JPH10325780A - Display-screen inspection apparatus - Google Patents
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- JPH10325780A JPH10325780A JP13391597A JP13391597A JPH10325780A JP H10325780 A JPH10325780 A JP H10325780A JP 13391597 A JP13391597 A JP 13391597A JP 13391597 A JP13391597 A JP 13391597A JP H10325780 A JPH10325780 A JP H10325780A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶ディスプレ
イ、プラズマディスプレイ等の画面欠陥を検出するディ
スプレイ画面検査装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a display screen inspection apparatus for detecting a screen defect such as a liquid crystal display and a plasma display.
【０００２】[0002]
【従来の技術】液晶や発光素子からなる画素光点をマト
リックス構成して形成されたディスプレイ画面の検査
は、人による目視検査またはカメラを用いた自動検査に
より実施されている。ここでは液晶ディスプレイを例と
して、その画面上の欠陥を検査する従来構成について説
明する。2. Description of the Related Art Inspection of a display screen formed by forming pixel light spots composed of liquid crystal and light emitting elements in a matrix has been carried out by visual inspection by a human or by automatic inspection using a camera. Here, a conventional configuration for inspecting a defect on a screen of a liquid crystal display will be described as an example.
【０００３】図３は、液晶ディスプレイを目視検査する
検査装置の構成を示すものである。FIG. 3 shows a configuration of an inspection apparatus for visually inspecting a liquid crystal display.
【０００４】検査対象とする液晶パネル３０を検査台３
２の所定位置に置き、液晶パネル３０の信号端子に点灯
プローブ３１ｘ、３１ｙを接続して信号発生器３３から
の点灯信号により液晶パネル３０を点灯させる。この液
晶パネル３０の点灯状態を目視して、欠陥３４が発見さ
れたときには、液晶パネル３０上の欠陥３４のＸ−Ｙ平
面上の位置Ｘ0 、Ｙ0 を物差し等により計測し、これを
記録する。The liquid crystal panel 30 to be inspected is moved to the inspection table 3
2, the lighting probes 31x and 31y are connected to the signal terminals of the liquid crystal panel 30, and the liquid crystal panel 30 is turned on by the lighting signal from the signal generator 33. When the defect 34 is found by visually observing the lighting state of the liquid crystal panel 30, the positions X 0 and Y 0 of the defect 34 on the liquid crystal panel 30 on the XY plane are measured by a ruler or the like and recorded. I do.
【０００５】図４は、液晶ディスプレイを自動検査する
検査装置の構成を示すものである。FIG. 4 shows a configuration of an inspection apparatus for automatically inspecting a liquid crystal display.
【０００６】検査対象とする液晶パネル３５が検査台３
６上の所定位置にセットされると、プローブ駆動装置４
０、４１が動作して点灯プローブ４２ｘ、４２ｙを液晶
パネル３５の信号端子に接続する。コンピュータ３８か
らの制御により動作する信号発生器３７からの点灯信号
により液晶パネル３５が点灯すると、その点灯状態はカ
メラ群４３により液晶パネル３５の全面が撮像される。
この撮像画像は画像処理装置３９で処理され、欠陥４４
が検出されると、欠陥４４の位置Ｘ0 、Ｙ0 が特定さ
れ、コンピュータ３８に記録される。The liquid crystal panel 35 to be inspected is the inspection table 3
When the probe driving device 4 is set at a predetermined position on the
0 and 41 operate to connect the lighting probes 42x and 42y to the signal terminals of the liquid crystal panel 35. When the liquid crystal panel 35 is turned on by a lighting signal from a signal generator 37 that operates under the control of the computer 38, the lighting state is such that the entire group of the liquid crystal panel 35 is imaged by the camera group 43.
This picked-up image is processed by the image processing device 39 and the defect 44
Is detected, the positions X 0 and Y 0 of the defect 44 are specified and recorded on the computer 38.
