JP 20825596A JP H1049866 A JPH1049866 A JP H1049866A
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JP
Japan
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polishing
substrate
tape
magnetic disk
slurry
Prior art date
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Pending
Application number
JP20825596A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Yoshimoto
武史 吉本
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Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a texture working method which prevents a polishing powder from being left after a texture was worked, which cleans a disk-shaped substrate, and which enhances the surface characteristic of the substrate by pressing four polishing tapes by contact rollers so as to be run on both the surface and the rear of the substrate which is being turned. SOLUTION: Two each of polishing tapes 2 in a total of four tapes are pressed by contact rollers 3 and via roller suppression cylinders 4 onto the surface and the rear of a disk-shaped substrate 1 which is being turned in the direction of an arrow A. At the same time, a polishing slurry in which isolated polishing particles are suspended is supplied by a polishing-liquid nozzle 5 to the polishing side of every polishing tape 2, and a slurry polishing operation is performed. The polishing tapes 2 are run in the direction of an arrow B, they are moved back and forth in the direction of an arrow C by the back-and-forth movement of the contact rollers 3, and the front face of the substrate 1 is polished. Thereby, stripe traces which are polished and formed on the substrate 1 are formed at their angle of crossing of 10 to 40 deg.. Thereby, it is possible to prevent a polishing powder from being left on the surface of the substrate after a texture is worked, and a magnetic disk which is highly clean and which is excellent in a surface characteristic can be manufactured at a good yield.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク用基板
のテクスチャー加工方法に係り、特に、テクスチャー加
工後の基板表面の研磨粉の残留を防止して製品歩留りを
飛躍的に向上させる方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for texturing a substrate for a magnetic disk, and more particularly to a method for preventing polishing powder from remaining on the surface of a substrate after texturing to dramatically improve the product yield.

【0002】[0002]

【従来の技術】コンピュータ等の外部記憶装置として用
いられる磁気ディスクとしては、一般に、アルミニウム
合金基板にアルマイト処理やNi−Pメッキ等の非磁性
メッキ処理を施した後に、Cr等の下地層を形成し、次
いでCo系合金の磁性層を形成し、更に炭素質の保護層
を形成されたものが使用されている。
2. Description of the Related Art Generally, a magnetic disk used as an external storage device of a computer or the like is formed by subjecting an aluminum alloy substrate to a non-magnetic plating treatment such as alumite treatment or Ni-P plating and then forming an underlayer such as Cr. Then, a magnetic layer of a Co-based alloy is formed, and a carbonaceous protective layer is further formed.

【0003】近年、このような磁気ディスクについては
高密度化が図られ、それに伴ない、磁気ディスクと磁気
ヘッドとの間隔、即ち浮上量は益々小さくなり、最近で
は0.15μm以下が要求されている。このように磁気
ヘッドの浮上量が著しく小さいため、磁気ディスク面に
突起があるとヘッドクラッシュを招き、ディスク表面を
傷つけることがある。また、ヘッドクラッシュに至らな
いような微小な突起でも情報の読み書きの際の種々のエ
ラーの原因となり易い。このため、磁気ディスクの製造
においては、基板へのゴミ等の異物(パーティクル)付
着による表面欠陥を低減することが重要となっている。
In recent years, the density of such magnetic disks has been increased, and as a result, the distance between the magnetic disk and the magnetic head, that is, the flying height, has become smaller and smaller. I have. As described above, since the flying height of the magnetic head is extremely small, if there is a projection on the magnetic disk surface, a head crash may be caused, and the disk surface may be damaged. Further, even a minute protrusion that does not lead to a head crash tends to cause various errors when reading and writing information. For this reason, in the manufacture of a magnetic disk, it is important to reduce surface defects due to the attachment of foreign matter (particles) such as dust to a substrate.

【0004】一方、磁気ディスクは大容量化、高密度化
と並行して小型化も進められており、スピンドル回転用
のモーター等も益々小さくなっている。このため、モー
ターのトルクが不足し、磁気ヘッドが磁気ディスク面に
固着したまま浮上しないという現象が生じ易い。この磁
気ヘッドの固着を、磁気ヘッドと磁気ディスク表面との
接触を小さくすることにより防止する手段として、磁気
ディスクの基板表面に微細な溝を形成する、テクスチャ
ー加工と称する表面加工を施す処理が行われている。
On the other hand, the size of magnetic disks has been reduced in parallel with the increase in capacity and density, and motors for rotating spindles and the like have become smaller. For this reason, a phenomenon in which the torque of the motor is insufficient and the magnetic head does not fly while being fixed to the magnetic disk surface is likely to occur. As means for preventing the sticking of the magnetic head by reducing the contact between the magnetic head and the surface of the magnetic disk, a process of forming a fine groove on the substrate surface of the magnetic disk and performing surface processing called texture processing is performed. Have been done.

