JPH10333842A - 欠陥セクタの代替方法、情報の復元方法、外部記憶装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 セクタのアクセスを従来より高速化する。 【解決手段】 多数のセクタを具える不揮発性半導体デ
ィスク装置で欠陥セクタが生じた場合、該欠陥セクタよ
り１つ前のアドレスのセクタに前記欠陥セクタの代替セ
クタのアドレス情報を格納する。そして、セクタを順次
にアクセスする際に前記代替セクタのアドレス情報が出
現した場合は、次アドレスの代わりに、前記代替セクタ
のアドレス情報により指定される代替セクタをアクセス
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、外部記憶装置に
おける欠陥セクタの代替方法と、欠陥セクタの代替セク
タに関する情報の復元方法と、上記代替方法の実施に好
適な外部記憶装置と、上記情報の復元方法の実施に好適
な外部記憶装置とに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】不揮発性半導体メモリまたは電池等によ
りバックアップされた半導体メモリを用いて、磁気ディ
スク装置等に代わる外部記憶装置を構成することができ
る。このような外部記憶装置は、不揮発性半導体ディス
ク装置と称されている。

【０００３】不揮発性半導体ディスク装置は、磁気ディ
スク装置等と同様に、ユーザデータの１つの格納単位と
いえるセクタ（詳細は図５を参照して後述する。）を多
数具えている。また、不揮発性半導体ディスク装置の場
合、同一セクタに対するデータの書き換え回数が規定回
数を越えた場合やセクタ中にデータを正しく格納できな
いビットが生じた場合、そのセクタは欠陥セクタとされ
る。そして、欠陥セクタに対しては、磁気ディスク装置
等と同様に、このセクタに代わるセクタ（これを代替セ
クタという）が指定され、欠陥発生後の該欠陥セクタに
ついてのデータ書き込みまたは読み出しは、この代替セ
クタに対し行なわれる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ここで、従来の典型的
な不揮発性半導体ディスク装置は、図５（Ａ）に示すよ
うに、ホストインタフェース１１、メモリ制御ロジック
１３、不揮発性半導体メモリアレイ１５およびマイクロ
コントローラ１７を具える。

【０００５】ホストインタフェース１１は、不図示のホ
スト（例えばホストコンピュータ）と当該不揮発性半導
体ディスク装置とを接続するための信号線を制御する。

【０００６】メモリ制御ロジック１３は、ホストと不揮
発性半導体メモリアレイ１５との間のデータ授受の制御
と、不揮発性半導体メモリアレイ１５（実際は各セク
タ）へのデータの書き込み、またはそこからのデータの
読み出しを制御する。

【０００７】不揮発性半導体メモリアレイ１５は、ホス
トから送られてきたデータを保持（記憶）する媒体であ
り、複数の不揮発性半導体メモリで構成される。

【０００８】マイクロコントローラ１７は、ホストイン
タフェース１１およびメモリ制御ロジック１３を制御す
ることにより、不揮発性半導体ディスク装置の初期化処
理や、ホストインタフェース１１を介してホストから送
られてきたコマンドの解釈や、不揮発性半導体メモリア
レイ１５内のデータ管理など、不揮発性半導体ディスク
装置の全体を制御する。

【０００９】このマイクロコントローラ１７は、制御プ
ログラムを内蔵し（或は外部にＲＯＭを接続し、それに
制御プログラムを格納することもある）、その制御プロ
グラムに従って動作する。

【００１０】ここで、上記の不揮発性半導体メモリアレ
イ１５は、図５（Ｂ）に示すように、ユーザデータ領域
１５ａ、予備領域１５ｂおよび管理情報領域１５ｃによ
り構成される。

【００１１】ユーザデータ領域１５ａは、ホストから送
られて来たデータを記憶する領域であり、通常は不揮発
性半導体ディスク装置へのデータの書き込みまたはデー
タの読み出しは、この領域１５ａに対して行われる。

【００１２】予備領域１５ｂは、ユーザデータ領域１５
ａ内にデータが正常に記憶できない領域が存在すると
き、その領域に格納すべきデータを、ユーザデータ領域
１５ａ内の指定した領域の代わりに格納する領域であ
る。指定した領域にデータを格納できないとき、そのデ
ータを予備の領域に格納する処理を、代替処理と呼ぶ。

【００１３】管理情報領域１５ｃは、ユーザデータ領域
１５ａ内のデータが正常に記憶できない領域がどこかを
示す情報と、そこに格納すべきデータが予備領域１５ｂ
内のどこに代替処理されたかを示す情報（欠陥セクタお
よびその代替セクタに関する情報。例えばそれぞれのア
ドレス情報）とを格納する領域である。

【００１４】ホストから送られてきたデータは一定のデ
ータ長でユーザデータ領域１５ａに格納される。ユーザ
データ領域における、上記の一定のデータ長のデータを
格納する単位それぞれを、セクタと呼ぶ。１つのセクタ
は図５（Ｃ）に示すように、ヘッダデータ部１９ａとユ
ーザデータ部１９ｂとＥＣＣ（Error Correcting Code
）データ部１９ｃとにより構成される。

【００１５】このヘッダデータ部１９ａは、そのセクタ
が正常にデータを格納することができることを示すフラ
グを格納する第１領域１９ａａと、そのセクタのデータ
を書き換えた回数を格納する第２領域１９ａｂとにより
構成される。ホストから送られた上記のデータは、実際
は、上記のユーザデータ部１９ｂに格納される。またＥ
ＣＣデータ部１９ｃには、セクタ内のデータが正常であ
ることを検証するためのデータが格納される。

【００１６】また、予備領域１５ｂにもユーザデータ領
域１５ａと同様に、セクタが割り当てられる。ただし、
予備領域１５ｂに割り当てられたセクタは、ユーザデー
タ領域１５ａのセクタが欠陥セクタであった場合に代替
されるセクタすなわち代替セクタとして用いられる。欠
陥セクタは不揮発性半導体ディスク装置製造直後にも生
じることがあり、該装置使用中にも生じることがある。
欠陥セクタとなったセクタのヘッダデータ部１９ａの第
１の領域１９ａａには、セクタが正常にデータを格納す
ることができることを示すフラグが存在しない。

【００１７】この従来の不揮発性半導体ディスク装置の
場合、代替セクタを指定する情報、すなわち欠陥セクタ
についての代替セクタが予備領域１５ｂ内のいかなるア
ドレスのセクタであるかを示す情報等は、管理情報領域
１５ｃに格納される。そして、不揮発性半導体メモリア
レイ１５のデータ書き込みまたは読み出し対象の各セク
タに対し、ホストがデータ書き込みまたは読み出し動作
をする中で、セクタのヘッダデータ部に正常に情報を格
納することを示すフラグがある場合は、そのセクタに対
しデータ書き込みまたは読み出しがなされる。一方、フ
ラグがない場合は、マイクロコントローラ１７は管理情
報領域１５ｃから管理情報を読み出し、該管理情報で判
明する代替セクタに対しデータ書き込みまたは読み出し
をする。このような処理がデータ書き込みまたは読み出
し対象の全セクタに対し行なわれる。

