JPH10284207A - Inspection portion for connector inspection device - Google Patents

Inspection portion for connector inspection device

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Publication number
JPH10284207A
JPH10284207A JP9081515A JP8151597A JPH10284207A JP H10284207 A JPH10284207 A JP H10284207A JP 9081515 A JP9081515 A JP 9081515A JP 8151597 A JP8151597 A JP 8151597A JP H10284207 A JPH10284207 A JP H10284207A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lance
inspection
connector
slider
probe pin
Prior art date
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Pending
Application number
JP9081515A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenji Chiyoda
賢二 千代田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
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Priority to US09/042,085 priority patent/US6081124A/en
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Priority to EP98302439A priority patent/EP0869371B1/en
Priority to DE69830255T priority patent/DE69830255T2/en
Priority to EP01125032A priority patent/EP1193501B1/en
Priority to CN98108007A priority patent/CN1077689C/en
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  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To inspect lances comparatively individually, while to avoid the damage of the lances in incomplete locking states. SOLUTION: An inspection portion is provided in a connector inspection device that inspects a connector in which plural terminal metal fittings are fixed by a lance method. Probe pins 22 for conduction inspection are formed into one set of two poles and the supported by a resin made slider 21. Members 23 for detecting the locking failure of lances C2 are integrally molded with the slider 21 corresponding to he supported probe pins 22. Accordingly, the lance inspection members 23 can be positioned on the lances C2 without providing any detent for the probe pins 22. Comparing with a case where all probe pins 22 are supported, remarkably individual failure detection can be conducted. Further, the damage of the lance C2 resulting from material can be prevented.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はコネクタ検査装置の
検査部に関する。
The present invention relates to an inspection section of a connector inspection apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にワイヤハーネスやワイヤハーネス
を構成するサブアセンブリ(以下、「ワイヤアセンブ
リ」と総称する)等の電気配線システムに使用されるコ
ネクタは、樹脂製のハウジング内に複数のキャビティー
を形成しており、このキャビティー内に、電線と接続さ
れた端子金具を挿入している。端子金具とキャビティと
は、いわゆるランス方式により止定されている。このラ
ンス方式では、何れか一方(主としてコネクタ)に形成
された舌片状のランスを他方に形成された係止孔に係止
させることにより、端子金具のキャビティーからの抜け
止めを図っている。
2. Description of the Related Art In general, a connector used for an electric wiring system such as a wire harness and a subassembly (hereinafter, collectively referred to as a "wire assembly") constituting the wire harness has a plurality of cavities in a resin housing. A terminal fitting connected to the electric wire is inserted into the cavity. The terminal fitting and the cavity are fixed by a so-called lance method. In this lance system, the tongue-shaped lance formed on one (mainly a connector) is locked in a locking hole formed on the other, thereby preventing the terminal fitting from coming out of the cavity. .

【0003】上述したワイヤアセンブリの製造工程にお
いては、上記コネクタの電気的な配線状態や接続状態等
の導通検査や、端子金具とハウジングとの止定状態の検
査が厳格に行なわれている。そのような導通検査や止定
状態の検査を同時に行なうことのできるコネクタ検査装
置の検査部がこれまで種々提案されている。コネクタ検
査装置の検査部は、通常、コネクタを保持するコネクタ
ホルダと、保持されたコネクタに対して相対的に接近/
離反可能な検査部とを備えており、検査部は、本体部材
となるブロック体と、ブロック体に設けられ、コネクタ
のキャビティ内に入り込んで、端子金具と電気的に接続
可能なプローブピンとを備えている。そして、端子金具
とハウジングとの止定状態を検査するために、このプロ
ーブビンやブロック体に種々の改良が提案されている。
In the manufacturing process of the above-mentioned wire assembly, continuity inspection of the electrical wiring state and connection state of the connector, and inspection of the stationary state of the terminal fitting and the housing are strictly performed. Various inspection units of a connector inspection device capable of simultaneously performing such a continuity inspection and a stationary state inspection have been proposed. The inspection unit of the connector inspection device usually has a connector holder for holding the connector and a relatively close / closed connector.
The inspection unit includes a block body serving as a main body member, and a probe pin that is provided in the block body, enters a cavity of the connector, and can be electrically connected to the terminal fitting. ing. In order to inspect the stationary state of the terminal fitting and the housing, various improvements have been proposed for the probe bin and the block.