【０００７】[0007]
【発明が解決しようとする課題】上記従来構成におい
て、目視検査の場合では、欠陥位置の特定に時間を要
し、生産性が低い問題点があった。また、自動検査の場
合では、液晶パネルのサイズが大きくなったり画素数の
多い精細液晶になると、カメラの台数を増加させ、点灯
プローブを変更する必要があり、検査対象品種の変更に
対応させるコストや調整に時間を要する問題点があっ
た。In the above-mentioned conventional configuration, in the case of a visual inspection, it takes time to specify a defect position, and there is a problem that productivity is low. In the case of automatic inspection, when the size of the liquid crystal panel becomes large or the liquid crystal becomes a fine liquid crystal with a large number of pixels, it is necessary to increase the number of cameras and change the lighting probe. And a problem that requires time for adjustment.
【０００８】本発明の目的とするところは、検査対象品
種の変更にも容易に対応でき、生産性の高いディスプレ
イ画面検査装置を提供することにある。It is an object of the present invention to provide a display screen inspection apparatus which can easily cope with a change in the type of inspection object and has high productivity.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、Ｘ−Ｙ平面にマトリックス構成により画素
光点を配列したディスプレイ画面の欠陥を検査するディ
スプレイ画面検査装置において、所定位置に配置された
前記ディスプレイの欠陥を目視により検出することがで
きるようにディスプレイ画面全面の画素光点を点灯させ
る全面点灯手段と、点灯されたディスプレイ画面上で検
出された欠陥を含む所定範囲のＸ−Ｙ領域を欠陥存在領
域として指定する欠陥存在領域指定手段と、この欠陥存
在領域指定手段により指定された欠陥存在領域の範囲の
画素光点を点灯させる指定領域点灯手段と、この指定領
域点灯手段により点灯した欠陥存在領域を撮像できる位
置にカメラを移動させるカメラ移動手段と、前記カメラ
によって撮像された欠陥存在領域の画像中から欠陥位置
を特定する画像処理手段と、この画像処理手段による欠
陥存在領域の欠陥位置と前記欠陥存在領域指定手段によ
り指定された欠陥存在領域の位置とからディスプレイ画
面上の欠陥位置を演算すると共に装置動作を制御する演
算制御手段とを具備してなることを特徴とする。In order to achieve the above object, the present invention provides a display screen inspection apparatus for inspecting defects on a display screen in which pixel light spots are arranged in a matrix on an XY plane. Full-surface lighting means for illuminating pixel light spots on the entire display screen so that defects of the arranged display can be visually detected, and X-rays of a predetermined range including defects detected on the lit display screen. A defect area designation means for designating the Y area as a defect area, a designated area lighting means for lighting pixel light spots in the range of the defect area designated by the defect area designation means, and a designated area lighting means. Camera moving means for moving the camera to a position where the lit defect existing area can be imaged; An image processing means for specifying a defect position from the image of the defect existing area; a defect position of the defect existing area by the image processing means and a position of the defect existing area designated by the defect existing area designating means on a display screen. And a calculation control means for calculating the defect position and controlling the operation of the apparatus.
【００１０】上記構成によれば、ディスプレイ画面を構
成するＸ−Ｙ平面に配列された画素光点を全面点灯手段
により全面点灯させ、この状態で目視により欠陥検出を
行い、画面上に欠陥が検出されると、その欠陥の存在位
置を含む所定範囲を欠陥存在領域指定手段により指定す
る。この欠陥の検出は目視によって行うので、検査対象
の品種変更等にも検査装置の変更や調整の必要がなく容
易に対応することができ、検出された欠陥の位置は、そ
の存在領域を指定するだけなので迅速な欠陥検出作業が
実施できる。[0010] According to the above arrangement, the pixel light spots arranged on the XY plane constituting the display screen are entirely lit by the full-surface lighting means, and in this state, defects are visually detected, and defects are detected on the screen. Then, a predetermined range including the position where the defect exists is designated by the defect existing region designating means. Since the detection of this defect is carried out by visual observation, it is possible to easily cope with a change in the kind of the inspection object without the need to change or adjust the inspection apparatus, and the position of the detected defect specifies its existing area. Therefore, quick defect detection can be performed.
