JPH103488A - テスト容易性分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 実装基板のテスト検討及びテスト容易化設計
を論理設計段階で効率的に行ない、テストデータ生成工
程作業を短縮したテスト容易化分析装置を得る。 【解決手段】 回路図入力装置で入力された論理図に対
して、回路接続情報を生成する回路接続情報抽出装置
と、部品情報を生成する部品情報抽出装置を備え、部品
情報に基づき各端子ついてスキャン回路の有無、プロー
ビングの可能性などを設定し、各部品のテスト制御・観
測性設定情報を入力して回路接続情報抽出装置で得られ
た回路接続情報に基づきテスト制御・観測性を判定す
る。一方、部品情報に基づいて、テストデータ生成手段
設定装置で各部品の端子に対して入出力で期待するテス
トデータの生成手段を設定し、回路接続情報抽出装置で
得られた回路接続情報に基づき、テストデータ生成容易
性判定装置にて全回路接続配線に関するテストデータ生
成の容易性を判定するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、実装基板の設計装
置、特に実装基板の基板製造・組立テストに対するテス
ト容易化設計装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、基板開発における基板製造・組
立テストは、基板製造・組立完了後に基板上に配線され
た布線の断線およびショート等による不良、あるいは製
造された基板上に部品を搭載する段階でのはんだ接合の
オープンあるいはブリッジ等の不良を検出するために行
っている。

【０００３】この基板製造・組立テストは、一般にイン
サーキット・テスタと言われるテスト設備を用いて、各
部品の各端子まわりに予め設けておいたテストパッドに
プロービングし、テスト時には各部品単位に電気的に分
離するようにしてプロービングを通じてテスト設備から
テストデータをオーバードライブなどにより入力し、出
力結果をテスト設備へ取り出して、テスト設備でこれら
の取り出したデータと期待値とを比較してテストを行っ
ている。

【０００４】このようなインサーキット・テスタを用い
た基板製造・組立テストを行うためには、論理設計段階
から行っている従来のテスト容易化設計手法では、イン
サーキット・テスタおよびインサーキットテスト方法に
関する制約に対応するために特別の配慮をしておく必要
があった。例えば、各部品の各端子まわりにテストパッ
ドを設けたり、各部品をテスト時に電気的に分離できる
ように前段の部品あるいはバス接続された他の部品の出
力バッファをトライステートタイプにしたり、テスト設
備からテスト時に入力されるオーバードライブの電流に
耐えられるように、耐久性のある部品を使用する必要が
あった。

【０００５】さらに、このようなインサーキット回路に
対するテスト容易化設計に自動で対処するツールは世の
中に存在せず、設計者が机上でインサーキット・テスタ
およびインサーキットテスト方法に関する制約条件に対
処するため、回路図を見ながら逐一その場で対応方法を
検討して行かなければならず、非常に多くの時間を費し
ていた。

【０００６】従来このような要求に応えるものとして、
図１５乃至図１７に示すような実装基板試験容易性検証
方法が提案されていた。図１５，図１６，図１７は、各
々特開平６−２１５０６７号公報に示された実装基板試
験容易性検証方法における動作手順を示す流れ図、その
中で使用されるテーブル内容を示すブロック図、及び機
能検証手順の動作を示す流れ図である。図１５におい
て、９１は実装基板のネットリスト情報、９２は実装部
品情報、９３はデータ入力手順、９４はネットリスト情
報９１と実装部品情報９２を入力としてデータ入力手順
９３により作成されるテーブルである。９５はテーブル
９４を参照してループネットなどの信号の接続関係を検
証する接続検証手順、９７はテーブル９４を参照して実
装部品の機能を識別する部品識別手順である。また、９
８はその機能別に試験の容易性を検証する機能検証手
順、９６は検証結果を保持する検証結果保持手段、９９
は検証結果９６を読み出して回路図などに表示する結果
出力手順である。

【０００７】次に、動作について図１５乃至図１７に基
づいて説明する。図１５に示すように、データ入力手順
９３は、実装基板のネットリスト情報９１および実装部
品の機能情報を格納した実装部品情報９２を入力し、表
形式に変換してテーブル９４に記憶する。また、接続検
証手順９５では、テーブル９４を参照してある部品から
出力されているネットが、自分自身への入力になってい
るネットを抽出し、それらを検証結果９６に保持するな
ど、基板上に実装されている各部品間に送受される信号
の接続関係を検証する。そして、部品識別手順９７で
は、テーブル９４を参照して部品情報から基板上に実装
されている各部品の機能を識別する。次に、部品識別手
順９７で識別された機能に基づいて、機能検証手順９８
は、基板上に実装されている各部品の機能別に、必要な
試験容易化設計が行われているか否かの検査性を検証
し、該検証結果を検証結果保持手段９６へ格納する。こ
こで、結果出力手順９９では、検証結果９６を読み出し
てエラー箇所を画面上に表示された回路図上に会話型で
表示する。なお、接続検証手順９５でループネットを検
出している理由は、実装回路上にループネットが存在し
ていると、インサーキットの検査時に被試験部品からの
出力信号が入力信号として帰って来るため、テスタから
の入力信号が正しく印加できなくなるためである。

