JPH10311315A - Silicon-made screws - Google Patents
Silicon-made screwsInfo
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- JPH10311315A JPH10311315A JP13762797A JP13762797A JPH10311315A JP H10311315 A JPH10311315 A JP H10311315A JP 13762797 A JP13762797 A JP 13762797A JP 13762797 A JP13762797 A JP 13762797A JP H10311315 A JPH10311315 A JP H10311315A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ネジ類、特には半
導体製造装置に使用されるネジ類に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to screws, and more particularly to screws used in semiconductor manufacturing equipment.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、半導体製造装置、例えば、ドライ
エッチングプロセスに代表される半導体製造工程におい
て、その反応装置の内外には、種々の部品が取り付けら
れている。従来の半導体製造装置においては、このよう
な取り付け部分には腐食を防ぐために、アルマイト処理
を施したアルミニウム合金製のネジやボルト、ナット等
のネジ類が使用されていた。2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor manufacturing apparatus such as a semiconductor manufacturing process typified by a dry etching process, various parts are mounted inside and outside a reaction apparatus. In a conventional semiconductor manufacturing apparatus, screws such as screws, bolts, nuts, and the like made of an aluminum alloy that have been subjected to an alumite treatment have been used in such a mounting portion in order to prevent corrosion.
【0003】しかしながら、プラズマドライエッチング
やリアクティブイオンエッチングのような過酷な条件下
にある反応室内においては、エッチングガスやプラズマ
にネジ類が曝されるため、本来反応処理の目的としない
箇所においても徐々にエッチングが起こり、このことが
パーティクルの発生やコンタミネーションの原因となっ
て、ウエーハの歩留りの低下を招く危険性が高かった。However, in a reaction chamber under severe conditions such as plasma dry etching and reactive ion etching, screws are exposed to an etching gas or plasma, and therefore, even in a place not originally intended for reaction processing. Etching occurred gradually, and this was the cause of generation of particles and contamination, and there was a high risk of lowering the wafer yield.
【0004】近年はこうしたことを防ぐために、アルマ
イト処理を施したアルミニウム合金製のネジが用いられ
ているが、アルマイト処理ではプラズマに曝されると、
アルミニウム合金も腐食されてパーティクル発生の原因
となったり、被処理物であるウエーハ及び反応室内のコ
ンタミネーションとなって歩留りを低下させるという耐
食性が不完全なものであった。また、反応装置外におい
ても、主として部品の共通化のため、アルマイト処理を
施したアルミニウム合金製のネジ類が使用されていた。[0004] In recent years, aluminum alloy screws that have been subjected to alumite treatment have been used to prevent this. In the alumite treatment, when exposed to plasma,
The aluminum alloy was also corroded, causing particles to be generated, and became a contamination in the wafer to be processed and the reaction chamber, thereby lowering the yield, resulting in incomplete corrosion resistance. Outside the reactor, screws made of alumite-treated aluminum alloy have been used mainly for common use of parts.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
問題点を解決するためになされたもので、エッチングガ
スやプラズマに侵されにくく、パーティクルやコンタミ
ネーションを発生することがないと共に、寿命が長く、
精度の高いネジ類を低コストで提供することを目的とし
ている。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such problems, and is hardly affected by an etching gas or plasma, does not generate particles and contamination, and has a long life. Is long,
It aims to provide high-precision screws at low cost.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、本発明の請求項1に記載した発明は、半導体
製造用装置に用いられるネジ類において、その材質を多
結晶シリコンまたは単結晶シリコンとしたことを特徴と
するシリコン製ネジ類である。In order to solve such a problem, the invention described in claim 1 of the present invention relates to a screw used in a semiconductor manufacturing apparatus, wherein the material of the screw is polycrystalline silicon or single crystal. Silicon screws which are made of crystalline silicon.
【0007】このように半導体製造装置に用いられるネ
ジ類を、該装置の主な被処理物であるシリコンウエーハ
と同材質とすることにより、エッチングガスやプラズマ
に曝されてもパーティクルを発生したり、コンタミネー
ションとなることは殆どなく、シリコンウエーハの歩留
りを向上させることができる。[0007] As described above, the screws used in the semiconductor manufacturing apparatus are made of the same material as the silicon wafer, which is the main processing object of the apparatus, so that particles are generated even when exposed to an etching gas or plasma. In addition, there is almost no contamination, and the yield of silicon wafers can be improved.
