JPH10143858A - Method for texturing substrate for magnetic disk - Google Patents
Method for texturing substrate for magnetic diskInfo
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- JPH10143858A JPH10143858A JP29506896A JP29506896A JPH10143858A JP H10143858 A JPH10143858 A JP H10143858A JP 29506896 A JP29506896 A JP 29506896A JP 29506896 A JP29506896 A JP 29506896A JP H10143858 A JPH10143858 A JP H10143858A
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は磁気ディスク用基板
のテクスチャー加工方法に係り、特に、テクスチャー加
工後の基板表面の研磨粉の残留を防止して製品歩留りを
飛躍的に向上させる方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for texturing a substrate for a magnetic disk, and more particularly to a method for preventing polishing powder from remaining on the surface of a substrate after texturing to dramatically improve the product yield.
【0002】[0002]
【従来の技術】コンピュータ等の外部記憶装置として用
いられる磁気ディスクとしては、一般に、アルミニウム
合金基板にアルマイト処理やNi−Pメッキ等の非磁性
メッキ処理を施した後に、Cr等の下地層を形成し、次
いでCo系合金の磁性層を形成し、更に炭素質の保護層
を形成されたものが使用されている。2. Description of the Related Art Generally, a magnetic disk used as an external storage device of a computer or the like is formed by subjecting an aluminum alloy substrate to a non-magnetic plating treatment such as alumite treatment or Ni-P plating and then forming an underlayer such as Cr. Then, a magnetic layer of a Co-based alloy is formed, and a carbonaceous protective layer is further formed.
【0003】近年、このような磁気ディスクについては
高密度化が図られ、それに伴ない、磁気ディスクと磁気
ヘッドとの間隔、即ち浮上量は益々小さくなり、最近で
は0.10μm以下が要求されている。このように磁気
ヘッドの浮上量が著しく小さいため、磁気ディスク面に
突起があるとヘッドクラッシュを招き、ディスク表面を
傷つけることがある。また、ヘッドクラッシュに至らな
いような微小な突起でも情報の読み書きの際の種々のエ
ラーの原因となり易い。このため、磁気ディスクの製造
においては、基板へのゴミ等の異物(パーティクル)付
着による表面欠陥を低減することが重要となっている。In recent years, the density of such a magnetic disk has been increased, and accordingly, the distance between the magnetic disk and the magnetic head, that is, the flying height has become smaller and smaller, and recently, 0.10 μm or less has been required. I have. As described above, since the flying height of the magnetic head is extremely small, if there is a projection on the magnetic disk surface, a head crash may be caused, and the disk surface may be damaged. Further, even a minute protrusion that does not lead to a head crash tends to cause various errors when reading and writing information. For this reason, in the manufacture of a magnetic disk, it is important to reduce surface defects due to the attachment of foreign matter (particles) such as dust to a substrate.
【0004】一方、磁気ディスクは大容量化、高密度化
と並行して小型化も進められており、スピンドル回転用
のモーター等も益々小さくなっている。このため、モー
ターのトルクが不足し、磁気ヘッドが磁気ディスク面に
固着したまま浮上しないという現象が生じ易い。この磁
気ヘッドの固着を、磁気ヘッドと磁気ディスク表面との
接触を小さくすることにより防止する手段として、磁気
ディスクの基板表面に微細な溝を形成する、テクスチャ
ー加工と称する表面加工を施す処理が行われている。On the other hand, the size of magnetic disks has been reduced in parallel with the increase in capacity and density, and motors for rotating spindles and the like have become smaller. For this reason, a phenomenon in which the torque of the motor is insufficient and the magnetic head does not fly while being fixed to the magnetic disk surface is likely to occur. As means for preventing the sticking of the magnetic head by reducing the contact between the magnetic head and the surface of the magnetic disk, a process of forming a fine groove on the substrate surface of the magnetic disk and performing surface processing called texture processing is performed. Have been done.
【0005】従来、基板のテクスチャー加工方法として
は、例えば、固定砥粒式の研磨テープを用いるテープ研
削(特開平1−86320号公報等)や遊離砥粒のスラ
リーを研磨テープ表面に付着させて行うスラリー研削
(特開平3−147518号公報)等が知られている。Conventionally, as a method of texturing a substrate, for example, tape grinding using a fixed abrasive type polishing tape (Japanese Patent Laid-Open No. 1-86320) or a slurry of free abrasive particles is adhered to the surface of the polishing tape. Slurry grinding (Japanese Patent Laid-Open No. 3-147518) and the like are known.
