JPH10320684A - 保護リレーシステム - Google Patents
保護リレーシステムInfo
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- JPH10320684A JPH10320684A JP12725497A JP12725497A JPH10320684A JP H10320684 A JPH10320684 A JP H10320684A JP 12725497 A JP12725497 A JP 12725497A JP 12725497 A JP12725497 A JP 12725497A JP H10320684 A JPH10320684 A JP H10320684A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- microcomputer
- frequency
- protection relay
- band
- pass filter
- Prior art date
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- Granted
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ノイズ除去回路の構成を簡素化する。
【解決手段】 マイクロコンピュータ１０は測定信号に
基づき保護リレーの機能を果たすほか、測定信号に基づ
き、周波数測定を行い、その測定結果に基づき、ノイズ
除去用のバンドパスフィルタ２１の回路定数を変更す
る。
基づき保護リレーの機能を果たすほか、測定信号に基づ
き、周波数測定を行い、その測定結果に基づき、ノイズ
除去用のバンドパスフィルタ２１の回路定数を変更す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、高圧配線や高圧
負荷を持つ変電所や工場などで使用される保護リレーの
中で保護・計測・操作・通信などの機能を一体化して持
つ電子化された保護リレーシステムに関する。
負荷を持つ変電所や工場などで使用される保護リレーの
中で保護・計測・操作・通信などの機能を一体化して持
つ電子化された保護リレーシステムに関する。
【０００２】
【従来の技術】測定対象の電圧や電流の測定を行うと
き、測定点のセンサから信号線を経由して保護リレーに
測定信号が入力される。この測定信号には電気的ノイズ
がときとして含まれている。このノイズを除去するため
の方法を以下に示す。
き、測定点のセンサから信号線を経由して保護リレーに
測定信号が入力される。この測定信号には電気的ノイズ
がときとして含まれている。このノイズを除去するため
の方法を以下に示す。
【０００３】１）ハードフイルタを使用する場合、 測定対象の電圧または電流の定格周波数と同じ中心周波
数を持ち、回路構成が簡易な低次のバンドパスフィルタ
がハードパスフィルタとして広く使用される。このよう
なハードフィルタでは測定対象の電圧または電流の周波
数が定格周波数から変動するにつれてハードフィルタの
出力信号は入力信号に対してその大きさや位相の変化が
増大するので、測定誤差が増加する欠点がある。
数を持ち、回路構成が簡易な低次のバンドパスフィルタ
がハードパスフィルタとして広く使用される。このよう
なハードフィルタでは測定対象の電圧または電流の周波
数が定格周波数から変動するにつれてハードフィルタの
出力信号は入力信号に対してその大きさや位相の変化が
増大するので、測定誤差が増加する欠点がある。
【０００４】２）ソフトフィルタを使用する場合、 上記センサから入力のアナログの測定信号をＡ／Ｄ変換
器によりディジタル信号に変換する。次に、変換したデ
ィジタル信号をマイクロコンピュータによりノイズを除
去する。このためにマイクロコンピュータは所定の数値
演算処理を行う。この方法では適切な演算処理を行う
と、測定対象の元の信号の振輻や位相の情報が上記数値
演算により変化することなく得られる長所がある。しか
しながらその一方で、この方法では高精度のＡ／Ｄ変換
器や高速の数値演算用のマイクロコンピュータなどが必
要なので、費用の点から適用が困難な場合がある。
器によりディジタル信号に変換する。次に、変換したデ
ィジタル信号をマイクロコンピュータによりノイズを除
去する。このためにマイクロコンピュータは所定の数値
演算処理を行う。この方法では適切な演算処理を行う
と、測定対象の元の信号の振輻や位相の情報が上記数値
演算により変化することなく得られる長所がある。しか
しながらその一方で、この方法では高精度のＡ／Ｄ変換
器や高速の数値演算用のマイクロコンピュータなどが必
要なので、費用の点から適用が困難な場合がある。