【0008】そして、請求項2では、前記シリコン製ネ
ジ類を、ボルト・ナット、六角ボルト、丸ネジ、皿ネ
ジ、丸皿ネジまたは木ネジとした。ここでいう、ネジ類
には、オネジ・メネジからなるボルト・ナットの組合
せ、六角ボルト、ネジとしては、頭部の形で丸ネジ、皿
ネジ、丸皿ネジ等があり、木ネジ状のネジ部の先端が尖
ったテーパ付きのもの(頭部は丸、皿、丸皿がある)等
がある。In the second aspect, the silicon screws are bolts and nuts, hexagon bolts, round screws, flathead screws, roundhead screws, or wood screws. The screws mentioned here are a combination of male and female screws and bolts and nuts, hexagonal bolts, and the screws include round screws, flathead screws, roundhead screws, etc. There is a tapered part with a sharp tip (there is a round head, a plate, and a round plate).
【0009】そして、請求項3のように前記単結晶シリ
コンの抵抗値を、0.001〜20Ω・cmの範囲のも
のとすると、ネジ類作製用の素材として入手し易くな
り、経済的に有利である。さらに素材を単結晶シリコン
とすると、不純物含有量や機械的強度の点からも、品質
管理上も多結晶シリコンより優れており、ネジ類作製用
素材として有利に使用される。When the resistance value of the single crystal silicon is in the range of 0.001 to 20 Ω · cm, it is easy to obtain as a material for manufacturing screws, which is economically advantageous. It is. Further, when the material is single crystal silicon, it is superior to polycrystalline silicon in quality control in terms of impurity content and mechanical strength, and is advantageously used as a material for manufacturing screws.
【0010】また、請求項4では、前記単結晶シリコン
のB、N、C、O以外の不純物含有量を、0.01pp
b〜1000ppmの範囲とし、また、請求項5では酸
素含有量を15±5ppmとするようにした。According to a fourth aspect of the present invention, the content of impurities other than B, N, C and O in the single crystal silicon is set to 0.01 pp.
The range of b to 1000 ppm is set, and in claim 5, the oxygen content is set to 15 ± 5 ppm.
【0011】B、N、C、O以外の不純物である主とし
て重金属の含有量が1000ppmを越えると、コンタ
ミネーションの影響が大きくなるので1000ppm以
下に抑えるのがよく、また、酸素含有量を15±5pp
mの範囲に制御すると、いわゆるゲッタリング効果によ
り重金属を捕捉して不純物汚染を低減できると共に、機
械的強度を確保できるので好ましい。When the content of heavy metals, which are impurities other than B, N, C, and O, mainly exceeds 1000 ppm, the influence of contamination increases. Therefore, it is preferable to suppress the content to 1000 ppm or less. 5pp
Control within the range of m is preferable because heavy metals can be trapped by the so-called gettering effect to reduce impurity contamination and ensure mechanical strength.
【0012】そして、本発明の請求項6に記載した発明
は、前記シリコン製ネジ類のネジのピッチを、0.25
〜6mmの範囲とし、請求項7では、ネジ外径と締め付
け部の外径との比を、1/1.2〜1/3の範囲である
ようにした。According to a sixth aspect of the present invention, the pitch of the silicon screws is set to 0.25.
In the present invention, the ratio between the outer diameter of the screw and the outer diameter of the fastening portion is set to be in a range of 1 / 1.2 to 1/3.
