JPH10320561A - 画像処理方法及びその装置 - Google Patents

画像処理方法及びその装置

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JPH10320561A
JPH10320561A JP9147117A JP14711797A JPH10320561A JP H10320561 A JPH10320561 A JP H10320561A JP 9147117 A JP9147117 A JP 9147117A JP 14711797 A JP14711797 A JP 14711797A JP H10320561 A JPH10320561 A JP H10320561A
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JP
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image
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Application number
JP9147117A
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English (en)
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Kazuyo Kurabayashi
和代 倉林
Nobuhito Matsushiro
信人 松代
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Data Corp
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Publication date
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/50Depth or shape recovery
    • G06T7/55Depth or shape recovery from multiple images
    • G06T7/593Depth or shape recovery from multiple images from stereo images
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/30Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
    • G06T7/32Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using correlation-based methods
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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    • Y10S345/949Animation processing method
    • Y10S345/952Simulation

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Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 基準画素5の近傍に第1基準ウィンドウ
7aおよび第2基準ウィンドウ7bを設定し、基準画素
5が対応点を探索する対応ライン4内の各対応画素6の
近傍にそれぞれ第1対応ウィンドウ8aおよび第2対応
ウィンドウ8bを設定し、第1基準ウィンドウ7aおよ
び第1対応ウィンドウ8a間、並びに、第2基準ウィン
ドウ7bおよび第2対応ウィンドウ8b間のMDL基準
値を算出し、算出されたMDL基準値を比較して最適な
ウィンドウサイズを選択する。そして、最適なウィンド
ウサイズが選択された対応ライン4内の対応画素6のM
DL基準値を比較して基準画素5に類似する対応画素6
を探索する。 【効果】 ステレオ画像対の高精度な対応点を得て、再
現性の良好な3次元情報を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ステレオ画像対の
対応点を探索する画像処理方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、両眼視差を利用して被写体を複数
の位置から撮影したステレオ画像が知られている。一対
のステレオ画像を見ると、双方の画像の融像により被写
体が立体的に知覚される。一方、ステレオ画像対の対応
点を探索する画像処理方法および装置が知られている。
対応点とは、ステレオ画像対の一方の画像内の任意の画
素に類似するもう一方の画像内の画素をいう。探索され
た対応点に相当するステレオ画像対の画素の位置の差を
求めることで、被写体の3次元情報を得ることができ、
例えば、被写体の3次元計測に利用することができる。
この種の方法および装置では、一対のステレオ画像の双
方の画素の近傍にそれぞれ同サイズの領域(以下、ウィ
ンドウという)を設定し、設定された双方のウィンドウ
の類似性を比較することで対応点を探索する。類似性を
比較する基準としては、双方のウィンドウ内の位置的に
対応する画素の差の2乗和、いわゆるSSD(Sum of S
quared Difference )が用いられている。SSDを用い
て対応点を探索するものとしては、例えば1992年8
月電子情報通信学会論文誌D−IIVol.J75−D−
II第1317頁〜第1327頁「複数の基線長を利用し