【０００５】３）ハードフィルタとソフトフィルタの使
用 それぞれの長所を得るためハードフィルタとソフトフィ
ルタを使用するノイズ除去方法も知られている。
用 それぞれの長所を得るためハードフィルタとソフトフィ
ルタを使用するノイズ除去方法も知られている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述のように測定信号
の位相や周波数の変動に追従させるようなソフトフィル
タのようなノイズ除去装置を使用すると、保護リレーの
構成が複雑になる。一方、上記、測定信号の周波数や位
相の変動に追従させるようなハードフィルタのようなノ
イズ除去装置を使用すると測定対象の電流や電圧の測定
に誤差が生じてしまう。
の位相や周波数の変動に追従させるようなソフトフィル
タのようなノイズ除去装置を使用すると、保護リレーの
構成が複雑になる。一方、上記、測定信号の周波数や位
相の変動に追従させるようなハードフィルタのようなノ
イズ除去装置を使用すると測定対象の電流や電圧の測定
に誤差が生じてしまう。
【０００７】そこで、本発明の目的は、上述の点に鑑み
て、電流や電圧の測定誤差と、装置構成の簡易さのバラ
ンスのとれた保護リレーシステムを提供することにあ
る。
て、電流や電圧の測定誤差と、装置構成の簡易さのバラ
ンスのとれた保護リレーシステムを提供することにあ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、請求項１の発明は、制御対象の電圧または電
流を測定し、その測定結果を示す測定信号に基づきマイ
クロコンピュータのソフト処理により前記制御対象をオ
ン／オフし、前記測定信号からノイズをバンドパスフィ
ルタにより除去する保護リレーシステムにおいて、前記
バンドパスフィルタは外部からの指示で周波数特性を変
更可能であって、前記マイクロコンピュータは前記測定
信号の周波数を測定する測定手段と、当該測定結果に応
じて前記周波数特性を指示する指示手段と備えたことを
特徴とする。
るために、請求項１の発明は、制御対象の電圧または電
流を測定し、その測定結果を示す測定信号に基づきマイ
クロコンピュータのソフト処理により前記制御対象をオ
ン／オフし、前記測定信号からノイズをバンドパスフィ
ルタにより除去する保護リレーシステムにおいて、前記
バンドパスフィルタは外部からの指示で周波数特性を変
更可能であって、前記マイクロコンピュータは前記測定
信号の周波数を測定する測定手段と、当該測定結果に応
じて前記周波数特性を指示する指示手段と備えたことを
特徴とする。
【０００９】請求項２の発明は、請求項１に記載の保護
リレーシステムにおいて、前記周波数特性は前記バンド
パスフィルタの中心周波数であって、前記マイクロコン
ピュータは前記測定結果に一致させるように該バンドパ
スフィルタの中心周波数を変更することを特徴とする。
リレーシステムにおいて、前記周波数特性は前記バンド
パスフィルタの中心周波数であって、前記マイクロコン
ピュータは前記測定結果に一致させるように該バンドパ
スフィルタの中心周波数を変更することを特徴とする。
【００１０】請求項３の発明は、請求項２に記載の保護
リレーシステムにおいて、前記マイクロコンピュータは
前記測定結果が予め定めた許容範囲の内にある場合にの
み、前記バンドパスフィルタの中心周波数を変更するこ
とを特徴とする。
リレーシステムにおいて、前記マイクロコンピュータは
前記測定結果が予め定めた許容範囲の内にある場合にの
み、前記バンドパスフィルタの中心周波数を変更するこ
とを特徴とする。
【００１１】請求項４の発明は、請求項３に記載の保護
リレーシステムにおいて、前記許容範囲を可変設定可能
としたことを特徴とする。
リレーシステムにおいて、前記許容範囲を可変設定可能
としたことを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。
施の形態を説明する。
【００１３】図１は本発明を適用した保護リレーのシス
テム構成を示す。図１において、保護リレー１はマイク
ロコンピュータ１０、アナログ入力回路１１、表示回路
１２、キー入力回路１３、メモリ１４、不揮発性メモリ
１５、出力回路１６を有する。アナログ入力回路１１は
センサ３からアナログ測定信号を入力し、ノイズ除去を
行った後、アナログ測定信号をデジタル信号に変換し、
マイクロコンピュータ１０にデジタル測定信号を出力す
る。
テム構成を示す。図１において、保護リレー１はマイク
ロコンピュータ１０、アナログ入力回路１１、表示回路
１２、キー入力回路１３、メモリ１４、不揮発性メモリ
１５、出力回路１６を有する。アナログ入力回路１１は
センサ３からアナログ測定信号を入力し、ノイズ除去を