【0013】ネジのピッチがこの範囲内であると、精度
の高いネジを低コストで作製することができ、ピッチが
6mmを超えると締め付け力を得るためにネジ部を長く
しなければならない。また、ネジ部の外径と締め付け部
の外径の比がこの範囲内であると、締め付け力が固定さ
れる部品に充分伝達されるようになる。When the pitch of the screws is within this range, a highly accurate screw can be manufactured at low cost, and when the pitch exceeds 6 mm, the screw portion must be lengthened to obtain a tightening force. If the ratio of the outer diameter of the screw portion to the outer diameter of the tightening portion is within this range, the tightening force will be sufficiently transmitted to the fixed component.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を用いて詳細に説明するが、本発明はこれらに限定され
るものではない。ここで、図1は本発明のシリコン製ネ
ジ類の一例を示すボルト・ナットの説明図であり、図2
は本発明のシリコン製ネジ類の使用例を示す電極板の平
面図であり、図3はこの電極板を設置したプラズマドラ
イエッチング装置の概要図である。Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto. Here, FIG. 1 is an explanatory view of bolts and nuts showing an example of the silicon screws of the present invention.
FIG. 3 is a plan view of an electrode plate showing an example of use of the silicon screws of the present invention, and FIG. 3 is a schematic diagram of a plasma dry etching apparatus provided with this electrode plate.
【0015】本発明者等は、特に半導体デバイス製造用
装置に使用されるネジ類の腐食防止について種々検討し
た結果、これにはネジ類の材質に、主な被処理物である
シリコンウエーハと同素材を使用すればよいことに想到
し、本発明を完成させたものである。The present inventors have conducted various studies on the prevention of corrosion of screws used particularly in semiconductor device manufacturing equipment, and found that the materials of the screws are the same as those of the silicon wafer which is the main workpiece. The present invention has been completed by assuming that a material may be used.
【0016】ここで、本発明のシリコン製ネジ類が使用
される半導体装置の電極板の一例を図2に基づいて説明
すると、円板状電極板10の材質はシリコンであり、各
種ガス流通用の小径孔11を数百〜数千個穿設したもの
である。また、電極板の外周部には電極板取付孔12が
穿設されており、本発明のシリコン製ネジ類を使用して
図3に示したプラズマドライエッチング装置に取付ける
ことになる。電極板の大きさは、通常、被処理物の大き
さに対応して、直径で200〜400mm、厚さ数mm
〜数十mmのものが使用され、小径孔の孔径は、直径で
数十μm〜数百μmである。Here, an example of an electrode plate of a semiconductor device in which the silicon screws of the present invention are used will be described with reference to FIG. 2. The material of the disk-shaped electrode plate 10 is silicon. Hundreds to thousands of small-diameter holes 11 are formed. An electrode plate mounting hole 12 is formed in the outer periphery of the electrode plate, and the electrode plate is mounted on the plasma dry etching apparatus shown in FIG. 3 using the silicon screws of the present invention. The size of the electrode plate is usually 200 to 400 mm in diameter and several mm in thickness, corresponding to the size of the workpiece.
The small diameter hole has a diameter of several tens μm to several hundred μm in diameter.
【0017】そして、この電極板が適用される装置の一
例としては、図3に示したように高周波を印加するドラ
イエッチング装置を挙げることができる。ここでは、電
極板21が高周波を印加するドライエッチング装置20
に、本発明のネジ類28を使用してセットされた状態を
表しており、該電極板21に対向する位置に被処理物で
ある半導体ウエーハ23と平面電極22が設置され、両
電極間に高周波が印加される。一方、エッチングガス
は、ガス供給系26から内部ガス容器25に入り、電極
板21の小径孔で整流され、ウエーハ23に向けて噴出
し、ここでプラズマを発生してウエーハ表面をエッチン
グ処理するようになっている。An example of an apparatus to which this electrode plate is applied is a dry etching apparatus for applying a high frequency as shown in FIG. Here, the electrode plate 21 is a dry etching apparatus 20 for applying a high frequency.
2 shows a state of being set using the screws 28 of the present invention, and a semiconductor wafer 23 and a plane electrode 22 which are objects to be processed are provided at positions facing the electrode plate 21, and between the two electrodes. High frequency is applied. On the other hand, the etching gas enters the internal gas container 25 from the gas supply system 26, is rectified by the small-diameter hole of the electrode plate 21, and jets out toward the wafer 23, where plasma is generated to etch the wafer surface. It has become.