【００１８】しかしながら、上記の従来技術では、欠陥
セクタへデータ書き込みまたは読み出しする場合、該欠
陥セクタについての代替セクタのアドレスを管理情報領
域１５ｃより読み出し、それに基づいて代替セクタを探
す処理をする必要があるので、正常なセクタへデータ書
き込みまたは読み出しする場合に比べて、倍以上の時間
を必要とする。これは、外部記憶装置におけるデータ書
き込みまたは読み出し速度を低下させる原因になるので
好ましくない。

【００１９】これを解決する従来技術の１つとして、特
開昭６３−１２９５６３号公報に開示されている技術が
ある。すなわち欠陥セクタ自体のＩＤ部（ヘッダデータ
部に相当）にその代替セクタのアドレスを持たせて（例
えば公報の第２頁左下欄第１１〜１４行）、セクタのデ
ータを読む際に代替セクタのアドレスも得、これにより
データの入出力スループットを高める（第２頁左下欄第
７行等）という技術がある。

【００２０】また、別の従来技術として、特開平４−７
９０７４号公報に開示されている技術がある。すなわち
欠陥セクタ自体のＩＤ部（ヘッダデータ部に相当）にそ
の代替セクタのアドレスを持たせ、しかも、このような
ＩＤ部を当該欠陥セクタに複数個用意するという技術が
ある（例えば公報の第３頁右上欄第１２〜１８行）。こ
の特開平４−７９０７４号公報に開示されている技術の
場合は、セクタのデータを読む際に代替セクタのアドレ
スが得られるので、データの入出力スループットを高め
ることができる。然も、欠陥セクタに複数個のＩＤ部を
用意したので、欠陥セクタの１つのＩＤ部自体が欠陥で
あった場合でも、その次のＩＤ部を順に参照すること
で、正常な代替処理ができる（第３頁左下欄第１〜１１
行）。

【００２１】しかしながら、特開昭６３−１２９５６３
号公報および特開平４−７９０７４号公報に開示されて
いる各技術では、セクタを順次にアクセスする際の次ア
ドレスのセクタが欠陥セクタであるか否かは、次アドレ
スのセクタのＩＤ部自体の情報を見てからでないと判別
することができない。そのため、次アドレスのＩＤ部の
情報を見る必要がある分だけ、データの入出力スループ
ットの高速化を図る上で好ましくない。

【００２２】また、特開平４−７９０７４号公報に開示
されている技術の、特にＩＤ部を複数設けるという技術
では、ＩＤ部に欠陥があった場合の手当は確かにできる
が、元のセクタに対し真に正当な代替セクタへ代替処理
がされたかどうかという点では、不安が残ると考えられ
る。

【００２３】また、図５を参照して説明した従来の外部
記憶装置の場合、管理情報領域中の、欠陥セクタおよび
代替セクタに関する情報が何らかの原因により壊れた場
合、不揮発性半導体ディスク装置の欠陥セクタへのデー
タを管理できなくなり、一度に多くのデータを失う危険
性もあった。

【００２４】従って、セクタのアクセスの高速化に好適
な、欠陥セクタの代替方法が望まれる。

【００２５】また、セクタのアクセスの高速化に好適で
然も欠陥セクタと代替セクタとの関係の正当性を簡易に
判定できる、欠陥セクタの代替方法が望まれる。

【００２６】また、欠陥セクタの代替セクタに関する情
報を少なくとも格納する管理情報領域を有した外部記憶
装置での、該情報が壊れた場合の復元ができる方法が望
まれる。

【００２７】また、上記の欠陥セクタの代替方法それぞ
れの実施に好適な外部記憶装置と、情報復元方法の実施
に好適な外部記憶装置とが望まれる。

【００２８】

【課題を解決するための手段】

（１）そこで、この出願の欠陥セクタの代替方法の第１
の発明によれば、多数のセクタを具える外部記憶装置で
欠陥セクタが生じた場合、該欠陥セクタより１つ前のア
ドレスのセクタに前記欠陥セクタの代替セクタのアドレ
ス情報を格納する。そして、セクタを順次にアクセスす
る際に前記代替セクタのアドレス情報が出現した場合
は、次アドレスの代わりに、前記代替セクタのアドレス
情報により指定される代替セクタをアクセスすることを
特徴とする。

【００２９】ここで、欠陥セクタが生じた場合のその代
替セクタのアドレス情報を欠陥セクタより１つ前のアド
レスのセクタに格納するという処理は、外部記憶装置に
具わる多数のセクタのうちの所定のセクタ群を対象とし
て行なう。ただし、この所定のセクタ群とは前記多数の
セクタのうちの一部のセクタ群でも良いし、または、全
部のセクタ群でも良い。図５を用いて説明した不揮発性
半導体ディスク装置の例で具体的に説明すれば、(1).ユ
ーザデータ領域１５ａ、(2).予備領域１５ｂ、(3).管理
情報領域１５ｃのうちの、いずれか１つの領域でも良い
し、または２以上の領域でも良い。しかし、典型的に
は、ユーザデータ領域１５ａ内のセクタ群を前記所定の
セクタ群とする。

【００３０】この欠陥セクタの代替方法の第１の発明に
よれば、あるセクタをアクセスする際に、該セクタの情
報と共に、次アドレスのセクタが正常ならばその旨の情
報をまた、次アドレスのセクタが欠陥セクタである場合
はその代替セクタのアドレス情報（これらを代替情報と
もいう）を、読むことができる。そのため、次アドレス
のセクタが正常な場合は次アドレスのセクタを順次にア
クセスでき、次アドレスのセクタが欠陥セクタである場
合は、次アドレスのセクタをアクセスする代わりに代替
セクタを直接アクセスすることができる。そのため外部
記憶装置でのデータ書き込みや読み出しの高速化が図れ
る。

【００３１】なお、この欠陥セクタの代替方法の第１の
発明を実施するに当たり、代替セクタのアドレス情報
は、欠陥セクタより１つ前のアドレスのセクタ内であれ
ば、いずれの個所に記憶させても良いと考える。しか
し、この代替セクタのアドレス情報を、セクタのヘッダ
データ部内に設けるのが好ましい。なぜならヘッダデー
タ部のデータはセクタをアクセスする際に最初に読まれ
る。したがって、代替セクタのアドレス情報を、セクタ
のヘッダデータ部内に設けておけば、次アドレスのセク
タが欠陥セクタなのか正常セクタなのかの判断が素早く
できるからである。

