JPH10319081A - Inspecting part for connector inspecting device - Google Patents

Inspecting part for connector inspecting device

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JPH10319081A
JPH10319081A JP9129924A JP12992497A JPH10319081A JP H10319081 A JPH10319081 A JP H10319081A JP 9129924 A JP9129924 A JP 9129924A JP 12992497 A JP12992497 A JP 12992497A JP H10319081 A JPH10319081 A JP H10319081A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connector
inspection
lance
probe pin
terminal
Prior art date
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Pending
Application number
JP9129924A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takao Fujita
孝夫 藤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP9129924A priority Critical patent/JPH10319081A/en
Publication of JPH10319081A publication Critical patent/JPH10319081A/en
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent inspection error from occurring, by avoiding problems caused by bending of a lance inspecting member. SOLUTION: In a connector 1 to be inspected, opening width W1 of a connecting window 5 in a terminal fitting 3 is set narrower than opening width W2 of an opening part 6 which is connected with the connecting window 5. A probe pin 22 which inspects the terminal fitting 3 by contacting with the terminal fitting 3 through the connecting window 5 is placed. Moreover, an inspecting member 23 which is fixed to the probe pin 22 integrally and can be contacted through the opening part 6 with a lance 7 which fails to be fixed. The inspecting member 23 has outside width W3 necessary and sufficient to be inserted into the opening part 6. Therefore, the lance inspecting member 23 is not bent easily, even if it is bent, it is not contacted with the terminal fitting 3 through the terminal connecting window 5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はコネクタ検査装置
の検査部に関する。
The present invention relates to an inspection section of a connector inspection apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にワイヤハーネスやワイヤハーネス
を構成するサブアセンブリ(以下、「ワイヤアセンブ
リ」と総称する)等の電気配線システムに使用されるコ
ネクタは、樹脂製のハウジング内に複数のキャビティー
を形成しており、このキャビティー内に、電線と接続さ
れた端子金具を挿入している。端子金具とキャビティと
は、いわゆるランス方式により止定されている。このラ
ンス方式では、何れか一方(主としてコネクタ)に形成
された舌片状のランスを他方に形成された係止孔に係止
させることにより、端子金具のキャビティーからの抜け
止めを図っている。
2. Description of the Related Art In general, a connector used for an electric wiring system such as a wire harness and a subassembly (hereinafter, collectively referred to as a "wire assembly") constituting the wire harness has a plurality of cavities in a resin housing. A terminal fitting connected to the electric wire is inserted into the cavity. The terminal fitting and the cavity are fixed by a so-called lance method. In this lance system, the tongue-shaped lance formed on one (mainly a connector) is locked in a locking hole formed on the other, thereby preventing the terminal fitting from coming out of the cavity. .

【0003】上述したワイヤアセンブリの製造工程にお
いては、上記コネクタの電気的な配線状態や接続状態等
の導通検査や、端子金具とハウジングとの止定状態の検
査が厳格に行なわれている。そのような導通検査や止定
状態の検査を同時に行なうことのできるコネクタ検査装
置の検査部がこれまで種々提案されている。コネクタ検
査装置の検査部は、通常、コネクタを保持するコネクタ
ホルダと、保持されたコネクタに対して相対的に接近/
離反可能な検査部とを備えており、検査部は、本体部材
となるブロック体と、ブロック体に設けられ、コネクタ
のキャビティ内に入り込んで、端子金具と電気的に接続
可能なプローブピンとを備えている。そして、端子金具
とハウジングとの止定状態を検査するために、このプロ
ーブピンやブロック体に種々の改良が提案されている。
In the manufacturing process of the above-mentioned wire assembly, continuity inspection of the electrical wiring state and connection state of the connector, and inspection of the stationary state of the terminal fitting and the housing are strictly performed. Various inspection units of a connector inspection device capable of simultaneously performing such a continuity inspection and a stationary state inspection have been proposed. The inspection unit of the connector inspection device usually has a connector holder for holding the connector and a relatively close / closed connector.
The inspection unit includes a block body serving as a main body member, and a probe pin that is provided in the block body, enters a cavity of the connector, and can be electrically connected to the terminal fitting. ing. In order to inspect the stationary state between the terminal fitting and the housing, various improvements have been proposed for the probe pin and the block body.

