JPH10325949A - Substrate for liquid crystal panel, its production, liquid crystal panel and electronic appliance using liquid crystal panel - Google Patents

Substrate for liquid crystal panel, its production, liquid crystal panel and electronic appliance using liquid crystal panel

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JPH10325949A
JPH10325949A JP13536197A JP13536197A JPH10325949A JP H10325949 A JPH10325949 A JP H10325949A JP 13536197 A JP13536197 A JP 13536197A JP 13536197 A JP13536197 A JP 13536197A JP H10325949 A JPH10325949 A JP H10325949A
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JP
Japan
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liquid crystal
light
shielding layer
crystal panel
substrate
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JP13536197A
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Japanese (ja)
Inventor
Hirotaka Kawada
浩孝 川田
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the quantity of light leaked and to diminish a leakage current in a reflection type LCD using a semiconductor as a substrate by forming a reflecting electrode and a light shielding layer which shields light from the gap in the electrode from the same electrically conductive layer. SOLUTION: An insulating film 9 of SiO2 , etc., coating a data line 7 and an Al circuit 8 is made flat, an insulating film 10 of silicon nitride, etc., having a higher etching selection rate than the insulating film 9 is formed and an insulating film 11 of SiO2 , etc., having a lower etching selection rate than the insulating film 10 is further formed. The surface of the film 11 is coated with a resist mask except a part corresponding to the gap in an image element electrode 14 and isotropic etching is carried out. Since the insulating films 9-11 are different from each other in etching selection rate and the film 10 has the highest etching selection rate, after an opening is formed in the surface film 11, the film 10 is rapidly and widely etched to form a groove for a light shielding layer. The image element electrode 14 is then formed, e.g. by a low temp. sputtering method. At the same time, a light shielding layer 15 is formed in the groove.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置さら
には反射型液晶表示装置に関し、特に半導体基板上に形
成されたMOSFET(絶縁ゲート型電界効果トランジ
スタ)によって画素電極を駆動するアクティブマトリッ
クス型LCD(液晶表示装置)に利用して好適な技術に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device and, more particularly, to a reflection type liquid crystal display device, and more particularly to an active matrix type LCD in which pixel electrodes are driven by MOSFETs (insulated gate type field effect transistors) formed on a semiconductor substrate. (Liquid crystal display device).

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、反射型アクティブマトリックスL
CDとしては、ガラス基板上にアモルファスシリコンを
用いたTFTアレーを形成し、さらにその上に層間絶縁
膜を介して反射電極となる画素電極を形成してTFTで
駆動するようにした構造のLCDが実用化されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a reflective active matrix L
As the CD, there is an LCD having a structure in which a TFT array using amorphous silicon is formed on a glass substrate, and a pixel electrode serving as a reflection electrode is formed thereon via an interlayer insulating film, and the TFT is driven by the TFT. Has been put to practical use.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記TFTを用いた反
射型アクティブマトリクスLCDはデバイスサイズが比
較的大きいため、例えばこれをライトバルブとして組み
込んだプロジェクタのような投写型表示装置にあって
は、装置全体が大型化してしまうという不具合がある。
Since the reflection type active matrix LCD using the above-mentioned TFT has a relatively large device size, for example, in a projection type display device such as a projector incorporating this as a light valve, the reflection type active matrix LCD has a large size. There is a problem that the whole becomes large.

【0004】一方、上記反射型アクティブマトリクスL
CDに比べてサイズが小さい反射型LCDとして、半導
体基板上に形成されたMOSFETアレーで反射電極と
なる画素電極を駆動するようにしたものがある。
On the other hand, the reflection type active matrix L
As a reflection type LCD smaller in size than a CD, there is one in which a pixel electrode serving as a reflection electrode is driven by a MOSFET array formed on a semiconductor substrate.

【0005】しかしながら半導体基板には、各画素電極
と画素電極との隙間から光が漏れてPN接合(画素電極
駆動用FETのソース・ドレイン領域)を通過するとリ
ーク電流が流れてしまうという問題がある。
However, the semiconductor substrate has a problem that a leak current flows when light leaks from a gap between each pixel electrode and passes through a PN junction (source / drain region of a pixel electrode driving FET). .

【0006】また、半導体を基板とするLCDにおいて
はウェル領域があるため、漏れ光がトランジスタ部分の
みでなくそこから離れた半導体基板を通過しただけでリ
ーク電流が流れることがある。つまり、基板内に光リー
ク電流が流れる箇所が、ガラス基板にTFTを島状に形
成したLCDに比べて多くなるという欠点がある。
[0006] In addition, since an LCD using a semiconductor as a substrate has a well region, a leak current may flow only when light leaks not only through a transistor portion but also through a semiconductor substrate distant therefrom. That is, there is a disadvantage that the number of locations where light leakage current flows in the substrate is larger than that of an LCD in which TFTs are formed in an island shape on a glass substrate.

【0007】そこで、半導体基板上に形成されたMOS
FETアレーと画素電極との間に遮光層を挿入する構造
が考えられるが、上記の構造は工程が増加するととも
に、MOSFETアレーと画素電極が離れるため、接続
用のVIA(中継)ホールの形成が困難になるという問
題がある。
Therefore, a MOS formed on a semiconductor substrate
Although a structure in which a light-shielding layer is inserted between the FET array and the pixel electrode is conceivable, the above structure increases the number of steps and separates the MOSFET array from the pixel electrode. There is a problem that it becomes difficult.

【0008】この発明の目的は、半導体を基板とする反
射型LCDにおいて、漏れ光の量を減らしてリーク電流
を減らすことができる技術を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a technique capable of reducing the amount of leaked light to reduce the leak current in a reflective LCD using a semiconductor as a substrate.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この発明は、上記目的を
達成するため、同一半導体基板上に、反射電極がマトリ
ックス状に配置された画素領域とその外側にシフトレジ
スタや制御回路等の周辺回路が形成された反射型液晶パ
ネル基板において、反射電極とその間隙を遮光する遮光
層を同一の導電層により形成した。さらに、上記反射電
極を形成する絶縁膜表面に遮光層用の溝と溝の上部には
庇を形成し、上記反射電極と遮光層を同一の導電層によ
りセルフアライン(自己整合的)に形成するようにし
た。
In order to achieve the above object, the present invention provides a pixel region in which reflective electrodes are arranged in a matrix on the same semiconductor substrate and peripheral circuits such as shift registers and control circuits outside the pixel region. In the reflection-type liquid crystal panel substrate on which was formed, the reflection electrode and the light-shielding layer for shielding the gap between the reflection electrodes were formed of the same conductive layer. Further, a groove for a light-shielding layer and an eave above the groove are formed on the surface of the insulating film forming the reflective electrode, and the reflective electrode and the light-shielding layer are formed in the same conductive layer in a self-aligned manner. I did it.

【0010】また、周辺回路の回路素子を遮光する第1
の遮光層と配線層と、該第1の遮光層及び配線層の間隙
を遮光する第2の遮光層が同一層により形成した。さら
に、上記配線層が形成される絶縁膜表面に遮光層用の溝
と溝の上部に上記第1の遮光層または上記配線層と上記
第2の遮光層を絶縁する庇を形成し、配線層と遮光層と
を自己整合的に形成するようにした。
[0010] A first element for shielding circuit elements of a peripheral circuit from light.
The light-shielding layer and the wiring layer, and the second light-shielding layer that shields the gap between the first light-shielding layer and the wiring layer were formed of the same layer. Further, a groove for a light shielding layer is formed on the surface of the insulating film on which the wiring layer is formed, and an eave for insulating the first light shielding layer or the wiring layer and the second light shielding layer is formed above the groove. And the light shielding layer are formed in a self-aligned manner.