【0004】例えば、特開平7−113836号公報に
開示されている先行技術では、上記ブロック体とプロー
ブピンとをばねで連結して端子金具に対して弾性的に接
近/離反可能に構成するとともに、プローブピンの先端
にキャビティーから不完全に係止しているランスに当接
可能な不完全挿入検知部を設けている。この先行技術で
は、正規のコネクタの場合には、プローブピンと端子金
具とが当接することにより、電気的に検査部の回路が閉
じられ、導通検査を行なうことができる一方、ランスの
係止が不完全な場合、ランスに不完全挿入検知部が当接
することによりばねが圧縮される結果、端子金具にプロ
ーブピンが届かなくなり、導通検査が不能になることで
ランスの止定状態の不良を検知できるようになってい
る。
For example, in the prior art disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H7-113836, the block body and the probe pin are connected by a spring so as to be elastically approachable / separable from the terminal fitting. At the tip of the probe pin, there is provided an incomplete insertion detecting portion which can abut a lance which is incompletely locked from the cavity. According to this prior art, in the case of a regular connector, the probe pin and the terminal fitting come into contact with each other, thereby electrically closing the circuit of the inspection unit and performing a continuity inspection. When the lance is incomplete, the spring is compressed due to the incomplete insertion detecting portion coming into contact with the lance, so that the probe pin does not reach the terminal fitting, and the continuity test becomes impossible, so that it is possible to detect a defect in the lance fixed state. It has become.

【0005】また、本件出願人が先に提案している特開
平8−320355号公報に記載の先行技術では、樹脂
製のスライダをプローブピンと一体的に設けてプローブ
ピンを端子金具に対して弾性的に接近/離反可能に構成
するとともに、このスライダに上記不完全挿入検知部と
同様なランスチェックピンを一体成形してランスの係止
不良を検出できるようにしていた。上記スライダは、端
子金具の極数に対応する全てのピンを一体的に担持して
いた。
In the prior art described in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-320355, which has been previously proposed by the present applicant, a slider made of resin is provided integrally with the probe pin, and the probe pin is elastically attached to the terminal fitting. In addition to this, the lance check pin similar to the above-mentioned incomplete insertion detecting portion is integrally formed with the slider so that a locking failure of the lance can be detected. The slider integrally carries all pins corresponding to the number of poles of the terminal fitting.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】前者のプローブピン構
造の場合、端子金具毎にランスを検査することができる
ものの、不完全挿入検知部がプローブピンと一体に形成
されている金属部材であるので、不完全係止を来してい
るランスが不完全挿入検知部と衝合した場合、ランスを
損傷するおそれがある。また、不完全挿入検知部がラン
スを検査可能な正規の姿勢に維持するために、プローブ
ピンに回り止め機構を施す必要があり、部品点数が増加
したり、構造が複雑になるという不具合があった。
In the case of the former probe pin structure, although the lance can be inspected for each terminal fitting, the incomplete insertion detecting portion is a metal member formed integrally with the probe pin. If the lance that is incompletely locked collides with the incomplete insertion detection unit, the lance may be damaged. In addition, it is necessary to provide a detent mechanism on the probe pin in order for the incomplete insertion detection unit to maintain the lance in a proper posture that can be inspected, which increases the number of components and complicates the structure. Was.

【0007】他方、後者の構成の場合、同一のスライダ
に全てのランスチェックピンを一体形成しているので、
端子金具毎にランスを検査することができない他、全て
のランスチェックピンが同一のスライダに一体形成され
ている関係上、スライダを付勢するばねの荷重が高くな
り、不完全係止を来しているランスがランスチェックピ
ンと衝合した場合、ランスに大きな荷重が作用して、ラ
ンスを損傷するおそれがある。
On the other hand, in the latter configuration, all the lance check pins are integrally formed on the same slider.
In addition to not being able to inspect the lance for each terminal fitting, and because all the lance check pins are integrally formed on the same slider, the load on the spring that biases the slider increases, resulting in incomplete locking. If the lance that abuts against the lance check pin, a large load acts on the lance, and the lance may be damaged.