【0004】例えば、特開平7−113836号公報に
開示されている先行技術では、上記ブロック体とプロー
ブピンとをばねで連結して端子金具に対して弾性的に接
近/離反可能に構成するとともに、プローブピンの先端
にキャビティーから不完全に係止しているランスに当接
可能なランス検査用部材を設けている。この先行技術で
は、正規のコネクタの場合には、プローブピンと端子金
具とが当接することにより、電気的に検査部の回路が閉
じられ、導通検査を行なうことができる一方、ランスの
係止が不完全な場合、ランスにランス検査用部材が当接
することによりばねが圧縮される結果、端子金具にプロ
ーブピンが届かなくなり、導通検査が不能になることで
ランスの止定状態の不良を検知できるようになってい
る。
For example, in the prior art disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H7-113836, the block body and the probe pin are connected by a spring so as to be elastically approachable / separable from the terminal fitting. A lance inspection member is provided at the tip of the probe pin, the lance inspection member being capable of abutting against a lance incompletely locked from the cavity. According to this prior art, in the case of a regular connector, the probe pin and the terminal fitting come into contact with each other, thereby electrically closing the circuit of the inspection unit and performing a continuity inspection. In the complete case, the spring is compressed by the contact of the lance inspection member with the lance, so that the probe pin does not reach the terminal fitting, and the continuity inspection is disabled, so that a defect in the fixed state of the lance can be detected. It has become.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述したランス検査用
部材を検知可能にコネクタに挿入するためには、ランス
の肉厚に対応させて薄肉に形成する必要がある。そのた
め、従来のプローブピンにランス検査用部材を一体成形
した場合、湾曲しやすくなるという不具合があった。ま
た、ランス検査用部材が湾曲した場合、ランスの不完全
挿入を検出できなくなるばかりでなく、先端部が端子金
具に接触しやすくなり、誤検査の原因となる。
In order to detectably insert the above-mentioned lance inspection member into the connector, it is necessary to make the lance thinner in accordance with the thickness of the lance. Therefore, when the lance inspection member is integrally formed with the conventional probe pin, there is a problem that the lance inspection member is easily curved. In addition, when the lance inspection member is curved, not only the incomplete insertion of the lance cannot be detected, but also the tip portion easily comes into contact with the terminal fitting, which causes an erroneous inspection.

【0006】本発明は上記不具合に鑑みてなされたもの
であり、ランス検査用部材の屈曲による不具合を回避
し、もって、誤検査を未然に防止することのできるコネ
クタ検査装置の検査部を提供することを課題としてい
る。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and provides an inspection section of a connector inspection apparatus capable of avoiding problems due to bending of a lance inspection member and thereby preventing erroneous inspections. That is the task.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、複数の端子金具がランス方式によりキャビ
ティ内に止定されているコネクタを検査するコネクタ検
査装置に設けられ、上記コネクタと相対的に変位可能な
ブロック体と、ブロック体に対しそれと弾性的に相対変
位可能に連結されているとともに、上記コネクタ検査装
置に保持されているコネクタに形成された端子接触窓を
通して端子金具の導通を検査するプローブピンと、上記
端子接触窓と連続する開口部を通して当該プローブピン
に対応する端子金具を止定しているランスの不完全係止
を検査可能なランス検査用部材とを備え、上記コネクタ
の端子接触窓の開口幅が上記開口部よりも狭く設定され
ているコネクタを検査対象とするコネクタ検査装置の検
査部において、上記ランス検査用部材を、開口部を挿抜
させるのに必要十分な外寸に設定していることを特徴と
するコネクタ検査装置の検査部である。
According to the present invention, there is provided a connector inspection apparatus for inspecting a connector in which a plurality of terminal fittings are fixed in a cavity by a lance method. A block body that is relatively displaceable, and connected to the block body so as to be elastically displaceable relative to the block body, and that conduction of terminal fittings is performed through a terminal contact window formed in a connector held by the connector inspection device. And a lance inspection member capable of inspecting incomplete locking of a lance fixing a terminal fitting corresponding to the probe pin through an opening continuous with the terminal contact window, wherein the connector In the inspection section of the connector inspection apparatus for inspecting a connector in which the opening width of the terminal contact window is set narrower than the opening, The lance testing member, an inspection portion of a connector testing device, characterized in that set to necessary and sufficient external dimensions to cause insertion openings.