【0011】また、外部から信号又は電圧が供給される
パッドと、その周辺を遮光する第1の遮光層と、該パッ
ド及び第1の遮光層の間隙を遮光する第2の遮光層が同
一層により形成した。さらに、上記パッドが形成される
絶縁膜表面に、遮光層用の溝と溝の上部に、上記第1の
遮光層または上記配線層と上記第2の遮光層を絶縁する
庇を形成し、パッドとその周辺の遮光層を自己整合的に
形成するようにした。
A pad to which a signal or voltage is externally supplied, a first light-shielding layer for shielding the periphery thereof, and a second light-shielding layer for shielding a gap between the pad and the first light-shielding layer are the same layer. Formed. Further, on the surface of the insulating film on which the pad is formed, a groove for the light-shielding layer and an eave for insulating the first light-shielding layer or the wiring layer from the second light-shielding layer are formed on the groove and the pad. And a light-shielding layer therearound are formed in a self-aligned manner.

【0012】これにより、反射電極の間隙や、配線層と
周辺回路の遮光層との間隙や、パッドとその周辺の遮光
層との間隙は、そこに入射される光が、遮光層用の溝内
に形成された遮光層により遮光されるので、基板内のP
N接合部に流れる光リーク電流を防ぐことができる。な
お、庇の存在により、庇上部の遮光層や電極と、溝内の
遮光層とがオーバーラップして配置されるようになるの
で、遮光がより確実にできることになる。さらに、庇の
存在により両者を絶縁することができるので、工程の増
加を招かない。
Thus, the gap between the reflective electrode, the gap between the wiring layer and the light-shielding layer of the peripheral circuit, and the gap between the pad and the light-shielding layer around the pad, cause the light incident thereon to pass through the groove for the light-shielding layer. The light is shielded by the light shielding layer formed in the substrate, so that P
Light leakage current flowing to the N junction can be prevented. In addition, the presence of the eaves allows the light-shielding layer or electrode on the upper part of the eaves and the light-shielding layer in the groove to be arranged so as to overlap each other. Furthermore, since both can be insulated by the presence of the eaves, the number of steps does not increase.

【0013】また、上記の遮光層用の溝と溝の上部の庇
を形成するために、エッチング選択比の異なる絶縁膜を
成膜した後、レジストマスクを介して等方性エッチング
を行うようにした。
Further, in order to form the light shielding layer groove and the eaves above the groove, after forming insulating films having different etching selectivity, isotropic etching is performed through a resist mask. did.

【0014】これによって、遮光層のために工程が増加
することなく、半導体基板内での光リーク電流を減少さ
せることができる。
Thus, the light leakage current in the semiconductor substrate can be reduced without increasing the number of steps due to the light shielding layer.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例を図
面に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0016】図1および図2は、本発明を適用した反射
型LCDの反射側基板の実施例を示す。なお、図1はマ
トリックス状に配置されている画素のうち一画素部分の
断面図を示す。図2は図1における遮光部Aの形成方法
を示す。
FIGS. 1 and 2 show an embodiment of a reflection-side substrate of a reflection type LCD to which the present invention is applied. FIG. 1 is a cross-sectional view of one pixel portion among pixels arranged in a matrix. FIG. 2 shows a method of forming the light shielding portion A in FIG.

【0017】図1において、1は単結晶シリコンのよう
なP型半導体基板(N型半導体基板でもよい)、2はこ
の半導体基板1の表面に形成された基板より高不純物濃
度のP型ウエル領域、3は半導体基板1の表面に形成さ
れた素子分離用のフィールド酸化膜(いわゆるLOCO
S)である。上記ウエル領域2は、特に限定されない
が、例えば768×1024のような画素の共通ウエル
領域として形成され、データ線駆動回路やゲート線駆動
回路、入力回路、タイミング制御回路等の周辺回路を構
成する素子が形成される部分のウエル領域とは分離して
形成されている。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a P-type semiconductor substrate such as single crystal silicon (an N-type semiconductor substrate may be used), and 2 denotes a P-type well region having a higher impurity concentration than a substrate formed on the surface of the semiconductor substrate 1. Reference numeral 3 denotes a field oxide film (so-called LOCO) for element isolation formed on the surface of the semiconductor substrate 1.
S). The well region 2 is not particularly limited, but is formed as a common well region of pixels such as 768 × 1024, and constitutes peripheral circuits such as a data line driving circuit, a gate line driving circuit, an input circuit, and a timing control circuit. It is formed separately from the well region where the element is formed.

【0018】上記フィールド酸化膜3に開口部が形成さ
れ、該開口部の内側中央にゲート酸化膜(図では省略し
ているが、トランジスタのチャネルとなるウエル領域
(基板)表面に熱酸化で形成されている)を介してポリ
シリコン等からなるゲート電極4が形成され、このゲー
ト電極4の両側の基板表面には高不純物濃度のN型拡散
層からなるソース、ドレイン領域5a、5bが形成さ
れ、MOSFETが構成されている。そして、上記ソー
ス、ドレイン領域5a,5bのうち一方(図では5a)
の上方には、BPSG(Boron Phosphorus Silica Gras
s)膜のような絶縁物6を介して一層目のアルミニウム
層からなるデータ線7が形成され、このデータ線7の一
部が上記絶縁膜6に形成されたコンタクトホールにてソ
ース、ドレイン領域5aに電気的に接続されている。ま
た、上記データ線7と同一のアルミニウム層からなるア
ルミ配線8が形成され、このアルミ配線8の一部が上記
絶縁膜6に形成されたコンタクトホールにてソース、ド
レイン領域5bに電気的に接続されている。
An opening is formed in the field oxide film 3, and a gate oxide film (not shown in the figure, but formed by thermal oxidation on the surface of a well region (substrate) serving as a channel of a transistor) is formed in the center of the inside of the opening. A gate electrode 4 made of polysilicon or the like is formed, and source and drain regions 5a and 5b made of a high impurity concentration N-type diffusion layer are formed on the substrate surface on both sides of the gate electrode 4. , MOSFET. One of the source and drain regions 5a and 5b (5a in the figure)
Above the BPSG (Boron Phosphorus Silica Gras
s) A data line 7 made of a first aluminum layer is formed via an insulator 6 such as a film, and a part of the data line 7 is formed in a contact hole formed in the insulating film 6 by a source / drain region. 5a. An aluminum wiring 8 made of the same aluminum layer as the data line 7 is formed, and a part of the aluminum wiring 8 is electrically connected to the source / drain region 5b through a contact hole formed in the insulating film 6. Have been.

【0019】上記データ線7、アルミ配線8を覆うよう
に、LTO(Low Temperature Oxide)である二酸化シ
リコン等からなる絶縁膜9を形成した後、CMP(化学
的機械研磨)法で平坦化する。図2の(a)に示すよう
に、絶縁膜9の平坦化後、上記絶縁膜9よりエッチング
選択比の大きい窒化シリコンのような絶縁膜10を形成
し、さらに上記絶縁膜10よりエッチング選択比の小さ
いLTOである二酸化シリコン等からなる絶縁膜11を
形成する。なお、絶縁膜9と11のエッチング選択比
は、同じでも構わないし、絶縁膜10より小さければ互
いに異ならせてもよい。
An insulating film 9 made of silicon dioxide or the like, which is an LTO (Low Temperature Oxide), is formed so as to cover the data line 7 and the aluminum wiring 8, and then flattened by a CMP (chemical mechanical polishing) method. As shown in FIG. 2A, after the insulating film 9 is planarized, an insulating film 10 such as silicon nitride having an etching selectivity higher than that of the insulating film 9 is formed. The insulating film 11 made of silicon dioxide or the like having a small LTO is formed. Note that the etching selectivity of the insulating films 9 and 11 may be the same, or may be different from each other as long as the etching selectivity is smaller than that of the insulating film 10.