【0005】従来、基板のテクスチャー加工方法として
は、例えば、固定砥粒式の研磨テープを用いるテープ研
削(特開平1−86320号公報等)や遊離砥粒のスラ
リーを研磨テープ表面に付着させて行うスラリー研削
(特開平3−147518号公報)等が知られている。
Conventionally, as a method of texturing a substrate, for example, tape grinding using a fixed abrasive type polishing tape (Japanese Patent Laid-Open No. 1-86320) or a slurry of free abrasive particles is adhered to the surface of the polishing tape. Slurry grinding (Japanese Patent Laid-Open No. 3-147518) and the like are known.

【0006】このようなテクスチャー加工を施すことに
より、基板表面には研磨粉(微細な研磨砥粒)が残留す
ることとなる。このため、この研磨粉を除去するため
に、テクスチャー加工後の基板はスクラブ洗浄及び超音
波洗浄といった洗浄処理に供する。
[0006] By performing such texture processing, polishing powder (fine abrasive grains) remains on the substrate surface. Therefore, in order to remove the polishing powder, the substrate after the texture processing is subjected to cleaning processing such as scrub cleaning and ultrasonic cleaning.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】前述の如く、磁気ディ
スクの高密度化に伴い、基板表面の欠陥を低減するため
に、基板表面のゴミ等の異物は極力少なくすることが必
要とされる。
As described above, as the density of a magnetic disk increases, it is necessary to reduce foreign matter such as dust on the substrate surface as much as possible in order to reduce defects on the substrate surface.

【0008】しかしながら、従来のテクスチャー加工方
法では、加工後に基板表面に残留する研磨粉が多いこと
から、この研磨粉を後の洗浄工程で効率的に除去し得な
い。そして、洗浄工程で除去し得ずに残留した研磨粉
が、ごく微量であっても最終的な製品欠陥の原因とな
り、このことが製品歩留りの低下を引き起こしていた。
However, in the conventional texture processing method, since a large amount of polishing powder remains on the substrate surface after processing, the polishing powder cannot be efficiently removed in a subsequent cleaning step. Even if the amount of the polishing powder that cannot be removed in the cleaning step is very small, it causes a final product defect, which causes a decrease in product yield.

【0009】本発明は上記従来の問題点を解決し、テク
スチャー加工後の基板表面の研磨粉の残留を防止して、
製品歩留りを飛躍的に向上させることができる磁気ディ
スク用基板のテクスチャー加工方法を提供することを目
的とする。
The present invention solves the above-mentioned conventional problems and prevents the polishing powder from remaining on the surface of the substrate after texture processing.
It is an object of the present invention to provide a method of texturing a magnetic disk substrate that can dramatically improve product yield.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク用
基板のテクスチャー加工方法は、磁気ディスク用基板に
テクスチャー加工を施す方法において、該磁気ディスク
用基板の表面を研磨テープとクリーニングテープとを用
いてテクスチャー加工する方法であって、該クリーニン
グテープを該基板の径方向に往復動させることを特徴と
する。
A method of texturing a magnetic disk substrate according to the present invention is a method of texturing a magnetic disk substrate, wherein the surface of the magnetic disk substrate is polished using a polishing tape and a cleaning tape. Wherein the cleaning tape is reciprocated in a radial direction of the substrate.

【0011】研磨テープと共にクリーニングテープを用
い、このクリーニングテープを基板の径方向に往復動さ
せた状態でテクスチャー加工を行うことにより、研磨砥
粒から発生した微細な研磨粉をクリーニングテープで効
率的に除去することができる。
By using a cleaning tape together with the polishing tape and performing texture processing while reciprocating the cleaning tape in the radial direction of the substrate, fine polishing powder generated from abrasive grains can be efficiently removed by the cleaning tape. Can be removed.

【0012】このため、テクスチャー加工後の基板表面
に残留する研磨粉の量は大幅に低減され、テクスチャー
加工後の洗浄処理で異物の付着が殆どない高清浄な基板
とすることができる。
Therefore, the amount of polishing powder remaining on the surface of the substrate after the texture processing is greatly reduced, and a highly clean substrate with almost no adhesion of foreign matter in the cleaning processing after the texture processing can be obtained.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下に本発明の磁気ディスク用基
板のテクスチャー加工方法の実施の形態を説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a method for texturing a magnetic disk substrate according to the present invention will be described below.