たステレオマッチング」に示される手法が提案されてい
る。この手法は、異なる基線長の複数のステレオ画像対
を同時に用い、各ステレオ画像対の距離の逆数の2乗和
SSDを総和することで、偽対応を減らしつつ、高精度
な対応点を探索するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ステレオ画像対の対応点を探索する画像処理方法および
装置にあっては、ウィンドウ間のSSDを比較基準とし
て対応点を探索していた。このため、厳密に最適なモデ
ルにより対応点を探索しているとはいえず、満足される
高精度の対応点が得られないといった問題があった。ま
た、従来のステレオ画像対の対応点を探索する画像処理
方法および装置にあっては、一定のサイズのウィンドウ
により画素間の類似性を比較していたため、最適なウィ
ンドウサイズにより対応点を探索することができず、満
足される高精度の対応点を得られないといった問題があ
った。一般に、画像はその部分により濃度等の性質が変
化するため、その部分に応じたサイズのウィンドウを設
定するのが望ましい。濃度の変化が小さい一様な部分で
は、ウィンドウサイズを小さくすると、類似するウィン
ドウが多くなり、偽対応の可能性が増大する。このた
め、ウィンドウサイズを大きくするのが好ましい。一
方、濃度の変化が大きいエッジ部分では、ウィンドウサ
イズを大きくすると、周辺部が雑音となってしまい、類
似するウィンドウの特定が困難になってしまう。このた
め、ウィンドウサイズは小さくするのが好ましい。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は以上の点を解決
するため次の構成を採用する。 〈構成1〉一対のステレオ画像のうち、一方の画像を基
準画像と呼び、もう一方の画像を対応画像と呼ぶとき、
基準画像内の画素の近傍に所定の領域を設定する基準領
域設定工程と、対応領域内の複数の画素の近傍にそれぞ
れ上記基準領域設定工程により設定された領域と同サイ
ズの領域を設定する対応領域設定工程と、上記基準領域
設定工程により設定された領域を基準領域と呼び、上記
対応領域設定工程により設定された領域を対応領域と呼
ぶとき、上記基準領域設定工程により設定された基準領
域と上記対応領域設定工程により設定された複数の対応
領域とをそれぞれ比較し、基準画像内の画素に類似する
対応画像内の類似画素を探索する類似画素探索工程とを
含む画像処理方法であって、上記類似画素探索工程は、
上記基準領域と上記複数の対応領域との間のそれぞれの
MDL(Minimum DescriptionLength)基準値を算出す
るMDL基準値算出工程を有し、上記MDL算出工程に
より算出されたそれぞれのMDL基準値を比較して基準
画像内の画素に類似する対応画像内の類似画素を探索す
ることを特徴とする画像処理方法。
【0005】〈構成2〉一対のステレオ画像のうち、一
方の画像を基準画像と呼び、もう一方の画像を対応画像
と呼ぶとき、基準画像内の画素の近傍に所定の領域を設
定する基準領域設定部と、対応画像内の複数の画素の近
傍にそれぞれ上記基準領域設定部により設定された領域
と同サイズの領域を設定する対応領域設定部と、上記基
準領域設定部により設定された領域を基準領域と呼び、
上記対応領域設定部により設定された領域を対応領域と
呼ぶとき、上記基準領域設定部により設定された基準領
域と上記対応領域設定部により設定された複数の対応領
域とをそれぞれ比較し、基準画像内の画素に類似する対
応画像内の類似画素を探索する類似画素探索部とを備え
た画像処理装置において、上記類似画素探索部は、上記
基準領域と上記複数の対応領域との間のそれぞれのMD
L(Minimum Description Length)基準値を算出するM
DL基準値算出部を有し、上記MDL基準値算出部によ
り算出されたそれぞれのMDL基準値を比較して基準画
像内の画素に類似する対応画像内の類似画素を探索する
ことを特徴とする画像処理装置。
【0006】〈構成3〉構成2において、上記基準領域
設定部は、基準画像内の画素の近傍に複数のサイズの基
準領域をそれぞれ設定し、上記対応領域設定部は、上記
複数の画素の近傍にそれぞれ上記基準領域設定部により
設定された複数のサイズの基準領域と同サイズの複数の
対応領域をそれぞれ設定し、上記MDL基準値算出部
は、上記基準領域設定部により設定された複数のサイズ
の基準領域と上記対応領域設定部により設定された同サ
イズの対応領域との間のMDL基準値をそれぞれ算出
し、上記類似画素探索部は、上記MDL基準値算出部に
より算出されたMDL基準値を比較して上記複数のサイ
ズの基準領域および対応領域の対の中から最適なサイズ
の領域を選択し、基準画像内の画素に類似する対応画像
内の類似画素を探索することを特徴とする画像処理装
置。
【0007】〈構成4〉構成2において、上記基準画像
内に所定の画素列を設定する基準画素列設定部と、上記
基準画像および上記対応画像の視差および上記基準画素
列設定部により設定された画素列内の各画素の位置関係
に基づいて、上記画素列内の各画素がそれぞれ探索可能
な対応領域内の複数の画素の画素列の組合せを設定する
組合せ設定部とを有し、上記類似画素探索部は、上記組
合せ設定部により設定された画素列の組合せに従って、
それぞれ上記MDL基準値により算出されたMDL基準
値を累計するMDL基準値累計部を有し、上記MDL基
準値累計部により累計された上記組合せのMDL基準値
を比較して上記基準画素列設定部により設定された画素
列の類似画素を探索することを特徴とする画像処理装
置。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を具体