【0008】本発明は上記不具合に鑑みてなされたもの
であり、比較的個別にランスの検査を行なうことができ
る一方、不完全係止を来しているランスの損傷を回避可
能なコネクタ検査装置の検査部を提供することを課題と
している。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and a connector inspection apparatus capable of relatively independently inspecting a lance while avoiding damage to a lance that is incompletely locked. It is an object to provide an inspection unit.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、複数の端子金具がランス方式により止定さ
れているコネクタを検査するコネクタ検査装置に設けら
れ、当該コネクタの端子金具の導通を検査するプローブ
ピンと、プローブピンと一体変位可能に設けられ、当該
プローブピンに対応する端子金具を止定しているランス
の不完全係止を検査可能なランス検査用部材と、ランス
検査用部材およびプローブピンを一体的に担持するスラ
イダと、スライダを介して上記プローブピンをコネクタ
検査装置に保持されているコネクタと相対的に変位可能
に担持するブロック体とを備えているコネクタ検査装置
の検査部において、上記スライダは、隣接するプローブ
ピンを二極一組として一体的に担持しているとともに、
当該スライダが担持しているプローブピンに対応するラ
ンス検査用部材を一体に有していることを特徴とするコ
ネクタ検査装置の検査部である。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is provided in a connector inspection apparatus for inspecting a connector in which a plurality of terminal fittings are fixed by a lance method. A probe pin for inspecting continuity, a lance inspection member provided to be capable of being integrally displaced with the probe pin, and capable of inspecting incomplete locking of a lance fixing a terminal fitting corresponding to the probe pin, and a lance inspection member And a slider that integrally carries the probe pins and a block body that carries the probe pins via the slider so as to be displaceable relative to the connector held by the connector inspection device. Portion, the slider integrally carries adjacent probe pins as a pair of two poles,
An inspection section of a connector inspection apparatus, wherein a lance inspection member corresponding to a probe pin carried by the slider is integrally provided.

【0010】この特定事項を含む発明では、スライダが
二極一組でプローブピンを担持しているので、プローブ
ピンの回り止め等を設けることなく、ランス検査用部材
をランスに位置決めすることができる。また、二極一組
であることから、全てのプローブピンが担持されている
場合に比べて格段に個別的な不良検出を行なうことがで
きる。しかも、上記ランス検査用部材は、プローブピン
とは別部材のスライダに一体形成されているので、ラン
ス検査用部材の材質を自由に選択し、材質に起因するラ
ンスの損傷を防止することができる。
[0010] In the invention including this specific matter, since the slider carries the probe pins in a pair of two poles, the lance inspection member can be positioned on the lance without providing a stopper for the probe pins. . Further, since the probe is a pair of two poles, it is possible to detect failures much more individually than in the case where all the probe pins are carried. Moreover, since the lance inspection member is formed integrally with the slider, which is a separate member from the probe pin, the material of the lance inspection member can be freely selected, and damage to the lance due to the material can be prevented.

【0011】また、好ましい態様において、上記スライ
ダおよびランス検査用部材は、樹脂成形品である。この
特定事項を含む発明では、スライダおよびランス検査用
部材は、樹脂成形品であることから、ランスの損傷を防
止可能な材質であるばかりでなく、製造コストも低減す
ることができる。
In a preferred embodiment, the slider and the lance inspection member are resin molded products. In the invention including this specific matter, since the slider and the lance inspection member are resin molded products, the slider and the lance inspection member are not only made of a material capable of preventing damage to the lance, but also can reduce the manufacturing cost.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しながら、
本発明の好ましい実施の形態について詳述する。図1は
本発明の実施の一形態における検査部10の分解斜視図
であり、図2および図3は図1の実施の形態における検
査部10の作用を示す断面図である。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG.
A preferred embodiment of the present invention will be described in detail. FIG. 1 is an exploded perspective view of an inspection unit 10 according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are cross-sectional views showing the operation of the inspection unit 10 in the embodiment of FIG.

【0013】これらの図を参照して、図示の実施の形態
では、上下に延びるブロック体11を有している。ブロ
ック体11は、平面視略「凸」字形に形成された樹脂成
形品であり、前端面(図1に示されている面)12に矩
形の収容部13を区画しているとともに、後端側に段部
14を区画し、この段部14を図示しないコネクタ検査
装置のレバー機構に取り付けて、上記コネクタ検査装置
に保持されているコネクタC(図2、図3)を検査可能
な検査位置とコネクタCを解放する解放位置との間で相
対的に変位できるように構成されるものである。
Referring to these drawings, the illustrated embodiment has a block body 11 extending vertically. The block body 11 is a resin molded product formed in a substantially “convex” shape in plan view. The block body 11 defines a rectangular accommodating portion 13 on a front end surface (the surface shown in FIG. 1) 12 and a rear end. A step portion 14 is defined on the side, and the step portion 14 is attached to a lever mechanism of a connector inspection device (not shown), and an inspection position where the connector C (FIGS. 2 and 3) held by the connector inspection device can be inspected. And a release position for releasing the connector C.