行った後、アナログ測定信号をデジタル信号に変換し、
マイクロコンピュータ１０にデジタル測定信号を出力す
る。
【００１４】表示回路１２は保護リレーの各種機能を実
行するために設定されたパラメータの値や、電圧、電流
の測定値を表示する。キー入力回路１３は、上記設定パ
ラメータの値を入力する。本発明に関わる設定パラメー
タの値としては後述するが変動周波数の許容範囲を示す
上限値および下限値、バンドパスフィルタの回路定数が
ある。
行するために設定されたパラメータの値や、電圧、電流
の測定値を表示する。キー入力回路１３は、上記設定パ
ラメータの値を入力する。本発明に関わる設定パラメー
タの値としては後述するが変動周波数の許容範囲を示す
上限値および下限値、バンドパスフィルタの回路定数が
ある。
【００１５】メモリ１４はマイクロコンピュータ１０の
演算処理に関わる各種データを一時記憶する。不揮発性
メモリ１５は測定値、設定パラメータの値等、保存する
必要があるデータを記憶する。
演算処理に関わる各種データを一時記憶する。不揮発性
メモリ１５は測定値、設定パラメータの値等、保存する
必要があるデータを記憶する。
【００１６】出力回路１６は測定信号の示す電圧または
電流の値がマイクロコンピュータ１０により異常と判断
された場合には、マイクロコンピュータ１０の指示によ
り負荷４をオン／オフする信号を出力する。
電流の値がマイクロコンピュータ１０により異常と判断
された場合には、マイクロコンピュータ１０の指示によ
り負荷４をオン／オフする信号を出力する。
【００１７】マイクロコンピュータ１０は、センサ３の
測定した電圧または電流の値を監視して、負荷４をオン
／オフするための制御を行うほか、測定値を不揮発性メ
モリ１５に記憶する。また、本発明に関わるノイズ除去
に関する制御処理として、保護リレーのマイクロコンピ
ュータ１０は計測対象の電圧または電流のアナログ入力
回路１１から入力した測定信号の周波数を測定する。
測定した電圧または電流の値を監視して、負荷４をオン
／オフするための制御を行うほか、測定値を不揮発性メ
モリ１５に記憶する。また、本発明に関わるノイズ除去
に関する制御処理として、保護リレーのマイクロコンピ
ュータ１０は計測対象の電圧または電流のアナログ入力
回路１１から入力した測定信号の周波数を測定する。
【００１８】マイクロコンピュータ１０は測定した測定
信号の周波数の値が許容範囲にあるかどうかを判定す
る。許容範囲の上下限値は不揮発性メモリ１５に記憶さ
れている値を使用する。マイクロコンピュータ１０は周
波数が許容範囲内と判定したとき、測定した周波数とア
ナログ入力回路１１内の後述のバンドパスフィルタの中
心周波数が一致するように回路定数、すなわち、周波数
特性を変更する。
信号の周波数の値が許容範囲にあるかどうかを判定す
る。許容範囲の上下限値は不揮発性メモリ１５に記憶さ
れている値を使用する。マイクロコンピュータ１０は周
波数が許容範囲内と判定したとき、測定した周波数とア
ナログ入力回路１１内の後述のバンドパスフィルタの中
心周波数が一致するように回路定数、すなわち、周波数
特性を変更する。
【００１９】マイクロコンピュータ１０は周波数が許容
範囲外と判定したとき、現状の設定を保持する。マイク
ロコンピュータ１０はこのような判定処理を予め決めら
れた周期で繰り返す。この周期は不揮発性メモリ１５に
予め設定されている値を使用する。
範囲外と判定したとき、現状の設定を保持する。マイク
ロコンピュータ１０はこのような判定処理を予め決めら
れた周期で繰り返す。この周期は不揮発性メモリ１５に
予め設定されている値を使用する。
【００２０】センサ３は測定対象の電圧や電流の値を測
定し、アナログ信号の形態で、保護リレー１のアナログ
入力回路１１に出力する。負荷４は保護リレー１の出力
回路１６に接続され、出力回路１６の信号の指示でオン
／オフを行う。
定し、アナログ信号の形態で、保護リレー１のアナログ
入力回路１１に出力する。負荷４は保護リレー１の出力
回路１６に接続され、出力回路１６の信号の指示でオン
／オフを行う。
【００２１】図２は本発明のアナログ入力回路１１の詳
細な構成例を示す。マイクロコンピュータ１０は測定し
た信号の周波数の値によりハードフィルタ形態のバンド
パスフィルタ２１の回路定数を端子Ｐ１からＰ３で選択
して使用する。変成器２０はアナログ入力回路１１はセ
ンサ３からの信号を入力し、入力回路中で扱いやすい大
きさの信号に変換する。バンドパスフィルタ２１は特定
の周波数の信号成分を通過させることにより測定信号に
含まれる電気的ノイズを除去する。周波数帯は可変設定
可能である。増幅回路２２はフィルタ２１の出力を増幅
する。Ａ／Ｄ変換器２３は増幅回路２２の出力をアナロ