例を用いて説明する。 《具体例1》 〈構成〉図1は本発明に係る具体例1の画像処理方法の
概略を説明する説明図である。図1に示すように、基準
画像1および対応画像2は、被写体を水平方向の異なる
位置から撮影したステレオ画像対を構成している。基準
画像1は被写体を右側から撮影した画像であり、対応画
像2は被写体を左側から撮影した画像である。この画像
処理方法では、基準画像1の走査順に基準画像1内の画
素に類似する対応画像2内の画素を探索する。基準ライ
ン3は、基準画像1内の任意のラインであり、基準ライ
ン3内の基準画素5は、現在、対応画像2内の類似画素
を探索している画素である。対応ライン4は、基準画像
1内の基準ライン3と同位置の対応画像2内のラインを
表し、対応画素6は、対応ライン4内の任意の画素を表
す。この画像処理方法では、基準画素5に類似する画素
を対応ライン4内の対応画素6から探索する。
【0009】まず、基準画素5の近傍に異なるサイズの
第1基準ウィンドウ7aおよび第2基準ウィンドウ7b
を設定する。次いで、対応ライン4内の先頭の対応画素
6の近傍に第1基準ウィンドウ7aおよび第2基準ウィ
ンドウ7bと同サイズの第1対応ウィンドウ8aおよび
第2対応ウィンドウ8bをそれぞれ設定する。次いで、
第1基準ウィンドウ7aと第1対応ウィンドウ8aとの
間のMDL(Minimum Description Length)基準値を算
出するとともに、第2基準ウィンドウ7bと第2基準ウ
ィンドウ8bとの間のMDL基準値を算出し、算出され
たMDL基準値を比較して第1基準ウィンドウ7aおよ
び第1対応ウィンドウ8aの対、並びに、第2基準ウィ
ンドウ7bおよび第2対応ウィンドウ8bの対の中から
最適なウィンドウサイズを選択する。以降、対応ライン
4内の各対応画素6に対し、同様に、第1対応ウィンド
ウ8aおよび第2対応ウィンドウ8bをそれぞれ設定し
て、それぞれ第1基準ウィンドウ7aおよび第2基準ウ
ィンドウ7bとの間のMDL基準値を求め、それぞれの
対応画素6の最適なウィンドウサイズを選択する。そし
て、最適なウィンドウサイズが選択された対応ライン4
内の対応画素6のMDL基準値を比較して基準画素5に
類似する対応画素6を特定する。
【0010】MDL基準値について説明する。MDL基
準値は、観測シンボル系列全体に対する最適なモデルを
選択する基準値であり、図1中、式(1)で示される。
式(1)において、{ }内の第1項(−logeQ)は、
モデルを用いた誤差の情報量を表す。logeQはモデルの
確率分布の対数尤度である。誤差の情報量(−logeQ)
が小さいほど、モデルが適切に設定されていることを表
す。モデルを記述するパラメータ数Kが多いほど、モデ
ルの記述は正確になり、第1項(−logeQ)は小さくな
る。{ }内の第2項 (1/2)Klogenは、モデルパラメ
ータの情報量を表す。 (1/2)logenは、観測数がnのと
き、1つのパラメータを記述するのに必要な情報量であ
る。モデルパラメータ数Kが増加すると、モデルパラメ
ータを記述するための情報量が増大してしまう。このよ
うに、第1項および第2項はトレードオフの関係にあ
り、第2項によりモデルが冗長となるのを抑制してい
る。MDL基準値を比較基準に用いると、有限の観測デ
ータ数に対して冗長性のないモデルを選択することがで
きる。なお、式(1)のMDL基準値は、観測数nで除
され、正規化されている。
【0011】nは、基準ウィンドウおよび対応ウィンド
ウ間の同位置の画素の予測誤差εk、(k=1,2,・・・,n )
の観測数であり、ウィンドウ内の画素数を表す。モデル
パラメータは、基準画素5および対応画素6のそれぞれ
の画像内の位置、すなわち主走査方向の位置を表すx座
標および副走査方向の位置を表すy座標、並びに、予測
誤差εk の分散σ2 であり、モデルパラメータ数K=3
である。誤差の確率密度関数Qは、各確率変数(予測誤
差)εk のそれぞれの確率密度関数qk の独立性を仮定
して、確率密度関数q1 〜qn の積としている。確率密
度関数qk は、正規分布と仮定する。分散σ2 は、εk
の平均値を0と仮定して、ε1 2〜εn 2の平均値としてい
る。
【0012】次に、上記の画像処理方法を実現する画像
処理装置について説明する。図2は本発明に係る具体例
1の画像処理装置の構成を示すブロック図である。図2
に示すように、画像処理装置は、ウィンドウサイズテー
ブル10、基準画像メモリ11、対応画像メモリ12、
基準画素位置算出部13、対応画素位置算出部14、基
準ウィンドウ読出部15、対応ウィンドウ読出部16、
MDL算出部17、画素MDLレジスタ18、ラインM
DLレジスタ19および相対位置算出部20を備えてい
る。
【0013】ウィンドウサイズテーブル10には、図3
(a)に示すように、それぞれ0〜3のインデックス値
が割り当てられた3画素×3画素、9画素×9画素、1
7画素×17画素および33画素×33画素の4種類の
ウィンドウサイズが登録されている。基準画素5および
対応画素6には、これらのウィンドウサイズに応じたそ
れぞれの画素を中心とする基準ウィンドウおよび対応ウ
ィンドウが設定される。基準画像メモリ11には、N行
M列の基準画像1が記憶され、対応画像メモリ12に
は、N行M列の対応画像2が記憶されている。
【0014】基準画素位置算出部13は、類似画素を探
索すべき基準画素5の位置を算出し、対応画素位置算出
部14および基準ウィンドウ読出部15に出力する。こ
こで、図1に示された基準画像1内の主走査方向の座標
をx1で表し、副走査方向の座標をyで表し、基準画素
5の位置をPR(x1,y)で表すものとする。同様
に、対応画像2内の対応画素6の位置をPL(x2,
y)で表すものとする。基準画素位置算出部13には、