【0014】本発明における磁気ディスク用基板として
は、一般にアルミニウム合金からなる基板が用いられ、
通常、該アルミニウム合金基板を所定の厚さに加工した
後、その表面を鏡面加工してから、基板表面に非磁性金
属、例えばNi−P合金又はNi−Cu−P合金等を無
電解メッキ処理等により約5〜20μm程度の膜厚に成
膜して表面層を形成したものが用いられる。この基板
は、その表面層上にポリッシュ加工を施した後、テクス
チャー加工を施し、特定の凹凸と条痕パターンを形成す
るのが一般的である。
A substrate made of an aluminum alloy is generally used as the magnetic disk substrate in the present invention.
Usually, after processing the aluminum alloy substrate to a predetermined thickness, the surface thereof is mirror-finished, and then a nonmagnetic metal, for example, a Ni-P alloy or a Ni-Cu-P alloy is electroless-plated on the substrate surface. For example, a film having a thickness of about 5 to 20 μm to form a surface layer is used. In general, this substrate is polished on its surface layer and then textured to form specific irregularities and streak patterns.

【0015】ポリッシュ加工は、例えば、表面に遊離砥
粒を付着して浸み込ませたポリッシュパッドの間に基板
を挟み込み、界面活性剤水溶液等の研磨液を補給しなが
ら実施される。通常の場合、このようなポリッシュ加工
により、基板の表面層を2〜5μm程度ポリッシュして
その表面を平均粗さRaが50Å以下、望ましくは30
Å以下に鏡面仕上げする。
The polishing is carried out, for example, by sandwiching a substrate between polishing pads having free abrasive grains attached to and impregnated on the surface thereof, and replenishing a polishing liquid such as a surfactant aqueous solution. In a normal case, the surface layer of the substrate is polished by about 2 to 5 μm by such a polishing process, and the surface thereof has an average roughness Ra of 50 ° or less, preferably 30 ° or less.
鏡 Mirror finish below.

【0016】本発明の磁気ディスク用基板のテクスチャ
ー加工方法は、このような磁気ディスク用基板のテクス
チャー加工に当り研磨テープとクリーニングテープとを
用い、該クリーニングテープを基板の径方向に往復動さ
せるものであるが、具体的には、遊離砥粒のスラリーを
研磨テープに付着させて行うスラリー研削で第1段のテ
クスチャー加工とこの第1段のテクスチャー加工後の仕
上げ処理としての第2段のテクスチャー加工とを行い、
このうち、第2段のテクスチャー加工を研磨テープとク
リーニングテープとを用いて実施するのが好ましい。
The method for texturing a magnetic disk substrate of the present invention uses a polishing tape and a cleaning tape for texturing the magnetic disk substrate, and reciprocates the cleaning tape in the radial direction of the substrate. Specifically, the first-stage texture processing is performed by slurry grinding performed by attaching a slurry of loose abrasive grains to a polishing tape, and the second-stage texture processing is performed as a finishing process after the first-stage texture processing. Processing and
Of these, it is preferable to perform the second-stage texture processing using a polishing tape and a cleaning tape.

【0017】以下に、このような本発明の実施の形態に
ついて、図面を参照して詳細に説明する。
Hereinafter, such an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0018】図1(a)は第1段のテクスチャー加工を
説明する平面図であり、図1(b)は同側面図である。
図2は第2段のテクスチャー加工を説明する平面図であ
る。図1,2において、同一機能を奏する部材には同一
符号を付してある。
FIG. 1A is a plan view for explaining the first-stage texture processing, and FIG. 1B is a side view of the same.
FIG. 2 is a plan view for explaining the second-stage texture processing. In FIGS. 1 and 2, members having the same function are denoted by the same reference numerals.