【００３２】また、この欠陥セクタの代替方法の第１の
発明の場合、代替セクタのアドレス情報は、欠陥セクタ
の１つ前のアドレスのセクタに記憶させるので、代替セ
クタのアドレス情報を欠陥セクタ自体に記憶させる場合
より、代替セクタのアドレス情報の信頼性は高いと考え
られる。ただし、代替セクタが欠陥セクタの正当な代替
セクタであるかどうかを判断することを可能にする意味
で、代替セクタ内に、該代替セクタを代替先とした元セ
クタのアドレス情報を格納し、そして、代替セクタをア
クセスした際は、該代替セクタに格納されている元セク
タのアドレス情報から該代替セクタが元セクタの正当な
代替セクタであるか否かを判定するようにしても良い。

【００３３】また、この欠陥セクタの代替方法の第１の
発明は、磁気ディスク装置をはじめ種々の外部記憶装置
に適用することが出来る。ただし、好ましくはこの出願
の各発明は、不揮発性半導体ディスク装置に適用するの
が良い。磁気ディスク装置であると、例えば欠陥セクタ
とその１つ前のアドレスのセクタとが、異なるトラック
に含まれてしまった場合に磁気ヘッドの移動自体に時間
がかかってしまう場合がある。これに対し不揮発性半導
体ディスク装置であるとセクタのアドレッシングはセク
タの位置にかかわらず、同様な速度で行なえるからであ
る。以下の各発明も、アドレッシングの容易さから、不
揮発性半導体ディスク装置に適用するのが良いと考え
る。

【００３４】なお、欠陥セクタの代替方法の第１の発明
を実施するため、セクタを多数具えた外部記憶装置であ
って、前記多数のセクタのうちの所定のセクタ群の各セ
クタに、当該セクタの次のアドレスのセクタが正常であ
る場合はその旨の情報をまた該次のアドレスのセクタが
欠陥セクタである場合はその代替セクタのアドレス情報
を格納する代替情報格納領域を具えた外部記憶装置を用
意するのが良い。

【００３５】（２）また、この出願の欠陥セクタの代替
方法の第２の発明によれば、多数のセクタを具える外部
記憶装置で欠陥セクタが生じた場合、該欠陥セクタにそ
の代替セクタのアドレス情報を格納し、一方、該代替セ
クタ内には、該代替セクタを代替先とした元セクタのア
ドレス情報を格納する。そして、セクタを順次にアクセ
スする際に前記代替セクタのアドレス情報が出現した場
合は、当該セクタの代わりに、該代替セクタのアドレス
情報により指定される代替セクタをアクセスし、しか
も、該代替セクタに格納されている前記元セクタのアド
レス情報から該代替セクタが前記元セクタの正当な代替
セクタであるか否かを判定することを特徴とする。

【００３６】この欠陥セクタの代替方法の第２の発明に
よれば、セクタをアクセスするとそのセクタが欠陥セク
タであるか否かと、欠陥セクタであった場合はその代替
セクタのアドレス情報とが分かる。そして、当該セクタ
が欠陥セクタであった場合は、前記代替セクタのアドレ
ス情報に基づいて代替セクタをアクセスする。そのた
め、欠陥セクタについての代替セクタのアドレスを管理
情報領域（図５参照）から読み出して代替セクタをアク
セスする場合に比べ、代替セクタのアクセスを高速に行
なえる。然も、代替セクタには元セクタのアドレス情報
が記憶されているので、元セクタのアドレスと代替セク
タに記憶してある元セクタのアドレスとを照合すること
ができる。したがって、代替セクタが欠陥セクタに対し
て正当なセクタか否かの判断も、セクタのアクセス動作
の中で簡易に行なうことができる。

【００３７】ここで、当該セクタが欠陥セクタである場
合の代替セクタのアドレス情報は、当該セクタ内であれ
ば、いずれの個所に記憶させても良い。例えば図５の例
でいえば、ヘッダデータ部でもユーザデータ部でも良い
と考える。

【００３８】なお、欠陥セクタの代替方法の第２の発明
を実施するため、セクタを多数具えた外部記憶装置であ
って、：前記多数のセクタのうちの所定のセクタ群の
各セクタに、当該セクタが欠陥セクタであった場合のそ
の代替セクタのアドレス情報を格納する代替情報格納領
域を具え、：代替セクタとして使用されるセクタに、
該代替セクタを代替先に指定した元セクタのアドレス情
報を少なくとも格納する元情報格納領域を具え、：前
記元セクタとその代替セクタとの関係が正当であるか否
かを、該代替セクタに格納された元セクタのアドレス情
報に基づいて判定し、該関係が正当と判定された場合は
該代替セクタに対するデータの書き込みまたは読み出し
を可能状態にする代替セクタ判定手段を具えた外部記憶
装置を、用意するのが良い。ここで、所定のセクタ群と
は、欠陥セクタの代替方法の第１の発明にて説明したセ
クタ群とすることができる。

【００３９】（３）また、この出願の情報の復元方法の
発明によれば、多数のセクタと該多数のセクタ中に欠陥
セクタが生じた場合のその代替セクタについての情報を
少なくとも格納する管理情報領域とを具える外部記憶装
置での前記代替セクタに、このセクタを代替先とする元
セクタのアドレス情報を格納する。そして、前記管理情
報領域内の前記代替セクタについての情報が壊れた際
は、該壊れた情報を、前記代替セクタに格納してある前
記元セクタのアドレス情報に基づいて復元することを特
徴とする。

【００４０】この情報の復元方法の発明によれば、代替
セクタに元セクタのアドレス情報を格納したので、管理
情報領域の代替セクタに関する情報が壊れた場合でも、
この壊れた情報は、代替セクタ参照することにより復元
することができる。

【００４１】なお、この情報の復元方法の発明を実施す
るため、多数のセクタと、これらセクタ中に欠陥セクタ
があった場合のその代替セクタに関する情報を少なくと
も格納する管理情報領域とを具える外部記憶装置であっ
て、：代替セクタに、そのセクタを代替先とする元セ
クタのアドレス情報を少なくとも格納する領域を具え、
：前記管理情報格納領域中の前記代替セクタに関する
情報が何らかの原因で壊れた場合に、該壊れた情報を、
前記代替セクタに格納される前記元セクタのアドレス情
報に基づいて復元する手段を具えた外部記憶装置を用意
するのが良い。

【００４２】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの出願の
各発明の実施の形態について説明する。ただし、説明に
用いる各図はこの発明を理解することができる程度に概
略的に示してあるにすぎない。また、各図において同様
な構成成分については同一の番号を付して示し、その重
複する説明を省略することもある。

【００４３】１．欠陥セクタの代替方法の第１の発明の
実施の形態 ここでは、図５を用いて説明した不揮発性半導体ディス
ク装置にこの発明を適用する例を説明する。

【００４４】したがって、不揮発性半導体ディスク装置
は、従来同様、ホストインタフェース１１、メモリ制御
ロジック１３、不揮発性半導体メモリアレイ１５および
マイクロコントローラ１７を具える。然も、不揮発性半
導体メモリアレイ１５のユーザデータ領域１５ａや予備
領域１５ｂ内の各セクタは、ヘッダデータ部１９ａ、ユ
ーザデータ部１９ｂおよびＥＣＣ部１９ｃを具える。