【0006】このようなテクスチャー加工を施すことに
より、基板表面には研磨粉(基板表面の研磨粉及び残留
研磨砥粒)が残留することとなる。このため、この研磨
粉を除去するために、テクスチャー加工後の基板はスク
ラブ洗浄及び超音波洗浄といった洗浄処理に供する。[0006] By performing such texture processing, polishing powder (polishing powder on the substrate surface and residual polishing abrasive grains) remains on the substrate surface. Therefore, in order to remove the polishing powder, the substrate after the texture processing is subjected to cleaning processing such as scrub cleaning and ultrasonic cleaning.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】前述の如く、磁気ディ
スクの高密度化に伴い、基板表面の欠陥を低減するため
に、基板表面のゴミ等の異物は極力少なくすることが必
要とされる。従って、テクスチャー加工で基板表面に付
着ないし埋まり込んだ研磨粉についても極力少なくする
ことが要求される。As described above, as the density of a magnetic disk increases, it is necessary to reduce foreign matter such as dust on the substrate surface as much as possible in order to reduce defects on the substrate surface. Therefore, it is required to reduce as much as possible the polishing powder adhered or embedded in the substrate surface by the texture processing.
【0008】しかしながら、従来のテクスチャー加工方
法では、加工後に基板表面に残留する研磨粉が多いこと
から、この研磨粉を後の洗浄工程で効率的に除去し得な
い。そして、洗浄工程で除去し得ずに残留した研磨粉
が、ごく微量であっても最終的な製品欠陥の原因とな
り、このことが製品歩留りの低下を引き起こしていた。However, in the conventional texture processing method, since a large amount of polishing powder remains on the substrate surface after processing, the polishing powder cannot be efficiently removed in a subsequent cleaning step. Even if the amount of the polishing powder that cannot be removed in the cleaning step is very small, it causes a final product defect, which causes a decrease in product yield.
【0009】本発明は上記従来の問題点を解決し、テク
スチャー加工後の基板表面の研磨粉の残留を大幅に低減
して、製品歩留りを飛躍的に向上させることができる磁
気ディスク用基板のテクスチャー加工方法を提供するこ
とを目的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems, and greatly reduces the amount of polishing powder remaining on the surface of the substrate after texture processing, thereby greatly improving the product yield. It is intended to provide a processing method.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク用
基板のテクスチャー加工方法は、磁気ディスク用基板に
テクスチャー加工を施す方法において、ダイアモンド砥
粒を用いてテクスチャー加工した後、アルミナ砥粒を用
いて砥粒洗浄を行うことを特徴とする。According to the present invention, there is provided a method of texturing a magnetic disk substrate, comprising the steps of: texturing a magnetic disk substrate using diamond abrasive grains; Abrasive cleaning.
【0011】ダイアモンド砥粒を用いたテクスチャー加
工終了後、直ちにアルミナ砥粒を用いた砥粒洗浄を実施
することにより、テクスチャー加工で基板表面に残留し
たダイアモンド砥粒等の研磨粉を効率的に除去すること
ができる。即ち、アルミナ砥粒は、ダイアモンド砥粒の
除去性能に優れ、テクスチャー加工後に残留するダイア
モンド砥粒を効率的に除去することができる。Immediately after the completion of the texturing using diamond abrasive grains, the abrasive grains such as diamond abrasive grains remaining on the substrate surface are efficiently removed by immediately executing abrasive cleaning using alumina abrasive grains. can do. That is, the alumina abrasive grains are excellent in the performance of removing diamond abrasive grains, and can efficiently remove diamond abrasive grains remaining after texture processing.
【0012】このため、テクスチャー加工後の基板表面
に残留する研磨粉の量は大幅に低減され、テクスチャー
加工後の洗浄処理で異物の付着が殆どない高清浄な基板
とすることができる。Therefore, the amount of polishing powder remaining on the surface of the substrate after the texture processing is greatly reduced, and a highly clean substrate with almost no adhesion of foreign matter in the cleaning processing after the texture processing can be obtained.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下に本発明の磁気ディスク用基
板のテクスチャー加工方法の実施の形態を説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a method for texturing a magnetic disk substrate according to the present invention will be described below.
【0014】本発明における磁気ディスク用基板として
は、一般にアルミニウム合金からなる基板が用いられ、
通常、該アルミニウム合金基板を所定の厚さに加工した
後、その表面を鏡面加工してから、基板表面に非磁性金
属、例えばNi−P合金又はNi−Cu−P合金等を無
電解メッキ処理等により約5〜20μm程度の膜厚に成
膜して表面層を形成したものが用いられる。この基板
は、その表面層上にポリッシュ加工を施した後、テクス
チャー加工を施し、特定の凹凸と条痕パターンを形成す
るのが一般的である。A substrate made of an aluminum alloy is generally used as the magnetic disk substrate in the present invention.
Usually, after processing the aluminum alloy substrate to a predetermined thickness, the surface thereof is mirror-finished, and then a nonmagnetic metal, for example, a Ni-P alloy or a Ni-Cu-P alloy is electroless-plated on the substrate surface. For example, a film having a thickness of about 5 to 20 μm to form a surface layer is used. In general, this substrate is polished on its surface layer and then textured to form specific irregularities and streak patterns.