【００１１】上記処理により指定された欠陥存在領域
は、指定領域点灯手段によりその領域だけが点灯される
ので、カメラ移動手段により欠陥存在領域を撮像できる
位置に移動したカメラにより撮像され、画像処理によっ
て欠陥存在領域内での欠陥の位置が特定される。この欠
陥存在領域内での位置と前記欠陥存在領域指定手段によ
る欠陥存在領域の位置とから、演算制御手段はディスプ
レイ画面上の欠陥位置を演算して特定することができ
る。欠陥位置の特定は自動処理されるので、正確な位置
が短時間に計測され、欠陥検査を迅速に行うことができ
る。また、欠陥位置の特定は欠陥の存在する領域だけで
おこなうことができるので、カメラや点灯手段等の構成
を簡易にすることができる。[0011] Since only the specified area where the defect exists is illuminated by the designated area lighting means, the image is picked up by the camera which has been moved to a position where the defect existing area can be imaged by the camera moving means. The position of the defect in the defect existing area is specified. From the position in the defect existing area and the position of the defect existing area by the defect existing area designating means, the arithmetic control means can calculate and specify the defect position on the display screen. Since the defect position is automatically specified, the accurate position is measured in a short time, and the defect inspection can be performed quickly. Further, since the defect position can be specified only in the area where the defect exists, the configuration of the camera, the lighting means, and the like can be simplified.
【００１２】[0012]
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の一実施形態について説明し、本発明の理解に供する。
尚、以下に示す実施形態は、ディスプレイ装置の一例で
ある液晶ディスプレイを構成する液晶パネルの欠陥を検
出して、その位置を特定するディスプレイ画面検査装置
として構成されている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings to provide an understanding of the present invention.
The embodiment described below is configured as a display screen inspection device that detects a defect of a liquid crystal panel constituting a liquid crystal display, which is an example of a display device, and specifies its position.
【００１３】ここに、図１は本発明の第１の実施形態に
係るディスプレイ画面検査装置の構成を示すもので、デ
ィスプレイ画面検査装置１は、検査台９上の所定位置に
セットされた液晶パネル３の全面を点灯させて目視によ
り欠陥を検出して、欠陥が存在する所定範囲の領域を指
定する欠陥検出部１１と、位置特定台１０上の所定位置
にセットされた液晶パネル３の前記欠陥検出部９によっ
て指定された欠陥存在領域を点灯させて、その欠陥存在
領域をカメラ６で撮像して欠陥の位置を特定する欠陥位
置計測部１２と、欠陥検出からその位置の特定までの一
連の動作を制御するコンピュータ（演算制御手段）８と
を備えて構成されている。FIG. 1 shows a configuration of a display screen inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention. The display screen inspection apparatus 1 includes a liquid crystal panel set at a predetermined position on an inspection table 9. A defect detection unit 11 for illuminating the entire surface of the liquid crystal panel 3 to visually detect a defect and designating an area in a predetermined range in which the defect exists; and the defect of the liquid crystal panel 3 set at a predetermined position on the position identification table 10. A defect location area designated by the detection section 9 is turned on, and the defect location area is imaged by the camera 6 to specify the position of the defect. A series of steps from defect detection to specification of the position are performed. A computer (arithmetic control means) 8 for controlling the operation is provided.