【００４５】ただし、マイクロコントローラ１７或はそ
の外部ＲＯＭには、この発明の欠陥セクタの代替方法の
処理手順を可能とする制御プログラム（詳細は動作説明
参照）を内蔵する。さらに、ヘッダデータ部１９ａは、
従来構成ではそのセクタが正常であることを示すフラグ
を格納する第１の領域１９ａａと、このセクタに対する
データ書き換え回数を格納する第２の領域１９ａｂとい
う２つの領域を具えるのみであったのに対し、この発明
では図１に示したように、第３の領域１９ａｃをさらに
具える。そしてこの場合は、ユーザデータ領域１５ａ内
の各セクタの第３の領域１９ａｃに、そのセクタの次の
アドレスのセクタが正常なセクタである場合はその旨を
示す情報を、また、そのセクタの次のアドレスのセクタ
が欠陥セクタである場合はその代替セクタのアドレス情
報（これら情報を代替情報ともいう）をそれぞれ格納す
る。

【００４６】ここで欠陥セクタとは、この不揮発性半導
体ディスク装置では、同一セクタに対するデータの書き
換え回数が規定回数を越えた場合やセクタ中にデータを
正しく格納できないビットが生じた場合等のセクタをい
う。なおセクタ中にデータを正しく格納できないビット
が生じるという欠陥は、ディスク装置の製造直後の初期
欠陥としても生じるし、ディスク装置の使用途中にも生
じる。正常であったセクタが欠陥セクタとなったとき
は、そのセクタの１つ前のアドレスのセクタの第３の領
域１９ａｃの情報を、次セクタが正常である旨を示す情
報から、次セクタの代替セクタのアドレス情報に変え
る。

【００４７】次に、この不揮発性半導体ディスク装置に
データを書き込む場合の動作について図２、図１および
図４を参照して説明する。

【００４８】ホスト（図示せず）が不揮発性半導体ディ
スク装置にデータを書き込むとき、ホストはデータを書
き込むことを示すコマンドと、書き込み開始セクタのア
ドレス（以下、開始セクタアドレスと呼ぶ）と、開始セ
クタアドレスから何セクタまでにデータを書き込むかを
示すセクタの数（以下、セクタカウントと呼ぶ）とを、
ホストインタフェース１１内の図示しないレジスタに設
定する（Ｓ２０１）。

【００４９】コマンドが設定されるとホストインタフェ
ース１１からマイクロコントローラ１７へ通知され、通
知を受けたマイクロコントローラ１７は、ホストインタ
フェース１１からコマンドを読み出し、それを解釈する
（Ｓ２０２）。データを書き込むことを示すコマンドで
あることを認識した後（Ｓ２０３）、マイクロコントロ
ーラ１７は、ホストインタフェース１１とメモリ制御ロ
ジック１３に対しホストからデータを転送するように制
御する（Ｓ２０４）。ホストから転送されたデータはメ
モリ制御ロジック１３の図示しないバッファへ一時的に
格納される。次に、マイクロコントローラ１７は、ホス
トから設定された開始セクタアドレスが、ユーザデータ
領域１５ａ内のアドレスであることを確認する（Ｓ２０
５）。そうでない場合は例えばエラー表示をし動作を終
了とする。

【００５０】ここで開始セクタアドレスが示すセクタ
（開始セクタ）がユーザデータ領域１５ａ内のセクタで
ある場合、開始セクタのヘッダデータ部１９ａの情報を
読み出す（Ｓ２０６）。

【００５１】次にこの読み出したヘッダデータ部１９ａ
の第１の領域１９ａａに正常にデータを格納することが
できることを示すフラグがあるか否かを判断する（Ｓ２
０７）。このフラグがあれば、ホストから転送されてい
るデータをセクタアドレスが示すセクタに書き込む（Ｓ
２０９）。ただし、フラグがあるか否かにかかわらず、
このヘッダデータ部１９ａの第３の領域１９ａｃに格納
されている次アドレスのセクタに関する代替情報、すな
わち次アドレスのセクタが正常セクタかという情報、ま
たは、欠陥セクタの場合はその代替セクタのアドレス情
報を取得する（Ｓ２０８）。このステップＳ２０８の処
理により、次アドレスのセクタが欠陥セクタであるか否
かと、欠陥セクタである場合はその代替セクタのアドレ
ス情報とが、次アドレスをアクセスせずとも分かる。

【００５２】一方、ステップＳ２０７にて、開始セクタ
がユーザデータ領域１５ａ内のセクタであるにはある
が、そのセクタのヘッダデータ部１９ａの第１の領域１
９ａａに正常にデータを格納することができることを示
すフラグがないとき（即ち、開始セクタ自体が欠陥セク
タであるとき）、この開始セクタよりアドレスが１つ前
のアドレスのセクタのヘッダデータ部１９ａにおける第
３の領域１９ａｃの代替情報等を読み出す（Ｓ２１
０）。これから分かるように、この第１の発明の場合
は、ヘッダデータ部１９ａの第１の領域１９ａａにフラ
グがあるか否かは、開始セクタの処理において意義を持
つ。そしてこの場合の開始セクタより１つ前のアドレス
のセクタの第３の領域１９ａｃには、開始セクタの代替
セクタのアドレス情報が既に格納されているため、この
代替セクタのアドレス情報を得る（Ｓ２１１）。この際
に正常に代替セクタのアドレス情報が得られた場合は
（Ｓ２１２）、ホストから転送されたデータをこの代替
セクタに書き込む（Ｓ２０９）。ただし、先にも述べた
が、フラグがあるか否かにかかわらず、セクタのヘッダ
データ部１９ａの第３の領域１９ａｃに格納されている
次アドレスのセクタに関する代替情報等を取得する（Ｓ
２０８）。このステップＳ２０８の処理により、次アド
レスのセクタが欠陥セクタであるか否かと、欠陥セクタ
である場合はその代替セクタのアドレス情報とが得られ
る。なお、正常に代替セクタのアドレス情報が得られた
か否かは、例えば、該アドレス情報が代替セクタに予定
されているアドレス内のものか否かにより行なえる。

【００５３】また、ステップＳ２１２の処理にて代替セ
クタのアドレス情報が得られなかった場合には、例え
ば、従来の不揮発性半導体ディスク装置と同様に管理情
報領域１５ｃより管理情報を読み出す（Ｓ２１３）。そ
して、ホストが設定したセクタアドレスが示すセクタが
代替処理されているか調べ、既に代替処理されている場
合には、代替されているセクタにホストから転送された
データを書き込み、代替処理されていない場合には、予
備領域１５ｂより代替処理に使用されていないセクタを
検索し、そのセクタにデータを書き込む（Ｓ２１４、２
０８、２０９）。