【0015】ポリッシュ加工は、例えば、表面に遊離砥
粒を付着して浸み込ませたポリッシュパッドの間に基板
を挟み込み、界面活性剤水溶液等の研磨液を補給しなが
ら実施される。通常の場合、このようなポリッシュ加工
により、基板の表面層を2〜5μm程度ポリッシュして
その表面を平均粗さRaが50Å以下、望ましくは30
Å以下に鏡面仕上げする。The polishing is carried out, for example, by sandwiching a substrate between polishing pads having free abrasive grains attached to and impregnated on the surface thereof, and replenishing a polishing liquid such as a surfactant aqueous solution. In a normal case, the surface layer of the substrate is polished by about 2 to 5 μm by such a polishing process, and the surface thereof has an average roughness Ra of 50 ° or less, preferably 30 ° or less.
鏡 Mirror finish below.
【0016】本発明の磁気ディスク用基板のテクスチャ
ー加工方法は、このような磁気ディスク用基板のテクス
チャー加工に当り、ダイアモンド砥粒を用いてテクスチ
ャー加工した後、アルミナ砥粒を用いて砥粒洗浄を行う
ものであるが、具体的には、ダイアモンド遊離砥粒のス
ラリーを研磨テープに付着させて行うスラリー研削でテ
クスチャー加工を行い、このテクスチャー加工後に、ア
ルミナ砥粒のスラリーを付着させた多孔質テープと洗浄
液を供給したクリーニングテープとを用いた砥粒洗浄を
実施するのが好ましい。In the method of texturing a magnetic disk substrate according to the present invention, the texturing of the magnetic disk substrate is performed by using diamond abrasive grains, and then cleaning the abrasive grains by using alumina abrasive grains. Specifically, a porous tape to which a slurry of alumina abrasive grains is adhered after the texture processing is performed by slurry grinding performed by attaching a slurry of diamond free abrasive grains to a polishing tape, and after the texturing, It is preferable to perform abrasive cleaning using a cleaning tape supplied with a cleaning liquid.
【0017】以下に、このような本発明の実施の形態に
ついて、図面を参照して詳細に説明する。Hereinafter, such an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
【0018】図1(a)はテクスチャー加工を説明する
平面図であり、図1(b)は同側面図である。図2は砥
粒洗浄を説明する平面図である。図1,2において、同
一機能を奏する部材には同一符号を付してある。FIG. 1A is a plan view for explaining the texture processing, and FIG. 1B is a side view of the same. FIG. 2 is a plan view for explaining abrasive cleaning. In FIGS. 1 and 2, members having the same function are denoted by the same reference numerals.
【0019】テクスチャー加工では、図1の如く、矢印
Aの方向に回転しているディスク状基板1の表裏両面
に、各々2本ずつ、計4本の研磨テープ2をコンタクト
ローラ3で押し付けると共に、研磨テープ2の研磨面側
に研磨液ノズル5より、ダイアモンド遊離砥粒を懸濁さ
せてなる研磨スラリーを供給してスラリー研削を行う。
コンタクトローラ3はローラ押えシリンダ4により基板
1の表面に研磨テープ2を所定の力で押圧している。研
磨テープ2は矢印Bの方向に走行しており、基板1の面
には常に新しいテープ面が接触する状態で研磨される。
また、研磨テープ2はコンタクトローラ3の往復動によ
り矢印Cの方向に往復動(振動)して基板1の全面を研
磨できると共に、基板1上に研磨テープ2により研磨さ
れて形成される条痕の交差する角度(クロス角度)が1
0〜40°程度の角度を有するように構成されている。In the texturing process, as shown in FIG. 1, two polishing tapes 2 are pressed against the front and back surfaces of the disk-shaped substrate 1 rotating in the direction of arrow A by a total of four by a contact roller 3, A polishing slurry in which diamond free abrasive grains are suspended is supplied from the polishing liquid nozzle 5 to the polishing surface side of the polishing tape 2 to perform slurry grinding.
The contact roller 3 presses the polishing tape 2 against the surface of the substrate 1 with a predetermined force by a roller pressing cylinder 4. The polishing tape 2 runs in the direction of arrow B, and is polished in such a manner that a new tape surface always contacts the surface of the substrate 1.
The polishing tape 2 reciprocates (oscillates) in the direction of arrow C by reciprocating the contact roller 3 so that the entire surface of the substrate 1 can be polished, and at the same time, stripes formed by polishing the substrate 1 with the polishing tape 2. Crossing angle (cross angle) is 1
It is configured to have an angle of about 0 to 40 °.