【0019】第1段のテクスチャー加工では、図1の如
く、矢印Aの方向に回転しているディスク状基板1の表
裏両面に、各々2本ずつ、計4本の研磨テープ2をコン
タクトローラ3で押し付けると共に、研磨テープ2の研
磨面側に研磨液ノズル5より、遊離砥粒を懸濁させてな
る研磨スラリーを供給してスラリー研削を行う。コンタ
クトローラ3はローラ押えシリンダ4により基板1の表
面に研磨テープ2を所定の力で押圧している。研磨テー
プ2は矢印Bの方向に走行しており、基板1の面には常
に新しいテープ面が接触する状態で研磨される。また、
研磨テープ2はコンタクトローラ3の往復動により矢印
Cの方向に往復動(振動)して基板1の全面を研磨でき
ると共に、基板1上に研磨テープ2により研磨されて形
成される条痕の交差する角度(クロス角度)が10〜4
0°程度の角度を有するように構成されている。
In the first stage of the texture processing, as shown in FIG. 1, a total of four polishing tapes 2, two on each of the front and back surfaces of a disk-shaped substrate 1 rotating in the direction of arrow A, And a polishing slurry in which free abrasive grains are suspended is supplied from the polishing liquid nozzle 5 to the polishing surface side of the polishing tape 2 to perform slurry grinding. The contact roller 3 presses the polishing tape 2 against the surface of the substrate 1 with a predetermined force by a roller pressing cylinder 4. The polishing tape 2 runs in the direction of arrow B, and is polished in such a manner that a new tape surface always contacts the surface of the substrate 1. Also,
The polishing tape 2 can reciprocate (vibrate) in the direction of arrow C by reciprocation of the contact roller 3 to polish the entire surface of the substrate 1 and, at the same time, the intersection of the traces formed by polishing the substrate 1 with the polishing tape 2 Angle (cross angle) is 10-4
It is configured to have an angle of about 0 °.

【0020】上記第1段のテクスチャー加工のスラリー
研削条件としては、遊離砥粒を懸濁した研磨スラリーの
砥粒濃度が0.05〜1.0重量%、研磨スラリーの供
給量が5〜30ml/分、基板の回転数が通常50〜5
00回/分、好ましくは100〜300回/分、研磨テ
ープの基板の径方向への往復動数(オシレーション振動
数)が50回/分以上、好ましくは100〜5000回
/分、シリンダの押付圧力が1.0〜3.0kg/cm
2 、研磨時間が5〜30秒、テープの送り速度が1〜1
0mm/秒の範囲内である。
The conditions for slurry grinding in the first stage of texturing are as follows: the polishing slurry in which free abrasive grains are suspended has an abrasive concentration of 0.05 to 1.0% by weight, and the supply amount of the polishing slurry is 5 to 30 ml. / Min, the number of rotations of the substrate is usually 50 to 5
00 times / minute, preferably 100 to 300 times / minute, the number of reciprocating movements (oscillation frequency) of the polishing tape in the radial direction of the substrate is 50 times / minute or more, preferably 100 to 5000 times / minute. Pressing pressure is 1.0 to 3.0 kg / cm
2. The polishing time is 5 to 30 seconds and the tape feeding speed is 1 to 1.
Within the range of 0 mm / sec.

【0021】なお、図1に示す方法においては、研磨テ
ープと基板との間に遊離砥粒を含有するスラリーを供給
しこのスラリーを研削の直前でテープ上に塗布している
が、スラリーは事前にテープ上に塗布して用いてもかま
わない。
In the method shown in FIG. 1, a slurry containing free abrasive grains is supplied between a polishing tape and a substrate, and this slurry is applied to the tape just before grinding, but the slurry is prepared in advance. It may be used after being coated on a tape.

【0022】本発明においては、上記第1段のテクスチ
ャー加工を施すことにより、基板表面の平均粗さRaが
50Å以下で、最大突起高さRpが400Å以下の凹凸
を形成し、かつ、形成された条痕の交差する角度(クロ
ス角度)が10〜40°、好ましくは10〜35°の条
痕パターンの表面形状を、基板表面に形成するのが望ま
しい。なお、ここで基板の表面形状は、JIS表面粗さ
(B0601)により規定された定義を用いる。
In the present invention, by performing the first-stage texture processing, irregularities having an average roughness Ra of the substrate surface of 50 ° or less and a maximum projection height Rp of 400 ° or less are formed and formed. It is desirable to form a surface pattern of a streak pattern having a crossing angle (cross angle) of 10 to 40 °, preferably 10 to 35 ° on the substrate surface. Here, the definition of the surface shape of the substrate is defined by JIS surface roughness (B0601).

【0023】このような表面平均粗さRa及び最大突起
高さRpは、上記スラリー研削条件、特に砥粒径、基板
回転数、テープ送り速度、研磨テープの往復動数(オシ
レーション振動数)、シリンダの押付圧力、研磨時間を
上記範囲内で適宜調整することにより達成できる。
The surface average roughness Ra and the maximum projection height Rp are determined by the above-mentioned slurry grinding conditions, particularly, the abrasive grain size, the substrate rotation speed, the tape feed speed, the reciprocating number of the polishing tape (oscillation frequency), This can be achieved by appropriately adjusting the pressing pressure of the cylinder and the polishing time within the above ranges.