PR(0,0)が初期値として入力され、基準画像1の
1行目の先頭の画素が基準画素5に設定され、以降、後
述する相対位置算出部20から出力された次画素シフト
信号NRが入力される毎に、位置PR(x1,y)の値
が1インクリメントされ、基準画像1の各画素が走査順
に基準画素5に設定される。
【0015】対応画素位置算出部14は、基準画素位置
算出部13により算出された基準画素5のPR(x1,
y)に基づいて、基準画素5が探索する対応ライン4の
対応画素6のPL(x2,y)を算出し、対応ウィンド
ウ読出部16に出力する。対応画素位置算出部14は、
PR(x1,y)が入力された場合、PR(x1,y)
と同行の先頭の画素PL(0,y)を対応画素6に設定
し、以降、後述するMDL算出部17から出力された次
画素シフト信号NLが入力される毎に、対応画素6のP
L(x2,y)のx座標を1インクリメントして行き、
対応ライン4の各画素を対応画素6に設定する。
【0016】基準ウィンドウ読出部15は、基準画素位
置算出部13から出力された基準画素5のPR(x1,
y)が入力された場合、ウィンドウサイズテーブル10
に登録された3画素×3画素、9画素×9画素、17画
素×17画素および33画素×33画素の4つのウィン
ドウサイズの基準ウィンドウを基準画像メモリ11から
読み出し、MDL算出部17に出力する。基準ウィンド
ウ読出部15は、基準画素5のPR(x1,y)が入力
された場合、ウィンドウサイズテーブル10のインデッ
クス値を0にリセットし、インデックス値0の3画素×
3画素のウィンドウサイズをウィンドウサイズテーブル
10から読み出し、読み出されたウィンドウサイズの基
準ウィンドウを基準画像メモリ11から読み出す。そし
て、後述するMDL算出部17から出力されたウィンド
ウ切換信号WSが入力される毎にインデックス値を1イ
ンクリメントしてウィンドウサイズを切り換え、4つの
ウィンドウサイズの基準ウィンドウを基準画像メモリ1
1から読み出す。
【0017】対応ウィンドウ読出部16は、対応画素位
置算出部14から出力された対応画素6のPL(x2,
y)が入力された場合、ウィンドウサイズテーブル10
に登録された3画素×3画素、9画素×9画素、17画
素×17画素および33画素×33画素の4つのウィン
ドウサイズの対応ウィンドウを対応画像メモリ12から
読み出し、MDL算出部17に出力する。対応ウィンド
ウ読出部16は、対応画素6のPL(x2,y)が入力
された場合、ウィンドウサイズテーブル10のインデッ
クス値を0にリセットし、インデックス値0の3画素×
3画素のウィンドウサイズをウィンドウサイズテーブル
10から読み出し、読み出されたウィンドウサイズの対
応ウィンドウを対応画像メモリ12から読み出す。そし
て、後述するMDL算出部17から出力されたウィンド
ウ切換信号WSが入力される毎にインデックス値を1イ
ンクリメントしてウィンドウサイズを切り換え、4つの
ウィンドウサイズの対応ウィンドウを対応画像メモリ1
2から読み出す。基準ウィンドウ読出部15および対応
ウィンドウ読出部16には、同時にウィンドウ切換信号
WSが入力される。基準ウィンドウ読出部15および対
応ウィンドウ読出部16は、入力されたウィンドウ切換
信号WSに基づいてウィンドウサイズテーブル10に登
録された同サイズのウィンドウを選択する。
【0018】MDL算出部17は、基準ウィンドウ読出
部15から出力された基準ウィンドウと対応ウィンドウ
読出部16から出力された対応ウィンドウとの間のMD
L基準値を算出し、算出されたMDL基準値を画素MD
Lレジスタ18に保持する。図3(b)に示すように、
画素MDLレジスタ18には、同位置の対応画素6の4
つのウィンドウサイズのMDL基準値が保持される。3
画素×3画素のMDL基準値MDL(3×3)、9画素
×9画素のMDL基準値MDL(9×9)、17画素×
17画素のMDL基準値MDL(17×17)および3
3画素×33画素のMDL基準値MDL(33×33)
がアドレス0〜3に保持される。MDL算出部17は、
4つのウィンドウサイズのMDL基準値が画素MDLレ
ジスタ18に保持されていない場合、ウィンドウ切換信
号WSを基準ウィンドウ読出部15および対応ウィンド
ウ読出部16に出力する。MDL算出部17は、4つの
ウィンドウサイズのMDL基準値を画素MDLレジスタ
18に保持した場合、これら4つのMDL基準値の中か
ら最小のMDL基準値を特定し、特定された最小のMD
L基準値をラインMDLレジスタ19に保持し、対応画
素位置算出部14に次画素シフト信号NLを出力する。
以下、PR(x1,y)およびPL(x2,y)間の最
小のMDL基準値を minMDL(x1,x2)で表すも
のとする。図3(c)に示すように、ラインMDLレジ
スタ19には、対応ライン4内のM個の対応画素6の m
inMDL(x1,x2)がそれぞれアドレス0〜(M−
1)に保持される。
【0019】MDL算出部17は、対応ライン4内の全
ての対応画素6の minMDL(x1,x2)をラインM
DLレジスタ19に保持した場合、保持された minMD
L(x1,x2)の中から最小の minMDL(x1,x
2)を特定し、特定された最小の minMDL(x1,x
2)に該当する対応画素6のPL(x,y)を基準画素
5のPR(x,y)とともに相対位置算出部20に出力
する。この出力された対応画素6のPL(x,y)が基
準画素5のPR(x,y)の対応点である。相対位置算
出部20は、MDL算出部17から出力された基準画素
5と対応画素6との相対位置 D(x1,x2)=PR(x1)−PL(x2) を算出し、次画素シフト信号NRを基準画素位置算出部
13に出力する。
【0020】〈動作〉図4は図2に示された画像処理装