グ／デジタル変換する。
細な構成例を示す。マイクロコンピュータ１０は測定し
た信号の周波数の値によりハードフィルタ形態のバンド
パスフィルタ２１の回路定数を端子Ｐ１からＰ３で選択
して使用する。変成器２０はアナログ入力回路１１はセ
ンサ３からの信号を入力し、入力回路中で扱いやすい大
きさの信号に変換する。バンドパスフィルタ２１は特定
の周波数の信号成分を通過させることにより測定信号に
含まれる電気的ノイズを除去する。周波数帯は可変設定
可能である。増幅回路２２はフィルタ２１の出力を増幅
する。Ａ／Ｄ変換器２３は増幅回路２２の出力をアナロ
グ／デジタル変換する。
【００２２】比較回路２４は増幅回路２２の出力電圧Ｖ
３が正（電圧か０Ｖ以上）か負（電圧が０Ｖ未満）かを
判定し、その判定結果をマイクロコンピュータ１０の端
子Ｆ１に出力する。
３が正（電圧か０Ｖ以上）か負（電圧が０Ｖ未満）かを
判定し、その判定結果をマイクロコンピュータ１０の端
子Ｆ１に出力する。
【００２３】図３は図２に示すバンドパスフィルタ２１
の特性の一例を示す。横軸は周波数ｆ、縦軸は正規化さ
れた出力電圧Ｖ２である。出力電圧Ｖ２か最大となるの
は中心周波数ｆｃが５０Ｈｚの場合である。周波数ｆの
値か中心周波数ｆｃから離れるにつれて出力電圧Ｖ２の
値が減少することがわかる。図３のバンドパスフィルタ
の中心周波数ｆｃは数式１で、ゲインＧは数式２で与え
られる。
の特性の一例を示す。横軸は周波数ｆ、縦軸は正規化さ
れた出力電圧Ｖ２である。出力電圧Ｖ２か最大となるの
は中心周波数ｆｃが５０Ｈｚの場合である。周波数ｆの
値か中心周波数ｆｃから離れるにつれて出力電圧Ｖ２の
値が減少することがわかる。図３のバンドパスフィルタ
の中心周波数ｆｃは数式１で、ゲインＧは数式２で与え
られる。
【００２４】
【数１】
【００２５】
【数２】Ｇ＝−Ｒ３・Ｃ２／（Ｒ１・（Ｃ１＋Ｃ２）） 数式（２）には定数Ｒ２が含まれていないので、ゲイン
Ｇを一定にしたままで定数Ｒ２を変化させることで中心
周波数ｆｃを変化させることができる。
Ｇを一定にしたままで定数Ｒ２を変化させることで中心
周波数ｆｃを変化させることができる。
【００２６】図４は図２に示すバンドパスィルタ２１の
具体的な回路構成例を示す。フィルタ回路２１は抵抗Ｒ
１、抵抗Ｒ２（抵抗Ｒ２１、抵抗Ｒ２２、抵抗Ｒ２３で
構成）、抵抗Ｒ３、コンデンサＣ１、コンデンサＣ２、
演算増幅器０Ｐ１、アナログスイッチＱ１、アナログス
イッチＱ２およびアナログスイッチＱ３から構成され
る。
具体的な回路構成例を示す。フィルタ回路２１は抵抗Ｒ
１、抵抗Ｒ２（抵抗Ｒ２１、抵抗Ｒ２２、抵抗Ｒ２３で
構成）、抵抗Ｒ３、コンデンサＣ１、コンデンサＣ２、
演算増幅器０Ｐ１、アナログスイッチＱ１、アナログス
イッチＱ２およびアナログスイッチＱ３から構成され
る。
【００２７】このような構成においてアナログスイッチ
Ｑ１、アナログスイッチＱ２およびアナログスイッチＱ
３はマイクロコンピュータ１０の出力信号Ｐ１、Ｐ２お
よびＰＳの信号の状態でスイッチＳＷ１、ＳＷ２および
ＳＷ３をオン／オフする。
Ｑ１、アナログスイッチＱ２およびアナログスイッチＱ
３はマイクロコンピュータ１０の出力信号Ｐ１、Ｐ２お
よびＰＳの信号の状態でスイッチＳＷ１、ＳＷ２および
ＳＷ３をオン／オフする。
【００２８】本発明と従来例の回路の違いを明確にする
ために従来のアナログ入力回路１１の代表例を図５に示
す。マイクロコンピュータ１０は不揮発性メモリ１５に
記憶する定格周波数の値によりフィルタ２１ａまたはフ
ィルタ２１ｂを端子Ｐ１またはＰ２で手動で選択して使
用していた。アナログ入力回路１１はセンサ３からの信
号を入力し、回路で扱いやすい大きさの信号に変換する
変成器２０、信号に含まれる電気的ノイズを除去するフ
ィルタ２１ａとフィルタ２１ｂ、増幅回路２２、Ａ／Ｄ
変換器２３から構成される。
ために従来のアナログ入力回路１１の代表例を図５に示
す。マイクロコンピュータ１０は不揮発性メモリ１５に
記憶する定格周波数の値によりフィルタ２１ａまたはフ
ィルタ２１ｂを端子Ｐ１またはＰ２で手動で選択して使
用していた。アナログ入力回路１１はセンサ３からの信
号を入力し、回路で扱いやすい大きさの信号に変換する
変成器２０、信号に含まれる電気的ノイズを除去するフ
ィルタ２１ａとフィルタ２１ｂ、増幅回路２２、Ａ／Ｄ
変換器２３から構成される。
【００２９】従来例と本発明の相違点は、本発明ではマ
イクロコンピュータ１０が測定信号の周波数を検出し、
変動する周波数に応じてフィルタ２１の回路定数を自動
的に変更するようにしたことにある。
イクロコンピュータ１０が測定信号の周波数を検出し、
変動する周波数に応じてフィルタ２１の回路定数を自動