【0024】一方、テクスチャーの条痕が交差する角度
(クロス角度)は、特に基板回転数と研磨テープの往復
動数(オシレーション振動数)を上記範囲内で調整する
ことにより達成することができる。
On the other hand, the angle at which the texture streaks intersect (cross angle) can be achieved by adjusting the number of rotations of the substrate and the number of reciprocating movements of the polishing tape (oscillation frequency) in the above range. .

【0025】第1段のテクスチャー加工の研磨テープと
しては、例えばナイロン、アクリル、セルロース、ポリ
エステル、レーヨン、或いはこれらを組み合わせた材質
よりなる不織布テープが用いられる。
As the first-stage textured polishing tape, for example, a non-woven fabric tape made of a material such as nylon, acrylic, cellulose, polyester, rayon, or a combination thereof is used.

【0026】また、研磨テープと共に用いる遊離砥粒と
しては、例えば、WA(ホワイトアルミナ)系、SiC
(シリコンカーバイト)系、ダイヤモンド系等を用いる
ことができ、砥粒径0.1〜10μmの砥粒が好適に用
いられる。このような遊離砥粒は、液体(水又は水をベ
ースとする液体)中に分散剤と共に懸濁させた研磨スラ
リーとして用いられる。
Examples of the free abrasive used together with the polishing tape include WA (white alumina), SiC
A (silicon carbide) type, a diamond type, or the like can be used, and abrasive grains having an abrasive particle diameter of 0.1 to 10 μm are preferably used. Such loose abrasives are used as a polishing slurry suspended in a liquid (water or water-based liquid) with a dispersant.

【0027】上記第1段のテクスチャー加工後の第2段
のテクスチャー加工は、浮上特性等をより一層改善する
ために実施される。この第2段のテクスチャー加工は、
図2に示す如く、研磨テープ2を用いる第1ステップと
クリーニングテープ10を用いる第2ステップとで実施
される。
The texturing of the second stage after the texturing of the first stage is performed to further improve the floating characteristics and the like. This second stage of texturing is
As shown in FIG. 2, the first step using the polishing tape 2 and the second step using the cleaning tape 10 are performed.

【0028】この第2段のテクスチャー加工で用いる研
磨テープ2としては、WA系、SiC系、ダイヤモンド
等の遊離砥粒を用いた研磨テープ等が使用されるが、W
A系、GC(グリーンカーボン)系等の固定砥粒式の研
磨テープを用いても良い。
As the polishing tape 2 used in the second-stage texture processing, a polishing tape using free abrasive grains such as a WA-based, SiC-based, or diamond is used.
A-type, GC (green carbon) -based fixed abrasive grain type polishing tape may be used.

【0029】この第2段のテクスチャー加工は、前記第
1段のテクスチャー加工において形成された表面形状の
平均粗さRaやクロス角度を実質的に変化させることな
く、基板表面のバリやカエリ等の突起を研磨により選択
的に除去し、該表面の最大突起高さRpが望ましくは5
0〜250Å程度となるように行うのが好ましい。
This second-stage texturing is performed without substantially changing the average roughness Ra or the cross angle of the surface shape formed in the first-stage texturing, and is effective in removing burrs and burrs on the substrate surface. The protrusions are selectively removed by polishing, and the maximum protrusion height Rp of the surface is preferably 5
It is preferable to perform the heating so as to be about 0 to 250 °.

【0030】この第2段のテクスチャー加工に、特に遊
離砥粒と研磨テープとを用いる場合、研磨テープとして
はセルロース、ナイロン、レーヨン等の不織布テープが
好適に用いられる。また、遊離砥粒としては、例えば、
砥粒径0.1〜6μmのWA系、SiC系、ダイヤモン
ド系等の砥粒が用いられ、該遊離砥粒は水をベースとす
る液体中に分散剤と共に懸濁させた研磨スラリーとして
用いられる。
In the second stage of texturing, particularly when free abrasive grains and a polishing tape are used, a nonwoven fabric tape such as cellulose, nylon, rayon or the like is suitably used as the polishing tape. Also, as the loose abrasive, for example,
WA-based, SiC-based, diamond-based abrasive grains having an abrasive grain diameter of 0.1 to 6 μm are used, and the free abrasive grains are used as a polishing slurry suspended in a water-based liquid together with a dispersant. .

【0031】一方、クリーニングテープとしては、アク
リル、セルロース、レーヨン、ポリエステル、ナイロン
等を用いるのが好ましい。
On the other hand, it is preferable to use acrylic, cellulose, rayon, polyester, nylon or the like as the cleaning tape.