【0020】上記テクスチャー加工のスラリー研削条件
としては、ダイアモンド砥粒を懸濁した研磨スラリーの
砥粒濃度が0.05〜1.0重量%、研磨スラリーの供
給量が5〜30ml/分、基板の回転数が通常50〜5
00回/分、好ましくは100〜300回/分、研磨テ
ープの基板の径方向への往復動数(オシレーション振動
数)が50回/分以上、好ましくは100〜5000回
/分、シリンダの押付圧力が1.0〜3.0kg/cm
2 、研磨時間が5〜30秒、テープの送り速度が1〜1
0mm/秒の範囲内である。The slurry grinding conditions for the above-mentioned texture processing are as follows: the abrasive slurry concentration in which diamond abrasive grains are suspended is 0.05 to 1.0% by weight; the supply amount of the polishing slurry is 5 to 30 ml / min; Rotation speed is usually 50-5
00 times / minute, preferably 100 to 300 times / minute, the number of reciprocating movements (oscillation frequency) of the polishing tape in the radial direction of the substrate is 50 times / minute or more, preferably 100 to 5000 times / minute. Pressing pressure is 1.0 to 3.0 kg / cm
2. The polishing time is 5 to 30 seconds and the tape feeding speed is 1 to 1.
Within the range of 0 mm / sec.
【0021】なお、図1に示す方法においては、研磨テ
ープと基板との間にダイアモンド砥粒を含有するスラリ
ーを供給しこのスラリーを研削の直前でテープ上に塗布
しているが、スラリーは事前にテープ上に塗布して用い
てもかまわない。In the method shown in FIG. 1, a slurry containing diamond abrasive grains is supplied between a polishing tape and a substrate, and this slurry is applied to the tape immediately before grinding. It may be used after being coated on a tape.
【0022】本発明においては、上記テクスチャー加工
を施すことにより、基板表面の平均粗さRaが50Å以
下で、最大突起高さRpが400Å以下の凹凸を形成
し、かつ、形成された条痕の交差する角度(クロス角
度)が10〜40°、好ましくは10〜35°の条痕パ
ターンの表面形状を、基板表面に形成するのが望まし
い。なお、ここで基板の表面形状は、JIS表面粗さ
(B0601)により規定された定義を用いる。In the present invention, by performing the above-described texture processing, irregularities having an average roughness Ra of the substrate surface of 50 ° or less and a maximum projection height Rp of 400 ° or less are formed, and It is desirable to form a surface shape of a streak pattern having an intersection angle (cross angle) of 10 to 40 °, preferably 10 to 35 ° on the substrate surface. Here, the definition of the surface shape of the substrate is defined by JIS surface roughness (B0601).
【0023】このような表面平均粗さRa及び最大突起
高さRpは、上記スラリー研削条件、特に砥粒径、基板
回転数、テープ送り速度、研磨テープの往復動数(オシ
レーション振動数)、シリンダの押付圧力、研磨時間を
上記範囲内で適宜調整することにより達成できる。The surface average roughness Ra and the maximum projection height Rp are determined by the above-mentioned slurry grinding conditions, particularly, the abrasive grain size, the substrate rotation speed, the tape feed speed, the reciprocating number of the polishing tape (oscillation frequency), This can be achieved by appropriately adjusting the pressing pressure of the cylinder and the polishing time within the above ranges.
【0024】一方、テクスチャーの条痕が交差する角度
(クロス角度)は、特に基板回転数と研磨テープの往復
動数(オシレーション振動数)を上記範囲内で調整する
ことにより達成することができる。On the other hand, the angle at which the texture streaks intersect (cross angle) can be achieved by adjusting the number of rotations of the substrate and the number of reciprocating movements of the polishing tape (oscillation frequency) in the above range. .
【0025】テクスチャー加工の研磨テープとしては、
例えばナイロン、アクリル、セルロース、ポリエステ
ル、レーヨン、或いはこれらを組み合わせた材質よりな
る不織布テープ等の多孔質テープが用いられる。As a textured polishing tape,
For example, a porous tape such as a nonwoven fabric tape made of a material such as nylon, acrylic, cellulose, polyester, rayon, or a combination thereof is used.
【0026】また、研磨テープと共に用いるダイアモン
ド砥粒としては、砥粒径0.05〜10μm、好ましく
は0.1〜5μmの砥粒が好適に用いられる。このよう
なダイアモンド砥粒は、液体(水又は水をベースとする
液体)中に分散剤と共に懸濁させた研磨スラリー(以下
「ダイアスラリー」と称す。)として用いられる。As the diamond abrasive used together with the polishing tape, an abrasive having an abrasive particle diameter of 0.05 to 10 μm, preferably 0.1 to 5 μm is suitably used. Such diamond abrasive grains are used as a polishing slurry (hereinafter referred to as “diaslurry”) suspended in a liquid (water or a water-based liquid) together with a dispersant.