【００１４】上記構成において、検査対象とする液晶パ
ネル３は、まず、欠陥検出部１１の検査台９上の所定位
置にセットされる。検査台９にはＸ軸点灯用プローブ４
ｘとＹ軸点灯用プローブ４ｙ（全面点灯手段）とが設け
られており、液晶パネル３をセットすることにより、液
晶パネル３のＸ軸端辺に形成されたＸ軸信号端子にＸ軸
点灯用プローブ４ｘ、Ｙ軸端辺に形成されたＹ軸信号端
子にＹ軸点灯用プローブ４ｙが接続される。この状態で
コンピュータ８からの制御により信号発生器（全面点灯
手段）５を動作させると、液晶パネル３の全面が点灯す
るので、目視により欠陥の検査を行う。前記コンピュー
タ８にはポインティングデバイスとしてマウス（欠陥存
在領域指定手段）７が接続されており、このマウス７に
より点灯した液晶パネル３上にリング状のポインタＰを
自在に移動させることができるので、作業者は欠陥ｆを
検出したときには、前記マウス７を操作してポインタＰ
のリングで欠陥ｆを囲むようにポインタＰを移動させ
る。ポインタＰのリング内に欠陥ｆを収めてマウス７の
ボタンをクリックすることにより、欠陥を含む所定範囲
のＸ−Ｙ領域が指定され、この指定された欠陥存在領域
の位置情報はコンピュータ８に入力される。In the above configuration, the liquid crystal panel 3 to be inspected is first set at a predetermined position on the inspection table 9 of the defect detection unit 11. X-axis lighting probe 4 on inspection table 9
An x- and Y-axis lighting probe 4y (entire lighting means) is provided. When the liquid crystal panel 3 is set, an X-axis signal terminal formed on the X-axis end of the liquid crystal panel 3 is used for X-axis lighting. The Y-axis lighting probe 4y is connected to the Y-axis signal terminal formed on the probe 4x and the Y-axis end side. In this state, when the signal generator (full-surface lighting means) 5 is operated under the control of the computer 8, the entire surface of the liquid crystal panel 3 is illuminated. A mouse (defect existing area designating means) 7 is connected to the computer 8 as a pointing device, and a ring-shaped pointer P can be freely moved on the liquid crystal panel 3 illuminated by the mouse 7. When detecting the defect f, the user operates the mouse 7 to move the pointer P.
The pointer P is moved so as to surround the defect f with the ring. By placing the defect f in the ring of the pointer P and clicking the button of the mouse 7, an XY area of a predetermined range including the defect is designated, and the position information of the designated defect existing area is input to the computer 8. Is done.
【００１５】次いで、液晶パネル３は欠陥位置計測部１
２側に移載され、位置特定台１０上の所定位置にセット
される。位置特定台１０上には、液晶パネル３の特定領
域のみを点灯させるさせるためのＸ軸領域点灯用プロー
ブ（指定領域点灯手段）１３ｘとＹ軸領域点灯用プロー
ブ（指定領域点灯手段）１３ｙとを指定位置に移動させ
るプローブ移動ユニット１５（指定領域点灯手段）と、
カメラ６をＸ−Ｙ平面に直交するＺ軸上の所定高さ位置
でＸ−Ｙ方向の任意位置に移動させるＸＹロボット（カ
メラ移動手段）１４とが設けられており、液晶パネル３
が位置特定台１０上にセットされると、コンピュータ８
から前記マウス７によって指定された欠陥存在領域の位
置情報が駆動制御装置１８に入力され、駆動制御装置１
８は位置情報に基づく位置制御信号を前記プローブ移動
ユニット１５とＸＹロボット１４とに出力する。前記位
置制御信号によりＸ軸領域点灯用プローブ１３ｘとＹ軸
領域点灯用プローブ１３ｙとがプローブ移動ユニット１
５によって欠陥存在領域に相当する接続位置にそれぞれ
移動して液晶パネル３の信号端子に接続すると共に、Ｘ
Ｙロボット１４によりカメラ６が欠陥存在領域を撮像で
きる位置に移動する。Next, the liquid crystal panel 3 is connected to the defect position measuring unit 1.
It is transferred to the second side and set at a predetermined position on the position identification table 10. An X-axis area lighting probe (designated area lighting means) 13x and a Y-axis area lighting probe (designated area lighting means) 13y for lighting only a specific area of the liquid crystal panel 3 are provided on the position identification table 10. A probe moving unit 15 (designated area lighting means) for moving to a designated position;
An XY robot (camera moving means) 14 for moving the camera 6 to an arbitrary position in the XY direction at a predetermined height position on the Z axis orthogonal to the XY plane is provided.
Is set on the position identification table 10, the computer 8
The position information of the defect existing area designated by the mouse 7 is input to the drive control device 18 and the drive control device 1
8 outputs a position control signal based on the position information to the probe moving unit 15 and the XY robot 14. The X-axis area lighting probe 13x and the Y-axis area lighting probe 13y are moved by the position control signal to the probe moving unit 1.