【0014】上記収容部13内には、本発明の骨子とな
るピンユニット20(図中1セットのみ図示)が収容さ
れ、上記前端面12にビス16で固定される矩形の枠状
のカバー部材15によって、収容部13からの離脱が阻
止されている。図2によく示すように、ピンユニット2
0は、矩形に形成されて収容部13内で前後に変位可能
なスライダ21と、スライダ21に一体的に担持され、
コネクタCの端子金具Tの導通検査を行なうプローブピ
ン22と、スライダ21に設けられたランス検査用部材
としての突起23とを有するものである。図示の実施の
形態では、スライダ21の両端に一対の進退ロッド24
を取り付けている。
A pin unit 20 (only one set is shown in the figure) serving as the gist of the present invention is accommodated in the accommodating portion 13, and a rectangular frame-shaped cover member fixed to the front end surface 12 with screws 16. By 15, the detachment from the storage section 13 is prevented. As best shown in FIG.
Reference numeral 0 denotes a slider 21 which is formed in a rectangular shape and can be displaced back and forth in the accommodation portion 13, and is integrally carried on the slider 21.
It has a probe pin 22 for conducting a conduction test of the terminal fitting T of the connector C, and a projection 23 provided on the slider 21 as a lance inspection member. In the illustrated embodiment, a pair of reciprocating rods 24
Is installed.

【0015】進退ロッド24は、ブロック体11に固定
される外周筒部24Aと、外周筒部24Aの内周側に配
置され、外周筒部24Aとは相対的に変位可能な内周軸
部24Bと、内周軸部24Bを付勢するために外周筒部
24A内に収容された圧縮コイルばね24Cとを有する
ものであり、これら一対の進退ロッド24によって、ス
ライダ21は、通常は弾性的に前方、すなわちコネクタ
Cの端子金具Tに近接する方向に付勢されている。図で
は省略されているが、外周筒部24Aから内周軸部24
Bが離脱しないように、周知のいわゆる2プローブピン
構造と同様な抜け止め(例えば外フランジと内フラン
ジ)が両部材24A、24Bに形成されている。
The advance / retreat rod 24 is disposed on an inner peripheral side of the outer cylindrical portion 24A fixed to the block body 11 and an inner peripheral shaft portion 24B which is relatively displaceable from the outer cylindrical portion 24A. And a compression coil spring 24C housed in the outer cylindrical portion 24A to bias the inner circumferential shaft portion 24B. The slider 21 is usually elastically moved by the pair of reciprocating rods 24. It is urged forward, that is, in a direction approaching the terminal fitting T of the connector C. Although not shown in the drawing, the outer peripheral cylindrical portion 24A is connected to the inner peripheral shaft portion 24A.
In order to prevent B from coming off, a stopper (for example, an outer flange and an inner flange) similar to a known so-called two-probe pin structure is formed on both members 24A and 24B.

【0016】他方、上記スライダ21と上記突起23と
は樹脂の一体成形品である。突起23は、コネクタCの
キャビティーC1内に入り込むことにより、コネクタC
に形成されたランスC2が係止不良を来している場合に
のみ当該ランスC2に当接可能な外形および寸法に設定
されており、この突起23によって、先行技術と同様に
ランスの係止不良を検出可能に構成されている。
On the other hand, the slider 21 and the projection 23 are integrally formed of resin. The projection 23 is inserted into the cavity C1 of the connector C, thereby the connector C
The lance C2 is set to have an outer shape and dimensions that can be brought into contact with the lance C2 only when the lance C2 is defective. Is configured to be detectable.

【0017】そして、この実施の形態において特筆すべ
きことは、隣接する二つのプロープピン22、22を二
極一組としてスライダ21が構成され、このスライダ2
1に対応する突起23、23が一体成形されている点で
ある。次に上述した実施の形態における作用について、
図2および図3を参照しながら説明する。
What is notable in this embodiment is that a slider 21 is formed by using two adjacent probe pins 22 and 22 as a pair of two poles.
1 in that the projections 23, 23 corresponding to 1 are integrally formed. Next, regarding the operation in the above-described embodiment,
This will be described with reference to FIGS.