【0027】なお、本発明においてテクスチャー加工は
2段階で行っても良く、第2段のテクスチャー加工を行
うことにより、浮上特性等を更に改善することができ
る。この第2段のテクスチャー加工の処理方法には特に
制限はなく、WA(ホワイトアルミナ)系、GC(グリ
ーンカーボン)系等の固定砥粒式の研磨テープ又はWA
系、SiC系、ダイアモンド系等の遊離砥粒を用いた研
磨テープ等を用いて行うことができる。In the present invention, the texturing may be performed in two stages. By performing the second-stage texturing, the floating characteristics and the like can be further improved. There is no particular limitation on the processing method of this second stage texture processing, and a fixed abrasive grain type polishing tape of WA (white alumina) type, GC (green carbon) type or the like or WA
The polishing can be performed using a polishing tape or the like using free abrasive grains such as SiC, SiC and diamond.
【0028】上記テクスチャー加工後の砥粒洗浄は、図
2に示す如く、アルミナ砥粒のスラリーを付着させた多
孔質テープ2Aを用いる第1ステップとクリーニングテ
ープ10を用いる第2ステップとで実施される。As shown in FIG. 2, the cleaning of the abrasive grains after the texturing is performed in a first step using a porous tape 2A to which a slurry of alumina abrasive grains is adhered and a second step using a cleaning tape 10. You.
【0029】この砥粒洗浄で用いる多孔質テープ2Aと
しては、例えばナイロン、アクリル、セルロース、ポリ
エステル、レーヨン、或いはこれらを組み合わせた材質
よりなる不織布テープ等の多孔質テープが用いられる。As the porous tape 2A used for the abrasive cleaning, for example, a porous tape such as a nonwoven fabric tape made of nylon, acryl, cellulose, polyester, rayon, or a combination thereof is used.
【0030】また、多孔質テープと共に用いるアルミナ
砥粒としては、砥粒径0.1〜6μm、好ましくは0.
5〜2μmのWA砥粒が好適に用いられる。このような
アルミナ砥粒は、液体(水又は水をベースとする液体)
中に分散剤と共に懸濁させたスラリー(以下「WAスラ
リー」と称す。)として用いられる。The alumina abrasive grains used together with the porous tape may have an abrasive grain diameter of 0.1 to 6 μm, preferably 0.1 to 6 μm.
A WA abrasive of 5 to 2 μm is preferably used. Such alumina abrasive grains are liquid (water or water-based liquid)
It is used as a slurry (hereinafter, referred to as “WA slurry”) suspended therein together with a dispersant.
【0031】この砥粒洗浄は、前記テクスチャー加工で
残留する研磨粉を除去すると共に、テクスチャー加工に
おいて形成された表面形状の平均粗さRaやクロス角度
を実質的に変化させることなく、基板表面のバリやカエ
リ等の突起を研磨により選択的に除去し、該表面の最大
突起高さRpが望ましくは50〜250Å程度となるよ
うに行うのが好ましい。This abrasive grain cleaning removes the polishing powder remaining in the texturing process, and does not substantially change the average roughness Ra or the cross angle of the surface shape formed in the texturing process. It is preferable that protrusions such as burrs and burrs are selectively removed by polishing so that the maximum protrusion height Rp of the surface is desirably about 50 to 250 °.
【0032】クリーニングテープとしては、アクリル、
セルロース、レーヨン、ポリエステル、ナイロン等或い
は、これらを組合わせた材質よりなる不織布テープ、織
布テープ、植毛テープを用いるのが好ましい。また、ク
リーニングテープに供給する洗浄液としては、ポリエチ
レンオキサイド、フェノールアミン系非イオン界面活性
剤、トリエタノールアミン、トリポリリン酸ソーダ及び
メチルベンゼンスルホン酸塩陰イオン界面活性剤、アル
キルフェノールエチレンオキサイド、非イオン性界面活
性剤、ピロリン酸ソーダ、P系ビルダー、ケイ酸塩、E
DTA等を用いることができる。As the cleaning tape, acrylic,
It is preferable to use a nonwoven fabric tape, a woven fabric tape, or a flocking tape made of cellulose, rayon, polyester, nylon, or a combination thereof. The cleaning liquid supplied to the cleaning tape includes polyethylene oxide, phenolamine-based nonionic surfactant, triethanolamine, sodium tripolyphosphate and methylbenzenesulfonate anionic surfactant, alkylphenol ethylene oxide, nonionic surfactant. Activator, sodium pyrophosphate, P-based builder, silicate, E
DTA or the like can be used.
【0033】この砥粒洗浄の装置としては、通常、テク
スチャー加工で用いるものと同様の装置が用いられ、第
1ステップ及び第2ステップにおいて、それぞれ多孔質
テープ2A及びクリーニングテープ10をコンタクトロ
ーラ3の往復動により矢印Cの方向に往復動(振動)さ
せて砥粒洗浄を行う。As an apparatus for cleaning the abrasive grains, an apparatus similar to that used for texture processing is usually used. In the first step and the second step, the porous tape 2A and the cleaning tape 10 Abrasive cleaning is performed by reciprocating (vibrating) in the direction of arrow C by reciprocating motion.