【0020】上記絶縁膜9〜11中に前記アルミ配線8
と画素電極14を電気的に接続するために、タングステ
ン等からなる接続プラグ12をVIAホール内にCVD
法等により埋め込み形成する。図2の(b)に示すよう
に、上記接続プラグ12を形成後、マトリックス状に配
置された上記画素電極14の間隙となる部分を残してレ
ジストマスクにより覆い、等方性エッチングを行うと、
上記絶縁膜9〜11のエッチング選択比が異なり、絶縁
膜10が最もエッチング選択比が高いため、表面の絶縁
膜11が開口された後、絶縁膜10が速く大きくエッチ
ングされることになり、上記絶縁膜11を庇状に残し遮
光層用溝13が形成される。
The aluminum wiring 8 is provided in the insulating films 9-11.
In order to electrically connect the pixel electrode 14 and the connection electrode 12 made of tungsten or the like, a CVD
It is buried by a method or the like. As shown in FIG. 2B, when the connection plugs 12 are formed, the connection plugs 12 are covered with a resist mask except for portions that are to be gaps between the pixel electrodes 14 arranged in a matrix, and isotropic etching is performed.
Since the etching selectivity of the insulating films 9 to 11 is different and the insulating film 10 has the highest etching selectivity, the insulating film 10 is quickly and largely etched after the opening of the insulating film 11 on the surface. The light-shielding layer groove 13 is formed leaving the insulating film 11 in an eaves shape.

【0021】図2の(c)に示すように、上記等方性エ
ッチング後、アルミニウム等からなる反射電極としての
画素電極14を例えば低温スパッタ法により形成する
と、上記遮光層用溝13に遮光層15が上記画素電極1
4と同時にセルフアライン(自己整合)的に形成され
る。上記絶縁膜11に形成された庇により、上記画素電
極14は上記遮光層15とは電気的には接続されない。
上記画素電極14形成後、画素電極上にはパッシベーシ
ョンとしてLTO等からなる酸化膜を形成する。
As shown in FIG. 2C, after the isotropic etching, a pixel electrode 14 as a reflective electrode made of aluminum or the like is formed by, for example, a low-temperature sputtering method. 15 is the pixel electrode 1
4 and at the same time, they are formed in a self-aligned manner. The pixel electrode 14 is not electrically connected to the light shielding layer 15 due to the eaves formed on the insulating film 11.
After the formation of the pixel electrode 14, an oxide film made of LTO or the like is formed on the pixel electrode as passivation.

【0022】本発明によれば、画素電極にデータ信号線
からの画像信号を供給するトランジスタは、その上方に
反射電極となる画素電極が配置されることにより遮光す
ることができ、トランジスタの光リーク電流を抑えるこ
とができる。さらに、各画素電極の間隙部から入射され
る光は、遮光層用の溝内に形成された遮光層により遮光
されるので、この間隙から入射することによりトランジ
スタや基板内のPN接合部に流れる光リーク電流を防ぐ
ことができる。なお、庇の存在により、画素電極の端部
と、溝内の遮光層とがオーバーラップして配置されるよ
うになるので、遮光がより確実にできることになる。さ
らに、画素電極と遮光層を同時に形成できるにも係わら
ず、庇の存在により両者を絶縁することができるので、
工程の増加を招かない。なお、実施例においては、金属
の配線層が二層7,8であったが、三層配線構造とし、
その最上層を画素電極14と遮光層15としてもよい。
According to the present invention, a transistor for supplying an image signal from a data signal line to a pixel electrode can be shielded from light by arranging a pixel electrode serving as a reflective electrode above the transistor. The current can be suppressed. Further, the light incident from the gap between the pixel electrodes is shielded by the light shielding layer formed in the groove for the light shielding layer, so that the light from this gap flows into the transistor and the PN junction in the substrate. Light leakage current can be prevented. Since the end of the pixel electrode and the light-shielding layer in the groove overlap each other due to the presence of the eaves, light can be more reliably shielded. Further, since the pixel electrode and the light shielding layer can be formed at the same time, they can be insulated by the presence of the eaves.
Does not increase the number of processes. In the embodiment, the metal wiring layers are two layers 7 and 8, but a three-layer wiring structure is adopted.
The uppermost layer may be the pixel electrode 14 and the light shielding layer 15.

【0023】図3には、画素のトランジスタと同一の半
導体基板1に形成された周辺回路20の一例として、N
型トランジスタ21とP型トランジスタ22で構成する
CMOSインバータを示す。電源電圧VccはVcc主
線27(図中、縦方向に配線される)から接続プラグ1
2・Vcc枝線24を介してP型トランジスタ22のソ
ースに供給される。接地電圧GNDはGND主線28
(図中、縦方向に配線される)から接続プラグ12・G
ND枝線25を介してN型トランジスタ21のソースに
接続する。すなわち、二層の金属によって配線を行って
いる。23はP型トランジスタとN型トランジスタのゲ
ート電極となるゲート配線、26は上記CMOSトラン
ジスタのドレインから引き出された出力配線である。
FIG. 3 shows N as an example of a peripheral circuit 20 formed on the same semiconductor substrate 1 as the transistor of the pixel.
1 shows a CMOS inverter composed of a type transistor 21 and a P-type transistor 22. The power supply voltage Vcc is applied from the Vcc main line 27 (wired in the vertical direction in the figure) to the connection plug 1
The power is supplied to the source of the P-type transistor 22 via the 2 · Vcc branch line 24. The ground voltage GND is connected to the GND main line 28.
(Wired in the vertical direction in the figure) to connection plug 12G
Connected to the source of N-type transistor 21 via ND branch line 25. That is, wiring is performed by two layers of metal. Reference numeral 23 denotes a gate wiring serving as a gate electrode of the P-type transistor and the N-type transistor, and reference numeral 26 denotes an output wiring drawn from the drain of the CMOS transistor.

【0024】図4は図3中のX−X断面である。上記G
ND枝線25上にエッチング選択比の異なる絶縁膜9〜
11を積層する。上記GND枝線25は接続プラグ12
を介して上記GND主線28に電気的に接続している。
上記絶縁膜9〜11上の、配線領域と回路素子領域との
間隙を残してレジストマスクを形成し、等方性エッチン
グし遮光層用溝13を形成する。上記等方性エッチング
後、アルミニウム等のからなる遮光層をスパッタ法等に
より形成することにより、上記Vcc主線27と上記G
ND主線28だけでなく、回路素子を遮光する遮光層2
9aと、回路素子と配線との間隙部の下方の基板を遮光
する遮光層29bが、共にセルフアライン的に形成さ
れ、同一の導電層によって、配線層と遮光層の形成が実
現できる。上記絶縁膜11に形成された庇により、上記
Vcc主線27と上記GND主線28は上記遮光層29
a、29bとは電気的には接続されない。また、上記V
cc主線27、上記GND主線28、上記遮光層29
a、29bは前記画素電極14と同時に形成された同一
の導電層である。なお、画素領域では、図1に示した構
造と異なる遮光方法を採用し、周辺領域のみにおいて実
施例にて説明した遮光方法を採用しても良いことは言う
までもない。
FIG. 4 is a sectional view taken along line XX in FIG. G above
On the ND branch line 25, insulating films 9 to
11 are stacked. The GND branch line 25 is connected to the connection plug 12.
Is electrically connected to the above-mentioned GND main line.
A resist mask is formed on the insulating films 9 to 11 while leaving a gap between the wiring region and the circuit element region, and isotropically etched to form the light shielding layer groove 13. After the isotropic etching, a light-shielding layer made of aluminum or the like is formed by sputtering or the like, so that the Vcc main line 27 and the G
Not only the ND main line 28 but also the light-shielding layer 2 that shields circuit elements
9a and a light-shielding layer 29b that shields the substrate below the gap between the circuit element and the wiring are formed in a self-aligned manner, and the wiring layer and the light-shielding layer can be formed by the same conductive layer. Due to the eaves formed on the insulating film 11, the Vcc main line 27 and the GND main line 28 are separated from the light shielding layer 29.
a, 29b are not electrically connected. In addition, V
cc main line 27, GND main line 28, light shielding layer 29
Reference numerals a and 29b denote the same conductive layer formed simultaneously with the pixel electrode 14. It is needless to say that a light-shielding method different from the structure shown in FIG. 1 may be adopted in the pixel region, and the light-shielding method described in the embodiment may be adopted only in the peripheral region.