【０００８】図１６は、データ入力手順９３により作成
されたテーブル９４の詳細を示したものであり、図に示
すように、部品テーブル１０１，ピンテーブル１０２，
ネットテーブル１０３，ピンリンクテーブル１０４を有
している。そして、部品テーブル１０１は、部品毎に、
実装位置，部品名，機能，入力ピン数，ピンテーブル１
０２内の第１入力ピンへのポインタ，出力ピン数，ピン
テーブル１０２内の第１出力ピンへのポインタ，双方向
ピン数、を格納している。また、ピンテーブル１０２
は、ピン毎に、ピン名，ピンの入出力の区別、複数の部
品からの出力が結合したワーヤードネットのフラグ、ネ
ットテーブル１０３内の対応するネットへのポインタ，
本ピンの信号値を高負荷状態であるＨｉ−ｚ状態に制御
する機能を持つピンへのポインタ，部品テーブル１０１
へのポインタ、を格納している。一方、ネットテーブル
１０３は、ネット名，本ネットに接続する入力ピン数，
本ネットに接続するそれぞれの入力ピンに対するピンリ
ンクテーブル１０４へのポインタ，本ネットに接続する
出力ピン数、本ネットに接続するそれぞれの出力ピンに
対するピンリンクテーブル１０４へのポインタ、を格納
している。さらに、ピンリンクテーブル１０４は、同一
のネットに接続されるピンをリンクするために、ピンテ
ーブルポインタ，次ピンテーブルポインタをそれぞれ格
納している。なお、本従来例では、これらの各テーブル
を参照することにより、実装基板上の回路内に対するト
レースを実装したり、検証結果に必要な情報を作成して
いる。

【０００９】まず、機能検証手順９８は、図１７に示す
ように、判断ステップ１１１で、実装されている全部品
に対して、検証の処理が実施されたか否かを判断する。
この際、全部品が検証されていれば、処理を終了する。
一方、検証する部品が存在するときには、次の発振器検
証１１２で、検証する部品が発振器の場合に、検査時に
発振機能を停止することが可能か否かを判断する。具体
的には、出力信号値をイネーブルにする制御ピンが存在
しテスタから制御が可能か、または、出力側に基板コネ
クタやジャンパ機構が存在しているか、または、出力側
のＩＣがイネーブル制御を可能か等を図１５のテーブル
９４により検証する。そして、プロセッサ検証１１３で
は、検証する部品がプロセッサの場合に、プロセッサ自
体に出力値をイネーブルにすることが可能な制御ピンが
存在し、テスタから制御が可能か、または、クロック信
号が入力しないような制御が可能か否かを検証する。次
に、ＣＭＯＳ−ＩＣ検証１１４で、検証する部品がＣＭ
ＯＳ−ＩＣの場合に、ＣＭＯＳ−ＩＣ自体に出力値をイ
ネーブルにすることが可能な制御ピンが存在して、テス
タから制御が可能か否かを検証する。また、ＲＡＭ／Ｒ
ＯＭ検証１１５では、検証する部品がＲＡＭまたはＲＯ
Ｍの場合に、入力側信号をテスタから制御が可能かどう
かを検証する。一方、ワイヤードネット検証１１６で
は、出力信号に複数の部品からの出力が結合したワイヤ
ード論理が存在する場合に、それぞれの出力信号をイネ
ーブルに制御することが可能かどうかを検証する。な
お、不可能であれば、同一のネットの部品を検査する際
に、出力値を観測することができないことになる。他
方、クランプ信号検証１１７では、検証する部品にクラ
ンプ信号が存在する場合に、電源やグランドを直接クラ
ンプソースとして使用していないかどうかを検証する。
さらに、テスタピン数検証１１８で、被試験部品をテス
タで制御したり観測したりする場合に、ガーディング制
御に使用するピンを含めてテスタのピン数が足りている
か等を検証し、何れの検証でもエラーが発生している場
合には、試験が困難であるとして、図１５の検証結果保
持手段９６へ情報を出力するようにしている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】従来の実装基板のテス
トは、インサーキットテスタを用いてテストを行い、テ
スト容易化設計は上記のように実現されていたので、イ
ンサーキット・テスタおよびインサーキットテスト方法
に関する制約事項が多く、実装基板の設計段階からこれ
らの条件を考慮しなければならないという問題点があっ
た。

【００１１】また、テスト容易化設計手法を手順化して
もテスト容易化設計作業にかなりの設計時間を要し、加
えて、実装基板に搭載された各部品まわりにテスタから
のテスト信号のアクセスのためのプロービングが必須と
なり、基板を高密度化する上で面積的に問題となった
り、テスタと基板とのインターフェースをとるテスト治
具の製作においてコスト高になるといった問題点があっ
た。

【００１２】この発明は、このような問題点を解決する
ためになされたもので、テスト容易化設計を論理設計段
階で容易かつ迅速に行なうことができ、テストデータ生
成の開発工程を短縮することのできるテスト容易性分析
装置を提供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】第１の発明に係わるテス
ト容易性分析装置は、論理図を入力する回路図入力装置
と、回路図入力装置を介して入力された論理図の回路接
続情報を生成する回路接続情報抽出装置と、論理図の部
品情報を生成する部品情報抽出装置と、部品情報抽出装
置の出力結果に基づき部品の各端子についてスキャン回
路の有無あるいはプロービングの可能性を設定するテス
ト制御観測性情報設定装置と、テスト制御観測性情報設
定装置で設定された各部品のテスト制御観測性設定情報
を入力とし回路接続情報抽出装置で得られた回路接続情
報に基づき回路接続配線についてテスト制御・観測性を
判定するテスト制御観測性判定装置と、部品情報抽出装
置の出力結果に基づき部品の各々の端子に対して入力あ
るいは出力で期待するテストデータの生成手段を設定す
るテストデータ生成手段設定装置と、テストデータ生成
手段設定装置で設定されたテストデータの生成手段を入
力とし回路接続情報抽出装置で得られた回路接続情報に
基づき回路接続配線についてテストデータ生成の容易性
を判定するテストデータ生成容易性判定装置と、テスト
制御観測性判定装置およびテストデータ生成容易性判定
装置の出力に基づき回路接続配線に対してテスト容易性
を判定するテスト容易性判定装置と、テスト容易性判定
装置の出力結果を表示するための分析結果表示装置と、
を備えるようにしたものである。