置の動作を示すフローチャートである。まず、基準画素
位置算出部13により基準画素5のPR(x1,y)が
算出され、対応画素位置算出部14および基準ウィンド
ウ読出部15に出力される。基準画素位置算出部13で
は、初期値PR(0,0)が入力された場合には、その
ままPR(0,0)が出力され、MDL算出部17から
出力された次画素シフト信号NRが入力された場合に
は、PR(x1,y)のx1が1インクリメントされて
出力される(ステップS1)。次いで、対応画素位置算
出部14により、入力されたPR(x1,y)の基準画
素5が探索する対応ライン4内の対応画素6のPL(x
2,y)が算出され、対応ウィンドウ読出部16に出力
される。対応画素位置算出部14では、PR(x1,
y)が入力された場合には、PR(x1,y)と同行の
先頭の画素PL(0,y)が出力され、MDL算出部1
7から出力された次画素シフト信号NLが入力された場
合には、PR(x2,y)のx2が1インクリメントさ
れて出力される(ステップS2)。
【0021】次いで、基準ウィンドウ読出部15により
ウィンドウサイズが選択されて基準画像メモリ11から
基準ウィンドウが読み出され、MDL算出部17に出力
される。基準ウィンドウ読出部15では、基準画素位置
算出部13により出力されたPR(x1,y)が入力さ
れた場合には、インデックス値が0にリセットされ、ウ
ィンドウ切換信号WSが入力された場合には、インデッ
クス値が1インクリメントされて、該当するインデック
ス値のウィンドウサイズがウィンドウサイズテーブル1
0から読み出され、読み出されたウィンドウサイズの基
準ウィンドウが基準画像メモリ11から読み出される
(ステップS3)。
【0022】次いで、対応ウィンドウ読出部16により
ウィンドウサイズが選択されて対応画像メモリ12から
対応ウィンドウが読み出され、MDL算出部17に出力
される。対応ウィンドウ読出部16では、対応画素位置
算出部14により出力されたPL(x2,y)が入力さ
れた場合には、インデックス値が0にリセットされ、ウ
ィンドウ切換信号WSが入力された場合には、インデッ
クス値が1インクリメントされ、該当するインデックス
値のウィンドウサイズがウィンドウサイズテーブル10
から読み出され、読み出されたウィンドウサイズの対応
ウィンドウが対応画像メモリ12から読み出される(ス
テップS4)。
【0023】次いで、MDL算出部17によって、基準
ウィンドウ読出部15により出力された基準ウィンドウ
と対応ウィンドウ読出部16により出力された対応ウィ
ンドウとの間のMDL基準値が算出され(ステップS
5)、画素MDLレジスタ18に保持される(ステップ
S6)。次いで、MDL算出部17により4つのウィン
ドウサイズのMDL基準値が画素MDLレジスタ18に
保持されたか否かが判断される(ステップS7)。ステ
ップS7で、4つのウィンドウサイズのMDL基準値が
画素MDLレジスタ18に保持されていない場合には、
MDL算出部17によりウィンドウ切換信号WSが基準
ウィンドウ読出部15および対応ウィンドウ読出部16
に出力され(ステップS8)、ステップS3に戻る。
【0024】一方、ステップS7で、4つのウィンドウ
サイズのMDL基準値が画素MDLレジスタ18に保持
された場合には、MDL算出部17により各ウィンドウ
サイズのMDL基準値の中から最小のMDL基準値 min
MDL(x1,x2)が特定され(ステップS9)、特
定された minMDL(x1,x2)がラインMDLレジ
スタ19に保持される(ステップS10)。次いで、対
応ライン4内の全対応画素6の minMDL(x1,x
2)がラインMDLレジスタ19に保持されたか否かが
判断される(ステップS11)。ステップS11で、対
応ライン4内の全対応画素6の minMDL(x1,x
2)がラインMDLレジスタ19に保持されていない場
合には、MDL算出部17により次画素シフト信号NL
が対応画素位置算出部14に出力され(ステップS1
2)、ステップS2に戻る。
【0025】一方、ステップS11で、対応ライン4内
の全対応画素6の minMDL(x1,x2)がラインM
DLレジスタ19に保持された場合には、MDL算出部
17により対応ライン4の全対応画素6の minMDL
(x1,x2)の中から最小のminMDL(x1,x
2)が特定され、特定された最小の minMDL(x1,
x2)に該当する対応画素6のPL(x2,y)および
基準画素5のPR(x1,y)が相対位置算出部20に
出力される(ステップS13)。次いで、相対位置算出
部20により基準画素5および対応画素6の相対位置D
(x1,x2)が算出される(ステップS14)。次い
で、基準画像1の次の基準画素5の有無が判断される
(ステップS15)。ステップS15で、次の基準画素
5が有る場合には、相対位置算出部20により次画素シ
フト信号NRが基準画素位置算出部13に出力され(ス
テップS16)、ステップS1に戻る。一方、ステップ
S15で、基準画像1の次の基準画素5が無い場合に
は、処理を終了する。
【0026】〈効果〉以上のように、具体例1によれ
ば、MDL算出部17により基準画素5の基準ウィンド
ウと対応ライン4内の対応画素6の対応ウィンドウとの
間のMDL基準値を算出し、算出されたMDL基準値を
比較して基準画素5に類似する対応画素6を探索する。
したがって、最適なモデルにより対応点を探索すること
ができるので、高精度の対応点を得ることができる。ま
た、予めウィンドウサイズテーブル10に登録された複
数のウィンドウサイズに基づいて基準ウィンドウ読出部
15および対応ウィンドウ読出部16により複数のサイ
ズの基準ウィンドウおよび対応ウィンドウを読み出し
て、MDL算出部17により各ウィンドウサイズのMD