【0008】この特定事項を含む発明では、コネクタの
端子接触窓の開口幅が上記開口部よりも狭く設定されて
いるコネクタを検査するに当たり、ランス検査用部材
を、開口部を挿抜させるのに必要十分な外寸に設定して
いるので、ランス検査用部材の幅寸法が端子接触窓より
も相対的に大きくなる。このため、ランス検査用部材が
曲がりにくくなるばかりでなく、万一湾曲した場合にお
いても、端子接触窓内には挿入されなくなる。
In the invention including the specific matter, when inspecting the connector in which the opening width of the terminal contact window of the connector is set smaller than the opening, the lance inspection member is required to insert and remove the opening. Since the outer dimensions are set to be sufficient, the width of the lance inspection member is relatively larger than that of the terminal contact window. For this reason, not only does the lance inspection member hardly bend, but also in the event that it is bent, it will not be inserted into the terminal contact window.

【0009】また、好ましい態様において上記ランス検
査用部材は、プローブピンと一体形成されている金属部
品である。この特定事項を含む発明では、ランス検査用
部材の機械的強度が向上する。また、上記ランス検査用
部材は、プローブピンの先端面からランスの嵌合不良を
検出するのに必要十分な長さだけコネクタ側に突出して
いるとともに、上記プローブピンは、嵌合不良を来して
いる端子金具を弾性的に押し出し可能な2プローブ式に
形成されていることが好ましい。
In a preferred embodiment, the lance inspection member is a metal part integrally formed with the probe pin. In the invention including this specific matter, the mechanical strength of the lance inspection member is improved. In addition, the lance inspection member protrudes from the distal end surface of the probe pin to the connector side by a length necessary and sufficient to detect a lance fitting failure, and the probe pin causes a fitting failure. It is preferable that the terminal fitting is formed in a two-probe type capable of elastically pushing out the terminal fitting.

【0010】この特定事項を含む発明では、ランス検査
用部材の突出長さを可及的に短く設定することができる
ので、仮にランス自身の姿勢が正規の姿勢になった状態
で端子金具の係止不良が生じている場合には、2プロー
ブ形式のプローブピンによる押し出し荷重で係止不良を
来している端子金具を押し出すことが可能になる。
[0010] In the invention including this specific matter, since the projection length of the lance inspection member can be set as short as possible, the engagement of the terminal fitting may be performed in a state where the lance itself is in a normal posture. In the case where a stop failure occurs, it is possible to push out the terminal fitting which has failed in engagement by the pushing load by the probe pin of the two-probe type.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の好ましい実施の形態について詳述する。図1は
本発明の実施の一形態における検査部の要部構成を示す
斜視図であり、図2は図1の部分拡大略図である。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG.
A preferred embodiment of the present invention will be described in detail. FIG. 1 is a perspective view showing a main configuration of an inspection unit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a partially enlarged schematic view of FIG.

【0012】これらの図に示す実施の形態において検査
対象となるコネクタ1は、樹脂製のハウジング2内に端
子金具3を収容するキャビティー4を区画している。キ
ャビティー4は、ハウジング2の一端面に開口してお
り、その他端面は、端子接触窓5と、この端子接触窓5
に連続する開口部6とを区画している。そして、上記一
端面の開口から被覆電線Eと接続された端子金具3を挿
入することより、端子金具3をキャビティー4内に収容
するとともに、キャビティー4内に形成されたランス7
の係止爪7Aを挿入された端子金具3の底部に係止させ
ることにより、抜け止めを図っているものである。そし
て、図1および図2に示すように、ハウジング2に形成
された端子接触窓5の開口幅W1は、キャビティー4内
のランス7を外部に臨ませている上記開口部6の開口幅
W2よりも狭くなっている。
In the embodiment shown in these figures, a connector 1 to be inspected has a cavity 4 for accommodating a terminal fitting 3 in a resin housing 2. The cavity 4 is open at one end face of the housing 2, and the other end face is provided with a terminal contact window 5 and the terminal contact window 5.
And an opening 6 which is continuous with the opening. Then, by inserting the terminal fitting 3 connected to the insulated wire E from the opening on the one end surface, the terminal fitting 3 is accommodated in the cavity 4 and the lance 7 formed in the cavity 4 is inserted.
The locking claw 7A is locked to the bottom of the inserted terminal fitting 3 to prevent it from falling off. As shown in FIGS. 1 and 2, the opening width W1 of the terminal contact window 5 formed in the housing 2 is equal to the opening width W2 of the opening 6 with the lance 7 in the cavity 4 facing the outside. Narrower than.