【００１４】第２の発明は第１の発明におけるテスト容
易性分析装置において、テスト容易性判定装置の出力結
果に基づき回路接続配線に対するテストが容易な回路接
続の比率を算出するテスト容易性率算出装置を備え、テ
スト容易性率算出装置およびテスト容易性判定装置の出
力結果を分析結果表示装置に表示するようにしたもので
ある。

【００１５】第３の発明は第１の発明におけるテスト容
易性分析装置において、テスト容易性判定装置の出力結
果に基づき回路接続配線に対するテスト可能な回路接続
の比率を算出するテスタビリティ算出装置を備え、テス
タビリティ算出装置およびテスト容易性判定装置の出力
結果を分析結果表示装置に表示するようにしたものであ
る。

【００１６】第４の発明は第１の発明におけるテスト容
易性分析装置において、テスト容易性判定装置の出力結
果に基づき回路接続配線に対するテスト容易性について
分類し、ＣＡＤ上の回路図において色別で分類結果を表
示する回路図表示装置を備えるようにしたものである。

【００１７】第５の発明は第１の発明におけるテスト容
易性分析装置において、テスト容易性判定装置の出力結
果に基づきテスト容易性について回路接続情報および部
品情報をブロック分割する回路分割装置と、回路分割装
置により得られた各ブロック回路接続情報およびブロッ
ク部品情報を入力としテストデータを自動あるいは手動
で生成するテストデータ生成装置を備えるようにしたも
のである。

【００１８】第６の発明は第１の発明におけるテスト容
易性分析装置において、回路接続情報抽出装置で得られ
た回路接続情報および部品情報抽出装置で得られた部品
情報を入力とし前記回路図入力装置に入力された論理図
の外部端子中の未使用端子を抽出する未使用端子抽出装
置を備え、テスト容易性判定装置および未使用端子抽出
装置の出力結果を前記分析結果表示装置に表示するよう
にしたものである。

【００１９】第７の発明は第１の発明または第４の発明
におけるテスト容易性分析装置において、回路接続情報
抽出装置で得られた回路接続情報および部品情報抽出装
置で得られた部品情報を入力とし、回路図入力装置に入
力された論理図の外部端子中の未使用端子を抽出する未
使用端子抽出装置と、未使用端子抽出装置で得られた未
使用端子情報および前記テスト容易性判定装置の出力結
果に基づいて回路接続情報の中でテストが困難な信号と
未使用端子を自動的に結線するテスト信号自動追加装置
と、を備えるようにしたものである。

【００２０】

【発明の実施の形態】

実施の形態１．本発明の第１の実施形態について、図１
乃至図７に基づいて説明する。図１は、第１の実施形態
におけるテスト容易性分析装置の全体構成を示した図で
ある。図において、１はＣＡＤに論理図を入力する回路
図入力装置、２は回路図入力装置１に入力された論理図
の回路接続情報を生成する回路接続情報抽出装置、３は
論理図の部品情報を生成する部品情報抽出装置、４は部
品情報抽出装置３の出力に基づき部品の各端子について
スキャン回路の有無あるいはプロービングの可能性など
を設定するテスト制御・観測性情報設定装置である。５
はテスト制御・観測性情報設定装置４で設定された各部
品のテスト制御・観測性設定情報を入力とし、回路接続
情報抽出装置２で得られた回路接続情報に基づき全回路
接続配線についてテスト制御・観測性を判定するテスト
制御・観測性判定装置、６は部品情報抽出装置３の出力
に基づき部品の各々の端子に対して入力、あるいは出力
値として期待するテストデータの生成手段を設定するテ
ストデータ生成手段設定装置である。７はテストデータ
生成手段設定装置６で設定された部品の各々の端子に対
する入力あるいは出力値として期待値を作成するための
テストデータ生成手段を入力し、回路接続情報抽出装置
２で得られた回路接続情報に基づいて全回路接続配線に
対してテストデータ生成の容易性を判定するテストデー
タ生成容易性判定装置である。また、８はテスト制御・
観測性判定装置５およびテストデータ生成容易性判定装
置７の出力に基づいて全回路接続配線に対してテスト容
易性を判定するテスト容易性判定装置、９はテスト容易
性判定装置８の出力結果をＣＡＤ上に表示するための分
析結果表示装置である。

【００２１】次に、動作について図２乃至図７を参照し
ながら説明する。図２は、本実施形態におけるテスト容
易性分析装置を説明するために用いる基板回路図面例を
示したものである。図中において、２１は実装基板、２
２は基板のエッジコネクタ、２３はエッジコネクタ２２
の内のテスト信号用に用意した端子である。また、２４
はバウンダリスキャンをサポートしている部品、一方２
５はバウンダリスキャンをサポートしていない部品で、
これらが基板２１上に搭載されている。２６は部品の端
子、２７は各部品におけるバウンダリスキャン用テスト
信号線、２８はバウンダリスキャンをサポートしている
部品内部に予め組み込まれているスキャン用レジスタ、
２９は基板上の部品と部品の間を接続している基板配
線、３０は基板のエッジコネクタと基板上の部品とを接
続している基板配線である。３１は基板に搭載している
バウンダリスキャンをサポートしている各部品２４のテ
スト信号線２７および基板のエッジコネクタ２２内のテ
スト用信号線２３とをシリアルに接続することで、スキ
ャン用レジスタ２８が基板上でシフトレジスタを構成す
るバウンダリスキャンチェーンである。