【００５４】１つの正常セクタに対し或は代替セクタに
対しデータ書き込みを終えた後は、書き込み予定のセク
タがまだ残っているか否かを判定する（Ｓ２１５）。書
き込み予定のセクタがもうない場合は終了となり（Ｓ２
１６）、書き込み予定のセクタがまだ残っている場合
は、ステップＳ２０４より繰り返す。

【００５５】ステップＳ２０４からの繰り返し処理で
は、全てのセクタが開始セクタではない（すなわち開始
セクタに続く残りのセクタである）。そして、開始セク
タのすぐ後のセクタについてはそれが正常セクタなのか
欠陥セクタなのかが、開始セクタの処理の時に第３の領
域１９ａｃの情報から判明しているので、速やかに次ア
ドレスのセクタかあるいは、代替セクタがアクセスされ
て、そこにデータが書き込まれる（ステップＳ２１
５）。もちろん、ここでアクセスしたセクタの情報を読
むときには、そのセクタのヘッダデータ部１９ａの第３
の領域１９ａｃの情報から、次のアドレスのセクタが正
常なセクタか欠陥セクタかも判断することができる（Ｓ
２０８）。然も、次のアドレスのセクタが欠陥セクタで
ある場合はその代替セクタのアドレス情報も分かる。従
って、次のアドレスのセクタが正常なセクタである場合
は、次のアドレスのセクタに順次にデータ書き込みが行
なわれる。これに対し、次のアドレスのセクタが欠陥セ
クタである場合は、次のアドレスのセクタはアクセスせ
ずに、代替セクタを直にアクセスしてこれにデータ書き
込みが行なわれる。なお、代替セクタのヘッダデータ部
１９ａの第３の領域１９ａｃに、このセクタを代替先と
したセクタ（元セクタ）の次のセクタが正常なセクタで
ある場合はその旨の情報を、また、元セクタの次のセク
タが欠陥セクタである場合はその代替セクタのアドレス
情報を格納するのが良い。

【００５６】上述においては、セクタにデータ書き込み
をする例を述べたが、欠陥セクタの代替方法の第１の発
明では、このセクタからデータを読み出す場合も、次の
アドレスのセクタが正常なセクタである場合は、次のア
ドレスのセクタを順次にアクセスしてデータを読み出す
ことができ、また、次のアドレスのセクタが欠陥セクタ
である場合は、次のアドレスのセクタはアクセスせず
に、代替セクタを直にアクセスしてそのデータを読み出
すことが、もちろんできる。これについて以下、説明す
る。

【００５７】ホストが不揮発性半導体ディスク装置から
データを読み出すとき、ホストは、データを読み出すこ
とを示すコマンドと、開始セクタアドレスと、セクタカ
ウントとを、ホストインタフェース１１内の図示しない
レジスタに設定する。コマンドが設定されるとホストイ
ンタフェース１１からマイクロコントローラ１７へ通知
され、通知を受けたマイクロコントローラ１７は、ホス
トインタフェース１１からコマンドを読み出し、それを
解釈する。

【００５８】マイクロコントローラ１７は、コマンドが
データを読み出すことを示すコマンドであることを認識
し、かつ、ホストから設定された開始セクタアドレス
が、ユーザデータ領域１５ａ内のセクタを示すものであ
ることを確認した後、セクタアドレスが示すセクタの全
データを読み出す。読み出されたデータはメモリ制御ロ
ジック１３の図示しないバッファへ一時的に格納され
る。

【００５９】読み出したセクタのヘッダデータ部１９ａ
の第１の領域１９ａａに、正常にデータを格納すること
ができることを示すフラグがあれば、マイクロコントロ
ーラ１７は、ホストインタフェース１１とメモリ制御ロ
ジック１３とに対し、ホストへデータを転送するように
制御する。これにより、セクタアドレスが示すセクタに
ホストから転送されメモリ制御ロジック１３の図示しな
いバッファへ一時的に格納されていたデータは、ホスト
へ転送される。

【００６０】これに対し読み出したセクタのヘッダデー
タ部１９ａの第１の領域１９ａａに、正常にデータを格
納することができることを示すフラグがないときは（即
ち、欠陥セクタであるときは）、マイクロコントローラ
１７は、開始セクタよりアドレスが１つ前のアドレスの
ヘッダデータ部１９ａの第３の領域１９ａｃの代替セク
タのアドレス情報を読み出す。そして、この代替セクタ
に格納されているデータをホストに転送するようメモリ
制御ロジック１３を制御する。

【００６１】ここで、１つ前のアドレスのセクタから代
替セクタのアドレス情報が正常に得られなかった場合
は、マイクロコントローラ１７は、例えば管理情報領域
の管理情報を読み出す。そしてホストが設定したセクタ
が代替処理されているか調べる。既に代替処理されてい
る場合は、代替されているセクタからホストにデータを
転送するよう、マイクロコントローラ１７はメモリ制御
ロジック１３を制御する。

【００６２】開始セクタ以降の各セクタについての処理
は、その処理がセクタからのデータ読み出しであること
除いては、上記のデータ書き込みの処理と同様に行なわ
れるので、その説明を省略する。

【００６３】上述した説明から明らかなように、この出
願の欠陥セクタの代替方法の第１の発明によれば、セク
タに対しデータ書き込みまたは読み出しをする際にある
セクタをアクセスすると、その際次のアドレスのセクタ
が欠陥セクタであるか否かという情報と、欠陥セクタで
ある場合はその代替セクタのアドレス情報とが得られ
る。そのため、管理情報領域の情報を用いていた従来技
術に比べ、セクタに対しデータ書き込みまたは読み出し
をする速度の高速化が図れる。また、特開昭６３−１２
９５６３号公報および特開平４−７９０７４号公報に開
示されている各技術では、セクタを順次にアクセスする
際の次アドレスのセクタが欠陥セクタであるか否かは、
次アドレスのＩＤ部の情報を見てからでないと判別する
ことができなかったのに対し、この発明ではその必要が
ないから、これら公報の技術に比べても高速化が図れ
る。

【００６４】一般に、不揮発性半導体ディスク装置のよ
うな外部記憶装置では、一度に大量のデータ書き込みま
たはデータ読み出しが行われ、連続したセクタへのデー
タ書き込みまたはデータ読み出しが頻繁に発生する。こ
のようなとき、この欠陥セクタの代替方法の第１の発明
は有効である。

【００６５】また、上記の実施の形態のように、代替先
のセクタアドレスをセクタからと従来の管理情報からと
の２通りで得る場合は、一方の情報が破壊されても装置
として代替情報を失うことがないという別の利点も得ら
れる。

【００６６】２．欠陥セクタの代替方法の第２の発明の
実施の形態次に、欠陥セクタの代替方法の第２の発明の
実施の形態について説明する。ここでは、図５を用いて
説明した不揮発性半導体ディスク装置にこの発明を適用
する例を考える。