【0032】この第2段のテクスチャー加工の装置とし
ては、第1段のテクスチャー加工で用いるものと同様の
装置が用いられ、第1ステップ及び第2ステップにおい
て、それぞれ研磨テープ2及びクリーニングテープ10
をコンタクトローラ3の往復動により矢印Cの方向に往
復動(振動)させてテクスチャー加工を行う。
As the second-stage texture processing apparatus, the same apparatus as that used in the first-stage texture processing is used. In the first and second steps, the polishing tape 2 and the cleaning tape 10 are used, respectively.
Is reciprocated (oscillated) in the direction of arrow C by the reciprocating motion of the contact roller 3 to perform texture processing.

【0033】第2段のテクスチャー加工条件としては、
特に制限されるものではなく、通常次のような条件が採
用される。
The texture processing conditions in the second stage include:
There is no particular limitation, and the following conditions are usually employed.

【0034】第1ステップ 基板回転数:50〜300rpm 研磨スラリーの砥粒濃度:0.1〜10重量% 研磨スラリーの供給量:5〜30ml/分 研磨テープの往復動数(オシレーション振動数):50
〜400回/分 研磨テープのシリンダ押付圧力:1.0〜3.0kg/
cm2 研磨テープの送り速度:0.5〜10.0mm/秒 研磨時間:2〜10秒第2ステップ 基板回転数:50〜300rpm クリーニングテープの往復動数(オシレーション振動
数):30〜300回/分 クリーニングテープのシリンダ押付圧力:0.5〜2.
0kg/cm2 クリーニングテープの送り速度:0.5〜10.0mm
/秒 クリーニング時間:2〜10秒 なお、クリーニングテープの往復動幅(移動距離)は、
直径65〜95mmの基板に対して、幅38〜60mm
のクリーニングテープを用いる場合、1〜10mm程度
とするのが好ましい。
First step Substrate rotation speed: 50-300 rpm Abrasive grain concentration of polishing slurry: 0.1-10% by weight Supply amount of polishing slurry: 5-30 ml / min Reciprocating number of polishing tape (oscillation frequency) : 50
Up to 400 times / min Cylinder pressing pressure of polishing tape: 1.0 to 3.0 kg /
Feed speed of cm 2 polishing tape: 0.5 to 10.0 mm / sec Polishing time: 2 to 10 seconds Second step substrate rotation speed: 50 to 300 rpm Reciprocating number of cleaning tape (oscillation frequency): 30 to 300 Times / minute Cylinder pressing pressure of cleaning tape: 0.5-2.
Feeding speed of 0 kg / cm 2 cleaning tape: 0.5 to 10.0 mm
/ Sec Cleaning time: 2 to 10 seconds The reciprocating width (moving distance) of the cleaning tape is
38-60 mm width for 65-95 mm diameter substrate
When the cleaning tape is used, the thickness is preferably about 1 to 10 mm.

【0035】このようなテクスチャー加工を施した後は
常法に従って洗浄、乾燥し、下地層、磁性層及び保護層
を形成して磁気ディスクを製造する。
After performing such a texture processing, the magnetic disk is manufactured by washing and drying according to a conventional method to form an underlayer, a magnetic layer and a protective layer.

【0036】下地層は、通常の場合、Crをスパッタリ
ングして形成する。このCr下地層の膜厚は通常50〜
2000Åの範囲とされる。
The underlayer is usually formed by sputtering Cr. The thickness of the Cr underlayer is usually 50 to
The range is 2000 mm.

【0037】磁性層としては、Co−Cr,Co−N
i、或いは、Co−Cr−X,Co−Ni−X,Co−
W−X等で表わされるCo系合金の薄膜層が好適であ
る。なお、ここでXとしては、Li,Si,Ca,T
i,V,Cr,Ni,As,Y,Zr,Nb,Mo,R
u,Rh,Ag,Sb,Hf,Ta,W,Re,Os,
Ir,Pt,Au,La,Ce,Pr,Nd,Pm,S
m、及び、Euよりなる群から選ばれる1種又は2種以
上の元素が挙げられる。
As the magnetic layer, Co—Cr, Co—N
i, or Co-Cr-X, Co-Ni-X, Co-
A thin film layer of a Co-based alloy represented by WX or the like is preferable. Here, X is Li, Si, Ca, T
i, V, Cr, Ni, As, Y, Zr, Nb, Mo, R
u, Rh, Ag, Sb, Hf, Ta, W, Re, Os,
Ir, Pt, Au, La, Ce, Pr, Nd, Pm, S
m and one or more elements selected from the group consisting of Eu.

【0038】このようなCo系合金からなる磁性層は、
通常、スパッタリング等の手段によって基板の下地層上
に被着形成され、その膜厚は、通常、100〜1000
Åの範囲とされる。
The magnetic layer made of such a Co-based alloy is
Usually, it is formed on the base layer of the substrate by means such as sputtering.
範 囲 range.