【００２２】ここで、図２で示された回路図面のテスト
容易化設計を行う場合には、まず図１の回路図入力装置
１を用いて設計用ＣＡＤに回路図を入力し、そのデータ
を基に回路接続情報抽出装置２および部品情報抽出装置
３により、回路接続情報および部品情報を生成する。部
品情報では、使用されている各々の部品ＩＣ＿１，ＩＣ
＿２，ＩＣ＿３，ＩＣ＿４，ＩＣ＿５について、部品型
名や各々の部品における端子名、各端子２６の入出力属
性などのデータを得る。例えば図２の例では、部品ＩＣ
＿１の型名はｔｔl７４ｂｃｔ８３７４＿１，部品ＩＣ
＿２の型名はｔｔl７４ｂｃｔ８３７４＿１，部品ＩＣ
＿３の型名はＭ５Ｍ５２Ｂ８８Ｊ，部品ＩＣ＿４の型名
はｔｔl７４ａｃｔ８３７４＿１，部品ＩＣ＿５の型名
はｔｔl７４ａｃｔ８３７４＿２である。回路接続情報
では、回路を構成しているＩＣやその他の部品の端子が
どのように接続されているかを表した回路接続のデータ
を得る。ある部品のある端子と回路接続される他のすべ
ての部品端子とを配線した基板配線２９、３０をネット
と定義すると、回路を構成するすべてのネットについ
て、回路接続の情報を得る。ここで、実装基板２１に搭
載されるバウンダリスキャンをサポートした部品２４に
ついては、一般に部品名やテスト信号名、スキャンレジ
スタ順番やテスト命令コードなどバウンダリスキャンに
関する情報を記述したＢＳＤＬ（Ｂｏｕｎｄａｒｙ Ｓ
ｃaｎ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｌａｎｇｕａｇｅ，
ＩＥＥＥ標準化）としてメーカーから提供されているデ
ータを使用すればよい。このようなバウンダリスキャン
に関するデータを入力とし、生成された部品情報に基づ
いてテスト制御・観測性情報設定装置４で、部品の各端
子２６毎にスキャンレジスタ２８が有るか否かを設定す
る。また、プロービングを用いてファンクションテスト
を実施する場合には、ここでプロービングを行う部品の
端子２６について、プロービングする旨を設定する。

【００２３】テスト制御・観測性情報設定装置４により
設定された各部品の各端子２６におけるスキャンレジス
タ２８の有無、あるいはプロービングの有無といったテ
スト制御・観測性情報を入力し、テスト制御・観測性判
定装置５を用いて生成された回路接続情報に基づいて各
ネットに接続されるすべての部品の端子２６の持つテス
ト制御・観測性情報を参照し、図３に示すようなテスト
ネットリスト・テーブルを作成する。テストネットリス
ト・テーブルは、実装基板２１上の各ネットに対してネ
ット名を付け、そのネットに接続される部品型名、端子
名、入出力属性、テスト制御・観測性情報を記述し、テ
ストの観点から回路接続情報を分かり易くしたものであ
る。例えば図３において、ネットＮＥＴ１は、部品ｔｔ
l７４ｂｃｔ８３７４＿１のスキャンレジスタがサポー
トされている出力属性である端子Ｑ（１）と、部品ｔｔ
l７４ｂｃｔ８３７４＿２のスキャンレジスタがサポー
トされている入力属性である端子Ｄ（１）と、を接続し
た配線を意味している。テスト制御・観測性情報を表し
たＳ／Ｐ／Ｆ／Ｃは、各々スキャンレジスタ２８がある
場合にはＳ、プロービングがある場合にはＰ、スキャン
レジスタ２８やプロービングが共にない場合にはＦ、基
板２１のエッジコネクタ２２がある場合にはＣと記述し
ている。ネットが複数の部品に接続するようにして分岐
している場合には、分岐先に接続されているすべての部
品の端子２６についても、同じネットとして併記するよ
うテストネットリスト・テーブルに記述する。

【００２４】さらにテスト制御・観測性判定装置５にお
いて、このテストネットリスト・テーブルに基づき、図
４に示すようにネット毎に接続されている部品の端子２
６の入出力属性で（ｉｎ，ｏｕｔ）をペアとした時のテ
スト制御・観測性情報の組み合わせを判定基準として、
ネットをテスト制御・観測性で３つのグループに分類す
る。例えば、図３のＮＥＴ１では、ネット内のテスト制
御・観測性情報の組み合わせは（Ｓ，Ｓ）となり、テス
ト制御・観測性分類はＡグループとなる。また、ＮＥＴ
３では、ネット内のテスト制御・観測性情報の組み合わ
せは（Ｓ，Ｆ）となり、テスト制御・観測性分類はＢグ
ループとなる。ＮＥＴ９では、ネット内のテスト制御・
観測性情報の組み合わせは（Ｆ，Ｆ）となり、テスト制
御・観測性分類はＣグループとなる。ここでは、Ａグル
ープが一番テスト制御・観測性についての評価が良く、
次にグループＢ，Ｃと続く。ネットが複数の部品に接続
するよう分岐している場合には、それぞれの部品の端子
２６の入出力属性（ｉｎ，ｏｕｔ）のペアのテスト制御
・観測情報の組み合わせを評価し、ネット内のテスト制
御・観測性情報の組み合わせのペアで一番良い評価であ
るテスト制御・観測性のグループに分類する。部品の端
子２６の入出力属性がｉｎｏｕｔ（双方向）の場合に
は、ｉｎ，ｏｕｔのどちらにでも扱うことができ、ネッ
ト内のテスト制御・観測性情報の組み合わせを評価す
る。