5 to connect to the signal terminals of the liquid crystal panel 3 by moving to the connection positions corresponding to the defect existence areas, respectively.
The camera 6 is moved by the Y robot 14 to a position where the camera 6 can image the defect existing area.
【００１６】この状態でコンピュータ８の制御により信
号発生器１６が動作すると、液晶パネル３のＸ軸領域点
灯用プローブ１３ｘとＹ軸領域点灯用プローブ１３ｙと
が接続された欠陥存在領域のみが点灯する。この点灯し
た欠陥存在領域はカメラ６により撮像され、画像信号は
画像処理装置１７に入力される。カメラ６が撮像した欠
陥存在領域はマウス７によって指定された欠陥ｆが存在
する位置を含む指定領域なので、画像処理装置１７は撮
像画像から欠陥ｆを検出して、その画像上の位置を特定
してコンピュータ８に入力する。コンピュータ８は、マ
ウス７によって指定された液晶パネル３上の欠陥存在領
域のＸ−Ｙ平面上の位置と、その欠陥存在領域内の欠陥
位置とから欠陥ｆの液晶パネル３上の位置を演算して、
この算出された欠陥ｆの位置を欠陥ｆを修理するための
情報として記録する。In this state, when the signal generator 16 is operated under the control of the computer 8, only the defect existing area of the liquid crystal panel 3 where the X-axis area lighting probe 13x and the Y-axis area lighting probe 13y are connected is turned on. . The lit defect existing area is imaged by the camera 6, and an image signal is input to the image processing device 17. Since the defect existing area captured by the camera 6 is a specified area including the position where the defect f specified by the mouse 7 exists, the image processing device 17 detects the defect f from the captured image and specifies the position on the image. To the computer 8. The computer 8 calculates the position of the defect f on the liquid crystal panel 3 from the position on the XY plane of the defect existing area on the liquid crystal panel 3 designated by the mouse 7 and the defect position in the defect existing area. hand,
The calculated position of the defect f is recorded as information for repairing the defect f.
【００１７】上記構成になるディスプレイ画面検査装置
１によるディスプレイ検査では、目視により欠陥の検出
を行うので、検査対象品種の変更により液晶点灯用プロ
ーブの変更や調整の必要がなく、検出された欠陥の位置
は自動的に計測されるので、検査品種の変更への対応が
迅速で生産性を向上させることができる。また、欠陥位
置の特定は所定範囲に限定された欠陥存在領域内だけで
よいので、装置構成が簡略化でき、液晶パネル３のサイ
ズの変更によって装置の変更や調整を行う作業も排除で
きる。In the display inspection by the display screen inspection apparatus 1 having the above-described structure, the defect is visually detected. Therefore, it is not necessary to change or adjust the liquid crystal lighting probe by changing the type of the inspection object. Since the position is automatically measured, it is possible to quickly respond to a change in the inspection type and improve the productivity. Further, since the defect position needs to be specified only within the defect existing area limited to the predetermined range, the apparatus configuration can be simplified, and the operation of changing or adjusting the apparatus by changing the size of the liquid crystal panel 3 can be eliminated.
【００１８】次に、本発明の第２の実施形態について説
明する。尚、先の構成に共通する要素には同一の符号を
付して、その説明は省略する。Next, a second embodiment of the present invention will be described. In addition, the same reference numerals are given to the elements common to the above configuration, and the description thereof will be omitted.
【００１９】第２の実施形態に係るディスプレイ画面検
査装置２は、図２に示すように、検査対象とする液晶パ
ネル３の欠陥の検出と、その位置の特定とを検査台２０
上で連続して実施できるように構成されている。As shown in FIG. 2, the display screen inspection apparatus 2 according to the second embodiment detects a defect of the liquid crystal panel 3 to be inspected and specifies its position on an inspection table 20.
It is configured so that it can be performed continuously on the above.