【0013】図3は図1の実施の形態に係る検査部が採
用されているコネクタ検査装置10の断面略図である。
同図を参照して、コネクタ検査装置10は、平面視長方
形に形成された板状のベース11上に、コネクタ保持部
12と検査部20とを設け、両者をトグルレバー13に
よって、相対的に接離可能に構成したものである。上記
コネクタ保持部12は、ベース11上にその長手方向に
沿って形成されたレール14の一端側に固定されてお
り、検査部20は、上記レール14に沿ってコネクタ保
持部12に接近/離反可能に連結され、さらに図示しな
いコイルばねでコネクタ保持部12から離反する方向に
付勢されている。
FIG. 3 is a schematic sectional view of a connector inspection apparatus 10 employing the inspection unit according to the embodiment of FIG.
Referring to FIG. 1, a connector inspection device 10 is provided with a connector holding portion 12 and an inspection portion 20 on a plate-like base 11 formed in a rectangular shape in a plan view, and the two are relatively moved by a toggle lever 13. It is configured to be able to come and go. The connector holding portion 12 is fixed to one end of a rail 14 formed on the base 11 along the longitudinal direction, and the inspection portion 20 approaches / separates from the connector holding portion 12 along the rail 14. And is urged in a direction away from the connector holding portion 12 by a coil spring (not shown).

【0014】上記トグルレバー13は、ベース11の他
端部に立設された立設部15にピンPで軸支されてお
り、このピンP回りにトグルレバー13を図の反時計回
り方向に回動させることにより、検査部20をコネクタ
保持部12に近接させ、時計回り方向に回動させること
により、上記コイルばねの付勢力でコネクタ保持部12
から離反するのを許容するようにしている。
The toggle lever 13 is pivotally supported by a pin P on an upright portion 15 erected at the other end of the base 11, and the toggle lever 13 is turned around the pin P in a counterclockwise direction in FIG. By rotating, the inspection unit 20 is brought close to the connector holding unit 12, and by rotating the inspection unit 20 in the clockwise direction, the connector holding unit 12 is biased by the coil spring.
It is allowed to depart from.

【0015】上記検査部20は、樹脂製のブロック体2
1と、ブロック体21内に配設された複数のプローブピ
ン22とを備えている。各プローブピン22は、検査対
象となるコネクタ1の端子金具3に対応して設けられた
ものであり、当該コネクタ1の品番に対応して、端子金
具3毎に配設されている。そして、先行技術と同様に、
ブロック体21に対し、ロッド24を介してコネクタ保
持部12への対向方向において、相対的に変位可能に連
結され、コイルばね25によって弾性的にコネクタ保持
部12の方へ付勢されることにより、正規の端子金具3
とのみ導通可能に接続されるように構成されている。
The inspection section 20 includes a resin block 2.
1 and a plurality of probe pins 22 disposed in the block body 21. Each probe pin 22 is provided corresponding to the terminal fitting 3 of the connector 1 to be inspected, and is provided for each terminal fitting 3 corresponding to the product number of the connector 1. And, like the prior art,
By being relatively displaceably connected to the block body 21 via the rod 24 in the direction facing the connector holding section 12, the coil body 25 is elastically urged toward the connector holding section 12 by the coil spring 25. , Regular terminal fitting 3
It is configured to be connected only to be able to conduct.

【0016】さらに、図示の実施の形態におけるプロー
ブピン22は、図7に示すように、接触子24Aと間隔
Sを隔てて対向するいわゆる2プローブ形式に形成され
ており、通常はスプリング24Bの付勢力によってコネ
クタ1側に付勢されているとともに、検査時に正規の端
子金具3と当接することにより、上記スプリング24B
の付勢力に抗して上記接触子24Aと電気的に接触し、
導通検査が行なわれるように構成されている。
Further, as shown in FIG. 7, the probe pin 22 in the illustrated embodiment is formed in a so-called two-probe type which faces the contact 24A with a space S therebetween, and is usually provided with a spring 24B. The spring 24B is urged toward the connector 1 by the force and contacts the regular terminal fitting 3 at the time of inspection.
Electrical contact with the contact 24A against the urging force of
The continuity test is configured to be performed.