【0039】この磁性層上に形成される保護層としては
炭素質膜が好ましく、炭素質保護層は、通常、アルゴ
ン、He等の希ガスの雰囲気下又は少量の水素の存在下
で、カーボンをターゲットとしてスパッタリングにより
アモルフィス状カーボン膜や水素化カーボン膜として被
着形成される。この保護層の膜厚は、通常、50〜50
0Åの範囲とされる。なお、保護層上に、摩擦係数を小
さくするために、更に潤滑膜を形成しても良い。
As the protective layer formed on the magnetic layer, a carbonaceous film is preferable. The carbonaceous protective layer is usually formed by depositing carbon in an atmosphere of a rare gas such as argon or He or in the presence of a small amount of hydrogen. A target is formed by sputtering as an amorphous carbon film or a hydrogenated carbon film. The thickness of the protective layer is usually 50 to 50.
0 ° range. Note that a lubricating film may be further formed on the protective layer in order to reduce the coefficient of friction.

【0040】[0040]

【実施例】以下、実施例及び比較例を挙げて、本発明を
より詳細に説明するが、本発明はその要旨を超えない限
り、以下の実施例に限定されるものではない。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to the following Examples unless it exceeds the gist thereof.

【0041】実施例1 アルミニウム合金基板の表面にNi−P合金メッキ層を
形成した後、ポリッシュ加工を施した磁気ディスク用基
板(直径95mm)を、本発明に従ってテクスチャー加
工した。第1段のテクスチャー加工及び第2段のテクス
チャー加工の処理条件は次の通りである。
Example 1 After a Ni-P alloy plating layer was formed on the surface of an aluminum alloy substrate, a polished magnetic disk substrate (diameter: 95 mm) was textured according to the present invention. The processing conditions for the first-stage texture processing and the second-stage texture processing are as follows.

【0042】第1段のテクスチャー加工 基板回転数:300/分 研磨スラリー:平均粒径2.0μmのダイヤモンド系砥
粒の0.3重量%水スラリー 研磨スラリー供給量:1.2ml/分 研磨テープ材質:ナイロンパイル 研磨テープ送り速度:2.0mm/秒 研磨テープのオシレーション振動数:2000回/分 シリンダの押付圧力:2.0kg/cm2 研磨時間:10秒第2段のテクスチャー加工 [第1ステップ] 基板回転数:300回/分 研磨スラリー:平均粒径1μmのWA系砥粒の3重量%
水スラリー 研磨スラリー供給量:10ml/分 研磨テープ材質:セルロース 研磨テープ送り速度:5.0mm/秒 研磨テープのオシレーション振動数:70回/分 シリンダの押付圧力:1.5kg/cm2 研磨時間:5秒 [第2ステップ] 基板回転数:300回/分 クリーニングテープ材質:セルロース クリーニングテープ幅:45mm クリーニングテープ送り速度:5.0mm/秒 クリーニングテープのオシレーション振動数:70回/
分 シリンダの押付圧力:1.0kg/cm2 クリーニング時間:4秒 クリーニングテープの往復動幅:±1mm(図2におい
てクリーニングテープの長手方向中心線がC方向に左右
に往復動する距離が各々1mm) 上記テクスチャー加工は、第1段のテクスチャー加工に
より、クロス角度30°の条痕パターンを形成し、基板
の表面粗さ(Ra)50Å、最大突起高さRp250Å
とし、第2段のテクスチャー加工によりこのRaやクロ
ス角度を実質的に変えることなく、Rp200Åとする
ものである。
First stage textured substrate rotation speed: 300 / min. Polishing slurry: 0.3% by weight of water-based slurry of diamond-based abrasive grains having an average particle diameter of 2.0 μm. Polishing slurry supply amount: 1.2 ml / min. Material: Nylon pile Polishing tape feed speed: 2.0 mm / sec Oscillation frequency of polishing tape: 2000 times / min Cylinder pressing pressure: 2.0 kg / cm 2 Polishing time: 10 seconds Second stage texture processing [No. 1 step] Substrate rotation speed: 300 times / minute Polishing slurry: 3% by weight of WA-based abrasive grains having an average particle diameter of 1 μm
Water slurry Abrasive slurry supply amount: 10 ml / min Abrasive tape material: Cellulose Abrasive tape feed speed: 5.0 mm / sec Oscillation frequency of abrasive tape: 70 times / min Cylinder pressing pressure: 1.5 kg / cm 2 Polishing time : 5 seconds [2nd step] Substrate rotation speed: 300 times / minute Cleaning tape material: Cellulose Cleaning tape width: 45 mm Cleaning tape feed speed: 5.0 mm / sec Cleaning tape oscillation frequency: 70 times / minute
Min Cylinder pressing pressure: 1.0 kg / cm 2 Cleaning time: 4 seconds Cleaning tape reciprocating width: ± 1 mm (In FIG. 2, the distance in which the longitudinal center line of the cleaning tape reciprocates right and left in the C direction is 1 mm each. In the texturing, the first-stage texturing forms a streak pattern with a cross angle of 30 °, the surface roughness (Ra) of the substrate is 50 °, and the maximum protrusion height Rp250 °.
Rp is set to 200 ° without substantially changing the Ra and the cross angle by the second-stage texture processing.