【００２０】前記検査台２０上には、台上にセットされ
た液晶パネル３のＸ軸端辺の信号端子に接続されるＸ軸
点灯プローブ（全面点灯手段／指定領域点灯手段）２１
ｘと、液晶パネル３のＹ軸端辺の信号端子に接続される
Ｙ軸点灯プローブ（全面点灯手段／指定領域点灯手段）
２１ｙとが所定位置に配設され、これらＸ軸点灯プロー
ブ２１ｘとＹ軸点灯プローブ２１ｙとは、液晶パネル３
のＸ−Ｙ平面の所定範囲の領域のみを点灯することもで
きるように、それぞれ複数のセグメントに分割形成され
ており、この点灯領域の範囲及び位置の選択は、それぞ
れに接続された点灯制御器２２ｘ、２２ｙ（全面点灯手
段／指定領域点灯手段）によって制御される。この点灯
制御器２２ｘ、２２ｙは作業者が操作盤（欠陥存在領域
指定手段）２３を操作することによって動作する。ま
た、検査台２０上には、ＸＹロボット（カメラ移動手
段）２５が搭載され、カメラ６をＸ−Ｙ平面と直交する
Ｚ軸方向の所定高さ位置でＸ−Ｙ方向に自在に移動させ
ることができるように構成されている。An X-axis lighting probe (entire lighting means / designated area lighting means) 21 connected to the signal terminal on the X-axis end of the liquid crystal panel 3 set on the inspection table 20
x and a Y-axis lighting probe connected to a signal terminal on the Y-axis end of the liquid crystal panel 3 (entire lighting means / designated area lighting means)
The y-axis lighting probe 21x and the y-axis lighting probe 21y are disposed at predetermined positions.
Are respectively divided into a plurality of segments so that only a predetermined range of an area on the XY plane can be lit. Selection of the range and position of the lit area is performed by a lighting controller connected to each of the segments. It is controlled by 22x, 22y (entire lighting means / designated area lighting means). The lighting controllers 22x and 22y operate when an operator operates an operation panel (defect existing area specifying means) 23. An XY robot (camera moving means) 25 is mounted on the inspection table 20 to move the camera 6 freely in the XY direction at a predetermined height position in the Z-axis direction orthogonal to the XY plane. It is configured to be able to.
【００２１】上記構成において、検査台２０上の所定位
置に液晶パネル３がセットされると、液晶パネル３のＸ
軸、Ｙ軸の信号端子にそれぞれＸ軸点灯プローブ２１
ｘ、Ｙ軸点灯プローブ２１ｙが接続され、コンピュータ
（演算制御手段）２４の制御により動作する信号発生器
２７からの点灯信号により液晶パネル３が点灯する。作
業者は、まず液晶パネル３の全面を点灯させるためにＸ
軸点灯プローブ２１ｘ、Ｙ軸点灯プローブ２１ｙの各セ
グメントに点灯信号が供給されるように点灯制御器２２
ｘ、２２ｙを操作する。液晶パネル３が全面点灯した状
態で作業者は目視検査して欠陥ｆが検出されたときに
は、その欠陥ｆが存在する領域のみを点灯させるべく、
Ｘ軸点灯プローブ２１ｘ、Ｙ軸点灯プローブ２１ｙの欠
陥存在領域Ｅに該当するセグメントに点灯信号が供給さ
れるように操作盤２３を操作する。In the above configuration, when the liquid crystal panel 3 is set at a predetermined position on the inspection table 20, the X of the liquid crystal panel 3
The X-axis lighting probe 21 is connected to the X-axis and Y-axis signal terminals, respectively.
The x and Y axis lighting probes 21y are connected, and the liquid crystal panel 3 is turned on by a lighting signal from a signal generator 27 that operates under the control of a computer (arithmetic control means) 24. The operator first sets X to turn on the entire surface of the liquid crystal panel 3.
A lighting controller 22 is provided so that a lighting signal is supplied to each segment of the axis lighting probe 21x and the Y-axis lighting probe 21y.
Operate x and 22y. When the defect f is detected by visual inspection while the liquid crystal panel 3 is fully lit, in order to turn on only the area where the defect f exists,
The operation panel 23 is operated so that a lighting signal is supplied to a segment corresponding to the defect existing area E of the X-axis lighting probe 21x and the Y-axis lighting probe 21y.