【0025】本発明によれば、データ線やゲート線に電
圧を供給する駆動回路等の周辺回路を構成するトランジ
スタは、その上方に遮光層が配置されることにより遮光
することができ、トランジスタの光リーク電流を抑える
ことができる。さらに、周辺回路の配線が遮光機能を有
するため、この下方の半導体基板内の光リークも抑える
ことができる。また、この遮光層と配線層の間隙部から
入射される光は、遮光層用の溝内に形成された遮光層に
より遮光されるので、この間隙から入射することにより
トランジスタや基板内のPN接合部に流れる光リーク電
流を防ぐことができる。なお、庇の存在により、配線層
と遮光層とがオーバーラップして配置されるようになる
ので、遮光がより確実にできることになる。さらに、配
線層と遮光層を同時に形成できるにも係わらず、庇の存
在により両者を絶縁することができるので、工程の増加
を招かない。図5には、半導体基板1上の画素領域の周
辺領域に形成され、外部から信号を入力するパッド領域
30を示す。一層目の金属からなる配線31は接続プラ
グ12を介して、上層に形成されたアルミニウム等の金
属層のパッド部32と電気的に接続している。上記パッ
ド部32以外の領域は、上記パッド部32と同一の導電
層からなる遮光層33a、33bである。上記遮光層3
3bは図2に示したのと同様な構造及び製造方法により
形成された遮光層用溝13に形成されるため、上記パッ
ド部32と上記遮光層33a、33bは電気的に接続さ
れない。また、上記パッド部32と上記遮光層33a、
33bは前記画素電極14と同時に形成された同一の導
電層である。
According to the present invention, a transistor constituting a peripheral circuit such as a drive circuit for supplying a voltage to a data line or a gate line can be shielded from light by disposing a light shielding layer above the transistor. Light leakage current can be suppressed. Further, since the wiring of the peripheral circuit has a light shielding function, light leakage in the semiconductor substrate below the wiring can be suppressed. Light incident from the gap between the light-shielding layer and the wiring layer is shielded by the light-shielding layer formed in the groove for the light-shielding layer. It is possible to prevent a light leak current flowing in the section. Note that the presence of the eaves allows the wiring layer and the light-shielding layer to be arranged so as to overlap with each other, so that light-shielding can be performed more reliably. Further, although the wiring layer and the light shielding layer can be formed at the same time, both can be insulated by the presence of the eaves, so that the number of steps is not increased. FIG. 5 shows a pad region 30 formed in the peripheral region of the pixel region on the semiconductor substrate 1 and for inputting a signal from outside. The wiring 31 made of the first metal layer is electrically connected via the connection plug 12 to the pad portion 32 of a metal layer such as aluminum formed on the upper layer. Areas other than the pad section 32 are light-shielding layers 33a and 33b made of the same conductive layer as the pad section 32. Light shielding layer 3
Since 3b is formed in the light-shielding layer groove 13 formed by the same structure and manufacturing method as shown in FIG. 2, the pad portion 32 and the light-shielding layers 33a and 33b are not electrically connected. Further, the pad portion 32 and the light shielding layer 33a,
33b is the same conductive layer formed simultaneously with the pixel electrode 14.

【0026】本発明によれば、パッドとその周辺の半導
体基板は、パッド部と遮光層により遮光することがで
き、基板内の光リーク電流を抑えることができる。ま
た、この遮光層とパッド部の間隙部から入射される光
は、遮光層用の溝内に形成された遮光層により遮光され
るので、この間隙から入射することにより基板内のPN
接合部に流れる光リーク電流を防ぐことができる。な
お、庇の存在により、パッド部と遮光層とがオーバーラ
ップして配置されるようになるので、遮光がより確実に
できることになる。さらに、パッド部と遮光層を同時に
形成できるにも係わらず、庇の存在により両者を絶縁す
ることができるので、工程の増加を招かない。上記実施
例に示すように、本発明の製造方法を用いることによ
り、反射型液晶パネルの反射電極、周辺回路の配線、パ
ット部及び遮光層を同一の導電層でセルフアライン的に
実現できる。
According to the present invention, the pad and the semiconductor substrate around the pad can be shielded from light by the pad portion and the light shielding layer, and the light leakage current in the substrate can be suppressed. Also, light incident from the gap between the light-shielding layer and the pad portion is blocked by the light-shielding layer formed in the groove for the light-shielding layer.
Light leakage current flowing to the junction can be prevented. Note that the presence of the eaves allows the pad portion and the light-shielding layer to be arranged so as to overlap each other, so that light-shielding can be performed more reliably. Further, although the pad portion and the light shielding layer can be formed at the same time, both can be insulated by the presence of the eaves, so that the number of steps is not increased. As shown in the above embodiment, by using the manufacturing method of the present invention, the reflection electrode of the reflection type liquid crystal panel, the wiring of the peripheral circuit, the pad portion, and the light shielding layer can be realized by the same conductive layer in a self-aligned manner.

【0027】図6は上記実施例を適用した液晶パネル用
基板(反射側基板)41を用いた反射型液晶パネルの断
面構成を示す。上記液晶パネル基板41の対向側には、
LCコモン電位が印加される透明導電膜(ITO)から
なる対向電極42を有する入射側のガラス基板43が適
当な間隔をおいて配置され、周囲をシール材44で封止
された間隙内にTN(Twisted Nematic)型液晶または
SH(Super Homeotropic)型液晶45などが充填され
て液晶パネル40として構成されている。なお、外部か
ら信号を入力するパッド領域30は上記シール材44の
外側に来るようにシール材を設ける位置が設計されてい
る。反射側基板に形成される画素領域においては、周知
のように、データ線とゲート線が互いに交差してマトリ
クス状に配置され、各画素においては、反射電極である
画素電極が上層に配置され、その画素電極の下方の半導
体基板(ウエル領域)にはトランジスタが形成される。
トランジスタのゲート電極はゲート線に接続され、ソー
スはデータ線に接続され、ドレインは画素電極に電気的
に接続される。ゲート線とデータ線にそれぞれ電圧(信
号)を供給する駆動回路は、画素領域の周辺部に形成さ
れる。ソース線駆動回路によりオンされたトランジスタ
を介して、データ線駆動回路から供給された画像信号の
電圧が画素電極に供給され、画素電極と対向電極との電
位差がその間に挟持された液晶層に印加される。なお、
以上の実施例の図には図示していないが、各画素には、
通常、画素電極の下方の半導体基板に画像信号の電圧を
蓄積・保持する容量が形成される。
FIG. 6 shows a sectional configuration of a reflection type liquid crystal panel using a liquid crystal panel substrate (reflection side substrate) 41 to which the above embodiment is applied. On the opposite side of the liquid crystal panel substrate 41,
An incident side glass substrate 43 having a counter electrode 42 made of a transparent conductive film (ITO) to which an LC common potential is applied is disposed at an appropriate interval, and TN is disposed in a gap surrounded by a sealing material 44. (Twisted Nematic) type liquid crystal or SH (Super Homeotropic) type liquid crystal 45 is filled to form a liquid crystal panel 40. The position where the sealing material is provided is designed so that the pad region 30 for inputting a signal from the outside is located outside the sealing material 44. In a pixel region formed on the reflection-side substrate, as is well known, data lines and gate lines intersect each other and are arranged in a matrix. In each pixel, a pixel electrode serving as a reflection electrode is arranged in an upper layer. A transistor is formed on the semiconductor substrate (well region) below the pixel electrode.
A gate electrode of the transistor is connected to a gate line, a source is connected to a data line, and a drain is electrically connected to a pixel electrode. A driving circuit for supplying a voltage (signal) to each of the gate line and the data line is formed in a peripheral portion of the pixel region. The voltage of the image signal supplied from the data line driving circuit is supplied to the pixel electrode via the transistor turned on by the source line driving circuit, and the potential difference between the pixel electrode and the counter electrode is applied to the liquid crystal layer sandwiched therebetween. Is done. In addition,
Although not shown in the drawings of the above embodiments, each pixel has
Usually, a capacitor for storing and holding the voltage of the image signal is formed on the semiconductor substrate below the pixel electrode.