的に変更するようにしたことにある。
【００３０】図６に本発明の保護リレー１のマイクロコ
ンピュータ１０の処理動作手順を示す。ステップＳ１で
マイクロコンピュータ１０は端子Ｆ１の入力信号Ｖ５が
正から負の状態に立下がったかどうかの有無を判定し、
有り（正から負への立下がり）の判定がなされた時はス
テップＳ２に進み、無しの時はステップＳ８に進む。ス
テップＳ２でマイクロコンヒユータ１０は立下かりの１
回目かどうかを判定し、１回目の時はステップＳ７に進
み、その他の時はステップＳ３に進む。
ンピュータ１０の処理動作手順を示す。ステップＳ１で
マイクロコンピュータ１０は端子Ｆ１の入力信号Ｖ５が
正から負の状態に立下がったかどうかの有無を判定し、
有り（正から負への立下がり）の判定がなされた時はス
テップＳ２に進み、無しの時はステップＳ８に進む。ス
テップＳ２でマイクロコンヒユータ１０は立下かりの１
回目かどうかを判定し、１回目の時はステップＳ７に進
み、その他の時はステップＳ３に進む。
【００３１】ステップＳ３でマイクロコンピュータ１０
は周波数測定用のタイマの計数を停止し、計数値をＴ２
とする。次にタイマの初期値Ｔ１を用いて時間△Ｔ＝Ｔ
２−Ｔ１を計算し、ステップＳ４に進む。ステップＳ４
でマイクロコンピュータ１０は周波数ｆ１＝１／（△
Ｔ）を求め、ステップＳ５に進む。ステップＳ５でマイ
クロコンピュータ１０はステップＳ４で求めた周波数ｆ
１が許容範囲の上限値と下限値（許容範囲）中にあるか
否かを判定し、許容範囲中にある時はステップＳ６に進
み、その他の時はステップＳ７に進む。
は周波数測定用のタイマの計数を停止し、計数値をＴ２
とする。次にタイマの初期値Ｔ１を用いて時間△Ｔ＝Ｔ
２−Ｔ１を計算し、ステップＳ４に進む。ステップＳ４
でマイクロコンピュータ１０は周波数ｆ１＝１／（△
Ｔ）を求め、ステップＳ５に進む。ステップＳ５でマイ
クロコンピュータ１０はステップＳ４で求めた周波数ｆ
１が許容範囲の上限値と下限値（許容範囲）中にあるか
否かを判定し、許容範囲中にある時はステップＳ６に進
み、その他の時はステップＳ７に進む。
【００３２】ステップＳ６でマイクロコンピュータ１０
は測定した周波数ｆ１とフィルタの中心周波数の値が一
致するように、予め定めた周波数と回路定数の対応関係
を元に端子Ｐ１からＰ３でフィルタの回路定数の中の対
応する回路定数を選択設定し、ステップＳ７に進む。ス
テップＳ７でマイクロコンピュータ１０は周波数測定用
のタイマの計数を開始し、計数値をＴ１とし、ステップ
Ｓ８に進む。ステップＳ８で処理は終了する。
は測定した周波数ｆ１とフィルタの中心周波数の値が一
致するように、予め定めた周波数と回路定数の対応関係
を元に端子Ｐ１からＰ３でフィルタの回路定数の中の対
応する回路定数を選択設定し、ステップＳ７に進む。ス
テップＳ７でマイクロコンピュータ１０は周波数測定用
のタイマの計数を開始し、計数値をＴ１とし、ステップ
Ｓ８に進む。ステップＳ８で処理は終了する。
【００３３】このような処理手順をマイクロコンピュー
タ１０が実行することにより、マイクロコンピュータ１
０は測定信号の周波数測定と、測定した周波数に好適な
フィルタ２１の回路定数を設定する。
タ１０が実行することにより、マイクロコンピュータ１
０は測定信号の周波数測定と、測定した周波数に好適な
フィルタ２１の回路定数を設定する。
【００３４】図７は本発明実施の形態の動作を示すタイ
ミングチャートある。図２の信号Ｖ４は正弦波であり、
図２の信号Ｖ５は信号Ｖ４が０Ｖ以上の時に正、信号Ｖ
４が０Ｖ未満の時に負となる。信号Ｐ１からＰ３はフィ
ルタの回路定数を選択するための信号でＡ点で切り換え
られたことを示している。
ミングチャートある。図２の信号Ｖ４は正弦波であり、
図２の信号Ｖ５は信号Ｖ４が０Ｖ以上の時に正、信号Ｖ
４が０Ｖ未満の時に負となる。信号Ｐ１からＰ３はフィ
ルタの回路定数を選択するための信号でＡ点で切り換え
られたことを示している。
【００３５】図８は本発明の保護リレーの外観の一例を
示す。図８の例ではデータ識別コードが１０２（図９参
照）、整定データが４５Ｈｚと表示されている。図８に
示すようにデータ識別ードは表示器１２ａで、整定デー
タは表示器１２ｂで表示される。データの読み出し時は
不揮発性メモリ１５から読み出されたデータ識別コード
と整定データが表示される。
示す。図８の例ではデータ識別コードが１０２（図９参
照）、整定データが４５Ｈｚと表示されている。図８に
示すようにデータ識別ードは表示器１２ａで、整定デー
タは表示器１２ｂで表示される。データの読み出し時は
不揮発性メモリ１５から読み出されたデータ識別コード
と整定データが表示される。
【００３６】ユーザがデータを変更する時は選択された