【００６７】したがって、不揮発性半導体ディスク装置
は、従来同様、ホストインタフェース１１、メモリ制御
ロジック１３、不揮発性半導体メモリアレイ１５および
マイクロコントローラ１７を具える。然も、不揮発性半
導体メモリアレイ１５のユーザデータ領域１５ａや予備
領域１５ｂ内の各セクタは、ヘッダデータ部１９ａ、ユ
ーザデータ部１９ｂおよびＥＣＣ部１５ｃを具える。

【００６８】ただし、マイクロコントローラ１７或はそ
の外部ＲＯＭには、この発明の欠陥セクタの代替方法の
処理手順を可能とする制御プログラム（詳細は動作説明
参照）を内蔵する。さらに、ヘッダデータ部１９ａは、
従来構成ではそのセクタが正常であることを示すフラグ
を格納する第１の領域１９ａａと、このセクタに対する
データ書き換え回数を格納する第２の領域１９ａｂとい
う２つの領域を具えるのみであったのに対し、この発明
では図３に示したように、第３の領域１９ａｘをさらに
具える。そしてこの場合は、予備領域１５ｂ内の各セク
タの第３の領域１９ａｘに、そのセクタが代替セクタと
して使用されるか否かという情報と、代替セクタとして
使用される場合はそのセクタを代替元としたセクタ（こ
れを元セクタともいう）のアドレス情報とを格納する。
ここでは、この第３の領域１９ａｘが、この発明でいう
元情報格納領域に相当する。

【００６９】一方、ユーザデータ領域１５ａ内の各セク
タのうち欠陥セクタについては、このセクタ内にその代
替セクタのアドレス情報（代替情報ともいう）を格納す
る。この代替情報をこの実施の形態では、欠陥セクタの
ユーザデータ部１９ｂに記憶する。ただし、代替情報を
欠陥セクタのヘッダデータ部１９ａの第３の領域１９ａ
ｘに格納しても良い。ここで欠陥セクタは上記の第１の
発明で説明したセクタである。

【００７０】次に、この不揮発性半導体ディスク装置に
データを書き込む場合の動作について図３、図４、およ
び図５（Ａ）、（Ｂ）を参照して説明する。

【００７１】ホストが不揮発性半導体ディスク装置から
データを読み出すとき、ホストはデータを読み出すこと
を示すコマンドと、アクセスを開始するセクタのアドレ
ス（これを開始セクタアドレスともいう）と、開始セク
タからいくつのセクタをアクセスするかという数（これ
をセクタカウントともいう）とを、ホストインタフェー
ス１１内の図示しないレジスタに設定する（Ｓ４０
１）。

【００７２】コマンドが設定されるとホストインタフェ
ース１１は、マイクロコントローラ１７に通知する。通
知を受けたマイクロコントローラ１７は、ホストインタ
フェース１１からコマンドを読み出し、それを解釈する
（Ｓ４０２）。

【００７３】マイクロコントローラ１７は、コマンドが
データを読み出すことを示すコマンドであることを認識
し（Ｓ４０３）、かつ、ホストから設定されたセクタア
ドレスが、ユーザデータ領域１５ａ内のセクタを示すも
のであることを確認した後（Ｓ４０４）、セクタアドレ
スが示すセクタのデータを読み出す（Ｓ４０５）。読み
出されたデータはメモリ制御ロジック１３の図示しない
バッファへ一時的に格納される。

【００７４】次に、マイクロコントローラ１７は、読み
出したセクタデータのヘッダデータ部１９ａの第１の領
域１９ａａに、正常にデータを格納することができるこ
とを示すフラグがあるか否かを判定する。すなわち、こ
のセクタが正常であるか否かを判定する（Ｓ４０６）。

【００７５】フラグがある場合は正常なセクタであるの
で、ホストインタフェース１１とメモリ制御ロジック１
３に対し、マイクロコントローラ１７は、ホストへデー
タを転送するように制御する。これにより、セクタアド
レスが示すセクタにホストから転送され、メモリ制御ロ
ジック１３の図示しないバッファへ一時的に格納されて
いたデータを、ホストへ転送する（Ｓ４０７）。

【００７６】一方、読み出したセクタデータのヘッダデ
ータ部１９ａの第１の領域１９ａａに、正常にデータを
格納することができることを示すフラグがないとき（即
ち、欠陥セクタであるとき）、欠陥セクタにはあらかじ
め代替処理をしたときにユーザデータ部１９ｂに代替セ
クタのアドレス情報を格納してあるので、マイクロコン
トローラ１７は、そのセクタアドレスを読み出す（Ｓ４
０８）。そしてそのアドレスで指定される代替セクタの
データを読み出す（Ｓ４０９）。また、読み出した代替
セクタのデータ中のヘッダデータ部１９ａの第３の領域
１９ａｘには、元セクタのアドレス情報が格納してある
ので、このアドレス情報が欠陥セクタ（元セクタ）のア
ドレス情報と一致するか否かを判定する（Ｓ４１０）。
一致していれば、この代替セクタに格納されているデー
タをホストに転送するように、マイクロコントローラ１
７は、メモリ制御ロジック１３およびホストインタフェ
ース１１を制御する（Ｓ４０７）。

【００７７】また代替セクタに格納してある元セクタの
アドレス情報が欠陥セクタのアドレス情報と一致しない
場合、すなわちユーザデータ部１９ｂより代替されてい
るセクタアドレスを得られない場合には、マイクロコン
トローラ１７は、例えば従来同様に管理情報領域１５ｃ
より管理情報を読み出す（Ｓ４１１）。そして、ホスト
が設定したセクタアドレスが示すセクタが代替処理され
ているか調べ、既に代替処理されている場合には、代替
されているセクタのデータをホストに転送するよう、マ
イクロコントローラ１７は、メモリ制御ロジック１３お
よびホストインタフェース１１を制御する（Ｓ４１２、
４１３，４０７）。

【００７８】１つの正常セクタから或は代替セクタから
データ読み出しを終えた後は、読み出し予定のセクタが
まだ残っているか否かを判定する（Ｓ４１４）。読み出
し予定のセクタがもうない場合は終了となり（Ｓ４１
５）、読み出し予定のセクタがまだ残っている場合は、
ステップＳ４０４より処理を繰り返す。

【００７９】上述においては、欠陥セクタの代替方法の
第２の発明を利用してセクタからデータを読み出す処理
例を説明したが、この第２の発明はもちろんデータ書き
込みにも適用することができる。その際は、図４を用い
た説明においての処理がデータ書き込みになることを除
いてデータ読み出しの際の処理とほぼ同様な処理で良
い。ただし、欠陥セクタに格納した代替セクタのアドレ
ス情報からでは代替セクタが得れれなかったために管理
情報に基づく処理をする際は、管理情報で代替セクタが
決まっていない場合は、マイクロコントローラ１７は、
予備領域１５ｂに新たな代替セクタを指定しそこにデー
タを書き込む制御をする。