【0028】図7は、本発明の液晶パネル40を用いた
電子機器の一例であり、本発明の反射型液晶パネルをラ
イトバルブとして用いたプロジェクタ(投射型表示装
置)の要部を平面的に見た概略構成図である。この図7
は、光学要素130の中心を通るXZ平面における断面
図である。本例のプロジェクタは、システム光軸Lに沿
って配置した光源部110、インテグレータレンズ12
0、偏光変換素子130から概略構成される偏光照明装
置100、偏光照明装置100から出射されたS偏光光
束をS偏光光束反射面201により反射させる偏光ビー
ムスプリッタ200、偏光ビームスプリッタ200のS
偏光反射面201から反射された光のうち、青色光
(B)の成分を分離するダイクロイックミラー412、
分離された青色光(B)を青色光を変調する反射型液晶
ライトバルブ300B、青色光が分離された後の光束の
うち赤色光(R)の成分を反射させて分離するダイクロ
イックミラー413、分離された赤色光(R)を変調す
る反射型液晶ライトバルブ300R、ダイクロイックミ
ラー413を透過する残りの緑色光(G)を変調する反
射型液晶ライトバルブ300G、3つの反射型液晶ライ
トバルブ300R、300G、300Bにて変調された
光をダイクロイックミラー412,413,偏光ビーム
スプリッタ200にて合成し、この合成光をスクリーン
600に投射する投射レンズからなる投射光学系500
から構成されている。上記3つの反射型液晶ライトバル
ブ300R、300G、300Bには、それぞれ前述の
液晶パネルが用いられている。
FIG. 7 shows an example of an electronic apparatus using the liquid crystal panel 40 of the present invention. The main part of a projector (projection display device) using the reflective liquid crystal panel of the present invention as a light valve is shown in plan view. It is the schematic block diagram seen. This FIG.
Is a cross-sectional view in the XZ plane passing through the center of the optical element 130. The projector of this example includes a light source unit 110 and an integrator lens 12 arranged along the system optical axis L.
0, a polarized light illuminating device 100 which is roughly composed of a polarization conversion element 130, a polarized beam splitter 200 for reflecting an S-polarized light beam emitted from the polarized light illuminating device 100 by an S-polarized light beam reflecting surface 201,
A dichroic mirror 412 that separates a blue light (B) component from the light reflected from the polarization reflection surface 201;
A reflective liquid crystal light valve 300B that modulates the separated blue light (B) into blue light; a dichroic mirror 413 that reflects and separates the red light (R) component of the light beam after the blue light is separated; The reflective liquid crystal light valve 300R that modulates the red light (R), the reflective liquid crystal light valve 300G that modulates the remaining green light (G) that passes through the dichroic mirror 413, and the three reflective liquid crystal light valves 300R and 300G. , 300B are combined by dichroic mirrors 412, 413 and polarizing beam splitter 200, and a projection optical system 500 composed of a projection lens for projecting the combined light onto screen 600.
It is composed of The above-described liquid crystal panel is used for each of the three reflective liquid crystal light valves 300R, 300G, and 300B.

【0029】光源部110から出射されたランダムな偏
光光束は、インテグレータレンズ120により複数の中
間光束に分割された後、第2のインテグレータレンズを
光入射側に有する偏光変換素子130により偏光方向が
ほぼ揃った一種類の偏光光束(S偏光光束)に変換され
てから偏光ビームスプリッタ200に至るようになって
いる。偏光変換素子130から出射されたS偏光光束
は、偏光ビームスプリッタ200のS偏光光束反射面2
01によって反射され、反射された光束のうち、青色光
(B)の光束がダイクロイックミラー412の青色光反
射層にて反射され、反射型液晶ライトバルブ300Bに
よって変調される。また、ダイクロイックミラー411
の青色光反射層を透過した光束のうち、赤色光(R)の
光束はダイクロイックミラー413の赤色光反射層にて
反射され、反射型液晶ライトバルブ300Rによって変
調される。
The randomly polarized light beam emitted from the light source unit 110 is split into a plurality of intermediate light beams by the integrator lens 120, and the polarization direction is substantially changed by the polarization conversion element 130 having the second integrator lens on the light incident side. After being converted into one kind of polarized light beam (S-polarized light beam), the light reaches the polarization beam splitter 200. The S-polarized light beam emitted from the polarization conversion element 130 is reflected by the S-polarized light beam reflection surface 2 of the polarizing beam splitter 200.
01, the blue light (B) of the reflected light is reflected by the blue light reflecting layer of the dichroic mirror 412 and modulated by the reflective liquid crystal light valve 300B. Also, dichroic mirror 411
Among the light beams transmitted through the blue light reflecting layer, the light beam of red light (R) is reflected by the red light reflecting layer of the dichroic mirror 413 and is modulated by the reflective liquid crystal light valve 300R.

【0030】一方、ダイクロイックミラー413の赤色
光反射層を透過した緑色光(G)の光束は反射型液晶ラ
イトバルブ300Gによって変調される。このようにし
て、それぞれの反射型液晶ライトバルブ300R、30
0G、300Bによって変調反射型液晶ライトバルブ3
00R、300G、300Bとなる反射型液晶パネル
は、TN型液晶(液晶分子の長軸が電圧無印加時にパネ
ル基板に略並行に配向された液晶)またはSH型液晶
(液晶分子の長軸が電圧無印加時にパネル基板に略垂直
に配向された液晶)を採用している。
On the other hand, the luminous flux of green light (G) transmitted through the red light reflecting layer of the dichroic mirror 413 is modulated by the reflection type liquid crystal light valve 300G. Thus, each of the reflective liquid crystal light valves 300R, 300R
0G, 300B modulation reflection type liquid crystal light valve 3
The reflective liquid crystal panels of 00R, 300G, and 300B are provided with a TN type liquid crystal (a liquid crystal in which the long axis of liquid crystal molecules is oriented substantially parallel to the panel substrate when no voltage is applied) or an SH type liquid crystal (where the long axis of the liquid crystal molecules is A liquid crystal that is oriented substantially perpendicular to the panel substrate when no voltage is applied is employed.