L基準値を算出し、算出されたMDL基準値の中から最
小のMDL基準値 minMDL(x,y)を選択する。こ
のため、画像の性質に応じて最適なウィンドウサイズを
選択して対応点を探索することができるので、偽対応を
減らしつつ、高精度の対応点を得ることができる。した
がって、再現性の良好な3次元情報を得ることができ
る。
【0027】《具体例2》 〈構成〉図5は本発明に係る具体例2の画像処理装置の
構成を示すブロック図である。図5に示すように、具体
例2の画像処理装置は、図2に示された具体例1の画像
処理装置のMDL算出部17、ラインMDLレジスタ1
9および相対位置算出部20を、MDL算出部21、累
計MDL算出部22、ラインMDLレジスタ23および
累計MDL基準値レジスタ24に置き換えたものであ
る。なお、具体例1の画像処理装置と同様の構成には同
一符号を付し、その説明を省略する。
【0028】MDL算出部21は、基準ウィンドウ読出
部15から出力された基準ウィンドウと対応ウィンドウ
読出部16から出力された対応ウィンドウとの間のMD
L基準値を算出し、算出されたMDL基準値を画素MD
Lレジスタ18に保持する。画素MDLレジスタ18に
は、同位置の対応画素6の4つのウィンドウサイズのM
DL基準値が保持される。MDL算出部21は、4つの
ウィンドウサイズのMDL基準値を画素MDLレジスタ
18に保持されていない場合、ウィンドウ切換信号WS
を基準ウィンドウ読出部15および対応ウィンドウ読出
部16に出力する。MDL算出部21は、4つのウィン
ドウサイズのMDL基準値を画素MDLレジスタ18に
保持した場合、保持された4つのMDL基準値の中から
最小のMDL基準値 minMDL(x1,x2)を特定
し、特定された minMDL(x1,x2)を基準画素5
のPR(x1,y)および対応画素6のPL(x2,
y)とともに累計MDL算出部22に出力する。
【0029】累計MDL算出部22は、MDL算出部2
1から出力された minMDL(x1,x2)の基準画素
5と対応画素6との相対位置 D(x1,x2)=PR(x1,y)−PL(x2,
y) を算出し、 minMDL(x1,x2)とともにラインM
DLレジスタ23に保持する。図6(a)に示すよう
に、ラインMDLレジスタ23には、基準画素5の1ラ
イン分の各対応画素6の minMDL(x1,x2)およ
びその相対位置D(x1,x2)が保持される。累計M
DL算出部22は、ラインMDLレジスタ23に基準画
素5の1ライン分の全ての対応画素の minMDL(x
1,x2)が保持されていない場合、次画素シフト信号
NLを対応画素位置算出部14に出力する。
【0030】累計MDL算出部22は、基準ライン3内
の基準画素5と対応ライン4内の対応画素6により可能
な対応点の組合せに対し、それぞれ1ライン分の minM
DL(x1,x2)の総和SMDLを算出し、算出され
た1ライン分のSMDLおよびその1ライン分の相対位
置を累計MDL基準値レジスタ24に保持する。対応点
の組合せについて具体的に説明する。説明を容易にする
ため、基準ライン3および対応ライン4はそれぞれ3画
素の画素列からなるものとする。また、PR(x1,
y)およびPL(x2,y)間のMDL基準値をMDL
(x1,x2)で表すものとする。
【0031】対応点の組合せには、2つの拘束条件があ
る。まず、第1の拘束条件について説明する。基準画像
1は被写体を右側から撮影した画像であり、対応画像2
は被写体を左側から撮影した画像である。このため、P
R(x1)の基準画素5の対応点は、対応画像2内の同
位置から右側になければならず、 PR(x1)≦PL(x2) の関係が必要となる。次に、第2の拘束条件について説
明する。PR(x1)の対応点がPL(x2)のとき、
PR(x1+1)の対応点は、PL(x2)から右側に
なければならない。すなわち、PR(x1)の対応点が
PL(x2)のとき、PR(x1+1)の対応点は、P
L(x2)以上でなければならない。
【0032】したがって、第1の拘束条件により、基準
ライン3および対応ライン4により可能な対応点のMD
L基準値は、MDL(0,0)、MDL(0,1)、MDL(0,2)、MDL(1,
1)、MDL(1,2)、MDL(2,2)となり、第2の拘束条件によ
り、これらのMDL基準値の1ライン分の可能な組合せ
のSMDLは、 MDL(0,0)+MDL(1,1)+MDL(2,2)、 MDL(0,0)+MDL(1,2)+MDL(2,2)、 MDL(0,1)+MDL(1,1)+MDL(2,2)、 MDL(0,1)+MDL(1,2)+MDL(2,2)、 MDL(0,2)+MDL(1,2)+MDL(2,2)、 の組合せに限定される。
【0033】累計MDL算出部22は、基準ライン3内
の1列目の基準画素5の対応ライン4内の全ての対応画
素6の minMDL(0,x2)をその相対位置D(0,
x2)とともにラインMDLレジスタ23に保持した場
合、保持された minMDL(0,x2)およびD(x
1,x2)を読み出し、累計MDL基準値レジスタ24
に保持し、基準画素位置算出部13に次画素シフト信号
NRを出力する。累計MDL算出部22は、2列目の基
準画素5の対応ライン4内の全ての対応画素6の minM
DL(1,x2)をそのD(1,x2)とともにライン
MDLレジスタ23に保持した場合、ラインMDLレジ
スタ23に保持された2列目の minMDL(1,x2)
およびD(1,x2)を読み出し、累計MDL基準値レ
ジスタ24に記憶された1列目の minMDL(0,x
2)およびD(0,x2)を読み出し、前記2つの拘束
条件の対応点の可能な組合せに従って、1列目の minM
DL(0,x2)に2列目の minMDL(1,x2)を