【００２２】この操作盤２３によって選択された欠陥存
在領域Ｅの位置情報はコンピュータ２４に入力され、コ
ンピュータ２４から欠陥存在領域Ｅの位置情報が入力さ
れた駆動制御装置２６は、ＸＹロボット２５を駆動して
カメラ６を欠陥存在領域Ｅの上方に移動させる。カメラ
６によって点灯している欠陥存在領域Ｅを撮像した画像
は画像処理装置１７に入力され、画像処理によって欠陥
存在領域Ｅ内での欠陥ｆの位置が特定される。コンピュ
ータ２４は、操作盤２３による欠陥存在領域Ｅの位置情
報と、前記画像処理装置１７による欠陥存在領域Ｅ内の
欠陥Ｆの位置とから液晶パネル３の画面上の欠陥位置を
演算し、これを記録する。The position information of the defect existing area E selected by the operation panel 23 is input to the computer 24, and the drive control device 26 to which the position information of the defect existing area E is input from the computer 24 drives the XY robot 25. Then, the camera 6 is moved above the defect existing area E. An image of the defect existing area E lit by the camera 6 is input to the image processing device 17, and the position of the defect f in the defect existing area E is specified by the image processing. The computer 24 calculates a defect position on the screen of the liquid crystal panel 3 from the position information of the defect existing area E by the operation panel 23 and the position of the defect F in the defect existing area E by the image processing device 17. Record.
【００２３】上記構成によれば、目視による欠陥検出
と、自動処理による欠陥位置計測とを同一場所で行うこ
とができるので、検査作業をより迅速に行うことができ
る。尚、ＸＹロボット２５は図示するようなレール構造
のものでなく、アーム構造として目視検査時にはカメラ
６を検査台２０上方から退避させ、目視検査に支障のな
い構造とすることもできる。According to the above configuration, the defect detection by visual inspection and the defect position measurement by automatic processing can be performed at the same place, so that the inspection work can be performed more quickly. Note that the XY robot 25 does not have a rail structure as shown in the figure, but may have an arm structure in which the camera 6 is retracted from above the inspection table 20 at the time of a visual inspection so as not to hinder the visual inspection.
【００２４】[0024]
【発明の効果】以上の説明の通り本発明によれば、目視
により欠陥の検出を行い、検出された欠陥の位置の特定
は自動計測によって行われるので、ディスプレイ画面の
全面を撮像して欠陥検出を行うための装置の肥大化が抑
えられ、欠陥位置を計測する人手による作業の正確さや
時間を要する作業を自動計測で行うので、検査作業を正
確且つ迅速に行うことができる。また、検査対象品種の
変更により液晶点灯用プローブの変更や調整の必要がな
く、装置構成が簡略化でき、液晶パネルのサイズの変更
によって装置の変更や調整を行う作業も排除できる。As described above, according to the present invention, a defect is visually detected, and the position of the detected defect is specified by automatic measurement. Since the enlargement of the apparatus for performing the inspection is suppressed, and the work requiring the manual operation of measuring the defect position and the work requiring time are performed by the automatic measurement, the inspection work can be performed accurately and quickly. Further, there is no need to change or adjust the liquid crystal lighting probe by changing the type of the inspection object, so that the device configuration can be simplified, and the work of changing or adjusting the device by changing the size of the liquid crystal panel can be eliminated.
【図１】本発明の第１の実施形態に係るディスプレイ画
面検査装置の構成図。FIG. 1 is a configuration diagram of a display screen inspection device according to a first embodiment of the present invention.
【図２】本発明の第２の実施形態に係るディスプレイ画
面検査装置の構成図。FIG. 2 is a configuration diagram of a display screen inspection device according to a second embodiment of the present invention.
【図３】従来の目視によるディスプレイ画面検査装置の
構成を示す構成図。FIG. 3 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional visual display screen inspection apparatus.
【図４】従来の自動によるディスプレイ画面検査装置の
構成を示す構成図。FIG. 4 is a configuration diagram showing a configuration of a conventional automatic display screen inspection apparatus.