【0031】TN型液晶を採用した場合には、画素の反
射電極と、対向する基板の共通電極との間に挟持された
液晶層への印加電圧が液晶のしきい値電圧以下の画素
(OFF画素)では、入射した色光は液晶層により楕円
偏光され、反射電極により反射され、液晶層を介して、
入射した色光の偏光軸とほぼ90度ずれた偏光軸成分の
多い楕円偏光に近い状態の光として反射・出射される。
一方、液晶層に電圧印加された画素(ON画素)では、
入射した色光のまま反射電極に至り、反射されて、入射
時と同一の偏光軸のまま反射・出射される。反射電極に
印加された電圧に応じてTN型液晶の液晶分子の配列角
度が変化するので、入射光に対する反射光の偏光軸の角
度は、画素のトランジスタを介して反射電極に印加する
電圧に応じて可変される。
When a TN type liquid crystal is employed, the voltage applied to the liquid crystal layer sandwiched between the reflective electrode of the pixel and the common electrode of the opposing substrate is lower than the threshold voltage of the liquid crystal (OFF). Pixel), the incident color light is elliptically polarized by the liquid crystal layer, is reflected by the reflective electrode, and passes through the liquid crystal layer.
The light is reflected and emitted as light in a state close to elliptically polarized light having a large polarization axis component substantially shifted by 90 degrees from the polarization axis of the incident color light.
On the other hand, in a pixel (ON pixel) applied with a voltage to the liquid crystal layer,
The incident color light reaches the reflective electrode as it is, is reflected, and is reflected and emitted with the same polarization axis as that at the time of incidence. Since the alignment angle of the liquid crystal molecules of the TN type liquid crystal changes according to the voltage applied to the reflective electrode, the angle of the polarization axis of the reflected light with respect to the incident light depends on the voltage applied to the reflective electrode via the transistor of the pixel. Variable.

【0032】また、SH型液晶を採用した場合には、液
晶層の印加電圧が液晶のしきい値電圧以下の画素(OF
F画素)では、入射した色光のまま反射電極に至り、反
射されて、入射時と同一偏光軸のまま反射・出射され
る。一方、液晶層に電圧印加された画素(ON画素)で
は、入射した色光は液晶層にて楕円偏光され、反射電極
により反射され、液晶層を介して、入射光の偏光軸に対
して偏光軸がほぼ90度ずれた偏光軸成分の多い楕円偏
光として反射・出射する。TN型液晶の場合と同様に、
反射電極に印加された電圧に応じてTN型液晶の液晶分
子の配列角度が変化するので、入射光に対する反射光の
偏光軸の角度は、画素のトランジスタを介して反射電極
に印加する電圧に応じて可変される。
When the SH type liquid crystal is employed, the pixel (OF) in which the voltage applied to the liquid crystal layer is lower than the threshold voltage of the liquid crystal.
F pixel), the incident color light reaches the reflection electrode as it is, is reflected, and is reflected and emitted with the same polarization axis as that at the time of incidence. On the other hand, in a pixel (ON pixel) to which a voltage is applied to the liquid crystal layer, the incident color light is elliptically polarized by the liquid crystal layer, reflected by the reflective electrode, and passes through the liquid crystal layer with respect to the polarization axis of the incident light. Is reflected and emitted as elliptically polarized light having a large polarization axis component shifted by about 90 degrees. As in the case of the TN type liquid crystal,
Since the alignment angle of the liquid crystal molecules of the TN type liquid crystal changes according to the voltage applied to the reflective electrode, the angle of the polarization axis of the reflected light with respect to the incident light depends on the voltage applied to the reflective electrode via the transistor of the pixel. Variable.

【0033】これらの液晶パネルの画素から反射された
色光のうち、S偏光成分はS偏光を反射する偏光ビーム
スプリッタ200を透過せず、一方、P偏光成分は透過
する。この偏光ビームスプリッタ200を透過した光に
より画像が形成される。従って、投射される画像は、T
N型液晶を液晶パネルに用いた場合はOFF画素の反射
光が投射光学系500に至りON画素の反射光はレンズ
に至らないのでノーマリーホワイト表示となり、SH液
晶を用いた場合はOFF画素の反射光は投射光学系に至
らずON画素の反射光が投射光学系500に至るのでノ
ーマリーブラック表示となる。
Of the color lights reflected from the pixels of the liquid crystal panel, the S-polarized light component does not pass through the polarization beam splitter 200 that reflects the S-polarized light, while the P-polarized light component does. An image is formed by the light transmitted through the polarizing beam splitter 200. Therefore, the projected image is T
When the N-type liquid crystal is used for the liquid crystal panel, the reflected light of the OFF pixel reaches the projection optical system 500 and the reflected light of the ON pixel does not reach the lens, so that a normally white display is obtained. The reflected light does not reach the projection optical system and the reflected light of the ON pixel reaches the projection optical system 500, so that normally black display is performed.

【0034】反射型液晶パネルは、ガラス基板にTFT
アレーを形成したアクティブマトリクス型液晶パネルに
比べ、半導体技術を利用して画素が形成されるので画素
数をより多く形成でき、且つパネルサイズも小さくでき
るので、高精細な画像を投射できると共に、プロジェク
タを小型化できる。
The reflection type liquid crystal panel uses a TFT on a glass substrate.
Compared to an active matrix type liquid crystal panel having an array, the number of pixels can be formed more by using semiconductor technology, and the panel size can be made smaller, so that a high-definition image can be projected and a projector can be formed. Can be reduced in size.

【0035】液晶パネルの周辺回路部は遮光膜で覆わ
れ、対向基板の対向する位置に形成される共通電極と共
に同じ電位(例えばLCコモン電位。但し、LCコモン
電位としない場合には画素部の共通電極と異なる電位と
なるので、この場合画素部の共通電極とは分離された周
辺対向電極となる。)が印加されるので、両者間に介在
する液晶にはほぼ0Vが印加され、液晶はOFF状態と
同じになる。従って、TN型液晶の液晶パネルでは、ノ
ーマリホワイト表示に合わせて画像領域の周辺が全て白
表示にでき、SH型液晶の液晶パネルでは、ノーマリブ
ラック表示に合わせて画像領域の周辺が全て黒表示にで
きる。
The peripheral circuit portion of the liquid crystal panel is covered with a light-shielding film, and has the same potential (for example, an LC common potential) as well as a common electrode formed at a position opposed to the opposite substrate. Since the potential is different from that of the common electrode, in this case, a peripheral counter electrode separated from the common electrode of the pixel portion is applied.) Therefore, almost 0 V is applied to the liquid crystal interposed therebetween, and It becomes the same as the OFF state. Therefore, in the liquid crystal panel of the TN type liquid crystal, all the periphery of the image region can be displayed white in accordance with the normally white display, and in the liquid crystal panel of the SH type liquid crystal, the periphery of the image region can be entirely black in accordance with the normally black display. Can be displayed.

【0036】上記実施例に従うと、反射型液晶パネル3
00R、300G、300Bの各画素電極に印加された
電圧が充分に保持されるとともに、画素電極の反射率が
非常に高いため鮮明な映像が得られる。
According to the above embodiment, the reflection type liquid crystal panel 3
The voltage applied to each of the pixel electrodes 00R, 300G, and 300B is sufficiently maintained, and a clear image is obtained because the reflectance of the pixel electrodes is extremely high.

【0037】図8は、それぞれ本発明の反射型液晶パネ
ルを使った電子機器の例を示す外観図である。なお、こ
れらの電子機器では、偏光ビームスプリッタと共に用い
られるライトバルブとしてではなく、直視型の反射型液
晶パネルとして使用されるため、反射電極は完全な鏡面
である必要はなく、視野角を広げるためには、むしろ適
当な凸凹を付けた方が望ましいが、それ以外の構成要件
は、ライトバルブの場合と基本的に同じである。
FIG. 8 is an external view showing an example of an electronic apparatus using the reflection type liquid crystal panel of the present invention. In these electronic devices, the reflective electrode is not required to be a perfect mirror surface, and is not used as a light valve used with a polarizing beam splitter, but as a direct-view reflective liquid crystal panel. It is preferable to provide appropriate irregularities, but the other components are basically the same as those of the light valve.

【0038】図8(a)は携帯電話を示す斜視図であ
る。1000は携帯電話本体を示し、そのうちの100
1は本発明の反射型液晶パネルを用いた液晶表示部であ
る。
FIG. 8A is a perspective view showing a mobile phone. 1000 denotes a mobile phone body, of which 100
Reference numeral 1 denotes a liquid crystal display unit using the reflection type liquid crystal panel of the present invention.