【0034】砥粒洗浄条件としては、特に制限されるも
のではなく、通常次のような条件が採用される。The abrasive cleaning conditions are not particularly limited, and usually the following conditions are employed.
【0035】第1ステップ 基板回転数:50〜300rpm WAスラリーの砥粒濃度:0.1〜10重量% WAスラリーの供給量:5〜30ml/分 多孔質テープの往復動数(オシレーション振動数):5
0〜400回/分 多孔質テープのシリンダ押付圧力:1.0〜3.0kg
/cm2 多孔質テープの送り速度:0.5〜10.0mm/秒 処理時間:2〜10秒第2ステップ 基板回転数:50〜300rpm クリーニングテープの往復動数(オシレーション振動
数):30〜300回/分 クリーニングテープのシリンダ押付圧力:0.5〜2.
0kg/cm2 クリーニングテープの送り速度:0.5〜10.0mm
/秒 洗浄液の供給量:200〜1000ml/分 処理時間:2〜10秒 このような砥粒洗浄を施した後は常法に従って洗浄、乾
燥し、下地層、磁性層及び保護層を形成して磁気ディス
クを製造する。 First step : The number of rotations of the substrate: 50 to 300 rpm The concentration of abrasive grains in the WA slurry: 0.1 to 10% by weight The supply amount of the WA slurry: 5 to 30 ml / min The number of reciprocations of the porous tape (oscillation frequency) ): 5
0 to 400 times / minute Cylinder pressing pressure of porous tape: 1.0 to 3.0 kg
/ Cm 2 Porous tape feeding speed: 0.5 to 10.0 mm / sec Processing time: 2 to 10 seconds Second step substrate rotation speed: 50 to 300 rpm Reciprocating number of cleaning tape (oscillation frequency): 30 -300 times / min. Pressure of the cleaning tape on the cylinder: 0.5-2.
Feeding speed of 0 kg / cm 2 cleaning tape: 0.5 to 10.0 mm
/ Sec. Cleaning solution supply amount: 200 to 1000 ml / min. Processing time: 2 to 10 seconds After such abrasive cleaning, cleaning and drying are performed according to a conventional method to form an underlayer, a magnetic layer, and a protective layer. Manufacture magnetic disks.
【0036】下地層は、通常の場合、Crをスパッタリ
ングして形成する。このCr下地層の膜厚は通常50〜
2000Åの範囲とされる。The underlayer is usually formed by sputtering Cr. The thickness of the Cr underlayer is usually 50 to
The range is 2000 mm.
【0037】磁性層としては、Co−Cr,Co−N
i、或いは、Co−Cr−X,Co−Ni−X,Co−
W−X等で表わされるCo系合金の薄膜層が好適であ
る。なお、ここでXとしては、Li,Si,Ca,T
i,V,Cr,Ni,As,Y,Zr,Nb,Mo,R
u,Rh,Ag,Sb,Hf,Ta,W,Re,Os,
Ir,Pt,Au,La,Ce,Pr,Nd,Pm,S
m、及び、Euよりなる群から選ばれる1種又は2種以
上の元素が挙げられる。As the magnetic layer, Co—Cr, Co—N
i, or Co-Cr-X, Co-Ni-X, Co-
A thin film layer of a Co-based alloy represented by WX or the like is preferable. Here, X is Li, Si, Ca, T
i, V, Cr, Ni, As, Y, Zr, Nb, Mo, R
u, Rh, Ag, Sb, Hf, Ta, W, Re, Os,
Ir, Pt, Au, La, Ce, Pr, Nd, Pm, S
m and one or more elements selected from the group consisting of Eu.
【0038】このようなCo系合金からなる磁性層は、
通常、スパッタリング等の手段によって基板の下地層上
に被着形成され、その膜厚は、通常、100〜1000
Åの範囲とされる。The magnetic layer made of such a Co-based alloy is
Usually, it is formed on the base layer of the substrate by means such as sputtering.
範 囲 range.
【0039】この磁性層上に形成される保護層としては
炭素質膜が好ましく、炭素質保護層は、通常、アルゴ
ン、He等の希ガスの雰囲気下又は少量の水素の存在下
で、カーボンをターゲットとしてスパッタリングにより
アモルフィス状カーボン膜や水素化カーボン膜として被
着形成される。この保護層の膜厚は、通常、50〜50
0Åの範囲とされる。なお、保護層上に、摩擦係数を小
さくするために、更に潤滑膜を形成しても良い。As the protective layer formed on the magnetic layer, a carbonaceous film is preferable. The carbonaceous protective layer is usually formed by depositing carbon in an atmosphere of a rare gas such as argon or He or in the presence of a small amount of hydrogen. A target is formed by sputtering as an amorphous carbon film or a hydrogenated carbon film. The thickness of the protective layer is usually 50 to 50.