【0017】図2に示すように、各プローブピン22に
は、コネクタ1の上記開口部6を通してランス7を検査
する、ランス検査用部材としての突起板23が一体成形
されている。上記突起板23は、開口部6に対し、挿抜
させるのに必要十分な外寸に設定されている。この結
果、突起板23の幅W3は、端子接触窓5の開口幅W1
よりも相対的に大きくなっている。このため、突起板2
3が曲がりにくくなるばかりでなく、万一湾曲した場合
においても、端子接触窓5内には挿入されなくなる。
As shown in FIG. 2, a projection plate 23 as a lance inspection member for inspecting the lance 7 through the opening 6 of the connector 1 is integrally formed with each probe pin 22. The protrusion plate 23 is set to have an outer dimension necessary and sufficient to be inserted into and removed from the opening 6. As a result, the width W3 of the projection plate 23 is equal to the opening width W1 of the terminal contact window 5.
Is relatively larger than For this reason, the projection plate 2
Not only is it hard to bend, but also in the event that it is curved, it will not be inserted into the terminal contact window 5.

【0018】さらに、図示の実施の形態において、プロ
ーブピン22の先端面22Aからの上記突起板23の突
出長さLは、ランス7の嵌合不良を検出するのに必要十
分な寸法に規定されており、可及的に短く設定されてい
る。従って、この点からも突起板23の曲がりが生じに
くくなる他、後述するように、端子金具3の嵌合不良を
プローブピン22で検出することも可能になる。
Further, in the illustrated embodiment, the length L of the projection plate 23 protruding from the tip end surface 22A of the probe pin 22 is set to a size necessary and sufficient to detect a fitting failure of the lance 7. It is set as short as possible. Therefore, from this point as well, the projection plate 23 is less likely to bend, and as described later, it is also possible to detect a poor fitting of the terminal fitting 3 with the probe pin 22.

【0019】次に、図3ないし図7を参照して、上述し
た実施の形態の作用について説明する。図4ないし図7
は、検査時における図1の検査部20の要部を示す断面
略図である。先ず、図3に示すように、検査対象となる
コネクタ1をコネクタ検査装置10のコネクタ保持部1
2に装着し、トグルレバー13を操作して予め退避させ
ていた検査部20をコネクタ保持部12に近接させるこ
とにより、コネクタ1内の端子金具3に対し、対応する
プローブピン22を接触させ、導通検査を行なうことが
できる。
Next, the operation of the above-described embodiment will be described with reference to FIGS. 4 to 7
3 is a schematic cross-sectional view showing a main part of the inspection unit 20 of FIG. 1 at the time of inspection. First, as shown in FIG. 3, the connector 1 to be inspected is connected to the connector holding unit 1 of the connector inspection device 10.
2, the inspection unit 20 previously retracted by operating the toggle lever 13 is brought close to the connector holding unit 12, so that the corresponding probe pin 22 is brought into contact with the terminal fitting 3 in the connector 1, A continuity test can be performed.

【0020】図4に示すように、ランス7が正常に端子
金具3を止定している場合、突起板23は、開口部6
(図2参照)から正規の位置までコネクタ1内に入り込
み、プローブピン22が端子金具3と導通検査可能に接
触するのを許容する。他方、図5に示すように、端子金
具3とランス7が係止不良を来している場合、突起板2
3がランス7と衝合することにより、プローブピン22
は端子金具3に近接できなくなり、当接しなくなる。そ
のため、端子金具3の導通検査ができなくなることで、
ランス7の係止不良を検出することが可能になる。この
場合、作業者がトグルレバー13を回動させ、検査部2
0をコネクタ保持部12に近接させると、プローブピン
22は突起板23がランス7に当接したところで停止
し、その後は、コイルばね25の付勢力に抗してブロッ
ク体21のみがプローブピン22に対して相対的にコネ
クタ保持部12に近接することにより、ランス7や突起
板23を傷めることなく、ランス7の不良検知を行なう
ことができる。
As shown in FIG. 4, when the lance 7 normally holds the terminal fitting 3, the projection plate 23 is
(See FIG. 2) from the connector 1 to the proper position to allow the probe pin 22 to come into contact with the terminal fitting 3 in a continuity test. On the other hand, as shown in FIG. 5, when the terminal fitting 3 and the lance 7
3 abuts on the lance 7 so that the probe pin 22
Cannot come close to the terminal fitting 3 and does not come into contact therewith. Therefore, the continuity test of the terminal fitting 3 cannot be performed.
It becomes possible to detect the locking failure of the lance 7. In this case, the operator rotates the toggle lever 13 and
When the protruding plate 23 comes into contact with the lance 7, the probe pin 22 stops when the projection plate 23 abuts on the lance 7, and thereafter, only the block body 21 resists the urging force of the coil spring 25. When the lance 7 is relatively close to the connector holding portion 12, it is possible to detect a defect of the lance 7 without damaging the lance 7 and the projection plate 23.