【００２５】また、部品情報抽出装置３により生成され
た部品情報を基に、テストデータ生成手段設定装置６に
より、図５に示すような各部品単位のテストデータ生成
手段を設定するＴＰＧリストテーブルを作成する。ＴＰ
Ｇリストテーブルでは、バウンダリスキャンを利用して
テストデータを自動生成する部品の場合にはＢＳ、一方
ＳＲＡＭのような規則的な論理構成をしている部品など
に対してＣ言語などでテストデータ生成プログラムを作
成し自動生成する場合にはＡＴＰＧ、ファンクションテ
ストで対応しシミュレータなどを利用して人手でテスト
データを作成する場合にはＦｕｎｃ、等のテストデータ
生成手段を部品毎に記述する。

【００２６】そして、テストデータ生成容易性判定装置
７では、このＴＰＧリストテーブルに基づき、回路接続
情報に従って図６に示すようにネット毎に接続されてい
る部品の端子２６のテストデータ生成手段の組み合わせ
を判定基準として、ネットをテストデータ生成容易性に
基づいて２つのグループに分類する。例えば、図３と図
５を参照すると、ＮＥＴ４ではネット内テストデータ生
成手段の組み合わせは（ＡＴＰＧ−ＢＳ）となり、テス
トデータ生成容易性分類はＡグループとなる。また、Ｎ
ＥＴ９ではネット内テストデータ生成手段の組み合わせ
は（Ｆｕｎｃ−Ｆｕｎｃ）となり、テストデータ生成容
易性分類はＢグループとなる。ここでは、Ａグループが
一番テストデータ容易性についての評価が良く、次にＢ
グループと続く。ネットが複数の部品に接続するよう分
岐している場合には、ネット内のテスト制御・観測性情
報の組み合わせのペアで一番評価の悪いテストデータ生
成容易性のグループに分類する。

【００２７】そして、テスト容易性判定装置８では、テ
スト制御・観測性判定装置５により得られたテスト制御
・観測性分類の結果、およびテストデータ生成容易性判
定装置７により得られたテストデータ生成容易性分類の
結果に基づき、図７に示すような分類結果の組み合わせ
により、ネット毎にテスト容易性について最終的に３つ
に分類する。例えば、図３、図５、図７を参照すると、
ＮＥＴ１はテスト制御・観測性分類はＡグループとな
り、テストデータ生成容易性分類はＡグループとなるた
め、テスト容易性分類としてはＡグループに分類され
る。また、ＮＥＴ９はテスト制御・観測性分類はＣグル
ープとなり、テストデータ生成容易性分類はＢグループ
となるため、テスト容易性分類としてはＣグループに分
類される。ここでは、Ａが一番テスト容易性についての
評価が良く、次にＢ，Ｃグループと続く。これにより、
実装基板２１の論理設計段階において、テストデータ生
成の容易性を反映したテスト容易性を分析し、その結果
を考慮したテスト容易化設計を行うことができる。

【００２８】このようにテスト容易性判定装置８で得ら
れたテスト容易性分類結果を、分類結果別のネット名一
覧などと共にＣＡＤ上に、あるいはプリントアウト結果
として分析結果表示装置９上に表示する。また、テスト
容易性分類でＣグループに分類されたネットに関して
は、テスト容易性について改善するよう設計者に対して
要求するために、分析結果表示装置９を用いてネット名
をＣＡＤ上、あるいはプリントアウト結果として表示す
る。

【００２９】実施の形態２．次に、本発明の第２の実施
形態について、図８に基づいて説明する。図８は、本実
施形態におけるテスト容易性分析装置の全体構成を示す
図であり、図１で示したテスト容易性分析装置に対して
テスト容易性率算出装置１０を追加したものである。実
施形態１のテスト容易性分析装置の動作におけるテスト
容易性判定装置８の出力により得られたネットのテスト
容易性分類結果に基づき、テスト容易性率算出装置１０
はテスト容易性率を算出する。基板の製造・組立テスト
において検出対象となる故障には、基板配線の断線やシ
ョート、部品実装時のオープンやブリッジなどが挙げら
れるが、これらは全てネット単位でのオープン／ショー
トテストにより検出が可能である。このようにネット単
位でのテストに集約されることから、テスト容易性率を
全てのネット数に対するテストが可能であり、テストデ
ータ生成も容易に行えるネット数の割合、と定義する。
テスト容易性率が高いほど、テストが容易に行えること
を意味している。具体的には、全ネット数をＮとし、図
７で示されるテスト容易性判定装置８の出力により得ら
れたネットのテスト容易性分類結果において、グループ
Ａのネット数をｎＡ、グループＢのネット数をｎＢ、グ
ループＣのネット数をｎＣとした場合に、テスト容易性
率Ｙ＝（ｎＡ＋ｎＢ）／Ｎの式で与えられるものであ
る。このようにして得られたテスト容易性率の結果は、
分析結果表示装置９上で設計者に対して表示される。