データ識別コードと整定データの候補が表示され、ユー
ザがキー“確定”（符号１３ｄ）を押すことで選択され
た整定データの候補が整定データとして不揮発性メモリ
１５に記憶される。
データ識別コードと整定データの候補が表示され、ユー
ザがキー“確定”（符号１３ｄ）を押すことで選択され
た整定データの候補が整定データとして不揮発性メモリ
１５に記憶される。
【００３７】図９は本発明の保護リレーの不揮発性メモ
リに記憶するデータの一例を示す。この例では項目とし
て定格周波数、許容範囲の上限値と下限値、切換え周期
があり、項目毎にデータ識別コード、整定データの候
補、整定データが用意されている。許容範囲の上下限値
の変更処理手順は従来からパラメータ値、例えば、負荷
４を断するための電圧しきい値の変更を行う処理手順が
知られているので、この処理手順と同様にデータの変更
を行えばよく、詳細な説明を省略する。
リに記憶するデータの一例を示す。この例では項目とし
て定格周波数、許容範囲の上限値と下限値、切換え周期
があり、項目毎にデータ識別コード、整定データの候
補、整定データが用意されている。許容範囲の上下限値
の変更処理手順は従来からパラメータ値、例えば、負荷
４を断するための電圧しきい値の変更を行う処理手順が
知られているので、この処理手順と同様にデータの変更
を行えばよく、詳細な説明を省略する。
【００３８】以上、説明したように、本実施の形態によ
れば、測定対象の電圧の周波数が定格周波数からずれて
もマイクロコンピュータ１０が周波数変動を検出し、ア
ナログ入力回路１１内のバンドパスフィルタの中心周波
数を周波数の測定値に追従させて変化させるのでバンド
パスフィルタに起因する測定値の誤差を小さくすること
ができる。また、このような回路構成は簡易であり、少
ない費用で装置の改善が期待できる。
れば、測定対象の電圧の周波数が定格周波数からずれて
もマイクロコンピュータ１０が周波数変動を検出し、ア
ナログ入力回路１１内のバンドパスフィルタの中心周波
数を周波数の測定値に追従させて変化させるのでバンド
パスフィルタに起因する測定値の誤差を小さくすること
ができる。また、このような回路構成は簡易であり、少
ない費用で装置の改善が期待できる。
【００３９】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項１の発明
によれば、マイクロコンピュータ側で測定信号の周波数
測定と、バンドパスフィルタの周波数特性の切換え制御
を行い、マイクロコンピュータ側ではノイズ除去処理を
行わない。これによりマイクロコンピュータの負担を軽
くし、保護リレーとしての機能の性能を劣化させること
がない。また、バンドパスフィルタの周波数特性を測定
信号の周波数に追従させることでノイズ除去性能も劣化
することはない。加えて、周波数測定は、マイクロコン
ピュータのソフト処理で実現できるので、バンドパスフ
ィルタとマイクロコンピュータという簡素な回路構成で
高性能なノイズ除去回路を構成できる。
によれば、マイクロコンピュータ側で測定信号の周波数
測定と、バンドパスフィルタの周波数特性の切換え制御
を行い、マイクロコンピュータ側ではノイズ除去処理を
行わない。これによりマイクロコンピュータの負担を軽
くし、保護リレーとしての機能の性能を劣化させること
がない。また、バンドパスフィルタの周波数特性を測定
信号の周波数に追従させることでノイズ除去性能も劣化
することはない。加えて、周波数測定は、マイクロコン
ピュータのソフト処理で実現できるので、バンドパスフ
ィルタとマイクロコンピュータという簡素な回路構成で
高性能なノイズ除去回路を構成できる。
【００４０】請求項２の発明では、バンドパスフィルタ
の中心周波数を変更することでバンド幅を大きく変更す
ることなく、測定信号の測定周波数に追従できる。
の中心周波数を変更することでバンド幅を大きく変更す
ることなく、測定信号の測定周波数に追従できる。
【００４１】請求項３の発明では、測定信号の周波数が
異常となった場合にはバンドパスの周波数特性の変更を
行わないので、バンドパスフィルタを安全側（フェイル
セーフ）で使用できる。
異常となった場合にはバンドパスの周波数特性の変更を
行わないので、バンドパスフィルタを安全側（フェイル
セーフ）で使用できる。
【００４２】請求項４の発明では、測定信号の比較に使
用する許容範囲を可変設定可能とすることで、バンドパ
スフィルタの交換等によりバンドパスフィルタの性能が
変わった場合にもその変更に対応できる。
用する許容範囲を可変設定可能とすることで、バンドパ
スフィルタの交換等によりバンドパスフィルタの性能が
変わった場合にもその変更に対応できる。
【図１】保護リレーのシステム構成図である。