加算して累計MDL基準値を算出するとともに、1列目
のD(0,x2)に2列目のD(0,x2)を結合して
相対位置群を構成し、累計MDL基準値レジスタ24に
保持する。そして、次画素シフト信号NRを基準画素位
置算出部13に出力する。
【0034】累計MDL算出部22は、以降同様に、前
記2つの拘束条件の対応点の可能な組合せに従って、直
前の基準画素5までの累計MDL基準値に今回の基準画
素5の minMDL(x1,x2)を加算するとともに、
直前の基準画素5の相対位置群に今回の基準画素5のD
(x1,x2)を結合していく。図6(b)に示すよう
に、累計MDLレジスタ24には、前記組合せに従う基
準ライン3内の全ての基準画素5の累計MDL基準値
(SMDL)およびその相対位置群が保持される。累計
MDL算出部22は、SMDLおよびその相対位置群を
累計MDL基準値レジスタ24に保持した場合、保持さ
れたSMDLの中から最小のSMDLを特定し、特定さ
れたSMDLに該当する相対位置群を出力する。
【0035】〈動作〉図7および図8は具体例2の画像
処理装置の動作を示すフローチャートである。なお、ス
テップS21〜ステップS28は、図4に示されたステ
ップS1〜ステップS8と同様の動作であり、その説明
を省略する。
【0036】ステップS29において、MDL算出部2
1により画素MDLレジスタ18に保持された4つのウ
ィンドウサイズのMDL基準値の中から最小のMDL基
準値minMDL(x1,x2)が特定され、特定された
minMDL(x1,x2)とともに、基準画素5のPR
(x1,y)および対応画素6のPL(x2,y)が累
計MDL算出部22に出力される。次いで、累計MDL
算出部22により基準画素5および対応画素6の相対位
置D(x1,x2)が算出され(ステップS30)、M
DL基準値とともにラインMDLレジスタ23に保持さ
れる(ステップS31)。次いで、対応ライン4内の全
対応画素6の minMDL(x1,x2)がラインMDL
レジスタ23に保持されたか否かが判断される(ステッ
プS32)。ステップS32で、対応ライン4内の全対
応画素6の minMDL(x1,x2)がラインMDLレ
ジスタ19に保持されていない場合には、累計MDL算
出部22により次画素シフト信号NLが対応画素位置算
出部14に出力され(ステップS33)、ステップS2
2に戻る。
【0037】一方、ステップS32で、対応ライン4内
の全対応画素6の minMDL(x1,x2)がラインM
DLレジスタ23に保持された場合には、累計MDL算
出部22によって、前記2つの拘束条件の対応点の可能
な組合せに従って、直前の基準画素5までの累計MDL
基準値に今回の基準画素5の minMDL(x1,x2)
が加算されるとともに、直前の基準画素5の相対位置群
に今回の基準画素5のD(x1,x2)が結合され(ス
テップS34)、累計MDL基準値レジスタ24に保持
される(ステップS35)。次いで、基準ライン3内の
全ての基準画素5の累計MDL基準値、すなわちSMD
Lが算出されたか否かが判断される(ステップS3
6)。ステップS36で、SMDLが算出されていない
場合には、累計MDL算出部22により次画素シフト信
号NRが基準画素位置算出部13に出力され(ステップ
S37)、ステップS21に戻る。
【0038】一方、ステップS36で、SMDLが算出
された場合には、累計MDL算出部22により累計MD
L基準値レジスタ24に保持されたSMDLの中から最
小のSMDLが特定され(ステップS38)、特定され
た最小のSMDLに該当する相対位置群が出力される
(ステップS39)。次いで、基準画像1の次の基準画
素5の有無が判断される(ステップS40)。ステップ
S40で、次の基準画素5が有る場合には、ステップS
37に進み、ステップS21に戻る。一方、ステップS
15で、基準画像1の次の基準画素5が無い場合には、
処理を終了する。
【0039】〈効果〉以上のように、具体例2によれ
ば、動的計画法を適用し、累計MDL算出部22によっ
て、基準画像1および対応画像2の位置関係に基づく前
記2つの拘束条件に従う、基準ライン3内の基準画素5
と対応ライン4内の対応画素6により可能な対応点の組
合せに対し、それぞれ1ライン分の累計MDL基準値S
MDLを算出し、算出されたSMDLの中から最小のS
MDLを特定し、基準ライン3の対応点を探索する。こ
のため、基準ライン3内の各基準画素5の対応点の位置
関係が逆転するのを防止することができるので、一層、
偽対応を防止しつつ、高精度の探索点を得ることができ
る。
【0040】なお、上記各具体例では、基準画素5の探
索範囲を対応ライン4としているが、探索範囲はライン
内の一部の画素列でもよい。探索範囲は、基準画像1お
よび対応画像2の視差を考慮して設定すればよい。ま
た、具体例2では、基準ライン3を単位として累計MD
L基準値を算出するように構成しているが、基準ライン
3内の一部の画素列を単位にSMDLを算出するように
構成してもよい。また、上記各具体例では、被写体を水
平方向の異なる位置から撮影した基準画像1および対応
画像2のステレオ画像対を構成しているが、ステレオ画
像対は、水平方向に限るものではなく、例えば垂直方向
でもよい。この場合、探索範囲も垂直方向にすればよ
く、具体例2の拘束条件もステレオ画像対の位置関係に
応じて設定すればよい。さらに、上記各具体例の画像処
理装置の動作を実行するプログラムを作成し、フレキシ
ブルディスク、ハードディスク、RAM、ROM等の記
録媒体に記録することで、コンピュータにより上記画像
処理方法を実現することができる。この場合、画像処理
装置を安価に提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る具体例1の画像処理方法の概略説