【0039】図8(b)は、腕時計型電子機器を示す図
である。1100は時計本体を示す斜視図である。11
01は本発明の反射型液晶パネルを用いた液晶表示部で
ある。この液晶パネルは、従来の時計表示部に比べて高
精細の画素を有するので、テレビ画像表示も可能とする
ことができ、腕時計型テレビを実現できる。
FIG. 8B is a diagram showing a wristwatch-type electronic device. 1100 is a perspective view showing the watch main body. 11
Reference numeral 01 denotes a liquid crystal display unit using the reflection type liquid crystal panel of the present invention. Since this liquid crystal panel has higher definition pixels than a conventional clock display unit, it can also display television images, and can realize a wristwatch type television.

【0040】図8(c)は、ワープロ、パソコン等の携
帯型情報処理装置を示す図である。1200は情報処理
装置を示し、1202はキーボード等の入力部、120
6は本発明の反射型液晶パネルを用いた表示部、120
4は情報処理装置本体を示す。各々の電子機器は電池に
より駆動される電子機器であるので、光源ランプを持た
ない反射型液晶パネルを使えば、電池寿命を延ばすこと
が出来る。また、本発明のように、周辺回路をパネル基
板に内蔵できるので、部品点数が大幅に減り、より軽量
化・小型化できる。
FIG. 8C is a diagram showing a portable information processing device such as a word processor or a personal computer. 1200 denotes an information processing apparatus, 1202 denotes an input unit such as a keyboard, 120
Reference numeral 6 denotes a display unit using the reflective liquid crystal panel of the present invention;
Reference numeral 4 denotes an information processing apparatus main body. Since each electronic device is a battery-driven electronic device, the use of a reflective liquid crystal panel without a light source lamp can extend the battery life. Further, since the peripheral circuit can be built in the panel substrate as in the present invention, the number of components can be greatly reduced, and the weight and size can be further reduced.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上説明したように、この発明は反射電
極となる導電層と同一の層により遮光層を形成するよう
にしたので、工程の増加を抑えつつ、反射電極間の隙間
から漏れた光が画素駆動トランジスタに届きにくくな
り、光リーク電流が低減される。
As described above, according to the present invention, the light-shielding layer is formed by the same layer as the conductive layer serving as the reflection electrode. Light hardly reaches the pixel driving transistor, and light leakage current is reduced.

【0042】さらに、周辺回路においては配線と遮光層
を同一の導電層で形成できるため、工程の増加を抑えつ
つ二層配線と遮光を実現でき、光リーク電流による回路
の誤動作を防ぐことができる。
Further, in the peripheral circuit, the wiring and the light-shielding layer can be formed by the same conductive layer, so that the two-layer wiring and the light-shielding can be realized while suppressing an increase in the number of steps, and the malfunction of the circuit due to the light leakage current can be prevented. .

【0043】また、窒化膜は反射電極の反射率を低下さ
せ、表面パッシベーションとして利用できないため、反
射型液晶パネルでは酸化膜を使用する。しかし、酸化膜
では水分の遮蔽が十分ではない。本発明では、反射電極
下の絶縁膜に窒化膜を使用するため、水分の遮蔽ができ
るという側面も持つ。
Since the nitride film lowers the reflectance of the reflective electrode and cannot be used as surface passivation, an oxide film is used in a reflective liquid crystal panel. However, the oxide film does not sufficiently shield moisture. In the present invention, since a nitride film is used as the insulating film below the reflective electrode, there is also an aspect that moisture can be shielded.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明を適用した反射型LCDの反射側基板画
素部の実施例を示す断面図。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of a reflection-side substrate pixel portion of a reflection type LCD to which the present invention is applied.

【図2】図1のA部の形成方法の実施例を示す断面図。FIG. 2 is a sectional view showing an embodiment of a method for forming the portion A in FIG. 1;

【図3】本発明を適用した反射型LCDの反射側基板周
辺回路の実施例を示す平面図。
FIG. 3 is a plan view showing an embodiment of a peripheral circuit on the reflection side substrate of the reflection type LCD to which the present invention is applied.

【図4】図3のX−X断面を示す図。FIG. 4 is a view showing a cross section taken along line XX of FIG. 3;

【図5】本発明を適用した反射型LCDの反射側基板パ
ッド部の実施例を示す平面図。
FIG. 5 is a plan view showing an embodiment of a reflection-side substrate pad portion of a reflection type LCD to which the present invention is applied.

【図6】実施例の液晶パネル基板を適用した反射型液晶
パネルの一例を示す断面図。
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating an example of a reflective liquid crystal panel to which the liquid crystal panel substrate according to the embodiment is applied.

【図7】実施例の反射型液晶パネルを用いた電子機器と
一例としての投写型表示装置の概略構成図である。
FIG. 7 is a schematic configuration diagram of an electronic device using the reflective liquid crystal panel of the embodiment and a projection display device as an example.

【図8】実施例の反射型液晶パネルを用いた電子機器と
一例としての携帯電話(a)、腕時計(b)、コンピュ
ータ(c)の外観図である。
FIG. 8 is an external view of an electronic device using the reflective liquid crystal panel of the embodiment and a mobile phone (a), a wristwatch (b), and a computer (c) as an example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体基板 3 素子分離領域(LOCOS) 4 ゲート線 5a、5b ソース・ドレイン領域 7 データ線 12 接続プラグ 13 遮光溝 14 画素電極(反射電極) 15 遮光層 21 N型トランジスタ 22 P型トランジスタ 23 入力信号線 24 Vcc枝線 25 GND枝線 26 出力信号線 27 Vcc主線 28 GND主線 29a、29b 遮光層 31 配線 32 パッド 33a、33b 遮光層 41 液晶パネル基板 42 対向電極 43 入射側のガラス基板 44 シール材 45 液晶 Reference Signs List 1 semiconductor substrate 3 element isolation region (LOCOS) 4 gate line 5a, 5b source / drain region 7 data line 12 connection plug 13 light-shielding groove 14 pixel electrode (reflective electrode) 15 light-shielding layer 21 N-type transistor 22 P-type transistor 23 input signal Line 24 Vcc branch line 25 GND branch line 26 Output signal line 27 Vcc main line 28 GND main line 29a, 29b Light shielding layer 31 Wiring 32 Pad 33a, 33b Light shielding layer 41 Liquid crystal panel substrate 42 Counter electrode 43 Incident side glass substrate 44 Sealing material 45 liquid crystal