【0021】ここで、突起板23は、上述した寸法設定
によって曲がりにくい構成になっている。しかし、万
一、使用を継続するうちに湾曲が生じ、その先端部が端
子接触窓5に臨んでいる場合でも、図6に示すように、
突起板23の幅W3(図2参照)の設定により、突起板
23は端子接触窓5の開口部分のところで停止してしま
い、内部には入れない。そのため、突起板23が端子接
触窓5内に入り込むことによる誤検査を未然に防止する
ことができる。
Here, the projecting plate 23 is configured to be hard to bend by the above-mentioned dimension setting. However, even in the event that the bending occurs during continued use, and the tip end faces the terminal contact window 5, as shown in FIG.
Due to the setting of the width W3 of the projection plate 23 (see FIG. 2), the projection plate 23 stops at the opening of the terminal contact window 5 and cannot enter the inside. Therefore, it is possible to prevent an erroneous inspection due to the projection plate 23 entering the terminal contact window 5 beforehand.

【0022】さらに図7に示すように、スイッチ機能を
有する2プローブ形式のプローブピン22を採用する
と、例えばランス7の係止爪7Aが欠損することによ
り、ランス7自身が正規の姿勢になっているにも拘ら
ず、端子金具3が係止不良を来している場合において
も、突起板23の突出長さLの上記設定により、プロー
ブピン22が端子金具3を同図の仮想線3Aで示す位置
から実線で示す位置に押し出す一方、電気的にはプロー
ブピン22が接触子24Aと接触できなくなるので、端
子金具3の係止不良を検出することも可能になる。
Further, as shown in FIG. 7, when a two-probe type probe pin 22 having a switch function is employed, for example, the locking claw 7A of the lance 7 is lost, so that the lance 7 itself assumes a normal posture. In spite of the above, even when the terminal fitting 3 has a locking failure, the probe pin 22 causes the terminal fitting 3 to move with the virtual line 3A in FIG. While the probe pin 22 is pushed out from the position shown to the position shown by the solid line, the probe pin 22 cannot electrically contact the contact 24A, so that it is also possible to detect an improper engagement of the terminal fitting 3.

【0023】以上説明したように本発明の実施の形態で
は、突起板23が曲がりにくくなるばかりでなく、万一
湾曲した場合においても、端子接触窓5内には挿入され
なくなるので、誤検査を未然に防止することができると
いう顕著な効果を奏する。上述した実施の各形態は本発
明の好ましい具体例を例示したものに過ぎず、本発明は
上述した実施の形態に限定されない。本発明の特許請求
の範囲内で種々の設計変更が可能であることは云うまで
もない。
As described above, in the embodiment of the present invention, not only is the protruding plate 23 difficult to bend, but also if it is bent, it will not be inserted into the terminal contact window 5, so that an erroneous inspection will be performed. This has a remarkable effect that it can be prevented beforehand. Each of the above embodiments is merely an example of a preferred specific example of the present invention, and the present invention is not limited to the above embodiment. It goes without saying that various design changes are possible within the scope of the claims of the present invention.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ランス検査用部材が曲がりにくくなるばかりでなく、万
一湾曲した場合においても、端子接触窓内には挿入され
なくなるので、誤検査を未然に防止することができると
いう顕著な効果を奏する。
As described above, according to the present invention,
In addition to the fact that the lance inspection member is not easily bent, even if it is bent, the lance inspection member is not inserted into the terminal contact window, so that an erroneous inspection can be prevented beforehand.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の一形態における検査部の要部構
成を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view illustrating a main configuration of an inspection unit according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の部分拡大略図である。FIG. 2 is a partially enlarged schematic view of FIG. 1;

【図3】図1の実施の形態に係る検査部が採用されてい
るコネクタ検査装置の断面略図である。
FIG. 3 is a schematic sectional view of a connector inspection device employing the inspection unit according to the embodiment of FIG. 1;

【図4】検査時における図1の検査部の要部を示す断面
略図である。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing a main part of the inspection unit of FIG. 1 at the time of inspection.