0 ° range. Note that a lubricating film may be further formed on the protective layer in order to reduce the coefficient of friction.
【0040】[0040]
【実施例】以下、実施例及び比較例を挙げて、本発明を
より詳細に説明するが、本発明はその要旨を超えない限
り、以下の実施例に限定されるものではない。EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention is not limited to the following Examples unless it exceeds the gist thereof.
【0041】実施例1,2 アルミニウム合金基板の表面にNi−P合金メッキ層を
形成した後、ポリッシュ加工を施した磁気ディスク用基
板(直径95mm)を、本発明に従ってテクスチャー加
工及び砥粒洗浄を行った。テクスチャー加工及び砥粒洗
浄の処理条件は次の通りである。Examples 1 and 2 After a Ni—P alloy plating layer was formed on the surface of an aluminum alloy substrate, the polished magnetic disk substrate (diameter: 95 mm) was subjected to texture processing and abrasive grain cleaning in accordance with the present invention. went. The processing conditions for texture processing and abrasive cleaning are as follows.
【0042】テクスチャー加工 基板回転数:1200回/分 ダイアスラリー:表1に示す平均粒径のダイヤモンド砥
粒の0.3重量%水スラリー ダイアスラリー供給量:1.2ml/分 研磨テープ材質:ナイロン繊維及びポリエステル繊維か
らなる不織布テープ 研磨テープ送り速度:2.0mm/秒 研磨テープのオシレーション振動数:2000回/分 シリンダの押付圧力:2.0kg/cm2 研磨時間:10秒砥粒洗浄 [第1ステップ] 基板回転数:300回/分 WAスラリー:平均粒径1μmのWA系砥粒の3重量%
水スラリー WAスラリー供給量:10ml/分 多孔質テープ材質:セルロース 多孔質テープ送り速度:5.0mm/秒 多孔質テープのオシレーション振動数:70回/分 シリンダの押付圧力:1.5kg/cm2 処理時間:5秒 [第2ステップ] 基板回転数:300回/分 クリーニングテープ材質:セルロース クリーニングテープ送り速度:5.0mm/秒 クリーニングテープのオシレーション振動数:70回/
分 シリンダの押付圧力:1.0kg/cm2 洗浄液:メチルベンゼンスルホン酸塩系界面活性剤 洗浄液供給量:500ml/分 処理時間:4秒 上記テクスチャー加工は、クロス角度5°の条痕パター
ンを形成し、基板の表面粗さ(Ra)15Å、最大突起
高さRp180Åとするものであり、砥粒洗浄は、テク
スチャー加工で残留したダイアモンド砥粒を除去すると
共に、このRaやクロス角度を実質的に変えることな
く、Rp150Åとするものである。The textured substrate rotational speed: 1200 times / min Diameter Slurry: 0.3 wt% of diamond abrasive grains having an average particle size shown in Table 1 water slurry die slurry supply amount: 1.2 ml / min Polishing Tape Material: Nylon Nonwoven fabric tape composed of fiber and polyester fiber Polishing tape feed speed: 2.0 mm / sec Oscillation frequency of polishing tape: 2000 times / min Cylinder pressing pressure: 2.0 kg / cm 2 Polishing time: 10 seconds Abrasive grain cleaning [ First step] Substrate rotation speed: 300 times / minute WA slurry: 3% by weight of WA-based abrasive grains having an average particle diameter of 1 μm
Water slurry WA slurry supply amount: 10 ml / min Porous tape material: Cellulose Porous tape feed speed: 5.0 mm / sec Oscillation frequency of porous tape: 70 times / min Cylinder pressing pressure: 1.5 kg / cm 2 Processing time: 5 seconds [Second step] Substrate rotation speed: 300 times / minute Cleaning tape material: Cellulose Cleaning tape feed speed: 5.0 mm / second Cleaning tape oscillation frequency: 70 times / minute
Min Cylinder pressing pressure: 1.0 kg / cm 2 Cleaning liquid: methylbenzenesulfonate surfactant Cleaning liquid supply: 500 ml / min Processing time: 4 seconds The above texture processing forms a streak pattern with a cross angle of 5 ° The substrate has a surface roughness (Ra) of 15 ° and a maximum projection height of Rp180 °. The abrasive cleaning removes the diamond abrasive remaining in the texturing process and substantially reduces the Ra and the cross angle. Rp 150 ° without any change.