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体基板上に少なくとも反射電極がマ
トリックス状に形成されるとともに、各反射電極に対応
して各々トランジスタが形成され、前記トランジスタを
介して前記反射電極に電圧が印加されるように構成され
た液晶パネル用基板において、 上記反射電極と同一の導電層により遮光層が構成される
ことを特徴とする液晶パネル用基板。
At least one reflection electrode is formed in a matrix on a semiconductor substrate, and a transistor is formed corresponding to each reflection electrode, and a voltage is applied to the reflection electrode via the transistor. A liquid crystal panel substrate, comprising: a light-shielding layer formed of the same conductive layer as that of the reflective electrode.
【請求項2】 上記各反射電極に接続されたトランジス
タと、該トランジスタのゲート電極およびデータ線に電
圧を供給する周辺回路を構成するトランジスタとが同一
の半導体基板上に形成され、 上記周辺回路に形成される配線層と同一の導電層により
遮光層が構成されることを特徴とする請求項1に記載の
液晶パネル用基板。
2. A transistor connected to each of the reflective electrodes and a transistor constituting a peripheral circuit for supplying a voltage to a gate electrode and a data line of the transistor are formed on the same semiconductor substrate. 2. The liquid crystal panel substrate according to claim 1, wherein the light-shielding layer is formed by the same conductive layer as the wiring layer to be formed.
【請求項3】 上記反射電極または上記周辺回路の配線
層が形成される絶縁膜表面に、遮光層用の溝を形成する
ことを特徴とする請求項1または2に記載の液晶パネル
用基板。
3. The liquid crystal panel substrate according to claim 1, wherein a groove for a light shielding layer is formed on a surface of the insulating film on which the reflective electrode or the wiring layer of the peripheral circuit is formed.
【請求項4】 上記遮光層用溝の上部に、上記反射電極
または上記周辺回路の配線層と上記遮光層を絶縁する庇
が形成されることを特徴とする請求項3に記載の液晶パ
ネル用基板。
4. The liquid crystal panel according to claim 3, wherein an eave for insulating the light shielding layer from the reflection electrode or the wiring layer of the peripheral circuit and the light shielding layer is formed above the light shielding layer groove. substrate.
【請求項5】 上記遮光層用の溝と溝上部の庇とは、異
なる絶縁膜により構成されることを特徴とする請求項4
に記載の液晶パネル用基板。
5. The light shielding layer groove and the eaves above the groove are formed of different insulating films.
4. The liquid crystal panel substrate according to 1.
【請求項6】 半導体基板上に少なくとも反射電極がマ
トリックス状に形成されるとともに、各反射電極に対応
して各々トランジスタが形成され、前記トランジスタを
介して前記反射電極に電圧が印加されるように構成さ
れ、前記反射電極がマトリックス状に形成された画素領
域の周辺に周辺回路が形成された液晶パネル用基板にお
いて、 上記周辺回路の回路素子を遮光する第1の遮光層と配線
層と、該第1の遮光層及び配線層の間隙を遮光する第2
の遮光層が同一層により構成されることを特徴とするこ
とを特徴とする液晶パネル用基板。
6. A method in which at least reflective electrodes are formed in a matrix on a semiconductor substrate, and transistors are formed corresponding to the respective reflective electrodes, and a voltage is applied to the reflective electrodes via the transistors. A liquid crystal panel substrate having a peripheral circuit formed around a pixel region in which the reflective electrodes are formed in a matrix, comprising: a first light-shielding layer and a wiring layer for shielding circuit elements of the peripheral circuit; A second light-shielding layer that shields a gap between the first light-shielding layer and the wiring layer;
Wherein the light-shielding layers are formed of the same layer.
【請求項7】 上記配線層が形成される絶縁膜表面に、
遮光層用の溝を形成することを特徴とする請求項6に記
載の液晶パネル用基板。
7. The insulating film on which the wiring layer is formed,
7. The liquid crystal panel substrate according to claim 6, wherein a groove for a light shielding layer is formed.
【請求項8】 上記遮光層用溝の上部に、上記第1の遮
光層または上記配線層と上記第2の遮光層を絶縁する庇
が形成されることを特徴とする請求項7に記載の液晶パ
ネル用基板。
8. The light shielding layer according to claim 7, wherein an eave for insulating the first light shielding layer or the wiring layer from the second light shielding layer is formed above the light shielding layer groove. Substrate for liquid crystal panel.
【請求項9】 半導体基板上に少なくとも反射電極がマ
トリックス状に形成されるとともに、各反射電極に対応
して各々トランジスタが形成され、前記トランジスタを
介して前記反射電極に電圧が印加されるように構成され
た液晶パネル用基板において、 外部から信号又は電圧が供給されるパッドと、その周辺
を遮光する第1の遮光層と、該パッド及び第1の遮光層
の間隙を遮光する第2の遮光層が同一層により構成され
ることを特徴とすることを特徴とする液晶パネル用基
板。
9. At least a plurality of reflective electrodes are formed in a matrix on a semiconductor substrate, and transistors are respectively formed corresponding to the respective reflective electrodes so that a voltage is applied to the reflective electrodes via the transistors. In the liquid crystal panel substrate thus configured, a pad to which a signal or voltage is externally supplied, a first light-shielding layer that shields the periphery thereof, and a second light-shielding layer that shields a gap between the pad and the first light-shielding layer A substrate for a liquid crystal panel, wherein the layers are constituted by the same layer.
【請求項10】 上記パッドが形成される絶縁膜表面
に、遮光層用の溝を形成することを特徴とする請求項9
に記載の液晶パネル用基板。
10. A groove for a light shielding layer is formed on the surface of the insulating film on which the pad is formed.
4. The liquid crystal panel substrate according to 1.
【請求項11】 上記遮光層用溝の上部に、上記第1の
遮光層または上記配線層と上記第2の遮光層を絶縁する
庇が形成されることを特徴とする請求項10に記載の液
晶パネル用基板。
11. The light shielding layer according to claim 10, wherein an eave for insulating the first light shielding layer or the wiring layer from the second light shielding layer is formed above the light shielding layer groove. Substrate for liquid crystal panel.
【請求項12】 半導体基板上に少なくとも反射電極
がマトリックス状に形成されるとともに各反射電極に対
応して各々トランジスタが形成され、前記トランジスタ
を介して前記反射電極に電圧が印加されるように構成さ
れた液晶パネル用基板において、 半導体基板上に上記トランジスタおよび第1の導電層形
成後、層間絶縁膜を形成し、該層間絶縁膜表面において
上部に庇のある溝を形成した後、反射電極の形成と同時
に遮光層を形成することを特徴とする液晶パネル用基板
の製造方法。
12. A structure in which at least reflective electrodes are formed in a matrix on a semiconductor substrate, transistors are formed corresponding to the respective reflective electrodes, and a voltage is applied to the reflective electrodes via the transistors. After the transistor and the first conductive layer are formed on the semiconductor substrate, an interlayer insulating film is formed on the semiconductor substrate, and a groove having an eaves is formed on the surface of the interlayer insulating film. A method for manufacturing a substrate for a liquid crystal panel, wherein a light shielding layer is formed simultaneously with the formation.
【請求項13】 上記層間絶縁膜表面の溝と溝上部の庇
は、エッチング選択比の異なる絶縁膜を等方性エッチン
グすることにより形成されることを特徴とする請求項1
2に記載の液晶パネル用基板の製造方法。
13. The groove on the surface of the interlayer insulating film and the eaves above the groove are formed by isotropically etching insulating films having different etching selectivity.
3. The method for manufacturing a liquid crystal panel substrate according to item 2.
【請求項14】 上記エッチング選択比の異なる絶縁膜
が二酸化シリコン膜と窒化シリコン膜であることを特徴
とする請求項13に記載の液晶パネル用基板の製造方
法。
14. The method according to claim 13, wherein the insulating films having different etching selectivity are a silicon dioxide film and a silicon nitride film.
【請求項15】 請求項1〜11のいずれかに記載の液
晶パネル用基板と、対向電極を有する入射側の透明基板
とが適当な間隔をおいて配置されるとともに、上記液晶
パネル用基板と上記透明基板との間隙内に液晶が封入さ
れていることを特徴とする液晶パネル。
15. The liquid crystal panel substrate according to any one of claims 1 to 11, and an incident side transparent substrate having a counter electrode are arranged at an appropriate interval, and the liquid crystal panel substrate is A liquid crystal panel, wherein liquid crystal is sealed in a gap between the transparent substrate and the transparent substrate.
【請求項16】 請求項15に記載の構成の液晶パネル
を表示装置として用いたことを特徴とする電子機器。
16. An electronic apparatus using the liquid crystal panel according to claim 15 as a display device.
JP13536197A 1997-05-26 1997-05-26 Substrate for liquid crystal panel, its production, liquid crystal panel and electronic appliance using liquid crystal panel Withdrawn JPH10325949A (en)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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