【図5】検査時における図1の検査部の要部を示す断面
略図である。
FIG. 5 is a schematic sectional view showing a main part of the inspection unit of FIG. 1 at the time of inspection.

【図6】検査時における図1の検査部の要部を示す断面
略図である。
FIG. 6 is a schematic sectional view showing a main part of the inspection unit of FIG. 1 at the time of inspection.

【図7】検査時における図1の検査部の要部を示す断面
略図である。
FIG. 7 is a schematic sectional view showing a main part of the inspection unit of FIG. 1 at the time of inspection.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 コネクタ 3 端子金具 4 キャビティー 5 端子接触窓 6 開口部 7 ランス 10 コネクタ検査装置 20 検査部 22 プローブピン 23 突起板(ランス検査用部材) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Connector 3 Terminal fitting 4 Cavity 5 Terminal contact window 6 Opening 7 Lance 10 Connector inspection device 20 Inspection part 22 Probe pin 23 Projection plate (Lance inspection member)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の端子金具がランス方式によりキャビ
ティ内に止定されているコネクタを検査するコネクタ検
査装置に設けられ、上記コネクタと相対的に変位可能な
ブロック体と、ブロック体に対しそれと弾性的に相対変
位可能に連結されているとともに、上記コネクタ検査装
置に保持されているコネクタに形成された端子接触窓を
通して端子金具の導通を検査するプローブピンと、上記
端子接触窓と連続する開口部を通して当該プローブピン
に対応する端子金具を止定しているランスの不完全係止
を検査可能なランス検査用部材とを備え、上記コネクタ
の端子接触窓の開口幅が上記開口部よりも狭く設定され
ているコネクタを検査対象とするコネクタ検査装置の検
査部において、 上記ランス検査用部材を、開口部を挿抜させるのに必要
十分な外寸に設定していることを特徴とするコネクタ検
査装置の検査部。
1. A connector inspection device for inspecting a connector, wherein a plurality of terminal fittings are fixed in a cavity by a lance method, and a block body displaceable relative to the connector; A probe pin that is elastically connected so as to be relatively displaceable and that inspects the continuity of terminal fittings through a terminal contact window formed in the connector held by the connector inspection device; and an opening that is continuous with the terminal contact window. A lance inspection member capable of inspecting incomplete locking of a lance fixing a terminal fitting corresponding to the probe pin through the lance, and an opening width of the terminal contact window of the connector is set to be narrower than the opening. In the inspection section of the connector inspection apparatus for inspecting the connector, the lance inspection member is required to insert and remove the opening. An inspection unit of a connector inspection device, which is set to an appropriate external size.
【請求項2】請求項1記載のコネクタ検査装置の検査部
において、 上記ランス検査用部材は、プローブピンと一体形成され
ている金属部品であるコネクタ検査装置の検査部。
2. The inspection section of the connector inspection apparatus according to claim 1, wherein the lance inspection member is a metal part integrally formed with a probe pin.
【請求項3】請求項1または2記載のコネクタ検査装置
の検査部において、 上記ランス検査用部材は、プローブピンの先端面からラ
ンスの嵌合不良を検出するのに必要十分な長さだけコネ
クタ側に突出しているとともに、上記プローブピンは、
嵌合不良を来している端子金具を弾性的に押し出し可能
な2プローブ式に形成されているコネクタ検査装置の検
査部。
3. The inspection section of the connector inspection apparatus according to claim 1, wherein the lance inspection member has a length sufficient for detecting a lance fitting failure from a tip end surface of the probe pin. Side, and the probe pin is
An inspection unit of a connector inspection device formed of a two-probe type capable of elastically pushing out a terminal fitting having a poor fitting.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100787201B1 (en) 2006-10-27 2007-12-21 한국단자공업 주식회사 Apparatus for inspecting a lance of connector-housing

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KR100787201B1 (en) 2006-10-27 2007-12-21 한국단자공업 주식회사 Apparatus for inspecting a lance of connector-housing

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