【0018】本発明は、上記のような半導体製造用装置
に用いられるネジ類において、その材質を多結晶シリコ
ンまたは単結晶シリコンとした。これは、ネジ類を、該
装置の主な被処理物であるシリコンウエーハと同材質と
することにより、エッチングガスやプラズマに曝されて
もパーティクルやコンタミネーションを発生させること
は殆どなくなり、シリコンウエーハの歩留りを向上させ
ることができると共に、プロセスの安定操業を確保する
ことができるからである。According to the present invention, in the screws used in the above-described semiconductor manufacturing apparatus, the material is polycrystalline silicon or single crystal silicon. This is because the screws and the like are made of the same material as the silicon wafer which is the main object to be processed of the apparatus, so that particles and contamination hardly occur even when exposed to an etching gas or plasma. The yield can be improved, and the stable operation of the process can be ensured.
【0019】そして、ここで使用されるシリコン製ネジ
類には、ボルト・ナット、六角ボルト、丸ネジ、皿ネ
ジ、丸皿ネジまたは木ネジであるとした。ここでいう、
ネジ類には、オネジ・メネジからなるボルト・ナットの
組合せ、六角ボルト、ネジについては頭部の形で丸ネ
ジ、皿ネジ、丸皿ネジ等があり、木ネジ状のネジ部先端
が尖ったテーパ付きのもの(頭部は丸、皿、丸皿があ
る)等がある。これらは、半導体製造用装置の部品を取
付ける場合の装置内の位置、取付け工具の種類、被結合
体の材質、厚み、結合強度等を考慮してネジ類を選択
し、使用することになる。The silicon screws used here were bolts and nuts, hexagon bolts, round screws, flathead screws, roundhead screws, or wood screws. Here,
The screws include a combination of male and female bolts and nuts, hexagonal bolts, and the screws include round head screws, flat head screws, round head screws, etc. There are tapered ones (there are round heads, plates, and round plates). For these, screws are selected and used in consideration of the position in the device for mounting the components of the semiconductor manufacturing device, the type of mounting tool, the material, thickness, bonding strength, etc. of the body to be bonded.
【0020】このネジ類の素材として単結晶シリコンを
使用する場合は、その抵抗値を、0.001〜20Ω・
cmの範囲のものとするのがよく、こうすれば、ネジ類
作製用の素材として入手し易くなり、経済的に有利であ
る。さらに単結晶シリコンは、不純物量や機械的強度の
点からも、品質管理上も多結晶シリコンより優れてお
り、ネジ類作製用素材として有利に使用される。When single-crystal silicon is used as a material for the screws, the resistance value is set to 0.001 to 20 Ω ·
cm, so that it is easy to obtain as a material for manufacturing screws, which is economically advantageous. Further, single crystal silicon is superior to polycrystalline silicon in quality control in terms of the amount of impurities and mechanical strength, and is advantageously used as a material for manufacturing screws.
【0021】そして、この単結晶シリコンのB、N、
C、O以外の不純物含有量を、0.01ppb〜100
0ppmの範囲とするのが好ましく、酸素含有量につい
ては15±5ppmとするのが好ましい。Then, B, N,
The content of impurities other than C and O is 0.01 ppb to 100
It is preferably in the range of 0 ppm, and the oxygen content is preferably 15 ± 5 ppm.
【0022】B、N、C、O以外の不純物である主とし
て重金属の含有量が1000ppmを越えると、装置内
の被加工物に対するコンタミネーションの影響が大きく
なるので1000ppm以下に抑えるのがよく、また、
酸素含有量を15±5ppmの範囲に制御したものを使
用すると、いわゆるゲッタリング効果により重金属を捕
捉して不純物の低減が可能になると共に、機械的強度を
確保できるので好ましい。If the content of heavy metals, which are impurities other than B, N, C and O, mainly exceeds 1000 ppm, the influence of contamination on the workpiece in the apparatus becomes large, so that it is preferable to suppress the content to 1000 ppm or less. ,
It is preferable to use a material whose oxygen content is controlled in the range of 15 ± 5 ppm, because a so-called gettering effect can capture heavy metals to reduce impurities and also ensure mechanical strength.
【0023】このネジ類の重要な設計要素として、図1
に示したように、ネジのピッチPを、0.25〜6mm
の範囲とし、ネジ類のネジ部の外径と締め付け部の外径
との比d/Dを、1/1.2〜1/3の範囲にあるよう
にした。As an important design element of the screws, FIG.