１、２ ディスプレイ画面検査装置 ３ 液晶パネル ４ｘ、４ｙ 点灯用プローブ（全面点灯手段） ５、１６ 信号発生器（全面点灯手段） ６ カメラ ７ マウス（欠陥存在領域指定手段） ８、２４ コンピュータ（演算制御手段） １３ｘ、１３ｙ 領域点灯用プローブ（指定領域点灯手
段） １４、２５ ＸＹロボット（カメラ移動手段） １５ プローブ移動ユニット（指定領域点灯手段） １７ 画像処理装置 ２１ｘ、２１ｙ 点灯用プローブ（全面点灯手段／指定
領域点灯手段） ２２ｘ、２２ｙ 点灯制御器（全面点灯手段／指定領域
点灯手段） ２３ 操作盤（欠陥存在領域指定手段） ２７ 信号発生器（全面点灯手段／指定領域点灯手段）1, 2 display screen inspection device 3 liquid crystal panel 4x, 4y lighting probe (full lighting means) 5, 16 signal generator (full lighting means) 6 camera 7 mouse (defect existing area specifying means) 8, 24 computer (calculation control) Means) 13x, 13y Area lighting probe (designated area lighting means) 14, 25 XY robot (camera moving means) 15 Probe moving unit (designated area lighting means) 17 Image processing device 21x, 21y Lighting probe (full area lighting means / Designated area lighting means) 22x, 22y lighting controller (entire lighting means / designated area lighting means) 23 operation panel (defect existing area designating means) 27 signal generator (full lighting means / designated area lighting means)
Claims (1)
素光点を配列したディスプレイ画面の欠陥を検査するデ
ィスプレイ画面検査装置において、 所定位置に配置された前記ディスプレイの欠陥を目視に
より検出することができるようにディスプレイ画面全面
の画素光点を点灯させる全面点灯手段と、点灯されたデ
ィスプレイ画面上で検出された欠陥を含む所定範囲のＸ
−Ｙ領域を欠陥存在領域として指定する欠陥存在領域指
定手段と、この欠陥存在領域指定手段により指定された
欠陥存在領域の範囲の画素光点を点灯させる指定領域点
灯手段と、この指定領域点灯手段により点灯した欠陥存
在領域を撮像できる位置にカメラを移動させるカメラ移
動手段と、前記カメラによって撮像された欠陥存在領域
の画像中から欠陥位置を特定する画像処理手段と、この
画像処理手段による欠陥存在領域中の欠陥位置と前記欠
陥存在領域指定手段により指定された欠陥存在領域の位
置とからディスプレイ画面上の欠陥位置を演算すると共
に装置動作を制御する演算制御手段とを具備してなるこ
とを特徴とするディスプレイ画面検査装置。1. A display screen inspection apparatus for inspecting a defect of a display screen in which pixel light spots are arranged in a matrix configuration on an XY plane, wherein a defect of the display arranged at a predetermined position can be visually detected. And a predetermined range X including a defect detected on the lit display screen.
A defect existing area designating means for designating the -Y area as a defect existing area; a designated area lighting means for lighting pixel light spots in a range of the defect existing area designated by the defect existing area designating means; Camera moving means for moving the camera to a position where the defect existing area illuminated by the camera can be picked up; image processing means for specifying a defect position from the image of the defect existing area picked up by the camera; And a calculation control means for calculating a defect position on a display screen from the defect position in the area and the position of the defect existing area designated by the defect existing area designating means and controlling the operation of the apparatus. Display screen inspection device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13391597A JPH10325780A (en) | 1997-05-23 | 1997-05-23 | Display-screen inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13391597A JPH10325780A (en) | 1997-05-23 | 1997-05-23 | Display-screen inspection apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10325780A true JPH10325780A (en) | 1998-12-08 |
Family
ID=15116071
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13391597A Pending JPH10325780A (en) | 1997-05-23 | 1997-05-23 | Display-screen inspection apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10325780A (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1997
- 1997-05-23 JP JP13391597A patent/JPH10325780A/en active Pending
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