明図である。
【図2】本発明に係る具体例1の画像処理装置の構成を
示すブロック図である。
【図3】図2に示されたウィンドウサイズテーブル、画
素MDLレジスタおよびラインMDLレジスタの記憶領
域を説明する説明図である。
【図4】具体例1の画像処理装置の動作を示すフローチ
ャートである。
【図5】本発明に係る具体例2の画像処理装置の構成を
示すブロック図である。
【図6】図5に示されたラインMDLレジスタおよび累
計MDLレジスタの記憶領域を説明する説明図である。
【図7】具体例2の画像処理装置の動作を示すフローチ
ャート(その1)である。
【図8】具体例2の画像処理装置の動作を示すフローチ
ャート(その2)である。
【符号の説明】
1 基準画像 2 対応画像 3 基準ライン 4 対応ライン 5 基準画素 6 対応画素 7a 第1基準ウィンドウ 7b 第2基準ウィンドウ 8a 第1対応ウィンドウ 8b 第2対応ウィンドウ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一対のステレオ画像のうち、一方の画像
    を基準画像と呼び、もう一方の画像を対応画像と呼ぶと
    き、 基準画像内の画素の近傍に所定の領域を設定する基準領
    域設定工程と、 対応領域内の複数の画素の近傍にそれぞれ前記基準領域
    設定工程により設定された領域と同サイズの領域を設定
    する対応領域設定工程と、 前記基準領域設定工程により設定された領域を基準領域
    と呼び、前記対応領域設定工程により設定された領域を
    対応領域と呼ぶとき、 前記基準領域設定工程により設定された基準領域と前記
    対応領域設定工程により設定された複数の対応領域とを
    それぞれ比較し、基準画像内の画素に類似する対応画像
    内の類似画素を探索する類似画素探索工程とを含む画像
    処理方法であって、 前記類似画素探索工程は、前記基準領域と前記複数の対
    応領域との間のそれぞれのMDL(Minimum Descriptio
    n Length)基準値を算出するMDL基準値算出工程を有
    し、前記MDL算出工程により算出されたそれぞれのM
    DL基準値を比較して基準画像内の画素に類似する対応
    画像内の類似画素を探索することを特徴とする画像処理
    方法。
  2. 【請求項2】 一対のステレオ画像のうち、一方の画像
    を基準画像と呼び、もう一方の画像を対応画像と呼ぶと
    き、 基準画像内の画素の近傍に所定の領域を設定する基準領
    域設定部と、 対応画像内の複数の画素の近傍にそれぞれ前記基準領域
    設定部により設定された領域と同サイズの領域を設定す
    る対応領域設定部と、 前記基準領域設定部により設定された領域を基準領域と
    呼び、前記対応領域設定部により設定された領域を対応
    領域と呼ぶとき、 前記基準領域設定部により設定された基準領域と前記対
    応領域設定部により設定された複数の対応領域とをそれ
    ぞれ比較し、基準画像内の画素に類似する対応画像内の
    類似画素を探索する類似画素探索部とを備えた画像処理
    装置において、 前記類似画素探索部は、前記基準領域と前記複数の対応
    領域との間のそれぞれのMDL(Minimum Description
    Length)基準値を算出するMDL基準値算出部を有し、
    前記MDL基準値算出部により算出されたそれぞれのM
    DL基準値を比較して基準画像内の画素に類似する対応
    画像内の類似画素を探索することを特徴とする画像処理
    装置。
  3. 【請求項3】 請求項2において、 前記基準領域設定部は、基準画像内の画素の近傍に複数
    のサイズの基準領域をそれぞれ設定し、 前記対応領域設定部は、前記複数の画素の近傍にそれぞ
    れ前記基準領域設定部により設定された複数のサイズの
    基準領域と同サイズの複数の対応領域をそれぞれ設定
    し、 前記MDL基準値算出部は、前記基準領域設定部により
    設定された複数のサイズの基準領域と前記対応領域設定
    部により設定された同サイズの対応領域との間のMDL
    基準値をそれぞれ算出し、 前記類似画素探索部は、前記MDL基準値算出部により
    算出されたMDL基準値を比較して前記複数のサイズの
    基準領域および対応領域の対の中から最適なサイズの領
    域を選択し、基準画像内の画素に類似する対応画像内の
    類似画素を探索することを特徴とする画像処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項2において、 前記基準画像内に所定の画素列を設定する基準画素列設
    定部と、 前記基準画像および前記対応画像の視差および前記基準
    画素列設定部により設定された画素列内の各画素の位置
    関係に基づいて、前記画素列内の各画素がそれぞれ探索
    可能な対応領域内の複数の画素の画素列の組合せを設定
    する組合せ設定部とを有し、 前記類似画素探索部は、前記組合せ設定部により設定さ
    れた画素列の組合せに従って、それぞれ前記MDL基準
    値により算出されたMDL基準値を累計するMDL基準
    値累計部を有し、前記MDL基準値累計部により累計さ
    れた前記組合せのMDL基準値を比較して前記基準画素
    列設定部により設定された画素列の類似画素を探索する
    ことを特徴とする画像処理装置。
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