【００８０】上述した説明から明らかなように、この出
願の欠陥セクタの代替方法の第２の発明によれば、欠陥
セクタ内に代替セクタのアドレス情報を格納し欠陥セク
タについてはこの情報に従い代替セクタにアクセスする
ので、管理情報領域１５ｃから管理情報を読み出すこと
なく代替情報を得ることができる。そのため、管理情報
領域の情報を用いていた従来技術に比べ、セクタに対し
データ書き込みまたは読み出しをする速度の高速化が図
れる。

【００８１】しかも、代替セクタに該セクタを代替先と
した元セクタのアドレス情報を記憶し、代替セクタをア
クセスした際はこれが元セクタに対し正当か否かを判定
し、正当な場合にデータの読み書きをする。特開昭６３
−１２９５６３号公報および特開平４−７９０７４号公
報に開示されている各技術では、このような代替セクタ
の正当性の判断は行なっていない。欠陥セクタ自体に代
替セクタのアドレス情報を格納しておくことは、そのセ
クタに欠陥があるために、前記アドレス情報自体が誤っ
た情報になる可能性があるが、代替先と代替元のセクタ
アドレスを照合するこの発明の方法では、上記各特許公
報に開示の方法に比べ、信頼性高い代替情報を得ること
ができる。

【００８２】また、この欠陥セクタの代替方法の第２の
発明の実施の形態のように、セクタ側からと管理情報領
域からとの２つの領域から代替セクタのアドレス情報が
得られる構成とすると、一方の情報が壊されても、不揮
発性ディスク装置として代替情報を失うことがないとい
う別の利点も得られる。

【００８３】３．情報の復元方法の発明の実施の形態 次に、情報の復元方法の発明の実施の形態について説明
する。ここでは、図５を用いて説明した不揮発性半導体
ディスク装置にこの発明を適用する例を考える。

【００８４】したがって、不揮発性半導体ディスク装置
は、従来同様、ホストインタフェース１１、メモリ制御
ロジック１３、不揮発性半導体メモリアレイ１５および
マイクロコントローラ１７を具える。然も、不揮発性半
導体メモリアレイ１５のユーザデータ領域１５ａや予備
領域１５ｂ内の各セクタは、ヘッダデータ部１９ａ、ユ
ーザデータ部１９ｂおよびＥＣＣ部１９ｃを具える。

【００８５】ただし、マイクロコントローラ１７或はそ
の外部ＲＯＭには、この発明の情報復元方法の処理手順
を可能とする制御プログラム（詳細は動作説明参照）を
内蔵する。さらに、ヘッダデータ部１９ａは、従来構成
ではそのセクタが正常であることを示すフラグを格納す
る第１の領域１９ａａと、このセクタに対するデータ書
き換え回数を格納する第２の領域１９ａｂという２つの
領域を具えるのみであったのに対し、図３に示したよう
に、第３の領域１９ａｘをさらに具える。

【００８６】この実施の形態では、上述の欠陥セクタの
代替方法の第２の発明の実施の形態のように、予備領域
１５ｂ内のセクタ内に、そのセクタが代替処理で使用さ
れるか否かという情報と、代替処理で使用されるなら
ば、そのセクタを代替先とする元セクタのアドレス情報
とを格納する。具体的には、予備領域１５ｂ内のセクタ
のヘッダデータ部１９ａの第３の領域１９ａｘに、その
セクタが代替処理で使用されるか否かという情報と、代
替処理で使用されるならば、そのセクタを代替先とする
元セクタのアドレス情報とを格納する。

【００８７】管理情報領域１５ｃ内の管理情報が壊れて
しまった場合において、マイクロコントローラ１７は、
予備領域１５ｂ内にある全てのセクタのヘッダデータ部
１９ａを読み出す。そしてヘッダデータ部１９ａの第３
の領域１９ａｘから、代替に使用されているセクタを抽
出する。次に、それらのセクタの代替元のセクタアドレ
スを抽出する。これにより、壊れた管理情報を再度、構
築することができる。

【００８８】したがって、この出願の情報の復元方法の
発明によれば、予備領域内にあるセクタの代替情報か
ら、不揮発性半導体メモリアレイ１５上に存在する欠陥
セクタの管理情報を復元することが可能であり、従来の
不揮発性半導体ディスク装置のように管理情報が壊れた
場合においても、ユーザデータを損失することなくデー
タを管理できる。

【００８９】

【発明の効果】上述した説明から明らかなように、欠陥
セクタの代替方法の第１の発明によれば、欠陥セクタが
生じた場合、この欠陥セクタより１つ前のアドレスのセ
クタに、この欠陥セクタの代替セクタのアドレス情報を
格納する。そして、セクタを順次にアクセスする際に前
記代替セクタのアドレス情報が出現した場合は、次アド
レスの代わりに、前記代替セクタのアドレス情報により
指定される代替セクタをアクセスする。そのため、ある
セクタをアクセスする際に、該セクタの情報と共に、次
アドレスのセクタが正常ならばその旨の情報をまた、次
アドレスのセクタが欠陥セクタである場合はその代替セ
クタのアドレス情報（これらを代替情報ともいう）を読
むことができる。したがって、セクタを連続的にアクセ
スできるので、外部記憶装置でのデータ書き込みや読み
出しの高速化が図れる。

【００９０】また、欠陥セクタの代替方法の第２の発明
によれば、欠陥セクタにその代替セクタのアドレス情報
を格納し、この代替セクタ内に、この代替セクタを代替
先とした元セクタのアドレス情報を格納する。そして、
セクタを順次にアクセスする際に前記代替セクタのアド
レス情報が出現した場合は、当該セクタの代わりに、該
代替セクタのアドレス情報により指定される代替セクタ
をアクセスする。しかも、該代替セクタに格納されてい
る前記元セクタのアドレス情報から該代替セクタが前記
元セクタの正当な代替セクタであるか否かを判定する。
そのため、代替セクタのアドレスを管理情報領域から読
み出して代替セクタをアクセスする場合に比べ、代替セ
クタのアクセスを高速に行なえる。然も、代替セクタに
は元セクタのアドレス情報が記憶されているので、元セ
クタのアドレスと代替セクタに記憶してある元セクタの
アドレスとを照合することができる。そのため、代替セ
クタが欠陥セクタに対して正当なセクタか否かの判断
も、セクタのアクセス動作の中で簡易に行なうことがで
きる。

【００９１】また、情報の復元方法の発明によれば、多
数のセクタと該多数のセクタ中に欠陥セクタが生じた場
合のその代替セクタについての情報を少なくとも格納す
る管理情報領域とを具える外部記憶装置での前記代替セ
クタに、このセクタを代替先とする元セクタのアドレス
情報を格納する。そして、前記管理情報領域内の前記代
替セクタについての情報が壊れた際は、該壊れた情報
を、前記代替セクタに格納してある前記元セクタのアド
レス情報に基づいて復元する。そのため管理情報領域の
代替セクタに関する情報が壊れた場合でも、この壊れた
情報は、代替セクタを参照することにより復元すること
ができる。したがって、管理情報が壊れた場合でもユー
ザデータを損失することなくデータを管理することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】欠陥セクタの代替方法の第１の発明の実施の形
態での、セクタの構成を示す図である。