As shown in FIG.
, And the ratio d / D between the outer diameter of the threaded portion of the screws and the outer diameter of the tightening portion is set to be in the range of 1 / 1.2 to 1/3.
【0024】このシリコン製ネジ類が主として使用され
る半導体製造用装置の規模からすると、ネジのピッチP
で上記範囲内程度のものを揃えておくと、部品の取付
け、試料の着脱等のネジ類の用途に適合したものとな
り、精度の高いネジを低コストで作製することができ
る。また、ネジ部の外径と締め付け部の外径の比d/D
がこの範囲であると、締め付け力が、固定される部品に
充分伝達されるようになる。In view of the scale of a semiconductor manufacturing apparatus in which the silicon screws are mainly used, the screw pitch P
By preparing a screw having a size within the above range, the screw becomes suitable for use of screws such as mounting of a component and mounting and dismounting of a sample, and a highly accurate screw can be manufactured at low cost. Also, the ratio d / D of the outer diameter of the screw portion to the outer diameter of the fastening portion.
Is within this range, the tightening force is sufficiently transmitted to the part to be fixed.
【0025】ネジのピッチが0.25mm未満である
と、加工に際して特別な工具を用意しなければならず、
また、ピッチが6mmを超えると、締め付け力を得るた
めにネジ部を長くしなければならない。ネジのピッチが
0.25〜6mmの範囲であればこうした問題はなくな
り、精度の良いネジを低コストで作製することができ
る。If the pitch of the screws is less than 0.25 mm, a special tool must be prepared for machining.
On the other hand, if the pitch exceeds 6 mm, the thread must be lengthened to obtain a tightening force. If the pitch of the screw is in the range of 0.25 to 6 mm, such a problem is eliminated, and a highly accurate screw can be manufactured at low cost.
【0026】ネジ部の外径と締め付け部の外径の比d/
Dを1/1.2より小さくすると、部品を固定する際、
締め付け力が部品に十分伝わらなくなる。また、1/3
を超えると、例えば、部品のネジ孔部に座ぐり加工し
て、ネジの締め付け部を部品の表面より低い位置に設定
しようとする場合、この座ぐり部の径を大きくしなけれ
ばならず、加工に余計な時間とコストが掛かることにな
るが、上記範囲内であれば、時間的にもコスト的にも僅
かな負担で加工することができる。The ratio of the outer diameter of the screw portion to the outer diameter of the fastening portion d /
When D is smaller than 1 / 1.2, when fixing parts,
Tightening force is not sufficiently transmitted to the parts. Also, 1/3
If it exceeds, for example, it is necessary to increase the diameter of this counterbore part when counterbore processing is performed on the screw hole part of the part and the screw tightening part is to be set at a position lower than the surface of the part. Although extra time and cost are required for the processing, the processing can be performed with a small load in terms of time and cost within the above range.
【0027】また、シリコンは、硬脆性材料であるの
で、作製されるネジ類のピッチ等をこのようなものとす
れば、割れ、欠け等が起こり難く、好ましい。Further, since silicon is a hard and brittle material, it is preferable that the pitch and the like of the screws to be produced are such that cracks and chips are less likely to occur.
【0028】本発明のシリコン製ネジ類を素材から作製
する方法としては、放電加工、ダイヤモンドツールによ
る切削加工等が適している。ただし、放電加工の場合、
1Ω・cmを超えるような高い抵抗値を持つシリコンを
母材とする場合には、放電が起こらず、加工不能である
ため、ダイヤモンドツールによる切削加工が主となる。As a method for producing the silicon screws of the present invention from a material, electric discharge machining, cutting with a diamond tool, and the like are suitable. However, in the case of electric discharge machining,
In the case where silicon having a high resistance value exceeding 1 Ω · cm is used as a base material, electric discharge does not occur and machining is not possible, so cutting with a diamond tool is mainly performed.
【0029】[0029]
【実施例】以下、本発明の実施例を挙げて具体的に説明
するが、本発明はこれらに限定されるものではない。 (実施例1)10mm×10mm×12mmの角柱状に
切り出した0.008Ω・cmの単結晶シリコンを母材
とし、銅を電極とした放電加工機によって、M3×8.