【００３０】実施の形態３．本発明の第３の実施形態に
ついて、図９に基づいて説明する。図９は、本実施形態
におけるテスト容易性分析装置の全体構成図であり、図
１で示したテスト容易性分析装置にテスタビリティ算出
装置１１を追加したものである。実施形態１のテスト容
易性分析装置の動作におけるテスト制御・観測性判定装
置５の出力により得られたネットのテスト制御・観測性
分類結果に基づき、テスタビリティ算出装置１１ではテ
スタビリティを算出する。基板の製造・組立テストにお
いて検出対象となる故障には、基板配線の断線やショー
ト、部品実装時のオープンやブリッジなどが挙げられる
が、これらは全てネット単位でのオープン／ショートテ
ストにより検出が可能である。この時、テスタビリティ
を、全ての故障ケースに対するテストが可能である故障
数の割合、と定義する。テスタビリティが高いほど、テ
ストでカバーできる範囲が広く、テストの信頼性が高い
ことを意味している。具体的には、全ネット数をＮと
し、図４に示されるテスト制御・観測性判定装置５の出
力により得られたネットのテスト制御・観測性分類結果
において、グループＡのネット数をｍＡ、グループＢの
ネット数をｍＢ、グループＣのネット数をｍＣとした場
合に、テスタビリティＴ＝ｍＡ（ｍＡ＋１）／Ｎ（Ｎ＋
１）の式で与えられるものである。前記したテスタビリ
ティの定義から、テスタビリティ＝（検出可能故障数）
／（全故障数）と表される。このとき故障の種類として
は、各ネットのオープン（故障数はＮ）あるいは２つの
ネット間のショート（故障数はnＣ2＝Ｎ（Ｎー１）／
２）があり、全故障数＝Ｎ＋Ｎ（Ｎ−１）／２＝Ｎ（Ｎ
＋１）／２、と表される。テスト制御・観測性があるネ
ットについては、テストが可能であると判断された場
合、テスト制御・観測性のあるネット数がｍＡであるこ
とから、全故障数を算出したときと同様にして、検出可
能故障数＝ｍＡ（ｍＡ＋１）／２と表される。 従っ
て、テスタビリティは上記式で与えられることがわか
る。このテスト容易性率の結果も分析結果表示装置９上
で設計者に対し表示される。

【００３１】実施の形態４．本発明の第４の実施形態に
ついて、図１０、図１１に基づいて説明する。図１０
は、本実施形態におけるテスト容易性分析装置の全体構
成図であり、図１で示したテスト容易性分析装置にテス
ト回路図表示装置１２を追加したものである。実施形態
１のテスト容易性分析装置の動作におけるテスト容易性
判定装置８の出力により得られた図７で示すようなネッ
トのテスト容易性分類結果に基づき、回路図表示装置１
２では図１１に示すようにＣＡＤ上の回路図においてテ
スト容易性分類結果が一目で分かり易くなるよう分類別
にネットに色を付けて表示する。例えば図１１では、ネ
ットのテスト容易性分類結果がグループＡのネットを
青、グループＢのネットを黄色、グループＣのネットを
赤とした場合、それぞれのネットに対して色別表示用の
属性をこのように設定することにより、回路図上で色別
で分類結果を表示する。ＣＡＤ上で表示されている回路
図において、ネットがバス表記されているものに対する
テスト容易性分類結果の色別表示は、バス表記されてい
るネットのテスト容易性判定装置８の出力結果が、全て
同じ分類結果であればその分類結果に従った色でネット
を表示すればよいが、テスト容易性判定装置８の出力結
果の中で一つでも異なる分類結果が存在するようなネッ
トを含む場合には、分類結果の色別表示が困難となる。
特に問題となるのは、バス表記されているネット全ての
テスト容易性判定装置８の出力結果の中で一つでもグル
ープＢあるいはグループＣのネットが存在すると判定さ
れた場合に、そのバス表記されたネットがこのような分
類結果を持つことを一目で分かり易い表示にしておくこ
とが必要である。例えば図１１では、そのような場合に
は、グループＡのネットが青、グループＢのネットが黄
色、グループＣのネットが赤とは異なるように、例えば
ネットを橙色に設定して表示する。ここでの色の設定
は、色別で分かり易く表示させるためのもので特に何色
を設定してもかまわない。

【００３２】実施の形態５．本発明の第５の実施形態に
ついて、図１２に基づいて説明する。図１２は本実施形
態によるテスト容易性分析装置を示す全体構成図であ
る。図１２は図１で示したテスト容易性分析装置に、回
路図分割装置１３およびテストデータ生成装置１４を追
加したものである。実施形態１のテスト容易性分析装置
の動作におけるテスト制御・観測性判定装置５の出力に
より得られた図４で示すようなネットのテスト制御・観
測性分類結果に基づき、回路分割装置１３ではグループ
ＡのネットとグループＢ、Ｃのネットを回路接続情報抽
出装置２により生成した回路接続情報の中で２つの回路
ブロックに分割する。分割したことにより、２つの回路
ブロックにおいて新たに外部インターフェースとなる信
号に関しては、仮想的な外部端子として端子および端子
名を設定する。回路分割装置１３で得られた２つの回路
ブロックは、テストデータ生成装置１４に各々の回路接
続情報を入力し、テストデータ生成プログラムによる自
動生成、あるいはシミュレータを利用した人手による生
成などでテストデータを生成する。