【図２】欠陥セクタの代替方法の第１の発明の実施の形
態での、動作説明図である。

【図３】欠陥セクタの代替方法の第２の発明の実施の形
態での、代替セクタの構成を示す図である。

【図４】欠陥セクタの代替方法の第２の発明の実施の形
態での、動作説明図である。

【図５】従来技術および本発明の外部記憶装置の説明図
であり、（Ａ）はその全体構成図、（Ｂ）は不揮発性半
導体メモリアレイの構成説明図、（Ｃ）は従来でのセク
タの説明図である。

【符号の説明】

１５：不揮発性半導体メモリアレイ １５ａ：ユーザデータ領域 １５ｂ：予備領域 １５ｃ：管理情報領域 １９ａ：ヘッダデータ部 １９ａａ：第１の領域（フラグ格納領域） １９ａｂ：第２の領域（書き換え回数格納領域） １９ａｃ：第３の領域（代替情報格納領域） １９ａｘ：第３の領域（元情報格納領域） １９ｂ：ユーザデータ部 １９ｃ：ＥＣＣ部

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 多数のセクタを具える外部記憶装置で欠
   陥セクタが生じた場合、該欠陥セクタより１つ前のアド
   レスのセクタに、前記欠陥セクタの代替セクタのアドレ
   ス情報を格納し、 セクタを順次にアクセスする際に前記代替セクタのアド
   レス情報が出現した場合は、次アドレスのセクタの代わ
   りに、前記代替セクタのアドレス情報で指定される代替
   セクタをアクセスすることを特徴とする欠陥セクタの代
   替方法。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の欠陥セクタの代替方法
   において、 前記代替セクタのアドレス情報を、セクタのヘッダデー
   タ部内に格納することを特徴とする欠陥セクタの代替方
   法。
3. 【請求項３】 請求項１に記載の欠陥セクタの代替方法
   において、 前記代替セクタ内に、該代替セクタを代替先とした元セ
   クタのアドレス情報を格納し、 該代替セクタをアクセスした際は、該代替セクタに格納
   されている前記元セクタのアドレス情報から該代替セク
   タが前記元セクタの正当な代替セクタであるか否かを判
   定することを特徴とする欠陥セクタの代替方法。
4. 【請求項４】 多数のセクタを具える外部記憶装置で欠
   陥セクタが生じた場合、該欠陥セクタにその代替セクタ
   のアドレス情報を格納し、一方、該代替セクタ内には、
   該代替セクタを代替先とした元セクタのアドレス情報を
   格納し、 セクタを順次にアクセスする際に前記代替セクタのアド
   レス情報が出現した場合は、当該セクタの代わりに、該
   代替セクタのアドレス情報により指定される代替セクタ
   をアクセスし、しかも、該代替セクタに格納されている
   前記元セクタのアドレス情報から該代替セクタが前記元
   セクタの正当な代替セクタであるか否かを判定すること
   を特徴とする欠陥セクタの代替方法。
5. 【請求項５】 請求項１または４に記載の欠陥セクタの
   代替方法において、 前記外部記憶装置が不揮発性半導体ディスク装置である
   ことを特徴とする欠陥セクタの代替方法。
6. 【請求項６】 多数のセクタと該多数のセクタ中に欠陥
   セクタが生じた場合のその代替セクタについての情報を
   少なくとも格納する管理情報領域とを具える外部記憶装
   置での前記代替セクタに、このセクタを代替先とする元
   セクタのアドレス情報を格納しておき、 前記管理情報領域内の前記代替セクタについての情報が
   壊れた際は、該壊れた情報を、前記代替セクタに格納し
   てある前記元セクタのアドレス情報に基づいて復元する
   ことを特徴とする情報の復元方法。
7. 【請求項７】 請求項６に記載の情報の復元方法におい
   て、 前記外部記憶装置が不揮発性半導体ディスク装置である
   ことを特徴とする情報の復元方法。
8. 【請求項８】 多数のセクタを具える外部記憶装置にお
   いて、 前記多数のセクタのうちの所定のセクタ群の各セクタ
   に、当該セクタの次のアドレスのセクタが正常である場
   合はその旨の情報を、また該次のアドレスのセクタが欠
   陥セクタである場合はその代替セクタのアドレス情報
   を、格納する代替情報格納領域を具えたことを特徴とす
   る外部記憶装置。
9. 【請求項９】 請求項８に記載の外部記憶装置におい
   て、 前記代替情報格納領域を、各セクタのヘッダデータ部内
   に具えたことを特徴とする外部記憶装置。
10. 【請求項１０】 請求項８に記載の外部記憶装置におい
    て、 前記代替セクタに、該代替セクタを代替先に指定した元
    セクタのアドレス情報を格納する元セクタ情報格納領域
    を具え、 前記元セクタとその代替セクタとの関係が正当であるか
    否かを、該代替セクタに格納された元セクタのアドレス
    情報に基づいて判定する代替セクタ判定手段を具えたこ
    とを特徴とする外部記憶装置。
11. 【請求項１１】 セクタを多数具えた外部記憶装置にお
    いて、 前記多数のセクタのうちの所定のセクタ群の各セクタ
    に、当該セクタが欠陥セクタであった場合のその代替セ
    クタのアドレス情報を格納する代替情報格納領域を具
    え、 代替セクタとして使用されるセクタに、該代替セクタを
    代替先に指定した元セクタのアドレス情報を少なくとも
    格納する元情報格納領域を具え、 前記元セクタとその代替セクタとの関係が正当であるか
    否かを、該代替セクタに格納された元セクタのアドレス
    情報に基づいて判定し、該関係が正当と判定された場合
    は該代替セクタに対するデータの書き込みまたは読み出
    しを可能状態にする代替セクタ判定手段を具えたことを
    特徴とする外部記憶装置。
12. 【請求項１２】 多数のセクタと、これらセクタ中に欠
    陥セクタがあった場合のその代替セクタに関する情報を
    少なくとも格納する管理情報領域とを具える外部記憶装
    置において、 代替セクタに、そのセクタを代替先とする元セクタのア
    ドレス情報を少なくとも格納する領域を具え、 前記管理情報格納領域中の前記代替セクタに関する情報
    が何らかの原因で壊れた場合に、該壊れた情報を、前記
    代替セクタに格納される前記元セクタのアドレス情報に
    基づいて復元する手段を具えたことを特徴とする外部記
    憶装置。
13. 【請求項１３】 請求項８〜１２のいずれか１項に記載
    の外部記憶装置において、 前記外部記憶装置が不揮発性半導体ディスク装置である
    ことを特徴とする外部記憶装置。