【図２】本発明実施の形態のアナログ入力回路１１の構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図３】本発明実施の形態のバンドパスフィルタの特性
の一例である。
の一例である。
【図４】本発明実施の形態のバンドパスフィルタの一例
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図５】従来例のアナログ入力回路１１の一例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図６】本発明実施の形態のマイクロコンピュータ１０
の処理手順を示すフローチャートである。
の処理手順を示すフローチャートである。
【図７】本発明実施の形態の動作タイミングを示すタイ
ミングチャートである。
ミングチャートである。
【図８】本発明実施の形態の保護リレー１の外観図であ
る。
る。
【図９】本発明実施の形態の保護リレー１の不揮発性メ
モリ１５のデータの一例を示す説明図である。
モリ１５のデータの一例を示す説明図である。
１ 保護リレー ２ センサ ４ 負荷 １０ マイクロコンピュータ １１ アナログ入力回路 １２ 表示回路 １３ キー入力回路 １４ メモリ １５ 不揮発性メモリ １６ 出力回路 ２０ 変成器 ２１ （バンドパス）フィルタ ２２ 増輻回路 ２３ Ａ／Ｄ変換回路 Ｒ１ 抵抗器 Ｒ２ 抵抗器 Ｒ３ 抵抗器 Ｒ２１ 抵抗器 Ｒ２２ 抵抗器 Ｒ２３ 抵抗器 Ｃ１ コンデンサ Ｃ２ コンデンサ ０Ｐ１ 演算増輻器 Ｑ１ アナログスイッチ Ｑ２ アナログスイッチ Ｑ３ アナログスイッチ ＳＷ１ アナログスイッチ ＳＷ２ アナログスイッチ ＳＷ３ アナログスイッチ
Claims (4)
- 【請求項１】 制御対象の電圧または電流を測定し、そ
の測定結果を示す測定信号に基づきマイクロコンピュー
タのソフト処理により前記制御対象をオン／オフし、前
記測定信号からノイズをバンドパスフィルタにより除去
する保護リレーシステムにおいて、 前記バンドパスフィルタは外部からの指示で周波数特性
を変更可能であって、前記マイクロコンピュータは前記
測定信号の周波数を測定する測定手段と、当該測定結果
に応じて前記周波数特性を指示する指示手段と備えたこ
とを特徴とする保護リレーシステム。 - 【請求項２】 請求項１に記載の保護リレーシステムに
おいて、前記周波数特性は前記バンドパスフィルタの中
心周波数であって、前記マイクロコンピュータは前記測
定結果に一致させるように該バンドパスフィルタの中心
周波数を変更することを特徴とする保護リレーシステ
ム。 - 【請求項３】 請求項２に記載の保護リレーシステムに
おいて、前記マイクロコンピュータは前記測定結果が予
め定めた許容範囲の内にある場合にのみ、前記バンドパ
スフィルタの中心周波数を変更することを特徴とする保
護リレーシステム。 - 【請求項４】 請求項３に記載の保護リレーシステムに
おいて、前記許容範囲を可変設定可能としたことを特徴
とする保護リレーシステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12725497A JP3610724B2 (ja) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | 保護リレーシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12725497A JP3610724B2 (ja) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | 保護リレーシステム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10320684A true JPH10320684A (ja) | 1998-12-04 |
| JP3610724B2 JP3610724B2 (ja) | 2005-01-19 |
Family
ID=14955505
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12725497A Expired - Lifetime JP3610724B2 (ja) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | 保護リレーシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3610724B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2594905A2 (en) | 2011-11-15 | 2013-05-22 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device and sensor system |