【００３３】実施の形態６．本発明の第６の実施形態に
ついて、図１３に基づいて説明する。図１３は、本実施
形態によるテスト容易性分析装置を示す全体構成図であ
り、図１で示したテスト容易性分析装置に未使用端子抽
出装置１５を追加したものである。実施形態１のテスト
容易性分析装置の動作に基づき、未使用端子抽出装置１
５では回路接続情報抽出装置２および部品情報抽出装置
３により生成された回路接続情報および部品情報に基づ
いて、実装基板２１のエッジコネクタ２２の中で基板配
線３０が接続されていない未使用端子を抽出する。そし
て、その結果を分析表示装置９により設計者に対し表示
を行う。

【００３４】実施の形態７．本発明の第７の実施形態に
ついて、図１４に基づいて説明する。図１４は、本実施
形態によるテスト容易性分析装置を示す全体構成図であ
り、図１で示したテスト容易性分析装置に未使用端子抽
出装置１５およびテスト信号自動追加装置１６を追加し
たものである。実施形態１あるいは実施形態４のテスト
容易性分析装置の動作に基づいて、未使用端子抽出装置
１５では回路接続情報抽出装置２および部品情報抽出装
置３により生成された回路接続情報および部品情報にし
たがって、実装基板２１のエッジコネクタ２２の中で基
板配線３０が接続されていない未使用端子を抽出する。
そして、テスト信号自動追加装置１６では、その結果得
られた未使用端子と図４で示されるテスト制御・観測性
判定装置５で得られたテスト制御・観測性分類がグルー
プＣのネットとを自動的に接続結線する。このとき、テ
スト制御・観測性分類がグループＣのネット内で未使用
端子と接続するための優先度として、図６で示されるテ
ストデータ生成容易性判定装置７においてテストデータ
生成容易性分類の判定基準として用いられるネット内の
テストデータ生成手段の組み合わせを利用する。例え
ば、ネット内のテストデータ生成手段の組み合わせで
（Ｆｕｎｃ，Ｆｕｎｃ），（ＡＴＰＧ，Ｆｕｎｃ）、
（ＢＳ、Ｆｕｎｃ）の順で優先度を設定する。また、自
動的に接続結線を行う場合、そのネットに配線が追加さ
れることにより、その配線を通るデータの流れにコンフ
リクトが発生しないかどうかを部品情報に基づいて検証
する。例えば、部品の端子２６にトライステート機能が
付いているかどうかなどにより検証する。そして、その
結果データのコンフリクトの可能性がある場合には、分
析結果表示装置９により設計者に対し表示し、テスト容
易化設計に対する設計アドバイスを行う。

【００３５】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば実装基
板のテスト容易化設計に対して回路構成の制限によりテ
ストが容易に可能かどうかという点とテストデータ生成
の実現が容易に可能かどうかという点とでテストの容易
性の分類を行い、この結果に基づいて各ネットに対する
テスト容易性を判定するようにしたので、論理設計段階
において容易かつ迅速にテスト戦略の検討およびテスト
容易化設計を行うことができ、テスト容易化設計を効率
良く推進することができる。

【００３６】また、テスト容易性の指標を生成するテス
ト容易性率算出装置、あるいはテストのカバー範囲や信
頼性の指標を生成するテスタビリティ算出装置を設ける
ようにしたので、テスト容易化設計の指標を設計者に分
かり易く伝えることができるという効果がある。

【００３７】また、テスト容易性の判定結果をＣＡＤ回
路図上に色別で分類結果表示するようにしたので、回路
図上でテスト容易性を一目で把握することができ、テス
ト戦略の検討設計作業に対して迅速に対応することがで
きる。

【００３８】また、テスト容易性の判定結果に基づいて
回路接続情報をブロック分割し、分割された回路ブロッ
クの回路接続情報によりテストデータ生成するようにし
たので、回路上においてテストデータを自動的に生成で
きる部分とそれ以外の部分を明確に区別することができ
るようになり、各々のテストデータ生成方法に適したイ
ンターフェースを採るすることができ、テスト容易化設
計とテストデータ生成の開発期間の最適化、および工期
短縮をトータル的に実現することができる。

【００３９】さらに、基板の外部端子中の未使用端子を
抽出して結果を表示装置上に表示するようにしたので、
論理設計段階におけるテスト信号の未使用端子の確認作
業を容易に行なうことができる。

【００４０】加えて、基板の外部端子中の未使用端子を
抽出してテスト容易性の判定結果に基づきテストが困難
であると判定されたネットと未使用端子を自動的に結線
するようにしたので、結線作業を容易、且つ着実に行な
うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１の実施形態におけるテスト容易
性分析装置の構成を示す図。