【0043】テクスチャー加工後の基板についてグライ
ド検査を行い、歩留りを求めた。その結果、同条件で3
回測定した平均値は75.8%であった。
A glide test was performed on the substrate after the texture processing, and the yield was determined. As a result, 3
The average value measured 7 times was 75.8%.

【0044】比較例1 実施例1において、第2段のテクスチャー加工のクリー
ニングテープを往復動させなかったこと以外は同様にテ
クスチャー加工を行って同様にグライド検査の歩留り
(測定3回の平均値)を調べたところ、35.2%であ
った。
Comparative Example 1 In Example 1, except that the cleaning tape for the second stage of texturing was not reciprocated, texturing was performed in the same manner, and the yield of glide inspection was similarly calculated (average value of three measurements). Was 35.2%.

【0045】以上の結果より明らかなように、第2段の
テクスチャー加工において研磨テープとクリーニングテ
ープとを用い、クリーニングテープを基板の径方向に往
復動させることにより、第1段のテクスチャー加工で基
板に残留したダイヤモンド系砥粒を第2段のテクスチャ
ー加工で効果的に除去することができ、これにより歩留
りが大幅に向上する。
As is evident from the above results, the polishing tape and the cleaning tape are used in the second stage of texturing, and the cleaning tape is reciprocated in the radial direction of the substrate. The remaining diamond-based abrasive grains can be effectively removed by the second-stage texture processing, thereby greatly improving the yield.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上詳述した通り、本発明の磁気ディス
ク用基板のテクスチャー加工方法によれば、テクスチャ
ー加工後の基板表面の研磨粉の残留を防止することによ
り高清浄な磁気ディスク用基板を提供することができ
る。このため、本発明に従ってテクスチャー加工を施し
た磁気ディスク用基板によれば、表面特性に優れ、従っ
て、浮上特性及び耐摩耗特性に優れた磁気ディスクを高
い製品歩留りで製造することが可能となる。
As described in detail above, according to the method for texturing a magnetic disk substrate of the present invention, a highly clean magnetic disk substrate can be obtained by preventing polishing powder from remaining on the substrate surface after texturing. Can be provided. For this reason, according to the magnetic disk substrate textured according to the present invention, it is possible to manufacture a magnetic disk having excellent surface characteristics, and therefore, excellent flying characteristics and wear resistance with a high product yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る第1段のテクスチャー加工の実施
の形態を説明する図であって、(a)図は平面図、
(b)図は側面図である。
FIG. 1 is a view for explaining an embodiment of a first-stage texture processing according to the present invention, wherein FIG.
(B) The figure is a side view.

【図2】本発明に係る第2段のテクスチャー加工の実施
の形態を説明する平面図である。
FIG. 2 is a plan view illustrating an embodiment of a second-stage texture processing according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 研磨テープ 3 コンタクトローラ 4 ローラ押えシリンダ 5 研磨液ノズル 10 クリーニングテープ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Polishing tape 3 Contact roller 4 Roller holding cylinder 5 Polishing liquid nozzle 10 Cleaning tape

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁気ディスク用基板にテクスチャー加工
を施す方法において、 該磁気ディスク用基板の表面を研磨テープとクリーニン
グテープとを用いてテクスチャー加工する方法であっ
て、該クリーニングテープを該基板の径方向に往復動さ
せることを特徴とする磁気ディスク用基板のテクスチャ
ー加工方法。
1. A method for texturing a magnetic disk substrate, the method comprising texturing the surface of the magnetic disk substrate using a polishing tape and a cleaning tape, wherein the cleaning tape has a diameter equal to the diameter of the substrate. A texture processing method for a magnetic disk substrate characterized by reciprocating in a direction.
JP20825596A 1996-08-07 1996-08-07 Texture working method for substrate for magnetic disk Pending JPH1049866A (en)

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