| EP2595075A2 (en) | 2011-11-15 | 2013-05-22 | Renesas Electronics Corporation | Development support apparatus of semiconductor device, development support method, and development support program product |
| JP2014045618A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Fuji Electric Co Ltd | 電力系統シミュレータ |
| WO2021106866A1 (ja) * | 2019-11-26 | 2021-06-03 | 日本セラミック株式会社 | 焦電型赤外線検出器及び集積回路 |
-
1997
- 1997-05-16 JP JP12725497A patent/JP3610724B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2594905A2 (en) | 2011-11-15 | 2013-05-22 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device and sensor system |
| EP2595075A2 (en) | 2011-11-15 | 2013-05-22 | Renesas Electronics Corporation | Development support apparatus of semiconductor device, development support method, and development support program product |
| US8739109B2 (en) | 2011-11-15 | 2014-05-27 | Renesas Electronics Corporation | Development support apparatus of semiconductor device, development support method, and development support program product |
| US8742962B2 (en) | 2011-11-15 | 2014-06-03 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor device and sensor system |
| JP2014045618A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Fuji Electric Co Ltd | 電力系統シミュレータ |
| WO2021106866A1 (ja) * | 2019-11-26 | 2021-06-03 | 日本セラミック株式会社 | 焦電型赤外線検出器及び集積回路 |
| JP2021085699A (ja) * | 2019-11-26 | 2021-06-03 | 日本セラミック株式会社 | 焦電型赤外線検出器及び集積回路 |
| GB2603712A (en) * | 2019-11-26 | 2022-08-10 | Nippon Ceram Co Ltd | Pyroelectric-type infrared detector and integrated circuit |
| GB2603712B (en) * | 2019-11-26 | 2023-10-11 | Nippon Ceram Co Ltd | Pyroelectric-type infrared detector and integrated circuit |
| US11796387B2 (en) | 2019-11-26 | 2023-10-24 | Nippon Ceramic Co., Ltd. | Pyroelectric-type infrared detector and integrated circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3610724B2 (ja) | 2005-01-19 |
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