5mm(ネジ部の外径:3mm、締め付け部の外径:
8.5mm、ピッチ:1.0mm、全長12mm)のシ
リコン製ネジを10本作製した。EXAMPLES The present invention will now be described specifically with reference to examples of the present invention, but the present invention is not limited to these examples. (Example 1) An M3 × 8.8 × 8 × 8 mm × 8 mm × 8 × 8 mm square electric discharge machine was used as a base material and copper was used as an electrode.
5mm (outer diameter of screw part: 3mm, outer diameter of tightening part:
Ten silicon screws (8.5 mm, pitch: 1.0 mm, total length: 12 mm) were produced.
【0030】このネジを用いて、プラズマドライエッチ
ング装置に使用されるシリコン電極板を該装置に取り付
け固定して、単結晶シリコンウエーハに対してエッチン
グを行った結果、パーティクルの発生個数は、従来のア
ルマイト処理を施したアルミニウム合金製のネジでは3
1個と多かったのに対して、本発明のシリコン製ネジで
は8個と格段に減少した。Using this screw, a silicon electrode plate used in a plasma dry etching apparatus was attached and fixed to the apparatus, and etching was performed on a single crystal silicon wafer. 3 for anodized aluminum alloy screws
While the number was as large as one, the number was significantly reduced to eight in the silicon screw of the present invention.
【0031】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
るものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の
特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一
な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかな
るものであっても本発明の技術的範囲に包含される。The present invention is not limited to the above embodiment. The above embodiment is an exemplification, and the present invention has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention, and has the same effect. Within the technical scope of
【0032】例えば、上記では本発明の実施例としてプ
ラズマドライエッチング装置の電極板の取付けに本発明
のシリコン製ボルトを使用した例を示したが、本発明は
このような例に限定されるものではなく、リアクティブ
イオンエッチング装置用、プラズマアッシング装置用、
スパッタリング装置用或はプラズマCVD装置用等種々
の半導体製造用装置に使用することが出来ることは言う
までもない。For example, while the embodiment of the present invention has been described above as an example in which the silicon bolt of the present invention is used for mounting an electrode plate of a plasma dry etching apparatus, the present invention is not limited to such an example. Not for reactive ion etching equipment, for plasma ashing equipment,
Needless to say, it can be used in various semiconductor manufacturing apparatuses such as a sputtering apparatus or a plasma CVD apparatus.
【0033】ネジ類としては、ボルト・ナット、六角ボ
ルト、丸ネジ、皿ネジ、丸皿ネジまたは木ネジを具体的
に挙げたが、このような名称により拘束されるものでは
なく、ビスその他のネジを利用した取付け用器具等も含
まれる。As the screws, bolts and nuts, hexagon bolts, round screws, countersunk screws, round countersunk screws or wood screws have been specifically mentioned, but are not restricted by such names, and screws and other screws are used. An attachment device using a screw is also included.
【0034】[0034]
【発明の効果】本発明によれば、シリコン製ネジ類は、
エッチングガスやプラズマに曝されてもパーティクルや
コンタミネーションを発生することはなく、被処理物で
あるシリコンウエーハに与えるダメージは、他の素材か
らなるネジ類を使用した場合と比較して格段に小さくす
ることができる。また、ネジ類をシリコン製としたこと
により半導体製造工程において長期間安定して使用する
ことができ、プロセスの安定操業が可能になると共に反
応処理時のウエーハの歩留り低下を防ぐことができる。According to the present invention, silicon screws are
It does not generate particles or contamination even when exposed to an etching gas or plasma, and the damage to the silicon wafer to be processed is much smaller than when using screws made of other materials. can do. Further, since the screws are made of silicon, they can be used stably for a long period of time in a semiconductor manufacturing process, thereby enabling a stable operation of the process and preventing a decrease in the yield of a wafer during the reaction treatment.
【図1】本発明のネジ類の一例としてボルト・ナットを
示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory view showing bolts and nuts as an example of screws of the present invention.