【図２】 本発明の第１の実施形態におけるテスト容易
性分析装置の動作を説明するための基板回路図。

【図３】 本発明の第１の実施形態におけるテスト容易
性分析装置のテスト制御・観測性判定装置の動作を示す
テストネットリスト・テーブル図。

【図４】 本発明の第１の実施形態におけるテスト容易
性分析装置のテスト制御・観測性判定装置の動作を示す
テスト制御・観測性分類表を示す図。

【図５】 本発明の第１の実施形態におけるテスト容易
性分析装置のテストデータ生成手段設定装置の動作を示
すＴＰＧリストを示す図。

【図６】 本発明の第１の実施形態におけるテスト容易
性分析装置のテスト容易性判定装置の動作を示すテスト
データ生成容易性分類表を示す図。

【図７】 本発明の第１の実施形態におけるテスト容易
性分析装置のテスト容易性判定装置の動作を示すテスト
容易性分類表を示す図。

【図８】 本発明の第２の実施形態におけるテスト容易
性分析装置の構成を示す図。

【図９】 本発明の第３の実施形態におけるテスト容易
性分析装置の構成を示す図。

【図１０】 本発明の第４の実施形態におけるテスト容
易性分析装置の構成を示す図。

【図１１】 本発明の第４の実施形態におけるテスト容
易性分析装置の動作を説明するための回路概要図。

【図１２】 本発明の第５の実施形態におけるテスト容
易性分析装置の構成を示す図。

【図１３】 本発明の第６の実施形態におけるテスト容
易性分析装置の構成を示す図。

【図１４】 本発明の第７の実施形態におけるテスト容
易性分析装置の構成を示す図。

【図１５】 従来の実装基板試験容易性検証方法におけ
る動作を示すフローチャート。

【図１６】 従来の実装基板試験容易性検証方法におけ
るテーブル内容を示すブロック図。

【図１７】 従来の実装基板試験容易性検証方法におけ
る機能検証手順を示すフローチャート。

【符号の説明】

１ 回路図入力装置、２ 回路接続情報抽出装置、３
部品情報抽出装置、４テスト制御・観測性情報設定装
置、５ テスト制御・観測性判定装置、６ テストデー
タ生成手段設定装置、７ テストデータ生成容易性判定
装置、８ テスト容易性判定装置、９ 分析結果表示装
置、１０ テスト容易性率算出装置、１１ テスタビリ
ティ算出装置、１２ 回路図表示装置、１３ 回路図分
割装置、１４ テストデータ生成装置、１５ 未使用端
子抽出装置、１６ テスト信号自動追加装置。

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 論理図を入力する回路図入力装置と、 該回路図入力装置を介して入力された論理図の回路接続
   情報を生成する回路接続情報抽出装置と、 前記論理図の部品情報を生成する部品情報抽出装置と、 部品情報抽出装置の出力結果に基づき部品の各端子につ
   いてスキャン回路の有無あるいはプロービングの可能性
   を設定するテスト制御観測性情報設定装置と、 該テスト制御観測性情報設定装置で設定された各部品の
   テスト制御観測性設定情報を入力とし前記回路接続情報
   抽出装置で得られた回路接続情報に基づき回路接続配線
   についてテスト制御・観測性を判定するテスト制御観測
   性判定装置と、 前記部品情報抽出装置の出力結果に基づき部品の各々の
   端子に対して入力あるいは出力で期待するテストデータ
   の生成手段を設定するテストデータ生成手段設定装置
   と、 前記テストデータ生成手段設定装置で設定されたテスト
   データの生成手段を入力とし前記回路接続情報抽出装置
   で得られた回路接続情報に基づき回路接続配線について
   テストデータ生成の容易性を判定するテストデータ生成
   容易性判定装置と、 前記テスト制御観測性判定装置および前記テストデータ
   生成容易性判定装置の出力に基づき回路接続配線に対し
   てテスト容易性を判定するテスト容易性判定装置と、 該テスト容易性判定装置の出力結果を表示するための分
   析結果表示装置と、を備えたことを特徴とするテスト容
   易性分析装置。
2. 【請求項２】 前記テスト容易性判定装置の出力結果に
   基づき回路接続配線に対するテストが容易な回路接続の
   比率を算出するテスト容易性率算出装置を備え、 該テスト容易性率算出装置および前記テスト容易性判定
   装置の出力結果を前記分析結果表示装置に表示するよう
   にしたことを特徴とする請求項１記載のテスト容易性分
   析装置。
3. 【請求項３】 前記テスト容易性判定装置の出力結果に
   基づき回路接続配線に対するテスト可能な回路接続の比
   率を算出するテスタビリティ算出装置を備え、 該テスタビリティ算出装置および前記テスト容易性判定
   装置の出力結果を前記分析結果表示装置に表示するよう
   にしたことを特徴とする請求項１記載のテスト容易性分
   析装置。
4. 【請求項４】 前記テスト容易性判定装置の出力結果に
   基づき回路接続配線に対するテスト容易性について分類
   し、ＣＡＤ上の回路図において色別で分類結果を表示す
   る回路図表示装置を備えるようにしたことを特徴とする
   請求項１記載のテスト容易性分析装置。
5. 【請求項５】 前記テスト容易性判定装置の出力結果に
   基づきテスト容易性について回路接続情報および部品情
   報をブロック分割する回路分割装置と、 該回路分割装置により得られた各ブロック回路接続情報
   およびブロック部品情報を入力としテストデータを自動
   あるいは手動で生成するテストデータ生成装置を備える
   ようにしたことを特徴とする請求項１記載のテスト容易
   性分析装置。
6. 【請求項６】 前記回路接続情報抽出装置で得られた回
   路接続情報および部品情報抽出装置で得られた部品情報
   を入力とし前記回路図入力装置に入力された論理図の外
   部端子中の未使用端子を抽出する未使用端子抽出装置を
   備え、 前記テスト容易性判定装置および前記未使用端子抽出装
   置の出力結果を前記分析結果表示装置に表示するように
   したことを特徴とする請求項１記載のテスト容易性分析
   装置。
7. 【請求項７】 前記回路接続情報抽出装置で得られた回
   路接続情報および前記部品情報抽出装置で得られた部品
   情報を入力とし、前記回路図入力装置に入力された論理
   図の外部端子中の未使用端子を抽出する未使用端子抽出
   装置と、 該未使用端子抽出装置で得られた未使用端子情報および
   前記テスト容易性判定装置の出力結果に基づいて回路接
   続情報の中でテストが困難な信号と未使用端子を自動的
   に結線するテスト信号自動追加装置と、を備えるように
   したことを特徴とする請求項１または請求項４に記載の
   テスト容易性分析装置。