【0018】図2を参照して、検査対象となるコネクタ
Cが正規である場合、内部に収容された端子金具Tに
は、それぞれランスC2が正規に入り込んでいる結果、
ランスC2は、キャビティ内には突出していない。この
状態でコネクタCを図示の実施の形態の検査部10で検
査すると、スライダ21に一体形成された突起23は、
ランスC2と衝合することなく、コネクタCの内部に入
り込むので、スライダ21は、進退ロッド24の圧縮コ
イルばね24Cの付勢力により、端子金具Tに当接可能
な位置まで伸長している。これにより、端子金具Tとプ
ローブピン22とが電気的に接続されるので、導通検査
が可能となり、ランスC2の係止状態も正常と判別され
る。
Referring to FIG. 2, when connector C to be inspected is legitimate, lance C2 is properly inserted into terminal fittings T accommodated therein.
The lance C2 does not protrude into the cavity. In this state, when the connector C is inspected by the inspection unit 10 of the illustrated embodiment, the protrusion 23 integrally formed on the slider 21
Since the slider 21 enters the inside of the connector C without abutment with the lance C2, the slider 21 is extended to a position where the slider 21 can be brought into contact with the terminal fitting T by the urging force of the compression coil spring 24C of the advance / retreat rod 24. As a result, the terminal fitting T and the probe pin 22 are electrically connected, so that a continuity test can be performed, and the locked state of the lance C2 is also determined to be normal.

【0019】他方、図3に示すように、何れか一方のラ
ンスC2が係止不良を来している場合、ブロック体11
とコネクタCとを近接させる過程で突起23が係止不良
を来したランスC2と当接するので、ブロック体11と
コネクタCとを正規の検査位置まで近接させると、スラ
イダ21がブロック体11と相対的に変位し、プローブ
ピン22が端子金具Tと接触しなくなる。この結果、導
通検査ができなくなるので、検査作業者は、まず、ラン
スの異常をチェックすることにより、ランスの不良を検
出することが可能になる。
On the other hand, as shown in FIG. 3, when one of the lances C2 has a locking failure, the block 11
When the block 23 comes into contact with the connector C when the block body 11 and the connector C are brought close to the regular inspection position, the slider 21 moves relative to the block body 11. And the probe pin 22 does not contact the terminal fitting T. As a result, the continuity test cannot be performed, so that the inspection operator can detect a lance defect by first checking the lance for abnormalities.

【0020】図4および図5は本発明の実施の別の形態
を示す断面図である。これらの実施の形態では、上述し
た進退ロッド24に代えて、圧縮コイルばね25をプロ
ーブピン22の外周に配置し、スライダ21を前方に付
勢している。この実施の形態においても、上記と同様の
作用を奏することが可能になる。以上説明したように、
上述した実施の各形態においては、スライダ21が二極
一組でプローブピン22を担持しているので、プローブ
ピン22の回り止め等を設けることなく、突起23をラ
ンスC2に位置決めすることができる。また、二極一組
であることから、全てのプローブピン22が担持されて
いる場合に比べて格段に個別的な不良検出を行なうこと
ができる。しかも、上記突起23は、プローブピン22
とは別部材のスライダ21に一体形成されているので、
突起23の材質(図示の実施の形態では樹脂)を自由に
選択し、材質に起因するランスC2の損傷を防止するこ
とができる。また、スライダ21および突起23が樹脂
成形品であることから、ランスC2の損傷を防止できる
ばかりでなく、製造コストも低減することができる。
FIGS. 4 and 5 are sectional views showing another embodiment of the present invention. In these embodiments, a compression coil spring 25 is arranged on the outer periphery of the probe pin 22 in place of the above-described advance / retreat rod 24, and biases the slider 21 forward. In this embodiment, the same operation as described above can be achieved. As explained above,
In each of the above-described embodiments, since the slider 21 carries the probe pin 22 in a pair of two poles, the protrusion 23 can be positioned on the lance C2 without providing a stopper for the probe pin 22 or the like. . In addition, since a pair of two poles is provided, it is possible to detect failures much more individually than when all the probe pins 22 are carried. In addition, the protrusion 23 is
Since it is integrally formed with the slider 21 which is a separate member from
The material (resin in the illustrated embodiment) of the projection 23 can be freely selected to prevent the damage of the lance C2 due to the material. In addition, since the slider 21 and the projection 23 are formed of resin, not only can the lance C2 be prevented from being damaged, but also the manufacturing cost can be reduced.