【図2】本発明のネジ類が使用される電極板の一例を示
す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing an example of an electrode plate using the screws of the present invention.
【図3】本発明のネジ類が使用される半導体製造装置の
一例を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory view showing an example of a semiconductor manufacturing apparatus using the screws of the present invention.
1…ボルト、 2…ナット、 10…電極板、 11…小径孔、 12…取付け孔、 20…プラズマドライエッチング装置、 21…電極板、 22…平面電極板、 23…半導体ウエーハ、 24…チャンバー、 25…内部ガス容器、 26…ガス供給系、 27…ガス排出系、 28…シリコン製ボルト。 D…締め付け部の外径、 d…ネジ部の外径、 P…ピッチ。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Bolt, 2 ... Nut, 10 ... Electrode plate, 11 ... Small diameter hole, 12 ... Mounting hole, 20 ... Plasma dry etching apparatus, 21 ... Electrode plate, 22 ... Flat electrode plate, 23 ... Semiconductor wafer, 24 ... Chamber, 25: Internal gas container, 26: Gas supply system, 27: Gas discharge system, 28: Silicon bolt. D: outer diameter of tightening part, d: outer diameter of screw part, P: pitch.
Claims (7)
おいて、その材質を多結晶シリコンまたは単結晶シリコ
ンとしたことを特徴とするシリコン製ネジ類。1. A screw used in a semiconductor manufacturing apparatus, wherein the screw is made of polycrystalline silicon or single crystal silicon.
ルト、丸ネジ、皿ネジ、丸皿ネジまたは木ネジであるこ
とを特徴とする請求項1に記載のシリコン製ネジ類。2. The silicon screws according to claim 1, wherein the screws are bolts and nuts, hexagon bolts, round screws, flathead screws, roundhead screws, or wood screws.
01〜20Ω・cmであることを特徴とする請求項1ま
たは請求項2に記載したシリコン製ネジ類。3. The resistance of the single crystal silicon is 0.0
The silicon screw according to claim 1, wherein the screw is in a range of 01 to 20 Ω · cm.
外の不純物含有量が、0.01ppb〜1000ppm
であることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか
1項に記載したシリコン製ネジ類。4. The single crystal silicon has an impurity content other than B, N, C, and O of 0.01 ppb to 1000 ppm.
The silicon screws according to any one of claims 1 to 3, wherein:
±5ppmであることを特徴とする請求項1〜請求項4
のいずれか1項に記載したシリコン製ネジ類。5. An oxygen content of said single crystal silicon is 15
The amount is ± 5 ppm.
The silicon screws described in any one of the above.
6mmであることを特徴とする請求項1〜請求項5のい
ずれか1項に記載したシリコン製ネジ類。6. The screw pitch of the screws is 0.25 to 0.25.
The screw made of silicon according to any one of claims 1 to 5, wherein the screw is 6 mm.
の外径との比が、1/1.2〜1/3であることを特徴
とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載したシ
リコン製ネジ類。7. The screw according to claim 1, wherein a ratio of an outer diameter of the screw portion to an outer diameter of the fastening portion is 1 / 1.2 to 1/3. Or the silicon screws according to item 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13762797A JPH10311315A (en) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | Silicon-made screws |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13762797A JPH10311315A (en) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | Silicon-made screws |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10311315A true JPH10311315A (en) | 1998-11-24 |
Family
ID=15203089
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13762797A Pending JPH10311315A (en) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | Silicon-made screws |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10311315A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017050118A (en) * | 2015-09-01 | 2017-03-09 | 三菱マテリアル株式会社 | Electrode plate for plasma processing apparatus and method of manufacturing the same |
JP2021044121A (en) * | 2019-09-10 | 2021-03-18 | 信越ポリマー株式会社 | Light guide member and method for producing the same |
-
1997
- 1997-05-13 JP JP13762797A patent/JPH10311315A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2017050118A (en) * | 2015-09-01 | 2017-03-09 | 三菱マテリアル株式会社 | Electrode plate for plasma processing apparatus and method of manufacturing the same |
JP2021044121A (en) * | 2019-09-10 | 2021-03-18 | 信越ポリマー株式会社 | Light guide member and method for producing the same |
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