【0043】テクスチャー加工及び砥粒洗浄後の基板に
ついてグライド検査を行い、異物付着率(ダイアスラリ
ー及び研削片の付着割合)を求め、結果を表1に示し
た。A glide test was performed on the substrate after the texture processing and the abrasive grain cleaning, and the foreign substance adhesion rate (the adhesion rate of the diaslurry and the grinding pieces) was determined. The results are shown in Table 1.
【0044】比較例1,2 実施例1,2において、砥粒洗浄を行わなかったこと以
外は同様にテクスチャー加工を行って同様にグライド検
査で異物付着率を調べ、結果を表1に示した。Comparative Examples 1 and 2 In Examples 1 and 2, texturing was carried out in the same manner as in Examples 1 and 2 except that the abrasive grains were not washed, and a foreign matter adhesion rate was similarly examined by glide inspection. The results are shown in Table 1. .
【0045】[0045]
【表1】 [Table 1]
【0046】以上の結果より明らかなように、ダイアモ
ンド砥粒を用いたテクスチャー加工後にアルミナ砥粒を
用いた砥粒洗浄を行うことにより、テクスチャー加工で
基板に残留したダイヤモンド砥粒等の研磨粉を効果的に
除去することができ、これにより歩留りが大幅に向上す
る。As is evident from the above results, by performing abrasive grain cleaning using alumina abrasive grains after texturing with diamond abrasive grains, polishing powder such as diamond abrasive grains remaining on the substrate due to texture processing is removed. It can be effectively removed, thereby greatly improving the yield.
【0047】[0047]
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明の磁気ディス
ク用基板のテクスチャー加工方法によれば、テクスチャ
ー加工後の基板表面の研磨粉の残留を防止することによ
り高清浄な磁気ディスク用基板を提供することができ
る。このため、本発明に従ってテクスチャー加工を施し
た磁気ディスク用基板によれば、表面特性に優れ、従っ
て、浮上特性及び耐摩耗特性に優れた磁気ディスクを高
い製品歩留りで製造することが可能となる。As described in detail above, according to the method for texturing a magnetic disk substrate of the present invention, a highly clean magnetic disk substrate can be obtained by preventing polishing powder from remaining on the substrate surface after texturing. Can be provided. For this reason, according to the magnetic disk substrate textured according to the present invention, it is possible to manufacture a magnetic disk having excellent surface characteristics, and therefore, excellent flying characteristics and wear resistance with a high product yield.
【図1】本発明に係るテクスチャー加工の実施の形態を
説明する図であって、(a)図は平面図、(b)図は側
面図である。FIGS. 1A and 1B are diagrams illustrating an embodiment of texture processing according to the present invention, wherein FIG. 1A is a plan view and FIG. 1B is a side view.
【図2】本発明に係る砥粒洗浄の実施の形態を説明する
平面図である。FIG. 2 is a plan view illustrating an embodiment of abrasive grain cleaning according to the present invention.
1 基板 2 研磨テープ 2A 多孔質テープ 3 コンタクトローラ 4 ローラ押えシリンダ 5 研磨液ノズル 10 クリーニングテープ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Polishing tape 2A Porous tape 3 Contact roller 4 Roller holding cylinder 5 Polishing liquid nozzle 10 Cleaning tape
Claims (1)
を施す方法において、 ダイアモンド砥粒を用いてテクスチャー加工した後、ア
ルミナ砥粒を用いて砥粒洗浄を行うことを特徴とする磁
気ディスク用基板のテクスチャー加工方法。1. A method for texturing a magnetic disk substrate, comprising: performing texturing using diamond abrasive grains; and then performing abrasive cleaning using alumina abrasive grains. Processing method.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29506896A JPH10143858A (en) | 1996-11-07 | 1996-11-07 | Method for texturing substrate for magnetic disk |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29506896A JPH10143858A (en) | 1996-11-07 | 1996-11-07 | Method for texturing substrate for magnetic disk |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10143858A true JPH10143858A (en) | 1998-05-29 |
Family
ID=17815909
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29506896A Pending JPH10143858A (en) | 1996-11-07 | 1996-11-07 | Method for texturing substrate for magnetic disk |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH10143858A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009283056A (en) * | 2008-05-21 | 2009-12-03 | Fujitsu Ltd | Disk processing method |
CN103247304A (en) * | 2011-12-30 | 2013-08-14 | Hoya株式会社 | Manufacturing method of substrate, manufacturing method of glass substrate for disk, and manufacutring method of disk |
-
1996
- 1996-11-07 JP JP29506896A patent/JPH10143858A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009283056A (en) * | 2008-05-21 | 2009-12-03 | Fujitsu Ltd | Disk processing method |
CN103247304A (en) * | 2011-12-30 | 2013-08-14 | Hoya株式会社 | Manufacturing method of substrate, manufacturing method of glass substrate for disk, and manufacutring method of disk |
CN103247304B (en) * | 2011-12-30 | 2017-08-01 | Hoya株式会社 | The manufacture method of substrate and the manufacture method of disk |
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