【0021】従って、上述した実施の形態では、比較的
個別にランスC2の検査を行なうことができる一方、不
完全係止を来しているランスC2の損傷を回避すること
ができるという顕著な効果を奏する。上述した実施の各
形態は本発明の好ましい具体例を例示したものに過ぎ
ず、本発明は上述した実施の形態に限定されない。本発
明の特許請求の範囲内で種々の設計変更が可能であるこ
とは云うまでもない。
Therefore, in the above-described embodiment, while the lance C2 can be inspected relatively individually, a remarkable effect that damage to the lance C2 which is incompletely locked can be avoided. To play. Each of the above embodiments is merely an example of a preferred specific example of the present invention, and the present invention is not limited to the above embodiment. It goes without saying that various design changes are possible within the scope of the claims of the present invention.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、プ
ローブピンの回り止め等を設けることなく、ランス検査
用部材をランスに位置決めすることができるとともに、
全てのプローブピンが担持されている場合に比べて格段
に個別的な不良検出を行なうことができる他、材質に起
因するランスの損傷を防止することができる。従って、
本発明によれば、比較的個別にランスの検査を行なうこ
とができる一方、不完全係止を来しているランスの損傷
を回避することができるという顕著な効果を奏する。
As described above, according to the present invention, the lance inspection member can be positioned on the lance without providing a stopper for the probe pin, etc.
Compared to the case where all the probe pins are carried, it is possible to detect failures much more individually, and to prevent damage to the lance due to the material. Therefore,
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, while the lance can be inspected relatively individually, there is a remarkable effect that damage to the lance that is incompletely locked can be avoided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の一形態における検査部の分解斜
視図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view of an inspection unit according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の実施の形態における検査部の作用を示す
断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing an operation of an inspection unit in the embodiment of FIG.

【図3】図1の実施の形態における検査部の作用を示す
断面図である。
FIG. 3 is a sectional view showing the operation of the inspection unit in the embodiment of FIG.

【図4】本発明の実施の別の形態を示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view showing another embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施の別の形態を示す断面図である。FIG. 5 is a sectional view showing another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C コネクタ C1 キャビティー C2 ランス T 端子金具 10 検査部 11 ブロック部 20 ピンユニット 21 スライダ 22 プローブピン 23 突起(ランス検査用部材) 24 進退ロッド 25 圧縮コイルばね C connector C1 cavity C2 lance T terminal fitting 10 inspection part 11 block part 20 pin unit 21 slider 22 probe pin 23 projection (lance inspection member) 24 advance / retreat rod 25 compression coil spring

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数の端子金具がランス方式により止定さ
れているコネクタを検査するコネクタ検査装置に設けら
れ、当該コネクタの端子金具の導通を検査するプローブ
ピンと、 プローブピンと一体変位可能に設けられ、当該プローブ
ピンに対応する端子金具を止定しているランスの不完全
係止を検査可能なランス検査用部材と、 ランス検査用部材およびプローブピンを一体的に担持す
るスライダと、 スライダを介して上記プローブピンをコネクタ検査装置
に保持されているコネクタと相対的に変位可能に担持す
るブロック体とを備えているコネクタ検査装置の検査部
において、 上記スライダは、隣接するプローブピンを二極一組とし
て一体的に担持しているとともに、当該スライダが担持
しているプローブピンに対応するランス検査用部材を一
体に有していることを特徴とするコネクタ検査装置の検
査部。
1. A connector inspection apparatus for inspecting a connector in which a plurality of terminal fittings are fixed by a lance method, a probe pin for inspecting continuity of terminal fittings of the connector, and a probe pin provided so as to be integrally displaceable with the probe pin. A lance inspection member capable of inspecting incomplete locking of a lance fixing a terminal fitting corresponding to the probe pin; a slider integrally supporting the lance inspection member and the probe pin; In the inspection section of the connector inspection device, comprising: a connector held by the connector inspection device; and a block body which is relatively displaceably held, the slider comprises: A lance inspection member that is integrally supported as a set and that corresponds to the probe pin that the slider is carrying. An inspection unit of the connector inspection device, wherein the inspection unit integrally includes
【請求項2】請求項1記載のコネクタ検査装置の検査部
において、 上記スライダおよびランス検査用部材は、樹脂成形品で
あるコネクタ検査装置の検査部。
2. The inspection section of the connector inspection apparatus according to claim 1, wherein the slider and the lance inspection member are resin molded products.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6445190B1 (en) 1999-12-03 2002-09-03 Yazaki Corporation Connector continuity checking device
CN105486970A (en) * 2015-11-24 2016-04-13 深圳市思榕科技有限公司 Pogopin module performance test system and method

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